JPH10104062A - 薄膜電極および方法 - Google Patents

薄膜電極および方法

Info

Publication number
JPH10104062A
JPH10104062A JP9236059A JP23605997A JPH10104062A JP H10104062 A JPH10104062 A JP H10104062A JP 9236059 A JP9236059 A JP 9236059A JP 23605997 A JP23605997 A JP 23605997A JP H10104062 A JPH10104062 A JP H10104062A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
thermal
thin
electrode
film electrode
thin film
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Pending
Application number
JP9236059A
Other languages
English (en)
Inventor
Howard R Beratan
アール.ベラタン ハワード
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Texas Instruments Inc
Original Assignee
Texas Instruments Inc
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Texas Instruments Inc filed Critical Texas Instruments Inc
Publication of JPH10104062A publication Critical patent/JPH10104062A/ja
Pending legal-status Critical Current

Links

Classifications

    • HELECTRICITY
    • H10SEMICONDUCTOR DEVICES; ELECTRIC SOLID-STATE DEVICES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
    • H10NELECTRIC SOLID-STATE DEVICES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
    • H10N15/00Thermoelectric devices without a junction of dissimilar materials; Thermomagnetic devices, e.g. using the Nernst-Ettingshausen effect
    • H10N15/10Thermoelectric devices using thermal change of the dielectric constant, e.g. working above and below the Curie point

Landscapes

  • Photometry And Measurement Of Optical Pulse Characteristics (AREA)
  • Fixed Capacitors And Capacitor Manufacturing Machines (AREA)
  • Radiation Pyrometers (AREA)

