JPH10223527A - Aligner - Google Patents

Aligner

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JPH10223527A
JPH10223527A JP33588897A JP33588897A JPH10223527A JP H10223527 A JPH10223527 A JP H10223527A JP 33588897 A JP33588897 A JP 33588897A JP 33588897 A JP33588897 A JP 33588897A JP H10223527 A JPH10223527 A JP H10223527A
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JP
Japan
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stage
substrate
substrate stage
base
cables
Prior art date
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Pending
Application number
JP33588897A
Other languages
Japanese (ja)
Inventor
Toshiya Otomo
俊弥 大友
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Nikon Corp
Original Assignee
Nikon Corp
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Filing date
Publication date
Application filed by Nikon Corp filed Critical Nikon Corp
Priority to JP33588897A priority Critical patent/JPH10223527A/en
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Pending legal-status Critical Current

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  • Automatic Assembly (AREA)
  • Container, Conveyance, Adherence, Positioning, Of Wafer (AREA)
  • Exposure Of Semiconductors, Excluding Electron Or Ion Beam Exposure (AREA)

Abstract

PROBLEM TO BE SOLVED: To eliminate adverse effect on the positioning accuracy of cable by controlling the moving amount such that a constant relative positional relationship is kept between a substrate stage and an interconnecting means for moving cables, connected fixedly with a substrate stage movable along the upper surface of a base, in the same direction. SOLUTION: A main control system supplies a drive signal simultaneously to a substrate stage drive system through a stage control system and to a robot arm 50 so that a cable relaying section 51 follows up the movement of a substrate stage 15. The relaying section 51 secured with cables 41 moves two-dimensionally in XY coordinate system while following up the movement of the substrate stage such that relative position to the substrate stage 15 is not varied. Since the cables 41 extending from the substrate stage 15 can sustain a same shape regardless of the fact that the stage 15 is located in the center of a base 17 or shifted to upper right part or lower left part and thereby the positioning accuracy is not degraded.

Description

【発明の詳細な説明】DETAILED DESCRIPTION OF THE INVENTION

【0001】[0001]

【発明の属する技術分野】本発明は、半導体デバイスや
液晶表示デバイス製造用の露光装置に関し、特に露光装
置中のXYステージ部に関する。
BACKGROUND OF THE INVENTION 1. Field of the Invention The present invention relates to an exposure apparatus for manufacturing a semiconductor device or a liquid crystal display device, and more particularly to an XY stage in the exposure apparatus.

【0002】[0002]

【従来の技術】半導体デバイスや液晶表示デバイスの製
造には、レチクルやマスク(以下、マスクという)のパ
ターンを半導体ウエハやガラスプレート等の感光基板に
露光するために露光装置が用いられる。露光装置は、感
光基板を所定の露光位置に移動させるための手段とし
て、X,Yの2次元方向に移動可能な基板ステージを備
えたステージ装置を備えている。
2. Description of the Related Art In the manufacture of semiconductor devices and liquid crystal display devices, an exposure apparatus is used to expose a pattern of a reticle or a mask (hereinafter, referred to as a mask) to a photosensitive substrate such as a semiconductor wafer or a glass plate. The exposure apparatus includes a stage device having a substrate stage movable in two-dimensional X and Y directions as means for moving the photosensitive substrate to a predetermined exposure position.

【0003】図9は、従来のステージ装置の概念図であ
る。上部に基板載置面を有する基板ステージ71は、図
示しないXY方向のガイドに沿って駆動部でベース72
上を2次元方向に自在に移動する。感光基板は、基板ス
テージ71の基板載置面上に載置され、基板載置面に設
けられた真空吸着孔(図示せず)を真空排気することに
よって真空吸着保持される。この種のステージ移動機構
としては、特開昭58−175,020号に開示されて
いる技術を用いることができる。
FIG. 9 is a conceptual diagram of a conventional stage device. A substrate stage 71 having a substrate mounting surface on an upper side is driven by a driving unit along a base 72 in an XY direction (not shown).
It moves freely in the two-dimensional direction above. The photosensitive substrate is mounted on the substrate mounting surface of the substrate stage 71, and is held by vacuum suction by evacuating a vacuum suction hole (not shown) provided on the substrate mounting surface. As this type of stage moving mechanism, a technique disclosed in Japanese Patent Application Laid-Open No. 58-175,020 can be used.

【0004】基板ステージ71には、基板ステージ内部
に配置されたモーター等の駆動手段に電力を供給するた
めのケーブル、モーターを冷却する冷却液配管、基板ス
テージを所定の温度に保つための冷却液配管、基板載置
面に設けられた真空吸着孔を真空排気するためのバキュ
ーム配管等(以下、これらのケーブルや配管を総称して
ケーブル類という)が接続されている。これらのケーブ
ル類73は、基板ステージ71の固定部73aと装置内
の固定部73bに固定され、固定部73a,73b間で
変形することによって基板ステージ71がベース72上
を自由に移動できるようになっている。
The substrate stage 71 includes a cable for supplying power to driving means such as a motor disposed inside the substrate stage, a cooling liquid pipe for cooling the motor, and a cooling liquid for maintaining the substrate stage at a predetermined temperature. A pipe, a vacuum pipe for evacuating a vacuum suction hole provided on the substrate mounting surface, and the like (hereinafter, these cables and pipes are collectively referred to as cables) are connected. These cables 73 are fixed to a fixed portion 73a of the substrate stage 71 and a fixed portion 73b in the apparatus, and are deformed between the fixed portions 73a and 73b so that the substrate stage 71 can freely move on the base 72. Has become.

