JPH10295682A - 高空間分解能高速ｘ線ｃｔスキャナ - Google Patents
高空間分解能高速ｘ線ｃｔスキャナInfo
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- JPH10295682A JPH10295682A JP9112569A JP11256997A JPH10295682A JP H10295682 A JPH10295682 A JP H10295682A JP 9112569 A JP9112569 A JP 9112569A JP 11256997 A JP11256997 A JP 11256997A JP H10295682 A JPH10295682 A JP H10295682A
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- Apparatus For Radiation Diagnosis (AREA)
Abstract
(57)【要約】
【課題】スキャン速度の高速化とともに空間分解能改善
による画質向上を図り、測定対象物の内部構造の細部の
把握を可能とする。 【解決手段】撮像領域４を囲む円周上に固定配置され、
測定対象物を透過した扇状Ｘ線３を検出する検出器２
と、検出器２を囲むように検出器２と同軸的に配置され
た２重管構造の真空槽１１と、この真空槽１１の内部に
稠密して固定配置され、撮像領域４に配置された測定対
象物に向けて扇状Ｘ線３を照射する３２個のＸ線発生ユ
ニット１０１〜１３２から構成される。
による画質向上を図り、測定対象物の内部構造の細部の
把握を可能とする。 【解決手段】撮像領域４を囲む円周上に固定配置され、
測定対象物を透過した扇状Ｘ線３を検出する検出器２
と、検出器２を囲むように検出器２と同軸的に配置され
た２重管構造の真空槽１１と、この真空槽１１の内部に
稠密して固定配置され、撮像領域４に配置された測定対
象物に向けて扇状Ｘ線３を照射する３２個のＸ線発生ユ
ニット１０１〜１３２から構成される。
Description
【０００１】
【発明の属する技術分野】本発明は、線源及び検出器固
定型の高速Ｘ線ＣＴスキャナに係わり、特にＸ線発生点
稠密配置の機構を用いた高空間分解能高速Ｘ線ＣＴスキ
ャナに関する。
定型の高速Ｘ線ＣＴスキャナに係わり、特にＸ線発生点
稠密配置の機構を用いた高空間分解能高速Ｘ線ＣＴスキ
ャナに関する。
【０００２】
【従来の技術】高速Ｘ線ＣＴスキャナは、Ｘ線発生を電
気的にＯＮ／ＯＦＦさせる電子ビーム制御方式の採用に
より、従来からあるＸ線ＣＴスキャナのスキャン時間を
大幅に高速化（１／６０〜１／２０００秒）させ、測定
対象物の断層撮影を行うものである。
気的にＯＮ／ＯＦＦさせる電子ビーム制御方式の採用に
より、従来からあるＸ線ＣＴスキャナのスキャン時間を
大幅に高速化（１／６０〜１／２０００秒）させ、測定
対象物の断層撮影を行うものである。
【０００３】図５は、従来の高速Ｘ線ＣＴスキャナの検
出部を示す平面断面図である。３極真空管からなるＸ線
源としてのＸ線管１が円周上に複数個固定配置され、こ
れらＸ線管１と同軸的に、測定対象物を透過したＸ線を
検出する検出器２が複数個固定配置されている。一のＸ
線管１にパルス信号を与え、扇状Ｘ線３を撮像領域４に
向けて照射する。そして、Ｘ線を発生したＸ線管１と撮
像領域４を挟んで反対側に位置する検出器２により、測
定対象物を透過した扇状Ｘ線３の透過量が検出される。
出部を示す平面断面図である。３極真空管からなるＸ線
源としてのＸ線管１が円周上に複数個固定配置され、こ
れらＸ線管１と同軸的に、測定対象物を透過したＸ線を
検出する検出器２が複数個固定配置されている。一のＸ
線管１にパルス信号を与え、扇状Ｘ線３を撮像領域４に
向けて照射する。そして、Ｘ線を発生したＸ線管１と撮
像領域４を挟んで反対側に位置する検出器２により、測
定対象物を透過した扇状Ｘ線３の透過量が検出される。
【０００４】この一のＸ線管１による検出動作が終了す
ると、パルス信号を電気的に高速で切り換えることによ
り順次隣接するＸ線管１にパルス信号が与えられ、Ｘ線
を発生するＸ線管１の位置が移動する。
ると、パルス信号を電気的に高速で切り換えることによ
