JPH10170948A - Spatial optical modulation element and its production - Google Patents

Spatial optical modulation element and its production

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JPH10170948A
JPH10170948A JP33169896A JP33169896A JPH10170948A JP H10170948 A JPH10170948 A JP H10170948A JP 33169896 A JP33169896 A JP 33169896A JP 33169896 A JP33169896 A JP 33169896A JP H10170948 A JPH10170948 A JP H10170948A
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JP
Japan
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light
photoconductive layer
substrate
transmitting
layer
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JP33169896A
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Japanese (ja)
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Masayuki Torigoe
誠之 鳥越
Shigeru Yagi
茂 八木
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Fujifilm Business Innovation Corp
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Fuji Xerox Co Ltd
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Abstract

PROBLEM TO BE SOLVED: To provide a spatial optical modulation element that obviates the peeling of a photoconductive layer, has high performance, and can obtain a good-contrast image with high resolution and a method for producing the same. SOLUTION: This spatial optical modulation element has a pair of light- transmissible substrates 10, 11 facing each other, light-transmissible electrodes 20, 21 disposed on the surfaces of the respective light-transmissible substrates and the photoconductive layer 3 mainly composed of hydrogenated amorphous silicon and an optical modulation member layer 5 held and disposed between the light-transmissible electrodes facing each other. The photoconductive layer 3 has 2 to 60μm thickness and is disposed in the parts exclusive of the entire periphery at the ends of the substrate 10. The photoconductive layer 3 of the spatial optical modulation element may be formed by forming the photoconductive layer 3 having 2 to 60μm thickness in the state of superposing deposited film preventive members so as to cover the entire periphery at the ends of the substrate 10.

Description

【発明の詳細な説明】DETAILED DESCRIPTION OF THE INVENTION

【0001】[0001]

【発明の属する技術分野】本発明は、電圧の印加の下に
光信号によって光変調部材に情報を書き込む空間光変調
素子およびその製造方法に関する。
BACKGROUND OF THE INVENTION 1. Field of the Invention The present invention relates to a spatial light modulator for writing information on a light modulation member by an optical signal under application of a voltage, and a method of manufacturing the same.

【0002】[0002]

【従来の技術】画像処理や表示に使用される光入力空間
光変調素子については、ZnSとツイストネマチック
(TN)液晶の組合わせによるものが最初に報告され
[Appl.Phys.Lett.17(1970)5
1]、その後、CdSとTN液晶の組合わせ[App
l.Phys.Lett.22(1973)90]や単
結晶シリコンとTN液晶からなる素子[J.Appl.
Phys.5(1985)1356]が発表されてい
る。その他にも特開昭49−90155号公報、特開昭
49−21166号公報、特開昭58−199327号
公報、特開昭59−216126号公報に示されるよう
に、液晶層よりなる光変調部材と、平面状かつ均質に形
成された光導電層とからなる積層構造を有するものが知
られている。このような空間光変調素子において、光導
電層としては、特開昭58−199327号公報や「A
ppl.Opt.26(1987)241」に示されて
いるように水素化アモルファスシリコン(a−Si:
H)が、高感度、高速応答性、両極性、均質膜の作製容
易性等の理由により有利に用いられている。このような
空間光変調素子は、光導電層に書き込み光によって情報
を入力し、この光導電層のインピーダンス変化に応じた
光変調部材への印加電圧の変化を光変調部材の変化とし
て読み出すものである。
2. Description of the Related Art As for an optical input spatial light modulator used for image processing and display, a device based on a combination of ZnS and twisted nematic (TN) liquid crystal was first reported [Appl. Phys. Lett. 17 (1970) 5
1], and then a combination of CdS and TN liquid crystal [App
l. Phys. Lett. 22 (1973) 90] or an element composed of single crystal silicon and TN liquid crystal [J. Appl.
Phys. 5 (1985) 1356]. In addition, as disclosed in JP-A-49-90155, JP-A-49-21166, JP-A-58-199327, and JP-A-59-216126, light modulation comprising a liquid crystal layer is disclosed. There is known a member having a laminated structure composed of a member and a photoconductive layer formed in a planar and homogeneous manner. In such a spatial light modulator, as a photoconductive layer, JP-A-58-199327 or "A
ppl. Opt. 26 (1987) 241 ", hydrogenated amorphous silicon (a-Si:
H) is advantageously used for reasons such as high sensitivity, high-speed response, ambipolarity, and easy production of a homogeneous film. Such a spatial light modulator inputs information into a photoconductive layer by writing light, and reads a change in a voltage applied to the light modulation member according to a change in impedance of the photoconductive layer as a change in the light modulation member. is there.

【0003】上記の空間光変調素子の実用化のために
は、光変調部材の変調度を可能な限り大きくするような
素子構成にすることが重要である。そのため光導電層の
インピーダンスは、暗時には光変調部材のインピーダン
スよりも高く、印加電圧の殆どが光導電層に分配され、
明時には光変調部材のインピーダンスよりも低くなっ
て、印加電圧の殆どが光変調部材に分配されるようにす
ることが必要であり、したがって、光導電層と光変調部
材の間のインピーダンスの差が大きいほど好ましい。光
変調部材として液晶を用いる場合には、インピーダンス
は通常1010〜1011Ωcmの範囲である。さらに光導
電層として使用するa−Si:Hの暗抵抗は、硼素の微
量ドープによって極小値として1011〜1012Ωcmに
できることが報告されている[W.E.Spear a
nd P.G.LeComber:Phil.Mag.
33(1976)935]。これに関して特開昭58−
199327号公報には10〜400ppmの硼素をド
ープしたa−Si:Hを用いることが、また特開平6−
67196号公報には、硼素を0.1〜10ppmをド
ープしたa−Si:Hを用いることが提案されている。
この場合でも光変調部材層と光導電層のインピーダンス
の比を十分にとるには、光変調部材層に対し光導電層の
厚さを同等以上にしなければならない。
[0003] In order to put the above-mentioned spatial light modulation element into practical use, it is important to make the element configuration such that the degree of modulation of the light modulation member is as large as possible. Therefore, the impedance of the photoconductive layer is higher than the impedance of the light modulation member in the dark, and most of the applied voltage is distributed to the photoconductive layer.
At the time of light, it is necessary to lower the impedance of the light modulation member so that most of the applied voltage is distributed to the light modulation member. Therefore, the difference in impedance between the photoconductive layer and the light modulation member is reduced. Larger is more preferable. When a liquid crystal is used as the light modulating member, the impedance is usually in the range of 10 10 to 10 11 Ωcm. Furthermore, it has been reported that the dark resistance of a-Si: H used as a photoconductive layer can be minimized to 10 11 to 10 12 Ωcm by a small amount of boron doping [W. E. FIG. Spear a
nd P.N. G. FIG. LeComber: Phil. Mag.
33 (1976) 935]. Regarding this,
In Japanese Patent Laid-Open No. 199327, a-Si: H doped with 10 to 400 ppm of boron is used.
No. 67196 proposes to use a-Si: H doped with 0.1 to 10 ppm of boron.
Even in this case, in order to obtain a sufficient impedance ratio between the light modulating member layer and the photoconductive layer, the thickness of the photoconductive layer must be equal to or greater than that of the light modulating member layer.

【0004】また、従来のアモルファスシリコン系光導
電層を用いた空間光変調素子では、酸化錫あるいはイン
ジウムをドープした酸化錫等の金属酸化物よりなる透光
性電極上に光導電層をプラズマCVD法で形成するが、
その際に、成膜のための透光性電極を設けた基板の加熱
やプラズマによる温度上昇により、アモルファスシリコ
ンと基板との熱膨張率の違いから、光導電層の反りや剥
離が起こり、特にアモルファスシリコン光導電層が厚い
ほど問題は大きい。
In a conventional spatial light modulator using an amorphous silicon-based photoconductive layer, a photoconductive layer is formed on a light transmitting electrode made of a metal oxide such as tin oxide or tin oxide doped with indium by plasma CVD. Form by the method,
At that time, due to the difference in thermal expansion coefficient between the amorphous silicon and the substrate, the photoconductive layer is warped or peeled off due to the difference in thermal expansion coefficient between the amorphous silicon and the substrate due to heating of the substrate provided with the light-transmitting electrode for film formation and temperature rise due to plasma. The problem is greater as the amorphous silicon photoconductive layer is thicker.

【0005】これに対し特開平6−337434号公報
には、基板とアモルファスシリコン光導電層の間に熱膨
張を調整する部材を挿入し、反りを打ち消すことが提案
されているが、基板端部から起こるアモルファスシリコ
ン光導電層の剥離については言及されていない。
On the other hand, Japanese Patent Application Laid-Open No. 6-337434 proposes to insert a member for adjusting thermal expansion between the substrate and the amorphous silicon photoconductive layer to cancel the warpage. No mention is made of the separation of the amorphous silicon photoconductive layer resulting from the above.

