JPH0951156A - Formation of solder resist in printed wiring board - Google Patents

Formation of solder resist in printed wiring board

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JPH0951156A
JPH0951156A JP20102595A JP20102595A JPH0951156A JP H0951156 A JPH0951156 A JP H0951156A JP 20102595 A JP20102595 A JP 20102595A JP 20102595 A JP20102595 A JP 20102595A JP H0951156 A JPH0951156 A JP H0951156A
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JP
Japan
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solder resist
printed wiring
wiring board
forming
treatment
Prior art date
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Application number
JP20102595A
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Japanese (ja)
Inventor
Yasuhiro Watanabe
泰裕 渡辺
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Ibiden Co Ltd
Original Assignee
Ibiden Co Ltd
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Publication date
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Abstract

PROBLEM TO BE SOLVED: To provide the forming method of the solder resist in a printed wiring board, which can positively prevent the migration caused by the residue of ions on the back covered solder resist. SOLUTION: Resin 7 for forming a solder resist is applied on a substrate 3, on both surfaces of which conductor patterns 6 are formed. The applied resin 7 is exposed, developed and hardened, and the solder resist 2 is formed. At this time, ion removing processing for removing the residue of ions in the surface layer of the resin 7 is performed after the developing process.

Description

【発明の詳細な説明】Detailed Description of the Invention

【0001】[0001]

【発明の属する技術分野】本発明は、プリント配線板に
おけるソルダーレジストの形成方法に関するものであ
る。
BACKGROUND OF THE INVENTION 1. Field of the Invention The present invention relates to a method for forming a solder resist on a printed wiring board.

【0002】[0002]

【従来の技術】従来、プリント配線板の導体パターンを
湿気等から保護するため1つの方法として、ソルダーレ
ジストでその導体パターンを被覆するということが通常
よく行われている。ここで、ソルダーレジストを形成す
る一般的な手順について簡単に説明する。
2. Description of the Related Art Conventionally, as one method for protecting a conductor pattern of a printed wiring board from moisture and the like, it is usually common to coat the conductor pattern with a solder resist. Here, a general procedure for forming the solder resist will be briefly described.

【0003】まず、両面に導体パターンが形成された基
板を作製し、その基板の両面にソルダーレジスト形成用
の感光性樹脂を塗布する。次いで、塗布された樹脂を露
光機を用いて部分的に露光する。そして、露光された樹
脂を炭酸ナトリウム水溶液等の現像液を用いて現像した
後に、熱や光によって硬化させる。その結果、導体パタ
ーンを被覆する所望のソルダーレジストを得ることがで
きる。
First, a substrate having conductor patterns formed on both sides is prepared, and a photosensitive resin for forming a solder resist is applied to both sides of the substrate. Next, the applied resin is partially exposed using an exposure device. Then, the exposed resin is developed with a developing solution such as an aqueous solution of sodium carbonate, and then cured by heat or light. As a result, a desired solder resist that covers the conductor pattern can be obtained.

【0004】[0004]

【発明が解決しようとする課題】ところが、プリント配
線板を構成する基板が薄いような場合、樹脂の両面塗布
工程の後に露光工程を行うと、どうしても光が反対側面
まで透過してしまう。そして、この場合には反対側面の
樹脂にもある程度重合が起こり、いわゆるソルダーレジ
ストの裏かぶりが発生してしまう。また、裏かぶりとは
裏から光が当たることにより発生する現象のため光硬化
が充分ではなく、よってその部分には現像液中のNa+
イオンが残存しやすくなる。そして、このNa+ イオン
の残存が導体パターン間のマイグレーションを引き起こ
し、プリント配線板の絶縁信頼性を低下させてしまう。
However, when the substrate forming the printed wiring board is thin, if the exposure step is performed after the resin double-sided coating step, light will inevitably pass through to the opposite side surface. In this case, the resin on the opposite side is also polymerized to some extent, and so-called backside fogging of the solder resist occurs. In addition, backfogging is a phenomenon that occurs when light is applied from the backside, so photocuring is not sufficient, so that Na + in the developer is
Ions tend to remain. Then, the remaining Na + ions cause migration between the conductor patterns, which deteriorates the insulation reliability of the printed wiring board.

