JPH10226539A - Production of glass substrate for information recording medium and production of information recording medium - Google Patents

Production of glass substrate for information recording medium and production of information recording medium

Info

Publication number
JPH10226539A
JPH10226539A JP9041512A JP4151297A JPH10226539A JP H10226539 A JPH10226539 A JP H10226539A JP 9041512 A JP9041512 A JP 9041512A JP 4151297 A JP4151297 A JP 4151297A JP H10226539 A JPH10226539 A JP H10226539A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
glass substrate
recording medium
information recording
medium according
solvent
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Granted
Application number
JP9041512A
Other languages
Japanese (ja)
Other versions
JP3023429B2 (en
Inventor
Hisayoshi Toratani
久良 虎溪
Motonobu Osakabe
基延 越阪部
Kazuaki Hashimoto
和明 橋本
Jun Ozawa
潤 小澤
Kazuhiko Maeda
和彦 前田
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Hoya Corp
Original Assignee
Hoya Corp
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Hoya Corp filed Critical Hoya Corp
Priority to JP9041512A priority Critical patent/JP3023429B2/en
Publication of JPH10226539A publication Critical patent/JPH10226539A/en
Application granted granted Critical
Publication of JP3023429B2 publication Critical patent/JP3023429B2/en
Anticipated expiration legal-status Critical
Expired - Lifetime legal-status Critical Current

Links

Landscapes

  • Manufacturing Optical Record Carriers (AREA)
  • Re-Forming, After-Treatment, Cutting And Transporting Of Glass Products (AREA)
  • Surface Treatment Of Glass (AREA)
  • Magnetic Record Carriers (AREA)
  • Optical Record Carriers And Manufacture Thereof (AREA)
  • Manufacturing Of Magnetic Record Carriers (AREA)

Abstract

PROBLEM TO BE SOLVED: To obtain a glass substrate free from defects under a film by immersing a glass substrate in a heated chemical tempering soln., chemically tempering it by ion exchange and bringing the substrate in a heated state into contact with a solvent so that the ionic bonds of salt crystals sticking on the substrate are diminished or separated by utilizing the polarity and heat energy of the solvent to remove the salt crystals. SOLUTION: A glass substrate such as an aluminosilicate glass substrate for a magnetic disk is immersed in a chemical tempering soln. (e.g. a potassium nitrate-sodium nitrate mixed soln.) heated, e.g. to 250-650 deg.C and it is chemically tempered by exchanging ions in the surface layer of the substrate for ions in the soln. The substrate in a heated state is then washed by contact with a solvent that is warm water in the temp. range from the heating temp. of the soln. to room temp., preferably at 30-100 deg.C.

Description

【発明の詳細な説明】DETAILED DESCRIPTION OF THE INVENTION

【0001】[0001]

【発明の属する技術分野】本発明は、磁気、光、光磁気
等の情報記録媒体、及びそのガラス基板の製造方法に関
する。
BACKGROUND OF THE INVENTION 1. Field of the Invention The present invention relates to a magnetic, optical, magneto-optical and other information recording medium and a method of manufacturing a glass substrate thereof.

【0002】[0002]

【従来の技術】この種の情報記録媒体のなかで、代表的
なものとして磁気ディスクがある。磁気ディスクの基板
としては、アルミニウム基板が広く用いられていたが、
磁気ディスクの小型化、薄板化や磁気ヘッドの低浮上化
の要請に伴い、アルミニウム基板に比べ小型化、薄板化
が容易で平坦度が高く磁気ヘッドの低浮上化等が容易で
あるため、ガラス基板を用いる割合が増えてきている。
2. Description of the Related Art A magnetic disk is a typical information recording medium of this type. Aluminum substrates were widely used as substrates for magnetic disks,
With the demand for smaller and thinner magnetic disks and lower flying height of magnetic heads, it is easier to reduce the size, thinner and flatness of aluminum substrates compared to aluminum substrates. The ratio of using a substrate is increasing.

【0003】このように、ガラス基板を磁気ディスク用
基板として用いる場合には、耐衝撃性や耐振動性を向上
させ衝撃や振動によって基板が破損するのを防止する目
的で、ガラス基板の表面に低温イオン交換法による化学
強化処理を施して基板を強化して使用するのが一般的で
ある。
As described above, when a glass substrate is used as a substrate for a magnetic disk, the surface of the glass substrate is used for the purpose of improving shock resistance and vibration resistance and preventing the substrate from being damaged by shock or vibration. In general, the substrate is reinforced by performing a chemical strengthening treatment by a low-temperature ion exchange method and used.

【0004】このように化学強化処理をする場合、化学
強化処理後のガラス基板には塩の結晶物が付着している
ため、洗浄処理される。従来、化学強化処理後の磁気デ
ィスク用ガラス基板の洗浄は、例えば、特開平2−28
5508号公報に記載されているように、アルカリ性洗
浄剤、純水、有機溶剤等を用いて行われている。
When the chemical strengthening process is performed as described above, the glass substrate after the chemical strengthening process is subjected to a cleaning process because salt crystals adhere to the glass substrate. Conventionally, cleaning of a glass substrate for a magnetic disk after a chemical strengthening treatment is described in, for example, JP-A-2-28.
As described in Japanese Patent No. 5508, the cleaning is performed using an alkaline cleaning agent, pure water, an organic solvent and the like.

【0005】[0005]

【発明が解決しようとする課題】ところで、磁気ディス
クの高記録密度化に伴って、磁気ディスクと磁気ヘッド
との距離(スペーシング)は、益々狭い値が要求されて
きている。したがって、磁気ディスク表面の突起の原因
となるガラス基板上の異物の完全なる除去が急務の課題
となっている。
As the recording density of the magnetic disk increases, the distance (spacing) between the magnetic disk and the magnetic head is required to be smaller. Therefore, there is an urgent need to completely remove foreign matter on the glass substrate that causes protrusions on the surface of the magnetic disk.

【0006】特に、最近では高記録密度化に伴って磁気
ヘッドも、薄膜ヘッドから磁気抵抗ヘッドに推移してき
ている。この磁気抵抗型ヘッドには、薄膜ヘッドと比較
すると更にレベルの高いガラス基板、磁気ディスクの平
坦性が要求される。これは、ガラス基板上に微小な異物
があると、これが磁気ディスク表面に反映し、磁気抵抗
型ヘッドの固有の問題であるサーマル・アスフェリティ
(磁気ディスク表面の突起によって磁気ヘッドの熱が発
生し、抵抗値を変動させ電磁変換が誤動作する現象)が
発生し、電磁変換に誤動作が起き正常な記録再生ができ
なくなるためである。従って、磁気抵抗型ヘッドの比率
が高まってきている今日において、益々ガラス基板の平
坦性に対する要請が今まで以上に高まってきている。
In particular, recently, with the increase in recording density, the magnetic head has also been changed from a thin film head to a magnetoresistive head. The magnetoresistive head is required to have a glass substrate and a flatness of the magnetic disk which are higher than those of the thin film head. This is because, when there is a minute foreign matter on the glass substrate, this is reflected on the surface of the magnetic disk, and the thermal asperity (a problem of the magnetic head due to the protrusion on the surface of the magnetic disk, This is because a phenomenon in which the resistance value fluctuates and the electromagnetic conversion malfunctions) occurs, and a malfunction occurs in the electromagnetic conversion and normal recording and reproduction cannot be performed. Therefore, today, as the ratio of the magneto-resistive head is increasing, the demand for the flatness of the glass substrate is increasing more than ever.

【0007】そして、このようなガラス基板の突起の新
たな問題は高精密研磨で研磨しても解決できない種類の
問題であることが分かった。本発明者らの鋭意究明の結
果、解決すべき真の技術的課題は「ガラス基板表面の清
浄度の管理」であることが判明した。つまり、ガラス基
板表面の精密研磨は勿論必要であるが、この精密研磨し
た表面が、薄膜を成膜するまで清浄に維持されてないこ
とが、その原因であることが判明した。
It has been found that such a new problem of the projection on the glass substrate is a problem that cannot be solved even by polishing with high precision polishing. As a result of the inventors' earnest investigation, it has been found that the real technical problem to be solved is "management of the cleanliness of the glass substrate surface". In other words, it is obvious that the precision polishing of the surface of the glass substrate is necessary, but the reason is that the surface that has been precisely polished is not kept clean until a thin film is formed.

【0008】ガラス基板の清浄度を妨げている大きな要
因の一つは、化学強化した際にガラス基板に付着する塩
の結晶物である。確かに、上述したように従来から化学
強化後には洗浄している。しかし、従来の洗浄処理で
は、一定の洗浄効果が得られるものの、ガラス基板上に
残存する塩の結晶物の完全なる除去、つまり今日的レベ
ルでの基板表面の清浄度(サブミクロン〜数ミクロンの
パーティクルが2.5インチの基板1枚あたり、0.0
02個以下)の実現が困難であった。この塩の結晶物は
ガラス基板上に積層する薄膜の剥離等の膜下欠陥を引き
起こしたり、薄膜表面に突起を形成し、これが低フライ
ングハイト化の阻害要因となる。このように塩の結晶物
はそれ自体でも問題となるが、それ以外でも、例えば、
雰囲気中に飛散する鉄分等の微小なパーティクルをガラ
ス基板に付着させるバインダーとして機能し、上述した
問題を顕著化させることになる。
[0008] One of the major factors hindering the cleanliness of the glass substrate is a salt crystal attached to the glass substrate when chemically strengthened. Certainly, as described above, cleaning is conventionally performed after chemical strengthening. However, in the conventional cleaning treatment, although a certain cleaning effect can be obtained, complete removal of salt crystals remaining on the glass substrate, that is, the cleanliness of the substrate surface at a modern level (submicron to several microns) Particles have a size of 0.0
02 or less). The crystals of the salt cause sub-film defects such as peeling of the thin film laminated on the glass substrate, and form projections on the surface of the thin film, which hinder the lowering of the flying height. As described above, the crystal of the salt is a problem by itself, but other than that, for example,
It functions as a binder for adhering minute particles such as iron scattered in the atmosphere to the glass substrate, and makes the above-mentioned problem remarkable.

【0009】本発明は上記問題点にかんがみてなされた
ものであり、ガラス基板に損傷を与えることなく、塩の
結晶物及び塩の結晶物と結合したパーティクルを効果的
に除去できる情報記録媒体用ガラス基板の製造方法及び
情報記録媒体の製造方法の提供を目的とする。他の目的
としては、膜下欠陥のない情報記録用ガラス基板を用い
ることにより、高い歩留まりで情報記録媒体を製造する
ことである。
The present invention has been made in view of the above problems, and has been made for an information recording medium capable of effectively removing salt crystals and particles bonded to the salt crystals without damaging the glass substrate. An object is to provide a method for manufacturing a glass substrate and a method for manufacturing an information recording medium. Another object is to manufacture an information recording medium with a high yield by using an information recording glass substrate having no sub-film defects.