Abstract

(57)【要約】 【課題】 薄膜電極を有する熱センサの製造で、沈積の
後の工程中に、パイロ電気層に隣接する表面に沿って、
ヒロックまたは類似の変形を生じ、パイロ電気層と薄膜
電極を通じて電気的な漏れを増大させ、熱センサから得
られた電気信号とビジュアルディスプレイを悪化させ
る。この不利な点を除去または減少させる。 【解決手段】 電極アセンブリ(36)は、第1薄膜電
極(52)と誘電素子(50)と第2薄膜電極(54)
を含んでなり得る。第1薄膜電極(52)は、少なくと
も二つの成分の固溶体を含んでなり得る。誘電素子(5
0)は、第1薄膜電極(52)と電気通信し得る。第2
薄膜電極(54)は、第1薄膜電極(52)の反対側
で、誘電素子(50)と電気通信し得る。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【発明の属する技術の分野】この発明は、一般に赤外線
または熱による撮像システムに関し、より詳しくは薄膜
電極と、製造方法に関する。
【0002】
【従来の技術】熱画像システムは、火災の検出や、機
械、飛行機、乗り物および人々の検出のために、しばし
ば用いられる。熱画像システムは、一般に、あるシーン
内の種々の対象の熱放射における相違を検出することに
より、また、この相違をこのシーンの視覚映像として表
示することにより作動する。
【0003】熱画像システムの基本的構成要素は、一般
に、あるシーンから熱放射を収集し焦点に集めるための
レンズと、熱放射を電気信号に変換するための複数の熱
センサを有する熱検出器と、前記電気信号をビジュアル
ディスプレイまたは適当な媒体内の記憶装置へ向けて増
幅し処理するための電子技術を含む。検出器をシーンに
交流結合するために、しばしばチョッパが熱画像システ
ムに含まれる。このチョッパは、一様な背景放射を生成
して、これが参照信号を提供する。熱画像システムの電
子的処理部が、全放射信号からこの参照信号を差し引い
て、背景バイアスが最小の信号を生成する。
【0004】熱画像システムの熱センサーは、焦点面ア
レイ内に配置され得る。この焦点面アレイおよびその関
連の熱センサーは、しばしば集積回路基板に結合される
が、それは、この焦点面アレイとこの集積回路基板の間
に配置される、対応する接点パッドのアレイおよび熱絶
縁構造によってである。この熱センサーは、結果する熱
画像のそれぞれの画素すなわちピクセルを定義する。
【0005】一つのタイプの熱センサーは、入射する赤
外線放射に反応するパイロ電気物質内の温度変化による
電気的分極の状態および/または誘電率の変化を表示す
るパイロ電気物質から構成される。一対の薄膜電極が一
般に前記パイロ物質の反対側に配置されて、容量性プレ
ートとして作用するようにされる。この装置において、
容量性プレートの間に配置されたパイロ電気物質は、誘
電体または絶縁体として作用する。従ってこの電極は、
温度変化に応答してパイロ電気物質により生成された電
荷を測定するよう作動できる。前に議論したように、こ
の電荷すなわち電気信号は、ビジュアルディスプレイに
向けて増幅され処理され得る。
【0006】熱センサー製造の出発点は、典型的にシリ
コンまたは他の適当な物質のウエハである。ウエハは、
直径約150ミリメートル(6インチ)、厚さ約660
ミクロン(26ミル)である。熱センサーを形成する物
質はこのウエハ上に複数の層に沈積され、また必要なら
ば除去される。
【0007】
【発明が解決しようとする課題】しかしながら、薄膜電
極を有する熱センサを製造するのに伴う問題は、沈積の
後の工程中に、しばしば電極が変形することである。た
とえば、薄膜電極は、パイロ電気層に隣接する表面に沿
って、ヒロックまたは類似の変形を生ずることが知られ
ている。この変形は、パイロ電気層と薄膜電極を通じ
て、電気的な漏れを結果する。この漏れは、熱センサか
ら得られた電気信号とビジュアルディスプレイを悪化さ
せる。
【0008】したがって、改良された薄膜電極のための
技術において、一つの需要が起こった。この発明は、従
来の薄膜電極に伴う不利な点と諸問題を実質的に除去ま
たは減少させるひとつの薄膜電極を提供する。
【0009】
【課題を解決するための手段】この発明によれば、電極
アセンブリは、第1薄膜電極、誘電素子、第2薄膜電極
を含んでなる。第1薄膜電極は、少なくとも二つの成分
の固溶体を含んでなり得る。誘電素子は、第1薄膜電極
と電気的に通信できる。第2薄膜フィルム電極は、第1
薄膜電極と反対側の誘電素子と、電気的に通信できる。
【0010】一つの実施例において、誘電素子は、感熱
素子であり得る。感熱素子は第1薄膜電極に隣接して配
置し得るし、また、第2薄膜電極は、第1薄膜電極の反
対側に感熱素子に隣接して配置し得る。付加的に、支持
構造が、第1薄膜電極を支持するために、基板表面に関
して間隔をとって、備えられ得る。この支持構造は、基
板表面から延びている少なくとも二つのポストと、それ
ぞれ電極から延びていて、それぞれのポストに接続され
ている一対の二叉のポストを含み得る。
【0011】感熱素子は、パイロ電気材料を含んでなり
得る。パイロ電気材料は、ジルコン酸チタン酸鉛ランタ
ンであり得る。その上、固溶体は、プラチナとロジウム
の成分を含み得る。特定の実施例において、固溶体は、
85%のプラチナと15%のロジウを含んでなり得る。
【0012】この発明の重要な技術的長所には、改良さ
れた薄膜電極が含まれる。特に、第1電極は、少なくと
も二つの成分の固溶体を含んでなる。この固溶体は、ヒ
ロックその他第1電極の表面上の形態の異常の形成に対
して、抵抗力の増加をもたらす。
【0013】この発明の更に他の重要な技術的長所は、
誘電素子と一対の薄膜電極を有する改良された電極アセ
ンブリの提供を含む。特に、第一電極は、比較的スムー
スに、誘電素子および第1および第2電極の間を通して
の電気の漏れを減少させる。電気的な漏れを減少させる
ことは、電極アセンブリから得られる電気的信号を、改
良する。
【0014】その他の技術的長所は下記の図面説明およ
び請求項から当業者に自明であろう。
【0015】
【発明の実施の形態】この発明の好ましい実施例とその
長所は、図面の図1から図5までを参照してこれから一
層詳細に最良に理解される。これらの図面で同じ番号は
いくつかの図中の同じ部分を示す。図1はこの発明によ
って製作された熱画像システムの概略のブロック図を示
す。動作中この熱画像システム12は、シーン14の熱
画像を検出し処理し表示する。
【0016】熱画像システム12は、闇の中や、画像が
煙、ほこり、または他の粒子により損なわれる場合のよ
うな可視波長による撮像が不可能な時に、特に有用であ
る。こうした状態において熱画像システム12は、赤外
線ウィンドウ中の熱放射を検出する。赤外線ウィンドウ
は赤外線スペクトル中の一つの波長領域で、ここでは大
気中の電磁放射がよく伝達される。典型的に赤外線検出
器は3ないし5ミクロン(0.4ないし0.25eVの
エネルギーを有する)および8ないし14ミクロン
(0.16ないし0.09eVのエネルギーを有する)
のスペクトルバンドの赤外線放射を検出する。3ないし
5ミクロンのスペクトルバンドは一般に「近赤外線バン
ド」と呼ばれ、一方8ないし14ミクロンのスペクトル
バンドは「遠赤外線バンド」と呼ばれる。近赤外線バン
ドと遠赤外線バンドの中間の赤外線放射は、これが大気
中に吸収されるので、検出できない。しかしながら、熱
画像システム12は、昼間、可視光線による視覚が利用
できるときにも使用できる。例えば、熱画像システム1
2は、火災の検出、機械、飛行機、乗り物、人々の検出
に、また温度に敏感な産業工程に使用できる。
【0017】図1に示すように、熱画像システム12
は、熱検出器18との光通信において、レンズアセンブ
リ16を含んでなり得る。レンズアセンブリ16は、シ
ーン14が熱検出器18へ発した熱放射を焦点に集めた
り、方向をつけたりできる。レンズアセンブリ16は、
ゲルマニウムのような、熱放射を伝導する材料で作られ
