JPH0972842A - Method and apparatus for flow-type particle image analysis - Google Patents

Method and apparatus for flow-type particle image analysis

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JPH0972842A
JPH0972842A JP7227978A JP22797895A JPH0972842A JP H0972842 A JPH0972842 A JP H0972842A JP 7227978 A JP7227978 A JP 7227978A JP 22797895 A JP22797895 A JP 22797895A JP H0972842 A JPH0972842 A JP H0972842A
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particles
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秀之 堀内
Hidenori Asai
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Abstract

PROBLEM TO BE SOLVED: To obtain a method and an apparatus in which the accuracy of a measurement is improved by a method wherein a particle which has been detected by a particle detection system is made to correspond to a detected particle static image. SOLUTION: A sample is made to flow in a flow cell 100, the passage of particles is detected by a laser luminous flux 10, a pulse lamp 1 is light-emitted on the basis of their detection, and the static image of the particles is imaged by a TV camera 8 so as to be image-processed. In a sorted-result collection part at a particle analysis means 103, the particles detected by a particle detection means 102 and every particle image which has been image-processed by the particle analysis means 103 are made to correspond by using a particle size, and the particles in the sample are particle-analyzed.

Description

【発明の詳細な説明】Detailed Description of the Invention

【0001】[0001]

【発明の属する技術分野】本発明はフロー式粒子画像解
析方法およびフロー式粒子画像解析装置に係り、特に、
流れている液体サンプル中に懸濁した粒子の静止画像を
撮像し粒子解析する、血液または尿中の細胞や粒子を解
析するのに好適なフロ−式粒子画像解析方法および装置
に関するものである。
BACKGROUND OF THE INVENTION 1. Field of the Invention The present invention relates to a flow type particle image analysis method and a flow type particle image analysis device.
The present invention relates to a flow-type particle image analysis method and device suitable for analyzing cells and particles in blood or urine, which captures a static image of particles suspended in a flowing liquid sample and analyzes the particles.

【0002】[0002]

【従来の技術】従来の粒子画像解析においては、血液中
の細胞や尿中の細胞や粒子の分類解析は、スライドガラ
ス上に標本を作成し顕微鏡にて観察することで行われて
きた。尿の場合には、尿中の粒子濃度が薄いため、サン
プルを予め遠心分離器で遠心濃縮してから観察してい
る。
2. Description of the Related Art In conventional particle image analysis, classification and analysis of cells in blood and cells and particles in urine have been carried out by preparing a sample on a slide glass and observing with a microscope. In the case of urine, since the concentration of particles in the urine is low, the sample is observed after being centrifugally concentrated by a centrifuge in advance.

【0003】これらの観察、検査の作業を自動化する方
法または装置としては、血液などのサンプル試料をスラ
イドガラス上に塗沫した後顕微鏡にセットし、顕微鏡ス
テージを自動的に走査し、粒子の存在する位置で顕微鏡
ステージを止めて静止粒子画像を撮影し、画像処理技術
による特徴抽出およびパターン認識手法を用い、サンプ
ル試料中にある粒子の分類・解析等を行っている。
As a method or apparatus for automating these observation and inspection operations, a sample such as blood is smeared on a slide glass and set on a microscope, and the microscope stage is automatically scanned to detect the presence of particles. At this position, the microscope stage is stopped and a still particle image is captured, and the feature extraction and pattern recognition techniques of image processing technology are used to classify and analyze the particles in the sample.

【0004】しかし、上記手法では標本作成に時間がか
かり、さらに顕微鏡ステージを機械的に移動しながら粒
子を見つけ、粒子を適当な画像取り込み領域へ移動させ
る作業が必要である。そのため、解析に時間を要した
り、機械機構が複雑になるという欠点がある。
However, in the above method, it takes a long time to prepare a specimen, and furthermore, it is necessary to find particles while mechanically moving the microscope stage and to move the particles to an appropriate image capturing area. Therefore, there are disadvantages that analysis takes time and the mechanical mechanism becomes complicated.

【0005】上記のような塗沫標本を作成しない粒子画
像解析方法または粒子画像解析装置には、サンプル試料
を液体中に懸濁させた状態にてフローセル中に流し、光
学的に解析するフローサイトメータ法が知られている。
In a particle image analysis method or particle image analysis apparatus that does not form a smear as described above, a flow site in which a sample sample is suspended in a liquid and is flown into a flow cell for optical analysis. The meter method is known.

【0006】前記フローサイトメータによる方法は、サ
ンプル中の各粒子からの蛍光強度や散乱光強度を観測す
るもので、毎秒数1000個の処理能力を備えている。
The method using the flow cytometer observes the fluorescence intensity and scattered light intensity from each particle in the sample, and has a processing capacity of several thousand per second.

【0007】しかし、粒子の形態学的特徴を反映する特
徴量を観測することはむずかしく、従来顕微鏡下で行わ
れていた形態学的特徴で粒子を分類することができな
い。
However, it is difficult to observe the feature amount that reflects the morphological features of the particles, and it is impossible to classify the particles by the morphological features that have been conventionally used under a microscope.

【0008】連続的に流れているサンプル試料中の静止
粒子画像を撮像し、それぞれの静止粒子画像から粒子を
分類、解析する試みとしては、特表昭57−50099
5号公報、特開昭63−94156号公報等に記載され
た技術が知られている。
As an attempt to capture static particle images in a continuously flowing sample sample and classify and analyze the particles from each static particle image, Japanese Patent Publication No. 57-50099.
Techniques described in Japanese Patent Laid-Open No. 5 and Japanese Patent Laid-Open No. 63-94156 are known.

【0009】特表昭57−500995号公報に記載さ
れた技術では、サンプル試料を特別な形状の流路に通し
て幅広の撮像領域中に流し、フラッシュランプによる静
止粒子画像を撮影し、その画像を用い粒子解析する。こ
の方法は、顕微鏡を用いてサンプル粒子の拡大画像をC
CDカメラ上に投影するとき、パルス光源であるフラッ
シュランプがCCDカメラの動作に同期して周期的に発
光する。パルス光源の発光時間が短いので、粒子が連続
的に流れていても静止画像を得ることができ、しかも、
CCDカメラは、毎秒30枚の静止画像を撮影すること
ができる。
In the technique disclosed in Japanese Patent Publication No. 57-500995, a sample sample is flowed through a channel having a special shape into a wide image pickup area, a static particle image is taken by a flash lamp, and the image is taken. Particle analysis is performed using. In this method, a magnified image of sample particles is C-imaged using a microscope.
When projecting on a CD camera, a flash lamp, which is a pulse light source, periodically emits light in synchronization with the operation of the CCD camera. Since the emission time of the pulsed light source is short, it is possible to obtain a still image even when particles are flowing continuously, and moreover,
The CCD camera can take 30 still images per second.

【0010】特開昭63−94156号公報に記載され
た技術では、静止粒子画像撮像系とは別にサンプル流れ
中の粒子画像撮影領域より上流に粒子検出系を設けてい
る。予め粒子検出系で粒子通過を知り、その粒子が粒子
画像撮像領域に達したとき適当なタイミングによりパル
ス光源であるフラッシュランプを点灯させる方法であ
る。この方法においては、パルス光源の発光が周期的に
行わず、粒子の通過を検出してその時だけタイミングを
合わせて静止粒子画像を撮像することができるので、効
率的に静止粒子画像が集められ、濃度の小さいサンプル
試料の場合でも粒子の存在しない無意味な画像を撮像・
処理することはない。
In the technique disclosed in Japanese Patent Laid-Open No. 63-94156, a particle detection system is provided upstream of the particle image capturing area in the sample flow, in addition to the stationary particle image capturing system. This is a method in which the passage of particles is known in advance by a particle detection system, and when the particles reach a particle image capturing area, a flash lamp as a pulse light source is turned on at an appropriate timing. In this method, the light emission of the pulsed light source is not performed periodically, it is possible to detect the passage of particles and to capture a still particle image at the same time only, so the still particle images are efficiently collected, Captures meaningless images without particles even in the case of low-concentration sample specimens
There is no processing.

【0011】さらに、特開平6−142086号公報で
は、特開昭63−94156号公報の場合と同じく、静
止粒子画像系とは別にサンプル流れ中の粒子を検出する
手段を有し、加えて検出された粒子画像において画像処
理した粒子数総数からサンプル粒子中の実際の粒子数、
分類された種類ごとの粒子数を求める手段を提供してい
る。
Further, in Japanese Patent Application Laid-Open No. 6-142086, as in the case of Japanese Patent Application Laid-Open No. 63-94156, a means for detecting particles in a sample flow is provided in addition to a stationary particle image system, and in addition, detection is performed. The actual number of particles in the sample particles from the total number of particles image-processed in the generated particle image,
It provides a means to obtain the number of particles for each classified type.

【0012】また、特開平7−83817号公報には、
特開平6−142086号公報で問題になる、検出粒子
と検出された粒子画像の1対1の対応方法について示さ
れている。
Further, Japanese Patent Laid-Open No. 7-83817 discloses that
Japanese Unexamined Patent Publication No. 6-142086 discloses a one-to-one correspondence method between detected particles and detected particle images, which is a problem.

【0013】[0013]

【発明が解決しようとする課題】従来の粒子画像解析装
置においては、一般的に、連続的に流れているサンプル
粒子の静止画像を解析して、サンプル中の複数種類の粒
子数の計数や分類を効率よく行うためには、上述した公
知例で行われているように、静止粒子画像撮像領域また
はその上流に通過粒子を検出する粒子検出系が必要であ
る。すなわち、サンプル粒子が通過したときだけパルス
光源を点灯させ、サンプル粒子の静止画像を撮像するよ
うに構成する。この方法は、粒子濃度の小さい測定サン
プルに対し非常に効率よく処理できるため、測定サンプ
ル量の増大、解析時間の短縮、解析精度の向上を計るこ
とができる。
In a conventional particle image analyzer, generally, a still image of a sample particle flowing continuously is analyzed to count or classify the number of plural kinds of particles in a sample. In order to efficiently perform the above, a particle detection system for detecting passing particles is required in the static particle image capturing area or upstream thereof, as is done in the above-mentioned known example. That is, the pulse light source is turned on only when the sample particles pass, and a still image of the sample particles is captured. Since this method can process a measurement sample having a low particle concentration very efficiently, it is possible to increase the amount of measurement sample, shorten the analysis time, and improve the analysis accuracy.

【0014】ところが、このようなフロー式粒子画像解
析装置においては、静止粒子画像撮像領域またはその上
流に通過粒子を検出する粒子検出系と、粒子が通過した
ときだけパルス光源を点灯させ静止粒子画像を撮像する
画像撮像系とを有しているが、粒子検出系と画像撮像系
とは一般的にその測定原理が異なっている。粒子検出系
としては、通常フローセル中を流れている測定サンプル
にレーザ光束を集光して照射し、前記レーザ光束をよぎ
った粒子からの光散乱光を検出する方法が用いられてい
る。その散乱光は、一般的に粒子の実効散乱断面積に比
例した強さの光信号となり、この光信号は光検出器によ
り電気信号に変換される。
However, in such a flow-type particle image analyzer, a particle detection system for detecting passing particles in a stationary particle image capturing area or an upstream thereof, and a stationary particle image by turning on a pulse light source only when the particles have passed. Although an image pickup system for picking up the image is included, the particle detection system and the image pickup system generally have different measurement principles. As a particle detection system, a method is generally used in which a laser beam is focused on a measurement sample flowing in a flow cell and irradiated, and light scattered light from particles that cross the laser beam is detected. The scattered light generally becomes an optical signal having an intensity proportional to the effective scattering cross section of the particle, and this optical signal is converted into an electric signal by a photodetector.

【0015】この光信号の大きさは、粒子の光学的な屈
折率、吸収、サイズ、粒子の内部状態、散乱光検出条件
などにより影響を受け、必ずしも画像処理で用いられる
粒子の形態情報である粒子直径、周囲長、色彩情報、テ
クスチャ情報とは完全には一致しない。
The magnitude of this optical signal is influenced by the optical refractive index of particles, absorption, size, internal state of particles, scattered light detection conditions, etc., and is necessarily morphological information of particles used in image processing. It does not completely match the particle diameter, perimeter, color information, and texture information.

【0016】また、粒子検出系を所定の粒子検出レベル
以上を粒子検出の条件とすると、実際の画像撮像系によ
る静止粒子画像には、サイズが小さく光散乱による粒子
検出レベルに達しない粒子が存在することは、しばしば
起こることである。その結果、粒子検出系で計数される
粒子数と画像処理された粒子数は、画像取り込みで避け
られないデットタイムによる粒子数え落としを考慮して
も一致せず、粒子解析精度、再現性の低下を引き起す原
因となる。
If the particle detection system is set to have a particle detection condition above a predetermined particle detection level, there are particles that are small in size and do not reach the particle detection level due to light scattering in an actual image pickup system. Doing is something that often happens. As a result, the number of particles counted by the particle detection system and the number of particles that have been image-processed do not match, even if the counting of particles due to dead time, which is unavoidable in image capture, is taken into consideration, and particle analysis accuracy and reproducibility deteriorate Cause to cause.

【0017】これらの問題に正しく対応させる方法を提
供するのが特開平7−83817号公報である。そこで
示されている方法は、1つの画像に撮像されている粒子
と粒子検出系で検出された粒子について1対1の対応関
係を取るものである。このために、粒子検出信号の中か
ら、パルスランプ光源が点灯した時点で画像に写ってい
る粒子のうち検出粒子に相当する粒子を計数し、この計
数値と画像中の粒子のうち検出粒子と対応させ、そして
検出粒子と見なされない粒子と区別するようにしてい
る。
Japanese Patent Application Laid-Open No. 7-83817 provides a method for correctly addressing these problems. The method shown therein has a one-to-one correspondence relationship between particles imaged in one image and particles detected by the particle detection system. Therefore, from the particle detection signal, the number of particles corresponding to the detection particles among the particles reflected in the image at the time when the pulse lamp light source is turned on is counted, and the count value and the particles detected in the image are detected particles. They are matched and distinguished from particles that are not considered detection particles.

【0018】上述した方法では、粒子検出系と画像撮像
系とをそれぞれ具備し、粒子検出系の原理と画像撮像系
の粒子画像識別の原理とが異なるフロー式粒子画像解析
方法およびフロー式粒子画像解析装置において、検出粒
子と静止粒子画像中の粒子とを対応させ、粒子検出系の
検出粒子以外の粒子が画像撮像系の静止粒子画像中に存
在しても、サンプル中の各種類の粒子個数、粒子存在比
率、粒子密度、濃度情報を正しく知ることができ、解析
精度の良好なフロー式粒子画像解析方法およびフロー式
粒子画像解析装置が提供される。
In the above-mentioned method, a flow type particle image analysis method and a flow type particle image are provided, each of which has a particle detection system and an image pickup system, and the principle of the particle detection system and the principle of particle image discrimination of the image pickup system are different. In the analyzer, the detected particles and the particles in the static particle image are made to correspond to each other, and even if particles other than the detection particles of the particle detection system exist in the static particle image of the image capturing system, the number of particles of each type in the sample The present invention provides a flow type particle image analysis method and a flow type particle image analysis device that can accurately know the particle existence ratio, particle density, and concentration information, and have good analysis accuracy.

【0019】しかし、上述の方法では、1画像中に存在
する検出粒子に対応する粒子を粒子検出信号から取り出
し計数するため、複雑な時間タイミングが必要になり、
この部分の回路構成が複雑になること、サンプル液の脈
動などの流速変化によりタイミング関係が変動する場合
に対応が取れないこと、サンプルの流速が異なるような
複数の測定モードを有する場合には、複数系統の回路構
成を必要することなどの問題がある。
However, in the above method, since the particles corresponding to the detected particles existing in one image are extracted from the particle detection signal and counted, a complicated time timing is required,
When the circuit configuration of this part becomes complicated, it is not possible to deal with the case where the timing relationship changes due to the flow velocity change such as pulsation of the sample liquid, when there are a plurality of measurement modes where the sample flow velocity is different, There are problems such as the need for circuit configurations of multiple systems.

