JPH0979999A - 円形容器内面検査装置 - Google Patents

Abstract

(57)【要約】 【課題】ビール用アルミ缶のような円形（円筒状）容器
内面の画像から、容器下方の画像濃度変化が大きく複雑
な領域に発生する凹みを高精度に検出する。 【解決手段】図は容器中心Ｏを通る放射状の走査線上の
画像濃度の分布を示す。中心Ｏから所定距離ｄ１隔てた
点より所定区間ｄ２内を探索し（Ａ）、濃度最小の基準
画素Ｐｋを見付け（Ｂ）、Ｐｋ点より所定距離ｄ３離れ
た点から所定巾の第１計測区間ｄ４内の各画素について
（Ｃ）、Ｐｋ点の画素濃度との濃度差の総和としての画
像濃淡積分値Ｓ１を求める（Ｄ）。同様にＰｋ点より所
定距離ｄ５離れた点から所定巾の第２計測区間ｄ６の各
画素について（Ｅ）、画像濃淡積分値Ｓ２を求め
（Ｆ）、｜Ｓ１−Ｓ２｜が所定許容値を上回る時、凹み
欠陥有と判定する。

Description

【発明の詳細な説明】

【０００１】

【発明の属する技術分野】本発明は、例えばコンベアな
どで搬送されるビール缶などの円形容器内面を検査し、
容器の変形・異物・ゴミ・傷などを検出する画像処理装
置としての円形容器内面検査装置に関する。なお、以下
各図において同一の符号は同一もしくは相当部分を示
す。

【０００２】

【従来の技術】図２は一例としてビール用アルミ缶の容
器を上面より観測した場合の高輝度部の説明図で、同図
（Ａ）は缶容器の上面（画像）図、同図（Ｂ）は側断面
図である。そして１０２は容器、１０１はこの容器１０
２を上方から照らすリング状の照明器、１０３は口部の
高輝度部、１０４は底部の高輝度部である。このように
リング照明器１０１を用いて容器１０２の内面に光線を
照射することにより、容器内面の口部と底部に夫々１０
３，１０４のような高輝度部が発生する。特に缶などの
ように容器内面に金属光沢のある場合は顕著である。

【０００３】図３（Ｂ）は容器１０２の上面画像（図３
（Ａ））に対する走査線Ｑ−Ｑ１上の濃度変化を示した
ものであるが、濃度変化の特徴よりＷ１〜Ｗ５の５つの
領域に分類される。第１の領域Ｗ１は口部高輝度部１０
３であり、第２の領域Ｗ２は濃度変化が比較的小さい容
器側面上中部であり、第３の領域Ｗ３は図２で述べた照
明１０１による光線があまり届かないため、他の領域よ
り暗い容器側面下部であり、第４の領域Ｗ４は底部高輝
度部１０４であり、第５の領域Ｗ５は底部である。

【０００４】従来はこれらの領域Ｗ１〜Ｗ５に夫々ウイ
ンドウを設け、領域の光学的な特性に応じて黒汚れ（黒
点）や白汚れ（白点）の不良を検出するためのしきい値
を設定していた。このような微小の欠陥を検出する方法
としては、例えば対象画像の走査によって得られたアナ
ログのビデオ信号（アナログ濃淡画像信号）をＡ／Ｄ変
換してなる８ビットなどの多値の濃淡画像信号を所定の
しきい値で２値化する方法や、前記のビデオ信号を微分
して欠陥信号を抽出する微分法などが知られている。こ
の微分法の場合、対象物の外形の輪郭部でも微分信号が
出るが輪郭部では微分によって正方向パルス，負方向パ
ルスのいずれか一方が発生するのに対し、微小欠陥部で
は正方向パルスと負方向パルスが同時に発生することを
利用して欠陥部を抽出することができる。

【０００５】即ちラスタ走査に基づくアナログ濃淡画像
信号を微分してなる信号Ｐ（Ｘ，Ｙ）についての着目点
（座標値Ｘ＝ｉ，Ｙ＝ｊ）における値Ｐ（ｉ，ｊ）と、
この着目点よりＸ方向走査線上の前，後に夫々所定の微
小の画素数α，βだけ離れた点における値Ｐ（ｉ−α，
ｊ），Ｐ（ｉ＋β，ｊ）との間に、

