JPH0972841A - レーザ回折式粒度分布測定装置 - Google Patents
レーザ回折式粒度分布測定装置Info
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- JPH0972841A JPH0972841A JP7226275A JP22627595A JPH0972841A JP H0972841 A JPH0972841 A JP H0972841A JP 7226275 A JP7226275 A JP 7226275A JP 22627595 A JP22627595 A JP 22627595A JP H0972841 A JPH0972841 A JP H0972841A
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- laser diffraction
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- 239000002245 particle Substances 0.000 claims description 21
- 230000001678 irradiating effect Effects 0.000 claims description 3
- 239000011521 glass Substances 0.000 abstract description 25
- 239000000463 material Substances 0.000 description 8
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 6
- 238000005259 measurement Methods 0.000 description 5
- 230000003287 optical effect Effects 0.000 description 4
- 238000000034 method Methods 0.000 description 2
- 239000000853 adhesive Substances 0.000 description 1
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- Optical Measuring Cells (AREA)
- Investigating Or Analysing Materials By Optical Means (AREA)
Abstract
(57)【要約】
【課題】 高濃度のサンプルに対し、多重散乱光の発生
が極めて少なく、かつサンプル層の厚さの不均一に伴う
測定データのばらつきが少ないレーザ回折式粒度分布測
定装置を提供する。 【解決手段】 ガラスプレート１に穿設された孔２に、
この孔２と同一形状でかつこのガラスプレート１の厚さ
よりも僅かに薄く、光学的に平行度を有するガラス片３
を嵌め合わせ形成した凹部４に、サンプルＳを収納した
試料セル５を、粒度分布測定装置に装着する。
が極めて少なく、かつサンプル層の厚さの不均一に伴う
測定データのばらつきが少ないレーザ回折式粒度分布測
定装置を提供する。 【解決手段】 ガラスプレート１に穿設された孔２に、
この孔２と同一形状でかつこのガラスプレート１の厚さ
よりも僅かに薄く、光学的に平行度を有するガラス片３
を嵌め合わせ形成した凹部４に、サンプルＳを収納した
試料セル５を、粒度分布測定装置に装着する。
Description
【０００１】
【発明の属する技術分野】本発明は、少量かつ比較的高
濃度のサンプルの粒度測定に用いられるレーザ回折式粒
度分布測定装置に関する。
濃度のサンプルの粒度測定に用いられるレーザ回折式粒
度分布測定装置に関する。
【０００２】
【従来の技術】従来、レーザ回折式粒度分布測定装置で
は、図２に示すように、サンプル（試料）Ｓを入れた試
料セル１０１を、レーザ光通過孔１０２ａを設けた設置
台１０２上に置き、下方に配置されたレーザ光源１０３
から、レーザ光を発射し、コリメータ１０４によって所
定断面積を持つ平行光束とした後、コリメータ１０４及
びレーザ光源１０３保護用の透明カバー１０５を介し
て、試料セル１０１に直角に照射し上方から出る回折／
散乱光を、集光レンズ１０６で集光した後、リングデテ
クタ等の前方回折／散乱光センサ１０７によって検出
し、サンプルＳの粒度分布を測定している。
は、図２に示すように、サンプル（試料）Ｓを入れた試
料セル１０１を、レーザ光通過孔１０２ａを設けた設置
台１０２上に置き、下方に配置されたレーザ光源１０３
から、レーザ光を発射し、コリメータ１０４によって所
定断面積を持つ平行光束とした後、コリメータ１０４及
びレーザ光源１０３保護用の透明カバー１０５を介し
て、試料セル１０１に直角に照射し上方から出る回折／
散乱光を、集光レンズ１０６で集光した後、リングデテ
クタ等の前方回折／散乱光センサ１０７によって検出
し、サンプルＳの粒度分布を測定している。
【０００３】ところで、ペーストやスラリー等の高濃度
