JPH10257233A - 積分管理型光学センサ・アレイのための装置および方法 - Google Patents

積分管理型光学センサ・アレイのための装置および方法

Info

Publication number
JPH10257233A
JPH10257233A JP10031952A JP3195298A JPH10257233A JP H10257233 A JPH10257233 A JP H10257233A JP 10031952 A JP10031952 A JP 10031952A JP 3195298 A JP3195298 A JP 3195298A JP H10257233 A JPH10257233 A JP H10257233A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
optical sensor
array
sensor array
optical
output
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Pending
Application number
JP10031952A
Other languages
English (en)
Inventor
J Aswell Cecile
ジェイ.アスウエル セシル
H Berlean John
エイチ.バーリアン ジョン
G Dearshuk Eugene
ジー.デイアーシュク ユージン
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Texas Instruments Inc
Original Assignee
Texas Instruments Inc
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Texas Instruments Inc filed Critical Texas Instruments Inc
Publication of JPH10257233A publication Critical patent/JPH10257233A/ja
Pending legal-status Critical Current

Links

Classifications

    • HELECTRICITY
    • H04ELECTRIC COMMUNICATION TECHNIQUE
    • H04NPICTORIAL COMMUNICATION, e.g. TELEVISION
    • H04N1/00Scanning, transmission or reproduction of documents or the like, e.g. facsimile transmission; Details thereof
    • H04N1/40Picture signal circuits
    • HELECTRICITY
    • H04ELECTRIC COMMUNICATION TECHNIQUE
    • H04NPICTORIAL COMMUNICATION, e.g. TELEVISION
    • H04N25/00Circuitry of solid-state image sensors [SSIS]; Control thereof
    • H04N25/50Control of the SSIS exposure
    • H04N25/53Control of the integration time
    • H04N25/533Control of the integration time by using differing integration times for different sensor regions
    • HELECTRICITY
    • H04ELECTRIC COMMUNICATION TECHNIQUE
    • H04NPICTORIAL COMMUNICATION, e.g. TELEVISION
    • H04N25/00Circuitry of solid-state image sensors [SSIS]; Control thereof
    • H04N25/70SSIS architectures; Circuits associated therewith
    • H04N25/701Line sensors
    • HELECTRICITY
    • H04ELECTRIC COMMUNICATION TECHNIQUE
    • H04NPICTORIAL COMMUNICATION, e.g. TELEVISION
    • H04N25/00Circuitry of solid-state image sensors [SSIS]; Control thereof
    • H04N25/70SSIS architectures; Circuits associated therewith
    • H04N25/76Addressed sensors, e.g. MOS or CMOS sensors
    • H04N25/77Pixel circuitry, e.g. memories, A/D converters, pixel amplifiers, shared circuits or shared components

Landscapes

  • Engineering & Computer Science (AREA)
  • Multimedia (AREA)
  • Signal Processing (AREA)
  • Facsimile Heads (AREA)
  • Transforming Light Signals Into Electric Signals (AREA)
  • Facsimile Scanning Arrangements (AREA)

