JPH10209171A - Substrate heating apparatus - Google Patents

Substrate heating apparatus

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Publication number
JPH10209171A
JPH10209171A JP1983597A JP1983597A JPH10209171A JP H10209171 A JPH10209171 A JP H10209171A JP 1983597 A JP1983597 A JP 1983597A JP 1983597 A JP1983597 A JP 1983597A JP H10209171 A JPH10209171 A JP H10209171A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
substrate
hot plate
nitrogen gas
plate
fluid
Prior art date
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Pending
Application number
JP1983597A
Other languages
Japanese (ja)
Inventor
Akihiro Hisai
章博 久井
Sanenobu Matsunaga
実信 松永
Hiroshi Kobayashi
寛 小林
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Dainippon Screen Manufacturing Co Ltd
Original Assignee
Dainippon Screen Manufacturing Co Ltd
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Publication date
Application filed by Dainippon Screen Manufacturing Co Ltd filed Critical Dainippon Screen Manufacturing Co Ltd
Priority to JP1983597A priority Critical patent/JPH10209171A/en
Publication of JPH10209171A publication Critical patent/JPH10209171A/en
Pending legal-status Critical Current

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Abstract

PROBLEM TO BE SOLVED: To prevent the in-plane temp. distribution of a substrate to be heat- treated from being nonuniform by a fluid blown on the substrate. SOLUTION: A hot unit 10 has a hot plate 20 for mounting a substrate W, and a chamber 40 for holding the atmosphere round the substrate W on the plate 20. An N gas is blown on the substrate laid on the plate 20 from above the chamber 40 and fills up its interior. The N gas is fed through a piping 50 a part of which is composed of a through-way 20a formed in the plate 20, and the gas flowing in the pipe 50 heats the plate 20 to raise the temp. of the gas to be blown on the substrate W.

Description

【発明の詳細な説明】DETAILED DESCRIPTION OF THE INVENTION

【0001】[0001]

【発明の属する技術分野】この発明は、半導体ウエハや
液晶用ガラス基板などの基板を加熱処理する基板加熱装
置であって、特に、その基板に対して窒素ガスなどの流
体の供給を行なう基板加熱装置に関する。
BACKGROUND OF THE INVENTION 1. Field of the Invention The present invention relates to a substrate heating apparatus for heating a substrate such as a semiconductor wafer or a liquid crystal glass substrate, and more particularly to a substrate heating apparatus for supplying a fluid such as nitrogen gas to the substrate. Related to the device.

【0002】[0002]

【従来の技術】従来より、基板用の加熱装置として、基
板加熱用に昇温されるホットプレートを備えるものが知
られている。この種の基板加熱装置では、ホットプレー
ト上に基板を載置して基板の加熱処理を行なうことにな
るが、この加熱処理の際に、基板に窒素ガスを吹き付け
る窒素パージ処理を行なう構成のものがある。
2. Description of the Related Art Heretofore, as a heating device for a substrate, a device provided with a hot plate which is heated to heat the substrate has been known. In this type of substrate heating apparatus, a substrate is placed on a hot plate to perform a heating process on the substrate. In this heating process, a configuration in which a nitrogen purge process of blowing nitrogen gas to the substrate is performed. There is.

【0003】[0003]

【発明が解決しようとする課題】ところで、上記従来の
技術では、窒素パージ用の配管は単純に工場ユーティリ
ティから基板加熱装置内に送られているだけであること
から、基板に向けて吹き出される窒素ガスは温められた
ものではなく、ホットプレート上で加熱された基板の温
度に比べてはるかに低い温度となっている。このため、
窒素ガスが吹き付けられる基板上の地点は温度低下を起
こし、基板の面内温度が不均一となる問題を発生した。
By the way, in the above-mentioned conventional technique, since the nitrogen purge pipe is simply sent from the factory utility into the substrate heating apparatus, it is blown out toward the substrate. The nitrogen gas is not heated, and is at a much lower temperature than the temperature of the substrate heated on the hot plate. For this reason,
The temperature on the substrate to which the nitrogen gas is blown drops, causing a problem that the in-plane temperature of the substrate becomes non-uniform.