のサンプルの粒度分布を測定する場合、多重散乱光の発
生を低減するために、レーザ光の光軸に対し、サンプル
の厚さを極めて薄くする必要がある。
のサンプルの粒度分布を測定する場合、多重散乱光の発
生を低減するために、レーザ光の光軸に対し、サンプル
の厚さを極めて薄くする必要がある。
【０００４】そこで、試料セルとして、透光性の２枚の
ガラスプレートに、サンプルを挟持し圧縮して引き伸ば
し薄い層にする方法があるが、サンプルを挟み込む力の
大きさによって、サンプル層の厚さが異なり、測定デー
タが大きくばらついた。
ガラスプレートに、サンプルを挟持し圧縮して引き伸ば
し薄い層にする方法があるが、サンプルを挟み込む力の
大きさによって、サンプル層の厚さが異なり、測定デー
タが大きくばらついた。
【０００５】また、図６に示すように、１枚のガラスプ
レート１０８の表面を加工し、サンプルＳを収納する凹
部１０９を形成し、この凹部１０９にサンプルＳを収納
する方法があるが、光学研磨によって、このように限ら
れた面を研磨（鏡面仕上げ）し、平行度を出すことは極
めて困難であるので、このような試料セルを使用した場
合、結果としてサンプル層の厚さにばらつきが生じ、測
定データが大きくばらついた。
レート１０８の表面を加工し、サンプルＳを収納する凹
部１０９を形成し、この凹部１０９にサンプルＳを収納
する方法があるが、光学研磨によって、このように限ら
れた面を研磨（鏡面仕上げ）し、平行度を出すことは極
めて困難であるので、このような試料セルを使用した場
合、結果としてサンプル層の厚さにばらつきが生じ、測
定データが大きくばらついた。
【０００６】
【発明が解決しようとする課題】本発明は、上記課題を
解決するために創案されたもので、高濃度のサンプルに
対し、多重散乱光の発生が極めて少なく、かつサンプル
層の厚さの不均一に伴う測定データのばらつきが少ない
レーザ回折式粒度分布測定装置を提供するものである。
解決するために創案されたもので、高濃度のサンプルに
対し、多重散乱光の発生が極めて少なく、かつサンプル
層の厚さの不均一に伴う測定データのばらつきが少ない
レーザ回折式粒度分布測定装置を提供するものである。
【０００７】
【課題を解決するための手段】本発明は、サンプルを収
容する試料セルと、試料セルにレーザ光を照射する手段
と、レーザ光の照射により得られるサンプル粒子群によ
る回折／散乱光の強度分布を測定する手段とを備えたレ
ーザ回折式粒度分布測定装置において、前記試料セル
を、透光性の板材に穿設された孔に、この孔と同一形状
でかつこの板材の厚さよりも僅かに薄い透光性の板材を
嵌め合わせて構成したことを特徴とするレーザ回折式粒
度分布測定装置である。
容する試料セルと、試料セルにレーザ光を照射する手段
と、レーザ光の照射により得られるサンプル粒子群によ
る回折／散乱光の強度分布を測定する手段とを備えたレ
ーザ回折式粒度分布測定装置において、前記試料セル
を、透光性の板材に穿設された孔に、この孔と同一形状
でかつこの板材の厚さよりも僅かに薄い透光性の板材を
嵌め合わせて構成したことを特徴とするレーザ回折式粒
度分布測定装置である。
【０００８】
【発明の実施の形態】図１は本発明による試料セルの概
略構成を示す図である。図１（ａ）に示すように、１は
表裏両面が平行、かつ光学研磨（鏡面仕上げ）され、厚
さｔが約２ｍｍのガラスプレート（長さ：約７５ｍｍ、
幅：約２５ｍｍ）であって、このガラスプレートの中心
付近に、直径が１０ｍｍの円形状の孔２を穿設する。
略構成を示す図である。図１（ａ）に示すように、１は
表裏両面が平行、かつ光学研磨（鏡面仕上げ）され、厚
さｔが約２ｍｍのガラスプレート（長さ：約７５ｍｍ、
幅：約２５ｍｍ）であって、このガラスプレートの中心
付近に、直径が１０ｍｍの円形状の孔２を穿設する。
【０００９】また、図１（ｂ）に示すように、３は前記
円形状の孔と同形状の直径１５ｍｍのガラス片であっ
て、表裏両面が平行、かつ光学研磨され、厚さが前記ガ
ラスプレート１をよりΔｔ（０．１〜１．０ｍｍで、高
濃度の試料ほど薄くすることによって多重散乱光を抑制
する）だけ薄いガラス材から、切り出される。なお、孔
２及びそれにはめ込むガラス片３の形状は円形に限らな
い。
円形状の孔と同形状の直径１５ｍｍのガラス片であっ
て、表裏両面が平行、かつ光学研磨され、厚さが前記ガ
ラスプレート１をよりΔｔ（０．１〜１．０ｍｍで、高
濃度の試料ほど薄くすることによって多重散乱光を抑制
する）だけ薄いガラス材から、切り出される。なお、孔
２及びそれにはめ込むガラス片３の形状は円形に限らな
い。
【００１０】そして、図１（ｃ）に示すように、凹部４
を設ける反対側の面で凹凸がなくなるよう、ガラス片３
をガラスプレート１の孔２に挿入し嵌め合わせ、接着剤
で固定する。こうして、ガラスプレート１とガラス片３
とからなる試料セル５には、深さΔｔ（０．１〜１．０
ｍｍ）で、直径が１０ｍｍの凹部４が形成される。
を設ける反対側の面で凹凸がなくなるよう、ガラス片３
をガラスプレート１の孔２に挿入し嵌め合わせ、接着剤
で固定する。こうして、ガラスプレート１とガラス片３
とからなる試料セル５には、深さΔｔ（０．１〜１．０