【０００６】

【数１】 Ｐ（ｉ，ｊ）−Ｐ（ｉ−α，ｊ）＞ＴＨ１ ・・・（１） Ｐ（ｉ＋β，ｊ）−Ｐ（ｉ，ｊ）＞ＴＨ１ ・・・（２） （但しＴＨ１は所定のしきい値（正値）とする）上式
（１）及び（２）の関係があれば、この着目点における
不良検出のための２値化関数値ＰＤ（ｉ，ｊ）＝１とし
てこの着目点を黒レベル不良の点とし、それ以外の場合
はＰＤ（ｉ，ｊ）＝０としてこの着目点を正常の点とす
るものである。

【０００７】次に従来の容器側面部の凹みの検出方法に
ついて説明する。図３（Ｃ）は容器１０２の上面画像
（図３（Ａ））に示すように容器側面に凹み１０５が発
生した場合における、この凹み１０５の部分を通る走査
線Ｑ′−Ｑ１′上の濃度変化を示す。図４は図３（Ｂ）
の各ウインドウ領域（Ｗ１〜Ｗ５）に対応して、判定し
きい値ＴＨＰ１〜ＴＨＰ４を割付けしたものである。な
お、しきい値ＴＨＰ３はウインドウＷ３及びＷ４に共通
としてあるため、図４では４領域となっている。

【０００８】図５は図４の濃度値を差分し、その絶対値
を表したものである。凹み１０５はしきい値ＴＨＰ２よ
り、差分により生じる濃度変化量が大きくなるため、欠
陥画素として検出される。このときの欠陥の判定は次式
（３）によって行われる。

【０００９】

【数２】 ｜Ｐ（ｉ，ｊ）−Ｐ（ｉ−α，ｊ）｜＞ＴＨＰｎ ・・・（３） 但し Ｐ（ｉ，ｊ）： 走査線上の着目点（座標値Ｘ＝ｉ，Ｙ
＝ｊ）における画素濃度、 Ｐ（ｉ−α，ｊ）： 着目点よりＸ方向走査線上の手前
に微小の画素数αだけ離れた点における画素濃度、 ＴＨＰｎ： 着目点の領域（番号をｎとする）の判定し
きい値。

【００１０】図６は前記式（３）による欠陥画素検出の
ためのハードウェアブロック図であり、放射アドレス発
生器４より、放射状にフレームメモリ１内の検査画像を
読出し、ＦＩＦＯ２１にて上式での画素数αに相当する
量だけ画像データを遅延させ、減算器２４にて、Ｐ
（ｉ，ｊ）とＰ（ｉ−α，ｊ）との差分値を求め、絶対
値変換回路２５により差分値を絶対値として、比較器２
６にてしきい値と比較し、欠陥画素を２値化出力として
出力する。カウンタ２７は、容器中心からの走査方向に
対する距離を表現し、しきい値テーブル２３によって各
ウインドウ領域の判定しきい値ＴＨＰｎを比較器２６へ
供給する。

【００１１】

【発明が解決しようとする課題】図４における凹み１０
５は、容器内面でも濃度変化の比較的小さい領域に発生
したものであって、図５のこの凹み１０５の部分の判定
しきい値ＴＨＰ２も、他の領域の比べ小さい値を設定す
ることができる。しかしながら、容器凹み１０５がこの
位置よりも下の位置に発生した場合には、判定しきい値
がＴＨＰ３の領域となって、もともと濃度変化の大きい
領域となってしまうため、凹み検出の感度が相当に低下
してしまうという問題があった。

【００１２】また、図７は底部に突出部のある円形容器
の内面の高輝度部の例を示すが、この図７（Ｂ）のよう
に容器底面に突出部１０２ａのような成形加工が行われ
ている場合は、容器底面部の反射が容器底面の加工が単
純なものに比べて複雑となり、複数の底部高輝度部１０
４−１，１０４−２が出現して、濃度変化がより複雑と
なって、ＴＨＰ３として設定できるしきい値がより低感
度とならざるを得ないという問題がある。

【００１３】そこで本発明は、以上のように従来は検出
が困難であった高さが容器底面より中程までに発生す
る、つまり容器側面下部の凹みを高精度に検出する円形
容器内面検査装置を提供することを課題とする。

