JPH01198536A - Phasing circuit for ultrasonic apparatus and ultrasonic diagnostic apparatus using the same - Google Patents

Phasing circuit for ultrasonic apparatus and ultrasonic diagnostic apparatus using the same

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JPH01198536A
JPH01198536A JP63021966A JP2196688A JPH01198536A JP H01198536 A JPH01198536 A JP H01198536A JP 63021966 A JP63021966 A JP 63021966A JP 2196688 A JP2196688 A JP 2196688A JP H01198536 A JPH01198536 A JP H01198536A
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delay
signal
switch
line
phasing circuit
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JP63021966A
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Japanese (ja)
Inventor
Toshiro Kondo
敏郎 近藤
Shinji Kishimoto
眞治 岸本
Akihiro Kamiyama
上山 明裕
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Hitachi Healthcare Manufacturing Ltd
Original Assignee
Hitachi Medical Corp
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Abstract

PURPOSE:To achieve the miniaturization, cost reduction and enhancement of capacity of an apparatus by reducing the number of analogue switches, by a method wherein the signal lines connected to arranged vibrators receiving an ultrasonic wave are divided into a large number of sets and the output terminals of respective delay lines are alternately connected to the signal lines having no vibrators of cross point switches opposed to each other so as to be changed over. CONSTITUTION:Delay lines 101 each having a delay time equal to that between the taps of delay lines 31, 32 and having a large number of taps are provided at every signal lines from the vibrator elements of a probe. By selecting the signals from said delay lines by an analogue multiplexer 102, a delay time can be set with resolving power further smaller than the delay time. In order to convert the angle theta of deflection of ultrasonic beam in electron sector scanning from theta in the positive direction to -theta in a negative direction, analogue switches 91, 92 control which of terminals 1, M max. delay is given. A series of the opening and closing operations of an analogue multiplexer, cross point switches 41, 42 and the analogue switches 91, 92 are performed by a controller 105 and the angle of deflection of ultrasonic beam at the time of electron sector scanning and the delay time corresponding to a converging point are set at every channel.

Description

【発明の詳細な説明】 〔産業上の利用分野〕 本発明は、電子セ参りタ走査形超音波診断装置に係り、
特に探触子より生体内に発射した超音波によるエコー信
号を受信する受信系の改良に関するものである。
[Detailed Description of the Invention] [Industrial Application Field] The present invention relates to an electronic sensor scanning ultrasonic diagnostic device,
In particular, the present invention relates to improvements in a receiving system that receives echo signals from ultrasound emitted from a probe into a living body.

(従来の技術〕 被検体中に放射される超音波ビームの反射エコ−に基づ
いて生体の診断を行なう電子走査形超音ノ      
波診断、装置が実用化されている。このような装置では
、“超音波の生体内への送信と、反射エコーの受信とに
携わる探触子として、多数の振動子素子を配列したもの
が用いられている。反射エコーの指向性及び集束性は、
上記の振動子素子群からの電気信号を適宜な量だけ遅延
して加算することにより与えられる。このような回路は
整相回路と称されている。
(Prior art) Electronic scanning ultrasound technology that diagnoses living organisms based on the reflected echoes of ultrasound beams emitted into a subject.
Wave diagnosis and equipment have been put into practical use. In such devices, a probe in which a large number of transducer elements are arranged is used as a probe that is involved in transmitting ultrasonic waves into the living body and receiving reflected echoes. The convergence is
It is given by delaying the electrical signals from the above-mentioned transducer element group by an appropriate amount and adding them. Such a circuit is called a phasing circuit.

上記の整相回路として従来から用いられている具体的な
例を第4図に示す。
A specific example conventionally used as the above-mentioned phasing circuit is shown in FIG.

探触子の振動子素子群で受信するエコー信号は、低レベ
ルのアナログ信号であり、それを扱うため、インダクタ
とコンデンサからなる集中定数型電磁遅延線とアナログ
スイッチを組み合せた回路からなる整相回路が実用化さ
れている。第4図(a)の整相回路は、各々の振動子素
子からの受信信号(1〜M)に対し必要とする可変遅延
時間を与える可変遅延線10A〜IOMを設け、これら
を通過して遅延した信号を加算器20で加算するもので
ある。第4図(b)に示すものは、各々の振動子素子か
らの信号を小さな可変遅延線10a〜10(m−1)を
介して加算器20a〜20(m−1)で順次加算する回
路構成をとっている。上記いずれにおいても、可変遅延
線はタップを設けた遅延線であり、そのタップをアナロ
グスイッチで選択切換えることにより前記指向性及び集
束性を達成している。第4図(、a)の方法は、超音波
ビームを偏向して走査するセクタ走査を実現する場合に
は、可変遅延線において必要な遅延時間が長く、また、
振動子素子毎に遅延線を設けるため。
The echo signal received by the transducer element group of the probe is a low-level analog signal, and in order to handle it, a phasing circuit consisting of a lumped electromagnetic delay line consisting of an inductor and a capacitor and an analog switch is used. The circuit has been put into practical use. The phasing circuit of FIG. 4(a) is provided with variable delay lines 10A to IOM that provide the required variable delay time to the received signals (1 to M) from each transducer element, and The delayed signals are added by an adder 20. The circuit shown in FIG. 4(b) is a circuit that sequentially adds signals from each transducer element by adders 20a to 20(m-1) via small variable delay lines 10a to 10(m-1). It is structured. In any of the above, the variable delay line is a delay line provided with taps, and the directivity and focusing are achieved by selectively switching the taps with an analog switch. The method shown in FIG. 4(a) requires a long delay time in the variable delay line when performing sector scanning in which the ultrasound beam is deflected and scanned.
To provide a delay line for each transducer element.

装置の大きさが大きくなり、高価なものとなる。The size of the device becomes large and expensive.

