JPH10270526A - Substrate container and board carrier device - Google Patents
Substrate container and board carrier deviceInfo
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- JPH10270526A JPH10270526A JP8728597A JP8728597A JPH10270526A JP H10270526 A JPH10270526 A JP H10270526A JP 8728597 A JP8728597 A JP 8728597A JP 8728597 A JP8728597 A JP 8728597A JP H10270526 A JPH10270526 A JP H10270526A
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- substrate storage
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Landscapes
- Container, Conveyance, Adherence, Positioning, Of Wafer (AREA)
Abstract
Description
【0001】[0001]
【発明の属する技術分野】本発明は、半導体ウエハなど
の基板を垂直方向一定間隔で複数枚収納するための基板
収納容器およびその基板収納容器に対して基板を搬出入
するための基板搬送装置に関する。BACKGROUND OF THE INVENTION 1. Field of the Invention The present invention relates to a substrate storage container for storing a plurality of substrates, such as semiconductor wafers, at regular intervals in a vertical direction, and a substrate transfer apparatus for carrying substrates in and out of the substrate storage container. .
【0002】[0002]
【従来の技術】一般に半導体製造システムにおいて、ウ
エハなどの基板の移動や搬送は、両側壁に基板の側辺を
支持するための多数のスロットを有する容器に基板を収
納した状態で行なう。この基板収納容器は、基板に対し
て加工または測定を行なう装置本体に設置されることに
より利用される。基板は容器から装置本体に供給され、
ここで加工または測定の行なわれた後、再び基板収納容
器に収納されて容器ごと次の工程へと搬送される。2. Description of the Related Art Generally, in a semiconductor manufacturing system, a substrate such as a wafer is moved or transported in a state where the substrate is housed in a container having a large number of slots on both side walls for supporting the side of the substrate. This substrate storage container is used by being installed in an apparatus body for processing or measuring a substrate. The substrate is supplied from the container to the device body,
After processing or measurement is performed here, it is stored again in the substrate storage container, and the entire container is transported to the next step.
【0003】通常、基板収納容器内から基板を搬入、搬
出する時、フィンガーを基板間の間隙に挿入して、フィ
ンガー上に基板を搭載し、フィンガーと共に基板の出し
入れを行なう。しかし、容器内には通常複数枚の基板が
収納されており、基板間の間隙に基板に接触することな
くフィンガーを挿入するためには、容器内における基板
の枚数や位置を正確に把握する必要がある。Usually, when loading and unloading a substrate from the substrate storage container, a finger is inserted into a gap between the substrates, the substrate is mounted on the finger, and the substrate is moved in and out together with the finger. However, a container usually contains a plurality of substrates, and in order to insert a finger into the gap between the substrates without touching the substrates, it is necessary to accurately grasp the number and position of the substrates in the container. There is.
【0004】そこで、ハンド方式の基板搬送装置におい
て、基板の枚数や位置を検出する手段として、基板収納
容器内の各基板の位置レベル(高さ)をレーザー光によ
り検出することが提案されている。それは、基板収納容
器に収納される基板の水平方向かつ対向する位置にそれ
ぞれレーザー光の発光素子と受光素子を配置し、かつ、
基板の間を透過させることのできる透過型の赤外線レー
ザー光を基板収納容器に対して相対的に上下させ、前記
赤外線レーザー光が基板により遮光される数または位置
を測定することにより基板の枚数または位置を検出する
ものであつた。In order to detect the number and position of substrates in a hand-type substrate transfer device, it has been proposed to detect the position level (height) of each substrate in a substrate storage container using laser light. . It arranges the light emitting element and the light receiving element of the laser light respectively in the horizontal and opposite positions of the substrate stored in the substrate storage container, and
The transmission type infrared laser light that can be transmitted between the substrates is moved up and down relatively to the substrate storage container, and the number or the number of the substrates is measured by measuring the number or the position where the infrared laser light is blocked by the substrate. It was to detect the position.
【0005】[0005]
【発明が解決しようとする課題】しかしながら、上記の
検知装置では、基板の位置検出のために基板収納容器の
前後を挟むように発光素子と受光素子とを配置している
ため検知装置配置に必要なスペースが大きくなつてしま
うという問題があった。さらに、基板収納容器背面が閉
じられた形での基板収納容器では、照射光が遮られて、
または、容器材料によっては複屈折により、光学的に不
透明な状態になり、受光素子が光を検出することができ
なくなってしまうという問題が出てきた。However, in the above detecting device, the light emitting element and the light receiving element are arranged so as to sandwich the front and rear of the substrate storage container for detecting the position of the substrate. There is a problem that a large space becomes large. Furthermore, in the case of the substrate storage container in which the back surface of the substrate storage container is closed, the irradiation light is blocked,
Alternatively, there has been a problem that an optically opaque state occurs due to birefringence depending on a container material, and the light receiving element cannot detect light.
【0006】本発明は、上述の従来例における問題点に
鑑みてなされたもので、その目的は、基板収納容器に対
して一方向より、基板収納容器内における基板の位置や
枚数を精確に検知することができ、しかも、装置におけ
る占有スペースが少なくて済む基板位置検知が可能な基
板収納容器およびその容器に対して基板を出し入れする
基板搬送装置を提供することにある。SUMMARY OF THE INVENTION The present invention has been made in view of the above-described problems in the conventional example, and has as its object to accurately detect the position and the number of substrates in a substrate storage container from one direction with respect to the substrate storage container. It is another object of the present invention to provide a substrate storage container capable of detecting the position of a substrate and requiring a small space occupied in the apparatus, and a substrate transfer device for transferring substrates into and out of the container.
