JPH10147879A - Plasma treatment system - Google Patents

Plasma treatment system

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JPH10147879A
JPH10147879A JP8320886A JP32088696A JPH10147879A JP H10147879 A JPH10147879 A JP H10147879A JP 8320886 A JP8320886 A JP 8320886A JP 32088696 A JP32088696 A JP 32088696A JP H10147879 A JPH10147879 A JP H10147879A
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JP
Japan
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shower plate
shower
slit
reaction gas
plasma
Prior art date
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Pending
Application number
JP8320886A
Other languages
Japanese (ja)
Inventor
Tsutomu Tanaka
田中  勉
Kazuyuki Toyoda
一行 豊田
Atsuhiko Suda
敦彦 須田
Kazumasa Makiguchi
一誠 巻口
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Kokusai Electric Corp
Original Assignee
Kokusai Electric Corp
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Publication date
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Abstract

PROBLEM TO BE SOLVED: To provide a system in which working manhour is reduced, a production cost is inexpensive, and the change of the discharging characteristics of shower plates is small even when insulation film is deposited in a plasma treating device in which reaction gases are fed from shower plates to a plasma generating region. SOLUTION: In a plasma treating device in which reaction gases are fed from shower plates 25 to a plasma generating region, the shower plates are composed of plural shower plates 27, 28, 29, 30 and 31, slits 33, 34, 35 and 36 are formed on the space between each shower plate, and by using the slits instead of fine and many pores for feeding reaction gases, the working manhour is reduced.

Description

【発明の詳細な説明】DETAILED DESCRIPTION OF THE INVENTION

【0001】[0001]

【発明の属する技術分野】本発明は半導体製造装置の1
つであるプラズマ処理装置に関するものである。
The present invention relates to a semiconductor manufacturing apparatus.
The present invention relates to a plasma processing apparatus.

【0002】[0002]

【従来の技術】プラズマ処理工程の1つにウェーハ、ガ
ラス基板等の被処理基板の表面に所定の成膜を行うCV
D(Chemical Vapor Depositi
on)成膜工程があり、該成膜工程はプラズマCVD装
置により行われる。
2. Description of the Related Art In one of plasma processing steps, a CV for forming a predetermined film on a surface of a substrate to be processed such as a wafer or a glass substrate is used.
D (Chemical Vapor Depositi
on) There is a film forming step, and the film forming step is performed by a plasma CVD apparatus.

【0003】図6に於いてCVD成膜工程を行う従来の
プラズマCVD装置について説明する。
A conventional plasma CVD apparatus for performing a CVD film forming process will be described with reference to FIG.

【0004】外槽1及び蓋2により気密な処理室3が画
成され、該処理室3に内槽4と前記蓋2とで反応室5が
画成されている。前記外槽1には図示しないゲートバル
ブが設けられ、図示しない外部搬送装置により被処理基
板の搬入搬出が可能となっている。又、前記内槽4は前
記蓋2に固着された上壁部6と該上壁部6に連続し反応
室5の下部を画成する内槽下部7から成り、該内槽下部
7は後述する下電極16と共に昇降可能となっている。
An airtight processing chamber 3 is defined by the outer tank 1 and the lid 2, and a reaction chamber 5 is defined by the inner tank 4 and the lid 2 in the processing chamber 3. The outer tank 1 is provided with a gate valve (not shown) so that a substrate to be processed can be loaded and unloaded by an external transfer device (not shown). The inner tank 4 is composed of an upper wall 6 fixed to the lid 2 and an inner tank lower part 7 which is continuous with the upper wall 6 and defines a lower part of the reaction chamber 5. It can move up and down together with the lower electrode 16.

【0005】前記蓋2の前記反応室5に臨接する反応室
天井部には上電極8が絶縁材9を介して設けられ、該上
電極8には高周波電源20が接続されている。前記上電
極8には上部ヒータ10が埋設され、前記上電極8には
図示しない反応ガス供給源と接続された反応ガス導入管
11が接続されている。前記上電極8の下側には反応ガ
ス貯留室12を画成するシャワー板13が設けられてい
る。図4、図5で示す様に、該シャワー板13は例え
ば、400×500mmの矩形形状であり、孔径が0.5
〜1.0mmのシャワー孔14が10〜20mmピッチで多
数(100〜1000)穿設されている。又、前記シャ
ワー板13はアルミを材料としている。
[0005] An upper electrode 8 is provided on the ceiling of the reaction chamber of the lid 2 in contact with the reaction chamber 5 via an insulating material 9, and a high frequency power supply 20 is connected to the upper electrode 8. An upper heater 10 is embedded in the upper electrode 8, and a reaction gas introduction pipe 11 connected to a reaction gas supply source (not shown) is connected to the upper electrode 8. A shower plate 13 that defines a reaction gas storage chamber 12 is provided below the upper electrode 8. As shown in FIGS. 4 and 5, the shower plate 13 has a rectangular shape of, for example, 400 × 500 mm and a hole diameter of 0.5.
A large number (100 to 1000) of shower holes 14 having a pitch of 10 to 20 mm are formed. The shower plate 13 is made of aluminum.

