JPH1010505A - Production of plane type display device - Google Patents

Production of plane type display device

Info

Publication number
JPH1010505A
JPH1010505A JP16260096A JP16260096A JPH1010505A JP H1010505 A JPH1010505 A JP H1010505A JP 16260096 A JP16260096 A JP 16260096A JP 16260096 A JP16260096 A JP 16260096A JP H1010505 A JPH1010505 A JP H1010505A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
substrate
wirings
display device
substrates
thickness
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Pending
Application number
JP16260096A
Other languages
Japanese (ja)
Inventor
Hirohiko Nishiki
博彦 錦
Yoshihiro Shimada
吉祐 嶋田
Yoshikazu Sakihana
由和 咲花
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Sharp Corp
Original Assignee
Sharp Corp
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Sharp Corp filed Critical Sharp Corp
Priority to JP16260096A priority Critical patent/JPH1010505A/en
Publication of JPH1010505A publication Critical patent/JPH1010505A/en
Pending legal-status Critical Current

Links

Landscapes

  • Liquid Crystal (AREA)

Abstract

PROBLEM TO BE SOLVED: To obtain a display device which is thin and light by using substrates having the thickness enough to sufficiently withstand the warpage by the stresses and heat of films by etching one of the substrates to reduce its thickness after formation of wirings, etc., on the substrates. SOLUTION: The TFT(thin-film transistor) substrate 15 is obtd. by forming gate wirings 1 as scanning wirings, Cs wirings 4 for formation of auxiliary capacitors and source wirings 2 as signal wirings via gate insulating films 6 interposed therebetween on a substrate consisting of glass, etc., in the form of intersecting the respective wirings with each other. Pixel electrodes 5 are formed of transparent conductive films, such as ITO, in the case of a transmission type and of aluminum, etc., in the case of a reflection type. The wirings 1, 2 and the TFTs 3 connected to the electrodes 5 are arranged respectively near these electrodes 5. Next, the wirings 1, 2, the TFTs 3, etc., are coated with a resist 7 so as to protect the wirings, etc., (b). Etching is thereafter executed to reduce the thickness of the rear surface (the side not coated with the resist) of the substrate 15 and the resist is peeled (c). As a result, the display which is small in the thickness and is light in the weight is inexpensively obtd.

Description

【発明の詳細な説明】DETAILED DESCRIPTION OF THE INVENTION

【0001】[0001]

【発明の属する技術分野】本発明は、液晶表示装置など
平面型表示装置の製造方法に関する。
The present invention relates to a method for manufacturing a flat display device such as a liquid crystal display device.

【0002】[0002]

【従来の技術】従来の平面型表示装置の説明を、TFT
(薄膜トランジスタ)型液晶表示装置を例に挙げて行
う。図1に、TFT基板の1画素部分の平面図を、図2
(a)に図1A−A間断面図を示す。まず、TFT基板
15は、ガラスなどの絶縁性基板上に、アルミ、タンタ
ルなどで走査配線としてゲート配線1、補助容量形成の
ためのCs配線4、チッ化シリコンなどでゲート絶縁膜
6を間に介して、アルミ、タンタル、ITOなどで信号
配線としてソース配線2がそれぞれ交差するように形成
されている。そして、透過型の場合ITO等の透明導電
膜で、反射型の場合アルミなどで画素電極5が形成さ
れ、マトリクス状に配列されており、これら各画素電極
の近傍にそれぞれゲート配線1、ソース配線2および画
素電極5に接続されたTFT3が配置されている。これ
らは、導電膜や絶縁膜を成膜した後、フォトリソ工程、
エッチング工程でパターニングすることにより形成され
る。
2. Description of the Related Art A conventional flat display device will be described by using a TFT.
This is performed using a (thin film transistor) type liquid crystal display device as an example. FIG. 1 is a plan view of one pixel portion of the TFT substrate, and FIG.
FIG. 1A shows a cross-sectional view between FIG. First, a TFT substrate 15 is formed by placing a gate wiring 1 as a scanning wiring of aluminum or tantalum, a Cs wiring 4 for forming an auxiliary capacitance, and a gate insulating film 6 of silicon nitride or the like on an insulating substrate such as glass. The source wirings 2 are formed as signal wirings by using aluminum, tantalum, ITO or the like so as to intersect each other. The pixel electrodes 5 are formed of a transparent conductive film such as ITO in the case of a transmission type and aluminum or the like in the case of a reflection type, and are arranged in a matrix form. 2 and a TFT 3 connected to the pixel electrode 5. These include a photolithography process after forming a conductive film or an insulating film,
It is formed by patterning in an etching step.

【0003】そして、図7(a)に示すように、上記T
FT基板15と、図示しない対向電極などを備えた対向
基板16を貼合わせ、スペーサ13で間隙を一定にし、
液晶12をシール材14で封入してTFT型液晶表示装
置が形成される。
[0003] Then, as shown in FIG.
An FT substrate 15 and a counter substrate 16 having a counter electrode (not shown) are bonded together, and a gap is made constant with a spacer 13.
The liquid crystal 12 is sealed with a sealant 14 to form a TFT type liquid crystal display device.