【0007】[0007]
【課題を解決するための手段】上記目的を達成するた
め、本発明の基板収納容器は、平板状かつ薄板状の基板
を複数枚垂直方向に一定間隔で保持するための複数の溝
を少なくとも左右の側壁に有し、正面から基板を前記溝
に対して挿入および取り出しされる基板収納容器におい
て、背壁にリフレクターを設けたことを特徴とする。前
記リフレクターとしては例えばミラーを用いるころがで
きる。また、このミラーは、複数個のコーナーキューブ
ミラーを前記背壁に平面的に配置したもので構成するこ
とができる。前記背壁が透明である場合、前記リフレク
ターは該背壁の表裏いずれの面にも設けることができ
る。In order to achieve the above object, a substrate storage container according to the present invention has a plurality of grooves for holding a plurality of flat and thin substrates at regular intervals in a vertical direction. A substrate storage container having a substrate inserted into and taken out of the groove from the front side, wherein a reflector is provided on a back wall. For example, a mirror can be used as the reflector. Further, this mirror can be constituted by a plurality of corner cube mirrors arranged in a plane on the back wall. When the back wall is transparent, the reflector can be provided on both front and back surfaces of the back wall.
【0008】また、本発明の基板搬送装置は、上記の基
板収納容器に対して基板を搬出入するための基板搬送装
置であって、基板を上記基板収納容器内に収納しまたは
該基板収納容器から取り出すためのフィンガーと、該フ
ィンガーを水平に移動して上記基板収納容器内に進入さ
せまたは該基板収納容器内から退避させるハンド機構と
を備え上記基板収納容器の設置場所に対して相対的に上
下方向に移動可能な搬送部と、この搬送部に設けられ記
基板収納容器に対し前記フィンガーに沿って光ビームを
水平方向に照射する投光手段と、上記基板収納容器に対
し該投光手段と同一側に配置され、該基板収納容器の正
面側から照射され該基板収納容器の背壁のリフレクター
との間を該基板収納容器内の基板によって遮られること
なく往復した光ビームを検出する受光手段と、前記受光
手段の出力に基づいて前記フィンガーと前記ハンド機構
によって前記基板収納容器内に進入させる際の前記フィ
ンガーと上記基板収納容器の位置関係を調節する手段と
を具備することを特徴とする。Further, the present invention provides a substrate transfer apparatus for carrying a substrate into and out of the substrate storage container, wherein the substrate is stored in the substrate storage container or the substrate storage container. And a hand mechanism for moving the finger horizontally to enter the substrate storage container or to retract from the substrate storage container, relative to the installation location of the substrate storage container. A transport unit movable in the vertical direction, a light projecting unit provided in the transport unit for horizontally irradiating a light beam along the finger to the substrate storage container, and a light projecting unit to the substrate storage container And a light beam irradiated from the front side of the substrate storage container and reciprocated between the reflector on the back wall of the substrate storage container without being blocked by the substrate in the substrate storage container. And a means for adjusting the positional relationship between the finger and the substrate storage container when the finger and the hand mechanism enter the substrate storage container based on the output of the light reception device. It is characterized by doing.
【0009】[0009]
【作用】基板収納容器に対して、1方向から基板の枚数
を検知するために、基板収納容器の背面内側または外側
にリフレク夕一を取り付けて、該リフレク夕一により投
光手段から照射された光ビームを反射し、受光手段で光
ビームが基板により遮られたかを検知することにより、
基板収納容器内の基板の枚数を知ることができる。In order to detect the number of substrates from one direction with respect to the substrate storage container, a reflection plate is attached to the inside or outside of the back surface of the substrate storage container, and the light is emitted from the light emitting means by the reflection. By reflecting the light beam and detecting whether the light beam is blocked by the substrate with the light receiving means,
The number of substrates in the substrate storage container can be known.
【0010】また、リフレク夕一としてコーナーキュー
ブミラーを用いた場合、投光手段により照射された光ビ
ームが基板収納容器に対して傾いて入射してきても、コ
ーナーキューブミラーにより常に入射光に対して平行に
反射光を返すことができるので、基板枚数に関する誤検
知をなくすことができる。Further, when a corner cube mirror is used as a reflection, even if the light beam emitted by the light projecting means is incident on the substrate storage container at an angle, the corner cube mirror always reflects incident light. Since the reflected light can be returned in parallel, erroneous detection regarding the number of substrates can be eliminated.
