JPH10255297A

JPH10255297A - 光ディスク装置

Info

Publication number: JPH10255297A
Application number: JP5762897A
Authority: JP
Inventors: Tamane Takahara; 原珠音高
Original assignee: Toshiba Corp
Current assignee: Toshiba Corp
Priority date: 1997-03-12
Filing date: 1997-03-12
Publication date: 1998-09-25

Abstract

(57)【要約】【課題】光ピックアップの動きに悪影響を与えること
が無いチルト検出器を備えた光ディスク装置を提供す
る。【解決手段】光ディスク装置は、光ディスク１の外周
端面に１ｂに検出光を照射する光源装置１０と、外周端
面１ｂにより反射された検出光を受光し、受光量に対応
した信号を出力する光検出装置１２とを備えている。光
検出装置１２からの信号に基づいて、光ピックアップ３
の光軸に対する記録面１ａの傾きが演算装置１５により
算出される。

Description

【発明の詳細な説明】

【０００１】

【発明の属する技術分野】本発明は光ディスク装置に係
り、とりわけチルト量を検出する機能を備えた光ディス
ク装置に関する。

【０００２】

【従来の技術】近年、光ディスクには高密度および大容
量記録が求められており、トラックピッチおよびピット
ピッチの縮小化がなされている。そしてディスクの高密
度および大容量化に対応すべく、レーザー光のスポット
サイズをより小さくすることが行われている。レーザー
光のスポットサイズを絞るためには、波長の短い半導体
レーザーの使用や、光ピックアップのレンズの開口数
（ＮＡ：numerical aperture）の引上げ等が必要となっ
てくる。

【０００３】一方、高密度・大容量記録を行う場合、チ
ルトの発生に起因した読み取りまたは書き込み不良の問
題が顕在化してくる。チルトとは、レーザー光の光軸と
ディスクの記録面の垂線との間の角度ずれ、すなわち記
録面の傾きを意味し、その発生要因としては、（１）光
ディスクをスピンドルモータにチャッキングする際に、
光ディスクが傾いた状態でチャッキングしてしまうこ
と、（２）光ディスクの製造時に光ディスク自体に歪み
が発生していること、（３）光ディスク装置の経時変化
によりスピンドルモータの軸と光ピックアップのレンズ
の光軸との間にずれが生ずること、などがある。

【０００４】従来は、光ディスク装置の製造時に光軸調
整を行っておきさえすれば、以上のような原因でチルト
量が増大しても信号の読取りに重大な影響を与えること
はなかったが、近年の高密度大容量記録化に伴い、わず
かな光軸のずれが問題となるようになっている。

【０００５】レーザー光の波長λ、開口数ＮＡ、および
チルトの許容値Ｔとの関係は、Ｔ＝λ／（ＮＡ）³ となることが知られており、レーザー光の波長λの短縮
化、開口数ＮＡの引上げを行うと、チルト量の許容値Ｔ
は小さくなる。そしてチルト量が許容値を超えると、コ
マ収差によりスポット品位が大幅に劣化し、正確な信号
の読取りまたは書込みが困難となるという問題が生じ
る。

【０００６】この問題に対する解決策としては、チルト
の発生を根本からなくすような手法、すなわち変形量の
少ない光ディスクを使用したり、経時変化の少ない材料
を用いて光ディスク装置を構成する手法も考えられる
が、いずれも大幅な製造コストの増大に繋がるため、現
実的ではない。

【０００７】このため、上記問題に対する解決策して、
光ディスク装置にチルト検出機能、チルト補償機能を設
けることが行われている。

【０００８】図６に光ディスク装置に設けられた従来の
チルト検出器を示す。このチルト検出器は特開平６−２
８６９４号公報に開示されたものであり、書き込み／読
み出しに使用するＬＤ光の一部を用いてディスクの記録
面の傾きを測定するものである。

【０００９】

【発明が解決しようとする課題】しかし、上記チルト検
出器においては、チルト検出器のチルトセンサを光ピッ
クアップの一部あるいは全部とともに半径方向に移動さ
せる必要がある。このため、光ピックアップの可動部分
の重量が増し、装置が消費するエネルギが増大するとい
う問題がある。また、チルトセンサの出力信号線を引き
回す必要が生じるため、この信号線が光ピックアップの
動きに影響を与えたり、信号線の断線等により故障が発
生することもありうる。

