JPH10206340A - Hard disk inspection device - Google Patents
Hard disk inspection deviceInfo
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- JPH10206340A JPH10206340A JP773397A JP773397A JPH10206340A JP H10206340 A JPH10206340 A JP H10206340A JP 773397 A JP773397 A JP 773397A JP 773397 A JP773397 A JP 773397A JP H10206340 A JPH10206340 A JP H10206340A
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- hard disk
- measurement block
- vibration
- detected
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Landscapes
- Investigating Materials By The Use Of Optical Means Adapted For Particular Applications (AREA)
- Manufacturing Of Magnetic Record Carriers (AREA)
Abstract
Description
【0001】[0001]
【発明の属する技術分野】本発明は、ハードディスク表
面の突起の有無を検査するハードディスク検査装置に関
する。BACKGROUND OF THE INVENTION 1. Field of the Invention The present invention relates to a hard disk inspection apparatus for inspecting the surface of a hard disk for protrusions.
【0002】[0002]
【従来の技術】従来より、コンピュータシステムにおけ
る記憶装置等としてハードディスクが広く採用されてお
り、近年益々大容量化が進んできている。その大容量化
の一貫として、磁界によって抵抗値が変化する磁気抵抗
素子をハードディスクへのデータの書込みやハードディ
スクからのデータの読出しを行なうためのヘッドとして
用いたMRヘッドが注目されている。このMRヘッドを
用いると、従来から使用されていたヘッドを用いた場合
と比べ、ハードディスクへの高密度記録を実現すること
ができ、ハードディスクの一層の大容量化を実現するこ
とができる。2. Description of the Related Art Hard disks have been widely used as storage devices and the like in computer systems, and their capacities have been increasing in recent years. As a part of the increase in capacity, an MR head using a magnetoresistive element whose resistance value changes according to a magnetic field as a head for writing data to a hard disk and reading data from a hard disk has attracted attention. When this MR head is used, high-density recording on a hard disk can be realized, and the capacity of a hard disk can be further increased, as compared with the case where a conventionally used head is used.
【0003】MRヘッドに限らず従来から使用されてい
たヘッドを用いた場合も、円盤状のハードディスクが回
転すると空気流の作用によりそのヘッドがハードディス
ク表面から僅かに離れている浮いた状態になり、その状
態でハードディスクへのデータの書込みやハードディス
クからのデータの読出し(ハードディスクへのアクセス
と称する)を行なっているが、MRヘッドの場合、高密
度記録を行なうために、従来のヘッドを用いた場合より
もハードディスク表面にさらに近づいた状態となるよう
に、すなわちハードディスク表面との間の間隔が例えば
50nm〜150nmとなるように、そのヘッドの重量
や形状等が調整されている。[0003] In the case of using not only the MR head but also a conventionally used head, when the disk-shaped hard disk rotates, the head is floated slightly away from the surface of the hard disk due to the action of the air flow. In this state, data is written to the hard disk and data is read from the hard disk (referred to as access to the hard disk). In the case of the MR head, a conventional head is used to perform high-density recording. The weight, shape, and the like of the head are adjusted so as to be closer to the surface of the hard disk, that is, so that the distance between the head and the hard disk surface is, for example, 50 nm to 150 nm.
【0004】一方、ハードディスク表面には、その製造
過程において、1μm×1μm程度の寸法であって、高
さが、数十nm〜数百nmの突起が発生する場合があ
り、ハードディスク表面にこのような突起が発生する
と、ハードディスク表面から僅か50nm〜100nm
浮いた状態でハードディスクをアクセスするMRヘッド
と干渉してしまう場合がある。ところがMRヘッドは熱
に極めて敏感であり、ハードディスク表面の微小突起と
の干渉による僅かな発熱によってもアクセスエラーが生
じる場合ある。このため、MRヘッドを採用して高密度
記録、大容量化を図るためには、ハードディスク表面の
微小突起の有無を精確に、かつ、効率の良い検査を行な
うために短時間に検出することが極めて重要な課題とし
て注目されてきている。On the other hand, on the surface of the hard disk, projections having a size of about 1 μm × 1 μm and a height of several tens nm to several hundreds nm may be generated in the manufacturing process. When a large projection occurs, only 50 nm to 100 nm from the hard disk surface
In a floating state, it may interfere with the MR head accessing the hard disk. However, the MR head is extremely sensitive to heat, and an access error may occur even by slight heat generation due to interference with minute projections on the hard disk surface. Therefore, in order to achieve high-density recording and large capacity by employing an MR head, it is necessary to detect the presence or absence of minute protrusions on the surface of a hard disk accurately and in a short time in order to perform an efficient inspection. It is attracting attention as a very important issue.