【0011】[0011]
【発明の実施の形態】本発明の好ましい実施の一形態に
おいて、基板収納容器(カセット)は、半導体ウエハな
どの基板を垂直方向に一定のピッチ間隔で複数枚を搭載
するための溝を側壁の少なくとも両側に有するとともに
前記カセットの基板取り出し口と反対側の壁面にリフレ
ク夕一を備える。そして、基板搬送装置は、このカセッ
トに対して基板を収納しまたは取り出すためのフィンガ
ーと該フィンガーを水平に移動して前記カセット内に進
入させまたは該カセット内から退避させるために利用さ
れるハンド機構とを備え前記カセットの設置場所に対し
て相対的に上下方向に移動可能な搬送部と、この搬送部
に設けられ前記カセットに対して前記フィンガーに沿っ
て光を水平方向に照射する投光手段および前記カセット
の背面内側のリフレク夕一により反射された前記基板に
よって遮られることなく通過してきた前記ビームを検出
する受光手段(センサー)とを有し、前記センサーの出
力を利用して、前記フィンガーと前記ハンド機構によっ
て前記カセット内に進入させる際の前記フィンガーと前
記カセットの位置関係を調節して基板の搬出入を行な
う。リフレク夕一は例えばコーナーキューブミラーであ
る。DESCRIPTION OF THE PREFERRED EMBODIMENTS In a preferred embodiment of the present invention, a substrate accommodating container (cassette) is provided with a groove for mounting a plurality of substrates such as semiconductor wafers at a constant pitch in a vertical direction on a side wall. A reflector is provided on at least both sides and on the wall surface of the cassette opposite to the substrate outlet. The substrate transfer device includes a finger for storing or removing a substrate with respect to the cassette, and a hand mechanism used to move the finger horizontally to enter the cassette or to retract from the cassette. A transport unit that is vertically movable relative to the installation location of the cassette, and a light emitting unit that is provided in the transport unit and irradiates the cassette with light in the horizontal direction along the fingers. And a light-receiving means (sensor) for detecting the beam that has passed without being blocked by the substrate reflected by the reflection inside the rear surface of the cassette, and using the output of the sensor, And adjusting the positional relationship between the finger and the cassette when entering the cassette by the hand mechanism. Perform the loading and unloading. Reflection Yuichi is, for example, a corner cube mirror.
【0012】カセットに対して、1方向から基板の枚数
を検知するために、カセットの背面内側または外側にコ
ーナーキューブミラーを取り付けて、コーナーキューブ
ミラーにより発光素子から照射されたレーザー光を反射
し、受光素子でレーザー光が基板により遮られたかを検
知することにより、カセット内の基板の枚数を知ること
ができる。In order to detect the number of substrates in one direction from the cassette, a corner cube mirror is attached to the inside or outside of the back of the cassette, and the laser light emitted from the light emitting element is reflected by the corner cube mirror. The number of substrates in the cassette can be known by detecting whether or not the laser light is blocked by the substrate with the light receiving element.
【0013】また、発光素子により照射されたレーザー
光がカセットに対して傾いて入射してきても、コーナー
キューブミラーにより常に入射光に対して平行に反射光
を返すことができるので、基板枚数に関する誤検知をな
くすことができる。Further, even if the laser beam emitted by the light emitting element is incident on the cassette at an angle, the corner cube mirror can always return the reflected light parallel to the incident light. Detection can be eliminated.
【0014】また、発光素子により照射されたレーザー
光がカセットに対して傾いて入射してきても、コーナー
キューブミラーにより常に入射光に対して平行に反射光
を返すことができるので、基板枚数に関する誤検知をな
くすことができる。Further, even if the laser beam emitted by the light emitting element enters the cassette at an angle, the reflected light can always be returned parallel to the incident light by the corner cube mirror. Detection can be eliminated.
【0015】[0015]
【実施例】以下、図面により本発明の実施例を説明す
る。図1は、本発明の1実施例に係る基板収納容器、基
板位置検知機構および基板搬送機構の側面図を示す。こ
の実施例においては、図1のように、基板の保持部とし
てのフィンガー5と、基板収納容器1の基板挿脱口(正
面)に対向する位置に設けられ、フィンガー5を基板収
納容器1に対して直線状に移動させるために第1ハンド
アーム7と第2ハンドアーム8を折り曲げることができ
るハンド部6と、フィンガー5面上に保持された基板の
向きを変えるためにハンド部6を回転させる時に使用さ
れるハンド回転部9と、また、ハンド部6自体をリニア
ガイド12でガイドされながら、ボールネジ11を回転
させることによりを昇降させることのできるハンド昇降
部10により、基板搬送機構が構成されている。Embodiments of the present invention will be described below with reference to the drawings. FIG. 1 shows a side view of a substrate storage container, a substrate position detecting mechanism, and a substrate transport mechanism according to one embodiment of the present invention. In this embodiment, as shown in FIG. 1, a finger 5 as a substrate holding portion is provided at a position facing a substrate insertion / removal opening (front) of the substrate storage container 1. The hand unit 6 can bend the first hand arm 7 and the second hand arm 8 for linear movement, and the hand unit 6 is rotated to change the direction of the substrate held on the finger 5 surface. A substrate transport mechanism is constituted by a hand rotating unit 9 used at times and a hand lifting unit 10 capable of moving up and down by rotating a ball screw 11 while the hand unit 6 itself is guided by a linear guide 12. ing.
【0016】搭載物例えば基板を最大25枚垂直方向に
収納可能な基板収納容器1は、容器設置台4の上に、搬
送機構に対向する位置に置かれており、基板収納容器1
の背面(背壁30)内側には、コーナーキユーブミラー
3を基板収納方向と直交する平面内に2個以上設け、基
板収納容器1の溝に則した位置に配置している。A substrate storage container 1 capable of vertically storing a load, for example, 25 substrates, is placed on a container mounting table 4 at a position facing the transport mechanism.
Inside the back surface (back wall 30), two or more corner cube mirrors 3 are provided in a plane perpendicular to the substrate storage direction, and are arranged at positions corresponding to the grooves of the substrate storage container 1.
【0017】基板収納容器1には複数枚の基板2が収納
されているが、フィンガー5を搬出すべき所望の基板2
と隣接する基板2の間に挿入するためには、基板の位置
を精確に検知する必要がある。そこで、ハンド部6に基
板位置検出機構を組み込んで使用する。A plurality of substrates 2 are stored in the substrate storage container 1.
