JPH10188800A - Electron gun assembling method and device - Google Patents

Electron gun assembling method and device

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JPH10188800A
JPH10188800A JP35170796A JP35170796A JPH10188800A JP H10188800 A JPH10188800 A JP H10188800A JP 35170796 A JP35170796 A JP 35170796A JP 35170796 A JP35170796 A JP 35170796A JP H10188800 A JPH10188800 A JP H10188800A
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JP
Japan
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grid
position data
detecting
data
electron beam
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Withdrawn
Application number
JP35170796A
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Japanese (ja)
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Keizo Mori
圭三 森
Yoshiro Fuwa
好朗 不破
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Sony Corp
Original Assignee
Sony Corp
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Publication date
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    • H01J29/48—Electron guns
    • H01J29/485—Construction of the gun or of parts thereof
    • H—ELECTRICITY
    • H01—ELECTRIC ELEMENTS
    • H01J—ELECTRIC DISCHARGE TUBES OR DISCHARGE LAMPS
    • H01J9/00—Apparatus or processes specially adapted for the manufacture, installation, removal, maintenance of electric discharge tubes, discharge lamps, or parts thereof; Recovery of material from discharge tubes or lamps
    • H01J9/02—Manufacture of electrodes or electrode systems
    • H01J9/18—Assembling together the component parts of electrode systems
    • H—ELECTRICITY
    • H01—ELECTRIC ELEMENTS
    • H01J—ELECTRIC DISCHARGE TUBES OR DISCHARGE LAMPS
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    • H01J2209/18—Assembling together the component parts of the discharge tube
    • H01J2209/185—Machines therefor, e.g. electron gun assembling devices

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  • Manufacturing & Machinery (AREA)
  • Manufacture Of Electron Tubes, Discharge Lamp Vessels, Lead-In Wires, And The Like (AREA)

Abstract

PROBLEM TO BE SOLVED: To provide an electron gun assembling method and device which keep defectives from going to subsequent processes by making the relative movements of first and second grids as little as possible, and detecting shifts that occur after the first and second girds are joined together. SOLUTION: A control part 17 controls the action of a first-grid positioning mechanism 16 according to position data detected by a fist-grid position data detecting mechanism 13 and position data detected by a second-grid position data detecting mechanism 14, thereby positioning first and second girds G1 , G2 . The action of the fist grid positioning mechanism 16 is controlled based on movement data detected by a movement data detecting mechanism 15, thereby correcting the relative movements of the first and second girds G1 , G2 .

Description

【発明の詳細な説明】DETAILED DESCRIPTION OF THE INVENTION

【０００１】[0001]

【発明の属する技術分野】本発明は、陰極線管を構成す
るガラスバルブ内に配設され、電子ビームを出射する電
子銃の組立方法及び組立装置に関し、詳しくは、第１グ
リッドと第２グリッドとの位置ずれを修正し、第１グリ
ッドと第２グリッドとを適切に接合する電子銃の組立方
法及び組み立て装置に関する。BACKGROUND OF THE INVENTION 1. Field of the Invention The present invention relates to a method and an apparatus for assembling an electron gun which emits an electron beam and is provided in a glass bulb constituting a cathode ray tube, and more particularly to a first grid and a second grid. The present invention relates to an assembling method and an assembling apparatus for an electron gun that corrects a positional deviation of an electron gun and appropriately joins a first grid and a second grid.

【０００２】[0002]

【従来の技術】電子ビームを出射する電子銃は、電子ビ
ームを放出するカソードと、同軸線上に配列され、カソ
ードから放出される電子ビームを制御、加速、集束する
複数のグリッドを有している。2. Description of the Related Art An electron gun for emitting an electron beam has a cathode for emitting an electron beam, and a plurality of grids arranged on a coaxial line for controlling, accelerating, and focusing the electron beam emitted from the cathode. .

【０００３】そして、この複数のグリッドのうち、最下
位に位置する第１グリッドは、３個のグリッド単体から
なり、赤色カソード、緑色カソード、青色カソードから
放出される各色の電子ビームが、これら３個のグリッド
単体を通して、一個の主レンズ中心で交差するようにな
されている。そして、第１グリッドは、３個のグリッド
単体のそれぞれが、収容した各色のカソードから放出さ
れる電子ビームを透過するための電子ビーム透過孔を有
している。[0003] Among the plurality of grids, the first grid located at the lowest position is composed of three grids alone, and the electron beams of each color emitted from the red cathode, the green cathode, and the blue cathode emit these three grids. The grids intersect at the center of one main lens through a single grid. In the first grid, each of the three grids alone has an electron beam transmitting hole for transmitting an electron beam emitted from the accommodated cathode of each color.

【０００４】また、第２グリッドは、その底面に３つの
ビーム透過孔を有している。そして、第１グリッドを構
成する３個のグリッド単体は、それぞれのビーム透過孔
が第２グリッドの底面のビーム透過孔と一致するよう
に、第２グリッドの底面に接合されている。The second grid has three beam transmitting holes on the bottom surface. The three grids forming the first grid are joined to the bottom surface of the second grid such that the respective beam transmission holes coincide with the beam transmission holes on the bottom surface of the second grid.

【０００５】そして、電子銃は、各色のカソード及び第
１グリッドが図示しない色信号出力回路に接続されてお
り、この色信号出力回路から出力される色信号に基づき
電子ビームを出射するようになされている。In the electron gun, the cathode and the first grid of each color are connected to a color signal output circuit (not shown), and the electron gun emits an electron beam based on the color signal output from the color signal output circuit. ing.

【０００６】なお、本明細書においては、特に個別に説
明する場合を除き、第１グリッドを構成する３個のグリ
ッド単体のそれぞれを第１グリッドと呼び、名称を統一
する。[0006] In this specification, each of the three grids constituting the first grid is referred to as a first grid, and the names are unified, unless otherwise specifically described.

【０００７】ところで、この電子銃の第１グリッドと、
第２グリッドとの接合は、例えば図１２及び図１３に示
すような電子銃の組立装置１００を用いて行われてい
た。By the way, the first grid of this electron gun,
The joining with the second grid has been performed using an electron gun assembling apparatus 100 as shown in FIGS. 12 and 13, for example.

【０００８】この電子銃の組立装置１００は、第１グリ
ッドを保持する第１グリッド保持機構１０１と、第２グ
リッドを保持する第２グリッド保持機構１０２と、第１
グリッドの位置データを検出する第１グリッド位置デー
タ検出機構１０３と、第２グリッドの位置データを検出
する第２グリッド位置データ検出機構１０４と、第１グ
リッドをＸ軸及びＹ軸の所定の位置に移動させる第１グ
リッド位置決め機構１０５と、第１グリッド位置データ
検出機構１０３及び第２グリッド位置データ検出機構１
０４により検出された第１グリッド及び第２グリッドの
位置データに基づき第１グリッド位置決め機構１０５の
動作を制御する図示しない制御部と、第１グリッドを上
昇させ、第２グリッドに当接させる第１グリッド上下機
構１０６と、第１グリッドと第２グリッドとの接合を行
う接合機構１０７とを備えている。The electron gun assembling apparatus 100 includes a first grid holding mechanism 101 for holding a first grid, a second grid holding mechanism 102 for holding a second grid, and a first grid holding mechanism 102.
A first grid position data detecting mechanism 103 for detecting grid position data, a second grid position data detecting mechanism 104 for detecting position data of the second grid, and a first grid at predetermined positions on the X axis and the Y axis. First grid positioning mechanism 105 to be moved, first grid position data detection mechanism 103 and second grid position data detection mechanism 1
A control unit (not shown) for controlling the operation of the first grid positioning mechanism 105 based on the position data of the first grid and the second grid detected by the control unit 04, and a first unit that raises the first grid and abuts the second grid A grid up / down mechanism 106 and a joining mechanism 107 for joining the first grid and the second grid are provided.

【０００９】そして、この電子銃の組立装置１００によ
り第１グリッドと第２グリッドの接合を行う際は、先
ず、第１グリッドが第１グリッド保持機構１０１により
保持され、第２グリッドが第２グリッド保持機構１０２
により保持される。When the first and second grids are joined by the electron gun assembling apparatus 100, first, the first grid is held by the first grid holding mechanism 101, and the second grid is held by the second grid. Holding mechanism 102
Is held by

【００１０】次に、第１グリッド位置データ検出機構１
０３と、第２グリッド位置データ検出機構１０４がそれ
ぞれ第１グリッド及び第２グリッドの位置を検出する。Next, a first grid position data detecting mechanism 1
03, and the second grid position data detecting mechanism 104 detects the positions of the first grid and the second grid, respectively.

【００１１】詳述すると、第１グリッド位置データ検出
機構１０３及び第２グリッド位置データ検出機構１０４
はともに、ＣＣＤカメラ１０８、光学レンズ１０９、照
明装置１１０からなる。そして、第１グリッド位置デー
タ検出機構１０３は、照明装置１１０により照明され、
光学レンズ１０９により拡大された第１グリッドのビー
ム透過孔の画像をＣＣＤカメラ１０８により撮像し、そ
の画像データを制御部に取り込む。また、第２グリッド
位置データ検出機構１０４は、照明装置１１０により照
明され、光学レンズ１０９により拡大された第２グリッ
ドのビーム透過孔の画像をＣＣＤカメラ１０８により撮
像し、その画像データを制御部に取り込む。More specifically, a first grid position data detection mechanism 103 and a second grid position data detection mechanism 104
Are composed of a CCD camera 108, an optical lens 109, and a lighting device 110. Then, the first grid position data detection mechanism 103 is illuminated by the illumination device 110,
The image of the beam transmission hole of the first grid enlarged by the optical lens 109 is captured by the CCD camera 108, and the image data is taken into the control unit. Further, the second grid position data detection mechanism 104 captures an image of the beam transmission hole of the second grid, which is illuminated by the illumination device 110 and is enlarged by the optical lens 109, by the CCD camera 108, and sends the image data to the control unit. take in.

【００１２】次に、制御部は、第１グリッド位置データ
検出機構１０３及び第２グリッド位置データ検出機構１
０４により取り込まれた画像データから、第１グリッド
のビーム透過孔の中心の位置と第２グリッドのビーム透
過孔の中心の位置とをそれぞれ算出する。そして制御部
は、この算出された値に基づいて、第１グリッドのビー
ム透過孔の中心の位置と第２グリッドのビーム透過光の
中心の位置とが一致するように、第１グリッド位置決め
機構１０５の動作を制御する。Next, the control unit includes a first grid position data detection mechanism 103 and a second grid position data detection mechanism 1
The position of the center of the beam transmission hole of the first grid and the position of the center of the beam transmission hole of the second grid are calculated from the image data captured in step 04. Then, based on the calculated value, the control unit controls the first grid positioning mechanism 105 so that the center position of the beam transmission hole of the first grid matches the center position of the beam transmission light of the second grid. Control the operation of.