また第4図(b)の方法は、各々の可変遅延線に要求さ
れ°る遅延時間は(a)の方法に比べ短くて良いが、信
号が加算器を1通過する回数が多く、S/Nの低下の原
因となり易い。また加算器での遅延時間のオフセットが
累積されるため遅延時間の設定誤差が生じ易い、第4図
(Q)は、タップ付遅延線30(以下、単に遅延線とい
う)に定電流信号を注入して、エコー信号にタップ位置
によす決まる遅延時間を与えるとともに各タップに印加
される信号を加算する機能も持たせである。ここで、各
振動子素子からの信号は、それぞれ対応した複数の信号
線1〜Mに導かれ、この信号線と、遅延線の各タップに
つながる複数の信号線とを直交するとともに、これらの
信号線の交点に設けられたアナログスイッチ50からな
るクロスポイントスイッチ40により任意の遅延線のタ
ップに接続することができるようになっている。この方
法は、前記第4図(a)、(b)の方法の持つ欠点は除
去できるため最近注目されている(超音波機器ハンドブ
ック、昭和60年4月20日発行)。
Furthermore, in the method of FIG. 4(b), the delay time required for each variable delay line is shorter than in the method of (a), but the signal passes through the adder more times, and the S/ This tends to cause a decrease in N. In addition, since the delay time offset in the adder is accumulated, a delay time setting error is likely to occur. Fig. 4 (Q) shows that a constant current signal is injected into the tapped delay line 30 (hereinafter simply referred to as a delay line). In addition to giving the echo signal a delay time determined by the tap position, it also has the function of adding up the signals applied to each tap. Here, the signal from each transducer element is guided to a plurality of corresponding signal lines 1 to M, and these signal lines and a plurality of signal lines connected to each tap of the delay line are orthogonal to each other. A crosspoint switch 40 consisting of an analog switch 50 provided at the intersection of the signal lines allows connection to any tap of the delay line. This method has recently attracted attention because it can eliminate the drawbacks of the methods shown in FIGS. 4(a) and 4(b) (Ultrasonic Equipment Handbook, published April 20, 1985).

この方法は、クロスポイントスイッチを必要とするため
、アナログスイッチ50の必要数が、振動子素子の数と
遅延線のタップ数の増加と共に急激に増加する。最近で
はクロスポイントスイッチは、電話回線の空間分割スイ
ッチ用としたLSIが開発され、その価格も低下してい
るが、それでもこの数が増大することは、装置の大きさ
、コストが上昇することは避けられない、また、このス
イッチの対地静電容量がスイッチの個数の増加とともに
大きくなり、これが信号の周波数特性を劣化させる原因
となっている。これを第5図によりもう少し詳しく説明
する。
Since this method requires a cross-point switch, the required number of analog switches 50 increases rapidly as the number of transducer elements and the number of delay line taps increase. Recently, cross-point switches have been developed as LSIs for use in space division switches for telephone lines, and their prices have declined. This unavoidable ground capacitance of the switch increases as the number of switches increases, and this causes deterioration of the frequency characteristics of the signal. This will be explained in more detail with reference to FIG.

第4図(c)に示した従来の方法による整相回路の構成
を第5図に示す、ここでは探触子の振動子素子め数はM
で、整相回路にはMチャネルの信号が入力されることに
なる。いま、遅延線30のタップ数を0〜Nまでの(N
+1)とすると、クロスポイントスイッチ40は、(M
X (N+1))個のアナログスイッチ50で構成され
ている。このクロスポイントスイッチ40には、入力信
号電圧を定電流信号に変換する電圧−電流変換器60を
介して各振動子素子から信号が入力される。クロスポイ
ントスイッチ40の出力端子は、入力インピーダンスが
低く出力インピーダンスが高い定電流信号バッファ70
を介し、タップ間隙の遅延時間Tのタップ付遅延線3−
0のタップ0〜Nに接続されている。クロスポイントス
イッチにおけるアナログスイッチとして0MO8素子が
用いられる。定電流信号源としてベース接地トランジス
タ回路が用いられており、遅延線の特性インピーダンス
より十分大きいインピーダンスの回路がタップに接続さ
れるようにして、遅延線の性能の劣化が起らないように
なっている。
The configuration of the phasing circuit according to the conventional method shown in FIG. 4(c) is shown in FIG. 5, where the transducer element number of the probe is M.
Then, M channel signals are input to the phasing circuit. Now, the number of taps of the delay line 30 is set from 0 to N (N
+1), the cross point switch 40 is (M
It is composed of X (N+1)) analog switches 50. A signal is input to this cross-point switch 40 from each vibrator element via a voltage-current converter 60 that converts an input signal voltage into a constant current signal. The output terminal of the cross point switch 40 is a constant current signal buffer 70 with low input impedance and high output impedance.
through the tapped delay line 3- with the tap gap delay time T.
0 taps 0 to N. 0MO8 elements are used as analog switches in the crosspoint switch. A common-base transistor circuit is used as a constant current signal source, and a circuit with an impedance sufficiently larger than the characteristic impedance of the delay line is connected to the tap to prevent deterioration of the performance of the delay line. There is.

クロスポイントスイッチ40の入力端子には、振動子素
子からの信号電圧が電圧電流変換器60により定電流信
号として加えられる。入力端子1゜2、・・・9Mに印
加された信号は、アナログスイッチ50の開閉により、
遅延線30の任意のタップに接続された定電流信号源バ
ッファ70へ接続することができる。クロスポイントス
イッチ40を通過する信号は、定電流信号であるため、
クロスポイントスイッチ40の複数の入力から同一の遅
延線30のタップへ、即ちクロスポイントスイッチ40
の出力端子に接続されると、これらの信号は遅延線30
で加算されて、遅延線30の出力タップへ信号が伝達さ
れることになる。なお、整相回路の動作原理から同一の
振動子素子の信号が、異なる遅延線のタップへ同時に分
配されるようなスイッチ動作が行なわれることはない。
A signal voltage from the vibrator element is applied as a constant current signal to the input terminal of the cross-point switch 40 by the voltage-current converter 60. The signals applied to the input terminals 1゜2, . . . 9M are changed by opening and closing the analog switch 50.
It can be connected to a constant current signal source buffer 70 connected to any tap of the delay line 30. Since the signal passing through the cross point switch 40 is a constant current signal,
From multiple inputs of the crosspoint switch 40 to taps of the same delay line 30, i.e., the crosspoint switch 40
When connected to the output terminal of the delay line 30, these signals are connected to the output terminal of the delay line 30
, and the signal is transmitted to the output tap of the delay line 30. Note that, due to the operating principle of the phasing circuit, a switching operation is not performed in which signals from the same transducer element are simultaneously distributed to taps of different delay lines.

以上の動作により入力端子1,2,3.・・・Mに印加
された信号はいずれも遅延線のいずれかのタップに接続
され、最大でnXTなる遅延を与えた後、n、IO,1
,2,−、Nまでの任意の整数。
By the above operation, input terminals 1, 2, 3. ...Every signal applied to M is connected to one of the taps of the delay line, and after giving a maximum delay of nXT, n,IO,1
,2,−,any integer up to N.

