JPH09266046A - Contact pin for ic socket - Google Patents

Contact pin for ic socket

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Publication number
JPH09266046A
JPH09266046A JP7382896A JP7382896A JPH09266046A JP H09266046 A JPH09266046 A JP H09266046A JP 7382896 A JP7382896 A JP 7382896A JP 7382896 A JP7382896 A JP 7382896A JP H09266046 A JPH09266046 A JP H09266046A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
contact
socket
lead
package
contact pin
Prior art date
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Pending
Application number
JP7382896A
Other languages
Japanese (ja)
Inventor
Yutaka Tokushige
豊 徳重
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Enplas Corp
Original Assignee
Enplas Corp
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Filing date
Publication date
Application filed by Enplas Corp filed Critical Enplas Corp
Priority to JP7382896A priority Critical patent/JPH09266046A/en
Publication of JPH09266046A publication Critical patent/JPH09266046A/en
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Abstract

PROBLEM TO BE SOLVED: To prevent the lead of an IC package from being curved when the IC package plugged in an IC socket is removed. SOLUTION: This contact pin has first and second contact parts 3c, 3b which make contact with a lead 4a at two vertical positions, the lead 4a extending from an IC package placed on an IC socket. The width T of the surface 3c where the first contact part makes contact with the lead 4a is set so that the interval t1 between the surfaces 3c of the adjacent first contact parts is smaller than the width t3 of the lead 4a. Therefore, the lead 4a of the IC package is not caught between the contact pins.

Description

【発明の詳細な説明】Detailed Description of the Invention

【0001】[0001]

【発明が属する技術分野】本発明はICソケットに用い
られるコンタクトピンの形状に関する。
TECHNICAL FIELD The present invention relates to the shape of a contact pin used in an IC socket.

【0002】[0002]

【従来の技術】通常、ICパッケージは製造された後、
性能試験を経て出荷される。この性能試験の際、ICソ
ケットが用いられる。図3乃至図5はそのようなICソ
ケットの一例を示す。図3はICソケットの平面図、図
4は図3のX4−X4線における断面図、図5は図3の
X5−X5線における断面図である。ICソケットは、
平面形状が長方形(図3参照)をなし、断面形状がほぼ
H字形(図5参照)をなすICソケット本体1を有して
おり、図3に示すように、互いに対向する二辺には複数
の仕切板2が一体成形により列設され、隣接する仕切板
2の間にはスリットが形成されている。
2. Description of the Related Art Normally, after an IC package is manufactured,
It is shipped after a performance test. At the time of this performance test, an IC socket is used. 3 to 5 show an example of such an IC socket. 3 is a plan view of the IC socket, FIG. 4 is a sectional view taken along line X4-X4 of FIG. 3, and FIG. 5 is a sectional view taken along line X5-X5 of FIG. IC socket is
It has an IC socket body 1 having a rectangular planar shape (see FIG. 3) and a substantially H-shaped cross section (see FIG. 5). As shown in FIG. The partition plates 2 are integrally formed in a row and a slit is formed between the adjacent partition plates 2.

【0003】ICソケット本体1内部には、仕切板2の
間に形成されたスリットに連続して、コンタクトピン取
り付け孔1a(図5参照)が形成されており、このコン
タクトピン取り付け孔1aにはコンタクトピン3が嵌着
されている。図5に示すように、コンタクトピン3はほ
ぼ平行に上方に延びている二つの接片3A,3Bを有し
ている。ICソケット本体1のコンタクトピン取り付け
孔1aに取り付けられたコンタクトピン3の各接片3
A,3Bの頭部3a,3bは隣接する仕切板2の間に形
成されているスリットから露出している。接片3Aは接
片3Bよりも高さが高くなるように設けられており、こ
のため、接片3Aの頭部3aは、ICソケット本体1上
に搭載されたICパッケージ4から延びている逆J字形
リード4aに、スリットを介して、接片3Bの頭部3b
よりも上方の位置において接触している。
Inside the IC socket body 1, a contact pin mounting hole 1a (see FIG. 5) is formed continuously with the slit formed between the partition plates 2, and this contact pin mounting hole 1a is formed. The contact pin 3 is fitted. As shown in FIG. 5, the contact pin 3 has two contact pieces 3A and 3B extending upward in substantially parallel. Each contact piece 3 of the contact pin 3 attached to the contact pin attachment hole 1a of the IC socket body 1
The heads 3a and 3b of A and 3B are exposed from the slits formed between the adjacent partition plates 2. The contact piece 3A is provided so as to have a height higher than that of the contact piece 3B. Therefore, the head 3a of the contact piece 3A extends from the IC package 4 mounted on the IC socket body 1 in the reverse direction. The head 3b of the contact piece 3B is inserted into the J-shaped lead 4a through the slit.
Contact at a position above.