【0020】また、製品を製造する場合、粒子検出系の
粒子検出パルス幅と画像処理系での粒子サイズを厳密に
調整する必要があり、また、レーザ出力や光学系、粒子
検出系の検出感度など、個々の装置ごとに特性が異なる
場合には、調整が複雑になる問題がある。
When manufacturing a product, it is necessary to strictly adjust the particle detection pulse width of the particle detection system and the particle size of the image processing system, and the laser output, the optical system, and the detection sensitivity of the particle detection system. If the characteristics of each device are different, adjustment becomes complicated.

【0021】本発明の目的は、粒子検出系に変動要因が
あっても、それによる実質的な影響なしに粒子解析を行
うのに適したフロー式粒子画像解析方法および装置を提
供することにある。
It is an object of the present invention to provide a flow-type particle image analysis method and apparatus suitable for performing particle analysis without substantial influence due to fluctuation factors in the particle detection system. .

【0022】[0022]

【課題を解決するための手段】本発明によれば、液体サ
ンプルがフロ−セルに流され、そのフロ−セルの予め定
められた位置を測定時間中に通る液体サンプル中の粒子
が検出され、その数が計数される。また、その計数され
た粒子数から統計学的に予想される粒子解析対象粒子数
が算出される。
According to the present invention, a liquid sample is flowed through a flow cell and particles in the liquid sample that pass through a predetermined position of the flow cell during a measurement time are detected, The number is counted. Further, the number of particles to be statistically predicted is calculated from the counted number of particles.

【0023】一方、フロ−セルの撮像領域を通る粒子は
前記粒子検出に基づいて撮像され、それによって撮像領
域を通る粒子の静止画像が得られる。この得られた画像
は処理され、それによってその画像中の粒子のサイズデ
−タが得られると共に、処理された全静止画像中の粒子
のうちの粒子サイズの大きい方の粒子が前記算出された
粒子解析対象粒子数だけ選択され、そしてその選択され
た粒子について粒子解析が行われる。
On the other hand, the particles passing through the imaging area of the flow cell are imaged on the basis of the particle detection, whereby a still image of the particles passing through the imaging area is obtained. The resulting image is processed to obtain size data of the particles in the image and the particle of the larger particle size of the particles in the entire processed still image is the calculated particle. The number of particles to be analyzed is selected, and the particle analysis is performed on the selected particles.

【0024】これによれば、粒子検出系に変動要因があ
っても、それによる実質的な影響なしに粒子解析を行う
のに適したフロー式粒子画像解析方法および装置が提供
される。
According to this, even if there is a variation factor in the particle detection system, a flow type particle image analysis method and apparatus suitable for performing particle analysis without substantially affecting it are provided.

【0025】処理された全静止画像中の粒子のうちの粒
子サイズの大きい方の粒子を算出された粒子解析対象粒
子数だけ選択するに当たっては、処理した全静止画像中
の粒子のサイズデ−タを大きさ順に並べ変えれば前記選
択を容易に行い得る。
In selecting the particle having the larger particle size among the particles in all the processed still images by the calculated number of particles for particle analysis, the size data of the particles in all the processed still images are selected. The selection can be easily performed by rearranging in order of size.

【0026】予想される粒子解析対象粒子数は計数され
た粒子数に加えて測定条件を考慮して定めても良い。測
定条件としては、サンプル量、サンプル流れの流速、測
定時間、粒子画像撮像条件など各種存在するが、測定条
件さえ決まれば、統計学的に粒子解析対象粒子数を予想
する事が出来るからである。これによって、測定条件が
変わっても、対応出来ることになる。
The expected number of particles to be analyzed may be determined in consideration of measurement conditions in addition to the counted number of particles. There are various kinds of measurement conditions such as sample amount, sample flow velocity, measurement time, particle image capturing condition, etc., but it is possible to statistically predict the number of particles for particle analysis if the measurement conditions are determined. . As a result, even if the measurement conditions change, it is possible to deal with it.

【0027】予め定められた位置を通る粒子を光学的に
検出して粒子検出信号を生成し、その粒子検出信号のう
ちの所定レベル以上の粒子検出信号を、その粒子検出信
号の所定レベルにおける幅に対応するパルス幅をもつパ
ルスに変換し、そしてそのパルスのうちのパルス幅が所
定パルス幅以上のパルス幅をもつパルスを計数すること
で粒子計数を行うようにしても良い。粒子検出系と画像
処理系では粒子検出の原理が異なる場合でも、粒子の検
出信号のパルス幅と画像の粒子サイズ、特に流れ方向の
粒子サイズは良く対応するためである。
Particles passing through a predetermined position are optically detected to generate a particle detection signal, and a particle detection signal of a predetermined level or higher is detected as a width of the particle detection signal at a predetermined level. The particle count may be performed by converting the pulse width into a pulse width corresponding to the pulse width and counting the pulse width of the pulse width of the predetermined pulse width or more. This is because even if the particle detection system and the image processing system have different particle detection principles, the pulse width of the particle detection signal and the particle size of the image, especially the particle size in the flow direction, correspond well.

【0028】前述した粒子検出および粒子解析処理は同
一の液体サンプルに対し複数の測定モードにおいて行
い、その後、全測定モ−ドにおける粒子解析結果を総合
するようにしても良い。例えば、ある種類の粒子につい
て、第一の解析モードでは別枠粒子解析対象粒子を、第
2の解析モードでは正規粒子解析対象対象粒子にするよ
うに解析を行えば、解析終了後、個々の解析モードの粒
子解析結果を総合して、1解析サンプル全体の粒子解析
結果として整理することにより解析精度の改善を図るこ
とが出来る。
The above-described particle detection and particle analysis processing may be performed on the same liquid sample in a plurality of measurement modes, and then the particle analysis results in all measurement modes may be integrated. For example, for a certain type of particle, if analysis is performed so that separate-frame particle analysis target particles in the first analysis mode and normal particle analysis target particles in the second analysis mode are performed, individual analysis modes are set after the analysis is completed. The analysis accuracy can be improved by summarizing the particle analysis results of (1) and organizing them as the particle analysis results of the entire one analysis sample.

【0029】また、測定条件が異なる場合や解析対象粒
子の範囲が異なる場合のように、異なる複数の測定モー
ドを有する場合には、それぞれに異なった粒子検出条
件、すなわち、粒子検出信号のレベルやパルス幅の所定
の値を変更するようにしてもよい。最適な測定条件で粒
子検出および粒子解析処理を行うことが出来るからであ
る。
When a plurality of different measurement modes are used, such as when the measurement conditions are different or the range of particles to be analyzed is different, different particle detection conditions, that is, the level of the particle detection signal, You may make it change the predetermined value of a pulse width. This is because it is possible to perform particle detection and particle analysis processing under optimum measurement conditions.

【0030】処理した全静止画像中の粒子のうちの、選
択された粒子以外の粒子すなわち正規粒子解析対象粒子
以外の粒子を別枠で粒子解析し、その解析結果を選択さ
れた粒子の粒子解析結果に加えるようにしても良い。こ
れによれば、粒子解析の精度向上が図られる。
Among the particles in all the processed still images, particles other than the selected particles, that is, particles other than the normal particle analysis target particles are subjected to particle analysis in a separate frame, and the analysis result is the particle analysis result of the selected particles. It may be added to. According to this, the accuracy of particle analysis can be improved.

【0031】予想される粒子解析対象粒子数を処理した
画像数と比較するようにしてもよい。そうすれば、予想
される画像粒子数より、実際に処理された粒子画像数が
少ない場合の処理に対応することが可能となる。
The expected number of particles to be analyzed may be compared with the number of processed images. By doing so, it becomes possible to cope with the processing when the number of particle images actually processed is smaller than the expected number of image particles.

【0032】計数された粒子数から予想される画像処理
フレーム数を算出し、これを実際に処理した画像フレー
ム数と比較するようにしても良い。その比較結果とし
て、計算で予想したフレーム数の方が実際の画像処理し
たフレーム数と極端に違うような場合には粒子検出系等
に問題があるることが予想できる。しかし、統計的な変
動の範囲で一致しておれば、粒子検出系等は正常に動作
していると考えることが出来る。
It is also possible to calculate the expected number of image processing frames from the counted number of particles and compare this with the number of image frames actually processed. As a result of the comparison, if the number of frames predicted by calculation is extremely different from the number of frames actually subjected to image processing, it can be predicted that there is a problem in the particle detection system or the like. However, if they match within the range of statistical fluctuation, it can be considered that the particle detection system and the like are operating normally.

【0033】このように、粒子検出系の検出した全検出
粒子数をもとに、予想される粒子解析対象粒子数や予想
画像フレーム数と、実際の粒子画像数や画像フレーム数
と比較することにより、装置が正常に動作しているか、
問題が生じているかを知ることが出来る。
As described above, based on the total number of detected particles detected by the particle detection system, the expected number of particles to be analyzed and the expected number of image frames are compared with the actual number of particle images and the number of image frames. Check whether the device is operating normally,
You can see if there is a problem.

【0034】本発明をさらに具体的に詳しく説明する。
ただし、その説明の中で引用される具体例や限定的と考
えられる表現は、本発明を限定するために用いられたの
ではなく、あくまでも本発明の理解を助けるために用い
られたに過ぎないものであると理解されたい。
The present invention will be described more specifically in detail.
However, the specific examples and expressions considered to be limited in the description are not used to limit the present invention, but are merely used to help the understanding of the present invention. Please understand that it is a thing.

【0035】フローセル中の粒子検出領域を通過した粒
子を検出し、一定時間後に、その検出された粒子が静止
画像撮像領域の所定の位置に到着したとき、フラッシュ
ランプを点灯させ、粒子の静止画像を撮影する。
Particles that have passed through the particle detection area in the flow cell are detected, and after a certain period of time, when the detected particles arrive at a predetermined position in the still image capturing area, the flash lamp is turned on and the still image of the particle is displayed. To shoot.

【0036】一般に、撮像された一枚の静止画像中に
は、粒子検出系で検出した粒子以外の小さな粒子も撮像
されていることが度々発生する。この傾向は、粒子検出
信号レベルを高くすればするほど大きくなる。このた
め、撮像した粒子画像の中のどれが粒子解析対象粒子で
あるかの判別を行う必要がある。
In general, it is often the case that small particles other than the particles detected by the particle detection system are also picked up in one picked-up still image. This tendency becomes larger as the particle detection signal level becomes higher. Therefore, it is necessary to determine which of the captured particle images is the particle analysis target particle.

【0037】ここで、粒子検出系の検出原理として、粒
子検出信号の信号レベルを越えた粒子であって、さら
に、信号のパルス幅が所定の値を越えた粒子を検出する
と考えると、信号のパルス幅は測定粒子が粒子検出系を
通過する時間に相当し、通過粒子のサイズに比例する。
したがって、撮像した個々の粒子画像のサンプル流れ方
向の粒子の大きさと粒子通過によるパルス幅とは対応す
るから、粒子解析対象粒子かどうかの判別をパルス幅で
決まる粒子サイズを基準にして行うことが出来る。通常
は、流れ方向の粒子サイズを粒子画像の粒子解析、具体
的には分類識別等、に必要な特徴パラメータの一つとし
て用いる場合が多いから、容易に粒子解析対象粒子かど
うかの判別をすることができる。
Here, as a detection principle of the particle detection system, when it is considered that particles which exceed the signal level of the particle detection signal and whose pulse width exceeds a predetermined value are detected, The pulse width corresponds to the time taken for the measurement particles to pass through the particle detection system, and is proportional to the size of the passing particles.
Therefore, since the size of the particle in the sample flow direction of the captured individual particle image corresponds to the pulse width due to particle passage, it is possible to determine whether or not the particle is the particle to be analyzed based on the particle size determined by the pulse width. I can. Usually, the particle size in the flow direction is often used as one of the characteristic parameters necessary for particle analysis of particle images, specifically, classification and identification, so it is easy to determine whether the particles are particles to be analyzed. be able to.

【0038】しかし、そのような基準で行う粒子解析対
象粒子の判別は常に正しいとは限らない。粒子検出レベ
ルを一定とすると、粒子検出信号の大きさによる正規化
が行われていないため、信号の大小でパルス幅が変化す
る。また、装置ごとに粒子検出系のレーザ出力や検出系
感度が異なったり、光学系調整具合がばらついたりし、
さらに、サンプル流れが変動するため、パルス幅の変動
が生じる。このようなパルス幅の変動要因を考慮する
と、粒子検出動作は一定と云えなくなる。したがって、
製品化したとき、装置ごとに撮像された粒子画像から得
られた粒子サイズ特徴量の切り分け値と、粒子検出系で
定めたパルス幅検出値とは1対1の対応がつかなくな
る。また、装置ごとに、粒子検出系の調整を行うだけで
は十分対処できない。さらに、レーザの交換、光学系の
再調整をするたびに、粒子検出系の粒子検出条件を調節
する必要もある。
However, the determination of the particles to be analyzed by particles based on such a standard is not always correct. If the particle detection level is constant, the pulse width changes depending on the size of the signal, because normalization based on the size of the particle detection signal is not performed. Also, the laser output of the particle detection system and the sensitivity of the detection system may differ from device to device, and the degree of optical system adjustment may vary.
In addition, fluctuations in the sample flow result in fluctuations in the pulse width. Considering such a pulse width variation factor, the particle detection operation cannot be said to be constant. Therefore,
When the product is commercialized, there is no one-to-one correspondence between the divided value of the particle size feature amount obtained from the particle image captured for each device and the pulse width detection value determined by the particle detection system. Further, it is not possible to deal with the problem simply by adjusting the particle detection system for each device. Further, it is necessary to adjust the particle detection conditions of the particle detection system every time the laser is replaced or the optical system is readjusted.

【0039】そこで、これらの煩雑な調整操作を余り考
慮することなく、画像処理した粒子の中のどれが粒子解
析対象粒子であるかの決め方を説明する。
Therefore, how to determine which of the image-processed particles is the particle for particle analysis will be described without giving due consideration to these complicated adjustment operations.

【0040】これまで述べてきた構成と同じ粒子検出系
を用いることを前提とする。すなわち、粒子検出系を通
過した粒子からの散乱光を、光検出器で検出するとし、
検出信号の所定の検出レベルを越え、かつ、粒子のパル
ス幅が所定の値を越えた、大きさが指定の値以上の粒子
のみを粒子検出系で検出した粒子とする。
It is premised that the same particle detection system as that described so far is used. That is, the scattered light from the particles that have passed through the particle detection system is detected by a photodetector,
Only particles having a predetermined detection level of the detection signal and a pulse width of the particles exceeding a predetermined value and having a size equal to or larger than a specified value are detected by the particle detection system.

【0041】測定時間に通過した、検出された全粒子数
を計数し、これを全検出粒子数とする。粒子検出により
パルスランプ光源を点灯させ、検出粒子の静止画像を撮
影し、画像中にある全粒子について画像処理を行い、粒
子解析に必要な粒子特徴量を抽出し、粒子解析、具体的
には粒子分類処理を行う。この特徴抽出および粒子分類
識別処理を測定時間に撮像した全画像粒子に対し実行す
る。
The total number of detected particles that have passed the measurement time is counted, and this is taken as the total number of detected particles. The pulse lamp light source is turned on by particle detection, a still image of the detected particles is photographed, image processing is performed on all particles in the image, and the particle feature amount necessary for particle analysis is extracted. Perform particle classification processing. This feature extraction and particle classification identification processing is executed for all image particles imaged at the measurement time.

