JPH10256707A - Resin wiring board and manufacture therefor - Google Patents

Resin wiring board and manufacture therefor

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JPH10256707A
JPH10256707A JP5215097A JP5215097A JPH10256707A JP H10256707 A JPH10256707 A JP H10256707A JP 5215097 A JP5215097 A JP 5215097A JP 5215097 A JP5215097 A JP 5215097A JP H10256707 A JPH10256707 A JP H10256707A
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JP
Japan
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wiring
pattern
resin
resin layer
wiring pattern
Prior art date
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Application number
JP5215097A
Other languages
Japanese (ja)
Inventor
Hideyuki Tanaka
英行 田中
Yasunari Matsuura
泰成 松浦
Hidetoshi Ogawa
英俊 小川
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Niterra Co Ltd
Original Assignee
NGK Spark Plug Co Ltd
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Publication date
Application filed by NGK Spark Plug Co Ltd filed Critical NGK Spark Plug Co Ltd
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Publication of JPH10256707A publication Critical patent/JPH10256707A/en
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    • HELECTRICITY
    • H05ELECTRIC TECHNIQUES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
    • H05KPRINTED CIRCUITS; CASINGS OR CONSTRUCTIONAL DETAILS OF ELECTRIC APPARATUS; MANUFACTURE OF ASSEMBLAGES OF ELECTRICAL COMPONENTS
    • H05K3/00Apparatus or processes for manufacturing printed circuits
    • H05K3/22Secondary treatment of printed circuits
    • HELECTRICITY
    • H05ELECTRIC TECHNIQUES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
    • H05KPRINTED CIRCUITS; CASINGS OR CONSTRUCTIONAL DETAILS OF ELECTRIC APPARATUS; MANUFACTURE OF ASSEMBLAGES OF ELECTRICAL COMPONENTS
    • H05K3/00Apparatus or processes for manufacturing printed circuits
    • H05K3/30Assembling printed circuits with electric components, e.g. with resistor
    • H05K3/32Assembling printed circuits with electric components, e.g. with resistor electrically connecting electric components or wires to printed circuits
    • H05K3/34Assembling printed circuits with electric components, e.g. with resistor electrically connecting electric components or wires to printed circuits by soldering
    • H05K3/3452Solder masks

Abstract

PROBLEM TO BE SOLVED: To accurately provide wiring patterns, without the reductions in the heights of the outer peripheral wiring patterns caused by their polishings, in a resin wiring board having desired wiring patterns on a core board. SOLUTION: On each principal surface of a core board 2, there are formed both desired wiring patterns 8 with a resin layer formed therebetween and thereon, which is scheduled to be so polished and removed thereafter, that at least resin layers 13 are left therebetween and the top surfaces of the wiring patterns 8 are exposed to the outside and dummy patterns 9 with the heights nearly equal to the wiring patterns 8 which are so provided in the peripheries of the wiring patterns, as being separated by predetermined spaces from the wiring patterns 8 such that the heights of the patterns 8 are made nearly equal to the patterns 9 in the case of the foregoing polishing. A resin wiring board 10 is obtained by the foregoing polishing, etc.

Description

【発明の詳細な説明】DETAILED DESCRIPTION OF THE INVENTION

【0001】[0001]

【発明の属する技術分野】本発明は、基板上に配線パタ
ーンを設けた樹脂製配線基板と、この配線基板上に樹脂
層を介して所望層数の配線パターンを設けた樹脂製配線
基板、及びこの配線基板を製造する方法に関する。
The present invention relates to a resin wiring board having a wiring pattern provided on a substrate, a resin wiring board having a desired number of wiring patterns provided on the wiring board via a resin layer, and The present invention relates to a method for manufacturing the wiring board.

【0002】[0002]

【従来の技術】一般に、各種の電気回路を形成し、或い
は電子部品を実装する樹脂製配線基板100は、図8
(B)に示すように、ガラス繊維を混入して強化された合
成樹脂からなるコア基板102の両表面103上に配線
パターン106を配設している。この配線基板100を
得るには、図8(A)に示すように、予めコア基板102
の両表面103上に図示しない厚さ約25μmの銅薄膜
を被覆し、所定の位置に通し穴104を貫通する。更
に、無電解銅メッキを両面と上記通し穴104内に施し
全体を銅膜で被覆した後、この銅膜の上に図示しないレ
ジスト剤を塗布し、露光・現像して所要パターンのエッ
チングレジストを形成する。この銅膜をエッチングする
と、エッチングレジストにより保護されて残った両表面
103上の配線パターン106と上記通し穴104内の
筒状導通部108とが形成される。この筒状導通部10
8は、両表面103上の配線パターン106同士を導通
する。尚、上記エッチングレジストはその後除去され
る。
2. Description of the Related Art Generally, a resin wiring board 100 on which various electric circuits are formed or electronic components are mounted is shown in FIG.
As shown in (B), a wiring pattern 106 is provided on both surfaces 103 of a core substrate 102 made of a synthetic resin reinforced by mixing glass fibers. To obtain this wiring board 100, as shown in FIG.
Are coated with a copper thin film having a thickness of about 25 μm (not shown) on both surfaces 103 and penetrate through holes 104 at predetermined positions. Furthermore, electroless copper plating is applied to both surfaces and the inside of the through hole 104, and the whole is covered with a copper film. Then, a resist agent (not shown) is applied on the copper film, and is exposed and developed to form an etching resist of a required pattern. Form. When this copper film is etched, a wiring pattern 106 on both surfaces 103 remaining protected by the etching resist and a cylindrical conductive portion 108 in the through hole 104 are formed. This cylindrical conductive portion 10
8 conducts between the wiring patterns 106 on both surfaces 103. The etching resist is removed thereafter.

【0003】上記樹脂製配線基板100は、両表面10
3上に配線パターン106や通し穴104を有している
ので、凹凸が形成される。そこで、配線パターン106
間や通し穴104内に樹脂を充填してこの凹凸を無く
し、表面を平坦化する必要がある。このため、図8(A)
に示すように、両表面103上に絶縁層となるエポキシ
系の樹脂層110を全面に被覆するが、該樹脂層110
の表面には各配線パターン106の上方においてその厚
みに応じた凸部112が形成される。また、上記通し穴
104内とその上下の開口部にも予め同じ樹脂が充填さ
れ且つ凸状に被覆されているので、各筒状導通部108
の上方にも同様な凸部112が形成される。次いで、配
線パターン106間に樹脂層110を残し、配線パター
ン106上の樹脂層110を研磨除去する。即ち、一旦
配線パターン106の上面と同じ高さまで上記樹脂層1
10を除去すべく、円筒形の砥石114を図示のように
回転させつつ水平方向に移動させて、研磨する。尚、本
例においては上下両面共に研磨を行う。
The above-mentioned resin wiring board 100 has both surfaces 10
Since the wiring pattern 106 and the through-hole 104 are formed on the substrate 3, irregularities are formed. Therefore, the wiring pattern 106
It is necessary to fill the gap or the through hole 104 with a resin to eliminate the unevenness and to flatten the surface. For this reason, FIG.
As shown in FIG. 1, an epoxy resin layer 110 serving as an insulating layer is entirely coated on both surfaces 103.
A convex portion 112 corresponding to the thickness of each wiring pattern 106 is formed above the wiring pattern 106. Further, since the same resin is filled in the through hole 104 and the upper and lower openings thereof in advance and are covered in a convex shape, the cylindrical conductive portions 108 are formed.
A similar convex portion 112 is formed above. Next, the resin layer 110 on the wiring pattern 106 is polished and removed, leaving the resin layer 110 between the wiring patterns 106. That is, the resin layer 1 is temporarily moved to the same height as the upper surface of the wiring pattern 106.
In order to remove 10, the cylindrical grindstone 114 is moved in the horizontal direction while rotating as shown to polish. In this example, both upper and lower surfaces are polished.

【0004】上記研磨によって、図8(B)に示すよう
に、各配線パターン106の上面が露出して、それらの
間に樹脂層110が残った平坦面116が形成される。
しかし、各表面103上の配線パターン106のうち、
図中右端及び左端の配線パターン(研磨開始端パターン
及び研磨終了端パターン)106aは、その外側エッジ
部分が上記研磨の際に削られ、いわゆるダレDが形成さ
れ、その厚みがバラ付くことがある。また、図8(C)に
示すように、上記研磨の際に研磨進行方向に対する直角
方向においても、上記円筒形の砥石114が撓みつつ移
動するため、その直角方向(軸方向)端部の配線パター
ン(軸方向端パターン)106bは、同様に削られ、ダレ
Dが形成される。係る端部の配線パターン106a,1
06bのダレDは、場合によって配線基板100の性能
や品質を低下させてしまうおそれがある。
As shown in FIG. 8B, the upper surface of each wiring pattern 106 is exposed, and a flat surface 116 in which the resin layer 110 remains between them is formed by the above polishing.
However, among the wiring patterns 106 on each surface 103,
In the right and left end wiring patterns (polishing start end pattern and polishing end end pattern) 106a in the figure, the outer edge portion is shaved during the above polishing, so-called sagging D is formed, and the thickness may vary. . As shown in FIG. 8 (C), the cylindrical grindstone 114 also moves while bending in the direction perpendicular to the polishing progress direction during the polishing, so that the wiring at the end in the perpendicular direction (axial direction) is formed. The pattern (axial end pattern) 106b is similarly cut to form a sag D. The wiring pattern 106a, 1 at the end
The sagging D of 06b may deteriorate the performance and quality of the wiring board 100 in some cases.