ｍｍ）で、直径が１０ｍｍの凹部４が形成される。
【００１１】このような試料セル５の凹部４にサンプル
Ｓを収容した後、図３のように、試料セル５を試料台１
０２（図２参照）に固定し、図２の粒度分布測定装置で
測定を行うが、粒度分布の測定については従来と同様で
あるので、その説明を省略する。
Ｓを収容した後、図３のように、試料セル５を試料台１
０２（図２参照）に固定し、図２の粒度分布測定装置で
測定を行うが、粒度分布の測定については従来と同様で
あるので、その説明を省略する。
【００１２】また、図４に示すようにに、表裏両面が平
行、かつ光学研磨された固定用ガラスプレート６を試料
セル５に重ね合わて固定することで、サンプルＳの表面
の波立ち（振動）を防止したり、サンプルＳのこぼれを
防止したり、また、傾けてもサンプルＳがこぼれないの
で、光軸が横方向である横形の粒度分布測定装置に使用
することもできる。なお、本実施例のように、固定用ガ
ラスプレート６を使用ない場合、若干の量ではあるが、
ガラスプレート６から発生する散乱光による検出誤差を
排除することができる。
行、かつ光学研磨された固定用ガラスプレート６を試料
セル５に重ね合わて固定することで、サンプルＳの表面
の波立ち（振動）を防止したり、サンプルＳのこぼれを
防止したり、また、傾けてもサンプルＳがこぼれないの
で、光軸が横方向である横形の粒度分布測定装置に使用
することもできる。なお、本実施例のように、固定用ガ
ラスプレート６を使用ない場合、若干の量ではあるが、
ガラスプレート６から発生する散乱光による検出誤差を
排除することができる。
【００１３】さらに、サンプルＳの粘性度が高く、流れ
出さないものについては、図５に示すように、板厚Ｕの
基板７に対し、この板厚よりΔＵ（０．１〜１．０ｍ
ｍ）だけ薄く、表裏両面が平行、かつ光学研磨された小
ガラスプレート８を、サンプルＳを収容する面と反対側
で凹凸がなくなるよう接着することによって形成された
凹部９にサンプルＳを載せ、さらに表裏両面が平行、か
つ光学研磨された固定用ガラスプレート６を重ねてな
る、試料セルを使用してもよい。
出さないものについては、図５に示すように、板厚Ｕの
基板７に対し、この板厚よりΔＵ（０．１〜１．０ｍ
ｍ）だけ薄く、表裏両面が平行、かつ光学研磨された小
ガラスプレート８を、サンプルＳを収容する面と反対側
で凹凸がなくなるよう接着することによって形成された
凹部９にサンプルＳを載せ、さらに表裏両面が平行、か
つ光学研磨された固定用ガラスプレート６を重ねてな
る、試料セルを使用してもよい。
【００１４】ところで、本発明の変形として、次の態様
のものも含まれる。
のものも含まれる。
【００１５】（１）サンプルを収容する試料セルと、試
料セルにレーザ光を照射する手段と、レーザ光の照射に
より得られるサンプル粒子群による回折／散乱光の強度
分布を測定する手段とを備えたレーザ回折式粒度分布測
定装置において、前記試料セルを、透光性の板材に穿設
された孔に、この孔と同一形状でかつこの板材の厚さよ
りも僅かに薄い透光性の板材を嵌め合わせるとともに、
別の透光性の板材を重ね合わせて構成したことを特徴と
するレーザ回折式粒度分布測定装置。
料セルにレーザ光を照射する手段と、レーザ光の照射に
より得られるサンプル粒子群による回折／散乱光の強度
分布を測定する手段とを備えたレーザ回折式粒度分布測
定装置において、前記試料セルを、透光性の板材に穿設
された孔に、この孔と同一形状でかつこの板材の厚さよ
りも僅かに薄い透光性の板材を嵌め合わせるとともに、
別の透光性の板材を重ね合わせて構成したことを特徴と
するレーザ回折式粒度分布測定装置。
【００１６】
【発明の効果】以上説明したように、本発明は、レーザ
回折式粒度分布測定装置において、ガラスプレートに穿
設された孔に、この孔と同一形状でかつこのガラスプレ
ートの厚さよりも僅かに薄く、光学的に平行度を有する
ガラス小片を嵌め合わせて形成された試料セルの凹部
に、サンプルを収納するので、レーザ光の光軸に対し、
サンプルの厚さが所定の薄さで一定になり、多重散乱光
の発生を抑制することができるとともに、サンプルの厚
さの不均一による測定データのばらつきを低減すること
ができる。
回折式粒度分布測定装置において、ガラスプレートに穿
設された孔に、この孔と同一形状でかつこのガラスプレ
ートの厚さよりも僅かに薄く、光学的に平行度を有する
ガラス小片を嵌め合わせて形成された試料セルの凹部
に、サンプルを収納するので、レーザ光の光軸に対し、
サンプルの厚さが所定の薄さで一定になり、多重散乱光
の発生を抑制することができるとともに、サンプルの厚
さの不均一による測定データのばらつきを低減すること
ができる。
【図１】本発明に係る試料セルを示す図である。
【図２】縦型レーザ回折式粒度分布測定装置の概略構成
を示す図である。
を示す図である。
【図３】縦型レーザ回折式粒度分布測定装置の試料セル
の固定台を示す図である。
の固定台を示す図である。
【図４】試料セルにおける固定用ガラスプレートを示す
図である。
図である。
【図５】試料セルの変形例を示す図である。
【図６】従来の試料セルを示す図である。