【0005】[0005]
【発明が解決しようとする課題】上述したようなハード
ディスク表面の微小突起を検出する方法の1つとして、
そのハードディスクにMRヘッドを用いて実際にアクセ
スしてみる方法が考えられる。しかしながら、この方法
では、ハードディスク全域をアクセスするのに多大の時
間を要し、一方、ハードディスクの製造工程の最終の検
査工程ではハードディスク一枚あたり数秒程度で検査す
ることが要請されており、この方法では、このような短
時間での検査は不可能である。As one of the methods for detecting minute projections on the surface of a hard disk as described above,
A method of actually accessing the hard disk using an MR head is conceivable. However, this method requires a great deal of time to access the entire area of the hard disk. On the other hand, in the final inspection step of the hard disk manufacturing process, it is required that inspection be performed in a few seconds per hard disk. Then, such an inspection in a short time is impossible.
【0006】また、ハードディスク表面の微小突起を直
接的に検出する方法として、例えばそのハードディスク
表面にレーザビームを照射し干渉の原理を利用してハー
ドディスク表面の凹凸を検出する方法が考えられる。ハ
ードディスク表面の微小突起の高さは数十nm〜数百n
m程度であるため、この方法により十分な高精度の検出
が可能である。しかしながら、ハードディスク表面の微
小突起の表面の寸法は1μm×1μm程度であり、した
がって極めて細く絞ったレーザビームを用いそのように
細く絞ったレーザビームでハードディスク表面全域を走
査する必要があり、この方法もハードディスク一枚あた
り極めて多大な検査時間を必要とする。As a method of directly detecting minute projections on the surface of a hard disk, for example, a method of irradiating a laser beam to the surface of the hard disk and detecting irregularities on the surface of the hard disk by using the principle of interference can be considered. The height of the micro projections on the hard disk surface is several tens nm to several hundreds n
Since this is about m, detection with sufficiently high accuracy is possible by this method. However, the size of the surface of the fine projections on the hard disk surface is about 1 μm × 1 μm, and therefore, it is necessary to use an extremely narrowly focused laser beam to scan the entire hard disk surface with such a narrowly focused laser beam. An extremely large inspection time is required for each hard disk.
【0007】本発明は、上記事情に鑑み、ハードディス
ク表面の突起の有無を短時間で検査することのできるハ
ードディスク検査装置を提供することを目的とする。SUMMARY OF THE INVENTION In view of the above circumstances, an object of the present invention is to provide a hard disk inspection apparatus capable of inspecting the presence or absence of a projection on a hard disk surface in a short time.
【0008】[0008]
【課題を解決するための手段】上記目的を達成する本発
明のハードディスク検査装置は、ハードディスク表面の
突起の有無を検査するハードディスク検査装置におい
て、ハードディスクを水平に回転させるハードディスク
回転装置と、ハードディスクが回転することによってそ
のハードディスク上に浮いた状態に配置される測定ブロ
ックと、その測定ブロックを先端に固定しその測定ブロ
ックをハードディスクの半径方向に移動させるアーム
と、その測定ブロックの振動を検出するセンサとを備え
たことを特徴とする。According to the present invention, there is provided a hard disk inspection apparatus for inspecting the surface of a hard disk for the presence of protrusions. A measurement block that is placed in a floating state on the hard disk by performing the measurement, an arm that fixes the measurement block to the tip and moves the measurement block in the radial direction of the hard disk, and a sensor that detects vibration of the measurement block. It is characterized by having.
