JPH09213016A - 再生クロック生成回路 - Google Patents

再生クロック生成回路

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JPH09213016A
JPH09213016A JP8016226A JP1622696A JPH09213016A JP H09213016 A JPH09213016 A JP H09213016A JP 8016226 A JP8016226 A JP 8016226A JP 1622696 A JP1622696 A JP 1622696A JP H09213016 A JPH09213016 A JP H09213016A
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JP
Japan
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phase
pull
detection
clock generation
generation circuit
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JP8016226A
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Susumu Chiaki
進 千秋
Tomohiro Koda
朋弘 甲田
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Sony Corp
Original Assignee
Sony Corp
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Publication date
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Abstract

(57)【要約】 【課題】 局所的な欠陥の影響を小さして高精度にクロ
ック生成を行うことができる再生クロック生成回路を提
供する。 【解決手段】 信号処理部２は、参照領域の再生時に、
Ａ／Ｄ変換器１によりＡ／Ｄ変換された参照パターンの
再生信号のサンプリング値に基づいて、クロック生成処
理部２Ａにより再生クロックＣＫの位相誤差を算出し、
データ領域の再生時に、上記位相誤差に基づいて位相補
正信号をクロック発生部３に与えて、上記クロック発生
部３が生成する再生クロックＣＫの位相を補正する。

Description

【発明の詳細な説明】
【０００１】
【発明の属する技術分野】本発明は、サンプルサーボフ
ォーマットの光磁気ディスクのドライブ装置等における
再生クロック生成回路に関する。
【０００２】
【従来の技術】一般に、同心円状又は渦巻状に形成され
たトラックをレーザビームで走査して各種データの記録
／再生を行う光ディスクシステムでは、光ディスクを線
速度一定(CLV:Constant Linear Velocity)に回転駆動し
て、データの記録／再生を行うＣＬＶ方式や、光ディス
クを角速度一定(CAV:Constant Angular Velocity) に回
転駆動して、データの記録／再生を行うＣＡＶ方式、さ
らに、空間的な記録密度をディスクの内外周でほぼ一定
にして記録効率を上げるようにしたＭＣＡＶ(Modified
CAV)方式などが知られている。また、トラックに沿って
連続的に設けられたプリグルーブを用いてトラッキング
制御などを行うコンティニアスサーボ方式や、トラック
上に離散的に設けられたサーボエリアを利用してトラッ
キング制御などを行うサンプルサーボ方式のものが知ら
れている。
【０００３】さらに、光ディスクとしては、再生専用の
所謂ＲＯＭディスク、追記型ディスク、光磁気(MO)ディ
スクなどの記録可能なＲＡＭディスク、ＲＯＭ領域とＲ
ＡＭ領域とを有する所謂ハイブリッドディスクなどが知
られている。
【０００４】一般に、同心円状又は渦巻状に形成された
トラックがそれぞれサーボエリアとデータエリアからな
る複数の領域に分割されてなるサンプルサーボフォーマ
ットの光磁気ディスクのドライブ装置では、サーボ領域
にあるクロック再生用のピットを基に外部クロックを形
成し、この外部クロックを用いてデータの記録／再生を
行うようにしている。このように外部クロックを用いて
データの記録／再生を行うドライブ装置では、外周部と
内周部とのピット間の距離の相違や温度特性などによ
り、再生データの位相と外部クロックの位相とに位相誤
差を生じることがある。そこで、データ記録時に各セク
タのヘッダの参照領域に参照パターンを記録しておき、
再生時にこの参照領域の参照パターンを用いて位相エラ
ーすなわち外部クロックと最適再生クロックとの位相差
を求め、データ領域では得られた位相差を外部クロック
に与え再生クロックとするようにしている。上記位相エ
ラーを求めるの当たっては、データ再生系と同じ回路系
を用いる。参照領域の参照パターンとデータ領域のデー
タは同条件で記録されるので、参照パターンを用いての
位相エラーを求めることは、再生クロックの位相補正に
極めて有効である。
【０００５】上記位相エラーを求める方法としては、可
変範囲をスキャンして最適位相を求める方法や、特開平
５−２４２６０８号等に開示されているように、引き込
み動作を行い、引き込んだとと判断した時点での位相差
を求める方法がある。
【０００６】
【発明が解決しようとする課題】ところで、上述の可変
範囲をスキャンして最適位相を求める方法では、信号の
品質がよほど良くないかぎり１回のスキャンで正確な位
相差を求めることはできないので、複数回スキャンを行
い、その平均を取る必要がある。そのためには、参照領
域を広く取る必要があり、また、スキャン時の最適位相
点以外のところは情報として無駄になる。
【０００７】また、引き込み動作を行い、引き込んだと
と判断した時点での位相差を求める方法では、引き込み
完了時点で記録媒体に欠陥があった場合、参照領域から
正確な情報が得られないので、その欠陥の影響を大きく
受ける。
【０００８】そこで、本発明の目的は、上述の如き従来
の問題点に鑑み、局所的な欠陥の影響を小さして高精度
