JPH10252942A - Vacuum pressure control system - Google Patents
Vacuum pressure control systemInfo
- Publication number
- JPH10252942A JPH10252942A JP6450297A JP6450297A JPH10252942A JP H10252942 A JPH10252942 A JP H10252942A JP 6450297 A JP6450297 A JP 6450297A JP 6450297 A JP6450297 A JP 6450297A JP H10252942 A JPH10252942 A JP H10252942A
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- valve
- vacuum
- pressure
- control
- vacuum pressure
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Granted
Links
Landscapes
- Details Of Valves (AREA)
- Control Of Fluid Pressure (AREA)
Abstract
Description
【0001】[0001]
【発明の属する技術分野】この発明は真空容器内を所定
の真空圧力に調整し、保持するようにした真空圧力制御
システムに関する。例えば、半導体の製造工程におい
て、半導体用のウエハを1枚ずつ処理するようにした枚
葉装置に適用され、その真空容器内を所定の真空圧力に
調整するようにした真空圧力制御システムに関する。BACKGROUND OF THE INVENTION 1. Field of the Invention The present invention relates to a vacuum pressure control system which adjusts and maintains a predetermined vacuum pressure in a vacuum vessel. For example, the present invention relates to a vacuum pressure control system applied to a single-wafer apparatus that processes semiconductor wafers one by one in a semiconductor manufacturing process, and adjusts the inside of the vacuum vessel to a predetermined vacuum pressure.
【0002】[0002]
【従来の技術】従来より、真空容器内を所定の真空圧力
に調整し、保持するようにした真空圧力制御システムが
ある。図13はこのシステムの一例を開示する。2. Description of the Related Art Conventionally, there is a vacuum pressure control system in which the inside of a vacuum vessel is adjusted to a predetermined vacuum pressure and held. FIG. 13 discloses an example of this system.
【0003】このシステムは真空容器である真空チャン
バ81を備える。チャンバ81の中には、半導体用の複
数枚のウエハ82が段状に配置される。チャンバ81は
入口83及び出口84を有する。入口83には、チャン
バ81の中にプロセスガスを供給するための供給源、チ
ャンバ81の中に供給されたプロセスガスをパージする
ための窒素ガスを供給する供給源がそれぞれ配管85を
介して接続される。This system has a vacuum chamber 81 which is a vacuum container. In the chamber 81, a plurality of semiconductor wafers 82 are arranged in a stepped manner. The chamber 81 has an inlet 83 and an outlet 84. A supply source for supplying a process gas into the chamber 81 and a supply source for supplying a nitrogen gas for purging the process gas supplied into the chamber 81 are connected to the inlet 83 via a pipe 85, respectively. Is done.
【0004】出口84には、ベローズ式ポペット弁より
なるパイロット操作弁86の入口が配管87を介して接
続される。この操作弁86の出口は、配管88を介して
真空ポンプ89に接続される。操作弁86は両配管8
7,88の間を選択的に開閉する。配管88の途中に
は、バタフライ式に開度が調整される開度比例弁90が
設けられる。An outlet 84 is connected to an inlet of a pilot operation valve 86 formed of a bellows type poppet valve via a pipe 87. The outlet of the operation valve 86 is connected to a vacuum pump 89 via a pipe 88. The operation valve 86 has both pipes 8
7, 88 is selectively opened and closed. In the middle of the pipe 88, an opening proportional valve 90 whose opening is adjusted in a butterfly manner is provided.
【0005】この比例弁90は支軸と、その支軸を中心
に回動される円板状の弁体と(共に図示しない)を有す
る。弁体の外径は配管88の内径とほぼ同じである。支
軸はステップモータ91により回転される。支軸の回転
により弁体が回動されることにより、比例弁90の開度
が変わる。配管87には、チャンバ81の中の真空圧力
を検出するための圧力センサ92が設けられる。配管8
7と圧力センサ92との間には、メンテナンスの際にセ
ンサ92に対する圧力の伝達を遮断するための遮断弁9
3が設けられる。コントローラ94は圧力センサ92の
検出値を取り込む。コントローラ94は、チャンバ81
の中の真空圧力が所定値となるように比例弁90の開度
を調整するために、モータ91を制御する。The proportional valve 90 has a support shaft and a disc-shaped valve element (both not shown) which is rotated about the support shaft. The outer diameter of the valve body is substantially the same as the inner diameter of the pipe 88. The support shaft is rotated by a step motor 91. The opening of the proportional valve 90 is changed by rotating the valve body by the rotation of the support shaft. The pipe 87 is provided with a pressure sensor 92 for detecting a vacuum pressure in the chamber 81. Piping 8
Between the pressure sensor 7 and the pressure sensor 92 for shutting off the transmission of pressure to the sensor 92 during maintenance.
3 are provided. The controller 94 takes in the detection value of the pressure sensor 92. The controller 94 includes the chamber 81
The motor 91 is controlled in order to adjust the opening of the proportional valve 90 so that the vacuum pressure in the inside becomes a predetermined value.
【0006】半導体の製造工程において、チャンバ81
には供給源からプロセスガスが供給される。コントロー
ラ94は、チャンバ81の中の真空圧力が目標値より大
気圧へ向かって高くなったとき、比例弁90の開度を大
きくするためにモータ91を制御する。これにより、真
空ポンプ89により吸引される空気の量が多くなる。コ
ントローラ94は、チャンバ81の中の真空圧力が目標
値より絶対真空圧へ向かって低くなったときに、比例弁
90の開度を小さくするためにモータ91を制御する。
これにより、真空ポンプ89により吸引される空気の量
が少なくなる。In a semiconductor manufacturing process, the chamber 81
Is supplied with a process gas from a supply source. The controller 94 controls the motor 91 to increase the opening of the proportional valve 90 when the vacuum pressure in the chamber 81 becomes higher than the target value toward the atmospheric pressure. Thus, the amount of air sucked by the vacuum pump 89 increases. The controller 94 controls the motor 91 to reduce the opening of the proportional valve 90 when the vacuum pressure in the chamber 81 becomes lower than the target value toward the absolute vacuum pressure.
Thus, the amount of air sucked by the vacuum pump 89 decreases.
【0007】しかし、上記比例弁90のようなバタフラ
イ式の弁では、構造的には、チャンバ81から真空ポン
プ89へ吸引される空気の流れを完全に遮断することが
できない。このため、上記システムでは、吸引空気の流
れを完全に遮断するために、パイロット操作弁86のよ
うな別途の遮断弁を比例弁90に対して直列に接続する
必要がある。ここで、遮断弁には、吸引空気の流れを完
全に遮断するための機能の他に、システムに対する電源
の供給が停止したときに直ちに閉じて、吸引空気の流れ
を緊急的に遮断する機能が要求される。このため、パイ
ロット操作弁86には、バタフライ式の弁とは構造の異
なるシリンダ式の弁が使用される。However, with a butterfly valve such as the proportional valve 90, the flow of air sucked from the chamber 81 to the vacuum pump 89 cannot be completely shut off. For this reason, in the above system, a separate shutoff valve such as the pilot operated valve 86 needs to be connected in series to the proportional valve 90 in order to completely shut off the flow of the suction air. Here, the shutoff valve has a function of completely shutting off the flow of the suction air in addition to a function of completely shutting off the flow of the suction air, in addition to a function of immediately closing when the power supply to the system is stopped. Required. Therefore, a cylinder type valve having a different structure from the butterfly type valve is used as the pilot operation valve 86.
【0008】これに対し、バタフライ式の比例弁90の
みにより吸引空気の流れを完全に遮断しようとしたとす
る。この場合に、その弁体と配管88の内壁との間にO
リング等のパッキンを介在させることも考えられる。し
かし、上記の半導体製造装置では、比例弁90を通過す
るプロセスガスの生成物がパッキンの表面に析出するこ
ともある。従って、この生成物が抵抗となり、比例弁9
0の弁体を回動させるのに必要なトルク荷重が過大にな
る。このため、比例弁90が全閉にはなり難く、吸引空
気の流れが比例弁90により完全に遮断されなくなるお
それがある。On the other hand, it is assumed that the flow of the suction air is completely shut off only by the butterfly type proportional valve 90. In this case, O is placed between the valve body and the inner wall of the pipe 88.
It is also conceivable to interpose a packing such as a ring. However, in the above-described semiconductor manufacturing apparatus, the product of the process gas passing through the proportional valve 90 may precipitate on the surface of the packing. Therefore, this product becomes a resistance and the proportional valve 9
The torque load required to rotate the zero valve element becomes excessive. For this reason, the proportional valve 90 is unlikely to be fully closed, and the flow of the suction air may not be completely shut off by the proportional valve 90.
【0009】一方、チャンバ81の中を真空にするとき
には、チャンバ81の中に多量のプロセスガスが残るこ
とがある。この場合、比例弁90の開度が過大になるこ
とにより、チャンバ81から真空ポンプ89へ多量のプ
ロセスガスが急激に吸引されることになる。このため、
チャンバ81の中に気流が発生し、その壁面に付着して
いたパーティクルが巻き上げられることがある。又、チ
ャンバ81が石英で構成された場合、そのチャンバ81
の中が大気圧から真空圧へ急激に変化したときには、そ
の圧力変化に伴うダメージがチャンバ81に与えられる
おそれがある。このため、このようなダメージを排除す
るためには、チャンバ81の中をゆっくりと真空圧にし
なければならない。On the other hand, when the inside of the chamber 81 is evacuated, a large amount of process gas may remain in the chamber 81. In this case, when the opening of the proportional valve 90 becomes excessive, a large amount of process gas is rapidly sucked from the chamber 81 to the vacuum pump 89. For this reason,
An air current may be generated in the chamber 81, and particles adhering to the wall surface may be wound up. When the chamber 81 is made of quartz, the chamber 81
When the pressure inside the chamber suddenly changes from the atmospheric pressure to the vacuum pressure, the chamber 81 may be damaged due to the pressure change. Therefore, in order to eliminate such damage, the inside of the chamber 81 must be slowly evacuated.
【0010】巻き上げられたパーティクルが全て真空ポ
ンプ89に吸引されることは希であり、そのパーティク
ルがウエハ82に余分に付着するおそれがある。そこ
で、パーティクルの巻き上げを防止するためには、チャ
ンバ81の中のプロセスガスが最初に少しづつ吸引され
ることが必要になる。そのために、最初に比例弁90が
少し開かれ、その状態が安定したかたちで保持されるよ
うにモータ91が制御される必要がある。It is rare that all the wound particles are sucked by the vacuum pump 89, and the particles may be excessively attached to the wafer 82. Therefore, in order to prevent the particles from being rolled up, it is necessary to suck the process gas in the chamber 81 little by little first. For this purpose, first, the proportional valve 90 needs to be opened slightly, and the motor 91 needs to be controlled so that the state is maintained in a stable manner.
【0011】しかし、バタフライ式の比例弁90は、そ
の構造上、弁体外周縁と弁の内壁との間に0.5mm程
度の隙間がある。このため、たとえ弁体が全閉になった
としても、その隙間からかなりの勢いで圧力が吸引され
てしまう。又、バタフライ式の比例弁90は、小さい開
度の範囲では、弁体がわずかに回動しただけで開度が大
きく変わる傾向にある。このため、チャンバ81の中の
プロセスガスが真空ポンプ89により少しづつ抜かれる
ことは難しい。However, the butterfly type proportional valve 90 has a gap of about 0.5 mm between the outer peripheral edge of the valve body and the inner wall of the valve due to its structure. For this reason, even if the valve element is fully closed, the pressure is sucked from the gap with considerable force. Also, in the butterfly type proportional valve 90, in a small opening range, the opening degree tends to largely change even if the valve element is slightly rotated. For this reason, it is difficult for the vacuum pump 89 to gradually remove the process gas from the chamber 81.
【0012】そこで、上記のシステムでは、互いに直列
に接続されたバイパス弁95及び遮断弁96が、操作弁
86と並列に設けられる。ここで、バイパス弁95はそ
の開度が予め小さく設定される。このため、操作弁86
が閉じられ、比例弁90が開かれ、更に遮断弁96が開
かれた状態では、真空ポンプ89とチャンバ81との間
が狭い流路で練通されることになる。この結果、チャン
バ81の中のプロセスガスは、真空ポンプ89へ少しづ
つ吸引されることになる。これらの制御は、コントロー
ラ94が圧力センサ92の検出値に基づいて各弁90,
95,96を制御することにより行われる。Therefore, in the above system, the bypass valve 95 and the shutoff valve 96 connected in series with each other are provided in parallel with the operation valve 86. Here, the opening degree of the bypass valve 95 is set to be small in advance. Therefore, the operation valve 86
Is closed, the proportional valve 90 is opened, and the shut-off valve 96 is opened, the space between the vacuum pump 89 and the chamber 81 is passed through a narrow flow path. As a result, the process gas in the chamber 81 is gradually sucked into the vacuum pump 89. These controls are performed by the controller 94 based on the value detected by the pressure sensor 92.
This is performed by controlling 95 and 96.
【0013】[0013]
【発明が解決しようとする課題】ところが、上記従来の
真空圧力制御システムでは、次のような不具合があるこ
とが考えられる。However, the conventional vacuum pressure control system described above may have the following problems.
【0014】即ち、従来のシステムでは、真空圧力を調
整するためにバタフライ式の比例弁90の開度が調整さ
れる。この比例弁90では、真空ポンプ89へ向かう吸
引空気の流れを高速で減少させようとしても、その流れ
が最小になるように弁体が全閉となるまでにある程度の
時間(例えば、10秒程度)が必要になる。これは、弁
体を駆動するためのモータの回転速度が、真空流又はプ
ロセスガスを高速で遮断することに対応して余り高くで
きないことに起因する。つまり、真空流又はプロセスガ
スを高速で遮断するには、比例弁90の応答性が十分で
はない。このため、チャンバ81の中を高い真空圧力か
ら低い真空圧力へ調整するときの所要時間が長くなる。
このことは、チャンバ81の中を高い真空圧力から、そ
れよりも低い真空圧力へ調整するために、比例弁90を
全開状態からある目標開度へ切り替えるときにも同様で
ある。That is, in the conventional system, the opening of the butterfly type proportional valve 90 is adjusted to adjust the vacuum pressure. In the proportional valve 90, even if the flow of the suction air toward the vacuum pump 89 is reduced at a high speed, it takes a certain time (for example, about 10 seconds) until the valve element is fully closed so that the flow is minimized. ) Is required. This is due to the fact that the rotation speed of the motor for driving the valve element cannot be so high corresponding to shutting off the vacuum flow or the process gas at high speed. That is, the response of the proportional valve 90 is not sufficient to shut off the vacuum flow or the process gas at a high speed. Therefore, the time required to adjust the inside of the chamber 81 from a high vacuum pressure to a low vacuum pressure becomes longer.
This is the same when the proportional valve 90 is switched from the fully open state to a target opening degree in order to adjust the inside of the chamber 81 from a high vacuum pressure to a lower vacuum pressure.
【0015】このような、比例弁90の応答性能は、例
えば、枚葉装置に適用される真空チャンバで特に問題と
なる。枚葉装置とは、半導体の製造工程において、半導
体用のウエハを1枚ずつ処理するようにした装置であ
る。枚葉装置は複数個の真空チャンバを備える。各チャ
ンバには、それぞれ1枚のウエハが入れられ、真空圧力
の制御の下、プロセスガスの供給とパージが行われる。
工程終了後には、ウエハがチャンバから取り出される。
複数のチャンバで行われる一連の工程は、時間的には互
いに少しづつずれる。従って、複数のチャンバからは、
1枚のウエハが順次取り出される。このような枚葉装置
の工程能力を向上させるには、各チャンバで一連の工程
に要するタクト時間を短くする必要がある。従来のシス
テムでは、比例弁90の不十分な応答性による制限を受
けてタクト時間の短縮が難しい。Such a response performance of the proportional valve 90 is particularly problematic in, for example, a vacuum chamber applied to a single-wafer apparatus. The single-wafer apparatus is an apparatus configured to process semiconductor wafers one by one in a semiconductor manufacturing process. The single-wafer apparatus has a plurality of vacuum chambers. One wafer is placed in each chamber, and supply and purging of a process gas are performed under control of a vacuum pressure.
