JPH0972771A - 流量補正装置 - Google Patents
流量補正装置Info
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- JPH0972771A JPH0972771A JP22639095A JP22639095A JPH0972771A JP H0972771 A JPH0972771 A JP H0972771A JP 22639095 A JP22639095 A JP 22639095A JP 22639095 A JP22639095 A JP 22639095A JP H0972771 A JPH0972771 A JP H0972771A
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- flow rate
- pressure
- sampling time
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Abstract
(57)【要約】
【課題】 本発明の流量補正装置は、一定のサンプリン
グ時間毎に温度・圧力補正係数を演算するため、電池寿
命が短いといった課題を解決するものである。 【解決手段】 流量補正装置30のサンプリング時間設
定器31は、各桁毎の数値をプリセットするためのプリ
セットスイッチ31a〜31dと、プリセットスイッチ
31a〜31dに設定された数値を各桁毎に表示するサ
ンプリング時間表示器32とを有する。流量補正装置3
0の制御回路は、磁気センサ22から出力された流量パ
ルスを積算して流量を演算すると共に、プリセットスイ
ッチ31a〜31dに設定されたサンプリング時間毎に
温度センサ29及び圧力センサ28からの温度・圧力に
基づいて温度・圧力補正係数を演算して流量計測値の温
度・圧力補正の演算を行う。サンプリング時間を長く設
定することにより演算回数が減少して電池寿命を延ばす
ことができる。
グ時間毎に温度・圧力補正係数を演算するため、電池寿
命が短いといった課題を解決するものである。 【解決手段】 流量補正装置30のサンプリング時間設
定器31は、各桁毎の数値をプリセットするためのプリ
セットスイッチ31a〜31dと、プリセットスイッチ
31a〜31dに設定された数値を各桁毎に表示するサ
ンプリング時間表示器32とを有する。流量補正装置3
0の制御回路は、磁気センサ22から出力された流量パ
ルスを積算して流量を演算すると共に、プリセットスイ
ッチ31a〜31dに設定されたサンプリング時間毎に
温度センサ29及び圧力センサ28からの温度・圧力に
基づいて温度・圧力補正係数を演算して流量計測値の温
度・圧力補正の演算を行う。サンプリング時間を長く設
定することにより演算回数が減少して電池寿命を延ばす
ことができる。
Description
【0001】
【発明の属する技術分野】本発明は流量補正装置に係
り、特に流量計により計測された流量計測値を温度及び
圧力に応じて補正して計測精度を高めるよう構成された
流量補正装置に関する。
り、特に流量計により計測された流量計測値を温度及び
圧力に応じて補正して計測精度を高めるよう構成された
流量補正装置に関する。
【0002】
【従来の技術】例えば都市ガスを各家庭及び工場等に給
送する配管途中には、被測流体としての都市ガス(以下
「ガス」という)の供給量を計測するため、容積式流量
計が配設されている。この容積式流量計では、楕円歯車
あるいはまゆ形に形成された一対の回転子が流量に比例
して回転するように設けられているので、この回転子の
回転数を回転検出センサにより検出して回転数に応じた
周波数のパルスを出力するようになっている。従って、
上記パルス数を積算することによりガス供給量が計測さ
れる。
送する配管途中には、被測流体としての都市ガス(以下
「ガス」という)の供給量を計測するため、容積式流量
計が配設されている。この容積式流量計では、楕円歯車
あるいはまゆ形に形成された一対の回転子が流量に比例
して回転するように設けられているので、この回転子の
回転数を回転検出センサにより検出して回転数に応じた
周波数のパルスを出力するようになっている。従って、
上記パルス数を積算することによりガス供給量が計測さ
れる。
【0003】ところが、ガスのように温度変化や圧力変
化によって容積が変化する被測流体の流量を計測する場
合、温度センサにより検出された温度及び圧力センサに
より検出された圧力に基づいて、流量計測値を基準温度
及び基準圧力における流量に補正する必要がある。その
ため、上記のようにガスの流量を計測する流量計には、
そのときの温度及び圧力に応じて流量計測値を補正する
流量補正装置が設けられている。
化によって容積が変化する被測流体の流量を計測する場
合、温度センサにより検出された温度及び圧力センサに
より検出された圧力に基づいて、流量計測値を基準温度
及び基準圧力における流量に補正する必要がある。その
ため、上記のようにガスの流量を計測する流量計には、
そのときの温度及び圧力に応じて流量計測値を補正する
流量補正装置が設けられている。
【0004】そして、従来の流量補正装置では、温度セ
ンサ及び圧力センサにより検出された温度データ及び圧
力データを予め設定されたサンプリング時間間隔で読み
込み、流量計測値をこの温度データ及び圧力データに基
づいて補正している。また、上記流量計が現場設置型の
場合、電源が乾電池等のバッテリを使用する構成であ
り、流量演算処理及び流量計測値の温度・圧力補正演算
処理により電池が消耗される。
ンサ及び圧力センサにより検出された温度データ及び圧
力データを予め設定されたサンプリング時間間隔で読み
込み、流量計測値をこの温度データ及び圧力データに基
