JPH0961339A - Flow type particle image analyzing method and device - Google Patents

Flow type particle image analyzing method and device

Info

Publication number
JPH0961339A
JPH0961339A JP7211472A JP21147295A JPH0961339A JP H0961339 A JPH0961339 A JP H0961339A JP 7211472 A JP7211472 A JP 7211472A JP 21147295 A JP21147295 A JP 21147295A JP H0961339 A JPH0961339 A JP H0961339A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
particle
particles
image
analysis
flow
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Pending
Application number
JP7211472A
Other languages
Japanese (ja)
Inventor
Hideyuki Horiuchi
秀之 堀内
Hidenori Asai
英規 浅井
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Hitachi Ltd
Original Assignee
Hitachi Ltd
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Hitachi Ltd filed Critical Hitachi Ltd
Priority to JP7211472A priority Critical patent/JPH0961339A/en
Publication of JPH0961339A publication Critical patent/JPH0961339A/en
Pending legal-status Critical Current

Links

Landscapes

  • Investigating Or Analysing Biological Materials (AREA)

Abstract

PROBLEM TO BE SOLVED: To improve the measurement accuracy by collating particles detected by a particle detecting system with a detected particle static image in a particle image analyzer forming the static image of the particles suspended in a flowing liquid to analyze the particles. SOLUTION: A sample is fed to a flow cell 100, the transit of particles is detected by a laser beam 10, a pulse lamp 1 is lighted by the detection, a static image of particles is photographed by a TV camera 8 for image processing. By making the particles detected by a detecting means 103 and the particle sizes of each particle image processed by a particle analyzing means 102 correspond to each other in the classified result collection section of the particle analyzing means 102, the particles in the sample are classified, counted, and analyzed.

Description

【発明の詳細な説明】Detailed Description of the Invention

【0001】[0001]

【発明の属する技術分野】本発明はフロー式粒子画像解
析方法および装置、特に、流れている液体サンプル中に
懸濁した粒子の静止画像を撮像し、粒子解析する、血液
または尿中の細胞や粒子の解析に好適なフロ−式粒子画
像解析方法および装置に関するものである。
BACKGROUND OF THE INVENTION 1. Field of the Invention The present invention relates to a flow-type particle image analysis method and apparatus, and more particularly, to a static image of particles suspended in a flowing liquid sample for particle analysis to analyze cells in blood or urine. The present invention relates to a flow-type particle image analysis method and apparatus suitable for particle analysis.

【0002】[0002]

【従来の技術】従来の粒子画像解析においては、血液中
の細胞や尿中の細胞や粒子の分類解析は、スライドガラ
ス上に標本を作成し、顕微鏡にて観察することで行われ
てきた。尿の場合には、尿中の粒子濃度が薄いため、サ
ンプルを予め遠心分離器で遠心濃縮してから観察してい
る。
2. Description of the Related Art In conventional particle image analysis, classification and analysis of cells in blood and cells and particles in urine have been performed by preparing a sample on a slide glass and observing with a microscope. In the case of urine, since the concentration of particles in the urine is low, the sample is observed after being centrifugally concentrated by a centrifuge in advance.

【0003】これらの観察、検査の作業を自動化する方
法または装置としては、血液などのサンプル試料をスラ
イドガラス上に塗沫した後顕微鏡にセットし、顕微鏡ス
テージを自動的に走査し、粒子の存在する位置で顕微鏡
ステージを止めて静止粒子画像を撮影し、画像処理技術
による特徴抽出およびパターン認識手法を用い、サンプ
ル試料中にある粒子の分類・解析等を行っている。
As a method or apparatus for automating these observation and inspection operations, a sample such as blood is smeared on a slide glass and set on a microscope, and the microscope stage is automatically scanned to detect the presence of particles. At this position, the microscope stage is stopped and a still particle image is captured, and the feature extraction and pattern recognition techniques of image processing technology are used to classify and analyze the particles in the sample.

【0004】しかし、上記手法では標本作成に時間がか
かり、さらに顕微鏡ステージを機械的に移動しながら粒
子を見つけ、粒子を適当な画像取り込み領域へ移動させ
る作業が必要である。そのため、解析に時間を要した
り、機械機構が複雑になるという欠点がある。
However, in the above method, it takes a long time to prepare a specimen, and furthermore, it is necessary to find particles while mechanically moving the microscope stage and to move the particles to an appropriate image capturing area. Therefore, there are disadvantages that analysis takes time and the mechanical mechanism becomes complicated.

【0005】上記のような塗沫標本を作成しない粒子画
像解析方法または粒子画像解析装置には、サンプル試料
を液体中に懸濁させた状態にてフローセル中に流し、光
学的に解析するフローサイトメータ法が知られている。
このフローサイトメータによる方法は、サンプル中の各
粒子からの蛍光強度や散乱光強度を観測するもので、毎
秒数1000個の処理能力を備えている。しかし、粒子
の形態学的特徴を反映する特徴量を観測することはむず
かしく、従来顕微鏡下で行われていた形態学的特徴で粒
子を分類することができない。
In a particle image analysis method or particle image analysis apparatus that does not form a smear as described above, a flow site in which a sample sample is suspended in a liquid and is flown into a flow cell for optical analysis. The meter method is known.
This method using a flow cytometer observes the fluorescence intensity and scattered light intensity from each particle in the sample, and has a processing capacity of several thousand per second. However, it is difficult to observe features that reflect the morphological characteristics of particles, and particles cannot be classified by morphological characteristics conventionally performed under a microscope.

【0006】連続的に流れているサンプル試料中の静止
粒子画像を撮像し、それぞれの静止粒子画像から粒子を
分類、解析する試みとしては、特表昭57−50099
5号公報、特開昭63−94156号公報等に記載され
た技術が知られている。
As an attempt to capture static particle images in a continuously flowing sample sample and classify and analyze the particles from each static particle image, Japanese Patent Publication No. 57-50099.
Techniques described in Japanese Patent Laid-Open No. 5 and Japanese Patent Laid-Open No. 63-94156 are known.

【0007】特表昭57−500995号公報に記載さ
れた技術では、サンプル試料を特別な形状の流路に通し
て幅広の撮像領域中に流し、フラッシュランプによる静
止粒子画像を撮影し、その画像を用い粒子解析する。こ
の方法は、顕微鏡を用いてサンプル粒子の拡大画像をC
CDカメラ上に投影するとき、パルス光源である前記フ
ラッシュランプが前記CCDカメラの動作に同期して周
期的に発光する。パルス光源の発光時間は短いので、粒
子が連続的に流れていても静止画像を得ることができ、
しかも、CCDカメラは毎秒30枚の静止画像を撮影す
ることができる。
In the technique disclosed in Japanese Patent Publication No. 57-500995, a sample sample is flowed through a channel having a special shape into a wide image pickup area, a static particle image is taken by a flash lamp, and the image is taken. Particle analysis is performed using. In this method, a magnified image of sample particles is C-imaged using a microscope.
When projecting on a CD camera, the flash lamp, which is a pulse light source, periodically emits light in synchronization with the operation of the CCD camera. Since the emission time of the pulsed light source is short, it is possible to obtain a still image even when particles are flowing continuously.
Moreover, the CCD camera can capture 30 still images per second.

【0008】特開昭63−94156号公報に記載され
た技術では、静止粒子画像撮像系とは別にサンプル流れ
中の粒子画像撮影領域より上流に粒子検出系を設けてい
る。これは、予め粒子検出系で粒子通過を知り、その粒
子が粒子画像撮像領域に達したとき適当なタイミングに
よりパルス光源であるフラッシュランプを点灯させるも
のである。この方法においては、パルス光源の発光が周
期的に行わず、粒子の通過を検出してその時だけタイミ
ングを合わせて静止粒子画像を撮像することができるの
で、効率的に静止粒子画像が集められ、濃度の小さいサ
ンプル試料の場合でも粒子の存在しない無意味な画像を
撮像・処理することはない。
In the technique disclosed in Japanese Patent Laid-Open No. 63-94156, a particle detection system is provided upstream of the particle image capturing area in the sample flow, in addition to the stationary particle image capturing system. This is to know the passage of particles by a particle detection system in advance and turn on a flash lamp which is a pulse light source at an appropriate timing when the particles reach the particle image capturing area. In this method, the light emission of the pulsed light source is not performed periodically, it is possible to detect the passage of particles and to capture a still particle image at the same time only, so the still particle images are efficiently collected, Even in the case of a sample having a low concentration, a meaningless image without particles is not captured and processed.

【0009】さらに、特開平6−142086号公報で
は、特開昭63−94156号公報の場合と同じく、静
止粒子画像系とは別にサンプル流れ中の粒子を検出する
手段を有し、加えて検出された粒子画像において画像処
理した粒子数総数からサンプル粒子中の実際の粒子数、
分類された種類ごとの粒子数を求める手段を提供してい
る。
Further, in Japanese Patent Application Laid-Open No. 6-142086, as in the case of Japanese Patent Application Laid-Open No. 63-94156, there is provided a means for detecting particles in a sample flow in addition to a stationary particle image system, and in addition, detection is made. The actual number of particles in the sample particles from the total number of particles image-processed in the generated particle image,
It provides a means to obtain the number of particles for each classified type.

【0010】また、特開平7−83817号公報では、
特開平6−142086号公報で問題になる、検出粒子
と検出された粒子画像の1対1の対応方法について示さ
れている。
Further, in Japanese Patent Laid-Open No. 7-83817,
Japanese Unexamined Patent Publication No. 6-142086 discloses a one-to-one correspondence method between detected particles and detected particle images, which is a problem.

【0011】[0011]

【発明が解決しようとする課題】従来の粒子画像解析装
置においては、一般的に、連続的に流れているサンプル
粒子の静止画像を解析して、サンプル中の複数種類の粒
子数の計数や分類を効率よく行うためには、上述した公
知例で行われているように、静止粒子画像撮像領域又は
その上流に通過粒子を検出する粒子検出系が必要であ
る。すなわち、サンプル粒子が通過したときだけパルス
光源を点灯させてそのサンプル粒子の静止画像を撮像す
るように構成する。この方法は、粒子濃度の小さい測定
サンプルに対し非常に効率よく処理できるため、測定サ
ンプル量の増大、解析時間の短縮、解析精度の向上を計
ることができる。
In a conventional particle image analyzer, generally, a still image of a sample particle flowing continuously is analyzed to count or classify the number of plural kinds of particles in a sample. In order to efficiently perform the above, a particle detection system for detecting passing particles is required in the stationary particle image capturing area or upstream thereof, as is done in the above-mentioned known example. That is, the pulse light source is turned on only when the sample particles pass, and a still image of the sample particles is captured. Since this method can process a measurement sample having a low particle concentration very efficiently, it is possible to increase the amount of measurement sample, shorten the analysis time, and improve the analysis accuracy.

【0012】ところが、このようなフロー式粒子画像解
析装置においては、静止粒子画像撮像領域又はその上流
に通過粒子を検出する粒子検出系と、粒子が通過したと
きだけパルス光源を点灯させ静止粒子画像を撮像する画
像撮像系とを有しているが、粒子検出系と前記画像撮像
系とは一般的にその測定原理が異なっている。粒子検出
系としては、通常フローセル中を流れている測定サンプ
ルにレーザ光束を集光して照射し、前記レーザ光束をよ
ぎった粒子からの散乱光を検出する方法が用いられてい
る。その散乱光は、一般的に粒子の実効散乱断面積に比
例した強さの光信号となり、この光信号は光検出器によ
り電気信号に変換される。
However, in such a flow type particle image analysis apparatus, a particle detection system for detecting passing particles in a stationary particle image capturing area or an upstream thereof, and a stationary particle image by turning on a pulse light source only when the particles have passed. Although an image pickup system for picking up the image is included, the particle detection system and the image pickup system generally have different measurement principles. As a particle detection system, a method is generally used in which a laser beam is focused on a measurement sample flowing in a flow cell and irradiated, and scattered light from particles that cross the laser beam is detected. The scattered light generally becomes an optical signal having an intensity proportional to the effective scattering cross section of the particle, and this optical signal is converted into an electric signal by a photodetector.

【0013】この光信号の大きさは、粒子の光学的な屈
折率、吸収、サイズ、粒子の内部状態、散乱光検出条件
などにより影響を受け、必ずしも画像処理で用いられる
粒子の形態情報である粒子直径、周囲長、色彩情報、テ
クスチャ情報とは完全には一致しない。
The magnitude of this optical signal is influenced by the optical refractive index of particles, absorption, size, internal state of particles, scattered light detection conditions, and the like, and is necessarily morphological information of particles used in image processing. It does not completely match the particle diameter, perimeter, color information, and texture information.

【0014】また、粒子検出系を所定の粒子検出レベル
以上を粒子検出の条件とすると、実際の画像撮像系によ
る静止粒子画像には、サイズが小さく光散乱による粒子
検出レベルに達しない粒子が存在することは、しばしば
起こることである。その結果、粒子検出系で計数される
粒子数と画像処理された粒子数は、画像取り込みで避け
られないデットタイムによる粒子数え落としを考慮して
も一致せず、粒子解析精度、再現性の低下を引き起す原
因となる。
If the particle detection system is set to have a particle detection condition above a predetermined particle detection level, there are particles that are too small to reach the particle detection level due to light scattering in a static particle image obtained by an actual image pickup system. Doing is something that often happens. As a result, the number of particles counted by the particle detection system and the number of particles that have been image-processed do not match, even if the counting of particles due to dead time, which is unavoidable in image capture, is taken into consideration, and particle analysis accuracy and reproducibility deteriorate Cause to cause.

【0015】これらの問題に正しく対応させる方法を提
供するのが特開平7−83817号公報である。そこで
示されている方法は、1つの画像に撮像されている粒子
と粒子検出系で検出された粒子について1対1の対応関
係を取るものである。このために、粒子検出信号の中か
ら、パルスランプ光源が点灯した時点で画像に写ってい
る粒子のうち検出粒子に相当する粒子を計数し、この計
数値と画像中の粒子のうちの検出粒子とを対応させ、そ
してこれを検出粒子と見なされない粒子と区別するよう
にしている。
Japanese Unexamined Patent Publication No. 7-83817 provides a method for correctly addressing these problems. The method shown therein has a one-to-one correspondence relationship between particles imaged in one image and particles detected by the particle detection system. Therefore, from the particle detection signal, the number of particles corresponding to the detection particles among the particles reflected in the image when the pulse lamp light source is turned on is counted, and the count value and the detection particles among the particles in the image are counted. And to distinguish this from particles that are not considered detection particles.

【0016】上述した方法では、粒子検出系と画像撮像
系とをそれぞれ具備し、粒子検出系の原理と画像撮像系
の粒子画像識別の原理とが異なるフロー式粒子画像解析
方法およびフロー式粒子画像解析装置において、検出粒
子と静止粒子画像中の粒子とを対応させ、粒子検出系の
検出粒子以外の粒子が画像撮像系の静止粒子画像中に存
在しても、サンプル中の各種類の粒子個数、粒子存在比
率、粒子密度、濃度情報を正しく知ることができ、解析
精度の良好なフロー式粒子画像解析方法およびフロー式
粒子画像解析装置が提供される。
In the above-mentioned method, a flow type particle image analysis method and a flow type particle image are provided, each having a particle detection system and an image pickup system, and the principle of the particle detection system and the principle of particle image discrimination of the image pickup system are different. In the analyzer, the detected particles and the particles in the static particle image are made to correspond to each other, and even if particles other than the detection particles of the particle detection system exist in the static particle image of the image capturing system, the number of particles of each type in the sample The present invention provides a flow type particle image analysis method and a flow type particle image analysis device that can accurately know the particle existence ratio, particle density, and concentration information, and have good analysis accuracy.

【0017】しかし、上述の方法では、1画像中に存在
する検出粒子に対応する粒子を粒子検出信号から取り出
し計数するため、複雑な時間タイミングが必要になり、
この部分の回路構成が複雑になること、サンプル液の脈
動などの流速変化によりタイミング関係が変動する場合
に対応が取れないこと、サンプルの流速が異なるような
複数の測定モードを有する場合には、複数系統の回路構
成を必要するなどの問題がある。
However, in the above-mentioned method, since the particles corresponding to the detection particles existing in one image are extracted from the particle detection signal and counted, complicated time timing is required,
When the circuit configuration of this part becomes complicated, it is not possible to deal with the case where the timing relationship changes due to the flow velocity change such as pulsation of the sample liquid, when there are a plurality of measurement modes where the sample flow velocity is different, There is a problem that a circuit configuration of multiple systems is required.

