JPH10146755A - Workpiece holding back film - Google Patents

Workpiece holding back film

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Publication number
JPH10146755A
JPH10146755A JP30503096A JP30503096A JPH10146755A JP H10146755 A JPH10146755 A JP H10146755A JP 30503096 A JP30503096 A JP 30503096A JP 30503096 A JP30503096 A JP 30503096A JP H10146755 A JPH10146755 A JP H10146755A
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JP
Japan
Prior art keywords
back film
workpiece
grooves
contact surface
polishing
Prior art date
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Pending
Application number
JP30503096A
Other languages
Japanese (ja)
Inventor
Hideo Saito
日出夫 齊藤
Fumitaka Itou
史隆 伊藤
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Shibaura Machine Co Ltd
Original Assignee
Toshiba Machine Co Ltd
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Publication date
Application filed by Toshiba Machine Co Ltd filed Critical Toshiba Machine Co Ltd
Priority to JP30503096A priority Critical patent/JPH10146755A/en
Publication of JPH10146755A publication Critical patent/JPH10146755A/en
Pending legal-status Critical Current

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Landscapes

  • Finish Polishing, Edge Sharpening, And Grinding By Specific Grinding Devices (AREA)
  • Constituent Portions Of Griding Lathes, Driving, Sensing And Control (AREA)

Abstract

PROBLEM TO BE SOLVED: To uniformize the distribution of moisture of a workpiece surface, and obtain excellent flatness by forming plural grooves becoming a moving passage of water on a contact surface with a workpiece. SOLUTION: Grooves 15 are arranged on a contact surface with a workpiece of a back film 1. When a width of the grooves 15 is 2-mm, the fact that slight working nonuniformity is caused in a part corresponding to the grooves 15 can be understood. Therefore, it is desirable that the width of the grooves 15 formed on the back film is set not more than 2mm. In the back film on which a hole diameter of an independent foaming part is about 0.2mm and a compressive deformation rate of a raw material is about 30%, the occurrence of deformation of about 0.1mm in the lateral direction is calculated. Therefore, when the back film is used, there is a possibility that the width narrows 0.1mm by 0.1mm on both sides of the grooves 15. When this fact is considered, it is desirable that the width of the grooves 15 is set not less than 0.3mm to secure a movement of moisture inside of the grooves 15.

Description

【発明の詳細な説明】DETAILED DESCRIPTION OF THE INVENTION

【0001】[0001]

【発明の属する技術分野】本発明は、研磨装置におい
て、その表面に半導体基板、ガラスあるいはセラミック
スなどの平板状の被加工物を吸着して保持するために使
用される被加工物保持用バックフィルムに係る。
BACKGROUND OF THE INVENTION 1. Field of the Invention The present invention relates to a back film for holding a workpiece, which is used for holding a flat workpiece such as a semiconductor substrate, glass or ceramic on a surface of the polishing apparatus in a polishing apparatus. According to.

【0002】[0002]

【従来の技術】研磨装置において、半導体基板、ガラス
あるいはセラミックスなどの平板状の被加工物を保持す
る方法として、ワックス貼り法、真空チャック法、バッ
クフィルムを用いた水貼り法などの方法が知られてい
る。
2. Description of the Related Art In a polishing apparatus, there are known methods of holding a flat workpiece such as a semiconductor substrate, glass or ceramics, such as a wax bonding method, a vacuum chucking method, and a water bonding method using a back film. Have been.

【0003】ワックス貼り法の場合、被加工物を交換す
る度に、毎回、ワックスの溶融・固化を繰返す必要があ
り、作業効率を低下させる要因となる。また、真空チャ
ック法の場合、被加工物の裏面をチャックの表面に真空
吸着して固定するので、被加工物の裏面側の凹凸や、被
加工物の裏面とチャックの表面との間に巻き込まれた異
物などの影響を受け易く、ブルズ・アイ等の加工ムラが
発生し易い。
In the case of the wax application method, it is necessary to repeat the melting and solidification of the wax every time the workpiece is replaced, which causes a reduction in work efficiency. Also, in the case of the vacuum chuck method, the back surface of the work is vacuum-adsorbed and fixed to the surface of the chuck, so that irregularities on the back surface side of the work and between the back surface of the work and the front surface of the chuck are involved. It is easy to be affected by foreign matter and the like, and processing irregularities such as bulls and eyes are easily generated.