づいて補正している。また、上記流量計が現場設置型の
場合、電源が乾電池等のバッテリを使用する構成であ
り、流量演算処理及び流量計測値の温度・圧力補正演算
処理により電池が消耗される。
【0005】
【発明が解決しようとする課題】従来の流量補正装置
は、温度センサ及び圧力センサのサンプリング時間が所
定時間間隔に固定されていて調整することができなかっ
たため、温度及び圧力が変化しない場合でも所定のサン
プリング時間になると温度センサ及び圧力センサにより
検出された温度データ及び圧力データを読み込んで温度
・圧力補正係数を求めるための演算を行っていた。その
ため、電池の容量が残り少ない場合でも一定のサンプリ
ング時間で温度センサ及び圧力センサの検出データを読
み込んで補正係数の演算処理を行うことになる。
は、温度センサ及び圧力センサのサンプリング時間が所
定時間間隔に固定されていて調整することができなかっ
たため、温度及び圧力が変化しない場合でも所定のサン
プリング時間になると温度センサ及び圧力センサにより
検出された温度データ及び圧力データを読み込んで温度
・圧力補正係数を求めるための演算を行っていた。その
ため、電池の容量が残り少ない場合でも一定のサンプリ
ング時間で温度センサ及び圧力センサの検出データを読
み込んで補正係数の演算処理を行うことになる。
【0006】ところが、ガス等の被測流体を給送する管
路においては、流量計の設置場所や季節、天候等によっ
て温度及び圧力が頻繁に変化する場合もあるが、1日の
温度及び圧力が殆ど変化しない場合もある。このように
温度及び圧力の変化が少ない場合には、サンプリング時
間を延長しても計測精度を維持することができるが、従
来は一定のサンプリング時間で温度センサ及び圧力セン
サの検出データを読み込んで温度データ及び圧力データ
に基づく温度・圧力補正係数を演算しなければならず、
その分電池の消耗が早く、電池寿命が短いといった問題
がある。
路においては、流量計の設置場所や季節、天候等によっ
て温度及び圧力が頻繁に変化する場合もあるが、1日の
温度及び圧力が殆ど変化しない場合もある。このように
温度及び圧力の変化が少ない場合には、サンプリング時
間を延長しても計測精度を維持することができるが、従
来は一定のサンプリング時間で温度センサ及び圧力セン
サの検出データを読み込んで温度データ及び圧力データ
に基づく温度・圧力補正係数を演算しなければならず、
その分電池の消耗が早く、電池寿命が短いといった問題
がある。
【0007】そこで、本発明は上記問題を解決した流量
補正装置を提供することを目的とする。
補正装置を提供することを目的とする。
【0008】
【課題を解決するための手段】本発明は、流量計測値を
温度検出手段及び圧力検出手段により検出された温度及
び圧力に基づいて基準温度及び基準圧力における流量値
に補正する流量補正装置において、前記温度検出手段及
び圧力検出手段によるサンプリング時間を任意に設定す
るサンプリング時間設定手段を備えてなることを特徴と
するものである。
温度検出手段及び圧力検出手段により検出された温度及
び圧力に基づいて基準温度及び基準圧力における流量値
に補正する流量補正装置において、前記温度検出手段及
び圧力検出手段によるサンプリング時間を任意に設定す
るサンプリング時間設定手段を備えてなることを特徴と
するものである。
【0009】従って、本発明によれば、温度検出手段及
び圧力検出手段に対するサンプリング時間を任意に設定
することができるので、流量計の設置場所における温度
変化及び圧力変化に応じてサンプリング時間を変更する
ことができ、例えば温度及び圧力変化が少ない場合に
は、サンプリング時間を延長させることができる。
び圧力検出手段に対するサンプリング時間を任意に設定
することができるので、流量計の設置場所における温度
変化及び圧力変化に応じてサンプリング時間を変更する
ことができ、例えば温度及び圧力変化が少ない場合に
は、サンプリング時間を延長させることができる。
【0010】
【発明の実施の形態】図1及び図2に本発明になる流量
補正装置の一実施例が組み込まれた容積式流量計を示
す。図1は流量補正装置及び容積式流量計の構成を示す
構成図、図2は容積式流量計の横断面図である。
補正装置の一実施例が組み込まれた容積式流量計を示
す。図1は流量補正装置及び容積式流量計の構成を示す
構成図、図2は容積式流量計の横断面図である。
【0011】容積式流量計1は例えば都市ガスを給送す
る配管(図示せず)途中に設けられ、配管内を流れるガ
スの流量を計測するように構成されている。2はケーシ
ングで、内部に流入口2aと流出口2bとを連通する流
路2cを有し、流路2cの途中には計量室3を有する。
計量室3内には一対のまゆ形の回転子4,5が90度の
位相差で組み付けられており、一対の回転子4,5は夫
々中央孔に圧入された回転軸6,7により支持されてい
る。また、図1中一方の回転軸7は図示されていないが
他方の回転軸6と同様な構成である。尚、容積式流量計
1としては、まゆ形の回転子4,5を有するルーツ形流
量計の代わりに楕円歯車よりなる一対の回転子を有する
容積式流量計を使用しても良い。
る配管(図示せず)途中に設けられ、配管内を流れるガ
スの流量を計測するように構成されている。2はケーシ
ングで、内部に流入口2aと流出口2bとを連通する流
路2cを有し、流路2cの途中には計量室3を有する。
計量室3内には一対のまゆ形の回転子4,5が90度の
位相差で組み付けられており、一対の回転子4,5は夫
々中央孔に圧入された回転軸6,7により支持されてい
る。また、図1中一方の回転軸7は図示されていないが
他方の回転軸6と同様な構成である。尚、容積式流量計
1としては、まゆ形の回転子4,5を有するルーツ形流
量計の代わりに楕円歯車よりなる一対の回転子を有する
