JPH10160756A - 電磁式回転センサの試験装置 - Google Patents
電磁式回転センサの試験装置Info
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- JPH10160756A JPH10160756A JP33301096A JP33301096A JPH10160756A JP H10160756 A JPH10160756 A JP H10160756A JP 33301096 A JP33301096 A JP 33301096A JP 33301096 A JP33301096 A JP 33301096A JP H10160756 A JPH10160756 A JP H10160756A
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Abstract
(57)【要約】
【課題】 電磁式回転センサの試験装置の装置全体のサ
イズが縮小し、占有スペースが小さくできるようにする
こと。 【解決手段】 試験対象となる電磁式回転センサ１０を
保持する固定台４１と、固定台４１に対向して設けら
れ、電磁式回転センサ１０に対して連続的に変化する磁
界を与える静的な磁界調整装置５０とを備えて構成し
た。この場合、磁界調整装置５０は、交流電源５１と、
交流電源５１から入力される電流の周波数に応じて変化
する磁界を発生させるコイル５３とを有し、また交流電
源５１は、磁界調整装置５０のコイル５３に供給する電
流の周波数を変更する調整手段（５１ａ）を備える。さ
らに、調整用ねじ４２に嵌合する長孔４０ｃを備えたＬ
字状のフレーム４０により電磁式回転センサ１０に対向
して磁界調整装置５０を配置し、調整用ねじ４２の締め
付け位置の設定により電磁式回転センサ１０と磁界調整
装置５０との各ポール１２、５２間の対向距離を適正と
なるように調整する構成とするのが望ましい。
イズが縮小し、占有スペースが小さくできるようにする
こと。 【解決手段】 試験対象となる電磁式回転センサ１０を
保持する固定台４１と、固定台４１に対向して設けら
れ、電磁式回転センサ１０に対して連続的に変化する磁
界を与える静的な磁界調整装置５０とを備えて構成し
た。この場合、磁界調整装置５０は、交流電源５１と、
交流電源５１から入力される電流の周波数に応じて変化
する磁界を発生させるコイル５３とを有し、また交流電
源５１は、磁界調整装置５０のコイル５３に供給する電
流の周波数を変更する調整手段（５１ａ）を備える。さ
らに、調整用ねじ４２に嵌合する長孔４０ｃを備えたＬ
字状のフレーム４０により電磁式回転センサ１０に対向
して磁界調整装置５０を配置し、調整用ねじ４２の締め
付け位置の設定により電磁式回転センサ１０と磁界調整
装置５０との各ポール１２、５２間の対向距離を適正と
なるように調整する構成とするのが望ましい。
Description
【０００１】
【発明の属する技術分野】本発明は、比較的温度が高い
環境で使用される駆動装置の回転数を測定するのに有用
な電磁式回転センサの試験装置の改良に関する。
環境で使用される駆動装置の回転数を測定するのに有用
な電磁式回転センサの試験装置の改良に関する。
【０００２】
【従来の技術】従来の技術では、図２に示されるよう
に、電磁式回転センサ１０は、永久磁石１１上に固定さ
れたポール１２と、このポール１２の周囲に巻回された
コイル１３とから構成される検出部１０ａを備えてお
り、この検出部１０ａを強磁性体でできた歯車２０の周
囲に固定して使用される。歯車２０を回転させると、歯
車２０の歯の先端２１と谷の部分２２とが交互に検出部
１０ａに対向し、その結果、コイル１３に誘導による交
流電圧が発生する。この交流電圧の周波数を測定するこ
とにより歯車２０の回転速度を検出することができる。
に、電磁式回転センサ１０は、永久磁石１１上に固定さ
れたポール１２と、このポール１２の周囲に巻回された
コイル１３とから構成される検出部１０ａを備えてお
り、この検出部１０ａを強磁性体でできた歯車２０の周
囲に固定して使用される。歯車２０を回転させると、歯
車２０の歯の先端２１と谷の部分２２とが交互に検出部
１０ａに対向し、その結果、コイル１３に誘導による交
流電圧が発生する。この交流電圧の周波数を測定するこ
