JPH10145344A - Bit phase synchronizing circuit - Google Patents

Bit phase synchronizing circuit

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Publication number
JPH10145344A
JPH10145344A JP8302061A JP30206196A JPH10145344A JP H10145344 A JPH10145344 A JP H10145344A JP 8302061 A JP8302061 A JP 8302061A JP 30206196 A JP30206196 A JP 30206196A JP H10145344 A JPH10145344 A JP H10145344A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
phase
circuit
clock
signal
circuits
Prior art date
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Pending
Application number
JP8302061A
Other languages
Japanese (ja)
Inventor
聡 ▲吉▼田
Satoshi Yoshida
Takashi Taya
隆士 太矢
Shinsuke Yamaoka
信介 山岡
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Oki Electric Industry Co Ltd
Original Assignee
Oki Electric Industry Co Ltd
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Filing date
Publication date
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Publication of JPH10145344A publication Critical patent/JPH10145344A/en
Pending legal-status Critical Current

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Abstract

PROBLEM TO BE SOLVED: To follow up a phase in wide range with respect to the phase fluctuation of an input signal by providing a means for selecting one of plural systems of phase synchronizing means and serial-parallel conversion means, and a means for switching these systems. SOLUTION: Two phase synchronizing circuits consisting of phase judging circuits 101 and 102, control circuits 111 and 112, and a variable delay circuit 120 follow up the phase of a delay clock with respect to the input signal whose phase fluctuates hourly. A synchronizing pattern detecting circuit 13X (X is 1 or 2) detects the synchronizing pattern of a transferring signal, and a serial- parallel conversion circuit 14X divides the frequency of the delay clock outputted from the circuit 120 to generate a slow clock and makes an input signal a parallel signal synchronizing with the slow clock to output. A system selection control circuit 150 outputs a switching signal for switching a nonselected system to a selected system to a system selecting circuit 151 at the time of recognizing that the failure of the phase following up of the selected system is near, from the output signals of the circuits 111 and 112 and the outputs of the circuits 101 and 102.

Description

【発明の詳細な説明】DETAILED DESCRIPTION OF THE INVENTION

【0001】[0001]

【発明の属する技術分野】この発明は、ビット位相同期
回路に関するものであり、特に通信システムのシリアル
インタフェースに適用して好適なものである。
BACKGROUND OF THE INVENTION 1. Field of the Invention The present invention relates to a bit phase synchronization circuit, and is particularly suitable for a serial interface of a communication system.

【0002】[0002]

【従来の技術】通信システムにおいて、伝送されてきた
入力信号と入力クロックのとの間に生じた位相差を調整
する方法として、例えば、特開平4−293332号公
報に開示された方法がある。
2. Description of the Related Art In a communication system, as a method of adjusting a phase difference generated between a transmitted input signal and an input clock, for example, there is a method disclosed in Japanese Patent Application Laid-Open No. 4-293332.

【0003】これは、入力信号に対し遅延素子を縦続接
続した可変遅延回路によって入力信号を段階的に遅延さ
せ、システムより供給されたクロックに基づいて、入力
信号を正しくラッチすることができる位相を有する入力
信号を上記可変遅延回路から選択するものである。これ
によって、入力信号の位相変動によって生じたクロック
信号と位相差を調整することができる。
In this method, an input signal is delayed stepwise by a variable delay circuit in which delay elements are cascaded with respect to the input signal, and a phase at which the input signal can be correctly latched based on a clock supplied from a system. The selected input signal is selected from the variable delay circuit. This makes it possible to adjust the phase difference between the clock signal and the clock signal caused by the phase fluctuation of the input signal.

【0004】[0004]

【発明が解決しようとする課題】しかし、上記構成を有
する回路では、可変遅延回路が遅延素子の縦続接続によ
り構成されているため、位相追従範囲が有限であり、入
力信号の位相変動が可変遅延回路の許容遅延範囲を超え
た場合に、位相追従が破綻するという問題があった。
However, in the circuit having the above configuration, since the variable delay circuit is formed by cascade connection of delay elements, the phase follow-up range is finite, and the phase fluctuation of the input signal is variable delay. When the allowable delay range of the circuit is exceeded, there is a problem that the phase tracking is broken.

【0005】また、所定位相ずつ異なる多相の入力信号
(又は入力クロック)を形成するものとして可変遅延回
路以外を適用したものもあるが、このような回路におい
ても、各位相の信号を形成する部分は、有限個の構成要
素から成っており、上述した可変遅延回路を適用した場
合と同様な課題を生じている。
[0005] In addition, there is a type in which a multi-phase input signal (or input clock) different by a predetermined phase is formed by using a circuit other than a variable delay circuit. In such a circuit, a signal of each phase is formed. The portion is composed of a finite number of components, and has the same problem as when the above-described variable delay circuit is applied.

【0006】従って、入力信号の位相変動に対して広範
囲の位相追従を実現することが望まれていた。
[0006] Accordingly, it has been desired to realize a wide range of phase tracking for the phase fluctuation of the input signal.

【0007】[0007]

【課題を解決するための手段】かかる課題を解決するた
めに、この発明のビット位相同期回路は、(1)入力信
号又は入力クロックの一方を、それらの位相差に応じて
移相させることにより、入力信号と入力クロックとを位
相同期させる複数の位相同期手段と、(2)対応する上
記位相同期手段からの入力クロックを分周して低速クロ
ックを生成し、対応する上記位相同期手段からの入力信
号を上記低速クロックに同期したパラレル信号に変換す
る、複数の上記位相同期手段のそれぞれに対応した複数
のシリアルパラレル変換手段と、(3)複数系の位相同
期手段及びシリアルパラレル変換手段のうちの1つの系
を選択してパラレル信号及び低速クロックを出力させる
と共に、選択中の系の位相同期手段による入力信号と入
力クロックとの位相同期が破綻間近なときに、他の系の
パラレル信号及び低速クロックを出力させる系切替手段
とを有することを特徴とする。
In order to solve the above-mentioned problems, a bit phase synchronization circuit according to the present invention has the following features. (1) By shifting one of an input signal and an input clock in accordance with a phase difference between them. A plurality of phase synchronizing means for synchronizing the phase of an input signal and an input clock; and (2) generating a low-speed clock by dividing the frequency of an input clock from the corresponding phase synchronizing means. A plurality of serial / parallel conversion means corresponding to each of the plurality of phase synchronization means for converting an input signal into a parallel signal synchronized with the low speed clock; and (3) a plurality of phase synchronization means and serial / parallel conversion means. To output the parallel signal and the low-speed clock, and to determine the position of the input signal and the input clock by the phase synchronization means of the selected system. Synchronization when they close collapse, and having a system switching means for outputting the parallel signals and low-speed clock of other systems.

【0008】[0008]

【発明の実施の形態】BEST MODE FOR CARRYING OUT THE INVENTION

(A)実施形態 以下、本発明によるビット位相同期回路の一実施形態を
図面を参照しながら詳述する。
(A) Embodiment Hereinafter, an embodiment of a bit phase synchronization circuit according to the present invention will be described in detail with reference to the drawings.

【0009】(A−1)実施形態の構成 図1は、この実施形態の機能的構成図である。図1にお
いて、この実施形態のビット位相同期回路は、位相判定
回路101、102と、制御回路111、112と、可
変遅延回路120と、同期パターン検出回路131、1
32と、シリアルパラレル変換回路141、142と、
系選択制御回路150と、系選択回路151と、位相調
整回路152とから構成されている。
(A-1) Configuration of the Embodiment FIG. 1 is a functional configuration diagram of the embodiment. In FIG. 1, the bit phase synchronization circuit of this embodiment includes a phase determination circuit 101, 102, control circuits 111, 112, a variable delay circuit 120, a synchronization pattern detection circuit 131,
32, serial-parallel conversion circuits 141 and 142,
The system includes a system selection control circuit 150, a system selection circuit 151, and a phase adjustment circuit 152.