【0018】本発明の目的は、検出粒子と静止粒子画像
中の粒子とを対応させ、検出粒子以外の粒子が静止粒子
画像中に存在しても、サンプル中の各種類の粒子個数、
粒子存在比率、粒子密度、濃度情報を正しく知ることを
可能にするのに適した、解析精度の良好なフロー式粒子
画像解析方法およびフロー式粒子画像解析装置を提供す
ることにある。
The object of the present invention is to make the detected particles correspond to the particles in the still particle image, and even if particles other than the detected particles are present in the still particle image, the number of particles of each kind in the sample,
It is an object of the present invention to provide a flow type particle image analysis method and a flow type particle image analysis device, which are suitable for making it possible to correctly know the particle abundance ratio, particle density, and concentration information and have good analysis accuracy.

【0019】[0019]

【課題を解決するための手段】本発明によれば、サンプ
ルがフロ−セルに流され、そのフロ−セルの予め定めら
れた位置を通る、予め定められた値以上の大きさをもつ
サンプル中の粒子が粒子検出系により検出粒子として検
出される。フロ−セルの撮像領域を通る粒子は粒子撮像
系により撮像され、その静止画像が得られる。その静止
画像中の、検出粒子に対応する粒子が抽出され、その抽
出された粒子について粒子解析が行われる。
According to the invention, in a sample having a size equal to or greater than a predetermined value, the sample is flowed through a flow cell and passes through a predetermined position of the flow cell. The particles are detected as detection particles by the particle detection system. Particles passing through the imaging area of the flow cell are imaged by the particle imaging system and a still image thereof is obtained. Particles corresponding to the detected particles in the still image are extracted, and particle analysis is performed on the extracted particles.

【0020】このように、静止画像中の粒子の検出粒子
との対応付けがなされ、したがって、検出粒子以外の粒
子が静止粒子画像中に存在しても、サンプル中の各種類
の粒子個数、粒子存在比率、粒子密度、濃度情報を正し
く知ることを可能にするのに適した、解析精度の良好な
フロー式粒子画像解析方法およびフロー式粒子画像解析
装置が提供され得る。
In this way, the particles in the still image are associated with the detected particles. Therefore, even if particles other than the detected particles are present in the still particle image, the number of particles of each type in the sample, the particles A flow-type particle image analysis method and a flow-type particle image analysis device that are suitable for making it possible to correctly know the abundance ratio, particle density, and concentration information can be provided.

【0021】予め定められた値は、具体的には前記粒子
が前記予め定められた位置を通るときのその粒子の通過
時間にもとづいて定められ得る。
The predetermined value may be specifically determined based on the transit time of the particle when the particle passes through the predetermined position.

【0022】粒子検出は望ましくはフロ−セルの予め定
められた位置に光を照射し、この光を粒子がよぎるとき
に該粒子によって散乱される散乱光信号を検出すること
によって行われ得る。また、前記通過時間は散乱光信号
の予め定められたレベルにおける幅にもとづいて定めら
れ得る。散乱光信号の予め定められたレベルにおける幅
に対応する時間幅をもつパルスを発生させると、このパ
ルス幅は粒子サイズに照射される光のサンプルの流れ方
向の集束幅を加えた値を表すことになり、したがって前
記通過時間はそのパルスの時間幅によって決定され得
る。
Particle detection may preferably be performed by illuminating a predetermined location on the flow cell with light and detecting the scattered light signal scattered by the particle as it passes by the light. Also, the transit time can be determined based on the width of the scattered light signal at a predetermined level. When a pulse having a time width corresponding to the width of the scattered light signal at a predetermined level is generated, the pulse width represents the particle size plus the focusing width in the flow direction of the sample of the irradiated light. Therefore, the transit time can be determined by the duration of the pulse.

【0023】静止画像中の、検出粒子に対応する粒子の
抽出は、具体的にはその粒子の、サンプルの流れ方向の
最大サイズにもとづいて行われ得る。
The extraction of the particles corresponding to the detected particles in the still image can be performed in particular on the basis of the maximum size of the particles in the flow direction of the sample.

【0024】粒子解析は予め定められた複数の測定モ−
ドにおいて行われ、その解析結果は総合されてよい。
The particle analysis is performed by a plurality of predetermined measurement modes.
The analysis results may be integrated.

【0025】粒子解析は抽出された粒子の画像特徴量を
抽出し、その画像特徴抽出量は前記抽出された粒子の形
態情報、色彩情報、蛍光情報又はそれらの組み合わせを
含んでいてもよい。
The particle analysis extracts the image feature amount of the extracted particles, and the image feature extraction amount may include morphological information, color information, fluorescence information of the extracted particles, or a combination thereof.

【0026】粒子検出はそれぞれ粒子検出条件が変更可
能な複数の測定モ−ドにおいて行われてよい。
Particle detection may be performed in a plurality of measurement modes in which the particle detection conditions can be changed.

【0027】粒子解析は予め定められた複数の測定モ−
ドにおいて行われ、前記予め定められた値は複数のモ−
ドに対応して変更されてもよい。
The particle analysis is performed by a plurality of predetermined measurement modes.
Mode, and the predetermined value is a plurality of modes.
It may be changed according to the mode.

【0028】粒子解析においては、サンプル体積当たり
の粒子数又は比率のいずれかを計算し、それにもとづき
全サンプル体積当たりの粒子数を求めてもよい。
In the particle analysis, either the number of particles per sample volume or the ratio may be calculated, and the number of particles per total sample volume may be calculated based on the calculation.

【0029】粒子解析においては、測定されるサンプル
の粒子数又は測定されるサンプル中の単位体積当たりの
粒子濃度又は顕微鏡視野換算の粒子数のいずれかを求め
てもよい。
In the particle analysis, either the number of particles in the sample to be measured, the particle concentration per unit volume in the sample to be measured, or the number of particles in terms of a microscopic field may be determined.

【0030】粒子解析においてはまた、静止画像中の、
検出粒子以外の粒子を別枠として粒子解析してもよい。
この検出粒子以外の粒子は検出粒子よりも小さい粒子で
あり、その中には、正規識別処理対象粒子であるもの、
正規識別処理対象粒子ではないが、その粒子医の存在が
重要な情報を提供するもの等が含まれている。したがっ
て、別枠粒子解析処理を行えば、処理された粒子の存在
比率を計算したり、解析処理した全静止粒子画像に相当
するサンプル体積から、解析処理された粒子に対する単
位体積当たりの粒子濃度、顕微鏡視野換算の粒子数を知
ることが可能にされる。
In particle analysis, the
Particle analysis may be performed by using particles other than the detection particles as a separate frame.
Particles other than the detection particles are particles smaller than the detection particles, and among them, those that are particles for regular identification processing,
The particles that are not the object of the normal identification processing, but the existence of the particle doctor provides important information are included. Therefore, if the separate frame particle analysis process is performed, the abundance ratio of the processed particles can be calculated, or from the sample volume corresponding to all the static particle images subjected to the analysis process, the particle concentration per unit volume for the analysis processed particles, the microscope It is possible to know the number of particles in terms of visual field.

【0031】別枠粒子解析はこの別枠識別粒子の全処理
粒子をもとに測定精度を判断し、その旨を報告するよう
にしてもよい。この場合は、全処理粒子数と予め設定さ
れた数値とを比較して、測定精度が保証できなくなった
場合には、その旨を報告し、別枠識別処理による誤差を
少なくすることができる。
In the separate frame particle analysis, the measurement accuracy may be determined based on all the processed particles of the separate frame identification particles, and the fact may be reported. In this case, the total number of treated particles is compared with a preset numerical value, and when the measurement accuracy cannot be guaranteed, the fact is reported and the error due to the separate frame identification processing can be reduced.

【0032】別枠粒子解析に関しては、分類結果をその
まま出力してもよい。このとき、1個でも特定の粒子が
存在することがより重要な情報である場合には、例外粒
子に対しても解析結果が得られる。
Regarding the separate frame particle analysis, the classification result may be output as it is. At this time, when the presence of even one specific particle is more important information, the analysis result can be obtained for the exceptional particle.

【0033】別枠粒子解析した粒子の中に正規識別処理
粒子が存在する場合は、単位体積当たりの粒子濃度に計
算した後、正規識別処理結果に組入れてもよい。このよ
うにすれば、粒子の解析精度を改善することができる。
この場合にも、別枠粒子解析における解析精度の低下を
判断して正規識別処理結果に組み入れてよい。これによ
ると、別枠粒子解析処理結果を組み入れることによる測
定精度の低下を防止することができる。
If there is a normal identification processing particle in the particles analyzed in the separate frame, it may be incorporated into the result of the normal identification processing after calculating the particle concentration per unit volume. By doing so, the accuracy of particle analysis can be improved.
Also in this case, it is possible to judge the decrease of the analysis accuracy in the separate-frame particle analysis and incorporate it into the regular identification processing result. According to this, it is possible to prevent the measurement accuracy from deteriorating due to the incorporation of the results of the particle analysis processing in another frame.

【0034】これらの判断基準は、予め粒子解析する前
に設定し、別枠粒子解析処理における結果がその判断基
準に満たない場合には、オペレ−タに知らせるようにし
てもよい。こうすれば、解析結果を安心して判断するこ
とができる。
These judgment criteria may be set in advance before the particle analysis, and the operator may be informed if the result of the separate frame particle analysis processing does not meet the judgment criteria. In this way, the analysis result can be judged with confidence.

【0035】静止粒子画像の中には、サンプル解析上重
要な粒子が含まれていることがあるため、その情報を捨
ててしまうことは望ましくない。この場合は、別枠粒子
解析を行うことで確実にそれらの粒子を解析することが
でき、全体の解析精度を悪化させることはない。
It is not desirable to discard the information because the static particle image may contain particles important for sample analysis. In this case, by performing separate frame particle analysis, those particles can be reliably analyzed, and the overall analysis accuracy is not deteriorated.

【0036】正規粒子解析処理および別枠粒子解析処理
は、解析対象粒子の範囲の異なる解析モ−ドがある場合
にも、それぞれの解析モ−ドについて行わせてもよい。
例えば、ある種類の粒子について、第1の解析モ−ドで
は別枠解析対象粒子を、第2のモ−ドでは正規解析対象
粒子について解析を行えば、解析終了後個々の解析モ−
ドの解析結果を総合して解析サンプル全体の粒子解析結
果としてまとめて解析精度の改善を図ることができる。
The normal particle analysis processing and the separate frame particle analysis processing may be performed for each analysis mode even when there are analysis modes in which the range of particles to be analyzed is different.
For example, for a certain type of particle, if the first analysis mode is used to analyze particles in another frame and the second mode is used to analyze normal analysis target particles, individual analysis modes will be obtained after the analysis is completed.
It is possible to improve the analysis accuracy by integrating the analysis results of the above-mentioned ones as a particle analysis result of the entire analysis sample.

【0037】測定条件が異なる場合や解析対象粒子の範
囲が異なる場合のように、異なる複数の測定モ−ドを有
する場合には、それぞれ異なった粒子検出条件、すなわ
ち、粒子検出レベルやパルス幅の所定の幅の値を変更で
きるようにしてもよく、さらに、異なる粒子条件に対応
して、粒子解析における、対応させる所定粒子サイズの
値を有し、かつ変更するようにしてもよい。このように
すれば、測定条件の多様性が増し、粒子解析精度の改善
を図ることができる。
When there are a plurality of different measurement modes, such as when the measurement conditions are different or the range of particles to be analyzed is different, different particle detection conditions, that is, the particle detection level and the pulse width are different. The value of the predetermined width may be changed, and further, the value of the predetermined particle size may be changed in the particle analysis corresponding to different particle conditions. By doing so, the variety of measurement conditions is increased, and the accuracy of particle analysis can be improved.

【0038】静止画像数が少なく前記別枠粒子解析を行
うのに十分な処理対象サンプル体積がない場合の処理が
定められてもよい。
A process may be defined when the number of still images is small and there is not enough sample volume to be processed to perform the separate-frame particle analysis.

【0039】さらに、静止画像数が少なく前記別枠粒子
解析を行うのに十分な処理対象サンプル体積がない場合
のその評価手順を予め入力設定してもよい。
Furthermore, when the number of still images is small and there is not enough sample volume to be processed for performing the separate-frame particle analysis, the evaluation procedure may be input and set in advance.

【0040】静止画像数が少なく前記別枠粒子解析を行
うのに十分な処理対象サンプル体積がない場合は、前記
別枠粒子解析を行わないようにしてもよいし、あるいは
別枠粒子解析を行い、その解析に問題があることを出力
するようにしてもよい。
If the number of still images is small and there is not enough sample volume to be processed for performing the separate frame particle analysis, the separate frame particle analysis may be omitted or the separate frame particle analysis may be performed. May output that there is a problem.

【0041】[0041]

【発明の実施の形態】図面を参照しての詳細説明に先立
って、実施の概念をまず説明する。
DESCRIPTION OF THE PREFERRED EMBODIMENTS Prior to the detailed description with reference to the drawings, the concept of the embodiment will be described first.

【0042】フローセル中の粒子検出領域を通過した粒
子を検出し、一定時間後に、検出粒子が静止画像撮像領
域の所定の位置に到着したとき、フラッシュランプを点
灯させ、粒子の静止画像を撮影する。
Particles that have passed through the particle detection area in the flow cell are detected, and after a certain time, when the detected particles arrive at a predetermined position in the still image capturing area, the flash lamp is turned on to capture a still image of the particle. .

【0043】一般に、撮像された一枚の静止粒子画像中
には、粒子検出系で検出した粒子以外の小さな粒子も撮
像されていることが度々発生する。粒子検出信号レベル
を高くすればするほど、この傾向は大きくなる。このた
め、撮像した粒子画像のなかのどれとどれが検出対象粒
子であるかを区別することが必要である。
In general, it is often the case that small particles other than the particles detected by the particle detection system are also picked up in one picked-up still particle image. The higher the particle detection signal level, the greater this tendency. Therefore, it is necessary to distinguish which of the captured particle images is the detection target particle.

【0044】ここで、粒子検出系の検出原理として、粒
子検出信号の信号レベルを越えた粒子に対し、さらに、
信号のパルス幅が所定の値を越えたものを、粒子検出信
号と見なす。このパルス幅は、測定粒子が粒子検出系を
通過する時間に相当し、通過粒子のサイズに比例する。
Here, as a detection principle of the particle detection system, for particles exceeding the signal level of the particle detection signal,
A signal whose pulse width exceeds a predetermined value is regarded as a particle detection signal. This pulse width corresponds to the time taken for the measurement particles to pass through the particle detection system, and is proportional to the size of the passing particles.

【0045】撮像した個々の粒子画像のサンプル流れ方
向の粒子の大きさと粒子通過によるパルス幅とは対応す
るから、画像解析対象粒子かどうかの対応をパルス幅で
決まる粒子サイズを基準にして区別することができる。
通常は、流れ方向の粒子サイズを粒子画像の分類識別に
必要な特徴パラメータの1つとする場合が多いから、容
易に検出粒子かどうかの対応をとることができる。
Since the size of the particle in the sample flow direction of the captured individual particle image and the pulse width due to passage of the particle correspond to each other, whether the particle is an image analysis target or not is distinguished based on the particle size determined by the pulse width. be able to.
Usually, the particle size in the flow direction is often used as one of the characteristic parameters necessary for classification and identification of particle images, so that it can be easily determined whether the particles are detected particles.

【0046】粒子画像識別特徴量として、測定粒子の形
態情報または色彩情報、または蛍光強度情報、またはこ
れらの情報の複数個組み合わせた特徴量を使用すること
ができるし、それに応じて、粒子検出系の粒子検出条件
を変更する必要がある。具体的には、粒子画像から、粒
子の大きさ、面積、直径、周囲長、射影像などの形態情
報、粒子濃度、色彩情報、粒子内構造、蛍光強度等の特
徴量が用いられる。
As the particle image identification feature amount, morphology information or color information of the measurement particles, fluorescence intensity information, or a feature amount obtained by combining a plurality of these items of information can be used. It is necessary to change the particle detection conditions of. Specifically, from the particle image, morphological information such as particle size, area, diameter, perimeter, and projection image, particle concentration, color information, particle internal structure, and fluorescence intensity are used.