とにより歯車２０の回転速度を検出することができる。
【０００３】従来の電磁式回転センサの試験装置は、こ
の電磁式回転センサが実装された際と同一の環境を実現
するため、図２、図３に示されるように、試験対象とな
る電磁式回転センサ１０が固定される供試品固定台３０
に対向して、モータ３１により駆動される強磁性体の歯
車２０を配置して構成されている。電磁式回転センサ１
０のコイル１３の両出力端子は、負荷抵抗３３に接続さ
れている。コイル１３に発生した電流は、負荷抵抗３３
の両端子間の電圧レベルの変化として検出され、その変
化がオシロスコープ３４に表示される。
の電磁式回転センサが実装された際と同一の環境を実現
するため、図２、図３に示されるように、試験対象とな
る電磁式回転センサ１０が固定される供試品固定台３０
に対向して、モータ３１により駆動される強磁性体の歯
車２０を配置して構成されている。電磁式回転センサ１
０のコイル１３の両出力端子は、負荷抵抗３３に接続さ
れている。コイル１３に発生した電流は、負荷抵抗３３
の両端子間の電圧レベルの変化として検出され、その変
化がオシロスコープ３４に表示される。
【０００４】歯車２０の回転は、別個に設けられたモニ
タとしての回転センサ３５により検出されて回転数表示
器３６に表示される。検査員は、回転数表示器３６に表
示される回転数を確認しつつモータ制御装置３７をコン
トロールしてモータ３１の回転数を調整し、オシロスコ
ープ３４に表示される電圧レベルの変化が所定の許容範
囲に入るか否かを判定する。なお、このモニタとして使
用される回転センサ３５としては、例えば、パルスピッ
クアップを用いれば良い。
タとしての回転センサ３５により検出されて回転数表示
器３６に表示される。検査員は、回転数表示器３６に表
示される回転数を確認しつつモータ制御装置３７をコン
トロールしてモータ３１の回転数を調整し、オシロスコ
ープ３４に表示される電圧レベルの変化が所定の許容範
囲に入るか否かを判定する。なお、このモニタとして使
用される回転センサ３５としては、例えば、パルスピッ
クアップを用いれば良い。
【０００５】
【発明が解決しようとする課題】しかしながら、上述し
た従来の電磁式回転センサの試験装置は、モータ３１、
歯車２０という可動部を有すると共に、回転数表示器３
６、供試品固定台３０が一体化した構成となるから、試
験を行う際に所定の占有スペースを必要とする。従っ
て、供試品である電磁式回転センサの耐熱特性を試験す
る場合には、装置全体が入るだけの容量を持つ大きな温
度槽を用意しなければならず、小さい容量の温度槽の場
合には、温度試験が困難となり、その対策が求められて
いた。
た従来の電磁式回転センサの試験装置は、モータ３１、
歯車２０という可動部を有すると共に、回転数表示器３
６、供試品固定台３０が一体化した構成となるから、試
験を行う際に所定の占有スペースを必要とする。従っ
て、供試品である電磁式回転センサの耐熱特性を試験す
る場合には、装置全体が入るだけの容量を持つ大きな温
度槽を用意しなければならず、小さい容量の温度槽の場
合には、温度試験が困難となり、その対策が求められて
いた。
【０００６】本発明は、上述した従来の技術の課題（問
題点）を解決し、装置全体のサイズを小さくすることに
より占有スペースを小さくすることができる電磁式回転
センサの試験装置を提供することを目的とする。
題点）を解決し、装置全体のサイズを小さくすることに
より占有スペースを小さくすることができる電磁式回転
センサの試験装置を提供することを目的とする。
【０００７】
【課題を解決するための手段】本発明に係る電磁式回転
センサの試験装置は、上記課題を解決するために、従来
のモータ、歯車から構成される可動部を、静的な磁界調
整手段に置き換えたことを特徴とする。即ち、本発明の
電磁式回転センサの試験装置は、試験対象となる電磁式
回転センサを保持する固定台と、この固定台に対向して
設けられ、電磁式回転センサに対して連続的に変化する
磁界を与える静的な磁界調整手段とを備えて構成した。
センサの試験装置は、上記課題を解決するために、従来
のモータ、歯車から構成される可動部を、静的な磁界調
整手段に置き換えたことを特徴とする。即ち、本発明の
電磁式回転センサの試験装置は、試験対象となる電磁式
回転センサを保持する固定台と、この固定台に対向して