【0004】また、窒素ガスを基板に直接吹き付ける構
成でなく、基板の周囲の雰囲気に向かって窒素ガスを吹
き付ける構成においても、ホットプレートにより高温と
なった基板周辺の雰囲気を局部的に低下させることにな
り、基板周辺の雰囲気が不安定になり、窒素ガスを基板
に直接吹き付ける構成と同様に、基板の面内温度が不均
一となる問題を発生した。
In a configuration in which a nitrogen gas is blown toward the atmosphere around the substrate instead of a configuration in which the nitrogen gas is directly blown onto the substrate, the atmosphere around the substrate heated by the hot plate is locally reduced. As a result, the temperature around the substrate becomes unstable, and the temperature in the plane of the substrate becomes non-uniform as in the configuration in which nitrogen gas is directly blown onto the substrate.

【0005】この発明の基板処理装置は、基板もしくは
その雰囲気に吹き付けられる流体によって、加熱処理さ
れる基板の面内温度分布が不均一となるのを防止するこ
とを目的としている。
An object of the substrate processing apparatus of the present invention is to prevent a substrate or a fluid blown into its atmosphere from causing non-uniform temperature distribution in a plane of a substrate to be heated.

【0006】[0006]

【課題を解決するための手段およびその作用・効果】前
述した課題を解決するための手段として、以下に示す構
成をとった。
Means for Solving the Problems and Their Functions / Effects As means for solving the above-mentioned problems, the following configuration is adopted.

【0007】第1の発明の基板加熱装置は、基板を上面
に支持して加熱するホットプレートと、該ホットプレー
トに支持される基板もしくは該基板の周囲の雰囲気に向
かって流体を供給する流体供給手段とを備え、さらに、
前記流体供給手段は、流体供給源からの流体を流体供給
口まで導く管路を備えるものであり、前記管路は、前記
ホットプレートと接触するように配設されたものである
ことを特徴としている。
According to a first aspect of the present invention, there is provided a substrate heating apparatus for supporting a substrate on an upper surface thereof and heating the substrate, and supplying a fluid to a substrate supported by the hot plate or an atmosphere around the substrate. Means, and
The fluid supply means includes a conduit for guiding a fluid from a fluid supply source to a fluid supply port, and the conduit is arranged to be in contact with the hot plate. I have.

【0008】この構成の発明によれば、流体供給手段の
管路がホットプレートと接触していることから、管路が
昇温して、管路を流れる流体を昇温させることができ
る。このため、流体供給手段から基板もしくは基板の周
囲の雰囲気に向かって供給される流体は所望の温度に昇
温されたものとなる。
According to the invention having this configuration, since the pipeline of the fluid supply means is in contact with the hot plate, the temperature of the pipeline increases, and the temperature of the fluid flowing through the pipeline can be increased. Therefore, the fluid supplied from the fluid supply means toward the substrate or the atmosphere around the substrate is heated to a desired temperature.

【0009】したがって、流体が供給された基板上の地
点が流体により温度低下を起こすことがないことから、
基板の面内温度が均一なものとなる。
Therefore, since the temperature on the substrate to which the fluid is supplied does not decrease due to the fluid,
The in-plane temperature of the substrate becomes uniform.

【0010】第1の発明の基板加熱装置において、前記
管路は、ホットプレートの一部を貫通するように配設さ
れたものとすることができる。
In the substrate heating apparatus according to the first aspect of the present invention, the conduit may be provided so as to penetrate a part of the hot plate.

【0011】この構成によれば、流体供給手段の管路が
ホットプレートの一部を貫通することから、管路に対し
てより効率のよい熱の供給が可能となる。
[0011] According to this configuration, since the conduit of the fluid supply means penetrates a part of the hot plate, more efficient heat supply to the conduit is possible.