【0006】また、特開平6−265865号公報に
は、スペーサーを設けるために、透明電極膜の形成され
た透明基板上に光導電体膜が形成されないようにマスク
をして成膜を行ない、膜厚の薄い液晶層が形成されるよ
うにした液晶空間光変調素子が記載されている。しかし
ながら、この場合は、スペーサと光導電体との膜厚の差
が液晶層の膜厚となるのであり、マスク近くの光導電体
の膜厚が不均一になりやすく、また、光導電体全体の反
りによって、素子全体では液晶層の膜厚にばらつきがで
るという問題がある。
Japanese Patent Application Laid-Open No. Hei 6-265865 discloses that in order to provide a spacer, a film is formed by using a mask so that a photoconductor film is not formed on a transparent substrate on which a transparent electrode film is formed. A liquid crystal spatial light modulator in which a thin liquid crystal layer is formed is described. However, in this case, the difference in thickness between the spacer and the photoconductor is the thickness of the liquid crystal layer, and the thickness of the photoconductor near the mask is likely to be non-uniform. There is a problem that the thickness of the liquid crystal layer varies in the entire device due to the warpage.

【0007】[0007]

【本発明が解決しようとする課題】本発明は、従来の技
術における上記のような問題を解決することを目的とし
てなされたものである。すなわち、本発明の目的は、光
変調部材層を良好に動作させることが可能なインピーダ
ンスが得られる厚さの水素化アモルファスシリコンを主
体とした光導電層を設けた高性能の空間光変調素子を提
供することにある。本発明の他の目的は、上記の高性能
の空間光変調素子を製造する方法を提供することにあ
る。
SUMMARY OF THE INVENTION The present invention has been made to solve the above-mentioned problems in the prior art. That is, an object of the present invention is to provide a high-performance spatial light modulation element provided with a photoconductive layer mainly composed of hydrogenated amorphous silicon having a thickness capable of operating the light modulation member layer satisfactorily. To provide. It is another object of the present invention to provide a method for manufacturing the above-described high-performance spatial light modulator.

【0008】[0008]

【課題を解決するための手段】本発明者は次の構成を採
用することにより、上記の課題を解決することに成功し
た。すなわち、本発明の光信号によって光変調部材層に
情報を書き込む空間光変調素子は、対向する1対の透光
性基板と、それぞれの透光性基板の表面に設けられた透
光性電極と、対向する透光性電極間に挟まれて設けられ
た水素化アモルファスシリコンを主体とする光導電層お
よび光変調部材層とを有するものであって、前記光導電
層が、厚さ2〜60μmであり、前記透光性基板の端部
全周を除く部分に設けられたことを特徴とする。
The present inventor has succeeded in solving the above-mentioned problems by adopting the following constitution. That is, the spatial light modulation element for writing information on the light modulation member layer by the optical signal of the present invention includes a pair of opposing translucent substrates, and a translucent electrode provided on the surface of each translucent substrate. A photoconductive layer mainly composed of hydrogenated amorphous silicon and a light modulating member layer provided between the opposing translucent electrodes, wherein the photoconductive layer has a thickness of 2 to 60 μm. Wherein the light-transmitting substrate is provided on a portion excluding the entire periphery of the end portion.

【0009】また、本発明の空間光変調素子の製造方法
は、1対の透光性基板の表面に透光性電極を形成し、一
方の透光性基板表面に形成された透光性電極上に、水素
化アモルファスシリコンを主体とする光導電層および光
変調部材層を順次形成し、光変調部材層の上に、他方の
透光性基板の表面に形成された透光性電極が接するよう
に重ねることよりなるものであって、透光性電極が形成
された透光性基板の上に水素化アモルファスシリコンを
主体とする光導電層を形成するに際し、透光性基板の端
部全周を覆うように着膜防止部材を重ねた状態で、膜厚
2〜60μmの光導電層を形成することを特徴とする。
In the method of manufacturing a spatial light modulator according to the present invention, a light-transmitting electrode is formed on a pair of light-transmitting substrates, and the light-transmitting electrode formed on one of the light-transmitting substrates is provided. A photoconductive layer mainly composed of hydrogenated amorphous silicon and a light modulating member layer are sequentially formed thereon, and the light transmitting member formed on the surface of the other light transmitting substrate is in contact with the light modulating member layer. When forming a photoconductive layer mainly composed of hydrogenated amorphous silicon on a light-transmitting substrate on which a light-transmitting electrode is formed, the entire edge of the light-transmitting substrate is formed. A photoconductive layer having a film thickness of 2 to 60 [mu] m is formed in a state where the deposition preventing member is stacked so as to cover the periphery.

【0010】本発明の空間光変調素子において、水素化
アモルファスシリコンを主体とする光導電層が形成され
る一方の透光性基板の熱膨張係数が50×10-7/℃以
下であることが好ましい。さらに、本発明の空間光変調
素子において、水素化アモルファスシリコンを主体とす
る光導電層が直接形成される一方の透光性基板上の透光
性電極の少なくとも光導電層と接する部分が酸化錫より
なることが好ましい。本発明の上記空間光変調素子は、
2つの透光性電極間に交流電圧を印加させて、光情報を
書き込むことによって記録させることができる。
In the spatial light modulator of the present invention, one of the transparent substrates on which the photoconductive layer mainly composed of hydrogenated amorphous silicon is formed has a thermal expansion coefficient of 50 × 10 −7 / ° C. or less. preferable. Further, in the spatial light modulator of the present invention, at least a portion of the light-transmitting electrode on one of the light-transmitting substrates on which the photoconductive layer mainly composed of hydrogenated amorphous silicon is in contact with the photoconductive layer is tin oxide. Preferably. The spatial light modulator of the present invention,
Recording can be performed by writing optical information by applying an AC voltage between the two translucent electrodes.

【0011】[0011]

【発明の実施の形態】以下、本発明の空間光変調素子に
ついて、図面を参照して詳細に説明する。図1は本発明
の空間光変調素子の一例を示すものであって、(a)は
平面図、(b)はそのx−x′線の模式的断面図であ
る。図において、空間光変調素子は、透光性基板10上
に設けた透光性電極20と、水素化アモルファスシリコ
ンを主体とする光導電層3と、誘電体ミラー等の光反射
層4を積層し、透光性基板11上に設けられた透光性電
極21とで光変調部材層5を挟み込んだ構造よりなって
いる。図中、透光性基板10から光導電層3までが光入
力部になっている。図2は、本発明の空間光変調素子の
他の一例の模式断面図であって、水素化アモルファスシ
リコンを主体とする光導電層が、第1の光導電層30と
第2の光導電層31からなっている。
DESCRIPTION OF THE PREFERRED EMBODIMENTS Hereinafter, a spatial light modulator according to the present invention will be described in detail with reference to the drawings. FIGS. 1A and 1B show an example of the spatial light modulator of the present invention, wherein FIG. 1A is a plan view, and FIG. 1B is a schematic sectional view taken along the line xx '. In the figure, the spatial light modulator has a light transmitting electrode 20 provided on a light transmitting substrate 10, a photoconductive layer 3 mainly composed of hydrogenated amorphous silicon, and a light reflecting layer 4 such as a dielectric mirror. The light modulating member layer 5 is sandwiched between the light modulating member layer 5 and the light transmitting electrode 21 provided on the light transmitting substrate 11. In the figure, a portion from the light transmitting substrate 10 to the photoconductive layer 3 is a light input portion. FIG. 2 is a schematic cross-sectional view of another example of the spatial light modulator of the present invention, in which a photoconductive layer mainly composed of hydrogenated amorphous silicon includes a first photoconductive layer 30 and a second photoconductive layer. It consists of 31.

【0012】本発明において、透光性基板は、書き込み
光または読み出し光に対し十分な透過率を有するガラ
ス、石英、サファイア等の透明な無機材料からなる板状
体であって、その熱膨張係数が50×10-7/℃以下で
あるものが好適に使用される。
In the present invention, the light-transmitting substrate is a plate made of a transparent inorganic material such as glass, quartz, sapphire or the like having a sufficient transmittance for writing light or reading light, and has a coefficient of thermal expansion. Is preferably 50 × 10 −7 / ° C. or less.

【0013】上記透光性基板上に設ける透光性電極とし
ては、酸化錫、酸化インジウム、インジウムをドープし
た酸化錫(ITO)、酸化亜鉛、酸化鉛、沃化銅等の透
明導電性材料を用い、蒸着、イオンプレーティング、ス
パッタリング等の方法により形成したもの、或いは、A
l、Ni、Au等の金属を蒸着スパッタリングにより半
透明になる程度に薄く形成したものが用いられる。これ
らの中でも、酸化錫、酸化インジウム、ITOは、透光
性と導電性の両立に優れているので好ましい。本発明に
おいては、水素化アモルファスシリコンを主体として光
導電層が直接形成される一方の透光性基板上の透光性電
極の少なくとも光導電層と接する部分が酸化錫よりなる
ものが好適に使用される。膜厚は、必要とされる透光性
と導電性に応じて0.01〜0.50μmの範囲で適宜
に設定される。
The light-transmitting electrode provided on the light-transmitting substrate is made of a transparent conductive material such as tin oxide, indium oxide, tin oxide (ITO) doped with indium, zinc oxide, lead oxide, and copper iodide. Used, formed by a method such as vapor deposition, ion plating, sputtering, or A
A metal such as l, Ni, Au, or the like formed thin enough to be translucent by vapor deposition sputtering is used. Among them, tin oxide, indium oxide, and ITO are preferable because they are excellent in both light transmittance and conductivity. In the present invention, it is preferable that at least a portion of the light-transmitting electrode on one of the light-transmitting substrates on which the photoconductive layer is directly formed mainly of hydrogenated amorphous silicon and which is in contact with the photoconductive layer is made of tin oxide. Is done. The film thickness is appropriately set in the range of 0.01 to 0.50 μm according to the required light transmittance and conductivity.