【0010】[0010]

【課題を解決するための手段】上記目的を達成するため
に本発明者らは研究を重ねた結果、本発明の第1の構成
は、加熱した化学強化処理液にガラス基板を浸漬し、ガ
ラス基板表層のイオンを化学強化処理液中のイオンでイ
オン交換してガラス基板を化学強化する化学強化処理工
程と、前記工程で熱を付与された状態にあるガラス基板
を溶媒に接触させることにより、ガラス基板上に付着し
た塩の結晶物のイオン結合を、前記溶媒の極性と熱エネ
ルギーを利用して低減あるいは分離することにより、塩
の結晶物を洗浄する塩の結晶物洗浄工程と、を含むこと
を特徴とする情報記録媒体用ガラス基板の製造方法。
Means for Solving the Problems As a result of repeated studies by the present inventors to achieve the above object, the first constitution of the present invention is to immerse a glass substrate in a heated chemical strengthening treatment solution, By chemically exchanging ions of the substrate surface layer with ions in the chemical strengthening treatment solution and chemically strengthening the glass substrate, by contacting the glass substrate in a state where heat is applied in the above-mentioned process with a solvent, A salt crystal washing step of washing the salt crystals by reducing or separating the ionic bonds of the salt crystals attached to the glass substrate using the polarity and thermal energy of the solvent. A method for producing a glass substrate for an information recording medium, comprising:

【0011】本発明の第2の構成は、塩の結晶物洗浄工
程が化学強化処理液の加熱温度と室温との間の温度域で
行われることを特徴とする第1の構成に記載の情報記録
媒体用ガラス基板の製造方法。本発明の第3の構成は、
溶媒が30℃から100℃の温水であることを特徴とす
る第1又は第2の構成に記載の情報記録媒体用ガラス基
板の製造方法。
According to a second aspect of the present invention, there is provided the information according to the first aspect, wherein the salt crystal washing step is performed in a temperature range between the heating temperature of the chemical strengthening treatment solution and room temperature. A method for manufacturing a glass substrate for a recording medium. A third configuration of the present invention includes:
The method for producing a glass substrate for an information recording medium according to the first or second configuration, wherein the solvent is warm water at 30 ° C. to 100 ° C.

【0012】本発明の第4の発明は、温水が純水である
ことを特徴とする第3の構成の情報記録媒体用ガラス基
板。本発明の第5の構成は、第1から第4の構成におけ
る塩の結晶物洗浄工程が、物理的外力を付加することに
より洗浄力を高めたことを特徴とする情報記録媒体用ガ
ラス基板の製造方法。本発明の第6の構成は、第5の構
成における物理的外力が、溶媒に超音波を伝搬させる
か、又はスクラブ方法であることを特徴とする情報記録
媒体用ガラス基板の製造方法。
According to a fourth aspect of the present invention, there is provided a glass substrate for an information recording medium according to the third configuration, wherein the hot water is pure water. According to a fifth aspect of the present invention, there is provided a glass substrate for an information recording medium, wherein the salt crystal washing step in the first to fourth aspects enhances the detergency by applying a physical external force. Production method. According to a sixth aspect of the present invention, there is provided a method of manufacturing a glass substrate for an information recording medium, wherein the physical external force in the fifth aspect is an ultrasonic wave propagating in a solvent or a scrubbing method.

【0013】本発明の第7の構成は、化学強化処理工程
又は塩の洗浄工程の後にガラス基板の表面にアルカリイ
オン封止処理又は脱アルカリイオン処理を行うことを特
徴とする第1〜第6の何れかの構成に記載の情報記録媒
体用ガラス基板の製造方法。
A seventh configuration of the present invention is characterized in that a surface of a glass substrate is subjected to an alkali ion sealing treatment or a de-alkali ion treatment after a chemical strengthening treatment step or a salt washing step. The method for producing a glass substrate for an information recording medium according to any one of the above items.

【0014】本発明の第8の構成は、アルカリイオン封
止処理として、ガラス基板を加熱した濃硫酸に接触させ
ることを特徴とする第7の構成に記載の情報記録媒体用
ガラス基板の製造方法。
According to an eighth aspect of the present invention, there is provided a method for manufacturing a glass substrate for an information recording medium according to the seventh aspect, wherein the glass substrate is brought into contact with heated concentrated sulfuric acid as an alkali ion sealing treatment. .

【0015】本発明の第9の構成は、加熱された酸の加
熱温度が、100℃超〜300℃であることを特徴とす
る第8の構成に記載の情報記録媒体用ガラス基板の製造
方法。
According to a ninth aspect of the present invention, in the method for manufacturing a glass substrate for an information recording medium according to the eighth aspect, the heating temperature of the heated acid is more than 100 ° C. to 300 ° C. .

【0016】本発明の第10の構成は、情報記録媒体用
ガラス基板が磁気ディスク用ガラス基板であることを特
徴とする第1〜第9の構成の何れか一つに記載の情報記
録媒体用ガラス基板の製造方法。
According to a tenth aspect of the present invention, there is provided the information recording medium according to any one of the first to ninth aspects, wherein the glass substrate for the information recording medium is a glass substrate for a magnetic disk. A method for manufacturing a glass substrate.

【0017】本発明の第11の構成は、磁気ディスク用
ガラス基板が、磁気抵抗型磁気ヘッドによって電磁変換
される磁気ディスクに使用されるガラス基板であること
を特徴とする第10の構成に記載の情報記録媒体用ガラ
ス基板の製造方法。
An eleventh structure of the present invention is characterized in that the glass substrate for a magnetic disk is a glass substrate used for a magnetic disk which is electromagnetically converted by a magnetoresistive magnetic head. Of manufacturing a glass substrate for an information recording medium.

【0018】本発明の第12の構成は、第1〜第11の
構成に記載された情報記録媒体用ガラス基板の製造方法
によって製造された情報記録媒体用ガラス基板上に少な
くとも記録層を形成することを特徴とする情報記録媒体
の製造方法。
According to a twelfth aspect of the present invention, at least a recording layer is formed on an information recording medium glass substrate manufactured by the method for manufacturing an information recording medium glass substrate described in any one of the first to eleventh aspects. A method for manufacturing an information recording medium, comprising:

【0019】[0019]

【発明の実施の形態】以下、本発明を詳細に説明する。BEST MODE FOR CARRYING OUT THE INVENTION Hereinafter, the present invention will be described in detail.

【0020】本発明の磁気ディスク用ガラス基板の製造
方法においては、まず、加熱した化学強化処理液にガラ
ス基板を浸漬し、ガラス基板表層のイオンを化学強化処
理液中のイオンでイオン交換してガラス基板を化学強化
する。
In the method of manufacturing a glass substrate for a magnetic disk according to the present invention, first, a glass substrate is immersed in a heated chemical strengthening solution, and ions in the surface layer of the glass substrate are exchanged with ions in the chemical strengthening solution. Chemical strengthening of glass substrates.

【0021】ここで、イオン交換法としては、低温型イ
オン交換法、高温型イオン交換法、表面結晶化法、ガラ
ス表面の脱アルカリ法などが知られているが、ガラス転
移点(ガラスの軟化)の観点から、低温型イオン交換法
を用いることが好ましい。特に、薄板化に拍車がかか
る、磁気記録媒体においては、薄くなってもガラスの変
形が少ない低温型イオン交換法が好ましい。
Here, as the ion exchange method, a low-temperature type ion exchange method, a high-temperature type ion exchange method, a surface crystallization method, a method of dealkalizing a glass surface, and the like are known. From the viewpoint of), it is preferable to use a low-temperature ion exchange method. In particular, in the case of a magnetic recording medium in which thinning is spurred, a low-temperature ion exchange method that causes little deformation of glass even when thinned is preferable.

【0022】低温型イオン交換法は、ガラスの転移温度
(Tg)以下の温度域で、ガラス中のアルカリイオン
を、それよりもイオン半径の大きいアルカリイオンと置
換し、イオン交換部の容積増加によってガラス表層に強
い圧縮応力を発生させてガラス表面を強化する方法であ
る。
In the low-temperature ion exchange method, alkali ions in the glass are replaced with alkali ions having a larger ionic radius in a temperature range below the glass transition temperature (Tg), and the volume of the ion exchange part is increased. In this method, a strong compressive stress is generated in the glass surface layer to strengthen the glass surface.

【0023】化学強化処理液としては、硝酸カリウム
(KNO3)、硝酸ナトリウム(NaNO3)、炭酸カリ
ウム(K2CO3)などの塩や、これらの塩を混合したも
の(例えば、KNO3+NaNO3、KNO3+K2CO3
など)の塩、あるいは、これらの塩にCu、Ag、R
b、Csなどのイオンの塩を混合したものの塩等が挙げ
られる。
As the chemical strengthening treatment liquid, salts such as potassium nitrate (KNO 3 ), sodium nitrate (NaNO 3 ), potassium carbonate (K 2 CO 3 ), and a mixture of these salts (for example, KNO 3 + NaNO 3) , KNO 3 + K 2 CO 3
), Or these salts with Cu, Ag, R
Salts of a mixture of salts of ions such as b and Cs are exemplified.

【0024】加熱温度は、処理するガラスのガラス転移
点によって変化するが、250℃〜650℃、特に35
0℃〜500℃、さらには350℃〜450℃であるこ
とが好ましい。
The heating temperature varies depending on the glass transition point of the glass to be treated.
The temperature is preferably from 0 ° C to 500 ° C, more preferably from 350 ° C to 450 ° C.

【0025】浸漬時間は、抗折強度と圧縮応力層の観点
から、1時間〜20時間程度とすることが好ましい。
The immersion time is preferably about 1 to 20 hours from the viewpoint of the bending strength and the compressive stress layer.

【0026】ガラス基板表層に形成する圧縮応力層の厚
さは、耐衝撃性や耐振動性を高めるという観点から、6
0〜300μm程度とすることが好ましい。
The thickness of the compressive stress layer formed on the surface layer of the glass substrate is set at 6 from the viewpoint of improving the shock resistance and vibration resistance.
The thickness is preferably about 0 to 300 μm.

【0027】なお、ガラス基板を塩に浸漬する前に、ガ
ラス基板の割れやひびを防止するため、ガラス基板を2
00〜450℃に予熱しておくことが好ましい。
Before the glass substrate is immersed in the salt, the glass substrate is protected by two to prevent cracking and cracking of the glass substrate.
It is preferable to preheat to 00 to 450 ° C.

【0028】化学強化工程においては、ガラス基板を端
面で保持して化学強化を行うことが好ましい。これは、
ガラス基板の表面全体を化学強化するためである。
In the chemical strengthening step, it is preferable to carry out the chemical strengthening while holding the glass substrate at the end face. this is,
This is for chemically strengthening the entire surface of the glass substrate.

【0029】本発明では、上記化学強化の後、化学強化
処理液からガラス基板を引き上げ、熱歪みの発生を抑え
ることができるように所定温度まで徐冷することが好ま
しい。このように徐冷することにより、熱歪みによるダ
メージを回避できる。
In the present invention, it is preferable that after the above-mentioned chemical strengthening, the glass substrate is pulled up from the chemical strengthening treatment liquid and gradually cooled to a predetermined temperature so as to suppress the occurrence of thermal distortion. By slow cooling in this way, damage due to thermal distortion can be avoided.

【0030】ガラス基板を徐冷する速度は、2℃/分〜
100℃/分、特に5℃/分〜60℃/分、さらには1
0℃/分〜50℃/分であることが好ましい。
The rate at which the glass substrate is gradually cooled is 2 ° C./min.
100 ° C./min, especially 5 ° C./min to 60 ° C./min, and even 1
It is preferably from 0 ° C / min to 50 ° C / min.