Abstract

(57)【要約】 【課題】 動く文書に対しても良好な光学的走査結果を
得る。 【解決手段】 アレイ・ブロック(12)を有する積分
管理型光学センサ・アレイ(11)。アレイ・ブロック
は、複数の光学センサ(13)、切替え制御論理回路
(59)、及びビット・シフト・レジスタ(60)を有
する。切替え制御論理回路(59)は、各光学センサ
(13)の積分周期を制御するように作用する。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【発明の属する技術分野】この発明は全般的に光学セン
サ・アレイに関し、更に具体的に言えば、積分管理型光
学センサ・アレイに関連する。
【0002】
【従来の技術及び課題】光学センサは、包装のバーコー
ドの走査、又は表示のための文書のディジタル化、又は
光学通信システムに対する印字に亘る多数の用途で使わ
れている。一般的に光学センサは、電磁エネルギを検出
し、光学センサに入射した電磁エネルギの強度に対応す
る電気信号を発生することによって動作する。一般的に
多数の光学センサが使われており、幾何学的にはアレイ
として配置される場合が多く、個々の光学センサはその
結果得られる電子表示のそれぞれの画素に対応している
(画素及び光学センサという用語は業界で使われてお
り、この出願では互換性を持つものとして用いてい
る)。こういうアレイは、1個の光学センサによって行
われるよりも、一層大きな空間的な区域を走査すること
ができる。他の用途ではラスター走査方式を使うことが
あり、そこで必要とされる光学センサの数は一層少ない
が、文書が完全に走査されるまで文書は増分的なパター
ンで走査される。
【0003】各々の光学センサからの電気信号は出力修
正器によって条件づけられるのが典型的である。出力修
正器は電気信号を条件づけ、即ち電気信号を、コンピュ
ータ・プロセッサによって理解し易い出力信号に変換す
る。出力修正器の機能は、電荷から電圧への増幅器又は
アナログ・ディジタル(A/D)変換器によって行うこ
とができる。
【0004】それぞれの光学センサに対応する出力修正
器からの出力信号が、次に、特定の用途に見合う形で処
理される。1つの用途では、コンピュータ・プロセッサ
が信号プロセッサとして作用して、種々の出力信号を集
めて、その結果の映像を表示又は印刷する。別の用途で
は、コンピュータ・プロセッサが、食料雑貨が精算レジ
スタまで移動してきた時、ベルト・コンベヤを停めるた
めに出力信号を使うことがある。光学センサが使われる
用途には限りがない。
【0005】光学センサは、MOS(金属酸化膜半導
体)、CMOS(相補形MOS)、I2L、J‐FET
又はBi‐CMOSを含む多くの半導体技術で製造する
ことができる。それぞれの製造技術は、性能、製造コス
ト及びそれに伴って必要な電源及びインターフェース回
路の点で兼合いがある。従来、光学センサはCCD(電
荷結合装置)技術に基づいて製造されていた。一般的に
CCD技術は、専用のプロセス技術を必要とし、多数の
電源を必要とし、一層複雑なインターフェース回路を必
要とし、他の電子回路機能を集積する能力が限られてい
る。
【0006】一般的に、光学センサ・アレイは光検出器
と電気回路を有する。光検出器は、光検出器に入射した
電磁エネルギに比例する電気信号を発生する。電気回路
は、光検出器によって発生された電気信号を、積分結果
電圧として貯蔵する。一般的に電気回路は、受動積分器
構造又は能動積分器構造の何れかに基く。受動積分器構
造は、フォトダイオードと、フォトダイオード接合の静
電容量、バッファ回路、及び他の寄生静電容量を含む静
電容量とを含むことができる。一般的に能動積分器構造
は、演算増幅器、及びフォトダイオードに結合される積
分キャパシタを含む(米国特許出願番号第60/034,531、
発明の名称「能動積分器光学センサのための装置と方
法」参照)。
【0007】一般的に光学センサは、光検出器に入射す
る電磁エネルギに応答して利用可能な電気信号を発生す
る一定の時間量を必要とする。この時間周期は、積分周
期であり、数ナノ秒程度から数分の間で変化し得る。積
分周期が終わると、電気回路からの積分結果電圧は、更
なる処理のため出力修正器へ転送される。その後、光学
センサはゼロにリセットされ、新しい積分周期を開始す
ることができる。一般的に、積分周期及びリセット周期
の実際の期間は、アレイのそれぞれの光学センサに対し
同じである。
【0008】光学センサ・アレイは多数の光検出器と、
各々の個別の光検出器に対応する電気回路とを有し得
る。光学センサ・アレイは、光学センサ・アレイの内部
及び外部動作の時間シーケンスを定めるタイミング回路
をも含んでいることがある。更に、光学センサ・アレイ
は、電気信号を、汎用コンピュータ・プロセッサのよう
な信号プロセッサで使うことができる形に条件づける出