【0014】光導電層は、少なくとも水素化アモルファ
スシリコンから構成されるものであって、グロー放電
法、ECR(Electron cyclotron
resonance)法等により成膜して形成すること
ができる。その形成に際して、ダングリングボンド終端
用の元素、例えば、水素或いは水素の他にハロゲンを含
有させるのが好ましく、水素及びハロゲンの含有量は3
〜40原子%の範囲であるのが好ましい。本発明におい
ては、光導電層の構成材料は、特に水素化アモルファス
シリコン(a−Si:H)であることが好ましい。ま
た、光導電層には、導電性を制御する不純物元素とし
て、第III 族元素または第V族元素を含有させることが
好ましい。その添加量は、空間光変調素子の印加電圧の
極性、あるいは必要な分光感度によって決定され、0.
001〜100ppmの範囲で用いられる。水素化アモ
ルファスシリコンを主体とする光導電層には、暗抵抗の
向上、明抵抗の低減、感度の向上等の目的で、さらに、
窒素、炭素、酸素等の元素を添加することが可能であ
る。この場合には1〜1000ppmの範囲で含有させ
る。また、この光導電層には、ゲルマニウム及び/また
は錫を含有させることもできる。光導電層の膜厚は1〜
100μmの範囲が好ましく、特に2〜60μmの範囲
が適している。なお、光導電層は電荷発生層と電荷輸送
層との二層で構成されていてもよい。
The photoconductive layer is made of at least hydrogenated amorphous silicon, and is formed by a glow discharge method, ECR (Electron Cyclotron).
(resonance) method or the like. At the time of the formation, it is preferable to contain a halogen in addition to an element for terminating a dangling bond, for example, hydrogen or hydrogen.
It is preferably in the range of 4040 at%. In the present invention, the constituent material of the photoconductive layer is particularly preferably hydrogenated amorphous silicon (a-Si: H). The photoconductive layer preferably contains a group III element or a group V element as an impurity element for controlling conductivity. The amount of addition is determined by the polarity of the voltage applied to the spatial light modulator or the required spectral sensitivity.
It is used in the range of 001 to 100 ppm. The photoconductive layer mainly composed of hydrogenated amorphous silicon has, for the purpose of improving dark resistance, reducing light resistance, improving sensitivity, etc.,
Elements such as nitrogen, carbon, and oxygen can be added. In this case, it is contained in the range of 1 to 1000 ppm. The photoconductive layer can also contain germanium and / or tin. The thickness of the photoconductive layer is 1 to
A range of 100 μm is preferred, and a range of 2 to 60 μm is particularly suitable. The photoconductive layer may be composed of two layers, a charge generation layer and a charge transport layer.

【0015】光変調部材層としては、液晶膜を使用する
ことができる。液晶膜は、液晶や高分子膜に液晶を分散
させた高分子−液晶複合膜、または高分子膜に液晶を重
合させた高分子液晶膜が使用される。液晶としては、ネ
マティックタイプ、コレステリックタイプ、スメクティ
ックタイプ、強誘電タイプ等の一般的な表示材料として
使用されている種々のものが使用可能である。具体的に
は、ビフェニル系、フェニルベンゾエート系、シクロヘ
キシルベンゼン系、アゾキシベンゼン系、アゾベンゼン
系、アゾメチン系、ターフェニル系、ビフェニルベンゾ
エート系、シクロヘキシルビフェニル系、フェニルピリ
ミジン系、シクロヘキシルピリミジン系、コレステロー
ル系等の各種液晶化合物があげられる。これらの液晶
は、単一構成である必要はなく、複数の成分から構成さ
れていてもよい。高分子−液晶複合膜の場合、液晶を分
散する高分子膜としては、ポリエステル樹脂、ポリカー
ボネート樹脂、ポリアミド樹脂、アクリル樹脂等の高分
子材料が使用され、これらの高分子材料中に、スメクテ
ィックタイプ或いはネマティックタイプ等の液晶を分散
させることによって、高分子−液晶複合膜が得られる。
これら液晶層の膜厚は、1〜100μmの範囲が好まし
い。
As the light modulating member layer, a liquid crystal film can be used. As the liquid crystal film, a polymer-liquid crystal composite film in which liquid crystal is dispersed in liquid crystal or a polymer film, or a polymer liquid crystal film in which liquid crystal is polymerized in a polymer film is used. As the liquid crystal, various liquid crystals used as general display materials such as a nematic type, a cholesteric type, a smectic type and a ferroelectric type can be used. Specifically, biphenyl, phenylbenzoate, cyclohexylbenzene, azoxybenzene, azobenzene, azomethine, terphenyl, biphenylbenzoate, cyclohexylbiphenyl, phenylpyrimidine, cyclohexylpyrimidine, cholesterol, etc. Of various liquid crystal compounds. These liquid crystals need not have a single configuration, but may be composed of a plurality of components. In the case of a polymer-liquid crystal composite film, a polymer material such as a polyester resin, a polycarbonate resin, a polyamide resin, and an acrylic resin is used as the polymer film for dispersing liquid crystal. Among these polymer materials, a smectic type or A polymer-liquid crystal composite film can be obtained by dispersing a liquid crystal such as a nematic type.
The thickness of these liquid crystal layers is preferably in the range of 1 to 100 μm.

【0016】本発明の空間光変調素子においては、光導
電層と光変調部材層の間に光反射層を設けてもよい。光
反射層としては誘電体の多層膜を用いることができる。
誘電体としては、Si、Geの高屈折率材料やSi
2 、TiO2 、ZnO2 等を繰り返し交互に積層した
ものが用いられる。プラズマCVD法によるa−Si:
Hやa−SiGe:H、a−SiCx:H、a−SiN
x:H、a−SiOx:H等を用いることもできる。
In the spatial light modulator of the present invention, a light reflection layer may be provided between the photoconductive layer and the light modulation member layer. As the light reflection layer, a dielectric multilayer film can be used.
As the dielectric, Si, Ge high refractive index material or Si
A layer in which O 2 , TiO 2 , ZnO 2, etc. are repeatedly laminated alternately is used. A-Si by plasma CVD:
H and a-SiGe: H, a-SiCx: H, a-SiN
x: H, a-SiOx: H or the like can also be used.

【0017】本発明の空間光変調素子においては、光導
電層と光変調部材層の間に光吸収層を設けてもよい。光
吸収層はカーボンブラック等の光吸収性顔料を、アクリ
ル系樹脂、ポリイミド系またはポリアミド系等の光重合
性樹脂、或いはエポキシ樹脂またはメラミン樹脂等の熱
硬化性樹脂に分散させた塗布液を塗布した後、光の照射
および/または加熱によって形成することができる。光
吸収層は光吸収性顔料の含有量に応じて光透過率及び比
抵抗が各々変化するが、本発明の場合、使用する入力光
波長において、光透過率0.5%以下、比抵抗106 Ω
cm以上であることが望ましい。またグロー放電を用い
て形成されたアモルファスカーボン膜を使用することも
できる。これらの吸収層の膜厚は、使用する波長によっ
て調整されるが、一般に0.1〜100μmの範囲が好
ましい。上記光反射層を設ける場合は、反射層と光導電
層との間に光吸収層を設けるのが好ましい。また、透光
性電極と接しない透光性基板の表面には、基板表面での
反射を防ぐ目的で、反射防止層を設けてもよい。反射防
止層としては、MgF2 等を蒸着することによって形成
することができる。
In the spatial light modulator of the present invention, a light absorbing layer may be provided between the photoconductive layer and the light modulating member layer. The light absorbing layer is coated with a coating liquid in which a light absorbing pigment such as carbon black is dispersed in a photopolymerizable resin such as an acrylic resin, a polyimide or a polyamide, or a thermosetting resin such as an epoxy resin or a melamine resin. After that, it can be formed by light irradiation and / or heating. In the light absorbing layer, the light transmittance and the specific resistance change depending on the content of the light absorbing pigment. In the case of the present invention, at the input light wavelength used, the light transmittance is 0.5% or less and the specific resistance is 10%. 6 Ω
cm or more. Also, an amorphous carbon film formed by using glow discharge can be used. The thickness of these absorbing layers is adjusted depending on the wavelength used, but is generally preferably in the range of 0.1 to 100 μm. When the light reflecting layer is provided, a light absorbing layer is preferably provided between the reflecting layer and the photoconductive layer. Further, an antireflection layer may be provided on the surface of the light-transmitting substrate which is not in contact with the light-transmitting electrode, for the purpose of preventing reflection on the substrate surface. The anti-reflection layer can be formed by evaporating MgF 2 or the like.

