JPH09292377A - Array probe recognizer for ultrasonic inspecting apparatus - Google Patents

Array probe recognizer for ultrasonic inspecting apparatus

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Publication number
JPH09292377A
JPH09292377A JP8105479A JP10547996A JPH09292377A JP H09292377 A JPH09292377 A JP H09292377A JP 8105479 A JP8105479 A JP 8105479A JP 10547996 A JP10547996 A JP 10547996A JP H09292377 A JPH09292377 A JP H09292377A
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JP
Japan
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array
connector
terminal
probe
array probe
Prior art date
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Application number
JP8105479A
Other languages
Japanese (ja)
Inventor
Akihiro Kanetani
章宏 金谷
Akito Kozuru
章人 小鶴
Hajime Watanabe
肇 渡邉
Hiroyuki Hayakawa
弘之 早川
Yoshihiko Takishita
芳彦 瀧下
Hirotoshi Kino
裕敏 木野
Yoshio Akutsu
義夫 阿久津
Tadatoshi Shimamura
忠利 島村
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Kyushu Electric Power Co Inc
Original Assignee
Kyushu Electric Power Co Inc
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Publication date
Application filed by Kyushu Electric Power Co Inc filed Critical Kyushu Electric Power Co Inc
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  • Investigating Or Analyzing Materials By The Use Of Ultrasonic Waves (AREA)
  • Ultra Sonic Daignosis Equipment (AREA)

Abstract

PROBLEM TO BE SOLVED: To provide an array probe recognizer of an ultrasonic inspecting instrument which easily and accurately achieves recognition of the type of the array probe used. SOLUTION: An array probe 20 comprises array elements T1 -T64 , and a body side transmitting/receiving circuit 310 comprises pulser receiver circuits P1 -P65 . A connector 50 has terminals KT1 -KT65 and is connected to the respective array elements T1 -T64 , excluding one terminal KT2 . A body side connector 300 has terminals KP1 -KP65 , corresponding to the terminals KT1 -KT65 and is connected to the pulser receives P1 -P65 . One terminal KT2 is selected from among the terminals of the connector 50 to judge the type of the array probes involved. The pulser receiver circuits P1 -P65 are operated sequentially to judge the type of that array probe from the pulser receiver P2 receiving no signal.

Description

【発明の詳細な説明】Detailed Description of the Invention

【0001】[0001]

【産業上の利用分野】本発明は、超音波検査装置に用い
られているアレイプローブの種類を認識するための超音
波検査装置のアレイプローブ認識装置に関する。
BACKGROUND OF THE INVENTION 1. Field of the Invention The present invention relates to an array probe recognizing device of an ultrasonic inspection device for recognizing the type of array probe used in the ultrasonic inspection device.

【0002】[0002]

【従来の技術】超音波ビームを用いた検査は、工業、医
療等、多くの分野で使用されている。特に、圧電体を超
音波アレイ素子(以下、単にアレイ素子という)として
用い、これらアレイ素子を多数所定方向に配列して構成
されるアレイプローブによる超音波検査は、当該アレイ
プローブのアレイ素子配列方向の超音波走査を電子的に
行なうことができるので、迅速な検査が可能である。即
ち、複数の隣接するアレイ素子を選択し、これらをそれ
ぞれ所定の時間遅延させて励振させると、その遅延の態
様に応じた超音波ビームを発生させることができる。そ
こで、複数のアレイ素子の選択を1つずつずらせてゆ
き、各選択毎に上記の遅延の態様でアレイ素子を励振さ
せると、発生した超音波ビームはアレイ素子の配列方向
に順次移動してゆくことになり、結局、超音波ビームに
よる走査が行われることになる。上記の各選択は電子的
に行われるので、走査速度は機械的な走査に比較しては
るかに早くなる。
2. Description of the Related Art Inspection using an ultrasonic beam is used in many fields such as industrial and medical fields. In particular, ultrasonic inspection using an array probe configured by arraying a large number of array elements in a predetermined direction using a piezoelectric body as an ultrasonic array element (hereinafter simply referred to as array element) is performed in the array element array direction of the array probe. Since ultrasonic scanning can be performed electronically, rapid inspection is possible. That is, when a plurality of adjacent array elements are selected and each is delayed by a predetermined time for excitation, an ultrasonic beam according to the mode of the delay can be generated. Therefore, when the array elements are selected one by one and the array elements are excited in the above-described delay mode for each selection, the generated ultrasonic beam sequentially moves in the array element array direction. As a result, the scanning with the ultrasonic beam is eventually performed. Since each of the above selections is made electronically, the scanning speed is much faster compared to mechanical scanning.

【0003】図3は超音波検査装置の斜視図である。こ
の図で、1は超音波検査の対象となる被検体、2は上記
アレイプローブ、3はマイクロコンピュータを用いて構
成される本体(後述する)を示す。4はアレイプローブ
2と本体3とを接続するプローブケーブル、5はプロー
ブケーブル4を本体3に接続するコネクタである。プロ
ーブケーブル4は通常1〜3mの同軸ケーブルが用いら
れる。
FIG. 3 is a perspective view of the ultrasonic inspection apparatus. In this figure, 1 is a subject to be subjected to ultrasonic examination, 2 is the above-mentioned array probe, and 3 is a main body (described later) configured by using a microcomputer. Reference numeral 4 is a probe cable for connecting the array probe 2 and the main body 3, and 5 is a connector for connecting the probe cable 4 to the main body 3. As the probe cable 4, a coaxial cable of 1 to 3 m is usually used.

