JPH09246945A - 出力レベル変換回路 - Google Patents

出力レベル変換回路

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JPH09246945A
JPH09246945A JP8057100A JP5710096A JPH09246945A JP H09246945 A JPH09246945 A JP H09246945A JP 8057100 A JP8057100 A JP 8057100A JP 5710096 A JP5710096 A JP 5710096A JP H09246945 A JPH09246945 A JP H09246945A
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JP
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diode
potential
anode
power supply
cathode
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JP8057100A
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Inventor
Takahiro Hatano
孝裕 羽田野
Yasuyuki Matsutani
康之 松谷
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Nippon Telegraph and Telephone Corp
Original Assignee
Nippon Telegraph and Telephone Corp
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Abstract

(57)【要約】 【課題】 低電圧および高電圧の2つの電源を用いて、
低電位から高電位までを振幅とする信号にレベル変換を
行い、かつ、使用する素子の耐圧以上の高レベル高電位
への変換を可能とすることである。 【解決手段】 ラッチ回路を構成する第1,第2のPM
OSトランジスタ13,19およびNMOSトランジス
タ18,24の各素子に対し、第1〜第12のダイオー
ド17,16,15,14,23,22,21,20,
25,26,27,28を挿入して各素子に印加される
電圧が分圧されるようにした構成を特徴としている。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【産業上の利用分野】本発明は、低電圧および高電圧の
2つの電源を用いる回路で、低電位から低レベル高電位
までを振幅とする信号を、低電位から高レベル高電位ま
でを振幅とする信号にレベル変換する回路に係り、高レ
ベル高電位として、構成する素子の耐圧より高いレベル
のものを使用できる出力レベル変換回路に関するもので
ある。
【0002】
【従来の技術】従来、低電圧および高電圧の2つの電源
を用いて低電位と低レベル高電位との間の低レベル信号
から低電位と高レベル高電位との間の高レベル信号への
レベル変換を行う回路は、相補の低レベル信号を入力と
する高電源電圧で駆動されたラッチ回路を用いて構成さ
れてきた。
【0003】図3は、従来の出力レベル変換回路の構成
の一例を示す回路図である。図3において、高電位電源
端子は、使用する2つの電源レベルの高低に応じて、高
レベル高電位電源端子1,3と、低レベル高電位電源端
子60とに分けられる。第1のインバータ11の高電位
側は低レベル高電位電源端子60に接続され、低電位側
は低電位電源端子61に接続され、入力は入力端子5に
接続される。第2のインバータ12の高電位側は低レベ
ル高電位電源端子60に接続され、低電位側は低電位電
源端子61に接続され、入力は第1のインバータ11の
出力に接続される。
【0004】第1のNMOSトランジスタ54のゲート
は第1のインバータ11の出力に接続され、ソースは低
電位電源端子2に接続される。第2のNMOSトランジ
スタ55のゲートは第2のインバータ12の出力に接続
され、ソースは低電位電源端子2に接続される。第1の
PMOSトランジスタ52のゲートは第2のPMOSト
ランジスタ53および第2のNMOSトランジスタ55
のドレインに接続され、ソースは高レベル高電位電源端
子1に接続され、ドレインは第1のNMOSトランジス
タ54のドレインおよび第2のPMOSトランジスタ5
3のゲートに接続される。
【0005】第2のPMOSトランジスタ53のゲート
は第1のPMOSトランジスタ52および第1のNMO
