JPH10228031A - Thin film transistor array substrate - Google Patents

Thin film transistor array substrate

Info

Publication number
JPH10228031A
JPH10228031A JP3011497A JP3011497A JPH10228031A JP H10228031 A JPH10228031 A JP H10228031A JP 3011497 A JP3011497 A JP 3011497A JP 3011497 A JP3011497 A JP 3011497A JP H10228031 A JPH10228031 A JP H10228031A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
wiring
electrode
source
array substrate
drain
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Pending
Application number
JP3011497A
Other languages
Japanese (ja)
Inventor
Akio Nakayama
明男 中山
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Advanced Display Inc
Original Assignee
Advanced Display Inc
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Advanced Display Inc filed Critical Advanced Display Inc
Priority to JP3011497A priority Critical patent/JPH10228031A/en
Publication of JPH10228031A publication Critical patent/JPH10228031A/en
Pending legal-status Critical Current

Links

Landscapes

  • Liquid Crystal (AREA)
  • Thin Film Transistor (AREA)

Abstract

PROBLEM TO BE SOLVED: To obtain the thin film transistor(TFT) array substrate which is reducible in the capacity formed by a drain electrode and a gate wire and therefore made small in hold capacity, and improved in aperture rate. SOLUTION: This TFT array substrate has a wire part, connecting a source electrode 9 of a TFT from a source wire 4, formed partially or entire on a gate wire 3, the source electrode 9 of the TFT is so formed as to form a channel shape together with part of the source wire 4, and the drain electrode 7 of the TFT is formed while surrounded with the source electrode 9; and the drain electrode 7 and a pixel electrode 6 are connected in the corresponding pixel and a space which is large enough to disconnect the drain electrode 7 and pixel electrode 6 by a laser is left at the periphery of the drain wire 11.

Description

【発明の詳細な説明】DETAILED DESCRIPTION OF THE INVENTION

【0001】[0001]

【発明の属する技術分野】この発明は、マトリクス型表
示装置に用いられる、薄膜トランジスタアレイ基板に関
するものである。
[0001] 1. Field of the Invention [0002] The present invention relates to a thin film transistor array substrate used for a matrix type display device.

【0002】[0002]

【従来の技術】マトリクス型表示装置は、通常、薄膜ト
ランジスタ(以下、TFTという)などが設けられた薄
膜トランジスタアレイ基板(以下、TFTアレイ基板と
いう)とカラーフィルタ及びブラックマトリクス等が設
けられた対向基板の2枚の基板の間に液晶などの表示材
料が挟持され、この表示材料に選択的に電圧が印加され
るように構成されている。TFTアレイ基板において
は、図2の等価回路に示すように、画素をマトリクス状
に配置する。
2. Description of the Related Art Generally, a matrix type display device comprises a thin film transistor array substrate (hereinafter, referred to as a TFT array substrate) provided with thin film transistors (hereinafter, referred to as TFTs) and a counter substrate provided with a color filter, a black matrix, and the like. A display material such as a liquid crystal is sandwiched between two substrates, and a voltage is selectively applied to the display material. In the TFT array substrate, pixels are arranged in a matrix as shown in the equivalent circuit of FIG.

【0003】図2は、従来のTFTアレイ基板の等価回
路を示す図である。図において、G1、G2、G3は走
査信号線、S1、S2、S3は映像信号線、Cs1、C
s2、Cs3は保持容量形成用のCs配線である。1は
走査信号線G1、G2、G3と映像信号線S1、S2、
S3の交点に配置されたTFT、2はTFT1とCs配
線Cs1、Cs2、Cs3との間に配置された保持容量
(以下Cs容量という)である。図3は、従来のTFT
アレイ基板の画素を示す図である。図において、3は走
査信号線であるゲート配線、4は映像信号線であるソー
ス配線、5は保持容量形成用のCs配線、6はITO等
の透明電極で形成された画素電極、7はドレイン電極、
8はアモルファスシリコン、9はソース電極である。ゲ
ート配線3、アモルファスシリコン8、ドレイン電極
7、ソース電極9によってTFTが形成される。10は
ソース配線4とTFTのソース電極9とを接続する配線
で、レーザで切断するためのスペースを有している。
FIG. 2 is a diagram showing an equivalent circuit of a conventional TFT array substrate. In the figure, G1, G2, and G3 are scanning signal lines, S1, S2, and S3 are video signal lines, Cs1 and Cs.
s2 and Cs3 are Cs wirings for forming a storage capacitor. 1 denotes scanning signal lines G1, G2, G3 and video signal lines S1, S2,
The TFT 2 disposed at the intersection of S3 is a storage capacitor (hereinafter referred to as Cs capacitance) disposed between the TFT 1 and the Cs wirings Cs1, Cs2, Cs3. FIG. 3 shows a conventional TFT
FIG. 3 is a diagram showing pixels on an array substrate. In the figure, 3 is a gate wiring which is a scanning signal line, 4 is a source wiring which is a video signal line, 5 is a Cs wiring for forming a storage capacitor, 6 is a pixel electrode formed of a transparent electrode such as ITO, and 7 is a drain. electrode,
8 is amorphous silicon and 9 is a source electrode. A TFT is formed by the gate wiring 3, the amorphous silicon 8, the drain electrode 7, and the source electrode 9. Reference numeral 10 denotes a wiring connecting the source wiring 4 and the source electrode 9 of the TFT, and has a space for cutting with a laser.