【0006】前記反応ガス導入管11は前記反応ガス貯
留室12に連通し、該反応ガス貯留室12と前記反応室
5とは前記シャワー孔14を介して連通しており、前記
反応ガス導入管11から導入されたガスは前記反応ガス
貯留室12を経て前記シャワー孔14より前記反応室5
に分散して流入する様になっている。
The reaction gas introduction pipe 11 communicates with the reaction gas storage chamber 12, and the reaction gas storage chamber 12 communicates with the reaction chamber 5 through the shower hole 14. The gas introduced from the reaction chamber 11 passes through the reaction gas storage chamber 12 and the shower holes 14 through the reaction chamber 5.
It is designed to be dispersed and flow in.

【0007】前記上電極8に対峙して前記下電極16が
設けられ、該下電極16には下部ヒータ17が埋設さ
れ、前記下電極16の上側には基板載置台18が設けら
れている。前記反応室5には前記外槽1を気密に貫通す
る排気管19が連通しており、該排気管19は図示しな
い排気装置に接続されている。
The lower electrode 16 is provided so as to face the upper electrode 8, a lower heater 17 is embedded in the lower electrode 16, and a substrate mounting table 18 is provided above the lower electrode 16. An exhaust pipe 19 that hermetically penetrates the outer tank 1 communicates with the reaction chamber 5, and the exhaust pipe 19 is connected to an exhaust device (not shown).

【0008】前記内槽下部7を降下させ、前記反応室5
を開放した状態で、図示しないゲート弁を開き、図示し
ない外部搬送装置により前記基板載置台18に被処理基
板22を載置し、前記内槽下部7を上昇させ、前記反応
室5を閉塞し、前記図示しないゲート弁を閉じる。
The lower part 7 of the inner tank is lowered, and the reaction chamber 5 is lowered.
Is opened, a gate valve (not shown) is opened, the substrate 22 to be processed is placed on the substrate placing table 18 by an external transfer device (not shown), the inner tank lower part 7 is raised, and the reaction chamber 5 is closed. Then, the gate valve (not shown) is closed.

【0009】前記反応ガス導入管11により反応ガスを
導入する。該反応ガスは一旦前記反応ガス貯留室12に
流入し、整流されて、前記シャワー孔14より前記反応
室5に均等に分散して流入する。前記上電極8と前記下
電極16間に高周波電力を印加し、反応ガスを電離して
プラズマを生成し、前記被処理基板22の表面に所定の
薄膜を生成する。反応後のガスは前記排気管19より排
気される。
A reaction gas is introduced through the reaction gas introduction pipe 11. The reaction gas once flows into the reaction gas storage chamber 12, is rectified, and is uniformly dispersed and flows into the reaction chamber 5 from the shower hole 14. A high-frequency power is applied between the upper electrode 8 and the lower electrode 16 to ionize the reaction gas to generate plasma, thereby generating a predetermined thin film on the surface of the substrate 22 to be processed. The gas after the reaction is exhausted from the exhaust pipe 19.

【0010】[0010]

【発明が解決しようとする課題】上記シャワー板13は
非常に多数のシャワー孔14を穿設して製作される為、
加工費用が蒿むという問題がある。又、被処理基板22
に成膜処理を行うと絶縁性の反応副生成物がシャワー板
13に付着し膜が堆積するが、シャワー板13はアルミ
材料である為、絶縁被膜が生成されると放電特性が変化
するという問題を有している。従って、現在では所要稼
働時間毎に、或は定期的にシャワー板13の絶縁被膜を
除去するクリーニング処理が行われている。このクリー
ニング処理を行っている間はプラズマ処理装置を休止し
なければならないので稼働率が低下するという問題があ
った。
Since the shower plate 13 is manufactured by forming a large number of shower holes 14,
There is a problem that processing cost increases. Also, the substrate to be processed 22
When the film forming process is performed, insulating reaction by-products adhere to the shower plate 13 to deposit a film. However, since the shower plate 13 is made of an aluminum material, the discharge characteristics change when an insulating film is formed. Have a problem. Therefore, at present, a cleaning process for removing the insulating film of the shower plate 13 is performed every required operating time or periodically. Since the plasma processing apparatus must be stopped during the cleaning process, the operation rate is reduced.