力修正器を持っていることがある。
【0009】一般的に光学センサ・アレイは、アレイの
各個別の光学センサからの電気信号を順に出力修正器を
介してコンピュータ・プロセッサへ転送することによっ
て作用する。この結果、各光学センサは、積分及びリセ
ットする時間フレームが異なる。走査される文書が静止
している用途において、積分及びリセット周期が異なっ
ても一般的にその結果に影響を与えない。しかし、走査
される文書が動いており、文書の「スナップショット」
が必要な用途の場合、異なる時間フレームはその結果に
影響を与える。
【0010】文書が動いており、光学アレイ上を通過す
るとき、各光学センサはその積分及びリセット・サイク
ルにおいて異なる地点にある。極端な状態では(At the
extremes )、一つの光学センサは、文書がその光学セ
ンサの前を通過するとその積分サイクルをまさに開始す
る。別の極端な状態は、文書がその光学センサの前を通
過するとそのそれぞれの積分サイクルをまさに終了する
光学センサである。問題は、それによって各光学センサ
が、文書の異なる領域に対応する電気信号を積分するこ
とである。光学アレイからの映像の表示は、積分時間フ
レームが異なることにより、傾斜した又は「スキューさ
れた(skewed)」文書を示すことがある。
【0011】先行技術は、光学アレイに対する文書の相
対的な動きを遅くするか、又は光学アレイの速度を速め
るかのいずれかによって、スキューイングの影響を弱め
ていた。この様に、アレイを通過して動く物体の速度
は、光学センサの積分速度に依存している。
【0012】CCD技術に基く光学センサ・アレイは、
多くの実施例に用いられるよう充分に速く作用する。C
CD技術に付随する問題は、CCD技術は特殊な処理、
多数のクロック、及び多数の電源を必要とし、そのため
製造するのに値段が張ることである。
【0013】CMOS技術を用いて製造される光学セン
サ・アレイは一般的に一層安価である。しかし受動積分
器を用いるCMOS光学センサは、一般的に、文書のス
キューイングを避けるのに充分な速さで作用しない。能
動積分器を用いるCMOS光学センサは、多くの用途に
用いられるよう充分な速く作用し得るが、スキューイン
グ効果は完全には避けられない。
【0014】
【課題を解決するための手段及び作用】従って、この分
野では改良された光学センサ・アレイに対する要望があ
る。本発明は、光学センサ・アレイの各光学センサの積
分周期の開始及び終了時間が制御又は管理され得る光学
センサ・アレイを提供する。この発明は従来の光学セン
サ・アレイの欠点に対処する。
【0015】この発明の教示に従えば、積分管理型光学
センサ・アレイは、光学センサ・アレイ内の各光学セン
サの積分周期を制御する制御論理回路を含むことができ
る。本発明の考えを取り入れた光学センサ・アレイ内の
各光学センサは、光検出器からの電気信号を積分結果電
圧として蓄積し貯蔵するため関連付けられる電気回路を
持つ光検出器を有することが好ましい。ビット・シフト
・レジスタは、積分管理型光学センサ・アレイにおい
て、どの光学センサがサンプリングされるかを制御する
アドレス・ポインタとして用いられ得る。サンプリング
される光学センサをアドレス指定するため、この分野で
周知の他の技術を本発明の考えに従って積分管理型光学
センサ・アレイを製造するために用いることができる。
【0016】光学センサ・アレイを有する光学センサ
は、一般的にサイクルで動作する。このサイクルは一般
的に、積分周期、転送周期、及びリセット周期の3つの
時間周期に分けることができる。サイクルの積分周期
は、光検出器から受取った電気信号に比例する積分結果
電圧を電気回路が蓄積し貯蔵するときに起こる。転送周
期は、積分結果電圧が電気回路から転送されるときに起
こる。幾つかの用途において、積分結果電圧は、信号プ
ロセッサのために信号を条件付ける出力修正器へ転送さ
れる。他の用途では、各光学センサからの積分結果電圧
は貯蔵キャパシタへ転送され、その後、それは出力修正
器及び信号プロセッサにアクセスされ転送される。リセ
ット周期は、電気回路がゼロ又はある参照電圧にリセッ
トされるときに起こる。その後電気回路は、再び積分周
期を開始し光検出器からの電気信号を蓄積し貯蔵する準
備ができる。記述された周期はいずれも一定の時間の間
作用する。光学アレイの形状によってサイクル時間は変
化し得る。記述されたサイクルの説明は、各実施例の全
てのサイクル周期を含むとは限らない。サイクルの周期
及び期間は用いられる光学センサの構成に依る。上記の
説明は、この用途を上述の3つの時間周期のみを含む光
学センサに限定するものではない。
【0017】好ましい実施例において、光学センサ・ア
レイは、光学センサ・アレイを構成する複数の光学セン
サに加え、論理制御回路及びビット・シフト・レジスタ
を有する。論理制御回路は、光学センサ・アレイ内の各