【0004】[0004]

【発明が解決しようとする課題】近年、平面型表示装置
にはより一層の軽量化、薄型化が求められており、従来
よりも薄い基板を用いて平面型表示装置を製造する必要
があった。また、コストダウンを図るために、マザー基
板と呼ばれる大型基板を用いて、複数の平面型表示装置
を製造する、多面取り技術を用いる必要がある。そこで
従来は、薄くて大きな基板をプロセスの最初から使用し
ていたので、成膜した膜の応力や熱で基板が反り、フォ
トリソ工程などでのパターニング精度の低下や基板搬送
時のトラブルなどプロセス上の問題を引き起こしてい
た。
In recent years, flat display devices have been required to be further reduced in weight and thickness, and it has been necessary to manufacture a flat display device using a thinner substrate than before. . In addition, in order to reduce costs, it is necessary to use a multi-paneling technique for manufacturing a plurality of flat display devices using a large substrate called a mother substrate. In the past, thin and large substrates were used from the beginning of the process, so the substrate warped due to the stress and heat of the deposited film, and the patterning accuracy decreased in the photolithography process, etc. Was causing the problem.

【0005】例えば、基板の大きさが2倍になれば、膜
の応力による基板の反りも2倍になり、さらに基板の厚
さを半分にすれば、膜の応力による反りはさらに2倍に
なる。この様に、大型で薄い基板を用いて平面型表示装
置を作るには、従来よりはるかに高いパターニング精度
と基板搬送精度が必要となり、そのため基板の大きさや
厚さの限界は、製造装置の能力の限界により決まってい
た。
For example, if the size of the substrate is doubled, the warpage of the substrate due to the stress of the film is also doubled, and if the thickness of the substrate is halved, the warpage due to the stress of the film is further doubled. Become. As described above, in order to make a flat display device using a large and thin substrate, much higher patterning accuracy and substrate transfer accuracy are required than in the past, so the size and thickness of the substrate are limited by the capacity of the manufacturing apparatus. Was determined by the limitations of

【0006】本発明は、上記課題を解決するためになさ
れたもので、厚みが薄くて重量が軽い平面型表示装置を
安価に提供することである。
SUMMARY OF THE INVENTION The present invention has been made to solve the above problems, and it is an object of the present invention to provide a flat display device having a small thickness and a light weight at a low cost.

【0007】[0007]

【課題を解決するための手段】本発明の平面型表示装置
の製造方法は、上記課題を解決するため、1対の基板間
に、少なくとも互いに交差する複数本の走査配線と信号
配線とを有し、少なくとも基板上に配線を形成した後
に、前記基板のうち少なくとも一枚の基板表面を、エッ
チングして薄くする工程を有することを特徴とする。
According to a method of manufacturing a flat display device of the present invention, at least a plurality of scanning wirings and signal wirings intersecting each other are provided between a pair of substrates. And forming a wiring on at least the substrate, and etching at least one substrate surface of the substrate to reduce the thickness.

【0008】この製造方法により、走査配線や信号配線
を形成する時点では、膜の応力や熱による反りに十分耐
えうるだけの厚みを持った基板を用いて、薄く・軽い平
面型表示装置を製造することができる。
According to this manufacturing method, at the time of forming the scanning wiring and the signal wiring, a thin and light flat type display device is manufactured using a substrate having a thickness enough to withstand the stress of the film and the warpage due to heat. can do.

【0009】また、前記エッチング工程を、一対の基板
を貼合わせた後行っても良い。
Further, the etching step may be performed after a pair of substrates are bonded.

【0010】この製造方法により、プロセスを短縮する
ことができるだけでなく、貼合わせ時にも基板強度を持
たすことができる。
According to this manufacturing method, not only can the process be shortened, but also the strength of the substrate can be maintained during bonding.

【0011】また、1対のマザー基板間に、少なくとも
互いに交差する複数本の走査配線と信号配線とを、有す
る複数個の平面型表示装置を形成した後、分断して個々
の平面型表示装置にする平面型表示装置の製造方法で
は、1対のマザー基板を貼合わせた後でエッチングして
基板を薄くし、分断して個々の平面型表示装置にするこ
とを特徴とする。
Further, after forming a plurality of flat display devices having at least a plurality of scanning wirings and signal wirings which intersect each other between a pair of mother substrates, the flat display devices are divided into individual flat display devices. The method of manufacturing a flat display device described above is characterized in that a pair of mother substrates are attached to each other and then etched to make the substrate thinner, and then divided into individual flat display devices.

【0012】この製造方法により、走査配線や信号配
線、駆動素子を形成する時点では膜の応力や熱による反
りに十分耐えうるだけの厚みを持った基板を用いて、薄
く・軽い平面型表示装置を製造することができる。この
とき、同時にマザーガラスの大きさに合わせて、その大
きさに耐えうるだけの厚さにマザーガラスの厚さを決め
ることが出来るので、マザーガラスのより一層の大型化
を実現することが可能となり、平面型表示装置のコスト
ダウンが可能となる。
According to this manufacturing method, at the time of forming the scanning wiring, the signal wiring, and the driving element, a thin and light flat display device is formed by using a substrate having a thickness enough to withstand the warpage due to the stress or heat of the film. Can be manufactured. At this time, according to the size of the mother glass, the thickness of the mother glass can be determined to a thickness that can withstand the size at the same time, so it is possible to further increase the size of the mother glass Thus, the cost of the flat display device can be reduced.