【0010】ここで、位相判定回路101と制御回路1
11と可変遅延回路120と同期パターン検出回路13
1とシリアルパラレル変換回路141とで構成される系
を第1の系、位相判定回路102と制御回路112と可
変遅延回路120と同期パターン検出回路132とシリ
アルパラレル変換回路142とで構成される系を第2の
系という。また、この実施形態では、上記第1の系の出
力信号又は第2の系の出力信号のいずれかが後述する系
選択制御回路150によって選択される。ここでは、系
選択制御回路150によって選択される信号を出力する
系を選択系といい、それ以外の系を非選択系という。
Here, the phase determination circuit 101 and the control circuit 1
11, variable delay circuit 120, and synchronous pattern detection circuit 13
1 and a serial / parallel conversion circuit 141, and a system including a phase determination circuit 102, a control circuit 112, a variable delay circuit 120, a synchronization pattern detection circuit 132, and a serial / parallel conversion circuit 142. Is called a second system. Further, in this embodiment, either the first system output signal or the second system output signal is selected by a system selection control circuit 150 described later. Here, a system that outputs a signal selected by the system selection control circuit 150 is called a selection system, and other systems are called non-selection systems.

【0011】以下、この実施形態のビット位相同期回路
を構成する各部の機能について詳述する。
Hereinafter, the function of each part constituting the bit phase synchronization circuit of this embodiment will be described in detail.

【0012】可変遅延回路120は、複数個の遅延素子
を有し、可変遅延回路全体で入力クロックを最小でも1
クロック周期以上遅延させることが可能であり、後述す
る制御回路111、112から出力された位相制御信号
に従って、入力クロックの位相を遅延させた遅延素子を
選択し、遅延クロックとして制御回路111、112に
対応する位相判定回路101、102に出力するもので
ある。なお、可変遅延回路120によって選択される2
つの遅延クロックは、同一のクロックを源とするため、
位相は異なるが周波数は同じであり、さらに、これら2
つの遅延クロックは、制御回路111、112から出力
された位相制御信号によってそれぞれ個別に選択され
る。
The variable delay circuit 120 has a plurality of delay elements, and reduces the input clock to at least 1 in the entire variable delay circuit.
It is possible to delay by more than the clock cycle, and a delay element whose input clock phase is delayed is selected according to a phase control signal output from the control circuits 111 and 112 to be described later. The signals are output to the corresponding phase determination circuits 101 and 102. Note that 2 selected by the variable delay circuit 120
The two delayed clocks originate from the same clock,
The phases are different but the frequencies are the same.
The two delayed clocks are individually selected by the phase control signals output from the control circuits 111 and 112, respectively.

【0013】位相判定回路10x(xは、1又は2)
は、入力信号の位相と前記可変遅延回路120から出力
された遅延クロックの位相とを比較し、入力信号と遅延
クロックとの位相差を表わす位相差信号を制御回路11
xへ出力し、入力信号と可変遅延回路120から出力さ
れた遅延クロックとを同期させ、同期させた信号を同期
パターン検出回路13xとシリアルパラレル変換回路1
4xとへ出力するものである。
The phase determination circuit 10x (x is 1 or 2)
Compares the phase of the input signal with the phase of the delayed clock output from the variable delay circuit 120 and outputs a phase difference signal representing the phase difference between the input signal and the delayed clock to the control circuit 11.
x, and synchronizes the input signal with the delay clock output from the variable delay circuit 120, and synchronizes the synchronized signal with the synchronization pattern detection circuit 13x and the serial / parallel conversion circuit 1.
4x.

【0014】制御回路111、112は、対応する位相
判定回路101、102から出力された位相差信号に基
づいて、入力信号の位相に対して遅延クロックを追従さ
せるために、可変遅延回路120において選択すべき遅
延素子を定め、これを位相制御信号として可変遅延回路
120へ出力するものである。具体的には、制御回路1
11、112は、位相判定回路101、102から出力
された位相差信号と、後述する系選択制御回路150か
ら出力された系切替信号と、この制御回路111、11
2と同一の機能を有する他の系の制御回路112、11
1から出力された位相制御信号とを入力信号とする。そ
して、入力信号の位相が遅延クロックの位相に対して進
んでいるとき、当該制御回路111、112は、より位
相の進んだ遅延クロックにするために、可変遅延回路1
20において、より遅延時間の短い遅延素子を選択させ
るための位相制御信号を出力し、入力信号の位相が遅延
クロックの位相に対して遅れているとき、当該制御回路
111、112は、より位相の遅れた遅延クロックにす
るために、可変遅延回路120において、より遅延時間
の長い遅延素子を選択させるための位相制御信号を可変
遅延回路120へ出力する機能を有する。
The control circuits 111 and 112 select the variable delay circuit 120 based on the phase difference signals output from the corresponding phase determination circuits 101 and 102 in order to make the delayed clock follow the phase of the input signal. A delay element to be determined is determined and output to the variable delay circuit 120 as a phase control signal. Specifically, the control circuit 1
Reference numerals 11 and 112 denote phase difference signals output from the phase determination circuits 101 and 102, a system switching signal output from a system selection control circuit 150 described later, and control circuits 111 and 11.
2. Control circuits 112 and 11 of other systems having the same function as
The phase control signal output from 1 is an input signal. When the phase of the input signal is advanced with respect to the phase of the delayed clock, the control circuits 111 and 112 operate the variable delay circuit 1 to make the delayed clock more advanced.
At 20, a phase control signal for selecting a delay element having a shorter delay time is output, and when the phase of the input signal is delayed with respect to the phase of the delay clock, the control circuits 111 and 112 output the phase control signal having a smaller phase. The variable delay circuit 120 has a function of outputting a phase control signal for selecting a delay element having a longer delay time to the variable delay circuit 120 in order to use a delayed clock.

【0015】また、当該制御回路111、112を含む
系が非選択系となっている場合で、選択系である他の制
御回路112、111から出力された位相制御信号によ
って、他の制御回路112、111が限界の遅延素子
(それ以上位相の進んだ又は位相の遅れた遅延クロック
にする遅延素子が無い状態)を選択していることを当該
制御回路111、112が認識したとき、当該制御回路
111、112は、ビット位相同期の確立のために、上
記の機能に加え、他の制御回路112、111が選択し
ている遅延クロックと位相差が1クロック以内の遅延ク
ロックであり、他の制御回路112、111が選択した
遅延クロックが有する位相以外の位相を有する遅延クロ
ックを選択するように位相制御信号を可変遅延回路12
0へ出力する機能をも有する。
When the system including the control circuits 111 and 112 is a non-selection system, the other control circuits 112 and 111 are controlled by the phase control signals output from the other control circuits 112 and 111 as the selection system. , 111 selects the limit delay element (a state in which there is no delay element that becomes a delayed clock whose phase is advanced or delayed), the control circuit 111 Reference numerals 111 and 112 are delay clocks having a phase difference of one clock or less from the delay clocks selected by the other control circuits 112 and 111 in addition to the above functions for establishing bit phase synchronization. The phase control signal is supplied to the variable delay circuit 12 so as to select a delay clock having a phase other than the phase of the delay clock selected by the circuits 112 and 111.
It also has the function of outputting to 0.