In order to insert the substrate between the adjacent substrates 2, it is necessary to accurately detect the position of the substrate. Therefore, the hand position 6 is used by incorporating a substrate position detecting mechanism.
【0018】基板位置検出機構の基本的な構成として
は、発光素子13と、発光素子13から出た照射光(レ
ーザー)15を前記のコーナーキユーブミラー3へ向け
て反射させ、一方コーナーキューブミラー3によって反
射されたレーザー16を透過させるハーフミラー17
と、ハーフミラー17を透過したレーザーを検出するた
めの受光素子14とを有している。フィンガー5とレー
ザー光路とのレベル(高低)差による位置補正の必要を
なくすためにフィンガー5とレーザー光路とのレベルを
極めて近接させることが望ましい。The basic structure of the substrate position detecting mechanism is as follows. The light emitting element 13 and the irradiation light (laser) 15 emitted from the light emitting element 13 are reflected toward the corner cube mirror 3 while the corner cube mirror is Half mirror 17 transmitting laser 16 reflected by 3
And a light receiving element 14 for detecting the laser transmitted through the half mirror 17. In order to eliminate the need for position correction due to the level (height) difference between the finger 5 and the laser light path, it is desirable that the level between the finger 5 and the laser light path be extremely close.
【0019】昇降装置10により、ハンド部6を昇降さ
せることにより、レーザー光は基板2によって遮られた
り、また、基板2のない所では、コーナーキューブミラ
ー3に反射して受光素子14に入射する。レーザーの光
路上に障害物があると、レーザー光は散乱され、受光素
子14に入射する光量が少なくなることによってセンサ
ー14の出力が低下し、光路上に基板2があることを示
す。これにより、受光素子14の出力を見れば、基板2
の有無を検知することができる。基板2が光路に存在す
れば、受光素子14の出力が“L”レベルになり、基板
2が存在しなければ、受光素子14の出力はある一定の
“H”レベルになるので、基板2の存在を知ることがで
きる。昇降装置10に前記受光素子14の出力を協働さ
せれば、基板収納容器1内の基板2の位置を知ることが
できる。When the hand unit 6 is moved up and down by the elevating device 10, the laser beam is blocked by the substrate 2 or, when there is no substrate 2, reflected by the corner cube mirror 3 and incident on the light receiving element 14. . If there is an obstacle on the optical path of the laser, the laser light is scattered, and the amount of light incident on the light receiving element 14 decreases, so that the output of the sensor 14 decreases, indicating that the substrate 2 is on the optical path. Thus, if the output of the light receiving element 14 is viewed, the substrate 2
Can be detected. If the substrate 2 exists in the optical path, the output of the light receiving element 14 goes to the “L” level, and if the substrate 2 does not exist, the output of the light receiving element 14 goes to a certain “H” level. You can know its existence. If the output of the light receiving element 14 is made to cooperate with the lifting device 10, the position of the substrate 2 in the substrate storage container 1 can be known.
【0020】また、図2は、基板収納容器1正面図の拡
大図であり、コーナーキューブミラー3が基板収納容器
1の背面内側に配置されている。基板収納容器1の左右
両側面(側壁40)には基板を保持するための基板保持
爪18および溝19があり、基板収納容器1内には、複
数枚の基板2が基板保持爪18により保持されている。
コーナーキューブミラー3は、垂直方向には、垂直方向
に隣り合った前記の基板保持爪18の水平方向の中心線
の間に、水平方向には、この実施例では基板収納容器1
に対して水平に三つ、隙間なく並んで配置されている。FIG. 2 is an enlarged view of the front view of the substrate storage container 1, and the corner cube mirror 3 is disposed inside the back surface of the substrate storage container 1. A substrate holding claw 18 and a groove 19 for holding a substrate are provided on both left and right side surfaces (side walls 40) of the substrate storage container 1, and a plurality of substrates 2 are held in the substrate storage container 1 by the substrate holding claw 18. Have been.
The corner cube mirror 3 is provided between the horizontal center lines of the substrate holding claws 18 vertically adjacent to each other in the vertical direction.
Are arranged horizontally without gaps.
【0021】図3は、図2のB−B断面図である。溝1
9の間に基板2が保持されていれば、コーナーキューブ
ミラー3のピッチの間に基板2は存在している。図4
は、図3の拡大図であり、a,bは溝19の間に基板2
が保持されていない状態の、c,dは溝19の間に基板
2が保持されている状態の、コーナーギューブミラー3
の設置面に対して垂直にレーザー光を照射した時の光路
を表わしている。レーザーの光路上に基板2があると、
レーザー光は散乱され、レーザーの光路が途切れる。図
4のaにおいて、コーナーキューブミラー3に入射した
光は、第1反射面20で正反射して第2反射面21に入
射し、第2反射面21においても正反射する。コーナー
キューブミラー3のコーナー角を直角にしたため、入射
光15と反射光16の錯角の和が180度になり、コー
ナーキューブミラー3により入射光15に平行に反射光
16を返すことができる。FIG. 3 is a sectional view taken along line BB of FIG. Groove 1
9, the substrate 2 exists between the pitches of the corner cube mirror 3. FIG.
3 is an enlarged view of FIG.
Are not held, and c and d are corner-gebulated mirrors 3 where the substrate 2 is held between the grooves 19.