にクロック生成を行うことができる再生クロック生成回
路を提供することにある。
【０００９】また、本発明の他の目的は、参照領域の情
報を有効に利用して高精度にクロック生成を行うことが
できる再生クロック生成回路を提供することにある。
【００１０】
【課題を解決するための手段】本発明は、所定周期の参
照パターンが記録された参照領域を有するサンプルサー
ボフォーマットの記録媒体から得られる再生信号をサン
プリングする再生クロックを生成する再生クロック生成
回路であって、参照パターンの再生信号のサンプリング
値に基づいて粗い検出を行い位相検出行う位相検出手段
と、上記位相検出手段による位相検出の後に上記参照パ
ターンの再生信号に基づいて細かい位相引き込みを行う
位相引き込み手段と、上記位相引き込み手段による引き
込み区間中の平均位相を用いて位相補正を行う位相補正
手段とを備えることを特徴とする。
【００１１】本発明に係る再生クロック生成回路は、上
記位相補正手段により、位相引き込みの単位毎の平均を
参照領域全域に亘って平均したもの位相誤差として、位
相補正を行うことを特徴とする。
【００１２】本発明に係る再生クロック生成回路は、上
記位相補正手段により、位相引き込みの単位毎の設定位
相の和の参照領域全域に亘る総和と、上記単位毎の設定
回数の参照領域全域に亘る総和とから上記位相誤差を求
めて、位相補正を行うことを特徴とする。
【００１３】本発明に係る再生クロック生成回路は、上
記参照パターンの再生信号の欠陥判定手段を備え、上記
位相補正手段により、上記欠陥判定手段による判定結果
に基づいて、欠陥区間の位相情報を排除して位相誤差を
求めて、位相補正を行うことを特徴とする。
【００１４】本発明に係る再生クロック生成回路は、上
記欠陥判定手段による判定結果に基づいて、上記位相補
正手段により、位相引き込みの単位で欠陥区間の位相情
報を排除して位相誤差を求めて、位相補正を行うことを
特徴とする。
【００１５】本発明に係る再生クロック生成回路は、上
記参照パターンの再生信号の異常を検出する異常検出手
段と、上記異常検出手段による異常検出信号に応じて上
記位相引き込み手段による位相引き込み動作を制御する
制御手段とを備えることを特徴とする。
【００１６】本発明に係る再生クロック生成回路は、上
記異常検出手段による異常検出信号に基づいて、上記制
御手段により、上記参照パターンの再生信号の欠陥区間
で上記位相引き込み手段による位相引き込み動作を停止
させる制御を行うことを特徴とする。
【００１７】本発明に係る再生クロック生成回路は、上
記異常検出手段による異常検出信号に基づいて、上記制
御手段により、上記参照パターンの再生信号の欠陥区間
で上記位相引き込み手段による位相引き込み動作を欠陥
前の位相まで戻す制御を行うことを特徴とする。
【００１８】本発明に係る再生クロック生成回路は、上
記異常検出手段による異常検出信号に基づいて、上記制
御手段により、上記参照パターンの再生信号の欠陥区間
で上記位相引き込み手段による位相引き込み動作を欠陥
前の位相まで戻す制御を行うことを特徴とする。
【００１９】
【発明の実施の形態】以下、本発明の実施の形態につい
て図面を参照しながら説明する。
【００２０】本発明に係る再生クロック生成回路は、所
定周期の参照パターンが記録された参照領域を有するサ
ンプルサーボフォーマットの記録媒体から得られる再生
信号をサンプリングする再生クロックを生成するもので
あって、例えばサンプルサーボフォーマットの光磁気デ
ィスクのドライブ装置に適用される。
【００２１】そこで、先ず、このような参照パターンを
記録するサンプルサーボ方式の光磁気ディスクについて
説明する。
【００２２】図１に示すように、この種の光磁気ディス
クでは、同心円状又はスパイラル状のトラックＴが複数
のセクタＳに分割され、各セクタＳ0 ，Ｓ1 ，Ｓ2 ・・
・毎にデータの記録／再生が行われる。各セクタＳ0 ，
Ｓ1 ，Ｓ2 ・・・は、図２に示すように、さらに複数の
セグメントに分割される。各セグメントは、サーボ領域
とデータ領域から成る。
【００２３】上記サーボ領域には、互いにトラック中心
から±１／４トラックだけずれて配置された２個のサー
ボピットが設けられている。上記サーボピットの再生信
号に基づいて、クロック再生が行われるとともに、トラ
ッキング制御が行われる。また、図２に示すように、各
セクタの先頭のセグメントは、各セクタの制御情報とし
てアドレス、セクタマーク等が記録されたヘッダＨ１で
あって、次のセグメントは、データ記録時に参照パター
ンが記録されるヘッダＨ２となっている。そして、上記
ヘッダＨ２すなわち参照領域には、２Ｔ＋２Ｔの参照パ
ターンがデータ記録時に記録されているものとする。
【００２４】本発明に係る再生クロック生成回路は、例
えば図３に示すように構成される。
【００２５】この図３に示した再生クロック生成回路
は、光磁気ディスクからの再生信号がＡ／Ｄ変換器１に
よりＡ／Ｄ変換されて供給される信号処理部２と、上記
Ａ／Ｄ変換器１に再生クロックＣＫを供給するクロック
発生部３からなる。
【００２６】上記Ａ／Ｄ変換器１は、上記クロック発生
部３から与えられる再生クロックＣＫにより光磁気ディ
スクからの再生信号をサンプリングしてＡ／Ｄ変換して
得られる時系列のサンプリング値を上記信号処理部２に
供給する。
【００２７】上記信号処理部２は、参照領域の再生信号
に基づいてクロック生成のための信号処理を行うクロッ
ク生成処理部２Ａと、実際のデータ再生を行うデータ再
生処理部２Ｂとを備える。
【００２８】上記クロック生成処理部２Ａは、光磁気デ
ィスクの参照領域の再生時に、上記Ａ／Ｄ変換器１によ
りＡ／Ｄ変換された参照パターンの再生信号のサンプリ
ング値に基づいて再生クロックＣＫの位相誤差を算出す
る。ここで、上記光磁気ディスクの参照領域に記録され
ている参照パターンは、２Ｔ＋２Ｔの４Ｔ周期であるか
ら、図４に示すように、その再生信号を上記Ａ／Ｄ変換
器１でサンプリングしたデータすなわちサンプリング値
の２Ｔ周期の差分（Ａ−Ｃ）として位相情報が得られ
る。そして、光磁気ディスクのデータ領域の再生時に
は、上記信号処理部２により、上記参照領域の再生時に