【0004】図4は図3に示す本体3の内部構成のブロ
ック図である。この図で、31はプローブ2とプローブ
ケーブル4を介して接続される送受信回路、32は送受
信回路31で受信した超音波信号を処理する画像処理回
路、33はマイクロコンピュータの中央処理ユニット
(CPU)、34は画像処理回路32で処理されたデー
タに基づいて超音波像を表示するモニタ、35は各種指
令や数値をマイクロコンピュータへ入力するキーボード
である。
FIG. 4 is a block diagram of the internal structure of the main body 3 shown in FIG. In this figure, 31 is a transmission / reception circuit connected to the probe 2 via the probe cable 4, 32 is an image processing circuit for processing ultrasonic signals received by the transmission / reception circuit 31, and 33 is a central processing unit (CPU) of a microcomputer. , 34 is a monitor for displaying an ultrasonic image based on the data processed by the image processing circuit 32, and 35 is a keyboard for inputting various commands and numerical values to a microcomputer.

【0005】図5は図4に示すアレイプローブと送受信
回路の詳細を示す図である。この図で、2はアレイプロ
ーブ、5はコネクタ、31は送受信回路を示し、図4に
示すものと同じである。30は本体3に設けられてコネ
クタ5を着脱自在に接続するコネクタを示す。アレイプ
ローブ2は多数のアレイ素子(図では64個)T1 〜T
64で構成され、かつ、送受信回路31は上記アレイ素子
と同一数のパルサレシーバ回路P1 〜P64で構成されて
いる。コネクタ5は所定の位置に配置された端子KT1
T64 で構成され、コネクタ30はコネクタ5の各端子
T1〜KT64 と対応する位置に配置された端子KP1〜K
P64 で構成されている。コネクタ5とコネクタ30とが
連結されたときに、コネクタ5の端子KT1とコネクタ3
0の端子KP1とがオス、メスの関係で結合接続され、同
様に、端子KT2と端子KP2、端子KT3と端子KP3、……
……、端子KT63 と端子KP63 、端子KT64 と端子K
P64が結合接続される。
FIG. 5 is a diagram showing details of the array probe and the transmission / reception circuit shown in FIG. In this figure, 2 is an array probe, 5 is a connector, and 31 is a transmitting / receiving circuit, which is the same as that shown in FIG. Reference numeral 30 denotes a connector which is provided on the main body 3 and which detachably connects the connector 5. The array probe 2 has a large number of array elements (64 in the figure) T 1 to T.
64 , and the transmission / reception circuit 31 is composed of the same number of pulser receiver circuits P 1 to P 64 as the array elements. The connector 5 has terminals K T1 ...
The connector 30 is composed of K T64 , and the connector 30 has terminals K P1 to K P1 arranged at positions corresponding to the respective terminals K T1 to K T64 of the connector 5.
It consists of P64 . When the connector 5 and the connector 30 are connected, the terminal K T1 of the connector 5 and the connector 3
The terminal K P1 of 0 is coupled and connected in a male and female relationship, and similarly, the terminals K T2 and K P2 , the terminals K T3 and K P3 , ...
..., terminal K T63 and terminal K P63 , terminal K T64 and terminal K
P64 is connected and connected.

【0006】コネクタ5およびコネクタ30の各端子の
上記の構成から、コネクタ5とコネクタ30とが連結さ
れたとき、各アレイ素子T1 〜T64と各パルサレシーバ
回路P1 〜P64とは対応するものどうしがコネクタ5、
30を介して接続される。即ち、アレイ素子T1 とパル
サレシーバ回路P1 、アレイ素子T2 とパルサレシーバ
回路P2 、アレイ素子T3 とパルサレシーバ回路P3
………………、アレイ素子T63とパルサレシーバ回路P
63、アレイ素子T64とパルサレシーバ回路P64がそれぞ
れ接続される。接続されたアレイ素子とパルサレシーバ
回路とで1つのチャネルが構成される。図示の場合、こ
の超音波検査装置は64のチャネルを有する。
Due to the above-mentioned configuration of the terminals of the connector 5 and the connector 30, when the connector 5 and the connector 30 are connected, the array elements T 1 to T 64 and the pulser receiver circuits P 1 to P 64 correspond to each other. What you do is connector 5,
Connected via 30. That is, array element T 1 and pulser receiver circuit P 1 , array element T 2 and pulser receiver circuit P 2 , array element T 3 and pulser receiver circuit P 3 ,
……………… Array element T 63 and pulser receiver circuit P
63 , the array element T 64 and the pulser receiver circuit P 64 are connected to each other. The connected array element and the pulser receiver circuit form one channel. In the case shown, the ultrasound examination apparatus has 64 channels.