【００１０】本発明は、上記問題点を解決すべくなされ
たものであり、光ピックアップの動きに悪影響を与える
ことが無く、信頼性の高いチルト検出器を備えた光ディ
スク装置を提供することを目的とする。

【００１１】

【課題を解決するための手段】かかる目的を達成するた
め、本発明は、情報記録トラックが設けられた記録面
と、前記記録面の周縁に前記記録面と略垂直に設けられ
た外周端面とを有する光ディスクを記録媒体とし、光ピ
ックアップにより前記記録面に対する信号の書き込みま
たは読み出しを行う光ディスク装置において、前記外周
端面に検出光を照射する光源装置と、前記外周端面によ
り反射された前記検出光を受光し、受光量に対応した信
号を出力する光検出装置と、前記光検出装置からの信号
に基づいて、前記光ピックアップの光軸に対する前記記
録面の傾きを算出する演算装置と、を備えたことを特徴
とするものである。

【００１２】本発明によれば、光ディスク装置のチルト
検出部を光ピックアップから独立して設けることができ
る。このため、光ピックアップの動きに悪影響を与える
ことが無く信頼性の高いチルト検出器を備えた光ディス
ク装置を提供することができる。

【００１３】

【発明の実施の形態】以下、図面を参照して本発明の実
施の形態について説明する。図１乃至図５は本発明の一
実施形態を示す図である。

【００１４】図１に示すように、光ディスク装置は、光
ディスク１をチャッキングして回転させるスピンドルモ
ータ２と、光ディスク１から情報を読み出したり光ディ
スク１に情報を書き込むための光ピックアップ３と、光
ピックアップ３を光ディスク１の半径方向に移動させる
ための（粗動用の）駆動装置４とを備えている。また、
スピンドルモータ２は、回転制御系５により制御される
ようになっており、回転制御系５は光ピックアップ３に
より読み出された光ディスク１の半径方向についての位
置情報に基づいてスピンドルモータ２の動作を制御する
ようになっている。

【００１５】なお、本実施形態において、光ディスク１
とは、レーザー光等の光により情報を読み出したり、そ
の種類によっては情報を書き込むことも可能な情報記録
媒体をいう。特に図４に示すように、光ディスク１は情
報記録トラック１ｃが設けられた記録面１ａと、記録面
１ａの周縁に記録面１ａと略垂直に形成された外周端面
１ｂとを有している。

【００１６】本実施形態の要旨と直接関係しないためこ
こでは詳述しないが、光ピックアップ３には、レーザー
光線を発生させるための半導体レーザー、レーザー光線
を整形するコリメートレンズ、ビームスプリッタ、レー
ザー光線を検出するためのフォトダイオード、レーザー
光線を光ディスク１上の所望の位置に照射するための対
物レンズや駆動系等が設けられている。光ピックアップ
３に設けられた駆動系とは、対物レンズにより集束され
たスポットをフォーカス方向とトラッキング方向に位置
決めするためのものである。

【００１７】また、図１に示すように、光ディスク装置
は、光ディスク１の半径方向外側に配置されたチルト検
出器１０を備えている。このチルト検出器１０は、例え
ばスピンドルモータ２を支持する光ディスク装置の筐体
または筐体に固定された取付部材（いずれも図示せず）
に固定支持されている。すなわちチルト検出器１０は、
光ピックアップ３とは別個の独立した構成要素として設
けられている。

【００１８】チルト検出器１０は、光ディスク１の外周
端面１ｂに検出光を照射する発光ダイオード（ＬＥＤ）
等の光源装置１１と、外周端面１ｂにより反射された検
出光を受光し、受光量に対応した出力信号を出力する光
検出装置１２と、光検出装置１２の出力信号に基づい
て、光ピックアップ３の光軸に対する記録面１ａの傾き
を等を算出する検出信号演算器（演算装置）１５とから
構成されている。

