JPH0984794A - Ultrasonic diagnostic device - Google Patents

Ultrasonic diagnostic device

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JPH0984794A
JPH0984794A JP7243520A JP24352095A JPH0984794A JP H0984794 A JPH0984794 A JP H0984794A JP 7243520 A JP7243520 A JP 7243520A JP 24352095 A JP24352095 A JP 24352095A JP H0984794 A JPH0984794 A JP H0984794A
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delay
aperture
sector
oscillator
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隆夫 鈴木
Morio Nishigaki
森雄 西垣
Hiroshi Fukukita
博 福喜多
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Matsushita Electric Industrial Co Ltd
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  • Investigating Or Analyzing Materials By The Use Of Ultrasonic Waves (AREA)
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Abstract

PROBLEM TO BE SOLVED: To realize an ultrasonic diagnostic device in which the size and position of an aperture are controlled without adding physical quantity in sector scanning, and the influence of multiple reflection by a costa in diagnosis of the heart from intercosta can be reduced. SOLUTION: In a cross point switch part for performing the selection of oscillator in linear scanning and the addition of signal in sector scanning, the size and position of an aperture are controlled to the signals received by oscillators 1-8, and a delay addition is performed in a delay addition part 50. Thus, an ultrasonic diagnostic device in which the beam position is controlled to reduce the influence of multiple reflection by a costa without increasing physical quantity and focus data can be realized.

Description

【発明の詳細な説明】Detailed Description of the Invention

【0001】[0001]

【発明の属する技術分野】本発明は複数の振動子からな
る探触子によりエコー信号を受信し、遅延加算を行なう
機能をもつ超音波診断装置に関する。
BACKGROUND OF THE INVENTION 1. Field of the Invention The present invention relates to an ultrasonic diagnostic apparatus having a function of receiving echo signals by a probe composed of a plurality of transducers and performing delay addition.

【0002】[0002]

【従来の技術】超音波診断装置の送受信において複数の
振動子から構成される探触子により、広範囲の被検部位
について質の高い画像を得る手法は最近ではよく用いら
れている。
2. Description of the Related Art Recently, a technique for obtaining a high-quality image of a wide range of regions to be examined by a probe composed of a plurality of transducers in transmission / reception of an ultrasonic diagnostic apparatus has been widely used.

【0003】図7はリニアスキャンにおける複数の振動
子によりエコー信号を受信した場合の信号の合成を示し
ている。反射体100により反射した信号を振動子1〜
8で受信するとき、反射体100から各振動子1〜8ま
での距離は異なるため、反射体から各振動子までの信号
の到達時間に差が発生する。この時間差を遅延線191
〜198により補正し、加算器180により加算して1
つの出力を得る。
FIG. 7 shows the combination of signals when echo signals are received by a plurality of transducers in a linear scan. The signal reflected by the reflector 100 is applied to the transducer 1 to
When receiving at 8, the distance from the reflector 100 to each of the transducers 1 to 8 is different, so that there is a difference in the arrival time of the signal from the reflector to each of the transducers. This time difference is the delay line 191.
~ 198 to correct, adder 180 to add 1
Get one output.

【0004】この処理を、以後はフォーカスをすると言
う。フォーカスをすることでビームを細く絞ることがで
き、分解能を向上することができるほか、ランダムノイ
ズを低減することができ、S/N比を向上させることが
できる。
This process is hereinafter referred to as focusing. By focusing, the beam can be narrowed down, the resolution can be improved, random noise can be reduced, and the S / N ratio can be improved.

【0005】遅延線191〜198としてはアナログ方
式の遅延線がよく用いられているが、最近ではA/D変
換器とディジタルメモリを組み合わせたディジタル遅延
線も使用され始めている。
As the delay lines 191-198, analog type delay lines are often used, but recently, digital delay lines combining an A / D converter and a digital memory have also begun to be used.

【0006】アナログ遅延線における遅延時間の切替
は、中間タップ付きのアナログ遅延線のタップをアナロ
グスイッチで切り換える方式が一般的である。リニアス
キャンにおいては、ビームは振動子の配列方向と垂直で
ある。従ってアパチャー中心から対称な位置にある振動
子、すなわち、振動子1と振動子8、振動子2と振動子
7、振動子3と振動子6、振動子4と振動子5に必要な
遅延時間は等しいため、図8に示すように各々の遅延時
間の等しい信号を加算器180〜184で加算してから
遅延手段に入力することで遅延線の数を半分に減らすこ
とができる。この方式をフォールド・オーバと呼ぶ。
The switching of the delay time in the analog delay line is generally performed by switching the tap of the analog delay line with an intermediate tap by an analog switch. In the linear scan, the beam is perpendicular to the array direction of the transducers. Therefore, the delay time required for the oscillators symmetrical with respect to the aperture center, that is, the oscillator 1 and the oscillator 8, the oscillator 2 and the oscillator 7, the oscillator 3 and the oscillator 6, and the oscillator 4 and the oscillator 5 is required. Therefore, the number of delay lines can be reduced by half by adding the signals having the same delay time by the adders 180 to 184 and inputting them to the delay means as shown in FIG. This method is called fold over.

【0007】図9は2次元スキャンを考慮にいれたリニ
アスキャンの遅延加算部を示しており、18はリニアス
キャン用探触子で、振動子1〜16から構成されてい
る。21〜28はそれぞれ2:のアナログスイッチであ
る。30は8:4のクロスポイントスイッチ部(以下、
CPS部と称す)で、電圧−電流変換器106〜113
と、8:4のクロスポイントスイッチ(以下、CPSと
称す)105と、電流−電圧変換器114〜117とで
構成されている。50は遅延加算部である。
FIG. 9 shows a linear scan delay addition section in consideration of two-dimensional scanning. Reference numeral 18 denotes a linear scan probe, which is composed of transducers 1 to 16. Reference numerals 21 to 28 are 2: analog switches. 30 is an 8: 4 cross point switch section (hereinafter,
The voltage-current converters 106 to 113 are referred to as CPS units).
And an 8: 4 cross point switch (hereinafter referred to as CPS) 105 and current-voltage converters 114 to 117. 50 is a delay addition unit.