設けられ、電磁式回転センサに対して連続的に変化する
磁界を与える静的な磁界調整手段とを備えて構成した。
【０００８】この場合、磁界調整手段としては、交流電
源と、この交流電源から入力される電流の周波数に応じ
て変化する磁界を発生させるコイルとを有する回路を用
いることができる。また、交流電源は、前記コイルに供
給する電流の周波数を変更する調整手段を備える。ま
た、電磁式回転センサから出力される信号は、測定手段
により測定される。さらに、Ｌ字状のフレームを備え、
このフレームの垂直部に磁界調整装置を前記電磁式回転
センサに対向して配置されるように取り付けると共に、
上記フレームの水平部の左方端には長孔を設け、この長
孔を介して調整用ねじの締め付け位置を変え、前記電磁
式回転センサと磁界調整装置との各ポール間の対向距離
を調整自在にして上記フレームの水平部を固定台に取り
付ける構成とするのが望ましい。
源と、この交流電源から入力される電流の周波数に応じ
て変化する磁界を発生させるコイルとを有する回路を用
いることができる。また、交流電源は、前記コイルに供
給する電流の周波数を変更する調整手段を備える。ま
た、電磁式回転センサから出力される信号は、測定手段
により測定される。さらに、Ｌ字状のフレームを備え、
このフレームの垂直部に磁界調整装置を前記電磁式回転
センサに対向して配置されるように取り付けると共に、
上記フレームの水平部の左方端には長孔を設け、この長
孔を介して調整用ねじの締め付け位置を変え、前記電磁
式回転センサと磁界調整装置との各ポール間の対向距離
を調整自在にして上記フレームの水平部を固定台に取り
付ける構成とするのが望ましい。
【０００９】
【発明の実施の形態】以下、本発明に係る電磁式回転セ
ンサの試験装置の一実施の形態を説明する。図１は、本
発明の実施の形態に係る試験装置を示す正面図である。
図中、従来例と同一の部材には図２、図３と同一の符号
を付し、その説明を省略する。
ンサの試験装置の一実施の形態を説明する。図１は、本
発明の実施の形態に係る試験装置を示す正面図である。
図中、従来例と同一の部材には図２、図３と同一の符号
を付し、その説明を省略する。
【００１０】図１において、試験装置は、Ｌ字状のフレ
ーム４０を備え、フレーム４０の水平部４０ａの一端
は、試験対象となる電磁式回転センサ１０を保持する固
定台４１に後述のように取り付けられている。一方、フ
レーム４０の垂直部４０ｂには、磁界調整装置５０が固
着され、この磁界調整装置５０のポール５２と電磁式回
転センサ１０のポール１２とが対向配置されるように構
成する。なお、フレーム４０の水平部４０ａの左方端に
は長孔４０ｃが形成されており、電磁式回転センサ１０
と磁界調整装置５０との各ポール１２、５２の対向距離
を調整できるよう図中、左右方向に移動可能とされてお
り、調整用ねじ４２の締め付け位置により前記対向距離
が適正となるように調整できるようになっている。
ーム４０を備え、フレーム４０の水平部４０ａの一端
は、試験対象となる電磁式回転センサ１０を保持する固
定台４１に後述のように取り付けられている。一方、フ
レーム４０の垂直部４０ｂには、磁界調整装置５０が固
着され、この磁界調整装置５０のポール５２と電磁式回
転センサ１０のポール１２とが対向配置されるように構
成する。なお、フレーム４０の水平部４０ａの左方端に
は長孔４０ｃが形成されており、電磁式回転センサ１０
と磁界調整装置５０との各ポール１２、５２の対向距離
を調整できるよう図中、左右方向に移動可能とされてお
り、調整用ねじ４２の締め付け位置により前記対向距離
が適正となるように調整できるようになっている。
【００１１】磁界調整装置５０は、連続的に変化する磁
界を与える静的な構成の手段より成り、例えば、図示の
ように交流電源５１と、この交流電源５１に接続されて
磁界調整装置５０のポール５２の周囲に巻回されたコイ
ル５３とから成る回路により構成される。交流電源５１
は、発生電流の周波数を調整する調整回路５１ａを備え
ており、磁界調整装置５０のポール５２とコイル５３と
から構成される磁気回路は、電磁誘導作用により、入力
される電流の周波数に応じて変化する磁界を発生させ
る。
界を与える静的な構成の手段より成り、例えば、図示の
ように交流電源５１と、この交流電源５１に接続されて