た一つまたはそれ以上のレンズを含み得る。レンズアセ
ンブリ16の設計は、熱画像システム12の特定の使用
により異なる。例えば、レンズアセンブリ16は、一定
または可変のFナンバーを有し得るし、および/また
は、単一の視野またはズームレンズであり得る。
【0018】熱検出器18は、冷却式でも非冷却式であ
っても良い。冷却式熱検出器は、赤外線放射における変
動に対する望ましい感度を得るために、液体窒素の温度
のような超低温の温度で運転される。非冷却式熱検出器
18が使用される場合は、しばしば、レンズアセンブリ
16と熱検出器18の間にチョッパ20が配置される。
好ましくは、レンズアセンブリ16と熱検出器18とチ
ョッパ20は、合同ハウジング(図示なし)内に収容さ
れている。熱検出器18はまた、真空環境または低熱伝
導率ガスの中にも収容され得る。
【0019】チョッパ20は、信号プロセッサ22に制
御されて、熱検出器18への熱イメージの転送を定期的
に遮断する。種々のタイプの機械的および/または電気
的チョッパ20が、この発明に満足に使用できる。例え
ば、チョッパ20は、赤外線放射を定期的にブロック
し、また通過させる開口を有する回転ディスクであり得
る。
【0020】熱検出器18に関するレンズアセンブリ1
6とチョッパ20の配置は、熱画像システムに応用され
た光学設計の公知の原則を用いて達成される。前記のよ
うにレンズアセンブリ16は、シーン14により熱検出
器18へ発せられた熱放射を焦点に集める。熱検出器1
8は、入射する熱放射を対応する電気信号に処理のため
に翻訳する。
【0021】熱検出器18の電気信号は、信号プロセッ
サ22へ送られ、信号プロセッサ22は、電気信号を表
示のためにビデオ信号にアセンブルする。前記のように
信号プロセッサ22はまた、チョッパ20の動作と同期
する。この同期により信号プロセッサ22が、入ってく
る熱放射を差し引き処理して、固定的な背景放射を除去
できる。信号プロセッサ22の出力は、しばしば目に見
えるビデオ信号であり、さらに加工され、記憶されなど
する。
【0022】信号プロセッサ22のビデオ信号は、ロー
カルモニタ24上で見たりまたは表示のためにリモート
モニタ26へ送られる。ローカルモニタ24は、電子的
ファインダ、陰極線管などを含むアイピースである。同
様に、リモートモニタ26は、テレビジョンのような電
子ディスプレイ、陰極線管、またはビデオ信号を表示で
きる他のタイプの装置を含んでなり得る。このビデオ信
号はあとで再生するために記憶媒体に保存できる。記憶
媒体28はコンパクトディスク、ハードディスクドライ
ブ、ランダムアクセスメモリ、その他のタイプのあとで
再生するためにビデオ信号を記憶出来る媒体であり得
る。モニタと記憶媒体はこの分野でよく知られているの
で、従ってこれ以上ここで説明しない。
【0023】熱画像システム12を作動させるための電
力は電源30により供給される。電源30はチョッパ2
0、熱検出器18、信号プロセッサ22、ローカルモニ
タ24へ直接に電力を供給する。電力はまたレンズアセ
ンブリ16にも供給されるがこれはたとえばレンズアセ
ンブリ16をズームするためにモータが使用される時で
ある。
【0024】図2は、熱検出器18の詳細図である。熱
検出器18は、基板34上に装着された焦点面アレイ3
2を含んでなり得る。ある実施例では、焦点面アレイ3
2はマトリックスに配置された多数の熱センサ36を含
む。熱センサ36の量と配置は、焦点面アレイ32に望
ましいNxM構成による。
【0025】焦点面アレイ32の構成は一般に熱検出器
18の異なったタイプにより異なる。たとえば「凝視型
(staring)」熱検出器においては熱イメージ全
体が一つの大きな焦点面アレイ上の焦点に集められる。
対照的に「走査型」熱検出器はミラーまたは類似の手段
を用いて小さな焦点面アレイに沿って熱イメージの部分
を逐次的にスイープする。この発明に必要ではないが、
通常両方のタイプの熱検出器18は、多数の熱センサ3
6からなり、各々の熱センサ36の出力は見られるシー
ン14の一部分を表現する。たとえば焦点面アレイ32
内の各熱センサ36の出力はイメージ全体の内の一つの
ピクセルを表現する。この実施例は高密度ビジュアルデ
ィスプレイに結合した使用のために特に有利であり得
る。
【0026】基板34は、必要な電気的接続と焦点面ア
レイ32上に形成された熱イメージを加工する回路を提
供する一つの集積回路基板であり得る。集積回路基板3
4は、シリコン、セラミック・アルミナ、または他のふ
さわしい材料で、集積表面基板34の表面66(図4)
上に形成されるべき多層に化学的および熱的両方に対応
出来る材料で形成され得る。下側の集積回路基板上に装
着された熱センサに関する更なる情報は米国特許414
3269号、McCormack他宛発行、タイトル
「強誘電性撮像システム」および米国特許502166
3号、Hornbeck宛発行、タイトル「赤外線検出
器」に開示されている。
【0027】集積回路基板34を所定の一定温度に保つ
ためにサーマル素子38が供給される。この一定温度
は、周囲温度または内部生成温度の勾配が熱センサ36
に影響するのに防止し、こうしてシーン14の熱エネル
ギを正確に測定するための基線を提供する。サーマル素
子38を制御するのに必要な電気的結合と回路は、集積
回路基板34により提供される。こうした場合におい
て、サーマル素子38は、焦点面アレイ32の反対側で
集積回路基板34に結合される。
【0028】図3は、前に説明した焦点面アレイ32の
詳細図を示す。この実施例において焦点面アレイ32
は、熱センサ36のマトリックスを含む。各熱センサ3
6は、焦点面アレイ32の一つの離散素子を形成する。
各サーマルセンサ36の周囲に備えられた一組の交差す
るスロット40により、サーマルセンサは互いに分離さ
れている。スロット40は、隣接する熱センサ36の間
に高度な網状組織を提供し、これはピクセル素子の間の
熱の拡散を実質的に減少させる。
【0029】熱センサ36は、種々な技法を使用して熱
放射を検出し得る。たとえば、熱センサは、熱センサ3
6を加熱する熱放射から生ずる温度変化による電荷の発
生に基づくことができる。代案として、熱センサ36
は、熱センサ36を形成するのに使用された材料内の光
子/電子相互作用による電荷の生成に基づくことができ
る。この後者の効果は、ときどき内部光電効果と呼ばれ
る。熱センサ36は、また熱放射の加熱効果によって引
き起こされる薄い導体内の抵抗の変化に基づくこともで
きる。そうした熱センサ36は、ときどきボロメータと
呼ばれる。これらおよび他のタイプの熱センサ36がこ
の発明により、使用され得ることを理解すべきである。
【0030】図4は、熱センサ36の一つの詳細図を示
す。各熱センサ36は、一対の電気導体素子の間に配置
された誘電素子を有する電極アセンブリであり得る。熱
センサに加えて、この発明による電極アセンブリは、ダ
イナミックランダムアクセスメモリ(DRAM)、非揮
発性メモリ、および類似のものに使用できる。読者の便
宜のために、電極アセンブリは、熱センサ36の実施例
で説明される。この実施例において、誘電素子は、感熱
素子50であり得る。感熱素子50は、第一電気導体素
子52と第2電気導体素子54の間に配置されてもよ
い。
【0031】一つの実施例において、感熱素子50は、
好ましくはパイロ電気材料から形成される。パイロ電気
材料はまた、チタン酸バリウムストロンチウム(BS
T)、チタン酸バリウム(BT)、およびアンチモニー
スルホヨー化物(SbSI)のような強誘電物質、また
は、チタン酸鉛(PT)、チタン酸鉛ランタン(PL
T)、ジルコン酸チタン酸鉛(PZT)、ジルコン酸チ
タン酸鉛ランタン(PLZT)、亜鉛ニオブ酸鉛(PZ
N)、ストロンチウムチタン酸鉛(PSrT)、および
タンタル酸鉛スカンジウム(PST)を含むいずれかの
鉛を含む強誘電材料であり得る。この実施例において感
熱素子50は、温度変化に応答して、電荷を生成する。
しかしながら、この発明は、熱放射に対して満足な応答