【0031】本発明の塩の結晶物洗浄工程は、ガラス基
板の表面に付着した塩の結晶物のイオン結合を溶媒の極
性を利用して低減あるいは分離する際、溶媒が保有して
いる熱エネルギーによって低減あるいは分離を促進する
ものである。この種の溶媒としては温水等が挙げられ
る。温水に本発明の作用効果を発揮させるには温度と時
間を、塩の結晶物のイオン結合を低減するするように組
み合わせることにより実現できる。温度は50℃〜10
0℃(加圧すれば、180℃位まで可)、時間は2時間
〜6時間位が好ましい範囲である。温水は、通常の水で
も良いが、パーティクルの付着を抑えるため純水が好ま
しい。尚、塩の結晶物は、析出溶融塩である硝酸塩と、
塩化物等である。
In the salt crystal washing step of the present invention, when the ionic bonds of the salt crystals attached to the surface of the glass substrate are reduced or separated by utilizing the polarity of the solvent, the heat energy held by the solvent is used. This promotes reduction or separation. Examples of this type of solvent include warm water. The action and effect of the present invention in hot water can be realized by combining temperature and time so as to reduce the ionic bond of salt crystals. Temperature is 50 ° C-10
The temperature is preferably 0 ° C. (up to about 180 ° C. if pressurized), and the time is preferably about 2 to 6 hours. The warm water may be ordinary water, but pure water is preferable in order to suppress adhesion of particles. Incidentally, the crystal of the salt is a nitrate which is a precipitated molten salt,
Chloride.

【0032】又、塩の結晶物を効果的に除去するため
に、ガラス基板と溶媒を接触させるだけでなく、溶媒に
超音波を伝播させる方法やスクラブ方式等の物理的外力
を付加した洗浄にしても良い。又、溶媒は洗浄を目的と
しているので、塩の結晶物だけではなく他のパーティク
ル等の汚れも併せて除去することもある。この場合、塩
の結晶物を洗浄するために使用する溶媒以外に、他のパ
ーティクル等の汚れを落とす洗浄剤を混合して異なった
異物を一括して洗浄しても良い。
In order to effectively remove salt crystals, not only the glass substrate is brought into contact with the solvent but also a cleaning method in which ultrasonic waves are transmitted to the solvent or a physical external force such as a scrub method is applied. May be. Further, since the solvent is used for the purpose of washing, not only salt crystals but also dirt such as other particles may be removed together. In this case, in addition to the solvent used for cleaning the salt crystals, a different cleaning agent for removing dirt such as particles may be mixed to collectively wash different foreign substances.

【0033】上述したように、本発明の塩の結晶物洗浄
工程は溶媒の熱エネルギーを利用して塩の結晶物を分離
するものである。しかし、化学強化処理工程でガラス基
板は、既に、例えば250℃〜650℃に加熱されてい
るので、この化学強化工程で蓄えられた熱を、ほぼ全部
蓄えた状態か、又は一部を低減した状態で、この塩洗浄
工程を実行すると、ガラス基板に化学強化処理工程で蓄
積された熱量をも塩の結晶物のイオン結合の低減、分離
に利用することができる。従って、化学強化処理工程で
蓄積した熱を利用して、塩の結晶物洗浄工程を実施する
のが好ましい。尚、塩の結晶物洗浄工程の溶媒の温度
と、化学強化処理液との温度差がある場合、この塩の洗
浄工程がヒートショックを兼ねることができる。又、両
者の温度差を低減するため、温度差緩和工程を入れても
良い。
As described above, the salt crystal washing step of the present invention utilizes the heat energy of a solvent to separate salt crystals. However, since the glass substrate is already heated to, for example, 250 ° C. to 650 ° C. in the chemical strengthening process, the heat stored in the chemical strengthening process is almost completely stored, or a part of the heat is reduced. When the salt washing step is performed in this state, the amount of heat accumulated in the glass substrate in the chemical strengthening treatment step can also be used for reducing and separating ionic bonds of salt crystals. Therefore, it is preferable to carry out the salt crystal washing step using the heat accumulated in the chemical strengthening treatment step. When there is a temperature difference between the solvent temperature in the salt crystal washing step and the chemical strengthening treatment liquid, the salt washing step can also serve as a heat shock. Further, in order to reduce the temperature difference between the two, a temperature difference mitigation step may be provided.

【0034】あるいは、本発明の塩の結晶物洗浄工程の
後に、別にヒートショック工程を設けてもよい。ヒート
ショック工程は、温度差に起因する熱歪を利用してガラ
ス基板の微小クラックを成長させ、この段階で不良品を
除去するものである。従って、このような熱歪が発生す
るように、塩の結晶物洗浄工程の溶媒より低い温度の冷
媒を用意して、この冷媒にガラス基板を接触させれば、
ヒート・ショックを本発明に適用できる。
Alternatively, a heat shock step may be separately provided after the salt crystal washing step of the present invention. In the heat shock step, micro cracks in the glass substrate are grown using thermal strain caused by a temperature difference, and defective products are removed at this stage. Therefore, so that such a thermal strain occurs, if a refrigerant having a lower temperature than the solvent in the salt crystal washing step is prepared, and the glass substrate is brought into contact with this refrigerant,
Heat shock can be applied to the present invention.

【0035】本発明では、化学強化処理後、又は塩の結
晶物洗浄工程後にガラス基板に対してアルカリイオンの
封止処理、又は脱アルカリ処理をしても良い。これらの
処理は、ガラス基板表面のアルカリイオンが基板上に形
成される薄膜に移動すると、膜欠陥を引き起こすので、
アルカリイオンの移動を防止する処理である。因みに、
塩の結晶物洗浄工程で温水と接することでアルカリイオ
ンの溶出は無くはないが、その量は極めて微量である。
よって、ガラス基板と温水の接触は、現在要求されてい
るアルカリイオンの溶出量の基準を全く満たすものでは
なく、脱アルカリイオン効果はほとんどと言っていいぐ
らい無い。従って、薄膜へのアルカリイオンの移動を防
止するためには、塩の結晶物洗浄工程以外にアルカリイ
オンがガラス基板に移動しない策を講じる必要がある。
In the present invention, the glass substrate may be subjected to alkali ion sealing treatment or alkali removal treatment after the chemical strengthening treatment or after the salt crystal washing step. These processes cause film defects when alkali ions on the glass substrate surface move to the thin film formed on the substrate,
This is a process for preventing movement of alkali ions. By the way,
The alkali ions are not eluted by contact with warm water in the salt crystal washing step, but the amount is extremely small.
Therefore, the contact between the glass substrate and the hot water does not satisfy the standard of the alkali ion elution amount required at present, and there is almost no effect of removing alkali ions. Therefore, in order to prevent the movement of the alkali ions to the thin film, it is necessary to take measures to prevent the movement of the alkali ions to the glass substrate other than the salt crystal washing step.

【0036】このようなアルカリイオン対策には、十分
にガラス基板表面近傍のアルカリイオンを予め溶出させ
る脱アルカリ処理と、ガラス基板の表面処理によるアル
カリイオン封止処理がある。この両者を比較するとアル
カリイオン封止処理の方がイオンの移動防止効果が顕著
であり効果的である。このアルカリイオンの封止処理と
しては、ガラス基板の表面を、加熱した酸で処理してガ
ラス基板表面からのアルカリイオン溶出を防止する方法
が挙げられる。このように、酸を使用した場合は酸によ
る塩の結晶物の洗浄効果も得られる。又、他のアルカリ
イオン封止処理としては、グリセリン、ポリエチレング
リコール等の水溶性の有機溶媒を80℃〜240℃に加
熱し、この有機溶媒に1分〜1時間接触させる方法があ
る。
As measures against such alkali ions, there are a dealkalization treatment for sufficiently eluting alkali ions near the glass substrate surface in advance, and an alkali ion sealing treatment by surface treatment of the glass substrate. Comparing the two, the alkali ion sealing treatment is more effective because the effect of preventing ion migration is remarkable. As the sealing treatment of the alkali ions, there is a method of treating the surface of the glass substrate with a heated acid to prevent elution of the alkali ions from the surface of the glass substrate. As described above, when an acid is used, an effect of washing the salt crystal by the acid can be obtained. As another alkali ion sealing treatment, there is a method in which a water-soluble organic solvent such as glycerin or polyethylene glycol is heated to 80 ° C. to 240 ° C. and brought into contact with the organic solvent for 1 minute to 1 hour.

【0037】酸を用いる場合、加熱された酸の種類や温
度及び濃度等を制御することによって、ガラス基板に付
着した塩の結晶物を除去すると同時に、ガラス表面の化
学的変質を高いレべルで防止しうる表面状態とする。
When an acid is used, by controlling the type, temperature, concentration, etc. of the heated acid, salt crystals attached to the glass substrate can be removed, and at the same time, chemical alteration of the glass surface can be reduced to a high level. To a surface state that can be prevented.

【0038】加熱された酸による処理によって、ガラス
表面の変質(やけ等)を高いレべルで防止できる理由は
完全には明らかではないが、一般に、ガラス表面近傍
が、Si−O−Naの非架橋状態から、Si−O−Na
のNa+がヒドロニウムイオンあるいはH+とイオン交換
されて水和状態になり、その後、加熱脱水によってシラ
ノール基が形成され、そのシラノール基が脱水されてガ
ラス表面でSi−O−Siの架橋化がなされるためであ
ると考えられる。
Although it is not completely clear why the deterioration (burn etc.) of the glass surface can be prevented at a high level by the treatment with the heated acid, generally, the vicinity of the glass surface is reduced to the Si—O—Na From the non-crosslinked state,
Na + is ion-exchanged with hydronium ions or H + to form a hydrated state, and thereafter, a silanol group is formed by heat dehydration, and the silanol group is dehydrated to form a cross-linking of Si—O—Si on the glass surface. It is considered that this is done.

【0039】加熱された酸の加熱温度は、ガラス基板表
面近傍のアルカリイオンの溶出を抑制しうる温度であれ
ばよい。加熱された酸の加熱温度は、40℃〜ガラス転
移点程度の温度が好ましく、80℃〜300℃程度がさ
らに好ましく、100℃超〜300℃程度がより以上に
好ましい。
The heating temperature of the heated acid may be any temperature at which the elution of alkali ions near the surface of the glass substrate can be suppressed. The heating temperature of the heated acid is preferably from about 40 ° C. to about the glass transition point, more preferably from about 80 ° C. to about 300 ° C., and even more preferably from over 100 ° C. to about 300 ° C.

【0040】加熱された酸の加熱温度が低いとガラス表
面でSi−O−Siの架橋化がなされないためガラス表
面が変質しやすくなる。また、300℃を超えるとガラ
ス基板中のKイオンが基板内部に移動するため、ガラス
基板の強度が低下する。
When the heating temperature of the heated acid is low, the glass surface is liable to be degraded because Si—O—Si is not crosslinked on the glass surface. On the other hand, if the temperature exceeds 300 ° C., K ions in the glass substrate move into the substrate, so that the strength of the glass substrate decreases.

【0041】なお、加熱された酸の加熱温度が100℃
超えると、ガラス基板表面の化学的変質防止能力が飛躍
的に向上する。
The heating temperature of the heated acid is 100 ° C.
If it exceeds, the ability to prevent chemical alteration of the glass substrate surface is dramatically improved.

【0042】加熱された酸による処理時間は、1分〜2
時間程度が好ましい。熱濃硫酸を用いる場合は1分〜1
時間程度が好ましい。
The treatment time with the heated acid is 1 minute to 2 minutes.
Time is preferred. 1 minute to 1 when using hot concentrated sulfuric acid
Time is preferred.