【0008】次に図9における動作を説明する。リニア
スキャンにおけるビームの移動は選択する振動子をスイ
ッチで順次切り換えていくことで行なわれる。図9にお
いては振動子1〜16の16個の振動子のうち8個を選
択するようになっており、アナログスイッチ21〜28
を全てa側にすることで振動子1〜8が選択され、ビー
ムの位置は振動子4と振動子5の中間に設定される。
Next, the operation in FIG. 9 will be described. The beam movement in the linear scan is performed by sequentially switching the selected transducer with a switch. In FIG. 9, 8 out of 16 vibrators 1 to 16 are selected, and the analog switches 21 to 28 are selected.
Is set to the side a, the transducers 1 to 8 are selected, and the position of the beam is set between the transducers 4 and 5.

【0009】次に、アナログスイッチ21をb側に接続
すると、振動子1の代わりに振動子9が選択され、アパ
チャーは振動子2〜9となりビーム位置は振動子5と振
動子6の間に移動する。同様にアナログスイッチ21〜
28を順次切り換えていくことでビームの位置を移動さ
せることができる。
Next, when the analog switch 21 is connected to the b side, the vibrator 9 is selected instead of the vibrator 1, the apertures become the vibrators 2 to 9, and the beam position is between the vibrators 5 and 6. Moving. Similarly, analog switches 21-
The position of the beam can be moved by sequentially switching 28.

【0010】アナログスイッチ21〜28で選択された
信号はCPS部30に入力される。CPS部30ではア
ナログスイッチ21〜28を通過した8つの信号を、必
要な遅延時間の等しい2つずつの信号を加算し、4種類
の信号を出力する前記フォールド・オーバを行なう。C
PS部30に入力した信号は電圧−電流変換器106〜
113により電流信号に変換され、CPS105の接続
により電流加算されたのち、電流−電圧変換器114〜
117により電圧信号に変換されて出力される。CPS
部30より出力された信号は遅延加算部50に入力さ
れ、遅延加算されて出力される。
The signals selected by the analog switches 21 to 28 are input to the CPS section 30. In the CPS unit 30, the eight signals that have passed through the analog switches 21 to 28 are added with two signals having the same required delay time, and four types of signals are output to perform the fold-over. C
The signal input to the PS unit 30 is the voltage-current converter 106-
After being converted into a current signal by 113 and adding the current by connecting the CPS 105, the current-voltage converter 114-
It is converted into a voltage signal by 117 and is output. CPS
The signal output from the unit 30 is input to the delay addition unit 50, delay-added, and output.

【0011】次に、セクタスキャンでの複数振動子から
の受信信号を合成する方法につき図10を用いて説明す
る。図10において、反射体100により反射した信号
を振動子1〜8で受信するとき、反射体100から各振
動子までの距離は異なるため、反射体から各振動子まで
の信号の到達時間に差が発生する。この時間差を遅延線
191〜198により補正し、加算器180により加算
して1つの出力を得る。
Next, a method of synthesizing received signals from a plurality of transducers in a sector scan will be described with reference to FIG. In FIG. 10, when the signals reflected by the reflector 100 are received by the transducers 1 to 8, since the distance from the reflector 100 to each transducer is different, the arrival time of the signal from the reflector to each transducer is different. Occurs. This time difference is corrected by the delay lines 191 to 198 and added by the adder 180 to obtain one output.

【0012】セクタスキャンでは、振動子の配列方向と
ビームのなす角θを自在に変化させることによってスキ
ャンする。そのために、遅延線191〜198はリニア
スキャンの場合と異なり、すべて違った値となる。遅延
線191〜198の遅延時間を制御することにより、振
動子の配列方向とビームのなす角θをさまざまに変化さ
せることができる。この処理を以後、偏向をすると言
い、振動子の配列方向とビームのなす角θを偏向角と言
う。
In sector scanning, scanning is performed by freely changing the angle θ formed by the beam and the array direction of the transducers. Therefore, the delay lines 191 to 198 all have different values, unlike the case of the linear scan. By controlling the delay times of the delay lines 191 to 198, it is possible to variously change the angle θ formed by the beam and the array direction of the transducers. This process will be referred to as deflection hereinafter, and the angle θ between the array direction of the transducers and the beam will be referred to as the deflection angle.

【0013】セクタスキャンを行うためのブロック図を
図11に示す。150は遅延加算部である。セクタスキ
ャンでは常にすべての振動子1〜8を使用するため、リ
ニアスキャンで用いたアナログスイッチ21〜28およ
びCPS部30を必要としない。また、セクタスキャン
では偏向によりスキャンを行なうため、フォールド・オ
ーバが不可能であり、振動子の数だけの遅延線を用意し
なければならない。また、ビームを偏向するために遅延
加算部150はリニアスキャンに比べ長い遅延線が必要
である。
A block diagram for performing a sector scan is shown in FIG. Reference numeral 150 is a delay addition unit. Since all the transducers 1 to 8 are always used in the sector scan, the analog switches 21 to 28 and the CPS unit 30 used in the linear scan are not required. Further, in the sector scan, since the scan is performed by deflection, fold-over is impossible, and it is necessary to prepare as many delay lines as there are oscillators. Also, the delay adder 150 needs a longer delay line than the linear scan in order to deflect the beam.

【0014】リニアスキャンとセクタスキャンの両方を
1台の装置で実現する方法として図12に示すようなプ
リサミングディレイと呼ばれる方式が考えられている。
図12はコネクタ19にセクタスキャン用探触子17を
接続した状態を示している。セクタスキャン用探触子1
7は、エコー信号を電気信号に変換する振動子1〜8で
構成されている。21〜28は振動子1〜8の信号を選
択する2:1のアナログスイッチ、81〜84は可変遅
延線、30は可変遅延線81〜84を通った4つの信号
のうち2つずつを加算し4種類の信号を出力するCPS
部、50は4つの信号をそれぞれ必要な遅延量だけ遅延
させ、それらを加算する遅延加算部である。
A method called presuming delay as shown in FIG. 12 is considered as a method for realizing both linear scan and sector scan with one device.
FIG. 12 shows a state in which the sector scan probe 17 is connected to the connector 19. Sector scan probe 1
Reference numeral 7 is composed of transducers 1 to 8 for converting an echo signal into an electric signal. Reference numerals 21 to 28 are 2: 1 analog switches for selecting signals from the transducers 1 to 8, 81 to 84 are variable delay lines, and 30 is two of the four signals that have passed through the variable delay lines 81 to 84. CPS that outputs four types of signals
The unit 50 is a delay addition unit that delays each of the four signals by a necessary delay amount and adds them.