算出した位相誤差に基づいて位相補正信号を上記クロッ
ク発生部３に与えて、上記クロック発生部３が生成する
再生クロックＣＫの位相を補正する。
【００２９】上記クロック発生部３は、上記Ａ／Ｄ変換
器１及び信号処理部２とともに位相ロックループ(PLL:
Phase Locked Loop)を構成しており、上記信号処理部２
により、参照領域の再生時に算出された位相誤差に基づ
く位相補正信号で位相補正された再生クロックＣＫをデ
ータ領域の再生時に生成する。
【００３０】これにより、データ領域の再生時には、上
記Ａ／Ｄ変換器１は、位相補正された再生クロックＣＫ
により光磁気ディスクのデータ領域からの再生信号をサ
ンプリングしてＡ／Ｄ変換して得られる時系列のサンプ
リング値を上記信号処理部２に供給する。
【００３１】上記クロック生成処理部２Ａは、例えば図
５に示すように、上記Ａ／Ｄ変換器１によりＡ／Ｄ変換
された再生信号の信号レベルを示すサンプリング値が供
給される検出部(DET:Detection)２１と、この検出部２
１の出力が供給される制御部(SEQ:Sequencer)２２と、
この制御部２２により制御される第１及び第２のカウン
タ(CNT1:Counter1, CNT2:Counter2)２３，２４と、上記
第２のカウンタ２４の出力が供給される平均計算回路(A
VR:Averaging)２５等を備えてなる。
【００３２】上記検出部２１は、上記Ａ／Ｄ変換器１か
ら供給されるサンプリングデータに基づいて、上記制御
部２２で用いられる位相情報、パターン検出や欠陥検出
情報のため、各タイミングにおけるサンプリングデータ
比較信号を生成する。上記第１のカウンタ２３は、位相
設定データを上記クロック発生部３に直接与える位相設
定用のカウンタであって、分解能が可変なアップ／ダウ
ンカウンタからなる。上記第２のカウンタ２４は、上記
平均計算回路２５に位相情報を与える位相平均用のカウ
ンタであって、バイナリカウンタからなる。上記平均計
算回路２５は、上記第２のカウンタ２４により与えられ
る位相情報の平均を計算する。
【００３３】上記制御部２２は、その内部の状態を示す
次のような状態レジスタやフリップフロップなどを備え
ている。
【００３４】ＳＲＥＳ：位相分解能の粗／細を示す状態
レジスタ。この状態レジスタＳＲＥＳは、粗い検出時に
は論理「Ｈ」で、細い位相引込時には論理「Ｌ」とされ
る。粗い検出時に極性反転が得られフリップフロップＳ
ＤＥＴがセットされた後、粗い検出された位相まで設定
位相が戻るとリセットされる。
【００３５】ＳＵ＿Ｄ：位相設定の増／減を示す状態レ
ジスタ。この状態レジスタＳＵ＿Ｄは、設定位相増加時
には論理「Ｈ」で、設定位相減少時には論理「Ｌ」とさ
れる。粗い検出時には極性反転の検出によってＳＵ＿Ｄ
を反転させる。ただし、位相が２Ｔずれたところに引き
込むのを避けるために、位相増加時にはＡ＜ＣからＡ＞
Ｃの反転でのみＳＵ＿Ｄを反転させ、設定位相減少時に
はＡ＞ＣからＡ＜Ｃの反転でのみＳＵ＿Ｄを反転させ
る。細かい引き込み時には、Ａ＜Ｃの場合には位相増加
にセットし、Ａ＞Ｃの場合には位相減少にセットする。
これにより引き込み動作となる。
【００３６】ＳＨＬＤ：位相増加時に検出範囲最大値に
達したとき、又は、位相減少時に検出範囲最小値に達し
たときにセットされるフリップフロップ。このフリップ
フロップＳＨＬＤは、それ以上、位相増加しないことす
なわち位相ホールドすることを示す。これが立っている
間、検出位相は止まっている設定位相に追いついてい
く。検出位相が設定位相に追いついたらリセットされ
る。
【００３７】ＳＤＥＴ：粗い検出時に極性反転が得られ
たときにセットされるフリップフロップ。このフリップ
フロップＳＤＥＴが立っている間、設定位相を戻す。粗
い検出された位相まで、設定位相が戻るとリセットされ
る。
【００３８】ＳＲＥＴ：粗い検出時にＳＨＬＤ及びＳＥ
ＲＲ後すなわち検出位相が設定位相まで追いついたらセ
ットされるフリップフロップ。このフリップフロップＳ
ＲＥＴは、欠陥時に検出位相が設定位相まで追いついて
も、なおかつ欠陥状態であればフリップフロップＳＥＲ
Ｒはクリアされないので、セットされない。動き出した
設定位相に対応する検出位相情報が得られ出すたときに
リセットされる。また、粗い検出がなされＳＤＥＴがセ
ットされ、検出された位相まで設定位相が戻るとリセッ
トされる。細かい引き込み時には働かない。
【００３９】ＳＥＲＲ：欠陥と判断されたときにセット
されるフリップフロップ。
【００４０】ＦＢＣ＝ＢＣＮＴ：２ビットのカウンタ。
このカウンタＦＢＣ＝ＢＣＮＴは、設定位相の仮想２Ｔ
＋２Ｔパターン再生波形（４Ｔ周期の正弦波）のＡ，
Ｂ，Ｃ，Ｄの周期のタイミングをとる。
【００４１】ＦＨＣ＝ＨＣＮＴ：位相設定してから検出
・再設定までの時間差(Time Rag)分のカウンタ。このカ
ウンタＦＨＣ＝ＨＣＮＴは、粗い検出時には、通常、設
定位相と検出位相の位相step差をカウントする。従っ
て、ＳＨＬＤ時やＳＥＲＲ時に検出位相を設定位相まで
戻すときは、このカウント値が０になるまで戻す。その
後のＳＲＥＴ時において、動きだした設定位相に対応す
る検出位相情報が得られ出すまで待たせるには、位相設
定してから検出・再設定までの時間差(Time Rag)分のカ
ウントすればよい。粗い検出動作時に極性反転が得られ
たときすなわちＳＤＥＴが立っている間は、検出された
位相まで設定位相を戻すのに用いられる。その後細かい
引き込みに移る時点でのＳＲＥＴでは、検出位相を設定
位相（粗い検出された位相）まで戻すのに用いられる。
細かい引き込みの最中でも、ＳＨＬＤ時やＳＥＲＲ時に
検出位相を設定位相まで戻すときは、このカウント値が
０になるまで戻す。その後、細かい引込動作時にはＳＲ
ＥＴは必要なく通常の引き込み動作を再開すればよい
が、このカウンタＦＨＣ＝ＨＣＮＴは位相設定してから
検出・再設定までの時間差(Time Rag)分のカウントす
る。こうすることにより、再度ＳＨＬＤやＳＥＲＲが起
こったときに、検出位相を設定位相まで戻すことができ
る。
【００４２】ＷＩＮＳＣＨ：位相情報検出ウインドウ。
この位相情報検出ウインドウＷＩＮＳＣＨは、２Ｔ＋２
Ｔパターン再生波形（４Ｔ周期の正弦波）のＡ，Ｃのタ