【００１９】光検出装置１２は、互いに隣接して配置さ
れた第１受光部１２ａおよび第２受光部１２ｂを有して
いる。

【００２０】次に、検出信号演算器１５の構成について
詳述する。図２に示すように、検出信号演算器１５は、
光検出装置１２に接続された差動増幅手段１６および加
算手段１７と有している。差動増幅手段１６および加算
手段１７の出力は除算手段１９に接続されている。

【００２１】また、検出信号演算器１５は、光ディスク
１の記録面１ａの最外周におけるチルト（傾き）のうち
情報記録トラックに対する接線方向の軸Ａn 回りの傾き
成分（以下、単に「接線方向軸Ａn 回りの傾き成分」と
いう。図４（ａ）（ｂ）参照）と、光ディスク１の半径
方向所定位置における接線方向の軸Ａn 回りの傾き成分
との関係を示す関数が格納されたチルト角分布データベ
ース２１を有している。このチルト角分布データベース
２１は、回転制御系５に接続されている。

【００２２】また、チルト角分布データベース２１の出
力および除算手段１９の出力は乗算手段２２に接続され
ている。そして乗算手段２２の出力は微分手段２３に接
続されており、乗算手段２２の出力および微分手段２３
の出力は光ピックアップ３の光軸の傾きを補正するチル
ト補正手段７に接続されている。

【００２３】次に、上記構成からなる本実施形態の作用
について説明する。まず、光ディスク１より上側に位置
する光源装置１１から出射された検出光は、回転する光
ディスク１の外周端面１ｂにより反射され、光ディスク
より下側に位置する光検出装置１２に入射する。

【００２４】図３に示すように、光源装置１１および光
検出装置１２は、光ディスク１の記録面１ａの最外周に
おける接線方向軸Ａt 回りの傾き成分が０の場合、検出
光が第１受光部１２ａおよび第２受光部１２ｂに均等に
入射するように予め調整されている。このため、光ディ
スク１が例えば下方に傾いた場合（図３二点鎖線位
置）、光検出装置１２に入射する検出光の光量は第１受
光部１２ａの方が多くなる。すなわち、光ディスク１の
外周端面１ｂの傾斜角、すなわち記録面１ａの接線方向
の軸回りの傾きに対応して第１受光部１２ａおよび第２
受光部１２ｂの受光量の比率が変化する。

【００２５】第１受光部１２ａおよび第２受光部１２ｂ
はそれぞれ、受光した検出光の光量に対応した出力電圧
（出力信号）Ｖａ，Ｖｂを発生する。

【００２６】出力電圧Ｖａ，Ｖｂは差動増幅手段（差動
増幅器）１６に入力され、差動増幅手段１６は出力電圧
Ｖａ，Ｖｂの差（Ｖａ−Ｖｂ）を出力する。差動増幅手
段１６の出力（Ｖａ−Ｖｂ）は、光ディスク１の外周端
面１ｂの傾き、言い換えれば光ディスク１の記録面１ａ
の最外周における接線方向軸Ａt 回りの傾き成分Ｔt（r
0，θ）に対応して変化するものである。

【００２７】出力電圧Ｖａ，Ｖｂは加算手段（加算器）
１７にも同様に入力され、加算手段１７は出力電圧Ｖ
ａ，Ｖｂの和（Ｖａ＋Ｖｂ）を出力する。

【００２８】そして差動増幅手段１６および加算手段１
７からの出力は除算手段１９に入力され、除算手段１９
は、第１受光部１２ａの出力電圧と第２受光部１２ｂの
出力電圧との差（Ｖａ−Ｖｂ）を第１受光部１２ａの出
力電圧と第２受光部１２ｂの出力電圧との和（Ｖａ＋Ｖ
ｂ）で除する演算を行い、その結果を出力する。

【００２９】そしてチルト角算出手段２０は、チルト角
算出手段２０に予め格納された除算手段１９の出力（Ｖ
ａ−Ｖｂ）／（Ｖａ＋Ｖｂ）と記録面１ａの接線方向軸
Ａn回りの傾き成分との関係に基づいて、光ディスク１
の記録面１ａの最外周の接線方向軸Ａn 回りの傾き成分
Ｔt(r0, θ) （図４（ａ）（ｂ）参照）を算出する。