【００１４】

【課題を解決するための手段】前記の課題を解決するた
めに、請求項１の円形容器内面検査装置は、軸対称の円
形容器（１０２）と同軸のリング型照明手段（リング照
明器１０１）を介しこの円形容器の内面側を照明したう
え、ＴＶカメラを介しこの軸方向からこの円形容器の照
明面を撮像し、この撮像された円形容器の同心円状の画
像を含む撮像画面の走査によって得られる濃淡画像信号
のＡ／Ｄ変換信号としての多値濃淡画像信号（ＰＯ）を
前記撮像画面に対応する画面上の画像データとしてフレ
ームメモリ（３０１）に記憶すると共に、（画像エッジ
検出回路３１４，位置ズレ量決定回路３１５を介し）こ
のフレームメモリの画像データの画面上における円形容
器の中心位置（Ｏ）を検出し、（放射アドレス発生器３
０４を介し）この円形容器の中心を通る放射状の走査線
に沿って複数回、そのつど放射状走査線の角度を変えて
この画面の画像データを走査し、円形容器の欠陥を検出
する円形容器内面検査装置であって、この放射状走査線
上の円形容器の中心位置から画素数で数えて予め定めた
距離（ｄ１）にある予め定めた巾の区間（基準画素探索
区間ｄ２）内で濃度値の最小の画素を検出して基準画素
（Ｐｋ）とし、同じくこの放射状走査線上の、この基準
画素から画素数で数えて夫々予め定めた距離（ｄ３，ｄ
５など）にあって予め定めた巾（ｄ４，ｄ６など）を持
つ複数の計測区間（第１，第２計測区間など）の各々に
ついて、当該計測区間内の各画素の濃度値の前記基準画
素の濃度値からの差を総和した画像濃淡積分値（Ｓ１，
Ｓ２など）を求め、隣接する計測区間同士のこの画像濃
淡積分値の差（｜Ｓ１−Ｓ２｜）が予め定めた許容量を
上回るとき、当該容器に凹み欠陥が有ると判定する手段
（不良検出回路３１２，不良検出判定回路３１３）を備
えたものとする。

【００１５】また請求項２の検査装置では、請求項１に
記載の検査装置において、前記許容量は前記放射状走査
線の角度に応じて可変選択できるものであるようにす
る。また請求項３の検査装置では、請求項１又は２に記
載の検査装置において、前記放射状走査線上の判定に用
いられる各画素の円形容器の中心位置からの画素数で数
えた距離は、この放射状走査線の角度に応じて補正され
るものであるようにする。

【００１６】ここで本発明の原理を説明する。図１は本
発明の原理を示す図である。図１は図７のような底部形
状の容器についての、図４の拡大部Ｍに相当する画像の
濃淡変化を示した図で、（Ａ）〜（Ｆ）は本発明に基づ
く処理の順序を示す。即ち（Ａ）においては、算出され
た容器中心Ｏからの距離ｄ１により、区間ｄ２の位置決
め（基準画素探索区間の設定）を行い、（Ｂ）において
は、区間ｄ２での最低濃度値の画素（基準画素という）
Ｐｋを算出する。次に（Ｃ）においては、基準画素Ｐｋ
からの距離ｄ３により、第１計測区間ｄ４を設定し、
（Ｄ）においては、第１計測区間ｄ４内の各画素の濃度
値の基準画素Ｐｋの濃度値からの差をこの計測区間内で
積分して、第１計測区間の画像濃淡積分値Ｓ１を算出す
る。次に（Ｅ）においては、基準画素Ｐｋからの距離ｄ
５により、第１計測区間ｄ４に隣接する第２計測区間ｄ
６を設定し、（Ｆ）においては、第２計測区間ｄ６内の
各画素の濃度値の基準画素Ｐｋの濃度値からの差を積分
して画像濃淡積分値Ｓ２を算出する。

【００１７】以降も必要に応じ同様に第ｎ計測区間まで
順次隣接する計測区間の設定と画像濃淡積分値の算出を
行う（ここで第（ｎ−１）計測区間と第ｎ計測区間の夫
々の画像濃淡積分値をＳ_n-1 ，Ｓ_n とする）。その後、
隣接する計測区間同士の前記画像濃淡積分値の差異量｜
Ｓ１−Ｓ２｜，・・・，｜Ｓ_n-1 −Ｓ_n ｜を算出して、
差異許容量と比較し、欠陥の有無を判定する。

【００１８】なお、初期設定時のｄ３〜ｄ６など計測区
間を設定するパラメータについては、隣接する計測区間
同士で通常、前記画像濃淡積分値がほぼ等しくなるよう
に設定する必要がある。