【0004】これに対して、エラストマーなどの柔軟な
素材で造られ、独立発泡表面を有するバックフィルムを
用いた水貼り法の場合には、被加工物との接触面が柔軟
に変形するので、被加工物の裏面側の凹凸あるいは異物
の混入などの影響を受けにくい。このため、バックフィ
ルムを用いた水貼り法は、表面基準の研磨が可能である
と期待されている。即ち、被研磨面の元の表面形状に倣
って、表面粗さや平坦度などを向上させることができる
ものと期待されている。
On the other hand, in the case of a water application method using a back film made of a flexible material such as an elastomer and having an independently foamed surface, a contact surface with a workpiece is flexibly deformed. It is less susceptible to the influence of irregularities on the back side of the workpiece or the inclusion of foreign matter. For this reason, the water bonding method using a back film is expected to be capable of polishing on a surface basis. That is, it is expected that the surface roughness, flatness, and the like can be improved according to the original surface shape of the surface to be polished.

【0005】ところで、被加工物の面積が大きい場合、
あるいは研磨の際の加圧力が大きい場合には、従来のバ
ックフィルムを用いた水貼り法では、被加工物の中央付
近がより多く研磨加工される傾向がある。
[0005] By the way, when the area of the workpiece is large,
Alternatively, when the pressing force at the time of polishing is large, in the water bonding method using the conventional back film, the vicinity of the center of the workpiece tends to be polished more.

【0006】図6は、8インチのSiウエハの上に目標
厚さ1000nmで酸化膜を形成した後、これを従来の
バックフィルムを用いた水貼り法でキャリアに保持し
て、研磨加工を行ったときの、研磨加工後の酸化膜の厚
さの直径方向の分布を測定した結果である。なお、研磨
加工の際の加圧力は600g/cm2 、キャリアの回転
数は23rpmとした。なお、当初の酸化膜の厚さの偏
差は数nm程度であり、酸化膜の厚さはほぼ一様であっ
た。この結果から、従来のバックフィルムを用いた水貼
り法では、被研磨面の形状が凹状となることが分かる。
また、実験の結果から、研磨加工時の加圧力が増加する
に従って、この傾向が顕著になることも確認されてい
る。
FIG. 6 shows that an oxide film having a target thickness of 1000 nm is formed on an 8-inch Si wafer, and this is held on a carrier by a water bonding method using a conventional back film, and is polished. This is the result of measuring the distribution of the thickness of the oxide film after polishing in the diameter direction. The pressing force at the time of polishing was 600 g / cm 2 , and the rotation speed of the carrier was 23 rpm. Note that the initial deviation of the thickness of the oxide film was about several nm, and the thickness of the oxide film was almost uniform. From these results, it can be seen that the surface to be polished has a concave shape in the water bonding method using the conventional back film.
From the results of experiments, it has been confirmed that this tendency becomes more pronounced as the pressing force during polishing increases.

【0007】被加工物の中央付近がより多く研磨加工さ
れる理由として、水貼り法で用いられる水の影響が考え
られる。図7は、従来のバックフィルムを使用した場合
の研磨加工時の被加工物及びその周囲の断面を模式的に
示したものである。図中、4は研磨面を形成する研磨定
盤、9は被加工物、1はバックフィルム、2はバックフ
ィルム1を介して被加工物9を保持するキャリア、5は
研磨剤の供給ノズル、11はバックフィルム表面の独立
発泡部分を表す。
[0007] The reason why the vicinity of the center of the workpiece is more polished is considered to be the effect of water used in the water application method. FIG. 7 schematically shows a cross-section of a workpiece and its periphery during polishing when a conventional back film is used. In the drawing, reference numeral 4 denotes a polishing platen for forming a polishing surface, 9 denotes a workpiece, 1 denotes a back film, 2 denotes a carrier that holds the workpiece 9 via the back film 1, 5 denotes a supply nozzle of an abrasive, Numeral 11 denotes a closed foam part on the back film surface.