After the process, the wafer is taken out of the chamber.
A series of steps performed in a plurality of chambers are slightly shifted with respect to time. Therefore, from multiple chambers,
One wafer is sequentially taken out. In order to improve the process capability of such a single-wafer apparatus, it is necessary to shorten the tact time required for a series of processes in each chamber. In the conventional system, it is difficult to reduce the tact time due to the limitation due to the insufficient responsiveness of the proportional valve 90.
【0016】加えて、従来のシステムでは、比例弁90
の他に、パイロット操作弁86、バイパス弁95及び遮
断弁96を必要とする。このため、各弁86,95,9
6と配管87,88との間に接続部が多くなり、配管8
7,88の中にパーティクルが混入するおそれが増え
る。更に、システムの設備が大きくなり、工程が複雑化
することにもなる。このため、各設備のコンパクト化が
求められる半導体製造用のシステムとしては問題があ
る。In addition, in the conventional system, the proportional valve 90
In addition, a pilot operation valve 86, a bypass valve 95, and a shutoff valve 96 are required. Therefore, each of the valves 86, 95, 9
6 and the pipes 87 and 88 have more connections, and the pipe 8
There is an increased possibility that particles will be mixed into 7, 88. Furthermore, the equipment of the system becomes large, and the process becomes complicated. For this reason, there is a problem as a semiconductor manufacturing system that requires a reduction in the size of each facility.
【0017】この発明は前述した事情に鑑みてなされた
ものであって、その主要な目的は、真空容器内を高い真
空圧力から低い真空圧力へ調整するときに要する時間を
短くすることを可能にし、全体をコンパクトにすること
を可能にした真空圧力制御システムを提供することにあ
る。The present invention has been made in view of the above circumstances, and a main object of the present invention is to make it possible to reduce the time required for adjusting the inside of a vacuum vessel from a high vacuum pressure to a low vacuum pressure. To provide a vacuum pressure control system capable of making the whole compact.
【0018】この発明の更に別の目的は、真空圧力を目
標値に精度良く調整することを可能にした真空圧力制御
システムを提供することにある。Still another object of the present invention is to provide a vacuum pressure control system which can precisely adjust a vacuum pressure to a target value.
【0019】[0019]
【課題を解決するための手段】上記目的を達成するため
に請求項1に記載の第1の発明は、真空容器と、真空容
器内に供給されたガスを吸引するための真空ポンプと、
真空容器と真空ポンプとを接続するための配管と、配管
上に設けられて自身の開度を変化させることにより真空
容器内の真空圧力を変化させるようにした真空制御弁
と、真空容器内の真空圧力を検出するための圧力センサ
と、真空容器内の真空圧力が所定値となるように、検出
される真空圧力に基づいて真空制御弁の開度を制御する
ための制御装置とを有する真空圧力制御システムにおい
て、真空制御弁は弁体、弁座及びパイロット弁を有し、
弁体はその外周に先細りのテーパ面を含み、その弁体が
弁座の孔の中心軸線に沿って移動することにより、弁座
とテーパ面との間の隙間の大きさが変わり真空制御弁の
開度が変わるものであり、パイロット弁には、弁体を移
動させるためにサーボ弁により調整される気体圧力が供
給されることと、制御装置は、真空制御弁の開度を変え
ることにより真空圧力を所定値に調整するために、サー
ボ弁を制御することによりパイロット弁に供給される気
体圧力を調整することと、パイロット弁に供給された気
体圧力を同弁から速やかに逃がすために作動する急速排
気弁と、制御装置は、パイロット弁から気体圧力を速や
かに逃がすことにより真空制御弁の開度を速やかに減少
させるために、急速排気弁を制御することとを備えたこ
とを趣旨とする。According to a first aspect of the present invention, there is provided a vacuum vessel, a vacuum pump for sucking a gas supplied into the vacuum vessel,
A pipe for connecting the vacuum vessel and the vacuum pump, a vacuum control valve provided on the pipe to change the vacuum pressure in the vacuum vessel by changing its own opening, and a vacuum control valve in the vacuum vessel. A vacuum having a pressure sensor for detecting a vacuum pressure, and a control device for controlling an opening of a vacuum control valve based on the detected vacuum pressure so that the vacuum pressure in the vacuum container becomes a predetermined value. In the pressure control system, the vacuum control valve has a valve body, a valve seat, and a pilot valve,
The valve body includes a tapered surface tapered on its outer periphery, and when the valve body moves along the central axis of the hole of the valve seat, the size of the gap between the valve seat and the tapered surface changes to change the vacuum control valve. The pilot valve is supplied with the gas pressure adjusted by the servo valve to move the valve body, and the control device changes the opening of the vacuum control valve. Operates to adjust the gas pressure supplied to the pilot valve by controlling the servo valve to adjust the vacuum pressure to a predetermined value, and to quickly release the gas pressure supplied to the pilot valve from the same valve. The quick exhaust valve to be controlled, and the control device controls the quick exhaust valve in order to quickly reduce the opening of the vacuum control valve by quickly releasing the gas pressure from the pilot valve. I do.
【0020】上記第1の発明の構成によれば、真空ポン
プが作動することにより、真空容器内のガスが真空ポン
プに吸引されて真空容器内が真空となる。ここで、真空
制御弁の開度が変わることにより、真空容器内から真空
ポンプへ吸引されるガス量が調整され、真空容器内の真
空圧力が変わる。この真空圧力は圧力センサにより検出
される。According to the configuration of the first aspect of the present invention, when the vacuum pump operates, the gas in the vacuum vessel is sucked by the vacuum pump, and the inside of the vacuum vessel is evacuated. Here, when the opening of the vacuum control valve changes, the amount of gas sucked from the inside of the vacuum container to the vacuum pump is adjusted, and the vacuum pressure in the vacuum container changes. This vacuum pressure is detected by a pressure sensor.
【0021】制御装置は、真空容器内の真空圧力が所定
値となるように、検出される真空圧力に基づいて真空制
御弁の開度を制御する。ここで、真空制御弁において、
外周に先細りのテーパ面を含む弁体は弁座の孔の中心軸
線に沿って移動する。この弁体を、パイロット弁により
移動させて、弁座とテーパ面との間の隙間の大きさを変
えることにより、真空制御弁の開度が変わる。弁体を移
動させるために、パイロット弁にはサーボ弁により調整
される気体圧力が供給される。制御装置は、サーボ弁を
制御することにより、パイロット弁に供給される気体圧
力を調整する。これにより、真空制御弁の開度が変わ
り、真空圧力が調整される。急速排気弁はパイロット弁
に供給された気体圧力を同弁から速やかに逃がすために
作動する。制御装置はその急速排気弁を制御する。The control device controls the opening of the vacuum control valve based on the detected vacuum pressure so that the vacuum pressure in the vacuum vessel becomes a predetermined value. Here, in the vacuum control valve,
A valve body including a tapered surface on its outer periphery moves along the central axis of the hole in the valve seat. The opening degree of the vacuum control valve is changed by moving the valve body by the pilot valve and changing the size of the gap between the valve seat and the tapered surface. To move the valve element, the pilot valve is supplied with a gas pressure regulated by a servo valve. The controller adjusts the gas pressure supplied to the pilot valve by controlling the servo valve. Thereby, the opening degree of the vacuum control valve changes, and the vacuum pressure is adjusted. The quick exhaust valve operates to quickly release gas pressure supplied to the pilot valve from the pilot valve. The controller controls the quick exhaust valve.
【0022】従って、パイロット弁にある程度の気体圧
力が供給されているとき、即ち真空制御弁がある程度開
いているときに、制御装置が急速排気弁を制御する。こ
れにより、パイロット弁から気体圧力が速やかに逃がさ
れ、真空制御弁の弁体が速やかに移動してその開度が速
やかに減少する。これにより、真空容器内から真空ポン
プへ吸引されるガス量が速やかに減少し、真空容器内の
真空圧力が速やかに低減される。Therefore, when a certain amount of gas pressure is supplied to the pilot valve, that is, when the vacuum control valve is opened to some extent, the control device controls the quick exhaust valve. As a result, the gas pressure is quickly released from the pilot valve, the valve body of the vacuum control valve is quickly moved, and the opening thereof is quickly reduced. As a result, the amount of gas sucked into the vacuum pump from the inside of the vacuum container is quickly reduced, and the vacuum pressure in the vacuum container is quickly reduced.
【0023】上記目的を達成するために請求項2に記載
の第2の発明は、第1の発明とは異なり、パイロット弁
に供給された気体圧力を同弁から速やかに逃がすために
作動する急速排気弁と、真空制御弁の開度を検出するた
めの開度センサと、制御装置は、真空制御弁の開度を変
えることにより真空圧力を所定値に速やかに近づけるた
めに、第1の制御及び第2の制御を連続的に実行するも
のであり、第1の制御は、パイロット弁に供給された気
体圧力を同弁から速やかに逃がすために急速排気弁を作
動させることであり、第2の制御は、検出される開度が
所定値に達したときに、真空圧力を所定値に調整するた
めにサーボ弁を制御することであることとを備えたこと
を趣旨とする。In order to achieve the above object, the second invention according to the second invention is different from the first invention in that a rapid operation is performed to quickly release the gas pressure supplied to the pilot valve from the pilot valve. The exhaust valve, the opening sensor for detecting the opening of the vacuum control valve, and the control device perform the first control to change the opening of the vacuum control valve to quickly bring the vacuum pressure close to a predetermined value. And the second control is executed continuously. The first control is to operate a quick exhaust valve to quickly release the gas pressure supplied to the pilot valve from the pilot valve. Is that the servo valve is controlled to adjust the vacuum pressure to a predetermined value when the detected opening reaches a predetermined value.
【0024】上記第2の発明の構成によれば、第1の発
明とは異なり、真空制御弁の開度が開度センサにより検
出される。ここで、制御装置は、弁体を移動させ、その
開度を変えることにより真空圧力を所定値に近づけるた
めに、第1及び第2の制御を連続的に実行する。即ち、
制御装置は、第1の制御として、パイロット弁から気体
圧力を速やかに逃がすために、最初に急速排気弁を作動
させる。その後、制御装置は、検出される開度が所定値
に達したときに、真空圧力を所定値に調整するために、
サーボ弁を制御する。According to the configuration of the second invention, unlike the first invention, the opening of the vacuum control valve is detected by the opening sensor. Here, the control device continuously executes the first and second controls in order to move the valve body and change the opening thereof to bring the vacuum pressure close to a predetermined value. That is,
As a first control, the control device first operates the quick exhaust valve in order to quickly release the gas pressure from the pilot valve. Thereafter, when the detected opening reaches a predetermined value, the control device adjusts the vacuum pressure to a predetermined value.
Control the servo valve.
【0025】従って、真空制御弁がある程度開いている
ときに、制御装置が第1及び第2の制御を連続的に実行
する。これにより、最初にパイロット弁から気体圧力が
速やかに逃がされて真空制御弁の開度が速やかに減少す
る。これにより、真空容器内から真空ポンプへ吸引され
るガス量が速やかに減少し、真空容器内の真空圧力が速
やかに低減される。その後、真空制御弁の開度が所定値
に達すると、サーボ弁が制御され、パイロット弁に供給
される気体圧力が調整されて真空制御弁の開度が調整さ
れる。これにより、低減された真空圧力が所定値に向か
って更に調整される。Therefore, when the vacuum control valve is opened to some extent, the control device executes the first and second controls continuously. As a result, the gas pressure is quickly released from the pilot valve first, and the opening degree of the vacuum control valve is rapidly reduced. As a result, the amount of gas sucked into the vacuum pump from the inside of the vacuum container is quickly reduced, and the vacuum pressure in the vacuum container is quickly reduced. Thereafter, when the opening of the vacuum control valve reaches a predetermined value, the servo valve is controlled, the gas pressure supplied to the pilot valve is adjusted, and the opening of the vacuum control valve is adjusted. Thereby, the reduced vacuum pressure is further adjusted toward the predetermined value.
【0026】上記目的を達成するために請求項3に記載
の第3の発明は、第1の発明又は第2の発明の構成にお
いて、パイロット弁は、中空状のシリンダ室と、シリン
ダ室内を移動するピストンと、内周端部がピストンに固
定され、外周端部がシリンダ室の内壁に固定されたベロ
フラムとを含むことを趣旨とする。In order to achieve the above object, a third aspect of the present invention is directed to the third aspect of the present invention, wherein the pilot valve moves in the hollow cylinder chamber and the cylinder chamber. The invention is intended to include a piston having an inner peripheral end fixed to the piston and a bellofram fixed to an inner wall of the cylinder chamber at an outer peripheral end.
【0027】上記第3の発明の構成によれば、第1の発
明又は第2の発明の作用に加え、パイロット弁におい
て、ピストンがベロフラムを介してシリンダ室内壁に固
定される。このため、ピストンとシリンダ室内壁との間
に生じる移動抵抗が少なくなる。従って、シリンダ室内
壁に対してピストンの移動と停止が容易になり、その位
置調節が容易になる。According to the configuration of the third aspect, in addition to the operation of the first aspect or the second aspect, in the pilot valve, the piston is fixed to the inner wall of the cylinder via the bellofram. For this reason, the movement resistance generated between the piston and the cylinder inner wall is reduced. Therefore, the movement and stop of the piston with respect to the cylinder chamber wall become easy, and the position adjustment becomes easy.
【0028】上記目的を達成するために請求項4に記載
する第4の発明では、第1の発明乃至第3の発明のいず
れか一つの構成において、急速排気弁は、通電により選
択的に開閉動作する第1の電磁弁及び第2の電磁弁を有
し、第1の電磁弁はサーボ弁又は第2の電磁弁に対する
パイロット弁の連通を切り替え、第2の電磁弁は気体圧
力の供給源又は気体圧力を逃がす排気管に対する第1の
電磁弁の連通を切り替えることと、制御装置は、急速排
気弁を作動させるために、第1の電磁弁及び第2の電磁
弁の少なくとも一つに切り替え信号を供給することとを
含むことを趣旨とする。In order to achieve the above object, according to a fourth aspect of the present invention, in any one of the first to third aspects of the present invention, the quick exhaust valve is selectively opened and closed by energization. A first solenoid valve that operates and a second solenoid valve, wherein the first solenoid valve switches the communication of the pilot valve to the servo valve or the second solenoid valve, and the second solenoid valve is a source of gas pressure. Or switching the communication of the first solenoid valve to the exhaust pipe for releasing the gas pressure, and the control device switches to at least one of the first solenoid valve and the second solenoid valve to operate the quick exhaust valve. It is intended to include supplying a signal.
【0029】上記第4の発明の構成によれば、第1の発
明乃至第3の発明のいずれか一つの作用に加え、第1の
電磁弁は、制御装置からの切り替え信号を受け、その信
号に応じてサーボ弁又は第2の電磁弁に対するパイロッ
ト弁の連通を切り替える。第2の電磁弁は、制御装置か
らの切り替え信号を受け、その信号に応じて気体圧力の
供給源又は排気管に対する第1の電磁弁の連通を切り替
える。これにより、サーボ弁、気体圧力の供給源又は排
気管に対するパイロット弁の練通が切り替えられ、パイ
ロット弁に対する気体圧力の供給、排出が調整される。According to the configuration of the fourth aspect of the invention, in addition to the operation of any one of the first to third aspects, the first solenoid valve receives a switching signal from the control device and receives the switching signal. The communication of the pilot valve with the servo valve or the second solenoid valve is switched in accordance with. The second solenoid valve receives a switching signal from the control device, and switches the communication of the first solenoid valve to the gas pressure supply source or the exhaust pipe according to the switching signal. Thereby, the flow of the pilot valve to the servo valve, the supply source of the gas pressure or the exhaust pipe is switched, and the supply and discharge of the gas pressure to the pilot valve are adjusted.