【００１９】

【発明の実施の形態】次に本発明の一実施例について説
明する。図８は、本発明による円形容器内面検査装置の
要部の構成を示すブロック図である。同図においてＰＯ
は図外のＴＶカメラの画面をラスタ走査して得られるビ
デオ信号をＡ／Ｄ変換してなる（例えば８ｂｉｔ）の濃
淡画像信号、３０１はこの多値濃淡画像信号ＰＯを入力
し、多値画面データとして記憶するフレームメモリ、３
０３はこのフレームメモリに対するラスタアドレスを発
生するラスタアドレス発生器である。

【００２０】３０４は放射状に画像走査を行うためにフ
レームメモリ３０１に対してアドレス発生を行う放射ア
ドレス発生器、３０２は図３（Ｂ）に示したようなリン
グ状のウインドウ別のマスクパターンが格納されている
ウインドウメモリ、３０５はこのウインドウメモリ３０
２に対し発生器３０３と同様にラスタアドレスを発生す
るラスタアドレス発生器、３０６は同じくこのウインド
ウメモリ３０２に対し発生器３０４と同様に放射状走査
のためのアドレス発生を行う放射アドレス発生器であ
る。そしてこれら発生器３０３，３０５，３０４，３０
６との切替によるラスタアドレスと放射アドレスの発生
切替が可能である。

【００２１】３０７はウインドウゲート回路であり、多
値濃淡信号ＰＯ又はフレームメモリ３０１より読出され
た画像信号３０１ａをウインドウメモリ３０２からのマ
スクパターンデータでマスクし、指定されたウインドウ
領域のみの画像信号ＰＯ又はフレームメモリ３０１から
読出された画像信号３０１ａを通過させる回路である。

【００２２】３０８，３１４は画像エッジ検出回路で、
画像のエッジ、具体的にはリング状の高輝度部の外端
（外周点）と内端（内周点）を検出する機能を持ち、こ
の場合、入力した画像信号を対象画像の位置検出や円形
性検査のための所定のしきい値で２値化したうえ、画像
エッジとしてこの２値化信号の立上り点の座標と立下り
点の座標とを自身内のメモリに格納する。３０９はこの
画像エッジ検出回路３０８によって検出された外周点又
は内周点の座標値に対し円形性検査を行う回路である。

【００２３】３１５は対象画像に対して正しい位置にウ
インドウが発生するように、画像エッジ検出回路３１４
が最新の多値濃淡画像信号ＰＯを入力して検出した現実
の対象画像の中心の位置と、予め設定されているウイン
ドウの中心の位置とのズレを検出する回路である。３１
０はフレームメモリ３０１のラスタ走査によってフレー
ムメモリ３０１から読出された画像信号３０１ａをウイ
ンドウゲート回路３０７を介して入力し、黒点などの汚
れ不良画素を検出するための不良検出回路、３１１はこ
の検出された不良画素を集計して不良の判定を行う不良
検出判定回路である。

【００２４】３１２は後述のようにフレームメモリ３０
１の放射状の走査によってフレームメモリ３０１から読
出された画像信号３０１ａをウインドウゲート回路３０
７を介して入力し、凹み不良画素を検出するための不良
検出回路、３１３はこの検出された不良画素を集計して
不良の判定を行う不良検出判定回路である。また、３１
９は円形度判定回路３０９，不良検出判定回路３１１及
び３１３の判定結果を入力し総合的な判定を行う回路、
３２０はこの総合判定回路３１９出力判定信号によって
良否の出力を行う出力回路である。

【００２５】この図８では検査画像は、多値濃淡画像信
号ＰＯより入力されフレームメモリ３０１に記憶される
と共に、ウインドウゲート回路３０７にて画像の着目領
域外はマスクされて画像エッジ検出回路３１４に供給さ
れる。なお、画像の着目領域のパターンは、ウインドウ
メモリ３０２に予め設定されている。画像エッジ検出回
路３１４は、入力された多値濃淡画像信号ＰＯを固定２
値化し、その２値化信号の１走査線での０→１又は１→
０の変化点座標（画像エッジ点という）を検出し、記憶
し、同様に各走査ラインについても画像エッジ点を検出
し、記憶する。この画像エッジ点情報は位置ズレ量決定
回路３１５に送られ、ここで検査対象である円形容器の
画面内での位置ズレを演算する。