【0018】次に、本発明の空間光変調素子を製造する
に際して、水素化アモルファスシリコンを主体として光
導電層を形成する際に使用する着膜防止部材について説
明する。図3は、本発明の空間光変調素子を製造するに
際して、着膜防止部材を用いる場合を説明する図であっ
て、(a)は透光性基板の端部全周を覆うように着膜防
止部材を重ねた状態の平面図、(b)はx−x′線の模
式的断面図である。透光性基板10上には、図示しない
透光性電極が形成されており、透光性基板10の端部全
周を覆う着膜防止部材71が基板保持部材70の上に設
けられている。着膜防止部材71としては、光導電層形
成時の温度で変形せず、磁化しにくい金属やセラミック
等が使用でき、加工性や繰り返し使用時の耐久性から、
本発明においては、SUS304またはSUS316か
らなるものが好適に使用される。
Next, a description will be given of a deposition preventing member used for forming a photoconductive layer mainly of hydrogenated amorphous silicon when manufacturing the spatial light modulator of the present invention. FIGS. 3A and 3B are diagrams illustrating a case where a film-preventing member is used in manufacturing the spatial light modulator of the present invention. FIG. FIG. 3B is a plan view of the state in which the prevention members are stacked, and FIG. A light-transmitting electrode (not shown) is formed on the light-transmitting substrate 10, and a deposition preventing member 71 covering the entire periphery of the end of the light-transmitting substrate 10 is provided on the substrate holding member 70. . As the deposition prevention member 71, a metal or ceramic that does not deform at the temperature at the time of forming the photoconductive layer and is hardly magnetized can be used. From the viewpoint of workability and durability during repeated use,
In the present invention, those made of SUS304 or SUS316 are preferably used.

【0019】図3(c)、図3(d)および図3(e)
は、本発明において、着膜防止部材を用いる場合の他の
具体例を説明する図であって、着膜防止部材を設けた場
合の模式的断面図である。透光性基板10の端部全周を
より確実に覆うため、図3(c)では、着膜防止部材7
2へ押しつける基板押さえ板73を使用しており、図3
(d)では、基板押さえバネ74を使用しており、図3
(e)においてはクサビ状の基板押さえ板75を併用し
ている。
FIGS. 3 (c), 3 (d) and 3 (e)
FIG. 4 is a view for explaining another specific example in the case where a film-forming preventing member is used in the present invention, and is a schematic cross-sectional view when a film-forming preventing member is provided. In order to cover the entire periphery of the end portion of the translucent substrate 10 more reliably, in FIG.
2 is used.
3D, a substrate holding spring 74 is used, and FIG.
In (e), a wedge-shaped substrate holding plate 75 is also used.

【0020】上記着膜防止部材で全周を覆う透光性基板
端部の範囲は、透光性基板端部の面取りがある場合にも
十分に光導電層が形成されていない部分を得るため、少
なくとも端部から1.0mm程度は必要であり、また、
透光性基板に対し光導電層が着膜した有効面積を得るた
め、多くとも5.0mm程度までが好ましい。
The range of the end portion of the light-transmitting substrate which covers the entire periphery with the above-mentioned deposition preventing member is to obtain a portion where the photoconductive layer is not sufficiently formed even when the end portion of the light-transmitting substrate is chamfered. , At least about 1.0 mm from the end is required,
In order to obtain an effective area in which the photoconductive layer is deposited on the light-transmitting substrate, the thickness is preferably at most about 5.0 mm.

【0021】次に、本発明の空間光変調素子を用いて光
情報を書き込み、画像再生を行う場合について説明す
る。空間光変調素子を作動する場合、対向する2つの透
光性間に、交流電圧を印加する。その状態で光導電層側
から書き込み光を入射すると、露光された領域では、水
素化アモルファスシリコンを主体とした光導電層のイン
ピーダンスが低下し、供給されている交流電圧が光変調
部材層の液晶に印加され、それによって液晶分子の配向
を変化させる。一方、光の当たらない領域では水素化ア
モルファスシリコンのインピーダンスが変化せず、液晶
層の液晶分子は初期配向の状態を維持する。その結果、
入射光に応じた画像が、液晶層に形成されることにな
る。
Next, a case where optical information is written using the spatial light modulator of the present invention to reproduce an image will be described. When operating the spatial light modulator, an AC voltage is applied between two opposing light-transmitting elements. When writing light is incident from the photoconductive layer side in this state, the impedance of the photoconductive layer mainly composed of hydrogenated amorphous silicon decreases in the exposed area, and the supplied AC voltage changes the liquid crystal of the light modulating member layer. To change the orientation of the liquid crystal molecules. On the other hand, the impedance of the hydrogenated amorphous silicon does not change in a region where light is not applied, and the liquid crystal molecules of the liquid crystal layer maintain the initial alignment state. as a result,
An image corresponding to the incident light is formed on the liquid crystal layer.

【0022】図4は、上記の書き込み及び画像再生を説
明するためのものであって、本発明の空間光変調素子
は、光導電層3、光反射層4、光変調部材層5が対向配
置された透光性基板10及び11の上に各々設けられた
透光性電極20および21の間に挟まれた構造を有して
いる。光書き込みは、透光性電極20及び21の間に、
交流電源9より所定の交流電圧を印加し、図4の左側か
ら任意の空間パターンを有する光信号を、書き込み光9
1として入射することによって行われる。また、書き込
まれた空間光変調素子について再生を行う場合には、両
方の透光性電極間に所定の交流電圧を印加した状態で、
図4の右側より読み出し光92を入射させ、光反射層4
で反射された光93をスクリーン上に投影する等の方法
によって読み出すことができる。
FIG. 4 is a diagram for explaining the above-mentioned writing and image reproduction. In the spatial light modulator of the present invention, the photoconductive layer 3, the light reflecting layer 4, and the light modulating member layer 5 are arranged to face each other. It has a structure sandwiched between light-transmitting electrodes 20 and 21 provided on the light-transmitting substrates 10 and 11, respectively. Optical writing is performed between the translucent electrodes 20 and 21.
A predetermined AC voltage is applied from the AC power supply 9 and an optical signal having an arbitrary spatial pattern is written from the left side of FIG.
This is performed by inputting as 1. In the case where reproduction is performed on the written spatial light modulation element, a state in which a predetermined AC voltage is applied between both translucent electrodes,
The reading light 92 is incident from the right side of FIG.
Can be read out by a method such as projecting the light 93 reflected on the screen onto a screen.

【0023】[0023]

【実施例】本発明における実施例1〜6及び比較例1〜
5の空間光変調素子について、透光性基板と透光性電極
及び光導電層の作製条件、光入力部の外観性状と暗抵抗
及び明抵抗比を表1および表2にまとめて示す。表1の
透光性基板の材質の欄における「アルカリ」は、一般に
ソーダライムガラスと呼ばれるもので、松浪硝子工業社
製#0050ガラスである。同じく「無アルカリ」は一
般に耐熱ガラスと呼ばれる硼珪酸ガラスであって、ショ
ット社製テンパックスガラスである。透光性基板の熱膨
張係数(単位は×10-7/℃)は、アルカリが87で、
無アルカリが32、石英が5である。なお、表2の光入
力部外観性状の欄には、水素化アモルファスシリコンを
主体とする光導電層の剥離の有無(剥離した場合は何時
剥離したか)と50mm×50mm角の透光性基板の中
央部30mmでの反り量を示す。
EXAMPLES Examples 1 to 6 and Comparative Examples 1 to 6 of the present invention
Table 1 and Table 2 collectively show the manufacturing conditions of the light-transmitting substrate, the light-transmitting electrode, and the photoconductive layer, the appearance of the light input portion, the dark resistance, and the light resistance ratio for the spatial light modulator of No. 5. “Alkali” in the column of the material of the light-transmitting substrate in Table 1 is generally called soda-lime glass, and is # 0050 glass manufactured by Matsunami Glass Co., Ltd. Similarly, “alkali-free” is a borosilicate glass generally called heat-resistant glass, and is a Tempax glass manufactured by Schott. The coefficient of thermal expansion (unit: × 10 -7 / ° C) of the translucent substrate is 87 for alkali,
No alkali is 32 and quartz is 5. In addition, in the column of the appearance properties of the light input portion in Table 2, the presence or absence of peeling of the photoconductive layer mainly composed of hydrogenated amorphous silicon (when peeled, when peeled) and the light-transmitting substrate of 50 mm × 50 mm square are shown. Shows the amount of warpage at a central portion of 30 mm.