イミング信号ｗｉｎ内で極性反転検出信号ｓｎｃｈが検
出されたときに立つ信号である。
【００４３】ＣＤＩＳ：検出範囲の設定限界になった
ら、位相設定用カウンタＣＮＴ１からその旨を知らせる
信号である。
【００４４】そして、このような構成の再生クロック生
成回路では、図６に基本的な動作フローを示すように、
参照領域の再生時に参照パターンの再生信号に基づいて
粗い検出動作を行い、検出されたら細かい引込動作を行
い、その引き込み区間中の位相平均を取ることにより最
適位相を求め、それを用いて補正したもをデータ抜き取
り用のクロックとする。
【００４５】すなわち、この再生クロック生成回路の制
御部２２は、動作開始時に初期化処理Ｓ１によりＳＲＥ
Ｓ＝Ｈすなわち粗い検出動作モード（＃１）を設定し
て、ＷＩＮＳＣＨの判定処理Ｓ２を行いながら粗い検出
動作Ｓ３を繰り返し行い、上記ＷＩＮＳＣＨの判定処理
Ｓ２により２Ｔ＋２Ｔパターン再生波形（４Ｔ周期の正
弦波）のＡ，Ｃのタイミング信号ｗｉｎ内で極性反転検
出信号ｓｎｃｈが検出されると動作モードの切換処理Ｓ
４を行ってＳＲＥＳ＝Ｈすなわち粗い検出動作モード
（＃１）からＳＲＥＳ＝Ｌすなわち細かい引込動作モー
ド（＃２）に移って、ＣＤＩＳの判定処理Ｓ５を行いな
がら細かい引込動作Ｓ６を行う。なお、上記ＣＤＩＳの
判定処理Ｓ５によって検出範囲の設定限界になったこと
が検出されたときにには、動作モードの切換処理Ｓ７を
行ってＳＲＥＳ＝Ｌすなわち細かい引込動作モード（＃
２）からＳＲＥＳ＝Ｈすなわち粗い検出動作モード（＃
１）に戻って、再度、上記ＷＩＮＳＣＨの判定処理Ｓ２
を行いながら粗い検出動作Ｓ３を繰り返し行う。
【００４６】上記粗い検出動作Ｓ３は、図７に具体的な
動作フローを示してあるように、動作開始時にＳＵ＿Ｄ
＝Ｈすなわち位相設定増加とされ第１及び第２のカウン
タ（ＣＮＴ１，ＣＮＴ２）２３，２４がカウントアップ
状態に設定されて動作を開始する。
【００４７】そして、この粗い検出動作Ｓ３では、ＣＤ
ＩＳの判定処理Ｓ３０Ａを行って検出範囲の設定限界に
なっていない場合に、第１及び第２のカウンタ（ＣＮＴ
１，ＣＮＴ２）２３，２４をカウントアップＳ３１Ａし
てＷＩＮＳＣＨの判定処理Ｓ２Ａを繰り返し行う。
【００４８】上記ＣＤＩＳの判定処理Ｓ３０Ａよって検
出範囲の設定限界になったことが検出されたときには、
設定位相の切換処理Ｓ３２Ａを行う。
【００４９】この設定位相の切換処理Ｓ３２Ａでは、先
ず、ＳＨＬＤ処理Ｓ３３Ａにより設定位相を止め、この
状態でＦＨＣ＝ＨＣＮＴ−１のデクリメント処理Ｓ３４
ＡとＨＣＮＴ＝０の判定処理Ｓ３５Ａを繰り返し行い、
ＨＣＮＴ＝０になるとＳＵ＿Ｄ＝Ｌすなわち位相設定減
少として第１及び第２のカウンタ（ＣＮＴ１，ＣＮＴ
２）２３，２４をカウントダウン状態に切換設定Ｓ３６
Ａする。そして、ＳＲＥＴＤ処理Ｓ３７Ａにより設定位
相を動かして、この状態でＦＨＣ＝ＨＣＮＴ＋１のイン
クリメント処理Ｓ３８ＡとＨＣＮＴ＝９の判定処理Ｓ３
９Ａを繰り返し行い、ＨＣＮＴ＝９になるとＷＩＮＳＣ
Ｈの判定処理Ｓ２Ｂに移る。
【００５０】そして、ＣＤＩＳの判定処理Ｓ３０Ｂを行
って検出範囲の設定限界になっていない場合に、第１及
び第２のカウンタ（ＣＮＴ１，ＣＮＴ２）２３，２４を
カウントダウンＳ３１ＢしてＷＩＮＳＣＨの判定処理Ｓ
２Ｂを繰り返し行う。
【００５１】上記ＣＤＩＳの判定処理Ｓ３０Ｂよって検
出範囲の設定限界になったことが検出されたときには、
設定位相の切換処理Ｓ３２Ｂを行う。
【００５２】この設定位相の切換処理Ｓ３２Ｂでは、上
記ＣＤＩＳの判定処理Ｓ３０Ｂよって検出範囲の設定限
界になったことが検出されると、ＳＨＬＤをセットＳ３
３Ｂして設定位相を止め、この状態でＦＨＣ＝ＨＣＮＴ
−１のデクリメント処理Ｓ３４ＢとＨＣＮＴ＝０の判定
処理Ｓ３５Ａを繰り返し行い、検出位相が設定位相に追
いついてＨＣＮＴ＝０になると、ＳＨＬＤをリセットす
るとともにＳＵ＿Ｄ＝Ｈすなわち位相設定増加として第
１及び第２のカウンタ（ＣＮＴ１，ＣＮＴ２）２３，２
４をカウントアップ状態に切換設定Ｓ３６Ｂする。そし
て、ＳＲＥＴをセットＳ３７Ｂして設定位相を動かし
て、この状態でＦＨＣ＝ＨＣＮＴ＋１のインクリメント
処理Ｓ３８ＢとＨＣＮＴ＝９の判定処理Ｓ３９Ｂを繰り
返し行い、ＨＣＮＴ＝９になると上記ＷＩＮＳＣＨの判
定処理Ｓ２Ａに戻る。上記ＳＲＥＴＤは検出位相が動き
出す時点でリセットされる。
【００５３】また、上記ＷＩＮＳＣＨの判定処理Ｓ２
Ａ，Ｓ２Ｂにおいて、２Ｔ＋２Ｔパターン再生波形（４
Ｔ周期の正弦波）のＡ，Ｃのタイミング信号ｗｉｎ内で
極性反転検出信号ｓｎｃｈが検出されると、動作モード
の切換処理Ｓ４に移る。
【００５４】この動作モードの切換処理Ｓ４では、上記
ＷＩＮＳＣＨの判定処理Ｓ２Ａ，Ｓ２Ｂで極性反転が検
出されると、先ず、ＳＤＥＴをセットし、極性反転が検
出された位相まで設定位相を戻す処理Ｓ４１を行う。そ
して、設定位相まで戻し終わったら、ＳＤＥＴをリセッ
トするとともに設定位相を止め、ＳＲＥＴを検出位相が
設定位相に追いつくまで立てておく処理Ｓ４２を行う。
そして、検出位相が設定位相まで追いついたら、ＳＲＥ
ＴをリセットするとともにＳＲＥＳ＝Ｌすなわち細かい
引込動作モード（＃２）を設定する処理Ｓ４３を行う。
【００５５】そして、ＣＤＩＳの判定処理Ｓ５を行いな
がら細かい引込動作Ｓ６を行う。この細かい引込動作Ｓ
６では、検出位相がＡ＞Ｃのときに第１及び第２のカウ
ンタ（ＣＮＴ１，ＣＮＴ２）２３，２４をカウントダウ
ン状態として設定位相を減少させ、Ａ＞Ｃのとき第１及
び第２のカウンタ（ＣＮＴ１，ＣＮＴ２）２３，２４を
カウントアップ状態として設定位相を増加させる。
【００５６】上記細かい引込動作Ｓ６中に、上記ＣＤＩ
Ｓの判定処理Ｓ５よって検出範囲の設定限界になったこ
とが検出されたときには、動作モードの切換処理Ｓ７を
行う。
【００５７】この動作モードの切換処理Ｓ７では、先
ず、ＳＨＬＤをセットＳ７１して設定位相を止め、この
状態でＨＣＮＴ＝０の判定処理Ｓ７２を繰り返し行い、
ＨＣＮＴ＝０になるとＳＲＥＴをセットする処理Ｓ７３
を行ってから、粗い検出動作モード（＃１）を設定する
処理Ｓ７４を行う。
【００５８】そして、上記ＣＤＩＳの判定処理Ｓ５よっ