【００２６】図９は円形容器の位置を決定するための一
方法を示したもので、同図では上端エッジ検査領域２１
１及び左端エッジ検査領域２１２が円形容器の口部高輝
度部（図２の１０３）相当の部分に設定されている。な
お、この口部高輝度部が２値化された画像が、図９の容
器の固定２値画像２１０に相当する。前記検査領域２１
１及び２１２においては、画像エッジが図９の点線の如
く検出され、それらの交点である位置基準点２１３が決
定されて、この容器の処理座標系が決定される。これに
より容器の画面内での位置が決定され、容器の中心の座
標は、前記位置基準点２１３からの固定オフセット量を
加えた座標とすることができる。

【００２７】図１０はさらに別の容器位置決定方法を示
した図であって、同図（Ａ）のように、底部高輝度部１
０４周辺に夫々上端エッジ検査領域１１２及び左端エッ
ジ検査領域１１３を設定し、同図（Ｂ）に示すように位
置基準点１１４を算出して、容器中心Ｏを位置基準点１
１４に固定オフセット量を加えた座標として、算出する
ことができる。

【００２８】このように容器中心の算出が終わると、フ
レームメモリ３０１に対して、ラスタアドレス発生器３
０３より走査座標が送られ、その座標に対応した多値濃
淡画像信号がウインドウゲート回路３０７にて、着目領
域のみに制限されて画像エッジ検出回路３０８に送ら
れ、ここでは画像エッジ検出回路３１４と同様な処理に
よって、画像エッジ点座標を円形度判定回路３０９に出
力する。ここで、画像エッジ検出回路３０８と３１４で
は、着目する画像の濃淡が異なるため画像を２値化する
際のしきい値が異なるのはいうまでもない。

【００２９】円形度判定回路３０９は容器の最外形のエ
ッジ点座標より、その円形容器がどの程度真円に近いか
を判定し、主に容器口部の変形や凹みを検査し、その判
定結果は総合判定回路３１９へ出力される。不良検出回
路３１０は、円形容器内面をラスタ走査した際の従来の
差分２値化手法による２値画像データを欠陥画素信号と
して不良検出判定回路３１１に出力し、この不良検出判
定回路３１１は、入力される２値画像データの画素数を
カウントして、その画素数が予め設定される許容量を越
える場合には、不良信号を総合判定回路３１９へ出力す
る。

【００３０】次に本発明の核心部について説明する。図
８のフレームメモリ３０１に対して、容器中心を走査中
心とする放射アドレスを放射アドレス発生器３０４によ
って発生させ、その座標に対応する画素の多値濃淡画像
信号がウインドウゲート回路３０７に送られ、一方、必
要に応じてウインドウメモリ３０２内のパターンによっ
て、着目領域のみの画像信号に制限され、不良検出回路
３１２へ出力される。

【００３１】不良検出回路３１２は、一旦放射アドレス
とそれに対応する画像データを逐一記憶する。図１１は
このようなある１走査に基づく画像データの例を示し、
同図（Ａ）はこの走査線上の画像の濃度断面を示し、同
図（Ｂ）は同図（Ａ）の斜線部の放射アドレスＸと画像
データとの関係を示すテーブルであり、不良検出回路３
１２には画像データがこのようなテーブルとして記憶さ
れる。以下では濃度断面は容器中心に対して対称である
ため、図１１（Ａ）の斜線部のみの処理について説明す
るが、本発明ではこの図１１（Ａ）の残り半分（非斜線
部）についても同様に検査を行うことはいうまでもな
い。

【００３２】不良検出回路３１２はＣＰＵを内蔵して、
図１１（Ｂ）のテーブルより本発明による判定を行うの
であるが、本実施例においては画像濃淡積分値を算出す
る計測区間を２区間とし、計測区間を決定する図１のｄ
１〜ｄ６までのパラメータは、すでに与えられているも
のとする。前記ＣＰＵは次の手順によって判定を行う。

【００３３】図１１（Ｂ）のテーブルをアドレスｄ１
（つまり容器中心Ｏから基準画素探索区間の開始点まで
の画素数で数えた距離）の指し示すところまで、処理の
ポインタを進める。 アドレスｄ１の位置よりｄ２だけカウントするまでの
間（つまり基準画素探索区間）の最低濃度点の画素（基
準画素）Ｐｋのアドレスとその濃度値を記憶する。