これらすべての信号は遅延線30で加算されることが明
らかである。
It is clear that all these signals are summed at delay line 30.

クロスポイントスイッチを構成するCMO8素子からな
るアナログスイッチにおいては、MDSトランジスタの
ソースとドレインがスイッチの入出力端子に相当し、ソ
ース及びドレインと対地間に静電容量が存在する。この
静電容量は、スイッチの数に対応して累加するため、こ
れが電圧・電流交換器60の負荷あるいは、定電流信号
バッファ70の入力インピーダンスに並列に入る静電容
量となり、スイッチを通過する信号の高域の周波数特性
を劣化させるため、同じ振動子素子の数とタップの数を
保ちつつ極力このアナログスイッチの数が少ないことが
望まれる。
In an analog switch made up of eight CMO elements constituting a cross-point switch, the source and drain of the MDS transistor correspond to the input/output terminals of the switch, and a capacitance exists between the source and drain and the ground. This capacitance accumulates in proportion to the number of switches, so this capacitance becomes the capacitance that enters in parallel with the load of the voltage/current exchanger 60 or the input impedance of the constant current signal buffer 70, and the signal passing through the switch To avoid this, it is desirable to reduce the number of analog switches as much as possible while keeping the same number of transducer elements and taps.

〔発明が解決しようとする課題〕[Problem to be solved by the invention]

上記従来技術は、電子セクタ走査形超音波診断装置の性
能向上のため探触子の振動子素子の数を増加させること
、探触子の口径を大きくすること、セクタ走査の偏向角
度を大きくすることなどに対応する場合、整相回路に必
要なアナログスイッチの個数が増大する点について配慮
がなされておらず、大きさと2価格の上昇9周波数特性
の劣化の問題があった。
In order to improve the performance of an electronic sector scanning ultrasonic diagnostic device, the above conventional technology increases the number of transducer elements of the probe, increases the aperture of the probe, and increases the deflection angle of sector scanning. No consideration was given to the increase in the number of analog switches required for the phasing circuit, resulting in an increase in size and price, and deterioration of frequency characteristics.

本発明の第1の課題は、電子セクタ走査形超音波診断装
置の整相回路において必要なアナログスイッチの個数を
減らし、装置の小型化、低価格化。
The first object of the present invention is to reduce the number of analog switches required in the phasing circuit of an electronic sector scanning ultrasonic diagnostic device, thereby making the device smaller and cheaper.

性能の向上を計ることにある。The purpose is to measure performance improvement.

そして、本発明の第二の課題は上記整相回路の構成技術
を応用して、振動子数を増加させた装置とそうではない
安価な装置とに容易に対応可能な整相回路の構成技術を
提供することにある。
The second problem of the present invention is to apply the above-mentioned phasing circuit configuration technology to a phasing circuit configuration technology that can be easily applied to devices with an increased number of oscillators and inexpensive devices that do not. Our goal is to provide the following.

〔課題を解決するための手段〕[Means to solve the problem]

上記第一課題は、電子セクタ走査形超音波診断装置の整
相回路を次のように構成する第一発明で解決される。
The above-mentioned first problem is solved by a first invention in which a phasing circuit of an electronic sector scanning ultrasonic diagnostic apparatus is configured as follows.

すなわち、本発明の整相回路は、超音波を受信する配列
振動子に接続される信号線を複数組に分割し、各信号線
の組を、各組の信号線数に対し1、少くとも1本多い信
号線を以って第1の信号線とし、更にこの第1の信号線
に交差する複数の第2の信号線を設け、第1の信号線と
第2の信号線との交点にスイッチを設けて成るクロスポ
イントスイッチと、第2の信号線に接続される複数のタ
ップを有する遅延線とで構成される組合せ回路を前記振
動子に接続される信号線の分割数だけ設け、各遅延線の
出力端を相対するクロスポイントスイッチの振動子のな
い信号線の入力端子へ択一的に切換接続する遅延時間加
算手段を設けて構成した点を特徴としている。
That is, the phasing circuit of the present invention divides the signal lines connected to the array transducer that receives ultrasonic waves into a plurality of sets, and divides each set of signal lines into at least one set for each set of signal lines. One more signal line is used as a first signal line, and a plurality of second signal lines are provided that intersect with this first signal line, and the intersection of the first signal line and the second signal line is A combinational circuit constituted by a cross-point switch provided with a switch and a delay line having a plurality of taps connected to the second signal line is provided for the number of divisions of the signal line connected to the vibrator, The present invention is characterized in that a delay time adding means is provided for selectively connecting the output end of each delay line to the input terminal of the signal line without a vibrator of the opposing cross-point switch.

そして第二の課題は、上記整相回路のクロスポイントス
イッチと、クロスポイントスイッチに接続された遅延線
との組合せ回路をブロックとして基板構成し、装置の探
触子の振動子素子数に対応した数のブロックで整相回路
を構成することで達成される。
The second challenge was to configure a board with a combination circuit of the cross-point switch of the phasing circuit and the delay line connected to the cross-point switch as a block, and to create a board that corresponds to the number of transducer elements of the device's probe. This is achieved by configuring a phasing circuit with several blocks.

〔作用〕[Effect]

第一課題を解決する第一発明において、受信信号は、ク
ロスポイントスイッチ内のスイッチ切り換えによって、
その受信信号が入力された信号線から遅延線に接続され
た複数の信号線、すなわち第2の信号線のうちいずれに
でも入力される。したがって、クロスポイントスイッチ
に接続された遅延線の任意のタップへ受信信号を入力す
ることができるので、受信信号には任意の遅延時間を与
えることができる。しかし、この遅延線の最大遅延時間
では所定の遅延時間には足らない信号については、遅延
線の出力端子から受信信号を遅延時ノ 間加算手段を介して相対するクロスポイントスイッチの
振動子のない信号線からスイッチを介して・ 相対する
クロスポイントスイッチに接続された遅延線の所定タッ
プへ入力する。これによって不足している遅延時間を補
う、また遅延時間加算手段を切り換えることによりセク
タ走査の超音波ビームの偏向角を正負に対応する。
In the first invention for solving the first problem, the received signal is transmitted by switching the crosspoint switch.
The received signal is inputted to any one of the plurality of signal lines connected to the delay line, that is, the second signal line, from the input signal line. Therefore, since the received signal can be input to any tap of the delay line connected to the crosspoint switch, any delay time can be given to the received signal. However, for signals whose maximum delay time of this delay line is not enough for a predetermined delay time, the received signal is added from the output terminal of the delay line via delay time addition means to the oscillator of the opposing crosspoint switch. Input from the signal line via the switch to the designated tap of the delay line connected to the opposing crosspoint switch. This compensates for the insufficient delay time, and by switching the delay time adding means, the deflection angle of the ultrasonic beam for sector scanning can be made positive or negative.