【0008】バックフィルム1の表面には、被加工物9
を吸着して保持する機能を高めるため、通常、独立発泡
部分11が形成されている。独立発泡部分11には被加
工物9を吸着するための水8が保持される。被加工物9
をバックフィルム1で吸着し、被加工物9の表面を研磨
面を形成する研磨定盤4に押し当てて相対運動させるこ
とによって、研磨加工が行われる。この時、被加工物9
の周縁部に当たる符号22あるいは符号23で示される
領域にある独立発泡部分に保持されている水は、研磨加
工の際の振動等により徐々に外部へ流出して、加圧力に
対応した量になって安定する。一方、被加工物9の中央
付近の符号21で示される領域にある独立発泡部分に保
持されている水は、流出する経路の抵抗が大きいため
に、周囲に向かって移動しにくく、その大半が、そのま
ま中央付近に閉じ込められる結果、中央付近21には平
均加圧力に対して過大な量の水が残る。一方、加圧力に
よって、バックフィルム1自体は体積変化を伴って変形
するが、水8は非圧縮性なので体積変化を伴わない。こ
のため、周縁部22、23と比較して、中央付近21で
は、閉じ込められた水に起因して、平均加圧力に対して
発生する反力がより高くなる。即ち、被研磨面における
面圧分布は被加工物の中央付近に近付くほど高くなるの
で、被加工物9の中央付近における研磨加工量が大きく
なる。
On the surface of the back film 1, a workpiece 9
In order to enhance the function of adsorbing and holding, a closed cell portion 11 is usually formed. Water 8 for absorbing the workpiece 9 is held in the independent foaming portion 11. Workpiece 9
Is adsorbed by the back film 1, and the surface of the workpiece 9 is pressed against the polishing platen 4 forming the polishing surface to make relative movement, whereby polishing is performed. At this time, the workpiece 9
The water retained in the independent foamed portion in the region indicated by reference numeral 22 or 23 corresponding to the peripheral portion of the water gradually flows out to the outside due to vibration or the like at the time of polishing, and becomes an amount corresponding to the pressing force. And stable. On the other hand, the water retained in the independent foamed portion in the region indicated by the reference numeral 21 near the center of the workpiece 9 hardly moves toward the periphery because the resistance of the outflow path is large, and most of the water is retained. However, as a result of being trapped in the vicinity of the center, an excessive amount of water with respect to the average pressing force remains in the vicinity of the center 21. On the other hand, the back film 1 itself is deformed with a change in volume due to the pressure, but the water 8 does not change in volume because the water 8 is incompressible. For this reason, the reaction force generated with respect to the average pressing force due to the trapped water becomes higher in the vicinity of the center 21 as compared with the peripheral portions 22 and 23. That is, the surface pressure distribution on the surface to be polished increases as it approaches the center of the workpiece, so that the amount of polishing near the center of the workpiece 9 increases.

【0009】図8は、上述の仮説を裏付けるための実験
結果を示したものである。図8は、被加工物9の脱着お
よび搬送の便宜のために、バックフィルム1及びキャリ
ア2を貫通する貫通孔を被加工物9の中心部に設けた場
合の研磨加工後の被加工物の表面の形状(直接的には、
酸化膜の厚さの分布)を示したものである。
FIG. 8 shows experimental results for supporting the above hypothesis. FIG. 8 is a view of the workpiece after polishing when a through-hole penetrating through the back film 1 and the carrier 2 is provided at the center of the workpiece 9 for convenience of attaching and detaching and transporting the workpiece 9. Surface shape (directly,
(Thickness distribution of the oxide film).

【0010】被加工物の表面は、貫通孔が設けられた中
央付近で凸状となっており、面圧が下がっていることが
分かる。なお、このとき、この貫通孔の大きさを、0.
6mmφから2.0mmφの間で変化させたが、被加工
物の表面の形状についてほとんど変化が認められなかっ
た。このことから、バックフィルム1に形成された貫通
孔による欠損の影響ではないと考えることができる。従
って、上記の様に、貫通孔から水が流出して、被加工物
の裏面の中央付近に過剰な水が閉じ込められる現象が発
生しなかったと解釈することができる。
The surface of the workpiece is convex near the center where the through-hole is provided, and it can be seen that the surface pressure is reduced. At this time, the size of this through hole is set to 0.
Although it was changed between 6 mmφ and 2.0 mmφ, almost no change was recognized in the shape of the surface of the workpiece. From this, it can be considered that this is not the effect of the loss due to the through hole formed in the back film 1. Therefore, as described above, it can be interpreted that the phenomenon in which water flows out from the through-hole and excessive water is confined in the vicinity of the center of the back surface of the workpiece does not occur.

