JPH10222389A - Whole reconstitution system fault tolerant information processing system - Google Patents

Whole reconstitution system fault tolerant information processing system

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JPH10222389A
JPH10222389A JP9027011A JP2701197A JPH10222389A JP H10222389 A JPH10222389 A JP H10222389A JP 9027011 A JP9027011 A JP 9027011A JP 2701197 A JP2701197 A JP 2701197A JP H10222389 A JPH10222389 A JP H10222389A
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JP
Japan
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circuit
fpga
fault
fault detection
information processing
Prior art date
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Application number
JP9027011A
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Japanese (ja)
Inventor
Takahito Kagoshima
隆仁 神子島
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NEC Engineering Ltd
Original Assignee
NEC Engineering Ltd
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Publication date
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Abstract

PROBLEM TO BE SOLVED: To provide a fault tolerant information processing system easy to satisfy timing restriction without making circuit scale large. SOLUTION: FPGA(field programmable gate array) 10 which can reconstitute a whole circuit is used as a redundant circuit. A logic circuit constituted of plural modules is constituted on FPGA 10. A fault detection circuit for oneself is incorporated in every module. FPGA 10 outputs two types of signals (fault detection signal and a fault detection module identification signal) to a control circuit part 22. The control circuit part 22 loads/stores various data with a storage part 24, generates layout data on the logic circuit, which is to be constituted on FPGA 10, based on the values of the two types of signals from FPGA 10 and data loaded from the storage part 24 and outputs layout data to FPGA 10.

Description

【発明の詳細な説明】DETAILED DESCRIPTION OF THE INVENTION

【0001】[0001]

【発明の属する技術分野】本発明はシステムの一部にフ
ォールトが発生しても、システム全体に障害を起こすこ
となく情報処理を行うフォールト・トレラント情報処理
システムに関する。
BACKGROUND OF THE INVENTION 1. Field of the Invention The present invention relates to a fault-tolerant information processing system that performs information processing without causing a failure in the entire system even if a fault occurs in a part of the system.

【0002】[0002]

【従来の技術】周知のように、フォールト・トレラント
情報処理システムは、複数のモジュールから成る冗長回
路と、その回路を制御する冗長回路コントローラとから
構成される。フォールト検出時、冗長回路コントローラ
は、次の2つの方式のいづれかによって、フォールトを
回避している。その1つの方式は、「フォールト・マス
ク方式」と呼ばれるもので、フォールトが検出されたモ
ジュールの出力をマスクする。他の1つの方式は、「シ
ステム再構成方式」と呼ばれるもので、フォールトが検
出されたモジュールを予備モジュールと交換する。
2. Description of the Related Art As is well known, a fault-tolerant information processing system comprises a redundant circuit comprising a plurality of modules and a redundant circuit controller for controlling the circuit. When detecting a fault, the redundant circuit controller avoids the fault by one of the following two methods. One such method is referred to as a "fault mask method", in which the output of a module in which a fault is detected is masked. Another method is called a “system reconfiguration method”, in which a module in which a fault is detected is replaced with a spare module.

【0003】フォールト・マスク方式としては、NMR
(N-Modular Redundancy)方式が知られている。その1
つは、例えば、特開昭64−39699号公報(以下、
先行技術と呼ぶ)に開示されている。この先行技術は、
アドレス用、入力データ用、書き込み/読み込み信号用
の入力ポートをもち、出力データ用の出力ポートをもつ
半導体記憶装置を開示している。この半導体記憶装置
は、内部モジュールとして、同一アドレスで選択される
3以上の奇数個の記憶セルと、奇数個の記憶セルの出力
データを多数決する論理回路とを有する。このような構
成の半導体記憶装置において、書き込み時は、同一のア
ドレスで選択される3以上の奇数個の記憶セルに、同一
のデータを書き込む。読み込み時は、同一のアドレスで
選択される奇数個の記憶セルの出力データを論理回路に
より多数決し、多数決後のデータを出力データ用ポート
から出力する。
As a fault mask method, NMR is used.
(N-Modular Redundancy) method is known. Part 1
One is, for example, disclosed in JP-A-64-39699 (hereinafter referred to as
(Referred to as prior art). This prior art,
A semiconductor memory device having input ports for addresses, input data, and write / read signals, and having output ports for output data is disclosed. This semiconductor memory device includes, as an internal module, three or more odd-numbered memory cells selected by the same address, and a logic circuit that determines a majority of output data of the odd-numbered memory cells. In a semiconductor memory device having such a configuration, at the time of writing, the same data is written to three or more odd-numbered memory cells selected by the same address. At the time of reading, the output data of the odd number of memory cells selected by the same address are determined by a logic circuit by majority, and the data after the majority is output from the output data port.