【００１３】第１グリッドは、第１グリッド位置決め機
構１０５によりＸ軸、Ｙ軸の位置決めが行われると、次
に、第１グリッド上下機構１０６により上昇させられ
て、第２グリッドの底面に当接する。このとき、第１グ
リッドの電子ビーム透過孔と第２グリッドの電子ビーム
透過孔とは、中心点が一致した状態とされる。また、第
１グリッド上下機構１０６は、第１グリッドと第２グリ
ッドとの接触圧をコントロールする圧縮バネ部材１１１
を有している。即ち第１グリッドと第２グリッドの接触
圧は、圧縮バネ部材１１１の伸縮量によって決定され
る。When the X-axis and the Y-axis are positioned by the first grid positioning mechanism 105, the first grid is then raised by the first grid up-down mechanism 106 and contacts the bottom surface of the second grid. . At this time, the center points of the electron beam transmitting holes of the first grid and the electron beam transmitting holes of the second grid coincide with each other. Further, the first grid vertical mechanism 106 includes a compression spring member 111 for controlling a contact pressure between the first grid and the second grid.
have. That is, the contact pressure between the first grid and the second grid is determined by the amount of expansion and contraction of the compression spring member 111.

【００１４】そして、第１グリッドは、第２グリッドに
当接した状態で、接合機構１０７により、第２グリッド
に接合される。接合機構１０７は、例えばレーザー溶接
機等からなり、第１グリッドと第２グリッドとの接合部
にレーザー光を出射し、この接合部をレーザー溶接す
る。The first grid is joined to the second grid by the joining mechanism 107 in a state where the first grid is in contact with the second grid. The joining mechanism 107 is composed of, for example, a laser welding machine or the like, and emits a laser beam to a joint between the first grid and the second grid, and performs laser welding on the joint.

【００１５】第１グリッドは、上述したように３個のグ
リッド単体からなるので、以上の工程を３回繰り返すこ
とによって、第１グリッドと第２グリッドの接合が完了
する。Since the first grid is composed of three single grids as described above, by repeating the above steps three times, the joining of the first grid and the second grid is completed.

【００１６】[0016]

【発明が解決しようとする課題】従来の電子銃の組立装
置１００は、上述したように、制御部が第１グリッド位
置データ検出機構１０３及び第２グリッド位置データ検
出機構１０４により検出された位置データに基づき、第
１グリッド位置決め機構１０５の動作を制御している。
従って、第１グリッド及び第２グリッドは、ある程度の
正確さを持って位置合わせが行われる。In the conventional electron gun assembling apparatus 100, as described above, the control unit detects the position data detected by the first grid position data detecting mechanism 103 and the second grid position data detecting mechanism 104. , The operation of the first grid positioning mechanism 105 is controlled.
Therefore, the first grid and the second grid are aligned with a certain degree of accuracy.

【００１７】ところで電子銃の第１グリッド及び第２グ
リッドは、ともに微小な部材であり、特にその電子ビー
ム透過孔は、孔径がφ１．０〜０．２ｍｍ程度と微細で
ある。このため、電子銃は、第１グリッドと第２グリッ
ドとの位置ずれがわずかであっても、第１グリッドと第
２グリッドとの間における電子ビームの適切な透過が阻
害されてしまう場合がある。Incidentally, both the first grid and the second grid of the electron gun are minute members. In particular, the diameter of the electron beam transmitting hole is as fine as about φ1.0 to 0.2 mm. For this reason, in the electron gun, even if the positional deviation between the first grid and the second grid is slight, appropriate transmission of the electron beam between the first grid and the second grid may be hindered. .

【００１８】しかしながら、従来の電子銃の組立装置１
００は、第１グリッド位置決め機構１０５の移動や、第
１グリッド上下機構１０６の移動にともない多少の誤差
が生じてしまうのが実情である。また、第１グリッドを
第２グリッドに当接する際に、第１グリッドまたは第２
グリッドの姿勢が変化してしまうこともあった。これら
の事情により、第１グリッド及び第２グリッドは多少ず
れた状態で接合されてしまい、電子ビームが適切に透過
されない場合があった。However, the conventional electron gun assembling apparatus 1
In the case of 00, the actual situation is that some errors occur due to the movement of the first grid positioning mechanism 105 and the movement of the first grid vertical mechanism 106. When the first grid contacts the second grid, the first grid or the second grid
Sometimes the grid attitude changed. Due to these circumstances, the first grid and the second grid may be joined in a slightly shifted state, and the electron beam may not be transmitted properly.

【００１９】また、第１グリッドと第２グリッドは、レ
ーザー溶接等により接合されるが、この接合の際の熱歪
みにより第１グリッドと第２グリッドとの間に相対的な
位置ずれが生じてしまう場合があった。The first grid and the second grid are joined by laser welding or the like. However, a relative displacement occurs between the first grid and the second grid due to thermal distortion at the time of joining. There was a case.

【００２０】しかしながら従来の電子銃の組立装置１０
０は、第１グリッドと第２グリッドを接合する際の両者
の位置ずれを検出する手段を有しておらず、第１グリッ
ドと第２グリッドとが位置ずれを生じた状態で接合され
た不良品の電子銃が後の工程にながれ、陰極線管を構成
するガラスバルブ内に配設され、テレビジョン受像機に
組み込まれてしまう危険があった。However, the conventional electron gun assembling apparatus 10
No. 0 has no means for detecting a displacement between the first grid and the second grid when the two grids are joined, and the first grid and the second grid are not joined in a state where a displacement has occurred. There was a risk that a good electron gun would flow into the subsequent process, be installed in the glass bulb constituting the cathode ray tube, and be incorporated in the television receiver.

【００２１】そこで本発明は、第１グリッドと第２グリ
ッドとの位置ずれを可及的に減少させるとともに、第１
グリッドと第２グリッドとの接合により生じた位置ずれ
を検出し、不良品が後の工程に流れないようにする電子
銃の組立方法及び組み立て装置を提供することを目的と
する。Therefore, the present invention reduces the displacement between the first grid and the second grid as much as possible, and
It is an object of the present invention to provide an electron gun assembling method and an assembling apparatus for detecting a displacement caused by joining a grid and a second grid and preventing defective products from flowing to a subsequent process.

【００２２】[0022]

【課題を解決するための手段】上記目的を達成するため
に、本発明に係る電子銃の組立方法は、電子ビーム透過
孔を有する第１グリッド及び第２グリッドのそれぞれの
位置データを検出する位置データ検出工程と、この位置
データ検出工程で検出されたそれぞれの位置データに基
づき第１グリッドと第２グリッドとの位置合わせを行う
位置合わせ工程と、この第１の位置合わせ工程の後に、
第１グリッドと第２グリッドの相対的な位置ずれデータ
を検出する位置ずれデータ検出工程と、この位置ずれデ
ータ検出工程で検出された位置ずれデータに基づき第１
グリッドと第２グリッドの位置ずれを修正する位置ずれ
修正工程と、この位置ずれ修正工程の後に第１グリッド
と第２グリッドとを接合する接合工程とを有している。In order to achieve the above object, an assembling method of an electron gun according to the present invention is directed to a position detecting method for detecting position data of each of a first grid and a second grid having an electron beam transmitting hole. A data detecting step, a positioning step of performing positioning between the first grid and the second grid based on the respective position data detected in the position data detecting step, and after the first positioning step,
A displacement data detection step of detecting relative displacement data of the first grid and the second grid, and a first displacement data based on the displacement data detected in the displacement data detection step.
The method includes a displacement correction step of correcting a displacement between the grid and the second grid, and a joining step of joining the first grid and the second grid after the displacement correction step.

【００２３】この電子銃の組立方法によれば、位置合わ
せ工程によって位置合わせが行われた第１グリッドと第
２グリッドとの間に、相対的な位置ずれが生じた場合で
あっても、その位置ずれが位置ずれデータ検出工程によ
って検出され、位置ずれ修正工程によって修正される。According to this method of assembling the electron gun, even if a relative displacement occurs between the first grid and the second grid, which have been aligned in the alignment step, it is possible to reduce the displacement. The position shift is detected by a position shift data detecting step, and is corrected by a position shift correcting step.

【００２４】また、本発明に係る電子銃の組立装置は、
第１グリッドを保持する第１グリッド保持機構と、第２
グリッドを保持する第２グリッド保持機構と、第１グリ
ッドの位置データを検出する第１グリッド位置データ検
出機構と、第２グリッドの位置データを検出する第２グ
リッド位置データ検出機構と、第１グリッドと第２グリ
ッドの相対的な位置ずれデータを検出する位置ずれデー
タ検出機構と、第１グリッドを所定の位置に移動させる
第１グリッド位置決め機構と、第１グリッド位置決め機
構の動作を制御する制御部と、第１グリッドと第２グリ
ッドとを接合する接合機構とを有している。Further, the assembling apparatus for an electron gun according to the present invention comprises:
A first grid holding mechanism for holding the first grid;
A second grid holding mechanism for holding a grid, a first grid position data detecting mechanism for detecting position data of the first grid, a second grid position data detecting mechanism for detecting position data of the second grid, and a first grid Displacement data detecting mechanism for detecting relative displacement data of the first and second grids, a first grid positioning mechanism for moving the first grid to a predetermined position, and a control unit for controlling the operation of the first grid positioning mechanism And a joining mechanism for joining the first grid and the second grid.

【００２５】そしてこの電子銃の組立装置は、制御部
が、上記第１グリッド位置データ検出機構により検出さ
れた位置データと上記第２グリッド位置データ検出機構
により検出された位置データに基づき、上記第１グリッ
ド位置決め機構の動作を制御して、第１グリッドと第２
グリッドの位置合わせを行った後に、上記位置ずれデー
タ検出機構により検出された位置ずれデータに基づき、
上記第１グリッド位置決め機構の動作を制御して、第１
グリッドと第２グリッドの相対的な位置ずれを修正する
ことを特徴としている。In the assembling apparatus for an electron gun, the control unit controls the first and second grid position data based on the position data detected by the first grid position data detection mechanism and the position data detected by the second grid position data detection mechanism. By controlling the operation of the first grid positioning mechanism, the first grid and the second grid are controlled.
After performing the grid alignment, based on the misalignment data detected by the misalignment data detection mechanism,
By controlling the operation of the first grid positioning mechanism,
It is characterized in that the relative displacement between the grid and the second grid is corrected.

【００２６】この電子銃の組立装置によれば、第１グリ
ッド位置決め機構により位置合わせがされた第１グリッ
ドと第２グリッドとの間に、相対的な位置ずれが生じた
場合であっても、位置ずれデータ検出機構がその位置ず
れデータを検出して、この検出された位置ずれデータに
基づき、制御部が第１グリッド位置決め機構の動作を制
御するので、第１グリッドと第２グリッドの相対的な位
置ずれが修正される。According to this electron gun assembling apparatus, even if a relative displacement occurs between the first grid and the second grid that have been aligned by the first grid positioning mechanism, The position shift data detection mechanism detects the position shift data, and the control unit controls the operation of the first grid positioning mechanism based on the detected position shift data. Misalignment is corrected.

【００２７】[0027]

【発明の実施の形態】以下、本発明の実施の形態につい
て、図面を参照して詳細に説明する。Embodiments of the present invention will be described below in detail with reference to the drawings.