【0005】[0005]

【発明が解決しようとする課題】このベース72上を基
板ステージ71が移動するときのケーブル類73の各種
状態を模式的に描いた図が図10〜12である。図10
は基板ステージ71がベース72の中央に位置している
状態を、図11は基板ステージ71がベース72の左上
に位置している状態を、図12は基板ステージ71がベ
ース72の右下に位置している状態をそれぞれ示す。
FIGS. 10 to 12 schematically show various states of the cables 73 when the substrate stage 71 moves on the base 72. FIGS. FIG.
11 shows a state where the substrate stage 71 is located at the center of the base 72, FIG. 11 shows a state where the substrate stage 71 is located at the upper left of the base 72, and FIG. 12 shows a state where the substrate stage 71 is located at the lower right of the base 72. Respectively.

【0006】いま、基板ステージ71が図10に示した
位置から図11、12に示した位置に移動するとき、ケ
ーブル類73を固定している一方のケーブル固定部73
aは基板ステージ71とともに移動するのに対し、他方
のケーブル固定部73bは固定されている。したがっ
て、基板ステージ71の移動に伴い、ケーブル類73は
2つのケーブル固定部73a,73b間で伸縮する。こ
のとき、ケーブル類73が元に戻ろうとすることにより
ケーブル固定部73aを介して基板ステージ71に、各
図中に矢印で示す反力74が作用するが、ケーブル類7
3の伸縮の状態により反力74の方向及び大きさは一定
ではないため、精密位置決めを行う基板ステージ71に
外乱となって基板ステージ71の位置決め精度に悪影響
を及ぼしていた。本発明は、このような従来の基板ステ
ージの問題点に鑑みてなされたもので、ケーブル類によ
り基板ステージ等の位置決め精度が影響を受けることの
ない露光装置を提供することを目的とする。
Now, when the substrate stage 71 moves from the position shown in FIG. 10 to the position shown in FIGS. 11 and 12, one cable fixing portion 73 fixing the cables 73 is provided.
While a moves together with the substrate stage 71, the other cable fixing portion 73b is fixed. Therefore, as the substrate stage 71 moves, the cables 73 expand and contract between the two cable fixing portions 73a and 73b. At this time, a reaction force 74 indicated by an arrow in each drawing acts on the substrate stage 71 via the cable fixing portion 73a as the cables 73 try to return to the original state.
Since the direction and magnitude of the reaction force 74 are not constant depending on the state of expansion and contraction of 3, the disturbance to the substrate stage 71 for performing precise positioning is exerted and adversely affects the positioning accuracy of the substrate stage 71. The present invention has been made in view of such problems of the conventional substrate stage, and has as its object to provide an exposure apparatus in which positioning accuracy of the substrate stage and the like is not affected by cables.

【0007】[0007]

【課題を解決するための手段】この目的を達成するた
め、本発明の露光装置は、マスクパターン上のマスクを
基板に露光する露光装置において、基板を載置して基板
ベースの上面に沿って2次元的に移動可能な基板ステー
ジと、この基板ベース面と物理的に離隔して配置され、
基板ステージに接続されているケーブル類を固定して基
板ステージと同一の2次元方向に移動可能なケーブル類
中継手段と、基板ステージとケーブル類中継手段との相
対的な位置を常に一定に保つようにケーブル類中継手段
の移動量を制御する駆動手段と、を備えることを特徴と
する。
In order to achieve this object, an exposure apparatus according to the present invention is an exposure apparatus for exposing a mask on a mask pattern onto a substrate. A two-dimensionally movable substrate stage, and a substrate stage which is physically separated from the substrate base surface;
A cable relay unit that fixes cables connected to the substrate stage and is movable in the same two-dimensional direction as the substrate stage, and always keeps a relative position between the substrate stage and the cable relay unit constant. And driving means for controlling the amount of movement of the cable relay means.

【0008】これによれば、基板ステージに追従してケ
ーブル類中継手段が移動し、ケーブル類中継手段と基板
ステージの相対的位置関係は常に一定に保たれる。この
結果、基板ステージとケーブル類中継手段との間に引き
回されるケーブルの形状も常に一定に保たれるので、基
板ステージにケーブル類が及ぼす反力の向き、大きさも
常に一定に保たれる。したがって、反力の変動がなく、
ステージの移動精度を確保することができる。
[0008] According to this, the cable relay means moves following the substrate stage, and the relative positional relationship between the cable relay means and the substrate stage is always kept constant. As a result, the shape of the cable routed between the substrate stage and the cable relay means is always kept constant, so that the direction and magnitude of the reaction force exerted by the cables on the substrate stage are always kept constant. . Therefore, there is no change in the reaction force,
The movement accuracy of the stage can be secured.

【0009】さらに、レチクルステージが移動可能な構
成とする場合は、レチクルステージについてもこれと同
様の構成とすることが好ましい。そして、ケーブル類中
継手段の駆動によりステージ部に影響を及ぼさないよう
にするため、駆動部分をベース本体とは物理的に離隔し
て配置された副ベース部に配置していることが好まし
い。
Further, when the reticle stage is configured to be movable, it is preferable that the reticle stage has the same configuration. In order to prevent the stage from being affected by the driving of the cable relay means, it is preferable that the driving portion is disposed on a sub-base portion which is physically separated from the base body.