【0015】リニアスキャンを行う場合の構成は、コネ
クタ19にリニアスキャン用探触子18を接続し、可変
遅延線81〜84は遅延時間が零に設定される。これは
図9と同じ構成となる。
The configuration for performing the linear scan is such that the linear scan probe 18 is connected to the connector 19 and the delay times of the variable delay lines 81 to 84 are set to zero. This has the same configuration as in FIG.

【0016】図12の動作について説明する。リニアス
キャンにおいては、アナログスイッチ21〜28のa側
に振動子1〜8が、b側に振動子9〜16が接続され、
可変遅延線81〜84は遅延時間が零に設定され、図9
とまったく同じ動作が行なわれる。
The operation of FIG. 12 will be described. In the linear scan, the vibrators 1 to 8 are connected to the a side of the analog switches 21 to 28, and the vibrators 9 to 16 are connected to the b side of the analog switches 21 to 28.
The variable delay lines 81 to 84 have the delay time set to zero, and
Exactly the same operation is performed.

【0017】セクタスキャンにおいては、アナログスイ
ッチ21〜28によって、隣り合った2つの信号のうち
どちらを可変遅延線81〜84に入力するかを選択し、
遅延線を通った信号と遅延線を通っていない信号をCP
S部30によって加算する。可変遅延線81〜84は2
つの信号の時間差を補正するために用いられる。
In the sector scan, the analog switches 21 to 28 select which of two adjacent signals is input to the variable delay lines 81 to 84,
CP for signals that have passed through the delay line and signals that have not passed through the delay line
It is added by the S unit 30. The variable delay lines 81 to 84 are 2
It is used to correct the time difference between two signals.

【0018】ビーム方向がAである場合、振動子2より
振動子1、振動子4より振動子3、振動子6より振動子
5、振動子8より振動子7のほうが速いタイミングで信
号を受信する。このときアナログスイッチ21〜28は
b側を選択し、振動子1,3,5,7の信号は可変遅延
線81〜84を通るように設定され、可変遅延線81〜
84はそれぞれの2つの振動子における時間を補正する
値に設定される。
When the beam direction is A, the oscillator 1 receives the signal at a faster timing, the oscillator 1 receives the signal from the oscillator 2, the oscillator 3 receives the oscillator 4, the oscillator 5 receives the oscillator 6, and the oscillator 7 receives the signal. To do. At this time, the analog switches 21 to 28 select the b side, and the signals of the vibrators 1, 3, 5, and 7 are set to pass through the variable delay lines 81 to 84, and the variable delay lines 81 to 84 are set.
84 is set to a value that corrects the time in each of the two transducers.

【0019】ビーム方向がBの場合には、振動子1より
振動子2、振動子3より振動子4、振動子6より振動子
5、振動子8より振動子7のほうが速いタイミングで信
号を受信するため、アナログスイッチ21〜24はa側
を選択し、アナログスイッチ25〜28はb側を選択す
る。振動子2,4,5,7の信号は可変遅延線81〜8
4を通るように設定され、可変遅延線81〜84はそれ
ぞれの2つの振動子における時間を補正する値に設定さ
れる。
When the beam direction is B, the oscillator 2 outputs the signal at a faster timing than the oscillator 1, the oscillator 3 the oscillator 4, the oscillator 6 the oscillator 5, and the oscillator 8 the oscillator 7. For receiving, the analog switches 21 to 24 select the a side, and the analog switches 25 to 28 select the b side. The signals of the oscillators 2, 4, 5, and 7 are variable delay lines 81 to 8
4 and the variable delay lines 81 to 84 are set to values for correcting the time in each of the two transducers.

【0020】ビーム方向がCの場合、Aとは逆に、振動
子1より振動子2、振動子3より振動子4、振動子5よ
り振動子6、振動子7より振動子8のほうが速いタイミ
ングで信号を受信するため、アナログスイッチ21〜2
8はa側を選択し、振動子2,4,6,8の信号は可変
遅延線81〜84を通るように設定され、可変遅延線8
1〜84はそれぞれの2つの振動子における時間を補正
する値に設定される。
When the beam direction is C, contrary to A, the oscillator 2 is faster than the oscillator 1, the oscillator 4 is faster than the oscillator 3, the oscillator 6 is faster than the oscillator 5, and the oscillator 8 is faster than the oscillator 7. Since the signals are received at the timing, the analog switches 21 to 2
8 selects the a side, and the signals of the vibrators 2, 4, 6, 8 are set so as to pass through the variable delay lines 81 to 84.
1 to 84 are set to values that correct the time in each of the two transducers.

【0021】この方法によれば、CPS部30以降の信
号を受信信号数の半分で処理でき、リニアスキャンのフ
ォールドオーバー方式と多くの回路を共用でき、回路規
模の小さな超音波診断装置を実現できる。
According to this method, signals after the CPS unit 30 can be processed by half the number of received signals, many circuits can be shared with the linear scan foldover system, and an ultrasonic diagnostic apparatus having a small circuit scale can be realized. .

【0022】セクタスキャンはビームの偏向角を変える
ことでスキャンを行なうが、例えば循環器系の診断にお
いて肋間から心臓を診断する場合、肋骨に超音波信号の
一部が当たることによる反射を発生し、診断画像を劣化
させることがある。
In the sector scan, scanning is performed by changing the deflection angle of the beam. For example, in diagnosing the circulatory system, when diagnosing the heart from the intercostal space, reflection occurs due to a part of the ultrasonic signal hitting the rib. , The diagnostic image may be deteriorated.

【0023】それを解決するために図13に示すように
アパチャーの大きさを制限して、肋骨に超音波信号が直
接に当たらないようにする方法が用いられる。201,
203はそれぞれ振動子1,3より送受信される超音波
信号の経路、140は肋骨、135は各ビームの交わる
点(以下、ビーム仮想原点と呼ぶ)、134はセクタ走
査視野である。
In order to solve this, a method of limiting the size of the aperture as shown in FIG. 13 so that the ultrasonic signal does not directly hit the ribs is used. 201,
Reference numeral 203 is a path of ultrasonic signals transmitted and received by the transducers 1 and 3, 140 is a rib, 135 is a point where each beam intersects (hereinafter, referred to as beam virtual origin), and 134 is a sector scanning visual field.