Shows an optical path when a laser beam is irradiated perpendicularly to the installation surface of the laser beam. If the substrate 2 is on the laser beam path,
The laser light is scattered and the optical path of the laser is interrupted. In FIG. 4A, the light that has entered the corner cube mirror 3 is specularly reflected by the first reflecting surface 20 and is incident on the second reflecting surface 21, and is also specularly reflected by the second reflecting surface 21. Since the corner angle of the corner cube mirror 3 is set to a right angle, the sum of the complex angles of the incident light 15 and the reflected light 16 becomes 180 degrees, and the reflected light 16 can be returned by the corner cube mirror 3 in parallel with the incident light 15.
【0022】また、図5はコーナーキユーブミラー3の
設置面に対して傾けてレーザーを照射した場合を示して
いる。この場合においても、コーナーキューブミラー3
のコーナー角が直角であるので、入射光15と反射光1
6の錯角の和が180度になり、コーナーキューブミラ
ー3により、入射光15に平行に反射光16を返すこと
ができる。このことにより、コーナーキューブミラー3
に対してレーザー光が垂直に入射してきても、傾いて入
射してきても、受光素子14に確実に反射光を返すこと
ができる。FIG. 5 shows a case where the laser is irradiated while being inclined with respect to the installation surface of the corner cube mirror 3. Also in this case, the corner cube mirror 3
Of the incident light 15 and the reflected light 1
6 becomes 180 degrees, and the reflected light 16 can be returned by the corner cube mirror 3 in parallel with the incident light 15. As a result, the corner cube mirror 3
The reflected light can be reliably returned to the light receiving element 14 regardless of whether the laser beam is incident perpendicularly or inclined.
【0023】図3に対応した受光素子14の出力電圧は
図6のようになっており、各々のスロット位置におい
て、電圧が“L”レベルになれば基板が存在し、電圧が
“H”レベルになれば基板が存在しないことを示してい
る。The output voltage of the light receiving element 14 corresponding to FIG. 3 is as shown in FIG. 6. At each slot position, if the voltage goes to "L" level, a substrate exists, and the voltage goes to "H" level. Indicates that the substrate does not exist.
【0024】図7は、垂直方向のコーナーキューブミラ
ー3の間隔を開けて、基板収納容器1に配置した時の様
子を表しており、図7に対応した受光素子14の出力電
圧を図8において表わしている。垂直方向にコーナーキ
ューブミラー3を配置するときに、故意にコーナーキュ
ーブミラー3の間隔を開けることにより、基板収納容器
の基板保持爪18の位置でのミラーによる反射がなくな
り、受光素子14からの出力電圧が“L”レベルにな
り、基板2の位置と同時にスロットの位置も検知するこ
とができる。FIG. 7 shows a state in which the corner cube mirrors 3 in the vertical direction are arranged in the substrate storage container 1 with an interval therebetween. The output voltage of the light receiving element 14 corresponding to FIG. 7 is shown in FIG. It represents. When the corner cube mirror 3 is disposed in the vertical direction, the interval between the corner cube mirrors 3 is intentionally increased so that the mirror is not reflected at the position of the substrate holding claw 18 of the substrate storage container, and the output from the light receiving element 14 is output. The voltage becomes “L” level, and the position of the slot can be detected simultaneously with the position of the substrate 2.
【0025】また、図9は図2のC−C断面図を表わし
ている。基板収納容器1に対して、水平方向のレーザー
光が傾いても、コーナーキューブミラー3の水平方向の
コーナー角も直角にしてあるので、コーナーキューブミ
ラー3は入射光15に平行に反射光16を返すことがで
きる。このことにより、コーナーキューブミラー3の設
置面が基板収納容器1に対して多少傾いても、また基板
収納容器1が多少傾いて容器設置台3に設置されても基
板2を検知することができる。また、水平方向にコーナ
ーキューブミラー3を2つ以上配置しているので、より
確実に反射光を受光素子に返すことが可能である。FIG. 9 is a sectional view taken along the line CC of FIG. Even if the horizontal laser light is inclined with respect to the substrate storage container 1, the horizontal corner angle of the corner cube mirror 3 is also set at a right angle, so that the corner cube mirror 3 reflects the reflected light 16 in parallel with the incident light 15. Can be returned. Thus, the substrate 2 can be detected even when the installation surface of the corner cube mirror 3 is slightly inclined with respect to the substrate storage container 1 or when the substrate storage container 1 is slightly inclined and is installed on the container installation table 3. . Further, since two or more corner cube mirrors 3 are arranged in the horizontal direction, it is possible to more reliably return the reflected light to the light receiving element.
【0026】図10は、基板収納容器3の基板取り出し
口と反対側の壁面の外側に切りかけを作り、アルミなど
の金属で切りかけ面を蒸着することによりコーナーキュ
ーブミラーを製作した基板収納容器の断面図を表わして
いる。このように基板収納容器3の基板取り出し口と反
対側の壁面の外側にコーナーキューブミラーを設けて
も、基板収納容器の材質を透明な材質により製作すれ
ば、今まで説明してきた実施例と同じ効果を得ることが
できる。FIG. 10 shows a cross section of a substrate storage container in which a corner cube mirror is manufactured by making a notch on the outside of the wall surface of the substrate storage container 3 opposite to the substrate take-out opening and depositing the cut surface with a metal such as aluminum. FIG. Even if the corner cube mirror is provided on the outside of the wall surface of the substrate storage container 3 opposite to the substrate take-out opening, if the substrate storage container is made of a transparent material, the same as the embodiment described above is obtained. The effect can be obtained.