【0004】一方、従来のシステム再構成方式は、フォ
ールトが検出されたモジュールのみを予備モジュールと
交換するため、「部分再構成方式」とも呼ばれる。部分
再構成方式は、各モジュールに対応した専用予備モジュ
ールを用意する専用予備型と、複数の異なるモジュール
と交換可能な汎用予備モジュールを用意する汎用予備
型、の2つの方式に分けられる。
On the other hand, the conventional system reconfiguration method is also called a "partial reconfiguration method" because only a module in which a fault is detected is replaced with a spare module. The partial reconfiguration method is classified into two types, a dedicated spare type that prepares a dedicated spare module corresponding to each module, and a general purpose spare type that prepares a general purpose spare module that can be replaced with a plurality of different modules.

【0005】[0005]

【発明が解決しようとする課題】上述した従来のNMR
方式は、同一のモジュールが3個以上必要なため、回路
規模が大きくなるという欠点がある。また、専用予備型
部分再構成方式は、同一の2個以上必要なため、回路規
模が大きくなるという欠点がある。さらに、汎用予備型
部分再構成方式は、モジュール交換後、交換前のモジュ
ールと接続されていた信号線の長さが一般的に長くな
り、それらの信号線の遅延時間が増大し、回路全体とし
てタイミング制約を満足するのが難しくなる、という欠
点がある。
SUMMARY OF THE INVENTION The conventional NMR described above
The method has a drawback that the circuit scale becomes large because three or more identical modules are required. In addition, the dedicated spare partial reconstruction method has a disadvantage that the circuit scale becomes large because two or more identical preliminary reconstruction methods are required. Furthermore, in the general-purpose spare type partial reconfiguration method, after the module is replaced, the length of the signal lines connected to the module before the replacement generally becomes longer, the delay time of those signal lines increases, and the entire circuit becomes There is a disadvantage that it is difficult to satisfy timing constraints.

【0006】本発明は上記の課題を解決するためになさ
れたもので、その目的は、回路規模の増大とタイミング
制約満足の困難化の両方の問題を解決することができる
フォールト・トレラント情報処理システムを提供するこ
とにある。
SUMMARY OF THE INVENTION The present invention has been made to solve the above problems, and an object of the present invention is to provide a fault tolerant information processing system capable of solving both the problem of increasing the circuit scale and making it difficult to satisfy timing constraints. Is to provide.

【0007】[0007]

【課題を解決するための手段】本発明では、全体再構成
方式を用いることにより上記問題を解決する。全体再構
成方式は、システム再構成方式の一種である。前述した
ように、部分再構成方式ではフォールトが検出されたモ
ジュールのみを予備モジュールと交換する、つまり回路
の一部のみを再構成している。これに対して、全体再構
成方式では、フォールトが検出されていないモジュール
を含め、回路全体を再構成することが可能なデバイス
(以下、「再構成可能デバイス」と呼ぶ)上に回路を構
成し、フォールトが検出された場合は、フォールトが発
生した部分を避けて回路全体を再構成する。
According to the present invention, the above-mentioned problem is solved by using an entire reconstruction method. The whole reconfiguration method is a kind of the system reconfiguration method. As described above, in the partial reconfiguration method, only a module in which a fault is detected is replaced with a spare module, that is, only a part of the circuit is reconfigured. On the other hand, in the whole reconfiguration method, a circuit is configured on a device capable of reconfiguring the entire circuit including a module in which no fault is detected (hereinafter, referred to as a “reconfigurable device”). If a fault is detected, the entire circuit is reconfigured avoiding the portion where the fault has occurred.