容積式流量計を使用しても良い。
【0012】また、ケーシング2の両側端面2d,2e
には、計量室3を閉蓋する側蓋8,9がネジ止めされて
いる。さらに、ケーシング2の両側端面2d,2eに
は、側蓋8,9の外側を覆うカップ状のカバー10,1
1がネジ止めされている。カバー10,11と両側端面
2d,2eとの間にはOリング12,13が介在し、カ
バー10,11内が気密にシールされている。そして、
カップ状のカバー10,11の内部には潤滑油が貯溜さ
れ、油溜め10a,11aが形成されている。
には、計量室3を閉蓋する側蓋8,9がネジ止めされて
いる。さらに、ケーシング2の両側端面2d,2eに
は、側蓋8,9の外側を覆うカップ状のカバー10,1
1がネジ止めされている。カバー10,11と両側端面
2d,2eとの間にはOリング12,13が介在し、カ
バー10,11内が気密にシールされている。そして、
カップ状のカバー10,11の内部には潤滑油が貯溜さ
れ、油溜め10a,11aが形成されている。
【0013】上記回転軸6,7は両端が夫々側蓋8,9
を貫通してカバー10,11内に突出している。側蓋
8,9の中央部には、各回転軸6,7を軸承するラジア
ル玉軸受14,15と、計量室3と軸受14,15との
間をシールするラビリンス機構16,17とが設けられ
ている。
を貫通してカバー10,11内に突出している。側蓋
8,9の中央部には、各回転軸6,7を軸承するラジア
ル玉軸受14,15と、計量室3と軸受14,15との
間をシールするラビリンス機構16,17とが設けられ
ている。
【0014】一対の回転子4,5は互いに微小なクリア
ランスを介して組み合わされており、計量室3の内壁に
対しても微小なクリアランスを保った状態で回転する。
さらに、一対の回転子4,5は90度ずらして設けられ
ているので流体圧力による回転力を交互に付与される。
そのため、回転軸6,7の一方(図1中右側)の端部に
は回転伝達用の駆動ギヤ18,19が嵌合固定されてい
る。この駆動ギヤ18,19は噛合しており、一対の回
転子4,5が流量に応じた回転数で回転する際に生ずる
回転力が駆動ギヤ18,19を介して回転軸6,7に相
互に伝達されるようになっている。
ランスを介して組み合わされており、計量室3の内壁に
対しても微小なクリアランスを保った状態で回転する。
さらに、一対の回転子4,5は90度ずらして設けられ
ているので流体圧力による回転力を交互に付与される。
そのため、回転軸6,7の一方(図1中右側)の端部に
は回転伝達用の駆動ギヤ18,19が嵌合固定されてい
る。この駆動ギヤ18,19は噛合しており、一対の回
転子4,5が流量に応じた回転数で回転する際に生ずる
回転力が駆動ギヤ18,19を介して回転軸6,7に相
互に伝達されるようになっている。
【0015】ガスがケーシング2の流路2cを流れる
と、一対の回転子4,5は流量に比例した回転数で図2
に示す如くA,B方向に回転する。回転子4,5と計量
室3との間には図2中ハッチングで示すような空間20
が形成され、回転子4,5の回転とともにこの空間20
内の容積分のガスが流出口2b側へ送出される。
と、一対の回転子4,5は流量に比例した回転数で図2
に示す如くA,B方向に回転する。回転子4,5と計量
室3との間には図2中ハッチングで示すような空間20
が形成され、回転子4,5の回転とともにこの空間20
内の容積分のガスが流出口2b側へ送出される。
【0016】21は流量計測部で、カバー11の外側に
設けられ、後述するように内部には流量を積算する演算
回路(図示せず)が収納されている。この流量計測部2
1には回転軸6の回転が磁気センサ22により検出さ
れ、演算回路は回転子4,5の回転数と上記空間20の
容積より流量を算出する。
設けられ、後述するように内部には流量を積算する演算
回路(図示せず)が収納されている。この流量計測部2
1には回転軸6の回転が磁気センサ22により検出さ
れ、演算回路は回転子4,5の回転数と上記空間20の
容積より流量を算出する。
【0017】23は給油機構で、回転軸6に嵌合するガ
イド部材24と、ガイド部材24の外周に内接するよう
に掛けられた大径なリング25とよりなり、各回転軸
6,7の両端近傍に設けられ、各軸受14,15へ油溜
め10a,11aの油を供給する。
イド部材24と、ガイド部材24の外周に内接するよう
に掛けられた大径なリング25とよりなり、各回転軸
6,7の両端近傍に設けられ、各軸受14,15へ油溜
め10a,11aの油を供給する。
【0018】また、回転軸6の端部には、複数の磁石2
6が埋設された回転体27が固着されている。そして、
磁気センサ22は回転体27に近接するようにカバー1
1の取付部11bに取り付けられているので、回転子
4,5が流量に応じて回転すると、回転体27も回転す
るため、複数の磁石26の通過に伴う磁界の変化を検出
する。このようにして回転子4,5の回転は、回転検出
用の磁気センサ22により検出される。
6が埋設された回転体27が固着されている。そして、
磁気センサ22は回転体27に近接するようにカバー1
1の取付部11bに取り付けられているので、回転子
4,5が流量に応じて回転すると、回転体27も回転す
るため、複数の磁石26の通過に伴う磁界の変化を検出
する。このようにして回転子4,5の回転は、回転検出
用の磁気センサ22により検出される。
【0019】また、ケーシング2の流入路2aには、被
測流体の圧力を検出する圧力センサ(圧力検出手段)2
8が挿入されている。本実施例では、圧力センサ28と
して半導体拡散形歪ゲージを使用する。さらに、ケーシ
ング2の流出路2bには、被測流体の温度を検出する棒
状の温度センサ(温度検出手段)29が挿入されてい
る。本実施例では、温度センサ29として白金測温抵抗
体を使用する。
