JPH0975349A - Ultrasonic diagnostic equipment - Google Patents

Ultrasonic diagnostic equipment

Info

Publication number
JPH0975349A
JPH0975349A JP7236229A JP23622995A JPH0975349A JP H0975349 A JPH0975349 A JP H0975349A JP 7236229 A JP7236229 A JP 7236229A JP 23622995 A JP23622995 A JP 23622995A JP H0975349 A JPH0975349 A JP H0975349A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
ultrasonic diagnostic
diagnostic apparatus
gain
amplifier
weighting
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Pending
Application number
JP7236229A
Other languages
Japanese (ja)
Inventor
Morio Nishigaki
森雄 西垣
Hiroshi Fukukita
博 福喜多
Takao Suzuki
隆夫 鈴木
Takashi Hagiwara
尚 萩原
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Panasonic Holdings Corp
Original Assignee
Matsushita Electric Industrial Co Ltd
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Matsushita Electric Industrial Co Ltd filed Critical Matsushita Electric Industrial Co Ltd
Priority to JP7236229A priority Critical patent/JPH0975349A/en
Publication of JPH0975349A publication Critical patent/JPH0975349A/en
Pending legal-status Critical Current

Links

Landscapes

  • Length Measuring Devices Characterised By Use Of Acoustic Means (AREA)
  • Investigating Or Analyzing Materials By The Use Of Ultrasonic Waves (AREA)
  • Ultra Sonic Daignosis Equipment (AREA)

Abstract

PROBLEM TO BE SOLVED: To use the buffer amplifier of delay line as a gain control amplifier by arranging buffer amplifiers at the input and output of an analog delay line and performing weighting in reception while controlling the gains of respective buffer amplifiers. SOLUTION: The delay line buffer amplifier of a delay line circuit is composed of an output buffer mainly composed of transistors TRa2-TRa(n+1) and an input buffer mainly composed of transistors TRb1-TRbn, and a signal inputted in the form of current is converted to a voltage by R21-R(n+1). Besides, the amplifier at the intermediate position is mainly composed of transistors TRc2-TRcn and the signal is converted to the form of current and let flow into the input buffer of transistors TRb1-TRbn. By changing a base potential Vc of the intermediate input amplifier, the level of emitter resistance at the transistor is changed, and weighting is performed while changing the gains as amplifiers.

Description

【発明の詳細な説明】Detailed Description of the Invention

【0001】[0001]

【発明の属する技術分野】本発明は複数の振動子からな
る探触子によりエコー信号を受信し、遅延加算を行なう
機能を持つ超音波診断装置に関する。
BACKGROUND OF THE INVENTION 1. Field of the Invention The present invention relates to an ultrasonic diagnostic apparatus having a function of receiving an echo signal by a probe composed of a plurality of transducers and performing delay addition.

【0002】[0002]

【従来の技術】超音波診断装置の送受信においては、複
数の振動子から構成される探触子により、広範囲の被検
部位について質の高い画像を得る手法が最近ではよく用
いられている。
2. Description of the Related Art In the transmission and reception of an ultrasonic diagnostic apparatus, a technique of obtaining a high quality image of a wide range of test sites by a probe composed of a plurality of transducers has been often used recently.

【0003】複数の振動子からなる探触子によりエコー
信号を受信し、遅延加算を行なう機能を持つこの種の超
音波診断装置の一つは、図9に示すように構成されてい
る。図9はリニアスキャンにおける複数の振動子により
エコー信号を受信した場合の信号の合成を示すものであ
る。1〜8は振動子、52〜57は遅延線、60は加算
器、100は反射体である。
An ultrasonic diagnostic apparatus of this type having a function of receiving an echo signal by a probe composed of a plurality of transducers and performing delay addition is constructed as shown in FIG. FIG. 9 shows the combination of signals when echo signals are received by a plurality of transducers in a linear scan. 1 to 8 are oscillators, 52 to 57 are delay lines, 60 is an adder, and 100 is a reflector.

【0004】図9の動作について説明する。反射体10
0により反射した信号を振動子1〜8で受信するとき、
反射体100から各振動子までの距離は異なるため、反
射体から各振動子までの信号の到達時間に差が発生す
る。この時間差を遅延線52〜57により補正し、加算
器60により加算して1つの出力を得る。この手法を以
後、フォーカスをすると言う。フォーカスをすることで
ビームを細く絞ることができ、分解能を向上することが
できるほか、ランダムノイズを低減することができ、S
/N比を向上させることができる。
The operation of FIG. 9 will be described. Reflector 10
When the signals reflected by 0 are received by the transducers 1-8,
Since the distance from the reflector 100 to each transducer is different, a difference occurs in the signal arrival time from the reflector to each transducer. This time difference is corrected by the delay lines 52 to 57 and added by the adder 60 to obtain one output. This method is hereinafter referred to as focusing. By focusing, the beam can be narrowed down, the resolution can be improved, and random noise can be reduced.
/ N ratio can be improved.

【0005】遅延線としてはアナログ方式の遅延線がよ
く用いられているが、最近ではA/D変換器とディジタ
ルメモリを組み合わせたディジタル遅延線も使用され始
めている。アナログ遅延線における遅延時間の切替は中
間タップ付きのアナログ遅延線のタップをアナログスイ
ッチで切り換える方式が一般的である。
An analog type delay line is often used as the delay line, but recently, a digital delay line in which an A / D converter and a digital memory are combined has begun to be used. The switching of the delay time in the analog delay line is generally performed by switching the tap of the analog delay line with an intermediate tap with an analog switch.

【0006】リニアスキャンにおいては反射体からアパ
チャー中心へ延ばした線(以下、ビームと称する)は振
動子の配列方向と垂直である。従って、アパチャー中心
から対称な位置にある振動子、すなわち振動子1と振動
子8,振動子2と振動子7,振動子3と振動子6,振動
子4と振動子5に必要な遅延時間は等しいため、各々の
遅延時間の等しい信号を加算してから遅延手段に入力す
ることで遅延手段の数を半分に減らすことができる。こ
の方式をフォールド・オーバと呼ぶ。
In the linear scan, a line (hereinafter referred to as a beam) extending from the reflector to the center of the aperture is perpendicular to the array direction of the transducers. Therefore, the delay time required for the oscillators symmetrical to the center of the aperture, that is, the oscillator 1 and the oscillator 8, the oscillator 2 and the oscillator 7, the oscillator 3 and the oscillator 6, the oscillator 4 and the oscillator 5 is required. Since they are equal to each other, it is possible to reduce the number of delay means to half by adding signals having the same delay time and inputting them to the delay means. This method is called fold over.

【0007】フォールドオーバを行なった例を図10に
示す。図10において52〜54は遅延線、361〜3
64は加算器である。2次元スキャンを考慮にいれたリ
ニアスキャンの遅延加算部を図11に示す。
An example of foldover is shown in FIG. In FIG. 10, 52 to 54 are delay lines, and 361 to 3
64 is an adder. FIG. 11 shows a delay addition unit of a linear scan that takes the two-dimensional scan into consideration.

【0008】図11において1〜16は振動子、21〜
28は2:1のアナログスイッチ、29は8:4のクロ
スポイントスイッチ(以下、CPSと略す)部で、電圧
−電流変換器61〜68と、8:4のCPS70と、電
流−電圧変換器71〜74より構成されている。130
は遅延加算部で、可変遅延線30〜32と加算器33〜
35より構成される。
In FIG. 11, reference numerals 1 to 16 designate vibrators 21 to 21.
28 is a 2: 1 analog switch, 29 is an 8: 4 crosspoint switch (hereinafter abbreviated as CPS) unit, which is a voltage-current converter 61 to 68, an 8: 4 CPS 70, and a current-voltage converter. 71 to 74. 130
Is a delay adder, which is a variable delay line 30-32 and an adder 33-
35.

【0009】次に図11における動作を説明する。リニ
アスキャンにおけるビームの移動は選択する振動子をス
イッチで順次切り換ることで行なわれる。図11におい
ては16個の振動子1〜16のうち8個を選択するよう
になっており、アナログスイッチ21〜28を全てa側
にすることで振動子1〜8が選択され、ビームの位置は
振動子4と5の中間に設定される。次に、アナログスイ
ッチ21をb側に接続すると、振動子1の代わりに振動
子9が選択され、アパチャーは振動子2〜9となりビー
ム位置は振動子5と振動子6の間に移動する。同様にア
ナログスイッチ21〜28を順次切り換えていくことで
ビームの位置を移動させることができる。
Next, the operation in FIG. 11 will be described. The beam movement in the linear scan is performed by sequentially switching the selected transducer with a switch. In FIG. 11, eight of the 16 transducers 1 to 16 are selected, and the transducers 1 to 8 are selected by setting all the analog switches 21 to 28 to the a side, and the position of the beam is selected. Is set between the oscillators 4 and 5. Next, when the analog switch 21 is connected to the b side, the vibrator 9 is selected instead of the vibrator 1, the apertures become the vibrators 2 to 9, and the beam position moves between the vibrator 5 and the vibrator 6. Similarly, the position of the beam can be moved by sequentially switching the analog switches 21 to 28.