【0005】一方、図9(A)に示すように、コア基板1
02の両面に厚めに樹脂層110を被覆しても、前記と
同様に凸部112が各パターン106の上方に形成され
る。この凸部112を配線パターン106上に所定の厚
みの樹脂層を残して平坦化するため、図9(B)に示すよ
うに、円筒形の砥石114を回転させつつ水平方向(図
中左方)に移動させて、樹脂層110を研磨する。しか
し、配線パターン106のないコア基板102の端部に
は樹脂層110が薄くしか形成できず、また、配線パタ
ーン106の厚み分の段差があるため、図中左右の端部
に位置する配線パターン106cの上方付近には傾斜部
Kが形成されている。砥石114が傾斜部Kに当接する
と、図9(C)に示すように、表面103上の端部に位置
する配線パターン106cの上方において樹脂層110
の表面にダレdが形成される。係るダレdが極端に大き
い場合、上記配線パターン106cが露出することがあ
る。また、ダレdが存在するとその上面に新たな配線パ
ターンを形成する際、その端部のパターンの形状精度が
低下してしまい、正確な配線パターンが得られなくなる
ことがあった。
On the other hand, as shown in FIG.
Even when the resin layer 110 is thickly coated on both surfaces of the pattern 02, the convex portions 112 are formed above the respective patterns 106 in the same manner as described above. In order to flatten the convex portion 112 while leaving a resin layer having a predetermined thickness on the wiring pattern 106, as shown in FIG. ) To polish the resin layer 110. However, the resin layer 110 can be formed only thinly at the end of the core substrate 102 without the wiring pattern 106, and there is a step corresponding to the thickness of the wiring pattern 106. An inclined portion K is formed near the upper side of 106c. When the grindstone 114 comes into contact with the inclined portion K, as shown in FIG. 9C, the resin layer 110 is located above the wiring pattern 106c located at the end on the surface 103.
Is formed on the surface of the substrate. If the sagging d is extremely large, the wiring pattern 106c may be exposed. In addition, when the sagging d is present, when a new wiring pattern is formed on the upper surface, the shape accuracy of the pattern at the end is reduced, and an accurate wiring pattern may not be obtained.

【0006】[0006]

【発明が解決すべき課題】本発明は、以上の従来の技術
が抱える問題点を解決し、配線パターン又はその上方に
前記ダレD,dが無いか、或いは少なくして正確な配線
パターンを有する樹脂製配線基板とその製造方法を提供
することを目的とする。
SUMMARY OF THE INVENTION The present invention solves the above-mentioned problems of the prior art, and has a wiring pattern or an accurate wiring pattern having no or less sagging D or d above it. It is an object of the present invention to provide a resin wiring board and a method for manufacturing the same.

【0007】[0007]

【課題を解決するための手段】本発明は、上記の課題を
解決するため、配線パターンと所定の間隔を置いてダミ
ーパターンを配設することに着想して成されたものであ
る。即ち、本発明の樹脂製配線基板は、配線基板の少な
くとも一方の主平面上に配線パターンを有し、該配線パ
ターン間及び配線パターン上に樹脂層を形成し、その後
少なくとも上記配線パターン間の樹脂層を残し、且つ上
記配線パターンの上面が露出するように上記樹脂層を研
磨除去することが予定されている配線基板であって、上
記配線パターンと略同一高さを有するダミーパターンを
主平面上に有し、このダミーパターンは上記研磨と前後
して一連に研磨されるように上記配線パターンと所定の
間隔を置いて配設されていることを特徴とする。
SUMMARY OF THE INVENTION In order to solve the above-mentioned problems, the present invention has been made with the idea of disposing a dummy pattern at a predetermined distance from a wiring pattern. That is, the resin wiring board of the present invention has a wiring pattern on at least one main plane of the wiring board, forms a resin layer between the wiring patterns and on the wiring pattern, and then forms a resin layer between at least the wiring patterns. A wiring board which is to be polished and removed from the resin layer so as to leave a layer and expose an upper surface of the wiring pattern, wherein a dummy pattern having substantially the same height as the wiring pattern is formed on a main plane. Wherein the dummy pattern is disposed at a predetermined interval from the wiring pattern so as to be polished in series before and after the polishing.

【0008】また、本発明のもう一つの樹脂製配線基板
は、配線基板の少なくとも一方の主平面上に配線パター
ンを有し、該配線パターン上に樹脂層を形成し、その後
上記配線パターンの上方に所定の厚みの樹脂層を残して
余剰の樹脂を研磨除去することが予定されている配線基
板であって、上記配線パターンと少なくとも同一かそれ
以上の高さを有するダミーパターンを主平面上に有し、
このダミーパターンはその上方に形成された樹脂層が上
記配線パターンの上方の樹脂の研磨と前後して一連に研
磨されるように上記配線パターンと所定の間隔を置いて
配設されていることを特徴とする。
Further, another resin wiring board of the present invention has a wiring pattern on at least one main plane of the wiring board, forms a resin layer on the wiring pattern, and then forms a resin layer above the wiring pattern. A wiring board that is to be polished to remove excess resin while leaving a resin layer of a predetermined thickness, and a dummy pattern having a height at least the same as or higher than the wiring pattern is formed on a main plane. Have
This dummy pattern is arranged at a predetermined distance from the wiring pattern so that the resin layer formed thereon is polished in series before and after the polishing of the resin above the wiring pattern. Features.

【0009】尚、本明細書において主平面とは樹脂製配
線基板の常に最外側の表面を指す。更に、上記ダミーパ
ターンは、樹脂製配線基板を小型化するために最終製品
では用いず、例えば切除して製品から除かれるのが通例
である。また、上記ダミーパターンは、前記配線パター
ン上に形成された前記樹脂が研磨される際、このダミー
パターン上の樹脂も略同時に研磨除去されるような位置
に配設されている樹脂製配線基板も含まれる。以上の構
成により、前記ダレD,dはダミーパターンのエッジ又
はその上方に集中して形成されるため、配線パターンの
パターンエッジやその上方の樹脂層には形成されにくく
なるので、正確な配線パターンを得ることができる。
In the present specification, the main plane always refers to the outermost surface of the resin wiring board. Furthermore, the dummy pattern is not used in the final product in order to reduce the size of the resin wiring board, and is usually removed from the product, for example, by cutting it off. In addition, the dummy pattern may be a resin wiring board disposed at a position such that when the resin formed on the wiring pattern is polished, the resin on the dummy pattern is also polished and removed substantially simultaneously. included. With the above configuration, the sagging D and d are formed intensively at or above the edge of the dummy pattern, so that it is difficult to form the sagging on the pattern edge of the wiring pattern and the resin layer above the wiring pattern. Can be obtained.

【0010】また、上記ダミーパターンが上記研磨の進
行方向と略直角の方向及び/又は略平行な方向に配設さ
れている樹脂製配線基板とすることもできる。従来のダ
ミーパターンのない樹脂製配線基板では、研磨の開始時
と終了時に配線パターン106a等が砥石等の研磨材の
圧力を集中して受けたが、ダミーパターンが研磨の進行
方向と略直角の方向に配設されていると、ダミーパター
ンが配線パターンの代わりに研磨材の圧力を受ける。こ
のためダミーパターンにダレD等が生じても配線パター
ンにはダレD等が生じない。一方、ダミーパターンが研
磨の進行方向と略平行の方向に配設されていると、研磨
材自身が撓んでも配線パターンと所定の間隔を置いたダ
ミーパターンが集中的に研磨されるため、配線パターン
を保護すると共に、ダミーパターン自体が上記研磨材の
移動方向のガイドとしての機能も果たす。
[0010] Further, a resin wiring substrate in which the dummy pattern is disposed in a direction substantially perpendicular to and / or substantially parallel to the direction in which the polishing proceeds can be provided. In a conventional resin wiring substrate without a dummy pattern, the wiring pattern 106a and the like receive concentrated pressure of an abrasive such as a grindstone at the start and end of polishing, but the dummy pattern is substantially perpendicular to the direction of polishing. When arranged in the direction, the dummy pattern receives the pressure of the abrasive instead of the wiring pattern. Therefore, even if sagging D or the like occurs in the dummy pattern, sagging D or the like does not occur in the wiring pattern. On the other hand, if the dummy pattern is disposed in a direction substantially parallel to the direction in which the polishing proceeds, the dummy pattern spaced a predetermined distance from the wiring pattern is intensively polished even if the abrasive itself is bent. In addition to protecting the pattern, the dummy pattern itself also functions as a guide in the direction of movement of the abrasive.

【0011】更に、前記ダミーパターンは、前記配線パ
ターンと所定の間隔を置いて該パターンの周囲にダミー
パターンを配設されていることを特徴とする樹脂製配線
基板も含まれる。係る構成により、所望の配線パターン
を何ら変更することなく、その周囲にダミーパターンを
配設するのみで、前記ダレD等を無くすか低減できる。
上記配線パターンの周囲に配設するダミーパターンに
は、配線パターン全体を枠状に囲む形態は勿論、矩形状
の配線パターン領域の上下及び左右にそれぞれ一本の線
状パターンを配設した形態や、線状パターンの場合には
その長手方向に沿って断続的に配設される形態も含まれ
る。
Further, the dummy pattern includes a resin wiring board, wherein a dummy pattern is provided around the wiring pattern at a predetermined distance from the wiring pattern. With this configuration, the sagging D and the like can be eliminated or reduced by merely arranging the dummy pattern around the desired wiring pattern without any change.
Dummy patterns provided around the wiring pattern include not only a form surrounding the entire wiring pattern in a frame shape, but also a form in which one linear pattern is provided above and below and right and left of a rectangular wiring pattern area, In the case of a linear pattern, a form in which the pattern is intermittently arranged along the longitudinal direction is also included.