１・・・・・ガラスプレート ２・・・・・孔 ３・・・・・ガラス片 ４・・・・・凹部 ５・・・・・試料セル Ｓ・・・・・サンプル
Claims (1)
- 【請求項１】 サンプルを収容する試料セルと、試料セ
ルにレーザ光を照射する手段と、レーザ光の照射により
得られるサンプル粒子群による回折／散乱光の強度分布
を測定する手段とを備えたレーザ回折式粒度分布測定装
置において、 前記試料セルを、透光性の板材に穿設された孔に、この
孔と同一形状でかつこの板材の厚さよりも僅かに薄い透
光性の板材を嵌め合わせて構成したことを特徴とするレ
ーザ回折式粒度分布測定装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP7226275A JP2985745B2 (ja) | 1995-09-04 | 1995-09-04 | レーザ回折式粒度分布測定装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP7226275A JP2985745B2 (ja) | 1995-09-04 | 1995-09-04 | レーザ回折式粒度分布測定装置 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH0972841A true JPH0972841A (ja) | 1997-03-18 |
| JP2985745B2 JP2985745B2 (ja) | 1999-12-06 |
Family
ID=16842664
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP7226275A Expired - Fee Related JP2985745B2 (ja) | 1995-09-04 | 1995-09-04 | レーザ回折式粒度分布測定装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JP2985745B2 (ja) |
Cited By (5)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2008281582A (ja) * | 2008-07-17 | 2008-11-20 | Shimadzu Corp | 粒度分布測定装置 |
| JP2013061357A (ja) * | 2013-01-08 | 2013-04-04 | Shimadzu Corp | 試料セル及びそれを用いた粒度分布測定装置 |
| JP2013160633A (ja) * | 2012-02-06 | 2013-08-19 | Shimadzu Corp | 粒度分布測定装置 |
| US9261448B2 (en) | 2014-06-27 | 2016-02-16 | Shimadzu Corporation | Particle size distribution measuring apparatus |
| US9638619B2 (en) | 2015-01-30 | 2017-05-02 | Horiba, Ltd. | Optical analysis cell and particle size distribution measuring apparatus |
-
1995
- 1995-09-04 JP JP7226275A patent/JP2985745B2/ja not_active Expired - Fee Related
Cited By (5)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2008281582A (ja) * | 2008-07-17 | 2008-11-20 | Shimadzu Corp | 粒度分布測定装置 |
| JP2013160633A (ja) * | 2012-02-06 | 2013-08-19 | Shimadzu Corp | 粒度分布測定装置 |
| JP2013061357A (ja) * | 2013-01-08 | 2013-04-04 | Shimadzu Corp | 試料セル及びそれを用いた粒度分布測定装置 |
| US9261448B2 (en) | 2014-06-27 | 2016-02-16 | Shimadzu Corporation | Particle size distribution measuring apparatus |
| US9638619B2 (en) | 2015-01-30 | 2017-05-02 | Horiba, Ltd. | Optical analysis cell and particle size distribution measuring apparatus |
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JP2985745B2 (ja) | 1999-12-06 |
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