【0008】ここで、「再構成」とは、構成要素の結合
パターンを変えることにより、回路を再構成することを
いう。また、「再構成可能デバイス」としては、FPG
A(Field Programmable Gate Array )やFPLA(Fi
eld Programmable Logic Array)を使用できる。FPG
Aは、ユーザが手元でプログラム可能で、2000ゲー
ト〜数万ゲート程度の論理を実現可能なセミカスタム集
積回路(IC)である。基本的な構造はプログラム可能
な論理モジュールを規則的に並べ、そのあいだに配線領
域を用意した形をしており、各論理モジュールと配線領
域をプログラムして所望の論理を実現する。FPLA
も、製造段階では個別化(programming)されていない
ものを使用現場で個別化する。とにかく、「再構成可能
デバイス」としては、ユーザが個別化(プログラム)で
きるデバイスであれば何でも良い。
Here, "reconfiguration" refers to reconfiguring a circuit by changing the coupling pattern of components. Also, as the “reconfigurable device”, FPG
A (Field Programmable Gate Array) or FPLA (Fi
eld Programmable Logic Array) can be used. FPG
A is a semi-custom integrated circuit (IC) that can be programmed by a user at hand and that can realize about 2,000 to tens of thousands of logic gates. The basic structure is such that programmable logic modules are regularly arranged and a wiring area is prepared therebetween, and each logic module and the wiring area are programmed to realize a desired logic. FPLA
Also, those that have not been individually programmed at the manufacturing stage are individualized at the site of use. Anyway, the “reconfigurable device” may be any device that can be individualized (programmed) by the user.

【0009】すなわち、本発明によれば、複数のモジュ
ールから構成される冗長回路と、該冗長回路を制御する
コントローラとから構成されるフォールト・トレラント
情報処理システムにおいて、前記冗長回路として回路全
体をユーザが再構成することが可能な再構成可能デバイ
スを使用したことを特徴とする、全体再構成方式フォー
ルト・トレラント情報処理システムが得られる。
That is, according to the present invention, in a fault-tolerant information processing system comprising a redundant circuit composed of a plurality of modules and a controller for controlling the redundant circuit, the entire circuit is used as the redundant circuit by a user. Uses a reconfigurable device that can be reconfigured, thereby providing a fault-tolerant information processing system with an overall reconfiguration method.

【0010】このような全体再構成方式を採用すること
により、回路規模は増大せず、また、モジュールのレイ
アウトを柔軟に変えることができるため、タイミング制
約を満足させ易い。下記の表1に、従来技術に係るフォ
ールト・マスク方式及び部分再構成方式(専用予備型、
汎用予備型)と、本発明に係る全体再構成方式とにおけ
る、回路規模とタイミング制約満足を示す。
By adopting such an overall reconfiguration method, the circuit scale does not increase, and the layout of the module can be flexibly changed, so that the timing constraint can be easily satisfied. Table 1 below shows the fault mask method and the partial reconstruction method (dedicated spare type,
The circuit scale and the timing constraint satisfaction between the general-purpose backup type) and the overall reconstruction method according to the present invention are shown.

【0011】[0011]

【表1】 [Table 1]

【0012】[0012]

【発明の実施の形態】以下、図面を参照して本発明の実
施の形態について詳細に説明する。
Embodiments of the present invention will be described below in detail with reference to the drawings.

【0013】図1は本発明の一実施の形態による全体再
構成方式フォールト・トレラント情報処理システムの構
成を示すブロック図である。
FIG. 1 is a block diagram showing a configuration of an entire reconfiguration type fault tolerant information processing system according to an embodiment of the present invention.

【0014】図示のフォールト・トレラント情報処理シ
ステムは、FPGA10と、FPGAコントローラ20
とから構成される。また、FPEGコントローラ20
は、制御回路部22と記憶部24とから構成される。F
PGA10が冗長回路に相当し、FPEGコントローラ
20が冗長回路コントローラに相当する。
The illustrated fault-tolerant information processing system comprises an FPGA 10 and an FPGA controller 20.
It is composed of Also, the FTP controller 20
Is composed of a control circuit unit 22 and a storage unit 24. F
The PGA 10 corresponds to a redundant circuit, and the FTP controller 20 corresponds to a redundant circuit controller.