光学センサの積分周期を制御する。本発明は、光学セン
サ・アレイ内の各光学センサの積分周期又は開始及び停
止時間は、論理制御回路によって制御され得ることを示
す。従って、幾つかの用途において、全ての光学センサ
の積分周期が同時に起こることがある。別の用途におい
て、光学センサ・アレイの光学センサの積分周期は、異
なる積分周期に設定され得る。別の用途では、同時積分
周期及び異なる積分周期の組合せを必要とすることがあ
る。
【0018】積分器によって発生される電気信号は、対
応する貯蔵キャパシタへ転送され得る。転送の後、光学
センサはすぐにリセットされサイクルの積分周期が新た
に開始され得る。それぞれの貯蔵キャパシタに貯蔵され
る電気信号は、その後、出力修正器に直列又は並列に転
送され得る。その後、ビット・シフト・レジスタは、ど
の貯蔵キャパシタが出力修正器によってアクセスされる
かを制御することができる。
【0019】本発明の好ましい実施例は、同時継続中の
米国特許出願番号第60/034,531、発明の名称「能動積分
器光学センサのための装置と方法」に示されるような能
動積分器を用いることを含み得る。この実施例におい
て、貯蔵キャパシタは、アナログ・スイッチを介して電
気回路の出力に接続され、サンプル保持器として用いら
れる。全ての貯蔵キャパシタは、同時に保持モードに切
替えられ得、全ての積分器は同時にリセットされる。
【0020】用途によっては、この発明の実施例はCM
OS技術を用いて製造することが好ましいことがある。
これにより光学センサは、機能するためにCCD技術の
性能特性を必要とした先行技術よりもずっと安価の技術
で製造することができる。しかし、本発明の考えに従っ
た能動積分器の構成を使う光学センサを製造するのに他
の技術を使うことができる。
【0021】本発明の技術的な利点は、光学センサのた
めの積分周期を特別に制御することができることであ
る。これは、光学センサ・アレイにある各光学センサを
同時に積分するように積分周期を設定することを含む。
このことは、動いている物体又は文書のスナップショッ
トを可能にする効果を有し得る。
【0022】本発明の更なる技術的利点は、光学センサ
からの積分結果電圧は、光学センサ積分周期サンプリン
グ及びリセット動作とは独立して、直列アナログ出力へ
の変換のため直列方式でアクセスされ得、それにより光
学センサ・アレイの処理速度を上げることである。しか
し、光学センサからの積分結果信号は、用途の必要性に
応じて並列方式でもアクセスされ得る。本発明の付加的
な技術的利点は、低コストの光学センサ・アレイ、特
に、CMOS技術を用いて製造される光学センサ・アレ
イを提供することである。
【0023】本発明には、電気回路上又は貯蔵キャパシ
タ上に貯蔵された電気信号を、コンピュータ・プロセッ
サへ直列又は並列に転送することを可能にするという付
加的な利点がある。他の技術的な利点は、以下の図面、
説明及び請求項から、当業者には容易に明らかになろ
う。この発明並びにその利点が更によく理解されるよう
に、添付の図面に関連して以下の説明をする。
【0024】
【実施例】この発明の好ましい実施例及びその利点は、
図面の図1‐5を更に詳しく検討すれば、最もよく理解
されよう。図面全体にわたり、同様な部分には同じ参照
記号を用いている。
【0025】この明細書では、「光検出器」という用語
が、放射又は電磁エネルギに応答する任意の検出器を含
む。このような検出器の例としては光導電セル、フォト
ダイオード、フォトレジスタ、フォトスイッチ及びフォ
トトランジスタが含まれるが、これらに限定されない。
【0026】図1はこの発明の考えに従って構成された
光学センサ・アレイ11の簡略ブロック図である。典型
的な走査動作の間、光学センサ・アレイ11は、文書1
0から反射される或いは文書を通過する電磁エネルギを
検出する。光学センサ・アレイ11にある各々の光学セ
ンサ13(図2)は、文書10からのこの様な電磁エネ
ルギに対応する積分結果電圧を貯蔵する。各光学センサ
13に対応する積分結果電圧は、出力修正器17へ転送
される。コンピュータ・プロセッサ18は、表示、伝送
又は更に処理するため、出力信号を電子マップ又は文書
10の映像に組立てることができる。
【0027】文書10の走査はいくつかの方法で行うこ
とができる。最も普通の走査方法は、文書10の全長が
増分的なスライスで走査されるようにするのに充分な長
さを持つ光学センサ・アレイ11により、増分又はスラ
イスに分けて文書10を走査することである。ラスター
方式と呼ばれる別の走査方法では、文書10の全体がカ
バーされるまで、文書10を選ばれたパターンで垂直及
び水平の両方向に増分的に走査する。ラスター方式は、
必要とする個々の光学センサの数が一層少なくて済むと
いう場合が多い。
【0028】図示の様に、光学センサ・アレイ11が線