【００３０】なお、第１受光部１２ａおよび第２受光部
１２ｂの出力の和（Ｖａ＋Ｖｂ）を考慮する理由は、以
下の通りである。すなわち、光源装置１１の光量の変化
および光ディスク１の外周端面１ｂの反射率の変化によ
り光検出装置１２が検出する総光量が変化する場合もあ
る。上記要因により光検出装置１２により検出される総
光量が減少した場合、光ディスクの傾きが同一の場合で
も第１受光部１２ａおよび第２受光部１２ｂの出力電圧
の差（Ｖａ−Ｖｂ）は減少してしまう。このような場
合、出力電圧の差（Ｖａ−Ｖｂ）のみに基づいて傾きを
算出すると、検出される値は実際の値より小さくなって
しまうことになる。このような場合においても測定精度
を高く維持するため、本実施形態においては総光量、す
なわち出力の和（Ｖａ＋Ｖｂ）を考慮するようになって
いる。

【００３１】従って、光検出装置１２が受光する総光量
の変動が無視できる程度であれば、加算手段１７は必ず
しも設ける必要はない。この場合、差動増幅手段１６は
チルト角算出手段２０に直接接続され、傾きの算出は
（Ｖａ−Ｖｂ）のみに基づいて行われる。

【００３２】上述したように、記録面１ａの傾きの接線
方向軸Ａt 回りの傾き成分Ｔt （ro，θ）の算出が行わ
れるが、この算出処理と並行して以下の処理が行われ
る。

【００３３】すなわち、回転制御手段５から検出信号演
算器１５のチルト角分布データベース２１に、光ピック
アップ３の光軸が光ディスク１の半径方向のいかなる位
置（ｒ）に位置しているかについての情報（光ピックア
ップ３の光軸位置情報）と、光ディスク１が基準位置に
対して何度（θ）回転しているかを示す情報とが入力さ
れる（ｒとθの定数についても図４も参照）。

【００３４】ここで、図４に示すように、光ディスク１
の記録面１ａ上の全ての点は、当該点のディスク１の基
準位置に対する回転角θと、当該点の光ディスク１の中
心からの距離ｒとにより特定することができるため、前
記光ピックアップ３の光軸位置情報としては、例えば前
記回転角θおよび前記距離ｒが用いられる。

【００３５】チルト角分布データベース２１には、回転
角θに対応した光ディスク１の記録面１ａの最外周の接
線方向軸Ａn 回りの傾き成分Ｔt(r0, θ) と、このＴt
(r0,θ) が測定された点と光ディスク１の中心を結んだ
線上の任意の位置ｒにおける接線方向軸Ａt 回りの傾き
成分Ｔt(r,θ）（図４（ａ）（ｃ）参照）との比率Ｒを
表現する関数Ｒ（ｒ, θ）Ｒ（ｒ, θ）＝Ｔt(r,θ) ／Ｔt(r0, θ) が格納されている。

【００３６】そして、チルト角分布データベース２１
は、回転制御手段５から受信した光ピックアップ３の半
径方向の位置(r, θ) に基づいてＲ（ｒ, θ）の値を算
出し、乗算手段２２に送信する。

【００３７】乗算手段２２は、チルト角算出手段２０か
らの光ディスク１の記録面１ａの最外周の接線方向軸Ａ
t 回りの傾き成分Ｔt(r0, θ) についてのデータと、チ
ルト角分布データベース２１が算出したＲ（ｒ, θ) の
値に基づいて、位置（ｒ，θ）における接線方向軸Ａt
回りの傾き成分Ｔt(r,θ) を算出する。

【００３８】乗算手段２２はＴt(r,θ) を算出すると、
その結果を微分手段２３に送信する。そして微分手段２
３は、接線方向軸Ａt 回りの傾き成分Ｔt(r,θ) を光デ
ィスク１の回転角θについて微分する。

【００３９】記録面１ａの傾きの情報記録トラック１ｃ
の法線方向の軸Ａn 回りの傾き成分（以下、単に「法線
方向軸Ａn 回り傾き成分」という）Ｔn(r,θ) が大きけ
れば、情報記録トラック１ｃの接線方向軸Ａt 回りの傾
き成分Ｔt(r,θ) の変化率が大きくなるという関係が成
立するため、前記微分演算により、記録面１ａの傾きの
法線方向軸Ａn 回りの傾き成分Ｔn(r,θ) を算出するこ
とができる。すなわち、本実施形態においては、光ディ
スク１の回転角θに対する出力信号Ｖａ，Ｖｂの変化に
基づいて法線方向軸Ａn 回りの傾き成分Ｔn(r,θ) を算
出していることになる。