り順次隣接するＸ線管１にパルス信号が与えられ、Ｘ線
を発生するＸ線管１の位置が移動する。
【０００５】
【発明が解決しようとする課題】上記従来の高速Ｘ線Ｃ
Ｔスキャナにおいて、空間分解能向上による画質改善を
図るためには、検出器２の数を増やすばかりでなくＸ線
管１の数も増やす必要がある。検出器２やＸ線管１の数
の増加は、検出器２及びＸ線管１の小型化や配置されて
いる円周の径の大型化によって実現することが可能であ
るが、３極Ｘ線管からなるＸ線管１をＸ線源として使用
する限り、放電防止等の観点から小型化には限度があ
り、Ｘ線管数増加の要求に配置上対応できない場合が生
じる。
Ｔスキャナにおいて、空間分解能向上による画質改善を
図るためには、検出器２の数を増やすばかりでなくＸ線
管１の数も増やす必要がある。検出器２やＸ線管１の数
の増加は、検出器２及びＸ線管１の小型化や配置されて
いる円周の径の大型化によって実現することが可能であ
るが、３極Ｘ線管からなるＸ線管１をＸ線源として使用
する限り、放電防止等の観点から小型化には限度があ
り、Ｘ線管数増加の要求に配置上対応できない場合が生
じる。
【０００６】本発明は上記課題を解決するためになされ
たもので、その目的とするところは、スキャン速度の高
速化とともに空間分解能改善による画質向上を図ること
により測定対象物の内部構造の細部の把握を可能とする
高空間分解能高速Ｘ線ＣＴスキャナを提供することにあ
る。
たもので、その目的とするところは、スキャン速度の高
速化とともに空間分解能改善による画質向上を図ること
により測定対象物の内部構造の細部の把握を可能とする
高空間分解能高速Ｘ線ＣＴスキャナを提供することにあ
る。
【０００７】
【課題を解決するための手段】本発明の高空間分解能高
速Ｘ線ＣＴスキャナは、Ｘ線の発生を電気的にＯＮ―Ｏ
ＦＦさせることにより高速でＸ線発生位置を切り換える
高空間分解能高速Ｘ線ＣＴスキャナにおいて、測定対象
物を囲む円周上に固定配置され、該測定対象物を透過し
たＸ線を検出する検出器と、この検出器を囲むように該
検出器と同軸的に設けられた真空槽と、この真空槽の内
部に稠密して固定配置され、前記検出器に囲まれた測定
対象物に向けてＸ線を照射する複数個のＸ線発生ユニッ
トとを具備してなることを特徴とする。
速Ｘ線ＣＴスキャナは、Ｘ線の発生を電気的にＯＮ―Ｏ
ＦＦさせることにより高速でＸ線発生位置を切り換える
高空間分解能高速Ｘ線ＣＴスキャナにおいて、測定対象
物を囲む円周上に固定配置され、該測定対象物を透過し
たＸ線を検出する検出器と、この検出器を囲むように該
検出器と同軸的に設けられた真空槽と、この真空槽の内
部に稠密して固定配置され、前記検出器に囲まれた測定
対象物に向けてＸ線を照射する複数個のＸ線発生ユニッ
トとを具備してなることを特徴とする。
【０００８】本発明の望ましい形態としては、Ｘ線発生
ユニットとして、電子ビームを発生させる陰極、電子ビ
ームをＸ線に変換する陽極、陰極及び陽極間の電子ビー
ムの進路を電気的に開閉する格子から構成されるものを
用いる。
ユニットとして、電子ビームを発生させる陰極、電子ビ
ームをＸ線に変換する陽極、陰極及び陽極間の電子ビー
ムの進路を電気的に開閉する格子から構成されるものを
用いる。
【０００９】
【発明の実施の形態】以下、図面を参照しながら本発明
の一実施形態を説明する。図１は、本発明の一実施形態
に係る高空間分解能高速Ｘ線ＣＴスキャナの全体構成を
示す断面図、図２は同装置の検出部を示す平面断面図、
図３は、同検出部におけるＸ線発生ユニットを詳細に示
した図、図４は同実施形態における高空間分解能高速Ｘ
線ＣＴスキャナにおけるＸ線発生制御装置の構成図であ
る。図１及び図２に示すように、測定対象物１３の配置
される撮像領域４を囲む円周上に複数の検出器２が固定
して設けられている。また、検出器２と同軸的かつ検出
器２の外周に、２重管構造の真空槽１１が固定して設置
されている。この真空槽１１の内部は真空であり、真空
槽１１内部の円周上に３２個のＸ線発生ユニット１０１
〜１３２が稠密配置されている。このＸ線発生ユニット
１０１〜１３２は、図１に示すように扇状Ｘ線３を測定
対象物１３に向けて照射するものである。このＸ線発生
ユニット１０１〜１３２及び検出器２は異なる高さに配
置され、照射される扇状Ｘ線３は水平方向に対して斜方