【0010】[0010]

【発明の実施の形態】以下、図面を参照して本発明の実
施の形態を説明する。なお、各図面は本発明の構成要素
のうちステージ装置を中心として概略的に示したもので
あり、その寸法、形状は実際の装置とは必ずしも一致し
ない。また、説明を簡略化するため、同一の構成要素に
は可能な限り同一の参照番号を附し、重複する説明は省
略する。
Embodiments of the present invention will be described below with reference to the drawings. In addition, each drawing schematically shows the components of the present invention mainly with respect to the stage device, and the dimensions and shapes do not always match those of the actual device. To simplify the description, the same components are denoted by the same reference numerals as much as possible, and redundant description will be omitted.

【0011】図1は、本発明の露光装置の一実施形態の
概略図である。本露光装置は、照明系1からの光をマス
ク7に投射し、マスク7のマスクパターン8を投影レン
ズ11を介して感光基板12の感光面13に露光するた
めの装置である。照明系1と、投影レンズ11とは、フ
レーム2に支持されており、このフレーム2は床からの
振動を受けることがないよう振動を吸収する例えばゴム
製のハードマウント57上に配置される。マスクパター
ン8を有するマスク7は、レチクルステージ9上に載置
されており、このレチクルステージ9は、レチクルベー
ス19上をこの表面に沿って2次元方向(XY方向)に
移動可能である。レチクルステージ9のXY方向への移
動は、レチクルステージ9とレチクルベース19間で構
成された磁気浮上型平面モータにより行われる。
FIG. 1 is a schematic view of an embodiment of the exposure apparatus of the present invention. The present exposure apparatus is an apparatus for projecting light from the illumination system 1 onto a mask 7 and exposing a mask pattern 8 of the mask 7 to a photosensitive surface 13 of a photosensitive substrate 12 via a projection lens 11. The illumination system 1 and the projection lens 11 are supported by a frame 2, and the frame 2 is disposed on a hard mount 57 made of rubber, for example, which absorbs vibration so as not to receive vibration from the floor. The mask 7 having the mask pattern 8 is mounted on a reticle stage 9, and the reticle stage 9 is movable in a two-dimensional direction (XY directions) along a surface of the reticle base 19 along the surface. The movement of the reticle stage 9 in the X and Y directions is performed by a magnetic levitation type planar motor formed between the reticle stage 9 and the reticle base 19.

【0012】一方、このマスク7に対向して配置される
感光基板12は、基板ステージ15上に設けられたアク
チュエータ16A〜16Cを介して、載物テーブル14
上に配置されている。このアクチュエータ16A〜16
CのそれぞれのZ方向への移動量を調整することによ
り、感光基板12のZ方向の位置及び感光基板12と基
板ステージ15とがなす角度を調整することができる。
この基板ステージ15は、基板ベース17上をこの表面
に沿って2次元方向に移動可能である。この移動は両者
間に構成された磁気浮上型平面モータによって行われ
る。基板ステージ15とレチクルステージ9は、互いに
同期させて相対移動させる。基板ベース17とレチクル
ベース19は、フレーム18によって一体化されてお
り、ばね又はエアダンパ等の弾性体やアクチュエータ等
を用いた各種の防振部材6を介して床面に載置されたフ
ロア部3上に配置されている。
On the other hand, the photosensitive substrate 12 arranged opposite to the mask 7 is placed on a loading table 14 via actuators 16A to 16C provided on a substrate stage 15.
Is placed on top. These actuators 16A-16
The position of the photosensitive substrate 12 in the Z direction and the angle between the photosensitive substrate 12 and the substrate stage 15 can be adjusted by adjusting the amount of movement of each of the Cs in the Z direction.
The substrate stage 15 is movable on the substrate base 17 in a two-dimensional direction along the surface. This movement is performed by a magnetic levitation type planar motor configured between them. The substrate stage 15 and the reticle stage 9 are relatively moved in synchronization with each other. The substrate base 17 and the reticle base 19 are integrated by a frame 18, and the floor portion 3 mounted on the floor via various vibration isolating members 6 using an elastic body such as a spring or an air damper or an actuator. Is placed on top.

【0013】基板ベース17とレチクルベース19は、
フレーム18と別端でボイスコイルモータ(VCM)等
を利用した防振装置56により床面に固定されたフレー
ム5と接続されている。ここで、VCMを使用する場合
は、固定子側がフレーム5側に配置され、可動子側がそ
れぞれのベース17、19側に配置される。これによ
り、基板ステージ15とレチクルステージ5を同期させ
て移動させることにより発生する振動(反力)を除去す
ることができる。
The substrate base 17 and the reticle base 19 are
The other end of the frame 18 is connected to the frame 5 fixed to the floor by a vibration isolator 56 using a voice coil motor (VCM) or the like. Here, when using the VCM, the stator side is arranged on the frame 5 side, and the mover side is arranged on the respective bases 17 and 19 sides. Thereby, vibration (reaction force) generated by moving the substrate stage 15 and the reticle stage 5 in synchronization can be removed.

【0014】これらの基板ステージ15及びレチクルス
テージ9からはそれぞれの平面モータ部に給電するため
の電力ケーブルや制御用配線、平面モータや各ステージ
を冷却するための冷却液を輸送する冷却液配管等を束ね
たケーブル類41、42が引き出されている。これらの
ケーブル類41、42は全て、ロボットアーム50、5
3によってXY座標面上を2次元的に移動するケーブル
類中継部51、54を介してそれぞれ基板ステージ1
5、レチクルステージ9に接続されている。
From the substrate stage 15 and the reticle stage 9, power cables and control wiring for supplying power to the respective planar motors, cooling fluid pipes for transporting the planar motor and the cooling fluid for cooling the respective stages, etc. Cables 41 and 42 which are bundled together are drawn out. These cables 41 and 42 are all connected to the robot arms 50 and 5
3 via the cable relays 51 and 54 that move two-dimensionally on the XY coordinate plane by the
5, connected to the reticle stage 9.