【0030】上記目的を達成するために請求項5に記載
の第5の発明は、第1の発明乃至第4の発明のいずれか
一つの構成において、サーボ弁は、パルス周波数に応じ
た時間間隔をもって開閉動作するものであり、気体圧力
のための供給源とパイロット弁との間に接続された給気
用の電磁弁と、気体圧力を逃がすための排気管とパイロ
ット弁との間に接続された排気用の電磁弁とを有するこ
とと、制御装置は、給気用の電磁弁及び排気用の電磁弁
に対してパルス信号を供給することにより、真空制御弁
の開度を制御することとを含むことを趣旨とする。In order to achieve the above object, a fifth aspect of the present invention is directed to the fifth aspect of the present invention, in any one of the first to fourth aspects, wherein the servo valve comprises a time interval corresponding to a pulse frequency. The solenoid valve for air supply is connected between a supply source for gas pressure and a pilot valve, and is connected between an exhaust pipe and a pilot valve for releasing gas pressure. The control device controls the opening degree of the vacuum control valve by supplying a pulse signal to the supply air valve and the discharge electromagnetic valve. It is intended to include.
【0031】上記第5の発明の構成によれば、第1の発
明乃至第4の発明のいずれか一つの作用に加え、サーボ
弁において、給気用の電磁弁は、制御装置からのパルス
信号を受け、そのパルス信号のパルス周波数に応じた時
間間隔をもって開閉動作する。これにより、供給源から
パイロット弁に対する気体圧力の供給が調整される。排
気用の電磁弁は、制御装置からのパルス信号を受け、そ
のパルス周波数に応じた時間間隔をもって開閉動作す
る。これにより、パイロット弁から排気管へ逃がされる
気体圧力が調整される。According to the configuration of the fifth aspect, in addition to the function of any one of the first to fourth aspects, in the servo valve, the solenoid valve for supplying air is provided with a pulse signal from the control device. In response to this, the switching operation is performed at a time interval corresponding to the pulse frequency of the pulse signal. Thereby, the supply of the gas pressure from the supply source to the pilot valve is adjusted. The exhaust electromagnetic valve receives a pulse signal from the control device and opens and closes at a time interval corresponding to the pulse frequency. As a result, the gas pressure released from the pilot valve to the exhaust pipe is adjusted.
【0032】[0032]
【発明の実施の形態】この発明の真空圧力制御システム
を具体化した一実施の形態を図面を参照して詳細に説明
する。この実施の形態では、半導体の製造装置、特には
枚葉装置において真空圧力制御システムが具体化され
る。DESCRIPTION OF THE PREFERRED EMBODIMENTS One embodiment of a vacuum pressure control system according to the present invention will be described in detail with reference to the drawings. In this embodiment, a vacuum pressure control system is embodied in a semiconductor manufacturing apparatus, in particular, a single-wafer apparatus.
【0033】図3は枚葉装置1を示す概略構成図であ
る。この装置1は半導体の製造工程において、同時に複
数枚のウエハ2を処理する。この装置1は搬送用のロボ
ット3と、真空容器である複数の真空チャンバ4A,4
B,4C,4D,4Eとを備える。複数のチャンバ4A
〜4Eは、ロボット3を中心に放射状に配置される。ロ
ボット3と複数のチャンバ4A〜4Eは、一つの密閉さ
れた部屋5の中に収容される。この部屋5の中は常に真
空状態に設定される。複数のチャンバ4A〜4Eの一部
は積載用のロードロックチャンバであり、一つの装置に
1台又は2台設けられる。2台のロードロックチャンバ
が設けられた場合、そのうちの1台はウエハ2を搬入す
るための入口専用のチャンバとなり、他の1台はウエハ
2を搬出するための出口専用のチャンバとなる。各チャ
ンバ4A〜4Eは、ロボット3と対向する位置に配置さ
れたゲート6を有する。各ゲート6は選択的に開閉され
る。各ゲート6が開けられたときに、ロボット3は対応
するチャンバ4A〜4Eに対してウエハ2を出し入れす
る。FIG. 3 is a schematic configuration diagram showing the single-wafer apparatus 1. The apparatus 1 simultaneously processes a plurality of wafers 2 in a semiconductor manufacturing process. The apparatus 1 includes a transfer robot 3 and a plurality of vacuum chambers 4A and 4
B, 4C, 4D, and 4E. Multiple chambers 4A
4E are arranged radially around the robot 3. The robot 3 and the plurality of chambers 4A to 4E are housed in one closed room 5. The inside of the room 5 is always set to a vacuum state. Some of the plurality of chambers 4A to 4E are load lock chambers for loading, and one or two chambers are provided in one apparatus. When two load lock chambers are provided, one of them is a chamber dedicated to the entrance for loading the wafer 2, and the other one is a chamber dedicated to the exit for unloading the wafer 2. Each of the chambers 4A to 4E has a gate 6 arranged at a position facing the robot 3. Each gate 6 is selectively opened and closed. When each gate 6 is opened, the robot 3 moves the wafer 2 in and out of the corresponding chambers 4A to 4E.
【0034】各チャンバ4A〜4Eには、ガス供給用の
配管7と、ガス排出用の配管8がそれぞれ接続される。
供給用の配管7には、プロセスガスの供給源(図示しな
い)と、パージ用の窒素ガスの供給源(図示しない)が
それぞれ接続される。排出用の配管8には、真空ポンプ
9(図4に示す)が接続される。各排出用の配管8上に
は、パイロット操作弁よりなる真空制御弁10がそれぞ
れ設けられる。半導体の製造工程において、各処理用の
チャンバ4A〜4Dには、それぞれ1枚のウエハ2が収
容される。各処理用のチャンバ4A〜4Dでは、真空圧
力が制御される条件の下、プロセスガスの供給とそのパ
ージとが行われる。各チャンバ4A〜4Dでの工程終了
後に、各ウエハ2はロボット3により、各チャンバ4A
〜4Dから取り出され、積載用のチャンバ4Eに一旦収
容される。A gas supply pipe 7 and a gas discharge pipe 8 are connected to each of the chambers 4A to 4E.
The supply pipe 7 is connected to a process gas supply source (not shown) and a purge nitrogen gas supply source (not shown), respectively. A vacuum pump 9 (shown in FIG. 4) is connected to the discharge pipe 8. A vacuum control valve 10 composed of a pilot operation valve is provided on each discharge pipe 8. In the semiconductor manufacturing process, one wafer 2 is accommodated in each of the processing chambers 4A to 4D. In each of the processing chambers 4A to 4D, the supply of the process gas and the purging thereof are performed under the condition that the vacuum pressure is controlled. After the process in each of the chambers 4A to 4D, each wafer 2 is moved by the robot 3 to each of the chambers 4A to 4D.
4D and temporarily stored in the loading chamber 4E.
【0035】積載用のチャンバ4Eは、ゲート6とは別
のゲート11を更に有する。このゲート11が開かれる
ことにより、このチャンバ4Eから、部屋5の外へとウ
エハ2が搬出される。搬出されたウエハ2は、キャリア
12に搭載され、コンベア13により所定の位置まで搬
送される。複数のチャンバ4A〜4Eで実施される一連
の工程は、その開始時期が互いに少しづつずれる。従っ
て、各処理用のチャンバ4A〜4Dで1枚のウエハ2が
順次処理され、その処理されたウエハ2が順次チャンバ
4Eを通じて部屋5の外へと搬出される。このような枚
葉装置1の工程能力を向上させるには、処理用の各チャ
ンバ4A〜4Eにおいて、一連の工程を実施するのに要
するタクト時間を短くする必要がある。The loading chamber 4E further has a gate 11 different from the gate 6. When the gate 11 is opened, the wafer 2 is carried out of the chamber 4E to the outside of the room 5. The unloaded wafer 2 is mounted on a carrier 12 and transported to a predetermined position by a conveyor 13. A series of steps performed in the plurality of chambers 4A to 4E have slightly different start times. Therefore, one wafer 2 is sequentially processed in each of the processing chambers 4A to 4D, and the processed wafer 2 is sequentially carried out of the room 5 through the chamber 4E. In order to improve the process capability of such a single-wafer apparatus 1, it is necessary to shorten the tact time required to execute a series of processes in each of the processing chambers 4A to 4E.
【0036】この実施の形態では、各チャンバ4A〜4
Eのそれぞれに対して一つの真空圧力制御システムがに
独立的に設けられる。図4は各チャンバ4Aに対応する
一つの真空制御システムの構成を概略的に示す。この構
成は、その他のチャンバ4B〜4Dのそれと同様であ
る。従って、以下にはチャンバ4Aを代表として、本制
御システムを説明する。In this embodiment, each of the chambers 4A to 4A
One vacuum pressure control system is provided independently for each of E. FIG. 4 schematically shows the configuration of one vacuum control system corresponding to each chamber 4A. This configuration is similar to that of the other chambers 4B to 4D. Therefore, the control system will be described below with the chamber 4A as a representative.
【0037】チャンバ4Aの中には、ウエハ2がテーブ
ル21上に配置される。チャンバ4Aは入口22及び出
口23を有する。入口22には、プロセスガスの供給源
が配管7を介して接続される。同じく入口22には、チ
ャンバ4Aに供給されたプロセスガスをパージするため
の窒素ガスの供給源が配管7を介して接続される。The wafer 2 is placed on the table 21 in the chamber 4A. The chamber 4A has an inlet 22 and an outlet 23. A supply source of a process gas is connected to the inlet 22 via the pipe 7. Similarly, a supply source of nitrogen gas for purging the process gas supplied to the chamber 4A is connected to the inlet 22 via the pipe 7.
【0038】出口23には、真空制御弁10の入口10
aが配管8を介して接続される。真空制御弁10の出口
10bは、配管8を介して真空ポンプ9に接続される。
出口23には、遮断弁24を介して圧力センサ25が接
続される。本実施の形態では、圧力センサ25として、
キャパシタンス・マノメータが使用される。The outlet 23 is connected to the inlet 10 of the vacuum control valve 10.
a is connected via the pipe 8. An outlet 10 b of the vacuum control valve 10 is connected to a vacuum pump 9 via a pipe 8.
A pressure sensor 25 is connected to the outlet 23 via a shutoff valve 24. In the present embodiment, as the pressure sensor 25,
A capacitance manometer is used.
【0039】図5,6は真空制御弁10の断面図を示
す。図5はこの制御弁10が閉じられた状態を示し、図
6は制御弁10が全開にされたときの状態を示す。真空
制御弁10は互いに上下に組み付けられたパイロット弁
31及びベローズ式のポペット弁32を備える。FIGS. 5 and 6 are sectional views of the vacuum control valve 10. FIG. FIG. 5 shows a state in which the control valve 10 is closed, and FIG. 6 shows a state in which the control valve 10 is fully opened. The vacuum control valve 10 includes a pilot valve 31 and a bellows-type poppet valve 32 which are assembled vertically.
【0040】パイロット弁31は、中空状のシリンダ室
を有する単動空気圧シリンダ33と、そのシリンダ室に
対して移動可能に組み付けられたピストン34とを有す
る。ピストン34は復帰バネ35により下向きに付勢さ
れる。ピストン34の上端には、上方へ延びるスライド
レバー36が設けられる。The pilot valve 31 has a single-acting pneumatic cylinder 33 having a hollow cylinder chamber, and a piston 34 movably attached to the cylinder chamber. The piston 34 is urged downward by a return spring 35. A slide lever 36 extending upward is provided at the upper end of the piston 34.
【0041】シリンダ33の外側には、開度センサとし
てのポテンショメータ37が取り付けられる。ポテンシ
ョメータ37は、可変抵抗(図示しない)を内蔵する。
レバー36の上端は、可変抵抗に接続される。ピストン
34と一体にレバー36が上下動することにより、可変
抵抗の値が変わる。ポテンショメータ37は、その抵抗
値を、ピストン34の垂直方向における位置に相関する
値として出力する。A potentiometer 37 as an opening sensor is mounted outside the cylinder 33. The potentiometer 37 has a built-in variable resistor (not shown).
The upper end of the lever 36 is connected to a variable resistor. When the lever 36 moves up and down integrally with the piston 34, the value of the variable resistance changes. The potentiometer 37 outputs the resistance value as a value correlated with the position of the piston 34 in the vertical direction.
【0042】ピストン34の下面には、ベロフラム38
が設けられる。ベロフラム38の内周端部はピストン3
4に固定される。ベロフラム38の外周端部は、シリン
ダ室の内壁に固定される。ベロフラム38は極めて薄
く、構造的には、強力なポリエステル、テトロン布等の
上にゴムを被覆して形成される。ベロフラム38は長い
変形ストロークと、深い折り返し部を有する。ベロフラ
ム38は円筒状をなし、変形中にその有効受圧面積が一
定不変に保たれるダイヤフラムである。シリンダ室は、
ピストン34及びベロフラム38により上下に区画され
た大気室33a及び加圧室33bを含む。上側の大気室
33aは復帰バネ35を収容し、大気ポート(図示しな
い)から大気が導入される。下側の加圧室33bは、加
圧ポート(図示しない)を通じて供給源(図示しない)
から圧縮エアが導入される。On the lower surface of the piston 34, a bellofram 38 is provided.
Is provided. The inner peripheral end of the bellofram 38 is a piston 3
Fixed to 4. The outer peripheral end of the bellofram 38 is fixed to the inner wall of the cylinder chamber. Velofram 38 is extremely thin and structurally formed by coating rubber on strong polyester, tetron cloth or the like. The bellofram 38 has a long deformation stroke and a deep turn. The bellows diaphragm 38 is a diaphragm having a cylindrical shape, the effective pressure receiving area of which is kept constant during deformation. The cylinder chamber is
It includes an atmospheric chamber 33a and a pressurizing chamber 33b vertically divided by a piston 34 and a bellofram 38. The upper atmosphere chamber 33a accommodates a return spring 35, and air is introduced from an atmosphere port (not shown). The lower pressurizing chamber 33b is provided with a supply source (not shown) through a pressurizing port (not shown).
Compressed air is introduced from.
【0043】ピストン34の中央には、下方へ延びるピ
ストンロッド39が固定される。ポペット弁32は、ロ
ッド39、弁体40及びケーシング41を備える。弁体
40はロッド39の下端に固定される。それら両部材3
9,40はケーシング41に収容される。ケーシング4
1は円筒状をなし、前述した入口10a及び出口10b
を有する。弁体40の上面にはベローズ42が設けられ
る。ベローズ42はロッド39を内包する状態で配置さ
れる。At the center of the piston 34, a piston rod 39 extending downward is fixed. The poppet valve 32 includes a rod 39, a valve body 40, and a casing 41. The valve body 40 is fixed to the lower end of the rod 39. Those two members 3
9 and 40 are accommodated in a casing 41. Casing 4
Reference numeral 1 denotes a cylindrical shape, and the above-described inlet 10a and outlet 10b
Having. A bellows 42 is provided on the upper surface of the valve body 40. The bellows 42 is arranged so as to include the rod 39.
【0044】図7,8は弁体40の構造を詳細に示す。
図7は真空制御弁10が閉じたときの弁体40の状態を
示す。図8は真空制御弁10の開度が中程度のときの弁
体40の状態を示す。7 and 8 show the structure of the valve body 40 in detail.
FIG. 7 shows a state of the valve body 40 when the vacuum control valve 10 is closed. FIG. 8 shows the state of the valve body 40 when the opening of the vacuum control valve 10 is medium.