【0009】ここで、上記測定ブロックは、ハードディ
スクをアクセスするヘッドを流用したものであってもよ
い。また、上記本発明のハードディスク検査装置におい
て、上記センサは、測定ブロックの振動を検出すること
ができるものであればどのようなセンサであってもよい
が、例えば、上記測定ブロックに上方からレーザ光を照
射してその測定ブロックの上下方向の振動を検出するレ
ーザドプラ振動計や、上記アームを経由して伝達してき
た振動を検出するコンタクトマイクロホンを好適に採用
することができる。Here, the measurement block may use a head for accessing a hard disk. In the hard disk inspection device of the present invention, the sensor may be any sensor as long as it can detect the vibration of the measurement block. And a contact microphone that detects the vibration transmitted through the arm can be suitably used.
【0010】本発明のハードディスク検査装置は、例え
ばハードディスクをアクセスするヘッドをそのまま流用
した、あるいはそれと類似に構成した測定ブロックを、
ハードディスクを実際にアクセスするヘッドと同様にし
て用いて、その測定ブロックがハードディスク表面の突
起に衝突して生じる振動を、例えばレーザドプラ振動計
やコンタクトマイクロホン等のセンサを用いて検出する
ものであり、その測定ブロックとして、例えば1mm×
1mm程度の寸法等、ハードディスク表面の突起の寸法
(例えば1μm×1μm)と比べ極めて大きな測定ブロ
ックを用いることができ、ハードディスク表面の広い領
域を一度に検査することができ、その測定ブロックで、
例えば数秒程度の短時間でハードディスクの表面全面を
走査することができる。また検出精度も後述する実験デ
ータに示すように極めて高精度の検出が可能である。[0010] The hard disk inspection apparatus of the present invention includes, for example, a measurement block in which a head for accessing a hard disk is diverted as it is or configured similarly.
Using a hard disk in the same manner as a head that actually accesses, the vibration generated by the measurement block colliding with a protrusion on the surface of the hard disk is detected by using a sensor such as a laser Doppler vibrometer or a contact microphone. As a measurement block, for example, 1 mm x
It is possible to use a measurement block that is extremely large as compared with the size of the protrusion on the hard disk surface (for example, 1 μm × 1 μm), such as a size of about 1 mm, and it is possible to inspect a large area of the hard disk surface at a time.
For example, the entire surface of the hard disk can be scanned in a short time of about several seconds. In addition, the detection accuracy is extremely high as shown in the experimental data described later.
【0011】[0011]
【発明の実施の形態】以下、本発明の実施形態について
説明する。図1は、本発明のハードディスク検査装置の
一部を示した模式斜視図である。検査対象のハードディ
スク10がスピンドル101に取り付けられて矢印A方
向に水平に回転している。このハードディスク10の上
には、ハードディスク10の回転に伴う空気流の作用に
よりハードディスク10から僅かに浮いた状態に測定ブ
ロック102が配置されている。Embodiments of the present invention will be described below. FIG. 1 is a schematic perspective view showing a part of a hard disk inspection device according to the present invention. A hard disk 10 to be inspected is attached to a spindle 101 and rotates horizontally in the direction of arrow A. On the hard disk 10, a measurement block 102 is arranged so as to slightly float from the hard disk 10 due to the action of the airflow accompanying the rotation of the hard disk 10.
【0012】この測定ブロック102は、支持アーム1
03の先端103aに固定されており、この支持アーム
103は、後端を軸として回動し、測定ブロック102
をハードディスク103の半径方向に移動させるように
構成されている。この測定ブロック102は、ハードデ
ィスクアクセス用のMRヘッドがそのまま流用されてい
る。This measuring block 102 is
The support arm 103 is rotated about the rear end as an axis, and
Is moved in the radial direction of the hard disk 103. In this measurement block 102, the MR head for hard disk access is diverted as it is.