【００３４】基準画素Ｐｋの位置に一旦ポインタを置
いた後、ｄ３だけポインタを進め、その点よりｄ４だけ
カウントする期間（つまり第１計測区間）の各画素の濃
度値から基準画素Ｐｋの濃度値を減じた結果を加算し、
その総和を求め、第１計測区間の画像濃淡積分値Ｓ１と
する。 基準画素Ｐｋ部に一旦ポインタを置いた後、ｄ５だけ
ポインタを進め、その点よりｄ６だけカウントする期間
（つまり第２計測区間）の各画素の濃度値から基準画素
Ｐｋの濃度値を減じた結果を加算し、その総和を求め、
第２計測区間の画像濃淡積分値Ｓ２とする。

【００３５】｜Ｓ１−Ｓ２｜をΔＳとして算出する。 ΔＳが予め設定された許容量を越えなければ良とし、
それ以外の場合を不良とする。 の良否を不良検出判定回路３１３に出力する。 図１２の１０５は容器の凹みの例であって、図１３はそ
の濃度断面を示したものである。良品時は、第１計測区
間と第２計測区間の画像濃淡積分値Ｓ１とＳ２の値はほ
ぼ等しいが、容器に凹み１０５がある場合はＳ１，Ｓ２
は夫々図１３のＳ１′，Ｓ２′のようになり、図１２に
示すように底部高輝度部の光線の反射具合が変わり、底
部高輝度部１０４を含むＳ１′領域は濃度が低下する傾
向となり、最低濃度点Ｐｋを基準として領域設定される
ため最低濃度点付近がＳ１′領域となり、このためＳ
２′領域においては濃度が変わらぬか、又は反射により
上昇する傾向となるため、前記第１計測区間と第２計測
区間の画像濃淡積分値の差ΔＳが大きくなり不良とな
る。

【００３６】図８の不良検出判定回路３１３において
は、各放射状走査による不良検出回数を不良検出回路３
１２より受けて、その検出回数が予め設定される許容量
を越える場合に不良として、総合判定回路３１９へ出力
する。総合判定回路３１９では、前段の各判定回路３０
９，３１１，３１３の判定結果が全て良である場合には
良信号を、それ以外の場合には不良信号を出力回路３２
０を経由して、装置外部へ出力する。

【００３７】なお、画像濃淡積分値を算出する区間を順
次第ｎ区間まで設けた場合、第３，第４，・・・，第
（ｎ−１），第ｎの夫々の計測区間の画像濃淡積分値を
夫々Ｓ３，Ｓ４，・・・，Ｓ_n-1 ，Ｓ_n とすると、本発
明では隣接する計測区間同士の画像濃淡積分値の差、即
ち｜Ｓ２−Ｓ３｜，｜Ｓ３−Ｓ４｜，・・・，｜Ｓ_n-1
−Ｓ_n ｜を夫々ΔＳとしてこのΔＳと設定許容値を比較
し、ΔＳが設定許容値を越えなければ良とし、それ以外
の場合は不良とする。

【００３８】また、各画素は正方形であるため、放射状
走査の角度によって、放射状アドレスの画素分解能が変
わってくるのであって、例えば４５°方向に走査する場
合は、水平又は垂直に走査する場合に比べ√２倍とな
る。従って走査角度により、適宜ΔＳに対するしきい値
やｄ１〜ｄ６の各区間決定のためのパラメータを正規化
すれば、さらに高精度の欠陥検出が可能となる。

【００３９】

【発明の効果】本発明によれば円形容器の内面の画像を
円形容器の中心から放射状に走査し、容器中心からの距
離で指定された区間内で濃度値の最小の画素を検出して
基準画素とし、基準画素からの距離で指定される複数の
計測区間の夫々の画素濃度の基準画素の濃度との濃度差
の総和としての画像濃淡積分値を求め、隣接する計測区
間同士の画像濃淡積分値の差が予め定めた許容値を上回
るか否かで、当該容器に凹み欠陥が有るか否かを判定す
るようにしたので、容器底面の濃度変化が大であった
り、底面に複雑な成形が施されていても容器下部の凹み
欠陥を高精度で判定することができる。