【0015】図2は、この基板ステージ15部分の斜視
図を示したものである。レチクルステージ9についても
基本的に同様の構成となっている。後述するように、ロ
ボットアーム50(53)は、基板ステージ15(レチ
クルステージ9)の移動に関らずケーブル類中継部51
(54)の基板ステージ15(レチクルステージ9)に
対する相対的な位置及び姿勢が常に一定に保たれるよ
う、基板ステージ15(レチクルステージ9)に対して
ケーブル類中継部51(54)を追従させて移動させ
る。
FIG. 2 is a perspective view of the substrate stage 15 portion. The reticle stage 9 has basically the same configuration. As described later, the robot arm 50 (53) is connected to the cable relay unit 51 regardless of the movement of the substrate stage 15 (reticle stage 9).
The cable relay unit 51 (54) follows the substrate stage 15 (reticle stage 9) so that the relative position and attitude of the substrate stage (54) relative to the substrate stage 15 (reticle stage 9) are always kept constant. To move.

【0016】図1に示されるように、これらのロボット
アーム50、53のロボット本体52、55はフレーム
4に取り付けられており、このフレーム4は床面にフロ
ア部3から独立して固定されている。フレーム4には、
さらに、ケーブル類41、42が接続された基板ステー
ジ駆動系24及びレチクルステージ駆動系27が取り付
けられている。一方、露光用及び感光基板12の位置調
整用の光を照射する照射系1とマスク7のマスクパター
ン8を感光基板12のショット領域13上に投影する投
影光学系11とがフレーム2の所定の位置に固定されて
おり、フレーム2もまた防振部材57を介してフロア部
3上に配置されている。
As shown in FIG. 1, the robot main bodies 52, 55 of these robot arms 50, 53 are mounted on a frame 4, and this frame 4 is fixed to the floor surface independently of the floor section 3. I have. In frame 4,
Further, a substrate stage drive system 24 and a reticle stage drive system 27 to which cables 41 and 42 are connected are attached. On the other hand, an irradiation system 1 for irradiating light for exposure and for adjusting the position of the photosensitive substrate 12 and a projection optical system 11 for projecting a mask pattern 8 of a mask 7 onto a shot area 13 of the photosensitive substrate 12 include a predetermined optical system. The frame 2 is also disposed on the floor 3 via the vibration isolating member 57.

【0017】また、載物テーブル14の上端に固定され
たX軸用の移動鏡22X及びフレーム18に固定された
レーザ干渉計23Xにより、感光基板12のX座標が常
時モニタされ、同様にY軸用の移動鏡22Y及び外部の
レーザ干渉計23Y(図2参照)により、感光基板12
のY座標が常時モニタされ、検出されたX座標、Y座標
はステージ制御系21に伝送される。ステージ制御系2
1は、伝送されてきた座標に基づいて基板ステージ駆動
系24を介して基板ステージ15及び載物テーブル14
の動作を制御する。同様に、レチクルステージ9の上端
に固定されたX軸用の移動鏡25X及びレチクルベース
18上に固定されたレーザ干渉計26Xにより、マスク
8のX座標が常時モニタされ、同様にY軸用の移動鏡2
5Y及び外部のレーザ干渉計26Y(図示していない)
により、マスク8のY座標が常時モニタされ、検出され
たX座標、Y座標はステージ制御系21に伝送される。
ステージ制御系21は、伝送されてきた座標に基づいて
レチクルステージ駆動系27を介してレチクルステージ
9の動作を制御する。このステージ制御系21及び照射
系1は、主制御系20によって制御されている。
The X coordinate of the photosensitive substrate 12 is constantly monitored by a movable mirror 22X for the X axis fixed to the upper end of the table 14 and a laser interferometer 23X fixed to the frame 18, and similarly, the Y axis is The movable substrate 22Y and the external laser interferometer 23Y (see FIG. 2) are used to
Are constantly monitored, and the detected X and Y coordinates are transmitted to the stage control system 21. Stage control system 2
Reference numeral 1 denotes a substrate stage 15 and a loading table 14 via a substrate stage driving system 24 based on the transmitted coordinates.
Control the operation of. Similarly, the X coordinate of the mask 8 is constantly monitored by the X-axis movable mirror 25X fixed to the upper end of the reticle stage 9 and the laser interferometer 26X fixed on the reticle base 18, and similarly, the Y-axis Moving mirror 2
5Y and external laser interferometer 26Y (not shown)
Accordingly, the Y coordinate of the mask 8 is constantly monitored, and the detected X coordinate and Y coordinate are transmitted to the stage control system 21.
The stage control system 21 controls the operation of the reticle stage 9 via the reticle stage drive system 27 based on the transmitted coordinates. The stage control system 21 and the irradiation system 1 are controlled by the main control system 20.