【0012】要するに、ダミーパターンは、配線パター
ンの外周縁から所定の間隔を置いて配置され、ダレD等
を解消する位置に配設される。また、ダミーパターンの
厚みは、配線パターンの上面を露出させる場合には、配
線パターンと略同一高さとするのが良い。一方、配線パ
ターンの上方に樹脂層を残す場合には、同一高さとして
も良いが、配線パターンの厚みよりもやや厚くすると、
配線パターンの上方に残す樹脂層の表面をより平坦化さ
せ易くなり、また研磨の際に研磨材の高さのガイドとし
て機能させることもできる。
In short, the dummy pattern is disposed at a predetermined distance from the outer peripheral edge of the wiring pattern, and is disposed at a position where the sagging D or the like is eliminated. When the upper surface of the wiring pattern is exposed, the thickness of the dummy pattern is preferably substantially the same as the height of the wiring pattern. On the other hand, when the resin layer is left above the wiring pattern, the height may be the same, but if the resin layer is slightly thicker than the wiring pattern,
The surface of the resin layer left above the wiring pattern can be more easily flattened, and can also function as a guide for the height of the abrasive during polishing.

【0013】また、少なくとも複数層の樹脂層を備える
配線基板において、少なくとも一方の主平面上及び内側
の樹脂層上に配線パターンが配設され、該配線パターン
にそれぞれ対応するダミーパターンが所定の間隔を置い
て配設されていることを特徴とする樹脂製配線基板とす
ることもできる。係る構成により、基板の厚さ方向に複
数層の配線パターンを正確に立体配置した樹脂製配線基
板を提供することが可能となる。尚、前記配線パターン
とダミーパターンの各厚みが例えば略20〜30μmで
あり、上記ダミーパターンの幅が約5mmである場合にお
いては、配線パターンとダミーパターンとの間隔は10
mm以下、更には8mm以下であることが望ましい。係る間
隔にすることにより、端部(外側)の配線パターンに前記
ダレD等が無いか、著しく減らした配線基板とすること
ができる。
In a wiring board having at least a plurality of resin layers, wiring patterns are provided on at least one main plane and on the inner resin layer, and dummy patterns respectively corresponding to the wiring patterns are provided at predetermined intervals. May be provided as a resin wiring board. With this configuration, it is possible to provide a resin wiring board in which a plurality of wiring patterns are accurately three-dimensionally arranged in the thickness direction of the board. When the thickness of each of the wiring pattern and the dummy pattern is, for example, about 20 to 30 μm and the width of the dummy pattern is about 5 mm, the distance between the wiring pattern and the dummy pattern is 10 mm.
mm or less, more preferably 8 mm or less. With such an interval, a wiring board in which the sagging D or the like is not present in the wiring pattern at the end (outside) or is significantly reduced can be obtained.

【0014】加えて、以上の配線基板を得るため、前記
配線パターンとダミーパターンとがフォトリソグラフィ
ー技術、又はメッキ技術により同時に形成される樹脂製
配線基板の製造方法を用いることもできる。係る方法に
よれば、工程を増やすことなくダミーパターンを形成で
きる。また、前記配線基板の主平面上に前記樹脂層を形
成する被覆工程と、前記配線パターン上の樹脂層の研磨
と前後して一連に前記ダミーパターンの上面又はその上
方の樹脂層を研磨することにより、上記配線パターン
間、又は配線パターン間及び配線パターン上方の所定厚
さの樹脂層を残して上記樹脂を研磨除去する研磨工程
と、を含むことを特徴とする配線基板の製造方法も提供
する。係る製造方法により、工程数を増やすことなく正
確な配線パターンを有する配線基板を所要量に応じて提
供することが可能になる。
In addition, in order to obtain the above-described wiring board, a method of manufacturing a resin wiring board in which the wiring pattern and the dummy pattern are simultaneously formed by photolithography or plating can be used. According to such a method, a dummy pattern can be formed without increasing the number of steps. Further, before and after the covering step of forming the resin layer on the main plane of the wiring substrate and the polishing of the resin layer on the wiring pattern, the upper surface of the dummy pattern or the resin layer above the dummy pattern is polished. A polishing step of polishing and removing the resin while leaving a resin layer of a predetermined thickness between the wiring patterns or between the wiring patterns and above the wiring patterns. . According to such a manufacturing method, a wiring board having an accurate wiring pattern can be provided according to a required amount without increasing the number of steps.

【0015】[0015]

【実施の形態】以下において本発明の実施に好適な形態
を図面と共に説明する。図1は本発明の一形態である樹
脂製配線基板1の製造工程に関する。同図(A)はガラス
繊維布を複合して強化されたビスマレイミドトリアジン
樹脂(ガラス−BTレジン材)からなるコア基板2の両表
面上に銅薄膜4を被覆した状態を示す断面図である。次
に、図1(B)に示すように、コア基板2の所定の位置に
通し穴5を貫通させる。更に、図1(C)に示すように、
無電解銅メッキを両表面と上記通し穴5内に施し全体を
銅膜6で被覆する。そして、銅膜6の上面全体にエッチ
ングレジスト(感光性樹脂)7を被覆し、露光・現像に
より、図1(D)に示すように、所要パターンのエッチン
グレジスト7′が形成される。次いで、これを所定のエ
ッチング液に浸すことにより、図1(E)に示すように、
上記レジスト7′により保護されて残った銅膜6からな
る両表面3上の厚さ約25μmの配線パターン8と、こ
れの外周に所定の間隔を置いたダミーパターン9、及び
上記通し穴5を貫通する筒状の導通部8′とが形成され
た樹脂製配線基板1を得る。
DESCRIPTION OF THE PREFERRED EMBODIMENTS Preferred embodiments of the present invention will be described below with reference to the drawings. FIG. 1 relates to a manufacturing process of a resin wiring board 1 according to one embodiment of the present invention. FIG. 1A is a cross-sectional view showing a state in which a copper thin film 4 is coated on both surfaces of a core substrate 2 made of a bismaleimide triazine resin (glass-BT resin material) reinforced by combining a glass fiber cloth. . Next, as shown in FIG. 1B, through holes 5 are made to pass through predetermined positions of the core substrate 2. Further, as shown in FIG.
Electroless copper plating is applied to both surfaces and inside the through holes 5, and the whole is covered with a copper film 6. Then, an etching resist (photosensitive resin) 7 is coated on the entire upper surface of the copper film 6, and by exposure and development, an etching resist 7 'having a required pattern is formed as shown in FIG. Next, by immersing this in a predetermined etching solution, as shown in FIG.
A wiring pattern 8 having a thickness of about 25 μm on both surfaces 3 made of the copper film 6 remaining protected by the resist 7 ′, a dummy pattern 9 at a predetermined interval on the outer periphery of the wiring pattern 8, and the through hole 5 are formed. The resin wiring board 1 on which the penetrating cylindrical conductive portion 8 'is formed is obtained.

【0016】上記ダミーパターン9は、上記配線パター
ン8と同じ銅からなり、且つ略同一の高さを有する。ま
た、ダミーパターン9は、上記配線パターン8の領域全
体が平面視で略矩形状である場合、その四辺全部に沿い
且つ約数mm程度の所定の間隔を置いて矩形枠形状に配設
されるが、後述するように配線パターン8の少なくとも
対向する二辺に沿って平行な一対の線状パターン等にも
配設され得る。また、上記配線パターン8とダミーパタ
ーン9は、コア基板2の両表面上に対称的に配設するこ
とが望ましいが、少なくとも一方の表面上にのみ配設す
ることもできる。尚、上記筒状の導通部8′は、コア基
板2の両表面上の配線パターン8同士を導通するもので
ある。
The dummy pattern 9 is made of the same copper as the wiring pattern 8 and has substantially the same height. When the entire area of the wiring pattern 8 is substantially rectangular in plan view, the dummy pattern 9 is arranged in a rectangular frame shape along all four sides thereof and at a predetermined interval of about several mm. However, as will be described later, the wiring pattern 8 may also be disposed on a pair of linear patterns parallel to at least two opposing sides. The wiring pattern 8 and the dummy pattern 9 are desirably arranged symmetrically on both surfaces of the core substrate 2, but may be arranged only on at least one surface. The cylindrical conductive portions 8 ′ conduct the wiring patterns 8 on both surfaces of the core substrate 2.