Sトランジスタ54のドレインに接続され、ソースは高
レベル高電位電源端子1に接続されドレインは第2のN
MOSトランジスタ55のドレインおよび第1のPMO
Sトランジスタ52のゲートに接続される。
【0006】そして、第1,第2のPMOSトランジス
タ52,53および第1,第2のNMOSトランジスタ
54,55によってラッチ回路が構成されている。
【0007】第3のPMOSトランジスタ56のゲート
は第1のPMOSトランジスタ52のゲートおよび第2
のPMOSトランジスタ53、第2のNMOSトランジ
スタ55のドレインに接続され、ソースは高レベル高電
位電源端子3に接続され、ドレインは出力端子7に接続
される。第3のNMOSトランジスタ57のゲートは第
1のPMOSトランジスタ52のゲートおよび第2のP
MOSトランジスタ53、第2のNMOSトランジスタ
55のドレインに接続され、ソースは低電位電源端子4
に接続され、ドレインは出力端子7に接続される。
【0008】この出力レベル変換回路は、低電位電源端
子61に与えられるレベル(低電位)から低レベル高電
位電源端子60に与えられるレベル(低レベル高電位)
までを振幅とする低レベル入力信号を、低電位電源端子
61に与えられるレベル(低電位)から高レベル高電位
電源端子3に与えられるレベル(高レベル高電位)まで
を振幅とする高レベル出力信号に変換する。具体的な回
路動作は次の通りである。
【0009】入力端子5が低電位のとき、第1のインバ
ータ11の出力は低レベル高電位になり、第2のインバ
ータ12の出力は低電位になり、第1のNMOSトラン
ジスタ54は導通状態、第2のNMOSトランジスタ5
5は遮断状態となり、ノード70の電位は低下しノード
71の電位は上昇するので、第1のPMOSトランジス
タ52は遮断状態に向かい、第2のPMOSトランジス
タ53は導通状態に向かう。これによりノード70は第
1のNMOSトランジスタ54により迅速に低電位とな
り、ノード71は第2のPMOSトランジスタ53によ
り迅速に高レベル高電位となる。ノード71が高レベル
高電位になるため、第3のPMOSトランジスタ56は
遮断状態、第3のNMOSトランジスタ57は導通状態
となり、出力端子7には低電位の電圧レベルがあらわれ
る。
【0010】入力端子5が低レベル高電位のとき、第1
のインバータ11の出力は低電位になり、第2のインバ
ータ12の出力は低レベル高電位になり、第1のNMO
Sトランジスタ54は遮断状態、第2のNMOSトラン
ジスタ55は導通状態となり、ノード70の電位は上昇
しノード71の電位は低下するので、第1のPMOSト
ランジスタ52は導通状態に向かい、第2のPMOSト
ランジスタ53は遮断状態に向かう。これによりノード
70は第1のPMOSトランジスタ52により迅速に高
レベル高電位となり、ノード71は第2のNMOSトラ
ンジスタ55により迅速に低電位となる。ノード71が
低電位になるため、第3のPMOSトランジスタ56は
導通状態、第3のNMOSトランジスタ57は遮断状態
となり、出力端子7には高レベル高電位の電圧レベルあ
らわれる。
【0011】
【発明が解決しようとする課題】上記出力レベル変換回
路は、第1,第2のPMOSトランジスタ52,53お
よび第1,第2のNMOSトランジスタ54,55によ
り構成したラッチ回路1個により、簡単に低レベル信号
から高レベル信号への変換を実現している。しかしなが
ら上記の回路内では、ノード70,71に低電位および
高レベル高電位があらわれるために、ラッチ回路を構成
する52〜55のトランジスタおよび最終段を構成する
56,57のトランジスタのゲート・ソース間およびソ
ース・ドレイン間に、低電位と高レベル高電位との電位
差すなわち高レベル電源のレベルがそのままかかる。そ
のためこの回路は、使用できる高レベル電源すなわち変
換できる信号レベルの上限が、使用するトランジスタの
耐圧までであるという欠点を持つ。
【0012】本発明の目的は、低電圧および高電圧の2
つの電源を用いて、低電位から低レベル高電位までを振
幅とする信号を、低電位から高レベル高電位までを振幅
とする信号にレベル変換を行い、かつ使用する素子の耐
圧以上の高レベル高電位への変換を可能とした出力レベ
ル変換回路を提供することである。
【0013】
【課題を解決するための手段】従来は、低電圧および高
電圧の2つの電源を用いて、低電位から低電圧電源レベ
ル(低レベル高電位)までを振幅とする信号から低電位
から高電圧電源レベル(高レベル高電位)までを振幅と
する信号にレベル変換を行う回路を、MOSトランジス
タのみで構成していた。ここで用いられるMOSトラン
ジスタのゲート・ソース間、ソース・ドレイン間には、
レベル変換後の信号の最大振幅である低電位レベルと高