【0013】ここで、ハードディスク10表面に微小突
起が存在しているとその微小突起と測定ヘッド102が
干渉し測定ヘッド102が振動する。そこで、ここで
は、その測定ヘッドの振動を検出するために、その測定
ヘッドに、後述するレーザドプラ振動計のレーザ光21
が照射され、あるいは、支持アーム103の後端部10
3b(回動中心が好ましい)に、測定ヘッド102と微
小突起との干渉により測定ヘッド102において発生し
支持アーム103を伝達してきた振動を検出するコンタ
クトマイクロホン30が固定される。Here, if there is a minute projection on the surface of the hard disk 10, the minute projection interferes with the measuring head 102, and the measuring head 102 vibrates. Therefore, here, in order to detect the vibration of the measuring head, a laser beam 21 of a laser Doppler vibrometer described later is applied to the measuring head.
Is irradiated, or the rear end 10 of the support arm 103
At 3b (preferably the center of rotation), a contact microphone 30 for detecting vibration generated in the measuring head 102 by the interference between the measuring head 102 and the minute projection and transmitted to the support arm 103 is fixed.
【0014】尚、図1にはレーザドプラ振動計(図1に
は図示せず)から出射したレーザ光21とコンタクトマ
イクロホン30との双方が示されているが、レーザドプ
ラ振動計とコンタクトマイクロホンの双方を備える必要
はなく、いずれか一方のみを備えて振動を検出してもよ
い。図2は、レーザドプラ振動計の原理説明図である。FIG. 1 shows both the laser beam 21 emitted from a laser Doppler vibrometer (not shown in FIG. 1) and the contact microphone 30, but both the laser Doppler vibrometer and the contact microphone are connected. It is not necessary to provide, and only one of them may be provided to detect the vibration. FIG. 2 is a diagram illustrating the principle of the laser Doppler vibrometer.
【0015】波長λ,周波数f0 のレーザ光を、速度V
で移動中のターゲット1に照射する。このとき、ターゲ
ット1で反射した反射レーザ光はターゲット1の動きに
より周波数偏移を受ける。レーザ光の照射方向かつ反射
方向とターゲット1の移動方向との成す角度をθとする
と、周波数遷移量fD は、 fD =2・V・cosθ/λ ……(1) である。すなわち、反射レーザ光の周波数はf0 +fD
となる。A laser beam having a wavelength λ and a frequency f 0 is transmitted at a speed V
Irradiates the moving target 1 with. At this time, the reflected laser light reflected by the target 1 undergoes a frequency shift due to the movement of the target 1. Assuming that the angle between the irradiation direction and the reflection direction of the laser light and the moving direction of the target 1 is θ, the frequency transition amount f D is f D = 2 · V · cos θ / λ (1). That is, the frequency of the reflected laser light is f 0 + f D
Becomes
【0016】そこで、この反射レーザ光(周波数f0 +
fD )と、入射レーザ光から分離した参照レーザ光(周
波数f0 )とを干渉させ受光すると、それらの差の周波
数差(f0 +fD −f0 =fD )に相当するビート信号
を得ることができる。このビート信号の周波数fD によ
り、ターゲット1の、レーザ光の照射方向の速度Vco
sθを検出することができる。通常は、参照レーザ光は
周波数f0 のまま用いるのではなく、周波数シフトを受
けた参照レーザ光(周波数f0 +fM )を用いる。こう
することにより、ターゲット1が静止している場合に周
波数fM のビート信号が観察され、ターゲット1が移動
すると、そのターゲット1の移動方向(照射レーザ光の
光軸に沿う移動方向)プラス側、マイナス側に応じてビ
ート信号の周波数が周波数fM からプラス側あるいはマ
イナス側に変化し、これにより、そのターゲットの移動
速度とともに移動方向も知ることができる。Therefore, the reflected laser light (frequency f 0 +
f D ) and the reference laser light (frequency f 0 ) separated from the incident laser light and received, a beat signal corresponding to the frequency difference (f 0 + f D −f 0 = f D ) of the difference is received. Obtainable. The frequency f D of the beat signal, the target 1, the irradiation direction of the laser beam speed Vco
sθ can be detected. Normally, the reference laser light is not used at the frequency f 0 , but is used as a frequency-shifted reference laser light (frequency f 0 + f M ). Thus, when the target 1 is stationary, a beat signal of the frequency f M is observed, and when the target 1 moves, the moving direction of the target 1 (moving direction along the optical axis of the irradiation laser light) is positive. The frequency of the beat signal changes from the frequency f M to the plus side or the minus side in accordance with the minus side, whereby the moving direction and the moving direction of the target can be known.