【0024】まず、本発明の空間光変調素子の製造方法
について、図1の場合を例にとって説明する。 実施例1 透光性基板10として、無アルカリガラス(テンパック
ス50×50×3.3mm厚)を用い、その表面に蒸着
法により、まずITO膜を0.2μmの厚みになるよう
に形成し、次いでSnO2 膜を0.05μmの厚みにな
るように形成して、透光性電極20を作製した。透光性
電極が形成された基板を、純水及び温純水と界面活性剤
により超音波振動を用いて洗浄し、乾燥した。反応容器
内に、図3(b)に示す着膜防止部材71を用いて透光
性電極20が表面に露出するよう固定し、反応容器内を
排気した後、シランガス、水素ガス及びジボランガスの
混合ガスを導入した。その混合ガスをグロー放電分解す
ることにより、透光性電極20の上に光導電層3を形成
して光入力部を作製した。なお、着膜防止部材により被
覆される基板端部全周の範囲は端部から5mmであり、
また、光導電層3の成膜条件は以下の通りであった。 100%シランガス流量:200cm3 /分 100%水素ガス流量:150cm3 /分 水素希釈ジボランガス(1ppm)流量:50cm3
分 反応容器内圧:133.3Pa 基板加熱温度:250℃ 放電電力密度:0.06W/cm3 放電時間:180分
First, a method of manufacturing a spatial light modulator according to the present invention will be described with reference to FIG. Example 1 Alkali-free glass (Tempax 50 × 50 × 3.3 mm thick) was used as the light-transmitting substrate 10, and an ITO film was first formed on the surface thereof to a thickness of 0.2 μm by vapor deposition. Then, a SnO 2 film was formed so as to have a thickness of 0.05 μm, and the translucent electrode 20 was manufactured. The substrate on which the translucent electrode was formed was washed with pure water and warm pure water and a surfactant using ultrasonic vibration and dried. The translucent electrode 20 is fixed in the reaction vessel so as to expose the surface using the film-preventing member 71 shown in FIG. 3B, and after exhausting the inside of the reaction vessel, a mixture of silane gas, hydrogen gas and diborane gas is mixed. Gas was introduced. The mixed gas was decomposed by glow discharge to form a photoconductive layer 3 on the translucent electrode 20 to produce a light input section. In addition, the range of the entire periphery of the substrate end covered with the film deposition preventing member is 5 mm from the end,
The conditions for forming the photoconductive layer 3 were as follows. 100% silane gas: 200 cm 3 / min of 100% hydrogen gas flow rate: 150 cm 3 / min of hydrogen diluted diborane gas (1 ppm) flow: 50 cm 3 /
Min Reaction vessel internal pressure: 133.3 Pa Substrate heating temperature: 250 ° C. Discharge power density: 0.06 W / cm 3 Discharge time: 180 minutes

【0025】成膜後、反応容器内を冷却し大気圧に戻し
て、光入力部を取り出したところ、基板端部には光導電
層3の着膜はなく、経時での剥離のない安定な膜厚10
μmの光導電層3が形成されていた。同時に作製した別
の光入力部に、Au電極を蒸着して抵抗を測定したとこ
ろ、暗時で1×1011Ωcm、明時で8×108 Ωcm
であることが確認された。
After the film was formed, the inside of the reaction vessel was cooled and returned to the atmospheric pressure, and the light input portion was taken out. As a result, there was no deposition of the photoconductive layer 3 on the end of the substrate, and a stable film without peeling over time was obtained. Film thickness 10
A μm photoconductive layer 3 was formed. An Au electrode was vapor-deposited on another light input part produced at the same time, and the resistance was measured. The resistance was 1 × 10 11 Ωcm in the dark and 8 × 10 8 Ωcm in the light.
Was confirmed.

【0026】上記のようにして得た光導電層3の上に、
アクリル系の樹脂にカーボンブラックを分散させたカー
ボン系の塗料をスピナーを用いて塗布し、露光により光
重合させた後、220℃で1時間焼結することによっ
て、膜厚約1μm、比抵抗1010Ωcmで、可視域の透
過率が約0.1%の光吸収部を形成した。さらに形成さ
れた光吸収部上に、電子ビーム蒸着法によって、光反射
部として結晶SiとSiO2 膜を交互に10nmづつ1
5層積層した多層膜を形成し、光反射層4とした。さら
に、光変調部材層5として、散乱型の液晶複合膜よりな
る液晶層を形成した。すなわち、n−ブチルアクリレー
トと1,6−ヘキシレンジアクリレートを3:1の割合
で混合したモノマーとネマティック液晶(E7、Mer
ck社製)とを15:85の割合で混合し、紫外線重合
開始剤(ダロキュア1173、チバガイギー社製)2重
量%を添加して得た塗布液を用い、上記光反射層4上に
塗布した後、紫外線照射を行って膜厚10μmの散乱型
の液晶複合膜を形成し、光変調部材層5とした。
On the photoconductive layer 3 obtained as described above,
A carbon-based paint in which carbon black is dispersed in an acrylic resin is applied using a spinner, photopolymerized by exposure, and then sintered at 220 ° C. for 1 hour to obtain a film thickness of about 1 μm and a specific resistance of 10 μm. At 10 Ωcm, a light absorbing portion having a transmittance in the visible region of about 0.1% was formed. Further, on the formed light absorbing portion, crystalline Si and SiO 2 films were alternately formed as light reflecting portions by 10 nm by electron beam evaporation.
A light reflecting layer 4 was formed by forming a multilayer film in which five layers were stacked. Further, a liquid crystal layer made of a scattering type liquid crystal composite film was formed as the light modulation member layer 5. That is, a monomer obtained by mixing n-butyl acrylate and 1,6-hexylene diacrylate in a ratio of 3: 1 and a nematic liquid crystal (E7, Mer
ck) was applied at a ratio of 15:85, and 2% by weight of an ultraviolet polymerization initiator (Darocur 1173, manufactured by Ciba Geigy) was added. Thereafter, ultraviolet light irradiation was performed to form a scattering-type liquid crystal composite film having a thickness of 10 μm.

【0027】形成された光変調部材層5上に、透光性基
板11の上に蒸着法により膜厚0.1μmのITO膜を
形成して透光性電極21とした第2のガラス基板を、光
変調部材層5と透光性電極21が接するよう重ねて空間
光変調素子を得た。
On the light modulation member layer 5 thus formed, an ITO film having a thickness of 0.1 μm was formed on the light transmitting substrate 11 by vapor deposition to form a second glass substrate which was used as the light transmitting electrode 21. Then, the light modulating member layer 5 and the translucent electrode 21 were overlapped with each other to obtain a spatial light modulating element.

【0028】上記の構造を有する光書き込み型空間光変
調素子の対向する透光性電極20及び21の間に、30
Vで1KHzの交流電圧を印加し、波長660nm、露
光量0.5μJ/cm2 の条件で画像書き込みを行っ
た。ハロゲンランプの白色光により画像の読み出しを行
ったところ、解像度が50lp/mmであり、かつ良好
なコントラストの画像を得ることができた。
Between the opposing light transmitting electrodes 20 and 21 of the optical writing type spatial light modulator having the above structure, 30
An image was written under the conditions of a wavelength of 660 nm and an exposure of 0.5 μJ / cm 2 by applying an alternating voltage of 1 KHz at V. When an image was read out using white light from a halogen lamp, an image having a resolution of 50 lp / mm and a good contrast could be obtained.

【0029】実施例2 着膜防止部材として、図3(c)に示すような基板押さ
え板73を併用した。また、基板端部全周の被覆範囲を
端部から2mmとし、放電時間を450分とした以外
は、実施例1と同様にして光入力部を作製し、同様にし
て空間光変調素子を得た。この場合、光入力部の基板端
部全周にわたり光導電層3の着膜はなく、経時で剥離の
ない安定な膜厚25μmの光導電層3が得られた。同時
に作製した別の光入力部にAu電極を蒸着して抵抗を測
定したところ、暗時で1×1012Ωcm、明時で3×1
8 Ωcmであることが確認された。
Example 2 A substrate pressing plate 73 as shown in FIG. Further, a light input portion was produced in the same manner as in Example 1, except that the covering area around the entire edge of the substrate was 2 mm from the edge, and the discharge time was 450 minutes, and a spatial light modulator was obtained in the same manner. Was. In this case, there was no deposition of the photoconductive layer 3 over the entire periphery of the substrate end portion of the light input portion, and the photoconductive layer 3 having a stable thickness of 25 μm, which did not peel off with time, was obtained. When an Au electrode was vapor-deposited on another light input part produced at the same time and the resistance was measured, the resistance was 1 × 10 12 Ωcm in the dark and 3 × 1 in the light.
It is a 0 8 Ωcm has been confirmed.

【0030】得られた光書き込み型空間光変調素子の対
向する透光性電極の間に、30Vで1KHzの交流電圧
を印加し、波長660nm、露光量0.6μJ/cm2
の条件で画像書き込みを行った。ハロゲンランプの白色
光により画像の読み出しを行ったところ、解像度が50
lp/mmであり、かつ良好なコントラストの画像を得
ることができた。
An AC voltage of 30 V and 1 KHz is applied between the opposing light-transmitting electrodes of the obtained light-writing type spatial light modulator, at a wavelength of 660 nm and an exposure of 0.6 μJ / cm 2.
Image writing was performed under the following conditions. When the image was read out using white light from a halogen lamp, the resolution was 50
lp / mm and an image with good contrast could be obtained.