【0007】パルサレシーバ回路のパルサから、接続さ
れているアレイ素子へパルスが出力されると、アレイ素
子が励振して超音波を発生し、その反射波はアレイ素子
に戻って電気信号に変換され、パルサレシーバ回路のレ
シーバで受信される。実際の超音波検査においては、例
えば隣接するアレイ素子T1 〜T6 とそれらに接続され
たパルサレシーバ回路P1 〜P6 の6つのチャネルが選
択され、所定の遅延態様で各アレイ素子を励振させ、か
つ、その反射波を受信することにより1つの超音波ビー
ムの送受信が行われ、この送受信が終了すると選択する
チャネルを1つずらせて同一の動作を行い、これを繰り
返すことによりアレイ素子の配列方向の超音波ビームの
走査が行われる。
When a pulse is output from the pulser of the pulser receiver circuit to the connected array element, the array element is excited to generate ultrasonic waves, and the reflected wave returns to the array element and is converted into an electric signal. , Received by the pulser receiver circuit receiver. In actual ultrasonic inspection, for example, six channels of adjacent array elements T 1 to T 6 and pulser receiver circuits P 1 to P 6 connected to them are selected, and each array element is excited in a predetermined delay mode. Then, one ultrasonic beam is transmitted / received by receiving the reflected wave, and when this transmission / reception is completed, the selected channel is shifted by one and the same operation is performed. By repeating this, the array element Ultrasonic beam scanning in the array direction is performed.

【0008】[0008]

【発明が解決しようとする課題】アレイプローブには、
例えば、各アレイ素子の配列ピッチ、アレイ素子列の配
列位置(配列角度)、使用周波数等がそれぞれ異なる種
々の種類がある。そして、これら各種のアレイプローブ
のうち、種々の検査条件に対して当該検査条件に最も適
した種類のアレイプローブが選択され、それが本体3に
接続されて超音波検査が行われることになる。この場
合、本体3の送受信回路31や画像処理回路32は、使
用されるアレイプローブに対応してその作動態様を変更
する必要がある。 例えば、アレイ素子の配列角度が異
なると、超音波ビームの進行方向が変わるので、超音波
の送受信時に、これに対応した遅延時間を各チャネルに
与え直す必要が生じ、送受信回路31内の図示されてい
ない記憶部に格納されている数値群の中から、該当する
配列角度のアレイプローブに対応した値を選択し、遅延
時間を設定し直すことになる。又、上述のように超音波
ビームの進行方向が変わることから、これに対応して、
画像処理回路32に配列するデータ群のアドレス配置を
変更する必要がある。このような変更も、画像処理回路
32内の図示されていない記憶部に格納されたアドレス
データ群の中から、このアレイプローブに対応した値を
選択し、アドレス配置を設定し直すことになる。なお、
例えば当該アドレス配置の再設定を行わなければ、モニ
タ34に表示される画像は正常な画像からある角度だけ
回転した画像となり、観察が困難になる。
The array probe is
For example, there are various types in which the array pitch of each array element, the array position (array angle) of the array element array, the operating frequency, and the like are different. Then, of these various array probes, the type of array probe most suitable for the various inspection conditions is selected, and connected to the main body 3 for ultrasonic inspection. In this case, the transmission / reception circuit 31 and the image processing circuit 32 of the main body 3 need to be changed in the operation mode according to the array probe used. For example, when the array angles of the array elements are different, the traveling direction of the ultrasonic beam is changed, so that it is necessary to re-apply a delay time corresponding to the ultrasonic wave to each channel when the ultrasonic wave is transmitted and received. The value corresponding to the array probe of the corresponding array angle is selected from the group of numerical values stored in the storage unit that is not stored, and the delay time is reset. Also, since the traveling direction of the ultrasonic beam changes as described above, in response to this,
It is necessary to change the address arrangement of the data group arranged in the image processing circuit 32. Even with such a change, a value corresponding to this array probe is selected from the address data group stored in the storage unit (not shown) in the image processing circuit 32, and the address arrangement is reset. In addition,
For example, if the address arrangement is not reset, the image displayed on the monitor 34 becomes an image rotated by a certain angle from the normal image, which makes observation difficult.

【0009】したがって、アレイプローブを交換した場
合には、キーボード35を用いてモニタ34上に「プロ
ーブ選択」画面を表示し、当該画面から、交換したプロ
ーブをキーボード35で選択し、CPU33は、各プロ
ーブ毎にそのプローブの動作を規定する数値や手順が格
納された図示されていない記憶部から選択されたプロー
ブの数値や手順を読み出し、これらに従って送受信回路
31と画像処理回路32を制御する。
Therefore, when the array probe is replaced, the "probe selection" screen is displayed on the monitor 34 by using the keyboard 35, the replaced probe is selected by the keyboard 35 from the screen, and the CPU 33 causes each Numerical values and procedures of the selected probe are read from a storage unit (not shown) in which numerical values and procedures that define the operation of the probe are stored for each probe, and the transmission / reception circuit 31 and the image processing circuit 32 are controlled according to these.