向に向けられる。従って、照射された扇状Ｘ線３はＸ線
照射側の検出器２に遮られることなく測定対象物１３を
挟んで反対側の検出器２で検出される。
の一実施形態を説明する。図１は、本発明の一実施形態
に係る高空間分解能高速Ｘ線ＣＴスキャナの全体構成を
示す断面図、図２は同装置の検出部を示す平面断面図、
図３は、同検出部におけるＸ線発生ユニットを詳細に示
した図、図４は同実施形態における高空間分解能高速Ｘ
線ＣＴスキャナにおけるＸ線発生制御装置の構成図であ
る。図１及び図２に示すように、測定対象物１３の配置
される撮像領域４を囲む円周上に複数の検出器２が固定
して設けられている。また、検出器２と同軸的かつ検出
器２の外周に、２重管構造の真空槽１１が固定して設置
されている。この真空槽１１の内部は真空であり、真空
槽１１内部の円周上に３２個のＸ線発生ユニット１０１
〜１３２が稠密配置されている。このＸ線発生ユニット
１０１〜１３２は、図１に示すように扇状Ｘ線３を測定
対象物１３に向けて照射するものである。このＸ線発生
ユニット１０１〜１３２及び検出器２は異なる高さに配
置され、照射される扇状Ｘ線３は水平方向に対して斜方
向に向けられる。従って、照射された扇状Ｘ線３はＸ線
照射側の検出器２に遮られることなく測定対象物１３を
挟んで反対側の検出器２で検出される。
【００１０】上記検出器２で検出されたＸ線透過情報は
透過Ｘ線量に比例した電流信号に変換されてプリアンプ
１５、メインアンプ１６を介してデータ収録装置１８に
出力されて収録される。収録されたデータはその後デー
タ処理装置１９に出力されてデータ処理され、測定対象
物１３のＸ線ＣＴ画像情報を得る。
透過Ｘ線量に比例した電流信号に変換されてプリアンプ
１５、メインアンプ１６を介してデータ収録装置１８に
出力されて収録される。収録されたデータはその後デー
タ処理装置１９に出力されてデータ処理され、測定対象
物１３のＸ線ＣＴ画像情報を得る。
【００１１】また、データ収録装置１８からＸ線発生の
指令がＸ線発生制御装置１７に出され、その指令に基づ
いてＸ線発生制御装置１７がＸ線発生ユニット１０１〜
１３２からの扇状Ｘ線３の発生を制御する。
指令がＸ線発生制御装置１７に出され、その指令に基づ
いてＸ線発生制御装置１７がＸ線発生ユニット１０１〜
１３２からの扇状Ｘ線３の発生を制御する。
【００１２】次に、図３を用いてＸ線発生ユニット１０
１〜１３２の構成を詳説する。Ｘ線発生ユニット１０１
〜１３２は、３極Ｘ線管と同様に大きく分けて陰極３
１、陽極３３及び格子３２から構成される。すなわち、
加熱により熱電子を放出するフィラメントにより構成さ
れる陰極３１と、加速された電子が衝突するターゲット
を備え、衝突によりＸ線を発生させる陽極３３と、加速
された電子の進路を電気的に開閉するための格子３２か
らなり、陰極３１と陽極３３の間に高電圧を印加するよ
うにしたものである。Ｘ線はターゲット面の電子が衝突
する部分から発生するもので、このＸ線の衝突する陽極
３３表面を焦点と称している。
１〜１３２の構成を詳説する。Ｘ線発生ユニット１０１
〜１３２は、３極Ｘ線管と同様に大きく分けて陰極３
１、陽極３３及び格子３２から構成される。すなわち、
加熱により熱電子を放出するフィラメントにより構成さ
れる陰極３１と、加速された電子が衝突するターゲット
を備え、衝突によりＸ線を発生させる陽極３３と、加速
された電子の進路を電気的に開閉するための格子３２か
らなり、陰極３１と陽極３３の間に高電圧を印加するよ
うにしたものである。Ｘ線はターゲット面の電子が衝突
する部分から発生するもので、このＸ線の衝突する陽極
３３表面を焦点と称している。
【００１３】陰極３１は、コイル状に巻かれたものを線
状に張ったフィラメントを有する。このフィラメントは
電流により加熱されて熱電子を放出する。陽極３３は、
陰極３１及び陽極３３間に印加された高電圧によりフィ
ラメントから放出された電子を吸引し、高速度に加速さ
せて衝撃を受け、Ｘ線を発生させるための電極であり、
例えば銅等の熱伝導の良い物質で作られている。
状に張ったフィラメントを有する。このフィラメントは
電流により加熱されて熱電子を放出する。陽極３３は、
陰極３１及び陽極３３間に印加された高電圧によりフィ