て検出された設定限界が検出範囲の上限か下限かの判定
処理Ｓ７５を行い、下限の場合には上記ＷＩＮＳＣＨの
判定処理Ｓ２Ａに戻って、上記粗い検出動作Ｓ３を再度
行い、また、上限の場合には上記ＷＩＮＳＣＨの判定処
理Ｓ２Ｂに戻って、上記粗い検出動作Ｓ３を再度行う。
【００５９】また、このような構成の再生クロック生成
回路において、記録媒体の欠陥に対する処理を行う場合
には、図８に基本的な動作フローを示すように、粗い検
出動作モード（＃１）では上記ＷＩＮＳＣＨの判定処理
Ｓ２の前に欠陥の有無の判定処理Ｓ１０を行い欠陥があ
る場合に欠陥処理Ｓ２０を行い、細かい引込動作モード
（＃２）では上記ＣＤＩＳの判定処理Ｓ５の前に欠陥の
有無の判定処理Ｓ４０を行い欠陥がある場合に欠陥処理
Ｓ５０を行う。
【００６０】上記粗い検出動作モード（＃１）における
欠陥処理Ｓ２０では、図９に動作フローを示すように、
欠陥が検出されたら、ＳＥＲＲをセットして設定位相を
止める処理Ｓ２１を行う。この状態でＦＨＣ＝ＨＣＮＴ
−１のデクリメント処理Ｓ２２とＨＣＮＴ＝０の判定処
理Ｓ２３を繰り返し行い、検出位相が設定位相に追いつ
いてＨＣＮＴ＝０になり、且つパターンの判定処理Ｓ２
４を行ってＯＫになるのを待って、ＳＥＲＲをリセット
するとともに、設定位相の増減を再開する。その後、Ｗ
ＩＮＳＣＨの判定処理Ｓ２５を行って、この欠陥からの
復帰後、極性反転が起こっていたら位相増減の方向を反
転させる処理Ｓ２６を行う。また、検出位相が動き出す
までＳＲＥＴを立てておくＳ２７。そして、この状態で
ＦＨＣ＝ＨＣＮＴ＋１のインクリメント処理Ｓ２８とＨ
ＣＮＴ＝９の判定処理Ｓ２９を繰り返し行い、ＨＣＮＴ
＝９になると上記ＷＩＮＳＣＨの判定処理Ｓ２に移る。
【００６１】また、上記細かい引込動作モード（＃２）
における欠陥処理Ｓ５０では、図１０に動作フローを示
すように、欠陥が検出されたら、ＳＥＲＲをセットして
設定位相を止める処理Ｓ５１を行う。この状態でＦＨＣ
＝ＨＣＮＴ−１のデクリメント処理Ｓ５２とＨＣＮＴ＝
０の判定処理Ｓ５３を繰り返し行い、検出位相が設定位
相に追いついてＨＣＮＴ＝０になったら、パターンの判
定処理Ｓ５４を行ってＯＫになるのを待って、ＳＥＲＲ
をリセットするとともに、設定位相の増減を再開Ｓ５５
して設定位相を動かして、上記ＣＤＩＳの判定処理Ｓ５
に移る。
【００６２】なお、上記細かい引込動作モード（＃２）
における欠陥処理Ｓ５０では、粗い検出動作モード（＃
１）のように欠陥処理中に極性反転が起こっていたかど
うかによって、欠陥処理終了時に設定位相の増減方向を
決定する必要はなく、欠陥処理終了後の正常状態におけ
る引込動作において自然に決まる。
【００６３】ここで、上記粗い検出動作モード（＃１）
における欠陥処理Ｓ２０では、図１１に示す動作フロー
に従った処理を行うようにしてもよい。すなわち、欠陥
が検出されたら、ＳＥＲＲをセットして設定位相を逆方
向に進める処理Ｓ１２１を行う。この状態でＦＨＣ＝Ｈ
ＣＮＴ−１のデクリメント処理Ｓ１２２とＨＣＮＴ＝０
の判定処理Ｓ１２３とを繰り返し行い、設定位相を欠陥
直前の位相まで戻す。その後、設定位相を止める処理Ｓ
１２４Ａ行う。そして、検出位相が設定位相に追き、且
つパターンの判定処理Ｓ１２４Ｂ行ってＯＫになるのを
待って、ＳＥＲＲをリセットするとともに、設定位相の
増減を再開する。その後、ＷＩＮＳＣＨの判定処理Ｓ２
５を行って、この欠陥からの復帰後、極性反転が起こっ
ていたら位相増減の方向を反転させる処理Ｓ１２６を行
う。また、検出位相が動き出すまでＳＲＥＴを立ててお
くＳ１２７。そして、この状態でＦＨＣ＝ＨＣＮＴ＋１
のインクリメント処理Ｓ１２８とＨＣＮＴ＝９の判定処
理Ｓ１２９を繰り返し行い、ＨＣＮＴ＝９になると上記
ＷＩＮＳＣＨの判定処理Ｓ２に移る。
【００６４】また、上記細かい引込動作モード（＃２）
における欠陥処理Ｓ５０では、図１２に示す動作フロー
に従った処理を行うようにしてもよい。すなわち、欠陥
が検出されたら、ＳＥＲＲをセットして設定位相を逆方
向に進める処理Ｓ１５１を行う。この状態でＦＨＣ＝Ｈ
ＣＮＴ−１のデクリメント処理Ｓ１２２とＨＣＮＴ＝０
の判定処理Ｓ１５３とを繰り返し行い、設定位相を欠陥
直前の位相まで戻す。その後、設定位相を止める処理Ｓ
１５４Ａ行う。そして、検出位相が設定位相に追き、且
つパターンの判定処理Ｓ１５４Ｂ行ってＯＫになるのを
待って、ＳＥＲＲをリセットするとともに、設定位相の
増減を再開Ｓ１５５して設定位相を動かして、上記ＣＤ
ＩＳの判定処理Ｓ５に移る。
【００６５】そして、上記平均値演算回路２５では、参
照領域の引込区間で得られた位相情報φを平均すること
により位相誤差Φを求める。
【００６６】上記平均値演算回路２５は、例えば図１３
に示すように、参照領域の引込区間で得られた位相情報
φを累積加算する累積加算器２５１と、上記参照領域の
引込区間中の再生クロックＣＫをカウントするカウンタ
２５２と、上記累積加算器２５１の出力Σφを上記カウ
ンタ２５２の出力Ｘで除算する除算器２５３により構成
される。
【００６７】この図１３に示した構成の平均値演算回路
２５では、 Φ＝（１／Ｒ）∫φ ＝Σφ／（引込区間内のカウント数Ｘ） として位相誤差Φが算出される。
【００６８】ここで、上記クロック生成処理部２Ａで位
相量を設定してからクロック発生部３の内部で遅延素子
などで再生クロックＣＫに位相を与え、その再生クロッ
クＣＫを用いて上記Ａ／Ｄ変換器１で再生信号をサンプ
リングして、そのサンプリング値に基づいた演算結果
（差分符号変化）が得られるまでに１０クロック程度の
タイムラグを生じる。即ち、検出動作中に符号変化が検
出されてから直ちに設定位相の増加／減少の方向を反転
させてもすぐには反映されず、図１４に示すように、振
動した形で収束することになる。この図１４において、
ｃｏｓｐ，ｓｉｎｐを周期関数として、設定位相をｃｏ
ｓｐ、再生波形の演算結果（Ａ−Ｃ）に対応する位相＝
検出位相をｓｉｎｐにて表すと、上記タイムラグが位相
差π／２に相当する。検出結果が設定位相の増減方向を
決定するので、この位相差π／２＝タイムラグは実時間
でも一定である。しかし、ノイズの影響などで、上述の
図４における再生波形のＡ＝Ｃから次のＡ＝Ｃまでの間