【0011】本発明は斯かる実情に鑑み、加工工数が少
なく製作費が安価で而も絶縁被膜が堆積した場合でも放
電特性の変化が少ないシャワー板を具備したプラズマ処
理装置を提供しようとするものである。
The present invention has been made in view of the above circumstances, and has as its object to provide a plasma processing apparatus provided with a shower plate having a small number of processing steps, a low manufacturing cost, and a small change in discharge characteristics even when an insulating film is deposited. It is.

【0012】[0012]

【課題を解決するための手段】本発明は、プラズマ発生
域にシャワー板より反応ガスを供給するプラズマ処理装
置に於いて、前記シャワー板が複数のシャワープレート
により構成され、各シャワープレート間にスリット孔を
形成したプラズマ処理装置に係り、又前記スリット孔を
傾斜させたプラズマ処理装置に係り、更に又前記シャワ
ープレートがセラミック材料から成るプラズマ処理装置
に係るものであり、プラズマ発生域にはスリット孔を通
って反応ガスが供給され、又スリット孔が傾斜している
ことでスリット孔内での放電が防止され、又セラミック
材であることから反応副生成物の絶縁物が付着しても放
電特性は変化しない。
According to the present invention, there is provided a plasma processing apparatus for supplying a reaction gas from a shower plate to a plasma generation area, wherein the shower plate is constituted by a plurality of shower plates, and a slit is provided between each shower plate. The present invention relates to a plasma processing apparatus in which holes are formed, relates to a plasma processing apparatus in which the slit holes are inclined, and further relates to a plasma processing apparatus in which the shower plate is made of a ceramic material. The reaction gas is supplied through the hole, the discharge in the slit hole is prevented by the slant of the slit hole, and the discharge characteristics even if the reaction by-product insulator adheres because of the ceramic material Does not change.

【0013】[0013]

【発明の実施の形態】以下、図面を参照しつつ本発明の
実施の形態を説明する。
Embodiments of the present invention will be described below with reference to the drawings.

【0014】図1〜図3は本実施の形態の特にシャワー
板25を示しており、プラズマ処理装置全体の構成は図
6で示したものと同様であるので省略してある。
FIGS. 1 to 3 show a shower plate 25 of the present embodiment, and the configuration of the entire plasma processing apparatus is the same as that shown in FIG.

【0015】額状の枠体26にはアルミナ(AlO3
製のシャワープレート27,28,29,30,31が
嵌込まれており、中央のシャワープレート27に対して
シャワープレート28,29及びシャワープレート3
0,31がそれぞれ対称に配設される。
The frame 26 is made of alumina (AlO 3 ).
Shower plates 27, 28, 29, 30, 31 made of steel, are fitted into the shower plates 28, 29 and the shower plate 3 with respect to the central shower plate 27.
0 and 31 are arranged symmetrically.

【0016】前記シャワープレート27,28,29,
30,31の外形はそれぞれ矩形形状をしており、前記
枠体26に幅方向に掛渡り、前記シャワープレート2
7,28,29,30,31の幅端部が前記枠体26に
係合している。
The shower plates 27, 28, 29,
The outer shape of each of the shower plates 30 and 31 is rectangular, and extends over the frame 26 in the width direction.
The width end portions of 7, 28, 29, 30, 31 are engaged with the frame 26.

【0017】前記シャワープレート27の両側面は対称
的に傾斜し、断面形状は逆台形形状となっている。又、
前記シャワープレート28の両側面は同方向に傾斜し、
断面形状は平行四辺形であり、両側面は前記シャワープ
レート27の一側面(図2中左側面)と平行になってお
り、シャワープレート27側に臨接する側面は両端部を
除き僅かに後退している。而して、前記シャワープレー
ト27と前記シャワープレート28との間には所要の間
隙、例えば0.3mmの間隙の反応ガス流出用のスリット
孔33が形成される。
Both side surfaces of the shower plate 27 are symmetrically inclined, and the cross-sectional shape is an inverted trapezoidal shape. or,
Both side surfaces of the shower plate 28 are inclined in the same direction,
The cross-sectional shape is a parallelogram, and both side surfaces are parallel to one side surface (the left side surface in FIG. 2) of the shower plate 27, and the side surfaces adjoining the shower plate 27 side are slightly receded except at both ends. ing. Thus, a slit 33 is formed between the shower plate 27 and the shower plate 28 so as to have a required gap, for example, a gap of 0.3 mm.