【0011】[0011]

【発明が解決しようとする課題】本発明は、以上の様な
問題点に鑑みてなされたもので、本発明の目的は、バッ
クフィルムを用いる水貼り法によって平板状の被加工物
を保持して研磨加工を行う場合に、被加工物表面の水分
の分布を均一化して、良好な平坦度を得ることが可能な
バックフィルムの構造を提供することにある。
SUMMARY OF THE INVENTION The present invention has been made in view of the above-mentioned problems, and an object of the present invention is to hold a flat workpiece by a water bonding method using a back film. It is an object of the present invention to provide a back film structure capable of obtaining a good flatness by making the distribution of water on the surface of a workpiece uniform when polishing by polishing.

【0012】[0012]

【課題を解決するための手段】本発明の被加工物保持用
バックフィルムは、研磨装置において平板状の被加工物
を吸着して保持するために使用されるバックフィルムで
あって、被加工物との接触面に、水の移動経路となる複
数の溝が形成されていることを特徴とする。
SUMMARY OF THE INVENTION A back film for holding a workpiece according to the present invention is a back film used for sucking and holding a flat workpiece in a polishing apparatus. A plurality of grooves serving as a movement path of water are formed on a contact surface with the water.

【0013】好ましくは、前記溝の幅を0.3mm以
上、2mm以下とする。また、好ましくは、前記溝を、
その溝幅の10倍以上、40mm以下の間隔で配置す
る。
[0013] Preferably, the width of the groove is 0.3 mm or more and 2 mm or less. Further, preferably, the groove,
The grooves are arranged at intervals of 10 times or more and 40 mm or less of the groove width.

【0014】また、好ましくは、前記溝のうちの少なく
とも一本を、前記接触面の中心部を通り、前記接触面の
周縁部の手前に到達する様に形成する。また、好ましく
は、前記溝のうちの少なくとも一本を、前記接触面の中
心部を通り、前記接触面の周縁部の外側に到達する様に
形成する。
[0014] Preferably, at least one of the grooves is formed so as to pass through the center of the contact surface and reach a position near the periphery of the contact surface. Preferably, at least one of the grooves is formed so as to pass through a center portion of the contact surface and reach outside a peripheral portion of the contact surface.

【0015】また、好ましくは、前記溝に加えて、厚さ
方向に複数の貫通孔を形成する。研磨装置において平板
状の被加工物を保持するために、被加工物との接触面に
複数の溝が形成された本発明に基づくバックフィルムを
使用すれば、被加工物を研磨加工する際、被加工物とバ
ックフィルムとの接触面に保持されている水が、これら
の溝を通って周囲へ分散することができるので、接触面
の一部に水が閉じ込められることがなく、研磨面の面圧
分布を均一化することができる。
Preferably, a plurality of through holes are formed in the thickness direction in addition to the grooves. In order to hold a flat workpiece in the polishing apparatus, if a back film according to the present invention in which a plurality of grooves are formed on the contact surface with the workpiece, when polishing the workpiece, Water retained on the contact surface between the workpiece and the back film can be dispersed to the surroundings through these grooves, so that water is not trapped in a part of the contact surface, and the polished surface The surface pressure distribution can be made uniform.

【0016】また、前記溝の幅については、0.3mm
以上であれば、水の移動を容易にする効果が得られる。
また、2mm以下とすれば、溝の形状が被加工物の表面
へ転写されることを防止することができる。
The width of the groove is 0.3 mm
Above, an effect of facilitating the movement of water can be obtained.
When the thickness is 2 mm or less, it is possible to prevent the shape of the groove from being transferred to the surface of the workpiece.

【0017】また、前記溝の影響が及ぶ範囲は、溝から
20mm程度までの距離なので、溝の相互の間隔を40
mm以下とすれば、研磨面の面圧分布を均一性を確保す
ることができる。なお、溝の相互の間隔は、その溝幅の
10倍以上とするのが適当である。
Further, since the range affected by the groove is a distance of about 20 mm from the groove, the distance between the grooves is set to 40 mm.
When the thickness is not more than mm, uniformity of the surface pressure distribution on the polished surface can be ensured. It is appropriate that the interval between the grooves is at least 10 times the groove width.

【0018】また、前記溝のうちの少なくとも一本を、
接触面の中心部を通って接触面の周縁部の手前まで到達
する様に、あるいは接触面の中心部を通って接触面の周
縁部の外部に到達する様に形成すれば、接触面の中心部
近傍の水が容易に周縁部へ流出することができるので、
過剰な水分が中心部近傍に閉じ込められる現象を効果的
に防止することができる。
Further, at least one of the grooves is
If it is formed so as to reach just before the periphery of the contact surface through the center of the contact surface, or to reach outside the periphery of the contact surface through the center of the contact surface, the center of the contact surface Because the water near the part can easily flow to the peripheral part,
It is possible to effectively prevent the phenomenon that excessive moisture is trapped in the vicinity of the center.