【0004】このように構成された従来のTFTアレイ
基板においては、TFT1はスイッチング素子として画
素電極6への電荷の充放電を制御する。TFT1のオン
とオフは、走査信号線G1〜G3をゲート電極として、
実施する。画素電極6は、TFT1を介して、映像信号
線S1〜S3と接続され、映像信号の信号レベルの大小
により、画素電極6に充電される電荷量が変化し、画素
電極6の電位が設定される。画素電極6と、対向電極間
の電圧に応じて、液晶の変化量が変わり、裏面からの透
過光量を変える。従って、映像信号線S1〜S3の信号
レベルを制御することで、光学的信号変化を制御し、映
像として表示している。映像の品質を高めるためには、
映像信号線S1〜S3等の信号レベルの変化による画素
電位の変動をできるだけ小さくする必要があり、画素電
極にCs容量2を設けて、画素の総容量を大きくしてい
る。Cs容量2は、対向電極と同電位のCs配線Cs1
〜Cs3と画素電極の間に絶縁膜を設けて形成する。こ
のような従来のTFTアレイ基板において、異物等によ
り、画素電極6と他の配線間にリーク源が存在し、充電
した電荷が失われ、画素の特性に異常がある場合は、画
素電極6をTFT部ごとソース配線8からレーザを用い
て切り離していた。この切断は図3に示すように、隣接
する画素内に、ソース配線4と、TFTのソース電極9
を接続する配線10を設け、レーザで切断するためのス
ペースを取って、実施していた。
In the conventional TFT array substrate configured as described above, the TFT 1 functions as a switching element to control charging and discharging of the pixel electrode 6. The TFT 1 is turned on and off by using the scanning signal lines G1 to G3 as gate electrodes.
carry out. The pixel electrode 6 is connected to the video signal lines S1 to S3 via the TFT1, and the amount of charge charged in the pixel electrode 6 changes depending on the level of the video signal, and the potential of the pixel electrode 6 is set. You. The amount of change in the liquid crystal changes according to the voltage between the pixel electrode 6 and the counter electrode, and the amount of light transmitted from the back surface changes. Therefore, by controlling the signal levels of the video signal lines S1 to S3, the optical signal change is controlled and displayed as a video. To improve the quality of the video,
It is necessary to minimize variations in pixel potential due to changes in signal levels of the video signal lines S1 to S3 and the like, and the total capacitance of pixels is increased by providing a Cs capacitor 2 in the pixel electrode. The Cs capacitance 2 is a Cs wiring Cs1 having the same potential as the counter electrode.
To Cs3 and a pixel electrode. In such a conventional TFT array substrate, when a leak source exists between the pixel electrode 6 and another wiring due to foreign matter or the like, the charged electric charge is lost, and the pixel characteristic is abnormal, the pixel electrode 6 is removed. The TFT portion is separated from the source wiring 8 using a laser. This cutting is performed, as shown in FIG. 3, in the adjacent pixels, the source wiring 4 and the source electrode 9 of the TFT.
Are provided, and a space for cutting by laser is provided.