【0018】前記シャワープレート29は前記シャワー
プレート28と対称な形状であり、前記シャワープレー
ト29と前記シャワープレート27間に反応ガス流出用
のスリット孔34が形成される。前記シャワープレート
30は前記シャワープレート28に臨接する側面のみが
シャワープレート28の側面と平行に傾斜しており、前
記シャワープレート30の側面の両端部を除く部分が後
退して形成され、前記シャワープレート28との間に反
応ガス流出用のスリット孔35が形成される。前記シャ
ワープレート31は前記シャワープレート30と対称な
形状であり、前記シャワープレート29との間に反応ガ
ス流出用のスリット孔36が形成される。
The shower plate 29 has a symmetrical shape with the shower plate 28, and a slit 34 for reactant gas outflow is formed between the shower plate 29 and the shower plate 27. The shower plate 30 is formed such that only the side surface facing the shower plate 28 is inclined in parallel with the side surface of the shower plate 28, and a portion excluding both end portions of the side surface of the shower plate 30 is recessed. A slit hole 35 for reactant gas outflow is formed between the slit hole 35 and the slit 28. The shower plate 31 has a symmetrical shape with the shower plate 30, and a slit 36 for outflow of the reaction gas is formed between the shower plate 31 and the shower plate 29.

【0019】被処理基板を処理する場合、反応ガスは前
記スリット孔33,34,35,36より反応室内に流
入する。
When processing a substrate to be processed, a reaction gas flows into the reaction chamber through the slit holes 33, 34, 35, 36.

【0020】前記した様に各スリット孔は傾斜している
が、この傾斜は流出元側のスリット孔口と流出先側のス
リット孔口が重合しない様にし、スリット孔内での放電
を防止する為である。従って前記シャワープレートの板
厚に応じてスリット孔の傾斜が変化し、或は反応ガスの
流入状態を均一にする為、中心側のスリット孔から周辺
側に向かって順次倒れた傾斜面とする等、反応ガスの流
入条件、シャワープレートの構造上の条件により適宜変
更が可能であることは勿論である。更に又、シャワープ
レートの枚数を多くすることでスリット孔の数を多くで
き、或はシャワープレート側面に形成する突部を両端部
だけでなく中央にも形成すれば、スリット孔は2以上に
分割することができる。又、スリット孔の間隙は反応ガ
スの供給状態に合わせて変更してもよく、例えば反応ガ
スの消耗量の多い中央部に対応して中心側のスリット孔
の間隙を大きくする等である。
As described above, each slit hole is inclined, but this inclination prevents the slit opening on the outflow source side and the slit opening on the outflow destination side from overlapping, thereby preventing discharge in the slit holes. That's why. Therefore, the inclination of the slit hole changes in accordance with the thickness of the shower plate, or in order to make the inflow state of the reaction gas uniform, the inclined surface is gradually inclined from the central slit hole toward the peripheral side. Needless to say, it can be appropriately changed according to the inflow condition of the reaction gas and the structural condition of the shower plate. Further, by increasing the number of shower plates, the number of slit holes can be increased, or if the protrusions formed on the side surfaces of the shower plate are formed not only at both ends but also at the center, the slit holes are divided into two or more. can do. Further, the gap between the slit holes may be changed according to the supply state of the reaction gas. For example, the gap between the slit holes on the center side is increased corresponding to the central portion where the consumption of the reaction gas is large.

【0021】上述した様に、スリット孔は側面を切削等
所要の手段で僅かに後退させるだけの加工であるので、
小さな孔を多数穿設することと比較すると加工が易し
く、且短時間で行える。この為、シャワー板製作コスト
が大幅に低下する。
As described above, since the slit holes are formed by slightly retreating the side surfaces by a required means such as cutting,
Compared to drilling many small holes, processing is easier and can be performed in a shorter time. For this reason, the manufacturing cost of the shower plate is greatly reduced.

【0022】更に、シャワープレートの材質はアルミナ
であるので絶縁物が堆積しても放電特性が殆ど変化しな
いので、クリーニング作業を実施する間隔は大幅に延長
することができ、保守性が向上されると共にプラズマ処
理装置の停止時間が短くなり、稼働率が向上する。
Furthermore, since the material of the shower plate is alumina, the discharge characteristics hardly change even if an insulator is deposited, so that the interval between cleaning operations can be greatly extended, and maintainability is improved. At the same time, the downtime of the plasma processing apparatus is shortened, and the operation rate is improved.