【0013】また、前記エッチング工程の際に、前記1
対の基板間で、外部回路接続端子を保護していても良
い。
[0013] In the etching step, the 1
The external circuit connection terminal may be protected between the pair of substrates.

【0014】これにより、外部回路接続端子をレジスト
などで保護する必要が無くなり、プロセスを短縮するこ
とができる。
Thus, it is not necessary to protect the external circuit connection terminals with a resist or the like, and the process can be shortened.

【0015】[0015]

【発明の実施の形態】以下、本発明の実施形態を、図面
を使用し説明する。また、従来と同じ部分には同じ符号
を付して説明を簡略化する。 (実施形態1)本発明の実施形態1を、図1から図3を
用いて行う。図1に、TFT(薄膜トランジスタ)基板
の1画素部分の平面図を、図2に図1A−A間断面図を
示す。まず、TFT基板15は、ガラス、プラスチック
などの基板上に、アルミ、タンタルなどで走査配線とし
てゲート配線1、補助容量形成のためのCs配線4、チ
ッ化シリコンなどでゲート絶縁膜6を間に介して、アル
ミ、タンタル、ITOなどで信号配線としてソース配線
2がそれぞれ交差するように形成されている。そして、
透過型の場合ITO等の透明導電膜で、反射型の場合ア
ルミなどで画素電極5が形成され、マトリクス状に配列
されており、これら各画素電極の近傍にそれぞれゲート
配線1、ソース配線2および画素電極5に接続されたT
FT3が配置されている。これらは、導電膜や絶縁膜を
成膜した後、フォトリソ工程、エッチング工程でパター
ニングすることにより形成される(図2(a))。そし
て、図示しない配向膜を必要に応じて形成する。ここま
では、従来と同じ様に形成される。
Embodiments of the present invention will be described below with reference to the drawings. In addition, the same reference numerals are given to the same portions as those in the related art, and the description is simplified. (Embodiment 1) Embodiment 1 of the present invention will be described with reference to FIGS. FIG. 1 is a plan view of one pixel portion of a TFT (thin film transistor) substrate, and FIG. 2 is a cross-sectional view taken along the line AA of FIG. First, the TFT substrate 15 is formed on a substrate of glass, plastic, or the like by interposing a gate wiring 1 as a scanning wiring of aluminum, tantalum, or the like, a Cs wiring 4 for forming an auxiliary capacitance, and a gate insulating film 6 of silicon nitride or the like. The source wirings 2 are formed as signal wirings by using aluminum, tantalum, ITO or the like so as to intersect each other. And
The pixel electrodes 5 are formed of a transparent conductive film such as ITO in the case of the transmission type and aluminum or the like in the case of the reflection type, and are arranged in a matrix. The gate lines 1, the source lines 2 and T connected to the pixel electrode 5
FT3 is arranged. These are formed by forming a conductive film or an insulating film and then patterning the same in a photolithography step and an etching step (FIG. 2A). Then, an alignment film (not shown) is formed as necessary. Up to this point, it is formed in the same manner as in the prior art.

【0016】次に、ゲート配線1、ソース配線2、TF
T3等を保護するようにレジスト7等で覆う(図2
(b))。その後、エッチングを行ってTFT基板15
の裏面(レジストで覆われていない側)を薄くし、レジ
スト7を剥離する(図2(c))。例えば、基板15と
してガラスを用い、ウェットエッチングする場合、エッ
チング液として、フッ酸(HF)、塩酸(HCl)、硫
酸等の酸や、水酸化ナトリウム(NaOH)等のアルカ
リ性の液を単独、若しくは、それらの混合液を使用する
ことができる。もちろん、1回のエッチングで完了させ
るのではなく、2回以上に分けて行うこともできる。例
えば、最初のエッチング液として濃度の濃い塩酸を使用
し、2回目のエッチングとして薄めた塩酸とフッ酸の混
合液を用いる。
Next, a gate wiring 1, a source wiring 2, a TF
Cover with a resist 7 etc. to protect T3 etc.
(B)). After that, the TFT substrate 15 is etched.
2 is thinned, and the resist 7 is peeled off (FIG. 2C). For example, when wet etching is performed using glass as the substrate 15, an acid such as hydrofluoric acid (HF), hydrochloric acid (HCl), or sulfuric acid, or an alkaline liquid such as sodium hydroxide (NaOH) may be used alone or as an etchant. , A mixture thereof can be used. Needless to say, the etching may not be completed by one etching but may be divided into two or more. For example, a highly concentrated hydrochloric acid is used as the first etching solution, and a diluted mixture of hydrochloric acid and hydrofluoric acid is used as the second etching.