【0024】図13の(a)に示すようにすべての振動
子を使ってスキャンを行う場合、ビーム方向をAとした
ときに、振動子1より送信された超音波信号201は肋
骨140に当たって反射し、診断画像を劣化させる原因
となる。
When scanning is performed using all the transducers as shown in FIG. 13A, when the beam direction is A, the ultrasonic signal 201 transmitted from the transducer 1 hits the ribs 140 and is reflected. However, this causes deterioration of the diagnostic image.

【0025】図13の(b)に示すようにアパチャーを
振動子3〜8に制限すれば、送信された超音波信号が肋
骨140には当たらないため、肋骨による反射の影響は
なくなる。
If the aperture is limited to the transducers 3 to 8 as shown in FIG. 13 (b), the transmitted ultrasonic signal does not hit the ribs 140, and the influence of reflection by the ribs is eliminated.

【0026】図13の(b)はすべての振動子を使った
場合の走査視野を、図13の(d)はアパチャーの大き
さを制限し移動させた場合の走査視野134を示してい
る。アパチャーの大きさを制限し、位置を移動させた場
合はアパチャーの中心は振動子5と振動子6の間に移動
するため、ビーム仮想原点135は図13の(d)のよ
うに探触子の前方、つまり被検体内部に移動する。
FIG. 13B shows the scanning visual field when all the transducers are used, and FIG. 13D shows the scanning visual field 134 when the size of the aperture is limited and moved. When the size of the aperture is limited and the position is moved, the center of the aperture moves between the transducer 5 and the transducer 6, so the beam virtual origin 135 is set to the probe as shown in FIG. To the front, that is, inside the subject.

【0027】[0027]

【発明が解決しようとする課題】肋骨による反射の影響
をなくすためにアパチャーの大きさと位置を制御し、ビ
ームの位置を移動することは有効な手段である。しか
し、これを実現するためには専用のアパチャー制御回路
と、専用の膨大なフォーカスデータが必要である。
It is an effective means to control the size and position of the aperture and move the position of the beam in order to eliminate the influence of reflection by the ribs. However, in order to realize this, a dedicated aperture control circuit and a huge amount of dedicated focus data are required.

【0028】本発明は、専用の回路を必要とせず、わず
かな制御データの増加だけでアパチャーを制御し、肋骨
による反射の影響を低減できる超音波診断装置を提供す
ることを目的とする。
It is an object of the present invention to provide an ultrasonic diagnostic apparatus which does not require a dedicated circuit, can control the aperture with a slight increase in control data, and can reduce the influence of reflection due to ribs.

【0029】[0029]

【課題を解決するための手段】請求項1記載の超音波診
断装置は、複数の振動子からなるリニアスキャン用の探
触子と複数の振動子からなるセクタスキャン用の探触子
とを差し替えて接続することができる超音波診断装置で
あって、リニアスキャンにおける同一の遅延時間を必要
とする振動子の出力信号を入力し加算を行うクロスポイ
ントスイッチを設け、セクタスキャンにおいて前記クロ
スポイントスイッチによりアパチャーの大きさと位置を
制御することを特徴とする。
An ultrasonic diagnostic apparatus according to claim 1, wherein a probe for linear scan including a plurality of transducers is replaced with a probe for sector scanning including a plurality of transducers. An ultrasonic diagnostic apparatus that can be connected by a cross point switch that inputs and outputs the output signal of the transducer that requires the same delay time in linear scan, and uses the cross point switch in the sector scan. It is characterized by controlling the size and position of the aperture.

【0030】したがって、これまでリニアスキャンのみ
にしか用いていなかったCPS部を使用して、セクタス
キャンにおけるアパチャーの大きさと位置を制御するこ
とにより、スイッチなどの回路やフォーカスデータの追
加なく、わずかな制御データの増加だけでビームの位置
を変え、肋骨などによる反射の影響を低減する。
Therefore, by controlling the size and position of the aperture in the sector scan by using the CPS portion which has been used only for the linear scan so far, a circuit such as a switch and a focus data are not added, and a small amount can be obtained. The beam position is changed only by increasing the control data, and the influence of reflection due to ribs or the like is reduced.

【0031】請求項2記載の超音波診断装置は、複数の
振動子からなるリニアスキャン用の探触子と複数の振動
子からなるセクタスキャン用の探触子とを差し替えて接
続することができる超音波診断装置であって、振動子の
選択を行うアナログスイッチと、同一の遅延時間を必要
とする振動子の出力信号を入力し加算を行うクロスポイ
ントスイッチと、セクタスキャンにおける振動子の半数
の遅延線とを設け、前記アナログスイッチは、セクタス
キャンにおいて隣り合う2つの振動子のどちらの受信信
号を前記遅延線に入力するか選択し、前記クロスポイン
トスイッチは、前記振動子の出力あるいは前記遅延線を
通った振動子の出力を入力して隣り合う2つの出力信号
の加算を行い、かつ前記クロスポイントスイッチにより
アパチャーの大きさと位置を制御することを特徴とす
る。
In the ultrasonic diagnostic apparatus according to the second aspect, the probe for linear scan composed of a plurality of transducers and the probe for sector scan composed of a plurality of transducers can be replaced and connected. An ultrasonic diagnostic apparatus, an analog switch for selecting a transducer, a crosspoint switch for inputting and adding output signals of a transducer that requires the same delay time, and half of the transducers in a sector scan. A delay line is provided, the analog switch selects which received signal of two adjacent oscillators to input to the delay line in a sector scan, and the crosspoint switch outputs the output of the oscillator or the delay line. The output of the oscillator that has passed through the line is input, two adjacent output signals are added, and the size of the aperture is increased by the cross point switch. And controlling the a position.

【0032】したがって、プリサミングディレイ方式を
用いた装置において、セクタスキャンではこれまで受信
信号の加算のみに用いていたCPS部を使用して、アパ
チャーの大きさと位置を制御することにより、スイッチ
などの回路やフォーカスデータの追加なく、わずかな制
御データの増加だけでビームの位置を変え、肋骨などに
よる反射の影響を低減する。
Therefore, in the device using the presuming delay system, the CPS unit, which has been used only for adding the received signals in the sector scan, is used to control the size and position of the aperture so that the switches and the like are controlled. The beam position is changed by adding a small amount of control data without adding a circuit or focus data, and the influence of reflection due to ribs or the like is reduced.