【0012】また、第2の発明の基板加熱装置は、基板
を加熱処理する基板加熱装置であって、前記基板を上面
に支持して加熱するホットプレートと、該ホットプレー
トに支持される基板もしくは該基板の周囲の雰囲気に向
かって流体を供給する流体供給手段とを備え、さらに、
前記流体供給手段は、流体供給源からの流体を流体供給
口まで導く管路を備えるものであり、前記管路は、その
途中を前記ホットプレートに形成された貫通路で構成し
たものであることを特徴としている。
According to a second aspect of the present invention, there is provided a substrate heating apparatus for heating a substrate, comprising: a hot plate for supporting and heating the substrate on an upper surface thereof; Fluid supply means for supplying a fluid toward the atmosphere around the substrate, further comprising:
The fluid supply means includes a conduit for guiding a fluid from a fluid supply source to a fluid supply port, and the conduit includes a through passage formed in the hot plate at an intermediate portion thereof. It is characterized by.

【0013】この構成によれば、流体供給手段の管路を
流れる流体がホットプレートの貫通路を通ることから、
より高い熱効率で管路を流れる流体を昇温させることが
できる。
According to this configuration, since the fluid flowing through the conduit of the fluid supply means passes through the through passage of the hot plate,
The temperature of the fluid flowing through the pipeline can be increased with higher thermal efficiency.

【0014】[0014]

【発明の実施の形態】次に、本発明の実施の形態を実施
例に基づき説明する。
Next, embodiments of the present invention will be described based on examples.

【0015】図1は、この発明の一実施例に係る基板加
熱装置としてのホットユニット10の構成を示す説明図
であり、図2は、ホットユニット10が備えるホットプ
レート20の平面図である。
FIG. 1 is an explanatory view showing the configuration of a hot unit 10 as a substrate heating apparatus according to one embodiment of the present invention, and FIG. 2 is a plan view of a hot plate 20 provided in the hot unit 10.

【0016】これら図に示すように、ホットユニット1
0は、基板Wを所望の温度で加熱するためのホットプレ
ート20を備える。また、ホットユニット10は、基板
Wの熱処理時にホットプレート20上に降下して熱処理
雰囲気をつくり出すために半密閉空間を形成するチャン
バ40を備えている。
As shown in these figures, the hot unit 1
No. 0 includes a hot plate 20 for heating the substrate W at a desired temperature. Further, the hot unit 10 includes a chamber 40 that forms a semi-hermetic space in order to create a heat treatment atmosphere by dropping onto the hot plate 20 during heat treatment of the substrate W.

【0017】ホットプレート20は、図1に示すよう
に、基台21と、基台21の上方に配置されアルミニウ
ムなどの金属材料で形成された放熱板としてのプレート
22と、基台21とプレート22との間に挟持される面
ヒータ23とから構成される。なお、基台21、プレー
ト22および面ヒータ23は、それぞれ正方形の平板形
状をしている。
As shown in FIG. 1, the hot plate 20 includes a base 21, a plate 22 disposed above the base 21 and serving as a heat radiating plate made of a metal material such as aluminum. 22 and a surface heater 23 sandwiched between them. The base 21, the plate 22, and the surface heater 23 each have a square flat plate shape.

【0018】面ヒータ23には図示しない電力供給装置
が電気的に接続されており、電力供給装置から面ヒータ
23に電力が供給されてプレート22の上面温度が昇温
される。なお、面ヒータ23は、内部にヒータ線を等密
度に配置したもので、その表面において一様に熱を発す
るようになされている。
A power supply device (not shown) is electrically connected to the surface heater 23, and power is supplied from the power supply device to the surface heater 23 to increase the upper surface temperature of the plate 22. The surface heater 23 has heater wires arranged therein at equal density, and generates heat uniformly on its surface.