【0042】次に、粒子検出系で測定時間に通過した全
検出粒子数より、測定時間にパルスランプ点灯による粒
子静止画像のうちで予想される粒子解析対象粒子数を計
算する。これは検出画像粒子数はサンプル中の粒子濃
度、測定時間、TVカメラの画像撮像条件によって計算
する。この予想される粒子解析対象粒子数を N とする
と、このNの計算式の形は、測定条件で変わるが、粒子
通過の発生事象が統計学におけるポアソン過程を経ると
仮定することで求めることが出来る。
Next, the number of particles to be analyzed, which is expected in the particle still image obtained by lighting the pulse lamp during the measurement time, is calculated from the total number of detected particles that have passed through the particle detection system during the measurement time. The number of detected image particles is calculated by the particle concentration in the sample, the measurement time, and the image capturing conditions of the TV camera. If this expected number of particles to be analyzed is N, the form of the calculation formula for this N will change depending on the measurement conditions, but it can be obtained by assuming that the occurrence event of particle passage goes through the Poisson process in statistics. I can.

【0043】一般的には、Nは(1)式で与えられる。Generally, N is given by the equation (1).

【0044】 N = Nf・γ・{λ + exp(-λ・(1 - h))} (1) Nfは測定時間にTVカメラが撮像出来るフレーム画像
の総数である。測定条件である測定時間をTm、1フレ
ーム時間をTfとすればNf=Tm/Tfである。γの
項は、Nfのなかで実際のサンプル条件で粒子検出によ
り撮像されるフレーム数のNfに対する割合である。γ
の内容は測定条件で変わる。Nf・γの値は実際に粒子
画像を撮像した予想フレーム数に相当する。
N = Nfγ {λ + exp (-λ (1-h))} (1) Nf is the total number of frame images that can be captured by the TV camera during the measurement time. Nf = Tm / Tf, where Tm is the measurement time, which is the measurement condition, and Tf is the frame time. The term γ is the ratio of the number of frames imaged by particle detection under actual sample conditions to Nf in Nf. γ
The content of changes depending on the measurement conditions. The value of Nf · γ corresponds to the expected number of frames in which the particle image is actually captured.

【0045】(1)式の{・・}の中は、画像取り込み領域
に存在する検出粒子を含む予想される平均粒子数であ
る。ここで、λは画像取り込み領域体積に相当する体積
Vgに存在する平均粒子数、hは粒子検出によるパルス
ランプ点灯を画像取り込み領域のどこで行うかにより決
まる値で、0から1の間の値である。通常は1に近い値
の条件にする。λは(2)式で表される。測定条件であ
るVmは測定サンプル体積である。Nmは測定体積中の
全検出粒子計数値である。
The number in {..} of the equation (1) is the expected average number of particles including the detection particles existing in the image capturing area. Here, λ is the average number of particles existing in the volume Vg corresponding to the volume of the image capturing area, h is a value determined depending on where in the image capturing area the pulse lamp lighting by particle detection is performed, and a value between 0 and 1. is there. Normally, the condition is a value close to 1. λ is expressed by equation (2). The measurement condition Vm is the measurement sample volume. Nm is the total detected particle count value in the measurement volume.

【0046】 λ = (Nm/Vm)・Vg (2) 具体的なγの式の形の例を以下に示す。Λ = (Nm / Vm) · Vg (2) A specific example of the form of the expression of γ is shown below.

【0047】パルスランプの点灯タイミングの制約、す
なわち、TVカメラの奇数フィールドまたは偶数フィー
ルドでのみ点灯可能という制約がない、一番効率よく粒
子画像を撮像する場合を考える。パルスランプ点灯後、
2フィールドかけてCCD・TVカメラに蓄積さされた
画像を画像メモリに読みだす場合には、γの式の形は
(3)式で示される。
Consider the case where the particle image is most efficiently captured without the restriction of the lighting timing of the pulse lamp, that is, the restriction that the lighting is possible only in the odd field or even field of the TV camera. After lighting the pulse lamp,
When the image stored in the CCD / TV camera over two fields is read into the image memory, the form of γ is
It is expressed by equation (3).

【0048】 γ = 2・{1 - exp(-Nm・Tf/2・Tm)}/{2 - exp(-Nm・Tf/2・Tm)} (3) この式でTfはTVカメラ系の1フレーム時間を表す。
また、画像読みだしおよび画像処理に3フィールド必要
な場合にはデット・タイムが1フィールド増加するが、
この場合のγの式の形は(4)式で示される。
Γ = 2 · {1 − exp (−Nm · Tf / 2 · Tm)} / {2−exp (−Nm · Tf / 2 · Tm)} (3) In this equation, Tf is the value of the TV camera system. It represents one frame time.
Also, when 3 fields are required for image reading and image processing, the dead time increases by 1 field.
The form of the equation of γ in this case is given by equation (4).

【0049】 γ = 2・{1 - exp(-Nm・Tf/2・Tm)}/{3 -2・exp(-Nm・Tf/2・Tm)} (4) いずれにしても、γの式の形は、粒子濃度、測定時間、
TVカメラ撮像系の条件で変わる。
Γ = 2 · {1 − exp (−Nm · Tf / 2 · Tm)} / {3 −2 · exp (-Nm · Tf / 2 · Tm)} (4) In any case, The form of the equation is particle concentration, measurement time,
It depends on the conditions of the TV camera imaging system.

【0050】以上のようにして算出された予想される粒
子解析対象粒子数Nは、統計的なバラツキは避けられな
いが、比較的正しい値を与える。
The expected number N of particles to be analyzed, which is calculated as described above, gives a relatively correct value, although statistical variations are inevitable.

【0051】また、(1)式において、Nf・γの値は、
測定時間中にフラッシュランプ発光平均回数、すなわ
ち、粒子検出によって粒子撮像されたTV画像の平均フ
レーム数に相当する。よって、実際に画像処理した全画
像数、すなわち、粒子画像を撮像した全フレーム数Nf
sに置き換えたほうが、実際の装置においてはNf・γ
の値の計算をしなくてすみ、処理が簡単になる。(1)式
においてNf・γをNfsに置き換えるとNは(5)式で
示される。
In the equation (1), the value of Nf · γ is
It corresponds to the average number of flash lamp emission during the measurement time, that is, the average number of frames of a TV image in which particles are imaged by particle detection. Therefore, the total number of images actually image-processed, that is, the total number Nf of frames in which particle images are captured
It is better to replace it with s in the actual device.
Processing is easy because you don't have to calculate the value of. When Nf · γ is replaced with Nfs in the equation (1), N is given by the equation (5).

【0052】 N = Nfs・{λ + exp(-λ・(1 - h))} (5) なお、測定条件によっては、(1)式から(5)式において、
近似式を導出し、計算処理を簡単にすることも可能であ
る。
N = Nfs · {λ + exp (−λ · (1−h))} (5) Depending on the measurement conditions, in equations (1) to (5),
It is also possible to derive an approximate expression and simplify the calculation process.

【0053】次に、画像処理した全画像粒子について、
粒子サイズ、特に流れ方向にみた粒子サイズの特徴量
を、サイズの大きい方から順に並べ変える。次に、並べ
変えた粒子サイズの大きい方から、前述した予想される
粒子解析対象粒子数分だけ取り出すと、これが粒子検出
で検出された粒子と考えることが出来る。これが正規粒
子解析対象粒子である。この比較段階で残った粒子は別
枠粒子解析対象粒子と考える。
Next, for all image particles that have undergone image processing,
The features of the particle size, especially the particle size in the flow direction, are rearranged in order from the largest size. Next, by extracting the same number of expected particle analysis target particles as described above from the larger sorted particle size, it can be considered as particles detected by particle detection. This is the normal particle analysis target particle. The particles remaining in this comparison stage are considered as particles subject to separate frame analysis.

【0054】以上に説明した方法では、粒子の検出条件
が装置ごとに異なっていても、その結果は全検出粒子の
変動として現れ、その結果は測定時間中に処理される検
出画像粒子数の増減に対応するため、粒子検出系の粒子
種類の分布と画像処理した粒子の種類の分布に違いは生
じない。すなわち、検出条件が変動しても、実質的にそ
の影響なしに粒子解析を行うことが出来る。
In the method described above, even if the particle detection conditions differ from device to device, the result appears as a fluctuation of all detected particles, and the result is that the number of detected image particles processed during the measurement time increases or decreases. Therefore, there is no difference between the particle type distribution of the particle detection system and the particle type distribution of the image-processed particles. That is, even if the detection conditions change, particle analysis can be performed without substantially affecting it.

【0055】例えば、粒子検出レベルを低く設定して、
検出された粒子数が増大したとしても、画像処理でも検
出粒子の対応させる粒子数も増える結果になるため、検
出レベル近傍にある粒子が本来不要であっても、画像処
理から得られた結果にも不要粒子が反映し、本来サンプ
ル中にある粒子種類の数を正しく知ることが出来る。
For example, by setting the particle detection level low,
Even if the number of detected particles increases, the number of particles that the detected particles correspond to also increases in image processing, so even if particles near the detection level are not originally necessary, the results obtained from image processing Also, unnecessary particles are reflected, and the number of particle types originally in the sample can be correctly known.

【0056】粒子画像識別特徴量として、測定粒子の形
態情報または色彩情報、または蛍光強度情報、またはこ
れらの情報の複数個組み合わせた特徴量を使用すること
が出来るが、その場合、粒子検出系の粒子検出条件を変
更することが望ましい。具体的には、粒子画像から、粒
子の大きさ、面積、直径、周囲長、射影像などの形態情
報、粒子濃度、色彩情報、粒子内構造、蛍光強度等の特
徴量が用いられる。生物細胞のように核、細胞質、細胞
内顆粒などの存在などの情報を使うこともできる。
As the particle image identification feature amount, morphology information or color information of the measurement particles, fluorescence intensity information, or a feature amount obtained by combining a plurality of these items of information can be used. It is desirable to change the particle detection conditions. Specifically, from the particle image, morphological information such as particle size, area, diameter, perimeter, and projection image, particle concentration, color information, particle internal structure, and fluorescence intensity are used. Information such as the presence of nuclei, cytoplasm, intracellular granules, etc., as in biological cells, can also be used.

【0057】上述した方法により、画像中に存在する粒
子のどれが粒子検出系で検出された検出粒子であると考
えることが出来るか、すなわち粒子解析対象粒子である
かがわかったので、その粒子について粒子解析処理、具
体的には分類識別処理、を実行する。これを正規粒子解
析処理と名付ける。画像処理した粒子のうちの粒子解析
対象粒子以外の残りの粒子は別に粒子解析処理を行う。
この処理を別枠粒子解析処理と名付ける。
By the above-mentioned method, it was found which of the particles existing in the image can be considered as the detection particles detected by the particle detection system, that is, the particles to be analyzed by the particles. The particle analysis process, specifically, the classification and identification process is executed. This is called normal particle analysis processing. Particles other than the particles to be subjected to particle analysis among the particles subjected to image processing are separately subjected to particle analysis processing.
This process is named another frame particle analysis process.

【0058】また、粒子解析において、始めから、予め
指定された値より小さな画像粒子サイズを有する粒子を
別枠粒子解析処理粒子とすることで、画像粒子サイズデ
ータの大小並べ変えのための計算時間を短くすることが
出来る。
Further, in the particle analysis, particles having an image particle size smaller than a predesignated value are used as particles in another frame particle analysis processing from the beginning, so that the calculation time for changing the size of the image particle size data can be reduced. Can be shortened.

【0059】粒子検出においては、粒子検出による静止
画像撮像と関係なく、粒子検出系を通過した粒子のう
ち、検出レベル以上あり、かつ、所定のパルス幅以上あ
る粒子の数、すなわち全検出粒子計数値を計数する。こ
の場合、フラッシュランプ光による粒子検出信号の誤計
数を防止することが望ましい。この防止のためには、フ
ラッシュランプ光が粒子検出器に到達しないようにする
か、または電気的にフラッシュランプ信号を計数しない
ようにする。フラッシュランプ光も検出し、測定終了時
にランプ発光回数分差し引く方法により誤計数を防ぐよ
うにしても差し支えない。
In particle detection, irrespective of still image capturing by particle detection, the number of particles having a detection level or more and a predetermined pulse width or more among particles that have passed through the particle detection system, that is, a total detection particle counter. Count the numbers. In this case, it is desirable to prevent erroneous counting of particle detection signals due to flash lamp light. To prevent this, the flashlamp light is prevented from reaching the particle detector or the flashlamp signal is not counted electrically. There is no problem even if the flash lamp light is also detected, and a false counting is prevented by a method of subtracting the number of times of lamp light emission at the end of the measurement.

【0060】濃度の濃い粒子サンプルを処理する場合、
画像読みだしに伴うデットタイムのために粒子検出系に
おいて粒子の数え落としが生じるため、一定測定時間中
の一画像処理された粒子計数値の粒子数総和は、前記一
定測定時間中に粒子検出系を通過した全検出粒子計数値
と必ずしも一致はしない。しかし、測定条件で形は異な
るが、(1)式などの計算式を使って、予測値としての粒
子解析対象粒子数を知ることが出来る。
When processing dense particle samples,
Since the counting of particles occurs in the particle detection system due to the dead time accompanying the image reading, the total number of particles in the count value of one image processed during the constant measurement time is the particle detection system during the constant measurement time. It does not always match the count value of all the detected particles that have passed through. However, although the shape varies depending on the measurement conditions, the number of particles to be analyzed as a predicted value can be known by using a calculation formula such as formula (1).

【0061】また、別枠粒子解析処理対象粒子は、粒子
検出系の検出レベル以下の粒子であるから、前記全粒子
検出計数値には含まれていない。
Further, since the particles to be subjected to the separate frame particle analysis processing are particles below the detection level of the particle detection system, they are not included in the total particle detection count value.

【0062】処理された全静止画像中の粒子の中から粒
子サイズの大きい方の粒子が粒子解析対象粒子数分選択
されると、その選択された粒子について粒子解析処理、
具体的にはパターン認識識別処理を行い、粒子の種類を
確定する。この作業が全画像に対し行われることによ
り、サンプル中の各種類の粒子存在比率が確定する。撮
像された静止粒子画像中に存在する粒子検出レベル以下
の粒子については、粒子検出系の検出全粒子数には含ま
れていないため処理を実施することができない。
When particles having a larger particle size are selected by the number of particles to be subjected to particle analysis from particles in all processed still images, particle analysis processing is performed on the selected particles.
Specifically, pattern recognition and identification processing is performed to determine the type of particle. By performing this operation for all the images, the particle existence ratio of each type in the sample is determined. Particles that are present in the captured still particle image and that are lower than the particle detection level cannot be processed because they are not included in the total number of particles detected by the particle detection system.

【0063】粒子存在比率が確定すると、粒子検出全粒
子数を粒子検出計数器により別に測定されているから、
粒子検出全粒子数に粒子存在比率を乗ずることにより、
サンプル中の種類ごとの粒子個数を計算することが出来
る。また、各種類の粒子個数より、単位体積当たりの粒
子濃度を計算することが出来る。
When the particle existence ratio is determined, the total number of particles detected is separately measured by the particle detection counter.
Particle detection By multiplying the total number of particles by the particle existence ratio,
It is possible to calculate the number of particles for each type in the sample. Further, the particle concentration per unit volume can be calculated from the number of particles of each type.

【0064】粒子検出手段として、レーザ光束をサンプ
ル流れに照射し、サンプル内の粒子からの光散乱を検出
する例の場合、幅広で細く集光したレーザ光束をサンプ
ル中の粒子がよぎると、光は散乱され、光検出器で受光
される。電気信号に変換された粒子検出パルス信号の大
きさは、粒子のサイズ情報を含むものである。特に、粒
子検出系を通過する時間は、粒子検出パルス信号に対応
する。この粒子検出パルス信号は、実際には粒子サイズ
にレーザ光束の粒子検出位置でのスポットサイズを加え
たものに対応する。
In the case of an example of irradiating the sample stream with a laser beam as the particle detecting means to detect light scattering from particles in the sample, when the beam in the sample crosses the laser beam condensed and wide, Are scattered and received by the photodetector. The size of the particle detection pulse signal converted into the electric signal includes the size information of the particle. In particular, the time it takes to pass the particle detection system corresponds to the particle detection pulse signal. This particle detection pulse signal actually corresponds to the particle size plus the spot size at the particle detection position of the laser beam.