【0010】アナログスイッチ21〜28で選択された
信号はCPS部29に入力される。CPS部29では、
アナログスイッチ21〜28を通過した8つの信号を、
必要な遅延時間の等しい2つずつの信号を加算し、a〜
dの4種類を出力するフォールド・オーバを行なう。C
PS部29に入力した信号は電圧−電流変換器61〜6
8により電流信号に変換され、CPS70の接続により
電流加算されたのち、電流−電圧変換器71〜74によ
り電圧信号に変換されて出力される。
The signals selected by the analog switches 21 to 28 are input to the CPS unit 29. In the CPS unit 29,
The eight signals that have passed through the analog switches 21 to 28 are
Add two signals with the same required delay time,
Fold over is performed to output four types of d. C
The signals input to the PS unit 29 are voltage-current converters 61 to 6
The current signal is converted into a current signal by 8, and the current is added by the connection of the CPS 70.

【0011】CPS部29より出力された信号は遅延加
算部130に入力され、遅延線30〜32および加算器
33〜35により遅延加算されて出力される。次に、セ
クタスキャンでの複数振動子からの受信信号を合成する
方法につき図12を用いて説明する。
The signal output from the CPS unit 29 is input to the delay adding unit 130, delayed and added by the delay lines 30 to 32 and the adders 33 to 35, and output. Next, a method of synthesizing received signals from a plurality of transducers in a sector scan will be described with reference to FIG.

【0012】図12において1〜8は振動子、52〜5
8は遅延線、60は加算器、100は反射体である。セ
クタスキャンにおいてはビーム角を偏向するため、振動
子の配列方向とビームのなす角θは自在に変化する。し
たがってリニアスキャンで行なわれるようなフォールド
オーバを用いることができず、チャンネルの数だけ、図
12においては8チャンネル分の遅延手段を用意する必
要がある。
In FIG. 12, 1 to 8 are vibrators and 52 to 5
8 is a delay line, 60 is an adder, and 100 is a reflector. Since the beam angle is deflected in the sector scan, the arrangement angle of the transducers and the angle θ formed by the beam are freely changed. Therefore, the foldover that is performed by the linear scan cannot be used, and it is necessary to prepare the delay means for the number of channels, that is, for 8 channels in FIG.

【0013】セクタスキャンはビームの偏向角を変える
ことでスキャンを行なうため、常に同一の振動子群を用
いる。以上、リニアスキャンおよびセクタスキャンにお
ける受信フォーカシング手法について述べてきたが、送
信においても各振動子のパルス発生タイミングを調整す
ることでフォーカシングを行なうことができる。
Since the sector scan is performed by changing the deflection angle of the beam, the same transducer group is always used. Although the reception focusing method in the linear scan and the sector scan has been described above, the focusing can be performed also in the transmission by adjusting the pulse generation timing of each transducer.

【0014】次に、受信ビームフォーミングにおける各
振動子のゲイン制御について説明する。リニアスキャン
においては、アパチャー中心に対しアパチャー端部のゲ
インを下げることがよく行なわれる。これ重み付けと呼
ばれ、ビームのサイドローブのレベルを低減する効果を
有する。重み付け関数としては高速フーリエ変換などで
用いられる窓関数が使われる。
Next, the gain control of each transducer in the reception beamforming will be described. In the linear scan, it is common to lower the gain at the edge of the aperture with respect to the center of the aperture. This is called weighting and has the effect of reducing the level of the side lobes of the beam. A window function used in fast Fourier transform or the like is used as the weighting function.

【0015】セクタスキャンでは、ビームを偏向したと
き、各振動子からフォーカス点までの距離がリニアスキ
ャンのようにアパチャー中心に対し対称でないことに起
因するビーム形状の崩れを補正するためにゲイン補正を
行なう。図12に示したようにビームがチャンネル8の
ほうに偏向している場合のゲイン補正の例を図13に示
す。
In the sector scan, when the beam is deflected, gain correction is performed in order to correct the collapse of the beam shape due to the fact that the distance from each transducer to the focus point is not symmetric with respect to the aperture center as in the linear scan. To do. FIG. 13 shows an example of gain correction when the beam is deflected toward the channel 8 as shown in FIG.

【0016】図13において横軸がチャンネル番号、縦
軸がゲインである。図13ではチャンネル番号が小さい
ほど、つまりフォーカス点からの距離が遠いエレメント
でゲインが高くなるように設定する。図12ではチャン
ネル番号と遅延量の関係が単調増加とはならないが、実
際にはチャンネルピッチが細かく、遅延時間のほとんど
がビーム偏向に使用されるため、チャンネル番号と遅延
量の関係は単調増加あるいは単調減少となり、ゲイン制
御は直線で代用できる。ゲインの制御には図14に示す
ような回路を用いる。
In FIG. 13, the horizontal axis represents the channel number and the vertical axis represents the gain. In FIG. 13, the smaller the channel number, that is, the higher the gain in the element that is farther from the focus point. In FIG. 12, the relationship between the channel number and the delay amount does not increase monotonically, but in reality, the channel pitch is fine and most of the delay time is used for beam deflection. Therefore, the relationship between the channel number and the delay amount increases monotonically. It decreases monotonically, and gain control can be substituted with a straight line. A circuit as shown in FIG. 14 is used for gain control.

【0017】図14において52〜58は遅延線、60
は加算器、100は反射体、151〜158は電圧でゲ
インを制御できるゲイン制御アンプ、159はアンプゲ
インの制御電圧を発生する制御回路である。
In FIG. 14, reference numerals 52 to 58 are delay lines, 60
Is an adder, 100 is a reflector, 151 to 158 are gain control amplifiers that can control the gain with voltage, and 159 is a control circuit that generates an amplifier gain control voltage.

【0018】図15に制御電圧の発生器の具体例を示
す。251〜258はD/A変換器、259は重み付け
データ計算のための演算装置である。各チャンネルの重
み付けデータは演算装置259で計算され、データバス
を通してD/A変換器251〜258に送られ、D/A
変換器251〜258によりアナログ変換されたデータ
がゲイン制御アンプ151〜158に制御電圧として送
られる。
FIG. 15 shows a concrete example of the control voltage generator. Reference numerals 251 to 258 are D / A converters, and 259 is an arithmetic device for weighting data calculation. The weighting data of each channel is calculated by the arithmetic unit 259, sent to the D / A converters 251 to 258 through the data bus, and the D / A
The data analog-converted by the converters 251 to 258 is sent to the gain control amplifiers 151 to 158 as a control voltage.

【0019】図16は制御電圧の発生器の別の例を示
す。図16において259は演算装置、251、252
はD/A変換器、351〜357は抵抗器である。ま
ず、演算装置259においてアパチャー中央とアパチャ
ー端部の重み付けデータが計算され、D/A変換器25
1,252に送られる。D/A変換器251,252で
アナログ変換されたデータは抵抗351〜357により
形成される抵抗列358の両端に加えられる。抵抗列3
58の抵抗351〜357により分圧された電圧はちょ
うど重み付け関数になるように抵抗値が設定されてい
る。この各分圧された電圧をゲイン制御アンプ151〜
158に制御電圧として供給する。
FIG. 16 shows another example of the control voltage generator. In FIG. 16, reference numeral 259 denotes an arithmetic unit, 251, 252.
Is a D / A converter, and 351 to 357 are resistors. First, the arithmetic unit 259 calculates the weighting data of the center of the aperture and the end of the aperture, and the D / A converter 25
1,252. The data analog-converted by the D / A converters 251 and 252 are added to both ends of the resistor string 358 formed by the resistors 351 to 357. Resistor string 3
The resistance value is set so that the voltage divided by the resistors 351 to 357 of 58 is just a weighting function. Each of the divided voltages is supplied to the gain control amplifier 151-
158 is supplied as a control voltage.

【0020】この方法ではD/A変換器が2個で済み、
また制御データの計算もアパチャー中心と端部の2つで
よいという利点を持つ。この図16の回路によりリニア
スキャンでの重み付けを行なった例のブロック図を図1
7に示す。
This method requires only two D / A converters,
In addition, there is an advantage that the control data can be calculated using only the center of the aperture and the end. FIG. 1 is a block diagram showing an example in which weighting is performed by linear scanning by the circuit of FIG.
FIG.

【0021】図17は図11の構成に図16の回路を組
み込んだものである。この例においてCPS部29では
フォールドオーバと、必要な遅延時間が長い順に並べ替
える作業を行なっており、リニアスキャンではdがビー
ムの中心、aが端部となる。従って、d,c,b,aの
順にゲインを高くする。
FIG. 17 shows the configuration of FIG. 11 in which the circuit of FIG. 16 is incorporated. In this example, the CPS unit 29 performs the work of foldover and rearrangement in the order of longer required delay time. In the linear scan, d is the center of the beam and a is the end. Therefore, the gain is increased in the order of d, c, b, a.

【0022】[0022]

【発明が解決しようとする課題】このような重み付け制
御回路をリニアスキャンあるいはセクタスキャンの装置
で使用する場合、次のような問題点が発生する。
When such a weighting control circuit is used in a linear scan or sector scan device, the following problems occur.

【0023】1点目は専用のゲイン制御アンプが必要な
ことで物量の増大が発生することである。2点目は、ゲ
イン制御アンプを図18に示すように振動子の直後に位
置させたい場合のゲイン補正アンプの制御方法である。
ゲイン制御アンプを図18に示すような位置におくこと
は、微小なエコー信号を長い距離に渡り引き回すことに
よる飛び込みノイズの影響を回避するのに有効な手段で
ある。リニアスキャンではスイッチによりアパチャー位
置を移動させるため、ゲイン制御アンプ151〜158
の端部151,158がアパチャーの端部と一致しない
場合が出てくる。たとえば振動子5〜12を選択する場
合にはアパチャーの端部の信号はゲイン制御アンプ15
4,155に入力するため、図16で示した抵抗分割に
よる制御電圧の生成回路は使用できなくなってしまう。
The first point is that a dedicated gain control amplifier is required, which causes an increase in physical quantity. The second point is a control method of the gain correction amplifier when it is desired to position the gain control amplifier immediately after the vibrator as shown in FIG.
Placing the gain control amplifier at the position shown in FIG. 18 is an effective means for avoiding the influence of jumping noise caused by routing a minute echo signal over a long distance. Since the aperture position is moved by the switch in the linear scan, the gain control amplifiers 151 to 158 are used.
In some cases, the edges 151 and 158 of the edge do not coincide with the edge of the aperture. For example, when selecting the vibrators 5 to 12, the signal at the end of the aperture is the gain control amplifier 15
4 and 155, the control voltage generation circuit by resistance division shown in FIG. 16 cannot be used.