【0010】しかし、検査者がキーボード35を操作し
てモニタ34上に「プローブ選択」画面を表示し、当該
画面から、交換したプローブを再度キーボード35で選
択するには相応の時間を要するばかりでなく、「プロー
ブ選択」画面からのプローブの選択を誤ることがしばし
ばあり、これに気付かずに超音波検査を行って不明な又
は不当な検査結果を得るという問題があった。そして、
プローブの交換が頻繁な場合には、プローブ選択の処理
のため検査者の疲労が大きくなり、プローブ選択の誤り
も多くなる。
However, it takes a considerable amount of time for the inspector to operate the keyboard 35 to display the "probe selection" screen on the monitor 34 and select the replaced probe again from the screen with the keyboard 35. However, there is a problem in that the probe is often mistakenly selected from the “probe selection” screen, and the ultrasonic examination is carried out without noticing this to obtain an unknown or incorrect examination result. And
When the probe is replaced frequently, the fatigue of the inspector is increased due to the process of selecting the probe, and the error in selecting the probe is increased.

【0011】本発明の目的は、上記従来技術における課
題を解決し、使用するアレイプローブの種類を容易かつ
正確に認識することができる超音波検査装置のアレイプ
ローブ認識装置に関する。
An object of the present invention is to solve the above problems in the prior art and to an array probe recognizing device of an ultrasonic inspection device which can easily and accurately recognize the type of array probe to be used.

【0012】[0012]

【課題を解決するための手段】上記の目的を達成するた
め、本発明は、多数のアレイ素子を配列したアレイプロ
ーブを本体に接続して超音波検査を行う超音波検査装置
において、所定の順に配置され前記アレイ素子の数より
少なくとも1つ多い数の端子より成り、前記各アレイ素
子が前記アレイプローブの種類に応じて特定された端子
以外の所定の端子に接続されている第1のコネクタと、
前記本体側に固定され、前記第1のコネクタの各端子と
同数でこれら各端子の対応する端子と接続される各端子
を備え、これら各端子がそれぞれ対応する送受信回路の
パルサレシーバ回路に接続されている第2のコネクタと
を設けるとともに、前記第1のコネクタと前記第2のコ
ネクタとが接続されたとき前記各パルサレシーバ回路を
順次作動させて前記第1のコネクタの前記特定された端
子を検索する検索手段を設けたことを特徴とする。
In order to achieve the above object, the present invention provides an ultrasonic inspection apparatus for connecting an array probe having a large number of array elements to a main body to perform ultrasonic inspection in a predetermined order. A first connector which is arranged and has at least one more terminal than the number of array elements, each of the array elements being connected to a predetermined terminal other than the terminal specified according to the type of the array probe; ,
Each terminal is fixed to the main body side and has the same number as each terminal of the first connector and is connected to a corresponding terminal of each of these terminals, and each of these terminals is connected to a pulser receiver circuit of a corresponding transmitting / receiving circuit. And a second connector that is provided, and when the first connector and the second connector are connected, the pulser receiver circuits are sequentially operated to operate the specified terminal of the first connector. It is characterized in that a search means for searching is provided.

【0013】[0013]

【作用】各アレイプローブは、それぞれのアレイプロー
ブの種類を特定するために、それに接続されるコネクタ
の端子のうちの特定の端子を定め、この定められた端子
にはアレイ素子を接続しない。このような端子をもつ第
1のコネクタが本体側の第2のコネクタに連結される
と、上記特定の端子と結合する第2のコネクタの端子に
接続されている送受信回路のパルサレシーバ回路はアレ
イプローブのアレイ素子と接続されないことになる。こ
の状態で、検索手段は全てのパルサレシーバ回路を順に
作動させて、信号が受信されないパルサレシーバ回路を
検索し、この作動しないパルサレシーバ回路の番号から
接続されたアレイプローブの種類を認識し、そのアレイ
プローブに適合した動作を選択する。これにより、使用
するアレイプローブの種類を容易かつ正確に認識するこ
とができる。
In order to specify the type of each array probe, each array probe defines a specific terminal among the terminals of the connector connected to it, and the array element is not connected to this defined terminal. When the first connector having such a terminal is connected to the second connector on the main body side, the pulsar receiver circuit of the transmission / reception circuit connected to the terminal of the second connector coupled to the specific terminal is an array. It will not be connected to the array element of the probe. In this state, the search means sequentially operates all the pulsar receiver circuits, searches for a pulsar receiver circuit in which no signal is received, recognizes the type of the connected array probe from the number of the pulsar receiver circuit that does not operate, and Select the operation that is compatible with the array probe. This makes it possible to easily and accurately recognize the type of array probe to be used.