【0019】更に、これら溝に加えて、バックフィルム
にその厚さ方向の貫通孔を設けることによって、接触面
の水がバックフィルムの裏面側にも流出することが可能
になるので、研磨面の面圧分布を均一化させる効果を高
めることができる。
Further, by providing a through hole in the thickness direction of the back film in addition to these grooves, water on the contact surface can flow out to the back surface side of the back film. The effect of making the surface pressure distribution uniform can be enhanced.

【0020】[0020]

【発明の実施の形態】図1に、本発明に基づくバックフ
ィルムの例を示す。これらの各例は、バックフィルム1
の被加工物9との接触面に溝15を設けたものであり、
図1(a)は放射状に溝を設けた例、図1(b)は格子
状に溝を設けた例、図1(c)は曲線で構成された略放
射状の溝を設けた例、図1(d)は放射状の溝と同心円
状の溝を組み合わせた例、をそれぞれ表す。
FIG. 1 shows an example of a back film according to the present invention. In each of these examples, the back film 1
A groove 15 is provided on the contact surface with the workpiece 9 of
FIG. 1A shows an example in which grooves are radially provided, FIG. 1B shows an example in which grooves are provided in a grid pattern, and FIG. 1C shows an example in which substantially radial grooves formed by curves are provided. 1 (d) represents an example in which radial grooves and concentric grooves are combined.

【0021】溝15は、バックフィルム1の製作時に、
溝15の部分を除いて独立発泡層を形成する方法によっ
て造られている。このほか、全面に独立発泡層を形成し
た後、加熱溶融、切削、あるいはエッチングなどによっ
て溝15を加工する方法によっても形成することもでき
る。
The groove 15 is formed when the back film 1 is manufactured.
It is made by a method of forming an independent foam layer except for the groove 15 portion. Alternatively, the groove 15 may be formed by forming a closed foam layer on the entire surface and then processing the groove 15 by heat melting, cutting, etching, or the like.

【0022】図2に、本発明に基づくバックフィルムの
他の例を示す。これらの各例は、バックフィルム1の被
加工物9との接触面に溝15を形成するとともに、厚さ
方向に貫通孔16を形成したものである。図2(a)は
放射状の溝に加えて中心部に1箇所及び中心部の周囲に
4箇所の貫通孔を設けた例を、図2(b)は格子状の溝
に加えて中心部に1箇所及び中心部の周囲に4箇所の貫
通孔を設けた例を、図2(c)は放射状の溝に加えて中
心部の周囲に3箇所の貫通孔を設けた例を、図2(a)
は放射状の溝に加えて中心部に1箇所及び中心部の周囲
に数箇所の貫通孔を設けた例を、それぞれ表す。
FIG. 2 shows another example of the back film according to the present invention. In each of these examples, the grooves 15 are formed on the contact surface of the back film 1 with the workpiece 9 and the through holes 16 are formed in the thickness direction. FIG. 2A shows an example in which one hole is provided in the center and four through holes around the center in addition to the radial grooves, and FIG. FIG. 2C shows an example in which four through-holes are provided around one and the center, and FIG. 2C shows an example in which three through-holes are provided around the center in addition to the radial grooves. a)
Represents an example in which, in addition to the radial grooves, one through-hole is provided at the center and several through-holes are provided around the center.

【0023】上記の貫通孔16は、被加工物の脱着・搬
送用に使用される他、被加工物9との接触面に存在する
水の流出を容易にする機能も有している。なお、溝の
幅、及び互いに隣接する溝の間隔については、実験の結
果、次のことが判明した。
The through hole 16 is used not only for attaching / detaching / transferring the workpiece, but also for facilitating the outflow of water existing on the contact surface with the workpiece 9. Regarding the width of the groove and the interval between the adjacent grooves, the following was found as a result of the experiment.

【0024】溝の幅が1mm及び2mmの二通りバック
フィルムを使用して研磨加工を行ったところ、溝の幅2
mmの場合には、溝に相当する部分に若干の加工ムラが
生じることが分かった。従って、バックフィルムに形成
する溝の幅は、2mm以下とすることが望ましい。
Polishing was performed using two types of back films having a groove width of 1 mm and 2 mm.
In the case of mm, it was found that slight processing unevenness occurs in a portion corresponding to the groove. Therefore, the width of the groove formed in the back film is desirably 2 mm or less.