【0005】[0005]

【発明が解決しようとする課題】[Problems to be solved by the invention]

(1)従来のTFTアレイ基板では、1つの画素電極6
に他の配線と短絡するようなリーク源があり、画素電極
6をソース配線4から切り離す場合、配線の切断部を隣
接する画素内に設けていたため、切断用のスペースが必
要となり、隣接する画素のCs配線5及び画素電極6
を、このスペースを避けてレイアウトすることとなり、
Cs配線5及び画素電極6は、図3のように曲がってい
た。したがって、Cs配線5の長さは、直線形状の場合
に比べ長くなり、抵抗増加の原因となっていた。また、
画素電極6についても、十分ソース配線4に近づけてレ
イアウトできなかったため、開口率を下げる一因となっ
ていた。
(1) In the conventional TFT array substrate, one pixel electrode 6
In the case where the pixel electrode 6 is separated from the source wiring 4 when the pixel electrode 6 is separated from the source wiring 4, a space for cutting is required in the adjacent pixel. Wiring 5 and pixel electrode 6
Will be laid out avoiding this space,
The Cs wiring 5 and the pixel electrode 6 were bent as shown in FIG. Therefore, the length of the Cs wiring 5 is longer than that of the straight line, which causes an increase in resistance. Also,
The pixel electrode 6 could not be laid out sufficiently close to the source wiring 4, which was one of the causes for lowering the aperture ratio.

【0006】(2)また、TFT部においては、アモル
ファスシリコン8上にソースコンタクト部と、ドレイン
コンタクト部が、図3のように平行に配置されているた
め、ソースコンタクト部と、ドレインコンタクト部は、
同一の長さが必要となり、ドレインコンタクト部と、ゲ
ート配線3で形成される容量Cgdが大きくなる潜在的
原因となっていた。容量Cgdが存在することにより、
ゲート配線3の信号が変化する際に、画素電極6の電位
が容量Cgdによるカップリングで変動する。この変動
量は、容量Cgdが大きい程大きく、変動量を小さくす
るためには、Cs容量を大きくする必要があるため、C
s配線5を大きくしなければならず、従って開口率が小
さくなるという問題があった。
(2) In the TFT portion, the source contact portion and the drain contact portion are arranged in parallel on the amorphous silicon 8 as shown in FIG. ,
The same length is required, which is a potential cause of an increase in the capacitance Cgd formed by the drain contact portion and the gate wiring 3. Due to the presence of the capacitance Cgd,
When the signal of the gate line 3 changes, the potential of the pixel electrode 6 changes due to the coupling by the capacitance Cgd. This fluctuation amount increases as the capacitance Cgd increases. To reduce the fluctuation amount, it is necessary to increase the Cs capacitance.
There is a problem that the s-wiring 5 must be increased, and therefore the aperture ratio decreases.

【0007】この発明は、このような従来の課題を解決
するためになされたもので、保持容量配線の抵抗及びゲ
ート配線とドレイン電極とで形成される容量を小さくす
る画素のパターンレイアウトを提供し、開口率の高いT
FTアレイ基板を得ることを目的とするものである。
The present invention has been made to solve such a conventional problem, and provides a pixel pattern layout that reduces the resistance of a storage capacitor line and the capacitance formed by a gate line and a drain electrode. , High aperture ratio T
It is intended to obtain an FT array substrate.

【0008】[0008]

【課題を解決するための手段】この発明に係わる薄膜ト
ランジスタアレイ基板においては、ゲート配線上に形成
されると共に、ソース配線に接続され、少なくともソー
ス配線と平行な部分を有するソース電極と、ソース配線
とソース電極のソース配線と平行な部分との間に配置さ
れ、一部がゲート配線上に形成されたドレイン電極と、
このドレイン電極と画素電極とを接続すると共に一部に
切断可能部を有するドレイン配線を備えたものである。
また、ドレイン電極は、ソース配線と平行に配置されて
いるものである。また、ドレイン電極は、ドレイン電極
と平行に配置されたソース電極及びソース配線とこのソ
ース電極とソース配線を結ぶソース電極によって囲まれ
ているものである。
In a thin film transistor array substrate according to the present invention, a source electrode formed on a gate wiring and connected to a source wiring and having at least a portion parallel to the source wiring; A drain electrode which is disposed between a portion of the source electrode parallel to the source wiring and a part of which is formed on the gate wiring;
A drain wiring is provided which connects the drain electrode and the pixel electrode and has a part which can be cut.
The drain electrode is arranged in parallel with the source wiring. The drain electrode is surrounded by a source electrode and a source wiring arranged in parallel with the drain electrode and a source electrode connecting the source electrode and the source wiring.