電圧電源レベルとの電位差がそのままかかる構造になっ
ているため、MOSトランジスタの耐圧より高いレベル
の高電圧電源を用いることができなかった。このため、
MOSトランジスタの耐圧より大きな振幅を持つ信号へ
のレベル変換を行うことはできなかった。
【0014】本発明は、MOSトランジスタで構成した
従来のラッチ回路にダイオードまたはトランジスタを組
み入れることで、MOSトランジスタのゲート・ソース
間、ソース・ドレイン間にかかる電圧レベルの調整を行
い、その耐圧より高いレベルの高電圧電源を用いること
ができ、MOSトランジスタの耐圧より大きな振幅を持
つ信号への変換を可能としたものである。
【0015】
【作用】本発明においては、挿入されたダイオードある
いはトランジスタにより各素子にかかる電圧が分圧され
るので、各素子の耐圧よりも高い電位の信号を出力でき
る。
【0016】
【実施例】以下、本発明の一実施例について説明する。
図1は、その第1の実施例を示す出力レベル変換回路で
ある。電源には低電圧および高電圧の2つの電源を用い
ている。1は高レベル高電位電源端子、2,61は低電
位電源端子、3は前記高レベル高電位電源素子1とは別
の高レベルの高電位電源端子、4は前記低電位電源素子
2とは別の低電位電源端子、5は入力端子、60は低電
圧の低レベル高電位電源端子、7は出力端子である。こ
こまでは図3に示した従来例と同じである。
【0017】入力端子5は第1のインバータ11の入力
に接続され、第1のインバータ11の出力は第2のイン
バータ12の入力に接続される。
【0018】第1のNMOSトランジスタ18のゲート
は第1のインバータ11の出力に接続され、ソースは低
電位電源端子2に接続される。第2のNMOSトランジ
スタ24のゲートは第2のインバータ12の出力に接続
され、ソースは低電位電源端子2に接続される。
【0019】第1,第2,第3,第4のダイオード1
7,16,15,14は、カソードを低電位側として順
方向に接続され、第1のダイオード17のカソードに第
1のNMOSトランジスタ18のドレインが接続され
る。第5,第6,第7,第8のダイオード23,22,
21,20は、カソードを低電位側として順方向に接続
される。第5のダイオード23のカソードに第2のNM
OSトランジスタ24のドレインが接続される。第9の
ダイオード25のカソードと第10のダイオード26の
アノードと第11のダイオード27のカソードと第12
のダイオード28のアノードが接続され、第9のダイオ
ード25のアノードと第10のダイオード26のカソー
ドは、第3のダイオード15のカソードおよび第2のダ
イオード16のアノードに接続され、第11のダイオー
ド27のアノードと第12のダイオード28のカソード
は、第7のダイオード21のカソードおよび第6のダイ
オード22のアノードに接続される。
【0020】第1のPMOSトランジスタ13のゲート
は第7のダイオード21のアノードおよび第8のダイオ
ード20のカソードに接続され、ソースは高レベル高電
位電源端子1に接続され、ドレインは第4のダイオード
14のアノードに接続される。第2のPMOSトランジ
スタ19のゲートは第3のダイオード15のアノードお
よび第4のダイオード14のカソードに接続され、ソー
スは高レベル高電位電源端子1に接続され、ドレインは
第8のダイオード20のアノードに接続される。
【0021】第3のPMOSトランジスタ33のゲート
は第2のPMOSトランジスタ19のドレインおよび第
8のダイオード20のアノードに接続され、ソースは高
レベル高電位電源端子3に接続される。第4のPMOS
トランジスタ34のゲートは第9のダイオード25のカ
ソード、第10のダイオード26のアノード、第11の
ダイオード27のカソード、第12のダイオード28の
アノードとに接続され、ソースは第3のPMOSトラン
ジスタ33のドレインに接続され、ドレインは出力端子
7に接続される。
【0022】第3のNMOSトランジスタ35のゲート
は第9のダイオード25のカソード、第10のダイオー
ド26のアノード、第11のダイオード27のカソー
ド、第12のダイオード28のアノードとに接続され、
ドレインは出力端子7に接続される。第4のNMOSト
ランジスタ36のゲートは第2のNMOSトランジスタ
24のドレインおよび第5のダイオード23のカソード
に接続され、ソースは低電位電源端子4に接続され、ド
レインは第3のNMOSトランジスタ35のソースに接
続される。
【0023】この出力レベル変換回路の動作は次の通り
である。入力端子5の信号が低レベル高電位のとき、第
1のインバータ11の出力は低電位、第2のインバータ
12の出力は低レベル高電位になる。そのため、第1の