【0045】弁体40はロッド39に連結される本体4
0aと、Oリング43が取り付けられる取付部40b
と、ステンレス弁体44と、そのステンレス弁体44が
取り付けられる取付部40cとを備える。この実施の形
態では、ステンレス弁体44の材料としてSUS316
Lが使用される。ステンレス弁体44はその外周に先細
りのテーパ面44aと、それに連続するストレート面4
4bとを有する。ケーシング41の入口10aの近傍に
は、弁体40に対応する弁座45が設けられる。この弁
座45は、入口10aに設けられた円筒の内周面上に設
定される。弁体40は、弁座45の孔の中心軸線に沿っ
て移動する。Oリング43はストレート面44bが弁座
45に当接するように弁体40が下方へ押圧されたと
き、即ち真空制御弁10が全閉になったときに、流体の
漏れを抑える。本実施の形態では、テーパ面44aの角
度θが「3°」に設定される。The valve body 40 is connected to the main body 4 connected to the rod 39.
0a and an attachment portion 40b to which the O-ring 43 is attached.
, A stainless steel valve body 44, and a mounting portion 40c to which the stainless steel valve body 44 is mounted. In this embodiment, the material of the stainless steel valve body 44 is SUS316.
L is used. The stainless steel valve element 44 has a tapered tapered surface 44a on its outer periphery and a straight surface 4
4b. In the vicinity of the inlet 10a of the casing 41, a valve seat 45 corresponding to the valve body 40 is provided. The valve seat 45 is set on the inner peripheral surface of a cylinder provided at the inlet 10a. The valve body 40 moves along the central axis of the hole of the valve seat 45. The O-ring 43 suppresses fluid leakage when the valve body 40 is pressed downward so that the straight surface 44b contacts the valve seat 45, that is, when the vacuum control valve 10 is fully closed. In the present embodiment, the angle θ of the tapered surface 44a is set to “3 °”.
【0046】図8に示すように、ステンレス弁体44の
テーパ面44aが弁座45の孔の中心線に沿って垂直方
向に移動することにより、テーパ面44aと弁座45と
の間の隙間の面積が変わる。この隙間の面積が真空制御
弁10の開度に相当する。図7に示すように、弁体40
が弁座45を構成する円筒の上端面に当接したとき、O
リング43が円筒の上端面に押圧され、弁体40と弁座
45との間の流体の漏れが完全に遮断される。即ち、真
空制御弁10が全閉となったとき、弁体40と弁座45
との間の流体の漏れが抑えられる。As shown in FIG. 8, when the tapered surface 44a of the stainless steel valve element 44 moves vertically along the center line of the hole of the valve seat 45, the gap between the tapered surface 44a and the valve seat 45 is increased. Area changes. The area of this gap corresponds to the opening of the vacuum control valve 10. As shown in FIG.
Is in contact with the upper end surface of the cylinder constituting the valve seat 45,
The ring 43 is pressed against the upper end surface of the cylinder, and the leakage of fluid between the valve body 40 and the valve seat 45 is completely shut off. That is, when the vacuum control valve 10 is fully closed, the valve body 40 and the valve seat 45
And the leakage of fluid between them is suppressed.
【0047】ピストン34が上下動することにより、ロ
ッド39を介して弁体40が上下動する。これにより、
真空制御弁10の開度が変わる。従って、ポテンショメ
ータ37はピストン34の垂直方向における位置、ひい
ては弁体40の垂直方向における位置、つまりは真空制
御弁10の開度を計測し、その計測値を出力する。When the piston 34 moves up and down, the valve element 40 moves up and down via the rod 39. This allows
The opening of the vacuum control valve 10 changes. Therefore, the potentiometer 37 measures the position of the piston 34 in the vertical direction, that is, the position of the valve body 40 in the vertical direction, that is, the opening of the vacuum control valve 10, and outputs the measured value.
【0048】図1は本実施の形態の真空圧力制御システ
ムにおける制御に係る構成を示す。この制御システムは
制御装置としてのコントローラ51と、空気圧制御部5
2と、真空制御弁部53と、圧力センサ25とを備え
る。FIG. 1 shows a configuration related to control in the vacuum pressure control system of the present embodiment. This control system includes a controller 51 as a control device and an air pressure control unit 5.
2, a vacuum control valve unit 53, and a pressure sensor 25.
【0049】真空制御弁部53は真空制御弁10、ポテ
ンショメータ37及びそのアンプ63を備える。空気圧
制御部52は第1の電磁弁54、第2の電磁弁55、本
発明のサーボ弁としての電空比例弁56、位置制御回路
57及びパルスドライブ回路58を有する。第1の電磁
弁54及び第2の電磁弁55は、本発明の急速排気弁を
構成する。The vacuum control valve section 53 includes the vacuum control valve 10, the potentiometer 37 and its amplifier 63. The air pressure control unit 52 has a first solenoid valve 54, a second solenoid valve 55, an electropneumatic proportional valve 56 as a servo valve of the present invention, a position control circuit 57, and a pulse drive circuit 58. The first solenoid valve 54 and the second solenoid valve 55 constitute a quick exhaust valve of the present invention.
【0050】第1の電磁弁54の第1のポート54a
は、電空比例弁56に接続される。第1の電磁弁54の
第2のポート54bには、第2の電磁弁55の第3のポ
ート55cが接続される。第1の電磁弁54の第3のポ
ート54cは真空制御弁10の加圧室33bに接続され
る。第2の電磁弁55の第1のポート55aは圧縮エア
の供給源(図示しない)に接続される。第2の電磁弁5
5の第2のポート55bは排気管(図示しない)に接続
される。第1の電磁弁54は第1のソレノイドSV1を
有する。第2の電磁弁55は第2のソレノイドSV2を
有する。The first port 54a of the first solenoid valve 54
Is connected to an electropneumatic proportional valve 56. The third port 55c of the second solenoid valve 55 is connected to the second port 54b of the first solenoid valve 54. The third port 54c of the first solenoid valve 54 is connected to the pressurizing chamber 33b of the vacuum control valve 10. The first port 55a of the second solenoid valve 55 is connected to a compressed air supply source (not shown). Second solenoid valve 5
The fifth second port 55b is connected to an exhaust pipe (not shown). The first solenoid valve 54 has a first solenoid SV1. The second solenoid valve 55 has a second solenoid SV2.
【0051】図2は電空比例弁56の構成を示す。この
電空比例弁56は給気用の電磁弁としての比例弁61
と、排気用の電磁弁としての比例弁62とを有する。給
気用の比例弁61の入力ポート61aは、圧縮エアの供
給源に接続される。排気用の比例弁62の出力ポート6
2aは、排気管に接続される。給気用の比例弁61の出
力ポート61b及び排気用の比例弁62の入力ポート6
2bはそれぞれ第1の電磁弁54の第1のポート54a
に接続される。FIG. 2 shows the structure of the electropneumatic proportional valve 56. This electro-pneumatic proportional valve 56 is a proportional valve 61 as an air supply solenoid valve.
And a proportional valve 62 as an exhaust electromagnetic valve. An input port 61a of the proportional valve 61 for air supply is connected to a compressed air supply source. Output port 6 of proportional valve 62 for exhaust
2a is connected to an exhaust pipe. Output port 61b of proportional valve 61 for air supply and input port 6 of proportional valve 62 for exhaust
2b is a first port 54a of the first solenoid valve 54, respectively.
Connected to.
【0052】図1に示すように、コントローラ51はイ
ンターフェイス回路71、シーケンス制御回路72、真
空圧力制御回路73及び中央処理装置(図示しない)を
備える。インターフェイス回路71はリモート制御用の
信号、マニュアル操作用の信号をそれぞれ取り込む。イ
ンターフェイス回路71はシーケンス回路72に電気的
に接続される。シーケンス回路72は、第1電磁弁54
のソレノイドSV1、第2電磁弁55のソレノイドSV
2に電気的に接続される。インターフェイス回路71は
真空圧力制御回路73に電気的に接続される。この制御
回路73には、圧力センサ25が電気的に接続される。As shown in FIG. 1, the controller 51 includes an interface circuit 71, a sequence control circuit 72, a vacuum pressure control circuit 73, and a central processing unit (not shown). The interface circuit 71 receives a signal for remote control and a signal for manual operation, respectively. The interface circuit 71 is electrically connected to the sequence circuit 72. The sequence circuit 72 includes the first solenoid valve 54
Solenoid SV1 of the second solenoid valve 55
2 is electrically connected. The interface circuit 71 is electrically connected to the vacuum pressure control circuit 73. The pressure sensor 25 is electrically connected to the control circuit 73.
【0053】空気圧制御部52において、電空比例弁5
6には、パルスドライブ回路58が電気的に接続され
る。このドライブ回路58には、位置制御回路57が電
気的に接続される。位置制御回路57には、アンプ63
を介してポテンショメータ37が電気的に接続される。
位置制御回路57には、真空圧力制御回路73が電気的
に接続される。In the air pressure control section 52, the electropneumatic proportional valve 5
6, a pulse drive circuit 58 is electrically connected. The drive circuit 58 is electrically connected to a position control circuit 57. The position control circuit 57 includes an amplifier 63
The potentiometer 37 is electrically connected via the.
A vacuum pressure control circuit 73 is electrically connected to the position control circuit 57.
【0054】上記コントローラ51が実行する制御の内
容を以下に説明する。図9に示すように、真空制御弁1
0を全開にするために、コントローラ51は第1の電磁
弁54のソレノイドSV1をオフし、第2の電磁弁55
のソレノイドSV2をオンする。これにより、第2の電
磁弁55の第1のポート55aが第3のポート55cに
連通する。第1の電磁弁54の第2のポート54bが第
3のポート54cに連通する。これにより、真空制御弁
10の加圧室33bが両電磁弁54,55を介して圧縮
エアの供給源に連通し、加圧室33bに圧縮エアが供給
される。この結果、図6に示すように、ピストン34及
び弁体40が復帰バネ35の付勢力に抗して上方へ移動
し、ステンレス弁体44が弁座45から最も離れる。即
ち、真空制御弁10は全開状態となる。この状態で、チ
ャンバ4Aの中に供給されていた気体、特にはプロセス
ガスが真空ポンプ9により吸引されることにより、同ガ
スがチャンバ4Aから急速に排出されてパージされる。The contents of the control executed by the controller 51 will be described below. As shown in FIG.
0 is fully opened, the controller 51 turns off the solenoid SV1 of the first solenoid valve 54 and the second solenoid valve 55
Is turned on. Thereby, the first port 55a of the second solenoid valve 55 communicates with the third port 55c. The second port 54b of the first solenoid valve 54 communicates with the third port 54c. As a result, the pressurized chamber 33b of the vacuum control valve 10 communicates with the compressed air supply source via the solenoid valves 54 and 55, and the compressed air is supplied to the pressurized chamber 33b. As a result, as shown in FIG. 6, the piston 34 and the valve body 40 move upward against the urging force of the return spring 35, and the stainless steel valve body 44 is farthest from the valve seat 45. That is, the vacuum control valve 10 is fully opened. In this state, the gas, particularly the process gas, supplied into the chamber 4A is sucked by the vacuum pump 9, so that the gas is quickly discharged from the chamber 4A and purged.
【0055】上記全開状態から真空制御弁10を全開よ
りも小さい任意の目標開度、或いは全閉の状態にするた
めに、コントローラ51は両電磁弁54,55及び電空
比例弁56を以下のように制御する。コントローラ51
は、互いに連続する第1の制御及び第2の制御を実行す
る。In order to bring the vacuum control valve 10 to an arbitrary target opening degree smaller than the full open state or to the fully closed state from the fully open state, the controller 51 sets the two solenoid valves 54 and 55 and the electropneumatic proportional valve 56 as follows. Control. Controller 51
Executes the first control and the second control that are continuous with each other.
【0056】即ち、図10に示すように、最初に第1の
制御において、コントローラ51は各電磁弁54,55
のソレノイドSV1,SV2をそれぞれオフする。これ
により、第2の電磁弁55の第2のポート55bが第3
のポート55cに連通する。第1の電磁弁54の第2の
ポート54bが第3のポート54cに連通する。これに
より、真空制御弁10の加圧室10bが両電磁弁54,
55を介して排気管に連通する。この結果、ピストン3
4及び弁体40が復帰バネ35の付勢力に基づいて下方
へ移動し始める。That is, as shown in FIG. 10, first in the first control, the controller 51 controls the solenoid valves 54 and 55
Of the solenoids SV1 and SV2 are turned off. As a result, the second port 55b of the second solenoid valve 55 is connected to the third port 55b.
Port 55c. The second port 54b of the first solenoid valve 54 communicates with the third port 54c. As a result, the pressurizing chamber 10b of the vacuum control valve 10 is
It communicates with the exhaust pipe through 55. As a result, the piston 3
4 and the valve body 40 start to move downward based on the urging force of the return spring 35.
【0057】続く第2の制御において、図11に示すよ
うに、コントローラ51は第1の電磁弁54のソレノイ
ドSV1をオンする。これにより、第2の電磁弁55の
第3のポート55cが閉じられ、第1の電磁弁54の第
1のポート54aが第3のポート54cに連通する。こ
れと同時に、コントローラ51は電空比例弁56を制御
する。即ち、コントローラ51は、真空制御弁10の加
圧室33bが第1の電磁弁54及び電空比例弁56を介
して排気管に連通すると共に、チャンバ4Aの中の真空
圧力が所定の目標値となるように電空比例弁56の二つ
の比例弁61,62を制御する。このとき、コントロー
ラ51は圧力センサ25の検出値を監視し、その検出値
が目標値と合致するように電空比例弁56を制御する。
これにより、ピストン34及び弁体40が復帰バネ35
の付勢力に基づいて更に下方へ移動し、真空制御弁10
が目標開度、或いは全閉の状態に調整される。これによ
り、チャンバ4Aに対する真空圧力の供給が更に遮断さ
れ、チャンバ4Aから真空ポンプ9へのプロセスガスの
吸引が抑えられ、チャンバ4Aの圧力が速やかに目標値
に達する。In the subsequent second control, as shown in FIG. 11, the controller 51 turns on the solenoid SV1 of the first solenoid valve 54. As a result, the third port 55c of the second solenoid valve 55 is closed, and the first port 54a of the first solenoid valve 54 communicates with the third port 54c. At the same time, the controller 51 controls the electropneumatic proportional valve 56. That is, the controller 51 communicates the pressurizing chamber 33b of the vacuum control valve 10 with the exhaust pipe via the first solenoid valve 54 and the electropneumatic proportional valve 56, and adjusts the vacuum pressure in the chamber 4A to a predetermined target value. The two proportional valves 61 and 62 of the electropneumatic proportional valve 56 are controlled so that At this time, the controller 51 monitors the detection value of the pressure sensor 25 and controls the electropneumatic proportional valve 56 so that the detection value matches the target value.
As a result, the piston 34 and the valve body 40 are
Moves further downward based on the urging force of the vacuum control valve 10.
Is adjusted to the target opening degree or the fully closed state. Thus, the supply of the vacuum pressure to the chamber 4A is further shut off, the suction of the process gas from the chamber 4A to the vacuum pump 9 is suppressed, and the pressure in the chamber 4A quickly reaches the target value.
【0058】ここで、コントローラ51は、第1の制御
から第2の制御への切り替えをポテンショメータ37の
計測値、即ち真空制御弁10の開度に基づいて行う。詳
しくは、コントローラ51はポテンショメータ37の計
測値が、真空制御弁10の全開に相当する値から全開よ
りも小さい基準開度Ropに相当する所定値に変わった
ときに、第1の制御から第2の制御へと切り替える。Here, the controller 51 switches from the first control to the second control based on the measured value of the potentiometer 37, that is, the opening of the vacuum control valve 10. Specifically, when the value measured by the potentiometer 37 changes from a value corresponding to full opening of the vacuum control valve 10 to a predetermined value corresponding to a reference opening Rop smaller than full opening, the controller 51 switches from the first control to the second control. Switch to control.