をするあらゆる感熱材料から、前記感熱素子50を形成
することを意図していることを理解すべきである。
【0032】感熱素子50の厚さは、熱画像システム1
2が、検出するように設計される熱放射の波長により、
変化し得る。感熱素子50は、熱放射への応答性を増強
するため、また、生成された電荷を電気伝導素子52お
よび54への転送を増強するために、薄膜が望ましい。
【0033】第1の電気伝導素子52と第2の電気伝導
素子54は、感熱またはパイロ電気素子50の反対側に
配置され得る。この配置において、電気伝導素子52と
54は、熱放射に応答するパイロ電気素子50により生
成された電荷を受け取る電極として機能する。従って、
電極52と54は、パイロ電気素子50と電気的に連絡
を取っていて、これは容量結合を含む。
【0034】電気導体素子または電極52と54は、薄
膜電極であり得る。薄膜電極52と54は、それらが熱
放射を実質的に透過させるので、一般に好まれる。薄膜
電極はまた、パイロ電気素子から吸収された熱エネルギ
ーをそれらが奪わないので、好まれる。その上、赤外線
放射が熱センサ36の室68に吸収される場合は、薄膜
電極を不透明にできる。
【0035】しかしながら、薄膜電極についての問題
は、沈積後の処理の間に、しばしばそれらが変形するこ
とである。これは特に、摂氏350度ないし摂氏800
度の高温にさらされる第1薄膜電極52について、真実
である。これらの高温が、パイロ電気素子50の形成中
に、温度が誘因の応力を引き起こし得る。結果として、
薄膜電極52は、パイロ電気素子50に隣接した薄膜フ
イルム電極52の表面に沿って、ヒロックまたは類似の
異常形状を生成する。この異常形状は、パイロ電気素子
50を通して、また薄膜フィルム電極52と54の間
に、電気的な漏洩を結果する。この漏洩は、電気信号お
よび熱センサ36から得られるビジュアルディスプレイ
を劣化させる。
【0036】この発明の一つの重要な特徴は、固溶体で
の第1電極52の形成である。固溶体は、少なくとも一
つの原子位置が二種類以上の原子を収容できる結晶状態
の溶液である。溶液は、二種類以上の成分の均質的な混
合物である。固溶体の成分は、好ましくは、高い仕事関
数を有し、相互およびパイロ電気素子50とコンパティ
ブルであるべきである。ある成分の仕事関数は、一つの
電子を解放するのに必要なエネルギーである。典型的
に、4eVまたはそれ以上の仕事関数が、アンサンブル
のために容認できる。成分は、それらが相互に、または
パイロ電気素子50と反対に作用しないときに、コンパ
ティブルである。
【0037】詳細は後述するが、一つの実施例におい
て、第1電極52は、プラチナおよびロジウムの固溶体
を含んでなり得る。相互およびパイロ電気素子50とコ
ンパティブルであり、容認できる仕事関数を有する他の
成分が、この発明の範囲内で使用できることを理解でき
よう。他の固溶体は、0−10%RnのIr−Rn、0
−40%のIrと60−100%のRnのIr−Rn、
0−10%PdのIr−Pd、0−10%のPdと95
−100%のPtのPd−Pt、0−100%のAgお
よびAuのAg−Au、0−100%のAgおよびPd
のAg−Pd、0−20%InのAg−In、0−10
0%のPtのAu−Pt、0−5%のPtのIr−Pt
である。アンサンブルの作業関数が承認できるならば、
個別の成分は、より低い作業関数を有し得ることが更に
理解されよう。
【0038】第1電極52の固溶体は、ヒロックその他
の異常な形態が第1電極52の表面に形成することに対
する抵抗を増大させる。したがって、パイロ電気素子5
0および焦平面アレー32の他の部分の製造工程を通じ
て、第1電極52の表面は比較的に平滑なまま残る。第
1電極52の平滑な表面は、パイロ電気素子50と第1
電極52の間の電気的漏洩を減少する。漏洩の減少は、
熱センサ36から得られる電気信号とビジュアルディス
プレイを改良する。
【0039】第2電極54も叉、固溶体で製造できる。
代案として、第2電極54は、電気的に導体である種々
の単一成分の材料で形成し得る。たとえば、第2電極5
4は、パラジウムまたはプラチナにより、または、酸化
ルテニウム(RuO2 )または酸化ランタンストロンチ
ウムコバルト(LSCO)のような導体酸化物から、形
成し得る。
【0040】熱センサ36は、集積回路基板34上に自
己支持されていることが望ましい。図4に示されるよう
に、第1の支持アーム56が、望ましくは第1の電極5
2から延びている。第2の支持アーム58が、望ましく
は第2の電極54から延びている。他の実施例におい
て、感熱素子50は、別々のセクションに分割され、支
持アーム56および58は、一つの二叉の電極52また
は54から延びている。
【0041】多くのアプリケーションについて、支持ア
ーム56は、好ましくは、第1の電極52と同じタイプ
の材料から形成される。同様に、支持アーム58は、好
ましくは、第2の電極54と同じタイプの材料から形成
される。しかしながら、支持アーム56および58は、
電極52および54とは異なった材料から形成され得
る。その上、支持アーム56と58の厚さは、これらの
電極と集積回路基板34の間の熱伝導性を制御するため
に変えられ得る。感熱材料が、支持アーム56の上と、
支持アーム58の下に配置され得る。
【0042】支持アーム56および58の長さ、幅、厚
さは、熱センサ36と集積回路基板34の間の熱エネル
ギーの移転に対するそれらの抵抗を増大するように選ば
れ得る。例えば一実施例において、各支持アームとそれ
ぞれの電極の間に、スロット60および62を形成して
支持アームを二叉にして、こうして支持アームとこれら
に結合した電極との間の、追加的な熱の絶縁を提供す
る。この実施例において、各サポートアームの熱の絶縁
は、二叉の支持アームを長くすることにより、増加でき
る。熱の絶縁は、各支持アームを電極の縁の対向する半
分に沿って完全に伸ばすことにより、極大化できる。
【0043】二叉の支持アーム56と58を支持し、こ
うして集積回路基板34の表面66との間に間隔をとっ
て、熱センサ36を支持するするために、一対のポスト
64が備えられる。ポスト64は、それぞれ二叉の支持
アームの一つを支持する。ポスト64は、好ましくは電
気導体の材料で形成される。この実施例においては、各
ポスト64が、それぞれの電極から集積回路基板34の
接点パッド70へ電気信号を転送する。こうして、ポス
ト64は機械的な支持と結合された接点パッド70への
信号の流路の両方を提供する。
【0044】第1の電極52の底と集積回路基板34の
表面66の間の隙間により、一つの室68が形成され
る。パイロ電気素子50が、熱放射を直接に吸収し、ま
たは部分的に放射が室68を通過して集積回路基板34
を外れて反射した後に吸収する。熱放射が部分的に集積
回路基板34を外れて反射した後に吸収される実施例に
おいては、室68の容積は、この熱画像システム12が
検出するよう設計された熱放射の波長により、異なり得
る。室68は、好ましくは選択された熱放射の波長の約
4分の1に等しい。こうして、熱画像システム12が、
7.5ないし14ミクロンの波長を有する熱放射を検出
するよう設計される場合、室68は好ましくは2ないし
3ミクロンの高さを有する。この実施例において、電極
52と54は、熱放射を透過させ得る。集積回路基板3
4の表面68に対する第1の電極52の底の位置を変化
させる能力は、熱放射に対する熱センサ36の応答性を
増大させる。
【0045】図5Aから5Cまでは、この発明の一実施
例により、熱センサ36を製作する工程の種々のステッ
プを図示する。図5Aに示すように、接点パッド70の
一つの列が集積回路基板34の表面66に配置され、熱
センサ36により生成された電気信号を受け取るように
される。前に述べたように、集積回路基板34の表面6
6に形成される多層に対して化学的および熱的の両方で
対応出来るようなシリコンまたは他のふさわしい材料
で、集積回路基板34が形成される。