【0043】加熱された酸による処理は、例えば、熱濃
硫酸(例えば、濃度96%以上の濃硫酸)、加熱した硫
酸、リン酸、硝酸、フッ酸、塩酸などの酸や、これらの
酸の混酸、あるいはこれらの酸にこれらの酸の塩(フッ
化アンモニウム、硝酸カリウムなど)を加えた処理液に
ガラス基板を浸漬して行う。この場合、超音波を印加し
つつ処理を行ってもよい。
The treatment with a heated acid includes, for example, hot concentrated sulfuric acid (for example, concentrated sulfuric acid having a concentration of 96% or more), heated sulfuric acid, phosphoric acid, nitric acid, hydrofluoric acid, hydrochloric acid, and the like; The glass substrate is immersed in a mixed acid or a treatment solution obtained by adding salts of these acids (such as ammonium fluoride and potassium nitrate) to these acids. In this case, the processing may be performed while applying ultrasonic waves.

【0044】なお、これらの酸のうちでも、塩の結晶物
の除去及びガラス表面の変質防止の面で、熱濃硫酸(例
えば、100℃超の濃度96%以上の熱濃硫酸)、ある
いは、硫酸及び/又はリン酸を含む酸が好ましい。この
場合、硫酸及び/又はリン酸を含む酸に、過酸化水素を
加え反応により発熱させて処理を行うと、処理効果が向
上するので好ましい。
Among these acids, hot concentrated sulfuric acid (for example, a hot concentrated sulfuric acid having a concentration of 96% or more at a temperature exceeding 100 ° C.) or a hot concentrated sulfuric acid in terms of removing salt crystals and preventing deterioration of the glass surface. Acids containing sulfuric acid and / or phosphoric acid are preferred. In this case, it is preferable to perform the treatment by adding hydrogen peroxide to an acid containing sulfuric acid and / or phosphoric acid and generating heat by the reaction, since the treatment effect is improved.

【0045】加熱された酸による処理は、同一又は異な
る酸の処理層を複数設け、ガラス基板を順次浸漬して行
なってもよい。この場合、酸の温度や濃度を異ならしめ
ても良い。
The treatment with the heated acid may be performed by providing a plurality of treatment layers of the same or different acids and sequentially dipping the glass substrate. In this case, the temperature and concentration of the acid may be different.

【0046】酸の濃度は、塩の結晶物の除去及びガラス
表面の変質防止を考慮して決定される。使用する酸によ
って最適濃度が異なるが、例えば、硫酸を用いる場合
は、50wt%以上が好ましく、95wt%以上がさら
に好ましい。
The concentration of the acid is determined in consideration of removal of salt crystals and prevention of deterioration of the glass surface. Although the optimum concentration varies depending on the acid used, for example, when sulfuric acid is used, the concentration is preferably at least 50 wt%, more preferably at least 95 wt%.

【0047】上述した加熱された酸による処理の後に、
市販の洗浄剤(中性洗剤、界面活性剤、アルカリ性洗浄
剤など)による洗浄、スクラブ洗浄、純水洗浄、溶剤洗
浄、溶剤蒸気乾燥、遠心分離乾燥等の公知の洗浄処理を
行っても良い。また、各洗浄では、加熱や超音波印加を
行ってもよい。
After the treatment with the heated acid described above,
Known washing treatments such as washing with a commercially available detergent (neutral detergent, surfactant, alkaline detergent, etc.), scrub washing, pure water washing, solvent washing, solvent vapor drying, centrifugal drying and the like may be performed. In each cleaning, heating or ultrasonic wave application may be performed.

【0048】超音波は、ある周波数範囲で発振する多周
波数型のもの、あるいは、一定の周波数で発振する固定
周波数型のもののいずれであってもよい。周波数は低い
ほど洗浄効果は高いが、ガラス基板に与えるダメージも
大きくなるので、これらのことを考慮して決定する。
The ultrasonic wave may be either a multi-frequency type that oscillates in a certain frequency range or a fixed-frequency type that oscillates at a constant frequency. The lower the frequency, the higher the cleaning effect, but the greater the damage to the glass substrate. Therefore, the frequency is determined in consideration of these factors.

【0049】蒸気乾燥は、乾燥速度が速いので乾燥によ
るシミが発生しにくい。蒸気乾燥に用いる溶剤として
は、イソプロピルアルコール、フロン、アセトン、メタ
ノール、エタノールなどが挙げられる。
In steam drying, since the drying speed is high, stains due to drying are hardly generated. Examples of the solvent used for steam drying include isopropyl alcohol, chlorofluorocarbon, acetone, methanol, and ethanol.

【0050】ガラス基板としては、イオン交換可能なガ
ラス基板であれば特に制限されない。また、ガラス基板
のサイズ、厚さ等は特に制限されない。
The glass substrate is not particularly limited as long as it is an ion-exchangeable glass substrate. Further, the size, thickness, and the like of the glass substrate are not particularly limited.

【0051】ガラス基板の材質としては、例えば、アル
ミノシリケートガラス、ソーダライムガラス、ソーダア
ルミノケイ酸ガラス、アルミノボロシリケートガラス、
ボロシリケートガラス、石英ガラス、チェーンシリケー
トガラス、結晶化ガラスなどが挙げられる。なお、アル
ミノシリケートガラスは、耐衝撃性や耐振動性に優れる
ため特に好ましい。
Examples of the material of the glass substrate include aluminosilicate glass, soda lime glass, sodaaluminosilicate glass, aluminoborosilicate glass,
Examples include borosilicate glass, quartz glass, chain silicate glass, and crystallized glass. Aluminosilicate glass is particularly preferable because it has excellent shock resistance and vibration resistance.

【0052】アルミノシリケートガラスとしては、Si
2:62〜75重量%、Al23:5〜15重量%、
Li2O:4〜10重量%、Na2O:4〜12重量%、
ZrO2:5.5〜15重量%を主成分として含有する
とともに、Na2O/ZrO2の重量比が0.5〜2.
0、Al23/ZrO2の重量比が0.4〜2.5であ
る化学強化用ガラス、あるいは、SiO2:62〜75
重量%、Al23:5〜15重量%、B23:0.5〜
5重量%、Li2O:4〜10重量%、Na2O:4〜1
2重量%、MgO:0.5〜5重量%、CaO:0.5
〜5重量%、Sb23:0.01〜1.0重量%を主成
分として含有する化学強化用ガラス等が好ましい。
As the aluminosilicate glass, Si
O 2 : 62 to 75% by weight, Al 2 O 3 : 5 to 15% by weight,
Li 2 O: 4 to 10% by weight, Na 2 O: 4 to 12% by weight,
ZrO 2: 5.5 to 15 with containing by weight% as the main component, the weight ratio of Na 2 O / ZrO 2 is 0.5 to 2.
0, glass for chemical strengthening with a weight ratio of Al 2 O 3 / ZrO 2 of 0.4 to 2.5, or SiO 2 : 62 to 75
% By weight, Al 2 O 3 : 5 to 15% by weight, B 2 O 3 : 0.5 to
5 wt%, Li 2 O: 4~10 wt%, Na 2 O: 4~1
2% by weight, MgO: 0.5 to 5% by weight, CaO: 0.5
Glass for chemical strengthening and the like containing, as main components, 5 to 5% by weight and Sb 2 O 3 : 0.01 to 1.0% by weight are preferable.

【0053】また、ZrO2の未溶解物が原因で生じる
ガラス基板表面の突起をなくすためには、モル%表示
で、SiO2を57〜74%、ZnO2を0〜2.8%、
Al23を3〜15%、LiO2を7〜16%、Na2
を4〜14%含有する化学強化用ガラス等を使用するこ
とが好ましい。
Further, in order to eliminate projections on the glass substrate surface caused by undissolved ZrO 2 , 57% to 74% of SiO 2 , 0% to 2.8% of ZnO 2 ,
The Al 2 O 3 3~15%, the LiO 2 7~16%, Na 2 O
It is preferable to use glass for chemical strengthening containing 4 to 14%.

【0054】このような組成のアルミノシリケートガラ
スは、化学強化することによって、圧縮応力、引張応
力、圧縮応力層の深さの三者をバランス良く制御できる
とともに、抗折強度や、耐熱性に優れ、高温環境下であ
ってもNa等の析出がほとんどないとともに平坦性を維
持し、ヌープ硬度にも優れる。
The aluminosilicate glass having such a composition can control the three factors of compressive stress, tensile stress, and depth of the compressive stress layer in a well-balanced manner by being chemically strengthened, and has excellent bending strength and heat resistance. In addition, even under a high temperature environment, there is almost no precipitation of Na and the like, flatness is maintained, and Knoop hardness is excellent.

【0055】上記本発明の情報記録媒体用ガラス基板の
製造方法は、磁気ディスク用ガラス基板の製造方法、光
磁気ディスク用のガラス基板の製造方法や、異常突起物
や微細なキズ及びガラス基板の変質を嫌う光メモリディ
スクなどの電子光学用ディスク基板の処理及び表面改質
処理方法としても利用できる。
The method for manufacturing a glass substrate for an information recording medium according to the present invention includes a method for manufacturing a glass substrate for a magnetic disk, a method for manufacturing a glass substrate for a magneto-optical disk, and a method for manufacturing a glass substrate for abnormal projections, fine scratches and glass. It can also be used as a method for treating a disk substrate for electro-optics such as an optical memory disk that does not want to be deteriorated, and as a surface modification treatment method.

【0056】次に、本発明の情報記録媒体の製造方法に
ついて説明する。
Next, a method for manufacturing the information recording medium of the present invention will be described.

【0057】本発明の情報記録媒体の製造方法は、上述
した情報記録媒体用ガラス基板の製造方法を用いて得ら
れた情報記録媒体用ガラス基板上に、少なくとも記録層
を形成することを特徴とする。
The method for producing an information recording medium of the present invention is characterized in that at least a recording layer is formed on a glass substrate for an information recording medium obtained by using the above-mentioned method for producing a glass substrate for an information recording medium. I do.

【0058】本発明では、表面に膜下欠陥のないガラス
基板を使用しているので、情報記録媒体としても高品質
である。すなわち、従来に比べはるかに表面状態の良い
ガラス基板を使用することによって、情報記録媒体とし
た場合に膜下欠陥による異物に起因するへッドクラッシ
ュや、膜剥離を起こすことがなく、記録層等の膜にヤケ
等に起因する欠陥が発生しエラーの原因となるというこ
ともない。
In the present invention, since a glass substrate having no sub-film defects on its surface is used, the quality of the information recording medium is high. In other words, by using a glass substrate having a much better surface condition than in the past, when an information recording medium is used, head crashes due to foreign matter due to sub-film defects and film peeling do not occur, and the recording layer, etc. There is no possibility that defects due to burns or the like occur in the film and cause errors.