これによって、クロスポイントスイッチ内のスイツチ数
を大幅に少なくできるとともに高域周波数の劣化を防止
することができる。
As a result, the number of switches in the crosspoint switch can be significantly reduced, and deterioration of high frequencies can be prevented.

そして、第二課題を解決する第二発明においては、超音
波診断装置に接続される探触子の振動子素子数が32.
64個等の関係にあり、ある装置には32素子の探触子
、またある装置には64素子の探触子が接続されるとす
ると、1ブロツクを32素子に対応したクロスポイント
スイッチと遅延線とで整相回路ブロックを構成し、64
素子装置には整相回路ブロックを2個、即ち基板を2個
用いるという方法で対応する。
In the second invention for solving the second problem, the number of transducer elements of the probe connected to the ultrasonic diagnostic apparatus is 32.
64 elements, etc., and if a 32-element probe is connected to one device and a 64-element probe is connected to another device, one block is connected to a crosspoint switch corresponding to 32 elements and a delay. A phasing circuit block is constructed with the 64
The element device is handled by using two phasing circuit blocks, that is, two substrates.

〔実施例〕〔Example〕

以下、本発明の一実施例を図面によって説明する。 An embodiment of the present invention will be described below with reference to the drawings.

先ず、本発明の原理を第1図によって説明する。First, the principle of the present invention will be explained with reference to FIG.

第1図に示す整相回路は、第4図(c)に示す構成の整
相回路と同じ動作ができ、アナログスイッチの数を減ら
した整相回路である。その構成は第4図(c)の遅延線
30を2分割し、その遅延線に対してクロスポイントス
イッチ40A、40B(これらはクロスポイントスイッ
チ40の略1/4に当たる、)を並列的に配置し、遅延
線の出力を互いに相対するクロスポイントスイッチへ入
力可能としたものである。
The phasing circuit shown in FIG. 1 can perform the same operation as the phasing circuit having the configuration shown in FIG. 4(c), but has a reduced number of analog switches. Its configuration is to divide the delay line 30 in FIG. 4(c) into two, and to arrange crosspoint switches 40A and 40B (these correspond to approximately 1/4 of the crosspoint switch 40) in parallel to the delay line. However, the outputs of the delay lines can be input to mutually opposing crosspoint switches.

ここで、遅延線31と32は、各タップ間の遅延時間は
Tで、タップの数が0〜N/2及び(N/2)+O〜N
よりなる(N/2)+1個の遅延線である。ここにタッ
プ番号0及び(N/2)+Oは遅延量は零、Nは偶数で
ある。したがって、遅延線31と32の各々の総遅延時
間は(TXN/2)となり、第4図の構成における遅延
線30の総遅延時間(T X N)の172となってい
る。
Here, in the delay lines 31 and 32, the delay time between each tap is T, and the number of taps is 0 to N/2 and (N/2)+O to N.
There are (N/2)+1 delay lines consisting of (N/2)+1 delay lines. Here, the delay amount for tap numbers 0 and (N/2)+O is zero, and N is an even number. Therefore, the total delay time of each of delay lines 31 and 32 is (TXN/2), which is 172 of the total delay time (TXN) of delay line 30 in the configuration of FIG.

遅延線31の各タップには定電流信号のバッファ70を
介して、クロスポイントスイッチ41が接続されている
。このクロスポイントスイッチ41は、各々が入力端子
1,2.3・・・、CN/2)。
A crosspoint switch 41 is connected to each tap of the delay line 31 via a constant current signal buffer 70. This cross point switch 41 has input terminals 1, 2, 3, . . . , CN/2).

Slを有す信号線と、これまた各々が出力端子0゜1.
2,3.・・・、(N/2)を有す信号線と、前記各信
号線の交差点上に即ち((N/2)+1)x((N/2
)+1)個なるマトリックス上にアナログスイッチ50
を配置したものである。探触子の振動子素子からの各々
の信号電圧は、電圧−電流変換器60を介してクロスポ
イントスイッチ41に入力される。
A signal line with SL and each also has an output terminal 0°1.
2,3. ..., (N/2) and the intersection of each of the signal lines, that is, ((N/2)+1)x((N/2
)+1) Analog switch 50 on the matrix
is arranged. Each signal voltage from the transducer element of the probe is input to the crosspoint switch 41 via the voltage-current converter 60.

一方、遅延線32のタップには、上記遅延線31と同様
に、定電流信号のバッファ70を介して、クロスポイン
トスイッチ42に接続されている。このクロスポイント
スイッチ42は、上記クロスポイントスイッチ41と同
様((N/2)+1)X ((N/2)+1)なるマト
リックス上に図示のごとくアナログスイッチ50を配置
したもので、上記遅延線31のタップへ接続されるクロ
スポイントスイッチ関連の回路構成は同じである。
On the other hand, the tap of the delay line 32 is connected to the crosspoint switch 42 via a constant current signal buffer 70, similarly to the delay line 31 described above. Similar to the cross-point switch 41, this cross-point switch 42 has analog switches 50 arranged as shown on a matrix of ((N/2)+1)X((N/2)+1), and the delay line The circuit configuration related to the crosspoint switch connected to tap No. 31 is the same.

遅延線31の終端には、遅延線31の特性インピーダン
スと等しい抵抗、値Roの抵抗器が設けられ、その他端
は接地されている。この抵抗11R。
A resistor having a resistance equal to the characteristic impedance of the delay line 31 and a value Ro is provided at the end of the delay line 31, and the other end is grounded. This resistance is 11R.

の遅延線31側の端子には、端子1,2,3.・・・。The terminals on the delay line 31 side include terminals 1, 2, 3 . ....

N/2に印加される振動子素子数々からの信号は Oか
らTX”n(ここにはnはOから(N/2)までの任意
の整数)までの任意の値で遅延を与えた後それぞれが加
算合成された信号電圧が現われる。
The signals from the transducer elements applied to N/2 are delayed by an arbitrary value from O to TX'n (where n is any integer from O to (N/2)). A signal voltage obtained by adding and combining the respective signals appears.