【0004】このように、ICパッケージ4はICソケ
ット本体1上に搭載されると、リード4aはコンタクト
ピン3の二つの接片3A,3Bと接触する。この後、所
定の電源(図示せず)からコンタクトピン3の二つの接
片3A,3B及びリード4aを介してICパッケージ4
に電圧が印加され、ICパッケージ4に対して性能試験
が行われる。
As described above, when the IC package 4 is mounted on the IC socket body 1, the leads 4a come into contact with the two contact pieces 3A and 3B of the contact pin 3. Then, the IC package 4 is supplied from a predetermined power source (not shown) through the two contact pieces 3A and 3B of the contact pin 3 and the lead 4a.
A voltage is applied to the IC package 4, and a performance test is performed on the IC package 4.

【0005】[0005]

【発明が解決しようとする課題】性能試験が終了する
と、ICパッケージ4はICソケット本体1から取り出
される。この際、図4に示すような治具5が用いられる
ことがある。治具5は、幅(紙面と垂直方向の長さ)が
一定であり、高さが一端から他端へ向かうにつれて徐々
に小さくなる傾斜面5aを有する板状部材からなる。
When the performance test is completed, the IC package 4 is taken out from the IC socket body 1. At this time, a jig 5 as shown in FIG. 4 may be used. The jig 5 is a plate-shaped member having a constant width (length in the direction perpendicular to the paper surface) and an inclined surface 5a whose height gradually decreases from one end to the other end.

【0006】所定位置(図4の破線Aで示す位置)に搭
載されたICパッケージ4を治具5を用いて取り出す際
には、図4に示すように、治具5の傾斜面5aの高さが
短い方の端部をICソケット本体1の中央長手方向に延
びる溝1A内に挿入し、治具5を矢印Cの方向に進め
る。治具5が進むにつれて、ICパッケージ4は治具5
の傾斜面5aから徐々に上向きの力を受け、ICソケッ
ト本体1から外れるに至る。
When the IC package 4 mounted at a predetermined position (the position shown by the broken line A in FIG. 4) is taken out by using the jig 5, as shown in FIG. 4, the height of the inclined surface 5a of the jig 5 is increased. The shorter end is inserted into the groove 1A extending in the central longitudinal direction of the IC socket body 1, and the jig 5 is advanced in the direction of arrow C. As the jig 5 advances, the IC package 4
Gradually upward force is applied from the inclined surface 5a, and the IC socket body 1 comes off.

【0007】ICパッケージ4がICソケット本体1か
ら外れるまでの間においては、図4に一点鎖線Bで示す
ように、ICパッケージ4は傾斜姿勢をとる。この際
に、ICパッケージ4の持ち上げられた側とは反対側
(図4の左側)の端部付近にあるリード4aは、図6に
模式的に示すように、隣接するコンタクトピン3の間に
挟まってしまうことがある。
Until the IC package 4 is detached from the IC socket body 1, the IC package 4 takes an inclined posture as shown by the chain line B in FIG. At this time, the lead 4a near the end of the IC package 4 on the opposite side (left side in FIG. 4) from the lifted side is placed between the adjacent contact pins 3 as schematically shown in FIG. It may get caught.

【0008】通常、治具5はICパッケージ4がICソ
ケット本体1から完全に外れるまで矢印C方向に進ませ
る。このため、リード4aがコンタクトピン3の間に挟
まったままの状態で、治具5によって、ICパッケージ
4をICソケット本体1から強制的に引き離すと、リー
ド4aがひねられることになる。一般的には、リード4
aの方がコンタクトピン3よりも硬度の小さい材料でつ
くられているため、リード4aがひねられると、その力
はコンタクトピン3には伝わらず、リード4a自身に直
接作用することになる。このため、リード4aが曲がっ
たり、ひねられたまま復元しなかったり、あるいは、場
合によっては、リード4aが破断してしまうことがあっ
た。
Normally, the jig 5 is advanced in the direction of arrow C until the IC package 4 is completely removed from the IC socket body 1. Therefore, when the IC package 4 is forcibly separated from the IC socket body 1 by the jig 5 while the lead 4a remains sandwiched between the contact pins 3, the lead 4a is twisted. Generally, lead 4
Since a is made of a material having a hardness lower than that of the contact pin 3, when the lead 4a is twisted, the force is not transmitted to the contact pin 3 but directly acts on the lead 4a itself. For this reason, the lead 4a may be bent, may not be restored while being twisted, or in some cases, the lead 4a may be broken.