【0059】磁気ディスクにおいては、塩の結晶物に起
因するへッドクラッシュを起こすことなく、低フライン
グハイト化が実現できる。又、磁気抵抗型ヘッドによっ
て電磁変換する磁気ディスクとしては、基板上の突起を
反映して形成されるディスク表面の突起が無いので、サ
ーマルアスフェリティーの発生を防止できる。また、ガ
ラス表面の変質を高いレべルで防止できる磁気ディスク
用ガラス基板を使用しているので、耐候性及び寿命に優
れ高い信頼性を有する磁気ディスクを高歩留まりで製造
できる。
In the magnetic disk, a low flying height can be realized without causing a head crash caused by a salt crystal. Further, since a magnetic disk which is electromagnetically converted by a magnetoresistive head does not have a protrusion on the disk surface formed by reflecting a protrusion on a substrate, the occurrence of thermal asperity can be prevented. Further, since a magnetic disk glass substrate capable of preventing deterioration of the glass surface at a high level is used, a magnetic disk having excellent weather resistance and long life and high reliability can be manufactured with a high yield.

【0060】磁気記録媒体は、通常、磁気ディスク用ガ
ラス基板上に、下地層、磁性層、凹凸形成層、保護層、
潤滑層等を必要に応じ順次積層して製造する。
The magnetic recording medium is usually provided on a glass substrate for a magnetic disk, with an underlayer, a magnetic layer, a concavo-convex forming layer, a protective layer,
It is manufactured by sequentially laminating a lubricating layer and the like as necessary.

【0061】磁気記録媒体における下地層は、磁性層に
応じて適宜選択される。下地層としては、例えば、C
r、Mo、Ta、Ti、W、V、B、Alなどの非磁性
金属から選ばれる少なくとも一種以上の材料からなる下
地層等が挙げられる。Coを主成分とする磁性層の場合
には、磁気特性向上等の観点から、Cr単体やCr合金
であることが好ましい。また、下地層は単層とは限ら
ず、同一又は異種の層を積層した複数層構造とすること
もできる。例えば、Cr/Cr、Cr/CrMo、Cr
/CrV、CrV/CrV、Al/Cr/CrMo、A
l/Cr/Cr等の多層下地層等が挙げられる。
The underlayer in the magnetic recording medium is appropriately selected according to the magnetic layer. As the underlayer, for example, C
An underlayer made of at least one material selected from non-magnetic metals such as r, Mo, Ta, Ti, W, V, B, and Al is exemplified. In the case of a magnetic layer containing Co as a main component, it is preferable to use Cr alone or a Cr alloy from the viewpoint of improving magnetic properties. The underlayer is not limited to a single layer, and may have a multilayer structure in which the same or different layers are stacked. For example, Cr / Cr, Cr / CrMo, Cr
/ CrV, CrV / CrV, Al / Cr / CrMo, A
A multi-layer underlayer such as 1 / Cr / Cr is exemplified.

【0062】磁性層の材料は特に制限されない。The material of the magnetic layer is not particularly limited.

【0063】磁性層としては、具体的には、例えば、C
oを主成分とするCoPt、CoCr、CoNi、Co
NiCr、CoCrTa、CoPtCr、CoNiP
t、CoNiCrPt、CoNiCrTa、CoCrP
tTa、CoCrPtSiOなどの磁性薄膜が挙げられ
る。また、磁性層を非磁性膜(例えば、Cr、CrM
o、CrVなど)で分割してノイズの低減を図った多層
構成(例えば、CoPtCr/CrMo/CoPtC
r、CoCrTaPt/CrMo/CoCrTaPtな
ど)としもよい。
As the magnetic layer, specifically, for example, C
CoPt, CoCr, CoNi, Co mainly containing o
NiCr, CoCrTa, CoPtCr, CoNiP
t, CoNiCrPt, CoNiCrTa, CoCrP
Magnetic thin films such as tTa and CoCrPtSiO may be used. Further, the magnetic layer is formed of a non-magnetic film (for example, Cr, CrM).
o, CrV, etc.) to reduce noise (for example, CoPtCr / CrMo / CoPtC)
r, CoCrTaPt / CrMo / CoCrTaPt).

【0064】また、磁性層としては、上述したCo系の
ほか、例えば、フェライト系、鉄−希土類系や、SiO
2、BNなどからなる非磁性膜中にFe、Co、CoF
e、CoNiPt等の磁性粒子が分散された構造のグラ
ニュラーなどが挙げられる。磁性層は、内面型、垂直型
のいずれであってもよい。
The magnetic layer may be made of, for example, ferrite, iron-rare earth, SiO 2
2 , Fe, Co, CoF in a non-magnetic film such as BN
e, granular having a structure in which magnetic particles such as CoNiPt are dispersed. The magnetic layer may be either an inner surface type or a vertical type.

【0065】凹凸形成層は、媒体表面の凹凸を制御する
目的で設けられる。凹凸形成層の形成方法や材料等は特
に制限されない。また、凹凸形成層の形成位置も特に制
限されない。
The unevenness forming layer is provided for the purpose of controlling the unevenness of the medium surface. There is no particular limitation on the method of forming the unevenness forming layer, the material, and the like. Further, the formation position of the unevenness forming layer is not particularly limited.

【0066】この凹凸形成層は、非接触型記録方式磁気
ディスク装置用の磁気記録媒体の場合、媒体表面に凹凸
形成層の凹凸に起因した凹凸を形成し、この媒体表面の
凹凸によって、磁気ヘッドと磁気記録媒体との吸着を防
止し、CSS耐久性を向上させる目的で形成される。
In the case of a magnetic recording medium for a non-contact type recording type magnetic disk device, the unevenness forming layer forms unevenness due to the unevenness of the unevenness forming layer on the medium surface. It is formed for the purpose of preventing attraction between the magnetic recording medium and the magnetic recording medium and improving CSS durability.

【0067】なお、接触型記録方式磁気ディスク装置用
の磁気記録媒体の場合には、磁気ヘッドや磁気記録媒体
の損傷を避けるため媒体表面はできるだけ平坦であるこ
とが好ましいので、凹凸形成層を設ける必要はない。
In the case of a magnetic recording medium for a contact-type recording type magnetic disk drive, the surface of the medium is preferably as flat as possible to avoid damage to the magnetic head and the magnetic recording medium. No need.

【0068】凹凸形成層の表面粗さは、Ra=10〜5
0オングストロームであることが好ましい。より好まし
い範囲は、Ra=10〜30オングストロームである。
The surface roughness of the unevenness forming layer is Ra = 10 to 5
Preferably, it is 0 Å. A more preferred range is Ra = 10 to 30 angstroms.

【0069】Raが10オングストローム未満の場合、
磁気記録媒体表面が平坦に近いため、磁気ヘッドと磁気
記録媒体とが吸着し、磁気ヘッドや磁気記録媒体が傷つ
いてしまったり、吸着によるヘッドクラッシュを起こし
致命的な損傷を受けるので好ましくない。また、Raが
50オングストロームを越える場合、グライドハイトが
大きくなり記録密度の低下を招くので好ましくない。
When Ra is less than 10 angstroms,
Since the surface of the magnetic recording medium is nearly flat, the magnetic head and the magnetic recording medium are attracted to each other, and the magnetic head and the magnetic recording medium are damaged, or the head crashes due to the attracting, resulting in fatal damage. On the other hand, if Ra exceeds 50 angstroms, the glide height becomes large and the recording density is lowered, which is not preferable.

【0070】凹凸形成層の材質及び形成方法は多種知ら
れており、特に制限されない。凹凸形成層の材質として
は、Al、Ti、Cr、Ag、Nb、Ta、Bi、S
i、Zr、Cu、Ce、Au、Sn、Pd、Sb、G
e、Mg、In、W、Pb等の金属やそれらの合金、又
はそれら金属や合金の酸化物、窒化物、炭化物を使用す
ることができる。形成が容易である等の観点からは、A
l単体やAl合金、酸化Al(Al23など)、窒化A
l(AlNなど)といったAlを主成分とする金属であ
ることが望ましい。
There are various known materials and methods for forming the concavo-convex forming layer, and there is no particular limitation. As the material of the unevenness forming layer, Al, Ti, Cr, Ag, Nb, Ta, Bi, S
i, Zr, Cu, Ce, Au, Sn, Pd, Sb, G
Metals such as e, Mg, In, W, and Pb and alloys thereof, or oxides, nitrides, and carbides of these metals and alloys can be used. From the viewpoint of easy formation, etc., A
l Simple substance, Al alloy, Al oxide (Al 2 O 3 etc.), A nitride
It is desirable to use a metal mainly containing Al, such as 1 (AlN or the like).

【0071】凹凸形成層は、連続したテクスチャー膜と
してもよく、離散的に分布した島状突起で構成してもよ
い。この島状突起の高さは、100〜500オングスト
ロームであることが好ましく、100〜300オングス
トロームであることがより好ましい。
The concavo-convex forming layer may be a continuous texture film or may be composed of discretely distributed island-like projections. The height of the island-like projections is preferably 100 to 500 Å, and more preferably 100 to 300 Å.

【0072】上述した凹凸形成層の表面粗さ及び凹凸
(突起)の高さは、凹凸形成層の材質及びその組成、熱
処理条件等によって制御できる。
The surface roughness and the height of the unevenness (projections) of the unevenness forming layer can be controlled by the material and composition of the unevenness forming layer, heat treatment conditions, and the like.

【0073】他の凹凸形成方法としては、機械的研磨に
よるテクスチャー加工、化学的エッチングによるテクス
チャー加工、エネルギービーム照射によるテクスチャー
加工などが挙げられ、それらの方法を組み合わせること
もできる。
As other methods for forming unevenness, texturing by mechanical polishing, texturing by chemical etching, texturing by energy beam irradiation, and the like can be used, and these methods can be combined.

【0074】保護層としては、例えば、Cr膜、Cr合
金膜、カーボン膜、ジルコニア膜、シリカ膜等が挙げら
れる。これらの保護膜は、下地層、磁性層等とともにイ
ンライン型又は静置対向型スパッタリング装置で連続し
て形成できる。また、これらの保護膜は、単層であって
もよく、あるいは、同一又は異種の膜からなる多層構成
としてもよい。
Examples of the protective layer include a Cr film, a Cr alloy film, a carbon film, a zirconia film, and a silica film. These protective films can be continuously formed with an underlayer, a magnetic layer, and the like by an in-line or stationary facing sputtering apparatus. Further, these protective films may be a single layer, or may be a multilayer structure composed of the same or different films.

【0075】上記保護層上に、あるいは上記保護層に替
えて、他の保護層を形成してもよい。例えば、上記保護
層の代わりに、テトラアルコキシランをアルコール系の
溶媒で希釈した中に、コロイダルシリカ微粒子を分散し
て塗布し、さらに焼成して酸化ケイ素(SiO2)膜を
形成してもよい。この場合、保護層と凹凸形成層の両方
の機能を果たす。
Another protective layer may be formed on the above protective layer or in place of the above protective layer. For example, instead of the above-mentioned protective layer, colloidal silica fine particles may be dispersed and applied while diluting tetraalkoxylan with an alcohol-based solvent, and then baked to form a silicon oxide (SiO 2 ) film. . In this case, it functions as both the protective layer and the unevenness forming layer.

【0076】潤滑層としては多種多様な提案がなされて
いるが、一般的には、パーフルオロポリエーテル(PF
PE)等からなる液体潤滑剤を、媒体表面にディッピン
グ法(浸漬法)、スピンコート法、スプレイ法等によっ
て塗布し、必要に応じ加熱処理を行って形成する。
Although various proposals have been made for the lubricating layer, generally, a perfluoropolyether (PF) is generally used.
A liquid lubricant composed of PE) or the like is applied to the surface of the medium by a dipping method (immersion method), a spin coating method, a spray method, or the like, and is formed by performing a heat treatment as needed.