【0014】[0014]

【実施例】以下、本発明を図示の実施例に基づいて説明
する。図1は本発明の実施例に係る超音波検査装置のア
レイプローブ認識装置を構成するアレイプローブと送受
信回路の詳細を示す図である。この図で、20はアレイ
プローブ、50、300はそれぞれ、図5に示すコネク
タ5、30に相当するコネクタ、310は送受信回路を
示す。アレイプローブ20はアレイ素子T1 〜T64で構
成され、又、送受信回路310はパルサレシーバ回路P
1 〜P65で構成されている。コネクタ50は所定位置に
配置された端子KT1〜KT65 で構成され、本体側に固定
されるコネクタ300は、コネクタ50の各端子KT1
T65 と対応する位置に配置された端子KP1〜KP65
構成されている。コネクタ50とコネクタ300とが連
結されたとき、コネクタ50の端子KT1とコネクタ30
の端子KP1とがオス、メスの関係で結合接続され、同様
に、端子KT2と端子KP2、端子KT3と端子KP3、………
………、端子KT64 と端子KP64 、端子KT65 と端子K
P65 が結合接続される。
DESCRIPTION OF THE PREFERRED EMBODIMENTS The present invention will be described below with reference to the illustrated embodiments. FIG. 1 is a diagram showing details of an array probe and a transmission / reception circuit that constitute an array probe recognition device of an ultrasonic inspection apparatus according to an embodiment of the present invention. In this figure, 20 is an array probe, 50 and 300 are connectors corresponding to the connectors 5 and 30 shown in FIG. 5, respectively, and 310 is a transmission / reception circuit. The array probe 20 is composed of array elements T 1 to T 64 , and the transmitting / receiving circuit 310 is a pulser receiver circuit P.
It is composed of 1 to P 65 . The connector 50 is composed of terminals K T1 to K T65 arranged at predetermined positions, and the connector 300 fixed to the main body side includes the terminals K T1 to K T1 of the connector 50.
It is composed of terminals K P1 to K P65 arranged at positions corresponding to K T65 . When the connector 50 and the connector 300 are connected, the terminal K T1 of the connector 50 and the connector 30
And the terminal K P1 of are connected in a male / female relationship. Similarly, the terminals K T2 and K P2 , the terminals K T3 and K P3 , and so on.
………, Terminal K T64 and terminal K P64 , Terminal K T65 and terminal K
P65 is connected and connected.

【0015】図示のように、本実施例では、アレイプロ
ーブ20に接続されるコネクタ50の端子の数は、アレ
イ素子の数より1つ多い。即ち、アレイプローブ20は
64個のアレイ素子KT1〜KT64 を有するが、コネクタ
50は、65個の端子KT1〜KT65 を有する。そして、
本実施例では、端子KT2はアレイ素子とは接続されず、
接地されている。なお、図ではアレイ素子KT1とアレイ
素子KT2との間に接地記号が描かれているが、実際には
アレイ素子KT1とアレイ素子KT2とは隣接配置されてお
り、本実施例のアレイプローブ20の各アレイ素子KT1
〜KT64 は、図5に示す各アレイ素子KT1〜KT64 と同
一の配列となっている。一方、本体側に固定されたコネ
クタ300の端子の数はコネクタ50の端子の数と同一
(65個)であり、それら各端子KP1〜KP65 にはそれ
ぞれ送受信回路310のパルサレシーバ回路P1 〜P65
が接続されている。結局、アレイプローブ20のアレイ
素子の数に対して、各コネクタ50、300の端子、お
よび送受信回路310のパルサレシーバ回路は1つ多く
設けられることになる。
As shown in the figure, in this embodiment, the number of terminals of the connector 50 connected to the array probe 20 is one more than the number of array elements. That is, the array probe 20 has 64 array elements K T1 to K T64 , but the connector 50 has 65 terminals K T1 to K T65 . And
In this embodiment, the terminal K T2 is not connected to the array element,
Grounded. In the figure, a ground symbol is drawn between the array element K T1 and the array element K T2 , but in reality, the array element K T1 and the array element K T2 are arranged adjacent to each other. Each array element K T1 of the array probe 20
~K T64 is identical in sequence and each array element K T1 ~K T64 shown in FIG. On the other hand, the number of terminals of the connector 300 fixed to the main body side is the same as the number of terminals of the connector 50 (65), and these terminals K P1 to K P65 are respectively connected to the pulsar receiver circuit P 1 of the transmission / reception circuit 310. ~ P 65
Is connected. As a result, the number of array elements of the array probe 20 is increased by one for the terminals of the connectors 50 and 300 and the pulser receiver circuit for the transmission / reception circuit 310.

【0016】次に、本実施例の動作を図2に示すフロー
チャートを参照して説明する。図2に示すフローチャー
トは、図1に示すアレイプローブ20、コネクタ50、
300、および送受信回路310を使用した場合におけ
る図4に示すCPU33の動作を説明するフローチャー
トである。本実施例では、各パルサレシーバ回路に予め
番号を付し、又、本体のマイクロコンピュータには、さ
きに述べた各アレイプローブ毎にその動作を規定する数
値や手順が格納された記憶部(これを処理手順記憶部と
いう)の外に、各アレイプローブの種類名とそれに対応
する番号が格納された記憶部(これを種類名記憶部とい
う)とを備えている。なお、種類名記憶部における番号
には、パルサレシーバ回路に付された番号が用いられ
る。
Next, the operation of this embodiment will be described with reference to the flow chart shown in FIG. The flowchart shown in FIG. 2 is based on the array probe 20, connector 50,
5 is a flowchart illustrating an operation of CPU 33 shown in FIG. 4 when using 300 and a transmission / reception circuit 310. In the present embodiment, each pulser receiver circuit is given a number in advance, and the microcomputer of the main body stores a numerical value or a procedure for prescribing the operation for each array probe described above Is called a processing procedure storage unit), and a storage unit (this is called a type name storage unit) in which the type name of each array probe and the number corresponding to it are stored. The number assigned to the pulsar receiver circuit is used as the number in the type name storage unit.