【0017】図2は、本発明の樹脂製配線基板10の製
造工程に関する。同図(A)は上記配線基板1を示し、同
図(B)に示すように、その両表面上及び配線パターン8
上に絶縁層となる感光性のないエポキシ系の樹脂層12
を塗布して被覆する。これに先立ち通し孔5の導通部
8′とその両開口部にも同じ樹脂層12を塗布し、導通
部8′の内部を孔埋めしておく。すると、上記各配線パ
ターン8、ダミーパターン9、及び導通部8′の上方の
樹脂層12の表面には凸部14がそれぞれ形成される。
この凸部14は、配線パターン8の上面を露出させるタ
イプの基板製品を得る場合、各樹脂層12の上層側と共
に除去する必要がある。
FIG. 2 relates to a manufacturing process of the resin wiring board 10 of the present invention. FIG. 2A shows the wiring board 1, and as shown in FIG.
Non-photosensitive epoxy resin layer 12 to be an insulating layer on top
Is applied and coated. Prior to this, the same resin layer 12 is applied to the conductive portion 8 'of the through hole 5 and both openings thereof to fill the inside of the conductive portion 8'. Then, the protrusions 14 are respectively formed on the surface of the resin layer 12 above the wiring patterns 8, the dummy patterns 9, and the conductive portions 8 '.
In order to obtain a substrate product of a type that exposes the upper surface of the wiring pattern 8, it is necessary to remove the protrusions 14 together with the upper layer side of each resin layer 12.

【0018】そこで、図3(A)に示すように、配線基板
1の表面上において、弾性を有するロール状の研磨材1
6を図中左方向に水平に移動させ研磨する。この場合、
先ず、研磨材16は配線基板1の上表面の樹脂層12の
右端側から削り始めるが、図3(B)に示すように、右側
のダミーパターン9より右端寄りの樹脂層12は殆ど除
去される。次に、研磨材16は右側のダミーパターン9
に当接する。すると、ダミーパターン9は樹脂層12よ
りも硬いので、配線パターン8に代って研磨材16の下
向きの圧力を集中して受け、その手前の樹脂層12も保
護する。このため研磨材16は、ダミーパターン9の上
面外寄り部分を全長に渉り削り取ってダレDを作ると共
に、このダミーパターン9上を乗り越える。
Therefore, as shown in FIG. 3A, a roll-shaped abrasive 1 having elasticity is formed on the surface of the wiring board 1.
6 is horizontally moved leftward in the figure to polish. in this case,
First, the abrasive 16 starts to be cut from the right end side of the resin layer 12 on the upper surface of the wiring board 1, but as shown in FIG. 3B, the resin layer 12 closer to the right end than the right dummy pattern 9 is almost removed. You. Next, the abrasive 16 is placed on the right dummy pattern 9.
Abut. Then, since the dummy pattern 9 is harder than the resin layer 12, the downward pressure of the abrasive 16 is intensively received instead of the wiring pattern 8, and the resin layer 12 in front thereof is also protected. For this reason, the polishing material 16 cuts the portion of the dummy pattern 9 on the outer side of the upper surface over the entire length to form the sagging D, and passes over the dummy pattern 9.

【0019】次いで、研磨材16は、右側のダミーパタ
ーン9と右外側の配線パターン8aとの間に進んで樹脂
層12を研磨する。この際、研磨材16は、図3(C)に
示すように、硬いダミーパターン9と配線パターン8a
の双方に当接するが、配線パターン8aへの圧力は小さ
くなるため、該パターン8aにはダレDが生じない。ま
た、ダミーパターン9と右外側の配線パターン8aの間
には上面が僅かに凹んだ樹脂層13が残る。研磨材16
の移動に連れて、同様に内側の各配線パターン8にもダ
レDが生じず、配線パターン8同士の間にも樹脂層13
が残る。尚、配線パターン8aと同8及び配線パターン
8同士の間隔は、ダミーパターン9と配線パターン8a
との間隔よりも狭く設定されているので、これらの間に
残る樹脂層13はその上面が殆ど凹まず略平坦な表面と
なる。そして、左外側の配線パターン8bを超えて、左
側のダミーパターン9上に至ると、研磨材16はこれに
圧力を集中させるため、その上面外寄り部分を全長に渉
り削り取ってダレDを形成した後、図3(D)に示すよう
に、左端側における樹脂層12の大半を除去する。
Next, the abrasive 16 proceeds between the right dummy pattern 9 and the right outer wiring pattern 8a to polish the resin layer 12. At this time, as shown in FIG. 3 (C), the abrasive 16 is made of a hard dummy pattern 9 and a wiring pattern 8a.
However, since the pressure on the wiring pattern 8a is reduced, no sagging D occurs in the pattern 8a. Further, a resin layer 13 whose upper surface is slightly depressed remains between the dummy pattern 9 and the right outer wiring pattern 8a. Abrasive 16
Similarly, no sagging D occurs in each of the inner wiring patterns 8 with the movement of the resin layer 13, and the resin layer 13 is also provided between the wiring patterns 8.
Remains. In addition, the wiring pattern 8a and the wiring pattern 8 and the interval between the wiring patterns 8 are the same as the dummy pattern 9 and the wiring pattern 8a.
Is set to be smaller than the distance between them, the resin layer 13 remaining between them has a substantially flat surface with almost no concave upper surface. Then, when the abrasive 16 exceeds the wiring pattern 8b on the left outside and reaches the dummy pattern 9 on the left, the abrasive 16 concentrates the pressure on the dummy pattern 9 so that a portion outside the upper surface thereof is cut off over the entire length to form a sag D. After that, as shown in FIG. 3D, most of the resin layer 12 on the left end side is removed.

【0020】また、図4(A)は上記図3の研磨工程を直
角方向から示したものである。ロール状の研磨材16は
その弾性により表面が僅かに変形すると共に、全体が回
転軸に沿って撓むため、図示のように両外側の配線パタ
ーン8c,8dの両側にそれぞれ所定の間隔を置いて配
設された一対のダミーパターン9は、配線パターン8
c,8dの代わりに研磨材16の圧力を集中的に受け
る。この為、各ダミーパターン9の上面外寄り部分は削
り取られダレDを生ずるが、これと所定の間隔を置いた
外側の配線パターン8c,8dやこれらの間に位置する
内側の配線パターン8の上部は保護される。同時にダミ
ーパターン9と配線パターン8c,8dの間、各配線パ
ターン8c,8dと配線パターン8の間、及び配線パター
ン8同士の間にも樹脂層13が残る。この研磨の結果が
図4(B)に示す断面図となる。そして、基板1の下表面
側の樹脂層12も同様に研磨した結果得られるのが、図
2(C)に示す樹脂製配線基板10である。尚、この基板
10は通常図中の各一点鎖線に沿って周囲の各ダミーパ
ターン9を含む部分を切除して使用される。
FIG. 4 (A) shows the polishing step of FIG. 3 from a right angle direction. The surface of the roll-shaped abrasive 16 is slightly deformed due to its elasticity, and the whole is bent along the rotation axis. Therefore, as shown in FIG. The pair of dummy patterns 9 arranged in
The pressure of the abrasive 16 is intensively received instead of c and 8d. For this reason, the outer portion of the upper surface of each dummy pattern 9 is scraped off to cause sagging D. The upper portion of the outer wiring patterns 8c and 8d spaced apart from this by a predetermined distance and the inner wiring pattern 8 located therebetween. Is protected. At the same time, the resin layer 13 remains between the dummy pattern 9 and the wiring patterns 8c and 8d, between the wiring patterns 8c and 8d and the wiring pattern 8, and between the wiring patterns 8. The result of this polishing is the cross-sectional view shown in FIG. The resin layer 12 on the lower surface side of the substrate 1 is similarly polished to obtain a resin wiring board 10 shown in FIG. 2C. The substrate 10 is usually used by cutting off portions including the surrounding dummy patterns 9 along each chain line in the drawing.

【0021】この配線基板10によれば、周囲の各ダミ
ーパターン9が集中的に研磨材16による圧力を受けダ
レDを形成し、その間に配設される配線パターン8a〜
8d,8全体を保護するので、少なくとも一方の主表面
上に略設計通りの断面を有する配線パターン8を形成で
き、その上面と殆ど同一レベルの平坦な表面を有し、周
囲のダミーパターン9部分を切除するのみで、精度の良
い配線基板を得ることができる。また、上記導通部8′
を用いて表裏両方の主表面上に所要の各配線パターン8
を形成することもできる。更に、配線パターン8と樹脂
層13との上面が同一レベルの平坦な表面であるため、
この配線パターン8の上面に新たな樹脂層をその上面を
平坦にして塗布することもでき、係る新たな樹脂層の上
方に前記銅膜6を被覆し、更にその上面にエッチングレ
ジスト7を塗布して露光・現像し、銅膜6をエッチング
することにより、異なる配線パターンを積層し、上下の
配線パターン同士をビアを介して導通させることによ
り、上下方向に二層以上の配線パターンからなる立体回
路を形成することも容易となる。
According to the wiring board 10, each of the surrounding dummy patterns 9 receives the pressure of the abrasive 16 in a concentrated manner to form a sag D, and the wiring patterns 8a to 8a to be provided therebetween.
8d, the entire wiring 8 is protected, so that a wiring pattern 8 having a cross section substantially as designed can be formed on at least one of the main surfaces, has a flat surface almost at the same level as the upper surface thereof, and a portion of the surrounding dummy pattern 9 Only by cutting off, a highly accurate wiring board can be obtained. In addition, the conductive portion 8 '
Required wiring patterns 8 on both front and back main surfaces using
Can also be formed. Further, since the upper surfaces of the wiring pattern 8 and the resin layer 13 are flat surfaces of the same level,
A new resin layer can be applied to the upper surface of the wiring pattern 8 with the upper surface thereof flattened. The copper film 6 is coated above the new resin layer, and an etching resist 7 is applied to the upper surface. A three-dimensional circuit consisting of two or more wiring patterns in the vertical direction by laminating different wiring patterns by conducting exposure and development, etching the copper film 6, and conducting the upper and lower wiring patterns through vias. Can also be easily formed.