【0027】このことにより、基板収納容器1に対して
コーナーキューブミラー3が多少傾いて設置されても、
また、レーザー光線に対して基板収納容器1が傾くこと
によって、レーザー光線に対してコーナーキューブミラ
ー3が傾いても、入射光15に対して反射光16を受光
素子に平行に返すことができるので、基板2の有無に関
して誤ることなく検知することができる。Thus, even if the corner cube mirror 3 is set to be slightly inclined with respect to the substrate storage container 1,
Further, when the substrate storage container 1 is tilted with respect to the laser beam, even if the corner cube mirror 3 is tilted with respect to the laser beam, the reflected light 16 can be returned to the incident light 15 in parallel to the light receiving element. 2 can be detected without error.
【0028】また、上述の実施例では、基板保持爪のピ
ッチに対してコーナーキューブミラーを1つ設けたが、
コーナーキューブミラーをより細かくして、基板保持爪
の1つのピッチに対して複数のコーナーキューブミラー
を設けても同じような効果を得ることができる。また、
コーナーキューブミラーの縦および横寸法をレーザー光
の幅よりも細かくすることにより、コーナーキユーブミ
ラーのエッジの部分におけるレーザー光の散乱を平均化
することができ、また、入射光と反射光の光路差を小さ
くすることができるので、より正確に基板収納容器1内
の基板2の有無に関して検知することができる。上述の
実施例ではハンドと位置検出装置を可動とし、基板収納
容器を固定としたが、基板収納容器と位置検出装置が相
対的に移動すればよい。In the above embodiment, one corner cube mirror is provided for the pitch of the substrate holding claws.
A similar effect can be obtained by making the corner cube mirror finer and providing a plurality of corner cube mirrors for one pitch of the substrate holding claws. Also,
By making the vertical and horizontal dimensions of the corner cube mirror smaller than the width of the laser light, the scattering of the laser light at the edge of the corner cube mirror can be averaged, and the optical path of the incident light and the reflected light can be reduced. Since the difference can be reduced, the presence or absence of the substrate 2 in the substrate storage container 1 can be detected more accurately. In the above-described embodiment, the hand and the position detection device are movable and the substrate storage container is fixed, but it is sufficient that the substrate storage container and the position detection device move relatively.
【0029】[0029]
【デバイス生産方法の実施例】次に上記説明した露光装
置または露光方法を利用したデバイスの生産方法の実施
例を説明する。図11は微小デバイス(ICやLSI等
の半導体チップ、液晶パネル、CCD、薄膜磁気ヘッ
ド、マイクロマシン等)の製造のフローを示す。ステッ
プ1(回路設計)ではデバイスのパターン設計を行な
う。ステップ2(マスク製作)では設計したパターンを
形成したマスクを製作する。一方、ステップ3(ウエハ
製造)ではシリコンやガラス等の材料を用いてウエハを
製造する。ステップ4(ウエハプロセス)は前工程と呼
ばれ、上記用意したマスクとウエハを用いて、リソグラ
フィ技術によってウエハ上に実際の回路を形成する。次
のステップ5(組み立て)は後工程と呼ばれ、ステップ
4によって作製されたウエハを用いて半導体チップ化す
る工程であり、アッセンブリ工程(ダイシング、ボンデ
ィング)、パッケージング工程(チップ封入)等の工程
を含む。ステップ6(検査)ではステップ5で作製され
た半導体デバイスの動作確認テスト、耐久性テスト等の
検査を行なう。こうした工程を経て半導体デバイスが完
成し、これが出荷(ステップ7)される。[Embodiment of Device Production Method] Next, an embodiment of a device production method using the above-described exposure apparatus or exposure method will be described. FIG. 11 shows a flow of manufacturing micro devices (semiconductor chips such as ICs and LSIs, liquid crystal panels, CCDs, thin-film magnetic heads, micromachines, etc.). In step 1 (circuit design), a device pattern is designed. Step 2 is a process for making a mask on the basis of the designed pattern. On the other hand, in step 3 (wafer manufacture), a wafer is manufactured using a material such as silicon or glass. Step 4 (wafer process) is called a pre-process, and an actual circuit is formed on the wafer by lithography using the prepared mask and wafer. The next step 5 (assembly) is called a post-process, and is a process of forming a semiconductor chip using the wafer produced in step 4, and includes processes such as an assembly process (dicing and bonding) and a packaging process (chip encapsulation). including. In step 6 (inspection), inspections such as an operation confirmation test and a durability test of the semiconductor device manufactured in step 5 are performed. Through these steps, a semiconductor device is completed and shipped (step 7).