【００４０】なお、現実の装置、とりわけＣＬＶ（cons
tant linear velocity) 方式の装置においては、「回転
角θについての微分処理」を行うことに替えて時間微分
を行い、その後、光ディスク１の回転角速度の補正を行
うことにより、実質的に上述した回転角θについての微
分と等価な演算が行われるが、この演算による場合も
「光ディスクの回転角度に対する出力信号の変化に基づ
いて」法線方向軸Ａn 回りの傾き成分Ｔn(r,θ) を求め
るという概念に含まれる。

【００４１】以上のようにして出力された「光ディスク
１の記録面１ａ上の光ピックアップ３の光軸位置に対応
する位置における傾きの接線方向軸Ａt 回りの傾き成分
Ｔt(r,θ) および法線方向軸Ａn 回りの傾き成分Ｔn(r,
θ) 」は、チルト補正手段７に送られる。チルト補正手
段７は前記Ｔt(r,θ) およびＴn(r,θ) に基づいて光ピ
ックアップ３の光軸と光ディスク１の記録面１ａとが垂
直となるように光ピックアップ３の傾きを補正する。

【００４２】なお、チルト補正手段７の詳細構成につい
ては、本実施形態の要旨と直接関係しないため詳述しな
いが、例えばスピンドルモータ２の軸を傾ける機構であ
ってもよいし、光ピックアップ３自体を傾ける機構であ
ってもよい。

【００４３】ところで、現実的の光ディスクおよび光デ
ィスク装置においては、チルト量の分布はさほど複雑な
ものとなるわけではなく、以下に説明するような比較的
単純なモデルで近似可能な場合が多い。すなわち、従来
技術の説明の欄に記載したように、チルトが発生する要
因としては、光ディスクをスピンドルモータにチャッキ
ングする際に、光ディスクが傾いた状態でチャッキング
してしまうこと、または光ディスクの製造時に光ディス
ク自体に歪みが発生していることが挙げられる。そして
製造工程に起因する光ディスクのたわみも単純な関数で
近似して差し支えない場合が多い。以下、想定されるモ
デルケースについて説明する。

【００４４】［第１のモデル］まず、第１のモデルにつ
いて説明する。第１のモデルは、光ディスク１自体は平
面形状となっており、図５（ａ）に示すように光ディス
クをスピンドルモータにチャッキングする際に、光ディ
スク１が傾いた状態でチャッキングされてしまうことに
起因してチルトが発生する場合である。

【００４５】この場合、接線方向軸Ａt 回りの傾き成分
Ｔt(r,θ）はｒの値に依存しないθのみを変数とする関
数で表現することができる。

【００４６】従って、本モデルにおいては、光ディスク
１の基準位置に対する回転角θごとに測定された接線方
向軸Ａt 回りの傾き成分Ｔt(r0, θ) がそのまま、当該
測定位置と光ディスク１の中心を結ぶ線上における任意
の半径方向の位置（ｒ，θ）における接線方向軸Ａt 回
りの傾き成分Ｔt(r,θ) となる。すなわち関数Ｒ（ｒ，
θ）の値はｒおよびθの値に依存することなく常に１と
なる。なお、Ｔt(r,θ) の測定は３６０°すべてのθに
ついて行う必要はなく、所定角度ごと、たとえば６０°
おきに測定を行い、その他の部位はサインカーブにより
補完推定すれば十分である。

【００４７】また、この場合、光ディスクの情報記録ト
ラック１ｃの法線方向軸Ａn 回りの傾き成分Ｔn(r,θ)
は、Ｔt(r,θ) をθについて微分することにより算出す
ることができる。なお、この場合については、Ｔt(r0,
θ) を直接θについて微分することによりＴn(r,θ) を
算出することもできる。