【0033】[0033]

【発明の実施の形態】以下、本発明の各実施の形態を図
1〜図6に基づいて説明する。なお、従来例と同様の作
用をなすものには同一の符号を付けて説明する。
BEST MODE FOR CARRYING OUT THE INVENTION Embodiments of the present invention will be described below with reference to FIGS. It should be noted that components having the same operation as that of the conventional example will be described with the same reference numerals.

【0034】〔第1の実施の形態〕図1はコネクタ19
にセクタスキャン用探触子17を接続した状態を示して
いる。また、リニアスキャンを行う場合は、コネクタ1
9にはリニアスキャン用探触子18を接続する。
[First Embodiment] FIG. 1 shows a connector 19
2 shows a state in which the sector scan probe 17 is connected. When performing a linear scan, the connector 1
A probe 18 for linear scan is connected to 9.

【0035】図1において、セクタスキャン用探触子1
7はエコー信号を電気信号に変換する振動子1〜8で構
成される。130は8:8のCPS部、31〜38はC
PS部130の入力端子、41〜48はCPS部130
の出力端子、150は遅延加算部、51〜58は遅延加
算部150の入力端子である。
In FIG. 1, a sector scan probe 1 is shown.
Reference numeral 7 is composed of transducers 1 to 8 for converting an echo signal into an electric signal. 130 is an 8: 8 CPS part, and 31 to 38 are C
Input terminals 41 to 48 of the PS unit 130 are CPS units 130
Is an output terminal, and 150 is a delay addition unit, and 51 to 58 are input terminals of the delay addition unit 150.

【0036】この〔第1の実施の形態〕は図9に示した
従来例と比較し、CPS部出力端子が2倍となっている
点が異なる。これは、セクタスキャンにおいてフォール
ドオーバを用いることができないことによる。
This [first embodiment] is different from the conventional example shown in FIG. 9 in that the output terminals of the CPS section are doubled. This is because foldover cannot be used in sector scan.

【0037】〔第1の実施の形態〕のリニアスキャンに
おける動作は図9に示した従来例とまったく同じであ
る。リニアスキャンを行う場合は、コネクタ19にリニ
アスキャン用探触子18を接続し、アナログスイッチ2
1〜28を設け、これにより振動子を順次切り換えてい
くことでアパチャーの移動を行う。
The operation of the linear scan of the first embodiment is exactly the same as that of the conventional example shown in FIG. When performing a linear scan, connect the linear scan probe 18 to the connector 19 and connect the analog switch 2
1 to 28 are provided, and the aperture is moved by sequentially switching the vibrators.

【0038】次に、セクタスキャンにおいて、すべての
アパチャーを用いてスキャンを行っている場合について
図2を用いて説明する。120は音響ビーム、134は
セクタ走査視野、135はビーム仮想原点、θ1〜θ3
は音響ビーム120の偏向角度である。
Next, the case where the scanning is performed using all the apertures in the sector scanning will be described with reference to FIG. 120 is an acoustic beam, 134 is a sector scanning field of view, 135 is a beam virtual origin, and θ1 to θ3.
Is the deflection angle of the acoustic beam 120.

【0039】すべての振動子を用いてセクタスキャンを
行っている場合のCPS部130は、図2の(a)〜
(c)に示すように向かい合う端子に接続され、接続状
態は音響ビーム120の偏向角度によらず、常に一定で
ある。
The CPS unit 130 in the case where the sector scan is performed using all the vibrators is shown in FIG.
As shown in (c), the terminals are connected to opposite terminals, and the connection state is always constant regardless of the deflection angle of the acoustic beam 120.

【0040】次に、アパチャーを制限してスキャンを行
っている場合について図3を用いて説明する。137〜
139はアパチャーの中心、Dはビーム仮想原点135
とセクタスキャン用探触子17の表面との距離である。
Next, the case where scanning is performed with the aperture limited will be described with reference to FIG. 137-
139 is the center of the aperture, D is the beam virtual origin 135
And the surface of the sector scan probe 17.

【0041】音響ビーム120を図3の(a)に示すよ
うに偏向角度θ1で偏向した場合には、アパチャーは振
動子5〜8を用いる。この選択はCPS部130で行
う。選択された受信信号は遅延加算部150に入力する
が、このとき入力する遅延加算部150の端子は、すべ
てのアパチャーを使用したときアパチャーの中心付近が
入力される端子、つまり入力端子53〜56である。つ
まり、CPS部130の接続状態は図3の(a)に示す
ようになる。
When the acoustic beam 120 is deflected at the deflection angle θ1 as shown in FIG. 3A, the apertures use the transducers 5-8. This selection is performed by the CPS unit 130. The selected reception signal is input to the delay addition section 150. The terminals of the delay addition section 150 input at this time are terminals to which the vicinity of the center of the aperture is input when all apertures are used, that is, the input terminals 53 to 56. Is. That is, the connection state of the CPS unit 130 is as shown in FIG.

【0042】音響ビーム120を図3の(b)に示すよ
うに偏向角度θ2で偏向した場合には、図13の(a)
に示すように、すべての振動子を用いることも可能であ
るが、受信信号の感度を一定にするため、およびCPS
部130におけるアパチャーの制御を簡単にするため、
図3の(a)と同じ大きさに制限する。つまり、アパチ
ャーは振動子3〜6を用いる。そして、図3の(a)と
同様に遅延加算部150の入力端子53〜56に入力す
る。このときのCPS部130の接続状態は図3の
(b)のようになる。
When the acoustic beam 120 is deflected at the deflection angle θ2 as shown in FIG. 3B, FIG.
It is possible to use all transducers as shown in, but to keep the sensitivity of the received signal constant, and
In order to simplify the control of the aperture in the section 130,
The size is limited to the same as that in FIG. That is, the apertures use the transducers 3 to 6. Then, as in the case of FIG. 3A, the signals are input to the input terminals 53 to 56 of the delay addition unit 150. The connection state of the CPS unit 130 at this time is as shown in FIG.

【0043】音響ビーム120を図3の(c)に示すよ
うに偏向角度θ3で偏向した場合には、アパチャーは振
動子1〜4を用いる。そして、図3の(a)と同様に遅
延加算部の入力端子53〜56に入力する。このときの
CPS部130の接続状態は図3の(c)のようにな
る。
When the acoustic beam 120 is deflected at a deflection angle θ3 as shown in FIG. 3 (c), the apertures use the transducers 1 to 4. Then, as in the case of FIG. 3A, the signals are input to the input terminals 53 to 56 of the delay addition unit. The connection state of the CPS unit 130 at this time is as shown in FIG.