測流体の圧力を検出する圧力センサ(圧力検出手段)2
8が挿入されている。本実施例では、圧力センサ28と
して半導体拡散形歪ゲージを使用する。さらに、ケーシ
ング2の流出路2bには、被測流体の温度を検出する棒
状の温度センサ(温度検出手段)29が挿入されてい
る。本実施例では、温度センサ29として白金測温抵抗
体を使用する。
【0020】30は流量補正装置で、後述するように磁
気センサ22から出力された流量パルスを積算して流量
を演算すると共に、予め設定されたサンプリング時間毎
に温度センサ29及び圧力センサ28から読み込まれた
温度データ、圧力データに基づいて流量計測値に対する
温度補正、圧力補正の演算を行う。
気センサ22から出力された流量パルスを積算して流量
を演算すると共に、予め設定されたサンプリング時間毎
に温度センサ29及び圧力センサ28から読み込まれた
温度データ、圧力データに基づいて流量計測値に対する
温度補正、圧力補正の演算を行う。
【0021】尚、温度センサ29及び圧力センサ28の
取り付け位置は、上記のようにケーシング2内に挿入す
る構成でも良いし、あるいはケーシング2の流入路2a
又は流出路2bに接続されるガス供給管路に温度センサ
29及び圧力センサ28を設けるようにしても良い。
取り付け位置は、上記のようにケーシング2内に挿入す
る構成でも良いし、あるいはケーシング2の流入路2a
又は流出路2bに接続されるガス供給管路に温度センサ
29及び圧力センサ28を設けるようにしても良い。
【0022】31はサンプリング時間設定器で、流量補
正装置30のサンプリング時間を任意の時間間隔に設定
するためのものである。このサンプリング時間設定器3
1には、各桁毎の数値をプリセットするためのプリセッ
トスイッチ31a〜31dと、プリセットスイッチ31
a〜31dに設定された数値を各桁毎に表示するサンプ
リング時間表示器32が設けられている。例えばプリセ
ットスイッチ31aは10分の桁を設定するためのもの
で、プリセットスイッチ31bは1分の桁を設定するた
めのもので、プリセットスイッチ31cは10秒の桁を
設定するためのもので、プリセットスイッチ31dは1
秒の桁を設定するためのものである。
正装置30のサンプリング時間を任意の時間間隔に設定
するためのものである。このサンプリング時間設定器3
1には、各桁毎の数値をプリセットするためのプリセッ
トスイッチ31a〜31dと、プリセットスイッチ31
a〜31dに設定された数値を各桁毎に表示するサンプ
リング時間表示器32が設けられている。例えばプリセ
ットスイッチ31aは10分の桁を設定するためのもの
で、プリセットスイッチ31bは1分の桁を設定するた
めのもので、プリセットスイッチ31cは10秒の桁を
設定するためのもので、プリセットスイッチ31dは1
秒の桁を設定するためのものである。
【0023】従って、本実施例では、各プリセットスイ
ッチ31a〜31dの設定操作により1秒〜99分59
秒の範囲で任意のサンプリング時間を設定することがで
きる。尚、プリセットスイッチ31a〜31dにより設
定可能な範囲としては、これに限らず、例えば5個のプ
リセットスイッチを設けることにより1秒〜999分5
9秒の範囲でサンプリング時間を設定することができ
る。
ッチ31a〜31dの設定操作により1秒〜99分59
秒の範囲で任意のサンプリング時間を設定することがで
きる。尚、プリセットスイッチ31a〜31dにより設
定可能な範囲としては、これに限らず、例えば5個のプ
リセットスイッチを設けることにより1秒〜999分5
9秒の範囲でサンプリング時間を設定することができ
る。
【0024】また、各プリセットスイッチ31a〜31
dにより設定されるサンプリング時間は、通常2分に設
定されているが、容積式流量計1が設置された現場での
環境あるいは被測流体の温度変化、圧力変化に応じてユ
ーザが任意に設定することができる。その一例として例
えば、予備電池のテストを行う場合には、サンプリング
時間を1秒程度に設定して待ち時間を短縮することがで
きる。
dにより設定されるサンプリング時間は、通常2分に設
定されているが、容積式流量計1が設置された現場での
環境あるいは被測流体の温度変化、圧力変化に応じてユ
ーザが任意に設定することができる。その一例として例
えば、予備電池のテストを行う場合には、サンプリング
時間を1秒程度に設定して待ち時間を短縮することがで
きる。
【0025】そして、サンプリング時間の設定時間を延
長するほど、温度・圧力補正係数の演算回数が減少する
ため、温度変化、圧力変化が少ない環境である場合には
サンプリング時間の設定時間を2分以上に設定してサン
プリング時の演算回数を減らすことができる。これによ
り、電池の消耗が減って電池寿命を延ばすことができ、
電池の点検及び電池交換作業を削減してメンテナンスが
容易となる。
長するほど、温度・圧力補正係数の演算回数が減少する
ため、温度変化、圧力変化が少ない環境である場合には
サンプリング時間の設定時間を2分以上に設定してサン
プリング時の演算回数を減らすことができる。これによ
り、電池の消耗が減って電池寿命を延ばすことができ、
電池の点検及び電池交換作業を削減してメンテナンスが
容易となる。
【0026】流量補正装置18は、磁気センサ22から
出力された流量パルスが入力されるパルス入力回路33
と、温度センサ29及び圧力センサ28から出力された
温度検出データ及び圧力検出データをデジタル信号に変
換するA/D変換器34と、リチウム電池35から供給
された電圧を所定の定電圧に変換して温度センサ29及
び圧力センサ28、A/D変換器34に供給する定電圧
電源回路36と、リチウム電池35の電圧を検出する電
圧検出器37と、温度・圧力補正後の流量計測値を出力
する出力回路38と、温度・圧力補正係数等の各種デー