【0005】本発明は上記の課題を解決するためなされ
たものであり、その目的は、裏かぶりしたソルダーレジ
スト上へのイオンの残存に起因するマイグレーションを
確実に防止することができるプリント配線板におけるソ
ルダーレジスト形成方法を提供することにある。
The present invention has been made to solve the above problems, and an object of the present invention is to provide a printed wiring board capable of reliably preventing migration due to residual ions on the back-covered solder resist. It is to provide a method for forming a solder resist.

【0006】[0006]

【課題を解決するための手段】上記の課題を解決するた
めに、請求項1に記載の発明は、両面に導体パターンが
形成された基板にソルダーレジスト形成用の樹脂層を形
成する工程と、前記形成された樹脂層を露光、現像し、
硬化することにより所望のパターンを形成する工程とか
らなるプリント配線板におけるソルダーレジストの形成
方法において、前記樹脂の表層にあるイオン残渣を除去
するためのイオン除去処理を前記現像後に実施すること
を特徴としたプリント配線板におけるソルダーレジスト
の形成方法をその要旨とする。
In order to solve the above-mentioned problems, the invention according to claim 1 comprises a step of forming a resin layer for forming a solder resist on a substrate having conductor patterns formed on both sides, Exposing and developing the formed resin layer,
In a method for forming a solder resist in a printed wiring board, which comprises a step of forming a desired pattern by curing, an ion removal treatment for removing an ion residue on the surface layer of the resin is performed after the development. The method of forming a solder resist on a printed wiring board is described below.

【0007】請求項2に記載の発明は、請求項1におい
て、前記イオン除去処理を前記硬化前に実施することと
した。請求項3に記載の発明は、請求項1または2にお
いて、前記イオン除去処理は酸性の水溶液を用いた中和
処理であるとした。
According to a second aspect of the present invention, in the first aspect, the ion removing process is performed before the curing. According to the invention described in claim 3, in claim 1 or 2, the ion removal treatment is a neutralization treatment using an acidic aqueous solution.

【0008】請求項4に記載の発明は、請求項1または
2において、前記現像液は炭酸ナトリウム水溶液であ
り、前記イオン除去処理は塩酸水溶液を用いた中和処理
であるとした。
According to a fourth aspect of the present invention, in the first or second aspect, the developing solution is a sodium carbonate aqueous solution, and the ion removing treatment is a neutralizing treatment using a hydrochloric acid aqueous solution.

【0009】請求項5に記載の発明は、請求項4におい
て、前記塩酸水溶液の処理濃度は3重量%〜6重量%で
あるとした。以下、本発明の「作用」について説明す
る。
According to a fifth aspect of the present invention, in the fourth aspect, the treatment concentration of the hydrochloric acid aqueous solution is 3% by weight to 6% by weight. Hereinafter, the "action" of the present invention will be described.

【0010】請求項1〜5に記載の発明によると、前記
イオン除去処理によって、樹脂表層にあったイオンが除
去される。請求項2に記載の発明によると、硬化を経る
ことによって樹脂にイオンが強固に結合する前にイオン
除去処理が行われることから、イオンがより確実に除去
される。
According to the first to fifth aspects of the present invention, the ions removed from the resin surface layer are removed by the ion removal treatment. According to the second aspect of the present invention, since the ion removal treatment is performed before the ions are firmly bound to the resin by being cured, the ions are removed more reliably.

【0011】請求項3に記載の発明によると、イオン除
去処理が中和処理であるため、例えば中性の液を用いた
リンス処理等に比べてより確実にイオンが除去される。
請求項5に記載の発明によると、かかる範囲内であると
過不足ない中和反応を達成することができるため、確実
にイオン除去を図ることができる。即ち、この処理濃度
が低すぎると裏かぶり部にNa+ イオンが残ってしま
う。
According to the third aspect of the present invention, since the ion removing treatment is a neutralizing treatment, the ions are more surely removed as compared with, for example, a rinse treatment using a neutral liquid.
According to the invention as set forth in claim 5, the neutralization reaction can be achieved without excess or deficiency within this range, so that ions can be reliably removed. That is, if the treatment concentration is too low, Na + ions will remain in the back cover.

【0012】[0012]

【発明の実施の形態】以下、本発明を具体化したプリン
ト配線板1におけるソルダーレジスト2の形成方法の実
施の形態を図1〜図3に基づき詳細に説明する。
BEST MODE FOR CARRYING OUT THE INVENTION Embodiments of a method for forming a solder resist 2 in a printed wiring board 1 embodying the present invention will be described in detail below with reference to FIGS.