【0022】次に、異なる形態の樹脂製配線基板につい
て、図5に基づいて説明する。尚、前記と同様の要素や
部分には同じ符号又は同様の符号を用いるものとする。
同図(A)は前記図2(B)と同様の断面図を示し、厚めに
塗布したエッチングレジスト(以下、単に樹脂層12′
とする)が被覆され、その上面には下方の配線パターン
8やダミーパターン9′に対応した位置に凸部14が形
成されている。尚、このダミーパターン9′の厚みは、
予め配線パターン8よりもやや厚くするのが望ましい。
そして、配線パターン8の上面に一定厚さの樹脂層1
2′を残して表面を平坦にするため、図5(B)に示すよ
うに、一定のレベルに保って図中の矢印のように左方向
に研磨材16を移動させる。
Next, a different form of resin wiring board will be described with reference to FIG. It is to be noted that the same reference numerals or the same reference numerals are used for the same elements and parts as described above.
2A shows a cross-sectional view similar to FIG. 2B, and shows a thickly applied etching resist (hereinafter simply referred to as a resin layer 12 ').
) Is formed, and on the upper surface thereof, a convex portion 14 is formed at a position corresponding to the lower wiring pattern 8 and the dummy pattern 9 '. The thickness of the dummy pattern 9 'is
It is desirable that the thickness be slightly larger than the wiring pattern 8 in advance.
The resin layer 1 having a certain thickness is formed on the upper surface of the wiring pattern 8.
In order to flatten the surface while leaving 2 ', as shown in FIG. 5B, the abrasive 16 is moved to the left as shown by the arrow in the figure while maintaining a constant level.

【0023】研磨材16は、樹脂層12′を右端側から
所定の厚さ分削り始め、右側のダミーパターン9′上方
の傾斜部K付近に達する。するとダミーパターン9′が
存在するため、研磨材16の接触面は弾性変形しつつダ
ミーパターン9′上方の樹脂層12′に圧力を集中させ
た上、ダミーパターン9′の上方を通過しようとする。
その結果、図示のように樹脂層12′の当該部分には右
側に傾斜したダレdが形成される。次いで、研磨材16
は、上記ダミーパターン9′と右外側の配線パターン8
eの間の上方に移動し、当該部分の樹脂層12′を削る
が、ダミーパターン9′と配線パターン8eが共に存在
するため、両者間の樹脂層12′の上面を極く僅かに凹
ませた略平坦な研磨面を形成する。
The abrasive 16 starts to cut the resin layer 12 'by a predetermined thickness from the right end side and reaches the vicinity of the inclined portion K above the right dummy pattern 9'. Then, since the dummy pattern 9 'is present, the contact surface of the abrasive 16 is elastically deformed while concentrating the pressure on the resin layer 12' above the dummy pattern 9 ', and then tries to pass above the dummy pattern 9'. .
As a result, as shown in the figure, a sag d inclined to the right is formed in the relevant portion of the resin layer 12 '. Next, the abrasive 16
Are the dummy pattern 9 'and the right outer wiring pattern 8
e, and the resin layer 12 'in that portion is scraped. However, since both the dummy pattern 9' and the wiring pattern 8e are present, the upper surface of the resin layer 12 'between them is slightly dented. A substantially flat polished surface is formed.

【0024】更に、上記配線パターン8eの上方を削り
つつ、隣接する内側の配線パターン8との間の樹脂層1
2′を削るが、配線パターン8eと配線パターン8の間
隔、及び配線パターン8同士の間隔は、ダミーパターン
9′と配線パターン8eとの間隔よりも狭いため、当該
部分の樹脂層12′は一定の厚さのみ削られた平坦な研
磨面となる。即ち、ダミーパターン9′は配線パターン
8e,8と共に凸部を形成するため、これらの上方の樹
脂層12′の厚みを一定化させ、平坦な表面の樹脂層1
2′を得る役割を果たしている。同様の研磨が繰り返さ
れ、左外側の配線パターン8fの上方を通過した研磨材
16は、左側のダミーパターン9′の上方の樹脂層1
2′にも反対向きのダレdを形成した後、左端側の樹脂
層12′を研磨して終了する。係る研磨を両側の表面に
行った結果、図5(C)に示すような全体に平坦な表面1
9の樹脂層12′を有する配線基板20を得る。この基
板20も図中の各一点鎖線に沿って周囲の各ダミーパタ
ーン9′を含む部分を切除して使用される。
Further, while the upper portion of the wiring pattern 8e is being shaved, the resin layer 1 between the wiring pattern 8 and the adjacent inner wiring pattern 8 is cut.
2 'is removed, but the distance between the wiring pattern 8e and the wiring pattern 8 and the distance between the wiring patterns 8 are smaller than the distance between the dummy pattern 9' and the wiring pattern 8e. A flat polished surface with only a thickness of That is, since the dummy pattern 9 'forms a projection together with the wiring patterns 8e and 8, the thickness of the resin layer 12' above them is made constant, and the resin layer 1 having a flat surface is formed.
It plays the role of getting 2 '. The same polishing is repeated, and the abrasive 16 that has passed above the left outer wiring pattern 8f becomes the resin layer 1 above the left dummy pattern 9 '.
After forming a sag d in the opposite direction also on 2 ', the resin layer 12' on the left end side is polished and the process is completed. As a result of performing such polishing on both surfaces, an overall flat surface 1 as shown in FIG.
A wiring board 20 having nine resin layers 12 'is obtained. This substrate 20 is also used by cutting off a portion including each surrounding dummy pattern 9 'along each one-dot chain line in the figure.

【0025】係る配線基板20によれば、少なくとも一
方の主平面上に配線パターン8を有し、その上方を平坦
な表面19の樹脂層12′で覆った樹脂製配線基板とす
ることができる。また、ダミーパターン9′の厚みを配
線パターン8よりも残したい樹脂層12′の厚み分だけ
厚くしておくと、樹脂層12′を塗布した際、各ダミー
パターン9′に囲まれた樹脂層12′の表面を比較的平
らに近づけられる。更に、前記研磨材16の移動方向と
平行なダミーパターン9′は、研磨材16の高さのガイ
ドとしても機能するので、平坦な表面19の樹脂層1
2′を一層形成し易くする。
According to the wiring board 20, a resin wiring board having the wiring pattern 8 on at least one main plane and covering the wiring pattern 8 with the resin layer 12 ′ on the flat surface 19 can be provided. Also, if the thickness of the dummy pattern 9 'is made thicker by the thickness of the resin layer 12' to be left than the wiring pattern 8, when the resin layer 12 'is applied, the resin layer surrounded by each dummy pattern 9' The surface of 12 'can be made relatively flat. Further, since the dummy pattern 9 ′ parallel to the moving direction of the abrasive 16 functions also as a guide for the height of the abrasive 16, the resin layer 1 on the flat surface 19 is formed.
2 'is formed more easily.

【0026】また、上述の配線基板20を用いると、樹
脂層12′の表面19上に新たな樹脂層を平坦に塗布し
易くなり、係る新たな樹脂層の上方に前記銅膜6を被覆
し、更にその上面にエッチングレジストを塗布し、露光
・現像して銅膜6をエッチングすることにより、異なる
配線パターンを積層し、且つ上下の配線パターン同士を
ビアを介して導通させることにより、上下二層の配線パ
ターンからなる立体回路を形成することもできる。この
異なる配線パターン上に更に別の配線パターンを積層す
る場合、これに先立って塗布される樹脂層の表面には前
記凸部14と同様な凸部が形成されるので、この異なる
配線パターンの周囲にも上記と同様のダミーパターンを
配設しておく。そして、上記と同様の研磨を行うと、そ
のダミーパターンの上方で前記ダレdを集中させ、その
間における樹脂層の表面を平坦にすることができる。
Further, when the above-mentioned wiring board 20 is used, it becomes easy to apply a new resin layer flat on the surface 19 of the resin layer 12 ', and the copper film 6 is coated on the new resin layer. Further, by coating an etching resist on the upper surface, exposing and developing and etching the copper film 6, different wiring patterns are laminated, and the upper and lower wiring patterns are electrically connected to each other through vias. It is also possible to form a three-dimensional circuit composed of wiring patterns of layers. When another wiring pattern is laminated on this different wiring pattern, a convex portion similar to the convex portion 14 is formed on the surface of the resin layer applied prior to this. Also, the same dummy pattern as described above is provided. Then, when the same polishing as described above is performed, the sagging d can be concentrated above the dummy pattern, and the surface of the resin layer therebetween can be flattened.