タ及び各種制御プログラムを記憶するメモリ39と、パ
ルス入力回路33から出力された流量パルスを積算する
と共にA/D変換器34から出力された温度データ、圧
力データに基づいて補正する制御回路40と、からな
る。
出力された流量パルスが入力されるパルス入力回路33
と、温度センサ29及び圧力センサ28から出力された
温度検出データ及び圧力検出データをデジタル信号に変
換するA/D変換器34と、リチウム電池35から供給
された電圧を所定の定電圧に変換して温度センサ29及
び圧力センサ28、A/D変換器34に供給する定電圧
電源回路36と、リチウム電池35の電圧を検出する電
圧検出器37と、温度・圧力補正後の流量計測値を出力
する出力回路38と、温度・圧力補正係数等の各種デー
タ及び各種制御プログラムを記憶するメモリ39と、パ
ルス入力回路33から出力された流量パルスを積算する
と共にA/D変換器34から出力された温度データ、圧
力データに基づいて補正する制御回路40と、からな
る。
【0027】尚、メモリ39には、磁気センサ22から
出力された流量パルスを積算して流量を演算する流量演
算プログラムと、予め設定されたサンプリング時間毎に
温度センサ29及び圧力センサ28から読み込まれた温
度、圧力に基づいて演算された温度・圧力補正係数によ
り流量計測値の温度・圧力補正の演算を行う温度・圧力
補正プログラムとが格納されている。そのため、制御回
路40は、上記流量演算プログラム及び温度・圧力補正
プログラムをメモリ39から読み込んで流量計測値の温
度・圧力補正処理を実行する。そして、制御回路40
は、補正後の流量計測値を出力回路38から出力すると
共に、補正された流量計測値を表示する流量表示器41
に表示する。
出力された流量パルスを積算して流量を演算する流量演
算プログラムと、予め設定されたサンプリング時間毎に
温度センサ29及び圧力センサ28から読み込まれた温
度、圧力に基づいて演算された温度・圧力補正係数によ
り流量計測値の温度・圧力補正の演算を行う温度・圧力
補正プログラムとが格納されている。そのため、制御回
路40は、上記流量演算プログラム及び温度・圧力補正
プログラムをメモリ39から読み込んで流量計測値の温
度・圧力補正処理を実行する。そして、制御回路40
は、補正後の流量計測値を出力回路38から出力すると
共に、補正された流量計測値を表示する流量表示器41
に表示する。
【0028】被測流体としてのガスは、気体であるため
温度や圧力を変えることにより体積が変化する。この温
度・圧力の変化に対するガスの体積の変化割合は、ボイ
ル・シャルルの法則により決まる。流量補正装置30
は、この法則に従って温度センサ29及び圧力センサ2
8から出力された温度・圧力信号より補正係数を求め、
その補正係数を流量信号に乗ずることで基準状態での体
積を演算する。
温度や圧力を変えることにより体積が変化する。この温
度・圧力の変化に対するガスの体積の変化割合は、ボイ
ル・シャルルの法則により決まる。流量補正装置30
は、この法則に従って温度センサ29及び圧力センサ2
8から出力された温度・圧力信号より補正係数を求め、
その補正係数を流量信号に乗ずることで基準状態での体
積を演算する。
【0029】この補正係数は、次式(1)のように表せ
る。 KTP=(273.2+Tb /273.2+T)・(1.033+P/ 1.033+ Pb )…(1) ここで、KTPは基準温度及び基準圧力に対する補正係
数、Tはガスの温度〔°C〕、Tb は基準温度〔°
C〕、Pはガスの圧力〔kgf/cm2G ]、Pb は基準圧力
〔kgf/cm2G ]である。
る。 KTP=(273.2+Tb /273.2+T)・(1.033+P/ 1.033+ Pb )…(1) ここで、KTPは基準温度及び基準圧力に対する補正係
数、Tはガスの温度〔°C〕、Tb は基準温度〔°
C〕、Pはガスの圧力〔kgf/cm2G ]、Pb は基準圧力
〔kgf/cm2G ]である。
【0030】また、温度又は圧力のいずれか一方の補正
を行う場合には、一方を基準状態として演算すれば良い
ので、次式(2)(3)のように表せる。 KT =273.2+Tb /273.2+T …(2) KP =1.033+P/ 1.033+ Pb …(3) ここで、KT は基準温度に対する補正係数、KP 基準圧
力に対する補正係数である。
を行う場合には、一方を基準状態として演算すれば良い
ので、次式(2)(3)のように表せる。 KT =273.2+Tb /273.2+T …(2) KP =1.033+P/ 1.033+ Pb …(3) ここで、KT は基準温度に対する補正係数、KP 基準圧
力に対する補正係数である。
【0031】ここで、上記制御回路40が実行する流量
計測処理につき説明する。尚、図4に示す流量計測処理
は所定の時間間隔(例えば、0.05msec毎)に繰り返
し実行されており、制御回路40は被測流体の温度・圧
力に応じた温度・圧力補正を逐次行っている。
計測処理につき説明する。尚、図4に示す流量計測処理
は所定の時間間隔(例えば、0.05msec毎)に繰り返
し実行されており、制御回路40は被測流体の温度・圧
力に応じた温度・圧力補正を逐次行っている。
【0032】制御回路40は、ステップS1(以下、
「ステップ」を省略する)において、磁気センサ22か
ら出力されたパルス信号、即ち流量に比例して回転する
回転子4,5の回転検出信号を整数の計測単位(例えば
リットルに対応する整数)に換算する。
「ステップ」を省略する)において、磁気センサ22か
ら出力されたパルス信号、即ち流量に比例して回転する
回転子4,5の回転検出信号を整数の計測単位(例えば
リットルに対応する整数)に換算する。
【0033】続いて、メモリ39に記憶された圧力補正