【0017】図3は、レーザドプラ振動計の基本構成図
である。レーザ光源201から出射した、周波数f0 の
レーザ光20は、ビームスプリッタ202により測定レ
ーザ光21と参照レーザ光22とに二分される。測定レ
ーザ光21はビームスプリッタ203を透過し、図1に
示す測定ブロック102に照射される。その測定ブロッ
ク102が測定レーザ光21の光軸方向に振動すると、
その測定ブロック102で反射したレーザ光は、周波数
遷移を受けることになる。FIG. 3 is a basic configuration diagram of the laser Doppler vibrometer. A laser beam 20 having a frequency f 0 emitted from a laser light source 201 is split into a measurement laser beam 21 and a reference laser beam 22 by a beam splitter 202. The measurement laser beam 21 passes through the beam splitter 203 and is applied to the measurement block 102 shown in FIG. When the measurement block 102 vibrates in the optical axis direction of the measurement laser beam 21,
The laser light reflected by the measurement block 102 undergoes frequency transition.
【0018】その周波数遷移を受けた、周波数f0 +f
D の反射レーザ光は、ビームスプリッタ203で反射
し、ミラー204で反射し、ビームスプリッタ205を
透過し、受光器206に至る。一方、ビームスプリッタ
202で反射した参照レーザ光22は、音響光学変調器
207で周波数変調を受け、周波数f0 +fM の参照レ
ーザ光となってビームスプリッタ205で反射し受光器
206に至る。The frequency f 0 + f having received the frequency transition
The reflected laser light of D is reflected by the beam splitter 203, reflected by the mirror 204, transmitted through the beam splitter 205, and reaches the light receiver 206. On the other hand, the reference laser beam 22 reflected by the beam splitter 202 is frequency-modulated by the acousto-optic modulator 207, becomes a reference laser beam of frequency f 0 + f M , is reflected by the beam splitter 205, and reaches the light receiver 206.
【0019】受光器206では、参照レーザ光の周波数
f0 +fM と反射レーザ光のf0 +fD との差の周波数
fM −fD のビート信号が観察される。このビート信号
は振動検出回路208に入力され、このビート信号の周
波数変化が電圧信号に変換され、これにより測定ブロッ
ク102の振動が検出される。図4は、コンタクトマイ
クロホンの概略構成図である。[0019] In the light receiver 206, a beat signal of a frequency f M -f D of the difference between the frequency f 0 + f M of the reference laser beam and f 0 + f D of the reflected laser beam is observed. The beat signal is input to the vibration detection circuit 208, and the frequency change of the beat signal is converted into a voltage signal, whereby the vibration of the measurement block 102 is detected. FIG. 4 is a schematic configuration diagram of a contact microphone.
【0020】マイクロホンは、一般的に、空気の振動に
伴って振動するダイヤフラムを備えそのダイヤフラムの
振動をピックアップする構成を有しているが、コンタク
トマイクロホン30は、ダイヤフラム301の前面に密
閉気室302を備え、その密閉気室302の前面が固体
2(図1に示すハードディスク検査装置の場合はアーム
103の後端部103b)の表面にあてがわれ、その固
体2(アーム103)の振動が密閉気室302内部の気
体に伝えられ、さらにその気体の振動がダイヤフラム3
01に伝えられる。ダイヤフラム301の振動のピック
アップは通常のマイクロホンと同様であり、ここでの説
明は省略する。The microphone generally includes a diaphragm that vibrates in accordance with the vibration of air and has a configuration for picking up the vibration of the diaphragm. The contact microphone 30 has a closed air chamber 302 in front of the diaphragm 301. And the front surface of the sealed air chamber 302 is applied to the surface of the solid 2 (the rear end 103b of the arm 103 in the case of the hard disk inspection apparatus shown in FIG. 1), and the vibration of the solid 2 (arm 103) is sealed. The vibration is transmitted to the gas inside the air chamber 302, and the vibration of the gas is transmitted to the diaphragm 3.