【0016】制御回路111、112によって、再選択
された遅延クロックは、再び位相判定回路101、10
2によって入力信号との位相が判定される。従って、位
相判定回路101、102と、制御回路111、112
と、可変遅延回路120とで構成される2つの位相同期
回路は、時間的に位相が変動する入力信号に対して遅延
クロックの位相を追従させる機能を有する。
The delayed clocks reselected by the control circuits 111 and 112 are again applied to the phase determination circuits 101 and 10.
2, the phase with the input signal is determined. Therefore, the phase determination circuits 101 and 102 and the control circuits 111 and 112
And the variable delay circuit 120 have a function of causing the phase of the delay clock to follow the input signal whose phase varies with time.

【0017】同期パターン検出回路13xは、転送信号
に挿入されている同期パターンを検出するものである。
通常、通信システムにおいて授受される転送信号は、あ
る特定のフォーマットを有しいる。そして、受信装置に
おいてワード同期を確立させるため、転送信号内には特
定の同期パターンが挿入されている。
The synchronization pattern detection circuit 13x detects a synchronization pattern inserted in the transfer signal.
Usually, a transfer signal transmitted and received in a communication system has a specific format. Then, in order to establish word synchronization in the receiving device, a specific synchronization pattern is inserted in the transfer signal.

【0018】シリアルパラレル変換回路14xは、可変
遅延回路120から出力された遅延クロックを分周し、
これを低速クロックとして出力し、同期パターン検出回
路13xから出力されたパターン検出信号に基づいて、
シリアル信号である入力信号を低速クロックに同期する
パラレル信号に展開し、出力するものである。
The serial / parallel conversion circuit 14x divides the frequency of the delayed clock output from the variable delay circuit 120,
This is output as a low-speed clock, and based on the pattern detection signal output from the synchronization pattern detection circuit 13x,
The input signal, which is a serial signal, is developed into a parallel signal synchronized with a low-speed clock and output.

【0019】系選択制御回路150は、選択系の制御回
路111、112から出力された位相制御信号と選択系
の位相判定回路101、102から出力された位相差信
号とから、選択系の位相追従が破綻する(以下、これを
臨界点という)ことを認識したとき(即ち、選択系で
は、それ以上の位相追従ができないことを認識したと
き)、非選択系の同期パターン検出回路132、131
が最初に同期パターンを検出した時点で、非選択系を選
択系に切り替えるように切替信号を系選択回路151へ
出力するものである。なお、上記臨界点とは、ビット位
相同期が破綻した状態を示すものではなく、ビット位相
同期がかろうじて確立されている状態を示す。
The system selection control circuit 150 determines the phase tracking of the selected system from the phase control signals output from the selected control circuits 111 and 112 and the phase difference signals output from the selected phase determining circuits 101 and 102. Is broken (hereinafter, this is referred to as a critical point) (that is, when it is recognized that the phase selection cannot be further followed in the selection system), the synchronization pattern detection circuits 132 and 131 of the non-selection system
Is to output a switching signal to the system selection circuit 151 so as to switch the non-selected system to the selected system when the synchronization pattern is first detected. Note that the critical point does not indicate a state in which bit phase synchronization is broken, but indicates a state in which bit phase synchronization is barely established.

【0020】系選択回路151は、系選択制御回路15
0から出力された系切替信号に従って、切替信号が示す
系のシリアルパラレル変換回路141、142から出力
されたパラレル信号と低速クロックとを位相調整回路1
52へ出力するものである。なお、系の切り替えは、系
選択回路151によって行われるので、パラレル信号及
び低速クロックのデータの安定時間内に系の切り替えを
行うことは十分可能であり、クリティカルなタイミング
制御は必要とされない。
The system selection circuit 151 includes a system selection control circuit 15.
In accordance with the system switching signal output from 0, the phase adjustment circuit 1 converts the parallel signal output from the serial / parallel conversion circuits 141 and 142 of the system indicated by the switching signal and the low-speed clock into one.
52. Since the system switching is performed by the system selection circuit 151, it is sufficiently possible to perform the system switching within the stable time of the data of the parallel signal and the low-speed clock, and critical timing control is not required.

【0021】位相調整回路152は、系選択回路151
から出力されたパラレル信号と低速クロックとシステム
クロックとを入力信号とし、系選択回路151によって
系が切り替えられた際、系選択回路151から出力され
る切り替え前のパラレル信号と切り替え後のパラレル信
号との位相差を吸収し、低速クロックに従うパラレル信
号をシステムクロックに従うパラレル信号に変換し、出
力信号として出力するものである。なお、系選択回路1
51によって系が切り替えられた際に生じるパラレル信
号の位相差は、分周前の遅延クロックの1クロック周期
より短い。従って、切り替えによって生じるパラレル信
号の微少な位相変動は、この位相調整回路152によっ
て十分吸収可能である。従って、最終的にはシステムク
ロックに同期した連続なパラレル信号が得られる。
The phase adjustment circuit 152 includes a system selection circuit 151
When the system is switched by the system selection circuit 151, the parallel signal before switching and the parallel signal after switching are output from the system selection circuit 151 when the parallel signal, the low-speed clock, and the system clock are input signals. And converts the parallel signal according to the low-speed clock into a parallel signal according to the system clock, and outputs it as an output signal. Note that the system selection circuit 1
The phase difference of the parallel signal generated when the system is switched by 51 is shorter than one clock cycle of the delayed clock before the frequency division. Therefore, the minute phase fluctuation of the parallel signal caused by the switching can be sufficiently absorbed by the phase adjustment circuit 152. Therefore, a continuous parallel signal synchronized with the system clock is finally obtained.

【0022】以上、この実施形態のビット位相同期回路
を構成する各部の機能について詳述したが、さらに以下
では、この実施形態を構成する位相判定回路101、1
02と可変遅延回路120と系選択回路151とを詳細
に示す。図2は、この実施形態の機能的構成を示した図
1において、上記各回路について具体的にその回路構成
を示した詳細図である。
The function of each part constituting the bit phase synchronization circuit of this embodiment has been described above in detail. In the following, however, the phase determination circuits 101, 1 constituting this embodiment will be described.
02, the variable delay circuit 120, and the system selection circuit 151 are shown in detail. FIG. 2 is a detailed diagram specifically showing the circuit configuration of each of the above circuits in FIG. 1 showing the functional configuration of this embodiment.

【0023】この実施形態を構成する各回路が有する機
能は上述したので、以下では、上記各回路の回路構成と
構成された回路に基づく各回路の機能についてのみ説明
する。
Since the functions of the circuits constituting this embodiment have been described above, only the circuit configuration of each of the above circuits and the function of each circuit based on the configured circuit will be described below.

【0024】なお、図1において、制御回路111、1
12は、いわゆるアップダウンカウンタを応用すること
によって実現可能である。そこで、図2では、制御回路
111、112をそれぞれカウンタ回路601、602
として表わす。そして、カウンタ回路601、602
は、可変遅延回路120の遅延素子(201〜20n)
のアドレス値を位相制御信号として出力する。また、ク
ロック分周機能をも有するシリアルパラレル変換回路1
41は、シリアルパラレル変換回路410とクロックを
分周する分周回路411とに分けて図2に示した。シリ
アルパラレル変換回路142についても同様である。さ
らに、系選択回路151が有する機能は、エラスティク
ストアメモリによって実現することができるので、図2
では、系選択回路151をエラステックストアメモリ7
01として示した。
In FIG. 1, the control circuits 111, 1
12 can be realized by applying a so-called up / down counter. Therefore, in FIG. 2, the control circuits 111 and 112 are respectively provided with counter circuits 601 and 602
Expressed as Then, the counter circuits 601, 602
Are the delay elements (201 to 20n) of the variable delay circuit 120
Is output as a phase control signal. Further, a serial / parallel conversion circuit 1 also having a clock frequency dividing function
Reference numeral 41 denotes a serial / parallel conversion circuit 410 and a frequency dividing circuit 411 for dividing the frequency of the clock, which are shown in FIG. The same applies to the serial / parallel conversion circuit 142. Further, the function of the system selection circuit 151 can be realized by an elastic store memory.
Then, the system selection circuit 151 is connected to the elastic storage memory 7.
01.