【００２８】電子ビームを出射する電子銃１は、色信号
出力回路から出力された色信号に基づいて電子ビームを
出射するものであり、例えば図１に示すように、電子ビ
ームを放出するカソード２と、同軸線上に所定の間隔を
存して配列され、カソード２から放出される電子ビーム
を制御、加速、集束する複数のグリッドＧ1 ，Ｇ2 ，Ｇ
3 ，Ｇ4 ，Ｇ5 を有している。そして、これら複数のグ
リッドＧ1 ，Ｇ2 ，Ｇ3 ，Ｇ4 ，Ｇ5 は、ガラス等より
なる一対の絶縁支持体３，４にそれぞれ支持され、連結
一体化されている。An electron gun 1 for emitting an electron beam emits an electron beam based on a color signal output from a color signal output circuit. For example, as shown in FIG. 1, a cathode 2 for emitting an electron beam And a plurality of grids G 1 , G 2 , G that are arranged at predetermined intervals on a coaxial line to control, accelerate, and focus the electron beam emitted from the cathode 2.
3 , G 4 and G 5 . The plurality of grids G 1 , G 2 , G 3 , G 4 , G 5 are supported by a pair of insulating supports 3, 4 made of glass or the like, and are connected and integrated.

【００２９】また電子銃１は、カソード２及び第１グリ
ッドＧ1 等に接続される、図示しない複数本の端子部を
有している。そしてこの端子部は、図示しない色信号出
力回路に接続されている。Further the electron gun 1 is connected to the cathode 2 and the first grid G 1, and has a terminal portion of the plurality of not shown. The terminal is connected to a color signal output circuit (not shown).

【００３０】カソード２は、赤色電子ビーム放出する赤
色カソードと、緑色電子ビームを放出する緑色カソード
と、青色電子ビームを放出する青色カソードとからな
る。そして、これら３個のカソードは、それぞれが放出
する電子ビームが主レンズの中心で交差するように、所
定の角度に傾けられた状態で保持されている。The cathode 2 includes a red cathode that emits a red electron beam, a green cathode that emits a green electron beam, and a blue cathode that emits a blue electron beam. The three cathodes are held at a predetermined angle so that the electron beams emitted from the three cathodes intersect at the center of the main lens.

【００３１】カソード２から放出される電子ビームを制
御、加速、集束する複数のグリッドＧ1 ，Ｇ2 ，Ｇ3 ，
Ｇ4 ，Ｇ5 のうち、第１グリッドＧ1 は、例えば図２に
示すように、３個のグリッド単体からなり、赤色カソー
ド、緑色カソード、青色カソードから放出される各色の
電子ビームが、これら３個のグリッド単体を通して、一
個の主レンズ中心で交差するように、所定の位置に配置
されている。そして、第１グリッドＧ1 は、３個のグリ
ッド単体のそれぞれが、収容した各色のカソードから放
出される電子ビームを透過するための電子ビーム透過孔
５を有している。A plurality of grids G 1 , G 2 , G 3 , for controlling, accelerating and focusing the electron beam emitted from the cathode 2
Of the G 4 and G 5 , the first grid G 1 is composed of three grids alone, for example, as shown in FIG. 2, and the electron beams of each color emitted from the red cathode, the green cathode, and the blue cathode are The three grids are arranged at predetermined positions so as to intersect at the center of one main lens through a single grid. The first grid G 1, each three grid alone has an electron beam transmission hole 5 for transmitting the electron beam emitted from the cathode of each were housed color.

【００３２】また、第２グリッドＧ2 は、例えば図３に
示すように、その底面に３つのビーム透過孔６を有して
いる。そして、第１グリッドＧ1 を構成する３個のグリ
ッド単体は、それぞれのビーム透過孔５が第２グリッド
Ｇ2 の底面のビーム透過孔６と一致するように、第２グ
リッドＧ2 の底面に接合されている。The second grid G 2 has, for example, three beam transmitting holes 6 on its bottom surface as shown in FIG. The three grids constituting the first grid G 1 are placed on the bottom surface of the second grid G 2 so that the respective beam transmission holes 5 coincide with the beam transmission holes 6 on the bottom surface of the second grid G 2 . Are joined.

【００３３】そして、電子銃１は、各色のカソード及び
第１グリッドＧ1 が、端子を介して図示しない色信号出
力回路に接続されており、この色信号出力回路から出力
される色信号に基づき電子ビームを出射するようになさ
れている。[0033] Then, the electron gun 1 is a cathode and the first grid G 1 of each color is connected to the color signal output circuit (not shown) through a terminal, based on the color signal output from the color signal output circuit An electron beam is emitted.

【００３４】ところで、この電子銃１の第１グリッドＧ
1 と、第２グリッドＧ2 との接合は、例えば図４及び図
５に示すような電子銃の組立装置１０を用いて行われて
いる。なお、図４は電子銃の組立装置１０の要部正面図
を、図５は電子銃の組立装置１０の要部左側面図をそれ
ぞれ示している。The first grid G of the electron gun 1
1, a second joint between the grid G 2 is, have been made with reference to FIGS. 4 and the electron gun assembling apparatus 10 as shown in FIG. 5, for example. 4 is a front view of a main part of the assembling apparatus 10 for an electron gun, and FIG. 5 is a left side view of a main part of the assembling apparatus 10 for an electron gun.

【００３５】この電子銃の組立装置１０は、第１グリッ
ドＧ1 を保持する第１グリッド保持機構１１と、第２グ
リッドＧ2 を保持する第２グリッド保持機構１２と、第
１グリッドＧ1 の位置データを検出する第１グリッド位
置データ検出機構１３と、第２グリッドＧ2 の位置デー
タを検出する第２グリッド位置データ検出機構１４と、
第１グリッドＧ1 と第２グリッドＧ2 との相対的な位置
ずれデータを検出する位置ずれデータ検出機構１５と、
第１グリッドＧ1 を所定の位置に移動させる第１グリッ
ド位置決め機構１６と、第１グリッド位置決め機構の動
作を制御する図示しない制御部と、第１グリッドＧ1 と
第２グリッドＧ2 とを接合する接合機構１７とを有して
いる。The assembling apparatus 10 of the electron gun, the first grid holding mechanism 11 for holding the first grid G 1, a second grid holding mechanism 12 for holding the second grid G 2, the first grid G 1 A first grid position data detecting mechanism 13 for detecting position data, a second grid position data detecting mechanism 14 for detecting position data of the second grid G 2 ,
A displacement data detection mechanism 15 for detecting relative displacement data between the first grid G 1 and the second grid G 2 ,
The first grid positioning mechanism 16 for moving the first grid G 1 to a predetermined position, a control unit (not shown) for controlling the operation of the first grid positioning mechanism, and the first grid G 1 and the second grid G 2 are joined. And a joining mechanism 17 that performs the operation.

【００３６】第１グリッド保持機構１１は、３つのグリ
ッド単体を個別に保持できるように、３個の保持部１１
ａ，１１ｂ，１１ｃが直列に配置されている。そして、
第１グリッド保持機構１１は、３個の保持部１１ａ，１
１ｂ，１１ｃのそれぞれが、例えば油圧シリンダー等に
より各グリッド単体を個別に保持するようになされてい
る。The first grid holding mechanism 11 includes three holding portions 11 so that three grids can be individually held.
a, 11b and 11c are arranged in series. And
The first grid holding mechanism 11 includes three holding portions 11a, 1
Each of the grids 1b and 11c is configured to individually hold each grid alone by, for example, a hydraulic cylinder or the like.

【００３７】また、第１の保持機構１１は、第１グリッ
ド位置決め機構１６に接続されており、第１グリッド位
置決め機構１６の位置決め動作に従って所定の位置に移
動するようになされている。The first holding mechanism 11 is connected to the first grid positioning mechanism 16 and moves to a predetermined position in accordance with the positioning operation of the first grid positioning mechanism 16.

【００３８】第２グリッド保持機構１２は、例えば一対
の油圧シリンダー等により第２グリッドＧ2 を左右両側
面から挟み込むようにして、第２グリッドＧ2 を安定的
に保持する構造とされている。The second grid holding mechanism 12 is structured to stably hold the second grid G 2 by sandwiching the second grid G 2 from both left and right sides by, for example, a pair of hydraulic cylinders.

【００３９】第１グリッド位置データ検出機構１３及び
第２グリッド位置データ検出機構１４は、ともに垂直方
向の軸線に対し平行に配置された撮像機構からなり、こ
の撮像機構により撮像された画像データが、制御部によ
ってデータ処理されることにより、第１グリッドＧ1 及
び第２グリッドＧ2 の位置の検出が行われる。Each of the first grid position data detecting mechanism 13 and the second grid position data detecting mechanism 14 comprises an image pickup mechanism arranged in parallel to a vertical axis, and image data picked up by this image pickup mechanism is by being data processed by the control unit, the detection of the first position of the grid G 1 and the second grid G 2 is performed.

【００４０】詳述すると、第１グリッド位置データ検出
機構１３は、ＣＣＤカメラ１３ａ、光学レンズ１３ｂ、
照明装置１３ｃを有している。そして、第１グリッド位
置データ検出機構１３は、照明装置１３ｃにより照明さ
れ、光学レンズ１３ｂにより拡大された第１グリッドＧ
1 のビーム透過孔５の画像を、ＣＣＤカメラ１３ａによ
り撮像する。ＣＣＤカメラ１３ａにより撮像された画像
データは、第１グリッドＧ1 の位置データとして制御部
に取り込まれ、第１グリッドＧ1 の位置の検出が行われ
る。More specifically, the first grid position data detecting mechanism 13 includes a CCD camera 13a, an optical lens 13b,
It has a lighting device 13c. The first grid position data detecting mechanism 13 illuminates the first grid G illuminated by the illumination device 13c and enlarged by the optical lens 13b.
An image of one of the beam transmitting holes 5 is captured by the CCD camera 13a. Image data captured by the CCD camera 13a is received by the control unit as the first position data of the grid G 1, the detection of the first position of the grid G 1 is performed.

【００４１】また、第２グリッド位置データ検出機構１
４は、ＣＣＤカメラ１４ａ、光学レンズ１４ｂ、照明装
置１４ｃを有している。そして、第２グリッド位置デー
タ検出機構１４は、照明装置１４ｃにより照明され、光
学レンズ１４ｂにより拡大された第２グリッドＧ2 のビ
ーム透過孔６の画像を、ＣＣＤカメラ１４ａにより撮像
する。ＣＣＤカメラ１４ａにより撮像された画像データ
は、第２グリッドＧ2の位置データとして制御部に取り
込まれ、第２グリッドＧ2 の位置の検出が行われる。The second grid position data detecting mechanism 1
Reference numeral 4 includes a CCD camera 14a, an optical lens 14b, and a lighting device 14c. Then, the second grid position data detection mechanism 14 is illuminated by the illumination device 14c, the image of the second beam transmission aperture 6 of the grid G 2 which is enlarged by the optical lens 14b, imaged by the CCD camera 14a. Image data captured by the CCD camera 14a is received by the control unit as the second position data of the grid G 2, the detection of the second position of the grid G 2 is performed.

【００４２】そして、制御部は、これらの位置データに
基づき第１グリッド位置決め機構１６を駆動させるとと
もにその動作を制御する。第１グリッド位置決め機構１
６は制御部の制御により、第１グリッドＧ1 の電子ビー
ム透過孔５の中心が、第２グリッドＧ2 の電子ビーム透
過孔６の中心と同軸線上に並ぶように、第１グリッドＧ
1 の位置決めを行う。The control unit drives the first grid positioning mechanism 16 based on the position data and controls the operation thereof. First grid positioning mechanism 1
6 by the control of the control unit, so that the center of the first electron beam transmission aperture 5 of the grid G 1 is arranged in the center coaxial with the second electron beam transmission hole 6 of the grid G 2, the first grid G
Perform the positioning of 1 .