そして、遅延線32の終端、即ち遅延線32の終端抵抗
器ROの一端には、端子(N/2)+1゜(N/2)+
2.・・・9Mに印加される振動子素子間々からの信号
にOからTXn(ここにnは0から(N/2)までの任
意の整数)までの任意の値で遅延を与えた信号電圧が現
われる。
At the end of the delay line 32, that is, at one end of the terminating resistor RO of the delay line 32, there is a terminal (N/2)+1°(N/2)+
2. ...The signal voltage applied to 9M is a signal voltage that is delayed by an arbitrary value from O to TXn (where n is an arbitrary integer from 0 to (N/2)) to the signal from between the transducer elements. appear.

一方、遅延線31の終端は、アナログスイッチ82を介
してクロスポイントスイッチ32の端子Szに接続され
ている。また、遅延線32の終端は、アナログスイッチ
81を介してクロスポイントスイッチ41の端子S1に
接続されている。ここでアナログスイッチ82を閉じ、
アナログスイツ81を開いておくと、クロスポイントス
イッチ42の端子S2よりクロスポイントスイッチ41
及び遅延線31を通過した信号は、アナログスイッチ5
0のスイッチの開閉により遅延線32のタップ(N/2
)+O,(N/2)+1.・・・、Nのいずれかに印加
され、0からnTまでの遅延を与えられるとともに、端
子(N/2)+1.(N/2)+2.・・・1Mに印加
された信号とともに加算され、遅延線32の終端に現わ
れる。このときのnは0からNまでの整数である。つま
り、端子1゜2.3.・・・9N/2の各々に印加され
た信号は。
On the other hand, the terminal end of the delay line 31 is connected to the terminal Sz of the crosspoint switch 32 via an analog switch 82. Further, the terminal end of the delay line 32 is connected to the terminal S1 of the crosspoint switch 41 via an analog switch 81. Now close the analog switch 82,
When the analog switch 81 is opened, the cross point switch 41 is connected to the terminal S2 of the cross point switch 42.
The signal that has passed through the delay line 31 is sent to the analog switch 5.
The delay line 32 tap (N/2
)+O, (N/2)+1. . . , is applied to either terminal (N/2)+1. (N/2)+2. . . . is added together with the signal applied to 1M and appears at the end of the delay line 32. At this time, n is an integer from 0 to N. In other words, terminal 1°2.3. ...The signals applied to each of 9N/2 are.

それぞれ0から(N/2)XTまで時間間隔Tで任意の
遅延が遅延線31で与えられた後加算され、さらにこの
加算された信号は、アナログスイッチ82を介し端子S
tに印加され、クロスポイントスイッチ32により、遅
延線32のタップ(N/2)+O,(N/2)+1.−
、Nのいずれかに印加され、さらに0から(N/2)X
Tまでなる時間間隔で任意の遅延を与えた後端子(N/
2)+1.(N/2)+2.・・・9Mに印加された信
号とともに加算された遅延線32の終端に出力された後
アナログスイッチ90により出力信号を取り出すことが
できる。ここに端子1,2,3.・・・。
An arbitrary delay is given by the delay line 31 from 0 to (N/2)
t, and the crosspoint switch 32 causes the delay line 32 to have taps (N/2)+O, (N/2)+1 . −
, N, and further from 0 to (N/2)X
After giving an arbitrary delay at the time interval up to T, the terminal (N/
2)+1. (N/2)+2. . . . The output signal can be taken out by the analog switch 90 after being outputted to the terminal end of the delay line 32 which is added together with the signal applied to 9M. Here are terminals 1, 2, 3. ....

N/2に印加される信号に与えられる遅延は0からNT
、そして端子(N/2)+1.(N/2)+2.・・・
2Mに印加される信号に与えられる遅延は、Oから(N
/2)XTとなる。
The delay given to the signal applied to N/2 is from 0 to NT
, and terminal (N/2)+1. (N/2)+2. ...
The delay imparted to the signal applied to 2M is from O to (N
/2) Becomes XT.

電子セクタ走査を行なうため、振動子素子からの信号、
ここでは端子1,2,3.・・・9Mに印加される信号
に与えるべき遅延時間でiは集束を考慮に入れない場合
次式のごとくなる。
To perform electronic sector scanning, the signal from the transducer element,
Here, terminals 1, 2, 3. . . 9M is the delay time to be given to the signal applied to the signal. When i does not take convergence into consideration, it is as shown in the following equation.

(1: (i  1)d/cXsinθここに、iは1
,2,3.・・・Mなる端子番号、dは振動子素子間の
ピッチ、θは超音波ビームの偏向角、Cは生体中での音
速である。
(1: (i 1)d/cXsinθHere, i is 1
, 2, 3. . . . M is the terminal number, d is the pitch between the transducer elements, θ is the deflection angle of the ultrasonic beam, and C is the sound speed in the living body.

電子セクタ走査を行う場合振動子素子が端部になる程大
きな遅延時間を有すればよく、全ての振動子素子からの
信号に同等の最大遅延時間NTを与える必要はない、一
方の端部の振動子素子Mに最大遅延時間を与え、他端の
振動子素子1には最小の遅延時間となればよい、このと
きには、アナログスイッチ82を開き、アナログスイッ
チ81を閉じ、素子Mの信号を端子Nへ、そして素子1
の信号を端子Oへ入力するように制御すれば良い。
When performing electronic sector scanning, it is sufficient that the transducer element has a larger delay time as it approaches the edge, and it is not necessary to give the same maximum delay time NT to the signals from all transducer elements. It is sufficient to give the maximum delay time to the transducer element M and the minimum delay time to the transducer element 1 at the other end.In this case, open the analog switch 82, close the analog switch 81, and connect the signal of the element M to the terminal. to N, and element 1
It is only necessary to control the signal so that it is input to the terminal O.

また、超音波ビームの偏向を上記と反対方向の一〇に偏
向する場合、端子1に最大の遅延時間を与え、端子番号
の数が減少するに従い、遅延時間を大きくし端子番号1
には最大の遅延時間を与えるように上記と逆に制御すれ
ばよい。このためには、アナログスイッチ81を開き、
アナログスイッチ82を閉じ、アナログスイッチ90を
介して遅延線32の終端より信号を取り出すことにより
各信号は適切な遅延が与えられた後加算される。
In addition, when deflecting the ultrasonic beam to 10 in the opposite direction to the above, the maximum delay time is given to terminal 1, and the delay time is increased as the number of terminal numbers decreases.
The control should be reversed to the above to give the maximum delay time. To do this, open the analog switch 81 and
By closing analog switch 82 and taking the signals from the end of delay line 32 via analog switch 90, each signal is given an appropriate delay and then summed.