【0024】3点目にセクタスキャンによるBモード像
においてはこの補正方法がビーム形状を整えるのに有効
であるが、ドプラなどの感度を必要とする用途では逆に
S/N比を低下させてしまうことである。
At the third point, in the B-mode image by sector scan, this correction method is effective for adjusting the beam shape, but in applications requiring sensitivity such as Doppler, on the contrary, the S / N ratio is lowered. It is to end up.

【0025】本発明はこのような従来の問題を解決する
ものであり、物量の増加を防ぎ安価で優れた品質の超音
波診断装置を実現するものである。
The present invention solves such a conventional problem and realizes an ultrasonic diagnostic apparatus which is inexpensive and excellent in quality while preventing an increase in the amount of material.

【0026】[0026]

【課題を解決するための手段】請求項1記載の超音波診
断装置は、複数の振動子からなる探触子によりエコー信
号を受信し、遅延加算を行なう機能を持つ超音波診断装
置において、複数の前記振動子の出力を遅延するアナロ
グ遅延線と、各アナログ遅延線の入出力に配置されたバ
ッファアンプとを設け、各バッファアンプのゲインを制
御して受信における重み付けを行なうことを特徴とし、
遅延線のバッファアンプをゲイン制御アンプとして用い
るようにしたものである。
An ultrasonic diagnostic apparatus according to claim 1, wherein the ultrasonic diagnostic apparatus has a function of receiving an echo signal by a probe composed of a plurality of transducers and performing delay addition. An analog delay line for delaying the output of the oscillator and a buffer amplifier arranged at the input and output of each analog delay line are provided, and the gain of each buffer amplifier is controlled to perform weighting in reception.
The delay line buffer amplifier is used as a gain control amplifier.

【0027】請求項2記載の超音波診断装置は、複数の
振動子からなる探触子によりエコー信号を受信し、遅延
加算を行なう機能を持つ超音波診断装置において、環状
に連結された複数の抵抗と、各々の抵抗の端子電圧をエ
コー信号のゲイン制御アンプの制御信号に供給するバッ
ファアンプと、重み付けの最高/最低の2つの電圧を発
生するD/A変換器と、発生した電圧を環状の抵抗のい
ずれかの端子に接続できるスイッチ群とを設けたことを
特徴とし、抵抗分圧方式の制御信号発生器において分割
抵抗を環状に配置し、D/A変換器と分割抵抗の間にマ
ルチプレクサを設け、分割抵抗のどの端子にもD/A変
換器に出力がつながるようにしたものである。
An ultrasonic diagnostic apparatus according to a second aspect of the invention is an ultrasonic diagnostic apparatus having a function of receiving an echo signal by a probe composed of a plurality of transducers and performing delay addition, in a plurality of annularly connected ultrasonic diagnostic apparatuses. A resistor, a buffer amplifier that supplies the terminal voltage of each resistor to the control signal of the gain control amplifier of the echo signal, a D / A converter that generates two voltages of the highest / lowest weighting, and the generated voltage in a ring shape. And a group of switches that can be connected to any of the terminals of the resistor, the dividing resistors are arranged in an annular shape in the resistance voltage dividing type control signal generator, and the dividing resistors are arranged between the D / A converter and the dividing resistors. A multiplexer is provided so that the output can be connected to any terminal of the dividing resistor to the D / A converter.

【0028】請求項3記載の超音波診断装置は、複数の
振動子からなる探触子によりエコー信号を受信し、遅延
加算を行なう機能を持つ超音波診断装置において、重み
付けの最高/最低の2つの電圧を発生するD/A変換器
と、D/A変換器で発生した2つの電圧を両端に加える
縦列に連結された複数の抵抗と、各々の抵抗の端子電圧
を入力しチャンネル数分の出力のいずれかに接続するス
イッチ群と、スイッチ群より出力された電圧信号をエコ
ー信号のゲイン制御アンプの制御信号に供給するバッフ
ァアンプとを設けたことを特徴とし、リニアスキャンに
おいてはスイッチ群としてクロスポイントスイッチを用
いて重み付けデータの並び換えを行なうようにしたもの
である。
An ultrasonic diagnostic apparatus according to a third aspect of the invention is an ultrasonic diagnostic apparatus having a function of receiving an echo signal by a probe composed of a plurality of transducers and performing delay addition. D / A converter that generates one voltage, a plurality of resistors connected in series that apply the two voltages generated by the D / A converter to both ends, and the terminal voltage of each resistor are input and A switch group connected to one of the outputs, and a buffer amplifier that supplies the voltage signal output from the switch group to the control signal of the gain control amplifier of the echo signal are provided. The weight data is rearranged by using a cross point switch.

【0029】請求項4記載の超音波診断装置は、複数の
振動子からなる探触子によりエコー信号を受信し、遅延
加算を行なう機能を持つ超音波診断装置において、重み
付けの最高/最低の2つの電圧を発生するD/A変換器
と、D/A変換器で発生した2つの電圧を両端に加える
縦列に連結された複数の抵抗と、複数のサンプルホール
ド回路と、縦列された抵抗の各端子を一方の入力、サン
プルホールド回路の出力を他方の入力とし、入力に接続
されたサンプルホールド回路の隣に位置するサンプルホ
ールド回路に選択された入力信号を入力するスイッチよ
り構成される重み付け制御回路とを設けたことを特徴と
し、リニアスキャンにおいては環状に接続したサンプル
ホールド回路により重み付けデータの並べ換えを行なう
ようにしたものである。
An ultrasonic diagnostic apparatus according to a fourth aspect of the invention is an ultrasonic diagnostic apparatus having a function of receiving an echo signal by a probe composed of a plurality of transducers and performing delay addition, in which the highest / lowest weighting is 2. A D / A converter that generates two voltages, a plurality of resistors connected in series that apply the two voltages generated by the D / A converter to both ends, a plurality of sample and hold circuits, and each of the resistors that are cascaded. A weighting control circuit that is configured by a switch that inputs the selected input signal to the sample hold circuit located next to the sample hold circuit connected to the input, with the terminal as one input and the output of the sample hold circuit as the other input In the linear scan, weighting data is rearranged by a sample hold circuit connected in a ring. That.

【0030】請求項5記載の超音波診断装置は、請求項
2において、スイッチ群の出力線の本数をチャンネル数
の1/nに減らして、小規模な回路で実現できるように
したものである。
An ultrasonic diagnostic apparatus according to a fifth aspect is the ultrasonic diagnostic apparatus according to the second aspect, wherein the number of output lines of the switch group is reduced to 1 / n of the number of channels so that the ultrasonic diagnostic apparatus can be realized by a small-scale circuit. .

【0031】請求項6記載の超音波診断装置は、複数の
振動子からなる探触子によりエコー信号を受信し、遅延
加算を行なう機能を持つ超音波診断装置において、単一
のD/A変換器と、前記D/A変換器のデータを取り込
むチャンネル数分のサンプルホールド回路とを設け、サ
ンプルホールド回路の出力によりエコーゲインを制御す
ることを特徴とし、各サンプルホールド回路の出力によ
りゲインの制御を行なうようにしたもので、サンプルす
る順序を変えることでリニアスキャンにおけるデータの
並び換えを行なえるようにしたものである。
An ultrasonic diagnostic apparatus according to a sixth aspect of the invention has a single D / A conversion in the ultrasonic diagnostic apparatus having a function of receiving an echo signal by a probe composed of a plurality of transducers and performing delay addition. And a sample hold circuit for the number of channels for taking in the data of the D / A converter, and the echo gain is controlled by the output of the sample hold circuit. The gain is controlled by the output of each sample hold circuit. The data is rearranged in the linear scan by changing the sampling order.

【0032】請求項7記載の超音波診断装置は、複数の
振動子からなる探触子によりエコー信号を受信し、遅延
加算を行なう機能を持つ超音波診断装置において、単一
のD/A変換器と、複数のサンプルホールド回路と、隣
合うサンプルホールド回路の出力とD/A変換器の出力
のいずれかを選択するスイッチと、スイッチで選択され
た入力をサンプルし、サンプルホールド回路の出力によ
りエコーゲインを制御することを特徴とし、請求項6に
おいてサンプルホールド回路の環状接続を可能にするこ
とでリニアスキャンにおけるデータの並び換えを可能に
したものである。
An ultrasonic diagnostic apparatus according to a seventh aspect is a ultrasonic diagnostic apparatus having a function of receiving an echo signal by a probe composed of a plurality of transducers and performing delay addition, in a single D / A conversion. Device, a plurality of sample and hold circuits, a switch that selects either the output of the adjacent sample and hold circuit or the output of the D / A converter, and the input selected by the switch, and the output of the sample and hold circuit It is characterized in that the echo gain is controlled, and the data can be rearranged in the linear scan by enabling the ring connection of the sample and hold circuit.