磁界調整装置５０のポール５２の周囲に巻回されたコイ
ル５３とから成る回路により構成される。交流電源５１
は、発生電流の周波数を調整する調整回路５１ａを備え
ており、磁界調整装置５０のポール５２とコイル５３と
から構成される磁気回路は、電磁誘導作用により、入力
される電流の周波数に応じて変化する磁界を発生させ
る。
【００１２】電磁式回転センサ１０は、永久磁石１１上
に固定された電磁式回転センサ１０のポール１２を備え
ると共に、このポール１２の周囲に巻回されたコイル１
３から構成される検出部１０ａを備えている。この検出
部１０ａを磁界調整装置５０に対向させて固定台４１に
固定することにより、磁界調整装置５０のポール５２と
電磁式回転センサ１０のポール１２とにより磁路が形成
される。電磁式回転センサ１０は、上下２本の固定ねじ
４３により固定台４１に取り付けられる。固定ねじ４３
が挿通される挿通穴の周囲には、電極となる導体のブッ
シュ１４が填め込まれており、電磁式回転センサ１０の
コイル１３の両端子は、上下のブッシュ１４にそれぞれ
接続されている。
に固定された電磁式回転センサ１０のポール１２を備え
ると共に、このポール１２の周囲に巻回されたコイル１
３から構成される検出部１０ａを備えている。この検出
部１０ａを磁界調整装置５０に対向させて固定台４１に
固定することにより、磁界調整装置５０のポール５２と
電磁式回転センサ１０のポール１２とにより磁路が形成
される。電磁式回転センサ１０は、上下２本の固定ねじ
４３により固定台４１に取り付けられる。固定ねじ４３
が挿通される挿通穴の周囲には、電極となる導体のブッ
シュ１４が填め込まれており、電磁式回転センサ１０の
コイル１３の両端子は、上下のブッシュ１４にそれぞれ
接続されている。
【００１３】磁界調整装置５０に交流電流を流すと、電
磁式回転センサ１０のポール１２に交番磁束が発生し、
この磁束の変化により電磁式回転センサ１０のコイル１
３に電流が誘起される。磁界調整装置５０のコイル５３
に交流電流を流すことによる電磁式回転センサ１０のポ
ール１２の磁束の変化は、歯車の回転により歯と谷とが
交互に対向することによる磁束の変化と等価である。即
ち、磁界調整装置５０に交流電流を供給した場合、電磁
式回転センサ１０のコイル１３からは、従来の試験装置
で歯車を回転させた場合と同様の電流の変化が検出され
る。また、磁界調整装置５０のコイル５３に供給される
交流電流の周波数は、従来の装置の歯車の回転数に相当
し、周波数を高くすると、歯車を早く回転させるのと同
様に電磁式回転センサ１０のコイル１３から出力させる
電圧レベルが大きくなる。
磁式回転センサ１０のポール１２に交番磁束が発生し、
この磁束の変化により電磁式回転センサ１０のコイル１
３に電流が誘起される。磁界調整装置５０のコイル５３
に交流電流を流すことによる電磁式回転センサ１０のポ
ール１２の磁束の変化は、歯車の回転により歯と谷とが
交互に対向することによる磁束の変化と等価である。即
ち、磁界調整装置５０に交流電流を供給した場合、電磁
式回転センサ１０のコイル１３からは、従来の試験装置
で歯車を回転させた場合と同様の電流の変化が検出され
る。また、磁界調整装置５０のコイル５３に供給される
交流電流の周波数は、従来の装置の歯車の回転数に相当
し、周波数を高くすると、歯車を早く回転させるのと同
様に電磁式回転センサ１０のコイル１３から出力させる
電圧レベルが大きくなる。
【００１４】電磁式回転センサ１０のブッシュ１４に接
続された導線４４は、端子台４５に配置された負荷抵抗
３３の両端に接続されている。負荷抵抗３３の両端に
は、測定手段としてのオシロスコープ３４が接続されて
いる。コイル１３に発生した電流は、負荷抵抗３３の両
端子間の電圧レベルの変化として検出され、その変化が
オシロスコープ３４に表示される。検査員は、調整回路
５１ａを適宜調整することにより磁界調整装置５０に供
給する交流電流の周波数を適宜調整し、オシロスコープ
３４に表示される電圧レベルの変化が所定の許容範囲に
入るか否かを判定する。
続された導線４４は、端子台４５に配置された負荷抵抗
３３の両端に接続されている。負荷抵抗３３の両端に
は、測定手段としてのオシロスコープ３４が接続されて
いる。コイル１３に発生した電流は、負荷抵抗３３の両