【0023】次に、クリーニング作業は前記シャワープ
レートを個別に洗浄することができ、スリット孔は分解
により内部が露出するので洗浄が容易であり、又シャワ
ープレートが小片であることと相俟って洗浄の作業性が
向上すると共に洗浄時間が短縮する。
Next, in the cleaning operation, the shower plate can be individually washed, and the inside of the slit hole is exposed by disassembly, so that the washing is easy, and in combination with the small size of the shower plate. The cleaning workability is improved and the cleaning time is shortened.

【0024】尚、前記シャワー板に使用する絶縁材はア
ルミナに限るものではない。窒化アルミ、石英等の使用
も可能である。
The insulating material used for the shower plate is not limited to alumina. It is also possible to use aluminum nitride, quartz or the like.

【0025】[0025]

【発明の効果】以上述べた如く本発明によれば、シャワ
ー板の反応ガス流出孔が多数の小孔でなくスリット孔で
あるので加工が容易であり、加工費が減少し、又セラミ
ック材料の使用が可能となり、絶縁被膜が堆積しても放
電特性に変化がなく品質の安定した製品を製造でき、更
にシャワー板洗浄時にはシャワープレートの小片に分解
して洗浄することができ作業性が向上する等の優れた効
果を発揮する。
As described above, according to the present invention, since the reaction gas outflow hole of the shower plate is not a large number of small holes but slit holes, the processing is easy, the processing cost is reduced, and the cost of the ceramic material is reduced. It is possible to use it, and it is possible to manufacture a product of stable quality with no change in discharge characteristics even if an insulating film is deposited. Further, when washing a shower plate, it can be disassembled into small pieces of the shower plate and washed, thereby improving workability. Demonstrate excellent effects such as.

【図面の簡単な説明】[Brief description of the drawings]

【図1】本発明の実施の形態に係るシャワー板を示す平
面図である。
FIG. 1 is a plan view showing a shower plate according to an embodiment of the present invention.

【図2】同前断面図である。FIG. 2 is a front sectional view of the same.

【図3】同前底面図である。FIG. 3 is a front bottom view of the same.

【図4】従来例に係るシャワー板の平面図である。FIG. 4 is a plan view of a shower plate according to a conventional example.

【図5】該シャワー板の断面図である。FIG. 5 is a cross-sectional view of the shower plate.

【図6】従来のプラズマCVD装置の概略断面図であ
る。
FIG. 6 is a schematic sectional view of a conventional plasma CVD apparatus.

【符号の説明】[Explanation of symbols]

25 シャワー板 27 シャワープレート 28 シャワープレート 29 シャワープレート 30 シャワープレート 31 シャワープレート 33 スリット孔 34 スリット孔 35 スリット孔 36 スリット孔 25 shower plate 27 shower plate 28 shower plate 29 shower plate 30 shower plate 31 shower plate 33 slit hole 34 slit hole 35 slit hole 36 slit hole

フロントページの続き (72)発明者 巻口 一誠 東京都中野区東中野三丁目14番20号 国際 電気株式会社内Continued on the front page (72) Inventor Kazumasa Makiguchi 3-14-20 Higashinakano, Nakano-ku, Tokyo Inside Kokusai Denki Co., Ltd.

Claims (3)

【特許請求の範囲】[Claims] 【請求項1】 プラズマ発生域にシャワー板より反応ガ
スを供給するプラズマ処理装置に於いて、前記シャワー
板が複数のシャワープレートにより構成され、各シャワ
ープレート間にスリット孔を形成したことを特徴とする
プラズマ処理装置。
1. A plasma processing apparatus for supplying a reaction gas from a shower plate to a plasma generation region, wherein the shower plate includes a plurality of shower plates, and slit holes are formed between the shower plates. Plasma processing equipment.
【請求項2】 前記スリット孔を傾斜させた請求項1の
プラズマ処理装置。
2. The plasma processing apparatus according to claim 1, wherein said slit hole is inclined.
【請求項3】 前記シャワープレートがセラミック材料
から成る請求項1のプラズマ処理装置。
3. The plasma processing apparatus according to claim 1, wherein said shower plate is made of a ceramic material.
JP8320886A 1996-11-15 1996-11-15 Plasma treatment system Pending JPH10147879A (en)

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Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2008106304A (en) * 2006-10-25 2008-05-08 Fuji Electric Holdings Co Ltd Apparatus for forming thin film

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2008106304A (en) * 2006-10-25 2008-05-08 Fuji Electric Holdings Co Ltd Apparatus for forming thin film

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