【0019】また、図2に示すように、ホットプレート
20には、外部から搬入された基板Wを3点支持によっ
て受け取るリフタピン31と、このリフタピン31から
基板Wを受け取ってホットプレート20上に浮かせて支
持する3個のプロキシミティギャップ用ボール35とを
備える。各リフタピン31は、図示を省略するアクチュ
エータによって昇降自在となっており、アクチュエータ
を動作させることにより基板Wを水平に保って昇降させ
ることが可能になる。各プロキシミティギャップ用ボー
ル35は、プレート22上に埋め込まれており、このプ
ロキシミティギャップ用ボール35の上端はプレート2
2の表面から若干突出している。リフタピン31の下降
に伴って下降してきた基板Wは、プロキシミティギャッ
プ用ボール35によりホットプレート20表面と平行に
なるように浮かして支持される。したがって、基板W
は、ホットプレート20と直接接触することなくプロキ
シミティギャップ用ボール35上に支持され、裏面の汚
染が防止されるようになっている。
As shown in FIG. 2, the hot plate 20 has lifter pins 31 for receiving the substrate W carried in from outside by three-point support, and receives the substrate W from the lifter pins 31 and floats the substrate W on the hot plate 20. And three proximity gap balls 35 for supporting the ball. Each lifter pin 31 can be moved up and down by an actuator (not shown). By operating the actuator, the substrate W can be moved up and down while being kept horizontal. Each proximity gap ball 35 is embedded on the plate 22, and the upper end of the proximity gap ball 35 is
2 slightly protrudes from the surface. The substrate W that has descended as the lifter pins 31 descend is floated and supported by the proximity gap balls 35 so as to be parallel to the surface of the hot plate 20. Therefore, the substrate W
Are supported on the proximity gap balls 35 without directly contacting the hot plate 20, so that contamination on the back surface is prevented.

【0020】チャンバ40は、基板Wを上方から覆う円
盤状の上板部42と、この上板部42の周縁から下方に
延びる円環状の側板部44とを備える。このチャンバ4
0は、図示を省略する昇降機構によって上下動可能とな
っており、基板Wの加熱処理に際して降下して、ホット
プレート20上に半密閉空間を形成する。すなわち、チ
ャンバ40は、下方に開口部を有する形状を有してお
り、この開口部がホットプレート20によってわずかな
隙間を残してほぼ密閉される。また、チャンバ40の上
板部42の上部中心付近には、窒素ガス注入部46が設
けられており、この窒素ガス注入部46には、図示しな
い窒素ガス供給源につながる配管50が接続されてい
る。
The chamber 40 includes a disk-shaped upper plate 42 that covers the substrate W from above, and an annular side plate 44 that extends downward from the periphery of the upper plate 42. This chamber 4
Numeral 0 can be moved up and down by an elevating mechanism (not shown), which moves down during the heat treatment of the substrate W to form a semi-closed space on the hot plate 20. That is, the chamber 40 has a shape having an opening below, and this opening is substantially sealed by the hot plate 20 with a slight gap left. A nitrogen gas injection section 46 is provided near the upper center of the upper plate section 42 of the chamber 40, and a pipe 50 connected to a nitrogen gas supply source (not shown) is connected to the nitrogen gas injection section 46. I have.

【0021】窒素ガス供給源の窒素ガスは、配管50を
通って窒素ガス注入部46に流入する。その窒素ガス
は、上板部42により複数の流路に分配されて、鉛直下
方、即ち、ホットプレート20上に載置された基板Wに
向かった方向に吹き付けられる。この結果、チャンバ4
0内の基板W周辺の雰囲気は窒素ガスが満たされたもの
となる。
The nitrogen gas from the nitrogen gas supply source flows into the nitrogen gas injection section 46 through the pipe 50. The nitrogen gas is distributed to the plurality of flow paths by the upper plate portion 42 and is blown vertically downward, that is, in a direction toward the substrate W placed on the hot plate 20. As a result, chamber 4
The atmosphere around the substrate W in 0 is filled with nitrogen gas.

【0022】なお、上記窒素ガス供給源とチャンバ40
の窒素ガス注入部46とをつなぐ配管50は、途中切断
されており、ホットプレート20に形成された貫通路に
接続されている。図3は、ホットプレート20への配管
50の接続部分周辺の拡大断面図である。
The nitrogen gas supply source and the chamber 40
The pipe 50 connecting the nitrogen gas injection part 46 is cut off in the middle and is connected to a through passage formed in the hot plate 20. FIG. 3 is an enlarged cross-sectional view around a connection portion of the pipe 50 to the hot plate 20.