【0047】生物細胞のように核、細胞質、細胞内顆粒
などの存在などの情報を使うこともできる。すなわち、
画像中に存在する粒子のどれとどれが粒子検出系で検出
された検出粒子であるか調べ、分類識別処理を実行す
る。これを正規識別処理と名付ける。
Information such as the existence of nuclei, cytoplasm, intracellular granules, etc. as in biological cells can also be used. That is,
It is checked which particles are present in the image and which are the detected particles detected by the particle detection system, and the classification discrimination processing is executed. This is referred to as regular identification processing.

【0048】検出粒子と画像中の粒子との対応をとるこ
とができなかった残りの粒子は、対応のとれた粒子とは
別の識別処理を行う。この処理を別枠識別処理と名付け
る。
The remaining particles for which the detected particles and the particles in the image cannot be associated with each other are subjected to a different discrimination process from the corresponding particles. This process is referred to as a separate frame identification process.

【0049】さらに、粒子検出による静止画像撮像と関
係なく、粒子検出系を通過し検出レベル以上あり、か
つ、所定のパルス幅以上有る全検出粒子計数値を測定す
る。
Further, the count value of all detected particles which have passed the particle detection system and have a detection level or more and have a predetermined pulse width or more is measured regardless of still image capturing by particle detection.

【0050】なお、この場合、フラッシュランプ光によ
る粒子検出信号の誤計数を防止することが必要である。
この防止のためには、フラッシュランプ光が粒子検出器
に到達しないようにするか、または電気的にフラッシュ
ランプ信号を計数しないようにする。
In this case, it is necessary to prevent erroneous counting of particle detection signals due to flash lamp light.
To prevent this, the flashlamp light is prevented from reaching the particle detector or the flashlamp signal is not counted electrically.

【0051】また、フラッシュランプ光も検出し、測定
終了時にランプ発光回数分差し引く方法により誤計数を
防ぐようにしても差し支えない。
It is also possible to prevent the erroneous counting by detecting the flash lamp light and subtracting the number of times of lamp light emission at the end of the measurement.

【0052】濃度の濃い粒子サンプルを処理する場合、
画像読みだしに伴うデットタイムのために粒子検出系に
おいて粒子の数え落としが生じるため、必ずしも一定測
定時間中の一画像粒子計数値の粒子数総和は、前記一定
測定時間中に粒子検出系を通過した全検出粒子計数値と
必ずしも一致はしない。
When processing a dense particle sample,
Due to the dead time associated with image reading, particle counts may be missed in the particle detection system.Therefore, the total number of particles in one image particle count value during a certain measurement time does not always pass through the particle detection system during the certain measurement time. It does not always match the total detected particle count value.

【0053】また、別枠識別処理対象粒子は、粒子検出
系の検出レベル以下の粒子であるから、前記全粒子検出
計数値には含まれていない。
Further, since the particles to be subjected to the separate frame discrimination processing are particles below the detection level of the particle detection system, they are not included in the total particle detection count value.

【0054】検出粒子と静止粒子画像中の粒子との対応
が付けられると、対応付けられた粒子画像についてパタ
ーン認識識別処理を行い粒子の種類を確定する。この作
業が全画像に対し処理されることにより、サンプル中の
各種類の粒子存在比率を確定する。この粒子存在比率を
決めるためには、粒子検出系で検出された粒子、すなわ
ち対応のとれた粒子に対してのみ処理が実施される。撮
像された静止粒子画像中に存在する粒子検出レベル以下
の粒子については、粒子検出系の検出全粒子数には含ま
れていないため処理を実施することができない。
When the detected particles and the particles in the still particle image are associated with each other, pattern recognition and identification processing is performed on the associated particle images to determine the type of particles. This operation is performed on all the images to determine the particle abundance ratio of each type in the sample. In order to determine this particle abundance ratio, the processing is performed only on the particles detected by the particle detection system, that is, on the corresponding particles. Particles that are present in the captured still particle image and that are lower than the particle detection level cannot be processed because they are not included in the total number of particles detected by the particle detection system.

【0055】粒子存在比率が確定すると、粒子検出全粒
子数を粒子検出計数器により別に測定し、粒子検出全粒
子数に粒子存在比率を乗ずることにより、サンプル中の
種類ごとの粒子個数を計算する。各種類の粒子個数よ
り、単位体積当たりの粒子濃度を計算する。
When the particle existence ratio is determined, the total number of particles detected is separately measured by a particle detection counter, and the number of particles detected is multiplied by the particle existence ratio to calculate the number of particles of each type in the sample. . The particle concentration per unit volume is calculated from the number of particles of each type.

【0056】次に、粒子検出系で検出した一画像粒子数
と静止粒子画像内に存在する粒子との対応の付け方を説
明する。
Next, a method of associating the number of particles in one image detected by the particle detection system with the particles existing in the still particle image will be described.

【0057】粒子検出手段として、レーザ光束をサンプ
ル流れに照射し、サンプル内の粒子からの光散乱を検出
する場合について説明する。
As a particle detecting means, a case will be described in which a laser beam is applied to a sample flow to detect light scattering from particles in the sample.

【0058】幅広で細く集光したレーザ光束をサンプル
中の粒子がよぎると、光は散乱され光検出器で受光され
る。電気信号に変換された粒子検出パルス信号の大きさ
は、粒子のサイズ情報を含むものである。特に、粒子検
出系を通過する時間は、粒子検出パルス信号に対応す
る。この粒子検出パルス信号は、実際には粒子サイズに
レーザ光束の粒子検出位置でのスポットサイズを加えた
ものに対応する。よって、粒子画像上で検出粒子として
の対応をとる場合には、レーザ光束のスポットサイズ分
を考慮して考える必要がある。
When the particles in the sample cross the wide and narrowly focused laser beam, the light is scattered and received by the photodetector. The size of the particle detection pulse signal converted into the electric signal includes the size information of the particle. In particular, the time it takes to pass the particle detection system corresponds to the particle detection pulse signal. This particle detection pulse signal actually corresponds to the particle size plus the spot size at the particle detection position of the laser beam. Therefore, when taking correspondence as a detection particle on a particle image, it is necessary to consider in consideration of the spot size of the laser beam.

【0059】検出粒子の大きさを特定のサイズ範囲のも
のを対象とする場合には、それに応じて、粒子検出系で
のパルス幅の範囲指定と、粒子画像の対応粒子のサイズ
指定範囲を対応させる。
When targeting the size of the detected particles in a specific size range, the range of the pulse width in the particle detection system and the size specification range of the corresponding particles in the particle image are correspondingly corresponding. Let

【0060】次に、別枠識別処理について述べる。粒子
検出系の一画像粒子数と正規識別処理対象粒子の対応を
付けた後、撮像された静止粒子画像に残存している未処
理粒子について分類識別処理を実行する。これらの未処
理粒子は、粒子検出系で検出されていない粒子が、撮像
された静止粒子画像に存在する粒子である。しかし、こ
れらの未処理粒子の中には重要な粒子が含まれているこ
とがあり、その情報を捨ててしまうことはできない。未
処理粒子のサンプル中での濃度、数量を確定するには、
単位体積当たりの個数、実際には、全画像を処理した後
の全画像に相当するサンプル体積当たりの粒子数を計算
し、さらに、全測定サンプル当たりに換算し直すこと
で、サンプルに占める粒子数、粒子数比率等が決められ
る。このように、画像処理したサンプルに相当するサン
プル体積を計算することが必要である。
Next, the separate frame identification processing will be described. After associating the number of particles of one image particle of the particle detection system with the particles to be subjected to regular identification processing, classification and identification processing is performed on unprocessed particles remaining in the captured still particle image. These unprocessed particles are particles that are not detected by the particle detection system and are present in the captured still particle image. However, important particles may be contained in these unprocessed particles, and the information cannot be discarded. To determine the concentration and quantity of untreated particles in a sample,
The number of particles per unit volume, in fact, the number of particles per sample volume corresponding to all images after processing all images is calculated, and the number of particles occupies in the sample is recalculated for all measured samples. , Particle number ratio, etc. are determined. Thus, it is necessary to calculate the sample volume corresponding to the image processed sample.

【0061】測定終了時に、正規識別処理と上記別枠処
理との結果を組み合わせて、最終結果とする。
At the end of the measurement, the results of the regular identification process and the separate frame process are combined to obtain the final result.

【0062】別枠識別結果の中には、本来正規識別結果
に含まれるべき粒子が存在し、正規識別結果に加える必
要がある。正規識別処理に入らないが例外的に重要な粒
子が含まれる場合にも、結果として報告する。
In the separate-frame identification result, there are particles that should be originally included in the regular identification result, and it is necessary to add them to the regular identification result. If particles that do not enter the regular identification process but are exceptionally important are included, the results are also reported.

【0063】粒子サイズが小さくて粒子検出で検出する
にはノイズ信号と同一信号レベルであったり、粒子個数
が非常に多く解析画像が膨大になる場合には、粒子検出
レベルを高くし、解析する静止粒子画像数を減らす方式
がよい。
When the particle size is small and the signal level is the same as the noise signal for detection by particle detection, or when the number of particles is very large and the analysis image becomes huge, the particle detection level is increased and analysis is performed. A method that reduces the number of static particle images is preferable.

【0064】上述の一連の画像処理を測定サンプルにつ
いて行うことにより、サンプル中の各粒子種類ごとの存
在比率、粒子数を決定することができる。これらの値か
ら、測定サンプル中の単位体積当たりの粒子濃度、また
は顕微鏡視野換算の粒子数を知る。顕微鏡視野換算の粒
子数とは、適当な倍率の顕微鏡視野に存在する平均粒子
数で、予め顕微鏡視野に相当するサンプル体積を設定す
ることが必要である。
By performing the above-described series of image processing on the measurement sample, the existence ratio and the number of particles for each particle type in the sample can be determined. From these values, the particle concentration per unit volume in the measurement sample, or the number of particles converted into a microscopic field is known. The number of particles in terms of the microscope field is the average number of particles present in the microscope field with an appropriate magnification, and it is necessary to set the sample volume corresponding to the microscope field in advance.

【0065】粒子検出系の一画像粒子計数値と正規識別
処理対象粒子の対応を付けたのち、静止粒子画像に残っ
ている粒子について別枠識別処理を実行する場合、測定
精度を保持するのに必要な画像処理されるサンプル体積
が必要である。しかし、粒子検出系で検出された粒子数
が少ない場合には、十分な静止粒子画像数を確保するこ
とができず、結果として画像処理されるサンプルの体積
が十分とれないことがある。
In order to maintain the measurement accuracy, when another frame identification processing is executed for the particles remaining in the still particle image after the correspondence between one image particle count value of the particle detection system and the particles for normal identification processing, An image processed sample volume is needed. However, when the number of particles detected by the particle detection system is small, it is not possible to secure a sufficient number of still particle images, and as a result, the volume of the sample subjected to image processing may not be sufficient.

【0066】別枠識別処理は、撮像された静止粒子画像
にもとずいて解析処理を行うため、もとの正規識別処理
対象粒子がサンプル中に存在する割合が少ない場合に
は、画像処理したサンプル体積をもとに別枠識別処理の
粒子濃度を算定することから、誤差が多くなる危険性が
ある。このことは、サンプル中に粒子が余り存在しない
ためであり、解析精度に問題があるわけではない。
In the separate frame identification process, the analysis process is performed based on the captured still particle image. Therefore, when the original regular identification process target particles are present in a small proportion in the sample, the image-processed sample is processed. Since the particle concentration in the separate frame identification process is calculated based on the volume, there is a risk that errors will increase. This is because there are few particles in the sample, and there is no problem in the analysis accuracy.

【0067】このように画像処理されるサンプルの体積
が十分取れない場合に別枠識別を行うには、測定精度が
十分取れないがことから、別枠識別処理を中止するか、
または別枠識別処理を行っても測定精度が悪いこと、デ
ータが信頼できないことをオペレータに知らせることが
必要である。ただし、別枠識別処理される粒子の中で、
特に重要な粒子が存在する場合については測定精度に関
係なく報告しなければならない。
In order to perform separate frame identification when the volume of the sample to be image-processed in this way cannot be obtained sufficiently, the measurement accuracy cannot be obtained sufficiently.
Alternatively, it is necessary to notify the operator that the measurement accuracy is low even if the separate frame identification processing is performed and that the data is not reliable. However, among the particles that are subject to separate frame identification processing,
The presence of particularly important particles must be reported regardless of the measurement accuracy.

【0068】別枠識別処理した全粒子数を計数し、予め
設定した粒子数以上に達しておれば、別枠識別処理結果
を有効と判断する。その粒子数に達していなければ、無
効と判断するか、またはどの程度の測定精度かを表示す
ることにより測定結果の有効性を決定する。この場合、
個々の種類別の粒子数再現性を判断基準にしても良い
し、単に処理画像数を基準にとっても良いし、別枠識別
処理のサンプル体積を基準に考えても良い。これらの判
断基準は、予め測定する前に設定することが必要であ
る。
The total number of particles subjected to the separate frame identification processing is counted, and if the number of particles reaches a preset number or more, the result of the separate frame identification processing is judged to be valid. If the number of particles has not been reached, the validity of the measurement result is determined by judging that the measurement result is invalid or displaying the degree of measurement accuracy. in this case,
The reproducibility of the number of particles for each type may be used as a criterion, or the number of processed images may be used as a reference, or the sample volume of another frame identification processing may be used as a reference. It is necessary to set these criteria before measurement.

【0069】さらに、別枠識別処理における測定結果
が、上述した判断基準に満たない場合には、オペレータ
に知らせる手段が必要である。測定結果の後に、コメン
トを付けたり、記号を付けて表示するのがよい。
Furthermore, when the measurement result in the separate frame identification processing does not meet the above-mentioned criteria, it is necessary to provide means for notifying the operator. It is recommended to add a comment or a symbol after the measurement result.

【0070】また、別枠識別処理における危険性より
も、一個でも特定粒子が存在することにより重要な情報
をオペレータに提供する粒子に対しては、分類結果をそ
のまま出力する。このようにして、例外粒子に対して測
定結果が得られないという問題を生じさせない。
Further, the classification result is output as it is for particles that provide important information to the operator due to the presence of even one specific particle rather than the risk in the separate frame identification processing. In this way, the problem that measurement results cannot be obtained for exceptional particles does not occur.

【0071】また、別枠識別処理で処理した粒子の中に
正規識別処理対象粒子が存在する場合、単位体積当たり
の粒子濃度に計算した後、正規識別処理粒子に組み入れ
ることにより、粒子の分類精度を改善する。この場合に
も、別枠識別処理における測定精度の危険性を考慮して
正規識別結果に組み入れるため、組入れによって測定精
度の低下はない。
Further, when the particles to be subjected to the regular identification processing exist among the particles processed by the separate frame identification processing, the particle classification accuracy is calculated by incorporating the particles into the regular identification processing particles after calculating the particle concentration per unit volume. Improve. Also in this case, since the risk of the measurement accuracy in the separate frame identification processing is taken into consideration and incorporated into the regular identification result, the incorporation does not reduce the measurement accuracy.

【0072】全ての粒子検出により撮像された画像につ
いて、対応づけされた正規識別処理対象粒子を選別し、
別枠識別処理を実行することにより、粒子検出された全
粒子による分類個数、分類比率を知ることができる。
From the images picked up by all the particle detections, the associated particles for normal identification processing are selected,
By executing the separate frame identification process, it is possible to know the number of classifications and classification ratios of all the particles detected.

【0073】これまでの説明では、同一解析サンプルに
対して解析条件は一定として考えてきたが、実際のサン
プル解析においては、解析モードを変えて実施すること
がある。
In the above description, the analysis conditions were considered to be constant for the same analysis sample, but in actual sample analysis, the analysis mode may be changed.

【0074】このような解析モードが複数個の場合に
も、それぞれの解析モードについて上述した正規識別処
理、別枠識別処理を行わせる。例えば、ある種類の粒子
について、第1の解析モードでは別枠識別対象粒子を、
第2の解析モードでは正規識別対象粒子にするように解
析を行えば、解析終了後、個々の解析モードの分類識別
結果を総合して、1解析サンプル全体の粒子解析結果と
して整理することにより解析精度の改善をする。
Even when there are a plurality of such analysis modes, the above-described regular identification processing and separate frame identification processing are performed for each analysis mode. For example, for a certain type of particles, in the first analysis mode, separate frame identification target particles are
In the second analysis mode, if the analysis is performed so that the particles are the normal identification target particles, after the analysis is completed, the classification and identification results of the individual analysis modes are combined and arranged as the particle analysis results of one analysis sample as a whole. Improve accuracy.