【0033】請求項8に記載の超音波診断装置は、複数
の振動子からなる探触子によりエコー信号を受信し、遅
延加算を行なう機能を持つ超音波診断装置において、セ
クタスキャンのBモードではフォーカス点と各チャンネ
ル間の距離による減衰を補正するゲイン補正を行ない、
ドプラモードではフォーカス点に近いチャンネルのゲイ
ンを上げるよう構成したことを特徴とする。
The ultrasonic diagnostic apparatus according to claim 8 is an ultrasonic diagnostic apparatus having a function of receiving an echo signal by a probe formed of a plurality of transducers and performing delay addition, in the sector mode B mode. Performs gain correction to correct attenuation due to the distance between the focus point and each channel,
The feature of the Doppler mode is that the gain of the channel close to the focus point is increased.

【0034】[0034]

【発明の実施の形態】以下、本発明の各実施の形態を図
1〜図8に基づいて説明する。なお、従来例と同様の作
用をなすものには同一の符号を付けて説明する。
BEST MODE FOR CARRYING OUT THE INVENTION Embodiments of the present invention will be described below with reference to FIGS. It should be noted that components having the same operation as that of the conventional example will be described with the same reference numerals.

【0035】〔第1の実施の形態〕図1は本発明の〔第
1の実施の形態〕における超音波診断装置の遅延線回路
を示す。この遅延線回路は図17に示した超音波診断装
置の遅延加算部130に置き代わる部分で、ゲイン制御
アンプ151〜154を別途設けなくても、この遅延線
回路がその機能も果たすように構成されている。
[First Embodiment] FIG. 1 shows a delay line circuit of an ultrasonic diagnostic apparatus according to the first embodiment of the present invention. This delay line circuit replaces the delay addition unit 130 of the ultrasonic diagnostic apparatus shown in FIG. 17, and is configured so that the delay line circuit also performs its function without separately providing the gain control amplifiers 151 to 154. Has been done.

【0036】DL1〜DLnは遅延線、TRa1〜TR
an,TRb1〜TRbn,TRc2〜TRcnはトラ
ンジスタ、R11〜Rn1,R12〜Rn2,R13〜
Rn3,R24〜Rn4,R25〜Rn5,R26〜R
n6は抵抗、C1〜Cn,C21〜Cn1,C22〜C
n2はコンデンサである。入力In1,In2,………
にはCPS部29の電流−電圧変換器74,73,……
…の出力が接続される。
DL1 to DLn are delay lines and TRa1 to TR
an, TRb1 to TRbn, TRc2 to TRcn are transistors, R11 to Rn1, R12 to Rn2, R13 to
Rn3, R24 to Rn4, R25 to Rn5, R26 to R
n6 is a resistance, C1 to Cn, C21 to Cn1, C22 to C
n2 is a capacitor. Input In1, In2, ...
The current-voltage converters 74, 73, ...
The output of ... is connected.

【0037】この遅延線回路は、遅延線と遅延線用バッ
ファアンプおよび中間タップからの入力アンプにより構
成されている。遅延線バッファアンプは、トランジスタ
TRa2〜TRa(n+1)を中心とする出力バッファ
と、トランジスタTRb1〜TRbnを中心とする入力
バッファより構成されており、出力バッファはエミッタ
フォロア、入力バッファはベース接地回路であり、電流
の形で入力した信号をR21〜R(n+1)1により電
圧に変換する回路構成である。R13〜Rn3とR21
〜R(n+1)1は遅延線の特性インピーダンスZoに
等しい。また、中間入力アンプはトランジスタTRc2
〜TRcnを中心に構成されており、信号を電流の形に
変換してトランジスタTRb1〜TRbnの入力バッフ
ァに流し込む。
This delay line circuit is composed of a delay line, a delay line buffer amplifier, and an input amplifier from an intermediate tap. The delay line buffer amplifier is composed of an output buffer centered on the transistors TRa2 to TRa (n + 1) and an input buffer centered on the transistors TRb1 to TRbn. The output buffer is an emitter follower and the input buffer is a grounded base circuit. There is a circuit configuration in which a signal input in the form of a current is converted into a voltage by R21 to R (n + 1) 1. R13-Rn3 and R21
~ R (n + 1) 1 is equal to the characteristic impedance Zo of the delay line. The intermediate input amplifier is the transistor TRc2.
.About.TRcn, the signal is converted into a current form and the signal is supplied to the input buffers of the transistors TRb1 to TRbn.

【0038】中間入力アンプのベース電位Vaと入力ア
ンプのベース電位Vcは、図示されていない制御回路に
より制御されている。ベース電位を変えることでトラン
ジスタのエミッタ抵抗の大きさが変わりアンプとしての
ゲインを変化することができる。
The base potential Va of the intermediate input amplifier and the base potential Vc of the input amplifier are controlled by a control circuit (not shown). By changing the base potential, the size of the emitter resistance of the transistor changes and the gain of the amplifier can be changed.

【0039】中間入力アンプのベース電位は前段の遅延
線を通ってきた信号のレベルと釣り合いがとれるようゲ
インが1になるような電圧値Vaで固定されている。一
方、ベース電位Vcは制御により変化できるようにして
あるため、エミッタ抵抗の値が変動し、入力アンプのゲ
インを変えることができる。すなわち、前段より入力し
た信号ほどゲインを高く、あるいは低くすると云うこと
ができるわけである。
The base potential of the intermediate input amplifier is fixed at a voltage value Va so that the gain becomes 1 so as to be balanced with the level of the signal that has passed through the delay line in the preceding stage. On the other hand, since the base potential Vc can be changed by control, the value of the emitter resistance fluctuates and the gain of the input amplifier can be changed. That is, it can be said that the signal input from the preceding stage has a higher gain or a lower gain.

【0040】このことを利用して重み付けを行なう。リ
ニアスキャンにおいてはアパチャー中心に近いほど遅延
量が要求されるため、各段のゲインを1より大きくして
おくと遅延時間の長いほど、つまりアパチャー中心に近
いほどゲインが高くなるため重み付けができる。
Weighting is performed by utilizing this fact. In linear scanning, a delay amount is required closer to the center of the aperture. Therefore, if the gain of each stage is set to be larger than 1, the gain becomes higher as the delay time becomes longer, that is, closer to the center of the aperture, so that weighting can be performed.

【0041】本実施の形態においては、遅延線のバッフ
ァアンプにより重み付けを行なうことができるため、ゲ
イン制御アンプは不要となり、回路規模の小さな超音波
診断装置を実現できる。
In the present embodiment, since the weight can be weighted by the delay line buffer amplifier, the gain control amplifier is not required, and an ultrasonic diagnostic apparatus having a small circuit scale can be realized.

【0042】〔第2の実施の形態〕図2は本発明の超音
波診断装置の〔第2の実施の形態〕における重み付け回
路を示す。この重み付け回路は図15に示したD/A変
換器251〜258に相当し、または図16に示したD
/A変換器251,252と抵抗列358に相当する。
[Second Embodiment] FIG. 2 shows a weighting circuit in the [second embodiment] of the ultrasonic diagnostic apparatus of the present invention. This weighting circuit corresponds to the D / A converters 251 to 258 shown in FIG. 15 or the D / A converters shown in FIG.
It corresponds to the / A converters 251 and 252 and the resistor string 358.

【0043】BF1〜BFnはバッファアンプ、R1〜
Rnは抵抗、270は2:nのマルチプレクサである。
マルチプレクサ270の2本の入力にアパチャー中心の
ゲインを制御するゲイン制御電圧Vtopとアパチャー
端部のゲイン制御電圧Vbotがそれぞれ入力される。
入力信号はマルチプレクサで選択された場所から出力さ
れ抵抗R1〜nの各端子に分割された電圧を出力し、バ
ッファアンプVc1〜Vcnを介してゲイン制御アンプ
に入力される。本実施の形態では制御線が2本ですむた
め制御部分の物量を低減できるという特徴を有する。ま
た、本実施の形態ではVtopとVbotの接続位置が
変化するため、R1〜Rnの抵抗は同一の値であること
が望ましい。
BF1 to BFn are buffer amplifiers, R1 to
Rn is a resistor and 270 is a 2: n multiplexer.
The gain control voltage Vtop for controlling the gain around the aperture and the gain control voltage Vbot at the aperture end are input to the two inputs of the multiplexer 270, respectively.
The input signal is output from the location selected by the multiplexer, outputs the divided voltage to the terminals of the resistors R1 to n, and is input to the gain control amplifier via the buffer amplifiers Vc1 to Vcn. This embodiment has a feature that the number of control lines can be reduced because only two control lines are required. Further, in the present embodiment, since the connection positions of Vtop and Vbot change, it is desirable that the resistances of R1 to Rn have the same value.

【0044】マルチプレクサ270の制御は次のように
行われる。先ず、リニアスキャンではアパチャーの中心
となるチャンネルのゲインを制御するバッファアンプに
最高の電圧Vtopが、アパチャーの端にあたるバッフ
ァアンプに最低の電圧Vbotが接続される。これによ
りアパチャーの中心でゲインが高く、端に行くほどゲイ
ンが低くなるような制御信号が生成される。リニアスキ
ャンではアパチャーの位置が変化するのでアパチャーの
位置が変更されるたびに上記のように接続がし直され
る。
The control of the multiplexer 270 is performed as follows. First, in the linear scan, the highest voltage Vtop is connected to the buffer amplifier that controls the gain of the channel that is the center of the aperture, and the lowest voltage Vbot is connected to the buffer amplifier that is the end of the aperture. As a result, a control signal is generated in which the gain is high at the center of the aperture and becomes lower toward the end. Since the position of the aperture changes in the linear scan, the connection is re-established as described above every time the position of the aperture is changed.