【0009】本発明はこのような従来のICソケットに
おけるコンタクトピンに生じる問題点に鑑みてなされた
ものであり、ICパッケージのリードを曲げることな
く、ICパッケージをICソケット本体から取り外すこ
とができるICソケット用コンタクトピンを提供するこ
とを目的とする。
The present invention has been made in view of the problems that occur in contact pins in such conventional IC sockets, and the IC package can be removed from the IC socket body without bending the leads of the IC package. It is intended to provide a contact pin for a socket.

【0010】[0010]

【課題を解決するための手段】この目的を達成するた
め、本発明に係るICソケット用コンタクトピンは、I
Cソケットの対向する各辺に沿って等間隔に列設された
複数の仕切板の間に画成されたスリットに挿入されて用
いられるICソケット用コンタクトピンであって、前記
ICソケット上に載置されるICパッケージから延びる
リードに対して上下方向の二つの位置において接触する
第一及び第二の接触部を有するICソケット用コンタク
トピンにおいて、前記第一又は第二の接触部が前記リー
ドと接触する面の幅は、隣接する第一又は第二の接触部
の前記面の間の間隔が前記リードの幅よりも小さくなる
ように、設定されるものであることを特徴とする。
In order to achieve this object, the contact pin for an IC socket according to the present invention is I.
A contact pin for an IC socket, which is used by being inserted into a slit defined between a plurality of partition plates arranged at equal intervals along each of opposite sides of the C socket, the contact pin being mounted on the IC socket. In a contact pin for an IC socket, which has first and second contact portions that come into contact with a lead extending from an IC package at two positions in the vertical direction, the first or second contact portion comes into contact with the lead. The width of the surface is set such that the interval between the surfaces of the adjacent first or second contact portions is smaller than the width of the lead.

【0011】[0011]

【発明の実施の形態】図1に本発明に係るICソケット
用コンタクトピンの一実施形態を示す。なお、図5に示
した従来のICソケット用コンタクトピン3と同一の構
成部分は同一の符号をもって示す。図1に示す本実施形
態に係るICソケット用コンタクトピン3が図5に示し
た従来のコンタクトピン3と異なる点は接片3Aの頭部
に拡幅部3cを設けた点である。拡幅部3cは従来のコ
ンタクトピンよりも拡張された幅Tを有しており、この
幅Tは接片3Bの幅tよりも大きい。拡幅部3cの幅T
は以下のようにして決定される。
1 shows an embodiment of an IC socket contact pin according to the present invention. The same components as those of the conventional IC socket contact pin 3 shown in FIG. 5 are designated by the same reference numerals. The IC socket contact pin 3 according to the present embodiment shown in FIG. 1 is different from the conventional contact pin 3 shown in FIG. 5 in that a widened portion 3c is provided on the head of the contact piece 3A. The widened portion 3c has a width T wider than that of the conventional contact pin, and this width T is larger than the width t of the contact piece 3B. Width T of widened portion 3c
Is determined as follows.

【0012】図2は本実施形態に係るコンタクトピン3
を各仕切板2の間のスリットに挿入した状態を正面から
見た図である。図2を参照すると、拡幅部3cの幅T
は、本実施形態に係るコンタクトピン3を各仕切板2の
間のスリットに配置したときの隣接する各拡幅部3cの
間の間隔t1がICパッケージ4のリード4aの幅t3
よりも小さくなるように設定される。従って、ICパッ
ケージ4のリード4aは隣接する拡幅部3c間に挟み込
まれることない。
FIG. 2 shows a contact pin 3 according to this embodiment.
It is the figure which looked at the state which inserted into the slit between each partition board 2 from the front. Referring to FIG. 2, the width T of the widened portion 3c
Is the width t3 of the lead 4a of the IC package 4 when the contact pin 3 according to the present embodiment is arranged in the slits between the partition plates 2 and the interval t1 between the adjacent widened portions 3c.
It is set to be smaller than. Therefore, the leads 4a of the IC package 4 are not sandwiched between the adjacent widened portions 3c.