【0023】図3に示すように、ホットプレート20に
は、その厚さ方向に配管50と同径の貫通路20aが形
成されている。貫通路20aの両端には、それぞれ継手
52、53がねじ付けされており、2組のナット55、
56、57、58により、継手52、53に、チャンバ
40側に続く配管50aと窒素ガス供給源に続く配管5
0bとがそれぞれ接続されている。こうした構成によ
り、配管50を流れる窒素ガスはホットプレート20に
形成した貫通路20aを流れてチャンバ40に送られる
ことになる。したがって、窒素ガスは貫通路20aを通
過時にホットプレート20により温められる。
As shown in FIG. 3, the hot plate 20 has a through passage 20a having the same diameter as the pipe 50 in the thickness direction. Joints 52 and 53 are screwed to both ends of the through passage 20a, respectively.
56, 57, and 58 connect the joints 52 and 53 to the pipe 50a connected to the chamber 40 and the pipe 5 connected to the nitrogen gas supply source.
0b are connected to each other. With this configuration, the nitrogen gas flowing through the pipe 50 flows through the through passage 20 a formed in the hot plate 20 and is sent to the chamber 40. Therefore, the nitrogen gas is heated by the hot plate 20 when passing through the through passage 20a.

【0024】なお、この実施例では、ホットプレート2
0は予め正方形の板状の形として、基板Wが載置された
ときに基板Wの下方に位置しない、4隅の一角に上記貫
通路20aを形成して、配管50を接続する構成として
いる(図2参照)。また、配管50は、耐熱性の材料、
例えば、ステンレス、フッ素系樹脂により製造されてい
る。
In this embodiment, the hot plate 2
Numeral 0 has a square plate shape in advance, and the through-hole 20a is formed at one of four corners which is not located below the substrate W when the substrate W is mounted, and the pipe 50 is connected. (See FIG. 2). The pipe 50 is made of a heat-resistant material,
For example, it is made of stainless steel or fluorine resin.

【0025】次に、ホットユニット10の動作につい
て、ホットプレート20を所定の設定温度、例えば、9
0℃で加熱する処理を例にとり説明する。まず、ホット
プレート20の面ヒータ23の出力を上げ、ホットプレ
ート20自身の温度を90℃まで昇温させる。その後、
ホットプレート20の加熱を所定時間継続して、ホット
プレート20とチャンバ40によって形成される半密閉
空間内の雰囲気温度を所望の定常状態とする。このと
き、チャンバ40内に窒素ガスを吹き付ける窒素パージ
の処理は常時行なわれている。この結果、基板Wが置か
れるべき周辺の雰囲気を、所望の定常状態の温度とする
ことが完了し、また、基板W周辺の雰囲気は不活性ガス
である窒素ガスが満たされたものとなり、ホットプレー
ト20にて基板Wの加熱処理を行なえる状態となる。
Next, regarding the operation of the hot unit 10, the hot plate 20 is heated to a predetermined set temperature, for example, 9 ° C.
The process of heating at 0 ° C. will be described as an example. First, the output of the surface heater 23 of the hot plate 20 is increased, and the temperature of the hot plate 20 itself is raised to 90 ° C. afterwards,
The heating of the hot plate 20 is continued for a predetermined time to bring the ambient temperature in the semi-enclosed space formed by the hot plate 20 and the chamber 40 to a desired steady state. At this time, the nitrogen purging process for blowing nitrogen gas into the chamber 40 is always performed. As a result, the surrounding atmosphere where the substrate W is to be placed is completed at a desired steady-state temperature, and the atmosphere around the substrate W is filled with nitrogen gas as an inert gas. The plate W is ready to be heated by the plate 20.