以上説明より第1図に示した整相回路は、第4図(Q)
に示した整相回路と同様に電子セクタ走査用の整相回路
に用いられることが明らかとなった。第1図と第4図(
Q)とを比較すると、クロスポイントスイッチにおける
アナログスイッチの数は、MX (1+N)から(2+
M)X (1+N/2)となり、MあるいはNが大きい
場合、はぼ1/2となり大1】に減少させることができ
る。
From the above explanation, the phasing circuit shown in Fig. 1 is as shown in Fig. 4 (Q).
It has become clear that this phasing circuit can be used in a phasing circuit for electronic sector scanning, similar to the phasing circuit shown in . Figures 1 and 4 (
Q), the number of analog switches in the crosspoint switch increases from MX (1+N) to (2+
M)

以上、クロスポイントスイッチと延長線からなる回路を
2分割した例により本発明の原理及び動作を説明したが
、これを3分割以上に分割した構成も可能である。
The principle and operation of the present invention have been explained above using an example in which the circuit consisting of a cross-point switch and an extension line is divided into two parts, but a configuration in which the circuit is divided into three or more parts is also possible.

以下、前記原理を適用した整相回路の一構成例を第2図
により説明する。実用の整相回路においては、遅延時間
の設定分解能を上げるため通常遅延時間が短い遅延線と
遅延時間の長い遅延線とを複数組合せることが行なわれ
る。第2図においては、このように遅延時間の設定分解
能を上げるため、遅延線31と32のタップ間の遅延時
間Tと等しく、かつ多数のタップを有する遅延線101
が、探触子の振動子素子からの信号線毎に設けである。
An example of the configuration of a phasing circuit to which the above principle is applied will be described below with reference to FIG. In a practical phasing circuit, a plurality of delay lines with a short delay time and delay lines with a long delay time are usually combined in order to increase the setting resolution of the delay time. In FIG. 2, in order to increase the setting resolution of the delay time, the delay line 101 has a delay time equal to the delay time T between the taps of the delay lines 31 and 32 and has a large number of taps.
is provided for each signal line from the transducer element of the probe.

この遅延線101のタップからの信号は、アナログマル
チプレクサ102により選択することにより上記の遅延
時間Tよりさらに小さい分解能で遅延時間を設定できる
ようになっている。
The signals from the taps of the delay line 101 are selected by the analog multiplexer 102 so that the delay time can be set with a resolution even smaller than the delay time T described above.

電圧−電流変換器60、クロスポイントスイッチ41,
42.アナログスイッチ50.定電流バッファ70.遅
延線31.32は第1図と同じ構成、動作のものである
。ここでアナログスイッチ91と92は第1図における
アナログスイッチ81と90.及び82と90の機能を
併せ持つもので、電子セクタ走査における超音波ビーム
の偏向角θを正方向の0から負方向の(−〇)にするた
め最大遅延を端子1とMとのどちらに与えるかを制御す
るとともに、遅延線31と32とを通過して加算された
信号を出力端子へ導く役割を果たすものである。
voltage-current converter 60, cross point switch 41,
42. Analog switch 50. Constant current buffer 70. The delay lines 31 and 32 have the same structure and operation as in FIG. Here, analog switches 91 and 92 are analog switches 81 and 90 . It combines the functions of 82 and 90, and gives the maximum delay to either terminal 1 or M in order to change the deflection angle θ of the ultrasonic beam in electronic sector scanning from 0 in the positive direction to (-0) in the negative direction. It also plays the role of guiding the added signal through the delay lines 31 and 32 to the output terminal.

・ アナログマルチプレクサ102.クロスポイントス
イッチ31,32.アナログスイッチ91゜92などの
一連の開閉の動作は制御器105により、電子セクタ走
査時の超音波ビームの偏向角、集束点に応じた遅延時間
を各チャネル毎に設定するよう行なわれる。
- Analog multiplexer 102. Cross point switches 31, 32. A series of opening and closing operations of the analog switches 91 and 92 are performed by the controller 105 so as to set a delay time for each channel according to the deflection angle and focal point of the ultrasonic beam during electronic sector scanning.

次に、第3図に示すように集束性を持たせて第2図の装
置を動作させる説明をする。第2図に示す1〜Mの各端
子に対応した振動子素子群が配列されてなる探触子によ
って超音波ビームは十〇〜0〜−〇の間で走査される。
Next, a description will be given of how the apparatus shown in FIG. 2 is operated with convergence as shown in FIG. The ultrasonic beam is scanned between 10 and 0 to -0 by a probe in which groups of transducer elements corresponding to terminals 1 to M shown in FIG. 2 are arranged.

走査開始に当って。At the start of scanning.

制御器105はアナログスイッチ91をb接点閉、アナ
ログスイッチ92をa接点閉とし、超音波ビームの偏向
角θが正の方向から走査される状態と色 する、そして、走査上開始する。超音波ビームは図示を
省略した送波回路、遅延回路を介して振動子素子群1〜
Mから十〇方向へ放射される。そして、被検体内で反射
された超音波を同一の振動子素子群1〜Mで受信増巾し
第2図の端子1〜Mへノ 受信信号を送る。この受信信号は、制御器105によっ
て制御される整相回路によって、被検体内のP点に集束
性を持たせるように遅延制御される。
The controller 105 closes the B contact of the analog switch 91 and closes the A contact of the analog switch 92 to indicate that the deflection angle θ of the ultrasonic beam is scanned from the positive direction, and then starts scanning. The ultrasonic beam is transmitted to the transducer element groups 1 through 1 through a transmitting circuit and a delay circuit (not shown).
It is radiated from M in 10 directions. Then, the reception of the ultrasonic waves reflected within the subject is amplified by the same transducer element group 1-M, and the received signals are sent to the terminals 1-M shown in FIG. This received signal is delayed by a phasing circuit controlled by the controller 105 so as to focus on point P within the subject.