【0015】FPGA10上には複数のモジュール(図
示せず)から成る論理回路(図示せず)が構成される。
各モジュールには自身に対するフォールト検出回路(図
示せず)が組み込まれている。FPGA10は、それら
フォールト検出回路からの出力信号を組み合わせて生成
された2種類の信号、すなわち、フォールト検出信号と
フォールト検出モジュール識別信号とを制御回路部22
に対して出力する。ここで、「フォールト検出信号」と
は、あるモジュールがフォールトを検出したことを示す
信号であり、「フォールト検出モジュール識別信号」と
は、フォールトを検出したモジュールを識別するための
信号である。
A logic circuit (not shown) composed of a plurality of modules (not shown) is formed on the FPGA 10.
Each module incorporates a fault detection circuit (not shown) for itself. The FPGA 10 outputs two types of signals generated by combining the output signals from the fault detection circuits, that is, a fault detection signal and a fault detection module identification signal to the control circuit unit 22.
Output to Here, the “fault detection signal” is a signal indicating that a certain module has detected a fault, and the “fault detection module identification signal” is a signal for identifying a module that has detected a fault.

【0016】制御回路部22は、各種データを記憶部2
4との間でロード/ストアするほか、FPGA10から
の上記2種類の信号の値と記憶部23からロードしたデ
ータとに基づいてFPGA10上に構成すべき論理回路
のレイアウト・データを作成し、同レイアウト・データ
をFPGA10に対して出力する。
The control circuit 22 stores various data in the storage 2
In addition to the load / store between the two, the layout data of the logic circuit to be configured on the FPGA 10 is created based on the values of the two types of signals from the FPGA 10 and the data loaded from the storage unit 23. The layout data is output to the FPGA 10.

【0017】記憶部24には、次の4種類のデータ、す
なわち、ネット・リスト、タイミング制約リスト、使用
可能要素リスト、および要素→モジュール対応リストが
記憶される。
The storage unit 24 stores the following four types of data: a net list, a timing constraint list, an available element list, and an element-to-module correspondence list.

【0018】次に、図2を参照して、本実施の形態に係
るフォールト・トレラント情報処理システムを構成する
各部分の具体的な動作について、制御回路部22を中心
にして説明する。ここで、記憶部24には、ネット・リ
スト、タイミング制約リスト、及び使用可能要素リスト
(初期状態:全要素使用可能)の各データが予めストア
されているものとする。また、フォールト検出信号のア
クティブ値を1(初期値:0)とする。
Next, with reference to FIG. 2, a specific operation of each part constituting the fault-tolerant information processing system according to the present embodiment will be described focusing on the control circuit unit 22. Here, it is assumed that data of the net list, the timing constraint list, and the usable element list (initial state: all elements are usable) are stored in the storage unit 24 in advance. The active value of the fault detection signal is set to 1 (initial value: 0).

【0019】先ず、制御回路部22は記憶部24からネ
ット・リスト、タイミング制約リスト、及び使用可能要
素リストの各データをロードする(ステップS1)。制
御回路部22は、それらのデータに基づいて、FPEG
10上にネット・リストを構成することが可能か否かを
判定し(ステップS2)、構成不可能ならば(ステップ
S2でNo)、制御回路部22内の図示しない構成不可
能フラグ(アクティブ値:1,初期値:0)の値をアク
ティブ値に変え(ステップS3)た後、動作を終了す
る。一方、構成可能ならば(ステップS2でYes),
制御回路部22は構成不可能フラグの値を変えずに以下
の動作を行う。
First, the control circuit unit 22 loads each data of the net list, the timing constraint list, and the usable element list from the storage unit 24 (step S1). The control circuit unit 22 performs an FPEG based on the data.
It is determined whether or not a net list can be formed on the device 10 (step S2). If the net list cannot be formed (No in step S2), a non-configurable flag (not shown) in the control circuit unit 22 (active value) : 1, the initial value: 0) is changed to the active value (step S3), and the operation is terminated. On the other hand, if the configuration is possible (Yes in step S2),
The control circuit unit 22 performs the following operation without changing the value of the non-configurable flag.