【0017】このとき、透過型の液晶表示装置など透過
光を使用する場合は、表示側となる一方基板(図3の1
6)及び、表示側でない他方基板(図3の15)のどち
ら側に使用する場合でも、また、反射型液晶表示装置や
プラズマディスプレイなどでは表示側基板(図3の1
6)に使用する場合、基板の光散乱特性を見て分るほど
変えないようにすることが望ましい。光の散乱は、曇り
(磨りガラス状態)が目に見えないよう1.0%未満、
好ましくは0.5%未満が望ましい。ここで、レジスト
7はTFT基板15と選択エッチングができることが望
ましいが、例えばTFT基板15としてプラスチックを
使用した場合、材料の選択によって選択エッチングがで
きない事があるが、その場合はレジストを厚く形成し、
配線やTFT3を保護できるようにする。また、TFT
基板15と選択エッチングできるような材料を、配線や
TFT3を保護するように成膜し、TFT基板15をエ
ッチングした後、除去しても良い。また、配向膜を設
け、配向膜が保護膜として利用できる場合は、レジスト
7などの保護膜形成のための工程は必要ない。
At this time, when transmitting light such as a transmission type liquid crystal display device is used, one substrate (1 in FIG. 3) on the display side is used.
6) and the other substrate (15 in FIG. 3) which is not the display side, and the display side substrate (1 in FIG. 3) in a reflection type liquid crystal display device or a plasma display.
In the case of use in 6), it is desirable that the light scattering characteristics of the substrate are not changed so as to be seen. Light scattering is less than 1.0% so that haze (ground glass state) is not visible,
Preferably, it is less than 0.5%. Here, it is desirable that the resist 7 can be selectively etched with the TFT substrate 15. For example, when plastic is used for the TFT substrate 15, the selective etching may not be possible depending on the selection of the material. ,
The wiring and the TFT 3 can be protected. Also, TFT
A film that can be selectively etched with the substrate 15 may be formed so as to protect the wiring and the TFT 3, and the TFT substrate 15 may be etched and then removed. If an alignment film is provided and the alignment film can be used as a protective film, a step for forming a protective film such as the resist 7 is not required.

【0018】そして、図3に示すように、TFT基板1
5と、図示しない対向電極やカラーフィルターなどを設
けた対向基板16を貼合わせ、スペーサ13で間隙を一
定にし、液晶12をシール材14で封入してTFT型液
晶表示装置が形成される。これにより、例えばTFT基
板15として1.1mm厚のガラス基板を使用し、エッ
チングで0.7mm厚にし、対向基板16として1.1
mm厚のガラス基板を使用した場合、従来に比べて約2
0%の薄型化、軽量化を実現できる(なお、従来は1.
1mm厚のガラス基板2枚使用として計算。以下、後の
実施形態も同条件で計算)。
Then, as shown in FIG.
5 and a counter substrate 16 provided with a counter electrode, a color filter and the like (not shown) are adhered to each other, a gap is made constant by a spacer 13, and a liquid crystal 12 is sealed with a sealing material 14, whereby a TFT type liquid crystal display device is formed. Thus, for example, a glass substrate having a thickness of 1.1 mm is used as the TFT substrate 15, the thickness is changed to 0.7 mm by etching, and
When using a glass substrate with a thickness of mm,
0% reduction in thickness and weight can be realized.
Calculated using two 1 mm thick glass substrates. Hereinafter, the following embodiments are calculated under the same conditions).

【0019】(実施形態2)本実施形態では、上記実施
形態1の基板のエッチング工程を、濃度の高いエッチン
グ液を使用した後、光の散乱を抑えるために、基板表面
を研磨した。この様に、最後に表面研磨を行うと光の散
乱を抑えることができ、表示品位が向上する。もちろ
ん、最初から研磨で薄くしても良いが、時間がかかるた
め、プロセス短縮を図るので有れば、エッチング後に研
磨を行うことが好ましい。ただし、TFTなどの静電気
に弱い素子を基板上に作成している場合、アースをとる
など静電気対策を行っておく必要がある。
(Embodiment 2) In this embodiment, the substrate surface of the first embodiment is polished in order to suppress scattering of light after using an etching solution having a high concentration. As described above, when the surface is polished last, light scattering can be suppressed, and the display quality is improved. Of course, the thickness may be reduced by polishing from the beginning, but since it takes time, it is preferable to perform polishing after etching if the process can be shortened. However, when a device such as a TFT which is sensitive to static electricity is formed on the substrate, it is necessary to take measures against static electricity such as grounding.

【0020】(実施形態3)本発明の実施形態3を図4
から図6を用いて説明する。なお、実施形態1と同じ箇
所には、同じ符号を付して説明を省略する。図4に、対
向基板16の1画素部分の平面図を、図5に図4B−B
間断面図を示す。まず、基板16にクロム、酸化クロ
ム、樹脂などで遮光膜10を、R、G、B等のカラーフ
ィルター9を、ITOなどで対向電極8を、図示しない
配向膜を必要に応じて各々形成する(図5(a))。
(Embodiment 3) FIG. 4 shows Embodiment 3 of the present invention.
This will be described with reference to FIG. The same parts as those in the first embodiment are denoted by the same reference numerals, and description thereof will be omitted. FIG. 4 is a plan view of one pixel portion of the counter substrate 16, and FIG.
FIG. First, a light-shielding film 10 of chromium, chromium oxide, resin or the like, a color filter 9 of R, G, B, etc., a counter electrode 8 of ITO or the like, and an orientation film (not shown) are formed on a substrate 16 as necessary. (FIG. 5 (a)).