【0018】感光基板12のショット領域13とマスク
7のマスクパターン8の空間位置の調整には各種の公知
のアライメント方式を用いることができる。このアライ
メント方式としては、レーザ光をドット列状のアライメ
ントマークに照射し、そのアライメントマークから回折
又は散乱された光を用いてアライメントマークの位置を
検出するLSA(Laser Step Alignment)方式、回折格
子状のアライメントマークに例えば周波数をわずかに変
えたレーザ光を2方向から照射し、発生した2つの回折
光を干渉させ、その位相からアライメントマークの位置
を計測するLIA(Laser Interferometric Alignmen
t)方式、ハロゲンランプを光源とする波長帯域幅の広
い光で照明して撮像したアライメントマークの画像デー
タを画像処理して計測するFIA(Field Image Alignm
ent)方式等がある。これらの方式については米国特許
5,151,750号、4,780,617号に記載さ
れている。
Various known alignment methods can be used for adjusting the spatial position of the shot region 13 of the photosensitive substrate 12 and the mask pattern 8 of the mask 7. As the alignment method, an LSA (Laser Step Alignment) method that irradiates a laser beam onto an alignment mark in a dot row and detects the position of the alignment mark using light diffracted or scattered from the alignment mark, a diffraction grating type For example, an LIA (Laser Interferometric Alignment) that irradiates the alignment mark with laser light whose frequency is slightly changed from two directions, causes two generated diffracted lights to interfere with each other, and measures the position of the alignment mark from its phase.
t) method, FIA (Field Image Alignm) that performs image processing and measures image data of alignment marks imaged by illuminating with wide wavelength bandwidth light using a halogen lamp as a light source.
ent) method. These systems are described in U.S. Pat. Nos. 5,151,750 and 4,780,617.

【0019】また、これらのアライメント方式は、投影
光学系を介して感光基板の位置を測定するTTL(スル
ー・ザ・レンズ)方式、投影光学系及びレチクルを介し
てレチクルと感光基板の位置関係を測定するTTR(ス
ルー・ザ・レチクル)方式、及び投影光学系を介するこ
となく直接感光基板の位置を測定するオフ・アクシス方
式に大別される。アライメントマークを照明する際の照
明光(アライメント光)としては、露光光とは波長が異
なりかつ感光基板上の感光層に不感の非露光光を用いる
場合と、露光光そのものを用いる場合とがある。
These alignment methods include a TTL (through-the-lens) method for measuring the position of a photosensitive substrate via a projection optical system, and a positional relationship between a reticle and a photosensitive substrate via a projection optical system and a reticle. It is roughly classified into a TTR (through the reticle) method for measuring and an off-axis method for directly measuring the position of the photosensitive substrate without using a projection optical system. As illumination light (alignment light) for illuminating the alignment mark, there are a case where non-exposure light having a wavelength different from that of the exposure light and which is insensitive to the photosensitive layer on the photosensitive substrate is used, and a case where the exposure light itself is used. .

【0020】図1は、TTR方式の例を示しているが、
これに限られるものではなく、TTL方式、オフ・アク
シス方式等の各種のアライメント方式を採用することが
可能である。これらのアライメント調整は、主制御系2
0により制御される。以下、基板ステージ15を例に本
発明の露光装置の移動ステージについて説明するが、レ
チクルステージ9についても基本的に同じ原理で動作す
る。したがって、レチクルステージ9についての詳細な
説明は省略するが、当業者は以下の基板ステージ15に
ついての記載からレチクルステージ9についても十分に
理解可能である。
FIG. 1 shows an example of the TTR system.
The present invention is not limited to this, and various alignment methods such as a TTL method and an off-axis method can be adopted. These alignment adjustments are performed by the main control system 2
Controlled by 0. Hereinafter, the moving stage of the exposure apparatus of the present invention will be described by taking the substrate stage 15 as an example, but the reticle stage 9 operates on basically the same principle. Therefore, detailed description of the reticle stage 9 is omitted, but those skilled in the art can sufficiently understand the reticle stage 9 from the following description of the substrate stage 15.

【0021】図3は、基板ステージ15の下面の構造を
示す図である。基板ステージ15の下面には、浮上用の
エアーを噴出するためのエアー噴出部61a〜61dが
例えばその四隅に設けられ、浮上式平面モータの可動子
を構成する電磁石62a〜62dが各々隣接する2箇所
のエアー噴出部の中間領域に配置されている。電磁石6
2a〜62dは各々多相巻線63を備え、電磁石62a
の巻線方向と電磁石62cの巻線方向、電磁石62bの
巻線方向と電磁石62dの巻線方向は同一であり、電磁
石62a,62cの巻線方向と電磁石62b,62dの
巻線方向は直交している。
FIG. 3 is a diagram showing the structure of the lower surface of the substrate stage 15. On the lower surface of the substrate stage 15, air ejecting portions 61a to 61d for ejecting air for levitation are provided at, for example, four corners thereof, and electromagnets 62a to 62d constituting movable elements of the levitation type planar motor are adjacent to each other. It is arranged in the middle area of the air ejection part. Electromagnet 6
2a to 62d each have a multi-phase winding 63,
And the winding direction of the electromagnet 62c, the winding direction of the electromagnet 62b and the winding direction of the electromagnet 62d are the same, and the winding direction of the electromagnets 62a and 62c is orthogonal to the winding direction of the electromagnets 62b and 62d. ing.

【0022】図4は、ベース上面の模式図である。ベー
ス17の上面には、モータの固定子を構成する多数の永
久磁石が、X方向及びY方向に各々非磁性部材66から
なる正方形の領域を挟んで正方形のN極64とN極6
4、正方形のS極65とS極65が配置されるように格
子状に配列されている。ベース17の周縁部は非磁性部
材66で覆われている。これらの磁石64,65及び非
磁性部材66の上には、ベース17の表面を平坦にする
ために、表面を研磨したセラミック製やガラス製の非磁
性薄膜67が配置されている。
FIG. 4 is a schematic view of the upper surface of the base. On the upper surface of the base 17, a large number of permanent magnets constituting the stator of the motor are provided with square N poles 64 and N poles 6 in the X direction and the Y direction with a square region formed of the nonmagnetic member 66 interposed therebetween.
4. Square S poles 65 and S poles 65 are arranged in a lattice so that they are arranged. The periphery of the base 17 is covered with a non-magnetic member 66. A non-magnetic thin film 67 made of ceramic or glass whose surface is polished is arranged on the magnets 64 and 65 and the non-magnetic member 66 in order to flatten the surface of the base 17.