【0009】さらに、ドレイン配線の幅は、ドレイン電
極とこれに平行なソース配線及びソース電極の各対向間
隔の和より大きいものである。また、ドレイン配線の切
断可能部の周りには、画素電極が配置されていないもの
である。また、ゲート配線と平行に配置され、一部が絶
縁膜を介して画素電極と重なるように形成された保持容
量配線を備えたものである。さらにまた、保持容量配線
は、直線状に形成されているものである。
Further, the width of the drain wiring is larger than the sum of the opposing intervals of the drain electrode, the source wiring parallel thereto and the source electrode. Further, no pixel electrode is arranged around the cuttable portion of the drain wiring. Further, a storage capacitor wiring is provided in parallel with the gate wiring and partially formed so as to overlap the pixel electrode via the insulating film. Furthermore, the storage capacitor wiring is formed linearly.

【0010】[0010]

【発明の実施の形態】BEST MODE FOR CARRYING OUT THE INVENTION

実施の形態1.この発明の実施の形態1について、図1
を用いて説明する。図1は、この発明の実施の形態1に
よるTFTアレイ基板の画素を示す図である。図におい
て、3〜9は上記従来装置と同一のものであり、その説
明を省略する。11はドレイン電極7と画素電極6を接
続するドレイン配線で、レーザ切断できるスペースを有
している。図1において、ソース配線4とTFTのソー
ス電極9を接続する配線部は、その一部もしくは全部を
ゲート配線3上に、ソース配線4の一部とともに、コの
字もしくはUの字型に形成されてTFTのソース電極9
を形成する。TFTのドレイン電極7は、ソース電極9
に囲まれるように形成され、ドレイン電極7と画素電極
6は自画素内に配置されるドレイン配線11によって接
続される。ドレイン配線11の幅は、TFTのチャネル
幅即ちドレイン電極とこれに平行なソース配線及びソー
ス電極の各対向間隔の和よりも大きく、ドレイン配線1
1の周囲には、ドレイン電極7と、画素電極6をレーザ
で切断できるスペースを有している。
Embodiment 1 FIG. FIG. 1 shows Embodiment 1 of the present invention.
This will be described with reference to FIG. FIG. 1 is a diagram showing pixels on a TFT array substrate according to Embodiment 1 of the present invention. In the figure, reference numerals 3 to 9 are the same as those of the above-described conventional apparatus, and the description thereof is omitted. Reference numeral 11 denotes a drain wiring connecting the drain electrode 7 and the pixel electrode 6, and has a space that can be cut by laser. In FIG. 1, a part or the whole of a wiring part connecting the source wiring 4 and the source electrode 9 of the TFT is formed in a U-shape or a U-shape together with a part of the source wiring 4 on the gate wiring 3. The source electrode 9 of the TFT
To form The drain electrode 7 of the TFT is a source electrode 9
, And the drain electrode 7 and the pixel electrode 6 are connected by the drain wiring 11 arranged in the own pixel. The width of the drain wiring 11 is larger than the channel width of the TFT, that is, the sum of the drain electrode and the source wiring parallel to the drain electrode and the opposing intervals of the source electrode.
1 has a space where the drain electrode 7 and the pixel electrode 6 can be cut by laser.

【0011】このように構成されたTFTアレイ基板に
おいては、異物等により、画素電極6と他の配線間にリ
ーク源が存在して、充電した電荷が失われ、画素の特性
に異常がある場合は、ドレイン配線11をレーザで切断
して、当該画素を切り離す。また、ドレイン電極7とゲ
ート配線3との重なり部が小さく、従ってドレインコン
タクト部とゲート配線3で形成される容量Cgdを小さ
くすることができ、このためCs容量を小さく形成して
もよく、ひいては開口率を大きくすることができる。ま
た、Cs配線5を直線状に形成することができ、従来と
同一の配線抵抗を得るのに、配線幅が小さくてもよいた
め、開口率を向上させることができる。このように、T
FTアレイ基板における画素の開口率を向上させること
ができるので、TFTアレイ基板を使用したマトリクス
型表示装置において、消費電力を低減できるという効果
がある。
In the TFT array substrate configured as described above, when a leak source exists between the pixel electrode 6 and another wiring due to a foreign substance or the like, the charged charge is lost, and the characteristics of the pixel are abnormal. Cuts the drain wiring 11 with a laser to separate the pixel. Further, the overlapping portion between the drain electrode 7 and the gate wiring 3 is small, and therefore, the capacitance Cgd formed by the drain contact part and the gate wiring 3 can be reduced. Therefore, the Cs capacitance may be reduced. The aperture ratio can be increased. Further, the Cs wiring 5 can be formed in a straight line, and the wiring width may be small in order to obtain the same wiring resistance as in the related art, so that the aperture ratio can be improved. Thus, T
Since the aperture ratio of the pixels in the FT array substrate can be improved, there is an effect that power consumption can be reduced in a matrix display device using the TFT array substrate.