係数KP を読み込む(S2)。さらに、次のS3では、
メモリ39に記憶された温度補正係数KT を読み込む。
次にS1で整数の計測単位に換算した流量計測値を、上
記S2,S3で得られた圧力補正係数KP 及び温度補正
係数KT により乗算して基準温度及び基準圧力に対する
流量を算出する(S4)。
係数KP を読み込む(S2)。さらに、次のS3では、
メモリ39に記憶された温度補正係数KT を読み込む。
次にS1で整数の計測単位に換算した流量計測値を、上
記S2,S3で得られた圧力補正係数KP 及び温度補正
係数KT により乗算して基準温度及び基準圧力に対する
流量を算出する(S4)。
【0034】そして、次のS5では、S4で補正した計
測値を出力回路38及び流量表示器41に出力する。こ
のように、制御回路40は、圧力補正係数KP 及び温度
補正係数KT により流量計測値を補正するため、流量計
測値を正確に補正することができる。
測値を出力回路38及び流量表示器41に出力する。こ
のように、制御回路40は、圧力補正係数KP 及び温度
補正係数KT により流量計測値を補正するため、流量計
測値を正確に補正することができる。
【0035】次に本発明の要部であるサンプリング時間
設定処理について説明する。尚、図5は、上記サンプリ
ング時間設定器31に設けられたプリセットスイッチ3
1a〜31dが操作された際に実行される処理のフロー
チャートである。制御回路40は、S11で10分桁の
プリセットスイッチ31aが入力操作されたか否かを判
定し、プリセットスイッチ31aが入力操作された場合
にはS12に進み、サンプリング時間表示器32にプリ
セットスイッチ31aによりプリセットされた10分桁
のプリセット値を表示する。次のS13では、プリセッ
トスイッチ31aにより入力された10分桁のプリセッ
ト値をメモリ39に記憶させる。
設定処理について説明する。尚、図5は、上記サンプリ
ング時間設定器31に設けられたプリセットスイッチ3
1a〜31dが操作された際に実行される処理のフロー
チャートである。制御回路40は、S11で10分桁の
プリセットスイッチ31aが入力操作されたか否かを判
定し、プリセットスイッチ31aが入力操作された場合
にはS12に進み、サンプリング時間表示器32にプリ
セットスイッチ31aによりプリセットされた10分桁
のプリセット値を表示する。次のS13では、プリセッ
トスイッチ31aにより入力された10分桁のプリセッ
ト値をメモリ39に記憶させる。
【0036】そして、上記S11において、プリセット
スイッチ31aが入力操作されなかったとき、又はS1
3において10分桁が更新された後は、S14に移行し
て1分桁のプリセットスイッチ31bが入力操作された
か否かを判定し、プリセットスイッチ31bが入力操作
された場合にはS15に進み、サンプリング時間表示器
32にプリセットスイッチ31bによりプリセットされ
た1分桁のプリセット値を表示する。次のS16では、
プリセットスイッチ31bにより入力された1分桁のプ
リセット値をメモリ39に記憶させる。
スイッチ31aが入力操作されなかったとき、又はS1
3において10分桁が更新された後は、S14に移行し
て1分桁のプリセットスイッチ31bが入力操作された
か否かを判定し、プリセットスイッチ31bが入力操作
された場合にはS15に進み、サンプリング時間表示器
32にプリセットスイッチ31bによりプリセットされ
た1分桁のプリセット値を表示する。次のS16では、
プリセットスイッチ31bにより入力された1分桁のプ
リセット値をメモリ39に記憶させる。
【0037】そして、S14において、プリセットスイ
ッチ31bが入力操作されなかったとき、又はS16に
おいて1分桁が更新された後は、S17に移行して10
秒桁のプリセットスイッチ31cが入力操作されたか否
かを判定し、プリセットスイッチ31cが入力操作され
た場合にはS18に進み、サンプリング時間表示器32
にプリセットスイッチ31cによりプリセットされた1
0秒桁のプリセット値を表示する。次のS19では、1
0秒桁のプリセット値をメモリ39に記憶させる。
ッチ31bが入力操作されなかったとき、又はS16に
おいて1分桁が更新された後は、S17に移行して10
秒桁のプリセットスイッチ31cが入力操作されたか否
かを判定し、プリセットスイッチ31cが入力操作され
た場合にはS18に進み、サンプリング時間表示器32
にプリセットスイッチ31cによりプリセットされた1
0秒桁のプリセット値を表示する。次のS19では、1
0秒桁のプリセット値をメモリ39に記憶させる。
【0038】そして、上記S17において、プリセット
スイッチ31cが入力操作されなかったとき、又はS1
9において10秒桁が更新された後は、S20に移行し
て1秒桁のプリセットスイッチ31dが入力操作された
か否かを判定し、プリセットスイッチ31dが入力操作
された場合にはS21に進み、サンプリング時間表示器
32にプリセットスイッチ31dによりプリセットされ
た1秒桁のプリセット値を表示する。次のS22では、
プリセットスイッチ31dにより入力された1秒桁のプ
リセット値をメモリ39に記憶させる。
スイッチ31cが入力操作されなかったとき、又はS1
9において10秒桁が更新された後は、S20に移行し
て1秒桁のプリセットスイッチ31dが入力操作された
か否かを判定し、プリセットスイッチ31dが入力操作
された場合にはS21に進み、サンプリング時間表示器
32にプリセットスイッチ31dによりプリセットされ
た1秒桁のプリセット値を表示する。次のS22では、
プリセットスイッチ31dにより入力された1秒桁のプ
リセット値をメモリ39に記憶させる。
【0039】また、上記S20において、プリセットス
イッチ31dが入力操作されなかったとき、又はS22