形光学アレイとして構成されている。しかし、光学セン
サ・アレイ11は、アレイ・ブロック12の多数の列及
び行を持つ一般矩形アレイ(図に示していない)又はア
レイ・ブロック12の星形の幾何学的なパターン(図に
示していない)のようなこの他の幾何学的な形でも構成
することができる。
【0029】光学センサ・アレイ11は1つ又は更に多
くのアレイ・ブロック12で構成される。電磁エネルギ
が文書10を通過し又は文書で反射される。光学センサ
13(図2)に入射する電磁エネルギは、走査しようと
する文書10の特定の場所に対応する。光学センサ・ア
レイ11の各々の光学センサ13は、その光学センサ1
3に入射する電磁エネルギの強度に対応する出力信号を
発生する。光学センサ・アレイ11の各々の光学センサ
13からの電気信号を得た後、文書10あるいは光学セ
ンサ・アレイ13を増分的にずらして、文書10の異な
るスライス又はセグメントを走査することができるよう
にする。各々の光学センサ13からの電気信号は、コン
ピュータ・プロセッサ18の条件に見合う形で、出力修
正器17(図3)によって条件づけられる。コンピュー
タ・プロセッサ18の他に、広い範囲の種々の信号プロ
セッサを電子式センサ・アレイ11と共に満足に使うこ
とができる。出力修正器17は一般的に電荷から電圧へ
の増幅器である。しかし、出力修正器17はアナログ・
ディジタル(A/D)変換器であっても良い。コンピュ
ータ・プロセッサ18が各々のスライス又はセグメント
を組立てて、電子マップ又は文書10の映像を形成す
る。
【0030】電磁エネルギの源(図に示していない)
は、自然光、並びにレーザからのコヒーレント光のよう
ないろいろな種類の人工的な光を含めて、電磁エネルギ
の任意の源であって良い。
【0031】図2は、継続中の米国特許出願番号第60/0
34,531、発明の名称「能動積分器光学センサのための装
置と方法」に示されるような能動積分器構造に従って構
成される光学センサを示す。能動積分器構造を用いる光
学センサは、本発明の好ましい実施例である。能動積分
器光学センサは図示されている様に、積分及び貯蔵周期
又は関連する動作サイクルの部分における能動積分器光
学センサ13を示す。説明の便宜のため、オフセット補
正及び保持周期が既に行われ、オフセット補正電圧はオ
フセット・キャパシタ54に貯蔵されていると仮定す
る。出力バッファ125が動作状態にあり(スイッチ1
20は閉じている)、貯蔵キャパシタ52の電圧は積分
器のノード102の出力と同じである(スイッチ107
は閉じている)。
【0032】動作サイクルの次の時間周期又は部分は、
オフセット補正及び保持周期である。この発明の好まし
い実施例はキャパシタ・オフセット補正を用い、以下に
詳しく説明する。積分及び貯蔵状態からオフセット補正
及び保持状態にするため、最初にスイッチ107を開
き、能動積分器のノード102の出力がキャパシタ52
に貯蔵されるようにし、次にスイッチ121、117及
び122を閉じ、スイッチ120を開く。スイッチ10
7を開いてから他のスイッチを作動するまでの遅延は、
数ナノ秒程度であり、従来の非重複クロック技術を用い
てうまく達成することができる。
【0033】スイッチ120を開くと、出力バッファ1
25が不作動になる。スイッチ122を閉じると、op
アンプ50の出力がオフセット相殺フィードバック・ノ
ードに接続される。スイッチ121を閉じると、opア
ンプ50の反転入力ゲート及び積分キャパシタ51の1
端がアースに短絡される。スイッチ117を閉じると、
積分キャパシタ51の他端(ノード102)がアースに
短絡され、こうして能動積分器電気回路がリセットされ
る。
【0034】opアンプ50の反転入力及び非反転入力
の両方がアース電位にあると、opアンプ50の入力差
動対に対する負荷電流が差動対を通る電流と正確に釣合
うように、opアンプ50の出力がオフセット補正ノー
ド(オフセット・キャパシタ54の上側)を駆動する。
ランダムな又は系統的なオフセットによる電流の不整合
の影響は、この様にして補償される。その後、スイッチ
122を開き、オフセット補正電圧をオフセット・キャ
パシタ54に貯蔵する。次にスイッチ121及び117
を開き、スイッチ120を閉じて、主積分器ループを作
動する。積分器のノード102の電圧は、オフセット補
正サイクルの終り以降に積分された光電流に比例し、貯
蔵キャパシタ52の電圧は前の積分周期の出力を表す。
貯蔵キャパシタ52に貯蔵された電荷によって表される
前の積分サイクルの結果の電圧が、スイッチ124を閉
じることによってアナログ・バス14に放出される。
【0035】オフセット補正及び保持周期と貯蔵キャパ
シタ52の電荷放出の両方が完了した後、電気回路は積
分及び貯蔵状態に戻る。貯蔵キャパシタ52上の出力電
圧の電荷も、オフセット補正及び保持周期の間にアナロ
グ・バス14に放出されていることがある。この実施例