【0059】ここで、コントローラ51が行う第2の制
御の内容を詳しく説明する。この実施の態様では、真空
制御弁10のステンレス弁体44がその外周にテーパ面
44aを有する。このため、チャンバ4Aの中の圧力
は、真空制御弁10により以下のように微妙に調整され
る。即ち、弁体40の停止位置を調節することにより、
弁座45とテーパ面44aとの間の隙間の面積、即ち真
空制御弁10の開度が微妙に変わる。そこで、コントロ
ーラ51は以下のように両電磁弁54,55及び電空比
例弁56を制御する。Here, the contents of the second control performed by the controller 51 will be described in detail. In this embodiment, the stainless steel valve body 44 of the vacuum control valve 10 has a tapered surface 44a on its outer periphery. For this reason, the pressure in the chamber 4A is finely adjusted by the vacuum control valve 10 as follows. That is, by adjusting the stop position of the valve body 40,
The area of the gap between the valve seat 45 and the tapered surface 44a, that is, the opening degree of the vacuum control valve 10 slightly changes. Therefore, the controller 51 controls the solenoid valves 54 and 55 and the electropneumatic proportional valve 56 as described below.
【0060】即ち、チャンバ4Aの中を低程度の真空圧
力に調整する場合、ステンレス弁体44のストレート面
44bが弁座45に対向する位置に停止するように、コ
ントローラ51は両電磁弁54,55を制御する。チャ
ンバ4Aの中を中程度の真空圧力に調整する場合、ステ
ンレス弁体44のテーパ面44aが弁座45に対抗する
位置に停止するように、コントローラ51は両電磁弁5
4,55を制御する。更に、チャンバ4Aの中を高程度
の真空圧力に調整する場合、テーパ面44aが弁座45
から少し離れた位置に停止するように、コントローラ5
1は両電磁弁54,55を制御する。That is, when the inside of the chamber 4A is adjusted to a vacuum pressure of a low level, the controller 51 causes the two solenoid valves 54 and 54 to stop at a position where the straight surface 44b of the stainless steel valve body 44 faces the valve seat 45. 55 is controlled. When adjusting the inside of the chamber 4A to a moderate vacuum pressure, the controller 51 controls the two solenoid valves 5 so that the tapered surface 44a of the stainless steel valve body 44 stops at a position opposing the valve seat 45.
4, 55 are controlled. Further, when the inside of the chamber 4A is adjusted to a high vacuum pressure, the tapered surface 44a is
Controller 5 so that it stops at a position slightly away from
1 controls both solenoid valves 54 and 55.
【0061】詳細には、コントローラ51において、シ
ーケンス制御回路72は中央処理装置からインターフェ
ース回路71を介し、チャンバ4Aの中の圧力について
の目標値を受ける。これにより、第1の電磁弁54のソ
レノイドSV1がオンされ、第2の電磁弁55のソレノ
イドSV2がオフされる。更に、真空圧力制御回路73
は、インターフェイス回路71を介して上記圧力に係る
目標値を受ける。More specifically, in the controller 51, the sequence control circuit 72 receives a target value for the pressure in the chamber 4A from the central processing unit via the interface circuit 71. Thereby, the solenoid SV1 of the first solenoid valve 54 is turned on, and the solenoid SV2 of the second solenoid valve 55 is turned off. Further, the vacuum pressure control circuit 73
Receives the target value related to the pressure via the interface circuit 71.
【0062】真空圧力制御回路73は、インターフェー
ス回路71より受けた真空圧力の目標値と、圧力センサ
25による現在の検出値とを比較する。真空圧力制御回
路73は上記両値が一致するように真空制御弁10の開
度を調整するために、パルスドライブ回路58を介して
電空比例弁56を制御する。The vacuum pressure control circuit 73 compares the target value of the vacuum pressure received from the interface circuit 71 with the current value detected by the pressure sensor 25. The vacuum pressure control circuit 73 controls the electropneumatic proportional valve 56 via the pulse drive circuit 58 in order to adjust the opening of the vacuum control valve 10 so that the two values match.
【0063】即ち、チャンバ4Aの中の真空圧力が目標
値よりも大気圧に近い場合、真空圧力制御回路73は真
空制御弁10のピストン34の位置を上方へ移動させて
その開度を大きくする。チャンバ4Aの中の真空圧力が
目標値よりも絶対真空圧力に近い場合、真空圧力制御回
路73は真空制御弁10の開度を小さくするために、電
空比例弁56を制御する。That is, when the vacuum pressure in the chamber 4A is closer to the atmospheric pressure than the target value, the vacuum pressure control circuit 73 moves the position of the piston 34 of the vacuum control valve 10 upward to increase its opening. . When the vacuum pressure in the chamber 4A is closer to the absolute vacuum pressure than the target value, the vacuum pressure control circuit 73 controls the electropneumatic proportional valve 56 to reduce the opening of the vacuum control valve 10.
【0064】ここで、パルスドライブ回路58は、真空
圧力制御回路73からの信号をパルス信号に変換し、そ
のパルス信号を開閉信号として給気用及び排気用の比例
弁61,62に供給する。各比例弁61,62は、パル
ス信号に応じて開閉することにより、真空制御弁10の
加圧室33bに供給されるエア圧力を調節する。ここ
で、両比例弁61,62は、パルス信号の入力電圧に応
じて弁体を弁座から離間させる電磁弁である。Here, the pulse drive circuit 58 converts the signal from the vacuum pressure control circuit 73 into a pulse signal, and supplies the pulse signal as an opening / closing signal to the proportional valves 61 and 62 for air supply and exhaust. Each of the proportional valves 61 and 62 opens and closes in response to a pulse signal to adjust the air pressure supplied to the pressurizing chamber 33b of the vacuum control valve 10. Here, the two proportional valves 61 and 62 are electromagnetic valves that separate a valve body from a valve seat according to an input voltage of a pulse signal.
【0065】パルスドライブ回路58は、給気用の比例
弁61をオンすることにより、真空制御弁10の加圧室
33bに駆動用の圧縮エアを供給する。同時にパルスド
ライブ回路58は、排気用の比例弁62をオンすること
により、圧縮エアの一部を排気管へ逃がし、真空制御弁
10の加圧室33bに供給されるべき圧縮エアの大きさ
を調整する。The pulse drive circuit 58 supplies compressed air for driving to the pressurizing chamber 33b of the vacuum control valve 10 by turning on the proportional valve 61 for air supply. At the same time, by turning on the exhaust proportional valve 62, the pulse drive circuit 58 releases a part of the compressed air to the exhaust pipe, and adjusts the size of the compressed air to be supplied to the pressurizing chamber 33b of the vacuum control valve 10. adjust.
【0066】この実施の形態では、パルスドライブ回路
58が圧縮エアの供給源に接続される比例弁61と、排
気管に接続される比例弁62とをパルスドライブ回路5
8により同時に駆動することにより、加圧室33bに供
給される圧縮エアが調整される。このため、真空制御弁
10において、ピストン34を高い応答速度をもって所
定の位置に正確に停止させることができ、ひいては真空
制御弁10を所定の開度に調整することができる。In this embodiment, the pulse drive circuit 58 includes a proportional valve 61 connected to a compressed air supply source and a proportional valve 62 connected to an exhaust pipe.
8, the compressed air supplied to the pressurizing chamber 33b is adjusted. Therefore, in the vacuum control valve 10, the piston 34 can be accurately stopped at a predetermined position with a high response speed, and the vacuum control valve 10 can be adjusted to a predetermined opening.
【0067】即ち、給気用及び排気用の比例弁61,6
2は互いに同一に一定周期をもって変化するパルス信号
により駆動される。そして、そのパルス間隔に基づき比
例弁61,62のオン時間とオフ時間との比率、つまり
はデューティ比が換えられることにより、各比例弁6
1,62を通過する空気量が変えられる。That is, proportional valves 61 and 6 for air supply and exhaust are provided.
2 are driven by pulse signals which change at the same constant interval as each other. The ratio between the on-time and off-time of the proportional valves 61 and 62, that is, the duty ratio is changed based on the pulse interval, so that each proportional valve 6 is changed.
The amount of air passing through 1,62 is varied.
【0068】ここで、両比例弁61,62に供給される
パルス信号のデューティ比は、位置制御回路57により
次のように決定される。真空制御弁10の開度を目標値
よりも大きくするきには、給気用の比例弁61に供給さ
れるデューティ比を大きくする。これにより、真空制御
弁10の加圧室33bに供給されるエア流量が増加し、
加圧室33bの圧力が増加し、弁体40が開く方向へ移
動する。この動きは、ポテンショメータ37により計測
され、その計測値が位置制御回路57に送られる。ポテ
ンショメータ37の計測値と、真空制御弁10の開度に
係る目標値とが互いに近似することにより、給気用の比
例弁61に供給されるデューティ比は小さくなる。そし
て、両値が互いに完全に一致することにより、比例弁6
1に供給されるデューティ比がバイアス値となる。Here, the duty ratio of the pulse signal supplied to the two proportional valves 61 and 62 is determined by the position control circuit 57 as follows. To make the opening of the vacuum control valve 10 larger than the target value, the duty ratio supplied to the proportional valve 61 for air supply is made larger. Thereby, the air flow rate supplied to the pressurizing chamber 33b of the vacuum control valve 10 increases,
The pressure in the pressurizing chamber 33b increases, and the valve body 40 moves in the opening direction. This movement is measured by the potentiometer 37, and the measured value is sent to the position control circuit 57. Since the measured value of the potentiometer 37 and the target value related to the opening of the vacuum control valve 10 are close to each other, the duty ratio supplied to the proportional valve 61 for air supply is reduced. When the two values completely match each other, the proportional valve 6
The duty ratio supplied to 1 becomes the bias value.
【0069】真空制御弁10の開度をその目標値よりも
閉じる方向へ変えることにより、排気用の比例弁62に
供給されるデューティ比は大きくなる。これにより、加
圧室33bから排出されるエア流量が増加して加圧室3
3bの圧力が減少し、弁体40が閉じる方向へ移動す
る。この動きは、ポテンショメータ37により計測さ
れ、その計測値が位置制御回路57に送られる。ポテン
ショメータ37の計測値と、真空制御弁10の開度に関
する目標値とが互いに近似することにより、排気用の比
例弁62に供給されるデューティ比が小さくなる。そし
て、両値が完全に一致することにより、比例弁62に供
給されるデューティ比がバイアス値となる。By changing the opening of the vacuum control valve 10 to a direction closer to its target value, the duty ratio supplied to the exhaust proportional valve 62 increases. As a result, the flow rate of air discharged from the pressurizing chamber 33b increases, and
The pressure of 3b decreases, and the valve body 40 moves in the closing direction. This movement is measured by the potentiometer 37, and the measured value is sent to the position control circuit 57. When the measured value of the potentiometer 37 and the target value related to the opening of the vacuum control valve 10 are close to each other, the duty ratio supplied to the exhaust proportional valve 62 is reduced. When the two values completely match, the duty ratio supplied to the proportional valve 62 becomes the bias value.
【0070】このバイアス値は、各比例弁61,62の
動作につき、パルス信号に対する不感帯をなくすために
与えられる。各比例弁61,62に不感帯があるのは、
それらの弁61,62に働く圧縮エアの面圧荷重と、弁
61,62に設けられた復帰バネの付勢力によるもので
ある。This bias value is provided for the operation of each of the proportional valves 61 and 62 in order to eliminate a dead zone for a pulse signal. The reason that each of the proportional valves 61 and 62 has a dead zone is that
This is due to the surface pressure load of the compressed air acting on the valves 61 and 62 and the urging force of the return springs provided on the valves 61 and 62.
【0071】例えば、チャンバ4Aの中の真空圧力が目
標値よりも大気圧に近い場合には、真空制御弁10の弁
体40を少し上動させてその開度を大きくする。これに
より、真空ポンプ9によりチャンバ4Aから吸引される
プロセスガスの量が多くなり、チャンバ4A内の真空圧
力の値をその目標値に一致させることができる。For example, when the vacuum pressure in the chamber 4A is closer to the atmospheric pressure than the target value, the valve body 40 of the vacuum control valve 10 is slightly moved upward to increase its opening. As a result, the amount of the process gas sucked from the chamber 4A by the vacuum pump 9 increases, and the value of the vacuum pressure in the chamber 4A can be made to match its target value.
【0072】即ち、真空圧力制御回路73は位置制御回
路57及びパルスドライブ回路58を介して給気用の比
例弁61にパルス信号を与える。これにより、その比例
弁61の弁体が弁座から離れ、真空制御弁10に対して
駆動用の圧縮エアが多く供給される。そして、ピストン
34及び弁体40が上動し、真空制御弁10の開度が大
きくなる。That is, the vacuum pressure control circuit 73 supplies a pulse signal to the air supply proportional valve 61 via the position control circuit 57 and the pulse drive circuit 58. As a result, the valve element of the proportional valve 61 is separated from the valve seat, and a large amount of compressed air for driving is supplied to the vacuum control valve 10. Then, the piston 34 and the valve body 40 move upward, and the opening of the vacuum control valve 10 increases.
【0073】ここで、給気用の比例弁61を駆動させる
だけでは、ピストン34を所定の位置に停止させること
はできない。ピストン34が動き過ぎることがあるから
である。本実施の形態では、ピストン41が動き過ぎた
とき、排気用の比例弁62により、真空制御弁10に供
給される圧縮エアを低減させる。この結果、ピストン3
4を迅速かつ正確に所定の位置に停止させることができ
る。即ち、真空制御弁10を開度をその目標値に正確に
調整することができる。Here, the piston 34 cannot be stopped at a predetermined position simply by driving the proportional valve 61 for air supply. This is because the piston 34 may move too much. In the present embodiment, when the piston 41 moves excessively, the compressed air supplied to the vacuum control valve 10 is reduced by the proportional valve 62 for exhaust. As a result, the piston 3
4 can be quickly and accurately stopped at a predetermined position. That is, the opening of the vacuum control valve 10 can be accurately adjusted to its target value.
【0074】一方、例えば、チャンバ4Aの中の真空圧
力が目標値より絶対真空に近い場合には、弁体40を少
し下方へ移動させる。これにより、真空制御弁10の開
度を小さくし、真空ポンプ19により吸引されるチャン
バ4Aの中のプロセスガスの量を少なくする。これによ
り、真空チャンバ11の中の真空圧力をその目標値に一
致させることができる。On the other hand, for example, when the vacuum pressure in the chamber 4A is closer to the absolute vacuum than the target value, the valve body 40 is moved slightly downward. Thus, the opening degree of the vacuum control valve 10 is reduced, and the amount of the process gas in the chamber 4A sucked by the vacuum pump 19 is reduced. Thereby, the vacuum pressure in the vacuum chamber 11 can be made to coincide with the target value.
【0075】即ち、真空圧力制御回路73は位置制御回
路57及びパルスドライブ回路58を介して排気用の比
例弁62にパルス信号を与える。これにより、その比例
弁62の弁体を弁座から離間させ、真空制御弁10の加
圧室33bに対するエアの供給を停止させ、加圧室33
bからの排気を増やす。この結果、真空制御弁10のピ
ストン34及び弁体40が下方へ移動し、真空制御弁1
0の開度が小さくなる。That is, the vacuum pressure control circuit 73 supplies a pulse signal to the exhaust proportional valve 62 via the position control circuit 57 and the pulse drive circuit 58. As a result, the valve element of the proportional valve 62 is separated from the valve seat, and the supply of air to the pressurizing chamber 33b of the vacuum control valve 10 is stopped.
Increase exhaust from b. As a result, the piston 34 and the valve body 40 of the vacuum control valve 10 move downward, and the vacuum control valve 1
The opening degree of 0 becomes small.