【0025】可変遅延回路120は、遅延素子である遅
延素子201〜20n(nは、2以上の整数)と、クロ
ック選択回路210、211とから構成されている。遅
延素子201〜20nは、入力クロックに対して各々の
遅延素子が縦続接続されており、各々の素子が有する遅
延時間の分解能で段階的に、入力クロックを遅延させる
ものである。各々の素子が出力した各遅延クロックは、
クロック選択回路210と211とに入力される。クロ
ック選択回路210、211は、それぞれカウンタ回路
601、602が指定するアドレス値に対応したクロッ
クを選択し、遅延クロックとして位相判定回路101、
102へ出力するものである。
The variable delay circuit 120 includes delay elements 201 to 20n (n is an integer of 2 or more), which are delay elements, and clock selection circuits 210 and 211. The delay elements 201 to 20n are connected in cascade with respect to the input clock, and delay the input clock step by step with the resolution of the delay time of each element. Each delayed clock output by each element is
Input to clock selection circuits 210 and 211. The clock selection circuits 210 and 211 select clocks corresponding to the address values specified by the counter circuits 601 and 602, respectively, and use the phase determination circuits 101 and 211 as delay clocks.
The data is output to 102.

【0026】位相判定回路101は、固定遅延回路30
1、302と、ラッチ回路であるDFF回路303〜3
05と、排他的否定論理和回路(EXNOR回路)30
6、307と、論理積回路(AND回路)308、30
9とで構成されている。固定遅延回路301、302
は、入力信号の位相を段階的に遅延させるものである。
DFF回路303〜305は、それぞれ、入力信号、固
定遅延回路301、302から出力された信号を入力と
し、クロック選択回路210から出力された遅延クロッ
クで上記入力信号をラッチし、これをラッチ信号として
出力するものである。特に、DFF回路304から出力
されたラッチ信号は、この位相判定回路101の出力信
号となっている。EXNOR回路306は、DFF回路
303、304から出力された上記ラッチ信号の排他的
否定論理和を演算し、AND回路308に対しては演算
結果をそのまま、AND回路309に対しては演算結果
を反転させて出力するものであり、また、EXNOR回
路307は、DFF回路304、305から出力された
上記ラッチ信号の排他的否定論理和を演算し、AND回
路308に対しては演算結果を反転させて、AND回路
309に対しては演算結果をそのまま出力するものであ
る。
The phase determining circuit 101 includes a fixed delay circuit 30
1, 302, and DFF circuits 303 to 3 as latch circuits
05 and an exclusive NOR circuit (EXNOR circuit) 30
6, 307 and AND circuits (AND circuits) 308, 30
9. Fixed delay circuits 301 and 302
Is to delay the phase of the input signal stepwise.
Each of the DFF circuits 303 to 305 receives an input signal and a signal output from the fixed delay circuits 301 and 302 as input, latches the input signal with a delayed clock output from the clock selection circuit 210, and uses the input signal as a latch signal. Output. In particular, the latch signal output from the DFF circuit 304 is an output signal of the phase determination circuit 101. The EXNOR circuit 306 calculates the exclusive NOR of the latch signals output from the DFF circuits 303 and 304, inverts the operation result to the AND circuit 308, and inverts the operation result to the AND circuit 309. The EXNOR circuit 307 calculates the exclusive NOR of the latch signals output from the DFF circuits 304 and 305, and inverts the calculation result to the AND circuit 308. , And the AND circuit 309 outputs the operation result as it is.

【0027】AND回路308、309は、EXNOR
回路306、307から出力された信号の論理積を演算
し、演算結果を位相差信号として出力するものである。
The AND circuits 308 and 309 are provided by EXNOR.
The logical product of the signals output from the circuits 306 and 307 is calculated, and the calculation result is output as a phase difference signal.

【0028】DFF回路303、304の出力が同一
で、DFF回路305の出力のみが異なる場合(固定遅
延回路301から出力された信号の位相がクロック選択
回路210から出力された遅延クロックの位相に対して
遅れている場合)は、AND回路308の出力の論理レ
ベルはHIGHとなり、DFF回路304、DFF回路
305の出力が同一で、DFF回路303の出力のみが
異なる場合(入力信号の位相が、クロック選択回路21
0から出力された遅延クロックの位相に対して進んでい
る場合)は、AND回路309の出力の論理レベルがH
IGHとなる。DFF回路303〜305の出力がすべ
て同一の場合(クロック選択回路210から出力された
遅延クロックに基づいて、ラッチ回路DFF回路303
〜305が入力信号、固定遅延回路301、302から
出力された信号を正しくラッチした場合)は、AND回
路308、309の出力はともにLOWレベルとなる。
When the outputs of the DFF circuits 303 and 304 are the same and only the output of the DFF circuit 305 is different (the phase of the signal output from the fixed delay circuit 301 is different from the phase of the delayed clock output from the clock selection circuit 210). If the output level of the AND circuit 308 is HIGH, the outputs of the DFF circuits 304 and 305 are the same and only the output of the DFF circuit 303 is different (the phase of the input signal is Selection circuit 21
0), the logical level of the output of the AND circuit 309 is H.
It becomes IGH. When the outputs of the DFF circuits 303 to 305 are all the same (based on the delay clock output from the clock selection circuit 210, the latch circuit DFF circuit 303
305 when the input signal and the signals output from the fixed delay circuits 301 and 302 are correctly latched), the outputs of the AND circuits 308 and 309 both become LOW level.

【0029】位相判定回路102は、固定遅延回路31
0、311と、ラッチ回路であるDFF回路312〜3
14と、排他的否定論理和回路(EXNOR回路)31
5、316と、論理積回路(AND回路)317、31
8とで構成されている。なお、上記各回路が有する機能
は、位相判定回路101の場合と同様なのでその説明を
省略する。
The phase determination circuit 102 is a fixed delay circuit 31
0, 311 and DFF circuits 312-3 which are latch circuits
14 and an exclusive NOR circuit (EXNOR circuit) 31
5, 316 and AND circuits (AND circuits) 317, 31
8. Note that the functions of each of the above circuits are the same as those of the phase determination circuit 101, and a description thereof will be omitted.

【0030】系選択回路151は、系選択セレクタ51
0、511とによって構成されている。系選択セレクタ
510は、系選択制御回路150の出力である系切替信
号に従って、シリアルパラレル変換回路410、412
の出力であるパラレル信号のうち、いずれかをエラステ
ックストアメモリ152へ出力するものである。系選択
セレクタ511は、系選択制御回路150の出力である
系切替信号に従って、分周回路411、413の出力で
ある低速クロック(パラレル信号と同期したクロック)
のうち、いずれかをエラステックストアメモリ701へ
出力するものである。
The system selection circuit 151 includes a system selection selector 51.
0, 511. The system selection selector 510 outputs the serial / parallel conversion circuits 410 and 412 according to the system switching signal output from the system selection control circuit 150.
Out of the parallel signals output from the ESC memory 152 to the elastic store memory 152. The system selection selector 511 outputs a low-speed clock (clock synchronized with a parallel signal) output from the frequency dividers 411 and 413 according to a system switching signal output from the system selection control circuit 150.
Is output to the elastic store memory 701.

【0031】エラスティックストアメモリ701は、系
選択セレクタ511から出力された低速クロックに同期
して、系選択セレクタ510から出力されたパラレル信
号をメモリ内に書き込み、システムクロックに同期し
て、メモリ内に書き込まれた上記パラレル信号を読み出
し、これを外部のシステムに出力するものである。
The elastic store memory 701 writes the parallel signal output from the system selection selector 510 into the memory in synchronization with the low-speed clock output from the system selection selector 511, and synchronizes with the system clock. Is read out and output to an external system.