【0075】また、測定条件が異なる場合や解析対象粒
子の範囲が異なる場合のように、異なる複数の測定モー
ドを有する場合には、それぞれに異なった粒子検出条
件、すなわち、粒子検出信号のパルスレベルやパルス幅
の所定の値を変更するでき、結果として、粒子検出条件
を最適にする事ができる。
Further, when there are a plurality of different measurement modes, such as when the measurement conditions are different or the range of particles to be analyzed is different, different particle detection conditions, that is, the pulse level of the particle detection signal, respectively. The predetermined value of pulse width can be changed, and as a result, the particle detection conditions can be optimized.

【0076】さらに、異なる複数の測定モードにおい
て、異なる粒子検出条件に対応して、粒子解析部の対応
させる複数の所定粒子サイズの値を有し、かつ変更する
手段を有する事ができるため、測定条件の多様性が増
し、粒子解析精度の改善を図ることができる。
Further, in a plurality of different measurement modes, it is possible to have a plurality of values of a predetermined particle size corresponding to the particle analysis section corresponding to different particle detection conditions, and to have a means for changing the values. The variety of conditions increases, and the accuracy of particle analysis can be improved.

【0077】粒子検出には、粒子からの形態情報、色彩
情報、蛍光情報又はこれらの組み合わせを情報を用いて
もよい。
For the particle detection, information such as morphological information, color information, fluorescence information from the particles or a combination thereof may be used.

【0078】本発明の実施例を図1、2および3を参照
しながら説明する。
An embodiment of the present invention will be described with reference to FIGS.

【0079】図1は本発明の一実施例に係るフロー式粒
子画像解析装置の概念図、図2は図1の実施例における
粒子数解析部の構成を示すブロック図、図3は図2の粒
子解析部の処理内容を説明するフローチャト図である。
FIG. 1 is a conceptual diagram of a flow type particle image analysis apparatus according to an embodiment of the present invention, FIG. 2 is a block diagram showing the configuration of a particle number analysis unit in the embodiment of FIG. 1, and FIG. It is a flow chart explaining a processing content of a particle analysis part.

【0080】図1において、100はフローセル、10
1は画像撮像手段、102は粒子検出手段、103は粒
子解析手段、1はフラッシュランプ、1aはフラッシュ
ランプ駆動回路、2はフィールドレンズ、3は顕微鏡コ
ンデンサレンズ、5は顕微鏡対物レンズ、6は結像位
置、7は投影レンズ、8はTVカメラ、11は視野絞
り、12は開口絞り、14は微小反射鏡、15は半導体
レーザ、17はコリメータレンズ、18はシリンドリカ
ルレンズ、19は反射鏡、20はビームスプリッタ、2
1は絞り、22は光検出回路、23はフラッシュランプ
点灯制御回路、24はAD変換器、25は画像メモリ、
26は画像処理制御回路、27は特徴抽出回路、28は
識別回路、29は中央制御部、40は粒子数解析部、5
0は表示部である。
In FIG. 1, 100 is a flow cell and 10 is a flow cell.
1 is an image pickup means, 102 is a particle detection means, 103 is a particle analysis means, 1 is a flash lamp, 1a is a flash lamp drive circuit, 2 is a field lens, 3 is a microscope condenser lens, 5 is a microscope objective lens, and 6 is a connection lens. Image position, 7 is a projection lens, 8 is a TV camera, 11 is a field stop, 12 is an aperture stop, 14 is a microreflector, 15 is a semiconductor laser, 17 is a collimator lens, 18 is a cylindrical lens, 19 is a reflector, 20 Is a beam splitter, 2
1 is an aperture, 22 is a light detection circuit, 23 is a flash lamp lighting control circuit, 24 is an AD converter, 25 is an image memory,
26 is an image processing control circuit, 27 is a feature extraction circuit, 28 is an identification circuit, 29 is a central control unit, 40 is a particle number analysis unit, 5
Reference numeral 0 is a display unit.

【0081】図1において、本実施例に係るフロー式粒
子画像解析装置は粒子を懸濁させた液体サンプルが供給
されるフローセル100と、フローセル100中を流れ
るサンプル中の粒子を撮像する画像撮像手段101と、
撮像された画像から粒子を検出する粒子検出手段102
と、検出された粒子を分析する粒子解析手段103とを
備えている。
In FIG. 1, the flow-type particle image analyzer according to the present embodiment is a flow cell 100 to which a liquid sample in which particles are suspended is supplied, and an image pickup means for picking up an image of particles in the sample flowing in the flow cell 100. 101,
Particle detecting means 102 for detecting particles from the imaged image
And particle analysis means 103 for analyzing the detected particles.

【0082】フローセル100にはサンプル110と共
にシース液111が供給され、サンプル110がシース
液111に包まれる流れを形成する。そしてサンプル流
れ110は画像撮像手段101(後述)の顕微鏡光軸9
(後述)に対して垂直方向に偏平な断面形状を有する安
定した定常流、いわゆるシースフローとなり、フローセ
ル100の中心を紙面の上方から下方へ向かって流下す
る。このサンプル流れ110の流速は中央制御部29
(後述)により制御される。
The sheath liquid 111 is supplied to the flow cell 100 together with the sample 110, and the sample 110 forms a flow surrounded by the sheath liquid 111. The sample flow 110 is the optical axis 9 of the microscope of the image pickup means 101 (described later).
A stable steady flow having a flat cross-sectional shape in the direction perpendicular to (described later), that is, a so-called sheath flow, which flows down the center of the flow cell 100 from the upper side to the lower side of the paper surface. The flow velocity of the sample flow 110 is the central control unit 29.
(Described later).

【0083】画像撮像手段101は顕微鏡としての機能
を有し、パルス光源であるフラッシュランプ1と、フラ
ッシュランプ1を発光させるフラッシュランプ駆動回路
1aと、フラッシュランプ1からのパルス光束を平行に
するフィールドレンズ2と、フィールドレンズ2からの
平行なパルス光束10をフローセル100内のサンプル
液流れ110に集束させる顕微鏡コンデンサレンズ3
と、フローセル100内のサンプル流れ110に照射さ
れたパルス光束を集光し結像位置6に結像させる顕微鏡
対物レンズ5と、投影レンズ7を介して投影した結像位
置6の粒子像を、いわゆるインターレース方式により取
り込み電気信号である画像データ信号に変換するTVカ
メラ8と、パルス光束10の幅を制限する視野絞り11
および開口絞り12とを具備している。TVカメラ8と
しては、残像の少ないCCDカメラ等が一般に用いられ
る。
The image pickup means 101 has a function as a microscope, and includes a flash lamp 1 which is a pulse light source, a flash lamp drive circuit 1a for causing the flash lamp 1 to emit light, and a field which makes a pulse light flux from the flash lamp 1 parallel. The lens 2 and the microscope condenser lens 3 for focusing the parallel pulsed light flux 10 from the field lens 2 on the sample liquid flow 110 in the flow cell 100.
A microscope objective lens 5 for condensing the pulsed light flux irradiated on the sample flow 110 in the flow cell 100 and forming an image at the image forming position 6, and a particle image at the image forming position 6 projected via the projection lens 7, A TV camera 8 for converting into an image data signal which is an electric signal captured by a so-called interlace system, and a field stop 11 for limiting the width of the pulse light flux 10.
And an aperture stop 12. As the TV camera 8, a CCD camera or the like with a small afterimage is generally used.

【0084】粒子検出手段102は検出光としてのレー
ザ光を発する検出光源である半導体レーザ15と、半導
体レーザ15からのレーザ光を平行なレーザ光束14に
するコリメータレンズ16と、コリメータレンズ16か
らのレーザ光束14の一方向のみを集束させるシリンド
リカルレンズ17と、シリンドリカルレンズ17からの
レーザ光束14を反射させる反射鏡18と、顕微鏡コン
デンサレンズ3とフローセル100との間に位置し、前
記反射鏡18からのレーザ光束14をサンプル液流れ1
10上の画像取り込み領域の上流側近傍に導く微小反射
鏡19とから構成されている。さらに、粒子によるレー
ザ光束14の散乱光を集光する顕微鏡対物レンズ5(こ
の顕微鏡対物レンズ5は、画像撮像手段101の結像用
の顕微鏡対物レンズ5と共用される)と、顕微鏡対物レ
ンズ5で集光された散乱光を反射させるビームスプリッ
タ20と、ビームスプリッタ20からの散乱光を絞り2
1を介して受光し、その強度に基づく電気信号を出力す
る光検出回路22と、光検出回路22からの電気信号に
基づいて前記フラッシュランプ駆動回路1aを作動させ
るフラッシュランプ発光制御回路23とを具備してい
る。
The particle detecting means 102 includes a semiconductor laser 15 which is a detection light source for emitting a laser beam as a detection beam, a collimator lens 16 for converting the laser beam from the semiconductor laser 15 into a parallel laser beam 14, and a collimator lens 16 A cylindrical lens 17 that focuses only one direction of the laser beam 14, a reflecting mirror 18 that reflects the laser beam 14 from the cylindrical lens 17, a microscope condenser lens 3 and a flow cell 100. The laser beam 14 of the sample liquid flow 1
And a micro-reflecting mirror 19 that guides the vicinity of the upstream side of the image capturing area on 10. Further, a microscope objective lens 5 for condensing scattered light of the laser light flux 14 by the particles (this microscope objective lens 5 is also used as the image forming microscope objective lens 5 of the image pickup means 101), and the microscope objective lens 5 The beam splitter 20 that reflects the scattered light condensed by the
A light detection circuit 22 that receives light via 1 and outputs an electric signal based on the intensity thereof, and a flash lamp emission control circuit 23 that operates the flash lamp drive circuit 1a based on the electric signal from the light detection circuit 22. It has.

【0085】粒子解析手段103はTVカメラ8から転
送された画像データ信号をデジタル信号に変換するAD
変換器24と、AD変換器24からの信号に基づくデー
タを所定のアドレスに記憶する画像メモリ25と、画像
メモリにおけるデータの書き込みおよび読み出しの制御
を行う画像処理制御回路26と、画像メモリ25からの
信号に基づき画像処理を行い粒子数や分類を行う特徴抽
出回路27と、識別回路28と、中央制御部29と、サ
ンプル110中の粒子数を決定する粒子数解析部40
と、画像処理の結果である粒子数や分類を表示する表示
部50とからなっている。
The particle analysis means 103 is an AD for converting the image data signal transferred from the TV camera 8 into a digital signal.
From the converter 24, an image memory 25 that stores data based on a signal from the AD converter 24 at a predetermined address, an image processing control circuit 26 that controls writing and reading of data in the image memory, and an image memory 25. A feature extraction circuit 27 that performs image processing and classifies particles based on the signal, a discrimination circuit 28, a central control unit 29, and a particle number analysis unit 40 that determines the number of particles in the sample 110.
And a display unit 50 for displaying the number of particles and the classification as a result of image processing.

【0086】中央制御部29はTVカメラ8の撮影条件
や前記フローセル100のサンプル流れの条件、画像処
理制御回路26の制御、識別回路28からの画像処理結
果の記憶、粒子数解析部40とのデータの授受、表示部
50への表示等を行うように構成されている。
The central control unit 29 is connected with the photographing condition of the TV camera 8, the sample flow condition of the flow cell 100, the control of the image processing control circuit 26, the storage of the image processing result from the identification circuit 28, and the particle number analysis unit 40. It is configured to exchange data, display on the display unit 50, and the like.

【0087】次に、図2を参照して、粒子数解析部40
の構成について説明する。図中、図1と同一符号は、同
等部分であるので、詳細な説明を省略する。
Next, referring to FIG. 2, the particle number analysis unit 40
The configuration of will be described. In the figure, the same reference numerals as those in FIG. 1 denote the same parts, and a detailed description thereof will be omitted.

【0088】図2において、41はパルスレベル検出
部、42はパルス幅検出部、43は全粒子計数回路、5
0は表示部、61は1粒子画像サイズデータ格納部、6
2は粒子分類結果格納部、63は全画像数計数部、64
は解析条件設定部、65はサイズ比較部、66は所定サ
イズデータ格納部、67は粒子分類結果対応部、68は
正規分類結果処理部、69は別枠分類結果処理部、70
は分類結果集計部である。
In FIG. 2, 41 is a pulse level detector, 42 is a pulse width detector, 43 is a total particle counting circuit, 5
0 is a display unit, 61 is a 1-particle image size data storage unit, 6
2 is a particle classification result storage unit, 63 is a total image number counting unit, and 64 is
Is an analysis condition setting unit, 65 is a size comparison unit, 66 is a predetermined size data storage unit, 67 is a particle classification result corresponding unit, 68 is a normal classification result processing unit, 69 is another frame classification result processing unit, 70
Is a classification result totaling unit.

【0089】粒子数解析部40を構成するパルスレベル
検出回路41は光検出回路22からの所定の信号レベル
以上の粒子検出信号を検出する。
The pulse level detection circuit 41 which constitutes the particle number analysis unit 40 detects the particle detection signal from the photodetection circuit 22 which is higher than a predetermined signal level.

【0090】また、パルス幅検出部42は、パルスレベ
ル検出部41の出力信号のうち所定のパルス幅以上の粒
子検出信号を検出する。全粒子計数回路43は所定の信
号レベル以上あって、かつ、パルス幅が所定の値以上の
全解析時間中の全検出粒子数を計数する。
Further, the pulse width detecting section 42 detects a particle detection signal having a predetermined pulse width or more among the output signals of the pulse level detecting section 41. The total particle counting circuit 43 counts the total number of detected particles during the entire analysis time when the signal level is equal to or higher than a predetermined value and the pulse width is equal to or higher than a predetermined value.

【0091】さらに、解析条件設定部64にはサンプル
解析条件を、全画像計数部63には全画像計数量、すな
わち、1画像処理するごとに1増加する計数量を、粒子
分類結果格納部62には1粒子画像処理した粒子画像の
粒子分類結果を、1粒子画像サイズデータ格納部61に
は分類された各粒子の粒子サイズ特徴量であるパラメー
タ・データをそれぞれ中央制御部29よりセットされる
ようになっている。
Furthermore, the particle analysis result storage unit 62 stores the sample analysis conditions in the analysis condition setting unit 64, the total image count amount in the total image counting unit 63, that is, the count amount incremented by 1 for each image processing. The central control unit 29 sets the particle classification result of the particle image subjected to the one-particle image processing, and the parameter data which is the particle size feature amount of each classified particle in the one-particle image size data storage unit 61. It is like this.

【0092】さらに、検出粒子の検出サイズに対応する
所定サイズ値を所定サイズデータ部格納部66に格納し
ており、1粒子画像サイズデータ格納部61の値と比較
するのがサイズ比較部65である。サイズ比較部65の
比較結果をもとにして、粒子分類結果対応部67でサイ
ズが大きければ正規検出粒子、小さいものが別枠分類粒
子と判断される。
Further, the predetermined size value corresponding to the detected size of the detected particles is stored in the predetermined size data storage unit 66, and the size comparison unit 65 compares the value with the one particle image size data storage unit 61. is there. Based on the comparison result of the size comparison unit 65, the particle classification result correspondence unit 67 determines that the particle size is large and that the particle size is normal detection particle, and the small particle size is the separate frame classification particle.

【0093】このデータ対応部67の結果をもとにし
て、粒子分類結果部62にセットされている粒子分類結
果を、粒子分類結果対応部67により正規識別処理の対
象粒子と別枠識別処理の対象粒子とに選別し、各々正規
分類結果処理部68又は別枠分類結果処理部69にセッ
トする。
On the basis of the result of the data correspondence unit 67, the particle classification result set in the particle classification result unit 62 is used by the particle classification result correspondence unit 67 as the target particle of the normal classification process and the target of the separate frame classification process. Particles are sorted and set in the regular classification result processing unit 68 or the separate frame classification result processing unit 69, respectively.