【0026】そこで、外部から図示しない搬送ロボット
により基板Wをホットユニット10に搬入し、基板Wの
加熱処理を行なう。基板Wをホットユニット10へ搬入
するにあたっては、予めチャンバ40およびリフタピン
31を上昇させておき、未処理基板をリフタピン31に
載せる。そして、リフタピン31を降下させてプロキシ
ミティギャップ用ボール35上に基板Wを載せ替える。
こうして基板Wをホットプレート20上に載置して、所
定時間加熱する処理を行なう。加熱処理が終了すると、
リフタピン31を上昇させて再び基板Wをリフタピン3
1上に支持し、図示しない搬送ロボットによりホットユ
ニット10から基板Wの搬出を行なう。このようにして
基板Wの加熱処理が行なえるようになった以降は、順次
基板がホットユニット10に搬入されて基板Wの加熱処
理が行なわれていく。なお、この加熱処理の最中にも、
チャンバ40内に窒素ガスを吹き付ける窒素パージの処
理が常時行なわれている。
Therefore, the substrate W is carried into the hot unit 10 by a transfer robot (not shown) from the outside, and the substrate W is heated. When carrying the substrate W into the hot unit 10, the chamber 40 and the lifter pins 31 are raised in advance, and an unprocessed substrate is placed on the lifter pins 31. Then, the lifter pins 31 are moved down to replace the substrate W on the proximity gap balls 35.
In this way, a process of placing the substrate W on the hot plate 20 and heating for a predetermined time is performed. When the heating process is completed,
The lifter pins 31 are raised, and the substrate W is again lifted.
1 and carried out of the substrate W from the hot unit 10 by a transfer robot (not shown). After the heat treatment of the substrate W can be performed in this way, the substrates are sequentially carried into the hot unit 10 and the heat treatment of the substrate W is performed. In addition, during this heat treatment,
A nitrogen purge process for blowing nitrogen gas into the chamber 40 is always performed.

【0027】以上詳述したように、この実施例のホット
ユニット10では、窒素ガスをチャンバ40内に送る配
管50の一部が、ホットプレート20に形成された貫通
路20aから構成されている。このため、配管50にて
チャンバ40内に送られる窒素ガスは、貫通路20aを
通過する際に加熱されることになる。
As described in detail above, in the hot unit 10 of this embodiment, a part of the pipe 50 for sending the nitrogen gas into the chamber 40 is constituted by the through passage 20 a formed in the hot plate 20. Therefore, the nitrogen gas sent into the chamber 40 through the pipe 50 is heated when passing through the through passage 20a.

【0028】したがって、チャンバ40の上板部42か
ら基板Wに向かって吹き付けられる窒素ガスも温められ
たものとなり、窒素ガスが吹き付けられた基板W上の地
点が温度低下を起こすことが少ない。このため、基板W
の面内温度を均一なものとすることができる。特に、こ
の実施例では、配管50を流れる窒素ガスはホットプレ
ート20内の貫通路20aを通過することから、窒素ガ
スを効率よく加熱することができ、窒素ガスの温度を、
ホットプレート20上に載置される基板Wに近い温度ま
で高めることができる。この結果、基板Wの面内温度は
より一層均一なものとなっている。
Therefore, the nitrogen gas blown from the upper plate portion 42 of the chamber 40 toward the substrate W is also warmed, and the temperature on the substrate W to which the nitrogen gas is blown rarely drops. Therefore, the substrate W
Can have a uniform in-plane temperature. In particular, in this embodiment, since the nitrogen gas flowing through the pipe 50 passes through the through passage 20a in the hot plate 20, the nitrogen gas can be efficiently heated, and the temperature of the nitrogen gas is reduced.
The temperature can be raised to a temperature close to the substrate W placed on the hot plate 20. As a result, the in-plane temperature of the substrate W is more uniform.