【0025】なお、バックフィルム使用時には、水分に
よる膨潤や加圧力によって横方向への変形が生じ、溝の
幅が狭められる。例えば、独立発泡部分の孔径0.2m
m、素材の圧縮変形率30%のバックフィルムでは、横
方向へ約0.1mmの変形が生じると算定される。従っ
て、バックフィルム使用時には、溝の両側にて0.1m
mづつ幅が狭まる可能性がある。このことを考慮する
と、溝の内部の水分の移動を確保するためには、溝の幅
を0.3mm以上とすることが望ましい。
When the back film is used, swelling due to moisture and pressing force cause deformation in the lateral direction, and the width of the groove is reduced. For example, the pore diameter of the independent foam part is 0.2m
m, it is calculated that a deformation of about 0.1 mm occurs in the lateral direction in the back film having a compression deformation rate of the material of 30%. Therefore, when using the back film, 0.1 m on both sides of the groove
The width may be reduced by m. In consideration of this, it is desirable that the width of the groove be 0.3 mm or more in order to secure the movement of moisture inside the groove.

【0026】また、溝の影響が及ぶ範囲を調べたとこ
ろ、加工量均一性が±1%となる範囲は、溝を中心に約
18mm幅の領域、同様に±5%となる範囲は、溝を中
心に約45mmの領域であることが分かった。従って、
複数の溝を配列する場合、それらの相互の間隔を40m
m以下とすることが望ましい。なお、その間隔を20m
m以下とすれば更に高い平坦度が得られる。
When the range affected by the groove was examined, the range where the uniformity of the processing amount was ± 1% was a region of about 18 mm width around the groove, and the range where the uniformity was ± 5% was the groove. Was found to be a region of about 45 mm centered at. Therefore,
When arranging a plurality of grooves, the distance between them is 40 m.
m or less. The interval is 20m
If it is less than m, higher flatness can be obtained.

【0027】但し、溝の間隔を狭め過ぎると、被加工物
との接触面積が減少し、被加工物の保持力が低下する。
従って、接触面積の低下を10%程度以内に抑えるため
には、溝の間隔を溝の幅の10倍以上とすることが望ま
しい。
However, if the interval between the grooves is too narrow, the contact area with the workpiece decreases, and the holding force of the workpiece decreases.
Therefore, in order to suppress the decrease in the contact area within about 10%, it is desirable that the interval between the grooves is set to be at least 10 times the width of the groove.

【0028】[0028]

【実施例】図3は、図1(b)に示した接触面に溝が設
けられたバックフィルムを用いて研磨加工を行った場合
の、研磨加工後の被加工物表面の酸化膜の厚さの直径方
向の分布を測定した結果の一例である。なお、被加工物
は、8インチのSiウエハの上に目標厚さ1000nm
で酸化膜が形成されものであり、加圧力は600g/c
2 、キャリア回転数は23rpmであった。以上の研
磨加工の条件は図6に示したものと同一である。
FIG. 3 shows the thickness of an oxide film on the surface of a workpiece after polishing when polishing is performed using a back film having a groove on the contact surface shown in FIG. 1 (b). It is an example of the result of measuring the distribution of the diameter in the diameter direction. The workpiece is placed on an 8-inch Si wafer with a target thickness of 1000 nm.
And an oxide film is formed at a pressure of 600 g / c.
m 2 , and the carrier rotation speed was 23 rpm. The conditions for the above polishing are the same as those shown in FIG.

【0029】図1に示した結果と比較すると、研磨加工
後の平坦度が大幅に改善されていることがわかる。図4
は、図2(a)で示した溝及び貫通孔が設けられたバッ
クフィルムを用いて研磨を行った場合の、研磨加工後の
被加工物表面の酸化膜の厚さの直径方向の分布を測定し
た結果の一例である。なお、研磨加工の条件は図3及び
図6に示したものと同一である。
As compared with the results shown in FIG. 1, it can be seen that the flatness after polishing is greatly improved. FIG.
Shows the distribution in the diameter direction of the thickness of the oxide film on the surface of the workpiece after polishing when polishing is performed using the back film provided with the grooves and through holes shown in FIG. It is an example of the measurement result. The polishing conditions are the same as those shown in FIGS.