【００４３】第１グリッド位置決め機構１６は、例えば
Ｘ軸Ｙ軸移動機構１８と、Ｚ軸移動機構１９とを有して
いる。そして、Ｘ軸Ｙ軸移動機構１８とＺ軸移動機構１
９とは、それぞれ駆動部を有し、制御部から伝達される
信号に基づいて、第１グリッド保持機構１１に保持され
た第１グリッドＧ1 を所定の位置に移動させる。The first grid positioning mechanism 16 has, for example, an X-axis Y-axis moving mechanism 18 and a Z-axis moving mechanism 19. Then, the X-axis Y-axis moving mechanism 18 and the Z-axis moving mechanism 1
9 and each have a drive unit, based on a signal transmitted from the control unit to move the first grid G 1 held by the first grid holding mechanism 11 in place.

【００４４】このとき第１グリッド位置決め機構１６
は、先ずＸ軸Ｙ軸移動機構１８が制御部から伝達される
信号に基づいて第１グリッドＧ1 のＸ軸Ｙ軸方向の位置
決めを行い、さらに位置ずれデータ検出機構１５により
検出された位置ずれを修正した後に、Ｚ軸移動機構１９
が第１グリッドＧ1 をＺ軸方向に移動させ、第１グリッ
ドＧ1 を第２グリッドＧ2 の底部に当接させる。At this time, the first grid positioning mechanism 16
Firstly performs positioning of the X-axis Y-axis moving mechanism 18 is the X-axis Y-axis direction of the first grid G 1 based on the signal transmitted from the control unit, further positional displacement detected by the position deviation data detection mechanism 15 Is corrected, the Z-axis moving mechanism 19
Moves the first grid G 1 in the Z-axis direction, and causes the first grid G 1 to abut on the bottom of the second grid G 2 .

【００４５】そしてＺ軸移動機構１９は、第１グリッド
Ｇ1 と第２グリッドＧ2 との接触圧をコントロールする
圧縮バネ部材２０を有している。そして、第１グリッド
Ｇ1と第２グリッドＧ2 の接触圧は、この圧縮バネ部材
２０の伸縮量によって決定される。The Z-axis moving mechanism 19 has a compression spring member 20 for controlling the contact pressure between the first grid G 1 and the second grid G 2 . The first grid G 1 and the contact pressure of the second grid G 2 is is determined by the amount of extension of the compression spring member 20.

【００４６】このようにして、第１グリッド位置決め機
構１６は、第１グリッドＧ1 の電子ビーム透過孔５と第
２グリッドＧ2 の電子ビーム透過孔６とのそれぞれの中
心点が一致した状態となるように、第１グリッドＧ1 を
所定の位置に移動させる。As described above, the first grid positioning mechanism 16 determines that the center points of the electron beam transmitting holes 5 of the first grid G 1 and the electron beam transmitting holes 6 of the second grid G 2 are coincident. so as to move the first grid G 1 to a predetermined position.

【００４７】位置ずれデータ検出機構１５は、例えば図
６に示すように、垂直方向の軸線に対し所定のオフセッ
ト角を有するように斜めに配置され、垂直方向の軸線を
境に左右対象とされる一対の撮像機構２１，２２からな
る。本例においては、一対の撮像機構２１，２２は、垂
直方向の軸線に対して約３０度のオフセット角を有する
ように配置されている。そして、この一対の撮像装置２
１，２２は、その中心軸の延長線が、第１グリッドＧ1
の電子ビーム透過孔５の中心点で交差するようになされ
ている。For example, as shown in FIG. 6, the displacement data detecting mechanism 15 is disposed obliquely so as to have a predetermined offset angle with respect to the vertical axis, and is symmetrical about the vertical axis. It consists of a pair of imaging mechanisms 21 and 22. In this example, the pair of imaging mechanisms 21 and 22 are arranged so as to have an offset angle of about 30 degrees with respect to the vertical axis. Then, the pair of imaging devices 2
1 and 22, the extension of the central axis is the first grid G 1.
At the center of the electron beam transmission hole 5.

【００４８】位置ずれデータ検出機構１５を構成する一
対の撮像装置２１，２２は、第１グリッド位置データ検
出機構１３、第２グリッド位置データ検出機構１４と同
様に、ＣＣＤカメラ２１ａ，２２ａ、光学レンズ２１
ｂ，２２ｂ、照明装置２１ｃ，２２ｃを有している。The pair of image pickup devices 21 and 22 constituting the position shift data detecting mechanism 15 include CCD cameras 21a and 22a and an optical lens similarly to the first grid position data detecting mechanism 13 and the second grid position data detecting mechanism 14. 21
b, 22b and lighting devices 21c, 22c.

【００４９】そして、この位置ずれデータ検出機構１５
は、第１グリッド位置決め機構１６により位置決めされ
た第１グリッドＧ1 及び第２グリッドＧ2 のそれぞれの
電子ビーム透過孔５，６の左右の端縁を、左右に分割し
て撮像する。The position shift data detecting mechanism 15
The right and left edges of the electron beam transmitting holes 5 and 6 of the first grid G 1 and the second grid G 2 positioned by the first grid positioning mechanism 16 are divided into left and right images.

【００５０】詳述すると、位置ずれデータ検出機構１５
を構成する一対の撮像装置２１，２２のうち、左側に配
置された撮像装置２１は、照明装置２１ｃにより照明さ
れ、光学レンズ２１ｂにより拡大された第１グリッドＧ
1 及び第２グリッドＧ2 のビーム透過孔５，６の右側端
縁の画像を、ＣＣＤカメラ２１ａにより撮像する。ＣＣ
Ｄカメラ２１ａにより撮像された画像データは制御部に
取り込まれる。More specifically, the displacement data detecting mechanism 15
Of the pair of imaging devices 21 and 22 constituting the first grid G is illuminated by the illumination device 21c and enlarged by the optical lens 21b.
1 and the image of the right side edge of the second grid G 2 of the beam transmission hole 5,6, imaged by the CCD camera 21a. CC
The image data captured by the D camera 21a is taken into the control unit.

【００５１】また、位置ずれデータ検出機構１５を構成
する一対の撮像装置２１，２２のうち、右側に配置され
た撮像装置２２は、照明装置２２ｃにより照明され、光
学レンズ２２ｂにより拡大された第１グリッドＧ1 及び
第２グリッドＧ2 のビーム透過孔５，６の左側端縁の画
像を、ＣＣＤカメラ２２ａにより撮像する。ＣＣＤカメ
ラ２２ａにより撮像された画像データは制御部に取り込
まれる。The imaging device 22 disposed on the right side of the pair of imaging devices 21 and 22 constituting the displacement data detection mechanism 15 is illuminated by the illumination device 22c and expanded by the optical lens 22b. the image of the left edge of the grid G 1 and the second grid G 2 of the beam transmission hole 5,6, imaged by the CCD camera 22a. Image data captured by the CCD camera 22a is taken into the control unit.

【００５２】そして制御部は、一対の撮像装置２１，２
２により撮像されたそれぞれの画像データを合成し、楕
円で近似させる。そして、この２つの楕円の中心の位置
座標のずれが、第１グリッドＧ1 の電子ビーム透過孔５
の中心と、第２グリッドＧ2の電子ビーム透過孔６の中
心との位置ずれとして検出される。The control unit includes a pair of imaging devices 21 and
The respective image data captured by step 2 are combined and approximated by an ellipse. Then, the deviation of the position coordinates of the center of the two ellipses, the first electron beam transmission aperture 5 of the grid G 1
And the center of, and is detected as a positional deviation of the center of the second electron beam transmission aperture 6 in the grid G 2.

【００５３】制御部は、この位置ずれデータに基づき第
１グリッド位置決め機構１６を再度駆動させ、位置ずれ
の修正を行う。The control unit drives the first grid positioning mechanism 16 again based on the positional deviation data to correct the positional deviation.

【００５４】位置ずれが修正された第１グリッドＧ
1 は、上述したように第１グリッド位置決め機構１６の
Ｚ軸移動機構１９により、第２グリッドＧ2 の底面に当
接した状態とされる。そして、接合機構１７により、第
１グリッドＧ1 と第２グリッドＧ2 との接触部分が接合
される。The first grid G whose displacement has been corrected
1, the Z-axis moving mechanism 19 of the first grid positioning mechanism 16, as described above, are contact with the second bottom surface of the grid G 2. Then, the contact portion between the first grid G 1 and the second grid G 2 is joined by the joining mechanism 17.

【００５５】接合機構１７は、例えばレーザー溶接機等
からなる。そしてこの接合機構１７は、第１グリッドＧ
1 と第２グリッドＧ2 との接触部分にレーザー光を出射
し、この接触部分をレーザー溶接することにより、第１
グリッドＧ1 と第２グリッドＧ2 とを接合する。The joining mechanism 17 comprises, for example, a laser welding machine. The joining mechanism 17 is connected to the first grid G
By 1 a laser beam is emitted to the contact portion between the second grid G 2, laser welding the contact portion, the first
Bonding the grid G 1 and the second grid G 2.

【００５６】以上のように構成される本例の電子銃の組
立装置１０は、第１グリッド位置決め機構１６により位
置合わせがされた第１グリッドＧ1 と第２グリッドＧ2
との間に、相対的な位置ずれが生じた場合であっても、
位置ずれデータ検出機構１５がその位置ずれデータを検
出して、この検出された位置ずれデータに基づき、制御
部が第１グリッド位置決め機構１６の動作を制御するの
で、第１グリッドＧ1と第２グリッドＧ2 間の相対的な
位置ずれが修正される。従って、この電子銃の組立装置
１０は、第１グリッドＧ1 と第２グリッドＧ2 とを高精
度に接合することができ、組み立てた電子銃１のフォー
カス特性を向上させることができる。The electron gun assembling apparatus 10 of the present embodiment configured as described above has the first grid G 1 and the second grid G 2 aligned by the first grid positioning mechanism 16.
Even if there is a relative displacement between
Positional deviation data detection mechanism 15 detects the position error data, based on the detected position error data, the control unit controls the operation of the first grid positioning mechanism 16, the first grid G 1 and the second relative displacement between the grid G 2 is modified. Therefore, the electron gun assembling apparatus 10, it can be joined first grid G 1 and the second grid G 2 with high precision, it is possible to improve the focusing characteristics of the electron gun 1 assembled.

【００５７】特に、この電子銃の組立装置１０は、位置
ずれ検出機構１５を構成する撮像装置２１，２２が垂直
な軸線に対し斜めに配置されているので、第１グリッド
Ｇ1の電子ビーム透過孔５の孔径が第２グリッドＧ2 の
電子ビーム透過孔６の口径より大である場合や、第１グ
リッドＧ1 の電子ビーム透過孔５の孔径が第２グリッド
Ｇ2 の電子ビーム透過孔６の口径より小さいが、その差
が５０μｍ以下と少ない場合に有効である。[0057] In particular, the electron gun assembling apparatus 10, since the image pickup devices 21 and 22 constituting the positional deviation detection mechanism 15 is disposed obliquely relative to the vertical axis, the electron beam transmission of the first grid G 1 and if the hole diameter of the hole 5 is larger than the diameter of the second electron beam transmission hole 6 of the grid G 2, the hole diameter of the first electron beam transmission aperture 5 of the grid G 1 is the second grid G 2 electron beam transmission aperture 6 Is effective when the difference is as small as 50 μm or less.