【００４８】［第２のモデル］次に、第２のモデルにつ
いて説明する。第２のモデルは図５（ｂ）に示すよう
に、光ディスクのチャッキングが正常になされており、
かつ光ディスクの製造時に光ディスク１自体に歪みが発
生している場合に有効である。この第２のモデルにおい
て、光ディスク１は断面略へ字型に変形し、かつ光ディ
スク１の記録面１ａの輪郭線は直線状となっている。

【００４９】この場合、光ディスク１の記録面１ａの最
外周における接線方向軸Ａn 回りの傾き成分Ｔt(r0,
θ) は基準位置に対する回転角θに依存することなく一
定となる。そしてかつ、任意の角度θにおいて測定され
た接線方向軸Ａt 回りの傾き成分Ｔt(r0, θ) は、その
まま当該測定位置と光ディスク１の中心を結ぶ線上にお
ける任意の半径方向の位置（ｒ，θ）における接線方向
軸Ａt 回りの傾き成分Ｔt （r,θ) となる。すなわち関
数Ｒ（ｒ，θ）の値はｒおよびθに依存することなく常
に１となる。

【００５０】また、法線方向の軸回りの傾き成分Ｔn(r,
θ) はｒおよびθに依存することなく常に０となる。

【００５１】［第３のモデル］次に、第３のモデルにつ
いて図５（ｃ）により説明する。第３のモデルは第２の
モデルに対して光ディスクの記録面１ａの接線方向軸Ａ
t 回りの傾き成分が半径方向位置ｒの関数で表現される
湾曲形状であることのみが異なる。

【００５２】この場合も、第２のモデルと同様に、光デ
ィスク１の記録面１ａの最外周における接線方向軸Ａt
回りの傾き成分Ｔt(r0, θ) は基準位置に対する回転角
θに依存することなく一定となる。従ってこの場合、光
ディスク１の外周端面１ｂのいずれか一点において測定
を行うことにより、すべてのθにおける接線方向軸Ａt
回りの傾き成分Ｔt(r0, θ) を決定することができる。

【００５３】この第３のモデルにおいては、光ディスク
１の記録面１ａの湾曲形状、すなわち光ディスク１の記
録面１ａの最外周における接線方向軸Ａt 回りの傾き成
分Ｔt(r0, θ) と半径方向位置ｒに対応する接線方向軸
Ａt 回りの傾き成分Ｔt(r,θ) との関係が、光ディスク
１の半径をr0とした場合、（１）Ｔt(r,θ) ＝Ｔt(r0, θ) ＊（ｒ／ｒ０）（２）Ｔt(r,θ) ＝Ｔt(r0, θ) ＊（ｒ／ｒ０）² または（３）Ｔt(r,θ) ＝Ｔt(r0, θ) ＊ｅ^{（ｒ／ｒ０）} なる関係が成立するように、すなわち（１）Ｔt(r,θ)
がｒに比例するもの、（２）Ｔt(r,θ) がｒの２乗に比
例するもの、（３）Ｔt(r,θ) ががｅのｒ乗に比例する
もの（例えばｅは自然対数の底）、等をモデルを設定す
ることができる。

【００５４】そして上記（１）〜（３）の関係のいずれ
かに基づいてチルト角分布データベース２１に格納する
関数Ｒ（ｒ, θ）＝Ｔt(r,θ) ／Ｔt(r0, θ) が定めら
れる。

【００５５】また、本モデルにおいても、法線方向の軸
回りの傾き成分Ｔn(r,θ) はｒおよびθに依存すること
なく常に０となる。

【００５６】以上説明した各モデルのいずれに基づいて
検出信号演算部を構成するかは、実験により定めればよ
い。また、採用するモデルが上記モデルを複合したもの
であってもよい。例えば、図５（ｄ）に示すように、チ
ャッキングずれおよびディスクの撓みの両方を考慮した
複合的なモデルを想定してもよい。いずれのモデルを採
用することが最善かについては、光ディスクおよび光デ
ィスク装置の精度、回転速度等の要因により変化するも
のであり、これらの変化に対応して最善のモデルを想定
することにより、より信頼性の高い検出装置を得ること
ができる。