において1秒桁が更新された後は、次のサンプリング直
後にS11に戻り、再度プリセットスイッチ31a〜3
1dによる入力操作の有無を監視する。
イッチ31dが入力操作されなかったとき、又はS22
において1秒桁が更新された後は、次のサンプリング直
後にS11に戻り、再度プリセットスイッチ31a〜3
1dによる入力操作の有無を監視する。
【0040】このように、サンプリング時間設定器31
に設けられたプリセットスイッチ31a〜31dを操作
するだけで、流量計の設置場所や周囲の環境等に応じて
簡単にサンプリング時間を変更することができる。その
ため、容積式流量計1の各設置場所における温度変化及
び圧力変化の周期に応じてサンプリング時間を変更する
ことができ、例えば温度及び圧力変化が少ない場合に
は、温度及び圧力変化の周期にあわせてサンプリング時
間を延長させることができる。
に設けられたプリセットスイッチ31a〜31dを操作
するだけで、流量計の設置場所や周囲の環境等に応じて
簡単にサンプリング時間を変更することができる。その
ため、容積式流量計1の各設置場所における温度変化及
び圧力変化の周期に応じてサンプリング時間を変更する
ことができ、例えば温度及び圧力変化が少ない場合に
は、温度及び圧力変化の周期にあわせてサンプリング時
間を延長させることができる。
【0041】その場合、温度・圧力補正係数の演算回数
が減少するため、電池の消耗が減少して電池寿命を延ば
すことが可能になり、その分電池点検及び電池交換作業
回数を減らしてメンテナンス作業を簡略することができ
る。次に上記のように設定された所定時間毎のサンプリ
ング処理について説明する。尚、図6は、上記プリセッ
トスイッチ31a〜31dにより設定されたサンプリン
グ時間になると実行されるデータ読み込み処理のフロー
チャートである。
が減少するため、電池の消耗が減少して電池寿命を延ば
すことが可能になり、その分電池点検及び電池交換作業
回数を減らしてメンテナンス作業を簡略することができ
る。次に上記のように設定された所定時間毎のサンプリ
ング処理について説明する。尚、図6は、上記プリセッ
トスイッチ31a〜31dにより設定されたサンプリン
グ時間になると実行されるデータ読み込み処理のフロー
チャートである。
【0042】制御回路40は、S31でプリセットスイ
ッチ31a〜31dにより設定されたサンプリング時間
になると、S32に進んで温度センサ29により測定さ
れたガスの温度を読み込む。そして、温度センサ29か
ら読み込まれた温度に応じた温度補正係数を演算し、こ
の温度補正係数をメモリ39に記憶させ、メモリ39に
記憶されている温度データを現在の温度補正係数に更新
する(S33)。
ッチ31a〜31dにより設定されたサンプリング時間
になると、S32に進んで温度センサ29により測定さ
れたガスの温度を読み込む。そして、温度センサ29か
ら読み込まれた温度に応じた温度補正係数を演算し、こ
の温度補正係数をメモリ39に記憶させ、メモリ39に
記憶されている温度データを現在の温度補正係数に更新
する(S33)。
【0043】次のS34では、圧力センサ28により測
定されたガスの圧力を読み込む。そして、圧力センサ2
8から読み込まれた圧力に応じた圧力補正係数を演算
し、この圧力補正係数をメモリ39に記憶させ、メモリ
39に記憶されている圧力データを現在の圧力補正係数
に更新する(S35)。
定されたガスの圧力を読み込む。そして、圧力センサ2
8から読み込まれた圧力に応じた圧力補正係数を演算
し、この圧力補正係数をメモリ39に記憶させ、メモリ
39に記憶されている圧力データを現在の圧力補正係数
に更新する(S35)。
【0044】このように、設定されたサンプリング時間
毎に上記S31〜35の処理を実行してメモリ39に記
憶されている温度・圧力補正係数を更新するため、上記
流量計測時に行う流量補正処理では、最新の温度・圧力
補正係数がメモリ39から読み出され、この温度・圧力
補正係数に基づいて流量計測値が補正される。
毎に上記S31〜35の処理を実行してメモリ39に記
憶されている温度・圧力補正係数を更新するため、上記
流量計測時に行う流量補正処理では、最新の温度・圧力
補正係数がメモリ39から読み出され、この温度・圧力
補正係数に基づいて流量計測値が補正される。
【0045】尚、上記実施例では、まゆ形回転子が組み
込まれた容積式流量計を一例として挙げたが、これに限
らず、例えば容積式流量計以外の構成とされた流量計に
より計測された流量計測値を補正するようにしても良い
のは勿論である。また、上記実施例では、容積式流量計
1に流量補正装置30が組み込まれた構成としたが、こ
れに限らず、例えば容積式流量計1とは別体に設けられ
た流量補正装置にも適応することができるのは勿論であ
る。
込まれた容積式流量計を一例として挙げたが、これに限
らず、例えば容積式流量計以外の構成とされた流量計に
より計測された流量計測値を補正するようにしても良い
のは勿論である。また、上記実施例では、容積式流量計
1に流量補正装置30が組み込まれた構成としたが、こ
れに限らず、例えば容積式流量計1とは別体に設けられ
た流量補正装置にも適応することができるのは勿論であ
る。
【0046】
【発明の効果】上述の如く、本発明によれば、温度検出
手段及び圧力検出手段に対するサンプリング時間を任意
に設定することができるため、流量計の設置場所や周囲
の環境等に応じてサンプリング時間を変更することがで
きる。そのため、各設置場所における温度変化及び圧力
変化の周期に応じてサンプリング時間を変更することが
でき、例えば温度及び圧力変化が少ない場合には、温度
及び圧力変化の周期にあわせてサンプリング時間を延長
させることができる。その場合、温度・圧力補正係数の