【0027】複数層の配線パターンを有する基板につい
て、図6により説明する。同図(A)は前記配線基板10
を示し、平坦な上面を形成する配線パターン8とその間
の樹脂層13との上に、エポキシ系の新たな感光性の樹
脂層13′を塗布し、露光・現像して所定の位置にビア
ホール8″を穿設した後に乾燥させると、図6(B)に示
すような断面の状態となり、樹脂層13′の上面は平坦
となる。この樹脂層13′の上面に無電解メッキで図示
しない銅膜を全面に被覆し、更にこの銅膜の上面に図示
しないエッチングレジストを塗布し、露光・現像し、エ
ッチングした上で、上記レジストを除去すると、図6
(C)に示すように、樹脂層13′の上に異なる配線パタ
ーン22を形成することができる。この際、同時に配線
パターン22と所定の間隔を置いてその周囲にダミーパ
ターン21を形成しておくと、これらの上方に更に別の
配線パターンを配設する場合に有利となる。尚、配線パ
ターン8,22間の所定の位置にはビア23が介在して
両者を互いに導通している。
A substrate having a plurality of wiring patterns will be described with reference to FIG. FIG. 3A shows the wiring board 10.
A new epoxy-based photosensitive resin layer 13 ′ is applied on the wiring pattern 8 forming the flat upper surface and the resin layer 13 therebetween, and is exposed and developed to form a via hole 8 in a predetermined position. 6B, and then dried, a cross-section as shown in FIG. 6B is obtained, and the upper surface of the resin layer 13 'becomes flat. After coating the entire surface of the film and further applying an etching resist (not shown) on the upper surface of the copper film, exposing and developing, etching, and then removing the resist, FIG.
As shown in (C), different wiring patterns 22 can be formed on the resin layer 13 '. At this time, if a dummy pattern 21 is formed around the wiring pattern 22 at a predetermined interval at the same time, it is advantageous when another wiring pattern is provided above these. In addition, vias 23 are interposed at predetermined positions between the wiring patterns 8 and 22, and both are electrically connected to each other.

【0028】図6(C)の配線パターン22の上方に更に
別の配線パターンを積層するには、前記図5(A)〜(C)
に示した樹脂層の塗布と、この樹脂層を一定の厚み分だ
け研磨除去する工程を行うことにより、配線パターン2
2等による凸部を除去し平坦な表面の新たな樹脂層を形
成することができる。係る樹脂層13′等の塗布、銅膜
やエッチングレジストの被覆、露光・現像、エッチング
を繰り返すことにより、図6(D)に示すように、所望の
層数の配線パターン8,22,24,26,28を積層し、
これらを導通するビア23を有し、且つ各パターンの周
囲にダミーパターン9,21,25,27,29を配設した
樹脂製配線基板30を得ることができる。この配線基板
30も、通常図中の各一点鎖線においてダミーパターン
9等を含む周辺部分を切除することにより、立体回路を
有する樹脂製配線基板の製品として使用される。
In order to further laminate another wiring pattern above the wiring pattern 22 of FIG.
The application of the resin layer and the step of polishing and removing the resin layer by a predetermined thickness shown in FIG.
2 and the like, and a new resin layer having a flat surface can be formed. By repeating the application of the resin layer 13 'and the like, the coating of the copper film or the etching resist, the exposure / development, and the etching, as shown in FIG. 6D, the desired number of wiring patterns 8, 22, 24, 26,28 are laminated,
It is possible to obtain the resin wiring board 30 having the vias 23 for conducting these, and having the dummy patterns 9, 21, 25, 27, 29 arranged around each pattern. This wiring board 30 is also used as a product of a resin wiring board having a three-dimensional circuit by cutting off the peripheral portion including the dummy pattern 9 and the like at each one-dot chain line in the figure.

【0029】ここで本発明の配線基板と従来の技術によ
るものとを具体的に比較する。前記本発明の図2(B)に
示す状態から研磨して同図(C)の配線基板10を得た場
合における外側の配線パターン8aのダレDの高さと、
前記従来の技術による図8(A)のダミーパターンの無い
ものを研磨して同図(B)に示す配線基板100を得た場
合における外側の配線パターン106aのダレDの高さ
を測定した。各コア基板2,102はガラス−BTレジ
ン材からなり、長さ;330mm、幅;250mm、厚さ;0.
6mmのものを用いた。各配線パターン8,106は銅製
で、厚さは25μm、幅は2mmである。また、本発明例
では配線パターン8の周囲にそれぞれ数種類の間隔を置
いて、パターン8と同じ厚みで幅5mmのダミーパターン
9を矩形枠状に配設した。更に、予め通し孔5等に樹脂
を充填した後、各配線パターン8,106の上方にエポ
キシ系の樹脂層12,110を同じ厚みで塗布し、乾燥
させたものを所要数用意した。
Here, the wiring board of the present invention and a conventional one will be concretely compared. The sagging D of the outer wiring pattern 8a when the wiring board 10 of FIG. 2C is obtained by polishing from the state shown in FIG.
The height of the sagging D of the outer wiring pattern 106a when the wiring substrate 100 shown in FIG. 8B was obtained by polishing the one without the dummy pattern of FIG. Each of the core substrates 2 and 102 is made of a glass-BT resin material, and has a length of 330 mm, a width of 250 mm, and a thickness of 0.1 mm.
A 6 mm one was used. Each of the wiring patterns 8 and 106 is made of copper, has a thickness of 25 μm, and a width of 2 mm. In the example of the present invention, a dummy pattern 9 having the same thickness as the pattern 8 and a width of 5 mm is arranged in a rectangular frame shape at intervals of several types around the wiring pattern 8. Further, after filling the through holes 5 and the like with resin in advance, epoxy resin layers 12, 110 having the same thickness were applied over the wiring patterns 8, 106, and dried to prepare a required number of dried resin layers.

【0030】一方、研磨の条件は、研磨機としてベルト
サンダーを用い、その研磨材として#600番手のアル
ミナ粒を表面に有する研磨ベルト(幅650mm,内周長1700m
m)を用いた。その研磨側にはゴム製のコンタクトロール
(直径150mm,ゴム硬度40度)を内設し、上記研磨ベルトの
押込み量をコア基板2,102の上方50μmの高さと
した。研磨後に全ての配線基板10,100を切断し
て、外側の各配線パターン8a,106aにおける厚み
の減少量を光学顕微鏡により測定した。本発明例のもの
では、上記減少量である各ダレDの高さを研磨ベルトの
移動方向とダミーパターン9が直角と平行の場合に分
け、従来例のものもこれに沿って分けた。その結果を表
1(間隔の単位はmm、厚みの減少量の単位はμm)に示
す。
On the other hand, the polishing conditions were as follows: a belt sander was used as a polishing machine, and a polishing belt (width 650 mm, inner circumference 1700 m) having # 600 alumina particles on the surface as a polishing material was used.
m) was used. Rubber contact roll on the polishing side
(Having a diameter of 150 mm and a rubber hardness of 40 degrees), and the pressing amount of the polishing belt was set at a height of 50 μm above the core substrates 2 and 102. After the polishing, all the wiring substrates 10 and 100 were cut, and the amount of reduction in the thickness of each of the outer wiring patterns 8a and 106a was measured with an optical microscope. In the case of the example of the present invention, the height of each sagging D, which is the above-described reduction amount, is divided into cases where the moving direction of the polishing belt and the dummy pattern 9 are parallel to a right angle, and the case of the conventional example is also divided along this. The results are shown in Table 1 (the unit of the interval is mm and the unit of the amount of reduction in thickness is μm).

【0031】[0031]

【表1】[Table 1]

【0032】表1から本発明例のものは、配線パターン
8aとダミーパターン9との間隔が狭い程ダレDが小さ
く効果的であるに対し、その間隔が広がるに連れてダレ
Dが大きくなりダミーパターン9を配設した効果が少な
くなることが判る。即ち、ダミーパターン9と配線パタ
ーン8aとの間隔を狭める程、ダミーパターン9が研磨
ベルトによる圧力を集中して受け、外側の配線パターン
8aを保護するのに対し、間隔を広げると配線パターン
8aも研磨ベルトによる圧力を受け易くなり、ダレDを
形成することが容易に理解される。因みに、直角方向で
10mmの間隔や平行方向で8mmの間隔での一部には、従
来例より効果が劣るものもあるが、各々の平均値では発
明例の効果が認められた。
As shown in Table 1, in the case of the present invention, the smaller the distance between the wiring pattern 8a and the dummy pattern 9 is, the smaller and more effective the sag D is. It can be seen that the effect of disposing the pattern 9 is reduced. In other words, as the distance between the dummy pattern 9 and the wiring pattern 8a is reduced, the dummy pattern 9 receives the pressure from the polishing belt in a concentrated manner and protects the outer wiring pattern 8a. It is easily understood that the pressure due to the polishing belt is easily received, and the dripping D is formed. By the way, at some intervals of 10 mm in the perpendicular direction and at intervals of 8 mm in the parallel direction, some of the effects were inferior to those of the conventional example, but the average values showed the effect of the invention example.

【0033】次に、前記本発明の図5(A)に示す状態か
ら研磨して同図(C)の配線基板20を得た場合における
外側の配線パターン8eのダレdの高さと、前記従来の
技術たる図9(A)のダミーパターンの無いものを研磨し
て同図(C)に示す配線基板を得た場合における外側の配
線パターン106cのダレdの高さを測定した。両者の
コア基板2,102は前記と同じ材質と寸法である。ま
た、配線パターン8,106、ダミーパターン9′は前
記と同様とし、樹脂層12′,110は前記よりもやや
厚く塗布した。また、研磨条件は、回転式研磨機に表面
の砥石荒さが#600番手のロール状砥石(直径150mm,
長さ610mm)をセットしたものを用い、この砥石の押込み
量をコア基板2,102の上方150μmの高さとし
た。そして、研磨後に前記と同様に外側の配線パターン
8e,106cの直上の樹脂層12′,110における
厚みの減少量、即ちダレdの高さを測定した。その結果
を表2に示す。尚、表2中の各数値の単位は表1と同じ
である。
Next, the height of the sagging d of the outer wiring pattern 8e when the wiring board 20 shown in FIG. 5C is obtained by polishing from the state shown in FIG. The height of the sagging d of the outer wiring pattern 106c when the wiring substrate shown in FIG. 9C was obtained by polishing the substrate without the dummy pattern shown in FIG. Both core substrates 2 and 102 have the same material and dimensions as described above. The wiring patterns 8, 106 and the dummy pattern 9 'were the same as described above, and the resin layers 12', 110 were applied slightly thicker than the above. Polishing conditions were as follows: A grinder with a surface roughness of # 600 was used as a roll-shaped grindstone (150 mm in diameter,
A length of 610 mm) was set, and the pressing amount of the grindstone was set to a height of 150 μm above the core substrates 2 and 102. After the polishing, the amount of reduction in the thickness of the resin layers 12 'and 110 immediately above the outer wiring patterns 8e and 106c, that is, the height of the sag d was measured in the same manner as described above. Table 2 shows the results. The unit of each numerical value in Table 2 is the same as in Table 1.