NMOSトランジスタ18は遮断状態になり、第2のN
MOSトランジスタ24は導通状態となり、ノード81
のレベルが低下する。ノード90よりノード91の方が
より早く低いレベルにまで低下するため、第1のPMO
Sトランジスタ13が導通状態になり、それに伴いノー
ド90のレベルが上昇するので第2のPMOSトランジ
スタ19は遮断状態に向かう。これにより順方向の第
4,第3,第9,第12,第6,第5のダイオード1
4,15,25,28,22,23を通る電流パスが出
来るため、ノード100はこれらのダイオードの内部抵
抗の比により高レベル高電位と低電位との中間の電位と
なる。また第2のPMOSトランジスタ19のゲート電
位を与えるノード90は、最も高い場合でも高レベル高
電位から上記電流パスにより生じる第4のダイオード1
4での電圧降下分を引いたレベルまでしか上昇しないた
め、第2のPMOSトランジスタ19は完全に遮断状態
にはならずリークが生じる。これにより第2のPMOS
トランジスタ19および第8,第7,第6,第5のダイ
オード20,21,22,23を通る電流パスが出来る
ため、ノード101はこれらの抵抗比により決まる電位
となる。この電位が第3のPMOSトランジスタ33を
導通状態にする電位まで低下するように、各素子の定数
を決定する。以上により第3のPMOSトランジスタ3
3は導通状態となり、第4のPMOSトランジスタ34
は導通状態となり、第3のNMOSトランジスタ35は
第4のNMOSトランジスタ36のドレインをノード1
00の電位レベルでクランプするクランプ回路としては
たらき、第4のNMOSトランジスタ36は遮断状態と
なるため、出力端子7には高レベル高電位があらわれ
る。
【0024】また入力端子5の信号が低電位のとき、第
1のインバータ11の出力は低レベル高電位、第2のイ
ンバータ12の出力は低電位になる。そのため、第1の
NMOSトランジスタ18は導通状態になり、第2のN
MOSトランジスタ24は遮断状態となり、ノード80
のレベルが低下する。ノード91よりノード90の方が
より早く低いレベルにまで低下するため、第2のPMO
Sトランジスタ19が導通状態になり、それに伴いノー
ド91のレベルが上昇するので第1のPMOSトランジ
スタ13は遮断状態に向かう。このときノード101は
高レベル高電位まで上昇する。これにより順方向の第
8,第7,第11,第10,第2,第1のダイオード2
0,21,27,26,16,17を通る電流パスが出
来るため、ノード100はこれらのダイオードの内部抵
抗の比により高レベル高電位と低電位との中間の電位と
なる。ノード81を通る電流パスは生じないので、ノー
ド81はノード102と同電位まで上昇する。ここで、
ノード102はノード100の電位に第11のダイオー
ド27で生じる電位差分を加えた電位となり、上記の電
流パスを形成する各ダイオードの抵抗が同等とすると、
この電位差は高レベル高電位と低電位との差の6分の1
となるので、その場合はノード81の電位レベルは高レ
ベル高電位と低電位との電位差の3分の2となる。以上
により第3のPMOSトランジスタ33は遮断状態とな
り、第4のPMOSトランジスタ34は第3のPMOS
トランジスタ33のドレインをノード100の電位レベ
ルでクランプするクランプ回路としてはたらき、第3の
NMOSトランジスタ35は導通状態となり、第4のN
MOSトランジスタ36は導通状態となるため、出力端
子7には低電位レベルがあらわれる。
【0025】このように、この回路により、低電位から
低レベル高電位までを振幅とする信号から低電位から高
レベル高電位までを振幅とする信号にレベル変換を行う
ことができる。
【0026】また、この回路の高電圧電源に3V、低電
圧電源に1Vを用いて、1V振幅の信号を3V振幅の信
号にレベル変換する場合を考えると、ノード100には
その中間電位である1.5Vがかかり、第1,第2のイ
ンバータ11,12を構成するMOSトランジスタのゲ
ート・ソース(G−S)間、ソース・ドレイン(S−
D)間には1V、第1,第2のNMOSトランジスタ1
8,24のG−S間には1V、S−D間には2V、第
1,第2のPMOSトランジスタ13,19のG−S間
には4/3V、S−D間には2/3V、すべてのダイオ
ードのアノード・カソード間には0.5V、第3のPM
OSトランジスタ33のG−S間には2/3V、S−D
間には1.5V、第4のPMOSトランジスタ34のG
−S間には1.5V、S−D間には1.5V、第3のN
MOSトランジスタ35のG−S間には1.5V、S−
D間には1.5V、第4のNMOSトランジスタ36の
G−S間には2V、S−D間には1.5Vがそれぞれ最
大でかかることになるため、素子に必要な耐圧は2Vで