【0032】(A−2)実施形態の動作 以上の構成を有するこの実施形態のビット位相同期回路
の動作を以下に説明する。なお、この実施形態を構成す
る各回路の動作を詳細に説明するために、ここでは先に
示した図2に基づいて説明を行なう。また、シリアルパ
ラレル変換回路は8ビットパラレル信号に変換するもの
である。
(A-2) Operation of the Embodiment The operation of the bit phase locked loop circuit of this embodiment having the above configuration will be described below. Note that, in order to describe the operation of each circuit constituting this embodiment in detail, the description will be given here with reference to FIG. 2 described above. The serial / parallel conversion circuit converts the signal into an 8-bit parallel signal.

【0033】まず、第1の系が選択系であり、第1の系
によってビット位相同期が確立されており、クロック選
択回路210から出力された遅延クロックによって、入
力信号、固定遅延回路301、302から出力された信
号が確実にラッチされている場合の動作を説明する。図
3は、入力信号、固定遅延回路301、302、クロッ
ク選択回路210、DFF回路304、AND回路30
8、309、同期パターン検出回路131、分周回路4
11、シリアルパラレル変換回路410の出力信号のタ
イムチャートを示したものである。以下、図2及び3を
参照しながら説明する。
First, the first system is a selection system, and bit phase synchronization has been established by the first system. An input signal, fixed delay circuits 301 and 302 are input by a delayed clock output from the clock selection circuit 210. The operation in the case where the signal output from the device is securely latched will be described. FIG. 3 shows an input signal, fixed delay circuits 301 and 302, a clock selection circuit 210, a DFF circuit 304, and an AND circuit 30.
8, 309, synchronous pattern detecting circuit 131, frequency dividing circuit 4
11 shows a time chart of the output signal of the serial / parallel conversion circuit 410. This will be described below with reference to FIGS.

【0034】入力信号は、固定遅延回路301によって
遅延量PH1だけ遅延され、さらに固定遅延回路302
によって遅延量PH2(=PH×2)だけ遅延される。
タイムチャートに示したように、入力信号と固定遅延回
路301、302から出力された信号の同一ビット内で
クロック選択回路210から出力された遅延クロックが
立ち上がっているので(図3において、例えばt1を参
照)、DFF回路303〜305に入力したこれらの信
号は、遅延クロックによって確実にラッチされる。従っ
て、DFF回路303〜305から出力されたラッチ信
号は全て一致し、AND回路308、309から出力さ
れた位相差信号はともにLOWレベルとなる。従って、
位相差信号が入力するカウンタ回路601は、現在の位
相制御信号(即ち、クロック選択回路210のアドレス
値)を維持する。また、DDF回路304から出力され
たラッチ信号は、クロック選択回路210から出力され
た遅延クロックに同期しており(図3において例えば、
t1を参照)、ビット位相同期が確立されていることが
示される。
The input signal is delayed by a fixed delay circuit 301 by a delay amount PH 1,
The delay is delayed by the delay amount PH2 (= PH × 2).
As shown in the time chart, since the delayed clock output from the clock selection circuit 210 rises within the same bit of the input signal and the signal output from the fixed delay circuits 301 and 302 (for example, in FIG. These signals input to the DFF circuits 303 to 305 are reliably latched by the delay clock. Therefore, the latch signals output from the DFF circuits 303 to 305 all match, and both the phase difference signals output from the AND circuits 308 and 309 are at the LOW level. Therefore,
The counter circuit 601 to which the phase difference signal is input maintains the current phase control signal (that is, the address value of the clock selection circuit 210). Further, the latch signal output from the DDF circuit 304 is synchronized with the delayed clock output from the clock selection circuit 210 (for example, in FIG. 3,
t1), indicating that bit phase synchronization has been established.

【0035】DFF回路304から出力されたラッチ信
号は、同期パターン検出回路131とシリアルパラレル
変換回路410とに入力される。同期パターン検出回路
131では、ラッチ信号内に挿入されている同期パター
ンが検出され、同期パターンが検出されたとき、同期パ
ターン検出回路131の出力である同期パターン検出信
号がHIGHレベルとなる。この動作例では、#7ビッ
トに同期パターンが挿入されているものとした(図3の
t2を参照)。一方、分周回路411へ入力された遅延
クロックは、そのクロックが8分周され、低速クロック
が出力される。
The latch signal output from the DFF circuit 304 is input to the synchronous pattern detection circuit 131 and the serial / parallel conversion circuit 410. The synchronization pattern detection circuit 131 detects the synchronization pattern inserted in the latch signal, and when the synchronization pattern is detected, the synchronization pattern detection signal output from the synchronization pattern detection circuit 131 becomes HIGH level. In this operation example, it is assumed that a synchronization pattern is inserted into the # 7 bit (see t2 in FIG. 3). On the other hand, the delayed clock input to the frequency dividing circuit 411 divides the frequency of the clock by 8, and outputs a low-speed clock.

【0036】シリアルパラレル変換回路410は、同期
パターン検出回路131から出力された同期パターン検
出信号がHIGHレベルになったことに基づいてワード
同期を確立し、回路DFF回路304から出力されたシ
リアル信号であるラッチ信号の#0ビット〜#7ビット
を、分周回路411から出力された低速クロックに従う
8ビットのパラレル信号に変換する。
The serial / parallel conversion circuit 410 establishes word synchronization based on the fact that the synchronization pattern detection signal output from the synchronization pattern detection circuit 131 has gone high, and uses the serial signal output from the circuit DFF circuit 304 Bits # 0 to # 7 of a certain latch signal are converted into 8-bit parallel signals according to the low-speed clock output from the frequency dividing circuit 411.

【0037】シリアルパラレル変換回路141及び分周
回路411から出力されたパラレル信号及び低速クロッ
クは、それぞれ、系選択セレクタ510、511を経由
して、エラスティックストアメモリ701に入力され
る。
The parallel signal and the low-speed clock output from the serial / parallel conversion circuit 141 and the frequency dividing circuit 411 are input to the elastic store memory 701 via the system selection selectors 510 and 511, respectively.

【0038】エラスティックストアメモリ701は、低
速クロックに同期して、8ビットのパラレル信号をメモ
リ内に書き込み、外部から入力されたシステムクロック
に同期して、メモリ内に書き込まれた上記パラレル信号
を読み出し、これを外部のシステムに出力する。
The elastic store memory 701 writes an 8-bit parallel signal in the memory in synchronization with the low-speed clock, and stores the parallel signal written in the memory in synchronization with the externally input system clock. Read and output this to an external system.

【0039】次に、第1の系が選択系であり、第1の系
によってビット位相同期が確立されてはいるが、固定遅
延回路301から出力された信号の位相がクロック選択
回路210から出力された遅延クロックの位相より進ん
でいる場合で、可変遅延回路120のクロック選択回路
210が遅延処理を施されていない入力信号を選択して
いるときの動作を説明する。
Next, the first system is the selection system, and although the bit phase synchronization has been established by the first system, the phase of the signal output from the fixed delay circuit 301 is output from the clock selection circuit 210. The operation when the clock selection circuit 210 of the variable delay circuit 120 selects an input signal that has not been subjected to delay processing when the phase is advanced from the phase of the delayed clock that has been performed will be described.