を、opアンプ50の非反転入力をアースに接続させ、
かつ種々のスイッチで全てをアースに短絡する場合に関
して説明したが、共通の直流基準電圧を用いても良い。
【0036】図3は、この発明の一実施例を示す簡略ブ
ロック図である。アレイ・ブロック12が切替え制御論
理回路59によって制御される光学センサ13を持って
おり、各々の光学センサ13の出力信号は出力修正器1
7によって条件づけられる。切替え制御論理回路59
は、各々のアレイ・ブロック12の内部及び外部のタイ
ミングを制御するように作用する。これは、各々の光学
センサ13に対する個別の積分周期を制御し、それぞれ
の出力信号に対して各々の光学センサ13を待ち行列に
し、各々の光学センサ13をリセットすることを含むこ
とができる。前に述べた様に、出力修正器17は、各々
の光学センサ13からの出力信号を、コンピュータ・プ
ロセッサ18(図1)によって要求されるように条件づ
けることが望ましい。
【0037】図4はこの発明の別の実施例を示す簡略ブ
ロック図である。この図は、センサ・アレイ・ブロック
12内にビット・シフト・レジスタ60が追加されたこ
とを示している。ビット・シフト・レジスタ60は、ど
の光学センサ13をサンプリングするかを制御するアド
レス・ポインタである。一実施例では、ビット・シフト
・レジスタ60は、どの貯蔵キャパシタ52をサンプリ
ングするかを制御する。この実施例は、積分器回路が、
光学センサ13からの出力がコンピュータ・プロセッサ
18(図1)に転送されるのを待たずに、リセットして
積分及び貯蔵周期を開始することができるという利点を
提供する。
【0038】前に述べた様に、切替え制御論理回路59
はアレイ・ブロック12の内部及び外部のタイミングを
制御する。各光学センサ・アレイ11からの出力(積分
結果電圧)は、多数の方法によってコンピュータ・プロ
セッサ18(図1)に転送され得る。一実施例では、出
力は1本の出力線を介して直列にコンピュータ・プロセ
ッサ18(図1)に転送される。別の実施例では、出力
は多数の出力線を介して並列にコンピュータ・プロセッ
サ18(図1)に転送される。
【0039】この発明の別の実施例では、切替え制御論
理回路59が、積分周期の開始時間及び終り時間を制御
することができる。光学センサ・アレイ11(図1)の
全ての光学センサ13に対する積分周期は、同時に積分
することができる。更に別の実施例では、切替え制御論
理回路59は、各々の光学センサ13が積分周期になる
時を変え、それによって、常に光学センサ13がその積
分周期にあるようにすることができる。
【0040】図5は、出力信号「AO」の他に、入力ク
ロック信号「CLK」、及び入力開始信号「SI」を示
すタイミング図である。図示される様に、出力信号「A
O」は、本発明の好ましい実施例に従っている。本発明
の好ましい実施例は、能動積分器光学センサ13及びビ
ット・シフト・レジスタ60を用いることを含む。
【0041】この発明のいくつかの実施例について説明
したが、当業者には種々の変更及び修正が考えられよ
う。この発明は、添付の特許請求の範囲に含まれるこの
様な変更及び修正を包括することを意図している。
【0042】関連する特許出願との関係 この出願は、係属中の米国特許出願番号第60/034,531、
発明の名称「能動積分器光学センサのための装置と方
法」及び同第60/035,756、発明の名称「多色信号を正規
化する装置と方法」と関連を有する。この各々の出願は
テキサス・インスツルメンツ・インコーポレイティッド
に譲渡されている。
【図面の簡単な説明】
【図1】線形光学センサ・アレイによって走査される文
書を示す簡略ブロック図であり、線形光学アレイは個別
の画素又は光学センサから成る個別のアレイ・ブロック
で構成される。
【図2】能動積分器構造を有する光学センサの簡略ブロ
ック図。
【図3】切替え制御論理回路によって制御される典型的
なアレイ・ブロック有するアレイ・ブロックを示す簡略
ブロック図であり、各々の光学センサ出力は出力修正器
に転送される。
【図4】この発明の好ましい実施例の簡略ブロック図で
あり、切替え制御論理回路によって制御される全ての光
学センサを有する各アレイ・ブロック、及びどの光学セ
ンサがサンプリングされるかを制御するために用いられ
る128ビット・シフト・レジスタを示す。
【図5】図4に示した本発明の好ましい実施例を用いる
能動積分器光学センサの外部信号を示すタイミング図。
【符号の説明】
12 アレイ・ブロック 13 光学センサ 17 出力修正器 59 切替え制御論理回路 60 ビット・シフト・レジスタ
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (72)発明者 ユージン ジー.デイアーシュク アメリカ合衆国 テキサス州ダラス,リー メドウ ドライブ 6709