隔がいつも一定にはならいので、ｃｏｓｐ，ｓｉｎｐの
周期は実時間で一定とは限らない。
【００６９】すなわち、参照領域の引込区間での参照パ
ターンの再生信号は、ノイズの影響などで、図４におけ
る再生波形のＡ＝Ｃから次のＡ＝Ｃまでの間隔がいつも
一定にはならず、さらに、もともと引込位相が決まって
いる訳ではないので、引込開始時点及び終了時点が一定
でなく、演算結果として得られる位相誤差Φに若干のオ
フセットがのる。
【００７０】しかし、極性反転から次の極性反転まで、
再生波形のＡ＝Ｃとなるところから再びＡ＝Ｃとなると
ころまでの平均を取ることにより、上記オフセットをな
くすことができる。
【００７１】これは、検出位相φｄ＝ｇ＊ｓｉｎｐθ＋
φｅについて、θが−π／２から＋π／２の範囲あるい
は＋π／２から＋３π／２の範囲で積分したものの１／
πに相当し、φｅが求まる。
【００７２】同様に設定位相を用いると、φｓ＝ｇ＊ｃ
ｏｓｐθ＋φｅについて、θが０からπの範囲あるいは
πから２πの範囲で積分したものの１／πに相当し、φ
ｅが求まる。
【００７３】すなわち、図１３に示した構成の平均値演
算回路２５において、累積加算器２５１とカウンタ２５
２へ入力されている制御信号（イネーブル信号）で指定
される引込み区間を、極性反転から次の極性反転まです
なわち再生波形のＡ＝Ｃとなるところから再びＡ＝Ｃと
なるところまでのイネーブル区間とすることによって、 Φ＝（１／π）∫φ ＝Σφ／（θの範囲π区間でのカウント数） なる位相誤差Φを算出することができる。ここでは設定
位相を用いている。この場合のタイミングチャートを図
１５に示してある。
【００７４】また、上記平均値演算回路２５は、図１６
に示すような構成とすることもできる。この図１６に示
す平均値演算回路２５では、φｓ＝ｇ＊ｃｏｓｐθ＋φ
ｅについて、θが０−π又はπから２πの範囲すなわち
極性反転から次の極性反転まですなわち再生波形のＡ＝
Ｃとなるところから再びＡ＝Ｃとなるところまでを単位
とし、上述の図１３における除算器２５３の出力として
得られる単位毎の平均位相を累積加算器２５４により累
積加算するとともに、カウンタ２５５により単位カウン
ト数を得て、除算器２５６により参照領域全体に亘って
平均を取って、 Φ＝Σ（単位毎の平均φ）／（単位カウント数） ＝Σ（Σφ／（θの範囲π区間でのカウント数））／（単位カウント数） なる位相誤差Φを算出する。この場合のタイミングチャ
ートを図１７に示してある。
【００７５】さらに、上記平均値演算回路２５は、図１
８に示すような構成とすることもできる。この図１８に
示す平均値演算回路２５は、上述の図１３における累積
加算器２５１により得られる単位毎の位相加算出力を参
照領域全体に亘って累積加算器２５７により累積加算す
るとともに、カウンタ２５２により得られる単位毎のカ
ウント数を参照領域全体に亘って累積加算器２５８によ
り累積加算して、除算器２５９により参照領域全体に亘
る平均を取って、 Φ＝Σ（Σφ）／Σ（カウント） なる位相誤差Φを算出する。この場合のタイミングチャ
ートを図１９に示してある。なお、この場合には、除算
器が１系統で良く、この除算器は１ステップで除算を行
う必要はなく、Σ（カウント）の桁数により決まるステ
ップ数で除算を行えばよい。その上限は参照領域の長さ
で決まる。また、除算に使用するレジスタはり、Σ（Σ
φ）内のレジスタと兼用することができる。
【００７６】また、平均値演算回路２５において位相誤
差Φとして平均位相を算出する当たり、極性反転検出前
後のところに異常がなければ引込動作に影響を及ぼすこ
とはないのであるが、記録媒体の欠陥などの長い異常で
は影響が出てくるので、欠陥検出を欠陥検出を行って、
欠陥区間の情報を平均位相を求める動作から排除するよ
うにする。例えば、図１８に示した構成の平均値演算回
路２５では、累積加算器２５１とカウンタ２５２へ入力
されている制御信号として、欠陥区間に動作を停止させ
るディセーブル信号を入れることにより、信頼できない
位相情報を計算から排除して、信頼性の高い平均位相を
位相誤差Φとして算出することができる。
【００７７】この場合、欠陥の位置によっては平均位相
にオフセットがのってしまうので、極性反転から次の極
性反転まですなわち再生波形のＡ＝Ｃとなるところから
再びＡ＝Ｃとなるところまでを単位として、欠陥区間の
排除を単位毎に行うようにする。例えば欠陥が検出がさ
れたフラグを立て次の単位が始まるまですなわちＡ−Ｃ
の極性反転が得られるまでフラグを立てままにしてお
く。そして、次の単位の開始の時点で欠陥がなけれがフ
ラグをリセットする。Σ（Σφ）とΣ（カウント）の加
算には、フラグの立っていた単位の情報は用いない。Σ
（Σφ）とΣ（カウント）を算出する各累積加算器２５
７，２５８の動作をフラグ情報を元にディセーブルす
る。このようにすることによって、信頼できない位相情
報を計算から排除するとともにオフセットものらないよ
うにして、信頼性の高い平均位相を位相誤差Φとして算
出することができる。
【００７８】また、上述の図１６に示した構成の平均値
演算回路２５においては、欠陥検出情報からディセーブ
ル信号を作って累積加算器２５１とカウンタ２５２に供
給することにより、欠陥区間の位相情報をそのまま排除
することができる。また、欠陥検出によりフラグを立
て、そのフラグを見て累積加算器２５４とカウンタ２５
５にディセーブルすることによって、欠陥区間の排除を
単位毎に行うことができる。
【００７９】ここで、位相を表す回路としてはアップダ
ウンカウンタが用いられ、その出力が再生クロック生成
部３内の遅延素子などへの設定位相となり、また、平均
値演算回路２５への位相情報となる。
【００８０】一般的に、位相誤差検出は１クロックの範
囲内で行われるとは限らず、例えばこの例での参照パタ
ーン２Ｔ＋２Ｔを用いれば理想的には４クロック未満の
範囲で検出することができる。また、再生クロック生成
部３内の遅延素子では位相分解能は単純な２進数で表さ
れるとは限らない。一方、平均値演算回路２５では、除
算が入るので、単純な２進数でないと都合が悪い。
【００８１】そこで、この再生クロック生成回路では、
上述のように位相設定データを上記クロック発生部３に