【0029】なお、前記実施例では、窒素ガスをチャン
バ40内に送る配管50の一部を、ホットプレート20
に形成された貫通路20aから構成していたが、これに
替えて、図4に示すように、貫通路20a内に管路90
を嵌入して、その管路90の両端にチャンバ40側に続
く配管50aと窒素ガス供給源に続く配管50bとをそ
れぞれ接続する構成としてもよい。あるいは、配管50
をホットプレート20の貫通路20aに直接貫通させた
構成としてもよい。
In the above embodiment, a part of the pipe 50 for sending the nitrogen gas into the chamber 40 is
However, instead of this, as shown in FIG. 4, a pipe 90 is formed in the through passage 20a.
And a pipe 50a connected to the chamber 40 side and a pipe 50b connected to the nitrogen gas supply source may be connected to both ends of the pipe 90, respectively. Alternatively, pipe 50
May be directly penetrated through the through passage 20 a of the hot plate 20.

【0030】また、前記実施例では、ホットプレート2
0上に載置された基板Wに鉛直上方から窒素ガスが直接
吹き付けられる構成としたが、これに替えて、ホットプ
レート20上に載置された基板Wの周囲の雰囲気に向か
って窒素ガスを吹き付け、基板Wには直接窒素ガスが当
たらない構成としても、チャンバ40内に窒素ガスを満
たすことができる。この構成においても、前記実施例と
同様に、配管50を流れる窒素ガスをホットプレート2
0により加熱することが好ましい。この構成によれば、
チャンバ40内の雰囲気を吹き付けられた窒素ガスによ
り局部的に低下させることがないことから、第1実施例
と同様に、基板Wの面内温度を均一なものとすることが
できる。
In the above embodiment, the hot plate 2
Although the nitrogen gas is directly blown onto the substrate W placed on the hot plate 20 from above, the nitrogen gas is directly blown toward the atmosphere around the substrate W placed on the hot plate 20. The chamber 40 can be filled with the nitrogen gas even if the structure is such that the nitrogen gas is not directly blown onto the substrate W. Also in this configuration, similarly to the above embodiment, the nitrogen gas flowing through the pipe 50 is supplied to the hot plate 2.
It is preferred to heat with 0. According to this configuration,
Since the atmosphere in the chamber 40 is not locally lowered by the blown nitrogen gas, the in-plane temperature of the substrate W can be made uniform as in the first embodiment.

【0031】さらに、図5に示すように、配管150を
ホットプレート20の側面に接触するように沿わして配
設する構成としてもよい。この構成によっても、第1実
施例と同様に、チャンバ40内で基板Wに向かって吹き
付けられる窒素ガスは温められたものとなり、基板Wの
面内温度を均一なものとすることができる。なお、この
態様の場合、配管150を蛇行状にしてその蛇行状の部
分をホットプレート20の側面に沿わすようにすること
で、窒素ガスの加熱の程度を高めることができる。
Further, as shown in FIG. 5, the pipe 150 may be arranged along the side surface of the hot plate 20 so as to be in contact therewith. With this configuration, as in the first embodiment, the nitrogen gas blown toward the substrate W in the chamber 40 is heated, and the in-plane temperature of the substrate W can be made uniform. In this case, the degree of heating of the nitrogen gas can be increased by forming the pipe 150 in a meandering shape so that the meandering portion is along the side surface of the hot plate 20.

【0032】前記実施例では、基板に供給する流体とし
て窒素ガスが用いられていたが、これに替えて、蒸気状
のHMDS等の他のガスを基板Wに吹き付ける構成とし
てもよい。なお、HMDSは、レジストに吹き付ける前
にレジストの密着度を高める薬剤である。
In the above embodiment, nitrogen gas is used as the fluid to be supplied to the substrate. Alternatively, another gas such as HMDS in a vapor state may be blown onto the substrate W. HMDS is a chemical that increases the degree of adhesion of the resist before spraying the resist.

【0033】以上、この発明の一実施例を詳述してきた
が、この発明は、こうした実施例に何等限定されるもの
ではなく、この発明の要旨を逸脱しない範囲において種
々なる態様にて実施することが可能である。
Although one embodiment of the present invention has been described in detail above, the present invention is not limited to such embodiment at all, and may be carried out in various modes without departing from the gist of the present invention. It is possible.