ラメントから放出された電子を吸引し、高速度に加速さ
せて衝撃を受け、Ｘ線を発生させるための電極であり、
例えば銅等の熱伝導の良い物質で作られている。
【００１４】また、陽極３３の先端にはターゲットとし
てタングステン板が埋め込まれており、ターゲット上に
収束された電子が衝突する面が焦点となる。高速度の電
子がそのターゲット原子内部に突入して運動を阻止され
ることによりその運動エネルギーの一部がＸ線として放
出される。すなわち、Ｘ線発生時には、陰極３１から陽
極３３に向けて照射された電子ビーム３４は陽極３３に
当たると、陽極３３からその表面の角度に応じて反射す
る方向に扇状Ｘ線３が照射されるようになっている。
てタングステン板が埋め込まれており、ターゲット上に
収束された電子が衝突する面が焦点となる。高速度の電
子がそのターゲット原子内部に突入して運動を阻止され
ることによりその運動エネルギーの一部がＸ線として放
出される。すなわち、Ｘ線発生時には、陰極３１から陽
極３３に向けて照射された電子ビーム３４は陽極３３に
当たると、陽極３３からその表面の角度に応じて反射す
る方向に扇状Ｘ線３が照射されるようになっている。
【００１５】次に、図４を用いてＸ線発生制御装置１７
の構成を説明する。各Ｘ線発生ユニット１０１〜１３２
は、Ｘ線発生制御装置１７内に設けられたＸ線発生ユニ
ット１０１〜１３２と同数のパルス発生器２０１〜２３
２に接続され、パルス発生器２０１〜２３２に伝えられ
たＸ線発生の指令により、対応するＸ線発生ユニット１
０１〜１３２がＸ線を発生するようになっている。また
測定対象物１３を囲む円周の対向する二つのＸ線発生ユ
ニット例えば１０１及び１１７に対応するパルス発生器
２０１及び２１７は、一つのパルス発生制御ポート３０
１に接続されている。このようにして二つの対向するＸ
線発生ユニットに対応する二つのパルス発生器に一つの
パルス発生制御ポートがそれぞれ接続されている。
の構成を説明する。各Ｘ線発生ユニット１０１〜１３２
は、Ｘ線発生制御装置１７内に設けられたＸ線発生ユニ
ット１０１〜１３２と同数のパルス発生器２０１〜２３
２に接続され、パルス発生器２０１〜２３２に伝えられ
たＸ線発生の指令により、対応するＸ線発生ユニット１
０１〜１３２がＸ線を発生するようになっている。また
測定対象物１３を囲む円周の対向する二つのＸ線発生ユ
ニット例えば１０１及び１１７に対応するパルス発生器
２０１及び２１７は、一つのパルス発生制御ポート３０
１に接続されている。このようにして二つの対向するＸ
線発生ユニットに対応する二つのパルス発生器に一つの
パルス発生制御ポートがそれぞれ接続されている。
【００１６】これらパルス発生制御ポート３０１〜３１
６に信号を送ることでパルス発生器２０１〜２３２に信
号を伝えることが可能となり、また一つのパルス発生制
御ポートは二つのパルス発生器に接続されているため、
一つの信号をパルス発生制御ポートに与えることで二つ
のパルス発生器に同時に信号が伝えることができ、対向
する二つのＸ線発生ユニットから同時発光するようにな
っている。なお、Ｘ線が同時に入射する領域が重ならな
ければ、同時に照射するＸ線を三つ以上としてもよい。
６に信号を送ることでパルス発生器２０１〜２３２に信
号を伝えることが可能となり、また一つのパルス発生制
御ポートは二つのパルス発生器に接続されているため、
一つの信号をパルス発生制御ポートに与えることで二つ
のパルス発生器に同時に信号が伝えることができ、対向
する二つのＸ線発生ユニットから同時発光するようにな
っている。なお、Ｘ線が同時に入射する領域が重ならな
ければ、同時に照射するＸ線を三つ以上としてもよい。
【００１７】上記実施形態に係る高空間分解能Ｘ線ＣＴ
スキャナの動作を説明する。図１に示すデータ収録装置
１８から第１のＸ線発生の指令がＸ線発生制御装置１７
に出力される。この第１の指令に基づき、図４に示すＸ
線発生制御装置１７内のパルス発生制御ポート３０１に
第１のＸ線発生の指令が入力される。この入力された信
号を受けて、パルス発生器２０１，２１７が同時にパル
ス波を発生させ、これらパルス信号がパルス発生器２０
１，２１７に対応するＸ線発生ユニット１０１，１１７
に与えられる。このパルス発生信号を受けてＸ線発生ユ
ニット１０１，１１７は動作を開始し、扇状Ｘ線３を測