【0031】実施例3 着膜防止部材として、図3(d)に示すような基板押さ
えバネ74を併用してた。また、基板端部全周の被覆範
囲を端部から1mmとした。放電時間を360分とした
以外は、実施例1と同様にして光入力部を作製し、同様
にして空間光変調素子を得た。この場合、光入力部の基
板端部全周にわたり光導電層3の着膜はなく、経時で剥
離のない安定な膜厚20μmの光導電層3が得られた。
同時に作製した別の光入力部にAu電極を蒸着して抵抗
を測定したところ、暗時で3×1012Ωcm、明時で1
×108 Ωcmであることが確認された。
Example 3 As a film deposition preventing member, a substrate pressing spring 74 as shown in FIG. Further, the coating range of the entire periphery of the end of the substrate was 1 mm from the end. An optical input unit was manufactured in the same manner as in Example 1 except that the discharge time was 360 minutes, and a spatial light modulator was obtained in the same manner. In this case, there was no deposition of the photoconductive layer 3 over the entire periphery of the substrate end portion of the light input portion, and the photoconductive layer 3 having a stable film thickness of 20 μm which did not peel off with time was obtained.
When an Au electrode was deposited on another light input part produced at the same time and the resistance was measured, it was 3 × 10 12 Ωcm in the dark and 1 in the light.
× 10 8 Ωcm was confirmed.

【0032】得られた光書き込み型空間光変調素子の対
向する透光性電極の間に、30Vで1KHzの交流電圧
を印加し、波長660nm、露光量0.5μJ/cm2
の条件で画像書き込みを行った。ハロゲンランプの白色
光により画像の読み出しを行ったところ、解像度が50
lp/mmであり、かつ良好なコントラストの画像を得
ることができた。
An AC voltage of 30 V and 1 KHz was applied between opposing light-transmitting electrodes of the obtained light-writing type spatial light modulator, at a wavelength of 660 nm and an exposure of 0.5 μJ / cm 2.
Image writing was performed under the following conditions. When the image was read out using white light from a halogen lamp, the resolution was 50
lp / mm and an image with good contrast could be obtained.

【0033】実施例4 着膜防止部材として、図3(e)に示すようなクサビ状
の基板押さえ板75を併用した。また、基板端部全周の
被覆範囲を端部から3mmとした。放電時間を360分
とした以外は、実施例1と同様にして光入力部を作製
し、同様にして空間光変調素子を得た。この場合、光入
力部の基板端部全周にわたり光導電層3の着膜はなく、
経時で剥離のない安定な膜厚20μmの光導電層3が得
られた。同時に作製した別の光入力部にAu電極を蒸着
して抵抗を測定したところ、暗時で2×1012Ωcm、
明時で1×108 Ωcmであることが確認された。
Example 4 A wedge-shaped substrate pressing plate 75 as shown in FIG. In addition, the coating range around the entire edge of the substrate was 3 mm from the edge. An optical input unit was manufactured in the same manner as in Example 1 except that the discharge time was 360 minutes, and a spatial light modulator was obtained in the same manner. In this case, there is no deposition of the photoconductive layer 3 over the entire periphery of the substrate end portion of the light input portion.
As a result, a stable photoconductive layer 3 having a thickness of 20 μm without peeling over time was obtained. When an Au electrode was deposited on another light input part produced at the same time and the resistance was measured, the resistance was 2 × 10 12 Ωcm in the dark,
It was confirmed that it was 1 × 10 8 Ωcm at the time of light.

【0034】得られた光書き込み型空間光変調素子の対
向する透光性電極の間に、30Vで1KHzの交流電圧
を印加し、波長660nm、露光量0.5μJ/cm2
の条件で画像書き込みを行った。ハロゲンランプの白色
光により画像の読み出しを行ったところ、解像度が50
lp/mmであり、かつ良好なコントラストの画像を得
ることができた。
An alternating voltage of 30 V and 1 KHz is applied between the opposing light-transmitting electrodes of the obtained light-writing type spatial light modulator, at a wavelength of 660 nm and an exposure of 0.5 μJ / cm 2.
Image writing was performed under the following conditions. When the image was read out using white light from a halogen lamp, the resolution was 50
lp / mm and an image with good contrast could be obtained.

【0035】実施例5 透光性基板10として、石英(50×50×3.0mm
厚)を用いた以外は、実施例2と同様にして光入力部を
作製し、同様にして空間光変調素子を得た。この場合、
光入力部の基板端部全周にわたり光導電層3の着膜はな
く、経時で剥離のない安定な膜厚25μmの光導電層3
が得られた。同時に作製した別の光入力部にAu電極を
蒸着して抵抗を測定したところ、暗時で2×1012Ωc
m、明時で2×108 Ωcmであることが確認された。
Example 5 A quartz (50 × 50 × 3.0 mm) was used as the light-transmitting substrate 10.
An optical input part was produced in the same manner as in Example 2 except that the thickness was used, and a spatial light modulator was obtained in the same manner. in this case,
There is no deposition of the photoconductive layer 3 over the entire periphery of the substrate end of the light input portion, and the photoconductive layer 3 has a stable thickness of 25 μm and does not peel off over time.
was gotten. When an Au electrode was deposited on another light input part produced at the same time and the resistance was measured, the resistance was 2 × 10 12 Ωc in the dark.
m and 2 × 10 8 Ωcm at the time of light.

【0036】得られた光書き込み型空間光変調素子の対
向する透光性電極の間に、30Vで1KHzの交流電圧
を印加し、波長660nm、露光量0.5μJ/cm2
の条件で画像書き込みを行った。ハロゲンランプの白色
光により画像の読み出しを行ったところ、解像度が50
lp/mmであり、かつ良好なコントラストの画像を得
ることができた。
An alternating voltage of 30 V and 1 KHz is applied between the opposing light-transmitting electrodes of the obtained light-writing type spatial light modulator, at a wavelength of 660 nm and an exposure of 0.5 μJ / cm 2.
Image writing was performed under the following conditions. When the image was read out using white light from a halogen lamp, the resolution was 50
lp / mm and an image with good contrast could be obtained.

【0037】次に、光導電層が2層の水素化アモルファ
スシリコンで構成される本発明の空間光変調素子の作製
方法について、図2の場合を例にとって説明する。 実施例6 透光性基板10として、無アルカリガラス(テンパック
ス50×50×3.3mm厚)を用い、その表面に蒸着
法によりSnO2 膜を0.3μmの厚みになるように形
成して、透光性電極20を作製した。透光性電極が形成
された基板を、純水及び温純水と界面活性剤を用い、超
音波振動によって洗浄し、乾燥した。反応容器内に透光
性電極20が表面に露出するように図3(c)に示すよ
うな着膜防止部材72を用い、基板押さえ板73を併用
して基板端部全周の被覆範囲が端部から2mmになるよ
うに固定した。次いで、反応容器内を排気した後、第1
の光導電層30の成膜のためシランガス、水素ガス及び
ジボランガスの混合ガスを導入した。その混合ガスを以
下の成膜条件でグロー放電分解することにより、透光性
電極20の上に第1の光導電層30を形成した。
Next, a method of manufacturing the spatial light modulator of the present invention in which the photoconductive layer is composed of two layers of hydrogenated amorphous silicon will be described with reference to FIG. 2 as an example. Example 6 A non-alkali glass (Tempax 50 × 50 × 3.3 mm thick) was used as the light-transmitting substrate 10, and a SnO 2 film was formed to a thickness of 0.3 μm on its surface by a vapor deposition method. The light-transmitting electrode 20 was produced. The substrate on which the translucent electrodes were formed was washed with ultrasonic vibration using pure water, warm pure water and a surfactant, and dried. Using a film-preventing member 72 as shown in FIG. 3 (c) so that the translucent electrode 20 is exposed on the surface in the reaction vessel, and using the substrate pressing plate 73 together, the covering area around the entire edge of the substrate is reduced. It fixed so that it might become 2 mm from an edge part. Next, after exhausting the inside of the reaction vessel, the first
A mixed gas of silane gas, hydrogen gas and diborane gas was introduced for forming the photoconductive layer 30 of FIG. The first photoconductive layer 30 was formed on the translucent electrode 20 by glow discharge decomposition of the mixed gas under the following film forming conditions.

【0038】 100%シランガス流量:200cm3 /分 100%水素ガス流量:180cm3 /分 水素希釈ジボランガス(100ppm)流量:20cm
3 /分 反応容器内圧:133.3Pa 基板加熱温度:250℃ 放電電力密度:0.06W/cm3 放電時間:5分
100% silane gas flow rate: 200 cm 3 / min 100% hydrogen gas flow rate: 180 cm 3 / min Hydrogen diluted diborane gas (100 ppm) flow rate: 20 cm
3 / min Internal pressure of reaction vessel: 133.3 Pa Substrate heating temperature: 250 ° C. Discharge power density: 0.06 W / cm 3 Discharge time: 5 minutes

【0039】次いで、反応容器内を一度排気した後、第
2の光導電層31の成膜のためシランガス、水素ガス及
びジボランガスの混合ガスを導入した。その混合ガスを
以下の成膜条件でグロー放電分解することにより、第1
の光導電層30の上に第2の光導電層31を形成し、光
入力部を作成した。
Next, after the inside of the reaction vessel was evacuated once, a mixed gas of silane gas, hydrogen gas and diborane gas was introduced for forming the second photoconductive layer 31. The mixed gas is decomposed by glow discharge under the following film forming conditions, whereby the first gas is decomposed.
A second photoconductive layer 31 was formed on the photoconductive layer 30 of No. 1 to form a light input section.