【0040】図4は、入力信号、第1の系の固定遅延回
路301、302、クロック選択回路210、ラッチ回
路304、AND回路308、309、分周回路41
1、シリアルパラレル変換回路410、第2の系のクロ
ック選択回路211、ラッチ回路313、同期パターン
検出回路132、分周回路413、シリアルパラレル変
換回路412、系選択制御回路150、系選択セレクタ
510、系選択セレクタ511の出力信号のタイムチャ
ートを示したものである。なお、第2の系の固定遅延回
路310、311の出力信号は、固定遅延回路301、
302の出力信号に一致する。以下、図2及び4を参照
しながら説明する。
FIG. 4 shows an input signal, first system fixed delay circuits 301 and 302, a clock selection circuit 210, a latch circuit 304, AND circuits 308 and 309, and a frequency dividing circuit 41.
1, serial / parallel conversion circuit 410, second system clock selection circuit 211, latch circuit 313, synchronization pattern detection circuit 132, frequency division circuit 413, serial / parallel conversion circuit 412, system selection control circuit 150, system selection selector 510, 9 is a time chart of an output signal of the system selection selector 511. Note that the output signals of the fixed delay circuits 310 and 311 of the second system are fixed delay circuits 301 and
302. This will be described below with reference to FIGS.

【0041】入力信号は、固定遅延回路301によって
遅延量PH1だけ遅延され、さらに固定遅延回路302
によって遅延量PH2(PH1×2)だけ遅延される。
The input signal is delayed by a fixed delay circuit 301 by an amount of delay PH1.
The delay is delayed by the delay amount PH2 (PH1 × 2).

【0042】入力信号と固定遅延回路301、302か
ら出力された信号において、固定遅延回路301、30
2から出力された信号については、同一ビット内でクロ
ック選択回路210から出力された遅延クロックが立ち
上がっている。しかし、入力信号については、入力信号
のビットの境界である不定領域で遅延クロックが立ち上
がっている(図4の例えば、t3参照)。従って、DF
F回路303〜305が、入力信号、固定遅延回路30
1、302から出力された信号を遅延クロックによって
ラッチする際に、固定遅延回路301、302から出力
された信号ついては正確にラッチできるが、入力信号に
ついてはレベルが不定領域にあるため、正確にラッチす
ることができない。ここでは、DFF回路303〜30
5から出力されたラッチ信号のうち、DFF回路303
から出力されたラッチ信号のみが他の信号と一致しない
とする。この場合、AND回路309から出力された位
相差信号のみがHIGHレベルとなる。この段階では、
固定遅延回路301から出力されたラッチ信号は、遅延
クロックに対してPH3の位相余裕しかないものの、こ
の固定遅延回路301から出力されたラッチ信号が第1
の系の出力信号となるので、ビット位相同期は確立され
た状態にある。
In the input signal and the signals output from the fixed delay circuits 301 and 302, the fixed delay circuits 301 and 30
As for the signal output from No. 2, the delayed clock output from the clock selection circuit 210 rises within the same bit. However, with respect to the input signal, the delay clock rises in an undefined region which is a bit boundary of the input signal (see, for example, t3 in FIG. 4). Therefore, DF
F circuits 303 to 305 are input signals, fixed delay circuit 30
When the signals output from the fixed delay circuits 301 and 302 are latched by the delayed clock, the signals output from the fixed delay circuits 301 and 302 can be accurately latched. Can not do it. Here, the DFF circuits 303 to 30
5 among the latch signals output from the DFF circuit 303
It is assumed that only the latch signal output from the other does not match the other signals. In this case, only the phase difference signal output from the AND circuit 309 becomes HIGH level. At this stage,
Although the latch signal output from the fixed delay circuit 301 has only a phase margin of PH3 with respect to the delay clock, the latch signal output from the fixed delay circuit 301 is the first latch signal.
Therefore, the bit phase synchronization is in an established state.

【0043】位相差信号によって、入力信号の位相が進
んだことを認識したカウンタ回路601は、クロック選
択回路210において、より位相の進んだ遅延クロック
に対応するアドレス値があれば(即ち、それ以上に遅延
クロックの位相を進ませることができる遅延素子があれ
ば)、そのアドレス値をクロック選択回路210へ出力
し、クロック選択回路210から出力される遅延クロッ
クの位相を進ませる。しかし、今の場合、可変遅延回路
120のクロック選択回路210が遅延処理を施されて
いない入力信号を選択してるので、カウンタ回路601
はラッチ信号と遅延クロックとの位相差PH3を解消す
るクロック選択回路210のアドレス値を出力すること
ができない。
The counter circuit 601, which recognizes that the phase of the input signal has advanced by the phase difference signal, determines if the clock selection circuit 210 has an address value corresponding to the delayed clock whose phase has advanced (that is, if the address value is greater than that). If there is a delay element capable of advancing the phase of the delay clock, the address value is output to the clock selection circuit 210, and the phase of the delay clock output from the clock selection circuit 210 is advanced. However, in this case, since the clock selection circuit 210 of the variable delay circuit 120 selects the input signal that has not been subjected to the delay processing, the counter circuit 601
Cannot output the address value of the clock selection circuit 210 for eliminating the phase difference PH3 between the latch signal and the delay clock.

【0044】一方、クロック選択回路211を制御する
第2の系のカウンタ回路602は、カウンタ回路601
から出力された位相制御信号(クロック選択回路210
のアドレス値)から、可変遅延回路120が、遅延処理
が施されていない入力信号(即ち、それ以上に位相の進
んだ遅延クロックがない信号)を選択していることを認
識し、系制御回路150から出力された系切替信号によ
って、自らが属する第2の系が非選択系であることを認
識した時点で、AND回路317、318から出力され
た位相差信号に基づいて、DFF回路312〜314の
出力が全て確実にラッチできるような遅延クロックであ
って、カウンタ回路601が選択した遅延クロック以外
の遅延クロック(例えば、遅延素子204に対応する遅
延クロックなど)に対応するアドレス値をクロック選択
回路211へ出力する。
On the other hand, the second system counter circuit 602 for controlling the clock selection circuit 211
Control signal (clock selection circuit 210)
The variable control circuit 120 recognizes that the input signal to which the delay processing has not been performed (that is, the signal having no delayed clock whose phase is further advanced) is selected from the At the time when the system switching signal output from 150 recognizes that the second system to which it belongs is a non-selection system, based on the phase difference signals output from AND circuits 317 and 318, DFF circuits 312 to An address value corresponding to a delay clock other than the delay clock selected by the counter circuit 601 (for example, a delay clock corresponding to the delay element 204) is selected as a delay clock such that all outputs of 314 can be reliably latched. Output to the circuit 211.

【0045】タイムチャートに示したとおり、クロック
選択回路211から出力された遅延クロックの位相は、
クロック選択回路210から出力された遅延クロックの
位相より約180度進んでいる。即ち、入力信号、固定
遅延回路310、311から出力された信号の同一ビッ
ト内でクロック選択回路211から出力された遅延クロ
ックが立ち上がっているので(図4の例えば、t4参
照)、第2の系では、ビット位相同期が確立されている
状態にある。
As shown in the time chart, the phase of the delayed clock output from the clock selection circuit 211 is
The phase of the delayed clock output from the clock selection circuit 210 is advanced by about 180 degrees. That is, since the delayed clock output from the clock selection circuit 211 rises within the same bit of the input signal and the signal output from the fixed delay circuits 310 and 311 (see, for example, t4 in FIG. 4), the second system Is in a state where bit phase synchronization has been established.