【0077】[0077]

【実施例】以下、実施例にもとづき本発明をさらに具体
的に説明する。実施例1 本実施例における磁気ディスク用ガラス基板の製造方法
は、大別すると(1)研削、研磨工程、(2)化学強化
工程、(3)温度差緩和工程、(4)塩の結晶物洗浄工
程、(5)アルカリイオン封止処理工程、(6)鉄コン
タミ溶解工程、(7)最終洗浄工程に分けられる。
EXAMPLES The present invention will be described below more specifically based on examples. Example 1 The method for manufacturing a glass substrate for a magnetic disk in this example is roughly divided into (1) a grinding and polishing step, (2) a chemical strengthening step, (3) a temperature difference reducing step, and (4) a crystal of a salt. It is divided into a washing step, (5) an alkali ion sealing step, (6) an iron contamination dissolving step, and (7) a final washing step.

【0078】(1)研削、研磨工程 まず、溶解成形法によってアルミノシリケイトガラスか
らなるシートガラスを形成する。アルミノシリケイトガ
ラスとしては、モル%表示で、SiO2を57〜74
%、ZnO2を0〜2.8%、Al23を3〜15%、
LiO2を7〜16%、Na2Oを4〜14%主成分とし
て含有する化学強化用ガラスを使用した。シートガラス
の成型方法としては、本実施例では溶融ガラスをディス
ク状に成形型でプレス成形する方法を採用した。他の製
造方法としては、フロート法、フュージョン法等があ
る。
(1) Grinding and Polishing Steps First, a sheet glass made of aluminosilicate glass is formed by a melt molding method. As the aluminosilicate glass, SiO 2 is 57 to 74 by mol%.
%, ZnO 2 from 0 to 2.8%, Al 2 O 3 from 3 to 15%,
LiO 2 7 to 16% and a glass for chemical strengthening containing Na 2 O as 4-14% main component. In the present embodiment, a method of press-molding molten glass into a disk shape by a molding die was employed as a method for molding the sheet glass. Other manufacturing methods include a float method, a fusion method, and the like.

【0079】次いで、砂かけによって表面と裏面を研削
する。そして円盤状にガラス基板の中央部を穿孔し、砥
石で穿孔された内周面と外周面を研磨して外径寸法及び
内径寸法を定めるとともに、内周面と外周面の面取りを
行う。そして、研磨工程の最後として表面及び裏面に精
密研磨を施して仕上げる。このようにして円盤状ガラス
基板を得た。研磨を終えた円盤状ガラス基板を次に洗浄
するが、この洗浄工程から磁気ディスク用ガラス基板の
完成品を梱包する梱包工程に至る全ての工程は、クリー
ン・ブースによって常に清浄な空気(半導体装置の製造
プロセスと同等のクリーン度)を循環させた雰囲気下で
行ってる。このように、各工程の雰囲気の清浄度を高め
ることにより、ガラス基板に鉄コンタミ等のパーティク
が付着することを防止できる。
Next, the front and back surfaces are ground by sanding. Then, the center portion of the glass substrate is perforated in a disk shape, and the inner and outer peripheral surfaces perforated with a grindstone are polished to determine the outer and inner diameter dimensions, and the inner and outer peripheral surfaces are chamfered. Then, as the last of the polishing process, the front and back surfaces are subjected to precision polishing to finish. Thus, a disk-shaped glass substrate was obtained. The polished disk-shaped glass substrate is then washed. All processes from this washing process to the packing process of packing the finished product of the magnetic disk glass substrate are always performed by a clean booth using clean air (semiconductor device). Cleanliness equivalent to that of the above manufacturing process). As described above, by increasing the cleanliness of the atmosphere in each step, it is possible to prevent particles such as iron contamination from adhering to the glass substrate.

【0080】(2)化学強化工程 次に、上記研削、研磨、洗浄工程を終えたガラス基板
に、化学強化を施した。化学強化は、硝酸カリウム(6
0%)と硝酸ナトリウム(40%)を混合した化学強化
処理液を用意し、この化学強化処理液を400℃に加熱
し、300℃に予熱された洗浄済みのガラス基板を約3
時間浸漬して行った。この浸漬の際に、ガラス基板の表
面全体が化学強化されるようにするため、複数のガラス
基板が端面で保持されるようにホルダーに収納した状態
で行った。
(2) Chemical Strengthening Step Next, the glass substrate that has been subjected to the above-mentioned grinding, polishing and cleaning steps was subjected to chemical strengthening. Chemical strengthening is performed using potassium nitrate (6
0%) and sodium nitrate (40%) are prepared, and the chemically strengthened solution is heated to 400 ° C., and a cleaned glass substrate preheated to 300 ° C. is heated to about 3 ° C.
It was carried out by soaking for a time. In this immersion, in order to chemically strengthen the entire surface of the glass substrate, the immersion was performed in a state where a plurality of glass substrates were housed in a holder so as to be held at end faces.

【0081】このように、化学強化処理液に浸漬処理す
ることによって、ガラス基板表層のリチウムイオン、ナ
トリウムイオンは、化学強化処理液中のナトリウムイオ
ン、カリウムイオンにそれぞれ置換されガラス基板は強
化される。ガラス基板の表層に形成された圧縮応力層の
厚さは、約100〜200μmであった。
As described above, by immersion treatment in the chemical strengthening treatment liquid, lithium ions and sodium ions in the surface layer of the glass substrate are replaced by sodium ions and potassium ions in the chemical strengthening treatment liquid, respectively, and the glass substrate is strengthened. . The thickness of the compressive stress layer formed on the surface layer of the glass substrate was about 100 to 200 μm.

【0082】(3)温度差緩和工程 上記化学強化を終えたガラス基板を、第一、第二徐冷室
で順次徐冷する。まず、化学強化処理液からガラス基板
を引き上げ、300℃に加熱されている第一徐冷室に移
送し、この中で約10分間保持して300℃にガラス基
板を徐冷する。ついで、第一徐冷室から200℃に加熱
されている第二徐冷室にガラス基板を移送し、300℃
から200℃までガラス基板を徐冷する。このように二
段階に分けて徐冷することにより、熱歪みによるダメー
ジからガラス基板を開放できる。
(3) Temperature Difference Mitigating Step The glass substrate that has been subjected to the above-described chemical strengthening is gradually cooled in the first and second slow cooling chambers. First, the glass substrate is pulled up from the chemical strengthening treatment liquid, transferred to a first annealing room heated to 300 ° C., and held therein for about 10 minutes to gradually cool the glass substrate to 300 ° C. Next, the glass substrate was transferred from the first annealing room to the second annealing room heated to 200 ° C.
The glass substrate is gradually cooled to 200 ° C. By thus gradually cooling the glass substrate in two stages, the glass substrate can be released from damage due to thermal strain.

【0083】(4)塩の結晶物洗浄工程 次に、ガラス基板を約90℃に保持された純水の温水を
収容した洗浄槽に約1.5時間浸漬し、化学強化処理工
程で付着した塩の結晶物(塩化物、硝酸化物)を除去し
た。この洗浄の際、温水には超音波を印加した。
(4) Salt Crystal Washing Step Next, the glass substrate was immersed in a washing tank containing warm water of pure water maintained at about 90 ° C. for about 1.5 hours, and adhered in the chemical strengthening treatment step. Salt crystals (chloride, nitrate) were removed. At the time of this washing, ultrasonic waves were applied to the warm water.

【0084】(5)アルカリイオン封止処理工程 上記洗浄工程を終えたガラス基板を、約200℃に加熱
した濃度96wt%の熱濃硫酸に5分間浸漬して加熱し
た濃硫酸による処理を行い、ガラス表面のSi−Oの結
合を堅固なものにすることにより、Naイオン等のアル
カリイオンをガラス基板表面で封止した。 (6)鉄コンタミの溶解処理 次に、塩酸を収容した処理槽にガラス基板を浸漬し、ガ
ラス基板に付着しているおそれのある鉄コンタミ等のパ
ーティクルを溶解して除去した。 (7)最終洗浄工程 次いで、ガラス基板を、中性洗剤、中性洗剤、純水、純
水、IPA(イソプロピルアルコール)、IPA(蒸気
乾燥)の各洗浄槽に順次浸漬して洗浄した。なお、各洗
浄槽には超音波(周波数40kHz)を印加した。そし
て、完成したガラス基板をケースに収納した。
(5) Alkali ion sealing treatment step The glass substrate having been subjected to the above-mentioned washing step is immersed in hot concentrated sulfuric acid having a concentration of 96 wt% heated to about 200 ° C. for 5 minutes, and treated with heated concentrated sulfuric acid. Alkali ions such as Na ions were sealed on the glass substrate surface by making the bond of Si—O on the glass surface firm. (6) Dissolution treatment of iron contamination Next, the glass substrate was immersed in a treatment tank containing hydrochloric acid to dissolve and remove particles such as iron contamination that might adhere to the glass substrate. (7) Final Cleaning Step Next, the glass substrate was immersed and washed in a washing tank of a neutral detergent, a neutral detergent, pure water, pure water, IPA (isopropyl alcohol), and IPA (steam drying) sequentially. In addition, ultrasonic waves (frequency 40 kHz) were applied to each cleaning tank. Then, the completed glass substrate was stored in a case.

【0085】以上の工程を経て製造された磁気ディスク
用ガラス基板の表面を、顕微鏡で検査したところ、塩の
結晶物も鉄コンタミも認められなかった。又、5μm以
上のアルカリ溶出によるヤケも発見されなかった。これ
に対して、塩の結晶物洗浄工程を行わなかったガラス基
板は、目視検査によって、カリウムイオン又はナトリウ
ムイオンの数ミクロンのパーティクルが基板1枚あたり
0.01個確認された。又、塩の結晶物によってガラス
基板に付着した鉄コンタミによる未化学強化部分が認め
られた。又、温度85℃、湿度85%の高温多湿環境試
験を120時間実施したところ、やけ等のガラス基板表
面の変質は認められなかった。
When the surface of the glass substrate for a magnetic disk manufactured through the above steps was inspected with a microscope, no crystal of salt and no contamination with iron were recognized. In addition, burns due to alkali elution of 5 μm or more were not found. On the other hand, as for the glass substrate on which the salt crystal washing process was not performed, 0.01 particles of several microns of potassium ions or sodium ions were confirmed per substrate by visual inspection. Further, an unchemically strengthened portion due to iron contamination attached to the glass substrate due to the salt crystal was observed. Further, when a high-temperature and high-humidity environment test at a temperature of 85 ° C. and a humidity of 85% was conducted for 120 hours, no deterioration of the glass substrate surface such as burns was observed.

【0086】尚、アルカリイオンの移動防止効果を確認
するため、上述の実施例1においてアルカリイオン封止
工程だけ行わず、他は同様にしてガラス基板製造した。
このガラス基板に表面を観察したところ、塩の結晶物は
認められなかったが、5μm以上ヤケが0.09mm2
たり、十〜数百個認められた。
In order to confirm the effect of preventing migration of alkali ions, a glass substrate was manufactured in the same manner as in Example 1 except that only the alkali ion sealing step was not performed.
When the surface of this glass substrate was observed, no salt crystals were found, but ten to several hundreds of burns of 5 μm or more were found per 0.09 mm 2 .