【0017】最初に、CPU33は本体側のコネクタ3
00を監視してアレイプローブ20が接続されるのを、
即ちコネクタ50がコネクタ300に連結されるのを待
機する(図2に示す手順S1 )。このようなコネクタ連
結の有無の判断手段は周知であるので説明は省略する。
なお、コネクタ連結の有無を判断する代わりに、検査者
がキーボードを操作して「プローブ交換」メニューを選
択し、CPU33がこれを判断してもよい。コネクタ5
0が連結されると、CPU33は送受信回路310の各
パルサレシーバ回路P1 〜P65のパルサを作動させてパ
ルスを出力し、その受信状態を見る(手順S2 )。パル
サレシーバ回路にコネクタ300、50を介してアレイ
素子が接続されている場合には、アレイ素子にパルスが
与えられたとき当該アレイ素子が励振して一定レベル以
上の信号を出力し、これがパルサレシーバ回路のレシー
バにより受信されることになるが、パルサレシーバ回路
にアレイ素子が接続されず図1に示すように接地されて
いる場合には、当該パルサレシーバ回路では信号は全く
受信されない。
First, the CPU 33 is the connector 3 on the main body side.
00 to monitor the array probe 20 is connected,
That is, it waits for the connector 50 to be connected to the connector 300 (step S 1 shown in FIG. 2). Since such means for determining whether or not the connector is connected is well known, description thereof will be omitted.
Instead of determining whether or not the connector is connected, the inspector may operate the keyboard to select the “probe replacement” menu, and the CPU 33 may determine this. Connector 5
When 0 is connected, CPU 33 outputs a pulse by operating the pulser of the pulser receiver circuits P 1 to P 65 of the reception circuit 310, see the reception state (Step S 2). When an array element is connected to the pulsar receiver circuit via the connectors 300 and 50, when a pulse is applied to the array element, the array element is excited and outputs a signal of a certain level or higher. Although it will be received by the receiver of the circuit, if the array element is not connected to the pulsar receiver circuit and is grounded as shown in FIG. 1, no signal is received by the pulsar receiver circuit.

【0018】上記手順S2 の処理により、信号が受信さ
れないパルサレシーバ回路が把握される。図1に示すア
レイプローブ20の場合、受信されないパルサレシーバ
回路は2番目のパルサレシーバ回路P2 (例えば番号
「2」のパルサレシーバ回路)である。CPU33は受
信されないパルサレシーバ回路が2つ以上あるか否かを
判断し(手順S3 )、1つであれば、そのパルサレシー
バ回路の番号(図示の例では番号「2」)に基づいて種
類記憶部から接続されたアレイプローブ名を読み出し
(手順S4 )、これをモニタ34に表示し(手順S
5 )、処理手順記憶部から当該アレイプローブに対して
用いられる処理手順等を読み出し(手順S6 )、これを
ランダムアクセスメモリ(RAM)等に格納し、以後、
このRAMに格納された処理手順に従って超音波検査が
行われることになる。この場合の処理手順は、勿論、パ
ルサレシーバ回路P2 を用いない処理手順であり、アレ
イ素子T1はパルサレシーバ回路P1 によって励振され
るが、アレイ素子T2 はパルサレシーバ回路P2 ではな
くパルサレシーバ回路P3 によって励振され、以後同様
に、アレイ素子とパルサレシーバ回路とは1つずつずら
された関係で動作せしめられる。
By the processing in the above step S 2, the pulser receiver circuit from which the signal is not received is grasped. In the case of the array probe 20 shown in FIG. 1, the pulsar receiver circuit that is not received is the second pulsar receiver circuit P 2 (for example, the pulsar receiver circuit with the number “2”). CPU33 pulser receiver circuit is not received, it is determined whether or not two or more (Step S 3), if one kind based on the (number "2" in the illustrated example) number of the pulser receiver circuit The connected array probe name is read from the storage unit (step S 4 ) and displayed on the monitor 34 (step S 4 ).
5 ), the processing procedure and the like used for the array probe is read from the processing procedure storage unit (step S 6 ), stored in a random access memory (RAM), etc.
The ultrasonic examination is performed according to the processing procedure stored in this RAM. The processing procedure in this case is, of course, a processing procedure that does not use the pulser receiver circuit P 2 , and the array element T 1 is excited by the pulser receiver circuit P 1 , but the array element T 2 is not the pulser receiver circuit P 2. It is excited by the pulsar receiver circuit P 3 , and thereafter, similarly, the array element and the pulsar receiver circuit are operated in a shifted relationship with each other.