【0046】集積回路基板34上に犠牲層72が、沈積
され得る。製造工程中にこの犠牲層72は、その上に熱
センサ36が集積回路基板34に関して、間隔をとって
形成されるための基礎を提供する。従って、この犠牲層
72は、室68を生成する加工の後に除去され得る。
【0047】この犠牲層の厚さは、室68の希望の高さ
に等しくすべきである。前述のように、室の高さは好ま
しくは選択された熱放射の波長の4分の1に等しい。こ
うして、熱センサ36が波長7.5ないし14ミクロン
の熱放射を検出すべき場合、前記犠牲層は約2ないし3
ミクロンの厚さに沈積されるべきである。犠牲層72
は、好ましくは二酸化珪素(SiO2 )またはポリアミ
ドまたは熱センサ36の製造に適合した類似のタイプの
材料である。熱センサ36の製造に適合した物質は、過
度に縮小または拡大または燃焼または溶解したり、また
は加工に妨げになる程の範囲にわたり、他の物質と相互
に作用するものでなければよい。犠牲層72の材料は、
また、好ましくはドライエッチング技法の方法により、
除去出来るものである。
【0048】電気導体材料の第1層75が次に犠牲層7
2の上に形成される。後述するが、電気導体材料の第1
層75は、第1の電極52を形成する。この発明によれ
ば、電気導体材料75の第1層は、固溶体で製作され
る。前述のように、固溶体は、少なくとも一つの原子位
置が、二つ以上の原子の種類を収容し得る結晶状態の溶
液である。溶液は、二つまたはそれ以上の成分の均質的
な混合物である。固溶体の成分は、望ましくは、高い仕
事関数を有し、相互におよび熱センサ36の物質に対し
てコンパティブルであるべきである。ある成分の仕事関
数は、一つの電子を解放するために必要なエネルギーで
ある。典型的に、4eVまたはそれ以上の仕事関数は、
ある成分のために容認できる。
【0049】一つの実施例において、固溶体は、85%
のプラチナと15%のロジウムを含んでなる。プラチナ
の相対量は、約99%から約1%の間で変化し得る。ロ
ジウムの相対量は、約1%から約99%の間で変化し得
る。容認できる仕事関数を有し、相互におよび焦平面上
の他の物質に対してコンパティブルである、追加または
異なる成分を固溶体が含んでなり得ることを理解すべき
である。他の固溶体は、0−10%RhのIr−Rh、
0−40%Irと60−100%RnのIr−Rn、0
−10%PdのIr−Pd、0−10%Pdと95−1
00%PtのPd−Pt、0−100%のAgおよびA
uのAg−Au、0−100%のAgおよびPdのAg
−Pd、0−20%InのAg−In、0−100%の
PtのAu−Pt、0−5%のPtのIr−Ptであ
る。アンサンブルの作業関数が承認できるならば、個別
の成分は、より低い作業関数を有し得ることが更に理解
されよう。
【0050】次に、感熱材料層80が、電気導体材料の
第1層75の上に形成される。後述するが、感熱材料層
80は、感熱素子50を形成する。一つの実施例におい
て、感熱材料層80は、好ましくはチタン酸バリウムス
トロンチウム(BST)、チタン酸バリウム(BT)、
アンチモニースルホヨー化物(SbSI)のようなパイ
ロ電気材料から形成される。他の実施例では、チタン酸
鉛(PT)、ランタンチタン酸鉛(PLT)、ジルコン
酸チタン酸鉛(PZT)、ジルコン酸チタン酸鉛ランタ
ン(PLZT)、鉛亜鉛ニオブ酸塩(PZN)、チタン
酸鉛ストロンチウム(PSrT)、タンタル酸鉛スカン
ジウム(PST)を含む強誘電性物質を含む鉛が感熱層
80を形成するために使用され得る。感熱層80のため
の材料の選択は、集積回路基板34上に形成されるべき
熱センサ36のタイプによる。
【0051】図5Bに示すように、電気導体材料の第2
層85は、感熱層80上に電気導体材料の第1層75と
反対側に形成される。この電気導体材料の第2層85
は、第2電極54を形成する。電気導体材料の第2層8
5は、固容体またはパラジウムまたはプラチナのような
種々のタイプの材料で形成される。しかしながら、この
発明は、集積回路基板34上に形成される熱センサ36
のタイプによって、他のタイプの電気導体材料を使用す
るのを許容する。
【0052】薄膜層72、75、80、82、85を形
成するために種々の技法が使用される。しばしばこれら
の技法は、2つのグループに分けられる。すなわち、蒸
気沈積された核種と結合された基板の間の相互作用によ
るフィルムの成長、および結合された基板を変化させる
ことのない沈積によるフィルムの生成である。薄膜成長
の技法の第1のグループは、単一結晶シリコンおよびポ
リシリコンの熱による酸化および窒化を含む。沈積され
た金属と基板の直接の反応による珪素化合物の形成もま
た、しばしば薄膜生成技法のこの第1のグループに含ま
れる。
【0053】薄膜生成技法の第2のグループは、さらに
沈積の3つのサブクラスに分けられる。第1のサブクラ
スは、しばしば化学蒸着法(CVD)と呼ばれ、ここで
は結合された薄膜にとって、望ましい成分を含む気相化
学物質の化学反応により、基板上に薄膜が形成される。
第2のサブクラスは、しばしば物理蒸着法(PVD)と
呼ばれ、ここでは希望する薄膜がソースから物理的に追
い出されて、蒸気を形成し、それを減圧した領域を横切
って基板へ運ぶ。この追い出された層は、それから濃縮
されて希望する薄膜層を形成する。第3のサブクラス
は、典型的に液体による基板のコーティングを含み、そ
れから乾燥されて希望の薄膜層を形成する。PVDによ
る薄膜の形成は、スパッタリング、蒸発、分子ビームエ
ピタキシのような工程を含む。スピンコーティングは、
薄膜層を形成するために基板上に液体を沈積させるのに
最も普通に用いられる技法である。
【0054】薄膜層はまた、この発明の技法によりディ
ッピング、スパッタリングまたはMOCVDによる気相
分解、およびスピンコーティングによるゾル/ゲルまた
は金属有機分解(MOD)のような技法を用いて、好ま
しく成長させることができる。結果として得られる熱セ
ンサ36に望ましい電気的および熱的特性を確立するた
めに、工程を選ぶべきである。その上、層72、75、
80、82、85を形成するのに使用される材料のタイ
プにより、一つまたはそれ以上のバッファ層または保護
層(図示なし)を、集積回路基板34の表面66および
/または層72、75、80、82、85の間に沈積さ
れ得る。
【0055】超大規模集積回路の製造に関連する加工を
用いて、集積回路基板34上に熱センサ36を製作する
ことを可能にするために、種々な技法を統合し得る。焦
点面アレー32の製作に関連する材料の使用と全般的な
加工の能率は、実質的に改良し得る。例えば、感熱層8
0は、感熱素子50のために望ましいのとほぼ同一の厚
さに形成することが望ましい。こうして、パイロ電気材
料から感熱素子を形成するために使用される先行技術に
関連した研磨の損傷の可能性は、実質的に減少または除
去された。
【0056】ジルコン酸チタン酸鉛ランタン(PLZ
T)のようなパイロ電気材料から感熱層80が形成され
るアプリケーションのためには、電気導体材料層85を
塗布する前に、または後に、層80を焼きなますことが
望ましい。層80の焼きなましは、その結果としての熱
センサ36に必要とされる望ましいパイロ電気的特性を
設定するために、一般に要求される。ジルコン酸チタン
酸鉛ランタン(PLZT)のための焼きなまし温度は、
700゜Cの高さになり得る。こうして、この発明の一
つの重要な特徴は、電気導体材料の第1層75の固溶体
を供給して、感熱層80の焼きなましを可能にし、電気
導体材料の第1層上に形成されるヒロックまたは他の異
常な形態を減少または消滅させることを含む。
【0057】前述のように、固溶体は、感熱素子50お
よび焦平面アレー32の他の部分の製作中に、電気導体
材料の第1層75の表面上にヒロックおよび他の異常な
形態が形成するのに対する抵抗を増加させる。電気導体
材料の第1層75の平滑な表面は、感熱素子50を通し
て、一つの電極から他のものへの電気的漏洩を減少させ