【0034】[0034]

【表2】[Table 2]

【0035】表2から本発明例は直角方向では配線パタ
ーン8eとダミーパターン9′との間隔が狭い程ダレd
が小さく効果的であるに対し、その間隔が広がるに連れ
てダレdが大きくなりダミーパターン9′を配設した効
果が少なくなることが判る。但し、平行方向では上記ロ
ール状砥石が硬くその軸方向の撓みが小さくなったた
め、従来例のものと変わらないケースもあるが、少なく
とも10mmの間隔を設ければ、本発明の効果を得ること
が可能となることも理解される。以上の結果から上記の
条件において本発明の効果を得るには、配線パターンと
ダミーパターンの間隔を10mm以下、望ましくは8mm以
下、更に望ましくは2.7mm以下とすることも容易に理
解される。
From Table 2, it can be seen that in the example of the present invention, in the perpendicular direction, the smaller the distance between the wiring pattern 8e and the dummy pattern 9 ', the more d
Is small and effective, but as the interval increases, the sag d increases, and the effect of disposing the dummy pattern 9 'decreases. However, in the parallel direction, since the roll-shaped grindstone is hard and its bending in the axial direction is small, there is a case where it is the same as that of the conventional example.However, if an interval of at least 10 mm is provided, the effect of the present invention can be obtained. It is also understood that it is possible. From the above results, in order to obtain the effect of the present invention under the above conditions, it is easily understood that the distance between the wiring pattern and the dummy pattern is set to 10 mm or less, preferably 8 mm or less, and more preferably 2.7 mm or less.

【0036】図7(A)は前記配線基板1と同様の配線基
板を平面視した状態を示し、コア基板40上の配線パタ
ーンが形成された矩形のエリア42の周囲に所定の間隔
を置き、このエリア42と相似形の矩形のダミーパター
ン44を配設したものであるが、ダミーパターンの形態
はこれに限るものでない。例えば、図7(B)はコア基板
50上の配線パターンが形成された矩形のエリア52の
各辺に沿って、所定の間隔を置いて直線状のダミーパタ
ーン54を平行に四本配設したものを示す。係るダミー
パターン54によれば上記ダミーパターン44における
各コーナー部分を節約しつつ、前記ダレD,dを無くす
か低減することが可能になる。
FIG. 7A shows a state in which a wiring board similar to the wiring board 1 is viewed in a plan view, and a predetermined space is provided around a rectangular area 42 on the core substrate 40 on which a wiring pattern is formed. Although a rectangular dummy pattern 44 similar to the area 42 is provided, the form of the dummy pattern is not limited to this. For example, in FIG. 7B, four linear dummy patterns 54 are arranged in parallel at predetermined intervals along each side of a rectangular area 52 on which a wiring pattern on the core substrate 50 is formed. Show things. According to the dummy pattern 54, the sagging D and d can be eliminated or reduced while saving each corner portion of the dummy pattern 44.

【0037】また、図7(C)に示すように、コア基板6
0上の配線パターンが形成された矩形のエリア62にお
ける両側の辺に沿って、所定の間隔を置いて直線状のダ
ミーパターン64を平行に一対のみ配設したものとして
も良い。係るダミーパターン64は、内部の配線パター
ンにおいて前記ダレD,dの発生するおそれがある辺に
沿ってのみ配設すれば良く、係るタイプの配線基板の場
合に効果的である。更に、図7(D)に示すように、コア
基板70上の配線パターンが形成された矩形のエリア7
2における上下の辺に沿って、所定の間隔を置いて直線
状のダミーパターン74を平行に一対配設すると共に、
エリア72の両側の辺に沿って短尺のダミーパターン7
6を間隙78を介して複数本配設したものを示す。この
ダミーパターン76は、外側寄りの配線パターンにおい
て前記ダレD,dの発生するおそれがある辺の部分に沿
って配置し、係る配線パターンが無い部分には上記間隙
78を対向して形成するので、一層効率良く効果を得る
ことが可能となる。
As shown in FIG. 7C, the core substrate 6
Only a pair of linear dummy patterns 64 may be arranged in parallel at predetermined intervals along both sides of the rectangular area 62 on which the wiring pattern on 0 is formed. Such a dummy pattern 64 may be provided only along the side where the sagging D and d may occur in the internal wiring pattern, and is effective in the case of such a type of wiring board. Further, as shown in FIG. 7D, a rectangular area 7 on which a wiring pattern is formed on the core substrate 70 is formed.
2, a pair of linear dummy patterns 74 are arranged in parallel at predetermined intervals along the upper and lower sides,
Short dummy pattern 7 along both sides of area 72
6 shows a case where a plurality of 6 are arranged via a gap 78. The dummy pattern 76 is arranged along the side of the wiring pattern closer to the outside where the sagging D and d may occur, and the gap 78 is formed to face the portion where there is no such wiring pattern. The effect can be obtained more efficiently.

【0038】尚、以上では、配線パターンが形成される
エリアを矩形状としたが、正多角形や特異の平面形状の
パターンエリアを有する場合にも、その周囲に所定の間
隔を置いて上記各形態のダミーパターンを適用すること
も容易に行い得る。この場合、直線形状の組合せの他、
例えばカーブ形や円形状の曲線形状のダミーパターンを
用いることもできる。また、同一のダミーパターン中に
おける幅寸法も、前記ダレD,dが発生する頻度に応じ
て、その長さ方向に沿って部分的に太く又は細くするこ
ともできる。場合によっては、配線パターンの同じ辺に
沿って複数のダミーパターンをその全長又は部分的に配
設することも可能である。更に、一つのパターンエリア
の内部に配線パターンのない大きな間隙が存在する場合
には、その間隙内の適所にダミーパターンを配設するこ
とも可能である。
In the above description, the area in which the wiring pattern is formed is rectangular. However, even when a pattern area having a regular polygon or a peculiar plane shape is provided, each of the above-mentioned areas is provided at a predetermined interval around the pattern area. It is also easy to apply a dummy pattern of the form. In this case, in addition to the combination of linear shapes,
For example, a curved or circular dummy pattern may be used. Also, the width dimension in the same dummy pattern can be made partially thicker or thinner along its length direction according to the frequency at which the sagging D and d occur. In some cases, a plurality of dummy patterns can be provided along the entire length or partially along the same side of the wiring pattern. Further, when there is a large gap without a wiring pattern inside one pattern area, it is also possible to dispose a dummy pattern at an appropriate position in the gap.

【0039】図7(E)は異なる樹脂製配線基板80の平
面図を示し、コア基板81上に四個の配線パターンが形
成された矩形のパターンエリア82を互いに平行で且つ
対称に配置し、各エリア82の周囲毎に所定の間隔を置
いて矩形状のダミーパターン84を配設したものであ
る。尚、コア基板81の四隅付近には加工時の位置決め
用のマーク86がそれぞれ配置されている。係る複数の
パターンエリア82とこれに対応したダミーパターン8
4を有する配線基板80を用いると、前記研磨を多数の
配線パターンに対し一度に同時且つ連続して行うことが
でき、且つ前記樹脂層の塗布も同様に行い得るので、研
磨工程や樹脂層の被覆工程の効率を高めることが可能と
なる。
FIG. 7 (E) is a plan view of a different resin wiring board 80, in which rectangular pattern areas 82 having four wiring patterns formed on a core substrate 81 are arranged in parallel and symmetrically with each other. A rectangular dummy pattern 84 is provided at a predetermined interval around each area 82. In addition, near the four corners of the core substrate 81, positioning marks 86 for processing are arranged. The plurality of pattern areas 82 and the corresponding dummy patterns 8
The use of the wiring substrate 80 having No. 4 enables the polishing to be performed simultaneously and continuously on a large number of wiring patterns at one time, and the coating of the resin layer can be performed in the same manner. The efficiency of the coating process can be increased.