【００５８】また、この電子銃の組立装置１０は、第１
グリッドＧ1 と第２グリッドＧ2 との相対的な距離の検
出を、第１グリッドＧ1 の電子ビーム透過孔５の近似楕
円の径と第２グリッドＧ2 の電子ビーム透過孔６の近似
楕円の径との差を測定することにより行うので、電子銃
１のカットオフ特性の管理が可能となる。The electron gun assembling apparatus 10 includes the first
Detection of the relative distance between the grid G 1 and the second grid G 2 is based on the diameter of the approximate ellipse of the electron beam transmission hole 5 of the first grid G 1 and the approximate ellipse of the electron beam transmission hole 6 of the second grid G 2. By measuring the difference from the diameter of the electron gun, the cutoff characteristics of the electron gun 1 can be managed.

【００５９】次に、以上のように構成される電子銃の組
立装置１０を用いて電子銃１を組み立てる方法について
説明する。Next, a method of assembling the electron gun 1 using the electron gun assembling apparatus 10 configured as described above will be described.

【００６０】この電子銃の組立方法は、図７に示すよう
に、第１グリッドＧ1 を第１グリッド保持機構１１に、
第２グリッドＧ2 を第２グリッド保持機構１２にそれぞ
れセッティングするセッティング工程Ｓ１と、第１グリ
ッドＧ1 と第２グリッドＧ2のそれぞれの位置データを
検出する位置データ検出工程Ｓ２と、位置データ検出工
程で検出されたデータに基づき第１グリッドＧ1 と第２
グリッドＧ2 との位置合わせを行う位置合わせ工程Ｓ３
と、位置合わせ工程Ｓ３の後に、第１グリッドＧ1 と第
２グリッドＧ2 の相対的な位置ずれデータの検出を行う
位置ずれデータ検出工程Ｓ４と、位置ずれデータ検出工
程Ｓ４で検出された位置ずれデータに基づき第１グリッ
ドＧ1 と第２グリッドＧ2 との位置ずれを修正する位置
ずれ修正工程Ｓ５と、位置ずれ修正工程Ｓ５の後に第１
グリッドＧ1 と第２グリッドＧ2とを接合する接合工程
Ｓ６と、接合工程Ｓ６の後に、第１グリッドＧ1 と第２
グリッドＧ2 との相対的な位置ずれの有無を確認する位
置ずれ確認工程Ｓ７とを有している。In the method of assembling the electron gun, as shown in FIG. 7, the first grid G 1 is
A setting step S1 for each setting of the second grid G 2 to the second grid holding mechanism 12, the position data detection process S2 for detecting the respective position data of the first grid G 1 and the second grid G 2, the position data detection Based on the data detected in the process, the first grid G 1 and the second grid G 1
Aligning step to align the grid G 2 S3
If, after the alignment step S3, the first grid G 1 and the position error data detection step S4 for performing a second relative positional deviation data detection grid G 2, which is detected by the position deviation data detection step S4 position the first grid G 1 based on the deviation data and the positional deviation correcting step S5 for correcting the misalignment between the second grid G 2, the following positional displacement correcting step S5 1
A bonding step S6 described bonding the grid G 1 and the second grid G 2, after the bonding step S6, the first grid G 1 and the second
And a positional deviation confirmation step S7 to check whether the relative positional deviation between the grid G 2.

【００６１】尚、本明細書においては、説明の便宜のた
め、第１グリッドＧ1 を構成する３つのグリッド単体を
第１グリッドＧ1 と総称しているが、位置データ検出工
程Ｓ２から位置ずれ確認工程Ｓ７までは、第１グリッド
Ｇ1 を構成する各グリッド単体ごとに行う必要がある。
従って、例えば赤色カソードに対応したグリッド単体の
接合が終了したら再び位置データ検出工程Ｓ２に戻り緑
色カソードに対応したグリッド単体の接合を行い、緑色
カソードに対応したグリッド単体の接合が終了したら再
び位置データ検出工程Ｓ２に戻り青色カソードに対応し
たグリッド単体の接合を行う。[0061] In this specification, for convenience of explanation, three grid itself constituting the first grid G 1 is collectively referred to as the first grid G 1, but the position deviation from the position data detection process S2 for confirmation step S7, it is necessary to carry out for each grid itself constituting the first grid G 1.
Therefore, for example, when the joining of the grid alone corresponding to the red cathode is completed, the process returns to the position data detecting step S2 again, where the joining of the grid alone corresponding to the green cathode is performed. Returning to the detection step S2, the grid alone corresponding to the blue cathode is joined.

【００６２】このように、位置データ検出工程Ｓ２から
位置ずれ確認工程Ｓ７までの各工程は、３回繰り返され
ることによって、第１グリッドＧ1 と第２グリッドＧ2
との接合が完了する。As described above, each of the steps from the position data detecting step S2 to the position shift confirming step S7 is repeated three times, so that the first grid G 1 and the second grid G 2 are repeated.
Is completed.

【００６３】電子銃１の組立は、先ず、セッティング工
程Ｓ１において、カソード２に照合済みの第１グリッド
Ｇ1 を構成する３個のグリッド単体が、第１グリッド保
持機構１１の各保持部１１ａ，１１ｂ，１１ｃにそれぞ
れ保持されるとともに、第２グリッドＧ2 が第２グリッ
ド保持機構１２に保持される。The assembling of the electron gun 1 is as follows. First, in the setting step S 1 , three grids constituting the first grid G 1, which have been checked against the cathode 2, are individually held by the holding portions 11 a and 11 a of the first grid holding mechanism 11. 11b, respectively is held in 11c, the second grid G 2 is held in the second grid holding mechanism 12.

【００６４】次に、位置データ検出工程Ｓ２において、
第１グリッドＧ1 及び第２グリッドＧ2 の位置データが
検出される。この位置データの検出は、第１グリッド位
置データ検出機構１３と第２グリッド位置データ検出機
構１４とにより行われる。Next, in the position data detecting step S2,
Position data of the first grid G 1 and the second grid G 2 is detected. The detection of the position data is performed by the first grid position data detection mechanism 13 and the second grid position data detection mechanism 14.

【００６５】第１グリッド位置データ検出機構１３及び
第２グリッド位置データ検出機構１４は、上述したよう
に、ＣＣＤカメラ１３ａ，１４ａ、光学レンズ１３ｂ，
１４ｂ、照明装置１３ｃ，１４ｃを有している。そし
て、第１グリッド位置データ検出機構１３及び第２グリ
ッド位置データ検出機構１４は、照明装置１３ｃ，１４
ｃにより照明され、光学レンズ１３ｂ，１４ｂにより拡
大された第１グリッドＧ1 及び第２グリッドＧ2 のビー
ム透過孔５，６の画像を、ＣＣＤカメラ１３ａ，１４ａ
により撮像する。ＣＣＤカメラ１３ａ，１４ａにより撮
像された画像データは、第１グリッドＧ1 及び第２グリ
ッドＧ2 の位置データとして制御部に取り込まれ、第１
グリッドＧ1 及び第２グリッドＧ2 の位置の検出が行わ
れる。As described above, the first grid position data detecting mechanism 13 and the second grid position data detecting mechanism 14 include the CCD cameras 13a, 14a, the optical lens 13b,
14b and lighting devices 13c and 14c. Then, the first grid position data detecting mechanism 13 and the second grid position data detecting mechanism 14
It is illuminated by c, an optical lens 13b, and the image of the first grid G 1 and the second grid G 2 of the beam transmission hole 5 and 6 are enlarged by 14b, CCD cameras 13a, 14a
To capture an image. Image data captured CCD camera 13a, the 14a is received by the control unit as the first grid G 1 and the second position data of the grid G 2, the first
Detection of the position of the grid G 1 and the second grid G 2 is performed.

【００６６】次に、位置合わせ工程Ｓ３において、第１
グリッドＧ1 と第２グリッドＧ2 の位置合わせが行われ
る。この位置合わせは、位置データ検出工程Ｓ２におい
て検出された位置データに基づき、制御部が、第１グリ
ッド位置決め機構１６を駆動させるとともにその動作を
制御することにより行う。Next, in the positioning step S3, the first
Grid G 1 and the second alignment grid G 2 is performed. This positioning is performed by the control unit driving the first grid positioning mechanism 16 and controlling the operation based on the position data detected in the position data detecting step S2.

【００６７】即ち、制御部は、位置データ検出工程Ｓ２
において検出された第１グリッドＧ1 の位置データ及び
第２グリッドＧ2 の位置データを基に、第１グリッドＧ
1 の第２グリッドＧ2 に対する位置関係を算出し、これ
に基づいて第１グリッド位置決め機構１６の動作を制御
する。That is, the control unit performs the position data detecting step S2
A first position data and second based on the position data of the grid G 2 grid G 1 detected in the first grid G
Calculating a positional relationship between the second grid G 2 of 1, controls the operation of the first grid positioning mechanism 16 based on this.

【００６８】第１グリッド位置決め機構１６は、制御部
の制御により、第１グリッドＧ1 の電子ビーム透過孔５
の中心が、第２グリッドＧ2 の電子ビーム透過孔６の中
心と同軸線上に並ぶように、第１グリッドＧ1 の位置決
めを行う。The first grid positioning mechanism 16 controls the electron beam transmitting hole 5 of the first grid G 1 under the control of the control unit.
Center of, so as to be aligned in the center coaxial with the second electron beam transmission hole 6 of the grid G 2, performs the first positioning grid G 1.

【００６９】次に、位置ずれデータ検出工程Ｓ４におい
て、位置合わせされた第１グリッドＧ1 と第２グリッド
Ｇ2 との相対的な位置ずれデータが検出される。即ち、
上述した位置合わせ工程Ｓ３において、第１グリッドＧ
1 と第２グリッドＧ2 との位置合わせは行われるが、第
１グリッド位置データ検出機構１３及び第２グリッド位
置データ検出機構１４により検出された位置データの誤
差や、第１グリッド位置決め機構１６の動作誤差等によ
り、位置合わせされた第１グリッドＧ1 と第２グリッド
Ｇ2 との間に相対的な位置ずれが生じてしまう場合があ
る。そこでこの位置ずれを位置ずれデータ検出工程Ｓ４
において検出するようにする。Next, in the positional deviation data detection step S4, the relative positional deviation data between the first grid G 1 that is aligned with the second grid G 2 is detected. That is,
In the above-described positioning step S3, the first grid G
The first and second grids G 2 are aligned, but errors in position data detected by the first grid position data detection mechanism 13 and the second grid position data detection mechanism 14 and the first grid positioning mechanism 16 the operation error or the like, there are cases where relative displacement occurs between the first grid G 1 that is aligned with the second grid G 2. Therefore, this displacement is detected by a displacement data detection step S4.
To be detected.