【0045】セクタスキャンにおいてはVtopがバッ
ファアンプBF1、VbotがバッファアンプBFnに
接続されるか、あるいはその逆で Vtopがバッファ
アンプBFn、VbotがバッファアンプBF1に接続
され、図13に示したような重み付けがなされるための
ゲイン制御電圧を出力する。
In the sector scan, Vtop is connected to the buffer amplifier BF1 and Vbot is connected to the buffer amplifier BFn, or vice versa, Vtop is connected to the buffer amplifier BFn and Vbot is connected to the buffer amplifier BF1, as shown in FIG. The gain control voltage for weighting is output.

【0046】この実施の形態では、マルチプレクサを使
用することにより、振動子の直後にゲイン制御アンプを
位置させた場合においてもリニアスキャンにおける重み
付けが実現できる。
In this embodiment, by using the multiplexer, the weighting in the linear scan can be realized even when the gain control amplifier is positioned immediately after the vibrator.

【0047】〔第3の実施の形態〕図3は本発明の超音
波診断装置の〔第3の実施の形態〕の重み付けゲイン制
御電圧発生回路を示す。この重み付け回路は図15に示
したD/A変換器251〜258に相当し、または図1
6に示したD/A変換器251,252と抵抗列358
に相当する。
[Third Embodiment] FIG. 3 shows a weighted gain control voltage generating circuit of the third embodiment of the ultrasonic diagnostic apparatus of the present invention. This weighting circuit corresponds to the D / A converters 251 to 258 shown in FIG.
D / A converters 251 and 252 shown in FIG.
Is equivalent to

【0048】BF1〜BFnはバッファアンプ、R1〜
Rn−1は抵抗、271はn:nのクロスポイントスイ
ッチである。抵抗R1〜Rn−1により分圧して作成し
た各チャンネル用重み付け制御電圧はクロスポイントス
イッチ271によりデータの順序が変えられてバッファ
BF1〜BFnに入力される。これによりリニアスキャ
ンにおけるアパチャー移動に伴う問題が解決される。
BF1 to BFn are buffer amplifiers, R1 to
Rn-1 is a resistor and 271 is an n: n crosspoint switch. The weighting control voltage for each channel generated by being divided by the resistors R1 to Rn-1 is input to the buffers BF1 to BFn after the data order is changed by the cross point switch 271. This solves the problem of moving the aperture in the linear scan.

【0049】リニアスキャンにおいてはアパチャーの中
心となるチャンネルのゲインを制御するチャンネルのC
PS出力端子がVtopに近いCPSの入力端子に接続
され、順次アパチャーの端に行くにつれてVbotに近
いCPSの入力端子に接続されることで重み付けがなさ
れる。リニアスキャンではアパチャーの位置が変化する
ので、アパチャーの位置が変更される度に上記のように
接続がし直される。
In the linear scan, the C of the channel that controls the gain of the channel that is the center of the aperture
The PS output terminal is connected to the input terminal of the CPS near Vtop, and is sequentially connected to the input terminal of the CPS near Vbot toward the end of the aperture for weighting. Since the position of the aperture changes in the linear scan, the connection is re-established as described above every time the position of the aperture is changed.

【0050】セクタスキャンにおいてはVtopがバッ
ファアンプBF1、以下小さい番号のバッファアンプか
ら順次接続されVbotがバッファアンプBFnに接続
されるか、あるいはその逆でVtopがバッファアンプ
BFn、VbotがバッファアンプBF1に接続され、
図13に示したような重み付けがなされるためのゲイン
制御電圧を出力する。
In the sector scan, Vtop is connected to the buffer amplifier BF1 and the buffer amplifiers having the smaller numbers are sequentially connected and Vbot is connected to the buffer amplifier BFn, or Vtop is connected to the buffer amplifier BFn and Vbot is connected to the buffer amplifier BF1. Connected,
The gain control voltage for performing the weighting as shown in FIG. 13 is output.

【0051】この実施の形態では、クロスポイントスイ
ッチによりデータの並び換えを行なうことで振動子の直
後にゲイン制御アンプを位置させた場合においてもリニ
アスキャン時のゲイン補正が実現できる。
In this embodiment, the data can be rearranged by the cross point switch, so that the gain correction during the linear scan can be realized even when the gain control amplifier is positioned immediately after the vibrator.

【0052】〔第4の実施の形態〕図4は本発明の超音
波診断装置の〔第4の実施の形態〕の重み付けゲイン制
御電圧発生回路を示す。この重み付け回路は図15に示
したD/A変換器251〜258に相当し、または図1
6に示したD/A変換器251,252と抵抗列358
に相当する。
[Fourth Embodiment] FIG. 4 shows a weighted gain control voltage generating circuit of the fourth embodiment of the ultrasonic diagnostic apparatus of the present invention. This weighting circuit corresponds to the D / A converters 251 to 258 shown in FIG.
D / A converters 251 and 252 shown in FIG.
Is equivalent to

【0053】BF1〜BFnはバッファアンプ、S/H
1〜S/H(n+1)はサンプルホールド回路、SW1
〜SWnは切換えスイッチ、R1〜Rn−1は抵抗であ
る。スイッチSW1〜SWnは最初はb側に接続されて
いる。抵抗R1〜Rn−1により分圧して作成した各チ
ャンネル用重み付け制御電圧はサンプルホールド回路S
/H1〜S/Hnに取り込まれ、バッファBF1〜BF
nを介して図示されないゲイン制御アンプに入力する。
リニアスキャンでのアパチャー移動に対応するために
は、スイッチSW1〜SWnはa側に切り換えられ、サ
ンプルホールド回路の入力と出力が環状に接続される。
この状態でサンプルホールド回路S/H(n+1)がサ
ンプル動作を行ない、サンプルホールド回路S/Hnの
データがサンプルホールド回路S/H(n+1)にコピ
ーされる。以後、順番にサンプルホールド回路S/H
n,S/H(n−1),…,S/H2,S/H1と順次
サンプル動作を行なうことで重み付けデータがシフトさ
れる。この動作を繰り返すことでリニアスキャンにおけ
るアパチャー移動に対応が可能となる。
BF1 to BFn are buffer amplifiers and S / H
1 to S / H (n + 1) are sample hold circuits, SW1
-SWn are changeover switches, and R1-Rn-1 are resistors. The switches SW1 to SWn are initially connected to the b side. The weighting control voltage for each channel, which is created by dividing by the resistors R1 to Rn-1, is the sample hold circuit S.
/ H1 to S / Hn, and buffers BF1 to BF
It is input to a gain control amplifier (not shown) via n.
In order to cope with the aperture movement in the linear scan, the switches SW1 to SWn are switched to the a side, and the input and output of the sample hold circuit are connected in a ring shape.
In this state, the sample hold circuit S / H (n + 1) performs a sampling operation, and the data of the sample hold circuit S / Hn is copied to the sample hold circuit S / H (n + 1). After that, the sample hold circuit S / H
The weighting data is shifted by sequentially performing sampling operations of n, S / H (n-1), ..., S / H2, S / H1. By repeating this operation, it becomes possible to cope with the aperture movement in the linear scan.

【0054】この実施の形態によれば、環状に接続した
サンプルホールド回路によりデータの並び換えをおこな
うことで振動子の直後にゲイン制御アンプを位置させた
場合においてもリニアスキャン時のゲイン補正が実現で
きる。
According to this embodiment, the data can be rearranged by the sample-hold circuit connected in a ring shape to realize the gain correction during the linear scan even when the gain control amplifier is located immediately after the vibrator. it can.

【0055】〔第5の実施の形態〕図5は本発明の超音
波診断装置の〔第5の実施の形態〕の重み付け回路を示
す。この重み付け回路は図15に示したD/A変換器2
51〜258に相当し、または図16に示したD/A変
換器251,252と抵抗列358に相当する。
[Fifth Embodiment] FIG. 5 shows a weighting circuit according to the fifth embodiment of the ultrasonic diagnostic apparatus of the present invention. This weighting circuit is the D / A converter 2 shown in FIG.
51 to 258, or the D / A converters 251 and 252 and the resistor string 358 shown in FIG.

【0056】BF1〜BFnはバッファアンプ、R1〜
Rnは抵抗、272は2:n/2のマルチプレクサであ
る。マルチプレサの2本の入力にアパチャー中心のゲイ
ンを制御電圧Vtopとアパチャー端部のゲイン制御電
圧Vbotがそれぞれ入力される。マルチプレクサ27
1の出力は分割抵抗の端子の1本おきに接続されてい
る。このためマルチプレクサ271のうちの切換えスイ
ッチの数が低減される。マルチプレクサ271の出力本
数は少ないほど規模が小さくて済むという特徴を有する
が精度との兼ね合いで決定されるものである。
BF1 to BFn are buffer amplifiers and R1 to
Rn is a resistor and 272 is a 2: n / 2 multiplexer. The gain control voltage Vtop at the aperture center and the gain control voltage Vbot at the aperture end are respectively input to the two inputs of the multiplexer. Multiplexer 27
The output of 1 is connected to every other terminal of the dividing resistor. Therefore, the number of changeover switches in the multiplexer 271 is reduced. The smaller the number of outputs of the multiplexer 271 is, the smaller the scale is. However, it is determined in consideration of accuracy.