【0013】まず、図1(a)に示されるように、絶縁
性の基板3の両面に銅箔4が貼着されてなる銅張積層板
5をプリント配線板1の出発材料として用意する。次
に、図1(b)に示されるように、従来公知のサブトラ
クティブプロセスに従って、両面の銅箔4のエッチング
を行う。その結果、基板3の両側に所定形状の導体パタ
ーン6を形成する。
First, as shown in FIG. 1A, a copper clad laminate 5 having copper foils 4 attached to both surfaces of an insulating substrate 3 is prepared as a starting material for the printed wiring board 1. Next, as shown in FIG. 1B, the copper foils 4 on both sides are etched according to a conventionally known subtractive process. As a result, the conductor pattern 6 having a predetermined shape is formed on both sides of the substrate 3.

【0014】次に、図1(c)に示されるように、基板
3の両面にソルダーレジスト形成用の感光性樹脂7を全
体的に塗布する。なお、本実施の形態において使用され
るソルダーレジスト形成用の感光性樹脂7は水溶性のも
のである。次いで、塗布された樹脂7に対して両面同時
露光機を用いて紫外線を照射し、樹脂7を部分的に露光
する。このとき、光が照射された部分の樹脂7に重合が
起こる。
Next, as shown in FIG. 1C, a photosensitive resin 7 for forming a solder resist is entirely applied to both surfaces of the substrate 3. The photosensitive resin 7 for forming the solder resist used in this embodiment is water-soluble. Next, the applied resin 7 is irradiated with ultraviolet rays using a double-sided simultaneous exposure machine to partially expose the resin 7. At this time, polymerization occurs in the resin 7 in the portion irradiated with light.

【0015】次に、露光された樹脂7をイオンを含む現
像液を用いて現像し、未露光部分の樹脂7を基板3から
除去する。ここでいう現像液は低濃度のアルカリ性水溶
液であり、具体的には例えば1重量%〜3重量%の炭酸
ナトリウム(Na2 CO3 )水溶液、炭酸カリウム(K
2 CO3 )水溶液、りん酸ナトリウム(Na3 PO3
水溶液、りん酸カリウム(K3 PO3 )水溶液、酢酸ナ
トリウム(CH3 COONa)水溶液、硝酸ナトリウム
(NaNO3 )水溶液等である。つまり、この現像液中
にはNa+ イオン(またはK+ イオン)が含まれてい
る。
Next, the exposed resin 7 is developed with a developer containing ions to remove the resin 7 in the unexposed portion from the substrate 3. The developer as used herein is a low-concentration alkaline aqueous solution, and specifically, for example, 1 wt% to 3 wt% sodium carbonate (Na 2 CO 3 ) aqueous solution, potassium carbonate (K
2 CO 3 ) aqueous solution, sodium phosphate (Na 3 PO 3 ).
An aqueous solution, a potassium phosphate (K 3 PO 3 ) aqueous solution, a sodium acetate (CH 3 COONa) aqueous solution, a sodium nitrate (NaNO 3 ) aqueous solution, and the like. That is, this developer contains Na + ions (or K + ions).

【0016】図1(d)には、露光工程後における基板
3の様子が示されている。この基板3の下面側は、重合
した樹脂7によって被覆されている。また、基板3の上
面側には、下面側から透過した光の作用による樹脂7の
重合によって、いわゆる裏かぶり部U1 が発生してい
る。裏かぶり部U1 は、導体パターン6間のスペースに
おいて薄く形成される。そして、図2に示されるよう
に、裏かぶり部U1 の表層には充分に架橋されていない
官能基が存在しており、その部分にNa+ イオン等が結
合している。
FIG. 1D shows the state of the substrate 3 after the exposure process. The lower surface side of the substrate 3 is covered with the polymerized resin 7. Further, on the upper surface side of the substrate 3, what is called a back covering portion U1 is generated by the polymerization of the resin 7 by the action of the light transmitted from the lower surface side. The back cover U1 is thinly formed in the space between the conductor patterns 6. As shown in FIG. 2, the surface layer of the back cover U1 has a functional group that is not sufficiently crosslinked, and Na + ions or the like are bonded to the functional group.