【0023】図5は、このモータの固定子と可動子の関
係を示す図であり、ベース17上面のN極及びS極の配
列上に基板ステージ15の下面に配置された電磁石62
a〜62dのうちの一つ62が位置する状態を示した図
である。電磁石62は第1相巻線63aと第2相巻線6
3bからなる2相巻線が巻回され、図は第1相巻線63
aが通電され、第2相巻線63bが電流遮断された状態
を示している。巻線63a,63bがN極の上を移動し
ているかS極の上を移動しているかによって電流の向き
を反転すると、電磁石62はベース17上を一定方向に
移動する。電磁石62aと62c又は電磁石62bと6
2dに同じ向きの電流を流すと、基板ステージ15は、
X方向又はY方向に平行移動する。一方、電磁石62a
と62c、又は電磁石62bと62dに大きさが同じで
あるが逆向きの電流を流すと基板ステージ15はXY平
面内で回転する。
FIG. 5 is a diagram showing the relationship between the stator and the mover of the motor. The electromagnet 62 disposed on the lower surface of the substrate stage 15 on the arrangement of the N pole and the S pole on the upper surface of the base 17 is shown.
It is a figure showing the state where one 62 of a-62d is located. The electromagnet 62 includes a first phase winding 63 a and a second phase winding 6.
3b is wound, and a first phase winding 63 is shown in FIG.
a is energized and the second phase winding 63b is interrupted. When the direction of the current is reversed depending on whether the windings 63a and 63b are moving on the north pole or the south pole, the electromagnet 62 moves on the base 17 in a fixed direction. Electromagnets 62a and 62c or electromagnets 62b and 6
When a current in the same direction is passed through 2d, the substrate stage 15
Translate in the X or Y direction. On the other hand, the electromagnet 62a
When a current of the same magnitude but of the opposite direction is applied to the electromagnets 62b and 62d or the electromagnets 62b and 62d, the substrate stage 15 rotates in the XY plane.

【0024】以上、図3〜図5を用いて磁気浮上型平面
モータの構成を説明したが、本発明のステージの駆動手
段はこれに限られるものではなく、米国特許4,53
5,278号に記載されているような駆動手段を用いて
もよい。図6〜図8は、ベース17上を基板ステージ1
5が移動するときのケーブル類41の状態を示す模式図
である。基板ステージ15のケーブル類41は、基板ス
テージ15と固定部3aで固定され、またケーブル類中
継部51と固定部3bで固定されている。ケーブル類中
継部51はロボットアーム50によってXY平面内で2
次元的に移動可能である。
Although the configuration of the magnetic levitation type planar motor has been described with reference to FIGS. 3 to 5, the driving means of the stage of the present invention is not limited to this.
Driving means as described in US Pat. No. 5,278,278 may be used. 6 to 8 show the substrate stage 1 on the base 17.
It is a schematic diagram which shows the state of the cables 41 when 5 moves. The cables 41 of the substrate stage 15 are fixed to the substrate stage 15 by the fixing part 3a, and are fixed by the cable relay part 51 and the fixing part 3b. The cable relay unit 51 is moved in the XY plane by the robot arm 50.
It is dimensionally movable.

【0025】主制御系20は、ステージ制御系21を介
して基板ステージ駆動系24に駆動信号を供給すると同
時にロボットアーム50にも駆動信号を供給し、基板ス
テージ15の動きにケーブル類中継部51の動きを追従
させる。すなわち、主制御系20は、基板ステージ15
をXY平面内で(Δx,Δy)だけ移動させるとき、ロ
ボットアーム50に指示してその先端に配置されたケー
ブル類中継部51を基板ステージ15の移動量と同じ量
(Δx,Δy)だけ移動させる。この移動量(Δx,Δ
y)の情報は、主制御系20の基板ステージ15に対す
る移動指令をそのまま用いてもよいし、基板ステージ1
5上に配置された載物テーブル14の位置をモニターす
るレーザ干渉計23X,23Yの出力から得てもよい。
The main control system 20 supplies a drive signal to the substrate stage drive system 24 via the stage control system 21 and also supplies a drive signal to the robot arm 50 so that the cable stage relay 51 Follow the movement of That is, the main control system 20 includes the substrate stage 15
Is moved by (Δx, Δy) in the XY plane, the robot arm 50 is instructed to move the cable relay section 51 disposed at the tip thereof by the same amount (Δx, Δy) as the moving amount of the substrate stage 15. Let it. This movement amount (Δx, Δ
For the information of y), the movement command for the substrate stage 15 of the main control system 20 may be used as it is, or the substrate stage 1
5 may be obtained from the outputs of the laser interferometers 23X and 23Y that monitor the position of the table 14 arranged on the table 5.

【0026】こうして、固定部3bでケーブル類42を
固定したケーブル類中継部51は、基板ステージ15と
の相対的な位置が変動しないように、基板ステージ15
の動きに追従してXY座標系内で2次元的に移動する。
なお、ロボットアーム50は、ケーブル類中継部51を
移動させるとき、ケーブル類中継部51がXY座標系内
で回転しないように、すなわちケーブル類中継部51と
基板ステージ15との相対的な姿勢が変動しないよう
に、アームに対してケーブル類中継部51を回動させ
る。
In this way, the cable relay section 51, to which the cables 42 are fixed by the fixing section 3b, is mounted on the substrate stage 15 so that the relative position with respect to the substrate stage 15 does not change.
Moves two-dimensionally in the XY coordinate system following the movement of.
When moving the cable relay unit 51, the robot arm 50 prevents the cable relay unit 51 from rotating in the XY coordinate system, that is, the relative posture between the cable relay unit 51 and the substrate stage 15 is changed. The cable relay unit 51 is rotated with respect to the arm so as not to change.