【0019】一方、上記の手順S3 の処理で、受信され
ないパルサレシーバ回路が2つ以上あると判断された場
合、本来、図1に示す本実施例の構成では、受信されな
いパルサレシーバ回路は1つ(パルサレシーバ回路P
2 )のみであるので、それ以外の受信されないパルサレ
シーバ回路のチャネルには何らかの故障が生じていると
考えることができる。そこで、受信されないパルサレシ
ーバ回路の番号を故障チャネルとしてモニタ34に表示
する(手順S7 )。それら番号のうち、アレイプローブ
の種類を示す番号は既知である(何らかの手段で別途記
録されている)ので、残った番号のチャネルが故障であ
ることが判る。
On the other hand, when it is determined in the process of the above step S 3 that there are two or more unreceived pulser receiver circuits, originally, in the configuration of this embodiment shown in FIG. One (Pulsar receiver circuit P
2 ) only, so it can be considered that some other failure has occurred in the channel of the pulser receiver circuit that is not received. Therefore, on the monitor 34 the number of pulser receiver circuit not received as a failure channel (Step S 7). Among these numbers, the number indicating the type of array probe is known (recorded separately by some means), so it can be seen that the channel of the remaining number is defective.

【0020】このように、本実施例では、アレイプロー
ブのコネクタの各端子うちの1つをアレイ素子に接続さ
れない端子とし、この端子をアレイプローブの種類を表
わす端子とし、上記コネクタが本体側のコネクタに接続
されたとき、送受信回路の各パルサレシーバ回路を順次
作動させて、アレイ素子に接続されない上記端子と接続
されているパルサレシーバ回路に信号が受信されないこ
とから、当該アレイプローブの種類を判断するようにし
たので、使用するアレイプローブの種類を容易かつ正確
に認識することができ、検査者の疲労を軽減することが
できる。又、非受信パルサレシーバ回路が2つ以上ある
か否かを判断するようにしたので、アレイプローブの種
類を判断すると同じに故障チャネルを発見することがで
きる。そして、従来装置と比較して、本実施例は、各コ
ネクタの端子およびパルサレシーバ回路をそれぞれ1つ
ずつ増やすだけであるので、構造が簡素であり、スペー
スの増加もほとんどない。
As described above, in this embodiment, one of the terminals of the connector of the array probe is a terminal that is not connected to the array element, and this terminal is a terminal indicating the type of the array probe, and the connector is on the body side. When connected to the connector, the pulsar receiver circuits of the transmission / reception circuit are operated sequentially, and the signal is not received by the pulsar receiver circuit connected to the above-mentioned terminals that are not connected to the array element. Since this is done, the type of array probe to be used can be easily and accurately recognized, and fatigue of the inspector can be reduced. Further, since it is determined whether or not there are two or more non-reception pulser receiver circuits, the same failure channel can be found by determining the type of array probe. In comparison with the conventional device, the present embodiment has only one additional terminal of each connector and one pulser receiver circuit, so that the structure is simple and there is almost no increase in space.

【0021】なお、上記実施例の説明では、アレイプロ
ーブの種類を、アレイ素子に接続しない1つの端子を選
定することにより判断する例について説明したが、2つ
又は3つの端子を選定してもよい。その場合、端子の総
数は1つ又は2つ増加することになる。又、アレイプロ
ーブの種類を判断した場合、その処理手順を読み出す例
について説明したが、単にアレイプローブの名称を表示
するだけでもよい。さらに、上記実施例の説明では、非
受信パルサレシーバ回路の数を判断する例について説明
したが、このような判断は必ずしも必要ではない。
In the above description of the embodiment, an example in which the type of array probe is determined by selecting one terminal not connected to the array element has been described, but even if two or three terminals are selected. Good. In that case, the total number of terminals will increase by one or two. Further, when the type of the array probe is determined, the example of reading the processing procedure is described, but the name of the array probe may be simply displayed. Furthermore, in the above description of the embodiment, an example in which the number of non-receiver pulser receiver circuits is determined has been described, but such determination is not always necessary.

【0022】[0022]

【発明の効果】以上述べたように、本発明では、アレイ
プローブのコネクタの各端子うちの1つをアレイ素子に
接続されない端子とし、この端子をアレイプローブの種
類を表わす端子とし、上記コネクタが本体側のコネクタ
に接続されたとき、送受信回路の各パルサレシーバ回路
を順次作動させて、アレイ素子に接続されない上記端子
と接続されているパルサレシーバ回路に信号が受信され
ないことから、当該アレイプローブの種類を判断するよ
うにしたので、簡素な構成により、使用するアレイプロ
ーブの種類を容易かつ正確に認識することができ、検査
者の疲労を軽減することができる。
As described above, in the present invention, one of the terminals of the connector of the array probe is a terminal that is not connected to the array element, and this terminal is a terminal that indicates the type of array probe, and the connector is When connected to the connector on the main unit side, each pulser receiver circuit of the transmission / reception circuit is operated in sequence, and no signal is received by the pulser receiver circuit connected to the terminals not connected to the array element. Since the type is determined, the type of array probe to be used can be easily and accurately recognized with a simple configuration, and fatigue of the inspector can be reduced.