【0017】次に、樹脂7の表層にあるイオン残渣を除
去するためのイオン除去処理を実施する。本実施の形態
では、除去されるべきイオンがNa+ イオンであること
から、イオン除去処理は酸性水溶液を用いた中和処理が
実施される。中和処理であると、単なる中性の液を用い
たリンス等に比べてより確実にイオンを除去することが
できるからである。具体的には、酸性水溶液として塩酸
水溶液を使用し、その塩酸水溶液を満たした槽の中に基
板3を所定時間ディップすることとしている。なお、塩
酸を選択した理由は、Na+ の除去に最も適していると
思われるからである。ここで、前記塩酸水溶液の処理濃
度は3重量%〜6重量%であることが好ましい。かかる
範囲内であると過不足ない中和反応を達成することがで
きるため、確実なイオン除去を図ることができるためで
ある。この濃度が低すぎると、裏かぶり部U1 にNa+
イオンが残ってしまう。逆にこの濃度が高すぎると、プ
リント配線板1を構成する他の部分に悪影響を与えた
り、処理時間や処理温度の制御が難しくなる等の不都合
がある。
Next, an ion removing process for removing ion residues on the surface layer of the resin 7 is carried out. In the present embodiment, since the ions to be removed are Na + ions, the ion removal process is a neutralization process using an acidic aqueous solution. This is because the neutralization treatment makes it possible to remove the ions more reliably than with a rinse or the like using a simple neutral liquid. Specifically, a hydrochloric acid aqueous solution is used as the acidic aqueous solution, and the substrate 3 is dipped in a tank filled with the hydrochloric acid aqueous solution for a predetermined time. The reason for selecting hydrochloric acid is that it seems to be most suitable for removing Na + . Here, the treatment concentration of the hydrochloric acid aqueous solution is preferably 3% by weight to 6% by weight. This is because if it is within such a range, it is possible to achieve a neutralization reaction that is sufficient and sufficient, so that reliable ion removal can be achieved. If this concentration is too low, Na + may be added to the back cover U1.
Ions will remain. On the other hand, if the concentration is too high, there are disadvantages that other parts of the printed wiring board 1 are adversely affected, and it becomes difficult to control the processing time and the processing temperature.

【0018】また、塩酸水溶液は常温で0.5分間〜1
分間処理されることが好ましい。塩酸水溶液の温度が低
すぎると、処理速度が遅くなるため処理時間を長く設定
する必要があり、生産性が悪くなる。逆にこの温度が高
すぎると、プリント配線板1を構成する他の部分に悪影
響を与えるおそれがでてくる。また、塩酸水溶液の処理
時間が短すぎると、条件によってはNa+ イオンが完全
に除去されなくなるおそれがある。逆に処理時間が長す
ぎると、Na+ イオンが完全に除去されるものの、生産
性が悪くなる。
The hydrochloric acid aqueous solution is at room temperature for 0.5 minutes to 1
It is preferably treated for minutes. If the temperature of the aqueous hydrochloric acid solution is too low, the processing speed becomes slower, so that it is necessary to set the processing time longer and the productivity becomes worse. On the contrary, if this temperature is too high, it may adversely affect other parts of the printed wiring board 1. If the treatment time of the hydrochloric acid aqueous solution is too short, Na + ions may not be completely removed depending on the conditions. On the contrary, if the treatment time is too long, the Na + ions are completely removed, but the productivity is deteriorated.

【0019】以上の処理を行うと、図3に示されるよう
に、裏かぶり部U1 の表層からNa + イオンが確実に除
去される。最後に、現像された樹脂7を硬化させること
によって、図1(e)に示されるようにソルダーレジス
ト2を得ることができる。プリント配線板1は以上の工
程を経て完成する。
When the above processing is performed, as shown in FIG.
And Na from the surface of the back cover U1 +Ions are surely removed
Left. Finally, to cure the developed resin 7.
As shown in FIG. 1 (e), the solder resist
You can get the second. Printed wiring board 1 is above
Completed after a while.

【0020】さて、本実施の形態におけるソルダーレジ
スト2に形成方法では、イオン除去処理によって、樹脂
7の表層に残存していたNa+ イオンが除去される。こ
のため、マイグレーションが確実に防止され、絶縁信頼
性に優れたプリント配線板1を得ることができる。特
に、本実施の形態によると、硬化処理を経ることによっ
て樹脂7にNa+ イオンが強固に結合する前にイオン除
去処理が行われることから、Na+ イオンがより確実に
除去されるという利点がある。
In the method for forming the solder resist 2 in the present embodiment, Na + ions remaining on the surface layer of the resin 7 are removed by the ion removal treatment. Therefore, migration can be reliably prevented, and the printed wiring board 1 having excellent insulation reliability can be obtained. In particular, according to the present embodiment, since the ion removal treatment is performed before the Na + ions are firmly bound to the resin 7 through the curing treatment, there is an advantage that the Na + ions are more reliably removed. is there.