【0065】次に、別枠粒子解析処理について述べる。Next, the separate frame particle analysis processing will be described.

【0066】正規粒子解析処理とは別に、撮像された静
止粒子画像に残存している未処理粒子について粒子解析
処理、具体的には分類識別処理を実行する。これらの未
処理粒子は、粒子検出系で検出されていない粒子が、撮
像された静止粒子画像に存在する粒子である。しかし、
これらの未処理粒子の中には重要な粒子が含まれている
ことがあり、その情報を捨ててしまうことは好ましくな
い。
In addition to the normal particle analysis processing, particle analysis processing, specifically, classification and identification processing is executed for unprocessed particles remaining in the captured still particle image. These unprocessed particles are particles that are not detected by the particle detection system and are present in the captured still particle image. But,
Important particles may be contained in these untreated particles, and it is not preferable to discard the information.

【0067】未処理粒子のサンプル中での濃度、数量を
確定するには、単位体積当たりの個数、実際には、全画
像を処理した後の全画像に相当するサンプル体積当たり
の粒子数を計算し、さらに、全測定サンプル当たりに換
算し直すことで、サンプルに占める粒子数、粒子数比率
等が決められる。このように、画像処理したサンプルに
相当するサンプル体積を計算することが必要である。
To determine the concentration and quantity of untreated particles in a sample, the number per unit volume, in fact, the number of particles per sample volume corresponding to all images after processing all images was calculated. Then, the number of particles occupying the sample, the ratio of the number of particles, and the like are determined by reconverting the values for all the measurement samples. Thus, it is necessary to calculate the sample volume corresponding to the image processed sample.

【0068】測定終了時に、正規粒子解析処理と上記別
枠粒子解析処理との結果を組み合わせて、最終結果とす
る。別枠粒子解析結果の中には、本来正規粒子解析結果
に含まれるべき粒子が存在し、正規粒子解析結果に加え
る必要がある。正規粒子解析処理に入らないが例外的に
重要な粒子が含まれる場合にも、結果として報告する。
At the end of the measurement, the results of the normal particle analysis processing and the separate frame particle analysis processing are combined to obtain the final result. In the particle analysis result in another frame, there are particles that should originally be included in the normal particle analysis result, and it is necessary to add them to the normal particle analysis result. The results are also reported when particles that are exceptionally important but are not included in the normal particle analysis process are included.

【0069】粒子サイズが小さくて粒子検出で検出する
にはノイズ信号と同一信号レベルであったり、粒子個数
が非常に多く解析画像が膨大になる場合には、粒子検出
レベルを高くし、解析する静止粒子画像数を減らす方式
がよい。
When the particle size is small and the signal level is the same as the noise signal for detection by particle detection, or when the number of particles is very large and the analysis image becomes huge, the particle detection level is increased and analysis is performed. A method that reduces the number of static particle images is preferable.

【0070】上述の一連の画像処理を測定サンプルにつ
いて行うことにより、サンプル中の各粒子種類ごとの存
在比率、粒子数を決定することができる。これらの値か
ら、測定サンプル中の単位体積当たりの粒子濃度、また
は顕微鏡視野換算の粒子数を知る。顕微鏡視野換算の粒
子数とは、適当な倍率の顕微鏡視野に存在する平均粒子
数で、予め顕微鏡視野に相当するサンプル体積を設定す
ることが必要である。
By performing the above-mentioned series of image processing on the measurement sample, the existence ratio and the number of particles for each particle type in the sample can be determined. From these values, the particle concentration per unit volume in the measurement sample, or the number of particles converted into a microscopic field is known. The number of particles in terms of the microscope field is the average number of particles present in the microscope field with an appropriate magnification, and it is necessary to set the sample volume corresponding to the microscope field in advance.

【0071】別枠粒子解析処理を実行する場合、測定精
度を保持するのに必要な画像処理されるサンプル体積が
必要である。しかし、粒子検出系で検出された粒子数が
少ない場合には、十分な静止粒子画像数を確保すること
ができず、結果として画像処理されるサンプルの体積が
十分取れないことがある。
When the separate-frame particle analysis processing is executed, the sample volume to be image-processed is required to maintain the measurement accuracy. However, when the number of particles detected by the particle detection system is small, a sufficient number of still particle images cannot be secured, and as a result, a sufficient volume of a sample to be subjected to image processing may not be obtained.

【0072】別枠粒子解析処理は撮像された静止粒子画
像に基づいて行うため、もとの正規粒子解析処理対象粒
子がサンプル中に存在する割合が少ない場合には、画像
処理したサンプル体積をもとに別枠粒子解析処理の粒子
濃度を算定することから、誤差が多くなる危険性があ
る。これはサンプル中に粒子が余り存在しないためであ
り、解析精度に問題があるわけではない。
Since the separate frame particle analysis processing is performed on the basis of the imaged still particle image, when the ratio of the original particles for normal particle analysis processing to exist in the sample is small, the image processed sample volume is used as the basis. Since the particle concentration in the separate particle analysis process is calculated, there is a risk that errors will increase. This is because there are not many particles in the sample, and there is no problem in analysis accuracy.

【0073】このように画像処理されるサンプルの体積
が十分取れない場合に別枠粒子解析を行うには、測定精
度が十分取れないことから、別枠粒子解析処理を中止す
るか、または別枠粒子解析処理を行っても測定精度が悪
いこと、データが信頼できないことをオペレータに知ら
せることが必要である。ただし、別枠粒子解析処理され
る粒子の中で、特に重要な粒子が存在する場合について
は測定精度に関係なく報告することが好ましい。
In order to perform the separate-frame particle analysis when the volume of the sample to be image-processed in this way is not sufficient, the separate-frame particle analysis process is stopped or the separate-frame particle analysis process is performed because the measurement accuracy cannot be sufficiently obtained. It is necessary to inform the operator that the measurement accuracy is poor and the data is unreliable even after performing. However, it is preferable to report the case where particularly important particles are present among particles to be subjected to the separate-frame particle analysis processing regardless of the measurement accuracy.

【0074】別枠粒子解析処理した全粒子数を計数し、
予め設定した粒子数以上に達しておれば、別枠識別処理
結果を有効と判断する。その粒子数に達していなけれ
ば、無効と判断するか、またはどの程度の測定精度かを
表示することにより測定結果の有効性を決定する。この
場合、個々の種類別の粒子数再現性を判断基準にしても
良いし、単に処理画像数を基準にとっても良いし、別枠
粒子解析処理のサンプル体積を基準に考えても良い。こ
れらの判断基準は、予め測定する前に設定することが望
ましい。さらに、別枠粒子解析処理における測定結果
が、上述した判断基準に満たない場合には、オペレータ
に知らせる手段が必要である。測定結果の後に、コメン
トを付けたり、記号を付けて表示するのが良い。
Separate frame particle analysis The total number of particles processed was counted,
If the number of particles is equal to or more than the preset number of particles, it is determined that the separate frame identification processing result is valid. If the number of particles has not been reached, the validity of the measurement result is determined by judging that the measurement result is invalid or displaying the degree of measurement accuracy. In this case, the reproducibility of the number of particles for each type may be used as a criterion, or the number of processed images may be simply used as the reference, or the sample volume of another frame analysis processing may be used as the reference. It is desirable to set these criteria before measurement. Furthermore, when the measurement result in the separate frame particle analysis processing does not meet the above-described determination criteria, a means for notifying the operator is required. It is better to add comments or symbols after the measurement results.

【0075】また、上述した別枠粒子解析処理における
危険性よりも、一個でも特定粒子が存在することにより
重要な情報をオペレータに提供する粒子に対しては、粒
子解析結果、具体的には分類結果をそのまま出力する。
このようにして、例外粒子に対して測定結果が得られな
いという問題を生じさせない。
In addition, the particle analysis result, specifically, the classification result is provided for the particles that provide the operator with important information due to the presence of even one specific particle rather than the risk in the above-described separate frame particle analysis processing. Is output as is.
In this way, the problem that measurement results cannot be obtained for exceptional particles does not occur.

【0076】また、上述した別枠粒子解析処理で処理し
た粒子の中に正規粒子解析処理対象粒子が存在する場
合、単位体積当たりの粒子濃度に計算した後、正規粒子
解析処理粒子に組み入れることにより、粒子の粒子解析
精度すなわち分類精度を改善する。この場合にも、上述
した別枠粒子解析処理における測定精度の危険性を考慮
して正規粒子解析結果に組み入れるため、組入れによっ
て測定精度の低下はない。
In addition, when the particles to be subjected to the normal particle analysis processing exist in the particles processed by the above-mentioned separate frame particle analysis processing, the particle concentration per unit volume is calculated, and then the particles are incorporated into the normal particle analysis processed particles. The particle analysis accuracy of particles, that is, the classification accuracy is improved. Also in this case, since the risk of the measurement accuracy in the above-mentioned separate frame particle analysis processing is taken into consideration and incorporated into the normal particle analysis result, the incorporation does not reduce the measurement accuracy.

【0077】全ての粒子検出により撮像された画像につ
いて、正規粒子解析処理対象粒子を選別し、さらに別枠
粒子解析処理を実行することにより、粒子検出された全
粒子による分類個数、分類比率を知ることが出来る。
To know the number of classifications and the classification ratio of all the particles detected by selecting the particles to be subjected to the normal particle analysis processing from the images picked up by all the particle detections and further executing the separate frame particle analysis processing. Can be done.

【0078】これまでの説明では、同一解析サンプルに
対して解析条件は一定として考えてきたが、実際のサン
プル解析においては、解析モードを変えて実施すること
がある。このような解析モードが複数個の場合にも、そ
れぞれの解析モードについて上述した正規粒子解析処
理、別枠粒子解析処理を行わせる。
In the above description, the analysis conditions were considered to be constant for the same analysis sample, but in the actual sample analysis, the analysis mode may be changed. Even when there are a plurality of such analysis modes, the above-described normal particle analysis processing and separate frame particle analysis processing are performed for each analysis mode.

【0079】例えば、ある種類の粒子について、第1の
解析モードでは別枠粒子解析対象粒子を、第2の解析モ
ードでは正規粒子解析対象粒子にするように解析を行え
ば、解析終了後、個々の解析モードの粒子解析結果すな
わち分類識別結果を総合して、1解析サンプル全体の粒
子解析結果として整理することにより解析精度の改善を
することが出来る。
For example, for a certain type of particle, if the analysis is carried out so that the particles to be analyzed in different frames in the first analysis mode and the particles to be analyzed in the normal particle mode in the second analysis mode, the individual particles are analyzed after the analysis is completed. The analysis accuracy can be improved by integrating the particle analysis results in the analysis mode, that is, the classification and identification results, and organizing them as the particle analysis results of the entire one analysis sample.

【0080】また、測定条件が異なる場合や解析対象粒
子の範囲が異なる場合のように、異なる複数の測定モー
ドを有する場合には、それぞれに異なった粒子検出条
件、すなわち、粒子検出信号のパルスレベルやパルス幅
の所定の値を変更することが出来、結果として、粒子検
出条件を最適にすることが出来る。
When there are a plurality of different measurement modes, such as when the measurement conditions are different or the range of particles to be analyzed is different, different particle detection conditions, that is, the pulse level of the particle detection signal, are obtained. The predetermined value of pulse width can be changed, and as a result, the particle detection condition can be optimized.

【0081】さらに、異なる複数の測定モードにおい
て、異なる粒子検出条件に対応して、粒子解析部の対応
させる複数の所定粒子サイズの値を有し、かつ変更する
手段が備えられるならば、測定条件の多様性が増し、粒
子解析精度の改善を計ることが出来る。
Further, in a plurality of different measurement modes, if there is provided a means for changing and having a plurality of values of a predetermined particle size corresponding to the particle analysis unit corresponding to different particle detection conditions, the measurement condition And the accuracy of particle analysis can be improved.

【0082】粒子検出部を測定時間中に通過した全粒子
数計数値から、通過した全粒子数から予想される粒子解
析対象粒子数を計算することが出来るから、この値が、
画像処理された全粒子画像数と比較させる。比較結果と
して、計算で予想した粒子解析対象粒子数よりも実際の
画像処理した粒子数が多ければ問題がない。しかし、統
計的な変動や装置の不具合で、画像処理した粒子数が少
ない場合には、統計的な誤差なのか装置の不具合なのか
状態判定を行う。問題がなければ、通常の分類結果、分
類比率をもとに粒子数補正を行う。問題が有れば、粒子
数補正を中止し、問題がある旨、オペレータに知らせ
る。
From the count value of the total number of particles that have passed through the particle detection unit during the measurement time, the number of particles to be analyzed, which is expected from the total number of particles that have passed, can be calculated.
It is compared with the total number of image-processed particle images. As a result of comparison, there is no problem if the actual number of particles subjected to image processing is larger than the number of particles targeted for particle analysis predicted by calculation. However, if the number of particles that have undergone image processing is small due to statistical fluctuations or device malfunctions, a state determination is made as to whether there is a statistical error or device malfunction. If there is no problem, the number of particles is corrected based on the normal classification result and classification ratio. If there is a problem, the particle number correction is stopped and the operator is notified that there is a problem.

【0083】同様のことを、測定時間中に粒子画像を撮
像したフレーム総数に関して行うことが出来る。粒子検
出部を測定時間中に通過した全粒子数計数値から、予想
される画像処理フレーム数を計算することが出来、この
値と実際に処理した画像フレーム数と比較することによ
り、装置の状態を知ることが出来る。画像フレーム数の
比較結果として、計算で予想したフレーム数の方が実際
の画像処理したフレーム数と極端に違うような場合には
粒子検出系、パルスランプ点灯系に問題が有ることが予
想される。しかし、統計的な変動の範囲で一致しておれ
ば、粒子検出系およびパルスランプ点灯系は正常に動作
していると考えられる。予想される画像フレーム数の計
算は、(1)式のNf・γで与えられ、これは測定条件で
異なる。
The same thing can be done with respect to the total number of frames in which particle images were taken during the measurement time. The expected number of image processing frames can be calculated from the count value of all particles that have passed through the particle detection unit during the measurement time.By comparing this value with the number of image frames actually processed, the device status You can know As a result of comparing the number of image frames, if the number of frames predicted by calculation is extremely different from the actual number of frames processed by image processing, it is expected that there is a problem in the particle detection system and pulse lamp lighting system. . However, if they match within the range of statistical fluctuation, it is considered that the particle detection system and the pulse lamp lighting system are operating normally. The calculation of the expected number of image frames is given by Nf · γ in equation (1), which differs depending on the measurement conditions.

【0084】このように、粒子検出系の検出した全検出
粒子数をもとに、予想される画像処理される粒子画像数
や予想画像フレーム数と、実際の粒子画像数や画像フレ
ーム数と比較することにより、装置が正常に動作してい
るか、問題が生じているかを知ることが出来る。
Thus, based on the total number of detected particles detected by the particle detection system, the expected number of image-processed particle images and the expected number of image frames are compared with the actual number of particle images and the number of image frames. By doing so, it is possible to know whether the device is operating normally or a problem has occurred.

【0085】本発明の他の特徴および利益は図面を参照
してなされる発明の実施形態の説明から明らかとなるで
あろう。
Other features and benefits of the present invention will be apparent from the description of the embodiments of the invention made with reference to the drawings.