【0044】遅延加算部150における遅延量は、音響
ビーム120の偏向角度が同一ならば、アパチャーの大
きさ,位置によらず一定である。つまり、図2の(a)
の遅延加算部150と図3の(a)の遅延加算部150
は同一の設定である。同様に、図2の(b)と図3の
(b)、図2の(c)と図3の(c)の遅延加算部15
0は同一の設定である。
If the deflection angle of the acoustic beam 120 is the same, the delay amount in the delay addition section 150 is constant regardless of the size and position of the aperture. That is, (a) of FIG.
Delay adder 150 and the delay adder 150 of FIG.
Have the same settings. Similarly, the delay adder 15 of FIGS. 2B and 3B, and FIGS. 2C and 3C.
0 is the same setting.

【0045】アパチャーの位置を変え、ビームの位置を
変えたため、各音響ビーム120はセクタスキャン用探
触子17の表面から距離Dだけ離れた点で交差する。し
たがって、走査視野134は図3の(d)に示すように
なる。
Since the position of the aperture is changed and the position of the beam is changed, each acoustic beam 120 intersects at a point separated from the surface of the sector scanning probe 17 by a distance D. Therefore, the scanning visual field 134 is as shown in FIG.

【0046】このように、リニアスキャンの音響ビーム
の位置変更用のCPS部130により、遅延加算部15
0における遅延量を変えることなく、セクタスキャン時
のアパチャーの幅および位置を変えることができる。し
たがって、アパチャーの制御のためのフォーカスデータ
の増大を抑えることができ、リニアスキャン用のCPS
部130を使うため、スイッチなどの新たな専用の回路
を付け加えることなく実現できる。
As described above, the CPS unit 130 for changing the position of the acoustic beam of the linear scan causes the delay addition unit 15
The width and position of the aperture during sector scanning can be changed without changing the delay amount at 0. Therefore, an increase in focus data for controlling the aperture can be suppressed, and the CPS for linear scan can be suppressed.
Since the unit 130 is used, it can be realized without adding a new dedicated circuit such as a switch.

【0047】〔第2の実施の形態〕図4はコネクタ19
にセクタスキャン用探触子17を接続した状態を示して
いる。また、リニアスキャンを行う場合は、コネクタ1
9にはリニアスキャン用探触子18を接続し、可変遅延
線81〜84は遅延時間を零に設定する。これは図9と
同じ構成となる。
[Second Embodiment] FIG. 4 shows a connector 19
2 shows a state in which the sector scan probe 17 is connected. When performing a linear scan, the connector 1
A linear scanning probe 18 is connected to the variable transmission line 9, and the variable delay lines 81 to 84 set the delay time to zero. This has the same configuration as in FIG.

【0048】図4において、セクタスキャン用探触子1
7は振動子1〜8で構成されている。21〜28は振動
子1〜8の選択を行なう2:1のアナログスイッチ、8
1〜84は可変遅延線、30は8:4のCPS部、31
〜38はCPS部の入力端子、41〜44はCPS部の
出力端子、50は遅延加算部、51〜54は遅延加算部
50の入力端子である。
In FIG. 4, the sector scan probe 1
Reference numeral 7 is composed of vibrators 1 to 8. 21 to 28 are 2: 1 analog switches for selecting the vibrators 1 to 8, 8
1 to 84 are variable delay lines, 30 is an 8: 4 CPS unit, 31
˜38 are input terminals of the CPS section, 41-44 are output terminals of the CPS section, 50 is a delay addition section, and 51-54 are input terminals of the delay addition section 50.

【0049】まず、リニアスキャンにおいてはアナログ
スイッチ21〜28のa側に振動子1〜8が、b側に振
動子9〜16が接続され、可変遅延線81〜84は遅延
時間が零に設定され、図9とまったく同じ動作が行なわ
れる。
First, in the linear scan, the oscillators 1 to 8 are connected to the a side of the analog switches 21 to 28, the oscillators 9 to 16 are connected to the b side, and the delay time of the variable delay lines 81 to 84 is set to zero. Then, exactly the same operation as in FIG. 9 is performed.

【0050】次に、セクタスキャンにおいて、すべての
アパチャーを用いてスキャンを行っている場合について
図5を用いて説明する。すべての振動子を用いてスキャ
ンを行っている場合のCPS部30は、図5の(a)〜
(c)に示すように隣り合う2つの信号を加算するため
のみに用いられ、スイッチの接続状態は音響ビーム12
0の偏向角度によらず一定である。
Next, a case where the scanning is performed using all the apertures in the sector scanning will be described with reference to FIG. The CPS unit 30 in the case where scanning is performed using all the transducers is shown in FIG.
It is used only for adding two adjacent signals as shown in (c), and the connection state of the switch is the acoustic beam 12
It is constant regardless of the deflection angle of 0.

【0051】次に、アパチャーを制限してスキャンを行
っている場合について図6を用いて説明する。137〜
139はアパチャーの中心である。音響ビーム120を
図6の(a)に示すように偏向角度θ1で偏向した場合
には、アパチャーは振動子5〜8を用いる。この選択は
CPS部30で行う。選択された受信信号は隣り合う信
号を加算して遅延加算部50に入力するが、このとき入
力する遅延加算部50の端子は、すべてのアパチャーを
使用したときアパチャーの中心付近が入力される端子、
つまり入力端子52,53である。つまり、CPS部3
0の接続状態は図6の(a)に示すようになる。
Next, the case where scanning is performed with the aperture limited will be described with reference to FIG. 137-
139 is the center of the aperture. When the acoustic beam 120 is deflected at the deflection angle θ1 as shown in FIG. 6A, the apertures use the transducers 5 to 8. This selection is performed by the CPS unit 30. The selected received signals are added to adjacent signals and input to the delay addition unit 50. The terminal of the delay addition unit 50 input at this time is a terminal to which the vicinity of the center of the aperture is input when all the apertures are used. ,
That is, the input terminals 52 and 53. That is, the CPS unit 3
The connection state of 0 is as shown in FIG.