【図面の簡単な説明】[Brief description of the drawings]

【図1】この発明の一実施例に係る基板加熱装置として
のホットユニット10の構成を示す説明図である。
FIG. 1 is an explanatory diagram showing a configuration of a hot unit 10 as a substrate heating device according to one embodiment of the present invention.

【図2】ホットユニット10が備えるホットプレート2
0の平面図である。
FIG. 2 shows a hot plate 2 provided in the hot unit 10.
0 is a plan view.

【図3】ホットプレート20への配管50の接続部分周
辺の拡大断面図である。
FIG. 3 is an enlarged cross-sectional view around a connection portion of a pipe 50 to the hot plate 20.

【図4】ホットプレート20への配管50の接続の他の
態様を示す拡大断面図である。
FIG. 4 is an enlarged cross-sectional view showing another mode of connection of the pipe 50 to the hot plate 20.

【図5】ホットプレート20へ管路配管を沿わした態様
を示す説明図である。
FIG. 5 is an explanatory view showing an embodiment in which a pipeline is arranged along a hot plate 20;

【符号の説明】[Explanation of symbols]

10…ホットユニット 20…ホットプレート 20a…貫通路 21…基台 22…プレート 23…面ヒータ 31…リフタピン 35…プロキシミティギャップ用ボール 40…チャンバ 42…上板部 44…側板部 46…窒素ガス注入部 50…配管 52、53…継手 55〜58…ナット 150…配管 W…基板 Reference Signs List 10 hot unit 20 hot plate 20a through passage 21 base 22 plate 23 surface heater 31 lifter pin 35 ball for proximity gap 40 chamber 42 upper plate 44 side plate 46 nitrogen gas injection Part 50 ... Piping 52, 53 ... Coupling 55-58 ... Nut 150 ... Piping W ... Substrate

Claims (3)

【特許請求の範囲】[Claims] 【請求項1】 基板を加熱処理する基板加熱装置であっ
て、 前記基板を上面に支持して加熱するホットプレートと、 該ホットプレートに支持される基板もしくは該基板の周
囲の雰囲気に向かって流体を供給する流体供給手段とを
備え、 さらに、前記流体供給手段は、 流体供給源からの流体を流体供給口まで導く管路を備え
るものであり、 前記管路は、 前記ホットプレートと接触するように配設されたもので
あることを特徴とする基板加熱装置。
1. A substrate heating apparatus for heating a substrate, comprising: a hot plate for supporting and heating the substrate on an upper surface; and a fluid flowing toward the substrate supported on the hot plate or an atmosphere around the substrate. And a fluid supply means for supplying a fluid from a fluid supply source to a fluid supply port, and the fluid supply means contacts the hot plate. A substrate heating device, wherein the substrate heating device is disposed in the substrate heating device.
【請求項2】 前記管路は、ホットプレートの一部を貫
通するように配設されたものである請求項1記載の基板
加熱装置。
2. The substrate heating apparatus according to claim 1, wherein the conduit is provided so as to penetrate a part of the hot plate.
【請求項3】 基板を加熱処理する基板加熱装置であっ
て、 前記基板を上面に支持して加熱するホットプレートと、 該ホットプレートに支持される基板もしくは該基板の周
囲の雰囲気に向かって流体を供給する流体供給手段とを
備え、 さらに、前記流体供給手段は、 流体供給源からの流体を流体供給口まで導く管路を備え
るものであり、 前記管路は、 その途中を前記ホットプレートに形成された貫通路で構
成したものであることを特徴とする基板加熱装置。
3. A substrate heating apparatus for heating a substrate, comprising: a hot plate for supporting and heating the substrate on an upper surface thereof; and a fluid flowing toward the substrate supported on the hot plate or an atmosphere around the substrate. And a fluid supply means for supplying fluid to the hot plate.The fluid supply means further comprises a conduit for guiding a fluid from a fluid supply source to a fluid supply port. A substrate heating device comprising a formed through passage.
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