【0021】次に、上記カラーフィルター9、対向電極
8等を保護するようにレジスト7等で覆う(図5
(b))。その後、実施形態1、2で説明したようにエ
ッチングを行って、対向基板16の裏面(レジストで覆
われていない側)を薄くし、レジスト7を剥離する(図
5(c))。
Next, the color filter 9, the counter electrode 8 and the like are covered with a resist 7 and the like to protect them (FIG. 5).
(B)). Thereafter, etching is performed as described in the first and second embodiments, the back surface (the side not covered with the resist) of the counter substrate 16 is thinned, and the resist 7 is peeled off (FIG. 5C).

【0022】そして、図6に示すように、TFT基板1
5と、対向基板16を貼合わせ、スペーサ13で間隙を
一定にし、液晶12をシール材14で封入してTFT型
液晶表示装置が形成される。これにより、例えば対向基
板16として1.1mm厚のガラス基板を使用し、エッ
チングで0.5mm厚にし、TFT基板15として1.
1mm厚のガラス基板を使用した場合、従来に比べて約
30%の薄型化、軽量化を実現できる。
Then, as shown in FIG.
5 and the opposing substrate 16 are adhered to each other, the gap is made constant by the spacer 13, and the liquid crystal 12 is sealed with the sealing material 14 to form a TFT type liquid crystal display device. Thus, for example, a glass substrate having a thickness of 1.1 mm is used as the counter substrate 16, the thickness is adjusted to 0.5 mm by etching, and 1.
When a glass substrate having a thickness of 1 mm is used, the thickness and weight can be reduced by about 30% as compared with the related art.

【0023】(実施形態4)本実施形態は、上記実施形
態1から実施形態3で説明したような基板1枚だけを薄
くするのでなく、TFT基板15及び対向基板16の両
基板を薄くし貼合わせる。具体的には、TFT側基板1
5と対向基板16の両基板として1.1mm厚のガラス
基板を使用し、実施形態1から3で説明したように、エ
ッチングで両基板とも0.7mm厚にする。その場合、
従来に比べて約40%の薄型化・軽量化を実現できる。
(Embodiment 4) In this embodiment, both the TFT substrate 15 and the opposing substrate 16 are thinned and adhered, instead of making only one substrate thin as described in Embodiments 1 to 3 above. Match. Specifically, the TFT-side substrate 1
A glass substrate having a thickness of 1.1 mm is used as both substrates of the counter substrate 5 and the counter substrate 16, and as described in Embodiments 1 to 3, both substrates are etched to a thickness of 0.7 mm. In that case,
It is possible to realize a reduction in thickness and weight of about 40% as compared with the related art.

【0024】(実施形態5)本発明の実施形態5を図7
を用いて説明する。なお、実施形態1から4と同じ箇所
には、同じ符号を付して説明を省略する。まず実施形態
1から4と同じように、まず、TFT基板15として、
ガラスなどの基板上に、図示しないゲート配線、ソース
配線、TFT及び画素電極等を各々形成する。そして、
対向基板16として、ガラスなどの基板上に、図示しな
い遮光膜、カラーフィルター、対向電極等を形成する。
その後、TFT基板15と対向基板16を貼合わせ、ス
ペーサ13で間隙を一定にし、液晶12をシール材14
で封入する(図7(a))。そして、外部回路接続端子
11をレジスト7等で保護する(図7(b))。その
後、TFT基板15及び対向基板16のエッチングを行
って両基板の表面を薄くし、レジスト7を剥離する(図
7(c))。
(Embodiment 5) FIG. 7 shows Embodiment 5 of the present invention.
This will be described with reference to FIG. The same parts as those in the first to fourth embodiments are denoted by the same reference numerals, and description thereof will be omitted. First, as in the first to fourth embodiments, first, as the TFT substrate 15,
On a substrate such as glass, a gate wiring, a source wiring, a TFT, a pixel electrode, and the like (not shown) are formed. And
As a counter substrate 16, a light-shielding film (not shown), a color filter, a counter electrode, and the like are formed on a substrate such as glass.
After that, the TFT substrate 15 and the counter substrate 16 are bonded together, the gap is made constant by the spacer 13, and the liquid crystal 12 is sealed with the sealing material 14.
(FIG. 7A). Then, the external circuit connection terminal 11 is protected by the resist 7 or the like (FIG. 7B). Thereafter, the TFT substrate 15 and the opposite substrate 16 are etched to make the surfaces of both substrates thinner, and the resist 7 is peeled off (FIG. 7C).

【0025】この様な製造工程にすれば、TFT基板1
5とカラーフィルター基板16のエッチングを同時に行
えるため、工程の増加を最小限に抑えることができる。
According to such a manufacturing process, the TFT substrate 1
5 and the color filter substrate 16 can be simultaneously etched, so that an increase in the number of steps can be minimized.