【0052】音響ビーム120を図6の(b)に示すよ
うに偏向角度θ2で偏向した場合には、図13の(a)
に示すようにすべての振動子を用いることも可能である
が、受信信号の感度を一定にするため、およびCPS部
30におけるアパチャーの制御を簡単にするため、図6
の(a)と同じ大きさに制限する。つまり、アパチャー
は振動子3〜6を用いる。そして、図6の(a)と同様
に遅延加算部の入力端子52と53に入力する。このと
きのCPS部30の接続状態は図6の(b)のようにな
る。
When the acoustic beam 120 is deflected by the deflection angle θ2 as shown in FIG. 6B, FIG.
Although it is possible to use all transducers as shown in FIG. 6, in order to make the sensitivity of the received signal constant and to simplify the control of the aperture in the CPS unit 30, FIG.
It is limited to the same size as (a). That is, the apertures use the transducers 3 to 6. Then, as in the case of FIG. 6A, the signals are input to the input terminals 52 and 53 of the delay addition unit. The connection state of the CPS unit 30 at this time is as shown in FIG.

【0053】音響ビーム120を図6の(c)に示すよ
うに偏向角度θ3で偏向した場合には、アパチャーは振
動子1〜4を用いる。そして、図6の(a)と同様に遅
延加算部の入力端子52,53に入力する。このときの
CPS部30の接続状態は図6の(c)のようになる。
When the acoustic beam 120 is deflected at a deflection angle θ3 as shown in FIG. 6C, the apertures use the transducers 1 to 4. Then, as in the case of FIG. 6A, it is input to the input terminals 52 and 53 of the delay addition unit. The connection state of the CPS unit 30 at this time is as shown in FIG.

【0054】遅延加算部50における遅延量は、音響ビ
ーム120の偏向角度が同一ならば、アパチャーの大き
さ、位置によらず一定である。つまり、図2の(a)の
遅延加算部50と図3の(a)の遅延加算部50は同一
の設定である。同様に、図2の(b)と図3の(b)、
図2の(c)と図3の(c)の遅延加算部50は同一の
設定である。
The delay amount in the delay addition section 50 is constant regardless of the size and position of the aperture if the deflection angle of the acoustic beam 120 is the same. That is, the delay addition unit 50 of FIG. 2A and the delay addition unit 50 of FIG. 3A have the same settings. Similarly, FIG. 2 (b) and FIG. 3 (b),
The delay addition unit 50 of FIG. 2C and FIG. 3C have the same settings.

【0055】アパチャーの位置を変え、ビームの位置を
変えたため、各音響ビーム120はセクタスキャン用探
触子17の表面から距離Dだけ離れた点で交差する。し
たがって、走査視野134は図6の(d)に示すように
なる。
Since the position of the aperture is changed and the position of the beam is changed, the acoustic beams 120 intersect at a point separated from the surface of the sector scanning probe 17 by a distance D. Therefore, the scanning visual field 134 is as shown in FIG.

【0056】このように、リニアスキャンの音響ビーム
のビーム位置変更用のCPS部30により、遅延加算部
50における遅延量とアナログスイッチ21〜28の設
定を変えることなく、セクタスキャン時のアパチャーの
幅および位置を変えることができる。したがって、アパ
チャーの制御のためのフォーカスデータの増大を抑える
ことができ、リニアスキャン用のCPS部30を使うた
め、スイッチなどの新たな専用の回路を付け加えること
なく実現できる。
As described above, the CPS unit 30 for changing the beam position of the acoustic beam of the linear scan does not change the delay amount in the delay addition unit 50 and the settings of the analog switches 21 to 28, and the width of the aperture during the sector scan. And you can change the position. Therefore, an increase in focus data for controlling the aperture can be suppressed, and since the CPS unit 30 for linear scan is used, it can be realized without adding a new dedicated circuit such as a switch.

【0057】[0057]

【発明の効果】請求項1の構成によると、リニアスキャ
ンとセクタスキャンの両方を行うことのできる装置にお
いて、従来のセクタスキャンでは使用していないリニア
スキャンのビーム選択用CPS部を、セクタスキャンに
おいて制御することによって、アパチャーの大きさおよ
び位置を制御するので、スイッチなどの回路およびフォ
ーカスデータの増加がなく、CPS部を制御するわずか
なデータの増加だけで、セクタスキャンにおけるアパチ
ャーの大きさと位置を変えることができ、それによって
ビームの位置を変えることのできる超音波診断装置を実
現できる。この装置は、特に肋間からの心臓の診断にお
ける肋骨の反射の影響を低減したセクタスキャンを実現
できる。
According to the first aspect of the present invention, in an apparatus capable of performing both linear scan and sector scan, a linear scan beam selection CPS unit which is not used in conventional sector scan is used in sector scan. By controlling the size and position of the aperture, there is no increase in circuits such as switches and focus data, and the size and position of the aperture in the sector scan can be controlled by a slight increase in data for controlling the CPS section. It is possible to realize an ultrasonic diagnostic apparatus that can change the position of the beam. This device can realize a sector scan in which the influence of rib reflection is reduced especially in the diagnosis of the heart from the intercostal space.

【0058】請求項2の構成によると、プリサミングデ
ィレイ方式を用いた装置において、セクタスキャンでは
2信号の加算のみに使用しているリニアスキャンのビー
ム選択用のCPS部を、セクタスキャンにおいて制御す
ることによって、アパチャーの大きさおよび位置を制御
するので、スイッチなどの回路およびフォーカスデータ
の増加がなく、CPS部を制御するわずかなデータの増
加だけで、セクタスキャンにおけるアパチャーの大きさ
と位置を変えることができ、それによってビームの位置
を変えることのできる超音波診断装置を実現できる。こ
の装置は、特に肋間からの心臓の診断における肋骨の反
射の影響を低減したセクタスキャンを実現できる。
According to the structure of claim 2, in the apparatus using the presuming delay system, the CPS portion for beam selection of the linear scan which is used only for addition of two signals in the sector scan is controlled in the sector scan. By controlling the size and position of the aperture, there is no increase in circuits such as switches and focus data, and it is possible to change the size and position of the aperture in the sector scan with a slight increase in data for controlling the CPS section. Therefore, an ultrasonic diagnostic apparatus capable of changing the position of the beam can be realized. This device can realize a sector scan in which the influence of rib reflection is reduced especially in the diagnosis of the heart from the intercostal space.

【図面の簡単な説明】[Brief description of drawings]

【図1】本発明の超音波診断装置の第1の実施の形態に
おける遅延加算を示す概略ブロック図である。
FIG. 1 is a schematic block diagram showing delay addition in a first embodiment of an ultrasonic diagnostic apparatus of the invention.