【0030】図12は上記ウエハプロセスの詳細なフロ
ーを示す。ステップ11(酸化)ではウエハの表面を酸
化させる。ステップ12(CVD)ではウエハ表面に絶
縁膜を形成する。ステップ13(電極形成)ではウエハ
上に電極を蒸着によって形成する。ステップ14(イオ
ン打込み)ではウエハにイオンを打ち込む。ステップ1
5(レジスト処理)ではウエハに感光剤を塗布する。ス
テップ16(露光)では露光装置によってマスクの回路
パターンをウエハに焼付露光する。ステップ17(現
像)では露光したウエハを現像する。ステップ18(エ
ッチング)では現像したレジスト像以外の部分を削り取
る。ステップ19(レジスト剥離)ではエッチングが済
んで不要となったレジストを取り除く。これらのステッ
プを繰り返し行なうことによって、ウエハ上に多重に回
路パターンが形成される。本実施例ではこの繰り返しの
各プロセスにおいて、半導体ウエハを収納した上述の基
板収納容器をプロセスに応じた位置に搬送して設置し、
基板収納容器から上述した基板搬送装置により半導体ウ
エハを取り出してプロセスに応じた処理を施し、かつ上
述した基板搬送装置を用いて上述した基板収納容器に収
納する。FIG. 12 shows a detailed flow of the wafer process. Step 11 (oxidation) oxidizes the wafer's surface. Step 12 (CVD) forms an insulating film on the wafer surface. Step 13 (electrode formation) forms electrodes on the wafer by vapor deposition. In step 14 (ion implantation), ions are implanted into the wafer. Step 1
In 5 (resist processing), a photosensitive agent is applied to the wafer. Step 16 (exposure) uses the exposure apparatus to print and expose the circuit pattern of the mask onto the wafer. Step 17 (development) develops the exposed wafer. In step 18 (etching), portions other than the developed resist image are removed. In step 19 (resist stripping), unnecessary resist after etching is removed. By repeating these steps, multiple circuit patterns are formed on the wafer. In the present embodiment, in each of the repetitive processes, the above-described substrate storage container storing the semiconductor wafer is transported to a position corresponding to the process and installed.
The semiconductor wafer is taken out of the substrate storage container by the above-described substrate transfer device, processed according to a process, and stored in the above-described substrate storage container using the above-described substrate transfer device.
【0031】本実施例の生産方法を用いれば、従来は製
造が難しかった高集積度のデバイスを低コストに製造す
ることができる。By using the production method of this embodiment, it is possible to produce a highly integrated device at a low cost, which was conventionally difficult to produce.
【0032】[0032]
【発明の効果】以上説明したように本発明によれば、基
板収納容器内の基板挿脱口に対向する壁(背壁)にリフ
レクターを備えたので、基板収納容器に対して一方向に
配置した投光手段および受光手段により基板とフィンガ
ーの相対位置検出を精確に行なうことができ、精確な基
板の搬出入を行なうことができる。また、リフレクター
をコーナーキューブ状のミラーにすれば、リフレクター
に対し投光手段の入射光が相対的に傾いても、リフレク
ターは入射光に平行に反射光を返すことができる。As described above, according to the present invention, since the reflector is provided on the wall (back wall) facing the substrate insertion / removal opening in the substrate storage container, it is arranged in one direction with respect to the substrate storage container. The relative position between the substrate and the finger can be accurately detected by the light projecting means and the light receiving means, and accurate loading and unloading of the substrate can be performed. Further, if the reflector is a mirror having a corner cube shape, the reflector can return the reflected light parallel to the incident light even if the incident light of the light projecting means is relatively inclined with respect to the reflector.
【図1】 本発明の一実施例の概略構成図である。FIG. 1 is a schematic configuration diagram of an embodiment of the present invention.
【図2】 図1におけるA−A断面の拡大図であり、図
1の実施例における基板収納容器の正面図である。FIG. 2 is an enlarged view of a cross section taken along the line AA in FIG. 1, and is a front view of the substrate storage container in the embodiment of FIG.
【図3】 図2におけるB−Bの断面図であり、図1の
実施例における基板収納容器の側面図である。FIG. 3 is a cross-sectional view taken along line BB in FIG. 2, and is a side view of the substrate storage container in the embodiment of FIG.
【図4】 レーザー光に対してコーナーキューブミラー
の設置面が垂直のときのレーザーの光路を表わしてい
る。FIG. 4 shows an optical path of a laser when an installation surface of a corner cube mirror is perpendicular to laser light.
【図5】 レーザー光に対してコーナーキューブミラー
の設置面が傾いているときのレーザーの光路を表わして
いる。FIG. 5 shows an optical path of a laser when an installation surface of a corner cube mirror is inclined with respect to a laser beam.
【図6】 図3に対応する受光素子からの出力を表わし
ている。FIG. 6 shows an output from a light receiving element corresponding to FIG.
【図7】 垂直方向のコーナーキューブミラー3の間隔
を開けて、基板収納容器に配置したとき時の様子を表わ
している。FIG. 7 shows a state where the corner cube mirrors 3 in the vertical direction are arranged in a substrate storage container with an interval therebetween.
【図8】 図7に対応する受光素子からの出力電圧を表
わしている。FIG. 8 shows an output voltage from the light receiving element corresponding to FIG.
【図9】 図2におけるC−C断面図であり、図1の実
施例における基板収納容器の上面図である。9 is a cross-sectional view taken along the line CC in FIG. 2, and is a top view of the substrate storage container in the embodiment of FIG.
【図10】 基板取り出し口と反対側の壁面の外側にコ
ーナーキューブミラーを備えた基板収納容器の断面図で
ある。FIG. 10 is a cross-sectional view of a substrate storage container provided with a corner cube mirror on the outside of the wall surface opposite to the substrate outlet.
【図11】 微小デバイスの製造の流れを示す図であ
る。FIG. 11 is a diagram showing a flow of manufacturing a micro device.
【図12】 図11におけるウエハプロセスの詳細な流
れを示す図である。FIG. 12 is a diagram showing a detailed flow of a wafer process in FIG. 11;
1:基板収納容器、2:基板、3:コーナーキューブミ
ラー、4:容器設置台、5:フィンガー、6:ハンド
部、9:ハンド回転部、10:昇降装置、13:受光素
子、14:発光素子、30:背壁、40:側壁。1: substrate storage container, 2: substrate, 3: corner cube mirror, 4: container mounting table, 5: finger, 6: hand unit, 9: hand rotating unit, 10: elevating device, 13: light receiving element, 14: light emission Element, 30: back wall, 40: side wall.