【0076】ここで、排気用の比例弁62を駆動させる
だけでは、真空制御弁10のピストン34を所定の位置
に正確に停止させることは困難である。ピストン34が
動き過ぎることがあるからである。本実施の形態では、
ピストン34が動き過ぎたときに、真空制御弁10に供
給される圧縮エアが給気用の比例弁61により増大され
ることから、ピストン34を迅速かつ正確に所定の位置
に停止させることができる。これにより、真空制御弁1
0の開度をその目標値に迅速かつ正確に調整することが
できる。Here, it is difficult to accurately stop the piston 34 of the vacuum control valve 10 at a predetermined position only by driving the proportional valve 62 for exhaust. This is because the piston 34 may move too much. In the present embodiment,
When the piston 34 moves excessively, the compressed air supplied to the vacuum control valve 10 is increased by the proportional valve 61 for air supply, so that the piston 34 can be quickly and accurately stopped at a predetermined position. . Thereby, the vacuum control valve 1
The opening of 0 can be quickly and accurately adjusted to its target value.
【0077】以上説明したように、この実施の形態で
は、個々のチャンバ4A〜4Eに対応する真空圧力制御
システムにおいて、真空ポンプ9が作動すると、チャン
バ4A〜4Eの中のプロセスガスが吸引され、チャンバ
4A〜4Eの中が真空となる。ここで、真空制御弁10
の開度が変わると、チャンバ4A〜4Eから真空ポンプ
9へ吸引されるプロセスガスの量が調整され、チャンバ
4A〜4Eの中の真空圧力が変わる。この真空圧力は圧
力センサ25により検出され、コントローラ51へ送ら
れる。As described above, in this embodiment, in the vacuum pressure control system corresponding to each of the chambers 4A to 4E, when the vacuum pump 9 operates, the process gas in the chambers 4A to 4E is sucked. The inside of the chambers 4A to 4E is evacuated. Here, the vacuum control valve 10
Is changed, the amount of process gas sucked from the chambers 4A to 4E to the vacuum pump 9 is adjusted, and the vacuum pressure in the chambers 4A to 4E is changed. This vacuum pressure is detected by the pressure sensor 25 and sent to the controller 51.
【0078】コントローラ51は、チャンバ4A〜4E
の中の真空圧力が所定の目標値となるように、検出され
る真空圧力に基づいて空気圧制御部52を制御すること
により、真空制御弁10の開度を調整する。ここで、真
空制御弁10の開度は、その弁体40をパイロット弁3
1により移動させて、弁座45と弁体40(ステンレス
弁体44)のテーパ面44aとの間の隙間の大きさを変
えることにより変えられる。弁体40を移動させるため
に、パイロット弁31の加圧室33bには、第1及び第
2の電磁弁54,55及び電空比例弁56により調整さ
れる圧縮エア(圧力)が供給される。コントローラ51
は、両電磁弁54,55及び電空比例弁56を制御する
ことにより、パイロット弁31の加圧室33bに供給さ
れる圧縮エアを調整する。これにより、真空制御弁10
の弁体40が移動され、その開度が変わり、チャンバ4
A〜4Eの中の真空圧力がその目標値に調整される。The controller 51 includes the chambers 4A to 4E
The opening degree of the vacuum control valve 10 is adjusted by controlling the air pressure control unit 52 based on the detected vacuum pressure so that the vacuum pressure in the inside becomes a predetermined target value. Here, the opening degree of the vacuum control valve 10 is determined by setting the valve body 40 to the pilot valve 3.
1 to change the size of the gap between the valve seat 45 and the tapered surface 44a of the valve body 40 (stainless valve body 44). In order to move the valve element 40, compressed air (pressure) adjusted by the first and second solenoid valves 54 and 55 and the electropneumatic proportional valve 56 is supplied to the pressurizing chamber 33b of the pilot valve 31. . Controller 51
Controls the compressed air supplied to the pressurizing chamber 33b of the pilot valve 31 by controlling the solenoid valves 54 and 55 and the electropneumatic proportional valve 56. Thereby, the vacuum control valve 10
Of the valve body 40 is moved, and the opening degree of the valve body 40 is changed.
The vacuum pressure in A-4E is adjusted to its target value.
【0079】この実施の態様では、真空制御弁10の開
度を調整するために使用される両電磁弁54,55が、
パイロット弁31の加圧室33bに供給された圧縮エア
を同室33bから速やかに逃がすための急速排気弁とし
て作動する。そのために、コントローラ51は両電磁弁
54,55を制御する。In this embodiment, the two solenoid valves 54 and 55 used to adjust the opening of the vacuum control valve 10 are
The pilot valve 31 operates as a rapid exhaust valve for quickly releasing the compressed air supplied to the pressurizing chamber 33b from the pilot chamber 31b. For this purpose, the controller 51 controls both the solenoid valves 54 and 55.
【0080】従って、ここで、パイロット弁31の加圧
室33bに圧縮エアが供給されて真空制御弁10がある
程度開いているとする。このとき、チャンバ4A〜4E
の中を高い真空圧力から低い真空圧力へ調整するため
に、コントローラ51は両電磁弁54,55を制御した
とする。これにより、加圧室33bから圧縮エアが速や
かに逃がされ、真空制御弁10の弁体40が速やかに移
動し、その開度が速やかに減少する。これにより、チャ
ンバ4A〜4Eの中から真空ポンプ9へ吸引されるプロ
セスガス量が速やかに減少し、チャンバ4A〜4Eの中
の真空圧力が速やかに低減する。このため、チャンバ4
A〜4Eの中を高い真空圧力から低い真空圧力へ調整す
るために要する時間を短くすることができる。Therefore, it is assumed here that compressed air is supplied to the pressurizing chamber 33b of the pilot valve 31 and the vacuum control valve 10 is opened to some extent. At this time, the chambers 4A to 4E
It is assumed that the controller 51 controls both the solenoid valves 54 and 55 in order to adjust the inside of the device from a high vacuum pressure to a low vacuum pressure. As a result, the compressed air is quickly released from the pressurizing chamber 33b, the valve body 40 of the vacuum control valve 10 moves quickly, and the opening thereof is rapidly reduced. As a result, the amount of process gas sucked from the chambers 4A to 4E to the vacuum pump 9 decreases quickly, and the vacuum pressure in the chambers 4A to 4E decreases quickly. For this reason, chamber 4
The time required for adjusting the inside of A to 4E from a high vacuum pressure to a low vacuum pressure can be shortened.
【0081】特に、この実施の形態では、真空制御弁1
0を全開状態からそれよりも小さい任意の開度、或いは
全閉状態にすることにより、チャンバ4A〜4Eの中の
真空圧力を所定の目標値に近づけるために、コントロー
ラ51は第1及び第2の制御を連続的に実行する。In particular, in this embodiment, the vacuum control valve 1
In order to bring the vacuum pressure in the chambers 4A to 4E closer to a predetermined target value by changing 0 from a fully open state to an arbitrary opening degree smaller than that or a fully closed state, the controller 51 performs the first and second operations. Is continuously executed.
【0082】例えば、図12に示すように、真空制御弁
10が全開状態にあるとき、コントローラ51は第1の
制御を実行する。即ち、時刻t1において、コントロー
ラ51は第1の電磁弁54をオフしたまま、第2の電磁
弁55をオンからオフへ切り替える。これにより、両電
磁弁54,55を急速排気弁として作動させる。その
後、コントローラ51は第2の制御を実行する。即ち、
時刻t2において、コントローラ51はポテンショメー
タ37により計測される開度が所定の基準値Ropに達
したとき、第2の電磁弁55をオフしたまま、第1の電
磁弁54をオンする。併せて、コントローラ51は電空
比例弁56をオンし、同弁56の両比例弁61,62を
制御する。ここで、所定の基準値Ropとは、真空圧力
を目標圧力Tvpに最短の時間で到達させるための最適
な弁開度を意味する。つまり、真空圧力を目標圧力Tv
pにするための弁開度を予めコントローラ51のCPU
に記憶させておき、それを基準値Ropとする。そし
て、実際の動作では、弁開度が基準値Ropになったと
き、真空比例弁56の制御に素早く切り換える。図12
に示す基準値Ropは、予めコントローラ51に入力し
て記憶させるか、学習機能によりコントローラ51のC
PUに判断させるかにより設定される。For example, as shown in FIG. 12, when the vacuum control valve 10 is fully open, the controller 51 executes the first control. That is, at time t1, the controller 51 switches the second solenoid valve 55 from on to off while the first solenoid valve 54 is off. As a result, both solenoid valves 54 and 55 are operated as quick exhaust valves. After that, the controller 51 executes the second control. That is,
At time t2, when the opening measured by the potentiometer 37 reaches the predetermined reference value Rop, the controller 51 turns on the first solenoid valve 54 while keeping the second solenoid valve 55 off. At the same time, the controller 51 turns on the electropneumatic proportional valve 56 and controls the two proportional valves 61 and 62 of the valve 56. Here, the predetermined reference value Rop means an optimum valve opening for making the vacuum pressure reach the target pressure Tvp in the shortest time. That is, the vacuum pressure is reduced to the target pressure Tv.
The valve opening degree for setting to p is determined in advance by the CPU of the controller 51.
And it is set as a reference value Rop. Then, in the actual operation, when the valve opening reaches the reference value Rop, the control is quickly switched to the control of the vacuum proportional valve 56. FIG.
Is input to the controller 51 in advance and stored, or the C value of the controller 51 is
This is set depending on whether the PU makes a judgment.
【0083】従って、第1の制御において、パイロット
弁31の加圧室33bから圧縮エアが速やかに逃がさ
れ、図12の時刻t1〜t2に示すように、真空制御弁
10の開度が急速に減少する。これにより、チャンバ4
A〜4Eから真空ポンプ9へ向かう吸引空気の流れが速
やかに遮断され、チャンバ4A〜4Eから真空ポンプ9
へ吸引されるプロセスガス量が速やかに減少し、チャン
バ4A〜4Eの中の真空圧力が速やかに低減する。その
後、第2の制御においては、ポテンショメータ37の計
測値が所定の基準開度Ropに達すると、電空比例弁5
6が制御される。これにより、パイロット弁31の加圧
室33bに供給される圧縮エアが微妙に調整され、真空
制御弁10の開度が微妙に調整される。これにより、チ
ャンバ4A〜4Eの中の真空圧力が更に調整され、図1
2に時刻t3に示すように、やがて所定の目標圧力Tv
pに収束する。この結果、真空制御弁10の応答性を高
めることができ、真空圧力の調整に要する時間を短縮す
ることができる。Therefore, in the first control, the compressed air is quickly released from the pressurizing chamber 33b of the pilot valve 31, and the opening degree of the vacuum control valve 10 is rapidly increased as shown from time t1 to t2 in FIG. To decrease. Thereby, the chamber 4
The flow of the suction air from A to 4E to the vacuum pump 9 is quickly shut off, and the vacuum pump 9 is removed from the chambers 4A to 4E.
The amount of process gas sucked into the chamber quickly decreases, and the vacuum pressure in the chambers 4A to 4E rapidly decreases. Thereafter, in the second control, when the measured value of the potentiometer 37 reaches a predetermined reference opening Rop, the electropneumatic proportional valve 5
6 is controlled. Thereby, the compressed air supplied to the pressurizing chamber 33b of the pilot valve 31 is finely adjusted, and the opening of the vacuum control valve 10 is finely adjusted. Thereby, the vacuum pressure in the chambers 4A to 4E is further adjusted, and FIG.
2, at time t3, the predetermined target pressure Tv
converges to p. As a result, the responsiveness of the vacuum control valve 10 can be improved, and the time required for adjusting the vacuum pressure can be reduced.
【0084】このことから、複数のチャンバ4A〜4E
のそれぞれにおいて、1枚のウエハ2を順次に処理する
ようにした枚葉装置1において、各チャンバ4A〜4E
での一連の工程に要するタクト時間を短縮することがで
き、同装置1の工程能力を向上させることができる。From this, the plurality of chambers 4A to 4E
In the single-wafer apparatus 1 configured to sequentially process one wafer 2 in each of the chambers 4A to 4E
Can reduce the tact time required for a series of steps in the process, and can improve the process capability of the apparatus 1.
【0085】この実施の形態によれば、パイロット弁3
1において、ピストン34がベロフラム38を介してシ
リンダ33のシリンダ室内壁に固定される。このため、
ピストン34とシリンダ室内壁との間に生じる移動抵抗
が小さくなる。従って、シリンダ室内壁に対してピスト
ン34の移動と停止がそれぞれ容易になり、その位置調
節が円滑に行われることになる。このため、シリンダ室
内壁とピストン34との間で発生するスティックスリッ
プが少なくなる。加えて、ピストン34を高い応答性と
正確な位置精度をもって移動させることができる。この
意味で、真空制御弁10の開度を応答性良く、かつ高精
度に調整することができる。ひいては、チャンバ4A〜
4Eの中の真空圧力を、その目標圧力Tvpに対して応
答性良く、かつ精度良く調整することができる。According to this embodiment, the pilot valve 3
In 1, the piston 34 is fixed to the cylinder interior wall of the cylinder 33 via the bellow ram 38. For this reason,
The movement resistance generated between the piston 34 and the inner wall of the cylinder is reduced. Therefore, the movement and the stop of the piston 34 with respect to the cylinder chamber inner wall are respectively facilitated, and the position adjustment is smoothly performed. Therefore, stick-slip occurring between the cylinder chamber inner wall and the piston 34 is reduced. In addition, the piston 34 can be moved with high responsiveness and accurate positional accuracy. In this sense, the opening degree of the vacuum control valve 10 can be adjusted with high responsiveness and high accuracy. Eventually, chamber 4A ~
The vacuum pressure in 4E can be adjusted with high responsiveness and high accuracy to the target pressure Tvp.
【0086】この意味で、チャンバ4A〜4Eの中を、
大気圧に近い低い真空圧力から高い真空圧力まで広い範
囲にわたって精度良く調整することを可能になる。特
に、低い真空圧力の範囲において、チャンバ4A〜4E
の中の真空圧力を微妙に調整することが可能になる。In this sense, inside the chambers 4A to 4E,
It is possible to accurately adjust over a wide range from a low vacuum pressure close to the atmospheric pressure to a high vacuum pressure. Particularly, in the range of low vacuum pressure, the chambers 4A to 4E
It is possible to finely adjust the vacuum pressure in the inside.
【0087】この実施の形態では、一つの真空制御シス
テムにおいて、単に一つの真空制御弁10を設けるだけ
で、一つのチャンバ4A〜4Eの中の真空圧力を調整す
るようにしている。従って、従来のシステムとは異な
り、真空圧力を調整するために別途にバイパス弁等を設
ける必要がない。この意味で、一つの真空制御システム
につき、その全体をコンパクト化することが可能にな
り、製造上のコストダウンを図ることが可能になる。In this embodiment, in one vacuum control system, only one vacuum control valve 10 is provided to adjust the vacuum pressure in one of the chambers 4A to 4E. Therefore, unlike the conventional system, it is not necessary to separately provide a bypass valve or the like for adjusting the vacuum pressure. In this sense, it is possible to make the entire vacuum control system compact and to reduce manufacturing costs.
【0088】この実施の形態では、急速排気弁を構成す
る第1及び第2の電磁弁54,55が、コントローラ5
1からの切り替え信号を受けて作動する。これにより、
電空比例弁56、圧縮エアの供給源又は排気管に対する
パイロット弁31の練通が切り替えられ、パイロット弁
31の加圧室33bに対する圧縮エアの供給、排出が調
整される。特に、この実施の形態では、本システムに特
別な急速排気弁を設けることなく、両電磁弁54,55
が急速排気弁として兼用される。即ち、両電磁弁54,
55は、加圧室33bから圧縮エアを排出するだけのた
めに使用されるのではなく、加圧室33bに対して圧縮
エアを供給するためにも使用されるのである。この意味
でも、本システムを構成するための部品・部材の数を減
らすことができ、本システムのコンパクト化を図ること
が可能になる。In this embodiment, the first and second solenoid valves 54 and 55 constituting the quick exhaust valve are controlled by the controller 5.