【0013】なお、隣接する接片3B間の間隔t2はリ
ード4aの幅t3よりも大きく設定されている。従っ
て、隣接する拡幅部3cの間の間隔t1、隣接する接片
3Bの間の間隔t2、リード4aの幅t3の間の関係は
次式で表される。 t1<t3<t2
The interval t2 between adjacent contact pieces 3B is set larger than the width t3 of the lead 4a. Therefore, the relationship between the interval t1 between the adjacent widened portions 3c, the interval t2 between the adjacent contact pieces 3B, and the width t3 of the lead 4a is expressed by the following equation. t1 <t3 <t2

【0014】このように、本実施形態に係るコンタクト
ピン3を用いたICソケットにおいては、隣接するコン
タクトピン3相互間の間隔はコンタクトピン3の接片3
Aの拡幅部3cにおいてリード4aの幅よりも小さくな
っている。このため、治具5を用いてICパッケージ4
をICソケット本体1から取り出す際に、図4に示すよ
うにICパッケージ4が傾斜姿勢を取っても、ICパッ
ケージ4のリード4aが隣接するコンタクトピン3の間
に挟み込まれることはなくなる。従って、リード4aが
コンタクトピン3の間に挟み込まれたままICパッケー
ジ4を取り外すことに起因するリード4aの曲がりや破
断が起こることはない。
As described above, in the IC socket using the contact pins 3 according to this embodiment, the distance between the adjacent contact pins 3 is determined by the contact piece 3 of the contact pins 3.
In the widened portion 3c of A, the width is smaller than the width of the lead 4a. Therefore, using the jig 5, the IC package 4
When the IC package 4 is taken out from the IC socket body 1, even if the IC package 4 takes an inclined posture as shown in FIG. 4, the leads 4a of the IC package 4 will not be sandwiched between the adjacent contact pins 3. Therefore, the lead 4a does not bend or break due to the removal of the IC package 4 while the lead 4a is sandwiched between the contact pins 3.

【0015】なお、上記の実施形態においては、コンタ
クトピン3の接片3Aに拡幅部3cを設けた例を述べた
が、拡幅部3cは接片3Bに設けてもよい。拡幅部3c
を接片3Bに設けた場合には、隣接する接片3Aの間の
間隔t1、隣接する接片3Bの拡幅部3cの間の間隔t
2、リード4aの幅t3の間の関係は次式で表される。 t2<t3<t1
In the above embodiment, an example in which the widened portion 3c is provided on the contact piece 3A of the contact pin 3 has been described, but the widened portion 3c may be provided on the contact piece 3B. Widened part 3c
When the contact piece 3B is provided with the contact piece 3B, the interval t1 between the adjacent contact pieces 3A and the interval t between the widened portions 3c of the adjacent contact pieces 3B.
2, the relationship between the width t3 of the lead 4a is expressed by the following equation. t2 <t3 <t1

【0016】同様に、コンタクトピン3の接片3A及び
接片3Bの双方に拡幅部3cを設けることも可能であ
る。この場合、隣接する接片3Aの拡幅部3cの間の間
隔t1、隣接する接片3Bの拡幅部3cの間の間隔t
2、リード4aの幅t3の関係は次式で表される。 t1<t3, t2<t3
Similarly, it is possible to provide the widened portion 3c on both the contact piece 3A and the contact piece 3B of the contact pin 3. In this case, the distance t1 between the widened portions 3c of the adjacent contact pieces 3A and the distance t between the widened portions 3c of the adjacent contact pieces 3B.
2, the relationship between the width t3 of the lead 4a is expressed by the following equation. t1 <t3, t2 <t3

【0017】以上のように、コンタクトピン3の接片3
A、3Bの少なくとも何れか一方に拡幅部3cを設け、
コンタクトピン3をICソケット本体1に配置したとき
に、隣接する拡幅部3cの間の間隔がリード4aの幅よ
りも小さくなるように拡幅部3cの幅を設定すればよ
い。尚、コンタクトピン3の拡幅部3cは、接触面側の
みに形成せず、板厚全体を拡幅としてもよく、その場合
には、仕切板2の対応部分を切欠くようにしておけばよ
い。
As described above, the contact piece 3 of the contact pin 3
A widening portion 3c is provided on at least one of A and 3B,
When the contact pins 3 are arranged on the IC socket body 1, the width of the widened portion 3c may be set so that the interval between the adjacent widened portions 3c is smaller than the width of the lead 4a. The widened portion 3c of the contact pin 3 may not be formed only on the contact surface side but may be widened over the entire plate thickness. In that case, the corresponding portion of the partition plate 2 may be cut out.