定対象物１３に照射する。
スキャナの動作を説明する。図１に示すデータ収録装置
１８から第１のＸ線発生の指令がＸ線発生制御装置１７
に出力される。この第１の指令に基づき、図４に示すＸ
線発生制御装置１７内のパルス発生制御ポート３０１に
第１のＸ線発生の指令が入力される。この入力された信
号を受けて、パルス発生器２０１，２１７が同時にパル
ス波を発生させ、これらパルス信号がパルス発生器２０
１，２１７に対応するＸ線発生ユニット１０１，１１７
に与えられる。このパルス発生信号を受けてＸ線発生ユ
ニット１０１，１１７は動作を開始し、扇状Ｘ線３を測
定対象物１３に照射する。
【００１８】Ｘ線発生ユニット１０１，１１７におい
て、図３（ａ）に示すようにパルス信号が与えられてい
ない場合、陰極３１及び陽極３３にはそれぞれ負電圧及
び正電圧が印加されており、さらに格子３２には負電圧
が印加されている。陰極３１のフィラメントが加熱する
ことにより生じた電子は格子３２により遮断されている
ため、陽極３３に達することはない。
て、図３（ａ）に示すようにパルス信号が与えられてい
ない場合、陰極３１及び陽極３３にはそれぞれ負電圧及
び正電圧が印加されており、さらに格子３２には負電圧
が印加されている。陰極３１のフィラメントが加熱する
ことにより生じた電子は格子３２により遮断されている
ため、陽極３３に達することはない。
【００１９】上記パルス信号がＸ線発生ユニット１０
１，１１７に与えられると、図３（ｂ）に示すように負
電圧が印加されていた格子３２の電位がゼロとなる。従
って、フィラメントの加熱により放出された熱電子は陰
極３１及び陽極３３間に与えられた電圧により陽極３３
に吸引及び加速され、電子ビーム３４として格子３２の
開口部を通って陽極３３に達する。陽極３３に達した電
子ビーム３４は陽極３３の表面に衝突し、その表面のな
す角度に応じた方向に向かってＸ線が発生する。発生し
たＸ線は、図２に示すように扇状Ｘ線３として撮像領域
４に向けて照射される。照射された扇状Ｘ線３は、撮像
領域４に配置された測定対象物１３の透過率に応じた吸
収がなされ、円周上の対向する検出器２で検出される。
１，１１７に与えられると、図３（ｂ）に示すように負
電圧が印加されていた格子３２の電位がゼロとなる。従
って、フィラメントの加熱により放出された熱電子は陰
極３１及び陽極３３間に与えられた電圧により陽極３３
に吸引及び加速され、電子ビーム３４として格子３２の
開口部を通って陽極３３に達する。陽極３３に達した電
子ビーム３４は陽極３３の表面に衝突し、その表面のな
す角度に応じた方向に向かってＸ線が発生する。発生し
たＸ線は、図２に示すように扇状Ｘ線３として撮像領域
４に向けて照射される。照射された扇状Ｘ線３は、撮像
領域４に配置された測定対象物１３の透過率に応じた吸
収がなされ、円周上の対向する検出器２で検出される。
【００２０】検出器２で検出されたＸ線透過情報は、透
過Ｘ線量に比例した電流信号に変換された後、プリアン
プ１５、メインアンプ１６で増幅され、電圧信号として
データ収録装置１８に送られる。
過Ｘ線量に比例した電流信号に変換された後、プリアン
プ１５、メインアンプ１６で増幅され、電圧信号として
データ収録装置１８に送られる。
【００２１】上記Ｘ線発生ユニット１０１，１１７によ
る検出動作が終了すると、次に、第二のＸ線発生の指令
がＸ線発生制御装置１７内のパルス発生制御ポート３０
２に入力され、上記と同様の検出動作がなされる。そし
て、順次行われた全てのＸ線発生ユニット１０１〜１３
２による検出動作から得られるＸ線透過情報が検出器２
で検出されると、透過Ｘ線量に比例した電流信号に変換
されてプリアンプ１５，メインアンプ１６，データ収録
装置１８を介してデータ処理装置１９において信号処理
される。この信号処理されたデータより、撮像領域４に
配置された測定対象物１３のＸ線ＣＴ画像情報が得られ
る。
る検出動作が終了すると、次に、第二のＸ線発生の指令
がＸ線発生制御装置１７内のパルス発生制御ポート３０
２に入力され、上記と同様の検出動作がなされる。そし
て、順次行われた全てのＸ線発生ユニット１０１〜１３
２による検出動作から得られるＸ線透過情報が検出器２
で検出されると、透過Ｘ線量に比例した電流信号に変換