【0086】[0086]

【発明の実施の形態】図1において、100はフローセ
ル、101は画像撮像手段、102は粒子検出手段、1
03は粒子解析手段、1はフラッシュランプ、1aはフ
ラッシュランプ駆動回路、2はフィールドレンズ、3は
顕微鏡コンデンサレンズ、5は顕微鏡対物レンズ、6は
結像位置、7は投影レンズ、8はTVカメラ、11は視
野絞り、12は開口絞り、15は半導体レーザ、16は
コリメータレンズ、17はシリンドリカルレンズ、18
は反射鏡、19は微小反射鏡、20はビームスプリッ
タ、21は絞り、22は光検出回路、23はフラッシュ
ランプ点灯制御回路、24はAD変換器、25は画像メ
モリ、26は画像処理制御回路、27は特徴抽出回路、
28は識別回路、29は中央制御部、40は粒子数解析
部、50は表示部である。
DESCRIPTION OF THE PREFERRED EMBODIMENTS In FIG. 1, 100 is a flow cell, 101 is an image pickup means, 102 is a particle detection means, and 1 is a particle detection means.
Reference numeral 03 is a particle analyzing means, 1 is a flash lamp, 1a is a flash lamp driving circuit, 2 is a field lens, 3 is a microscope condenser lens, 5 is a microscope objective lens, 6 is an image forming position, 7 is a projection lens, and 8 is a TV camera. , 11 is a field stop, 12 is an aperture stop, 15 is a semiconductor laser, 16 is a collimator lens, 17 is a cylindrical lens, 18
Is a reflecting mirror, 19 is a minute reflecting mirror, 20 is a beam splitter, 21 is a diaphragm, 22 is a light detection circuit, 23 is a flash lamp lighting control circuit, 24 is an AD converter, 25 is an image memory, 26 is an image processing control circuit. , 27 is a feature extraction circuit,
28 is an identification circuit, 29 is a central control unit, 40 is a particle number analysis unit, and 50 is a display unit.

【0087】図1の実施例に係るフロー式粒子画像解析
装置は、粒子を懸濁させたサンプル液が供給されるフロ
ーセル100と、フローセル100を流れるサンプル液
中の粒子を撮像する画像撮像手段101と、撮像される
べき粒子を検出する粒子検出手段102と、撮像された
粒子を解析する粒子解析手段103とを備えている。
The flow-type particle image analyzer according to the embodiment of FIG. 1 comprises a flow cell 100 to which a sample liquid in which particles are suspended is supplied, and an image pickup means 101 for picking up an image of particles in the sample liquid flowing through the flow cell 100. And particle detection means 102 for detecting particles to be imaged, and particle analysis means 103 for analyzing the imaged particles.

【0088】フローセル100にはサンプル液110流
れと共にシース液111が供給され、サンプル液110
流れはシース液111に包まれる流れを形成する。そし
てサンプル液110流れは画像撮像手段101(後述)
の顕微鏡光軸9(後述)に対して垂直方向に偏平な断面
形状を有する安定した定常流、いわゆるシースフローと
なり、フローセル100の中心を紙面の上方から下方へ
向かって流下する。このサンプル液110流れの流速は
中央制御部29(後述)により制御される。
The sheath liquid 111 is supplied to the flow cell 100 together with the flow of the sample liquid 110.
The flow forms a flow surrounded by the sheath liquid 111. The flow of the sample liquid 110 is the image pickup means 101 (described later).
A stable steady flow having a flat cross section in a direction perpendicular to the microscope optical axis 9 (described later), that is, a so-called sheath flow, which flows down from the center of the flow cell 100 downward from above the paper surface. The flow velocity of the flow of the sample liquid 110 is controlled by the central control unit 29 (described later).

【0089】画像撮像手段101は顕微鏡としての機能
を有し、パルス光源であるフラッシュランプ1と、フラ
ッシュランプ1を発光させるフラッシュランプ駆動回路
1aと、フラッシュランプ1からのパルス光束を平行に
するフィールドレンズ2と、フィールドレンズ2からの
平行なパルス光束10をフローセル100内のサンプル
液110流れに集束させる顕微鏡コンデンサレンズ3
と、フローセル100内のサンプル液110流れに照射
されたパルス光束を集光し結像位置6に結像させる顕微
鏡対物レンズ5と、投影レンズ7を介して投影した結像
位置6の粒子像を、いわゆるインターレース方式により
取り込み電気信号である画像データ信号に変換するTV
カメラ8と、パルス光束10の幅を制限する視野絞り1
1および開口絞り12とを具備している。TVカメラ8
としては、残像の少ないCCDカメラ等が一般に用いら
れる。
The image pickup means 101 has a function as a microscope, and includes a flash lamp 1 which is a pulse light source, a flash lamp drive circuit 1a for causing the flash lamp 1 to emit light, and a field which makes a pulse light flux from the flash lamp 1 parallel. Microscope condenser lens 3 for focusing the lens 2 and the parallel pulsed light flux 10 from the field lens 2 on the flow of the sample liquid 110 in the flow cell 100.
A microscope objective lens 5 for condensing the pulsed light flux irradiated on the flow of the sample liquid 110 in the flow cell 100 to form an image at the image forming position 6, and a particle image at the image forming position 6 projected via the projection lens 7. , A so-called interlace method, a TV that converts the image data signal which is an electric signal taken in
Camera 8 and field stop 1 for limiting the width of pulsed light flux 10
1 and an aperture stop 12. TV camera 8
For this, a CCD camera or the like with a small afterimage is generally used.

【0090】前記粒子検出手段102は検出光としての
レーザ光を発する半導体レーザ15と、半導体レーザ1
5からのレーザ光を平行なレーザ光束14にするコリメ
ータレンズ16と、コリメータレンズ16からのレーザ
光束14の一方向のみを集束させるシリンドリカルレン
ズ17と、シリンドリカルレンズ17からのレーザ光束
14を反射させる反射鏡18と、顕微鏡コンデンサレン
ズ3とフローセル100との間に位置し、反射鏡18か
らのレーザ光束14をサンプル液110流れ上の画像取
り込み領域(撮像領域)の上流側近傍に導く微小反射鏡
19とから構成されている。
The particle detecting means 102 includes a semiconductor laser 15 that emits laser light as detection light, and a semiconductor laser 1.
Collimator lens 16 for converting laser light from laser beam 5 into parallel laser light flux 14, cylindrical lens 17 for focusing only one direction of laser light flux 14 from collimator lens 16, and reflection for reflecting laser light flux 14 from cylindrical lens 17 A micro-reflecting mirror 19 which is located between the mirror 18, the microscope condenser lens 3 and the flow cell 100 and guides the laser light flux 14 from the reflecting mirror 18 to the vicinity of the upstream side of the image capturing area (imaging area) on the flow of the sample liquid 110. It consists of and.

【0091】さらに、粒子によるレーザ光束14の散乱
光を集光する顕微鏡対物レンズ5(この顕微鏡対物レン
ズ5は画像撮像手段101の結像用の顕微鏡対物レンズ
5と共用される)と、顕微鏡対物レンズ5で集光された
散乱光を反射させるビームスプリッタ20と、ビームス
プリッタ20からの散乱光を絞り21を介して受光し、
その強度に基づく電気信号を出力する光検出回路22
と、光検出回路22からの電気信号に基づいてフラッシ
ュランプ駆動回路1aを作動させるフラッシュランプ発
光制御回路23とを具備している。
Further, a microscope objective lens 5 for condensing the scattered light of the laser light flux 14 by the particles (this microscope objective lens 5 is also used as the image forming microscope objective lens 5 of the image pickup means 101) and a microscope objective. The beam splitter 20 that reflects the scattered light condensed by the lens 5 and the scattered light from the beam splitter 20 are received via the diaphragm 21,
Photodetection circuit 22 that outputs an electrical signal based on the intensity
And a flash lamp light emission control circuit 23 for operating the flash lamp drive circuit 1a based on an electric signal from the light detection circuit 22.

【0092】粒子解析手段103はTVカメラ8から転
送された画像データ信号をデジタル信号に変換するAD
変換器24と、AD変換器24からの信号に基づくデー
タを所定のアドレスに記憶する画像メモリ25と、前記
画像メモリにおけるデータの書き込みおよび読み出しの
制御を行う画像処理制御回路26と、画像メモリ25か
らの信号に基づき画像処理を行い粒子数や分類を行う特
徴抽出回路27と、識別回路28と、中央制御部29
と、サンプル液110中の粒子数を決定する粒子数解析
部40と、画像処理の結果である粒子数や分類を表示す
る表示部50とからなっている。
The particle analysis means 103 is an AD for converting the image data signal transferred from the TV camera 8 into a digital signal.
A converter 24, an image memory 25 that stores data based on a signal from the AD converter 24 at a predetermined address, an image processing control circuit 26 that controls writing and reading of data in the image memory, and an image memory 25. A feature extraction circuit 27 that performs image processing based on a signal from the device and performs particle number and classification, an identification circuit 28, and a central control unit 29.
And a particle number analysis unit 40 that determines the number of particles in the sample liquid 110, and a display unit 50 that displays the number of particles and the classification as a result of image processing.

【0093】中央制御部29はTVカメラ8の撮影条件
やフローセル100のサンプル液流れの条件、画像処理
制御回路26の制御、識別回路28からの画像処理結果
の記憶、粒子数解析部40とのデータの授受、表示部5
0へのデ−タ表示等を行うように構成されている。
The central control unit 29 is connected to the photographing condition of the TV camera 8, the condition of the sample liquid flow of the flow cell 100, the control of the image processing control circuit 26, the storage of the image processing result from the identification circuit 28, and the particle number analysis unit 40. Data transfer and display 5
It is configured to display data to 0.

【0094】次に、図2を参照して、粒子数解析部40
の構成について説明する。図中、図1と同一符号は、同
等部分であるので、詳細な説明を省略する。
Next, referring to FIG. 2, the particle number analysis unit 40
The configuration of will be described. In the figure, the same reference numerals as those in FIG. 1 denote the same parts, and a detailed description thereof will be omitted.

【0095】図2において、41はパルスレベル検出、
42はパルス幅検出、43は全粒子計数回路、44は画
像処理粒子数計算部、50は表示部、61は粒子画像サ
イズデータ部、62は粒子分類結果部、63は全画像数
計数部、64は解析条件設定部、65はサイズ並び変え
部、66は測定条件評価部、67は粒子分類結果対応
部、68は正規分類結果(正規粒子解析結果)処理部、
69は別枠分類結果(別枠粒子解析結果)処理部、70
は分類結果(粒子解析結果)集計部である。
In FIG. 2, 41 is a pulse level detection,
42 is a pulse width detection, 43 is a total particle counting circuit, 44 is an image processing particle number calculation unit, 50 is a display unit, 61 is a particle image size data unit, 62 is a particle classification result unit, 63 is a total image number counting unit, 64 is an analysis condition setting unit, 65 is a size rearrangement unit, 66 is a measurement condition evaluation unit, 67 is a particle classification result corresponding unit, 68 is a normal classification result (normal particle analysis result) processing unit,
69 is a separate frame classification result (separate frame particle analysis result) processing unit, 70
Is a counting result (particle analysis result) counting unit.

【0096】図2において、粒子数解析部40を構成す
るパルスレベル検出回路41は光検出回路22からの所
定の信号レベル以上の粒子検出信号を検出する。また、
パルス幅検出回路42はパルスレベル検出回路41の出
力信号のうち所定のパルス幅以上の粒子検出信号を検出
するパルス幅検出回路である。全粒子計数回路43は、
所定の信号レベル以上あって、かつ、パルス幅が所定の
値以上の全解析時間中に検出された全検出粒子数を計数
する。さらに詳しく説明すれば、光検出回路22からの
粒子検出信号がパルスレベル検出回路41に導入される
と、そのうちの変更可能に設定されている所定レベル以
上の粒子検出信号がその粒子検出信号の所定レベルにお
ける幅に対応するパルス幅をもつパルスに変換される。
その変換されたパルスがパルス幅検出回路42に導入さ
れると、そのうちの変更可能に設定された所定パルス幅
以上のパルス幅をもつパルスが抽出され、その抽出され
たパルスが全粒子計数回路43で全検出粒子数として計
数される。なお、所定レベルおよび所定パルス幅の値の
設定は中央制御部29からの設定により行っても良い。
In FIG. 2, a pulse level detection circuit 41 constituting the particle number analysis unit 40 detects a particle detection signal from the photodetection circuit 22 which is equal to or higher than a predetermined signal level. Also,
The pulse width detection circuit 42 is a pulse width detection circuit that detects a particle detection signal having a predetermined pulse width or more in the output signal of the pulse level detection circuit 41. The total particle counting circuit 43
The total number of detected particles that are above a predetermined signal level and that the pulse width is above a predetermined value and that are detected during the entire analysis time is counted. More specifically, when the particle detection signal from the photodetection circuit 22 is introduced to the pulse level detection circuit 41, the particle detection signal of a predetermined level or more that can be changed is specified by the particle detection signal. Converted to a pulse with a pulse width corresponding to the width at the level.
When the converted pulse is introduced into the pulse width detection circuit 42, a pulse having a pulse width equal to or larger than a predetermined pulse width that can be changed is extracted, and the extracted pulse is the total particle counting circuit 43. Is counted as the total number of detected particles. The setting of the value of the predetermined level and the predetermined pulse width may be performed by the setting from the central control unit 29.

【0097】解析条件設定部64にはサンプル解析条件
を、全画像計数部63には全画像計数、すなわち、1画
像処理するごとに計数量が1増加させ、粒子分類結果部
62には粒子画像処理した粒子画像の粒子分類結果、粒
子画像サイズパラメータ部61には測定時間中に処理し
た各粒子の粒子サイズ特徴量であるパラメータ・データ
をそれぞれ中央制御部29よりセットする。また、粒子
サイズパラメータ部61では、粒子画像サイズが特に小
さく、最初から検出粒子と対応を取る必要の無い画像粒
子については、始めから別枠処理対象粒子とする処理も
行う。粒子サイズパラメータ部61のデータを基にし
て、画像粒子サイズの大小並べ換えをサイズ並び換え部
65で行う。
The analysis condition setting unit 64 is set to sample analysis conditions, the total image counting unit 63 counts all images, that is, the count amount is incremented by 1 each time one image is processed, and the particle classification result unit 62 is set to count particle images. As a result of the particle classification of the processed particle image, the parameter data which is the particle size feature amount of each particle processed during the measurement time is set in the particle image size parameter section 61 from the central control section 29. Further, the particle size parameter unit 61 also performs a process of setting a particle image as a target particle for another frame from the beginning for an image particle that has a particularly small particle image size and does not need to correspond to the detected particle from the beginning. Based on the data of the particle size parameter section 61, the size sorting section 65 sorts the image particle sizes in size.

【0098】一方、全粒子計数回路43には、測定時間
内に粒子検出された全粒子数を計数しているから、この
値を基にして実際に測定時間内に画像処理される予想粒
子画像の総数を所定の数式を使って計算する。計算式
は、測定条件に左右されるが、測定条件設定部64にセ
ットされている測定条件を使用する。計算式の例が、
(1)式から(4)式に示されている。画像処理粒子数計算部
44では、測定時間にTVカメラが撮像したフレーム総
数の予想値も計算する機能を有する。
On the other hand, since the total particle counting circuit 43 counts the total number of particles detected in the measurement time, the expected particle image actually image-processed within the measurement time is based on this value. Calculate the total number of using a predetermined formula. Although the calculation formula depends on the measurement condition, the measurement condition set in the measurement condition setting unit 64 is used. An example of the formula is
Equations (1) to (4) are shown. The image processing particle number calculation unit 44 has a function of calculating an expected value of the total number of frames imaged by the TV camera during the measurement time.

【0099】計算で求めた予想粒子画像の総数を基にし
て、サイズ並べ変え部65にある粒子画像サイズ並べ変
えデータのうち、大きい方から予想粒子画像の総数分を
粒子検出された粒子画像とみなし、正規粒子解析処理粒
子、具体的には正規分類粒子とする。この対応関係を取
った後、残りを別枠粒子解析処理粒子、具体的には別枠
分類粒子と考える。別枠分類粒子は、粒子検出系で粒子
検出されなかった粒子で、たまたま、TVカメラにて撮
像された画面に写っているサイズの小さな粒子である。
Based on the total number of predicted particle images obtained by calculation, among the particle image size rearrangement data in the size rearrangement unit 65, the total number of predicted particle images from the larger one is regarded as the particle image in which the particle is detected. Considered normal particle analysis processing particles, specifically, normal classified particles. After taking this correspondence relationship, the rest are considered as particles in another frame analysis processing, specifically, particles in another frame classification. Separately classified particles are particles that have not been detected by the particle detection system, and are small particles that happen to appear on the screen captured by the TV camera.