演算回数が減少するため、電池の消耗が減少して電池寿
命を延ばすことが可能になり、その分電池点検及び電池
交換作業回数を減らしてメンテナンス作業を簡略するこ
とができる。
手段及び圧力検出手段に対するサンプリング時間を任意
に設定することができるため、流量計の設置場所や周囲
の環境等に応じてサンプリング時間を変更することがで
きる。そのため、各設置場所における温度変化及び圧力
変化の周期に応じてサンプリング時間を変更することが
でき、例えば温度及び圧力変化が少ない場合には、温度
及び圧力変化の周期にあわせてサンプリング時間を延長
させることができる。その場合、温度・圧力補正係数の
演算回数が減少するため、電池の消耗が減少して電池寿
命を延ばすことが可能になり、その分電池点検及び電池
交換作業回数を減らしてメンテナンス作業を簡略するこ
とができる。
【図1】本発明になる流量補正装置の一実施例が組み込
まれた容積式流量計の縦断面図である。
まれた容積式流量計の縦断面図である。
【図2】容積式流量計の横断面図である。
【図3】流量補正装置の構成を示すブロック図である。
【図4】制御回路が実行する流量計測処理を説明するた
めのフローチャートである。
めのフローチャートである。
【図5】制御回路が実行するサンプリング時間時間設定
処理を説明するためのフローチャートである。
処理を説明するためのフローチャートである。
【図6】制御回路が実行するサンプリング処理を説明す
るためのフローチャートである。
るためのフローチャートである。
1 容積式流量計 2 ケーシング 4,5 回転子 22 磁気センサ 28 圧力センサ 29 温度センサ 31 サンプリング時間設定器 31a〜31d プリセットスイッチ 32 サンプリング時間表示器 39 メモリ 40 制御回路 41 流量表示器
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (71)出願人 000003056 トキコ株式会社 神奈川県川崎市川崎区富士見1丁目6番3 号 (72)発明者 根来 信夫 神奈川県横浜市泉区和泉町1704−2 (72)発明者 岩川 恵 大阪府大阪市西区千代崎3丁目2番95号 大阪瓦斯株式会社内 (72)発明者 北條 俊明 愛知県名古屋市熱田区桜田町19番18号 東 邦瓦斯株式会社内 (72)発明者 岩尾 健司 神奈川県川崎市川崎区富士見1丁目6番3 号 トキコ株式会社内
Claims (1)
- 【請求項1】 流量計測値を温度検出手段及び圧力検出
手段により検出された温度及び圧力に基づいて基準温度
及び基準圧力における流量値に補正する流量補正装置に
おいて、 前記温度検出手段及び圧力検出手段によるサンプリング
時間を任意に設定するサンプリング時間設定手段を備え
てなることを特徴とする流量補正装置。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP22639095A JPH0972771A (ja) | 1995-09-04 | 1995-09-04 | 流量補正装置 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP22639095A JPH0972771A (ja) | 1995-09-04 | 1995-09-04 | 流量補正装置 |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPH0972771A true JPH0972771A (ja) | 1997-03-18 |
Family
ID=16844381
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP22639095A Pending JPH0972771A (ja) | 1995-09-04 | 1995-09-04 | 流量補正装置 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JPH0972771A (ja) |
Cited By (3)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2001241990A (ja) * | 2000-03-02 | 2001-09-07 | Kimmon Mfg Co Ltd | 流量測定装置 |
JP2010085302A (ja) * | 2008-10-01 | 2010-04-15 | Yamatake Corp | 流量計 |
JP2014071006A (ja) * | 2012-09-28 | 2014-04-21 | Tokiko Techno Kk | 流量補正装置 |
-
1995
- 1995-09-04 JP JP22639095A patent/JPH0972771A/ja active Pending
Cited By (4)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2001241990A (ja) * | 2000-03-02 | 2001-09-07 | Kimmon Mfg Co Ltd | 流量測定装置 |
JP4531909B2 (ja) * | 2000-03-02 | 2010-08-25 | 株式会社金門製作所 | 流量測定装置 |
JP2010085302A (ja) * | 2008-10-01 | 2010-04-15 | Yamatake Corp | 流量計 |
JP2014071006A (ja) * | 2012-09-28 | 2014-04-21 | Tokiko Techno Kk | 流量補正装置 |
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