01. The pickup of the vibration of the diaphragm 301 is the same as that of a normal microphone, and the description is omitted here.
【0021】図1に示すハードディスク検査装置では、
ハードディスク10を回転させながら、支持アーム10
3を回動させることにより測定ブロック102をハード
ディスク10の半径方向に移動させ、その間、レーザド
プラ振動計により測定ブロック102の振動が検出さ
れ、あるいはコンタクトマイクロホン30により支持ア
ーム103を伝わってきた振動が検出される。このよう
にして、ハードディスク1枚あたり数秒でそのハードデ
ィスク表面全面について微小突起の有無が検出される。In the hard disk inspection apparatus shown in FIG.
While rotating the hard disk 10, the support arm 10
The measurement block 102 is moved in the radial direction of the hard disk 10 by rotating the 3. During this time, the vibration of the measurement block 102 is detected by the laser Doppler vibrometer, or the vibration transmitted to the support arm 103 by the contact microphone 30 is detected. Is done. In this way, the presence or absence of minute projections is detected on the entire surface of the hard disk within several seconds per hard disk.
【0022】図5は、レーザドプラ振動計を用いて測定
ブロックの振動を検出したときの信号波形図である。図
5(a),(b)はそれぞれ、ハードディスク表面に微
小突起が存在しない状態、存在する状態における信号波
形である。図5(a)と図5(b)とを比較すると、十
分なS/Nをもって微小突起の存在を検出することがで
きることがわかる。FIG. 5 is a signal waveform diagram when the vibration of the measurement block is detected using the laser Doppler vibrometer. FIGS. 5A and 5B show signal waveforms in a state in which minute protrusions do not exist on the surface of the hard disk and in a state in which minute protrusions do exist. Comparing FIG. 5A and FIG. 5B, it can be seen that the presence of the microprojections can be detected with sufficient S / N.
【0023】図6は、コンタクトマイクロホンを用いて
支持アーム後端部の振動を検出したときの信号波形図で
ある。図6(a),(b)は、それぞれ図5(a),
(b)と同様、ハードディスク表面に微小突起が存在し
ない場合、存在する場合における信号波形である。図6
(a)と図6(b)とを比較すると、コンタクトマイク
ロホンによっても、十分なS/Nをもって微小突起の存
在を検出することができることがわかる。FIG. 6 is a signal waveform diagram when vibration of the rear end of the support arm is detected using a contact microphone. FIGS. 6 (a) and 6 (b) correspond to FIGS.
Similar to (b), it is a signal waveform in the case where there is no fine protrusion on the surface of the hard disk, and in the case where there is a fine protrusion. FIG.
Comparing FIG. 6A with FIG. 6B, it can be seen that the presence of the microprojections can be detected with a sufficient S / N even with the contact microphone.
【0024】[0024]
【発明の効果】以上説明したように、本発明のハードデ
ィスク検査装置によればハードディスク表面の突起の有
無を高速かつ十分な精度で検出することができる。As described above, according to the hard disk inspection apparatus of the present invention, the presence or absence of a projection on the hard disk surface can be detected at high speed and with sufficient accuracy.
【図1】本発明のハードディスク検査装置の一部を示し
た模式斜視図である。FIG. 1 is a schematic perspective view showing a part of a hard disk inspection device of the present invention.
【図2】レーザドプラ振動計の原理説明図である。FIG. 2 is a diagram illustrating the principle of a laser Doppler vibrometer.
【図3】レーザドプラ振動計の基本構成図である。FIG. 3 is a basic configuration diagram of a laser Doppler vibrometer.
【図4】コンタクトマイクロホンの概略構成図である。FIG. 4 is a schematic configuration diagram of a contact microphone.