よい。このように、図1の出力レベル変換回路により、
耐圧が2Vの素子を用いて信号振幅が3Vまでの信号へ
のレベル変換を行うことが可能である。
【0027】図2は、本発明の第2の実施例を示す出力
レベル変換回路である。第1の実施例と異なるところ
は、第1から第12のダイオード17,16,15,1
4,23,22,21,20,25,26,27,28
を、ゲートとドレインを短絡したMOSトランジスタ1
17,116,115,114,123,122,12
1,120,125,126,127,128で置き換
えたものである。ここで置き換えるMOSトランジスタ
はP型でもN型でもよい。図はすべてNMOSトランジ
スタで置き換えた例である。回路の動作は実施例1の場
合と同等である。
【0028】
【発明の効果】以上のように、本発明の出力レベル変換
回路は、ラッチ回路を構成する各素子にかかる電圧を分
圧して、該各素子の耐圧より高い電位を出力するための
ダイオード、あるいはトランジスタを挿入したので、低
電位から低レベル高電位までを振幅とする信号を、低電
位から高レベル高電位までを振幅とする信号に変換する
ことができ、かつ構成する素子の耐圧より高いレベルの
高電圧電源を用いた低電位から高レベル高電位までの振
幅を持つ信号へのレベル変換が可能であるという利点を
有する。
【0029】例えば、3Vと1Vの2つの電源を用い
て、1V振幅の信号を3V振幅の信号にレベル変換する
場合、図1の回路を例にとると、ノード100の電位は
中間電位である1.5Vとなり、第1,第2のインバー
タ11,12を構成するMOSトランジスタのゲート・
ソース(G−S)間、ソース・ドレイン(S−D)間に
は1V、第1,第2のNMOSトランジスタ18,24
のG−S間には1V、S−D間には2V、第1,第2の
PMOSトランジスタ13,19のG−S間には4/3
V、S−D間には2/3V、すべてのダイオードのアノ
ード・カソード間には0.5V、第3のPMOSトラン
ジスタ33のG−S間には2/3V、S−D間には1.
5V、第4のPMOSトランジスタ34のG−S間には
1.5V、S−D間には1.5V、第3のNMOSトラ
ンジスタ35のG−S間には1.5V、S−D間には
1.5V、第4のNMOSトランジスタ36のG−S間
には2V、S−D間には1.5Vがそれぞれ最大でかか
るので、2Vが構成する素子に必要な耐圧である。この
ように、耐圧が2Vである素子を用いて振幅が3Vとい
う耐圧より高いレベルの信号への変換を行うことが可能
であるという利点を有する。
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明の第1の実施例の出力レベル変換回路の
具体的な回路図である。
【図2】本発明の第2の実施例の出力レベル変換回路の
具体的な回路図である。
【図3】従来の出力レベル変換回路の具体的な回路図で
ある。
【符号の説明】
1 高レベル高電位電源端子 2 低電位電源端子 3 高レベル高電位電源端子 4 低電位電源端子 5 入力端子 7 出力端子 11 インバータ 12 インバータ 13 PMOSトランジスタ 14〜17 ダイオード 18 NMOSトランジスタ 19 PMOSトランジスタ 20〜23 ダイオード 24 NMOSトランジスタ 25〜28 ダイオード 33 PMOSトランジスタ 34 PMOSトランジスタ 35 NMOSトランジスタ 36 NMOSトランジスタ 52 PMOSトランジスタ 53 PMOSトランジスタ 54 NMOSトランジスタ 55 NMOSトランジスタ 56 PMOSトランジスタ 57 NMOSトランジスタ 60 低レベル高電位電源端子 61 低電位電源端子 62 低レベル高電位電源端子 63 低電位電源端子 70 回路中のノード 71 回路中のノード 80 回路中のノード 81 回路中のノード 90 回路中のノード 91 回路中のノード 100〜102 回路中のノード 114〜117 MOSトランジスタ 120〜123 MOSトランジスタ 125〜128 MOSトランジスタ

Claims (3)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 MOSトランジスタで構成したラッチ回
    路を用いた出力レベル変換回路において、前記ラッチ回
    路を構成する各素子にかかる電圧を分圧して、該各素子
    の耐圧より高い電位を出力するためのダイオード、ある
    いはトランジスタを挿入したことを特徴とする出力レベ
    ル変換回路。
  2. 【請求項2】 入力側が入力端子に接続され高電位側が
    第1の高電位電源端子に接続され低電位側が低電位電源
    端子に接続された第1のインバータと、入力側が第1の