【0026】(実施形態6)本発明の実施形態6を図8
を用いて行う。なお、実施形態1から5と同じ箇所に
は、同じ符号を付して説明を省略する。一般的に、TF
T型液晶表示装置など平面表示装置では、1枚の大型基
板(以下、マザー基板と呼ぶ)から複数個の表示装置用
基板を作成する多面取りと呼ばれる技術を用いて製造さ
れているが、本実施形態は、上記多面取りに適用できる
ものである。
(Embodiment 6) FIG. 8 shows Embodiment 6 of the present invention.
This is performed using The same parts as those in the first to fifth embodiments are denoted by the same reference numerals, and description thereof will be omitted. Generally, TF
A flat display device such as a T-type liquid crystal display device is manufactured using a technique called multi-paneling, which is to form a plurality of display device substrates from one large substrate (hereinafter, referred to as a mother substrate). The embodiment can be applied to the above-described multi-panning.

【0027】まず実施形態1から5と同じように、ま
ず、マザーTFT基板17として、ガラスなどの基板上
に、図示しないゲート配線、ソース配線、TFT及び画
素電極等をそれぞれ形成する。そして、マザー対向基板
18として、ガラスなどの基板上に、図示しない遮光
膜、カラーフィルター、対向電極等を形成する。その
後、マザーTFT基板17とマザー対向基板18とを貼
合わせ、スペーサ13で間隙を一定にし、液晶12をシ
ール材14で封入する(図8(a))。このとき図8
(a)に示すように、1組の基板で、複数個のTFT型
液晶表示装置を形成する。そして、マザーTFT基板1
7及びマザー対向基板18のエッチングを行って基板表
面を薄くする(図8(b))。その後、分断を行い個々
のTFT型液晶表示装置にする(図示せず)。
First, as in the first to fifth embodiments, first, a gate wiring, a source wiring, a TFT, a pixel electrode, and the like (not shown) are formed as a mother TFT substrate 17 on a substrate such as glass. Then, a light-shielding film (not shown), a color filter, a counter electrode, and the like are formed on a substrate such as glass as the mother counter substrate 18. Thereafter, the mother TFT substrate 17 and the mother opposing substrate 18 are bonded together, the gap is made constant by the spacer 13, and the liquid crystal 12 is sealed with the sealing material 14 (FIG. 8A). At this time, FIG.
As shown in (a), a plurality of TFT liquid crystal display devices are formed on one set of substrates. Then, the mother TFT substrate 1
7 and the mother opposite substrate 18 are etched to make the substrate surface thinner (FIG. 8B). After that, the liquid crystal display is divided into individual TFT type liquid crystal display devices (not shown).

【0028】この様な製造工程にすれば、配線やTF
T、カラーフィルターや対向電極だけでなく、外部回路
接続端子11も基板で覆われているので、レジストなど
で保護する必要はない。そのため、レジスト形成・剥離
工程が必要なくなる。また、マザーTFT基板17とマ
ザー対向基板18のエッチングを同時に行えるため、工
程の増加を最小限に抑えることができる。
According to such a manufacturing process, wiring, TF
Since not only the T, the color filter and the counter electrode but also the external circuit connection terminal 11 are covered with the substrate, there is no need to protect the terminal with a resist or the like. Therefore, a resist forming / stripping step is not required. Further, the etching of the mother TFT substrate 17 and the mother opposing substrate 18 can be performed at the same time, so that the number of steps can be minimized.

【0029】以上、図面を用いて実施形態の説明を行っ
たが、本発明は上記実施形態に限定されるものではな
く、例えば、エッチング方法として、ウェットエッチン
グ方式で説明したが、HFガスやCH4ガスなどを用い
たドライエッチング方式で行っても良い。また、TFT
型液晶表示装置を例に説明を行ったが、これに限らず単
純マトリクス型液晶表示装置や、プラズマ表示装置、エ
レクトロルミネッセンス表示装置にも適用できる。
Although the embodiment has been described with reference to the drawings, the present invention is not limited to the above-described embodiment. For example, as an etching method, a wet etching method has been described. A dry etching method using four gases or the like may be used. Also, TFT
Although the description has been made by taking the liquid crystal display device as an example, the present invention is not limited thereto, and the present invention can be applied to a simple matrix liquid crystal display device, a plasma display device, and an electroluminescence display device.

【0030】[0030]

【発明の効果】以上、説明したように、本発明の平面型
表示装置の製造方法によると、1対の基板間に、互いに
交差する複数本の走査配線と信号配線を、少なくとも有
し、基板上に配線やスイッチング素子を形成した後に、
前記基板の少なくとも一方を、エッチングして薄くする
工程を有することにより、走査配線や信号配線、駆動素
子を形成する時点では膜の応力や熱による反りに十分耐
えうるだけの厚みを持った基板を用いて、薄く・軽い平
面型表示装置を製造することができる。
As described above, according to the method of manufacturing a flat display device of the present invention, at least a plurality of intersecting scanning wirings and signal wirings are provided between a pair of substrates. After forming wiring and switching elements on top,
At least one of the substrates has a step of etching and thinning, so that at the time of forming scanning wirings, signal wirings, and driving elements, a substrate having a thickness sufficient to withstand warpage due to film stress or heat is formed. By using this, a thin and light flat display device can be manufactured.