【0057】この実施の形態によれば、第2の実施の形
態に加え、物量を低減することができる。 〔第6の実施の形態〕図6は本発明の超音波診断装置の
〔第6の実施の形態〕の重み付け回路を示す。この重み
付け回路は図15に示したD/A変換器251〜258
に相当し、または図16に示したD/A変換器251,
252と抵抗列358に相当する。
According to this embodiment, in addition to the second embodiment, the amount of material can be reduced. [Sixth Embodiment] FIG. 6 shows a weighting circuit of the sixth embodiment of the ultrasonic diagnostic apparatus of the present invention. This weighting circuit corresponds to the D / A converters 251 to 258 shown in FIG.
, Or the D / A converter 251, shown in FIG.
252 and a resistor string 358.

【0058】280はD/A変換器、SH1〜SHnは
サンプルホールド回路である。D/A変換器280では
各チャンネルの重み付けデータを順番にアナログ信号に
変換する。変換されたアナログデータはサンプルホール
ド回路SH1〜SHnに取り込まれるが、図示されない
シーケンス制御回路により取り込み順序が変更される。
これによりリニアスキャンにおけるアパチャー位置変更
に起因する問題が解決される。
Reference numeral 280 is a D / A converter, and SH1 to SHn are sample hold circuits. The D / A converter 280 sequentially converts the weighting data of each channel into an analog signal. The converted analog data is captured by the sample hold circuits SH1 to SHn, but the sequence control circuit (not shown) changes the capturing order.
This solves the problem caused by changing the aperture position in the linear scan.

【0059】この実施の形態では、サンプルホールド回
路のサンプル順序を換えることで、振動子の直後にゲイ
ン制御アンプを位置させてもリニアスキャンにおける重
み付けが実現できる。
In this embodiment, by changing the sample order of the sample hold circuit, weighting in the linear scan can be realized even if the gain control amplifier is positioned immediately after the vibrator.

【0060】〔第7の実施の形態〕図7は本発明の超音
波診断装置の〔第7の実施の形態〕の重み付け回路を示
す。この重み付け回路は図15に示したD/A変換器2
51〜258に相当し、または図16に示したD/A変
換器251,252と抵抗列358に相当する。
[Seventh Embodiment] FIG. 7 shows a weighting circuit according to the seventh embodiment of the ultrasonic diagnostic apparatus of the present invention. This weighting circuit is the D / A converter 2 shown in FIG.
51 to 258, or the D / A converters 251 and 252 and the resistor string 358 shown in FIG.

【0061】280はD/A変換器、SH1〜SH(n
+1)はサンプルホールド回路、BF1〜BFnはバッ
ファアンプ、SW1〜SWnは切換えスイッチである。
D/A変換器280では各チャンネルの重み付けデータ
を順番にアナログ信号に変換する。切換えスイッチSW
1〜SWnはb側に接続されており、変換されたアナロ
グデータは順次、サンプルホールド回路SH1〜SHn
に取り込まれ、バッファBF1〜BFnを介して図示さ
れないゲイン制御アンプに入力する。リニアスキャンで
のアパチャー移動に対応するためには、スイッチSW1
〜SWnはa側に切り換えられ、サンプルホールド回路
SH1〜SH(n+1)の入力と出力が環状に接続され
る。この状態でサンプルホールド回路S/H(n+1)
がサンプル動作を行ない、サンプルホールド回路S/H
nのデータがサンプルホールド回路S/H(n+1)に
コピーされる。以後、順番にサンプルホールド回路S/
Hn(n−1),…,S/H2,S/H1と順次サンプ
ル動作を行なうことで重み付けデータがシフトされる。
この動作を繰り返すことでリニアスキャンにおけるアパ
チャー移動に対応が可能となる。
Reference numeral 280 denotes a D / A converter, SH1 to SH (n
+1) is a sample hold circuit, BF1 to BFn are buffer amplifiers, and SW1 to SWn are changeover switches.
The D / A converter 280 sequentially converts the weighting data of each channel into an analog signal. Changeover switch SW
1 to SWn are connected to the b side, and the converted analog data are sequentially output from the sample hold circuits SH1 to SHn.
Are input to a gain control amplifier (not shown) via the buffers BF1 to BFn. In order to support the aperture movement in the linear scan, the switch SW1
To SWn are switched to the a side, and the inputs and outputs of the sample hold circuits SH1 to SH (n + 1) are connected in a ring shape. In this state, the sample hold circuit S / H (n + 1)
Performs sampling operation, and sample and hold circuit S / H
The data of n is copied to the sample hold circuit S / H (n + 1). After that, the sample hold circuit S /
The weighting data is shifted by sequentially performing the sampling operation with Hn (n-1), ..., S / H2, S / H1.
By repeating this operation, it becomes possible to cope with the aperture movement in the linear scan.

【0062】この実施の形態では、サンプルホールド回
路を環状に接続させることで、振動子の直後にゲイン制
御アンプを位置させてもリニアスキャンにおける重み付
けが実現できる。
In this embodiment, by connecting the sample hold circuit in a ring shape, weighting in the linear scan can be realized even if the gain control amplifier is positioned immediately after the vibrator.

【0063】〔第8の実施の形態〕図8は本発明の〔第
8の実施の形態〕におけるセクタスキャン時の超音波診
断装置の重み付けを示している。
[Eighth Embodiment] FIG. 8 shows weighting of the ultrasonic diagnostic apparatus at the time of sector scanning in [Eighth Embodiment] of the present invention.

【0064】図8は横軸にチャンネル番号、縦軸にゲイ
ンを表している。ここでは図12のようにチャンネル8
の側にビームが偏向している場合である。このときBモ
ードのゲイン補正は図の○印で表すようにフォーカスよ
り各振動子までの距離に比例してゲインを上げる。これ
に対しドプラ(カラーフローを含む)では逆に図中の×
印のようにフォーカスからの距離が近いチャンネルほど
ゲインを上げる。
In FIG. 8, the horizontal axis represents the channel number and the vertical axis represents the gain. Here, as shown in Fig. 12, channel 8
This is the case when the beam is deflected to the side. At this time, in the B mode gain correction, the gain is increased in proportion to the distance from the focus to each transducer, as indicated by the circle in the figure. In contrast, in Doppler (including color flow), conversely × in the figure
Gain is increased for channels closer to the focus as shown by the mark.

【0065】この実施の形態によると、ドプラモードに
おいて優れたS/N比を、またBモードでは優れた分解
能を得ることができる。
According to this embodiment, it is possible to obtain an excellent S / N ratio in the Doppler mode and an excellent resolution in the B mode.

【0066】[0066]

【発明の効果】請求項1の構成によれば、遅延線のバッ
ファアンプによりゲイン制御を行なうことができ、回路
規模を増やすことなく重み付け機能を備えた超音波診断
装置を実現できる。
According to the structure of the first aspect, the gain control can be performed by the buffer amplifier of the delay line, and the ultrasonic diagnostic apparatus having the weighting function can be realized without increasing the circuit scale.

【0067】請求項2の構成によれば、マルチプレクサ
を用いることにより小さい回路規模でリニアスキャンで
のアパチャー移動に対応した重み付け機能を備えた超音
波診断装置を実現できるという利点を有する。
According to the structure of claim 2, the use of the multiplexer has an advantage that an ultrasonic diagnostic apparatus having a smaller circuit scale and having a weighting function corresponding to the aperture movement in the linear scan can be realized.

【0068】請求項3の構成によれば、クロスポイント
スイッチによりデータの並び換えを行なうことで振動子
の直後にゲイン制御アンプを位置させた場合においても
リニアスキャン時のゲイン補正が実現できる。
According to the structure of claim 3, by rearranging the data by the cross point switch, the gain correction at the time of the linear scan can be realized even when the gain control amplifier is positioned immediately after the vibrator.

【0069】請求項4の構成によれば、サンプルホール
ド回路を環状に接続することで精度がよく、かつリニア
スキャンでのアパチャー移動に対応し、少ない制御信号
で制御可能な重み付け機能を備えた超音波診断装置を実
現できるという利点を有する。
According to the structure of claim 4, by connecting the sample and hold circuit in a ring shape with high accuracy, it is possible to cope with the aperture movement in the linear scan, and the superposition is provided with the weighting function capable of controlling with a small number of control signals. It has an advantage that a sound wave diagnostic apparatus can be realized.

【0070】請求項5の構成によれば、請求項2のマル
チプレクサの出力ライン数を減らし、重み付け機能の回
路規模をさらに小さくした超音波診断装置を実現できる
という利点を有する。
According to the configuration of claim 5, there is an advantage that it is possible to realize an ultrasonic diagnostic apparatus in which the number of output lines of the multiplexer of claim 2 is reduced and the circuit scale of the weighting function is further reduced.

【0071】請求項6の構成によれば、1つのD/A変
換器の複数のシーケンスにより出力される複数のアナロ
グデータをチャンネル数だけのS/H回路で取り込み、
その取り込み順序を変えることでリニアスキャンのアパ
チャー移動に対応した重み付け機能を備えた超音波診断
装置を実現できるという利点を有する。
According to the structure of claim 6, a plurality of analog data outputted by a plurality of sequences of one D / A converter are fetched by the S / H circuit corresponding to the number of channels,
There is an advantage that an ultrasonic diagnostic apparatus having a weighting function corresponding to the aperture movement of the linear scan can be realized by changing the capturing order.