【図5】レーザドプラ振動計を用いて測定ブロックの振
動を検出したときの信号波形図である。FIG. 5 is a signal waveform diagram when vibration of a measurement block is detected using a laser Doppler vibrometer.
【図6】コンタクトマイクロホンを用いて支持アーム後
端部の振動を検出したときの信号波形図である。FIG. 6 is a signal waveform diagram when vibration of the rear end of the support arm is detected using a contact microphone.
1 ターゲット 2 固体 10 ハードディスク 20 レーザ光 21 測定レーザ光 22 参照レーザ光 30 コンタクトマイクロホン 101 スピンドル 102 測定ブロック 103 アーム 103a アーム先端 103b アーム後端部 201 レーザ光源 202,203,205 ビームスプリッタ 204 ミラー 206 受光器 207 音響光学変調器 208 振動検出回路 301 ダイヤフラム 302 密閉気室 Reference Signs List 1 target 2 solid 10 hard disk 20 laser light 21 measurement laser light 22 reference laser light 30 contact microphone 101 spindle 102 measurement block 103 arm 103a arm tip 103b arm rear end 201 laser light source 202, 203, 205 beam splitter 204 mirror 206 light receiver 207 Acousto-optic modulator 208 Vibration detection circuit 301 Diaphragm 302 Sealed air chamber
Claims (4)
するハードディスク検査装置において、 ハードディスクを水平に回転させるハードディスク回転
装置と、 ハードディスクが回転することによって該ハードディス
ク上に浮いた状態に配置される測定ブロックと、 該測定ブロックを先端に固定しその測定ブロックをハー
ドディスクの半径方向に移動させるアームと、 前記測定ブロックの振動を検出するセンサとを備えたこ
とを特徴とするハードディスク検査装置。1. A hard disk inspection device for inspecting the presence or absence of protrusions on a hard disk surface, comprising: a hard disk rotation device for rotating the hard disk horizontally; and a measurement block arranged to be floated on the hard disk by rotating the hard disk. A hard disk inspection device comprising: an arm that fixes the measurement block to the tip and moves the measurement block in a radial direction of the hard disk; and a sensor that detects vibration of the measurement block.
アクセスするヘッドを流用したものであることを特徴と
する請求項1記載のハードディスク検査装置。2. The hard disk inspection apparatus according to claim 1, wherein the measurement block uses a head for accessing a hard disk.
からレーザ光を照射してその測定ブロックの上下方向の
振動を検出するレーザドプラ振動計であることを特徴と
するハードディスク検査装置。3. The hard disk inspection apparatus according to claim 1, wherein the sensor is a laser Doppler vibrometer that irradiates the measurement block with laser light from above to detect a vertical vibration of the measurement block.
達してきた振動を検出するコンタクトマイクロホンであ
ることを特徴とする請求項1記載のハードディスク検査
装置。4. The hard disk inspection apparatus according to claim 1, wherein the sensor is a contact microphone that detects a vibration transmitted via the arm.
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP773397A JPH10206340A (en) | 1997-01-20 | 1997-01-20 | Hard disk inspection device |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP773397A JPH10206340A (en) | 1997-01-20 | 1997-01-20 | Hard disk inspection device |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPH10206340A true JPH10206340A (en) | 1998-08-07 |
Family
ID=11673916
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP773397A Withdrawn JPH10206340A (en) | 1997-01-20 | 1997-01-20 | Hard disk inspection device |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JPH10206340A (en) |
Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US6523413B1 (en) | 1998-12-28 | 2003-02-25 | Oki Electric Industry Co., Ltd. | Acoustic inspection method for hard disks, acoustic inspection system for hard disks, and program memory medium |
-
1997
- 1997-01-20 JP JP773397A patent/JPH10206340A/en not_active Withdrawn
Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US6523413B1 (en) | 1998-12-28 | 2003-02-25 | Oki Electric Industry Co., Ltd. | Acoustic inspection method for hard disks, acoustic inspection system for hard disks, and program memory medium |
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