直接与える位相設定用の第１のカウンタ２３として分解
能が可変なｎ進のアップ／ダウンカウンタを用い、ま
た、上記平均計算回路２５に位相情報を与える位相平均
用の第２のカウンタ２４として単純２進カウンタを用い
るようにしている。
【００８２】なお、図２０に示すように、上記第１及び
第２のカウンタ２３，２４として１個のｎ進カウンタ２
６を用い、ｎ進を２進に変換する変換回路２７を介して
上記平均計算回路２５に位相情報を与えるようにしても
よい。
【００８３】また、上記参照パターンの再生信号の異常
検出を行うに当たっては、パターン異常が続いた場合に
記録媒体に欠陥があったとみなす。そして、再生波形が
期待されるものであれば問題ないものとみなし、位相情
報を抽出するに適した参照パターンのみを用いる。
【００８４】再生波形が期待されるものでなかった場合
には、異常と判定するが、ノイズなど他の要因によるに
より再生波形が期待されるものと異なっただけかもしれ
ないので、異常判定されたから即欠陥であるとは判断し
ない。すなわち、欠陥でない場合その後のパターンでは
正常に位相情報が得られる。ノイズなどによって再生波
形が期待されるものでなかった場合であっても得られる
情報としては好ましくないが、局所的な異常の影響は少
なく、参照領域は限られており情報を少しでも無駄にで
きないので、むしろ、欠陥と判断された場合の処理によ
るロスの方が影響が大きい。従って、この異常状態が続
くどうかを見て、ある長さ以上異常状態が続けば欠陥と
見なす。
【００８５】さらに、欠陥から正常に戻る判断において
も、欠陥状態でノイズがのったためにあたかも正常に戻
ったと判断されてしまうのを避けるために、ある長さ以
上正常状態が続くかどうかを見て判断を行う。
【００８６】具体的には、参照パターンの再生信号の異
常判定を次のように行う。
【００８７】ここで、参照パターンは、２Ｔ＋２Ｔの４
Ｔ周期の繰り返しパターンとし、再生すると図２１に示
すような４Ｔ周期のｓｉｎ波形となり、 ＲＦ＝Ｇ＊ｓｉｎ（２π／４Ｔ＊ｘ）＋Ｏ 再生信号ＲＦを与えるものとする。
【００８８】この再生信号ＲＦから１クロック毎即ち約
１Ｔ毎の再生振幅が情報として得られる。
【００８９】この図２１において、ある時点での再生振
幅をａ０とすると、ｂ０は約１Ｔ（π／２）後、ｃ０は
約２Ｔ後、ｄ０は約３Ｔ後、Ａ１は約４Ｔ（２π＝０）
後の再生振幅である。
【００９０】そして、この再生クロック生成回路では、
上述のように半周期間隔（２Ｔ）のａ，ｃを用いて、ａ
＝ｃとなるように位相を合わせていき位相量を求める。
パターン検出情報としては、隣り合ったサンプリング
（１Ｔ）の振幅により求める。
【００９１】図２１における波形で、ａ，ｃで位相情報
を得る場合にはｄ＜ａ＜ｂ，ｂ＞ｃ＞ｄで、また、ｃ，
ａで位相情報を得る場合にｂ＞ｃ＞ｄ，ｄ＜ａ＜ｂで、
パターン判定を行えば良い。
【００９２】ここで、上記検出部２１では、再生波形を
Ａ／Ｄ変換器１でサンプリングしたサンプリング値が図
２２に示すような構成の仮想的なシフトレジスタ２１０
に順次入力される。そのときの各段のレジスタＲＥＧ．
Ｄ，ＲＥＧ．Ｃ，・・・のデータＤ，Ｃ，・・・を（実
際には離散的なデータであるが分かり易いように）図２
３に波形データとして示す。
【００９３】時刻ｔ０においてＢ＞Ｃ＞Ｄとなっている
ことによりｂ＞ｃ＞ｄを示す。
【００９４】時刻ｔ２においてＢ＜Ｃ＜Ｄとなっている
ことによりｄ＜ａ’＜ｂ’を示す。時刻ｔ２はｔ０に比
べて２Ｔ遅れているので、各レジスタに入っている波形
データも２Ｔ後のものである。
【００９５】逆に、時刻ｔ−２においてＢ＜Ｃ＜Ｄとな
っていることによりｄ”＜ａ＜ｂ’を示す。時刻ｔ−２
はｔ０に比べて２Ｔ早いので、各レジスタに入っている
波形データも２Ｔ前のものである。
【００９６】以上により、ｔ−２、ｔ０において、ａと
ｃの位相情報を用いるときにはｄ”＜ａ＜ｂ，ｂ＞ｃ＞
ｄにより、また、ｃとａの位相情報を用いるときにはｂ
＞ｃ＞ｄ，ｄ＜ａ’＜ｂ’により、パターン判定を行う
ことができる。
【００９７】。
【００９８】そして、上記クロック生成処理部２Ａの制
御部２２において、このようなパターン判定を行うパタ
ーン判定手段２２０は、例えば図２４に示すように、そ
れぞれ４個の大小比較器２２１Ａ，２２１Ｂ，２２１
Ｃ，２２１Ｄ、ＡＮＤ回路２２２Ａ，２２２Ｂ，２２２
Ｃ，２２２Ｄ、フリップフロップ２２３Ａ，２２３Ｂ，
２２３Ｃ，２２３Ｄと、１個のデータセレクタ２２４に
より構成される。
【００９９】この図２４に示すパターン判定手段２２０
において、第１の大小比較器２２１Ａは、上記検出部２
１のＲＥＧ．Ｄ，ＲＥＧ．Ｃの出力の大小比較を行うも
ので、Ｄ＞Ｃを検出すると論理「Ｈ］の比較出力を第１
のＡＮＤ回路２２２Ａに供給する。また、第２の大小比
較器２２１Ｂは、上記検出部２１のＲＥＧ．Ｄ，ＲＥ
Ｇ．Ｃの出力の大小比較を行うもので、Ｄ＜Ｃを検出す
ると論理「Ｈ］の比較出力を第２のＡＮＤ回路２２２Ｂ
に供給する。また、第３の大小比較器２２１Ｃは、上記
検出部２１のＲＥＧ．Ｃ，ＲＥＧ．Ｂの出力の大小比較
を行うもので、Ｃ＞Ｂを検出すると論理「Ｈ］の比較出
力を上記第１のＡＮＤ回路２２Ａに供給する。また、第
４の大小比較器２２１Ｄは、上記検出部２１のＲＥＧ．
Ｃ，ＲＥＧ．Ｂの出力の大小比較を行うもので、Ｃ＜Ｂ
を検出すると論理「Ｈ］の比較出力を上記第２のＡＮＤ
回路２２２Ｂに供給する。
【０１００】上記第１のＡＮＤ回路２２１Ａは、上記第
１及び第３の大小比較器２２１Ａ，２２１Ｃの各比較出
力の論理積をとることによりＤ＞Ｃ＞Ｂを論理「Ｈ］で
示す論理積出力を得る。また、上記第２のＡＮＤ回路２
２２Ｂは、上記第２及び第４の大小比較器２２１Ｂ，２
２１Ｄの各比較出力の論理積をとることによりＤ＜Ｃ＜
Ｂを論理「Ｈ］で示す論理積出力を得る。
【０１０１】そして、上記第１のＡＮＤ回路２２２Ａに
よる論理積出力は、第４のＡＮＤ回路２２２Ｄに直接供
給されるとともに、２段のフリップフロップ２２３Ａ，
２２３Ｃを介することにより２クロック遅れて第３のＡ
ＮＤ回路２２２Ｃに供給される。また、上記第２のＡＮ
Ｄ回路２２２Ｂによる論理積出力は、上記第３のＡＮＤ
回路２２２Ｃに直接供給されるとともに、２段のフリッ
プフロップ２２３Ｂ，２２３Ｄを介することにより２ク