【0012】[0012]

【発明の効果】この発明は、以上説明したように構成さ
れているので、以下に示すような効果を奏する。ゲート
配線上に形成されると共に、ソース配線に接続され、少
なくともソース配線と平行な部分を有するソース電極
と、ソース配線とソース電極のソース配線と平行な部分
との間に配置され、一部がゲート配線上に形成されたド
レイン電極と、このドレイン電極と画素電極とを接続す
ると共に一部に切断可能部を有するドレイン配線を備
え、ソース配線とソース電極との間にドレイン電極を配
置するので、短いドレイン電極長でチャネル幅を確保で
き、ドレイン電極とゲート配線とで形成される容量を低
減でき、このため保持容量も小さくできて開口率を向上
させるると共に、切断可能部も得られる。また、ドレイ
ン電極は、ソース配線と平行に配置されているので、ド
レイン電極とゲート配線とで形成される容量を一層小さ
くでき、したがって保持容量も小さくすることができ
る。
Since the present invention is configured as described above, it has the following effects. A source electrode formed over the gate wiring and connected to the source wiring and having at least a portion parallel to the source wiring, and disposed between the source wiring and a portion of the source electrode parallel to the source wiring, and part of the source electrode is parallel to the source wiring. A drain electrode formed on the gate wiring, a drain wiring connecting the drain electrode and the pixel electrode and partially having a cutable portion are provided, and the drain electrode is arranged between the source wiring and the source electrode. In addition, the channel width can be secured with a short drain electrode length, and the capacity formed by the drain electrode and the gate wiring can be reduced. Therefore, the storage capacity can be reduced, the aperture ratio can be improved, and a cuttable portion can be obtained. Further, since the drain electrode is arranged in parallel with the source wiring, the capacity formed by the drain electrode and the gate wiring can be further reduced, and the storage capacity can be reduced.

【0013】さらに、ドレイン配線の幅は、ドレイン電
極とこれに平行なソース配線及びソース電極の各対向間
隔の和より十分小さいので、切断スペースを確保するこ
とができる。また、ドレイン配線の切断可能部の周りに
は、画素電極が配置されていないので、切断スペースを
確保することができる。さらにまた、保持容量配線は、
直線状に形成されているので、保持容量配線の幅を小さ
くできるため、開口率を向上させることができる。
Further, the width of the drain wiring is sufficiently smaller than the sum of the opposing intervals of the drain electrode, the source wiring parallel to the drain electrode, and the source electrode, so that a cutting space can be secured. Further, since no pixel electrode is arranged around the cuttable portion of the drain wiring, a cutting space can be secured. Furthermore, the storage capacitor wiring is
Since it is formed in a straight line, the width of the storage capacitor wiring can be reduced, so that the aperture ratio can be improved.

【図面の簡単な説明】[Brief description of the drawings]

【図1】 この発明の実施の形態によるTFTアレイ基
板の画素を示す図である。
FIG. 1 is a diagram showing pixels on a TFT array substrate according to an embodiment of the present invention.

【図2】 従来のTFTアレイ基板の等価回路を示す図
である。
FIG. 2 is a diagram showing an equivalent circuit of a conventional TFT array substrate.

【図3】 従来のTFTアレイ基板の画素を示す図であ
る。
FIG. 3 is a diagram showing pixels on a conventional TFT array substrate.

【符号の説明】[Explanation of symbols]

1 薄膜トランジスタ(TFT)、2 保持容量(Cs
容量)、3 ゲート配線、4 ソース配線、5 Cs配
線、6 画素電極、7 ドレイン電極、9 ソース電
極、11 ドレイン配線。
1 thin film transistor (TFT), 2 storage capacitor (Cs
Capacity), 3 gate wires, 4 source wires, 5 Cs wires, 6 pixel electrodes, 7 drain electrodes, 9 source electrodes, 11 drain wires.