【００７０】位置ずれデータの検出は、位置ずれデータ
検出機構１５が、第１グリッドＧ1の電子ビーム透過孔
５と第２グリッドＧ2 の電子ビーム透過孔６のそれぞれ
の左右両側端部を撮像し、この画像を制御部が画像処理
することにより行われる。The position shift data is detected by the position shift data detecting mechanism 15 by picking up the right and left ends of the electron beam transmitting hole 5 of the first grid G 1 and the electron beam transmitting hole 6 of the second grid G 2. Then, the image is processed by the control unit performing image processing on the image.

【００７１】位置ずれデータ検出機構１５は、上述した
ように、垂直方向の軸線に対し所定のオフセット角を有
するように斜めに配置され、垂直方向の軸線を境に左右
対象とされる一対の撮像機構２１，２２からなる。そし
て、この一対の撮像装置２１，２２は、その中心軸の延
長線が、第１グリッドＧ1 の電子ビーム透過孔５の中心
点で交差するようになされている。As described above, the misalignment data detecting mechanism 15 is disposed obliquely so as to have a predetermined offset angle with respect to the vertical axis, and a pair of left and right symmetrical images is arranged on the vertical axis. It consists of mechanisms 21 and 22. Then, the pair of image pickup devices 21 and 22, the extension line of the center axis thereof, it is made to intersect at the center point of the first electron beam transmission aperture 5 of the grid G 1.

【００７２】位置ずれデータ検出機構１５を構成する一
対の撮像装置２１，２２は、ＣＣＤカメラ２１ａ，２２
ａ、光学レンズ２１ｂ，２２ｂ、照明装置２１ｃ，２２
ｃを有している。そして、この位置ずれデータ検出機構
１５は、第１グリッド位置決め機構１６により位置決め
された第１グリッドＧ1 及び第２グリッドＧ2 のそれぞ
れの電子ビーム透過孔５，６の左右の端縁を、左右に分
割して撮像する。The pair of image pickup devices 21 and 22 constituting the displacement data detection mechanism 15 include CCD cameras 21a and 22
a, optical lenses 21b and 22b, illumination devices 21c and 22
c. The position shift data detecting mechanism 15 moves the left and right edges of the electron beam transmitting holes 5 and 6 of the first grid G 1 and the second grid G 2 positioned by the first grid positioning mechanism 16 respectively. The image is divided.

【００７３】詳述すると、位置ずれデータ検出機構１５
を構成する一対の撮像装置２１，２２のうち、左側に配
置された撮像装置２１は、照明装置２１ｃにより照明さ
れ、光学レンズ２１ｂにより拡大された図８に示すよう
な第１グリッドＧ1 及び第２グリッドＧ2 のビーム透過
孔５，６の右側端縁の画像を、ＣＣＤカメラ２１ａによ
り撮像する。ＣＣＤカメラ２１ａにより撮像されたこの
画像データは制御部に取り込まれる。More specifically, the displacement data detecting mechanism 15
Of the pair of image pickup devices 21 and 22 constituting the imaging device 21 disposed on the left side is illuminated by the illumination device 21c, the first grid G 1 and the second as shown in FIG. 8, which is enlarged by the lens 21b the right edge image of the second grid G 2 of the beam transmission hole 5,6, imaged by the CCD camera 21a. This image data captured by the CCD camera 21a is taken into the control unit.

【００７４】また、位置ずれデータ検出機構１５を構成
する一対の撮像装置２１，２２のうち、右側に配置され
た撮像装置２２は、照明装置２２ｃにより照明され、光
学レンズ２２ｂにより拡大された図９に示すような第１
グリッドＧ1 及び第２グリッドＧ2 のビーム透過孔５，
６の左側端縁の画像を、ＣＣＤカメラ２２ａにより撮像
する。ＣＣＤカメラ２２ａにより撮像されたこの画像デ
ータは制御部に取り込まれる。The imaging device 22 disposed on the right side of the pair of imaging devices 21 and 22 constituting the displacement data detecting mechanism 15 is illuminated by the illumination device 22c and enlarged by the optical lens 22b in FIG. The first as shown in
Beam transmission holes 5 of grid G 1 and second grid G 2
An image of the left edge of No. 6 is captured by the CCD camera 22a. The image data captured by the CCD camera 22a is taken into the control unit.

【００７５】そして制御部は、一対の撮像装置２１，２
２により撮像されたそれぞれの画像データを合成し、例
えば図１０に示すように、楕円で近似させる。そして、
この２つの楕円の中心の位置座標のずれが、第１グリッ
ドＧ1 の電子ビーム透過孔５の中心と、第２グリッドＧ
2 の電子ビーム透過孔６の中心との位置ずれとして検出
される。The control unit includes a pair of imaging devices 21 and
2, the respective image data captured are synthesized and approximated by an ellipse, for example, as shown in FIG. And
The difference between the position coordinates of the centers of the two ellipses is the center of the electron beam transmission hole 5 of the first grid G 1 and the center of the second grid G 1.
2 is detected as a positional deviation from the center of the electron beam transmission hole 6.

【００７６】このようにして位置ずれデータ検出工程Ｓ
４により第１グリッドＧ1 と第２グリッドＧ2 との相対
的な位置ずれが検出されたら、次に、位置ずれ修正工程
Ｓ５において、位置ずれの修正が行われる。In this manner, the displacement data detection step S
The 4 first grid G 1 and If relative displacement between the second grid G 2 is detected, then, in the position deviation correcting step S5, the correction of positional deviation is performed.

【００７７】位置ずれの修正は、制御部が位置ずれデー
タ検出工程Ｓ４において検出した位置ずれデータに基づ
いて、第１グリッド位置決め機構１６を再度駆動させる
とともにその動作を制御することにより行う。The correction of the positional deviation is performed by driving the first grid positioning mechanism 16 again and controlling its operation based on the positional deviation data detected in the positional deviation data detecting step S4 by the control unit.

【００７８】第１グリッド位置決め機構１６は、制御部
の制御によりＸ軸Ｙ軸移動機構１８がＸ軸Ｙ軸方向に移
動し、第１グリッドＧ1 と第２グリッドＧ2 の相対的な
位置ずれを許容範囲内にまで修正する。そして、第１グ
リッド位置決め機構１６は、第１グリッドＧ1 と第２グ
リッドＧ2 の相対的な位置ずれが許容範囲内にまで修正
されると、Ｚ軸移動機構１９が制御部の制御によりＺ軸
方向に移動し、第１グリッドＧ1 を第２グリッドＧ2 の
底部に当接させる。このとき、第１グリッドＧ1 と第２
グリッドＧ2 との相対的な位置ずれは修正されているの
で、第１グリッドＧ1 の電子ビーム透過孔５の中心と、
第２グリッドＧ2 の電子ビーム透過孔６の中心は一致す
る。The first grid positioning mechanism 16 moves the X-axis / Y-axis moving mechanism 18 in the X-axis / Y-axis direction under the control of the control unit, and causes the relative displacement between the first grid G 1 and the second grid G 2. Is corrected to within the allowable range. When the relative displacement between the first grid G 1 and the second grid G 2 is corrected to within an allowable range, the first grid positioning mechanism 16 controls the Z-axis moving mechanism 19 to control the Z-axis under the control of the control unit. moves in the axial direction, is brought into contact with the first grid G 1 to the second bottom of the grid G 2. At this time, the first grid G 1 and the second grid G 1
Since the relative displacement with respect to the grid G 2 has been corrected, the center of the electron beam transmission hole 5 of the first grid G 1 is
The center of the second electron beam transmission hole 6 of the grid G 2 is consistent.

【００７９】次に、接合工程Ｓ６において、第１グリッ
ドＧ1 と第２グリッドＧ2 との接合が行われる。[0079] Next, in the bonding step S6, the first grid G 1 and the junction between the second grid G 2 is performed.

【００８０】第１グリッドＧ1 と第２グリッドＧ2 との
接合は、上述した接合機構１７により行われる。接合機
構１７は、例えばレーザー溶接機等からなる。そしてこ
の接合機構１７は、第１グリッドＧ1 と第２グリッドＧ
2 との接触部分にレーザー光を出射し、例えば図１１に
示すように、この接触部分をレーザー溶接することによ
り、第１グリッドＧ1 と第２グリッドＧ2 とを接合す
る。The joining between the first grid G 1 and the second grid G 2 is performed by the joining mechanism 17 described above. The joining mechanism 17 includes, for example, a laser welding machine or the like. The joining mechanism 17 includes a first grid G 1 and a second grid G 1 .
The laser beam is emitted to the contact portion between the 2, for example, as shown in FIG. 11, by laser welding the contact portion, joining the first grid G 1 and the second grid G 2.

【００８１】最後に、位置ずれ確認工程Ｓ７において、
第１グリッドＧ1 と第２グリッドＧ2 との位置ずれの有
無が確認される。これは、接合工程Ｓ６における溶接等
により第１グリッドＧ1 と第２グリッドＧ2 に位置ずれ
が生じた場合に、これらを後の工程に流さないようにす
るためのものである。Finally, in the displacement confirmation step S7,
Whether the positional deviation of the first grid G 1 and the second grid G 2 is confirmed. This is to prevent the first grid G 1 and the second grid G 2 from being displaced when the first grid G 1 and the second grid G 2 are displaced by welding or the like in the joining step S 6.

【００８２】即ち、第１グリッドＧ1 と第２グリッドＧ
2 との相対的な位置ずれは、位置ずれ修正工程Ｓ５によ
り修正されるが、その後、Ｚ軸移動機構１９により第１
グリッドＧ1 がＺ軸方向へ移動する際に誤差が生じた
り、接合工程Ｓ６において熱歪みが生じること等が原因
となって、第１グリッドＧ1 と第２グリッドＧ2 との間
に再び許容範囲を越える相対的な位置ずれが生じてしま
う場合がある。そこで、この位置ずれ確認工程Ｓ７にお
いて、位置ずれ修正工程Ｓ５の後に生じた第１グリッド
Ｇ1 と第２グリッドＧ2 との相対的な位置ずれを検出
し、不良品が後工程に流れるのを防ぐようにしている。That is, the first grid G 1 and the second grid G
The relative displacement with respect to 2 is corrected in a displacement correction step S5.
Error or generated when the grid G 1 is moved in the Z-axis direction, so that such thermal distortion is caused in the bonding step S6, again allowed between the first grid G 1 and the second grid G 2 A relative displacement exceeding the range may occur. Therefore, in the positional deviation confirmation step S7, the detected relative positional deviation between the first grid G 1 and the second grid G 2 which occurred after the positional deviation correcting step S5, the defective products from flowing to the rear step I try to prevent it.