る。漏洩の減少は、熱センサ36から得られる電気信号
とビジュアルディスプレイを改良する。
【0058】図5Bについて示すように、各熱センサ3
6上に、一対のバイアス90が形成され得る。このバイ
アス90は、望ましくは、異方性エッチングまたは他の
フォトリソグラフィを使用して形成される。ポスト64
は、バイアス90を支持材で充填することにより形成さ
れる。あるアプリケーションにおいて、支持材95は、
プラチナであり得る。しかしながら、製作されるべき熱
センサ36のタイプにより、他のタイプの材料が使用可
能であり、製作に含まれる温度や加工についても同様で
ある。
【0059】図5Cについて示すように集積回路基板3
4および層中のポスト64の表面66上に希望する材料
の層72、75、80、85を形成した後に、集積回路
基板34上に個々の熱センサ36が決定される。前記の
ように、犠牲層72と結晶核生成層82は、空洞68を
形成する加工中に除去される。異方性エッチング加工を
含む種々のフォトリソグラフィ技法が、希望する熱セン
サ36を決定するために使用され得る。層75、80、
85を形成するために使用する材料のタイプにより、異
方性エッチング工程は、酸素ベースのイオンミリング、
反応イオンエッチ(RIE)、または磁気強化反応イオ
ンエッチ(MERIE)を含み得る。
【0060】結果として生ずる熱センサ36において、
第1電極52は、好ましくは電気導体材料の第1層75
から形成される。感熱素子50は、好ましくは感熱層8
0から形成される。第2電極54は、好ましくは電気導
体の第2層85から形成される。ポスト64は、ビア9
0内の支持材95から形成される。一実施例において、
ボトム電極52は、ボトム電極を過ぎてトップ電極のポ
スト64の高さにまで延びる。ポスト64は、接点パッ
ド70上に載っている。
【0061】更に、熱センサ36は、好ましくは、第1
電極52と集積回路基板34の表面66の間の空洞68
を含む。前述のように、空洞68は、好ましくは、熱セ
ンサ36で検出される入射赤外線放射の波長の約4分の
1に等しい高さを有する。一つのアプリケーションにつ
いて、ポスト64とこれに結合した空所68は、2.5
ミクロンの高さを有する。
【0062】下記の唯一の表は、図面中のいくつかの実
施例の大要を示す。
【表1】
【0063】この発明をいくつかの実施例により説明し
てきたが、種々の改変と修正が、当業者に示唆され得
る。こうして、この発明は、添付の請求項の範囲に入る
そうした改変や修正を含むことを意図している。
【0064】以上の説明に関して更に以下の項を開示す
る。 (1) 少なくとも二つの成分の固溶体を含んでなる第
1薄膜電極と、前記第1薄膜電極と電気通信する誘電素
子と、前記第1薄膜電極の反対側にあって前記誘電素子
と電気通信する第2薄膜電極を含んでなる電極アセンブ
リ。
【0065】(2) 誘電素子は感熱素子である第
(1)項記載の電極アセンブリ。
【0066】(3) 前記感熱素子は前記第1薄膜電極
に隣接して配置され、前記第2薄膜電極は前記第1薄膜
電極の反対側で前記感熱素子に隣接して配置されてい
る、第(2)項記載の電極アセンブリ。
【0067】(4) 基板と間隔を置いた関係で前記第
1薄膜電極を支持するための支持構造を更に含んでな
り、前記支持構造は、前記基板の表面から延びた少なく
とも二つのポストと、各々の電極から延びてそれぞれの
ポストに接続される一対の二叉のアームとを含んでなる
第(2)項記載の電極アセンブリ。
【0068】(5) 前記感熱素子はパイロ電気材料で
ある第(2)項記載の電極アセンブリ。
【0069】(6) 前記感熱素子は強誘電物質である
第(2)項記載の電極アセンブリ。
【0070】(7) 前記固溶体はプラチナとロジウム
の成分を含む第(2)項記載の電極アセンブリ。
【0071】(8) 前記固溶体は約85%のプラチナ
と約15%のロジウムを含んでなる第(2)項記載の電
極アセンブリ。
【0072】(9) シーンから入射の熱放射に応答し
てシーンの画像を生成する熱画像システムであって、シ
ーンから焦平面アレ−へ出される入射の熱放射に焦点を
合わせる光学器械と、光学器械と焦平面アレーの間に配
置されるチョッパと、基板に装着されて入射の熱放射を
検出するための多数の熱センサを含む焦平面アレーを含
んでなり、各熱センサは、基板表面に関して間隔をとっ
た第1薄膜電極で、少なくとも二つの成分の固溶体を含
んでなる前記第1薄膜電極と、前記第1薄膜電極と電気
的に通信する感熱素子と、前記感熱素子と電気的に通信
する第2薄膜電極を含んでなり、前記チョッパと協力し
て信号を生成する前記熱センサと、信号を受信し処理し
て、シーン内の物体から出される放射の相違を表現する
ビデオ信号を得るための電子機器を含んでなる、前記熱
撮像システム。
【0073】(10) 前記感熱素子は第1薄膜電極に
隣接して配置され、また、前記第2薄膜電極は前記第1
薄膜電極と反対側で前記感熱電極に隣接して配置されて
いる第(9)項記載のシステム。
【0074】(11) 前記感熱素子は、パイロ電気材
料である第(9)項記載のシステム。
【0075】(12) 前記感熱素子は、強誘電材料で
ある第(9)項記載の前記電極アセンブリ
【0076】(13) 前記固溶体は、プラチナとロジ
ウムの成分を含む第(9)項記載のシステム。
【0077】(14) 前記固溶体は、約85%のプラ
チナと約15%のロジウムを含んでなる第(9)項記載
のシステム。
【0078】(15) 集積回路上に装着された熱セン
サの焦平面アレーを有する熱検出器の製造方法であっ
て、集積回路基板の表面上に材料の犠牲層を形成するス
テップと、少なくとも二つの成分の固溶体を含んでなる
電気導体材料の第1薄膜層を前記犠牲層の表面上に形成
するステップと、電気導体材料の前記第1層の表面上に
感熱材料の薄膜層を形成するステップと、前記感熱材料
の表面上に電気導体材料の第2薄膜層を形成するステッ
プと、材料の前記薄膜層から集積回路基板上に装着され
た焦平面アレーを形成する多数の熱センサを形成するス
テップとを含んでなる、前記製造方法。
【0079】(16) 前記犠牲層を除去して、前記集
積回路基板と各熱センサの間の空洞を形成するステップ
を更に含んでなる第(15)項記載の方法。
【0080】(17) 前記感熱材料の薄膜層を加熱す
るステップを更に含んでなる第(15)項記載の方法。
【0081】(18) 前記感熱材料層への前記加熱は
摂氏350度から摂氏800度の間にある第(17)項
記載の方法。
【0082】(19) 感熱素子はパイロ電気材料であ
る第(15)項記載の方法。
【0083】(20) 前記固溶体はプラチナとロジウ
ムの成分を含む第(15)項記載の方法。
【0084】(21) 前記固溶体は、約85%のプラ
チナと、約15%のロジウムを含んでなる第(15)項
記載の方法。
【0085】(22) 電極アセンブリ36は、第1薄
膜電極52と誘電素子50と第2薄膜電極54を含んで
なり得る。第1薄膜電極52は、少なくとも二つの成分
の固溶体を含んでなり得る。誘電素子50は、第1薄膜
電極52と電気通信し得る。第2薄膜電極54は、第1
薄膜電極52の反対側で、誘電素子50と電気通信し得
る。
【図面の簡単な説明】
この発明とその長所を一層よく理解するために、添付の
図面に関連させて以上に説明した。すなわち、
【図1】この発明により構成した熱画像システムの一実
施例の構成要素を示すブロック図である。
【図2】図1の熱検出器の等角投影図で、サーマル素子
の反対側で集積回路基板に装着された焦点面アレーを示
す。
【図3】図2の焦点面アレーの詳細な等角投影図で、熱
センサのマトリクスを示す。
【図4】図3の熱センサの一つの詳細な等角投影図で、
一対の薄膜電極の間に配置された感熱素子を示す。
【図5】この発明の一実施例による図4の熱センサの製
作の種々の段階の一連の部分立面図を示す。
【符号の説明】
32 焦点面アレイ 34 基板 36 熱センサ 38 サーマル素子 50 感熱素子、誘電素子 52 第1薄膜電極 54 第2薄膜電極