Claims (7)

【特許請求の範囲】[Claims] 【請求項1】 複数のソース配線と複数のゲート配線と
の交点に配置された薄膜トランジスタとこの薄膜トラン
ジスタに接続された画素電極とを有する薄膜トランジス
タアレイ基板において、上記ゲート配線上に形成される
と共に、上記ソース配線に接続され、少なくともソース
配線と平行な部分を有するソース電極、上記ソース配線
とこれに平行な上記ソース電極との間に配置され、一部
が上記ゲート配線上に形成されたドレイン電極、このド
レイン電極と上記画素電極とを接続すると共に一部に切
断可能部を有するドレイン配線を備えたことを特徴とす
る薄膜トランジスタアレイ基板。
A thin film transistor array substrate having thin film transistors disposed at intersections of a plurality of source wirings and a plurality of gate wirings, and a pixel electrode connected to the thin film transistors; A source electrode connected to the source wiring and having at least a portion parallel to the source wiring, a drain electrode disposed between the source wiring and the source electrode parallel to the source wiring and partially formed on the gate wiring; A thin-film transistor array substrate, comprising: a drain wiring connecting the drain electrode and the pixel electrode and having a part that can be cut.
【請求項2】 ドレイン電極は、ソース配線と平行に配
置されていることを特徴とする請求項1記載の薄膜トラ
ンジスタアレイ基板。
2. The thin film transistor array substrate according to claim 1, wherein the drain electrode is arranged in parallel with the source wiring.
【請求項3】 ドレイン電極は、ドレイン電極と平行に
配置されたソース電極及びソース配線と上記ソース電極
とソース配線を結ぶソース電極によって囲まれているこ
とを特徴とする請求項1記載の薄膜トランジスタアレイ
基板。
3. The thin film transistor array according to claim 1, wherein the drain electrode is surrounded by a source electrode and a source wiring disposed in parallel with the drain electrode and a source electrode connecting the source electrode and the source wiring. substrate.
【請求項4】 ドレイン配線の幅は、ドレイン電極とこ
れに平行なソース配線及びソース電極の各対向間隔の和
より大きいことを特徴とする請求項1〜請求項3のいず
れか一項記載の薄膜トランジスタアレイ基板。
4. The method according to claim 1, wherein the width of the drain wiring is larger than the sum of the distance between the drain electrode, the source wiring parallel to the drain electrode, and the facing electrode. Thin film transistor array substrate.
【請求項5】 ドレイン配線の切断可能部の周りには、
画素電極が配置されていないことを特徴とする請求項1
〜請求項4のいずれか一項記載の薄膜トランジスタアレ
イ基板。
5. Around the cuttable portion of the drain wiring,
2. A pixel electrode is not arranged.
The thin film transistor array substrate according to claim 4.
【請求項6】 ゲート配線と平行に配置され、一部が絶
縁膜を介して画素電極と重なるように形成された保持容
量配線を備えたことを特徴とする請求項1〜請求項5の
いずれか一項記載の薄膜トランジスタアレイ基板。
6. The storage capacitor wiring according to claim 1, further comprising a storage capacitor wiring arranged in parallel with the gate wiring and partially formed so as to overlap the pixel electrode via an insulating film. 9. The thin film transistor array substrate according to claim 1.
【請求項7】 保持容量配線は、直線状に形成されてい
ることを特徴とする請求項6記載の薄膜トランジスタア
レイ基板。
7. The thin film transistor array substrate according to claim 6, wherein the storage capacitor wiring is formed in a straight line.
JP3011497A 1997-02-14 1997-02-14 Thin film transistor array substrate Pending JPH10228031A (en)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP3011497A JPH10228031A (en) 1997-02-14 1997-02-14 Thin film transistor array substrate

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP3011497A JPH10228031A (en) 1997-02-14 1997-02-14 Thin film transistor array substrate

Publications (1)

Publication Number Publication Date
JPH10228031A true JPH10228031A (en) 1998-08-25

Family

ID=12294765

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP3011497A Pending JPH10228031A (en) 1997-02-14 1997-02-14 Thin film transistor array substrate

Country Status (1)

Country Link
JP (1) JPH10228031A (en)