【００８３】この位置ずれ確認工程Ｓ７における位置ず
れの確認は、位置ずれ検出工程Ｓ４において用いた位置
ずれ検出機構１５を用いて行われる。即ち、位置ずれ検
出機構１５を構成する左右一対の撮像装置２１，２２
が、接合された第１グリッドＧ1 と第２グリッドＧ2 の
それぞれの電子ビーム透過孔５，６の左右両側端縁を撮
像する。そして、この撮像された画像データは、制御部
に取り込まれる。制御部は、これらの画像データを合成
し、楕円で近似させる。そして、この２つの楕円の中心
の位置座標のずれが、第１グリッドＧ1 の電子ビーム透
過孔５の中心と、第２グリッドＧ2 の電子ビーム透過孔
６の中心との位置ずれとして検出される。The confirmation of the displacement in the displacement confirmation step S7 is performed using the displacement detection mechanism 15 used in the displacement detection step S4. That is, a pair of left and right imaging devices 21 and 22 that constitute the displacement detection mechanism 15
Captures the right and left side edges of the electron beam transmitting holes 5 and 6 of the joined first grid G 1 and second grid G 2 . Then, the captured image data is taken into the control unit. The control unit combines these image data and approximates them with an ellipse. Then, the deviation of the position coordinates of the center of the two ellipses is detected and the center of the first electron beam transmission aperture 5 of the grid G 1, a positional deviation between the center of the second electron beam transmission hole 6 of the grid G 2 You.

【００８４】このようにして検出された第１グリッドＧ
1 と第２グリッドＧ2 との間の相対的な位置ずれが許容
範囲を越える場合は、この接合された第１グリッドＧ1
と第２グリッドＧ2 は、不良品として電子銃１の組立工
程から外され、後の工程に流れないようにされる。The first grid G thus detected
1 and if the relative positional deviation between the second grid G 2 exceeds the allowable range, the first grid G 1, which is the joint
The second grid G 2 is removed from the assembling process of the electron gun 1 as a defective product so that it does not flow to subsequent processes.

【００８５】尚、上述したように、位置データ検出工程
Ｓ２から位置ずれ確認工程Ｓ７までは、第１グリッドＧ
1 を構成する各グリッド単体ごとに行う必要がある。従
って、例えば赤色カソードに対応したグリッド単体の接
合が終了したら再び位置データ検出工程Ｓ２に戻り緑色
カソードに対応したグリッド単体の接合を行い、緑色カ
ソードに対応したグリッド単体の接合が終了したら再び
位置データ検出工程Ｓ２に戻り青色カソードに対応した
グリッド単体の接合を行う。As described above, the steps from the position data detecting step S2 to the positional deviation confirming step S7 are the first grid G
It is necessary to perform this for each grid unit constituting 1 . Therefore, for example, when the joining of the grid alone corresponding to the red cathode is completed, the process returns to the position data detecting step S2 again, where the joining of the grid alone corresponding to the green cathode is performed. Returning to the detection step S2, the grid alone corresponding to the blue cathode is joined.

【００８６】このように、位置データ検出工程Ｓ２から
位置ずれ確認工程Ｓ７までの各工程は、３回繰り返され
ることによって、第１グリッドＧ1 と第２グリッドＧ2
との接合が完了する。[0086] Thus, the position data detection steps from step S2 to position deviation checking step S7, by repeated 3 times, the first grid G 1 and the second grid G 2
Is completed.

【００８７】本発明に係る電子銃の組立方法は、位置合
わせ工程Ｓ３によって位置合わせが行われた第１グリッ
ドＧ1 と第２グリッドＧ2 との間に、相対的な位置ずれ
が生じた場合であっても、その位置ずれが、位置ずれデ
ータ検出工程Ｓ４によって検出され、位置ずれ修正工程
Ｓ５によって修正されるので、第１グリッドＧ1 と第２
グリッドＧ2 との組立精度が高まり、電子銃のフォーカ
ス特性が向上する。The method for assembling an electron gun according to the present invention is directed to a case where a relative displacement occurs between the first grid G 1 and the second grid G 2 which have been aligned in the alignment step S3. However, since the positional deviation is detected in the positional deviation data detecting step S4 and corrected in the positional deviation correcting step S5, the first grid G 1 and the second grid G 1
Assembly accuracy between the grid G 2 is increased, thereby improving the focus characteristic of the electron gun.

【００８８】また、この電子銃の組立方法によれば、垂
直方向の軸線に対し斜めに配置された一対の撮像装置２
１，２２により位置ずれの検出を行うので、第１グリッ
ドＧ1 の電子ビーム透過孔５の孔径が第２グリッドＧ2
の電子ビーム透過孔６の口径より大である場合や、第１
グリッドＧ1 の電子ビーム透過孔５の孔径が第２グリッ
ドＧ2 の電子ビーム透過孔６の口径より小さいが、その
差が５０μｍ以下と少ない場合であっても、第１グリッ
ドＧ1 と第２グリッドＧ2 との間の相対的な位置ずれの
検出が行える。According to the method for assembling the electron gun, the pair of image pickup devices 2 arranged obliquely with respect to the vertical axis.
Since the positional deviation is detected by the first and second grids G 1 and G 2, the diameter of the electron beam transmitting hole 5 of the first grid G 1 is reduced to the second grid G 2
In the case where the diameter of the electron beam transmitting hole 6 is larger than
Although the hole diameter of the electron beam transmission hole 5 of the grid G 1 is smaller than the diameter of the second electron beam transmission hole 6 of the grid G 2, even if the difference is less and less 50 [mu] m, the first grid G 1 and the second It allows the detection of relative positional deviation between the grid G 2.

【００８９】また、この電子銃の組立方法によれば、第
１グリッドＧ1 と第２グリッドＧ2との相対的な距離の
検出を、第１グリッドＧ1 の電子ビーム透過孔５の近似
楕円の径と第２グリッドＧ2 の電子ビーム透過孔６の近
似楕円の径と差を測定することにより行うので、電子銃
１のカットオフ特性の管理が可能となる。Further, according to this method of assembling the electron gun, the relative distance between the first grid G 1 and the second grid G 2 is detected by the approximate ellipse of the electron beam transmitting hole 5 of the first grid G 1. is performed by the diameter of the measuring diameter and difference of the approximation ellipses of the second electron beam transmission aperture 6 of the grid G 2, it is possible to manage the cutoff characteristic of the electron gun 1.

【００９０】また、この電子銃の組立方法は、接合工程
Ｓ６の後に再度第１グリッドＧ1 と第２グリッドＧ2 と
の相対的な位置ずれの有無を確認する位置ずれ確認工程
Ｓ７を有しているので、溶接による熱歪み等により、第
１グリッドＧ1 と第２グリッドＧ2 との間に相対的な位
置ずれが生じた場合に、不良品を後の工程に流してしま
うことがない。[0090] In addition, the assembly method of the electron gun has a positional deviation confirmation step S7 to check whether the relative positional deviation between the first grid G 1 and the second grid G 2 again after the bonding step S6 Therefore, when a relative displacement occurs between the first grid G 1 and the second grid G 2 due to thermal distortion or the like due to welding, defective products will not flow to subsequent processes. .

【００９１】さらにまた、この電子銃の組立方法によれ
ば、接合工程Ｓ６の前後における第１グリッドＧ１と第
２グリッドＧ２との相対的な位置ずれの変化量をデータ
として蓄積し、次の組立の際に、このデータに基づいて
位置合わせの補正量を決定することにより、不良品を減
少させることができる。Further, according to the method of assembling the electron gun, the amount of change in the relative displacement between the first grid G1 and the second grid G2 before and after the joining step S6 is accumulated as data, and the next assembly is performed. In this case, the amount of defective products can be reduced by determining the correction amount of the alignment based on this data.

【００９２】[0092]

【発明の効果】本発明に係る電子銃の組立方法によれ
ば、位置合わせ工程によって位置合わせが行われた第１
グリッドと第２グリッドとの間に、相対的な位置ずれが
生じた場合であっても、その位置ずれが位置ずれデータ
検出工程によって検出され、位置ずれ修正工程によって
修正される。従って、第１グリッドと第２グリッドとの
組立精度が高まり、電子銃のフォーカス特性が向上す
る。According to the method for assembling an electron gun according to the present invention, the first alignment performed in the alignment step is performed.
Even if a relative displacement occurs between the grid and the second grid, the displacement is detected by the displacement data detection step and corrected by the displacement correction step. Therefore, the assembling accuracy of the first grid and the second grid is improved, and the focus characteristics of the electron gun are improved.

【００９３】また、この電子銃の組立方法によれば、垂
直方向の軸線に対し斜めに配置された一対の撮像装置に
より位置ずれの検出を行うので、第１グリッドの電子ビ
ーム透過孔の孔径が第２グリッドの電子ビーム透過孔の
孔径より大である場合であっても、第１グリッドと第２
グリッドの間の相対的な位置ずれの検出が行える。Further, according to the method for assembling the electron gun, the position shift is detected by the pair of imaging devices arranged obliquely with respect to the vertical axis, so that the diameter of the electron beam transmission hole of the first grid is reduced. Even if the diameter of the electron beam transmission hole of the second grid is larger than the diameter of the first grid,
The relative displacement between the grids can be detected.

【００９４】また、本発明に係る電子銃の組立装置によ
れば、第１グリッド位置決め機構により位置合わせがさ
れた第１グリッドと第２グリッドとの間に、相対的な位
置ずれが生じた場合であっても、位置ずれデータ検出機
構がその位置ずれデータを検出して、この検出された位
置ずれデータに基づき、制御部が第１グリッド位置決め
機構の動作を制御するので、第１グリッドと第２グリッ
ド間の相対的な位置ずれが修正される。Further, according to the electron gun assembling apparatus of the present invention, when the relative displacement between the first grid and the second grid aligned by the first grid positioning mechanism occurs. However, since the misregistration data detection mechanism detects the misregistration data and the control unit controls the operation of the first grid positioning mechanism based on the detected misregistration data, the first grid and the second The relative displacement between the two grids is corrected.

【００９５】従って、この電子銃の組立装置は、第１グ
リッドと第２グリッドとを高精度に接合することがで
き、組み立てた電子銃のフォーカス特性を向上させるこ
とができる。Therefore, in the electron gun assembling apparatus, the first grid and the second grid can be joined with high accuracy, and the focus characteristics of the assembled electron gun can be improved.

【００９６】また、この電子銃の組立装置は、位置ずれ
検出機構が、垂直な軸線に対し斜めに配置された一対の
撮像装置により構成されているので、第１グリッドの電
子ビーム透過孔の孔径が第２グリッドの電子ビーム透過
孔の口径より大である場合や、第１グリッドの電子ビー
ム透過孔の孔径が第２グリッドの電子ビーム透過孔の口
径より小さいが、その差がわずかな場合であっても、第
１グリッドと第２グリッドとを高精度に接合することが
できる。Further, in this electron gun assembling apparatus, since the displacement detecting mechanism is constituted by a pair of image pickup devices arranged obliquely with respect to a vertical axis, the diameter of the electron beam transmitting hole of the first grid is made. Is larger than the diameter of the electron beam transmission hole of the second grid, or the diameter of the electron beam transmission hole of the first grid is smaller than the diameter of the electron beam transmission hole of the second grid, but the difference is small. Even if there is, the first grid and the second grid can be joined with high accuracy.

【図面の簡単な説明】[Brief description of the drawings]

【図１】電子銃の模式図である。FIG. 1 is a schematic view of an electron gun.

【図２】第１グリッドの斜視図である。FIG. 2 is a perspective view of a first grid.

【図３】第２グリッドの斜視図である。FIG. 3 is a perspective view of a second grid.

【図４】本発明に係る電子銃の組立装置の要部正面図で
ある。FIG. 4 is a front view of a main part of the assembling apparatus for an electron gun according to the present invention.