【0087】(8)磁気ディスク製造工程 上述した工程を経て得られた磁気ディスク用ガラス基板
の両面に、インライン式のスパッタリング装置を用い
て、Cr下地層、CrMo下地層、CoPtCr磁性
層、C保護層を順次成膜して磁気ディスクを得た。
(8) Magnetic Disk Manufacturing Process A Cr underlayer, a CrMo underlayer, a CoPtCr magnetic layer, and a C protection layer were formed on both surfaces of the magnetic disk glass substrate obtained through the above-described processes by using an in-line sputtering apparatus. The layers were sequentially formed to obtain a magnetic disk.

【0088】得られた磁気ディスクについて、耐候性及
び寿命を調べたところ、ガラス基板表面の化学的変質に
起因する磁性膜等の劣化や欠陥は認められなかった。
When the weather resistance and the life of the obtained magnetic disk were examined, no deterioration or defect of the magnetic film or the like due to the chemical deterioration of the glass substrate surface was found.

【0089】また、得られた磁気ディスクについてグラ
イドテストを実施したところ、ヒット(ヘッドが磁気デ
ィスク表面の突起にかすること)やクラッシュ(ヘッド
が磁気ディスク表面の突起に衝突すること)は認められ
なかった。また、磁性層等の膜に欠陥が発生していない
ことも確認できた。更に、磁気抵抗型ヘッド(MRヘッ
ドとGMRヘッド)を使用して記録再生テストを行った
が、磁気ディスク表面の異常突起に起因するサーマルア
スフェリティーの発生は認められなかった。
Further, when a glide test was performed on the obtained magnetic disk, hits (the head touches the protrusions on the magnetic disk surface) and crashes (the head collides with the protrusions on the magnetic disk surface) were recognized. Did not. It was also confirmed that no defect occurred in the film such as the magnetic layer. Further, a recording / reproducing test was performed using a magnetoresistive head (MR head and GMR head), but no occurrence of thermal asperity due to abnormal projections on the surface of the magnetic disk was found.

【0090】実施例2〜3 アルミノシリケートガラスの代わりにソーダライムガラ
ス(実施例2)、結晶化ガラス(実施例3)を用いたこ
と以外は実施例1と同様にして、磁気ディスク用ガラス
基板及び磁気ディスクを得た。その結果、アルミノシリ
ケートガラスに比べ圧縮応力層は厚さに差異はあるが、
実用上問題はなく、実施例1同様のガラス基板表面の清
浄度が確認できた。又、磁気ディスクの各種磁気特性も
実施例1同様であった。
[0090] soda-lime glass in place of Examples 2-3 aluminosilicate glass (Example 2), except for using crystallized glass (Example 3) In the same manner as in Example 1, a glass substrate for a magnetic disk And a magnetic disk. As a result, the thickness of the compressive stress layer is different from that of aluminosilicate glass,
There was no practical problem, and the cleanliness of the glass substrate surface as in Example 1 could be confirmed. Also, various magnetic characteristics of the magnetic disk were the same as in the first embodiment.

【0091】次に、実施例2と実施例3の塩の結晶物洗
浄工程における温水洗浄を、それぞれ60℃で2.5時
間、50℃で3時間行ったが、ほぼ実施例1と同様の効
果が確認できた。
Next, the washing with warm water in the salt crystal washing step of Example 2 and Example 3 was performed at 60 ° C. for 2.5 hours and at 50 ° C. for 3 hours, respectively. The effect was confirmed.

【0092】実施例4 実施例1で得られた磁気ディスク用ガラス基板の両面
に、Al(膜厚50オングストローム)/Cr(100
0オングストローム)/CrMo(100オングストロ
ーム)からなる下地層、CoPtCr(120オングス
トローム)/CrMo(50オングストローム)/Co
PtCr(120オングストローム)からなる磁性層、
Cr(50オングストローム)保護層をインライン型ス
パッタ装置で形成した。
Example 4 On both surfaces of the glass substrate for a magnetic disk obtained in Example 1, Al (film thickness 50 Å) / Cr (100
0 Å / CrMo (100 Å), CoPtCr (120 Å) / CrMo (50 Å) / Co
A magnetic layer made of PtCr (120 Å),
A Cr (50 Å) protective layer was formed by an in-line type sputtering apparatus.

【0093】上記基板を、シリカ微粒子(粒経100オ
ングストローム)を分散した有機ケイ素化合物溶液(水
とIPAとテトラエトキシシランとの混合液)に浸し、
焼成することによってSiO2からなる保護層を形成
し、さらに、この保護層上をパーフロロポリエーテルか
らなる潤滑剤でディップ処理して潤滑層を形成して、M
Rヘッド用磁気ディスクを得た。
The above substrate is immersed in an organic silicon compound solution (a mixed solution of water, IPA and tetraethoxysilane) in which fine silica particles (particle size: 100 Å) are dispersed,
A protective layer made of SiO 2 is formed by firing, and a dip treatment is performed on the protective layer with a lubricant made of perfluoropolyether to form a lubricating layer.
A magnetic disk for an R head was obtained.

【0094】また、耐候性及び寿命を調べたところ、ガ
ラス基板表面の変質に起因する磁性膜等の劣化や欠陥は
認められなかった。
When the weather resistance and the life were examined, no deterioration or defect of the magnetic film or the like due to the deterioration of the glass substrate surface was found.

【0095】さらに、得られた磁気ディスクについてグ
ライドテストを実施したところ、ヒットやクラッシュは
認められなかった。また、磁性層等の膜に欠陥が発生し
ていないことも確認できた。又、サーマル・アスフェリ
ティーも発生しないことも確認できた。
Further, when a glide test was conducted on the obtained magnetic disk, no hit or crash was recognized. It was also confirmed that no defect occurred in the film such as the magnetic layer. It was also confirmed that no thermal asperity was generated.

【0096】実施例5 下地層をAl/Cr/Crとし、磁性層をCoNiCr
Taとしたこと以外は実施例4と同様にして薄膜ヘッド
用磁気ディスクを得た。上記磁気ディスクについて実施
例4と同様のことが確認された。
Example 5 The underlayer was made of Al / Cr / Cr, and the magnetic layer was made of CoNiCr.
A magnetic disk for a thin film head was obtained in the same manner as in Example 4 except that Ta was used. The same thing as Example 4 was confirmed for the magnetic disk.

【0097】[0097]

【発明の効果】以上説明したように、本発明の情報記録
媒体用ガラス基板の製造方法によれば、塩の結晶物が完
全に除去されているとともに、塩の結晶物がバインダー
となってガラス基板上に付着したパーティクルを除去し
た情報記録媒体用ガラス基板を得ることができる。又、
アルカリイオンの移動防止工程を付加することにより、
ガラス基板表面の化学的変質も防止することができる。
As described above, according to the method for producing a glass substrate for an information recording medium of the present invention, the crystal of the salt is completely removed, and the crystal of the salt serves as a binder. A glass substrate for an information recording medium from which particles adhered to the substrate have been removed can be obtained. or,
By adding an alkali ion migration prevention step,
Chemical deterioration of the glass substrate surface can also be prevented.

【0098】従って、上述の製造方法で得られた基板で
情報記録媒体を製造すると、膜欠陥の少ない高品質の磁
気ディスクを高歩留まりで製造できる。又、耐候性及び
寿命に優れ高い信頼性を有する情報記録媒体を製造でき
る。特に磁気ディスクに本発明のガラス基板を使用する
と、ヘッドクラッシュを起こさず、低フライングハイト
を実現できる。又、磁気抵抗型ヘッドによって電磁変換
する磁気ディスクの場合は、表面突起によるサーマル・
アスフェリティーを防止することができる。
Therefore, when an information recording medium is manufactured using the substrate obtained by the above-described manufacturing method, a high-quality magnetic disk with few film defects can be manufactured with a high yield. Further, it is possible to manufacture an information recording medium which is excellent in weather resistance and life and has high reliability. In particular, when the glass substrate of the present invention is used for a magnetic disk, a low flying height can be realized without causing a head crash. In the case of a magnetic disk that performs electromagnetic conversion by a magnetoresistive head, thermal
Asperity can be prevented.

───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (51)Int.Cl.6 識別記号 FI G11B 7/26 G11B 7/26 11/10 541 11/10 541D 541E (72)発明者 小澤 潤 東京都新宿区中落合2丁目7番5号 ホー ヤ株式会社内 (72)発明者 前田 和彦 東京都新宿区中落合2丁目7番5号 ホー ヤ株式会社内──────────────────────────────────────────────────の Continued on the front page (51) Int.Cl. 6 Identification symbol FI G11B 7/26 G11B 7/26 11/10 541 11/10 541D 541E (72) Inventor Jun Ozawa 2-chome Nakaochiai, Shinjuku-ku, Tokyo Inside of No. 7-5 Hoya Co., Ltd. (72) Inventor Kazuhiko Maeda Inside of No. 7-5, Nakaochiai, Shinjuku-ku, Tokyo

Claims (12)