【0031】また、本発明をアクティブマトリクス型液
晶表示装置に適用した場合、製造工程が複雑で膜の応力
や熱による反りの大きいアクティブマトリクス型液晶表
示装置を、薄くて軽量にすることができる。
Further, when the present invention is applied to an active matrix type liquid crystal display device, the active matrix type liquid crystal display device having a complicated manufacturing process and large warpage due to film stress or heat can be made thin and lightweight.

【0032】また、前記エッチング工程を、一対の基板
を貼合わせた後行うことにより、プロセスを短縮するこ
とができるだけでなく、貼合わせ時にも基板強度を持た
すことができる。
Further, by performing the etching step after bonding a pair of substrates, not only the process can be shortened, but also the strength of the substrate can be increased at the time of bonding.

【0033】また、1対の基板間に、互いに交差する複
数本の走査配線と信号配線を、少なくとも有する複数個
の平面型表示装置を形成し、分断して個々の平面型表示
装置にする平面型表示装置の製造方法では、1対の基板
を貼合わせた後、エッチングして基板を薄くし、分断し
て個々の平面型表示装置にすることにより、走査配線や
信号配線、駆動素子を形成する時点では膜の応力や熱に
よる反りに十分耐えうるだけの厚みを持った基板を用い
て、薄く・軽い平面型表示装置を製造することができ
る。このとき、同時にマザーガラスの大きさに合わせ
て、その大きさに耐えうるだけの厚さにマザーガラスの
厚さを決めることが出来るので、マザーガラスのより一
層の大型化を実現することが可能となり、平面型表示装
置のコストダウンが可能となる。
Further, a plurality of flat display devices having at least a plurality of scanning wirings and signal wirings crossing each other are formed between a pair of substrates, and the flat display devices are divided into individual flat display devices. In a method of manufacturing a type display device, after a pair of substrates are bonded together, the substrate is thinned by etching, and divided into individual flat type display devices to form scanning wiring, signal wiring, and driving elements. At this point, a thin and light flat display device can be manufactured using a substrate having a thickness enough to withstand film stress or warpage due to heat. At this time, according to the size of the mother glass, the thickness of the mother glass can be determined to a thickness that can withstand the size at the same time, so it is possible to further increase the size of the mother glass Thus, the cost of the flat display device can be reduced.

【0034】また、前記エッチング工程の際に、前記1
対の基板間で、外部回路接続端子を保護していることに
より、外部回路接続端子をレジストなどで保護する必要
が無くなり、プロセスを短縮することができる。
In the etching step, the 1
Since the external circuit connection terminals are protected between the pair of substrates, it is not necessary to protect the external circuit connection terminals with a resist or the like, and the process can be shortened.

【図面の簡単な説明】[Brief description of the drawings]

【図1】本発明の、実施形態1のTFT基板の、1画素
部分の平面図である。
FIG. 1 is a plan view of one pixel portion of a TFT substrate according to a first embodiment of the present invention.

【図2】図1のA−A間断面図で、実施形態1の製造方
法説明図である。
FIG. 2 is a cross-sectional view taken along a line AA in FIG. 1 and is an explanatory diagram of a manufacturing method according to the first embodiment.

【図3】本発明の、実施形態1のTFT型液晶表示装置
の断面図である。
FIG. 3 is a sectional view of the TFT liquid crystal display device according to the first embodiment of the present invention.

【図4】本発明の、実施形態3のアクティブマトリクス
基板の、1画素部分の平面図である。
FIG. 4 is a plan view of one pixel portion of an active matrix substrate according to a third embodiment of the present invention.

【図5】図4のB−B間断面図で、実施形態3の製造方
法説明図である。
FIG. 5 is a cross-sectional view taken along the line BB of FIG. 4 and is an explanatory view of a manufacturing method of the third embodiment.

【図6】本発明の、実施形態3のTFT型液晶表示装置
の断面図である。
FIG. 6 is a sectional view of a TFT type liquid crystal display device according to a third embodiment of the present invention.

【図7】本発明の、実施形態5のTFT型液晶表示装置
の製造方法説明図である。
FIG. 7 is a diagram illustrating a method for manufacturing a TFT-type liquid crystal display device according to a fifth embodiment of the present invention.

【図8】本発明の、実施形態6のTFT型液晶表示装置
の製造方法説明図である。
FIG. 8 is a diagram illustrating a method for manufacturing a TFT liquid crystal display device according to a sixth embodiment of the present invention.

【符号の説明】[Explanation of symbols]

1 ゲート配線 2 ソース配線 3 薄膜トランジスタ(TFT) 5 画素電極 6 ゲート絶縁膜 7 レジスト 15 TFT基板 16 対向基板 17 マザーTFT基板 18 マザー対向基板 DESCRIPTION OF SYMBOLS 1 Gate wiring 2 Source wiring 3 Thin film transistor (TFT) 5 Pixel electrode 6 Gate insulating film 7 Resist 15 TFT substrate 16 Counter substrate 17 Mother TFT substrate 18 Mother counter substrate

Claims (4)