【0030】従来の図6及び図8に示した結果と比較す
ると、研磨加工後の平坦度が大幅に改善されていること
がわかる。図5に、研磨加工レート及び研磨加工の均一
性について、本発明に基づくバックフィルムを使用して
研磨を行った場合と、従来の構造を備えたバックフィル
ムを使用して研磨を行った場合とを比較した結果を示
す。なお、ここで用いた評価値は、以下の式によって定
義される。
Compared with the results shown in FIGS. 6 and 8, the flatness after polishing is greatly improved. FIG. 5 shows the polishing rate and the uniformity of the polishing with respect to the case where polishing was performed using the back film according to the present invention and the case where polishing was performed using the back film having the conventional structure. 2 shows the results of comparison. The evaluation value used here is defined by the following equation.

【0031】 加工レート=平均加工量/加圧時間(nm/min) 加工量均一性=(最大加工量−最小加工量)/(最大加
工量+最小加工量)×100(%) 一般に、加工レートの値が大きい程、大きなスループッ
トが得られ、加工量均一性の値が小さい程、平坦性が良
好であることを示す。
Processing rate = average processing amount / pressing time (nm / min) Processing amount uniformity = (maximum processing amount−minimum processing amount) / (maximum processing amount + minimum processing amount) × 100 (%) The larger the value of the rate, the higher the throughput is obtained, and the smaller the value of the uniformity of the processing amount, the better the flatness.

【0032】図5で、「溝つき(a)」、「溝つき
(b)」は、それぞれ図1(a),(b)に示した接触
面に溝が形成されたバックフィルムを使用した場合の研
磨加工結果を示している。また、「溝つき・穴つき
(a)」は、図2(a)で示した接触面に溝及び貫通孔
が形成されたバックフィルムを使用した場合の研磨加工
結果を示している。
In FIG. 5, "grooved (a)" and "grooved (b)" used the back film having grooves formed on the contact surfaces shown in FIGS. 1 (a) and 1 (b), respectively. The result of the polishing process in the case is shown. “Groove / Hole (a)” indicates the result of polishing when a back film having grooves and through holes formed on the contact surface shown in FIG. 2A is used.

【0033】図5より、接触面に溝が形成されたバック
フィルムは、従来のバックフィルムと同等の加工レート
を維持するとともに、加工量均一性を10%以下に抑え
ることができることがわかる。
FIG. 5 shows that the back film having the grooves formed on the contact surface can maintain the processing rate equivalent to that of the conventional back film and can suppress the processing amount uniformity to 10% or less.

【0034】[0034]

【発明の効果】本発明の基づく被加工物保持用バックフ
ィルムでは、被加工物との接触面に溝を設けることによ
って、接触面の存在する水の移動が容易になる結果、加
工面圧の均一性が増し、その結果、加工レートを低下さ
せることなく、研磨加工量の均一性の向上を実現するこ
とができる。
According to the back film for holding a workpiece according to the present invention, by providing a groove on the contact surface with the workpiece, the movement of water existing on the contact surface is facilitated, and as a result, the working surface pressure is reduced. The uniformity increases, and as a result, the uniformity of the polishing amount can be improved without lowering the processing rate.

【図面の簡単な説明】[Brief description of the drawings]

【図1】本発明に基づくバックフィルムの形状の例を示
す図、(a)〜(d)はバックフィルムの接触面に設け
られた溝の配置についての各種の例を表す図。
FIG. 1 is a view showing an example of the shape of a back film according to the present invention, and (a) to (d) are views showing various examples of the arrangement of grooves provided on a contact surface of the back film.

【図2】本発明に基づくバックフィルムの形状の他の例
を示す図、(a)〜(d)はバックフィルムの接触面に
設けられた溝、及び貫通孔の配置についての各種の例を
表す図。
FIG. 2 is a view showing another example of the shape of the back film according to the present invention, and (a) to (d) show various examples of the arrangement of grooves and through holes provided on the contact surface of the back film. Figure representing.

【図3】本発明に基づく溝が形成されたバックフィルム
を使用して研磨を行った場合の被加工材の表面形状を表
す図。
FIG. 3 is a diagram illustrating a surface shape of a workpiece when polishing is performed using a back film in which a groove is formed according to the present invention.

【図4】本発明に基づく溝及び貫通孔が形成されたバッ
クフィルムを用いて研磨を行った場合の被加工材の表面
形状を表す図。
FIG. 4 is a diagram illustrating a surface shape of a workpiece when polishing is performed using a back film in which grooves and through holes are formed according to the present invention.