【0072】請求項7の構成によれば、1つのD/A変
換器の複数のシーケンスにより出力される複数のアナロ
グデータをチャンネル数だけのS/H回路で取り込み、
また、サンプルホールド回路を環状に接続することでデ
ータのローテーションを可能にし、リニアスキャンのア
パチャー移動に対応した重み付け機能を備えた超音波診
断装置を実現できるという利点を有する。
According to the structure of claim 7, a plurality of analog data outputted by a plurality of sequences of one D / A converter are fetched by the S / H circuit corresponding to the number of channels,
Further, there is an advantage that the rotation of data is enabled by connecting the sample hold circuit in a ring shape, and the ultrasonic diagnostic apparatus having the weighting function corresponding to the aperture movement of the linear scan can be realized.

【0073】請求項8の構成によれば、セクタスキャン
においてビーム偏向時のゲイン補正をBモードではフォ
ーカス点からの距離が長いチャンネルに高いゲインを与
えることでビーム形状を向上させ、また、ドプラモード
では逆にフォーカス点からの距離が短いチャンネルに高
いゲインを与えることで感度の向上を得るという方式に
より質の高い画像表示を可能にした超音波診断装置を実
現できるという利点を有する。
According to the structure of claim 8, the gain correction at the time of beam deflection in the sector scan is improved by giving a high gain to the channel having a long distance from the focus point in the B mode, and the beam shape is improved. On the contrary, there is an advantage that it is possible to realize an ultrasonic diagnostic apparatus capable of displaying a high-quality image by a method of increasing sensitivity by giving a high gain to a channel whose distance from the focus point is short.

【図面の簡単な説明】[Brief description of drawings]

【図1】本発明の第1の実施の形態における超音波診断
装置の遅延線回路の概略回路図
FIG. 1 is a schematic circuit diagram of a delay line circuit of an ultrasonic diagnostic apparatus according to a first embodiment of the present invention.

【図2】本発明の第2の実施の形態における超音波診断
装置の重み付け回路を示す概略ブロック図
FIG. 2 is a schematic block diagram showing a weighting circuit of the ultrasonic diagnostic apparatus according to the second embodiment of the present invention.

【図3】本発明の第3の実施の形態における超音波診断
装置の重み付けゲイン制御電圧発生回路を示す概略ブロ
ック図
FIG. 3 is a schematic block diagram showing a weighting gain control voltage generating circuit of an ultrasonic diagnostic apparatus according to a third embodiment of the present invention.

【図4】本発明の第4の実施の形態における超音波診断
装置の重み付けゲイン制御電圧発生回路を示す概略ブロ
ック図
FIG. 4 is a schematic block diagram showing a weighting gain control voltage generating circuit of an ultrasonic diagnostic apparatus according to a fourth embodiment of the present invention.

【図5】本発明の第5の実施の形態における超音波診断
装置の重み付け回路を示す概略ブロック図
FIG. 5 is a schematic block diagram showing a weighting circuit of the ultrasonic diagnostic apparatus according to the fifth embodiment of the present invention.

【図6】本発明の第6の実施の形態における超音波診断
装置の重み付け回路を示す概略ブロック図
FIG. 6 is a schematic block diagram showing a weighting circuit of an ultrasonic diagnostic apparatus according to a sixth embodiment of the present invention.

【図7】本発明の第7の実施の形態における超音波診断
装置の重み付け回路を示す概略ブロック図
FIG. 7 is a schematic block diagram showing a weighting circuit of an ultrasonic diagnostic apparatus according to a seventh embodiment of the present invention.

【図8】本発明の第8の実施の形態におけるセクタスキ
ャン時の超音波診断装置の重み付けを示すゲイン説明図
FIG. 8 is a gain explanatory diagram showing weighting of the ultrasonic diagnostic apparatus during sector scan according to the eighth embodiment of the present invention.

【図9】第1の従来例における超音波診断装置のリニア
スキャンの説明図
FIG. 9 is an explanatory diagram of a linear scan of the ultrasonic diagnostic apparatus in the first conventional example.

【図10】第2の従来例における超音波診断装置のリニ
アスキャンにおけるフォールドオーバの説明図
FIG. 10 is an explanatory diagram of a foldover in a linear scan of the ultrasonic diagnostic apparatus in the second conventional example.

【図11】第3の従来例における超音波診断装置のリニ
アスキャンにおける2次元スキャン方式の説明図
FIG. 11 is an explanatory diagram of a two-dimensional scanning method in linear scanning of an ultrasonic diagnostic apparatus according to a third conventional example.

【図12】第4の従来例における超音波診断装置のリニ
アスキャンにおけるマスタスレーブ方式の説明図
FIG. 12 is an explanatory diagram of a master-slave system in a linear scan of an ultrasonic diagnostic apparatus according to a fourth conventional example.

【図13】第5の従来例における超音波診断装置のセク
タスキャンにおける重み付けの説明図
FIG. 13 is an explanatory diagram of weighting in sector scan of the ultrasonic diagnostic apparatus in the fifth conventional example.

【図14】第6の従来例における超音波診断装置のゲイ
ン制御部の概略ブロック図
FIG. 14 is a schematic block diagram of a gain control unit of an ultrasonic diagnostic apparatus according to a sixth conventional example.

【図15】第7の従来例における超音波診断装置のゲイ
ン制御信号発生部の概略ブロック図
FIG. 15 is a schematic block diagram of a gain control signal generator of an ultrasonic diagnostic apparatus according to a seventh conventional example.

【図16】第8の従来例における超音波診断装置のゲイ
ン制御信号発生部の別の例の概略ブロック図
FIG. 16 is a schematic block diagram of another example of the gain control signal generator of the ultrasonic diagnostic apparatus in the eighth conventional example.

【図17】第9の従来例における重み付け回路を含む超
音波診断装置の遅延加算を示す概略ブロック図
FIG. 17 is a schematic block diagram showing delay addition of an ultrasonic diagnostic apparatus including a weighting circuit in a ninth conventional example.

【図18】第10の従来例における超音波診断装置の重
み付け回路の問題点を示す説明図
FIG. 18 is an explanatory diagram showing a problem of the weighting circuit of the ultrasonic diagnostic apparatus in the tenth conventional example.

【符号の説明】[Explanation of symbols]

1〜16 振動子 21〜28 2:1のアナログスイッチ 29 8:4のクロスポイントスイッチ部 30〜32 可変遅延線 33〜35 加算器 52〜57 遅延線 60 加算器 61〜68 電圧−電流変換器 70 8:4のクロスポイントスイッチ 71〜74 電流−電圧変換器 100 反射体 130 遅延加算部 151〜158 電圧でゲインを制御できるアンプ 159 アンプゲインの制御電圧を発生する
制御回路 251〜258 D/A変換器 259 演算装置 270 2:nのマルチプレクサ 271 n:nのクロスポイントスイッチ 272 2:n/2のマルチプレクサ 280 D/A変換器 351〜357 抵抗器 358 抵抗列 361〜364 加算器 DL1〜DLn 遅延線
1-16 Oscillator 21-28 2: 1 analog switch 29 8: 4 crosspoint switch part 30-32 Variable delay line 33-35 Adder 52-57 Delay line 60 Adder 61-68 Voltage-current converter 70 8: 4 cross-point switch 71-74 current-voltage converter 100 reflector 130 delay adder 151-158 amplifier capable of controlling gain with voltage 159 control circuit for generating control voltage of amplifier gain 251-258 D / A Converter 259 Arithmetic unit 270 2: n multiplexer 271 n: n crosspoint switch 272 2: n / 2 multiplexer 280 D / A converter 351 to 357 resistor 358 resistor string 361 to 364 adder DL1 to DLn delay line

───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (72)発明者 萩原 尚 神奈川県横浜市港北区綱島東四丁目3番1 号 松下通信工業株式会社内 ─────────────────────────────────────────────────── ─── Continuation of the front page (72) Inventor Nao Hagiwara 4-3-1, Tsunashima-higashi, Kohoku-ku, Yokohama-shi, Kanagawa Matsushita Communication Industrial Co., Ltd.

Claims (8)