【0027】その結果、図6〜図8に示されているよう
に、基板ステージ15から伸びるケーブル類41は基板
ステージ15がベース17の中央部にあっても(図6参
照)、ベース17の中央部から右上部に移動しても(図
7参照)、左下部に移動しても(図8参照)、基板ステ
ージ15とケーブル中継部51との間で常に同じ形状を
維持することができる。したがって、たとえケーブル類
41からの反力が基板ステージ15に作用するとして
も、その反力は基板ステージ15の位置によらず常に一
定であるため、基板ステージ15の位置決め精度を悪化
させることがない。
As a result, as shown in FIGS. 6 to 8, the cables 41 extending from the substrate stage 15 can be attached to the base 17 even if the substrate stage 15 is at the center of the base 17 (see FIG. 6). Whether moving from the center to the upper right (see FIG. 7) or moving to the lower left (see FIG. 8), the same shape can always be maintained between the substrate stage 15 and the cable junction 51. . Therefore, even if the reaction force from the cables 41 acts on the substrate stage 15, the reaction force is always constant irrespective of the position of the substrate stage 15, so that the positioning accuracy of the substrate stage 15 does not deteriorate. .

【0028】[0028]

【発明の効果】本発明によると、基板ステージ、レチク
ルステージから伸びるケーブル類のケーブル中継部との
間の形状を一定に保つことでケーブル類から基板ステー
ジに作用する反力が一定となるため、基板ステージの位
置決め精度を向上することができる。
According to the present invention, since the shape of the cable extending from the substrate stage and the reticle stage to the cable junction is kept constant, the reaction force acting on the substrate stage from the cables becomes constant. The positioning accuracy of the substrate stage can be improved.

【図面の簡単な説明】[Brief description of the drawings]

【図1】本発明の露光装置の好適な実施形態の概略図で
ある。
FIG. 1 is a schematic view of a preferred embodiment of an exposure apparatus of the present invention.

【図2】図1の装置の基板ステージ装置の斜視図であ
る。
FIG. 2 is a perspective view of a substrate stage device of the device of FIG.

【図3】図2の基板ステージの下面の構造を示す図であ
る。
FIG. 3 is a diagram illustrating a structure of a lower surface of the substrate stage of FIG. 2;

【図4】図2の基板ステージ装置のベースの構造を示す
模式図である。
FIG. 4 is a schematic diagram showing a structure of a base of the substrate stage device of FIG. 2;

【図5】図2の基板ステージ装置で用いられるモータの
固定子と可動子の関係を示す図である。
FIG. 5 is a diagram showing a relationship between a stator and a mover of a motor used in the substrate stage device of FIG. 2;

【図6】基板ベース上を基板ステージが移動するときの
ケーブル類の一状態を示す模式図である。
FIG. 6 is a schematic diagram showing one state of cables when the substrate stage moves on the substrate base.

【図7】図6とは異なるケーブルの状態を示す模式図で
ある。
FIG. 7 is a schematic diagram illustrating a state of a cable different from that of FIG. 6;

【図8】図6、7とは異なるケーブルの状態を示す模式
図である。
FIG. 8 is a schematic diagram showing a state of a cable different from those in FIGS. 6 and 7;

【図9】従来の露光装置の基板ステージ装置の概念図で
ある。
FIG. 9 is a conceptual diagram of a substrate stage device of a conventional exposure apparatus.

【図10】図9の装置で基板ベース上を基板ステージが
移動するときのケーブル類の一状態を描いた模式図であ
る。
FIG. 10 is a schematic diagram illustrating one state of cables when a substrate stage moves on a substrate base in the apparatus of FIG. 9;

【図11】図10とは異なるケーブルの状態を描いた模
式図である。
FIG. 11 is a schematic diagram illustrating a state of a cable different from that of FIG. 10;

【図12】図10、11とは異なるケーブルの状態を描
いた模式図である。
FIG. 12 is a schematic diagram illustrating a state of a cable different from FIGS. 10 and 11;

【符号の説明】[Explanation of symbols]

1…照明系、2、4、5、18…フレーム、7…マス
ク、8…マスクパターン、9…レチクルステージ、11
…投影レンズ、12…感光基板、13…感光面、14…
載物テーブル、15…基板ステージ、16…アクチュエ
ータ、17…基板ベース、19…レチクルベース、20
…主制御系、21…ステージ制御系、24…基板ステー
ジ駆動系、27…レチクルステージ駆動系、41、42
…ケーブル類、50、53…ロボットアーム、51、5
4…ケーブル類中継部、52、55…ロボット本体、5
6…防振装置、57…ハードマウント
DESCRIPTION OF SYMBOLS 1 ... Illumination system, 2, 4, 5, 18 ... Frame, 7 ... Mask, 8 ... Mask pattern, 9 ... Reticle stage, 11
... Projection lens, 12 ... Photosensitive substrate, 13 ... Photosensitive surface, 14 ...
Loading table, 15: substrate stage, 16: actuator, 17: substrate base, 19: reticle base, 20
... Main control system, 21 ... Stage control system, 24 ... Substrate stage drive system, 27 ... Reticle stage drive system, 41,42
... Cables, 50, 53 ... Robot arms, 51, 5
4: Cable relay section, 52, 55: Robot body, 5
6: Anti-vibration device, 57: Hard mount