    インバータの出力に接続され高電位側が第1の高電位電
    源端子に接続され低電位側が低電位電源端子に接続され
    た第2のインバータと、ゲートが上記第1のインバータ
    の出力に接続されソースが低電位電源端子に接続された
    第1のNMOSトランジスタと、ゲートが上記第2のイ
    ンバータの出力に接続されソースが低電位電源端子に接
    続された第2のNMOSトランジスタと、カソードが上
    記第1のNMOSトランジスタのドレインに接続された
    第1のダイオードと、カソードが上記第1のダイオード
    のアノードに接続された第2のダイオードと、カソード
    が上記第2のダイオードのアノードに接続された第3の
    ダイオードと、カソードが上記第3のダイオードのアノ
    ードに接続された第4のダイオードと、カソードが上記
    第2のNMOSトランジスタのドレインに接続された第
    5のダイオードと、カソードが上記第5のダイオードの
    アノードに接続された第6のダイオードと、カソードが
    上記第6のダイオードのアノードに接続された第7のダ
    イオードと、カソードが上記第7のダイオードのアノー
    ドに接続された第8のダイオードと、ゲートが上記第7
    のダイオードのアノードと第8のダイオードのカソード
    に接続されソースが第2の高電位電源端子に接続されド
    レインが上記第4のダイオードのアノードに接続された
    第1のPMOSトランジスタと、ゲートが上記第3のダ
    イオードのアノードと第4のダイオードのアノードに接
    続されソースが第2の高電位電源端子に接続されドレイ
    ンが上記第8のダイオードのアノードに接続された第2
    のPMOSトランジスタと、アノードが上記第2のダイ
    オードのアノードおよび第3のダイオードのカソードに
    接続された第9のダイオードと、カソードが上記第2の
    ダイオードのアノードおよび第3のダイオードのカソー
    ドに接続された第10のダイオードと、アノードが上記
    第6のダイオードのアノードおよび第7のダイオードの
    カソードに接続された第11のダイオードと、カソード
    が上記第6のダイオードのアノードおよび第7のダイオ
    ードのカソードに接続された第12のダイオードと、ゲ
    ートが上記第2のPMOSトランジスタのドレインおよ
    び上記第8のダイオードのアノードに接続されソースが
    第3の高電位電源端子に接続された第3のPMOSトラ
    ンジスタと、ゲートが上記第9および第11のダイオー
    ドのカソードに接続されると共に上記第10および第1
    2のダイオードのアノードに接続されソースが上記第3
    のPMOSトランジスタのドレインに接続されドレイン
    が出力端子に接続された第4のPMOSトランジスタ
    と、ゲートが上記第9および第11のダイオードのカソ
    ードに接続されると共に上記第10および第12のダイ
    オードのアノードに接続されドレインが出力端子に接続
    された第3のNMOSトランジスタと、ゲートが上記第
    2のNMOSトランジスタのドレインおよび上記第5の
    ダイオードのカソードに接続されドレインが上記第3の
    NMOSトランジスタのソースに接続されソースが上記
    と異なる低電位電源端子に接続された第4のNMOSト
    ランジスタとからなり、上記第2および第3の高電位電
    源端子には同一の電位を与えて、上記第1の高電位電源
    端子には上記第2および第3の高電位電源端子の電位よ
    り低い電位を与えることを特徴とする出力レベル変換回
    路。
  3. 【請求項3】 請求項2記載のレベル変換回路におい
    て、第1乃至第12のダイオードをゲートとドレインを
    短絡したMOSトランジスタで置き換えたことを特徴と
    する出力レベル変換回路。
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Cited By (7)

* Cited by examiner, † Cited by third party
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US6249169B1 (en) 1998-06-01 2001-06-19 Fujitsu Limited Transistor output circuit
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