【0100】粒子分類結果対応部67の結果を基にし
て、粒子分類結果部62にセットされている粒子分類結
果を、正規識別処理の対象粒子と別枠識別処理の対象粒
子とに選別し、各々正規分類結果処理部68または別枠
分類結果処理部69にセットする。
Based on the result of the particle classification result correspondence unit 67, the particle classification results set in the particle classification result unit 62 are sorted into the target particles of the regular classification process and the target particles of the separate frame classification process, respectively. It is set in the regular classification result processing unit 68 or the separate frame classification result processing unit 69.

【0101】最後に、全粒子数を計数する全粒子回路4
1、全処理画像数を計数する全画像数計数部63、解析
条件設定部64、正規分類結果部68および別枠分類結
果部69の粒子識別処理結果を基にして、分類結果集計
部70において最終処理結果がまとめられるようになっ
ている。その結果は、前記中央制御部29に伝送され、
必要に応じて前記表示部50に出力表示される。また、
測定条件評価部68では、測定条件、画像処理粒子数計
算部44での予想される粒子画像総数、画像フレーム総
数と、実際に画像処理した粒子画像数および画像フレー
ム数と比較して、粒子解析装置、特に、粒子検出系、パ
ルスランプ点灯制御系の不具合があるか、統計的な誤差
範囲で測定が正常に行われたかの判定をし、異常が有れ
ば分類結果集計部70をへて中央制御部29に知らされ
る。
Finally, the total particle circuit 4 for counting the total number of particles
1. Based on the particle identification processing results of the total image number counting unit 63 for counting the number of all processed images, the analysis condition setting unit 64, the normal classification result unit 68, and the separate frame classification result unit 69, the classification result totaling unit 70 determines Processing results are compiled. The result is transmitted to the central control unit 29,
The information is output and displayed on the display unit 50 as needed. Also,
In the measurement condition evaluation unit 68, the particle analysis is performed by comparing the measurement condition, the total number of particle images and the total number of image frames predicted by the image processing particle number calculation unit 44 with the number of actually processed image particles and the number of image frames. It is judged whether there is a defect in the device, especially in the particle detection system and the pulse lamp lighting control system, or whether the measurement is normally performed within the statistical error range. The control unit 29 is informed.

【0102】上記構成のフロー式粒子画像解析方法とそ
れに用いられるフロー式粒子画像解析装置の働きを説明
する。
The operation of the flow type particle image analysis method and the flow type particle image analysis apparatus used therefor will be described.

【0103】まず、画像撮像手段101と、粒子検出手
段102との動作を説明する。半導体レーザ15は、常
時連続的に発振しており、常にサンプル液110流れ中
の粒子が検出領域を通過するのを観測している。
First, the operation of the image pickup means 101 and the particle detection means 102 will be described. The semiconductor laser 15 constantly oscillates continuously and always observes that particles in the flow of the sample liquid 110 pass through the detection region.

【0104】前記半導体レーザ15からのレーザ光束1
4は、コリメータレンズ16において平行なレーザ光束
に変換され、シリンドリカルレンズ17において前記光
束14の1方向のみ集束される。
Laser beam 1 from the semiconductor laser 15
The collimator lens 16 converts the laser beam 4 into parallel laser beams, and the cylindrical lens 17 focuses the beam 14 in only one direction.

【0105】レーザ光束14は、反射鏡18および微小
反射鏡19で反射されフローセル100内のサンプル液
110流れ上に照射される。この照射位置は、シリンド
リカルレンズ17によってレーザ光束14が集束する粒
子検出位置であり、サンプル液110流れ上の画像取り
込み領域(撮像領域)の上流側近傍の位置である。
The laser beam 14 is reflected by the reflecting mirror 18 and the minute reflecting mirror 19 and is irradiated onto the flow of the sample liquid 110 in the flow cell 100. This irradiation position is a particle detection position where the laser light flux 14 is focused by the cylindrical lens 17, and is a position in the vicinity of the upstream side of the image capturing region (imaging region) on the flow of the sample liquid 110.

【0106】解析対象である粒子が上記レーザ光束14
を横切ると、このレーザ光束14は散乱される。
The particle to be analyzed is the laser beam 14
This laser light beam 14 is scattered when it crosses.

【0107】レーザ光束の散乱光は、ビームスプリッタ
20で反射され、光検出回路22において受光され、そ
の強度に基づく電気信号に変換される。
The scattered light of the laser beam is reflected by the beam splitter 20, received by the photodetector circuit 22, and converted into an electric signal based on its intensity.

【0108】さらに、光検出回路22出力は、粒子数分
析部40に送られ、信号のうち所定のレベル、所定のパ
ルス幅以上のものを、検出粒子とみなし、結果をフラッ
シュランプ点灯制御回路23に伝える。
Further, the output of the photodetection circuit 22 is sent to the particle number analysis section 40, and signals having a predetermined level and a predetermined pulse width or more are regarded as detected particles, and the result is determined by the flash lamp lighting control circuit 23. Tell.

【0109】粒子検出がなされると、画像処理対象粒子
が通過したものとし、検出信号はフラッシュランプ発光
制御回路23に伝送される。
When the particles are detected, it is assumed that the particles to be image-processed have passed, and the detection signal is transmitted to the flash lamp emission control circuit 23.

【0110】所定の遅延時間は、粒子検出位置と画像取
り込み領域との距離およびサンプル液110の流速等に
より決定される。
The predetermined delay time is determined by the distance between the particle detection position and the image capturing area, the flow velocity of the sample liquid 110, and the like.

【0111】フラッシュ発光信号が前記フラッシュラン
プ駆動回路1aに伝送されると、フラッシュランプ駆動
回路1aはフラッシュランプ1を発光させる。フラッシ
ュランプ1より発せられたパルス光は顕微鏡光軸9上を
進み、フィールドレンズ2により平行光となり、顕微鏡
コンデンサレンズ3により集束されてフローセル100
内のサンプル液110流れ上に照射される。
When the flash light emission signal is transmitted to the flash lamp drive circuit 1a, the flash lamp drive circuit 1a causes the flash lamp 1 to emit light. The pulsed light emitted from the flash lamp 1 travels on the optical axis 9 of the microscope, becomes parallel light by the field lens 2, and is focused by the condenser lens 3 of the microscope to be focused on the flow cell 100.
The sample liquid 110 inside is irradiated onto the flow.

【0112】なお、視野絞り11および開口絞り12に
よりパルス光束10の幅が制限される。
The width of the pulse beam 10 is limited by the field stop 11 and the aperture stop 12.

【0113】フローセル100内の前記サンプル液11
0流れに照射されたパルス光束は、顕微鏡対物レンズ5
で集光され、結像位置6に像を結像する。この結像位置
6の像は、投影レンズ7によりTVカメラ8の撮像面上
に投影され、インターレース方式により画像データ信号
に変換される。このようにして、サンプル液110内の
粒子の静止粒子画像が撮像されたことになる。
The sample liquid 11 in the flow cell 100
The pulsed light flux radiated to the zero flow is the objective lens 5 of the microscope.
The light is focused at and an image is formed at the image forming position 6. The image at the image forming position 6 is projected onto the image pickup surface of the TV camera 8 by the projection lens 7 and converted into an image data signal by the interlace method. In this way, the static particle image of the particles in the sample liquid 110 is captured.

【0114】TVカメラ8における撮像条件は、中央制
御部29に予め設定されており、この撮像条件によって
TVカメラ8の撮像動作が制御される。
The image pickup conditions of the TV camera 8 are preset in the central control unit 29, and the image pickup operation of the TV camera 8 is controlled by these image pickup conditions.

【0115】粒子解析手段103について説明する。The particle analysis means 103 will be described.

【0116】TVカメラ8により撮像され、インターレ
ース方式により変換される画像データ信号は、AD変換
器24でデジタル信号に変換され、これに基づくデータ
が、画像処理制御回路26に制御され、画像メモリ25
の所定のアドレスに記憶される。
The image data signal captured by the TV camera 8 and converted by the interlace system is converted into a digital signal by the AD converter 24, and the data based on this is controlled by the image processing control circuit 26 and the image memory 25.
At a predetermined address.

【0117】画像メモリ25に記憶されたデータは、画
像処理制御回路26の制御により読み出され、特徴抽出
回路27および識別回路28に入力されて画像処理が行
われ、中央制御部29にその結果が記憶される。
The data stored in the image memory 25 is read out under the control of the image processing control circuit 26, is input to the feature extraction circuit 27 and the identification circuit 28, and is subjected to image processing. Is memorized.

【0118】前記中央制御部29に記憶される内容は、
粒子分類に用いられた粒子識別特徴パラメータと粒子分
類結果データとである。
The contents stored in the central control unit 29 are as follows.
It is a particle identification feature parameter used for particle classification and particle classification result data.

【0119】粒子の分類識別処理は、通常行われている
パターン認識処理により自動的に行われる。この画像処
理結果と測定条件および画像処理された画像数情報が、
中央制御部29から粒子数解析部40に送られる。粒子
数解析部40においては、中央制御部29、光検出回路
22からの粒子検出信号および画像処理制御回路26か
らの制御信号をもとに、検出粒子と粒子分類結果との対
応関係を調べ、最終的な粒子画像の分類識別結果のまと
めが行われる。
The classification and identification processing of particles is automatically performed by the pattern recognition processing which is usually performed. This image processing result, measurement conditions, and information on the number of images that have been image processed,
It is sent from the central control unit 29 to the particle number analysis unit 40. In the particle number analysis unit 40, based on the particle detection signal from the central control unit 29, the photodetection circuit 22 and the control signal from the image processing control circuit 26, the correspondence between the detected particles and the particle classification result is examined, The final classification and classification result of the particle image is summarized.

【0120】次に、図2を参照して粒子数解析部40を
説明する。
Next, the particle number analysis unit 40 will be described with reference to FIG.

【0121】全粒子計数回路43は、光検出回路22か
らの粒子検出信号をもとに、パルスレベル検出部41お
よびパルス幅検出部42を経て、検出粒子信号から所定
のサイズ以上の粒子を計数し、測定終了時には全検出粒
子数を得る。
The total particle counting circuit 43 counts particles having a predetermined size or more from the detected particle signal through the pulse level detecting section 41 and the pulse width detecting section 42 based on the particle detecting signal from the photodetecting circuit 22. Then, at the end of the measurement, the total number of detected particles is obtained.

【0122】測定条件設定部64に設定されるサンプル
解析条件のデータは、分類結果集計部70における処理
内容によって決められる。
The data of the sample analysis conditions set in the measurement condition setting unit 64 is determined by the processing contents in the classification result totaling unit 70.

【0123】基本的には、解析サンプル体積、解析時
間、一静止粒子画像相当のサンプル体積、顕微鏡一視野
相当のサンプル体積、解析モード等のデータが必要であ
るが、分類処理内容によっては上述したデータの中で省
略してもよい事項もある。
Basically, data such as analysis sample volume, analysis time, sample volume equivalent to one static particle image, sample volume equivalent to one field of view of the microscope, analysis mode, etc. are required, but depending on the classification processing contents, it is described above. Some items may be omitted in the data.

【0124】全画像計数部63では、一画像処理するご
とに計数量が1増加させ、解析終了時には解析時間内に
画像処理した全画像数が記憶されている。
In the total image counting unit 63, the count amount is incremented by 1 each time one image is processed, and the total number of images processed in the analysis time is stored at the end of the analysis.

【0125】画像処理した静止粒子画像の粒子分類結果
は、識別回路28および中央制御部29を経て粒子分類
結果部62にセットされる。同時に、その分類された各
粒子の分類識別に使用した特徴量の中で、粒子検出系の
検出原理に一番近い特徴量を粒子画像サイズパラメータ
61に画像処理した全粒子についてセットする。これ
は、検出系による粒子検出条件と対応づけるために必要
である。
The particle classification result of the image-processed still particle image is set in the particle classification result section 62 via the identification circuit 28 and the central control section 29. At the same time, of the feature amounts used for classification and identification of the classified particles, the feature amount closest to the detection principle of the particle detection system is set in the particle image size parameter 61 for all the image-processed particles. This is necessary to correspond to the particle detection conditions of the detection system.

【0126】次に、粒子画像サイズパラメータ部61で
は、サイズデータをもとにして、始めからサイズが小さ
くて検出粒子と見なすことが出来ない粒子については、
ここで別枠分類対象粒子とする。
Next, in the particle image size parameter section 61, based on the size data, for particles that are too small to be regarded as detected particles from the beginning,
Here, the particles are classified according to another frame.

【0127】画像サイズパラメータ部61に格納されて
いる粒子画像サイズデータを、サイズ並べ変え65にて
サイズの大きい順に並べ変えを実行する。粒子画像サイ
ズの大きい順に並べ変えた結果の内、大きい方から、先
に画像処理粒子数計算部44で計算した予想画像処理粒
子数分だけを正規の粒子検出された粒子とし、残りを別
枠分類対象粒子の対応とする処理を、粒子分類結果対応
部67にて行う。その結果はそれぞれ、正規分類結果処
理部68および別枠分類結果処理部69で集計される。
The particle image size data stored in the image size parameter section 61 is rearranged in the order of larger size by the size rearrangement 65. Of the results of rearranging the particles in the descending order of image size, from the larger one, only the expected number of image-processed particles calculated by the image-processing particle number calculation unit 44 is regarded as a normal particle detected particle, and the rest is classified by another frame. The processing corresponding to the target particles is performed by the particle classification result correspondence unit 67. The results are totaled by the regular classification result processing unit 68 and the separate frame classification result processing unit 69, respectively.

【0128】1つのサンプルの解析が終了すると、解析
サンプルに関する粒子検出レベル以上の全粒子数が全粒
子計数回路41、画像処理された全画像数が全画像数計
数部63、正規識別処理対象粒子が正規分類結果部68
に、さらに別枠識別処理対象粒子が別枠分類結果部69
に格納されていることになる。
When the analysis of one sample is completed, the total number of particles above the particle detection level for the analyzed sample is the total particle counting circuit 41, the total number of image-processed images is the total image number counting unit 63, and the normal identification processing target particles. Is the regular classification result part 68
In addition, the particles subject to the separate frame identification processing are the separate frame classification result part 69.
Will be stored in.

【0129】最終的に、この正規分類結果処理部68お
よび別枠分類結果処理部69で集計結果を基にして、測
定条件設定部64の測定条件、全画像数計数部63の全
画像枚数データに関する情報を使って、分類結果集計部
70にて、粒子分類数、粒子濃度、顕微鏡視野換算粒子
数などの計算を行う。
Finally, the measurement conditions of the measurement condition setting unit 64 and the total number-of-images data of the total image number counting unit 63 are related to the measurement conditions of the normal classification result processing unit 68 and the separate frame classification result processing unit 69. Using the information, the classification result totaling unit 70 calculates the number of particles classified, the particle concentration, the number of particles converted into a microscopic field, and the like.

【0130】分類結果集計部70にて最終結果として整
理され、その結果は中央制御部29に返され、必要に応
じて表示部50に出力表示される。
[0130] The final result is sorted by the classification result totaling unit 70, the result is returned to the central control unit 29, and output and displayed on the display unit 50 as necessary.

【0131】図3に示したフローチャートにより粒子解
析の順序を説明する。
The order of particle analysis will be described with reference to the flowchart shown in FIG.

【0132】ステップ1において、粒子サンプルの解析
が開始されると、始めに解析条件が解析条件設定部64
にセットされる。セットされる解析条件は、正規分類と
別枠分類との区分、解析時間、解析量、分類種類、解析
モード、サンプル測定条件等である。
In step 1, when the analysis of the particle sample is started, the analysis conditions are first set in the analysis condition setting unit 64.
Is set to The analysis conditions to be set include the division between normal classification and separate frame classification, analysis time, analysis amount, classification type, analysis mode, sample measurement conditions, and the like.