Claims (2)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 少なくとも二つの成分の固溶体を含んで
    なる第1薄膜電極と、前記第1薄膜電極と電気通信する
    誘電素子と、前記第1薄膜電極の反対側にあって前記誘
    電素子と電気通信する第2薄膜電極を含んでなる電極ア
    センブリ。
  2. 【請求項2】 集積回路上に装着された熱センサの焦平
    面アレーを有する熱検出器の製造方法であって、 集積回路基板の表面上に材料の犠牲層を形成するステッ
    プと、 少なくとも二つの成分の固溶体を含んでなる電気導体材
    料の第1薄膜層を形成するステップと、 電気導体材料の前記第1層の表面上に感熱材料の薄膜層
    を形成するステップと、 前記感熱材料の表面上に電気導体材料の第2薄膜層を形
    成するステップと、 材料の前記薄膜層から、集積回路基板上に装着された焦
    平面アレーを形成する多数の熱センサを形成するステッ
    プとを含んでなる、前記製造方法。
JP9236059A 1996-08-30 1997-09-01 薄膜電極および方法 Pending JPH10104062A (ja)

Applications Claiming Priority (2)

Application Number Priority Date Filing Date Title
US2492696P 1996-08-30 1996-08-30
US024926 1996-08-30

Publications (1)

Publication Number Publication Date
JPH10104062A true JPH10104062A (ja) 1998-04-24

Family

ID=21823073

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP9236059A Pending JPH10104062A (ja) 1996-08-30 1997-09-01 薄膜電極および方法

Country Status (3)