【0020】制御回路部22は、ネット・リスト、タイ
ミング制約リスト、及び使用可能要素リストの各データ
に基づいて、FPEG10上に構成する回路のレイアウ
ト・データを作成すると同時に、要素→モジュール対応
リストを作成する(ステップS4)。ここで、「要素→
モジュール対応リスト」とは、各要素がどのモジュール
を構成するのに使われている(/使われていない)のか
を記述したものである。そして、制御回路部22は、要
素→モジュール対応リストを記憶部24にストアする
(ステップS5)。
The control circuit unit 22 creates the layout data of the circuit configured on the FPEG 10 based on the data of the net list, the timing constraint list, and the usable element list, and simultaneously creates the element-to-module correspondence list. It is created (step S4). Here, "element →
The "module correspondence list" describes which module each element is used (/ not used) to constitute. Then, the control circuit unit 22 stores the element-to-module correspondence list in the storage unit 24 (Step S5).

【0021】引き続いて、制御回路部22は、上記ステ
ップS4で作成したレイアウト・データをFPGA10
に出力する(ステップS6)。これにより、FPGA1
0は、同レイアウト・データに従い回路を構成する。制
御回路部22はフォールト検出信号の値をチェックし
(ステップS7)、その値がアクティブ値に変化した
(つまり、FPGA10内でフォールトが検出された)
場合は、フォールト検出識別信号の値により、FPGA
10内のどのモジュールにフォールトが発生したのかを
調査する(ステップS8)。
Subsequently, the control circuit unit 22 transmits the layout data created in step S4 to the FPGA 10
(Step S6). Thereby, the FPGA 1
0 forms a circuit according to the same layout data. The control circuit unit 22 checks the value of the fault detection signal (step S7), and the value changes to an active value (that is, a fault is detected in the FPGA 10).
In the case, the FPGA
It is checked which module in 10 has a fault (step S8).

【0022】制御回路部22は、記憶部24から要素→
モジュール対応リストをロードし(ステップS9)、フ
ォールト発生モジュールを構成する要素群をリストアッ
プする(ステップS10)。
The control circuit unit 22 reads the element from the storage unit 24
The module correspondence list is loaded (step S9), and a group of elements constituting the fault occurrence module is listed (step S10).

【0023】制御回路部22は、記憶部243から使用
可能要素リストをロードし(ステップS11)、上記ス
テップS10でリストアップした要素群を同リストから
削除し(ステップS12)た後、同リストを記憶部14
にストアし直す(ステップS13)。
The control circuit unit 22 loads the available element list from the storage unit 243 (step S11), deletes the element group listed in step S10 from the list (step S12), and then deletes the list. Storage unit 14
(Step S13).

【0024】その後、ステップS1へ戻り、上記動作を
繰り返す。
Thereafter, the flow returns to step S1, and the above operation is repeated.

【0025】上述したように、本実施の形態では、冗長
回路としてFPGA10を使用しているので、回路規模
を増大させることなく、かつ、タイミング制約を満足さ
せることが容易に行える。
As described above, in this embodiment, since the FPGA 10 is used as a redundant circuit, it is possible to easily satisfy the timing constraint without increasing the circuit scale.

【0026】尚、本発明は上記実施例に限定されるもの
ではなく、本発明の要旨を逸脱しない範囲で種々変形し
ても同様に実施可能であることはいうまでもない。例え
ば、上記の実施の形態では、冗長回路としてFPGAを
使用しているが、FPLAのような他の再構成可能デバ
イスを使用しても良いのは勿論である。
The present invention is not limited to the above embodiment, and it goes without saying that various modifications can be made without departing from the spirit of the present invention. For example, in the above embodiment, the FPGA is used as the redundant circuit, but it is a matter of course that another reconfigurable device such as FPLA may be used.