【0040】 100%シランガス流量:200cm3 /分 100%水素ガス流量:150cm3 /分 水素希釈ジボランガス(1ppm)流量:50cm3
分 反応容器内圧:133.3Pa 基板加熱温度:250℃ 放電電力密度:0.06W/cm3 放電時間:360分
[0040] 100% silane gas: 200 cm 3 / min of 100% hydrogen gas flow rate: 150 cm 3 / min of hydrogen diluted diborane gas (1 ppm) flow: 50 cm 3 /
Min Reaction vessel internal pressure: 133.3 Pa Substrate heating temperature: 250 ° C. Discharge power density: 0.06 W / cm 3 Discharge time: 360 minutes

【0041】成膜後、反応容器内を冷却し大気圧に戻し
て光入力部を取り出したところ、基板端部には光導電層
30及び31の着膜はなく、経時での剥離のない安定な
膜厚20μmの光導電層3が得られた。同時に作製した
別の光入力部にAu電極を蒸着して抵抗を測定したとこ
ろ、暗時で5×1012Ωcm、明時で2×108 Ωcm
であることが確認された。
After the film formation, the inside of the reaction vessel was cooled and returned to the atmospheric pressure, and the light input section was taken out. As a result, there was no deposition of the photoconductive layers 30 and 31 on the substrate end, and there was no delamination over time. A photoconductive layer 3 having a proper film thickness of 20 μm was obtained. When an Au electrode was vapor-deposited on another light input part produced at the same time and the resistance was measured, the resistance was 5 × 10 12 Ωcm in the dark and 2 × 10 8 Ωcm in the light.
Was confirmed.

【0042】得られた光入力部を用い、実施例1と同様
にして空間光変調素子を作製した。得られた光書き込み
型空間光変調素子の対向する透光性電極の間に、30V
で1KHzの交流電圧を印加し、波長660nm、露光
量0.4μJ/cm2 の条件で画像書き込みを行った。
ハロゲンランプの白色光により画像の読み出しを行った
ところ、解像度が50lp/mmであり、かつ良好なコ
ントラストの画像を得ることができた。
Using the obtained light input section, a spatial light modulator was manufactured in the same manner as in Example 1. A voltage of 30 V is applied between the opposing translucent electrodes of the obtained optical writing type spatial light modulator.
, An image was written under the conditions of a wavelength of 660 nm and an exposure of 0.4 μJ / cm 2 .
When an image was read out using white light from a halogen lamp, an image having a resolution of 50 lp / mm and a good contrast could be obtained.

【0043】比較例1 透光性基板10として、アルカリガラス(50×50×
2.8mm厚)を用い、蒸着法で0.2μm厚のITO
膜を形成し、透光性電極20を作製した。基板保持部材
として、図5に示されるものを用い、放電時間を90分
とした以外は、実施例1と同様にして光導電層3を形成
し、光入力部を作製した。なお、図5において、(a)
は透光性基板10を基板保持部材80に載置した状態の
平面図、(b)はx−x′線の模式的断面図である。反
応容器から光入力部を取り出したところ、基板端部から
光導電層3が剥離しはじめ、1日後には殆どの光導電層
3は剥離してしまった。同時にアルミニウム基板に着膜
させた光導電層3の膜厚は5μmであった。
Comparative Example 1 As the translucent substrate 10, an alkali glass (50 × 50 ×
(2.8 mm thick) and a 0.2 μm thick ITO
A film was formed, and the translucent electrode 20 was manufactured. The substrate shown in FIG. 5 was used as the substrate holding member, and the photoconductive layer 3 was formed in the same manner as in Example 1 except that the discharge time was set to 90 minutes, thereby producing a light input portion. In FIG. 5, (a)
FIG. 2 is a plan view showing a state in which the translucent substrate 10 is placed on the substrate holding member 80, and FIG. 2B is a schematic cross-sectional view taken along line xx ′. When the light input portion was taken out of the reaction vessel, the photoconductive layer 3 started to peel off from the end of the substrate, and almost one day later, the photoconductive layer 3 was peeled off. At the same time, the thickness of the photoconductive layer 3 deposited on the aluminum substrate was 5 μm.

【0044】比較例2 透光性基板10として、無アルカリガラス(50×50
×3.3mm厚)を用い、蒸着法で0.2μm厚のIT
O膜を形成し、透光性電極20とした。基板保持部材と
して、図6に示されるものを用い、放電時間を90分と
した以外は、実施例1と同様にして、膜厚5μmの光導
電層3を形成し、同様にして空間光変調素子を作製し
た。同時に作製した別の光入力部にAu電極を蒸着して
抵抗を測定したところ、暗時で5×109 Ωcm、明時
で9×106 Ωcmであることが確認された。なお、図
6において、(a)は、透光性基板10を基板保持部材
80に載置し、基板の対向する2辺を保持する基板保持
部材81で固定した状態の平面図、(b)はx−x′線
の模式的断面図である。この空間光変調素子について書
き込みを行ったところ、暗抵抗が低く、明暗抵抗比が小
さいために、暗時に液晶層にも電圧が印加されてしまい
動作しなかった。
Comparative Example 2 A non-alkali glass (50 × 50) was used as the light-transmitting substrate 10.
× 3.3 mm thick) and a 0.2 μm thick IT
An O film was formed, and the light-transmitting electrode 20 was obtained. As a substrate holding member, a photoconductive layer 3 having a thickness of 5 μm was formed in the same manner as in Example 1, except that the discharge time was 90 minutes, and spatial light modulation was performed in the same manner as in Example 1. An element was manufactured. At the same time, an Au electrode was vapor-deposited on another light input part, and the resistance was measured. As a result, it was confirmed that the resistance was 5 × 10 9 Ωcm in the dark and 9 × 10 6 Ωcm in the light. In FIG. 6, (a) is a plan view of a state in which the translucent substrate 10 is placed on the substrate holding member 80 and fixed by the substrate holding member 81 holding two opposing sides of the substrate, and (b). Is a schematic sectional view taken along line xx '. When writing was performed on this spatial light modulator, the dark resistance was low and the light-to-dark resistance ratio was low, so that a voltage was also applied to the liquid crystal layer in the dark and no operation was performed.

【0045】比較例3 放電時間を180分とした以外は、比較例2と同様にし
て光導電層3を形成したが、成膜中に反応容器内に光導
電層3が剥離しはじめ、大部分の光導電層3は剥離して
しまった。同時にアルミニウム基板に着膜させた光導電
層3の膜厚は10μmであった。
Comparative Example 3 The photoconductive layer 3 was formed in the same manner as in Comparative Example 2 except that the discharge time was changed to 180 minutes. A portion of the photoconductive layer 3 was peeled off. At the same time, the thickness of the photoconductive layer 3 deposited on the aluminum substrate was 10 μm.

【0046】比較例4 透光性基板10として、石英(50×50×3.0mm
厚)とした以外は、比較例2と同様にして、膜厚5μm
の光導電層3を形成し、光入力部を作製した。同時に作
製した別の光入力部にAu電極を蒸着して抵抗を測定し
たところ、暗時で8×109 Ωcm、明時で1×107
Ωcmであることが確認された。得られた光入力部を用
い、図7に示す断面構造の空間光変調素子を作製した。
すなわち、図7に示すスペーサー6の間に光変調部材層
5を充填して形成した光反射層4の上と透光性電極21
の上に図示しない液晶配向層を設けた後、スペーサー粒
子と紫外線硬化型樹脂を混ぜた塗布液を液晶注入口を残
して反射層4上の液晶配向層の外周部に塗布し、他の液
晶配向層を対向させて張り合わせ、紫外線を照射して樹
脂を硬化させスペーサー6とした。次いでスペーサー6
でできた空隙を排気し、液晶注入口よりTN液晶を注入
し、液晶注入口を封止した。なお、他の符号は図1と同
様である。この空間光変調素子について書き込みを行っ
たところ、コントラストが小さく動作しなかった。
Comparative Example 4 As the translucent substrate 10, quartz (50 × 50 × 3.0 mm) was used.
Thickness), except that the thickness was 5 μm.
Was formed, and a light input section was produced. When an Au electrode was vapor-deposited on another light input part produced at the same time and the resistance was measured, the resistance was 8 × 10 9 Ωcm in the dark and 1 × 10 7 in the light.
Ωcm was confirmed. Using the obtained light input section, a spatial light modulator having a sectional structure shown in FIG. 7 was manufactured.
That is, the upper surface of the light reflection layer 4 formed by filling the light modulation member layer 5 between the spacers 6 shown in FIG.
After a liquid crystal alignment layer (not shown) is provided on the reflective layer 4, a coating liquid containing a mixture of spacer particles and an ultraviolet curable resin is applied to the outer periphery of the liquid crystal alignment layer on the reflective layer 4 except for the liquid crystal injection port. The alignment layers were bonded to face each other, and the resin was cured by irradiating ultraviolet rays to form spacers 6. Then spacer 6
The cavities formed in the above were exhausted, TN liquid crystal was injected from the liquid crystal injection port, and the liquid crystal injection port was sealed. Other symbols are the same as those in FIG. When writing was performed on this spatial light modulator, the contrast was small and it did not operate.