端子間の電圧レベルの変化として検出され、その変化が
オシロスコープ３４に表示される。検査員は、調整回路
５１ａを適宜調整することにより磁界調整装置５０に供
給する交流電流の周波数を適宜調整し、オシロスコープ
３４に表示される電圧レベルの変化が所定の許容範囲に
入るか否かを判定する。
【００１５】上記の構成によれば、磁界調整装置５０を
従来の歯車とモータとの組み合わせに代えて用いること
により、歯車を用いた従来の電磁式回転センサの試験装
置と同様の試験結果を得られるにも拘わらず、可動部分
のない省スペース型の電磁式回転センサの試験装置を実
現することができる。また、磁界調整装置５０に供給さ
れる交流電圧の周波数を変更することにより、従来の電
磁式回転センサの試験装置で歯車の回転数を変更するの
と同様の効果を得ることができる。
従来の歯車とモータとの組み合わせに代えて用いること
により、歯車を用いた従来の電磁式回転センサの試験装
置と同様の試験結果を得られるにも拘わらず、可動部分
のない省スペース型の電磁式回転センサの試験装置を実
現することができる。また、磁界調整装置５０に供給さ
れる交流電圧の周波数を変更することにより、従来の電
磁式回転センサの試験装置で歯車の回転数を変更するの
と同様の効果を得ることができる。
【００１６】
【発明の効果】以上説明したように、本発明によれば、
従来の歯車とモータとの組み合わせに代えて静的な磁界
調整装置を設けることにより、可動部分をなくして占有
スペースを小さくすることができる。従って、電磁式回
転センサの耐熱特性を試験する際にも、必要な温度槽の
サイズを従来より小さくすることができ、温度槽にかか
るコストの削減を図ることができる。このため、本発明
の試験装置は、耐熱性を要する環境で使用される電磁式
回転センサの試験装置として有用である。
従来の歯車とモータとの組み合わせに代えて静的な磁界
調整装置を設けることにより、可動部分をなくして占有
スペースを小さくすることができる。従って、電磁式回
転センサの耐熱特性を試験する際にも、必要な温度槽の
サイズを従来より小さくすることができ、温度槽にかか
るコストの削減を図ることができる。このため、本発明
の試験装置は、耐熱性を要する環境で使用される電磁式
回転センサの試験装置として有用である。
【００１７】また、磁界調整装置を交流電源とコイルと
から構成した場合には、必要となる電力が従来のモータ
を駆動するための電力より小さく抑えられ、かつ、モー
タ等の機械的要素が必要ないために装置のメンテナンス
が容易となる。
から構成した場合には、必要となる電力が従来のモータ
を駆動するための電力より小さく抑えられ、かつ、モー
タ等の機械的要素が必要ないために装置のメンテナンス
が容易となる。
【００１８】さらに、Ｌ字状のフレームを備え、このフ
レームの垂直部に磁界調整装置を前記電磁式回転センサ
に対向して配置されるように取り付けると共に、上記フ
レームの水平部の左方端には長孔を設け、この長孔を介
して調整用ねじの締め付け位置を変えることにより、前
記電磁式回転センサと磁界調整装置との各ポール間の対
向距離が適正となるように調整可能の構成とすれば、電
磁式回転センサと磁界調整装置との各ポール間の対向距
離を試験現場で容易に調整できるから試験の準備を短時
間に行うことができる。
レームの垂直部に磁界調整装置を前記電磁式回転センサ
に対向して配置されるように取り付けると共に、上記フ
レームの水平部の左方端には長孔を設け、この長孔を介
して調整用ねじの締め付け位置を変えることにより、前
記電磁式回転センサと磁界調整装置との各ポール間の対
向距離が適正となるように調整可能の構成とすれば、電
磁式回転センサと磁界調整装置との各ポール間の対向距
離を試験現場で容易に調整できるから試験の準備を短時
間に行うことができる。
【図１】本発明の一実施の形態に係る電磁式回転センサ
の試験装置を示す一部を切欠いて示した正面図である。
の試験装置を示す一部を切欠いて示した正面図である。
【図２】電磁式回転センサの検出原理を示す要部拡大断
面図である。
面図である。
【図３】従来の電磁式回転センサの試験装置を示す正面
図である。
図である。
１０：電磁式回転センサ(試験対象) １２：ポール ４０：Ｌ字状のフレーム ４０ａ：水平部 ４０ｂ：垂直部 ４０ｃ：長孔 ４１：固定台 ４２：調整用ねじ ５０：磁界調整装置 ５１：交流電源 ５１ａ：調整回路 ５２：ポール ５３：コイル