【００５７】なお、採用するモデル次第に応じて、検出
信号演算器１５の構成を簡略化することができることは
自明であろう。すなわち、例えば、第１のモデルを採用
する場合は、検出信号演算器１５からチルト角分布デー
タベース２１を省略することができるし、第２または第
３のモデルを採用する場合には、微分手段２３を省略す
ることができる。

【００５８】以上説明したように、本実施形態によれ
ば、光ディスク装置のチルト検出部を光ピックアップか
ら独立して設けることができる。このため、光ピックア
ップの動きに悪影響を与えることが無いチルト検出器を
備えた光ディスク装置を提供することができる。

【００５９】また、光ディスクのチルト発生要因に対応
して適当なモデルを設定することにより、光ディスクの
記録面の任意の位置において精度のよいチルト検出を行
うことができる。

【００６０】

【発明の効果】以上説明したように、本発明によれば、
光ピックアップの動きに悪影響を与えることが無いチル
ト検出器を備えた光ディスク装置を提供することができ
る。

【図面の簡単な説明】

【図１】本発明による光ディスク装置の一実施形態を示
す図。

【図２】検出信号演算器の構成を示すブロック図。

【図３】チルト検出器の光源装置および受光部の構成お
よび作用を示す図。

【図４】本明細書で使用される用語の定義を補足説明す
る図である。図４（ａ）は、情報記録トラックの接線方
向軸Ａt および法線方向軸Ａn と、回転角θの定義とを
特に示す。図４（ｂ）は、図４（ａ）の光ディスクを法
線方向軸Ａn を通る垂直面で切断した概略状態を示して
おり、半径方向位置ｒ、および「接線方向軸Ａt回りの
傾き」の定義を特に示す。図４（ｃ）は、図４（ａ）の
光ディスクを法線方向軸Ａn 方向外側から見た概略側面
図であり、「法線方向軸Ａn 回りの傾き」の定義を特に
示す。

【図５】光ディスクのおけるチルト発生状態のモデルを
示す図。

【図６】従来のチルト検出装置を示す図。

【符号の説明】

１光ディスク１ａ記録面１ｂ外周端面１ｃ情報記録トラック３光ピックアップ１１光源装置１２検出装置１２ａ第１受光部１２ｂ第２受光部１５演算装置（検出信号演算器）

Claims

【特許請求の範囲】

【請求項１】情報記録トラックが設けられた記録面と、
前記記録面の周縁に前記記録面と略垂直に設けられた外
周端面とを有する光ディスクを記録媒体とし、光ピック
アップにより前記記録面に対する信号の書き込みまたは
読み出しを行う光ディスク装置において、前記外周端面に検出光を照射する光源装置と、前記外周端面により反射された前記検出光を受光し、受
光量に対応した信号を出力する光検出装置と、前記光検出装置からの信号に基づいて、前記光ピックア
ップの光軸に対する前記記録面の傾きを算出する演算装
置と、を備えたことを特徴とする光ディスク装置。
【請求項２】前記演算装置は、前記光検出装置からの信号に基づいて、前記記録面の傾
きのうち前記情報記録トラックの接線方向の軸回りの傾
き成分を算出し、前記光ディスクの回転角度に対する前記光検出装置から
の信号の変化に基づいて、前記記録面の傾きのうち前記
情報記録トラックの法線方向の軸回りの傾き成分を算出
することを特徴とする請求項１記載の光ディスク装置。
【請求項３】前記演算装置は、予めモデル化された前記
光ディスクの半径方向に対する傾き分布を表現する関数
に基づいて、前記光ピックアップの光軸位置に対応する
前記記録面の傾きを算出することを特徴とする請求項１
または２記載の光ディスク装置。
【請求項４】前記光検出装置は、互いに隣接して配置さ
れるとともに受光した検出光の受光量に対応した第１出
力信号および第２出力信号をそれぞれ出力する第１受光
部および第２受光部を有し、前記演算装置は、前記第１出力信号と前記第２出力信号
との差に基づいて前記記録面の傾きを算出することを特
徴とする請求項１乃至３のいずれかに記載の光ディスク
装置。
【請求項５】前記演算装置は、前記第１出力信号と前記
第２出力信号との差の前記第１出力信号と前記第２出力
信号との和に対する比に基づいて前記記録面の傾きを算
出することを特徴とする請求項４記載の光ディスク装
置。