Claims (20)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 電磁放射に応答して出力信号を発生する
    ために使われる積分管理型光学センサ・アレイであっ
    て、 各光学センサが積分周期を有する複数の光学センサと、 光検出器に入射した電磁エネルギーの強度に比例する電
    気信号出力を持つ光検出器を有する各光学センサと、 各光検出器に結合されて、各光検出器からの電気信号を
    積分する電気回路、及び複数の光学センサに結合され
    て、出力信号のタイミングと各光学センサの積分周期を
    制御するように作用し得る切替え制御論理回路を含む積
    分管理型光学センサ・アレイ。
  2. 【請求項2】 請求項1の積分管理型光学センサ・アレ
    イであって、同じ時間周期中にそれぞれの光検出器から
    の電気信号出力を積分するように作用し得る光学アレイ
    にある各光学センサを更に含む積分管理型光学センサ・
    アレイ。
  3. 【請求項3】 請求項1の積分管理型光学センサ・アレ
    イであって、電気回路および切替え制御論理回路に接続
    されるビット・シフト・レジスタを更に含む積分管理型
    光学センサ・アレイ。
  4. 【請求項4】 請求項1の積分管理型光学センサ・アレ
    イであって、光検出器がフォトダイオードを含む積分管
    理型光学センサ・アレイ。
  5. 【請求項5】 請求項1の積分管理型光学センサ・アレ
    イであって、光学センサ・アレイはCMOS技術を用い
    て製造される積分管理型光学センサ・アレイ。
  6. 【請求項6】 請求項1の積分管理型光学センサ・アレ
    イであって、電気回路が受動積分器を含む積分管理型光
    学センサ・アレイ。
  7. 【請求項7】 請求項1の積分管理型光学センサ・アレ
    イであって、電気回路が能動積分器構造を含む積分管理
    型光学センサ・アレイ。
  8. 【請求項8】 請求項1の積分管理型光学センサ・アレ
    イであって、電気回路からの出力信号をダウンロードす
    るため直列転送される出力を有する各電気回路を更に含
    む積分管理型光学センサ・アレイ。
  9. 【請求項9】 請求項1の積分管理型光学センサ・アレ
    イであって、電気回路からの出力信号をダウンロードす
    るため並列転送される出力を有する各電気回路を更に含
    む積分管理型光学センサ・アレイ。
  10. 【請求項10】 電磁放射に応答して出力信号を発生す
    るための積分管理型光学センサ・アレイであって、 各光学センサが積分周期を有する複数の光学センサと、 フォトダイオードに入射する電磁放射の強度に概して比
    例する電気信号出力を持つフォトダイオードを有する各
    光学センサと、 各フォトダイオードに結合され、フォトダイオードから
    の電気信号出力を蓄積し貯蔵する電気回路と、 各光学センサに結合され、電気回路からの出力信号を貯
    蔵する貯蔵キャパシタと、 電気回路に結合され、各貯蔵キャパシタにアクセスする
    順序を制御するビット・シフト・レジスタと、 複数の光学センサに結合され、各光学センサの積分周期
    のタイミングを制御し、それぞれの貯蔵キャパシタから
    の出力信号のタイミングを制御するように作用し得る切
    替え制御論理回路とを含む積分管理型光学センサ・アレ
    イ。
  11. 【請求項11】 請求項10の積分管理型光学センサ・
    アレイであって、同じ時間周期中に各フォトダイオード
    からの電気信号出力を蓄積し貯蔵する光学アレイにある
    各光学センサを更に含む積分管理型光学センサ・アレ
    イ。
  12. 【請求項12】 請求項10の積分管理型光学センサ・
    アレイであって、光学センサはCMOS技術を用いて製
    造される積分管理型光学センサ・アレイ。
  13. 【請求項13】 請求項10の積分管理型光学センサ・
    アレイであって、電気回路が受動積分器を含む積分管理
    型光学センサ・アレイ。
  14. 【請求項14】 請求項10の積分管理型光学センサ・
    アレイであって、電気回路が能動積分器を含む積分管理
    型光学センサ・アレイ。
  15. 【請求項15】 請求項10の積分管理型光学センサ・
    アレイであって、それぞれの各貯蔵キャパシタに貯蔵さ
    れた出力信号をダウンロードするため直列に転送される
    出力を有する各貯蔵キャパシタを更に含む積分管理型光
    学センサ・アレイ。
  16. 【請求項16】 請求項10の積分管理型光学センサ・
    アレイであって、それぞれの各貯蔵キャパシタに貯蔵さ
    れた出力信号をダウンロードするため並列に転送される
    出力を有する各貯蔵キャパシタを更に含む積分管理型光
    学センサ・アレイ。
  17. 【請求項17】 入射した電磁放射に応答する複数の光
    学センサを有する光学センサ・アレイを形成する方法で
    あって、 光検出器から各光学センサを製造し、 各光検出器に結合され、選択された積分時間周期にわた
    って各光検出器からの電気信号出力を蓄積し貯蔵する電
    気回路を形成し、更に、 それぞれの信号出力のタイミング及び各光学センサの積
    分時間周期を制御するため、切替え制御論理回路を複数
    の光学センサに結合する工程を含む方法。
  18. 【請求項18】 請求項17の光学センサ・アレイを形
    成する方法であって、電気回路からの信号出力を貯蔵す
    るため、切替え制御論理回路によって制御される貯蔵キ
    ャパシタをそれぞれの電気回路に結合する工程を更に含
    む方法。
  19. 【請求項19】 請求項17の光学センサ・アレイを形
    成する方法であって、同じ時間周期にわたって各光検出
    器からの電気信号出力を積分するため、各光学センサの
    それぞれの積分時間周期を設定する工程を更に含む方
    法。
  20. 【請求項20】 請求項17の光学センサ・アレイを形
    成する方法であって、CMOS技術を用いて光学センサ
    ・アレイを製造する工程を更に含む方法。
JP10031952A 1997-01-06 1998-01-06 積分管理型光学センサ・アレイのための装置および方法 Pending JPH10257233A (ja)