【0133】測定が開始すると、ステップ2において、
次々に通過する粒子を粒子検出系で検出し、検出粒子の
数を計数していく。
When the measurement is started, in step 2,
Particles that pass one after another are detected by a particle detection system, and the number of detected particles is counted.

【0134】ステップ3において、粒子検出されると、
TVカメラで粒子画像が撮影され、粒子ごとに特徴抽
出、パターン認識処理を行い、個々の粒子の分類処理を
行う。分類結果と粒子画像サイズパラメータは粒子分類
結果部62および粒子画像サイズパラメータ部65に格
納され、ステップ4に進む。
When particles are detected in step 3,
Particle images are taken by a TV camera, feature extraction and pattern recognition processing are performed for each particle, and individual particle classification processing is performed. The classification result and the particle image size parameter are stored in the particle classification result part 62 and the particle image size parameter part 65, and the process proceeds to step 4.

【0135】ステップ4において、粒子画像サイズパラ
メータ65に格納されたサイズ情報において、画像サイ
ズが小さく粒子検出系で検出された粒子でないと判断さ
れるかどうか判定する。サイズが小さければステップ5
にて始めから別枠粒子とする。ステップ6に進む。
In step 4, it is determined whether the size information stored in the particle image size parameter 65 indicates that the image size is small and the particle is not detected by the particle detection system. Step 5 if size is small
From the beginning, separate particles are used. Go to step 6.

【0136】ステップ6では、測定が終了したかどうか
の判定を行い、終了していなければステップ2に戻り、
測定終了まで繰り返し、測定終了でステップ7に進む。
In step 6, it is judged whether or not the measurement is completed, and if it is not completed, the procedure returns to step 2,
Repeat until the measurement is completed, and proceed to step 7 when the measurement is completed.

【0137】ステップ7では、画像処理粒子数計算部4
4にて全検出粒子数から予想される粒子画像数を計算す
る。
In step 7, the image processing particle number calculation unit 4
In 4, calculate the number of particle images expected from the total number of detected particles.

【0138】予想される粒子画像数を計算する場合、
(1)式から計算する方法でもよいし、処理の簡単な(5)式
による、実際に画像処理した全画像数、すなわち、粒子
画像を撮像した全フレーム数Nfsを用いて粒子画像数
Nを決めてもよい。
When calculating the expected number of particle images,
The number of particle images N may be calculated by the equation (1), or the total number of images actually image-processed by the equation (5), which is a simple process, that is, the total number of frames Nfs of the particle images, Nfs. You may decide.

【0139】次にステップ8に進む。Then, the process proceeds to step 8.

【0140】ステップ8では、検出対応の粒子画像サイ
ズパラメータに関し、サイズ並べ換え65でサイズの大
きい順に並べ換えを実行する。ステップ9に進む。
In step 8, the particle image size parameters corresponding to the detection are rearranged by the size rearrangement 65 in descending order of size. Go to step 9.

【0141】ステップ9では、粒子画像の並べ換えたサ
イズパラメータデータのうち、大きい方から予想計算粒
子画像数分を取り出し、取り出された粒子を正規分類処
理粒子とみなす。
In step 9, from the size parameter data in which the particle images are rearranged, the predicted number of calculated particle image numbers is taken out from the larger one, and the taken out particles are regarded as normal classification processed particles.

【0142】ステップ10では、ステップ9で粒子検出
系で検出粒子と対応が取れなかった残り粒子を別枠分類
処理粒子とみなし、次のステップ11に進む。
In step 10, the remaining particles which cannot be detected by the particle detection system in step 9 are regarded as the particles to be classified by another frame, and the process proceeds to step 11.

【0143】ステップ11では、上述した一連の処理が
正常に行われたか、測定結果を基に測定条件評価部66
にて行う。予想粒子画像処理数が実際に処理した粒子画
像数と大小比較、または、予想される画像フレーム数と
実際の画像フレーム数の大小比較を実施する。統計的に
予想される誤差以上の差が生じている場合には、測定系
のどこかに不具合が生じていると考え、その要因解析を
してステップ12にて表示部50に結果を表示し、処理
は終了させる。
In step 11, it is determined whether the above-described series of processing has been normally performed, or the measurement condition evaluation unit 66 is based on the measurement result.
Will be done at. The expected particle image processing number is compared with the actual number of particle images, or the expected image frame number is compared with the actual image frame number. If the difference exceeds the statistically expected error, it is considered that there is a problem somewhere in the measurement system, the cause is analyzed, and the result is displayed on the display unit 50 in step 12. , The process is ended.

【0144】ステップ13においては、分類結果集計部
70においては、全粒子計数回路41により解析サンプ
ルに関する粒子検出レベル以上の全粒子数、全画像数計
数部63により画像処理された全画像数が設定され、ス
テップ14に進む。
In step 13, in the classification result totaling unit 70, the total number of particles above the particle detection level regarding the analysis sample is set by the total particle counting circuit 41, and the total number of images image-processed by the total image number counting unit 63 is set. And proceed to step 14.

【0145】ステップ14においては、正規識別処理対
象粒子の分類累計数が正規分類結果処理部68、別枠識
別処理対象粒子の分類累計数が別枠分類結果処理部69
にそれぞれ格納されているデータを読み出し、分類結果
集計部70にて正規識別処理・別枠識別処理の集計処理
を行い、解析サンプル中の粒子数を決定し、ステップ1
5に進む。
In step 14, the cumulative classification number of the particles for the regular identification processing is the normal classification result processing section 68, and the cumulative classification number of the particles for the separate frame identification processing is the separate frame classification result processing section 69.
The data stored in each of the data are read out, and the classification result totaling unit 70 performs the normal identification process / the separate frame identification process to determine the number of particles in the analysis sample, and the step 1
Go to 5.

【0146】ステップ15においては、別枠識別処理を
した粒子数と画像処理したサンプル体積によって解析誤
差が大きくなること予想される場合があるので、別枠識
別処理結果のチェックを行い粒子数を決定し、ステップ
16に進む。
In step 15, since it may be expected that an analysis error will increase depending on the number of particles subjected to the separate frame identification processing and the sample volume subjected to the image processing, the result of the separate frame identification processing is checked to determine the number of particles, Go to step 16.

【0147】ステップ16においては、正規識別処理結
果および別枠識別処理結果の各粒子数から各粒子の存在
比率を計算する。次に、正規識別処理対象粒子に関して
は、全検出粒子数を前記存在比率に掛けることによりサ
ンプル中の検出粒子に関する存在個数を決定する。
In step 16, the abundance ratio of each particle is calculated from the number of each particle of the normal identification processing result and the separate frame identification processing result. Next, with respect to the particles to be subjected to regular identification processing, the number of detected particles in the sample is determined by multiplying the total number of detected particles by the above-mentioned ratio.

【0148】次に、別枠識別処理結果については、まず
全処理画像数と1静止粒子画像相当サンプル体積より、
画像処理したサンプルの総体積を計算し、この中に各別
枠識別処理対象粒子の存在比率にもとずき、解析サンプ
ルの全体積の粒子数を決定する。
Next, regarding the separate frame identification processing result, first, from the total number of processed images and the sample volume corresponding to one still particle image,
The total volume of the image-processed sample is calculated, and the number of particles in the total volume of the analysis sample is determined based on the abundance ratio of the particles to be subjected to identification processing in each frame.

【0149】正規識別処理および別枠識別処理によるそ
れぞれの結果をもとに、両者に重複して存在する粒子に
ついては1つの粒子種類に整理し、また解析対象外粒子
は捨てられる。これらの解析結果を基にして、サンプル
中の粒子濃度計算、視野換算粒子数計算を行われ、ステ
ップ17に進む。
Based on the results of the normal identification process and the separate frame identification process, particles existing in duplicate in both are sorted into one particle type, and non-analyzed particles are discarded. Based on these analysis results, the particle concentration in the sample and the field-of-view converted particle number are calculated, and the process proceeds to step 17.

【0150】ステップ17においては、分析結果を出力
して処理を終了する。
At step 17, the analysis result is output and the process is terminated.

【0151】複数の解析モードで、サンプルを解析する
場合には、各解析モードにおいて操作を実行し、最終段
階で各モードの解析データを総合し最終結果とする。こ
の場合、測定条件が異なる場合や解析対象粒子の範囲が
異なる場合のように、異なる複数の測定モードを有する
場合には、それぞれに異なった粒子検出条件、すなわ
ち、粒子検出信号のパルスレベルやパルス幅の所定の値
を変更する。
When analyzing a sample in a plurality of analysis modes, the operation is executed in each analysis mode, and the analysis data of each mode is integrated at the final stage to obtain the final result. In this case, when there are a plurality of different measurement modes, such as when the measurement conditions are different or when the range of the particles to be analyzed is different, different particle detection conditions, that is, the pulse level or pulse of the particle detection signal. Change the given width value.

【0152】さらに、異なる複数の測定モードにおい
て、異なる粒子検出条件に対応して、粒子解析部の対応
させる複数の所定粒子サイズの値を有し、かつ変更する
手段を持たせることにより、測定条件の多様性が増し、
粒子解析精度の改善を計ることが出来る。
Further, in a plurality of different measurement modes, a plurality of predetermined particle size values corresponding to the particle analysis unit are provided corresponding to different particle detection conditions, and a means for changing the values is provided so that the measurement conditions can be improved. The diversity of
It is possible to improve the accuracy of particle analysis.

【0153】なお、異なる測定モ−ドは例えば次のよう
なものであって良い。
The different measurement modes may be, for example, as follows.

【0154】測定モ−ド1:測定対象粒子をサンプル中
の全粒子とする。
Measurement mode 1: Particles to be measured are all particles in the sample.

【0155】測定モ−ド2:測定対象粒子をサンプル中
の一定サイズより大きい粒子とする。
Measurement mode 2: Particles to be measured are particles larger than a certain size in the sample.

【0156】測定モ−ドはまた次のようなものであって
も良い。
The measurement mode may also be as follows.

【0157】測定モ−ド1:粒子サイズの小さなものを
測定対象とする。
Measurement mode 1: A particle having a small particle size is measured.

【0158】測定モ−ド2:粒子サイズの大きなものを
測定対象とする。
Measurement mode 2: A particle having a large particle size is measured.

【0159】静止粒子画像を撮影するためのフラッシュ
ランプ光による粒子検出信号の誤計数を防ぐ手段が必要
である。このためには、フラッシュランプ発光による影
響を取り除く手段がいる。方法としては、フラッシュラ
ンプ光が粒子検出器に到達しないように光学系を考える
か、電気的にフラッシュランプ信号を計数しないように
する。逆に、フラッシュランプ光も検出し、解析終了時
にランプ発光回数分差し引く方法で誤計数分を補正して
も差し支えない。これは、1画像粒子数および全粒子数
の計数結果に対して実施される。
It is necessary to have a means for preventing erroneous counting of particle detection signals due to flash lamp light for capturing a still particle image. For this purpose, there is a means for removing the influence of flash lamp emission. As a method, an optical system is considered so that the flash lamp light does not reach the particle detector, or the flash lamp signal is not electrically counted. On the contrary, it is possible to correct the erroneous count by a method of detecting the flash lamp light and subtracting the number of times of lamp light emission at the end of the analysis. This is performed on the count result of one image particle number and total particle number.

【0160】本発明の一実施例に係るフロー式粒子画像
解析方法およびフロー式粒子画像解析装置は、液体中に
懸濁した生物サンプルや細胞、血液中の赤血球や白血球
などの血球成分、または尿中に存在する尿沈渣成分の分
類および分析に有効である。
A flow-type particle image analysis method and a flow-type particle image analysis apparatus according to an embodiment of the present invention include a biological sample and cells suspended in a liquid, blood cell components such as red blood cells and white blood cells in blood, or urine. It is effective in classifying and analyzing the urinary sediment components present in it.

【0161】特に、尿中の尿沈渣成分の粒子数の計数や
粒子の分類においては、サンプルごとに存在する粒子数
は数桁以上違う場合が有るため、粒子検出手段による検
出した粒子に対し画像処理することは、サンプル液中の
粒子数情報を知る上で効果的である。
In particular, when counting the number of particles of the urinary sediment component in urine and classifying the particles, the number of particles present in each sample may differ by several digits or more. The treatment is effective in knowing the information on the number of particles in the sample liquid.

【0162】しかし、尿沈渣成分では粒子の種類と大き
さが非常にバラエティに富み、粒子検出系の検出粒子と
静止粒子画像中の粒子との対応を正確に取ることが出来
ないが、本実施例により、正確な粒子計数、粒子分類、
粒子濃度を解析できる。
However, in the urinary sediment component, the types and sizes of particles are extremely varied, and it is impossible to accurately correspond the detected particles of the particle detection system and the particles in the still particle image. Accurate particle counting, particle classification,
Particle concentration can be analyzed.

【0163】なお、上記実施例では、フローセル中を連
続して流れているサンプル液に含まれている粒子の静止
画像を撮像し、その画像解析を行う場合について述べた
が、顕微鏡下で連続して移動しているスライド標本の粒
子画像解析にも応用することが出来る。
In the above embodiment, the case where the still image of the particles contained in the sample liquid continuously flowing in the flow cell is picked up and the image is analyzed is described. It can also be applied to particle image analysis of moving slide specimens.

【0164】また、粒子検出系の粒子検出として、半導
体レーザからのレーザ光束を検出光として用い、粒子で
散乱されたレーザ光束を利用する場合について述べた
が、これに限らず粒子からの蛍光や透過光を利用するこ
ともできるし、一次元イメージセンサにより粒子を検出
する方法や、粒子通過による電気抵抗変化により粒子を
検出する方法を利用することもできる。
Further, as the particle detection of the particle detection system, the case where the laser light flux from the semiconductor laser is used as the detection light and the laser light flux scattered by the particles is used has been described. It is possible to use transmitted light, a method of detecting particles by a one-dimensional image sensor, or a method of detecting particles by a change in electric resistance due to passage of particles.

【0165】さらに、粒子検出として、サンプル粒子が
粒子検出系を通過する時間、すなわち電気信号に変換さ
れた検出パルス信号のパルス幅を用いる場合には、粒子
の流れ方向のサイズ情報を反映させることができる。
Further, when the time for the sample particles to pass through the particle detection system, that is, the pulse width of the detection pulse signal converted into an electric signal is used for particle detection, the size information in the particle flow direction should be reflected. You can

【0166】レーザ光束をよぎる粒子通過時間を粒子検
出の基準と考える場合には、レーザ光束の広がりを考慮
して、粒子検出サイズを決めなければならない。レーザ
光束の広がりを差し引いた値を粒子検出パルス幅とさだ
めるか、または、画像処理した粒子サイズの値にレ−ザ
光束の広がりを考慮してサイズ比較を実施する必要があ
る。
When considering the particle transit time that crosses the laser beam as a reference for particle detection, the particle detection size must be determined in consideration of the spread of the laser beam. It is necessary to determine the value obtained by subtracting the spread of the laser light flux as the particle detection pulse width, or to carry out the size comparison in consideration of the spread of the laser light flux in the image-processed particle size value.

【0167】なお、粒子検出系の粒子検出と撮像された
静止粒子画像とを対応させる場合は、粒子直径情報また
は射影情報が適切である。
When the particle detection of the particle detection system and the captured still particle image are associated with each other, the particle diameter information or the projection information is appropriate.

【0168】これまでは画像取り込みにおいてTVカメ
ラ撮像方式としてインターレース走査について説明した
が、ノンインターレース走査方式でも発明の作用、効果
は変わらない。
Up to this point, interlaced scanning has been described as a TV camera imaging method in image capturing, but the operation and effects of the present invention do not change even in the non-interlaced scanning method.