【0021】[0021]

【実施例】以下、現像液として1重量%〜2重量%の炭
酸ナトリウム水溶液を使用したときのイオン除去処理に
ついて比較試験を行った結果を表1に示す。試験区1〜
10は実施例であり、試験区11,12はそれらに対す
る比較例である。即ち、試験区12では、単なる水を用
いてイオン除去処理を行っている。なお、この試験で
は、処理後に裏かぶり部U1 に対するEPMAを行い、
単位面積当たりのNa + イオンの付着量を測定した。そ
して、この測定値を評価において考慮した。また、ソル
ダーレジスト2が浸食されているかいないかについて
は、目視による外観検査を実施した。
EXAMPLE 1% by weight to 2% by weight of charcoal was used as a developing solution.
For ion removal treatment when using sodium acid aqueous solution
Table 1 shows the results of a comparative test. Test area 1
10 is an example, and test plots 11 and 12 correspond to them.
This is a comparative example. That is, in the test area 12, just water is used.
The ion removal process. In addition, in this test
Performs EPMA on the back cover U1 after processing,
Na per unit area +The amount of attached ions was measured. So
Then, this measured value was considered in the evaluation. Also sol
Regarding whether or not the dar resist 2 is eroded
Was visually inspected.

【0022】[0022]

【表1】 なお、本発明は例えば次のように変更することが可能で
ある。 (1)前記実施の形態のようなアルカリ性の現像液を使
用した場合には、前記塩酸水溶液以外にも、例えば硫
酸、硝酸、炭酸、りん酸、ほう酸、酢酸等の水溶液を選
択することも可能である。
[Table 1] The present invention can be modified as follows, for example. (1) When the alkaline developer as in the above embodiment is used, an aqueous solution of, for example, sulfuric acid, nitric acid, carbonic acid, phosphoric acid, boric acid, acetic acid or the like can be selected in addition to the hydrochloric acid aqueous solution. Is.

【0023】(2)前記イオン除去処理は前記実施の形
態のようなディップ処理でなくてもよく、例えばスプレ
ー処理等であってもよい。 (3)中和処理以外の方法でイオン除去処理を行っても
よく、例えば物理的な研磨等により裏かぶり部U1 自体
を基板3から研磨することなどが考えられる。ただし、
上述した中和処理のほうが実施が容易であり、かつ得ら
れる効果も高いという利点がある。
(2) The ion removing treatment is not limited to the dipping treatment as in the above embodiment, and may be, for example, a spraying treatment. (3) The ion removal treatment may be performed by a method other than the neutralization treatment. For example, it is conceivable to polish the back cover portion U1 itself from the substrate 3 by physical polishing or the like. However,
The neutralization treatment described above has the advantages that it is easier to carry out and that the obtained effect is higher.

【0024】ここで、特許請求の範囲に記載された技術
的思想のほかに、前述した実施例及び別例によって把握
される技術的思想をその効果とともに以下に列挙する。 (1) 請求項4,5において、前記塩酸水溶液は常温
で0.5分間〜1分間処理されること。この方法である
と、より確実にマイグレーションを防止することができ
る。
Here, in addition to the technical ideas described in the claims, the technical ideas grasped by the above-described embodiments and other examples will be listed below together with their effects. (1) In Claims 4 and 5, the hydrochloric acid aqueous solution is treated at room temperature for 0.5 minutes to 1 minute. With this method, migration can be prevented more reliably.

【0025】なお、本明細書中において使用した技術用
語を次のように定義する。 「マイグレーション: 電気化学反応に基づき導体金属
が溶解し、導体間を短絡させ絶縁破壊に到る現象をい
う。」
The technical terms used in this specification are defined as follows. "Migration: A phenomenon in which the conductor metal dissolves due to an electrochemical reaction, causing a short circuit between the conductors and dielectric breakdown."