Cited By (8)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US6421102B2 (en) * 1998-09-21 2002-07-16 Kabushiki Kaisha Advanced Display Liquid crystal display with pixel electrodes formed in a plurality of matrix-like regions and manufacturing method thereof
US6664569B2 (en) * 2000-06-09 2003-12-16 Lg. Philips Lcd Co., Ltd. Liquid crystal display device array substrate and method of manufacturing the same
JP2005183962A (en) * 2003-12-17 2005-07-07 Lg Philips Lcd Co Ltd Thin film transistor array substrate and manufacturing method therefor
JP2007292879A (en) * 2006-04-21 2007-11-08 Hitachi Displays Ltd Liquid crystal display device
US7375778B2 (en) 2001-10-25 2008-05-20 Lg.Philips Lcd Co., Ltd. Array panel for liquid crystal display device and method of manufacturing the same
US7688392B2 (en) 2006-04-06 2010-03-30 Chunghwa Picture Tubes, Ltd. Pixel structure including a gate having an opening and an extension line between the data line and the source
US7923726B2 (en) 2005-02-11 2011-04-12 Samsung Electronics Co., Ltd. TFT substrate for display device with a semiconductor layer that extends beyond the gate electrode structure and manufacturing method of the same
WO2015114721A1 (en) * 2014-01-29 2015-08-06 株式会社Joled Image display apparatus

Cited By (10)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US6421102B2 (en) * 1998-09-21 2002-07-16 Kabushiki Kaisha Advanced Display Liquid crystal display with pixel electrodes formed in a plurality of matrix-like regions and manufacturing method thereof
US6664569B2 (en) * 2000-06-09 2003-12-16 Lg. Philips Lcd Co., Ltd. Liquid crystal display device array substrate and method of manufacturing the same
US7375778B2 (en) 2001-10-25 2008-05-20 Lg.Philips Lcd Co., Ltd. Array panel for liquid crystal display device and method of manufacturing the same
US7847892B2 (en) 2001-10-25 2010-12-07 Lg Display Co., Ltd. Array panel for liquid crystal display device with light shielding and method of manufacturing the same
JP2005183962A (en) * 2003-12-17 2005-07-07 Lg Philips Lcd Co Ltd Thin film transistor array substrate and manufacturing method therefor
US7923726B2 (en) 2005-02-11 2011-04-12 Samsung Electronics Co., Ltd. TFT substrate for display device with a semiconductor layer that extends beyond the gate electrode structure and manufacturing method of the same
US7688392B2 (en) 2006-04-06 2010-03-30 Chunghwa Picture Tubes, Ltd. Pixel structure including a gate having an opening and an extension line between the data line and the source
JP2007292879A (en) * 2006-04-21 2007-11-08 Hitachi Displays Ltd Liquid crystal display device
WO2015114721A1 (en) * 2014-01-29 2015-08-06 株式会社Joled Image display apparatus
US9761648B2 (en) 2014-01-29 2017-09-12 Joled Inc. Image display apparatus

Similar Documents

Publication Publication Date Title
KR100266189B1 (en) Amlcd panel and wiring designing method therefor
KR100209281B1 (en) Lcd and its fabrication method
US6104449A (en) Liquid crystal display device having DTFTs connected to a short ring
JP3285011B2 (en) Liquid crystal display
US6847083B2 (en) Semiconductor device, electro-optic device, and electronic instrument
KR100426980B1 (en) Electro-optical device, method for fabricating the same, and electronic apparatus
US20020003588A1 (en) Active matrix type liquid crystal display apparatus
US6781658B1 (en) Reflection type liquid crystal display device having a high aperture ratio
US6326641B1 (en) Liquid crystal display device having a high aperture ratio
TW567371B (en) Display device
US6404466B1 (en) Thin film transistor array for liquid crystal display (LCD) apparatus
JPH10228031A (en) Thin film transistor array substrate
JPH0772509A (en) Active matrix liquid crystal display element
US5058995A (en) Pixel electrode structure for liquid crystal display devices
KR100476623B1 (en) LCD Display
JP3156179B2 (en) Liquid crystal display device
EP1570311B1 (en) Active matrix display devices
KR20030091333A (en) Liquid crystal display panel and fabricating method thereof
US5739878A (en) Liquid crystal display having common electrode with portions removed at thin film transistors
JP2001119032A (en) Active-matrix type display device
JP2002297060A (en) Active matrix type display device
JPH10268356A (en) Liquid crystal display device
JPH083587B2 (en) Method for manufacturing active matrix type liquid crystal display device
JP2002297058A (en) Active matrix type display device
KR100569271B1 (en) Thin film transistor liquid crystal display