この遅延制御は第3図に示す幾何学的関係のもとに行わ
れる。すなわち、各振動子の中心とP点を通る直線を引
き、P点とこのP点最も離れた振動子の中心との距離を
半径とする円弧を描き、この円弧と上記各振動子の中心
とP点を通る直線との交点を求め、この交点と各振動子
の中心との距離Lorを求める@ Lotを生体中の音
速で割ったものが遅延時間τ魚′となる。この遅延時間
τ量′を遅延線11と遅延線31.32とによって設定
する。
This delay control is performed based on the geometric relationship shown in FIG. That is, draw a straight line passing through the center of each vibrator and point P, draw an arc whose radius is the distance between point P and the center of the vibrator furthest from point P, and connect this arc to the center of each vibrator above. Find the point of intersection with the straight line passing through point P, and find the distance Lor between this point of intersection and the center of each vibrator. The delay time τ' is obtained by dividing @Lot by the speed of sound in the living body. This delay time τ amount' is set by the delay line 11 and delay lines 31 and 32.

このため、制御器105はアナログマルチプレクサ10
2.クロスポイントスイッチ41.42とを制御し、各
端子1〜Mと遅延線101,31゜32の所定端子へ接
続する。これによって、各端子1〜Mに入力した受信信
号には上記遅延時間τi′ が与えられ、これらの信号
は遅延線31゜32内で加算され、アナログスイッチ9
2のa接点を介して出力され、図示を省略した増幅検波
回路、ディジタルスキャナコンバータへ送られる。
Therefore, the controller 105 controls the analog multiplexer 10
2. The cross point switches 41 and 42 are controlled to connect each terminal 1 to M to a predetermined terminal of the delay lines 101, 31 and 32. As a result, the above-mentioned delay time τi' is given to the received signals inputted to each terminal 1 to M, and these signals are added within the delay lines 31 and 32, and the analog switch 9
The signal is outputted through the a contact point No. 2 and sent to an amplification/detection circuit and a digital scanner converter (not shown).

この動作をθが減する方向へ微小角度ずつ遅延時間を逐
次変更して繰り返して行ない、0=0となったときには
、アナログスイッチ91をa接点に切り換え、次いで0
が負方向となったときには。
This operation is repeated by successively changing the delay time in small increments in the direction of decreasing θ, and when 0=0, the analog switch 91 is switched to the a contact, and then 0
When is in the negative direction.

アナログスイッチ92をb接点に切り換える制御指令を
制御器105が発する。そして、θが図示や−0に至る
まで上記動作を行ない図示扇形領域の一走査を終える。
The controller 105 issues a control command to switch the analog switch 92 to the b contact. Then, the above operation is performed until θ reaches -0 as shown in the figure, and one scan of the fan-shaped area shown in the figure is completed.

各動作毎における受信信号は前述同様に増幅検波され、
ディジタルスキャンコンバータへ送られ画像化されCR
Tにて表示される。
The received signal for each operation is amplified and detected in the same way as described above.
It is sent to a digital scan converter and converted into an image for CR.
Displayed at T.

次に1本発明の第二実施例について第6図を用いて説明
する。第6図は第2図にて破線で示した部分を1つのブ
ロックとして構成したもの、つまり、1〜N/2なる振
動子数だけの信号線と81なる第一信号線と、0〜N/
2なる第2信号線と。
Next, a second embodiment of the present invention will be described using FIG. 6. FIG. 6 shows a configuration in which the part indicated by the broken line in FIG. /
2, a second signal line.

第一信号線と第2信号線との各交点にスイッチ50を設
けたクロスポイントスイッチ41と、クロスポイントス
イッチ41の第二信号線に接続されるタップ付遅延線3
1と、遅延線31の出力ラインに接続されたアナログス
イッチ91とより成る回路を1つの基板200上に配置
したものである。いま、振動子素子がM/2なる探触子
を接続する超音波診断装置が構成すると、その整相回路
は基板200を1個装置に組み込むだけで良いことにな
る。そして、振動子素子数が2倍のM個の超音波診断装
置を構成する場合には、第6図の破線で示すように基板
200を更に1個追加し、それらのクロスポイントスイ
ッチ及びスイッチ91を第2図に示すように制御器で制
御することで容易に整相回路を構成することができる。
A cross-point switch 41 with a switch 50 provided at each intersection of the first signal line and the second signal line, and a tapped delay line 3 connected to the second signal line of the cross-point switch 41
1 and an analog switch 91 connected to the output line of the delay line 31 are arranged on one substrate 200. If an ultrasonic diagnostic apparatus is constructed in which a probe with a transducer element of M/2 is connected, the phasing circuit will only need to incorporate one board 200 into the apparatus. When configuring an M ultrasonic diagnostic apparatus with twice the number of transducer elements, one more board 200 is added as shown by the broken line in FIG. By controlling this with a controller as shown in FIG. 2, a phasing circuit can be easily constructed.

したがって、この実施例によれば、振動子素子数を多く
して高画質化を計った装置と、振動子素子数の少い低価
格を狙った装置とのいずれの装置に対しても、整相回路
は容易に構成できる。そして、またブロック化した整相
回路を基板化、共通化しているため量産化も可能となり
、単にアナログスイッチ50の数の減少によるコスト低
下よりも多くのコスト引き下げが可能となる。
Therefore, according to this embodiment, it is possible to set up both a device with a large number of transducer elements to achieve high image quality and a device with a small number of transducer elements aimed at low cost. Phase circuits are easy to construct. Further, since the block phasing circuit is made into a substrate and shared, mass production is possible, and the cost can be reduced more than simply by reducing the number of analog switches 50.

なお、上記第二実施例にて、アナログスイッチ91は基
板上に設けた例を示したが、これは基板外に設けても良
い、そうすることによって、整相回路ブロックを1個し
か用いない装置のコスト低下に有効である。
In the second embodiment, the analog switch 91 is provided on the board, but it may also be provided outside the board. By doing so, only one phasing circuit block is used. This is effective in reducing equipment costs.

〔発明の効果〕〔Effect of the invention〕

本発明の整相回路によれば、従来の方法に比べ、遅延線
を複数に分割することにより分割数に応じて必要なアナ
ログスイッチの個数をほぼ1/2゜1/3.・・・と減
少させることができるため1部品点数の減少による装置
の小型化低価格化ができる。
According to the phasing circuit of the present invention, by dividing the delay line into a plurality of parts, the number of analog switches required can be reduced by approximately 1/2 to 1/3, depending on the number of divisions, compared to conventional methods. Because the number of parts can be reduced, the device can be made smaller and lower in price.