【図面の簡単な説明】

【図１】本発明による検査方法の原理の説明図

【図２】円形容器内面の高輝度部の例を示す図

【図３】円形容器内面の放射状走査線上の濃度変化とウ
インドウ分割の説明図

【図４】放射状走査線上の濃度分布と２値化しきい値の
設定例を示す図

【図５】放射状走査線上の濃度差分値と２値化しきい値
との対比の例を示す図

【図６】従来の検査装置のブロック図

【図７】底部に突出部のある円形容器の内面の高輝度部
の例を示す図

【図８】本発明の一実施例としての検査装置の要部構成
を示すブロック図

【図９】円形容器の位置検出処理の一例を示す図

【図１０】円形容器の位置検出処理の他の例を示す図

【図１１】本発明の一実施例としての放射状走査時の画
像データのテーブルを示す図

【図１２】凹みのある円形容器の底部高輝度部の変化の
例を示す図

【図１３】本発明に基づく画像濃淡積分値の凹みの有無
による違いの例を示す図

【符号の説明】

Ｏ 容器中心 Ｐｋ 基準画素 ｄ１ 容器中心から基準画素探索区間迄の距離 ｄ２ 基準画素探索区間 ｄ３ 基準画素から第１計測区間迄の距離 ｄ４ 第１計測区間 ｄ５ 基準画素から第２計測区間迄の距離 ｄ６ 第２計測区間 Ｓ１，Ｓ１′ 第１計測区間の画像濃淡積分値 Ｓ２，Ｓ２′ 第２計測区間の画像濃淡積分値 １０１ リング照明器 １０２ 容器 １０３ 口部高輝度部 １０４，１０４−１，１０４−２ 底部高輝度部 １０５ 凹み Ｗ１〜Ｗ５ ウインドウ １１０ 底面部 １１１ 底部低輝度部 １１２ 上端エッジ検査領域 １１３ 左端エッジ検査領域 １１４ 位置基準点 ２１０ 容器の固定２値画像 ２１１ 上端エッジ検査領域 ２１２ 左端エッジ検査領域 ２１３ 位置基準点 ＰＯ 多値濃淡画像信号 ３０１ フレームメモリ ３０２ ウインドウメモリ ３０３ ラスタアドレス発生器 ３０４ 放射アドレス発生器 ３０５ ラスタアドレス発生器 ３０６ 放射アドレス発生器 ３０７ ウインドウゲート回路 ３０８ 画像エッジ検出回路 ３０９ 円形度判定回路 ３１０ 不良検出回路（ラスタ） ３１１ 不良検出判定回路 ３１２ 不良検出回路（放射） ３１３ 不良検出判定回路 ３１４ 画像エッジ検出回路 ３１５ 位置ズレ量決定回路 ３１９ 総合判定回路 ３２０ 出力回路

Claims (3)

【特許請求の範囲】
1. 【請求項１】軸対称の円形容器と同軸のリング型照明手
   段を介しこの円形容器の内面側を照明したうえ、ＴＶカ
   メラを介しこの軸方向からこの円形容器の照明面を撮像
   し、この撮像された円形容器の同心円状の画像を含む撮
   像画面の走査によって得られる濃淡画像信号のＡ／Ｄ変
   換信号としての多値濃淡画像信号を前記撮像画面に対応
   する画面上の画像データとしてフレームメモリに記憶す
   ると共に、このフレームメモリの画像データの画面上に
   おける円形容器の中心位置を検出し、この円形容器の中
   心を通る放射状の走査線に沿って複数回、そのつど放射
   状走査線の角度を変えてこの画面の画像データを走査
   し、円形容器の欠陥を検出する円形容器内面検査装置で
   あって、 この放射状走査線上の円形容器の中心位置から画素数で
   数えて予め定めた距離にある予め定めた巾の区間内で濃
   度値の最小の画素を検出して基準画素とし、 同じくこの放射状走査線上の、この基準画素から画素数
   で数えて夫々予め定めた距離にあって予め定めた巾を持
   つ複数の計測区間の各々について、当該計測区間内の各
   画素の濃度値の前記基準画素の濃度値からの差を総和し
   た画像濃淡積分値を求め、隣接する計測区間同士のこの
   画像濃淡積分値の差が予め定めた許容量を上回るとき、
   当該容器に凹み欠陥が有ると判定する手段を備えたこと
   を特徴とする円形容器内面検査装置。
2. 【請求項２】請求項１に記載の検査装置において、 前記許容量は前記放射状走査線の角度に応じて可変選択
   できるものであることを特徴とする円形容器内面検査装
   置。
3. 【請求項３】請求項１又は２に記載の検査装置におい
   て、 前記放射状走査線上の判定に用いられる各画素の円形容
   器の中心位置からの画素数で数えた距離は、この放射状
   走査線の角度に応じて補正されるものであることを特徴
   とする円形容器内面検査装置。