It operates in response to a switching signal from the control unit 1. This allows
The flow of the pilot valve 31 to the electropneumatic proportional valve 56, the supply source of the compressed air or the exhaust pipe is switched, and the supply and discharge of the compressed air to the pressurizing chamber 33b of the pilot valve 31 are adjusted. In particular, in this embodiment, the solenoid valves 54 and 55 are provided without providing a special quick exhaust valve in the system.
Is also used as a quick exhaust valve. That is, both solenoid valves 54,
55 is used not only for discharging compressed air from the pressurizing chamber 33b but also for supplying compressed air to the pressurizing chamber 33b. Also in this sense, the number of parts and members for configuring the present system can be reduced, and the system can be made more compact.
【0089】この実施の形態では、電空比例弁56を構
成する給気用の比例弁61及び排気用の比例弁62がそ
れぞれコントローラ51からのパルス信号を受け、その
パルス周波数に応じた時間間隔をもって開閉動作する。
これにより、パイロット弁31の加圧室33bに供給さ
れる圧縮エア、加圧室33bから排気管へ逃がされる圧
縮エアが調整される。In this embodiment, a proportional valve 61 for air supply and a proportional valve 62 for exhaust constituting the electropneumatic proportional valve 56 each receive a pulse signal from the controller 51 and receive a time interval corresponding to the pulse frequency. Open / close operation with.
Thereby, the compressed air supplied to the pressurizing chamber 33b of the pilot valve 31 and the compressed air released from the pressurizing chamber 33b to the exhaust pipe are adjusted.
【0090】従って、両比例弁61,62を同時に並行
に使用することが可能となり、加圧室33bに対する圧
縮エアの調整を微妙に行うことができる。この結果、真
空制御弁10の開度、ひいてはチャンバ4A〜4Eの中
の真空圧力を微妙に調整することが可能になる。この意
味で、上記第1及び第2の制御による真空圧力の調整を
一層円滑なものにすることができる。Therefore, the two proportional valves 61 and 62 can be used simultaneously in parallel, and the compressed air for the pressurizing chamber 33b can be finely adjusted. As a result, the degree of opening of the vacuum control valve 10 and thus the vacuum pressure in the chambers 4A to 4E can be finely adjusted. In this sense, the adjustment of the vacuum pressure by the first and second controls can be further smoothly performed.
【0091】尚、この発明は上記実施の形態に限定され
るものではなく、発明の趣旨を逸脱しない範囲で以下の
ように実施することができる。The present invention is not limited to the above embodiment, but can be implemented as follows without departing from the spirit of the invention.
【0092】(1)前記実施の形態では、開度センサと
してポテンショメータ37を使用したが、開度センサと
して、磁気リニアスケール、光学リニアスケール又はロ
ータリーエンコーダを使用することもできる。(1) Although the potentiometer 37 is used as the opening sensor in the above embodiment, a magnetic linear scale, an optical linear scale, or a rotary encoder can be used as the opening sensor.
【0093】(2)前記実施の形態では、コントローラ
51は圧力センサ25の検出値を電空比例弁56の制御
に適用することにより、真空圧力の制御を行った。これ
に対し、圧力センサ25の検出値に、その微分要素を反
映させることにより、真空圧力に関するフィードフォワ
ード制御を行うようにしてもよい。この制御によれば、
チャンバ4A〜4Eの中の真空圧力をその目標値に対
し、オーバーシュートすることなく調整することが可能
になる。(2) In the above embodiment, the controller 51 controls the vacuum pressure by applying the detection value of the pressure sensor 25 to the control of the electropneumatic proportional valve 56. On the other hand, the feedforward control relating to the vacuum pressure may be performed by reflecting the differential element in the detection value of the pressure sensor 25. According to this control,
The vacuum pressure in the chambers 4A to 4E can be adjusted to the target value without overshooting.
【0094】(3)前記実施の形態では、電空比例弁5
6として給気用の電磁弁と排気用の電磁弁とを組み合わ
せたもの(EV弁)を用いているが、ノズルフラッパー
タイプの比例弁を用いても同様である。(3) In the above embodiment, the electropneumatic proportional valve 5
A combination of an electromagnetic valve for supplying air and a solenoid valve for exhausting (EV valve) is used as 6, but the same applies when a proportional valve of a nozzle flapper type is used.
【0095】[0095]
【発明の効果】上記請求項1に記載の第1の発明では、
一つの真空制御弁の開度を調整することにより、真空容
器内の真空圧力を調整する。真空制御弁の開度を調整す
るために、サーボ弁の制御によりパイロット弁に供給さ
れる気体圧力を調整する。更に、急速排気弁を制御する
ことにより、パイロット弁から気体圧力を速やかに逃が
すようにしている。従って、パイロット弁に気体圧力が
供給されて真空制御弁が開いているときに、急速排気弁
を制御することにより、パイロット弁から気体圧力が速
やかに逃がされ、真空制御弁の開度が速やかに減少し、
真空容器内の真空圧力が速やかに低減する。このため、
真空容器内を高い真空圧力から低い真空圧力へ調整する
ために要する時間を短くすることができ、しかもシステ
ム全体をコンパクトにすることができるという効果を発
揮する。According to the first aspect of the present invention,
By adjusting the opening of one vacuum control valve, the vacuum pressure in the vacuum vessel is adjusted. In order to adjust the opening of the vacuum control valve, the gas pressure supplied to the pilot valve is adjusted by controlling the servo valve. Further, by controlling the quick exhaust valve, the gas pressure is quickly released from the pilot valve. Therefore, when the gas pressure is supplied to the pilot valve and the vacuum control valve is open, by controlling the quick exhaust valve, the gas pressure is quickly released from the pilot valve, and the opening degree of the vacuum control valve is rapidly increased. Decrease to
The vacuum pressure in the vacuum vessel decreases quickly. For this reason,
The time required for adjusting the inside of the vacuum vessel from a high vacuum pressure to a low vacuum pressure can be shortened, and the whole system can be made compact.
【0096】上記請求項2に記載の第2の発明では、第
1の発明の構成とは異なり、真空制御弁の開度を変えて
真空容器内の真空圧力を速やかに所定値に近づけるため
に、最初に急速排気弁を作動させてパイロット弁から気
体圧力を速やかに逃がし、続いて真空制御弁の開度が所
定値に達した後に、サーボ弁を制御して真空圧力を調整
するようにしている。このため、真空容器内を高い真空
圧力から低い真空圧力へ調整する際、その調整に要する
時間を短くすることができ、しかもシステム全体をコン
パクトにすることができるという効果を発揮する。併せ
て、真空圧力を目標とする値に精度良く調整することが
できるという効果を発揮する。According to the second aspect of the present invention, unlike the configuration of the first aspect, in order to quickly bring the vacuum pressure in the vacuum vessel close to a predetermined value by changing the opening of the vacuum control valve. First, the quick exhaust valve is operated to quickly release the gas pressure from the pilot valve, and then, after the opening of the vacuum control valve reaches a predetermined value, the servo valve is controlled to adjust the vacuum pressure. I have. For this reason, when adjusting the inside of a vacuum container from a high vacuum pressure to a low vacuum pressure, the time required for the adjustment can be shortened, and further, the whole system can be made compact. At the same time, the vacuum pressure can be adjusted to a target value with high accuracy.
【0097】上記請求項3に記載の第3の発明では、第
1又は第2の発明の構成において、中空状のシリンダ室
内を移動するピストンと、内周端部がピストンに固定さ
れ、外周端部がシリンダ室内壁に固定されたベロフラム
とを含むパイロット弁を設けている。従って、第1又は
第2の発明の作用及び効果に加え、パイロット弁のシリ
ンダ室内壁に対してピストンの移動・停止及び位置調節
が容易になる。これにより、真空容器内の真空圧力を目
標値に精度良く調整することをできという効果を発揮す
る。According to the third aspect of the present invention, in the configuration of the first or second aspect, the piston moving in the hollow cylinder chamber, the inner peripheral end is fixed to the piston, and the outer peripheral end is fixed to the piston. The pilot valve includes a bellows part fixed to the inner wall of the cylinder chamber. Therefore, in addition to the functions and effects of the first or second invention, the movement / stop and position adjustment of the piston with respect to the inner wall of the cylinder of the pilot valve are facilitated. As a result, the effect that the vacuum pressure in the vacuum vessel can be accurately adjusted to the target value is exhibited.
【0098】上記請求項4に記載の第4の発明では、第
1乃至第3の発明のいずれか一つの構成において、サー
ボ弁又は第2の電磁弁に対するパイロット弁の連通を切
り替える第1の電磁弁と、気体圧力の供給源又は気体圧
力を逃がす排気管に対する第1の電磁弁の連通を切り替
える第2の電磁弁との少なくとも一つに切り替え信号を
供給することにより、急速排気弁を作動させるようにし
ている。従って、第1乃至第3の発明のいずれか一つの
作用及び効果に加え、サーボ弁、供給源又は排気管に対
するパイロット弁の練通が切り替えられ、パイロット弁
に対する気体圧力の供給、排出が調整される。これによ
り、パイロット弁に対する気体圧力の供給を可能とする
電磁弁を急速排気弁として兼用することができるという
効果を発揮する。According to a fourth aspect of the present invention, in any one of the first to third aspects of the present invention, the first electromagnetic switch for switching the communication of the pilot valve with the servo valve or the second electromagnetic valve. Activating the quick exhaust valve by supplying a switching signal to at least one of the valve and a second electromagnetic valve that switches communication of the first electromagnetic valve to a gas pressure supply source or an exhaust pipe that releases the gas pressure. Like that. Therefore, in addition to the function and effect of any one of the first to third aspects, the passage of the pilot valve to the servo valve, the supply source or the exhaust pipe is switched, and the supply and discharge of the gas pressure to the pilot valve are adjusted. You. Thus, an effect that an electromagnetic valve capable of supplying gas pressure to the pilot valve can be used also as a rapid exhaust valve can be achieved.
【0099】上記請求項5に記載の第5の発明は、第1
乃至第4の発明のいずれか一つの構成において、パイロ
ット弁と気体圧力の供給源との間に接続された給気用の
電磁弁と、パイロット弁と気体圧力を逃がすための排気
管との間に接続された排気用の電磁弁とをサーボ弁の構
成要素とし、それらの電磁弁に対してパルス信号を供給
するようにしている。従って、第1乃至第4の発明のい
ずれか一つの作用及び効果に加え、各電磁弁によりパイ
ロット弁に対する気体圧力の供給、パイロット弁からの
気体圧力の排出がそれぞれ調整される。これにより、パ
イロット弁に供給される気体圧力を微妙に調整すること
ができ、真空制御弁による真空圧力の調整を微妙に行う
ことができるという効果を発揮する。The fifth invention according to claim 5 is the first invention.
In any one of the fourth to fourth aspects of the invention, the air supply solenoid valve connected between the pilot valve and the gas pressure supply source and the pilot valve and an exhaust pipe for releasing the gas pressure are connected. And a solenoid valve for exhaust connected to the solenoid valve are configured as components of the servo valve, and a pulse signal is supplied to these solenoid valves. Therefore, in addition to the operation and effect of any one of the first to fourth inventions, the supply of gas pressure to the pilot valve and the discharge of gas pressure from the pilot valve are adjusted by the respective solenoid valves. Thereby, the gas pressure supplied to the pilot valve can be finely adjusted, and an effect that the vacuum pressure can be finely adjusted by the vacuum control valve is exhibited.
【図1】本発明を具体化した一実施の形態に係り、真空
圧力制御システムの制御構成を示すブロック図である。FIG. 1 is a block diagram showing a control configuration of a vacuum pressure control system according to an embodiment of the present invention.
【図2】電空比例弁の構成を示すブロック図である。FIG. 2 is a block diagram showing a configuration of an electropneumatic proportional valve.
【図3】半導体製造用の枚葉装置の構成を示す概略構成
図である。FIG. 3 is a schematic configuration diagram illustrating a configuration of a single-wafer apparatus for manufacturing a semiconductor.
【図4】枚葉装置の一つのチャンバに対応して設けられ
た真空圧力制御システムを示す概略構成図である。FIG. 4 is a schematic configuration diagram showing a vacuum pressure control system provided corresponding to one chamber of the single-wafer apparatus.
【図5】閉じられたときの真空制御弁を示す断面図であ
る。FIG. 5 is a cross-sectional view showing the vacuum control valve when closed.
【図6】開かれたときの真空制御弁を示す断面図であ
る。FIG. 6 is a sectional view showing the vacuum control valve when opened.
【図7】ポペット弁の作用を示す断面図である。FIG. 7 is a sectional view showing the operation of the poppet valve.
【図8】同じくポペット弁の作用を示す断面図である。FIG. 8 is a sectional view showing the operation of the poppet valve.
【図9】第1及び第2の電磁弁、並びに電空比例弁の作
用を示すブロック図である。FIG. 9 is a block diagram showing the operation of the first and second solenoid valves and the electropneumatic proportional valve.
【図10】同じく第1及び第2の電磁弁、並びに電空比
例弁の作用を示すブロック図である。FIG. 10 is a block diagram showing the operation of first and second solenoid valves and an electropneumatic proportional valve.
【図11】同じく第1及び第2の電磁弁、並びに電空比
例弁の作用を示すブロック図である。FIG. 11 is a block diagram showing the operation of the first and second solenoid valves and the electropneumatic proportional valve.
【図12】第1及び第2の電磁弁、電空比例弁、真空制
御弁並びに真空圧力の挙動を示すタイムチャートであ
る。FIG. 12 is a time chart showing behaviors of first and second solenoid valves, an electropneumatic proportional valve, a vacuum control valve, and a vacuum pressure.
【図13】従来の真空圧力制御システムを示す概略構成
図である。FIG. 13 is a schematic configuration diagram showing a conventional vacuum pressure control system.