【0026】[0026]

【発明の効果】以上詳述したように、請求項1〜5に記
載の発明によれば、裏かぶりしたソルダーレジスト上へ
のイオンの残存に起因するマイグレーションを確実に防
止することができるプリント配線板におけるソルダーレ
ジスト形成方法を提供することができる。請求項2,3
に記載の発明によれば、より確実にマイグレーションを
確実に防止することができる。請求項5に記載の発明に
よれば、さらに確実にマイグレーションを確実に防止す
ることができる。
As described above in detail, according to the inventions described in claims 1 to 5, the printed wiring can surely prevent the migration due to the residual of the ions on the back-covered solder resist. A method for forming a solder resist on a plate can be provided. Claims 2 and 3
According to the invention described in (3), the migration can be more surely prevented. According to the invention described in claim 5, migration can be more surely prevented.

【図面の簡単な説明】[Brief description of drawings]

【図1】(a)〜(e)は、実施の形態のプリント配線
板におけるソルダーレジストの形成方法を説明するため
の部分拡大断面図である。
1A to 1E are partially enlarged cross-sectional views for explaining a method for forming a solder resist in a printed wiring board according to an embodiment.

【図2】裏かぶり部の拡大概略断面図。FIG. 2 is an enlarged schematic sectional view of a back cover portion.

【図3】裏かぶり部の拡大概略断面図。FIG. 3 is an enlarged schematic sectional view of a back cover portion.

【符号の説明】[Explanation of symbols]

1…プリント配線板、2…ソルダーレジスト、3…基
板、6…導体パターン、7…ソルダーレジスト形成用の
樹脂。
1 ... Printed wiring board, 2 ... Solder resist, 3 ... Substrate, 6 ... Conductor pattern, 7 ... Resin for forming solder resist.

Claims (5)

【特許請求の範囲】[Claims] 【請求項1】両面に導体パターンが形成された基板にソ
ルダーレジスト形成用の樹脂層を形成する工程と、前記
形成された樹脂層を露光、現像し、硬化することにより
所望のパターンを形成する工程とからなるプリント配線
板におけるソルダーレジストの形成方法において、 前記樹脂の表層にあるイオン残渣を除去するためのイオ
ン除去処理を前記現像後に実施することを特徴としたプ
リント配線板におけるソルダーレジストの形成方法。
1. A step of forming a resin layer for forming a solder resist on a substrate having conductor patterns formed on both sides thereof, and a desired pattern is formed by exposing, developing and curing the formed resin layer. A method of forming a solder resist in a printed wiring board, the method comprising the steps of: performing an ion removal treatment for removing ion residues on the surface layer of the resin after the development. Method.
【請求項2】前記イオン除去処理を前記硬化前に実施す
る請求項1に記載のプリント配線板におけるソルダーレ
ジストの形成方法。
2. The method for forming a solder resist in a printed wiring board according to claim 1, wherein the ion removal treatment is performed before the curing.
【請求項3】前記イオン除去処理は酸性の水溶液を用い
た中和処理である請求項1または2に記載のプリント配
線板におけるソルダーレジストの形成方法。
3. The method for forming a solder resist in a printed wiring board according to claim 1, wherein the ion removal treatment is a neutralization treatment using an acidic aqueous solution.
【請求項4】前記現像液は炭酸ナトリウム水溶液であ
り、前記イオン除去処理は塩酸水溶液を用いた中和処理
である請求項1または2に記載のプリント配線板におけ
るソルダーレジストの形成方法。
4. The method for forming a solder resist in a printed wiring board according to claim 1, wherein the developing solution is a sodium carbonate aqueous solution, and the ion removing treatment is a neutralizing treatment using a hydrochloric acid aqueous solution.
【請求項5】前記塩酸水溶液の処理濃度は3重量%〜6
重量%である請求項4に記載のプリント配線板における
ソルダーレジストの形成方法。
5. The treatment concentration of the hydrochloric acid aqueous solution is 3% by weight to 6%.
The method for forming a solder resist in a printed wiring board according to claim 4, wherein the amount is% by weight.
JP20102595A 1995-08-07 1995-08-07 Formation of solder resist in printed wiring board Pending JPH0951156A (en)

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Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
KR100340432B1 (en) * 2000-08-31 2002-06-12 이형도 A method for developing photo solder resist of bga board
JP2012216588A (en) * 2011-03-31 2012-11-08 Taiyo Holdings Co Ltd Solder resist layer, formation method of the same, print circuit board having solder resist layers, manufacturing method of the same and print circuit board manufactured by using the method

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