【図面の簡単な説明】[Brief description of drawings]

【図1】本発明の実施例に係る超音波検査装置のアレイ
プローブ認識装置を構成するアレイプローブと送受信回
路の詳細を示す図である。
FIG. 1 is a diagram showing details of an array probe and a transmission / reception circuit that constitute an array probe recognition device of an ultrasonic inspection apparatus according to an embodiment of the present invention.

【図2】図1に示す装置の動作を説明するフローチャー
トである。
FIG. 2 is a flowchart illustrating the operation of the apparatus shown in FIG.

【図3】超音波検査装置の斜視図である。FIG. 3 is a perspective view of an ultrasonic inspection apparatus.

【図4】図3に示す本体3の内部構成のブロック図であ
る。
4 is a block diagram of an internal configuration of a main body 3 shown in FIG.

【図5】図4に示すアレイプローブと送受信回路の詳細
を示す図である。
5 is a diagram showing details of an array probe and a transmission / reception circuit shown in FIG.

【符号の説明】[Explanation of symbols]

20 アレイプローブ 50、300 コネクタ 310 送受信回路 T1 〜T64 アレイ素子 P1 〜P65 パルサレシーバ回路 KT1〜KT65 、KP1〜KP65 端子20 array probe 50, 300 connector 310 transceiver circuits T 1 through T 64 array elements P 1 to P 65 pulser receiver circuit K T1 ~K T65, K P1 ~K P65 terminal

───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (72)発明者 早川 弘之 福岡県福岡市南区塩原二丁目1番47号 九 州電力株式会社総合研究所内 (72)発明者 瀧下 芳彦 茨城県土浦市神立町650番地 日立建機株 式会社土浦工場内 (72)発明者 木野 裕敏 茨城県土浦市神立町650番地 日立建機株 式会社土浦工場内 (72)発明者 阿久津 義夫 茨城県土浦市神立町650番地 日立建機株 式会社土浦工場内 (72)発明者 島村 忠利 茨城県土浦市神立町650番地 日立建機株 式会社土浦工場内 ─────────────────────────────────────────────────── ─── Continuation of the front page (72) Hiroyuki Hayakawa, Inventor Hiroyuki Hayakawa 2-47, Shiobara, Minami-ku, Fukuoka City, Kyushu Electric Power Co., Inc. Hitachi Construction Machinery Co., Ltd. in Tsuchiura Plant (72) Inventor Hirotoshi Kino 650 Kintatecho, Tsuchiura City, Ibaraki Prefecture Machinery Co., Ltd. Tsuchiura Plant (72) Inventor Tadatoshi Shimamura 650 Jinrachicho, Tsuchiura City, Ibaraki Prefecture Hitachi Construction Machinery Co., Ltd. Tsuchiura Plant

Claims (2)

【特許請求の範囲】[Claims] 【請求項1】 多数のアレイ素子を配列したアレイプロ
ーブを本体に接続して超音波検査を行う超音波検査装置
において、所定の順に配置され前記アレイ素子の数より
少なくとも1つ多い数の端子より成り、前記各アレイ素
子が前記アレイプローブの種類に応じて特定された端子
以外の所定の端子に接続されている第1のコネクタと、
前記本体側に固定され、前記第1のコネクタの各端子と
同数でこれら各端子の対応する端子と接続される各端子
を備え、これら各端子がそれぞれ対応する送受信回路の
パルサレシーバ回路に接続されている第2のコネクタと
を設けるとともに、前記第1のコネクタと前記第2のコ
ネクタとが接続されたとき前記各パルサレシーバ回路を
順次作動させて前記第1のコネクタの前記特定された端
子を検索する検索手段を設けたことを特徴とする超音波
検査装置のアレイプローブ認識装置。
1. An ultrasonic inspection apparatus for performing an ultrasonic inspection by connecting an array probe having a large number of array elements arranged to a main body, the terminals being arranged in a predetermined order and having at least one more terminal than the number of the array elements. A first connector in which each of the array elements is connected to a predetermined terminal other than the terminal specified according to the type of the array probe;
Each terminal is fixed to the main body side and has the same number as each terminal of the first connector and is connected to a corresponding terminal of each of these terminals, and each of these terminals is connected to a pulser receiver circuit of a corresponding transmitting / receiving circuit. And a second connector that is provided, and when the first connector and the second connector are connected, the pulser receiver circuits are sequentially operated to operate the specified terminal of the first connector. An array probe recognizing device for an ultrasonic inspection apparatus, characterized in that search means for searching is provided.
【請求項2】 請求項1において、前記第1のコネクタ
の前記特定された端子は、接地されていることを特徴と
する超音波検査装置のアレイプローブ認識装置。
2. The array probe recognition device for an ultrasonic inspection apparatus according to claim 1, wherein the specified terminal of the first connector is grounded.
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Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
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KR20170044974A (en) * 2015-10-16 2017-04-26 삼성전자주식회사 Probe apparatus, medical instrument and controlling method thereof

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US11344280B2 (en) 2015-10-16 2022-05-31 Samsung Electronics Co., Ltd. Probe apparatus, medical instrument comprising same, and control method of probe apparatus

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