Claims (6)
向に一定間隔で保持するための複数の溝を少なくとも左
右の側壁に有し、正面から基板を前記溝に対して挿入お
よび取り出しされる基板収納容器において、背壁にリフ
レクターを備えたことを特徴とする基板収納容器。1. A plurality of grooves for holding a plurality of flat and thin substrates at predetermined intervals in a vertical direction on at least left and right side walls, and a substrate is inserted into and removed from the grooves from the front. A substrate storage container, comprising a reflector on a back wall of the substrate storage container.
を特徴とする請求項1記載の基板収納容器。2. The substrate storage container according to claim 1, wherein the reflector is a mirror.
された複数個のコーナーキューブミラーであることを特
徴とする請求項2記載の基板収納容器。3. The substrate storage container according to claim 2, wherein the mirror is a plurality of corner cube mirrors arranged in a plane on the back wall.
ーが該背壁の背面に設けられていることを特徴とする請
求項1〜3のいずれかに記載の基板収納容器。4. The substrate storage container according to claim 1, wherein the back wall is transparent, and the reflector is provided on a back surface of the back wall.
納容器に対して基板を搬出入するための基板搬送装置で
あって、 基板を前記基板収納容器内に収納しまたは該基板収納容
器から取り出すためのフィンガーと、該フィンガーを水
平に移動して前記基板収納容器内に進入させまたは該基
板収納容器内から退避させるハンド機構とを備え前記基
板収納容器の設置場所に対して相対的に上下方向に移動
可能な搬送部と、 この搬送部に設けられ前記基板収納容器に対し前記フィ
ンガーに沿って光ビームを水平方向に照射する投光手段
と、 前記基板収納容器に対し該投光手段と同一側に配置さ
れ、該基板収納容器の正面側から照射され該基板収納容
器の背壁のリフレクターとの間を該基板収納容器内の基
板によって遮られることなく往復した光ビームを検出す
る受光手段と、 前記受光手段の出力に基づいて前記フィンガーと前記ハ
ンド機構によって前記基板収納容器内に進入させる際の
前記フィンガーと前記基板収納容器の位置関係を調節す
る手段とを具備することを特徴とする基板搬出入装置。5. A substrate transport apparatus for carrying a substrate into and out of the substrate storage container according to claim 1, wherein the substrate is stored in the substrate storage container or the substrate storage. A finger mechanism for removing the finger from the container, and a hand mechanism for moving the finger horizontally to enter the substrate storage container or to retract from the substrate storage container, relative to the installation location of the substrate storage container. A light transfer means provided in the transfer part for irradiating the substrate storage container with a light beam in a horizontal direction along the fingers; and a light projection means for the substrate storage container. A light beam irradiating from the front side of the substrate storage container and reciprocating between the reflector on the back wall of the substrate storage container without being blocked by the substrate in the substrate storage container. A light receiving unit for detecting a system; and a unit for adjusting a positional relationship between the finger and the substrate storage container when the finger and the hand mechanism enter the substrate storage container based on an output of the light receiving unit. A substrate carrying-in / out device.
納容器または請求項5に記載の基板搬送装置を用いて製
造したことを特徴とする半導体デバイス。6. A semiconductor device manufactured by using the substrate storage container according to claim 1 or the substrate transfer device according to claim 5.
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP8728597A JPH10270526A (en) | 1997-03-24 | 1997-03-24 | Substrate container and board carrier device |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP8728597A JPH10270526A (en) | 1997-03-24 | 1997-03-24 | Substrate container and board carrier device |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPH10270526A true JPH10270526A (en) | 1998-10-09 |
Family
ID=13910532
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP8728597A Pending JPH10270526A (en) | 1997-03-24 | 1997-03-24 | Substrate container and board carrier device |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JPH10270526A (en) |
Cited By (4)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US7424339B2 (en) | 2004-03-15 | 2008-09-09 | Kawasaki Jukogyo Kabushiki Kaisha | Method and system for acquiring delivery position data of carrying apparatus |
CN101740346A (en) * | 2008-11-04 | 2010-06-16 | 株式会社迪思科 | Semiconductor wafer processing device |
US8379082B2 (en) | 2008-03-05 | 2013-02-19 | Applied Materials, Inc. | System, methods and apparatus for substrate carrier content verification using a material handling system |
US8888433B2 (en) | 2004-08-19 | 2014-11-18 | Brooks Automation, Inc. | Reduced capacity carrier and method of use |
-
1997
- 1997-03-24 JP JP8728597A patent/JPH10270526A/en active Pending
Cited By (5)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
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US7424339B2 (en) | 2004-03-15 | 2008-09-09 | Kawasaki Jukogyo Kabushiki Kaisha | Method and system for acquiring delivery position data of carrying apparatus |
US8888433B2 (en) | 2004-08-19 | 2014-11-18 | Brooks Automation, Inc. | Reduced capacity carrier and method of use |
US9881825B2 (en) | 2004-08-19 | 2018-01-30 | Brooks Automation, Inc. | Reduced capacity carrier and method of use |
US8379082B2 (en) | 2008-03-05 | 2013-02-19 | Applied Materials, Inc. | System, methods and apparatus for substrate carrier content verification using a material handling system |
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