されてプリアンプ１５，メインアンプ１６，データ収録
装置１８を介してデータ処理装置１９において信号処理
される。この信号処理されたデータより、撮像領域４に
配置された測定対象物１３のＸ線ＣＴ画像情報が得られ
る。
【００２２】このように、真空槽１１内部にＸ線発生ユ
ニット１０１〜１３２を配置することにより真空槽１１
中でＸ線を発生させることができるため、Ｘ線管の真空
容器が不要となり、隣接するＸ線発生ユニットの設置間
隔を小さくし、Ｘ線発生点をより稠密に配置できる。従
って、スキャン速度の高速化とともに空間分解能改善に
よる画質向上を図ることができ、測定対象物の内部構造
の細部の把握が可能となる。なお、本実施形態において
は３２個のＸ線発生ユニットを用いる場合を示したが、
その数には限定されない。
ニット１０１〜１３２を配置することにより真空槽１１
中でＸ線を発生させることができるため、Ｘ線管の真空
容器が不要となり、隣接するＸ線発生ユニットの設置間
隔を小さくし、Ｘ線発生点をより稠密に配置できる。従
って、スキャン速度の高速化とともに空間分解能改善に
よる画質向上を図ることができ、測定対象物の内部構造
の細部の把握が可能となる。なお、本実施形態において
は３２個のＸ線発生ユニットを用いる場合を示したが、
その数には限定されない。
【００２３】
【発明の効果】以上説明したように本発明によれば、検
出器を囲むように該検出器と同軸的に設けられた真空槽
と、この真空槽の内部に稠密して固定配置され、前記検
出器に囲まれた測定対象物に向けてＸ線を照射する複数
個のＸ線発生ユニットとを具備してなるため、個々のＸ
線源毎に真空容器を用いることなく、１つの真空槽中で
Ｘ線発生ユニットからＸ線を発生させることができるた
め、Ｘ線発生点をより稠密に配置できる。従って、スキ
ャン速度の高速化とともに空間分解能改善による画質の
向上を図ることができ、測定対象物の内部構造の細部の
把握が可能となる。
出器を囲むように該検出器と同軸的に設けられた真空槽
と、この真空槽の内部に稠密して固定配置され、前記検
出器に囲まれた測定対象物に向けてＸ線を照射する複数
個のＸ線発生ユニットとを具備してなるため、個々のＸ
線源毎に真空容器を用いることなく、１つの真空槽中で
Ｘ線発生ユニットからＸ線を発生させることができるた
め、Ｘ線発生点をより稠密に配置できる。従って、スキ
ャン速度の高速化とともに空間分解能改善による画質の
向上を図ることができ、測定対象物の内部構造の細部の
把握が可能となる。
【図１】本発明の一実施形態に係る高空間分解能高速Ｘ
線ＣＴスキャナの全体構成図。
線ＣＴスキャナの全体構成図。
【図２】同実施形態における高空間分解能高速Ｘ線ＣＴ
スキャナにおける検出部の平面断面図。
スキャナにおける検出部の平面断面図。
【図３】同実施形態におけるＸ線発生ユニット２０の詳
細な構成を示す図。
細な構成を示す図。
【図４】同実施形態に係るＸ線発生制御装置１７の回路
図。
図。
【図５】従来の３極真空管を用いた高速Ｘ線ＣＴスキャ
ナの検出部の平面断面図。
ナの検出部の平面断面図。
２ 検出器 ３ 扇状Ｘ線 ４ 撮像領域 １１ 真空槽 １２ 照射窓 １３ 測定対象物 １４ 電源 １５ プリアンプ １６ メインアンプ １７ Ｘ線発生制御装置 １８ データ収録装置 １９ データ処理装置 ３１ 陰極 ３２ 格子 ３３ 陽極 ３４ 電子ビーム １０１〜１３２ Ｘ線発生ユニット ２０１〜２３２ パルス発生器 ３０１〜３１６ パルス発生制御ポート
Claims (1)
- 【請求項１】 Ｘ線の発生を電気的にＯＮ―ＯＦＦさせ
ることにより高速でＸ線発生位置を切り換える高空間分
解能高速Ｘ線ＣＴスキャナにおいて、測定対象物を囲む
円周上に固定配置され、該測定対象物を透過したＸ線を
検出する検出器と、この検出器を囲むように該検出器と
同軸的に設けられた真空槽と、この真空槽の内部に稠密
して固定配置され、前記検出器に囲まれた測定対象物に
向けてＸ線を照射する複数個のＸ線発生ユニットとを具
備してなることを特徴とする高空間分解能高速Ｘ線ＣＴ