【0169】以上説明した実施例によれば、粒子検出系
に変動要因があっても、それによる実質的な影響なしに
粒子解析を行うのに適したフロ−式粒子画像解析方法お
よび装置が提供される。また、検出粒子と静止粒子画像
中の粒子との対応をさせ、粒子検出系の検出粒子以外の
粒子が画像撮像系の静止粒子画像中に存在しても、サン
プル中の各種類の粒子個数、粒子存在比率、粒子密度、
濃度の情報を正しく知ることができ、解析精度の良好な
フロー式粒子画像解析方法および装置が提供することが
できる。
According to the embodiment described above, a flow type particle image analysis method and apparatus suitable for performing particle analysis without substantial influence due to fluctuation factors in the particle detection system are provided. To be done. Further, the detection particles and the particles in the still particle image are made to correspond, and even if particles other than the detection particles of the particle detection system are present in the still particle image of the image capturing system, the number of particles of each type in the sample, Particle abundance ratio, particle density,
A flow-type particle image analysis method and device that can accurately know concentration information and have good analysis accuracy can be provided.

【図面の簡単な説明】[Brief description of drawings]

【図1】本発明の一実施例を示すフロー式粒子画像解析
装置の全体構成図。
FIG. 1 is an overall configuration diagram of a flow type particle image analysis apparatus showing an embodiment of the present invention.

【図2】図1の実施例における粒子数解析部の構成を示
すブロック図。
FIG. 2 is a block diagram showing a configuration of a particle number analysis unit in the embodiment of FIG.

【図3】図2の粒子数解析部の処理内容を説明するフロ
チャート図。
FIG. 3 is a flowchart for explaining the processing contents of a particle number analysis unit in FIG.

【符号の説明】[Explanation of symbols]

1 フラッシュランプ 1a フラッシュランプ駆動回路 2 フィールドレンズ 3 顕微鏡コンデンサレンズ 5 顕微鏡対物レンズ 6 結像位置 7 投影レンズ 8 TVカメラ 11 視野絞り 12 開口絞り 14 微小反射鏡 15 半導体レーザ 17 コリメータレンズ 18 シリンドリカルレンズ 19 反射鏡 20 ビームスプリッタ 21 絞り 22 光検出回路 23 フラッシュランプ点灯制御回路 24 AD変換器 25 画像メモリ 26 画像処理制御回路 27 特徴抽出回路 28 識別回路 29 中央制御部 40 粒子数解析部 41 パルスレベル検出部 42 パルス幅検出部 43 全粒子計数部 44 画像処理粒子数計算部 50 表示部 61 粒子画像サイズパラメータ部 62 粒子分類結果部 63 全画像数計数部 64 測定条件設定部 65 サイズ並べ換え部 66 測定条件設定部 67 粒子分類結果対応部 68 正規分類結果処理部 69 別枠分類結果処理部 70 分類結果集計部 100 フローセル 101 画像撮像手段 102 粒子検出手段 103 粒子解析手段 110 サンプル液 111 シース液 1 Flash Lamp 1a Flash Lamp Driving Circuit 2 Field Lens 3 Microscope Condenser Lens 5 Microscope Objective Lens 6 Imaging Position 7 Projection Lens 8 TV Camera 11 Field Stop 12 Aperture Stop 14 Micro Reflector 15 Semiconductor Laser 17 Collimator Lens 18 Cylindrical Lens 19 Reflection Mirror 20 Beam splitter 21 Aperture 22 Photodetection circuit 23 Flash lamp lighting control circuit 24 AD converter 25 Image memory 26 Image processing control circuit 27 Feature extraction circuit 28 Identification circuit 29 Central control unit 40 Particle number analysis unit 41 Pulse level detection unit 42 Pulse width detection unit 43 Total particle counting unit 44 Image processing particle number calculation unit 50 Display unit 61 Particle image size parameter unit 62 Particle classification result unit 63 Total image number counting unit 64 Measurement condition setting unit 65 Size sorting Part 66 measurement condition setting unit 67 particle classification results corresponding portion 68 normal classification result processing unit 69 separate frame classification result processing unit 70 classification result counting unit 100 the flow cell 101 imaging unit 102 particle detection means 103 particle analysis means 110 sample liquid 111 sheath liquid

Claims (13)

【特許請求の範囲】[Claims] 【請求項1】次のステップを含むフロ−式粒子画像解析
方法。 (1)液体サンプルをフロ−セルに流し、そのフロ−セル
の予め定められた位置を測定時間中に通る前記液体サン
プル中の粒子を検出しその数を計数すること、(2)その
計数された粒子数から統計学的に予想される粒子解析対
象粒子数を算出すること、(3)前記粒子検出に基づいて
前記フロ−セルの撮像領域を通る粒子を撮像してその静
止画像を得ること、(4)その静止画像を処理してその画
像中の粒子のサイズデ−タを得ること、(5)そのサイズ
デ−タに基づいて、前記処理した全静止画像中の粒子の
うちの粒子サイズの大きい方の粒子を前記算出された粒
子解析対象粒子数だけ選択し、その選択された粒子につ
いて粒子解析を行うこと。
1. A flow-type particle image analysis method including the following steps. (1) flowing a liquid sample into a flow cell, detecting particles in the liquid sample passing through a predetermined position of the flow cell during a measurement time and counting the number, (2) counting Calculating the number of particles to be statistically predicted from the number of particles analyzed, (3) obtaining a still image by imaging the particles passing through the imaging area of the flow cell based on the particle detection. , (4) processing the still image to obtain size data of particles in the image, (5) based on the size data, determining the particle size of the particles in the entire processed still image. Selecting larger particles by the number of particles calculated as the particle analysis target, and performing particle analysis on the selected particles.
【請求項2】前記ステップ(5)を、前記処理した全静止
画像中の粒子のサイズデ−タを大きさ順に並べ変えた後
実行することを特徴とする請求項1に記載されたフロ−
式粒子画像解析装置。
2. The flow according to claim 1, wherein the step (5) is executed after the size data of particles in all the processed still images are rearranged in order of size.
Particle image analyzer.
【請求項3】前記予想される粒子解析対象粒子数は前記
計数された粒子数に加えて測定条件を考慮して定められ
ることを特徴とする請求項1または2に記載されたフロ
−式粒子画像解析方法。
3. The flow type particle according to claim 1, wherein the expected number of particles to be analyzed is determined in consideration of measurement conditions in addition to the counted number of particles. Image analysis method.
【請求項4】前記予想される粒子解析対象粒子数は、こ
れをNとしたとき、次式によって与えられることを特徴
とする請求項1または2に記載されたフロー式粒子画像
解析方法。 N = Nf・γ・{λ + exp(-λ・(1 -h))} ここに、Nfは測定時間中に撮像出来るフレ−ム画像の
総数、γは実際のサンプル条件で撮像されるフレ−ム数
のNfに対する割合、λは画像取り込み領域体積の相当
する体積中に存在する平均粒子数、hは前記撮像領域の
どの位置で撮像を行うかによって定まる値である。
4. The flow-type particle image analysis method according to claim 1, wherein the expected number of particles to be subjected to particle analysis is given by the following equation, where N is set. N = Nf · γ · {λ + exp (-λ · (1 -h))} where Nf is the total number of frame images that can be captured during the measurement time, and γ is the frame image captured under actual sample conditions. The ratio of the number of mums to Nf, λ is the average number of particles present in the volume corresponding to the volume of the image capturing area, and h is a value determined by the position in the image capturing area where the image is captured.
【請求項5】前記γは次式によって与えられることを特
徴とする請求項4に記載されたフロー式粒子画像解析方
法。 γ = 2・{1 - exp(-Nm・Tf/2・Tm)}/{2 - exp(-Nm
・Tf/2・Tm)} ここに、Nmは測定体積中の全検出粒子計数値、Tfは
撮像系の1フレ−ムの時間、Tmは測定時間である。
5. The flow type particle image analysis method according to claim 4, wherein the γ is given by the following equation. γ = 2 · {1-exp (-Nm · Tf / 2 · Tm)} / {2 − exp (-Nm
* Tf / 2 * Tm)} Here, Nm is the total detected particle count value in the measurement volume, Tf is the time of one frame of the imaging system, and Tm is the measurement time.
【請求項6】前記ステップ(1)〜(5)は同一の液体サンプ
ルについて複数の測定モ−ドにおいて実行され、その
後、全測定モ−ドにおける粒子解析結果が総合されるこ
とを特徴とする請求項1または2に記載されたフロー式
粒子画像解析方法。
6. The steps (1) to (5) are performed in a plurality of measurement modes for the same liquid sample, and then the particle analysis results in all the measurement modes are combined. The flow type particle image analysis method according to claim 1 or 2.
【請求項7】液体サンプルをフロ−セルに流し、そのフ
ロ−セルの予め定められた位置を測定時間中に通る前記
液体サンプル中の粒子を検出しその数を計数する第1の
手段と、その検出に基づいて前記フロ−セルの撮像領域
を通る粒子を撮像してその静止画像を得る第2の手段
と、前記計数された粒子数から統計学的に予想される粒
子解析対象粒子数を算出すると共に、前記静止画像を処
理してその画像中の粒子のサイズデ−タを得て、そのサ
イズデ−タに基づいて、前記処理した全静止画像中の粒
子のうちの粒子サイズの大きい方の粒子を前記算出され
た粒子解析対象粒子数だけ選択し、その選択された粒子
について粒子解析を行う第3の手段とを備えていること
を特徴とするフロー式粒子画像解析装置。
7. A first means for flowing a liquid sample through a flow cell, detecting particles in the liquid sample passing through a predetermined position of the flow cell during a measurement time and counting the number of the particles. The second means for obtaining a still image by imaging the particles passing through the imaging region of the flow cell based on the detection, and the number of particles to be analyzed statistically from the counted number of particles are calculated. Along with the calculation, the still image is processed to obtain the size data of the particles in the image, and based on the size data, one of the particles in the processed still images having the larger particle size is calculated. A flow-type particle image analysis device, comprising: a third means for selecting particles by the calculated number of particles to be analyzed, and performing particle analysis on the selected particles.
【請求項8】前記第1の手段は前記予め定められた位置
を通る粒子を光学的に検出して粒子検出信号を生成する
手段と、その粒子検出信号のうちの所定レベル以上の粒
子検出信号を、その粒子検出信号の前記所定レベルにお
ける幅に対応するパルス幅をもつパルスに変換し、そし
てその変換されたパルスのうちのパルス幅が所定パルス
幅以上のパルスを計数する手段とを含み、その所定幅以
上のパルス幅をもつパルスを計数することによって前記
検出粒子の計数を行うことを特徴とする請求項7に記載
されたフロー式粒子画像解析装置。
8. The means for optically detecting particles passing through the predetermined position to generate a particle detection signal, and the particle detection signal of a predetermined level or higher among the particle detection signals. And a means for converting a pulse having a pulse width corresponding to the width of the particle detection signal at the predetermined level, and counting the pulses having a pulse width of a predetermined pulse width or more among the converted pulses, The flow type particle image analyzer according to claim 7, wherein the detected particles are counted by counting pulses having a pulse width equal to or larger than the predetermined width.
【請求項9】前記所定レベル及び所定パルス幅は変更可
能であることを特徴とする請求項8に記載されたフロ−
式粒子画像解析装置。
9. The flow according to claim 8, wherein the predetermined level and the predetermined pulse width can be changed.
Particle image analyzer.
【請求項10】前記第3の手段は前記画像処理した全画
像についてそれぞれサンプル体積当たりの粒子数または
比率のいずれかを計算し、それに基づいて全サンプル体
積当たりの粒子数を求めることを特徴とする請求項7に
記載されたフロー式粒子画像解析装置。
10. The third means calculates either the number of particles per sample volume or the ratio for each of all the image-processed images, and calculates the number of particles per total sample volume based on the calculation. The flow type particle image analysis device according to claim 7.
【請求項11】前記第3の手段は前記処理した全静止画
像中の粒子のうちの、前記選択された粒子以外の粒子を
別枠で粒子解析し、その解析結果を前記選択された粒子
の粒子解析結果に加えることを特徴とする請求項7に記
載されたフロー式粒子画像解析装置。
11. The third means performs particle analysis on particles other than the selected particles among particles in the processed still images in a separate frame, and the analysis result is a particle of the selected particles. The flow type particle image analysis device according to claim 7, wherein the flow type particle image analysis device is added to the analysis result.
【請求項12】前記第3の手段は前記粒子解析対象粒子
数を前記画像処理した画像の数と比較するように構成さ
れていることを特徴とする請求項7に記載されたフロー
式粒子画像解析装置。
12. The flow-type particle image according to claim 7, wherein the third means is configured to compare the number of particles to be analyzed with the number of the image-processed images. Analyzer.
【請求項13】前記第3の手段は前記計数された粒子数
から予測される画像処理フレ−ム数を算出してこれを実
際に処理された画像処理フレ−ム数と比較するように構
成されていることを特徴とする請求項7に記載されたフ
ロー式粒子画像解析装置。
13. The third means is configured to calculate an image processing frame number predicted from the counted number of particles and compare this with an actually processed image processing frame number. The flow-type particle image analysis device according to claim 7, wherein the flow-type particle image analysis device is provided.
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Cited By (10)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2000074816A (en) * 1998-09-03 2000-03-14 Nireco Corp Particle analytical device
JP2010151647A (en) * 2008-12-25 2010-07-08 Sysmex Corp Cell image display apparatus
JP2010151523A (en) * 2008-12-24 2010-07-08 Hitachi High-Technologies Corp Method and device for analyzing particle image
JP4767539B2 (en) * 2002-05-14 2011-09-07 ヴィジョンゲイト,インコーポレーテッド Method for automatically detecting cells with molecular label fractionation associated with disease
JP2016008933A (en) * 2014-06-26 2016-01-18 パナソニックIpマネジメント株式会社 Fine particle detection device
JP2016038231A (en) * 2014-08-06 2016-03-22 パナソニックIpマネジメント株式会社 Fine particle detection apparatus
JP2016080563A (en) * 2014-10-20 2016-05-16 日本光電工業株式会社 Analysis system and analyzer
WO2017183600A1 (en) * 2016-04-19 2017-10-26 メタウォーター株式会社 Method for estimating number of microparticles in sample
CN111684260A (en) * 2017-12-06 2020-09-18 皇家飞利浦有限公司 Particle sensor and method
WO2023176329A1 (en) * 2022-03-14 2023-09-21 ソニーグループ株式会社 Microparticle fractionating device and microparticle fractionating method

Families Citing this family (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP5258350B2 (en) * 2008-03-28 2013-08-07 シスメックス株式会社 Sample analyzer and sample analysis method
EP3543678A1 (en) * 2018-03-20 2019-09-25 Koninklijke Philips N.V. Particle sensor and method

Cited By (13)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2000074816A (en) * 1998-09-03 2000-03-14 Nireco Corp Particle analytical device
JP4767539B2 (en) * 2002-05-14 2011-09-07 ヴィジョンゲイト,インコーポレーテッド Method for automatically detecting cells with molecular label fractionation associated with disease
JP2010151523A (en) * 2008-12-24 2010-07-08 Hitachi High-Technologies Corp Method and device for analyzing particle image
JP2010151647A (en) * 2008-12-25 2010-07-08 Sysmex Corp Cell image display apparatus
JP2016008933A (en) * 2014-06-26 2016-01-18 パナソニックIpマネジメント株式会社 Fine particle detection device
JP2016038231A (en) * 2014-08-06 2016-03-22 パナソニックIpマネジメント株式会社 Fine particle detection apparatus
JP2016080563A (en) * 2014-10-20 2016-05-16 日本光電工業株式会社 Analysis system and analyzer
US10436699B2 (en) 2014-10-20 2019-10-08 Nihon Kohden Corporation Analyzing system and analyzing apparatus
WO2017183600A1 (en) * 2016-04-19 2017-10-26 メタウォーター株式会社 Method for estimating number of microparticles in sample
EP3447472A4 (en) * 2016-04-19 2019-12-25 Metawater Co., Ltd. Method for estimating number of microparticles in sample
US11320356B2 (en) 2016-04-19 2022-05-03 Takuro Endo Method for estimating number of microparticles in sample
CN111684260A (en) * 2017-12-06 2020-09-18 皇家飞利浦有限公司 Particle sensor and method
WO2023176329A1 (en) * 2022-03-14 2023-09-21 ソニーグループ株式会社 Microparticle fractionating device and microparticle fractionating method

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