Claims (7)

【特許請求の範囲】[Claims] 【請求項1】 マスク上のマスクパターンを感光基板に
露光する露光装置において、 前記感光基板を載置して基板ベースの上面に沿って2次
元的に移動可能な基板ステージと、 前記基板ベース面と物理的に離隔して配置され、前記基
板ステージに接続されているケーブル類を固定して前記
基板ステージと同一の2次元方向に移動可能な基板ステ
ージ・ケーブル類中継手段と、 前記基板ステージと前記基板ステージ・ケーブル類中継
手段との相対的な位置を常に一定に保つように前記基板
ステージ・ケーブル類中継手段の移動量を制御する基板
ステージ駆動手段と、 を備えることを特徴とする露光装置。
1. An exposure apparatus for exposing a mask pattern on a mask to a photosensitive substrate, comprising: a substrate stage on which the photosensitive substrate is placed and movable two-dimensionally along an upper surface of the substrate base; A substrate stage / cables relay unit that is physically separated from the substrate stage, and is capable of fixing cables connected to the substrate stage and moving in the same two-dimensional direction as the substrate stage; and An exposure apparatus, comprising: a substrate stage driving unit that controls an amount of movement of the substrate stage / cables relay unit so that a relative position with respect to the substrate stage / cables relay unit is always kept constant. .
【請求項2】 前記基板ステージ・ケーブル類中継手段
は、前記基板ステージ駆動手段の駆動部分とともに前記
基板ベース面を有するベース本体と物理的に離隔された
副ベース部に保持されていることを特徴とする請求項1
記載の露光装置。
2. The substrate stage / cables relay unit is held by a sub-base portion physically separated from a base body having the substrate base surface together with a driving portion of the substrate stage driving unit. Claim 1
Exposure apparatus according to the above.
【請求項3】 マスクを載置し、前記基板ベースと平行
なレチクルベースの上面に沿って2次元方向に移動可能
なレチクルステージと、 前記レチクルベース面と物理的に離隔して配置され、前
記レチクルステージに接続されているケーブル類を固定
し、前記レチクルステージと同一の2次元方向に移動可
能なレチクルステージ・ケーブル類中継手段と、 前記レチクルステージと前記レチクルステージ・ケーブ
ル類中継手段の相対的な位置を常に一定に保つように前
記レチクルステージ・ケーブル類中継手段の移動量を制
御するレチクルステージ駆動手段と、 をさらに備えることを特徴とする請求項1記載の露光装
置。
3. A reticle stage on which a mask is placed and which can be moved in a two-dimensional direction along an upper surface of a reticle base parallel to the substrate base, wherein the reticle base is physically separated from the reticle base surface; A reticle stage / cables relay unit that fixes cables connected to the reticle stage and is movable in the same two-dimensional direction as the reticle stage; and a relative position between the reticle stage and the reticle stage / cables relay unit. 2. The exposure apparatus according to claim 1, further comprising: a reticle stage driving unit that controls an amount of movement of the reticle stage / cables relay unit so that a proper position is always kept constant.
【請求項4】 前記各ケーブル類中継手段は、それぞれ
前記各ステージ駆動手段の駆動部分とともに前記基板ベ
ース面及びレチクルベース面を有するベース本体と、物
理的に離隔された副ベース部に保持されていることを特
徴とする請求項3記載の露光装置。
4. The cable relaying means is held by a base body having a substrate base surface and a reticle base surface together with a driving portion of each of the stage driving means, and a sub base physically separated from the base body. The exposure apparatus according to claim 3, wherein
【請求項5】 前記ベース本体は防振手段を介して床面
上に配置されていることを特徴とする請求項2あるいは
4のいずれかに記載の露光装置。
5. The exposure apparatus according to claim 2, wherein the base body is disposed on a floor via a vibration isolator.
【請求項6】 マスク上のマスクパターンを感光基板に
露光する露光装置において、 前記感光基板を載置して前記基板ベースの上面に沿って
前記基板ベースと物理的に被接触の状態で移動する基板
ステージと、 前記基板ベース面と物理的に離隔して配置され、前記基
板ステージに接続されているケーブル類を固定して前記
基板ステージの移動に追従して移動可能な基板ステージ
・ケーブル類中継手段と、 を備えることを特徴とする露光装置。
6. An exposure apparatus for exposing a mask pattern on a mask to a photosensitive substrate, wherein the photosensitive substrate is placed and moved along the upper surface of the substrate base in a state of being in physical contact with the substrate base. A substrate stage, which is physically separated from the substrate base surface, and which is capable of moving cables following the movement of the substrate stage by fixing cables connected to the substrate stage. An exposure apparatus, comprising:
【請求項7】 マスク上のマスクパターンを感光基板に
露光する露光装置において、 前記マスク又は前記感光基板を載置して、所定のベース
上を少なくとも一次元方向に移動するステージと、 前記ベース面と物理的に離隔して配置され、前記ステー
ジに接続されているケーブル類を固定して前記ステージ
の移動に追従して移動可能なステージ・ケーブル類中継
手段と、 を備えることを特徴とする露光装置。
7. An exposure apparatus for exposing a mask pattern on a mask to a photosensitive substrate, comprising: a stage on which the mask or the photosensitive substrate is mounted and which moves on a predetermined base in at least one-dimensional direction; And a stage / cable relay unit which is physically separated from the stage, and which can move cables following the movement of the stage by fixing cables connected to the stage. apparatus.
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