【0047】比較例5 放電時間を180分とした以外は、比較例4と同様にし
て光導電層3を形成したところ、反応容器から光入力部
を取り出した後に光導電層3が剥離しはじめ、大部分の
光導電層3は剥離してしまった。同時にアルミニウム基
板に着膜させた光導電層3の膜厚は10μmであった。
Comparative Example 5 When the photoconductive layer 3 was formed in the same manner as in Comparative Example 4 except that the discharge time was changed to 180 minutes, the photoconductive layer 3 began to peel after the light input portion was taken out of the reaction vessel. Most of the photoconductive layer 3 was peeled off. At the same time, the thickness of the photoconductive layer 3 deposited on the aluminum substrate was 10 μm.

【0048】[0048]

【表1】 [Table 1]

【0049】[0049]

【表2】 [Table 2]

【0050】[0050]

【発明の効果】本発明の空間光変調素子は、光変調部材
層を良好に動作させることが可能なインピーダンスが得
られる厚さの水素化アモルファスシリコンを主体とした
光導電層が、透光性基板の端部全周を除く部分に設けら
れているから、光導電層が剥離することがなく、高性能
であって、高解像度で良好なコントラストの画像を得る
ことができる。また、本発明の製造方法によれば、一方
の透光性基板上の透光性電極上に水素化アモルファスシ
リコンを主体とした光導電層を形成する時点において、
透光性基板の端部全周にわたって光導電層が形成されな
いように、透光性基板の端部全周を覆う着膜防止部材を
使用することによって、光変調部材層を良好に動作させ
ることができるインピーダンスが得られる厚さまで光導
電層を良好に着膜することが可能となり、また、透光性
基板上端部の微細な傷やクラックに起因すると考えられ
る光導電層の剥離を防ぎ、光入力部の歩留まりを向上さ
せ、素子の低コスト化を図ることができる。
According to the spatial light modulation element of the present invention, the photoconductive layer mainly composed of hydrogenated amorphous silicon having a thickness capable of obtaining an impedance capable of operating the light modulation member layer satisfactorily has a light transmitting property. Since the photoconductive layer is provided at a portion other than the entire periphery of the edge of the substrate, the photoconductive layer does not peel off, and a high-performance, high-resolution, high-contrast image can be obtained. Further, according to the manufacturing method of the present invention, at the time of forming a photoconductive layer mainly composed of hydrogenated amorphous silicon on the translucent electrode on one translucent substrate,
The light modulating member layer operates well by using a film-preventing member that covers the entire edge of the light-transmitting substrate so that the photoconductive layer is not formed over the entire edge of the light-transmitting substrate. The thickness of the photoconductive layer can be satisfactorily deposited up to a thickness at which the impedance can be obtained, and the photoconductive layer is prevented from peeling, which is considered to be caused by minute scratches or cracks at the upper end of the light-transmitting substrate. The yield of the input section can be improved, and the cost of the element can be reduced.

【図面の簡単な説明】[Brief description of the drawings]

【図1】 本発明の空間光変調素子の一例を示すもので
あって、(a)は平面図、(b)は模式的断面図であ
る。
FIG. 1 shows an example of a spatial light modulator according to the present invention, wherein (a) is a plan view and (b) is a schematic sectional view.

【図2】 本発明の空間光変調素子の他の一例の模式的
断面図である。
FIG. 2 is a schematic sectional view of another example of the spatial light modulator of the present invention.

【図3】 本発明の空間光変調素子を製造するに際し
て、着膜防止部材を用いる場合を説明する説明図であっ
て、(a)は平面図、(b)〜(e)は、種々の実施形
態を説明するための模式的断面図である。
FIGS. 3A and 3B are explanatory views illustrating a case where a deposition preventing member is used in manufacturing the spatial light modulator of the present invention, wherein FIG. 3A is a plan view, and FIGS. It is a typical sectional view for explaining an embodiment.

【図4】 本発明の空間光変調素子を用いて光書き込み
及び読み出しを行う方法を説明するための説明図であ
る。
FIG. 4 is an explanatory diagram for explaining a method of performing optical writing and reading using the spatial light modulator of the present invention.

【図5】 比較例1における空間光変調素子の製造に用
いる基板保持部材の構造を示す模式図であって(a)は
平面図、(b)は模式的断面図である。
5A and 5B are schematic diagrams illustrating a structure of a substrate holding member used for manufacturing a spatial light modulation element in Comparative Example 1, wherein FIG. 5A is a plan view and FIG. 5B is a schematic cross-sectional view.

【図6】 比較例2における空間光変調素子の製造に用
いる基板保持部材の構造を示す模式図であって(a)は
平面図、(b)は模式的断面図である。
6A and 6B are schematic diagrams illustrating a structure of a substrate holding member used for manufacturing a spatial light modulation element in Comparative Example 2, wherein FIG. 6A is a plan view and FIG. 6B is a schematic cross-sectional view.

【図7】 比較例4の空間光変調素子の模式的断面図で
ある。
FIG. 7 is a schematic sectional view of a spatial light modulator of Comparative Example 4.

【符号の説明】[Explanation of symbols]

10、11…透光性基板、20、21…透光性電極、3
…光導電層、30…第1の光導電層、31…第2の光導
電層、4…光反射層、5…光変調部材層、6…スペーサ
ー、70…基板保持部材、71…基板端部の全周を覆う
着膜防止部材、72…着膜防止部材、73…基板押さえ
板、74…基板押さえバネ、75…クサビ状の基板押さ
え板、80…基板保持部材、81…基板の対向する2辺
を保持する基板保持部材、9…交流電源、91…書き込
み光、92…読み出し光、93…反射された光。
10, 11: translucent substrate, 20, 21: translucent electrode, 3
... Photoconductive layer, 30 ... First photoconductive layer, 31 ... Second photoconductive layer, 4 ... Light reflecting layer, 5 ... Light modulating member layer, 6 ... Spacer, 70 ... Substrate holding member, 71 ... Substrate edge A film-preventing member covering the entire periphery of the portion, 72: a film-preventing member, 73: a substrate pressing plate, 74: a substrate pressing spring, 75: a wedge-shaped substrate pressing plate, 80: a substrate holding member, 81: facing the substrate 9: an AC power supply, 91: writing light, 92: reading light, 93: reflected light.

Claims (2)

【特許請求の範囲】[Claims] 【請求項1】 対向する1対の透光性基板と、それぞれ
の透光性基板の表面に設けられた透光性電極と、対向す
る透光性電極間に挟まれて設けられた水素化アモルファ
スシリコンを主体とする光導電層および光変調部材層と
を有する空間光変調素子において、前記光導電層が、厚
さ2〜60μmであり、前記透光性基板の端部全周を除
く部分に設けられたことを特徴とする空間光変調素子。
1. A pair of opposing light-transmitting substrates, a light-transmitting electrode provided on a surface of each light-transmitting substrate, and hydrogenation provided between the opposing light-transmitting electrodes. In a spatial light modulator having a photoconductive layer mainly composed of amorphous silicon and a light modulating member layer, the photoconductive layer has a thickness of 2 to 60 μm, and a portion excluding the entire periphery of the end portion of the light transmitting substrate. A spatial light modulation device provided in the device.
【請求項2】 1対の透光性基板の表面に透光性電極を
形成し、一方の透光性基板表面に形成された透光性電極
上に、水素化アモルファスシリコンを主体とする光導電
層および光変調部材層を順次形成し、光変調部材層の上
に、他方の透光性基板の表面に形成された透光性電極が
接するように重ねることよりなる空間光変調素子の製造
方法において、透光性電極が形成された透光性基板の上
に水素化アモルファスシリコンを主体とする光導電層を
形成するに際し、透光性基板の端部全周を覆うように着
膜防止部材を重ねた状態で、膜厚2〜60μmの光導電
層を形成することを特徴とする空間光変調素子の製造方
法。
2. A light-transmitting electrode is formed on the surface of a pair of light-transmitting substrates, and light mainly composed of hydrogenated amorphous silicon is formed on the light-transmitting electrode formed on one of the light-transmitting substrates. Manufacturing of a spatial light modulating element comprising sequentially forming a conductive layer and a light modulating member layer, and overlapping the light modulating member layer so that the light transmitting electrode formed on the surface of the other light transmitting substrate is in contact with the conductive layer. In the method, when a photoconductive layer mainly composed of hydrogenated amorphous silicon is formed on a light-transmitting substrate on which a light-transmitting electrode is formed, film deposition is prevented so as to cover the entire edge of the light-transmitting substrate. A method for manufacturing a spatial light modulator, comprising forming a photoconductive layer having a thickness of 2 to 60 μm with the members stacked.
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