【特許請求の範囲】[Claims] 【請求項1】 1対の基板間に、少なくとも互いに交差
する複数本の走査配線と信号配線とを、有する平面型表
示装置の製造方法において、 少なくとも基板上に配線を形成した後に、前記基板のう
ち少なくとも一枚の基板表面を、エッチングして薄くす
る工程を有することを特徴とする平面型表示装置の製造
方法。
1. A method of manufacturing a flat display device having at least a plurality of scanning wirings and signal wirings intersecting each other between a pair of substrates, wherein at least wirings are formed on the substrates, A method for manufacturing a flat display device, comprising a step of etching at least one substrate surface to make it thinner.
【請求項2】 前記エッチング工程を、一対の基板を貼
合わせた後行うことを特徴とする請求項1に記載の平面
型表示装置の製造方法。
2. The method according to claim 1, wherein the etching step is performed after bonding a pair of substrates.
【請求項3】 1対のマザー基板間に、少なくとも互い
に交差する複数本の走査配線と信号配線とを、有する複
数個の平面型表示装置を形成した後、分断して個々の平
面型表示装置にする平面型表示装置の製造方法におい
て、 1対のマザー基板を貼合わせた後でエッチングして基板
を薄くし、分断して個々の平面型表示装置にすることを
特徴とする平面型表示装置の製造方法。
3. After forming a plurality of flat display devices having at least a plurality of scanning wirings and signal wirings intersecting each other between a pair of mother substrates, the flat display devices are divided and individually separated. A method of manufacturing a flat display device, comprising: bonding a pair of mother substrates, etching the substrate, thinning the substrate, and dividing the substrate into individual flat display devices. Manufacturing method.
【請求項4】 前記エッチング工程の際に、前記1対の
基板間で、外部回路接続端子を保護していることを特徴
とする請求項3に記載の平面型表示装置の製造方法。
4. The method according to claim 3, wherein an external circuit connection terminal is protected between the pair of substrates during the etching step.
JP16260096A 1996-06-24 1996-06-24 Production of plane type display device Pending JPH1010505A (en)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP16260096A JPH1010505A (en) 1996-06-24 1996-06-24 Production of plane type display device

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP16260096A JPH1010505A (en) 1996-06-24 1996-06-24 Production of plane type display device

Publications (1)

Publication Number Publication Date
JPH1010505A true JPH1010505A (en) 1998-01-16

Family

ID=15757679

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP16260096A Pending JPH1010505A (en) 1996-06-24 1996-06-24 Production of plane type display device

Country Status (1)

Country Link
JP (1) JPH1010505A (en)

Cited By (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2006024530A (en) * 2004-07-09 2006-01-26 Sharp Corp Display device and its manufacturing method
KR100529573B1 (en) * 1998-07-16 2006-02-08 삼성전자주식회사 Manufacturing method of ultra-thin substrate for liquid crystal display device
US7182877B2 (en) 2002-12-10 2007-02-27 Seiko Epson Corporation Method for manufacturing electro-optical device, electro-optical device, and electronic apparatus
JP2011170485A (en) * 2010-02-17 2011-09-01 Sony Corp Method for producing electrical solid-state device

Cited By (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
KR100529573B1 (en) * 1998-07-16 2006-02-08 삼성전자주식회사 Manufacturing method of ultra-thin substrate for liquid crystal display device
US7182877B2 (en) 2002-12-10 2007-02-27 Seiko Epson Corporation Method for manufacturing electro-optical device, electro-optical device, and electronic apparatus
JP2006024530A (en) * 2004-07-09 2006-01-26 Sharp Corp Display device and its manufacturing method
JP2011170485A (en) * 2010-02-17 2011-09-01 Sony Corp Method for producing electrical solid-state device

Similar Documents

Publication Publication Date Title
US5757456A (en) Display device and method of fabricating involving peeling circuits from one substrate and mounting on other
JPH10270710A (en) Liquid crystal display device and manufacture thereof
JPH10213809A (en) Liquid crystal display device and its production
JP2008107849A (en) Liquid crystal display device and its manufacturing method
US10664112B2 (en) Method of manufacturing a touch module
US6665045B2 (en) Liquid crystal display panel and method of manufacturing the same
JPH06289413A (en) Liquid crystal display device
WO2018188152A1 (en) Method for manufacturing tft array substrate
JPH0490514A (en) Semiconductor device
JP3413230B2 (en) Liquid crystal display
JP3177347B2 (en) Manufacturing method of liquid crystal display element
JPH1010505A (en) Production of plane type display device
JPH04265945A (en) Active matrix substrate
KR19990041103A (en) Plastic Substrate Liquid Crystal Display Manufacturing Method
JP3805754B2 (en) Active matrix substrate and manufacturing method thereof
JP2002072905A (en) Producing method of thin film laminated device and producing method of liquid crystal display element
US20080252837A1 (en) Liquid crystal display device and manufacturing method thereof
KR100710158B1 (en) Method for fabricating of liquid crystal display device
JPH08278519A (en) Production of liquid crystal display device
JPS6381975A (en) Manufacture of tft active matrix substrate
JPH10186404A (en) Active matrix type liquid crystal display device and its production
KR101087380B1 (en) Liquid crystal display device and manufacturing for lcd
JPH10186381A (en) Liquid crystal display device
JP2002090712A (en) Method for manufacturing liquid crystal display device
JPH03160418A (en) Production of active matrix liquid crystal display element