【0094】最後に、全粒子数を計数する全粒子係数回
路43、全処理画像数を計数する全画像数計数部63、
解析条件設定部64、正規分類結果部68および別枠分
類結果部69の粒子識別処理結果をもとにして、分類結
果集計部70において最終処理結果がまとめられるよう
になっている。その結果は、前記中央制御部29に伝送
され、必要に応じて前記表示部50に出力表示される。
Finally, the total particle coefficient circuit 43 for counting the total number of particles, the total image number counting section 63 for counting the total number of processed images,
Based on the particle identification processing results of the analysis condition setting unit 64, the regular classification result unit 68, and the separate frame classification result unit 69, the classification result totaling unit 70 collects the final processing results. The result is transmitted to the central control unit 29 and is output and displayed on the display unit 50 as necessary.

【0095】上記構成のフロー式粒子画像解析装置の働
きを説明する。まず、画像撮像手段101と、粒子検出
手段102との動作を説明する。半導体レーザ15は常
時連続的に発振しており、つねにサンプル110中の粒
子が検出領域を通過するのを観測している。半導体レー
ザ15からのレーザ光束14はコリメータレンズ16に
おいて平行なレーザ光束に変換され、シリンドリカルレ
ンズ17において光束14の1方向のみ集束される。
The operation of the flow type particle image analysis device having the above configuration will be described. First, the operations of the image pickup means 101 and the particle detection means 102 will be described. The semiconductor laser 15 constantly oscillates continuously and always observes that particles in the sample 110 pass through the detection region. The laser light flux 14 from the semiconductor laser 15 is converted into a parallel laser light flux by the collimator lens 16 and is focused by the cylindrical lens 17 in only one direction of the light flux 14.

【0096】レーザ光束14は反射鏡18および微小反
射鏡19で反射されフローセル100内のサンプル流れ
110上に照射される。この照射位置はシリンドリカル
レンズ17によってレーザ光束14が集束する粒子検出
位置であり、サンプル流れ110上の画像取り込み領域
の上流側近傍の位置である。
The laser beam 14 is reflected by the reflecting mirror 18 and the micro-reflecting mirror 19 and irradiated onto the sample flow 110 in the flow cell 100. This irradiation position is a particle detection position where the laser beam 14 is focused by the cylindrical lens 17, and is a position near the upstream side of the image capturing area on the sample flow 110.

【0097】解析対象である粒子が上記レーザ光束14
を横切ると、このレーザ光束14は散乱される。そのレ
ーザ光束の散乱光はビームスプリッタ20で反射され、
光検出回路22において受光され、その強度にもとづく
電気信号に変換される。
Particles to be analyzed are the above laser beam 14
This laser light beam 14 is scattered when it crosses. The scattered light of the laser beam is reflected by the beam splitter 20,
The photodetector circuit 22 receives the light and converts it into an electric signal based on the intensity thereof.

【0098】さらに、光検出回路22出力は粒子数分析
部40に送られ、信号のうち所定のレベル、所定のパル
ス幅以上のものを、検出粒子とみなし、結果をフラッシ
ュランプ点灯制御回路23に伝える。
Further, the output of the photodetection circuit 22 is sent to the particle number analysis section 40, and signals having a predetermined level and a predetermined pulse width or more are regarded as detected particles, and the result is sent to the flash lamp lighting control circuit 23. Tell.

【0099】粒子検出がなされると、画像処理対象粒子
が通過したものとし、検出信号はフラッシュランプ発光
制御回路23に伝送される。所定の遅延時間は粒子検出
位置と画像取り込み領域との距離およびサンプル110
の流速等により決定される。
When the particles are detected, it is assumed that the particles to be image-processed have passed, and the detection signal is transmitted to the flash lamp emission control circuit 23. The predetermined delay time depends on the distance between the particle detection position and the image capturing area and the sample 110.
It is determined by the flow rate of

【0100】フラッシュ発光信号が前記フラッシュラン
プ駆動回路1aに伝送されると、フラッシュランプ駆動
回路1aは前記フラッシュランプ1を発光させる。フラ
ッシュランプ1より発せられたパルス光は顕微鏡光軸9
上を進み、フィールドレンズ2により平行光となり、顕
微鏡コンデンサレンズ3により集束されてフローセル1
00内のサンプル流れ110上に照射される。
When the flash light emission signal is transmitted to the flash lamp drive circuit 1a, the flash lamp drive circuit 1a causes the flash lamp 1 to emit light. The pulsed light emitted from the flash lamp 1 is the optical axis 9 of the microscope.
Going up, the field lens 2 collimates the light, and the microscope condenser lens 3 focuses the light into the flow cell 1.
The sample stream 110 in 00 is illuminated.

【0101】なお、視野絞り11および開口絞り12に
よりパルス光束10の幅が制限される。
The width of the pulse beam 10 is limited by the field stop 11 and the aperture stop 12.

【0102】フローセル100内のサンプル流れ110
に照射されたパルス光束は顕微鏡対物レンズ5で集光さ
れ、結像位置6に像を結像する。この結像位置6の像は
投影レンズ7によりTVカメラ8の撮像面上に投影さ
れ、インターレース方式により画像データ信号に変換さ
れる。このようにして、サンプル110内の粒子の静止
粒子画像が撮像されたことになる。TVカメラ8におけ
る撮像条件は、中央制御部29に予め設定されており、
この撮像条件によって前記TVカメラ8の撮像動作が制
御される。
Sample flow 110 in flow cell 100
The pulsed light flux radiated on the laser beam is focused by the microscope objective lens 5 and an image is formed at the image forming position 6. The image at the image forming position 6 is projected onto the image pickup surface of the TV camera 8 by the projection lens 7 and converted into an image data signal by the interlace method. In this way, the static particle image of the particles in the sample 110 is captured. The imaging conditions of the TV camera 8 are preset in the central control unit 29,
The imaging operation of the TV camera 8 is controlled according to this imaging condition.

【0103】粒子解析手段103について説明する。T
Vカメラ8により撮像され、インターレース方式により
変換される画像データ信号はAD変換器24でデジタル
信号に変換され、これにもとづくデータが、画像処理制
御回路26に制御され、画像メモリ25の所定のアドレ
スに記憶される。画像メモリ25に記憶されたデータ
は、画像処理制御回路26の制御により読み出され、特
徴抽出回路27および識別回路28に入力されて画像処
理が行われ、中央制御部29にその結果が記憶される。
中央制御部29に記憶される内容は粒子分類に用いられ
た粒子識別特徴パラメータと粒子分類結果データとであ
る。
The particle analysis means 103 will be described. T
The image data signal captured by the V camera 8 and converted by the interlace method is converted into a digital signal by the AD converter 24, and the data based on this is controlled by the image processing control circuit 26 to a predetermined address of the image memory 25. Memorized in. The data stored in the image memory 25 is read out under the control of the image processing control circuit 26, input to the feature extraction circuit 27 and the identification circuit 28 to be subjected to image processing, and the result is stored in the central control unit 29. It
The contents stored in the central control unit 29 are the particle identification feature parameters used for particle classification and the particle classification result data.

【0104】粒子の分類識別処理は通常行われているパ
ターン認識処理により自動的に行われる。この画像処理
結果と測定条件および画像処理された画像数情報が中央
制御部29から粒子数解析部40に送られる。粒子数解
析部40においては、中央制御部29、光検出回路22
からの粒子検出信号および画像処理制御回路26からの
制御信号をもとに、検出粒子と粒子分類結果との対応関
係を調べ、最終的な粒子画像の分類識別結果のまとめが
行われる。
The classification and identification processing of particles is automatically performed by the pattern recognition processing which is usually performed. The result of image processing, measurement conditions, and information on the number of images subjected to image processing are sent from the central control unit 29 to the particle number analysis unit 40. In the particle number analysis unit 40, the central control unit 29, the photodetection circuit 22
Based on the particle detection signal from the image processing control signal and the control signal from the image processing control circuit 26, the correspondence between the detected particles and the particle classification result is examined, and the final classification and classification result of the particle image is summarized.

【0105】次に、図2を参照して粒子数解析部40を
説明する。全粒子計数回路43は光検出回路22からの
粒子検出信号をもとに、パルスレベル検出部41および
パルス幅検出部42を経て、検出粒子信号から所定のサ
イズ以上の粒子を計数し、測定終了時には全検出粒子数
を得る。
Next, the particle number analysis unit 40 will be described with reference to FIG. The total particle counting circuit 43 counts particles of a predetermined size or more from the detected particle signal through the pulse level detecting section 41 and the pulse width detecting section 42 based on the particle detection signal from the light detecting circuit 22, and the measurement is completed. Sometimes the total number of detected particles is obtained.

【0106】フロー式粒子画像解析を説明する。解析条
件設定部64に設定されるサンプル解析条件のデータは
分類結果集計部70における処理内容によって決められ
る。基本的には、解析サンプル体積、解析時間、一静止
粒子画像相当のサンプル体積、顕微鏡一視野相当のサン
プル体積、解析モード等のデータが必要であるが、分類
処理内容によっては上述したデータの中で省略してもよ
い事項もある。
The flow type particle image analysis will be described. The data of the sample analysis condition set in the analysis condition setting unit 64 is determined by the processing content in the classification result totaling unit 70. Basically, data such as analysis sample volume, analysis time, sample volume equivalent to one static particle image, sample volume equivalent to one field of view of the microscope, analysis mode, etc. is required. There are some items that may be omitted.

【0107】全画像計数部63では1画像処理するごと
に計数量が1増加され、解析終了時には解析時間内に画
像処理した全画像数が記憶されている。1粒子分を画像
処理した静止粒子画像の粒子分類結果は識別回路28お
よび中央制御部29を経て粒子分類結果部62にセット
される。同時に、その分類された各粒子の分類識別に使
用した特徴量の中で、粒子検出系の検出原理に一番近い
特徴量を1粒子画像サイズデータ61にセットする。こ
れは検出系による粒子検出条件と対応づけるために必要
である。
In the total image counting unit 63, the count amount is incremented by 1 every time one image is processed, and at the end of the analysis, the total number of images processed in the analysis time is stored. The particle classification result of the still particle image obtained by image-processing one particle is set in the particle classification result unit 62 via the identification circuit 28 and the central control unit 29. At the same time, of the feature amounts used for classification and identification of the classified particles, the feature amount closest to the detection principle of the particle detection system is set in the one-particle image size data 61. This is necessary to correspond to the particle detection conditions of the detection system.

【0108】次に、1粒子画像サイズデータ61にセッ
トされた粒子サイズ情報と、予め粒子検出系で設定した
粒子検出条件に対応する所定粒子サイズ部66に設定さ
れた値とサイズ比較部68で、サイズ比較する。サイズ
比較部68の比較結果は粒子分類結果対応部67にて、
所定サイズより大きければ正規分類粒子、小さければ別
枠分類粒子の対応づけを行う。その結果はそれぞれ正規
分類結果処理部68および別枠分類結果処理部69で集
計される。正規分類結果部68および別枠分類結果部6
9では、それまでに識別分類されている結果に加算する
操作が行われる。
Next, the particle size information set in the one-particle image size data 61, the value set in the predetermined particle size section 66 corresponding to the particle detection condition set in advance in the particle detection system, and the size comparison section 68 are set. , Compare sizes. The comparison result of the size comparison unit 68 is calculated by the particle classification result correspondence unit 67.
If the size is larger than the predetermined size, the normal classification particles are associated, and if the size is smaller, the separate frame classification particles are associated. The results are totaled by the regular classification result processing unit 68 and the separate frame classification result processing unit 69, respectively. Regular classification result part 68 and separate frame classification result part 6
In 9, the operation of adding to the results classified and classified up to that point is performed.

【0109】一つのサンプルの解析が終了すると、解析
サンプルに関する粒子検出レベル以上の全粒子数が全粒
子計数回路41、画像処理された全画像数が全画像数計
数部63、正規識別処理対象粒子の分類累計数が正規分
類結果部68に、さらに別枠識別処理対象粒子の分類累
計数が別枠分類結果部69に格納されていることにな
る。
When the analysis of one sample is completed, the total number of particles above the particle detection level related to the analyzed sample is the total particle counting circuit 41, the total number of image-processed images is the total image number counting unit 63, and the normal identification processing target particles. The cumulative total number of classifications is stored in the regular classification result portion 68, and the cumulative total number of particles of another frame identification processing target is stored in the separate frame classification result portion 69.

【0110】最終的に、この正規分類結果処理部68お
よび別枠分類結果処理部69で集計結果をもとにして、
解析条件設定部64の解析条件、全画像数計数部63の
全画像枚数データに関する情報を使って、分類結果集計
部70にて、粒子分類数、粒子濃度、顕微鏡視野換算粒
子数などの計算を行う。分類結果集計部70にて最終結
果として整理され、その結果は中央制御部29に返さ
れ、必要に応じて表示部50に出力表示される。
Finally, the regular classification result processing unit 68 and the separate frame classification result processing unit 69 use
Using the analysis condition of the analysis condition setting unit 64 and the information about the total image number data of the total image number counting unit 63, the classification result totaling unit 70 calculates the number of particles classified, the particle concentration, the number of particles converted into a microscopic field, and the like. To do. The final result is sorted by the classification result totaling unit 70, the result is returned to the central control unit 29, and output and displayed on the display unit 50 as necessary.

【0111】図4に示したフローチャートにより粒子解
析の順序を説明する。
The order of particle analysis will be described with reference to the flow chart shown in FIG.

【0112】ステップ1において、粒子サンプルの解析
が開始されると、始めに解析条件が解析条件設定部64
にセットされる。セットされる解析条件は、正規分類と
別枠分類との区分、解析時間、解析量、分類種類、解析
モード等である。
In step 1, when the analysis of the particle sample is started, the analysis conditions are first set to the analysis condition setting unit 64.
Is set to The analysis conditions to be set include the division between the normal classification and the separate frame classification, the analysis time, the amount of analysis, the classification type, the analysis mode, and the like.

【0113】ステップ2において、粒子検出・画像処理
の一連の処理がサンプル全体について終了しているか、
どうか判断され、終了していなければステップ3に進
む。
In step 2, whether a series of particle detection / image processing has been completed for the entire sample,
It is determined whether or not the processing has been completed, and the process proceeds to step 3.

【0114】ステップ3において、1粒子画像について
粒子検出、粒子画像撮像、粒子特徴抽出および粒子分類
識別を実行されステップ4に進む。
In step 3, particle detection, particle image pickup, particle feature extraction and particle classification identification are executed for one particle image, and the operation proceeds to step 4.

【0115】ステップ4において、1粒子画像について
のうち粒子検出条件に相当する粒子サイズに関する特徴
パラメータデータを設定取り出しを行う。ステップ5に
進む。
In step 4, the characteristic parameter data regarding the particle size corresponding to the particle detection condition of one particle image is set and extracted. Go to step 5.

【0116】ステップ5において、ステップ4で求めた
画像上での粒子細事データと予め設定されている所定粒
子サイズと比較を行う。所定サイズより大きければ、ス
テップ6の正規分類結果処理へ、所定サイズより小さけ
れば、ステップ7の別枠分類結果処理へ進む。
In step 5, the particle detail data on the image obtained in step 4 is compared with the preset predetermined particle size. If it is larger than the predetermined size, the process proceeds to step 6 for normal classification result processing, and if it is smaller than the predetermined size, the process proceeds to step 7 for separate frame classification result processing.

【0117】ステップ6において、正規識別処理対象粒
子の解析結果を粒子種類ごとに加算・集計処理が正規分
類結果処理部68にて行われ、ステップ2に戻る。
In step 6, the normal classification result processing section 68 performs addition / totalization processing of the analysis result of the particles for normal identification processing for each particle type, and the process returns to step 2.

【0118】ステップ7においては、別枠識別処理対象
粒子の解析結果を粒子種類ごとに別枠分類結果処理部6
9にて加算・集計処理が実行されステップ2にもどる。
ステップ2においては、上記粒子検出・画像処理の一
連の処理が全て終了するまで繰り返される。サンプルの
解析が全て終了すると、ステップ8に進む。
In step 7, the analysis result of the particles to be subjected to the separate frame identification processing is analyzed by the separate frame classification result processing unit 6 for each particle type.
The addition / aggregation process is executed in 9 and the process returns to step 2.
Step 2 is repeated until the series of particle detection and image processing is completed. When all the samples have been analyzed, the process proceeds to step 8.

【0119】ステップ8においては、分類結果集計部7
0においては、全粒子計数回路41により解析サンプル
に関する粒子検出レベル以上の全粒子数、全画像数計数
部63により画像処理された全画像数が設定され、ステ
ップ9に進む。
In step 8, the classification result totaling unit 7
At 0, the total particle counting circuit 41 sets the total number of particles equal to or higher than the particle detection level for the analysis sample, and the total number of images processed by the total image number counting unit 63, and the process proceeds to step 9.