【0046】カウンタ回路601、602から出力され
た位相制御信号と位相判定回路101から出力された位
相差信号とによって、第1の系が臨界点に達したことを
認識した系制御回路150は、第2の系の同期パターン
検出回路132によって同期パターンが検出された時点
(図4のt5)で、第1の系を非選択系に、第2の系を
選択系にするために、出力信号をHIGHレベルからL
OWレベルに切り替え、系切替信号を系選択セレクタ5
10、511とカウンタ回路601、602とへ出力す
る。
The system control circuit 150, which recognizes that the first system has reached the critical point, based on the phase control signals output from the counter circuits 601 and 602 and the phase difference signal output from the phase determination circuit 101, At the time when the synchronization pattern is detected by the synchronization pattern detection circuit 132 of the second system (t5 in FIG. 4), the output signal is set to make the first system a non-selection system and the second system a selection system. From HIGH level to L
Switch to the OW level, and set the system switching signal to the system selection selector 5
10, 511 and the counter circuits 601, 602.

【0047】系選択セレクタ510、511は、系選択
制御回路150から出力された系切替信号に従って、第
2の系から出力されたパラレル信号と低速クロックとを
選択し、エラステックストアメモリ701へ出力する。
この切り替えによって、系選択セレクタ510、511
から出力されたシリアル信号と低速クロックとの位相
は、切り替えがなかった場合と比べてそれぞれPH4
(約1/2クロック周期)だけ短くなる。
System selection selectors 510 and 511 select a parallel signal output from the second system and a low-speed clock according to the system switching signal output from system selection control circuit 150 and output the selected signal to elastic store memory 701. I do.
By this switching, the system selection selectors 510, 511
The phase of the serial signal and the phase of the low-speed clock output from the
(Approximately 1/2 clock cycle).

【0048】エラステックストアメモリ701は、系選
択セレクタ510、511での切り替え動作により生じ
たパラレル信号の位相変動(図4では、PH4の位相変
動)を吸収し、上記パラレル信号をシステムクロックに
乗せかえ、それを出力信号として出力する。なお、上記
のパラレル信号の位相変動は、シリアルクロックで1ク
ロック周期以内の位相差しかないため、その位相差をエ
ラステックストアメモリ701で吸収することは十分可
能である。
The elastic store memory 701 absorbs the phase fluctuation (in FIG. 4, the phase fluctuation of PH4) of the parallel signal caused by the switching operation of the system selection selectors 510 and 511, and puts the parallel signal on the system clock. Instead, it is output as an output signal. Note that the above-described phase fluctuation of the parallel signal has a phase difference within one clock cycle of the serial clock, so that the phase difference can be sufficiently absorbed by the elastic store memory 701.

【0049】(A−3)実施形態の効果 以上の構成を有するこの実施形態のビット位相同期回路
の効果を以下説明する。
(A-3) Effect of Embodiment The effect of the bit phase locked loop circuit of this embodiment having the above configuration will be described below.

【0050】この実施形態は、第1の系と第2の系とが
相異なる位相を有する遅延クロックによって入力信号を
追従し、一方の系による位相追従が破綻する直前に他の
系に切り替えるので、複数個の遅延素子を有する可変遅
延回路を用いても、入力信号の位相変動に対して広範囲
な位相追従を実現することができる。
In this embodiment, the first system and the second system follow an input signal by a delay clock having a different phase, and switch to another system immediately before the phase following by one system fails. Even if a variable delay circuit having a plurality of delay elements is used, a wide range of phase tracking can be realized with respect to the phase fluctuation of the input signal.

【0051】また、この実施形態は、位相判定回路をか
ら出力されたシリアル信号であるラッチ信号をシリアル
パラレル変換回路でパラレル信号に変換するので、後段
の系選択回路151において系が切り替えられたときに
生じる位相変動は、シリアルクロックで1クロック周期
以内の位相差しかない。このため、この位相差は位相調
整回路152で容易に吸収することができる。
Further, in this embodiment, the latch signal, which is a serial signal output from the phase determination circuit, is converted into a parallel signal by the serial / parallel conversion circuit. Therefore, when the system is switched in the system selection circuit 151 at the subsequent stage, Occurs only within one clock cycle of the serial clock. Therefore, the phase difference can be easily absorbed by the phase adjustment circuit 152.

【0052】さらに、上記シリアルパラレル変換回路
は、同期パターンが検出された時点で、シリアル信号を
パラレル信号へ変換する。そのために、ワード同期が確
立した状態でシリアルパラレル変換回路からパラレル信
号が出力されるので、後段においてパラレル信号を並び
替える必要がない。
Further, the serial / parallel conversion circuit converts a serial signal into a parallel signal when a synchronous pattern is detected. Therefore, since the parallel signal is output from the serial / parallel conversion circuit in a state where the word synchronization is established, there is no need to rearrange the parallel signals in the subsequent stage.

【0053】(B)その他の実施形態 なお、実施形態では、入力クロックの多相クロック(上
記実施形態では、遅延クロック)を得るために、複数個
の遅延素子を有する可変遅延回路を用いたが、他の多相
クロックの形成方法を適用しているものにも、この発明
を適用できる。
(B) Other Embodiments In this embodiment, a variable delay circuit having a plurality of delay elements is used in order to obtain a multi-phase clock (a delayed clock in the above embodiment) of an input clock. The present invention can also be applied to those to which other multi-phase clock forming methods are applied.

【0054】また、実施形態は、非選択系については、
選択系の制御回路が臨界点に達すか否かを問わず、常に
ビット位相同期動作を行う機能を有するが、選択系の制
御回路が臨界点に達するまでは待機状態とし、選択系の
制御回路が臨界点に達した時点でビット位相同期動作を
開始する機能としても良い。
Further, in the embodiment, for the non-selection system,
Regardless of whether the control circuit of the selection system reaches the critical point or not, it has the function of always performing the bit phase synchronization operation, but it is in a standby state until the control circuit of the selection system reaches the critical point, and the control circuit of the selection system May be a function of starting a bit phase synchronization operation at the time point of reaching a critical point.

【0055】さらに、実施形態では、ビット位相同期と
ともにワード同期の確立をも同時に確立させるために、
同期パターン検出回路で同期パターンを検出したが、ビ
ット位相同期とともにフレーム同期を確立させるため
に、同期パターン検出回路でフレーム同期パターンを検
出しても良く、或いは、同期パターン検出回路を具備す
る構成としなくても良い。
Further, in the embodiment, in order to simultaneously establish the word synchronization as well as the bit phase synchronization,
Although the synchronization pattern is detected by the synchronization pattern detection circuit, the frame synchronization pattern may be detected by the synchronization pattern detection circuit in order to establish the frame synchronization together with the bit phase synchronization, or a configuration including the synchronization pattern detection circuit You don't have to.

【0056】さらにまた、実施形態では、選択系のビッ
ト位相同期が臨界点に達する時点で系の切り替えを行う
こととしたが、臨界点に達することのみが系の切り替え
の条件ではない。従って、選択系のビット位相同期が臨
界点に達するまでに系の切り替えを行うこととしても良
い。
Furthermore, in the embodiment, switching of the system is performed when the bit phase synchronization of the selected system reaches the critical point. However, the condition for switching the system is not limited to reaching the critical point. Therefore, the system may be switched before the bit phase synchronization of the selected system reaches the critical point.

【0057】また、上記実施形態では、位相判定回路と
制御回路と可変遅延回路と同期パターン検出回路とシリ
アルパラレル変換回路とで構成される系を2つ用いた場
合を示したが、この系を3つ以上用いてビット位相同期
回路を構成しても良い。なお、この場合系選択制御回路
が、選択系の位相追従が臨界点に到達することを認識し
たとき、系選択制御回路の制御論理として、例えば、そ
の時点で入力信号に対して最も良く位相追従している遅
延クロックを出力する系を選択することとして良い。こ
のように、制御論理に変更を加えることで、上記系を3
つ以上用いてたビット位相同期回路を構成することがで
きる。
In the above-described embodiment, the case where two systems each including the phase determination circuit, the control circuit, the variable delay circuit, the synchronous pattern detection circuit, and the serial / parallel conversion circuit are used has been described. A bit phase synchronization circuit may be configured using three or more. In this case, when the system selection control circuit recognizes that the phase tracking of the selection system reaches a critical point, the control logic of the system selection control circuit may, for example, best track the phase of the input signal at that time. The system that outputs the delayed clock that is being performed may be selected. In this way, by making changes to the control logic,
One or more bit phase synchronization circuits can be configured.