【0018】[0018]

【発明の効果】本発明に係るICソケット用コンタクト
ピンによれば、第一又は第二の接触部がリードと接触す
る面の幅は、隣接する第一又は第二の接触部の接触面の
間の間隔がリードの幅よりも小さくなるように、設定さ
れる。このため、ICパッケージをICソケットから取
り外す際に、ICパッケージのリードがコンタクトピン
の間に挟み込まれることがなくなり、ICパッケージを
無理な体勢で取り外すことに起因して生じるリードの曲
がり、ねじれ、破断などを防止することができる。
According to the contact pin for an IC socket of the present invention, the width of the surface where the first or second contact portion comes into contact with the lead is the same as that of the contact surface of the adjacent first or second contact portion. It is set so that the interval between them is smaller than the width of the lead. For this reason, when the IC package is removed from the IC socket, the leads of the IC package are not caught between the contact pins, and the leads are bent, twisted, or broken due to the removal of the IC package with an excessive force. Can be prevented.

【図面の簡単な説明】[Brief description of drawings]

【図1】本発明に係るICソケット用コンタクトピンの
一実施形態の斜視図である。
FIG. 1 is a perspective view of an embodiment of an IC socket contact pin according to the present invention.

【図2】図1に示したICソケット用コンタクトピンを
ICソケットに配設した状態の正面図である。
FIG. 2 is a front view of the IC socket contact pin shown in FIG. 1 arranged in an IC socket.

【図3】ICソケットを上方から見たときの平面図であ
る。
FIG. 3 is a plan view of an IC socket when viewed from above.

【図4】図3のX4−X4線における断面図である。4 is a cross-sectional view taken along line X4-X4 of FIG.

【図5】図3のX5−X5線における断面図である。5 is a cross-sectional view taken along line X5-X5 of FIG.

【図6】リードがコンタクトピンの間に挟み込まれた状
態を示す模式図である。
FIG. 6 is a schematic view showing a state where a lead is sandwiched between contact pins.

【符号の説明】[Explanation of symbols]

1 ICソケット本体 1a コンタクトピン取り付け孔 1A 溝 2 仕切板 3 コンタクトピン 3A,3B 接片 3a,3b 接片の頭部 3c 拡幅部 4 ICパッケージ 4a リード 5 治具 5a 傾斜面 1 IC socket body 1a Contact pin mounting hole 1A groove 2 Partition plate 3 Contact pin 3A, 3B Contact piece 3a, 3b Head of contact piece 3c Widened section 4 IC package 4a Lead 5 Jig 5a Inclined surface

Claims (1)

【特許請求の範囲】[Claims] 【請求項1】 ICソケットの対向する各辺に沿って等
間隔に列設された複数の仕切板の間に画成されたスリッ
トに挿入されて用いられるICソケット用コンタクトピ
ンであって、前記ICソケット上に載置されるICパッ
ケージから延びるリードに対して上下方向の二つの位置
において接触する第一及び第二の接触部を有するICソ
ケット用コンタクトピンにおいて、前記第一又は第二の
接触部が前記リードと接触する面の幅は、隣接する第一
又は第二の接触部の前記面の間の間隔が前記リードの幅
よりも小さくなるように、設定されるものであることを
特徴とするICソケット用コンタクトピン。
1. A contact pin for an IC socket, which is used by being inserted into a slit defined between a plurality of partition plates arranged at equal intervals along opposite sides of the IC socket, wherein the IC socket is used. In an IC socket contact pin having first and second contact portions that come into contact with a lead extending from an IC package placed on the top and bottom at two positions in the vertical direction, the first or second contact portion is The width of the surface in contact with the lead is set such that the distance between the surfaces of the adjacent first or second contact portions is smaller than the width of the lead. Contact pin for IC socket.
JP7382896A 1996-03-28 1996-03-28 Contact pin for ic socket Pending JPH09266046A (en)

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