Claims (4)
- 【請求項１】 試験対象となる電磁式回転センサを保持
する固定台と、該固定台に対向して設けられ、前記電磁
式回転センサに対して連続的に変化する磁界を与える静
的な磁界調整手段とを備えることを特徴とする電磁式回
転センサの試験装置。 - 【請求項２】 前記磁界調整手段は、交流電源と、該交
流電源から入力される電流の周波数に応じて変化する磁
界を発生させるコイルとを有することを特徴とする請求
項１記載の電磁式回転センサの試験装置。 - 【請求項３】 前記交流電源は、前記コイルに供給する
電流の周波数を変更する調整手段を備えることを特徴と
する請求項２記載の電磁式回転センサの試験装置。 - 【請求項４】 Ｌ字状のフレームを備え、このフレーム
の垂直部に磁界調整装置を前記電磁式回転センサに対向
して配置されるように取り付けると共に、上記フレーム
の水平部の左方端には長孔を設け、この長孔を介して調
整用ねじの締め付け位置を変え、前記電磁式回転センサ
と磁界調整装置との各ポール間の対向距離を調整自在に
して上記フレームの水平部を固定台に取り付けるように
したことを特徴とする請求項１乃至３のいずれかに記載
の電磁式回転センサの試験装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP33301096A JPH10160756A (ja) | 1996-11-29 | 1996-11-29 | 電磁式回転センサの試験装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP33301096A JPH10160756A (ja) | 1996-11-29 | 1996-11-29 | 電磁式回転センサの試験装置 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH10160756A true JPH10160756A (ja) | 1998-06-19 |
Family
ID=18261285
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP33301096A Pending JPH10160756A (ja) | 1996-11-29 | 1996-11-29 | 電磁式回転センサの試験装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH10160756A (ja) |
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| WO2012042252A1 (en) * | 2010-09-28 | 2012-04-05 | Synatel Instrumentation Limited | Sensor arrangement to determine rotational speeds |
-
1996
- 1996-11-29 JP JP33301096A patent/JPH10160756A/ja active Pending
Cited By (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| WO2012042252A1 (en) * | 2010-09-28 | 2012-04-05 | Synatel Instrumentation Limited | Sensor arrangement to determine rotational speeds |
| GB2489390A (en) * | 2010-09-28 | 2012-10-03 | Synatel Instrumentation Ltd | Sensor arrangement |
| US8947073B2 (en) | 2010-09-28 | 2015-02-03 | Synatel Instrumentation Limited | Sensor arrangement to determine rotational speeds |
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