【0058】さらに、上記実施形態では、入力信号に対
して確実にラッチすることのできる入力クロックを可変
遅延回路で選択する方法を示したが、上記実施形態で示
した場合とは逆に、可変遅延回路に入力信号を入力さ
せ、入力クロックに対して確実にラッチすることのでき
る遅延された入力クロックを、可変遅延回路で選択する
方法でも良い。
Further, in the above-described embodiment, the method of selecting an input clock which can be reliably latched for an input signal by the variable delay circuit has been described. A method may be used in which an input signal is input to a delay circuit, and a delayed input clock that can be reliably latched with respect to the input clock is selected by a variable delay circuit.

【0059】[0059]

【発明の効果】以上のように、この発明によれば、選択
中の系の位相同期手段による入力信号と入力クロックと
の位相同期が破綻間近なときに、他の系の位相同期手段
による入力信号と入力クロックとを位相同期をさせ、他
の系の位相同期手段による入力信号と入力クロックとを
出力させることにより、入力信号の位相変動に対して広
範囲な位相追従を実現することができる。
As described above, according to the present invention, when the phase synchronization between the input signal and the input clock by the phase synchronizing means of the selected system is about to break, the input by the phase synchronizing means of the other system is almost complete. By synchronizing the phase of the signal with the input clock and outputting the input signal and the input clock by the phase synchronizing means of another system, it is possible to realize a wide range of phase following the phase fluctuation of the input signal.

【図面の簡単な説明】[Brief description of the drawings]

【図1】実施形態の機能的構成を表したブロック図であ
る。
FIG. 1 is a block diagram illustrating a functional configuration of an embodiment.

【図2】実施形態の機能的構成を詳細に表したブロック
図である。
FIG. 2 is a block diagram showing a functional configuration of the embodiment in detail.

【図3】実施形態の動作説明するためのタイムチャート
である。
FIG. 3 is a time chart for explaining the operation of the embodiment.

【図4】実施形態の動作の特徴を説明するためのタイム
チャートである。
FIG. 4 is a time chart for explaining the features of the operation of the embodiment.

【符号の説明】[Explanation of symbols]

101…位相判定回路、102…位相判定回路、111
…制御回路、112…制御回路、131…同期パターン
検出回路、132…同期パターン検出回路、141…シ
リアルパラレル変換回路、142…シリアルパラレル変
換回路 、150…系選択制御回路、151…系選択回
路、152…位相調整回路。
101: phase determination circuit, 102: phase determination circuit, 111
... Control circuit, 112 ... Control circuit, 131 ... Synchronous pattern detection circuit, 132 ... Synchronous pattern detection circuit, 141 ... Serial / parallel conversion circuit, 142 ... Serial / parallel conversion circuit, 150 ... System selection control circuit, 151 ... System selection circuit 152 ... Phase adjustment circuit.

Claims (5)

【特許請求の範囲】[Claims] 【請求項1】 入力信号又は入力クロックの一方を、そ
れらの位相差に応じて移相させることにより、入力信号
と入力クロックとを位相同期させる複数の位相同期手段
と、 対応する上記位相同期手段からの入力クロックを分周し
て低速クロックを生成し、対応する上記位相同期手段か
らの入力信号を上記低速クロックに同期したパラレル信
号に変換する、複数の上記位相同期手段のそれぞれに対
応した複数のシリアルパラレル変換手段と、 複数系の位相同期手段及びシリアルパラレル変換手段の
うちの1つの系を選択してパラレル信号及び低速クロッ
クを出力させると共に、選択中の系の位相同期手段によ
る入力信号と入力クロックとの位相同期が破綻間近なと
きに、他の系のパラレル信号及び低速クロックを出力さ
せる系切替手段とを有することを特徴とするビット位相
同期回路。
1. A plurality of phase synchronization means for phase-locking an input signal and an input clock by shifting one of an input signal and an input clock in accordance with a phase difference between them, and the corresponding phase synchronization means A frequency corresponding to each of the plurality of phase synchronizing means is generated by dividing an input clock from the phase synchronizing means to generate a low-speed clock and converting an input signal from the corresponding phase synchronizing means into a parallel signal synchronized with the low-speed clock. Serial-parallel conversion means, and one of the plurality of phase synchronization means and serial-parallel conversion means is selected to output a parallel signal and a low-speed clock. System switching means for outputting a parallel signal of another system and a low-speed clock when the phase synchronization with the input clock is about to fail. Bit phase synchronizing circuit, characterized in that.
【請求項2】 上記切替手段の後段に、この系切替手段
からのパラレル信号を、上記低速クロックと同一の周波
数を有する外部からのクロックに乗せ換える位相調整手
段をさらに有することを特徴とする請求項1に記載のビ
ット位相同期回路。
2. The apparatus according to claim 1, further comprising: a phase adjusting unit that switches a parallel signal from the system switching unit to an external clock having the same frequency as the low-speed clock, at a stage subsequent to the switching unit. Item 2. The bit phase synchronization circuit according to Item 1.
【請求項3】 上記各位相同期手段はそれぞれ、 与えられた位相制御信号に基づいた遅延量だけ、入力信
号又は入力クロックを遅延させる可変遅延回路と、 この可変遅延回路からの入力信号又は入力クロックと、
他方の入力クロック又は入力信号との位相差を検出する
位相判定回路と、 この位相判定回路が検出した位相差に基づいて、上記位
相制御信号を形成する位相制御回路とを有することを特
徴とする請求項1又は2に記載のビット位相同期回路。
3. Each of the phase synchronization means includes: a variable delay circuit for delaying an input signal or input clock by an amount of delay based on a given phase control signal; and an input signal or input clock from the variable delay circuit. When,
A phase determining circuit that detects a phase difference from the other input clock or the input signal; and a phase control circuit that forms the phase control signal based on the phase difference detected by the phase determining circuit. The bit phase synchronization circuit according to claim 1.
【請求項4】 上記各位相同期手段の可変遅延回路とし
て、共通の可変遅延回路を適用していることを特徴とす
る請求項3に記載のビット位相同期回路。
4. The bit phase synchronization circuit according to claim 3, wherein a common variable delay circuit is applied as a variable delay circuit of each of the phase synchronization means.
【請求項5】 非選択状態の上記位相制御回路は、選択
されている系が切替わる直前、又は常時、選択状態の位
相同期手段において遅延された入力信号又は入力クロッ
クが有する位相とは異なる位相に入力信号又は入力クロ
ックを遅延させる位相制御信号を形成することを特徴と
する請求項3に記載のビット位相同期回路。
5. The phase control circuit in a non-selected state, wherein the phase control circuit has a phase different from a phase of an input signal or an input clock delayed by a phase synchronization unit in a selected state immediately before switching of a selected system or constantly. 4. The bit phase synchronization circuit according to claim 3, wherein a phase control signal for delaying an input signal or an input clock is formed.
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Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
KR100371300B1 (en) * 1999-06-21 2003-02-06 샤프 가부시키가이샤 Bit synchronizing circuit
KR100580862B1 (en) * 2001-05-18 2006-05-17 한국전자통신연구원 Time Demultiplexer of high-speed packet data

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KR100371300B1 (en) * 1999-06-21 2003-02-06 샤프 가부시키가이샤 Bit synchronizing circuit
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