【特許請求の範囲】[Claims] 【請求項1】 複数の振動子からなる探触子によりエコ
ー信号を受信し、遅延加算を行なう機能を持つ超音波診
断装置において、 複数の前記振動子の出力を遅延するアナログ遅延線と、 各アナログ遅延線の入出力に配置されたバッファアンプ
とを設け、各バッファアンプのゲインを制御して受信に
おける重み付けを行なう超音波診断装置。
1. In an ultrasonic diagnostic apparatus having a function of receiving an echo signal by a probe composed of a plurality of transducers and performing delay addition, an analog delay line for delaying outputs of the plurality of transducers, An ultrasonic diagnostic apparatus which is provided with a buffer amplifier arranged at the input and output of an analog delay line, and controls the gain of each buffer amplifier to perform weighting in reception.
【請求項2】 複数の振動子からなる探触子によりエコ
ー信号を受信し、遅延加算を行なう機能を持つ超音波診
断装置において、 環状に連結された複数の抵抗と、 各々の抵抗の端子電圧をエコー信号のゲイン制御アンプ
の制御信号に供給するバッファアンプと、 重み付けの最高/最低の2つの電圧を発生するD/A変
換器と、 発生した電圧を環状の抵抗のいずれかの端子に接続でき
るスイッチ群とを設けた超音波診断装置。
2. In an ultrasonic diagnostic apparatus having a function of receiving an echo signal by a probe composed of a plurality of transducers and performing delay addition, a plurality of resistors connected in a ring and a terminal voltage of each resistance. Connect the amplifier to the control signal of the gain control amplifier of the echo signal, the D / A converter that generates the two highest and lowest weighted voltages, and connect the generated voltage to either terminal of the ring resistance An ultrasonic diagnostic apparatus provided with a switch group that can be used.
【請求項3】 複数の振動子からなる探触子によりエコ
ー信号を受信し、遅延加算を行なう機能を持つ超音波診
断装置において、 重み付けの最高/最低の2つの電圧を発生するD/A変
換器と、 D/A変換器で発生した2つの電圧を両端に加える縦列
に連結された複数の抵抗と、 各々の抵抗の端子電圧を入力しチャンネル数分の出力の
いずれかに接続するスイッチ群と、 スイッチ群より出力された電圧信号をエコー信号のゲイ
ン制御アンプの制御信号に供給するバッファアンプとを
設けた超音波診断装置。
3. An ultrasonic diagnostic apparatus having a function of receiving an echo signal by a probe composed of a plurality of transducers and performing delay addition, D / A conversion for generating two voltages of highest / lowest weighting. , A plurality of resistors connected in series that apply two voltages generated at the D / A converter to both ends, and a switch group that inputs the terminal voltage of each resistor and connects it to one of the outputs corresponding to the number of channels And an amplifier for supplying a voltage signal output from a switch group to a control signal of a gain control amplifier of an echo signal.
【請求項4】 複数の振動子からなる探触子によりエコ
ー信号を受信し、遅延加算を行なう機能を持つ超音波診
断装置において、 重み付けの最高/最低の2つの電圧を発生するD/A変
換器と、 D/A変換器で発生した2つの電圧を両端に加える縦列
に連結された複数の抵抗と、 複数のサンプルホールド回路と、 縦列された抵抗の各端子を一方の入力、サンプルホール
ド回路の出力を他方の入力とし、入力に接続されたサン
プルホールド回路の隣に位置するサンプルホールド回路
に選択された入力信号を入力するスイッチより構成され
る重み付け制御回路とを設けた超音波診断装置。
4. An ultrasonic diagnostic apparatus having a function of receiving an echo signal by a probe composed of a plurality of transducers and performing delay addition, D / A conversion for generating two voltages of highest / lowest weighting. Device, a plurality of resistors connected in series that apply two voltages generated by the D / A converter to both ends, a plurality of sample and hold circuits, and one terminal of each terminal of the cascaded resistors, a sample and hold circuit And a weighting control circuit including a switch for inputting a selected input signal to a sample and hold circuit located next to a sample and hold circuit connected to the input.
【請求項5】 スイッチ群の出力線の本数をチャンネル
数の1/nに減らしたことを特徴とする請求項2記載の
超音波診断装置。
5. The ultrasonic diagnostic apparatus according to claim 2, wherein the number of output lines of the switch group is reduced to 1 / n of the number of channels.
【請求項6】 複数の振動子からなる探触子によりエコ
ー信号を受信し、遅延加算を行なう機能を持つ超音波診
断装置において、 単一のD/A変換器と、 前記D/A変換器のデータを取り込むチャンネル数分の
サンプルホールド回路とを設け、サンプルホールド回路
の出力によりエコーゲインを制御する超音波診断装置。
6. An ultrasonic diagnostic apparatus having a function of receiving an echo signal by a probe composed of a plurality of transducers and performing delay addition, comprising a single D / A converter and the D / A converter. The ultrasonic diagnostic apparatus is provided with sample hold circuits for the number of channels for fetching the data of 1. and the echo gain is controlled by the output of the sample hold circuit.
【請求項7】 複数の振動子からなる探触子によりエコ
ー信号を受信し、遅延加算を行なう機能を持つ超音波診
断装置において、 単一のD/A変換器と、 複数のサンプルホールド回路と、 隣合うサンプルホールド回路の出力とD/A変換器の出
力のいずれかを選択するスイッチと、 スイッチで選択された入力をサンプルし、サンプルホー
ルド回路の出力によりエコーゲインを制御する超音波診
断装置。
7. An ultrasonic diagnostic apparatus having a function of receiving an echo signal by a probe composed of a plurality of transducers and performing delay addition, comprising a single D / A converter and a plurality of sample and hold circuits. , An ultrasonic diagnostic apparatus for selecting either the output of the adjacent sample and hold circuit or the output of the D / A converter, and the input selected by the switch, and controlling the echo gain by the output of the sample and hold circuit .
【請求項8】 複数の振動子からなる探触子によりエコ
ー信号を受信し、遅延加算を行なう機能を持つ超音波診
断装置において、セクタスキャンのBモードではフォー
カス点と各チャンネル間の距離による減衰を補正するゲ
イン補正を行ない、ドプラモードではフォーカス点に近
いチャンネルのゲインを上げるよう構成した超音波診断
装置。
8. An ultrasonic diagnostic apparatus having a function of receiving an echo signal by a probe composed of a plurality of transducers and performing delay addition, in a sector scan B mode, attenuation by a distance between a focus point and each channel. The ultrasonic diagnostic apparatus is configured to perform gain correction to correct the noise and increase the gain of the channel close to the focus point in the Doppler mode.
JP7236229A 1995-09-14 1995-09-14 Ultrasonic diagnostic equipment Pending JPH0975349A (en)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP7236229A JPH0975349A (en) 1995-09-14 1995-09-14 Ultrasonic diagnostic equipment

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP7236229A JPH0975349A (en) 1995-09-14 1995-09-14 Ultrasonic diagnostic equipment

Publications (1)

Publication Number Publication Date
JPH0975349A true JPH0975349A (en) 1997-03-25

Family

ID=16997714

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP7236229A Pending JPH0975349A (en) 1995-09-14 1995-09-14 Ultrasonic diagnostic equipment

Country Status (1)

Country Link
JP (1) JPH0975349A (en)

Cited By (6)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2005328885A (en) * 2004-05-18 2005-12-02 Aloka Co Ltd Receiving circuit for ultrasonic diagnostic apparatus
JP2006066961A (en) * 2004-08-24 2006-03-09 General Res Of Electronics Inc Variable attenuation circuit
JP2007014456A (en) * 2005-07-06 2007-01-25 Aloka Co Ltd Ultrasonic diagnostic apparatus
JP2007185529A (en) * 2007-03-19 2007-07-26 Ge Medical Systems Global Technology Co Llc Ultrasonic diagnostic apparatus
JP2009045285A (en) * 2007-08-21 2009-03-05 Toshiba Corp Ultrasonic diagnostic apparatus
CN113796893A (en) * 2020-06-16 2021-12-17 株式会社日立制作所 Two-dimensional array ultrasonic probe and addition operation circuit

Cited By (9)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2005328885A (en) * 2004-05-18 2005-12-02 Aloka Co Ltd Receiving circuit for ultrasonic diagnostic apparatus
JP4542367B2 (en) * 2004-05-18 2010-09-15 アロカ株式会社 Receiver circuit for ultrasonic diagnostic equipment
JP2006066961A (en) * 2004-08-24 2006-03-09 General Res Of Electronics Inc Variable attenuation circuit
JP2007014456A (en) * 2005-07-06 2007-01-25 Aloka Co Ltd Ultrasonic diagnostic apparatus
JP4733446B2 (en) * 2005-07-06 2011-07-27 日立アロカメディカル株式会社 Ultrasonic diagnostic equipment
JP2007185529A (en) * 2007-03-19 2007-07-26 Ge Medical Systems Global Technology Co Llc Ultrasonic diagnostic apparatus
JP2009045285A (en) * 2007-08-21 2009-03-05 Toshiba Corp Ultrasonic diagnostic apparatus
CN113796893A (en) * 2020-06-16 2021-12-17 株式会社日立制作所 Two-dimensional array ultrasonic probe and addition operation circuit
CN113796893B (en) * 2020-06-16 2023-12-05 富士胶片医疗健康株式会社 Two-dimensional array ultrasonic probe and addition operation circuit

Similar Documents

Publication Publication Date Title
US4733562A (en) Method and apparatus for ultrasonic scanning of an object
US5375470A (en) Acoustic imaging system
JPH08505802A (en) Digital beamformer with multiple phase parallel processing
EP1994428A1 (en) Linear array ultrasound transducer with microbeamformer
JPS62133349A (en) Ultrasonic device
US4962667A (en) Ultrasonic imaging apparatus
JPH0975349A (en) Ultrasonic diagnostic equipment
US4330875A (en) Focusing circuit for ultrasound imaging system
EP0397869B1 (en) Ultrasonic echo phasing circuit
JPH03123879A (en) Ultrasonic echo graph apparatus
US4679176A (en) Ultrasonic receiving apparatus
EP1247490B1 (en) Ultrasonic diagnosing apparatus
KR940009243B1 (en) Ultrasonic beam former
JP3294974B2 (en) Ultrasound diagnostic equipment
JP3215023B2 (en) Ultrasound diagnostic equipment
JP3230428B2 (en) Ultrasound diagnostic equipment
US4793184A (en) Ultrasonic imaging apparatus and method of forming an ultrasonic image of an object
JPH0138540Y2 (en)
JP2005168903A (en) Ultrasonic diagnostic device
JP2662868B2 (en) Ultrasound diagnostic equipment
JPH05300904A (en) Ultrasonic diagnostic system
JPH01198536A (en) Phasing circuit for ultrasonic apparatus and ultrasonic diagnostic apparatus using the same
JPH072166B2 (en) Ultrasonic diagnostic equipment
JP3337491B2 (en) Ultrasound diagnostic equipment
JPS60116342A (en) Ultrasonic receiving phase shaping circuit