【0040】本発明は以上において説明した各形態に限
定されるものではない。前記コア基板には、前記形態で
使用したガラス−BTレジン材の他、ガラス−エポキシ
材、ガラス−PPE材や、紙−エポキシ等の複合樹脂
材、或いはエポキシ、BTレジン、ポリイミド、PPE
等の樹脂を用いても良い。また、ダミーパターンや配線
パターンは前記の銅に限らず、Ni及びその合金(Ni
−P,Ni−B,Ni−Cu−P)、Coとその合金(Co
−P,Co−B,Co−Ni−P)、Snとその合金(Sn
−Pb,Sn−Pb−Pd)、Au,Ag,Pd,Pt,R
h,Ru等とそれらの合金の何れも用いることが可能で
ある。更に、ダミーパターンは配線基板上の同じ銅膜等
から配線パターンと同時に形成しても良いが、配線パタ
ーンとは別々に形成しても良く、その形成方法もフォト
リソグラフィー技術等に限らず、所要形状にマスクキン
グして直接メッキしたり、溶射や蒸着等によって形成し
ても良い。
The present invention is not limited to the embodiments described above. In addition to the glass-BT resin material used in the above-described embodiment, a glass-epoxy material, a glass-PPE material, a composite resin material such as paper-epoxy, or an epoxy, BT resin, polyimide, PPE
May be used. Further, the dummy pattern and the wiring pattern are not limited to the above-mentioned copper, but Ni and its alloy (Ni
-P, Ni-B, Ni-Cu-P), Co and its alloys (Co
-P, Co-B, Co-Ni-P), Sn and its alloys (Sn
-Pb, Sn-Pb-Pd), Au, Ag, Pd, Pt, R
h, Ru, etc. and any of their alloys can be used. Furthermore, the dummy pattern may be formed simultaneously with the wiring pattern from the same copper film or the like on the wiring board, but may be formed separately from the wiring pattern, and the method of forming the dummy pattern is not limited to the photolithography technique. It may be formed by masking the shape and directly plating, or by spraying or vapor deposition.

【0041】[0041]

【発明の効果】以上において説明した本発明の樹脂製配
線基板は、配線パターンの端部において研磨によるダレ
D等が無いかダレD等の高さを著しく低減でき、パター
ンエッジにおいても正確な配線パターンを得ることが可
能となる。また、請求項5の方法によれば、配線パター
ンの上面と同レベル又はその上方において平坦な表面の
樹脂層を有する樹脂製配線基板を得ることが可能とな
る。
As described above, the resin wiring board of the present invention described above has no dripping D or the like due to polishing at the end of the wiring pattern or can significantly reduce the height of the dripping D or the like. It becomes possible to obtain a pattern. Further, according to the method of claim 5, it is possible to obtain a resin wiring substrate having a resin layer having a flat surface at the same level as or above the upper surface of the wiring pattern.

【図面の簡単な説明】[Brief description of the drawings]

【図1】(A)乃至(D)は本発明における一形態の配線基
板を製造するための各工程を示す断面図、(E)は得られ
た配線基板の断面図である。
FIGS. 1A to 1D are cross-sectional views showing steps for manufacturing a wiring board according to one embodiment of the present invention, and FIG. 1E is a cross-sectional view of the obtained wiring board.

【図2】(A)及び(B)は異なる形態の配線基板を製造す
るための各工程を示す断面図、(C)は得られた配線基板
の断面図である。
2 (A) and 2 (B) are cross-sectional views showing respective steps for manufacturing a wiring board of a different form, and FIG. 2 (C) is a cross-sectional view of the obtained wiring board.

【図3】(A)は図2(B)〜(C)間における研磨工程を示
す概略図、(B)乃至(D)はこの研磨の過程を示す部分断
面図である。
FIG. 3A is a schematic diagram showing a polishing step between FIGS. 2B to 2C, and FIGS. 3B to 3D are partial cross-sectional views showing the polishing process.

【図4】(A)は図2(B)における研磨工程を異なる角度
から示した概略図、(B)は研磨後の配線基板を示す断面
図である。
4A is a schematic view showing the polishing step in FIG. 2B from a different angle, and FIG. 4B is a cross-sectional view showing the polished wiring substrate.

【図5】(A)乃至(C)は異なる形態の配線基板を製造す
るための各工程を示す断面図である。
FIGS. 5A to 5C are cross-sectional views showing respective steps for manufacturing a wiring board of a different form.

【図6】(A)乃至(C)は更に異なる形態の配線基板を製
造するための各工程を示す断面図、(D)は得られた配線
基板の断面図である。
6 (A) to 6 (C) are cross-sectional views showing respective steps for manufacturing a wiring board of a further different form, and FIG. 6 (D) is a cross-sectional view of the obtained wiring board.

【図7】(A)は図1(E)と同様の配線基板の平面図、
(B)乃至(E)はそれと異なる形態の配線基板の平面図で
ある。
FIG. 7 (A) is a plan view of a wiring board similar to FIG. 1 (E),
(B) to (E) are plan views of wiring boards having different forms.

【図8】(A)乃至(C)は従来の配線基板を得る製造方法
の各工程を示す断面図である。
FIGS. 8A to 8C are cross-sectional views showing steps of a conventional method for manufacturing a wiring board.

【図9】(A)乃至(C)は従来の他の配線基板を得る製造
方法の各工程を示す断面図である。
FIGS. 9A to 9C are cross-sectional views showing steps of a conventional manufacturing method for obtaining another wiring board.

【符号の説明】[Explanation of symbols]

1,10,20,30,80……………………樹脂製配線基
板 8,22,24,26,28……………………配線パターン 9,9′,21,25,27,29,44,54,64,74,76,84…ダミーパタ
ーン 12,12′,13,13′……………………樹脂層
1,10,20,30,80 .................. Resin wiring board 8,22,24,26,28 ..................... Wiring pattern 9,9 ', 21,25,27 , 29,44,54,64,74,76,84 ... Dummy pattern 12,12 ', 13,13' ... Resin layer

【表1】 [Table 1]

【表2】 [Table 2]

Claims (5)

【特許請求の範囲】[Claims] 【請求項1】配線基板の少なくとも一方の主平面上に配
線パターンを有し、該配線パターン間及び配線パターン
上に樹脂層を形成し、その後少なくとも上記配線パター
ン間の樹脂層を残し、且つ上記配線パターンの上面が露
出するように上記樹脂層を研磨除去することが予定され
ている配線基板であって、 上記配線パターンと略同一高さを有するダミーパターン
を主平面上に有し、 このダミーパターンは上記研磨と前後して一連に研磨さ
れるように上記配線パターンと所定の間隔を置いて配設
されていることを特徴とする樹脂製配線基板。
A wiring pattern formed on at least one main plane of the wiring board; forming a resin layer between the wiring patterns and on the wiring pattern; and then leaving at least the resin layer between the wiring patterns. A wiring substrate on which the resin layer is to be polished and removed so that the upper surface of the wiring pattern is exposed, the dummy having a dummy pattern having substantially the same height as the wiring pattern on a main plane; A resin wiring board, wherein the pattern is disposed at a predetermined interval from the wiring pattern so that the pattern is polished in series before and after the polishing.
【請求項2】配線基板の少なくとも一方の主平面上に配
線パターンを有し、該配線パターン上に樹脂層を形成
し、その後上記配線パターンの上方に所定の厚みの樹脂
層を残して余剰の樹脂を研磨除去することが予定されて
いる配線基板であって、 上記配線パターンと少なくとも同一かそれ以上の高さを
有するダミーパターンを主平面上に有し、 このダミーパターンはその上方に形成された樹脂層が上
記配線パターンの上方の樹脂の研磨と前後して一連に研
磨されるように上記配線パターンと所定の間隔を置いて
配設されていることを特徴とする樹脂製配線基板。
2. A wiring board having a wiring pattern on at least one main plane of the wiring board, forming a resin layer on the wiring pattern, and then leaving an excess resin layer of a predetermined thickness above the wiring pattern. A wiring substrate on which resin is to be polished and removed, having a dummy pattern having a height at least equal to or higher than the wiring pattern on a main plane, wherein the dummy pattern is formed above the wiring pattern. Wherein the resin layer is disposed at a predetermined interval from the wiring pattern so as to be polished successively before and after the resin above the wiring pattern is polished.
【請求項3】前記ダミーパターンは、前記配線パターン
上に形成された前記樹脂が研磨される際、該ダミーパタ
ーン上の樹脂も略同時に研磨されるような位置に配設さ
れていることを特徴とする請求項1又は2に記載の樹脂
製配線基板。
3. The dummy pattern is provided at a position such that when the resin formed on the wiring pattern is polished, the resin on the dummy pattern is also polished substantially simultaneously. The resin wiring board according to claim 1 or 2, wherein
【請求項4】前記ダミーパターンは、前記配線パターン
と所定の間隔を置いてその周囲に配設されていることを
特徴とする請求項1乃至3の何れかに記載の樹脂製配線
基板。
4. The resin wiring board according to claim 1, wherein the dummy pattern is disposed around the wiring pattern at a predetermined interval.
【請求項5】請求項1乃至4の何れかに記載の樹脂製配
線基板の製造方法であって、 前記配線基板の主平面上に前記樹脂層を形成する被覆工
程と、 前記配線パターン上の樹脂層の研磨と前後して一連に前
記ダミーパターンの上面又はその上方の樹脂層を研磨す
ることにより、上記配線パターン間、又は該配線パター
ン間及び配線パターン上方の所定厚さの樹脂層を残して
上記樹脂を研磨除去する研磨工程と、 を含むことを特徴とする樹脂製配線基板の製造方法。
5. The method for manufacturing a resin wiring board according to claim 1, wherein: a step of forming the resin layer on a main plane of the wiring board; By polishing the resin layer above or above the dummy pattern in series before and after the polishing of the resin layer, a resin layer of a predetermined thickness is left between the wiring patterns or between the wiring patterns and above the wiring pattern. And a polishing step of polishing and removing the resin.
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