【図5】各種のバックフィルムを使用して研磨を行った
場合の加工レート及び加工量均一性の比較を示す図。
FIG. 5 is a diagram showing a comparison of processing rate and processing amount uniformity when polishing is performed using various types of back films.

【図6】従来のバックフィルムを用いた場合の被加工材
の表面形状を表す図。
FIG. 6 is a diagram illustrating a surface shape of a workpiece when a conventional back film is used.

【図7】研磨加工の際の従来のバックフィルム及びその
周囲の断面を示す模式図。
FIG. 7 is a schematic view showing a conventional back film during polishing and a cross section around the back film.

【図8】貫通孔が設けられた従来のバックフィルムを用
いた場合の被加工材の表面形状を表す図。
FIG. 8 is a diagram illustrating a surface shape of a workpiece when a conventional back film provided with through holes is used.

【符号の説明】[Explanation of symbols]

1・・・バックフィルム、 2・・・キャリア、 4・・・研磨面を構成する研磨定盤、 5・・・研磨剤の供給ノズル、 8・・・水、 9・・・被加工物、 11・・・独立発泡部分、 15・・・溝、 16・・・貫通孔。 DESCRIPTION OF SYMBOLS 1 ... Back film, 2 ... Carrier, 4 ... Polishing surface plate which comprises a polishing surface, 5 ... Abrasive supply nozzle, 8 ... Water, 9 ... Workpiece, 11: Independent foam part, 15: Groove, 16: Through-hole.

─────────────────────────────────────────────────────
────────────────────────────────────────────────── ───

【手続補正書】[Procedure amendment]

【提出日】平成8年12月4日[Submission date] December 4, 1996

【手続補正1】[Procedure amendment 1]

【補正対象書類名】明細書[Document name to be amended] Statement

【補正対象項目名】請求項3[Correction target item name] Claim 3

【補正方法】変更[Correction method] Change

【補正内容】[Correction contents]

Claims (6)

【特許請求の範囲】[Claims] 【請求項1】 研磨装置において平板状の被加工物を吸
着して保持するために使用されるバックフィルムであっ
て、 被加工物との接触面に、水の移動経路となる複数の溝が
形成されていることを特徴とする被加工物保持用バック
フィルム。
1. A back film used for sucking and holding a plate-shaped workpiece in a polishing apparatus, wherein a plurality of grooves serving as a movement path of water are provided on a contact surface with the workpiece. A back film for holding a workpiece, wherein the back film is formed.
【請求項2】 前記溝は、その幅が0.3mm以上、2
mm以下であることを特徴とする請求項1に記載の被加
工物保持用バックフィルム。
2. The groove has a width of 0.3 mm or more,
2. The back film for holding a workpiece according to claim 1, wherein the thickness is not more than mm.
【請求項3】 前記溝は、その溝幅の10倍、40mm
以下の間隔で配置されていることを特徴とする請求項1
または請求項2のいずれかに記載の被加工物保持用バッ
クフィルム。
3. The groove has a width of 10 times and a width of 40 mm.
2. The device according to claim 1, wherein the components are arranged at the following intervals.
Or the back film for holding a workpiece according to any one of claims 2 to 6.
【請求項4】 前記溝のうちの少なくとも一本は、前記
接触面の中心部を通り、前記接触面の周縁部の手前に到
達する様に形成されていることを特徴とする請求項3に
記載の被加工物保持用バックフィルム。
4. The device according to claim 3, wherein at least one of the grooves is formed so as to pass through a center portion of the contact surface and reach a position short of a peripheral portion of the contact surface. The back film for holding a workpiece as described in the above.
【請求項5】 前記溝のうちの少なくとも一本は、前記
接触面の中心部を通り、前記接触面の周縁部の外側に到
達する様に形成されていることを特徴とする請求項3に
記載の被加工物保持用バックフィルム。
5. The method according to claim 3, wherein at least one of the grooves is formed so as to pass through a center portion of the contact surface and reach outside a peripheral portion of the contact surface. The back film for holding a workpiece as described in the above.
【請求項6】 前記溝に加えて、厚さ方向に複数の貫通
孔が形成されていることを特徴とする請求項4または5
に記載の被加工物保持用バックフィルム。
6. A plurality of through holes are formed in a thickness direction in addition to the grooves.
3. The back film for holding a workpiece according to claim 1.
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Cited By (4)

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