【0120】ステップ9においては、正規識別処理対象
粒子の分類累計数が正規分類結果処理部68、別枠識別
処理対象粒子の分類累計数が別枠分類結果処理部69に
それぞれ格納されているデータを読みだし、分類結果集
計部70にて正規識別処理・別枠識別処理の集計処理を
行い、解析サンプル中の粒子数を決定し、ステップ10
に進む。
In step 9, the total number of classifications of particles subject to normal identification processing is read in the regular classification result processing unit 68, and the total number of classifications of particles subject to separate frame identification processing is read in the separate frame classification result processing unit 69, respectively. However, the classification result totaling unit 70 performs totalization processing of regular identification processing / separate frame identification processing to determine the number of particles in the analysis sample, and
Proceed to.

【0121】ステップ10においては、別枠識別処理を
した粒子数と画像処理したサンプル体積によって解析誤
差が大きくなること予想される場合があるので、別枠識
別処理結果のチェックを行い粒子数を決定し、ステップ
11に進む。
In step 10, since it may be expected that the analysis error will increase depending on the number of particles subjected to the separate frame identification processing and the sample volume subjected to the image processing, the result of the separate frame identification processing is checked to determine the number of particles, Go to step 11.

【0122】ステップ11においては、正規識別処理結
果および別枠識別処理結果の各粒子数から各粒子の存在
比率を計算する。次に、正規識別処理対象粒子に関して
は、全検出粒子数を前記存在比率に掛けることによりサ
ンプル中の検出粒子に関する存在個数を決定する。
In step 11, the abundance ratio of each particle is calculated from the number of particles in the result of the regular identification processing and the result of the separate frame identification processing. Next, with respect to the particles to be subjected to regular identification processing, the number of detected particles in the sample is determined by multiplying the total number of detected particles by the above-mentioned ratio.

【0123】次に、別枠識別処理結果については、まず
全処理画像数と一静止粒子画像相当サンプル体積より、
画像処理したサンプルの総体積を計算し、この中に各別
枠識別処理対象粒子の存在比率にもとずき、解析サンプ
ルの全体積の粒子数を決定する。
Next, regarding the result of the separate frame identification processing, first, from the total number of processed images and one still particle image equivalent sample volume,
The total volume of the image-processed sample is calculated, and the number of particles in the total volume of the analysis sample is determined based on the abundance ratio of the particles to be subjected to identification processing in each frame.

【0124】前記正規識別処理および別枠識別処理によ
るそれぞれの結果をもとに、両者に重複して存在する粒
子については一つの粒子種類に整理し、また解析対象外
粒子は捨てられる。これらの解析結果を基にして、サン
プル中の粒子濃度計算、視野換算粒子数計算を行われ、
ステップ12に進む。
Based on the results of the normal identification process and the separate frame identification process, the particles existing in duplicate are sorted into one particle type, and the particles not to be analyzed are discarded. Based on these analysis results, the particle concentration in the sample is calculated, and the field-of-view converted particle number is calculated.
Proceed to step 12.

【0125】ステップ12においては、分析結果を出力
して終了する。
At step 12, the analysis result is output and the process ends.

【0126】データの有効・無効の判断は別枠識別処理
した粒子数と画像処理したサンプル体積粒子数をもとに
決められる。これらの判断基準は、予め解析する前に設
定することが必要であるが、例えば解析開始時の解析条
件設定で実施しても差し支えない。
Whether data is valid or invalid is determined based on the number of particles subjected to separate frame identification processing and the number of sample volume particles subjected to image processing. These criteria need to be set in advance before the analysis, but may be performed, for example, by setting the analysis conditions at the start of the analysis.

【0127】粒子分類結果69において、粒子検出系の
画像粒子と正規識別処理対象粒子の対応を付けた後、撮
像された静止粒子画像に残存している未処理粒子につい
て分類識別処理を実行する。これらの未処理粒子は粒子
検出系で検出されていないが、撮像された静止粒子画像
に存在する粒子である。しかし、これらの未処理粒子の
中には重要な粒子が含まれていることがあり、その情報
を捨ててしまうことはできない。
In the particle classification result 69, after correlating the image particles of the particle detection system with the particles to be subjected to the regular discrimination processing, the classification discrimination processing is executed for the unprocessed particles remaining in the captured still particle image. These untreated particles are particles that have not been detected by the particle detection system, but are present in the captured still particle image. However, important particles may be contained in these unprocessed particles, and the information cannot be discarded.

【0128】未処理粒子のサンプル中での濃度、数量を
確定するには、単位体積当たりの個数、実際には、全画
像を処理した後の全画像に相当するサンプル体積当たり
の粒子数計算し、さらに、全測定サンプル当たりに換算
し直すことで、サンプルに占める粒子数、粒子数比率等
が決められる。このように、画像処理したサンプルに相
当するサンプル体積を計算するが必要である。
To determine the concentration and quantity of untreated particles in a sample, the number of particles per unit volume, in fact, the number of particles per sample volume corresponding to all images after processing all images was calculated. Furthermore, the number of particles in the sample, the ratio of the number of particles, and the like are determined by reconverting the values for all the measurement samples. Thus, it is necessary to calculate the sample volume corresponding to the image processed sample.

【0129】測定終了時に、分類結果集計部70にて正
規識別処理と別枠処理との結果を組み合わせて、最終結
果とする。
At the end of the measurement, the classification result totaling section 70 combines the results of the regular identification processing and the separate frame processing to obtain the final result.

【0130】別枠識別結果の中には、本来正規識別結果
に含まれるべき粒子が存在し、正規識別結果に加える必
要がある。正規識別処理に入らないが例外的に重要な粒
子が含まれる場合にも、結果として報告する。
In the separate frame identification result, there are particles that should be originally included in the regular identification result, and it is necessary to add them to the regular identification result. If particles that do not enter the regular identification process but are exceptionally important are included, the results are also reported.

【0131】粒子検出系の画像粒子と正規識別対象粒子
の対応を付けた後、静止粒子画像に残っている粒子につ
いて別枠識別処理を実行する場合、測定精度を保持する
のに必要な画像処理されるサンプル体積が必要である。
しかし、粒子検出系で検出された粒子数が少ない場合に
は、十分な静止粒子画像数を確保することができず、結
果として画像処理されるサンプルの体積が十分とれない
ことがある。
After the image particles of the particle detection system are associated with the normal identification target particles, when the separate frame identification processing is executed for the particles remaining in the still particle image, the image processing necessary for maintaining the measurement accuracy is performed. Sample volume is required.
However, when the number of particles detected by the particle detection system is small, it is not possible to secure a sufficient number of still particle images, and as a result, the volume of the sample subjected to image processing may not be sufficient.

【0132】別枠識別処理は撮像された静止粒子画像に
もとづいて解析処理を行うため、もとの正規識別処理対
象粒子がサンプル中に存在する割合が少ない場合には、
画像処理したサンプル体積をもとに別枠識別処理の粒子
濃度を算定することから、誤差が多くなる危険性があ
る。このことは、サンプル中に粒子があまり存在しない
ためであり、解析精度に問題があるわけではない。
Since the separate frame identification processing performs the analysis processing based on the captured still particle image, when the original normal identification processing target particles are present in a small proportion in the sample,
Since the particle concentration in the separate frame identification processing is calculated based on the sample volume subjected to the image processing, there is a risk that errors will increase. This is because there are not many particles in the sample, and there is no problem in analysis accuracy.

【0133】このように、画像処理されるサンプルの体
積が十分とれない場合に別枠識別を行うには、測定精度
が十分にとれないことから、別枠処理を中止するか、又
は、別枠識別処理を行っても測定精度が悪いこと、デ−
タが信頼できないことをオペレ−タに知らせる必要があ
る。ただし、別枠識別処理される粒子に中で、特に重要
な粒子が存在する場合については測定精度に関係なく報
告しなければならない。
As described above, in order to perform the separate frame identification when the volume of the sample to be image-processed is not sufficient, the measurement accuracy cannot be sufficiently obtained. Therefore, the separate frame processing is stopped or the separate frame identification process is performed. Even if you do it, the measurement accuracy is poor.
It is necessary to inform the operator that the data is unreliable. However, if particles that are particularly important are included in the particles that are subject to the separate frame identification processing, they must be reported regardless of the measurement accuracy.

【0134】別枠識別処理した全粒子数を計数し、予め
設定した粒子数以上に達しておれば、別枠識別処理結果
を有効と判断する。その粒子数に達していなければ、無
効と判断するか、又は、どの程度の測定精度かを表示す
ることにより測定結果の有効性を決定する。この場合、
個々の種類別の粒子数再現性を判断基準にしてもよい
し、単に処理画像数を基準にとってもよいし、別枠識別
処理のサンプル体積を基準に考えてもよい。これらの判
断基準は、予め測定する前に設定することが必要であ
る。
The total number of particles subjected to the separate frame identification processing is counted, and if the number of particles reaches a preset number or more, the result of the separate frame identification processing is judged to be valid. If the number of particles has not been reached, the validity of the measurement result is determined by determining that it is invalid or displaying the degree of measurement accuracy. in this case,
The reproducibility of the number of particles for each type may be used as a criterion, or the number of processed images may be simply used as a reference, or the sample volume of another frame identification processing may be used as a reference. It is necessary to set these criteria before measurement.

【0135】さらに、別枠識別処理における測定結果
が、上述した判断基準に満たない場合には、オペレ−タ
に知らせる手段が必要である。測定結果の後に、コメン
トを付けたり、記号を付けて表示するのがよい。
Further, when the measurement result in the separate frame identification processing does not meet the above-mentioned criteria, it is necessary to provide means for notifying the operator. It is recommended to add a comment or a symbol after the measurement result.

【0136】また、上述した別枠識別処理における危険
性よりも、1個でも特定粒子が存在することにより重要
な情報をオペレ−タに提供する粒子に対しては、分類結
果をそのまま出力する。このようにして、例外粒子に対
して測定結果が得られないという問題を生じさせない。
Further, the classification result is output as it is for particles which provide the operator with important information due to the presence of even one specific particle rather than the risk in the above-mentioned separate frame identification processing. In this way, the problem that measurement results cannot be obtained for exceptional particles does not occur.

【0137】また、上述した別枠識別処理で処理した粒
子の中に正規識別処理対象粒子が存在する場合、単位体
積当たりの粒子濃度に計算した後、正規識別処理粒子に
組み入れることにより、粒子の分類精度を改善すること
ができる。この場合にも、上述した別枠識別処理におけ
る測定精度の危険性を考慮して正規識別結果に組み入れ
るため、組入れによって測定精度の低下はない。
If the particles to be subjected to the regular identification processing are present among the particles processed by the above-mentioned separate frame identification processing, the particle concentration is calculated after calculating the particle concentration per unit volume, and then the particles are classified into the regular identification processing particles. The accuracy can be improved. Even in this case, since the risk of the measurement accuracy in the above-described separate frame identification processing is taken into consideration and incorporated into the regular identification result, the incorporation does not reduce the measurement accuracy.

【0138】すべての粒子検出により撮像された画像に
ついて、対応付けされた正規識別処理対象粒子を選別
し、別枠識別処理を実行することにより、粒子検出され
た全粒子による分類個数、分類比率を知ることができ
る。
The associated normal identification processing target particles are selected from the images picked up by all the particle detections, and the separate frame identification processing is executed to know the number of classifications and classification ratios of all the particles detected. be able to.

【0139】複数測定モ−ドが存在する場合について次
に述べる。これまでの記述では、粒子解析の測定モ−ド
は1つとした場合について説明した。実際の粒子測定に
おいては、同一の測定サンプルに対して複数の測定モ−
ドでの測定が実施される場合がある。このときは、各測
定モ−ドについて解析を行い、全測定モ−ドの解析終了
後、全デ−タを総合することができる。
The case where a plurality of measurement modes exist will be described below. In the above description, the case where the number of particle analysis measurement modes is one has been described. In actual particle measurement, multiple measurement modes are used for the same measurement sample.
Measurement may be performed. At this time, each measurement mode can be analyzed, and after the analysis of all measurement modes is completed, all data can be integrated.

【0140】例えば次のような測定モ−ドを設定するこ
とができる。
For example, the following measurement modes can be set.

【0141】測定モ−ド1:測定対象粒子をサンプル中
の全粒子とする。
Measurement mode 1: The particles to be measured are all particles in the sample.

【0142】測定モ−ド2:測定対象粒子をサンプル中
の一定サイズより大きい粒子とする。
Measurement mode 2: The particles to be measured are particles larger than a certain size in the sample.

【0143】次のような測定モ−ドであってもよい。The following measurement mode may be used.

【0144】測定モ−ド1:粒子サイズの小さなものを
対象とする。
Measurement mode 1: Targets particles having a small particle size.

【0145】測定モ−ド2:粒子サイズの大きなものを
対象とする。
Measurement mode 2: For those having a large particle size.

【0146】さらに、測定対象粒子を限定したり、サイ
ズを限定したり、染色条件や蛍光発光強度おの違いを強
調した複数の測定モ−ドも考えられる。
Further, a plurality of measurement modes in which the particles to be measured are limited, the size is limited, and differences in staining conditions and fluorescence emission intensity are emphasized are also conceivable.

【0147】このような複数の測定モ−ドでは、各測定
モ−ドごとに粒子検出条件、粒子画像からの対応させる
粒子特徴量、サンプル流量条件、測定時間、光学系の像
倍率を初めとする構成条件を切換える必要が生じる。
In such a plurality of measurement modes, the particle detection condition, the corresponding particle feature amount from the particle image, the sample flow rate condition, the measurement time, and the image magnification of the optical system are first included in each measurement mode. It is necessary to switch the configuration conditions to be used.

【0148】解析条件設定部64には測定体積、サンプ
ル中を流れる流速条件、1画像相当の体積、測定時間等
の測定条件が設定される。また、測定モ−ドごとに、パ
ルスレベル検出部41およびパルス幅検出部42のレベ
ルとパルス幅の条件を設定し直す必要がある。また、所
定粒子サイズデ−タ格納部66には粒子検出条件に対応
する特徴抽出された粒子画像のパラメ−タの大きさが、
測定モ−ドごとに設定し直される。
In the analysis condition setting section 64, measurement conditions such as measurement volume, flow velocity condition in the sample, volume corresponding to one image, and measurement time are set. Further, it is necessary to reset the conditions of the level and the pulse width of the pulse level detector 41 and the pulse width detector 42 for each measurement mode. Further, in the predetermined particle size data storage unit 66, the size of the parameter of the feature-extracted particle image corresponding to the particle detection condition is stored.
It is reset for each measurement mode.

【0149】また、サンプルの流速が変化するモ−ドの
場合は、フラッシュランプ点灯制御回路23において、
粒子検出からランプ点灯までの時間を変更させる必要も
ある。 以上のように、異なる複数の測定モ−ドにおい
て、異なる粒子検出条件に対応して、粒子解析部の対応
させる複数の所定サイズの値を有し、かつ変更する手段
を有することができるため、測定条件の多様性が増し、
粒子解析精度の改善を図ることができる。
In the case of a mode in which the flow velocity of the sample changes, the flash lamp lighting control circuit 23
It is also necessary to change the time from particle detection to lamp lighting. As described above, in a plurality of different measurement modes, corresponding to different particle detection conditions, having a plurality of values of a predetermined size corresponding to the particle analysis unit, and since it is possible to have a means for changing, Increased variety of measurement conditions
It is possible to improve the accuracy of particle analysis.

【0150】複数の解析モードで、サンプルを解析する
場合には、各解析モードにおいて操作を実行し、最終段
階で各モードの解析データを総合し最終結果とする。
When a sample is analyzed in a plurality of analysis modes, the operation is executed in each analysis mode, and the analysis data of each mode is integrated at the final stage to obtain the final result.

【0151】この場合、測定条件が異なる場合や解析対
象粒子の範囲が異なる場合のように、異なる複数の測定
モードを有する場合には、それぞれに異なった粒子検出
条件、すなわち、粒子検出信号のパルスレベルやパルス
幅の所定の値を変更する。
In this case, when there are a plurality of different measurement modes, such as when the measurement conditions are different or the range of particles to be analyzed is different, different particle detection conditions, that is, pulse of the particle detection signal, respectively. Change the predetermined value of level and pulse width.