Applications Claiming Priority (2)

Application Number Priority Date Filing Date Title
US3453297P 1997-01-06 1997-01-06
US034532 1997-01-06

Publications (1)

Publication Number Publication Date
JPH10257233A true JPH10257233A (ja) 1998-09-25

Family

ID=21877002

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP10031952A Pending JPH10257233A (ja) 1997-01-06 1998-01-06 積分管理型光学センサ・アレイのための装置および方法

Country Status (2)

Country Link
US (1) US6097021A (ja)
JP (1) JPH10257233A (ja)

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN108663591A (zh) * 2018-05-18 2018-10-16 中国电力科学研究院有限公司 一种用于验证可控避雷器的控制逻辑和控制时序的设备及方法

Families Citing this family (8)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US6150649A (en) * 1996-11-29 2000-11-21 Imaging Diagnostic Systems, Inc. Detector array with variable gain amplifiers for use in a laser imaging apparatus
US6320895B1 (en) * 1999-03-08 2001-11-20 Trw Inc. Resonant galvanometer driven two dimensional gain scanner
US6888969B1 (en) * 2000-09-11 2005-05-03 General Electric Company Method and apparatus for preventing image artifacts
US7620291B1 (en) 2005-03-29 2009-11-17 Texas Advanced Optoelectronic Solutions, Inc. Automatic calibration circuit for optoelectronic devices
GB0517741D0 (en) 2005-08-31 2005-10-12 E2V Tech Uk Ltd Image sensor
US8212197B2 (en) * 2009-07-02 2012-07-03 Xerox Corporation Image sensor with integration time compensation
JPWO2014069394A1 (ja) * 2012-10-30 2016-09-08 株式会社島津製作所 リニアイメージセンサ及びその駆動方法
FR3032853B1 (fr) 2015-02-12 2017-02-17 Soc Francaise De Detecteurs Infrarouges - Sofradir Dispositif de detection ameliore

Family Cites Families (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP3146716B2 (ja) * 1993-02-10 2001-03-19 富士電機株式会社 光電変換回路

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN108663591A (zh) * 2018-05-18 2018-10-16 中国电力科学研究院有限公司 一种用于验证可控避雷器的控制逻辑和控制时序的设备及方法

Also Published As

Publication number Publication date
US6097021A (en) 2000-08-01

Similar Documents

Publication Publication Date Title
US11076114B2 (en) Dynamic vision sensor architecture
JPH10256593A (ja) アクティブインテグレータ・オプティカルセンサ用装置及び方法
US5461425A (en) CMOS image sensor with pixel level A/D conversion
KR100399954B1 (ko) 아날로그 상호 연관된 이중 샘플링 기능을 수행하는씨모스 이미지 센서용 비교 장치
US6380880B1 (en) Digital pixel sensor with integrated charge transfer amplifier
JP3962431B2 (ja) 高ダイナミックレンジのリニア出力を有する画像センサ
US6473122B1 (en) Method and apparatus to capture high resolution images using low resolution sensors and optical spatial image sampling
JP4362156B2 (ja) Cmos領域アレイ・センサのための逐次相関ダブル・サンプリング方式
US20010040632A1 (en) Multiple sampling via a time-indexed method to achieve wide dynamic ranges
US6583817B1 (en) Autocalibration of the A/D converter within the CMOS type image sensor
KR100403290B1 (ko) 아날로그 기억장치 어레이를 위한 고속 독출 아키텍처
JP2000032342A (ja) 固体撮像装置
JP2001186415A (ja) 高感度cmos画像センサのためのインターレースオーバーラップピクセル設計
EP2832090A1 (en) Cmos image sensors implementing full frame digital correlated double sampling with global shutter
US8582008B2 (en) Fast-settling line driver design for high resolution video IR and visible images
US20080180112A1 (en) Numerical full well capacity extension for photo sensors with an integration capacitor in the readout circuit using two and four phase charge subtraction
US7279668B2 (en) Sequential read-out method and system that employs a single amplifier for multiple columns
JPH10257233A (ja) 積分管理型光学センサ・アレイのための装置および方法
CN115665574A (zh) 一种新型像素电路及降噪方法
US11885673B2 (en) Pixel circuit including an open-loop amplifier with well controlled gain for event-based vision sensor and method of controlling thereof
US20220224853A1 (en) NMOS Comparator for Image Sensor Pixel
JPH03119855A (ja) 密着型イメージセンサ
CN115278100A (zh) 一种像素单元电路、信号采集装置和信号采集方法
CN117750230A (zh) Spad图像传感器和电子设备