4A〜4E 真空チャンバ 7,8 配管 9 真空ポンプ 10 真空制御弁 25 圧力センサ 31 パイロット弁 33 空気圧シリンダ 33a 大気室 33b 加圧室 31 ピストン 38 ベロフラム 40 弁体 44 ステンレス弁体 44a テーパ面 45 弁座 51 コントローラ 54 第1の電磁弁 55 第2の電磁弁 56 電空比例弁 61 給気用の比例弁 62 排気用の比例弁 4A to 4E Vacuum chamber 7, 8 Piping 9 Vacuum pump 10 Vacuum control valve 25 Pressure sensor 31 Pilot valve 33 Pneumatic cylinder 33a Atmospheric chamber 33b Pressurizing chamber 31 Piston 38 Bellofram 40 Valve body 44 Stainless steel valve body 44a Tapered surface 45 Valve seat 51 Controller 54 First solenoid valve 55 Second solenoid valve 56 Electropneumatic proportional valve 61 Proportional valve for air supply 62 Proportional valve for exhaust
Claims (5)
たガスを吸引するための真空ポンプと、前記真空容器と
前記真空ポンプとを接続するための配管と、前記配管上
に設けられて自身の開度を変化させることにより前記真
空容器内の真空圧力を変化させるようにした真空制御弁
と、前記真空容器内の真空圧力を検出するための圧力セ
ンサと、前記真空容器内の真空圧力が所定値となるよう
に、前記検出される真空圧力に基づいて前記真空制御弁
の開度を制御するための制御装置とを有する真空圧力制
御システムにおいて、 前記真空制御弁は弁体、弁座及びパイロット弁を有し、
前記弁体はその外周に先細りのテーパ面を含み、その弁
体が前記弁座の孔の中心軸線に沿って移動することによ
り、前記弁座と前記テーパ面との間の隙間の大きさが変
わり前記真空制御弁の開度が変わるものであり、前記パ
イロット弁には、前記弁体を移動させるためにサーボ弁
により調整される気体圧力が供給されることと、 前記制御装置は、前記真空制御弁の開度を変えることに
より前記真空圧力を前記所定値に調整するために、前記
サーボ弁を制御することにより前記パイロット弁に供給
される気体圧力を調整することと、 前記パイロット弁に供給された気体圧力を同弁から速や
かに逃がすために作動する急速排気弁と、 前記制御装置は、前記パイロット弁から気体圧力を速や
かに逃がすことにより前記真空制御弁の開度を速やかに
減少させるために、前記急速排気弁を制御することとを
備えたことを特徴とする真空圧力制御システム。A vacuum vessel, a vacuum pump for sucking a gas supplied into the vacuum vessel, a pipe for connecting the vacuum vessel and the vacuum pump, and a pipe provided on the pipe. A vacuum control valve configured to change the vacuum pressure in the vacuum vessel by changing its own opening degree, a pressure sensor for detecting the vacuum pressure in the vacuum vessel, and a vacuum pressure in the vacuum vessel. A control device for controlling the opening degree of the vacuum control valve based on the detected vacuum pressure so that a predetermined value is obtained. And a pilot valve,
The valve body includes a tapered surface that is tapered on its outer periphery, and the size of the gap between the valve seat and the tapered surface is reduced by the valve body moving along the central axis of the hole of the valve seat. The opening degree of the vacuum control valve changes, and the pilot valve is supplied with a gas pressure adjusted by a servo valve to move the valve body. Adjusting the gas pressure supplied to the pilot valve by controlling the servo valve to adjust the vacuum pressure to the predetermined value by changing the opening of the control valve; A quick exhaust valve that operates to quickly release the gas pressure from the valve, and the control device quickly releases the gas pressure from the pilot valve to quickly open the vacuum control valve. To make small of the vacuum pressure control system is characterized in that a controlling of the quick exhaust valve.
たガスを吸引するための真空ポンプと、前記真空容器と
前記真空ポンプとを接続するための配管と、前記配管上
に設けられて自身の開度を変化させることにより前記真
空容器内の真空圧力を変化させるようにした真空制御弁
と、前記真空容器内の真空圧力を検出するための圧力セ
ンサと、前記真空容器内の真空圧力が所定値となるよう
に、前記検出される真空圧力に基づいて前記真空制御弁
の開度を制御するための制御装置とを有する真空圧力制
御システムにおいて、 前記真空制御弁は弁体、弁座及びパイロット弁を有し、
前記弁体はその外周に先細りのテーパ面を含み、その弁
体が前記弁座の孔の中心軸線に沿って移動することによ
り、前記弁座と前記テーパ面との間の隙間の大きさが変
わり前記真空制御弁の開度が変わるものであり、前記パ
イロット弁には、前記弁体を移動させるためにサーボ弁
により調整される気体圧力が供給されることと、 前記パイロット弁に供給された気体圧力を同弁から速や
かに逃がすために作動する急速排気弁と、 前記真空制御弁の開度を検出するための開度センサと、 前記制御装置は、前記真空制御弁の開度を変えることに
より前記真空圧力を前記所定値に速やかに近づけるため
に、第1の制御及び第2の制御を連続的に実行するもの
であり、前記第1の制御は、前記パイロット弁に供給さ
れた気体圧力を同弁から速やかに逃がすために前記急速
排気弁を作動させることであり、前記第2の制御は、前
記検出される開度が所定値に達したときに、前記真空圧
力を前記所定値に調整するために前記サーボ弁を制御す
ることであることとを備えたことを特徴とする真空圧力
制御システム。2. A vacuum vessel, a vacuum pump for sucking a gas supplied into the vacuum vessel, a pipe for connecting the vacuum vessel and the vacuum pump, and a pipe provided on the pipe. A vacuum control valve configured to change the vacuum pressure in the vacuum vessel by changing its own opening degree, a pressure sensor for detecting the vacuum pressure in the vacuum vessel, and a vacuum pressure in the vacuum vessel. A control device for controlling the opening degree of the vacuum control valve based on the detected vacuum pressure so that a predetermined value is obtained. And a pilot valve,
The valve body includes a tapered surface that is tapered on its outer periphery, and the size of the gap between the valve seat and the tapered surface is reduced by the valve body moving along the central axis of the hole of the valve seat. The opening degree of the vacuum control valve is changed, and the pilot valve is supplied with a gas pressure adjusted by a servo valve to move the valve element, and supplied to the pilot valve. A quick exhaust valve that operates to quickly release gas pressure from the valve; an opening sensor for detecting an opening of the vacuum control valve; and the control device changes an opening of the vacuum control valve. The first control and the second control are continuously performed in order to quickly bring the vacuum pressure closer to the predetermined value, and the first control is based on the gas pressure supplied to the pilot valve. Quickly escaped from the valve Operating the quick exhaust valve in order to adjust the vacuum pressure to the predetermined value when the detected opening degree reaches a predetermined value. Controlling a valve.
ムにおいて、 前記パイロット弁は、中空状のシリンダ室と、前記シリ
ンダ室内を移動するピストンと、内周端部が前記ピスト
ンに固定され、外周端部が前記シリンダ室の内壁に固定
されたベロフラムとを含むことを特徴とする真空圧力制
御システム。3. The system according to claim 1, wherein the pilot valve has a hollow cylinder chamber, a piston moving in the cylinder chamber, and an inner peripheral end fixed to the piston. A vacuum pressure control system, wherein an outer peripheral end portion includes a bellofram fixed to an inner wall of the cylinder chamber.
記載するシステムにおいて、 前記急速排気弁は、通電により選択的に開閉動作する第
1の電磁弁及び第2の電磁弁を有し、前記第1の電磁弁
は前記サーボ弁又は前記第2の電磁弁に対する前記パイ
ロット弁の連通を切り替え、前記第2の電磁弁は前記気
体圧力の供給源又は前記気体圧力を逃がす排気管に対す
る前記第1の電磁弁の連通を切り替えることと、 前記制御装置は、前記急速排気弁を作動させるために、
前記第1の電磁弁及び前記第2の電磁弁の少なくとも一
つに切り替え信号を供給することとを含むことを特徴と
する真空圧力制御システム。4. The system according to claim 1, wherein the quick exhaust valve has a first solenoid valve and a second solenoid valve that selectively open and close when energized. The first solenoid valve switches the communication of the pilot valve to the servo valve or the second solenoid valve, and the second solenoid valve is connected to a supply source of the gas pressure or an exhaust pipe for releasing the gas pressure. Switching communication of the first solenoid valve; and the control device operates the quick exhaust valve,
Supplying a switching signal to at least one of the first solenoid valve and the second solenoid valve.
記載するシステムにおいて、 前記サーボ弁は、パルス周波数に応じた時間間隔をもっ
て開閉動作するものであり、前記気体圧力のための供給
源と前記パイロット弁との間に接続された給気用の電磁
弁と、前記気体圧力を逃がすための排気管と前記パイロ
ット弁との間に接続された排気用の電磁弁とを有するこ
とと、 前記制御装置は、前記給気用の電磁弁及び前記排気用の
電磁弁に対してパルス信号を供給することにより、前記
真空制御弁の開度を制御することとを含むことを特徴と
する真空圧力制御システム。5. The system according to claim 1, wherein the servo valve opens and closes at a time interval according to a pulse frequency, and supplies the gas for the gas pressure. Having a solenoid valve for air supply connected between a source and the pilot valve, and a solenoid valve for exhaust gas connected between the exhaust pipe and the pilot valve for releasing the gas pressure; Wherein the control device controls an opening degree of the vacuum control valve by supplying a pulse signal to the air supply solenoid valve and the exhaust solenoid valve. Vacuum pressure control system.
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP06450297A JP3330839B2 (en) | 1997-03-18 | 1997-03-18 | Vacuum pressure control system |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP06450297A JP3330839B2 (en) | 1997-03-18 | 1997-03-18 | Vacuum pressure control system |
Related Child Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP12838599A Division JPH11347395A (en) | 1999-05-10 | 1999-05-10 | Vacuum pressure control system |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPH10252942A true JPH10252942A (en) | 1998-09-22 |
JP3330839B2 JP3330839B2 (en) | 2002-09-30 |
Family
ID=13260051
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP06450297A Expired - Lifetime JP3330839B2 (en) | 1997-03-18 | 1997-03-18 | Vacuum pressure control system |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JP3330839B2 (en) |
Cited By (13)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2000161236A (en) * | 1998-12-01 | 2000-06-13 | Ckd Corp | Vacuum pressure control system |
WO2001003162A1 (en) * | 1999-06-30 | 2001-01-11 | Koninklijke Philips Electronics N.V. | Low-pressure apparatus and pressure control valve |
KR20010007092A (en) * | 1999-06-17 | 2001-01-26 | 가부시키가이샤 벤칸 | Flow control valve |
JP2003241841A (en) * | 2002-02-20 | 2003-08-29 | Ckd Corp | Vacuum pressure control system and controller therefor |
WO2004079243A1 (en) * | 2003-03-07 | 2004-09-16 | Ckd Corporation | Flow control valve |
US6877715B2 (en) | 2002-04-18 | 2005-04-12 | Smc Kabushiki Kaisha | Vacuum regulating valve |
JP2008226978A (en) * | 2007-03-09 | 2008-09-25 | Fuji Mach Mfg Co Ltd | Part mounting machine |
US7527768B2 (en) * | 2004-08-26 | 2009-05-05 | Musashi Engineering Inc. | Liquid dispenser with vacuum control |
JP2010067992A (en) * | 2003-06-02 | 2010-03-25 | Tokyo Electron Ltd | Substrate processing apparatus and substrate transfer method |
KR101004121B1 (en) | 2008-04-04 | 2010-12-27 | 가부시키가이샤 히다치 하이테크놀로지즈 | Vacuum processing device |
CN108194677A (en) * | 2018-02-27 | 2018-06-22 | 苏州欧纳克纳米科技有限公司 | A kind of vacuum pressure control valve |
CN113740552A (en) * | 2021-09-03 | 2021-12-03 | 中国工程物理研究院材料研究所 | Sampling system with gas distribution function |
CN116520902A (en) * | 2023-06-28 | 2023-08-01 | 盛吉盛半导体科技(北京)有限公司 | Control method and equipment for pressure of semiconductor chamber with magnetic suspension device |
Families Citing this family (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US9920857B2 (en) | 2013-10-30 | 2018-03-20 | Fujikin Incorporated | Vacuum valve |
-
1997
- 1997-03-18 JP JP06450297A patent/JP3330839B2/en not_active Expired - Lifetime
Cited By (18)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2000161236A (en) * | 1998-12-01 | 2000-06-13 | Ckd Corp | Vacuum pressure control system |
KR20010007092A (en) * | 1999-06-17 | 2001-01-26 | 가부시키가이샤 벤칸 | Flow control valve |
KR100743276B1 (en) * | 1999-06-30 | 2007-07-26 | 코닌클리즈케 필립스 일렉트로닉스 엔.브이. | Low-pressure apparatus and pressure control valve |
WO2001003162A1 (en) * | 1999-06-30 | 2001-01-11 | Koninklijke Philips Electronics N.V. | Low-pressure apparatus and pressure control valve |
US6464791B1 (en) | 1999-06-30 | 2002-10-15 | Koninkijke Philips Electronics N.V. | Low-pressure apparatus for carrying out steps in the manufacture of a device, a method of manufacturing a device making use of such an apparatus, and a pressure control valve |
JP2003241841A (en) * | 2002-02-20 | 2003-08-29 | Ckd Corp | Vacuum pressure control system and controller therefor |
US6877715B2 (en) | 2002-04-18 | 2005-04-12 | Smc Kabushiki Kaisha | Vacuum regulating valve |
US7090190B2 (en) | 2003-03-07 | 2006-08-15 | Ckd Corporation | Flow control valve |
WO2004079243A1 (en) * | 2003-03-07 | 2004-09-16 | Ckd Corporation | Flow control valve |
JP2010067992A (en) * | 2003-06-02 | 2010-03-25 | Tokyo Electron Ltd | Substrate processing apparatus and substrate transfer method |
US7527768B2 (en) * | 2004-08-26 | 2009-05-05 | Musashi Engineering Inc. | Liquid dispenser with vacuum control |
JP2008226978A (en) * | 2007-03-09 | 2008-09-25 | Fuji Mach Mfg Co Ltd | Part mounting machine |
KR101004121B1 (en) | 2008-04-04 | 2010-12-27 | 가부시키가이샤 히다치 하이테크놀로지즈 | Vacuum processing device |
CN108194677A (en) * | 2018-02-27 | 2018-06-22 | 苏州欧纳克纳米科技有限公司 | A kind of vacuum pressure control valve |
CN113740552A (en) * | 2021-09-03 | 2021-12-03 | 中国工程物理研究院材料研究所 | Sampling system with gas distribution function |
CN113740552B (en) * | 2021-09-03 | 2023-08-22 | 中国工程物理研究院材料研究所 | Sample injection system with gas distribution function |
CN116520902A (en) * | 2023-06-28 | 2023-08-01 | 盛吉盛半导体科技(北京)有限公司 | Control method and equipment for pressure of semiconductor chamber with magnetic suspension device |
CN116520902B (en) * | 2023-06-28 | 2023-09-08 | 盛吉盛半导体科技(北京)有限公司 | Control method and equipment for pressure of semiconductor chamber with magnetic suspension device |
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
JP3330839B2 (en) | 2002-09-30 |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
JP3330839B2 (en) | Vacuum pressure control system | |
JP3619032B2 (en) | Vacuum pressure control valve | |
US6202681B1 (en) | Vacuum pressure control system | |
US7032882B2 (en) | Valve assembly having novel flow characteristics | |
KR101001611B1 (en) | Vacuum pressure control system | |
US6289737B1 (en) | Vacuum pressure control system | |
US20050253100A1 (en) | Flow control valve | |
US5224841A (en) | Pneumatic bellows pump with supported bellows tube | |
JP2007146908A (en) | Vacuum pressure adjusting system | |
JPH11347395A (en) | Vacuum pressure control system | |
JP2009252953A (en) | Vacuum processing apparatus | |
KR20220154238A (en) | slit valve pneumatic control | |
JP2004318895A (en) | Proportional pressure regulator having positive and negative pressure delivery capability | |
JP2006195733A (en) | Vacuum pressure control system | |
JP3590030B2 (en) | Vacuum pressure control system and controller | |
JP3606753B2 (en) | Vacuum pressure control valve | |
JP2021501993A (en) | Extended vacuum process open loop control | |
JP2624943B2 (en) | Vacuum pressure control system | |
KR102361473B1 (en) | Unit for supplying liquid and apparatus and method for treating a substrate with the unit | |
JP3239972B2 (en) | Valve device with emergency shut-off function for vacuum heat treatment furnace and heat treatment device | |
JP4247576B2 (en) | Exhaust valve | |
JP3237732B2 (en) | Variable opening valve device and heat treatment device for vacuum heat treatment furnace | |
JP2006155133A (en) | Flow rate control valve | |
JP3777311B2 (en) | Vacuum pressure control valve | |
US20030010450A1 (en) | Input/output valve switching apparatus of semiconductor manufacturing system |
Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20080719 Year of fee payment: 6 |
|
FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20090719 Year of fee payment: 7 |
|
FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20090719 Year of fee payment: 7 |
|
FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20100719 Year of fee payment: 8 |
|
FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20110719 Year of fee payment: 9 |
|
FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20120719 Year of fee payment: 10 |
|
FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20120719 Year of fee payment: 10 |
|
FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20130719 Year of fee payment: 11 |
|
FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20130719 Year of fee payment: 11 |
|
FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20140719 Year of fee payment: 12 |
|
EXPY | Cancellation because of completion of term |