【0152】さらに、異なる複数の測定モードにおい
て、異なる粒子検出条件に対応して、粒子解析部の対応
させる複数の所定粒子サイズの値を有し、かつ変更する
手段を持たせる事により、測定条件の多様性が増し、粒
子解析精度の改善を図ることができる。
Furthermore, in a plurality of different measurement modes, a plurality of predetermined particle size values corresponding to the particle analysis unit are provided corresponding to different particle detection conditions, and a means for changing the values is provided so that the measurement conditions can be improved. And the accuracy of particle analysis can be improved.

【0153】静止粒子画像を撮影するためのフラッシュ
ランプ光による粒子検出信号の誤計数を防ぐ手段が必要
である。このためには、フラッシュランプ発光による影
響を取り除く手段がいる。方法としては、フラッシュラ
ンプ光が粒子検出器に到達しないように光学系を考える
か、電気的にフラッシュランプ信号を計数しないように
する。逆に、フラッシュランプ光も検出し、解析終了時
にランプ発光回数分差し引く方法で誤計数分を補正して
も差し支えない。これは、一画像粒子数および全粒子数
の計数結果に対して実施される。
There is a need for a means for preventing erroneous counting of particle detection signals due to flash lamp light for capturing a still particle image. For this purpose, there is a means for removing the influence of flash lamp emission. As a method, an optical system is considered so that the flash lamp light does not reach the particle detector, or the flash lamp signal is not electrically counted. On the contrary, it is possible to correct the erroneous count by a method of detecting the flash lamp light and subtracting the number of times of lamp light emission at the end of the analysis. This is performed on the counting results of the number of one image particle and the total number of particles.

【0154】本発明の一実施例に係るフロー式粒子画像
解析方法およびフロー式粒子画像解析装置は、液体中に
懸濁した生物サンプルや細胞、血液中の赤血球や白血球
などの血球成分、または尿中に存在する尿沈渣成分の分
類および分析に有効である。特に、尿中の尿沈渣成分の
粒子数の計数や粒子の分類においては、サンプルごとに
存在する粒子数は数桁以上違う場合があるため、粒子検
出手段による検出した粒子に対し画像処理することは、
サンプル液中の粒子数情報を知る上で効果的である。
A flow-type particle image analysis method and a flow-type particle image analysis apparatus according to an embodiment of the present invention include a biological sample or cells suspended in a liquid, blood cell components such as red blood cells and white blood cells in blood, or urine. It is effective in classifying and analyzing the urinary sediment components present in it. In particular, when counting the number of particles of urinary sediment components in urine and classifying the particles, the number of particles existing in each sample may differ by several digits or more, so image processing should be performed on the particles detected by the particle detection means. Is
This is effective in obtaining information on the number of particles in the sample liquid.

【0155】しかし、尿沈渣成分では粒子の種類と大き
さが非常にバラエティに富み、粒子検出系の検出粒子と
静止粒子画像中の粒子との対応を正確にとることができ
ないが、本実施例により、正確な粒子計数、粒子分類、
粒子濃度を解析できる。
However, in the urinary sediment component, the types and sizes of particles are very diverse, and it is not possible to accurately correspond the detected particles of the particle detection system and the particles in the still particle image. Accurate particle counting, particle classification,
Particle concentration can be analyzed.

【0156】なお、上記実施例では、フローセル中を連
続して流れているサンプルに含まれている粒子の静止画
像を撮像し、その画像解析を行う場合について述べた
が、顕微鏡下で連続して移動しているスライド標本の粒
子画像解析にも応用することができる。
In the above embodiment, the case where the still image of the particles contained in the sample continuously flowing in the flow cell is picked up and the image is analyzed is described. It can also be applied to particle image analysis of moving slide specimens.

【0157】また、粒子検出系の粒子検出として、半導
体レーザからのレーザ光束を検出光として用い、粒子で
散乱されたレーザ光束を利用する場合について述べた
が、これに限らず粒子からの蛍光や透過光を利用するこ
ともできるし、一次元イメージセンサにより粒子を検出
する方法や、粒子通過による電気抵抗変化により粒子を
検出する方法を利用することもできる。
In addition, as the particle detection of the particle detection system, the case where the laser light flux from the semiconductor laser is used as the detection light and the laser light flux scattered by the particles is used has been described, but the present invention is not limited to this. It is possible to use transmitted light, a method of detecting particles by a one-dimensional image sensor, or a method of detecting particles by a change in electric resistance due to passage of particles.

【0158】さらに、粒子検出として、サンプル粒子が
粒子検出系を通過する時間、すなわち電気信号に変換さ
れた検出パルス信号のパルス幅を用いる場合には、粒子
の流れ方向のサイズ情報を反映させることができる。
Further, in the case of using the time for the sample particles to pass through the particle detection system, that is, the pulse width of the detection pulse signal converted into an electric signal, as the particle detection, the size information in the flow direction of the particles should be reflected. You can

【0159】レーザ光束をよぎる粒子通過時間を粒子検
出の基準と考える場合には、レーザ光束の広がりを考慮
して、粒子検出サイズを決めなければならない。レーザ
光束の広がりを差し引いた値を粒子検出パルス幅と定め
るか、又は、画像処理した粒子サイズの値を再し引いて
サイズ比較を実施する必要がある。しかし、粒子検出系
の粒子検出と撮像された静止粒子画像とを対応させる場
合は、粒子直径情報または射影情報が適切である。
When considering the particle transit time that crosses the laser beam as a reference for particle detection, the particle detection size must be determined in consideration of the spread of the laser beam. It is necessary to determine the value obtained by subtracting the spread of the laser beam as the particle detection pulse width, or to re-subtract the value of the image-processed particle size and perform size comparison. However, when associating the particle detection of the particle detection system with the captured still particle image, the particle diameter information or the projection information is appropriate.

【0160】粒子検出手段としては光散乱情報を使うの
が普通である。この場合は、レ−ザ集束光による粒子か
らの光散乱信号を使い、粒子検出信号のパルス幅がある
所定の値以上のものを、粒子検出信号とする。
Light scattering information is usually used as the particle detecting means. In this case, a light scattering signal from particles by the laser focused light is used, and a particle detection signal having a pulse width of a predetermined value or more is used as the particle detection signal.

【0161】所定のパルス幅の値としては、粒子画像処
理で対応させる粒子サイズにレ−ザ集束サイズの大きさ
分を加えたパルス幅が用いられる。検出粒子に対応す
る、粒子画像の大きさとしては、その粒子画像のサンプ
ル流れ方向の最大サイズが用いられる。
As the value of the predetermined pulse width, a pulse width obtained by adding the size of the laser focusing size to the particle size corresponding to the particle image processing is used. As the size of the particle image corresponding to the detected particle, the maximum size of the particle image in the sample flow direction is used.

【0162】粒子検出のためには、光散乱情報以外に、
粒子からの形態情報、色彩情報、蛍光情報又はそれらの
組み合わせ情報を用いてもよい。
For particle detection, in addition to the light scattering information,
Morphological information from particles, color information, fluorescence information, or combination information thereof may be used.

【0163】また、粒子画像から粒子パラメ−タを抽出
段階において抽出使用する粒子画像特徴量としても、粒
子の形態情報、色彩情報、蛍光情報又はそれらの組み合
わせ情報を用いてもよい。
Further, as the particle image feature amount used for extracting and using the particle parameter from the particle image at the extraction stage, particle shape information, color information, fluorescence information, or combination information thereof may be used.

【0164】測定条件が異なる場合や解析対象粒子の範
囲が異なる場合のように、異なる複数の測定モ−ドを有
する場合には、それぞれ異なった粒子条件、すなわち、
粒子検出信号のパルスレベルやパルス幅の所定の値を変
更することができるようにしてもよい。
When there are a plurality of different measurement modes, such as when the measurement conditions are different or the range of particles to be analyzed is different, different particle conditions, that is,
It may be possible to change a predetermined value of the pulse level or pulse width of the particle detection signal.

【0165】さらに、異なる複数の測定モ−ドにおい
て、異なる粒子検出条件に対応して、粒子解析段階のサ
イズを対応させる所定粒子サイズの値を複数有し、かつ
変更する手段を設けてもよい。
Further, in a plurality of different measurement modes, there may be provided means for changing and having a plurality of values of a predetermined particle size corresponding to the size of the particle analysis stage, corresponding to different particle detection conditions. .

【0166】粒子画像識別特徴量として、測定粒子の形
態情報、色彩情報、蛍光情報又はこれらの組み合わせ情
報を使用することができるし、それに応じて、粒子検出
系の粒子検出条件を変更してもよい。具体的には、粒子
画像から、粒子の大きさ、面積、直径、周囲長、射影像
等の形態情報、粒子濃度、色彩情報、粒子内構造、蛍光
強度等の特徴量が用いられてよい。
As the particle image identification feature quantity, morphological information, color information, fluorescence information or combination information of the measured particles can be used, and the particle detection conditions of the particle detection system can be changed accordingly. Good. Specifically, from the particle image, morphological information such as particle size, area, diameter, perimeter, and projection image, particle concentration, color information, particle internal structure, and fluorescence intensity may be used.

【0167】生物細胞のように、細胞核、細胞内顆粒等
の存在等のの情報を使うこともできる。
Information such as the existence of cell nuclei, intracellular granules and the like can be used as in biological cells.

【0168】なお、これまでは画像取り込みにおいてT
Vカメラ撮像方式としてインターレース走査について説
明したが、ノンインターレース走査方式でも発明の作
用、効果は変わらない。
It should be noted that, up to now, in image capture
Although the interlaced scanning has been described as the V camera imaging method, the operation and effect of the invention are the same even in the non-interlaced scanning method.

【0169】以上の説明から、粒子検出系と画像撮像系
とをそれぞれ具備し、粒子検出系の原理と画像撮像系の
粒子画像識別の原理とが異なるフロー式粒子画像解析方
法およびフロー式粒子画像解析装置において、検出粒子
と静止粒子画像中の粒子との対応をさせ、粒子検出系の
検出粒子以外の粒子が画像撮像系の静止粒子画像中に存
在しても、サンプル中の各種類の粒子個数、粒子存在比
率、粒子密度、濃度の情報を正しく知ることができ、解
析精度の良好なフロー式粒子画像解析方法およびフロー
式粒子画像解析装置が提供され得ることが理解される。
From the above description, the flow-type particle image analysis method and the flow-type particle image, each of which is equipped with a particle detection system and an image pickup system, are different in the principle of the particle detection system and the principle of particle image discrimination of the image pickup system. In the analyzer, the detected particles and the particles in the static particle image are made to correspond to each other, and even if particles other than the detection particles of the particle detection system exist in the static particle image of the image pickup system, each type of particle in the sample It is understood that the flow-type particle image analysis method and the flow-type particle image analysis device which can accurately know the information on the number, the particle existence ratio, the particle density, and the concentration, and have good analysis accuracy can be provided.

【図面の簡単な説明】[Brief description of drawings]

【図1】本発明の一実施例に係るフロー式粒子画像解析
装置の概念図。
FIG. 1 is a conceptual diagram of a flow-type particle image analysis device according to an embodiment of the present invention.

【図2】図1の実施例における粒子数解析部の構成を示
すブロック図。
FIG. 2 is a block diagram showing a configuration of a particle number analysis unit in the embodiment of FIG.

【図3】図2の粒子数解析部の処理内容を説明するフロ
チャート図である。
FIG. 3 is a flowchart for explaining the processing contents of a particle number analysis unit in FIG.

【符号の説明】[Explanation of symbols]

1:フラッシュランプ、1a:フラッシュランプ駆動回
路、2:フィールドレンズ、3:顕微鏡コンデンサレン
ズ、5:顕微鏡対物レンズ、6:結像位置、7:投影レ
ンズ、8:TVカメラ、11:視野絞り、12:開口絞
り、14:微小反射鏡、15:半導体レーザ、17:コ
リメータレンズ、18:シリンドリカルレンズ、19:
反射鏡、20:ビームスプリッタ、21:絞り、22:
光検出回路、23:フラッシュランプ点灯制御回路、2
4:AD変換器、25:画像メモリ、26:画像処理制
御回路、27:特徴抽出回路、28:識別回路、29:
中央制御部、40:粒子数解析部、41:パルスレベル
検出部、42:パルス幅検出部、43:全粒子計数部、
50:表示部、 61:1粒子画像サイズデータ格納
部、62:粒子分類結果格納部、63:全画像数計数
部、64:解析条件設定部、65:サイズ比較部、6
6:所定サイズデータ、67:粒子分類結果対応部、6
8:正規分類結果処理部、69:別枠分類結果処理部、
70:分類結果集計部、100:フローセル、101:
画像撮像手段、102:粒子解析手段、103:粒子検
出手段、110:サンプル流れ、111:シース液。
1: Flash lamp, 1a: Flash lamp drive circuit, 2: Field lens, 3: Microscope condenser lens, 5: Microscope objective lens, 6: Imaging position, 7: Projection lens, 8: TV camera, 11: Field stop, 12: Aperture stop, 14: Micro reflecting mirror, 15: Semiconductor laser, 17: Collimator lens, 18: Cylindrical lens, 19:
Reflector, 20: Beam splitter, 21: Aperture, 22:
Light detection circuit, 23: Flash lamp lighting control circuit, 2
4: AD converter, 25: image memory, 26: image processing control circuit, 27: feature extraction circuit, 28: identification circuit, 29:
Central control unit, 40: particle number analysis unit, 41: pulse level detection unit, 42: pulse width detection unit, 43: total particle counting unit,
50: display unit, 61: 1 particle image size data storage unit, 62: particle classification result storage unit, 63: total image number counting unit, 64: analysis condition setting unit, 65: size comparison unit, 6
6: predetermined size data, 67: particle classification result corresponding part, 6
8: Regular classification result processing unit, 69: Separate frame classification result processing unit,
70: Classification result totaling unit, 100: Flow cell, 101:
Image capturing means, 102: particle analyzing means, 103: particle detecting means, 110: sample flow, 111: sheath liquid.