【0027】[0027]

【発明の効果】以上述べたように本発明は、冗長回路と
して回路全体を再構成することが可能なデバイスを使用
しているので、回路規模を増大させることなく、かつ、
タイミング制約を満足させることが容易に行えるという
利点がある。
As described above, the present invention uses a device capable of reconfiguring the entire circuit as a redundant circuit, so that the circuit scale is not increased, and
There is an advantage that timing constraints can be easily satisfied.

【図面の簡単な説明】[Brief description of the drawings]

【図1】本発明の一実施の形態による全体再構成方式フ
ォールト・トレラント情報処理システムの構成を示すブ
ロック図である。
FIG. 1 is a block diagram showing a configuration of a whole reconfiguration fault tolerant information processing system according to an embodiment of the present invention.

【図2】図1中の制御回路部の動作を説明するためのフ
ローチャートである。
FIG. 2 is a flowchart illustrating an operation of a control circuit unit in FIG. 1;

【符号の説明】[Explanation of symbols]

10 FPGA 20 FPGAコントローラ 22 制御回路部 24 記憶部 Reference Signs List 10 FPGA 20 FPGA controller 22 Control circuit unit 24 Storage unit

Claims (3)

【特許請求の範囲】[Claims] 【請求項1】 複数のモジュールから構成される冗長回
路と、該冗長回路を制御するコントローラとから構成さ
れるフォールト・トレラント情報処理システムにおい
て、前記冗長回路として回路全体をユーザが再構成する
ことが可能な再構成可能デバイスを使用したことを特徴
とする、全体再構成方式フォールト・トレラント情報処
理システム。
In a fault-tolerant information processing system including a redundant circuit including a plurality of modules and a controller that controls the redundant circuit, a user may reconfigure the entire circuit as the redundant circuit. An entirely reconfigurable fault-tolerant information processing system using a reconfigurable device.
【請求項2】 前記再構成可能デバイスがFPGAであ
る、請求項1に記載の全体再構成方式フォールト・トレ
ラント情報処理システム。
2. The fully reconfigurable fault tolerant information processing system according to claim 1, wherein the reconfigurable device is an FPGA.
【請求項3】 前記コントローラは、制御回路部と記憶
部とから構成されており、各モジュールには自身に対す
るフォールト検出回路が組み込まれており、前記再構成
可能デバイスは、フォールト検出信号とフォールト検出
モジュール識別信号とを前記制御回路部に対して出力
し、前記制御回路部は、各種データを前記記憶部との間
でロード/ストアするほか、前記再構成可能デバイスか
らの前記フォールト検出信号と前記フォールト検出モジ
ュール識別信号の値と前記記憶部からロードしたデータ
とに基づいて前記再構成可能デバイス上に構成すべき論
理回路のレイアウト・データを作成し、同レイアウト・
データを前記再構成可能デバイスに対して出力すること
を特徴とする、請求項1に記載の全体再構成方式フォー
ルト・トレラント情報処理システム。
3. The controller includes a control circuit unit and a storage unit. Each module has a built-in fault detection circuit. The reconfigurable device includes a fault detection signal and a fault detection signal. A module identification signal is output to the control circuit unit, and the control circuit unit loads / stores various data between the storage unit and the fault detection signal from the reconfigurable device. Creating layout data of a logic circuit to be configured on the reconfigurable device based on the value of the fault detection module identification signal and the data loaded from the storage unit;
The system of claim 1, wherein data is output to the reconfigurable device.
JP9027011A 1997-02-10 1997-02-10 Whole reconstitution system fault tolerant information processing system Withdrawn JPH10222389A (en)

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Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2007188315A (en) * 2006-01-13 2007-07-26 Canon Inc Device trouble detector, control method, and program
CN102799734A (en) * 2012-07-20 2012-11-28 天津工大瑞工光电技术有限公司 Design system for heterogeneous fault-tolerant circuits based on spatial search technology

Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2007188315A (en) * 2006-01-13 2007-07-26 Canon Inc Device trouble detector, control method, and program
CN102799734A (en) * 2012-07-20 2012-11-28 天津工大瑞工光电技术有限公司 Design system for heterogeneous fault-tolerant circuits based on spatial search technology

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