【図５】同電子銃の組立装置を一部切欠きして示す要部
左側面図である。FIG. 5 is a left side view of a main part of the assembling apparatus for the electron gun, partially cut away.

【図６】位置ずれ検出機構の配置状態を説明する模式図
である。FIG. 6 is a schematic diagram illustrating an arrangement state of a displacement detection mechanism.

【図７】本発明に係る電子銃の組立方法の工程を説明す
る工程説明図である。FIG. 7 is a process explanatory view illustrating a process of the method for assembling an electron gun according to the present invention.

【図８】位置ずれ検出機構により撮像された第１グリッ
ドの電子ビーム透過孔及び第２グリッドの電子ビーム透
過孔のそれぞれの右側端縁の画像を示す平面図である。FIG. 8 is a plan view showing images of the right edge of each of the electron beam transmitting holes of the first grid and the electron beam transmitting holes of the second grid, which are imaged by the displacement detection mechanism.

【図９】位置ずれ検出機構により撮像された第１グリッ
ドの電子ビーム透過孔及び第２グリッドの電子ビーム透
過孔のそれぞれの左側端縁の画像を示す平面図である。FIG. 9 is a plan view showing images of the left edge of each of the electron beam transmission holes of the first grid and the electron beam transmission holes of the second grid, which are captured by the displacement detection mechanism.

【図１０】制御部により合成された画像を示す平面図で
ある。FIG. 10 is a plan view showing an image synthesized by the control unit.

【図１１】第１グリッドと第２グリッドの接合状態を示
す側面図である。FIG. 11 is a side view showing a joint state of the first grid and the second grid.

【図１２】従来の電子銃の組立装置の要部正面図であ
る。FIG. 12 is a front view of a main part of a conventional electron gun assembling apparatus.

【図１３】従来の電子銃の組立装置の要部右側面図であ
る。FIG. 13 is a right side view of a main part of a conventional electron gun assembling apparatus.

【符号の説明】[Explanation of symbols]

１ 電子銃、１０ 電子銃の組立装置、１１ 第１グリ
ッド保持機構、１２第２グリッド保持機構、１３ 第１
グリッド位置データ検出機構、１４ 第２グリッド位置
データ検出機構、１５ 位置ずれ検出機構、１６ 第１
グリッド位置決め機構、１７ 接合機構、Ｓ１ セッテ
ィング工程、Ｓ２ 位置データ検出工程、Ｓ３ 位置合
わせ工程、Ｓ４ 位置ずれデータ検出工程、Ｓ５ 位置
ずれ修正工程、Ｓ６ 接合工程、Ｓ７ 位置ずれ確認工
程Reference Signs List 1 electron gun, 10 electron gun assembling device, 11 first grid holding mechanism, 12 second grid holding mechanism, 13 first
Grid position data detection mechanism, 14 Second grid position data detection mechanism, 15 Position shift detection mechanism, 16 First
Grid positioning mechanism, 17 joining mechanism, S1 setting step, S2 position data detecting step, S3 position aligning step, S4 position shift data detecting step, S5 position shift correcting step, S6 joining step, S7 position shift confirming step

Claims (10)

【特許請求の範囲】[Claims] 【請求項１】 電子ビーム透過孔を有する第１グリッド
及び第２グリッドのそれぞれの位置データを検出する位
置データ検出工程と、 上記位置データ検出工程で検出されたそれぞれの位置デ
ータに基づき第１グリッドと第２グリッドとの位置合わ
せを行う位置合わせ工程と、 上記位置合わせ工程の後に、第１グリッドと第２グリッ
ドの相対的な位置ずれデータを検出する位置ずれデータ
検出工程と、 上記位置ずれデータ検出工程で検出された位置ずれデー
タに基づき第１グリッドと第２グリッドの位置ずれを修
正する位置ずれ修正工程と、 上記位置ずれ修正工程の後に第１グリッドと第２グリッ
ドを接合する接合工程とを有する電子銃の組立方法。1. A position data detecting step of detecting respective position data of a first grid and a second grid having an electron beam transmitting hole; and a first grid based on the respective position data detected in the position data detecting step. An alignment step of performing alignment between the first grid and the second grid; a positional data detection step of detecting relative positional data of the first grid and the second grid after the alignment step; A displacement correcting step for correcting the displacement between the first grid and the second grid based on the displacement data detected in the detecting step; a joining step of joining the first grid and the second grid after the displacement correcting step; A method of assembling an electron gun having the following. 【請求項２】 上記位置ずれデータ検出工程は、軸線に
対して斜めに配設され軸線を境に左右対象となるように
された一対の撮像装置が、上記第１グリッド及び第２グ
リッドのそれぞれの電子ビーム透過孔の左右の端縁を撮
像し、この撮像された画像を画像処理することにより第
１グリッドと第２グリッドの相対的な位置ずれデータを
検出する工程であることを特徴とする請求項１記載の電
子銃の組立方法。2. The method according to claim 1, wherein the step of detecting the displacement data comprises: a pair of image pickup devices arranged obliquely with respect to the axis and symmetrical about the axis with respect to each of the first grid and the second grid. Capturing the left and right edges of the electron beam transmission hole, and processing the captured image to detect relative displacement data between the first grid and the second grid. The method for assembling an electron gun according to claim 1. 【請求項３】 上記第１グリッドと第２グリッドの相対
的な位置ずれデータの検出は、第１グリッドの電子ビー
ム透過孔の中心と第２グリッドの電子ビーム透過孔の中
心との間の距離を測定することによって行うことを特徴
とする請求項２記載の電子銃の組立方法。3. The method of detecting relative displacement data between the first grid and the second grid includes determining a distance between the center of the electron beam transmission hole of the first grid and the center of the electron beam transmission hole of the second grid. 3. The method for assembling an electron gun according to claim 2, wherein the method is performed by measuring the following. 【請求項４】 上記接合工程の後に、第１グリッド及び
第２グリッドの相対的な位置ずれの有無を確認する位置
ずれ確認工程を有することを特徴とする請求項１記載の
電子銃の組立方法。4. The method according to claim 1, further comprising a step of confirming a relative displacement between the first grid and the second grid after the joining step. . 【請求項５】 上記位置ずれ確認工程は、軸線に対して
斜めに配設され軸線を境に左右対象となるようにされた
一対の撮像装置が、上記第１グリッド及び第２グリッド
のそれぞれの電子ビーム透過孔の左右の端縁を撮像し、
この撮像された画像を画像処理することにより第１グリ
ッドと第２グリッドの相対的な位置ずれの有無を確認す
る工程であることを特徴とする請求項４記載の電子銃の
組立方法。5. The image forming apparatus according to claim 1, wherein the pair of imaging devices disposed obliquely with respect to the axis and symmetrical with respect to the axis are formed in each of the first grid and the second grid. Image the left and right edges of the electron beam transmission hole,
5. The method for assembling an electron gun according to claim 4, further comprising a step of performing image processing on the captured image to confirm whether there is a relative displacement between the first grid and the second grid. 【請求項６】 上記第１グリッドと第２グリッドの相対
的な位置ずれの有無の確認は、第１グリッドの電子ビー
ム透過孔の中心と第２グリッドの電子ビーム透過孔の中
心との間の距離を測定することによって行うことを特徴
とする請求項５記載の電子銃の組立方法。6. The method according to claim 1, wherein the first grid and the second grid are checked for relative misalignment between the center of the electron beam transmission hole of the first grid and the center of the electron beam transmission hole of the second grid. 6. The method for assembling an electron gun according to claim 5, wherein the method is performed by measuring a distance. 【請求項７】 第１グリッドを保持する第１グリッド保
持機構と、 第２グリッドを保持する第２グリッド保持機構と、 第１グリッドの位置データを検出する第１グリッド位置
データ検出機構と、 第２グリッドの位置データを検出する第２グリッド位置
データ検出機構と、 第１グリッドと第２グリッドの相対的な位置ずれデータ
を検出する位置ずれデータ検出機構と、 第１グリッドを所定の位置に移動させる第１グリッド位
置決め機構と、 上記第１グリッド位置決め機構の動作を制御する制御部
と、 第１グリッドと第２グリッドとを接合する接合機構とを
有し、 上記制御部は、上記第１グリッド位置データ検出機構に
より検出された位置データと上記第２グリッド位置デー
タ検出機構により検出された位置データに基づき、上記
第１グリッド位置決め機構の動作を制御して、第１グリ
ッドと第２グリッドの位置合わせを行った後に、上記位
置ずれデータ検出機構により検出された位置ずれデータ
に基づき上記第１グリッド位置決め機構の動作を制御し
て、第１グリッドと第２グリッドの相対的な位置ずれを
修正することを特徴とする電子銃の組立装置。7. A first grid holding mechanism for holding a first grid, a second grid holding mechanism for holding a second grid, a first grid position data detecting mechanism for detecting position data of the first grid, A second grid position data detection mechanism for detecting position data of two grids, a position shift data detection mechanism for detecting relative position shift data of the first grid and the second grid, and moving the first grid to a predetermined position A first grid positioning mechanism that controls the operation of the first grid positioning mechanism; and a joining mechanism that joins the first grid and the second grid. The first grid based on the position data detected by the position data detecting mechanism and the position data detected by the second grid position data detecting mechanism. After the operation of the positioning mechanism is controlled and the first grid and the second grid are aligned, the operation of the first grid positioning mechanism is controlled based on the displacement data detected by the displacement data detection mechanism. And correcting the relative displacement between the first grid and the second grid. 【請求項８】 上記位置ずれデータ検出機構は、軸線に
対して斜めに配設され軸線を境に左右対象となるように
された一対の撮像装置を有し、この撮像装置によって撮
像された画像を上記制御部が画像処理することによっ
て、第１グリッドと第２グリッドの相対的な位置ずれデ
ータを検出することを特徴とする請求項７記載の電子銃
の組立装置。8. The position shift data detecting mechanism includes a pair of image pickup devices arranged obliquely with respect to an axis and arranged symmetrically with respect to the axis, and an image picked up by the image pickup device. 8. The electron gun assembling apparatus according to claim 7, wherein the controller performs image processing on the image data to detect relative displacement data of the first grid and the second grid. 【請求項９】 上記制御部は、第１グリッドの電子ビー
ム透過孔の中心と第２グリッドの電子ビーム透過孔の中
心との間の距離を測定することによって、第１グリッド
と第２グリッドの相対的な位置ずれ量を測定することを
特徴とする請求項８記載の電子銃の組立装置。9. The controller according to claim 1, wherein the controller measures a distance between a center of the electron beam transmitting hole of the first grid and a center of the electron beam transmitting hole of the second grid, thereby determining a distance between the first grid and the second grid. 9. The electron gun assembling apparatus according to claim 8, wherein a relative displacement amount is measured. 【請求項１０】 上記位置ずれ検出機構は、接合機構が
第１グリッドと第２グリッドとの接合を行った後に、第
１グリッドと第２グリッドとの相対的な位置ずれの有無
を確認することを特徴とする請求項９記載の電子銃の組
立装置。10. The position shift detecting mechanism checks whether there is a relative position shift between the first grid and the second grid after the joining mechanism has joined the first grid and the second grid. 10. The apparatus for assembling an electron gun according to claim 9, wherein:
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