Claims (32)

【特許請求の範囲】[Claims] 【請求項1】サンプルをフロ−セルに流し、そのフロ−
セルの予め定められた位置を通る、予め定められた値以
上の大きさをもつ前記サンプル中の粒子を粒子検出系に
より検出粒子として検出するステップと、前記フロ−セ
ルの撮像領域を通る粒子を粒子撮像系により撮像して、
その静止画像を得るステップと、その静止画像中の、前
記検出粒子に対応する粒子を抽出し、その抽出された粒
子について粒子解析を行うステップとを含むフロ−式粒
子画像解析方法。
1. A sample is poured into a flow cell, and the flow cell is flowed.
Passing through a predetermined position of the cell, detecting particles in the sample having a size equal to or more than a predetermined value as a detection particle by a particle detection system, and particles passing through an imaging region of the flow cell. Image with a particle imaging system,
A flow-type particle image analysis method comprising: a step of obtaining the still image; and a step of extracting particles corresponding to the detected particles in the still image and performing a particle analysis on the extracted particles.
【請求項2】前記予め定められた値は、前記粒子が前記
予め定められた位置を通るときのその粒子の通過時間に
もとづいて定められることを特徴とする請求項1に記載
されたフロ−式粒子画像解析方法。
2. The flow according to claim 1, wherein the predetermined value is determined based on a transit time of the particle when the particle passes through the predetermined position. Particle image analysis method.
【請求項3】前記粒子検出ステップは前記予め定められ
た位置に光を照射し、この光を前記粒子がよぎるときに
該粒子によって散乱される散乱光信号を検出するステッ
プを含み、前記通過時間は前記散乱光信号の予め定めら
れたレベルにおける幅にもとづいて定められることを特
徴とする請求項2に記載されたフロ−式粒子画像解析方
法。
3. The particle detecting step includes the step of irradiating the predetermined position with light and detecting a scattered light signal scattered by the particle when the light crosses the light. Is determined on the basis of the width of the scattered light signal at a predetermined level.
【請求項4】前記粒子検出ステップは前記散乱光信号の
予め定められたレベルにおける幅に対応する時間幅をも
つパルスを発生させるステップを含み、前記通過時間は
前記パルスの時間幅によって決定されることを特徴とす
る請求項3に記載されたフロ−式粒子画像解析方法。
4. The particle detecting step includes the step of generating a pulse having a time width corresponding to a width at a predetermined level of the scattered light signal, the transit time being determined by the time width of the pulse. The flow-type particle image analysis method according to claim 3, wherein
【請求項5】前記静止画像中の、前記検出粒子に対応す
る粒子の抽出を、その粒子の、前記サンプルの流れ方向
の最大サイズにもとづいて行うことを特徴とする請求項
1〜4のいずれかに記載されたフロ−式粒子画像解析方
法。
5. The extraction of particles corresponding to the detected particles in the still image is performed based on the maximum size of the particles in the flow direction of the sample. The flow-type particle image analysis method described in 1.
【請求項6】前記粒子解析を予め定められた複数の測定
モ−ドにおいて行い、その解析結果を総合することを特
徴とする請求項1〜5のいずれかに記載されたフロ−式
粒子画像解析方法。
6. The flow-type particle image according to claim 1, wherein the particle analysis is performed in a plurality of predetermined measurement modes and the analysis results are integrated. analysis method.
【請求項7】前記粒子解析ステップは前記抽出された粒
子の画像特徴量を抽出するステップを含み、その画像特
徴抽出量は前記抽出された粒子の形態情報、色彩情報、
蛍光情報又はそれらの組み合わせを含むことを特徴とす
る請求項1〜6のいずれかに記載されたフロ−式粒子画
像解析方法。
7. The particle analyzing step includes a step of extracting an image feature amount of the extracted particles, and the image feature extraction amount is the morphological information, color information of the extracted particles,
The flow-type particle image analysis method according to any one of claims 1 to 6, which comprises fluorescence information or a combination thereof.
【請求項8】前記粒子検出をそれぞれ粒子検出条件が変
更可能な複数の測定モ−ドにおいて行うことを特徴とす
る請求項1〜7のいずれかに記載されたフロ−式粒子画
像解析方法。
8. The flow-type particle image analysis method according to claim 1, wherein the particle detection is performed in a plurality of measurement modes in which the particle detection conditions can be changed.
【請求項9】前記粒子解析を予め定められた複数の測定
モ−ドにおいて行い、前記予め定められた値は前記複数
のモ−ドに対応して変更し得ることを特徴とする請求項
1〜5のいずれかに記載されたフロ−式粒子画像解析方
法。
9. The particle analysis is performed in a plurality of predetermined measurement modes, and the predetermined value can be changed corresponding to the plurality of modes. The flow-type particle image analysis method according to any one of 1 to 5.
【請求項10】前記粒子解析ステップはサンプル体積当
たりの粒子数又は比率のいずれかを計算し、それにもと
づき全サンプル体積当たりの粒子数を求めるステップを
含むことを特徴とする請求項1〜9のいずれかに記載さ
れたフロ−式粒子画像解析方法。
10. The method according to claim 1, wherein the step of analyzing particles includes the step of calculating either the number of particles per sample volume or the ratio and obtaining the number of particles per total sample volume based on the calculation. The flow type particle image analysis method described in any one of the above.
【請求項11】前記粒子解析ステップは測定されるサン
プルの粒子数又は測定されるサンプル中の単位体積当た
りの粒子濃度又は顕微鏡視野換算の粒子数のいずれかを
求めるステップを含むことを特徴とする請求項1〜9の
いずれかに記載されたフロ−式粒子画像解析方法。
11. The particle analysis step includes a step of determining either the number of particles in a sample to be measured, the particle concentration per unit volume in the sample to be measured, or the number of particles in terms of a microscopic field. The flow-type particle image analysis method according to any one of claims 1 to 9.
【請求項12】前記粒子解析ステップは、前記静止画像
中の、前記検出粒子以外の粒子を別枠として粒子解析す
るステップを含むことを特徴とする請求項1〜12に記
載されたフロ−式粒子画像解析方法。
12. The flow-type particle according to claim 1, wherein the particle analysis step includes a step of particle analysis in which particles other than the detected particles in the still image are separately framed. Image analysis method.
【請求項13】静止画像数が少なく前記別枠粒子解析を
行うのに十分な処理対象サンプル体積がない場合の処理
が定められてあることを特徴とする請求項12に記載さ
れたフロ−式粒子画像解析方法。
13. The flow-type particle according to claim 12, wherein the processing is defined when the number of still images is small and there is not enough sample volume to be processed for performing the separate-frame particle analysis. Image analysis method.
【請求項14】静止画像数が少なく前記別枠粒子解析を
行うのに十分な処理対象サンプル体積がない場合のその
評価手順が予め入力設定されていることを特徴とする請
求項12に記載されたフロ−式粒子画像解析方法。
14. The evaluation procedure according to claim 12, wherein when the number of still images is small and there is not enough sample volume to be processed for performing the separate-frame particle analysis, the evaluation procedure is set in advance. Flow type particle image analysis method.
【請求項15】静止画像数が少なく前記別枠粒子解析を
行うのに十分な処理対象サンプル体積がない場合、前記
別枠粒子解析を行わないことを特徴とする請求項12に
記載されたフロ−式粒子画像解析方法。
15. The flow expression according to claim 12, wherein when the number of still images is small and there is not a sufficient sample volume to be processed for performing the separate-frame particle analysis, the separate-frame particle analysis is not performed. Particle image analysis method.
【請求項16】静止画像数が少なく前記別枠粒子解析を
行うのに十分な処理対象サンプル体積がない場合、前記
別枠粒子解析を行い、その解析に問題があることを出力
することを特徴とする請求項12に記載されたフロ−式
粒子画像解析方法。
16. If the number of still images is small and there is not a sufficient sample volume to be processed for performing the separate-frame particle analysis, the separate-frame particle analysis is performed and the problem in the analysis is output. The flow-type particle image analysis method according to claim 12.
【請求項17】サンプルをフロ−セルに流す手段と、そ
のフロ−セルの予め定められた位置を通る、予め定めら
れた値以上の大きさをもつ前記サンプル中の粒子を検出
粒子として検出する粒子検出系と、前記フロ−セルの撮
像領域を通る粒子を撮像して、その静止画像を得る粒子
撮像系と、その静止画像中の、前記検出粒子に対応する
粒子を抽出し、その抽出された粒子について粒子解析を
行う粒子解析部とを含むフロ−式粒子画像解析装置。
17. A means for flowing a sample into a flow cell and a particle in the sample passing through a predetermined position of the flow cell and having a size equal to or larger than a predetermined value is detected as a detection particle. A particle detection system and a particle imaging system that images a particle passing through an imaging region of the flow cell to obtain a still image of the particle, and a particle corresponding to the detected particle in the still image is extracted and extracted. Flow type particle image analysis device including a particle analysis unit that performs particle analysis on the particles.
【請求項18】前記予め定められた値は、前記粒子が前
記予め定められた位置を通るときのその粒子の通過時間
にもとづいて定められることを特徴とする請求項17に
記載されたフロ−式粒子画像解析装置。
18. The flow according to claim 17, wherein the predetermined value is determined based on a transit time of the particle when the particle passes through the predetermined position. Particle image analyzer.
【請求項19】前記粒子検出系は前記予め定められた位
置に光を照射し、この光を前記粒子がよぎるときに該粒
子によって散乱される散乱光信号を検出する手段を含
み、前記通過時間は前記散乱光信号の予め定められたレ
ベルにおける幅にもとづいて定められることを特徴とす
る請求項18に記載されたフロ−式粒子画像解析装置。
19. The particle detection system includes means for irradiating the predetermined position with light, and detecting a scattered light signal scattered by the particle when the light crosses the light, the transit time The flow particle image analyzer according to claim 18, wherein is determined based on a width of the scattered light signal at a predetermined level.
【請求項20】前記粒子検出系は前記散乱光信号の予め
定められたレベルにおける幅に対応する時間幅をもつパ
ルスを発生させる手段を含み、前記通過時間は前記パル
スの時間幅によって決定されることを特徴とする請求項
19に記載されたフロ−式粒子画像解析装置。
20. The particle detection system includes means for generating a pulse having a time width corresponding to the width of the scattered light signal at a predetermined level, the transit time being determined by the time width of the pulse. 20. The flow-type particle image analysis device according to claim 19, wherein.
【請求項21】前記静止画像中の、前記検出粒子に対応
する粒子の抽出を、その粒子の、前記サンプルの流れ方
向の最大サイズにもとづいて行うことを特徴とする請求
項17〜20のいずれかに記載されたフロ−式粒子画像
解析方法。
21. The extraction of the particles corresponding to the detected particles in the still image is performed based on the maximum size of the particles in the flow direction of the sample. The flow-type particle image analysis method described in 1.
【請求項22】前記粒子解析を予め定められた複数の測
定モ−ドにおいて行い、その解析結果を総合することを
特徴とする請求項17〜21のいずれかに記載されたフ
ロ−式粒子画像解析方法。
22. The flow-type particle image according to claim 17, wherein the particle analysis is carried out in a plurality of predetermined measurement modes and the analysis results are integrated. analysis method.
【請求項23】前記粒子解析部は前記抽出された粒子の
画像特徴量を抽出し、その画像特徴量は前記抽出された
粒子の形態情報、色彩情報、蛍光情報又はそれらの組み
合わせを含むことを特徴とする請求項17〜22のいず
れかに記載されたフロ−式粒子画像解析装置。
23. The particle analysis unit extracts an image feature amount of the extracted particles, and the image feature amount includes morphological information, color information, fluorescence information of the extracted particles, or a combination thereof. The flow-type particle image analysis device according to any one of claims 17 to 22, which is characterized.
【請求項24】前記粒子検出をそれぞれ粒子検出条件が
変更可能な複数の測定モ−ドにおいて行うことを特徴と
する請求項17〜23のいずれかに記載されたフロ−式
粒子画像解析装置。
24. The flow type particle image analyzer according to claim 17, wherein said particle detection is carried out in a plurality of measurement modes in which the particle detection conditions can be changed.
【請求項25】前記粒子解析を予め定められた複数の測
定モ−ドにおいて行い、前記予め定められた値は前記複
数のモ−ドに対応して変更し得ることを特徴とする請求
項17〜21のいずれかに記載されたフロ−式粒子画像
解析方法。
25. The particle analysis is performed in a plurality of predetermined measurement modes, and the predetermined value can be changed corresponding to the plurality of modes. 21. The flow-type particle image analysis method according to any one of 21 to 21.
【請求項26】前記粒子解析部はサンプル体積当たりの
粒子数又は比率のいずれかを計算し、それにもとづき全
サンプル体積当たりの粒子数を求めることを特徴とする
請求項17〜25のいずれかに記載されたフロ−式粒子
画像解析装置。
26. The particle analyzing unit calculates either the number of particles per sample volume or the ratio and obtains the number of particles per total sample volume based on the calculation. The described flow-type particle image analyzer.
【請求項27】前記粒子解析部は測定されるサンプルの
粒子数又は測定されるサンプル中の単位体積当たりの粒
子濃度又は顕微鏡視野換算の粒子数のいずれかを求める
ことを特徴とする請求項17〜25のいずれかに記載さ
れたフロ−式粒子画像解析装置。
27. The particle analysis unit obtains either the number of particles in a sample to be measured, the particle concentration per unit volume in the sample to be measured, or the number of particles converted into a microscopic field. 25. The flow-type particle image analyzer according to any one of 25 to 25.
【請求項28】前記粒子解析部は、前記静止画像中の、
前記検出粒子以外の粒子を別枠として粒子解析すること
を特徴とする請求項17〜28に記載されたフロ−式粒
子画像解析装置。
28. The particle analysis unit, in the still image,
29. The flow-type particle image analysis device according to claim 17, wherein particles other than the detection particles are analyzed as a separate frame.
【請求項29】静止画像数が少なく前記別枠粒子解析を
行うのに十分な処理対象サンプル体積がない場合の処理
が定められてあることを特徴とする請求項28に記載さ
れたフロ−式粒子画像解析装置。
29. The flow-type particle according to claim 28, wherein the processing is defined when the number of still images is small and there is not enough sample volume to be processed for performing the separate-frame particle analysis. Image analysis device.
【請求項30】静止画像数が少なく前記別枠粒子解析を
行うのに十分な処理対象サンプル体積がない場合のその
評価手順が予め入力設定されていることを特徴とする請
求項28に記載されたフロ−式粒子画像解析装置。
30. The evaluation procedure according to claim 28, wherein when the number of still images is small and there is not enough sample volume to be processed for performing the separate-frame particle analysis, the evaluation procedure is set in advance. Flow type particle image analyzer.
【請求項31】静止画像数が少なく前記別枠粒子解析を
行うのに十分な処理対象サンプル体積がない場合、前記
別枠粒子解析を行わないことを特徴とする請求項28に
記載されたフロ−式粒子画像解析装置。
31. The flow expression according to claim 28, wherein when the number of still images is small and there is not enough sample volume to be processed for performing the separate-frame particle analysis, the separate-frame particle analysis is not performed. Particle image analyzer.
【請求項32】静止画像数が少なく前記別枠粒子解析を
行うのに十分な処理対象サンプル体積がない場合、前記
別枠粒子解析を行い、その解析に問題があることを出力
することを特徴とする請求項28に記載されたフロ−式
粒子画像解析装置。
32. If the number of still images is small and there is not enough sample volume to be processed to perform the separate-frame particle analysis, the separate-frame particle analysis is performed and the problem in the analysis is output. The flow-type particle image analysis device according to claim 28.
JP7211472A 1995-08-21 1995-08-21 Flow type particle image analyzing method and device Pending JPH0961339A (en)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP7211472A JPH0961339A (en) 1995-08-21 1995-08-21 Flow type particle image analyzing method and device

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP7211472A JPH0961339A (en) 1995-08-21 1995-08-21 Flow type particle image analyzing method and device

Publications (1)

Publication Number Publication Date
JPH0961339A true JPH0961339A (en) 1997-03-07

Family

ID=16606517

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP7211472A Pending JPH0961339A (en) 1995-08-21 1995-08-21 Flow type particle image analyzing method and device

Country Status (1)

Country Link
JP (1) JPH0961339A (en)

Cited By (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2009008602A (en) * 2007-06-29 2009-01-15 Hokuto Denshi Kogyo Kk Detecting method and device for size of particle in liquid
JP2012194050A (en) * 2011-03-16 2012-10-11 Toyota Motor Corp Method and apparatus for measuring particle size
JP2020071037A (en) * 2018-10-29 2020-05-07 アークレイ株式会社 Information processor, measuring system, and program

Cited By (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2009008602A (en) * 2007-06-29 2009-01-15 Hokuto Denshi Kogyo Kk Detecting method and device for size of particle in liquid
JP2012194050A (en) * 2011-03-16 2012-10-11 Toyota Motor Corp Method and apparatus for measuring particle size
JP2020071037A (en) * 2018-10-29 2020-05-07 アークレイ株式会社 Information processor, measuring system, and program

Similar Documents

Publication Publication Date Title
JP5470625B2 (en) Particle image analysis method and apparatus
JP3640461B2 (en) Particle analyzer
JP3290786B2 (en) Particle analyzer
JP3127111B2 (en) Flow type particle image analysis method and apparatus
JP5537347B2 (en) Particle analyzer
EP0501006A2 (en) Flow imaging cytometer
JP4980477B2 (en) Particle measuring apparatus and particle measuring method
JP3282458B2 (en) Flow type particle image analysis method and apparatus
JP2826448B2 (en) Flow type particle image analysis method and flow type particle image analysis device
JP3189608B2 (en) Flow type particle image analysis method
EP0644416B1 (en) A method and an apparatus for flow type particle image analysis
EP0679889A2 (en) A method and an apparatus for particle image analysis
JPH09311102A (en) Flow type particle image analyzing method and device thereof
JP3494559B2 (en) Flow type particle image analysis method and apparatus
JP2959813B2 (en) Particle image analyzer
JPH0961339A (en) Flow type particle image analyzing method and device
JP2002062251A (en) Flow type particle image analyzing method and device
JPH07286954A (en) Cell automatic classification device
JPH08145872A (en) Method and device for analyzing flow type particle picture
JPH1130580A (en) Particle-measuring apparatus
JPH06221986A (en) Flow-type method and apparatus for analyzing particle image
JP3165272B2 (en) Flow type particle image analysis method and flow type particle image analysis device
JPH0989752A (en) Inspection apparatus for urine precipitate
JP2002071548A (en) Flow type method and apparatus for analyzing particle image
JPH07128218A (en) Particle analyzer