Country Link
EP (1) EP0827216B1 (ja)
JP (1) JPH10104062A (ja)
DE (1) DE69737278T2 (ja)

Cited By (9)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2006524323A (ja) * 2003-04-24 2006-10-26 コミサリア、ア、レネルジ、アトミク 小窩状構造体を備えた熱電磁放射線検出器
EP2400280A2 (en) 2010-06-25 2011-12-28 Seiko Epson Corporation Pyroelectric detector, pyroelectric detection device, and electronic instrument
JP2012008068A (ja) * 2010-06-28 2012-01-12 Seiko Epson Corp 焦電型検出器、焦電型検出装置及び電子機器
JP2012008034A (ja) * 2010-06-25 2012-01-12 Seiko Epson Corp 焦電型検出器、焦電型検出装置及び電子機器
US8502150B2 (en) 2011-02-24 2013-08-06 Seiko Epson Corporation Pyroelectric detector, pyroelectric detection device, and electronic instrument
US8592937B2 (en) 2011-02-23 2013-11-26 Seiko Epson Corporation Pyroelectric detector, pyroelectric detection device, and electronic instrument
WO2013181324A1 (en) * 2012-06-01 2013-12-05 Bridge Semiconductor Corporation High density pyroelectric thin film infrared sensor array and method of manufacture thereof
US8710443B2 (en) 2011-02-24 2014-04-29 Seiko Epson Corporation Pyroelectric detector, pyroelectric detection device, and electronic instrument
US9163993B2 (en) 2011-02-23 2015-10-20 Seiko Epson Corporation Thermal detector, thermal detection device, and electronic instrument

Families Citing this family (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
EP1076830A4 (en) * 1998-04-13 2001-10-24 Irdam Company MULTIFUNCTION SENSOR
EP1178294A1 (fr) * 2000-08-04 2002-02-06 Ecole Polytechnique Federale De Lausanne Capteur pyroélectrique ayant entre ses pixels un couplage thermique parasite réduit

Family Cites Families (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US4143269A (en) * 1977-12-19 1979-03-06 Texas Instruments Incorporated Ferroelectric imaging system
GB9009117D0 (en) * 1990-04-24 1990-08-08 Emi Plc Thorn Pyroelectric detector and method of manufacturing the same
WO1993009414A1 (en) * 1991-11-04 1993-05-13 Honeywell Inc. Thin film pyroelectric imaging array

Cited By (12)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2006524323A (ja) * 2003-04-24 2006-10-26 コミサリア、ア、レネルジ、アトミク 小窩状構造体を備えた熱電磁放射線検出器
EP2400280A2 (en) 2010-06-25 2011-12-28 Seiko Epson Corporation Pyroelectric detector, pyroelectric detection device, and electronic instrument
JP2012008034A (ja) * 2010-06-25 2012-01-12 Seiko Epson Corp 焦電型検出器、焦電型検出装置及び電子機器
US8362584B2 (en) 2010-06-25 2013-01-29 Seiko Epson Corporation Pyroelectric detector, pyroelectric detection device, and electronic instrument
US8362583B2 (en) 2010-06-25 2013-01-29 Seiko Epson Corporation Pyroelectric detector, pyroelectric detection device, and electronic instrument
JP2012008068A (ja) * 2010-06-28 2012-01-12 Seiko Epson Corp 焦電型検出器、焦電型検出装置及び電子機器
US8736010B2 (en) 2010-06-28 2014-05-27 Seiko Epson Corporation Pyroelectric detector, pyroelectric detection device, and electronic instrument
US8592937B2 (en) 2011-02-23 2013-11-26 Seiko Epson Corporation Pyroelectric detector, pyroelectric detection device, and electronic instrument
US9163993B2 (en) 2011-02-23 2015-10-20 Seiko Epson Corporation Thermal detector, thermal detection device, and electronic instrument
US8502150B2 (en) 2011-02-24 2013-08-06 Seiko Epson Corporation Pyroelectric detector, pyroelectric detection device, and electronic instrument
US8710443B2 (en) 2011-02-24 2014-04-29 Seiko Epson Corporation Pyroelectric detector, pyroelectric detection device, and electronic instrument
WO2013181324A1 (en) * 2012-06-01 2013-12-05 Bridge Semiconductor Corporation High density pyroelectric thin film infrared sensor array and method of manufacture thereof

Also Published As

Publication number Publication date
DE69737278D1 (de) 2007-03-15
EP0827216A3 (en) 1999-11-24
EP0827216B1 (en) 2007-01-24
EP0827216A2 (en) 1998-03-04
DE69737278T2 (de) 2008-01-03

Similar Documents

Publication Publication Date Title
KR100265472B1 (ko) 비냉각 적외선 검출기 및 그 형성방법
US5743006A (en) Method for fabricating a focal plane array for thermal imaging system
EP0354369B1 (en) Infrared detector
US5602043A (en) Monolithic thermal detector with pyroelectric film and method
US5945673A (en) Thermal detector with nucleation element and method
Muralt Micromachined infrared detectors based on pyroelectric thin films
US6046398A (en) Micromachined thermoelectric sensors and arrays and process for producing
EP0534768B1 (en) Uncooled infrared detector and method for forming the same
US5850098A (en) Uncooled amorphous YBaCuO thin film infrared detector
US5929441A (en) Low mass optical coating for thin film detectors
JP3808092B2 (ja) 電子デバイスおよびその製造方法
US6137107A (en) Thermal detector with inter-digitated thin film electrodes and method
US6121618A (en) Method of operating a high responsivity thermochromic infrared detector
Kulwicki et al. Pyroelectric imaging
JPWO2004061983A1 (ja) 電子デバイスおよびその製造方法
JPH09500234A (ja) 配向されて成長した焦電性の層を有するパイロ検出素子およびその製造法
WO2002043148A9 (en) Micromachined infrared sensitive pixel and infrared imager
US5079200A (en) Detector material for uncooled thermal imaging devices
JPH10104062A (ja) 薄膜電極および方法
JPH10163539A (ja) 熱型赤外線検出素子とその製造方法
US5990481A (en) Thermal detector with preferentially-ordered thermally sensitive element and method
US6020216A (en) Thermal detector with stress-aligned thermally sensitive element and method
US6087661A (en) Thermal isolation of monolithic thermal detector
US5972108A (en) Method of preferentially-ordering a thermally sensitive element
Watton et al. IR bolometer arrays: the route to uncooled, affordable thermal imaging