【図2】同実施の形態のすべての振動子を用いた場合の
動作を示す説明図である。
FIG. 2 is an explanatory diagram showing an operation when all the vibrators of the same embodiment are used.

【図3】同実施の形態のアパチャーを制御した場合の動
作を示す説明図である。
FIG. 3 is an explanatory diagram showing an operation when controlling an aperture according to the same embodiment.

【図4】本発明の超音波診断装置の第2の実施の形態の
遅延加算を示す概略ブロック図である。
FIG. 4 is a schematic block diagram showing delay addition of the second embodiment of the ultrasonic diagnostic apparatus of the invention.

【図5】同実施の形態のすべての振動子を用いた場合の
動作を示す説明図である。
FIG. 5 is an explanatory diagram showing an operation when all the vibrators of the same embodiment are used.

【図6】同実施の形態のアパチャーを制御した場合の動
作を示す説明図である。
FIG. 6 is an explanatory diagram showing an operation when the aperture of the embodiment is controlled.

【図7】従来例における超音波診断装置のリニアスキャ
ンの説明図である。
FIG. 7 is an explanatory diagram of a linear scan of the ultrasonic diagnostic apparatus in the conventional example.

【図8】従来例における超音波診断装置のリニアスキャ
ンにおけるフォールドオーバの説明図である。
FIG. 8 is an explanatory diagram of foldover in a linear scan of the ultrasonic diagnostic apparatus in the conventional example.

【図9】従来例における超音波診断装置のリニアスキャ
ンにおける2次元スキャン方式の説明図である。
FIG. 9 is an explanatory diagram of a two-dimensional scanning method in a linear scan of an ultrasonic diagnostic apparatus in a conventional example.

【図10】従来例における超音波診断装置のセクタスキ
ャンの説明図である。
FIG. 10 is an explanatory diagram of sector scan of the ultrasonic diagnostic apparatus in the conventional example.

【図11】従来例における超音波診断装置のセクタスキ
ャンにおける2次元スキャンの説明図である。
FIG. 11 is an explanatory diagram of a two-dimensional scan in a sector scan of the ultrasonic diagnostic apparatus in the conventional example.

【図12】従来例における超音波診断装置のセクタスキ
ャンにおけるプリサミングディレイ方式の説明図であ
る。
FIG. 12 is an explanatory diagram of a presuming delay method in sector scanning of the ultrasonic diagnostic apparatus in the conventional example.

【図13】従来例における超音波診断装置のセクタスキ
ャンにおけるアパチャー制御の説明図である。
FIG. 13 is an explanatory diagram of aperture control in sector scan of the ultrasonic diagnostic apparatus in the conventional example.

【符号の説明】[Explanation of symbols]

1〜16 振動子 17 セクタスキャン用探触子 18 リニアスキャン用探触子 19 コネクタ 21〜28 アナログスイッチ 30 CPS部 31〜38 CPS部の入力端子 41〜48 CPS部の出力端子 50 遅延加算部 51〜58 遅延加算部の入力端子 81〜84 可変遅延線 105 CPS 106〜113 電圧−電流変換器 114〜117 電流−電圧変換器 120 音響ビーム 130 CPS部 134 セクタ走査視野 135 ビーム仮想原点 137〜139 アパチャー中心 150 遅延加算部 180 加算器 181〜184 加算器 191〜198 可変遅延線 1 to 16 transducer 17 probe for sector scan 18 probe for linear scan 19 connector 21 to 28 analog switch 30 CPS unit 31 to 38 input terminal of CPS unit 41 to 48 output terminal of CPS unit 50 delay addition unit 51 -58 Input terminal of delay addition part 81-84 Variable delay line 105 CPS 106-113 Voltage-current converter 114-117 Current-voltage converter 120 Acoustic beam 130 CPS part 134 Sector scanning field of view 135 Beam virtual origin 137-139 Aperture Center 150 Delay adder 180 Adder 181-184 Adder 191-198 Variable delay line

Claims (2)

【特許請求の範囲】[Claims] 【請求項1】 複数の振動子からなるリニアスキャン用
の探触子と複数の振動子からなるセクタスキャン用の探
触子とを差し替えて接続することができる超音波診断装
置であって、 リニアスキャンにおける同一の遅延時間を必要とする振
動子の出力信号を入力し加算を行うクロスポイントスイ
ッチを設け、 セクタスキャンにおいて前記クロスポイントスイッチに
よりアパチャーの大きさと位置を制御する超音波診断装
置。
1. An ultrasonic diagnostic apparatus capable of connecting a linear scanning probe composed of a plurality of transducers and a sector scanning probe composed of a plurality of transducers by replacing them. An ultrasonic diagnostic apparatus is provided with a crosspoint switch for inputting and adding output signals of transducers requiring the same delay time in scanning, and controlling the size and position of the aperture by the crosspoint switch in sector scanning.
【請求項2】 複数の振動子からなるリニアスキャン用
の探触子と複数の振動子からなるセクタスキャン用の探
触子とを差し替えて接続することができる超音波診断装
置であって、 振動子の選択を行うアナログスイッチと、 同一の遅延時間を必要とする振動子の出力信号を入力し
加算を行うクロスポイントスイッチと、 セクタスキャンにおける振動子の半数の遅延線とを設
け、 前記アナログスイッチは、セクタスキャンにおいて隣り
合う2つの振動子のどちらの受信信号を前記遅延線に入
力するか選択し、 前記クロスポイントスイッチは、前記振動子の出力ある
いは前記遅延線を通った振動子の出力を入力して隣り合
う2つの出力信号の加算を行い、 かつ前記クロスポイントスイッチによりアパチャーの大
きさと位置を制御する超音波診断装置。
2. An ultrasonic diagnostic apparatus in which a linear scanning probe including a plurality of transducers and a sector scanning probe including a plurality of transducers can be replaced and connected to each other. The analog switch for selecting the child, the crosspoint switch for inputting and adding the output signals of the oscillators requiring the same delay time, and the delay line for half of the oscillators in the sector scan are provided. Selects which received signal of two adjacent oscillators to input to the delay line in the sector scan, and the crosspoint switch outputs the output of the oscillator or the output of the oscillator passing through the delay line. Ultrasound diagnosis that inputs and adds two adjacent output signals, and controls the size and position of the aperture by the cross point switch apparatus.
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Cited By (4)

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