【特許請求の範囲】[Claims] 【請求項1】 加熱した化学強化処理液にガラス基板を
浸漬し、ガラス基板表層のイオンを化学強化処理液中の
イオンでイオン交換してガラス基板を化学強化する化学
強化処理工程と、 前記工程で熱を付与された状態にあるガラス基板を溶媒
に接触させることにより、ガラス基板上に付着した塩の
結晶物のイオン結合を、前記溶媒の極性と熱エネルギー
を利用して低減あるいは分離することにより、塩の結晶
物を洗浄する塩の結晶物洗浄工程と、 を含むことを特徴とする情報記録媒体用ガラス基板の製
造方法。
A chemical strengthening treatment step of immersing a glass substrate in a heated chemical strengthening treatment liquid and ion-exchanging ions of a surface layer of the glass substrate with ions in the chemical strengthening treatment liquid to chemically strengthen the glass substrate; By bringing the glass substrate in a state where heat is applied into contact with a solvent, the ionic bond of the salt crystal attached to the glass substrate is reduced or separated by using the polarity and the heat energy of the solvent. And a salt crystal washing step of washing the salt crystals by the following method.
【請求項2】塩の結晶物洗浄工程が、化学強化処理液の
加熱温度と室温との間の温度域で行われることを特徴と
する請求項1記載の情報記録媒体用ガラス基板の製造方
法。
2. The method for manufacturing a glass substrate for an information recording medium according to claim 1, wherein the salt crystal washing step is performed in a temperature range between the heating temperature of the chemical strengthening treatment solution and room temperature. .
【請求項3】溶媒が、30℃から100℃の温水である
ことを特徴とする請求項1又は2記載の情報記録媒体用
ガラス基板の製造方法。
3. The method for producing a glass substrate for an information recording medium according to claim 1, wherein the solvent is warm water at 30 ° C. to 100 ° C.
【請求項4】温水が純水であることを特徴とする請求項
3記載の情報記録媒体用ガラス基板の製造方法。
4. The method for producing a glass substrate for an information recording medium according to claim 3, wherein the hot water is pure water.
【請求項5】請求項1〜4の何れか一項における、塩の
結晶物洗浄工程において、物理的外力を付加することに
より、洗浄力を高めたことを特徴とする情報記録媒体用
ガラス基板の製造方法。
5. The glass substrate for an information recording medium according to claim 1, wherein in the salt crystal washing step, the washing power is increased by applying a physical external force. Manufacturing method.
【請求項6】請求項5記載の情報記録媒体用ガラス基板
の製造方法において、物理的外力が、溶媒に超音波を伝
播させるか、スクラブ方法であることを特徴とする情報
記録媒体用ガラス基板の製造方法。
6. The glass substrate for an information recording medium according to claim 5, wherein the physical external force is an ultrasonic wave propagating in a solvent or a scrubbing method. Manufacturing method.
【請求項7】化学強化処理工程、又は塩の洗浄工程の後
にガラス基板の表面に脱アルカリイオン処理又はアルカ
リイオン封止処理を行うことを特徴とする請求項1〜6
の何れか一項に記載の情報記録媒体用ガラス基板の製造
方法。
7. The method according to claim 1, wherein the surface of the glass substrate is subjected to a de-alkali ion treatment or an alkali ion sealing treatment after the chemical strengthening treatment step or the salt washing step.
The method for producing a glass substrate for an information recording medium according to any one of the above.
【請求項8】アルカリイオン封止処理として、ガラス基
板を加熱した濃硫酸に接触させることを特徴とする請求
項7記載の情報記録媒体用ガラス基板の製造方法。
8. The method for producing a glass substrate for an information recording medium according to claim 7, wherein the glass substrate is brought into contact with heated concentrated sulfuric acid as the alkali ion sealing treatment.
【請求項9】 加熱された酸の温度が、100℃超〜3
00℃であることを特徴とする請求項8に記載の情報記
録媒体用ガラス基板の製造方法。
9. The temperature of the heated acid is more than 100.degree.
The method for producing a glass substrate for an information recording medium according to claim 8, wherein the temperature is 00C.
【請求項10】 情報記録媒体用ガラス基板が磁気ディ
スク用ガラス基板であることを特徴とする請求項1〜9
の何れか一項に記載の情報記録媒体用ガラス基板の製造
方法。
10. The glass substrate for an information recording medium is a glass substrate for a magnetic disk.
The method for producing a glass substrate for an information recording medium according to any one of the above.
【請求項11】 磁気ディスク用ガラス基板が、磁気抵
抗型磁気ヘッドによって電磁変換される磁気ディスクに
使用されるガラス基板であることを特徴とする請求項1
0記載の情報記録媒体用ガラス基板の製造方法。
11. The magnetic disk glass substrate according to claim 1, wherein the glass substrate is a glass substrate used for a magnetic disk that is electromagnetically converted by a magnetoresistive magnetic head.
0. A method for producing a glass substrate for an information recording medium according to 0.
【請求項12】 請求項1〜11に記載された何れか一
項の情報記録媒体用ガラス基板の製造方法によって製造
された情報記録媒体用ガラス基板上に、少なくとも記録
層を形成することを特徴とする情報記録媒体の製造方
法。
12. A method for manufacturing a glass substrate for an information recording medium according to any one of claims 1 to 11, wherein at least a recording layer is formed on the glass substrate for an information recording medium. Manufacturing method of the information recording medium.
JP9041512A 1997-02-09 1997-02-09 Method for manufacturing glass substrate for information recording medium and method for manufacturing information recording medium Expired - Lifetime JP3023429B2 (en)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP9041512A JP3023429B2 (en) 1997-02-09 1997-02-09 Method for manufacturing glass substrate for information recording medium and method for manufacturing information recording medium

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP9041512A JP3023429B2 (en) 1997-02-09 1997-02-09 Method for manufacturing glass substrate for information recording medium and method for manufacturing information recording medium

Publications (2)

Publication Number Publication Date
JPH10226539A true JPH10226539A (en) 1998-08-25
JP3023429B2 JP3023429B2 (en) 2000-03-21

Family

ID=12610436

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP9041512A Expired - Lifetime JP3023429B2 (en) 1997-02-09 1997-02-09 Method for manufacturing glass substrate for information recording medium and method for manufacturing information recording medium

Country Status (1)

Country Link
JP (1) JP3023429B2 (en)

Cited By (11)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2003030828A (en) * 2001-07-18 2003-01-31 Fuji Electric Co Ltd Method for manufacturing substrate for information recording medium, substrate for information recording medium and information recording medium
US7227827B2 (en) 2000-03-13 2007-06-05 Optware Corporation Optical information recording apparatus, optical information reproducing apparatus, optical information recording/reproducing apparatus, and optical information recording medium
JP2007284339A (en) * 2006-03-24 2007-11-01 Hoya Corp Method for producing magnetic disk glass substrate and method for producing magnetic disk
US7622205B2 (en) 2004-04-16 2009-11-24 Fuji Electric Device Technology Co. Ltd. Disk substrate for a perpendicular magnetic recording medium and a perpendicular magnetic recording medium using the substrate
US7937967B2 (en) 2007-09-06 2011-05-10 Fuji Electric Device Technology Co., Ltd. Method of manufacturing a glass substrate, glass substrate manufactured by the method, and magnetic recording medium using the glass substrate
US8039045B2 (en) 2004-07-27 2011-10-18 Fuji Electric Co., Ltd. Method of manufacturing a disk substrate for a magnetic recording medium
US8613206B2 (en) 2006-03-24 2013-12-24 Hoya Corporation Method for manufacturing glass substrate for magnetic disk and method for manufacturing magnetic disk
WO2014189117A1 (en) * 2013-05-24 2014-11-27 日本電気硝子株式会社 Method for manufacturing tempered glass sheet
CN105676601A (en) * 2014-12-03 2016-06-15 东京应化工业株式会社 Pretreatment method of glass substrate used for forming etching mask
JP2016525996A (en) * 2013-04-30 2016-09-01 コーニング インコーポレイテッド Glass with depletion layer and polycrystalline silicon TFT constructed thereon
WO2023181955A1 (en) * 2022-03-23 2023-09-28 日本電気硝子株式会社 Method for producing glass article, glass article, and layered product

Cited By (16)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US7227827B2 (en) 2000-03-13 2007-06-05 Optware Corporation Optical information recording apparatus, optical information reproducing apparatus, optical information recording/reproducing apparatus, and optical information recording medium
JP2003030828A (en) * 2001-07-18 2003-01-31 Fuji Electric Co Ltd Method for manufacturing substrate for information recording medium, substrate for information recording medium and information recording medium
US7622205B2 (en) 2004-04-16 2009-11-24 Fuji Electric Device Technology Co. Ltd. Disk substrate for a perpendicular magnetic recording medium and a perpendicular magnetic recording medium using the substrate
US8039045B2 (en) 2004-07-27 2011-10-18 Fuji Electric Co., Ltd. Method of manufacturing a disk substrate for a magnetic recording medium
JP2007284339A (en) * 2006-03-24 2007-11-01 Hoya Corp Method for producing magnetic disk glass substrate and method for producing magnetic disk
US8613206B2 (en) 2006-03-24 2013-12-24 Hoya Corporation Method for manufacturing glass substrate for magnetic disk and method for manufacturing magnetic disk
US7937967B2 (en) 2007-09-06 2011-05-10 Fuji Electric Device Technology Co., Ltd. Method of manufacturing a glass substrate, glass substrate manufactured by the method, and magnetic recording medium using the glass substrate
JP2016525996A (en) * 2013-04-30 2016-09-01 コーニング インコーポレイテッド Glass with depletion layer and polycrystalline silicon TFT constructed thereon
JP2015003857A (en) * 2013-05-24 2015-01-08 日本電気硝子株式会社 Method for producing strengthened glass plates
CN105164081A (en) * 2013-05-24 2015-12-16 日本电气硝子株式会社 Method for manufacturing tempered glass sheet
WO2014189117A1 (en) * 2013-05-24 2014-11-27 日本電気硝子株式会社 Method for manufacturing tempered glass sheet
TWI634088B (en) * 2013-05-24 2018-09-01 日商日本電氣硝子股份有限公司 Method for manufacturing tempered glass plate
CN105676601A (en) * 2014-12-03 2016-06-15 东京应化工业株式会社 Pretreatment method of glass substrate used for forming etching mask
JP2016108172A (en) * 2014-12-03 2016-06-20 東京応化工業株式会社 Preprocessing method of glass substrate for use in forming etching mask
CN105676601B (en) * 2014-12-03 2020-08-07 东京应化工业株式会社 Pretreatment method of glass substrate for forming etching mask
WO2023181955A1 (en) * 2022-03-23 2023-09-28 日本電気硝子株式会社 Method for producing glass article, glass article, and layered product

Also Published As

Publication number Publication date
JP3023429B2 (en) 2000-03-21

Similar Documents

Publication Publication Date Title
US6544893B2 (en) Method of manufacturing a glass substrate for an information recording medium, and method of manufacturing an information recording medium
US6134918A (en) Method of fabricating glass substrate for magnetic disk and method of fabricating magnetic disk
JP2003036528A (en) Base for information recording medium, its manufacturing method, and information recording medium
JP2002150547A (en) Method for manufacturing glass substrate for information recording medium
JP3512702B2 (en) Method for manufacturing glass substrate for information recording medium and method for manufacturing information recording medium
US20130287938A1 (en) Method of manufacturing magnetic-disk glass substrate and method of manufacturing magnetic disk
JP3023429B2 (en) Method for manufacturing glass substrate for information recording medium and method for manufacturing information recording medium
WO2012093516A1 (en) Glass substrate for information recording medium, manufacturing method for same and magnetic recording medium
WO2007111149A1 (en) Method for manufacturing glass substrate for magnetic disk and method for manufacturing magnetic disk
JPH11232627A (en) Substrate for information record medium
JP3254157B2 (en) Glass substrate for recording medium, and recording medium using the substrate
JP2008090898A (en) Manufacturing method for glass substrate of information recording medium, and manufacturing method for information recording medium
JP5577290B2 (en) Method for manufacturing glass substrate for magnetic information recording medium
JP2998949B2 (en) Method of manufacturing glass substrate for magnetic disk and method of manufacturing magnetic disk
JP4623211B2 (en) Manufacturing method of glass substrate for information recording medium and magnetic disk using the same
JP3113828B2 (en) Method of manufacturing glass substrate for magnetic disk and method of manufacturing magnetic disk
JP3078281B2 (en) Method of manufacturing substrate for information recording medium and information recording medium
JP2951571B2 (en) Method of manufacturing glass substrate for magnetic disk and method of manufacturing magnetic disk
JP2998953B2 (en) Method of manufacturing glass substrate for magnetic disk and method of manufacturing magnetic disk
JP2002109727A (en) Method for manufacturing information recording medium and glass board of it
JP2998952B2 (en) Glass substrate for recording medium and method for producing recording medium
JP3025654B2 (en) Method for manufacturing glass substrate for information recording medium and method for manufacturing information recording medium
JPH11134645A (en) Glass substrate for information record medium and its production
JPH1125454A (en) Manufacture of glass substrate for information recording medium and manufacture of the medium
JPH10194785A (en) Production of glass substrate for information recording medium, and production of information recording medium

Legal Events

Date Code Title Description
FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20090121

Year of fee payment: 9

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20090121

Year of fee payment: 9

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20100121

Year of fee payment: 10

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20110121

Year of fee payment: 11

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20110121

Year of fee payment: 11

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20120121

Year of fee payment: 12

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20120121

Year of fee payment: 12

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20130121

Year of fee payment: 13

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20130121

Year of fee payment: 13

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20140121

Year of fee payment: 14

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

S531 Written request for registration of change of domicile

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R313531

R350 Written notification of registration of transfer

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R350

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

EXPY Cancellation because of completion of term