スキャナ。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP9112569A JPH10295682A (ja) | 1997-04-30 | 1997-04-30 | 高空間分解能高速ｘ線ｃｔスキャナ |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP9112569A JPH10295682A (ja) | 1997-04-30 | 1997-04-30 | 高空間分解能高速ｘ線ｃｔスキャナ |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH10295682A true JPH10295682A (ja) | 1998-11-10 |
Family
ID=14589998
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP9112569A Pending JPH10295682A (ja) | 1997-04-30 | 1997-04-30 | 高空間分解能高速ｘ線ｃｔスキャナ |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH10295682A (ja) |
Cited By (8)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US6400792B1 (en) | 1999-09-14 | 2002-06-04 | Agency Of Industrial Science And Technology | Method for measuring speed and high resolution information of moving object by high-speed X-ray CT, and its device |
| EP1229351A1 (en) | 2001-01-31 | 2002-08-07 | National Institute of Advanced Industrial Science and Technology | A semiconductor detector for use in high-speed x-ray ct, and manufacturing method therefor |
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| US6807248B2 (en) | 2001-02-28 | 2004-10-19 | Mitsubishi Heavy Industries, Ltd. | Multisource type X-ray CT apparatus |
| JP2005177469A (ja) * | 2003-11-26 | 2005-07-07 | General Electric Co <Ge> | 静止型コンピュータ断層撮影システム及び方法 |
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| JP2011512004A (ja) * | 2008-01-25 | 2011-04-14 | テールズ | 光電制御装置と組み合わせた少なくとも１つの電子源を備えるｘ線源 |
| JP2018533731A (ja) * | 2015-10-19 | 2018-11-15 | エルスリー・セキュリティー・アンド・ディテクション・システムズ・インコーポレイテッドＬ−３ Ｃｏｍｍｕｎｉｃａｔｉｏｎｓ Ｓｅｃｕｒｉｔｙ ａｎｄ Ｄｅｔｅｃｔｉｏｎ Ｓｙｓｔｅｍｓ，Ｉｎｃ． | 高いコンピュータ断層撮影ピッチでの画像再構成のためのシステムおよび方法 |
-
1997
- 1997-04-30 JP JP9112569A patent/JPH10295682A/ja active Pending
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Legal Events
| Date | Code | Title | Description |
|---|---|---|---|
| A02 | Decision of refusal |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A02 Effective date: 20040127 |