また上記アナログスイッチの個数を減らすことにより、
関連する回路に付、加する静電容量が減少するため通過
周波数限界が向上し、容易に性能改善できるなどの効果
がある。そして、それを超音波診断装置に用いることに
より画質向上、コストダウン等が計れる。
Also, by reducing the number of analog switches mentioned above,
Since the capacitance added to related circuits is reduced, the pass frequency limit is improved, and performance can be easily improved. By using it in an ultrasonic diagnostic device, it is possible to improve image quality and reduce costs.

また第2図の実施例に示したように遅延線31と32の
複数の同様の遅延回路から構成されていることは、振動
子素子を少なくし且つそのため必要な最大遅延時間も小
さくした、性能はあまり高くないが低価格の装置に対し
、第2図の構成の遅延回路の一部のみで整相回路を構成
することができる。即ち遅延線31のみからなる遅延回
路でM/2チャネルの探触子の整相回路が実現できる。
Furthermore, the fact that the delay lines 31 and 32 are constructed from a plurality of similar delay circuits as shown in the embodiment of FIG. Although it is not very expensive, it is possible to construct a phasing circuit using only a part of the delay circuit of the configuration shown in FIG. 2 for a low-cost device. That is, a phasing circuit for an M/2 channel probe can be realized with a delay circuit consisting only of the delay line 31.

このように本発明の方法を用いるとチャネル数の多い装
置に対して一種の回路を複数組み合わせることにより対
応でき各種性能の異なる装置に対し回路の標準化が容易
に図れる特徴を持っている。
As described above, the method of the present invention has the feature that it can be used for devices with a large number of channels by combining a plurality of circuits of one type, and that circuits can be easily standardized for devices with different performances.

この分割された回路Aは電子リニア、超音波診断装置の
整相回路にも用いられる。
This divided circuit A is also used for electronic linear and phasing circuits of ultrasonic diagnostic equipment.

【図面の簡単な説明】[Brief explanation of the drawing]

第1図は本発明の超音波診断装置用整相回路の原理を説
明する回路図、第2図は第1図に示す原理を用いて構成
した整相回路の一構成例を示す回路図、第3図は電子セ
クタ走査における超音波ビームの偏向角と集束とに対す
る遅延時間の関係を説明する模式図、第4図は従来の整
相回路の代表的な例を説明する図、第5図は第4図(c
)の詳細を示す図、第6図は基板化した整相回路の組合
せを説明する図である。 1〜M・・・受信信号端子、30〜32・・・タップ付
遅延線、40〜42・・・クロスポイントスイッチ、0
〜N/2〜N・・・遅延線タップ、50・・・アナログ
スイッチ、60・・・電圧−電流変換器、7o・・・定
電流バッファ、81.82・・・アナログスイッチ、9
0〜92・・・アナログスイッチ、101・・・タップ
付遅延線、102・・・アナログマルチプレクサ、第 
1図 第3 回 第40 第5回
FIG. 1 is a circuit diagram illustrating the principle of a phasing circuit for an ultrasonic diagnostic apparatus according to the present invention, and FIG. 2 is a circuit diagram illustrating an example of the configuration of a phasing circuit constructed using the principle shown in FIG. 1. FIG. 3 is a schematic diagram illustrating the relationship between the delay time and the deflection angle and focusing of the ultrasonic beam in electronic sector scanning, FIG. 4 is a diagram illustrating a typical example of a conventional phasing circuit, and FIG. 5 is shown in Figure 4 (c
), and FIG. 6 is a diagram illustrating a combination of phasing circuits formed into a substrate. 1-M... Reception signal terminal, 30-32... Delay line with tap, 40-42... Cross point switch, 0
~N/2~N... Delay line tap, 50... Analog switch, 60... Voltage-current converter, 7o... Constant current buffer, 81.82... Analog switch, 9
0 to 92... Analog switch, 101... Delay line with tap, 102... Analog multiplexer, No.
Figure 1 3rd 40th 5th

Claims (1)

【特許請求の範囲】 1、複数の配列振動子によつて超音波ビームを送受信し
被検体の断面を扇形走査して映像化する超音波診断装置
用整相回路であつて、振動子数より少くとも1個多い信
号が入力される複数の第1の信号線とこの信号線に交差
する複数の第2の信号線との交点にスイッチを設けてな
るクロスポイントスイッチと、このクロスポイントスイ
ッチの第2の信号線群を入力ラインとするタップ付遅延
線とより成る組合せ回路を複数組設けるとともに、前記
各タップ付遅延線の出力を相対するクロスポイントスイ
ッチの振動子のない信号線の入力端子へ択一的に切換接
続する遅延時間加算手段を設けて構成したことを特徴と
する超音波診断装置用整相回路。 2、請求項1記載の整相回路を備えたことを特徴とする
電子セクタ走査形超音波診断装置。 3、各々が振動子から信号が入力される複数の信号線よ
り少くとも1本多い信号線から成る第1の信号線と、こ
の第1の信号線に交差する複数の第2の信号線と、前記
第1の信号線と第2の信号線との交点に設けられた複数
のスイッチとより成るクロスポイントスイッチと、この
クロスポイントスイッチの第2の信号線群を入力ライン
とするタップ付遅延線とを単一の基板上に回路形成配置
し、前記タップ付遅延線の出力端子にその出力を2方向
に切り換えるスイッチを接続した整相回路。
[Claims] 1. A phasing circuit for an ultrasonic diagnostic device that transmits and receives ultrasound beams using a plurality of arrayed transducers to scan a cross section of a subject in a fan-shaped manner and visualize the image, which A cross-point switch in which a switch is provided at the intersection of a plurality of first signal lines into which at least one more signal is input and a plurality of second signal lines that intersect the signal lines; A plurality of sets of combinational circuits each consisting of a tapped delay line using the second signal line group as an input line are provided, and an input terminal of a signal line without an oscillator of a cross-point switch that faces the output of each tapped delay line. What is claimed is: 1. A phasing circuit for an ultrasonic diagnostic apparatus, characterized in that the phasing circuit is configured to include delay time adding means selectively connected to the phasing circuit. 2. An electronic sector scanning ultrasonic diagnostic apparatus comprising the phasing circuit according to claim 1. 3. A first signal line, each of which has at least one more signal line than the plurality of signal lines into which signals are input from the vibrator, and a plurality of second signal lines that intersect with the first signal line; , a crosspoint switch consisting of a plurality of switches provided at the intersection of the first signal line and the second signal line, and a tapped delay using the second signal line group of the crosspoint switch as an input line. A phasing circuit in which a circuit is arranged on a single substrate on a single substrate, and a switch for switching the output in two directions is connected to the output terminal of the tapped delay line.
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