ロック遅れて上記第４のＡＮＤ回路２２２Ｄに供給され
る。
【０１０２】これにより、上記第３のＡＮＤ回路２２２
Ｃは、Ｄ＜Ｃ＜Ｂで２クロック前にＤ＞Ｃ＞Ｂであるこ
と、すなわち、ｄ”＜ａ＜ｂ，ｂ＞ｃ＞ｄであることを
論理「Ｈ」で示す論理積出力を得る。また、上記第４の
ＡＮＤ回路２２２Ｄは、Ｄ＞Ｃ＞Ｂで２クロック前にＤ
＜Ｃ＜Ｂであること、すなわち、ｂ＞ｃ＞ｄ，ｄ＜ａ’
＜ｂ’であることを論理「Ｈ」で示す論理積出力を得
る。
【０１０３】上記データセレクタ２２４は、ａとｃの位
相情報を用いるときに上記第３のＡＮＤ回路２２２Ｃに
よる論理積出力を選択し、また、ｃとａの位相情報を用
いるときに上記第４のＡＮＤ回路２２２Ｄによる論理積
出力を選択して、パターン判定信号ｐｔｏｋとして出力
する。
【０１０４】ここで、上記図２４に示したパターン判定
手段２２０において、第３の大小比較器２２１Ｃにより
得られる比較出力は１クロック前に第１の大小比較器２
２１Ａにより得られた比較出力と同じであり、また、第
４の大小比較器２２１Ｄにより得られる比較出力は１ク
ロック前に第２の大小比較器２２１Ｂにより得られた比
較出力と同じであるから、図２５に示すように、上記第
３及び第４の大小比較器２２１Ｃ，２２１Ｄを省略し
て、上記第１及び第２の大小比較器２２１Ａ，２２１Ｂ
により得られた各比較出力をそれぞれフリップフロック
２２３Ｅ、２２３Ｆを介して第１及び第２のＡＮＤ回路
２２２Ａ，２２２Ｂに供給するようにしても良い。この
ような構成とすることにより、回路規模、処理時間とも
に効率を良くすることができる。
【０１０５】また、この再生クロック生成回路では、図
２１における波形で、ａ，ｃで位相情報を得る場合には
ｄ＜ａ，ｂ＞ｃあるいはａ＜ｂ，ｃ＞ｄで、また、ｃ，
ａで位相情報を得る場合にはｂ＞ｃ，ｄ＜ａあるいはｃ
＞ｄ，ａ＜ｂで、パターン判定を行うようにしても良
い。
【０１０６】すなわち、粗い検出時に、サンプリング位
相がπ／２＝Ｔ／４ずれてａ＝ｂ，ｃ＝ｄまたはｄ”＝
ａ，ｂ＝ｃなどとなる場合がある。ｓｉｎ波ではｄ”＝
ａ＝ｂやｂ＝ｃ＝ｄとなることはない。
【０１０７】ｄ”＜ａ＜ｂ，ｂ＞ｃ＞ｄの波形からサン
プリングがずれてａ＝ｂ，ｃ＝ｄとなった場合にｄ”＜
ａ，ｂ＞ｃとなり、また、ｄ”＜ａ＜ｂ，ｂ＞ｃ＞ｄの
波形からサンプリングがずれてｄ”＝ａ，ｂ＝ｃとなっ
た場合にａ＜ｂ，ｃ＞ｄとなる。
【０１０８】これらはａとｃの位相情報を用いるとき
で、図２３のｔ０のタイミングで、 (1) Ｄ”＜Ａ，Ｂ＞Ｃ (2) Ａ＜Ｂ，Ｃ＞Ｄ となる。また、ｃとａ’の位相情報を用いるときは、図
２３のｔ２のタイミングで、 (3) Ｂ＞Ｃ，Ｄ＜Ａ (4) Ｃ＞Ｄ，Ａ＜Ｂ となる。これら(1)〜(4)を用いることによりパターン判
定を行うことができる。
【０１０９】さらに、粗い検出時には、サンプリング位
相がπ／２＝Ｔ／４以上ずれることもあるので、上記タ
イミングｔ０のときにはａとｃの位相情報を用いる時の
判断、ｔ２のときにはｃとａ’の位相情報を用いる時の
判断等が判らない場合がある。このようなときでも、上
記(1)〜(4)のどれかが成り立つかを見ていることによ
り、パターン判定を行うことができる。
【０１１０】このようなパターン判定を行うパターン判
定手段２２０は、例えば図２６に示すように、それぞれ
２個の大小比較器２２１Ａ，２２１Ｂと、６個のフリッ
プフロップ２２５Ａ，２２５Ｂ，２２６Ｃ，２２６Ａ，
２２６Ｂ，２２６Ｃと、４個のＡＮＤ回路２２７Ａ，２
２７Ｂ，２２７Ｃ，２２７Ｄと、１個のＯＲ回路２２８
により構成することもできる。
【０１１１】この図２６に示すパターン判定手段におい
て、第１の大小比較器２２１Ａは、Ｄ＞Ｃを検出すると
論理「Ｈ］の比較出力を第１乃至第４のＡＮＤ回路２２
７Ａ，２２７Ｂ，２２７Ｃ，２２７Ｄに直接及び第１乃
至第３のフリップフロップ２２５Ａ，２２５Ｂ，２２５
Ｃを介して供給する。また、第２の大小比較器２２１Ｂ
は、Ｃ＞Ｂを検出すると論理「Ｈ］の比較出力を上記第
１乃至第４のＡＮＤ回路２２７Ａ，２２７Ｂ，２２７
Ｃ，２２７Ｄに直接及び第４乃至第６のフリップフロッ
プ２２６Ａ，２２６Ｂ，２２６Ｃを介して供給する。
【０１１２】そして、上記ＯＲ回路２２８は、上記第１
乃至第４のＡＮＤ回路２２７Ａ，２２７Ｂ，２２７Ｃ，
２２７Ｄによる各論理積出力の論理和をとることによ
り、 なる論理和出力をパターン判定信号ｐｔｏｋとして出力
する。なお、＆は論理積を示し＃は論理和を示す。ま
た、このパターン判定手段２２０におけるそれぞれの判
断信号のタイミングチャートを図２７に示す。
【０１１３】このように上記(1)〜(4)の論理和をとる方
法を採用したパターン判定手段では、(1)と(3)のどちら
か、(2)と(4)のどちらかが成り立つことにより、全ての
サンプリング位置でパターン判定を行うことができる。
【０１１４】なお、振幅がほとんど無い信号でも４Ｔ周
期波系であれば上記条件を満たしてしまい、ノイズでも
参照パターンであると判断してしまう虞れがあるので、
実際には隣り合う信号同士を比較するときの閾値Ｋを設
定することにより、判定を厳しく行うようにする。
【０１１５】即ち、図２８に実際のパターン判定手段の
構成を示すように示すように、上述の図２６に示したパ
ターン判定手段２２０における第１の大小比較器２２１
Ａへの一方の入力値として、ＲＥＧ．Ｄの出力から閾値
Ｋを減算器２２９Ａで減算した値Ｃ−Ｋをレジスタ２２
９Ｃを介して与えるとともに、第２の大小比較器２２１
Ｂへの一方の入力値として、ＲＥＧ．Ｄの出力から閾値
Ｋを加算器２２９Ｂで加算した値Ｃ＋Ｋをレジスタ２２
９Ｄを介して与えるようにする。
【０１１６】このような構成のパターン判定手段におい
て、ＯＲ回路２２８は、第１乃至第４のＡＮＤ回路２２
７Ａ，２２７Ｂ，２２７Ｃ，２２７Ｄによる各論理積出
力の論理和をとることにより、０≦Ｋとして、 なる論理和出力をパターン判定信号ｐｔｏｋとして出力
する。なお、＆は論理積を示し＃は論理和を示す。
【０１１７】また、通常、粗い検出でも細かい引込みで
も位相増減量はサンプリング周期Ｔに比べて十分に小さ
く、粗い検出での位相増減量ははサンプリング周期Ｔの
数分の一程度に設定され、また、細かい引込みではサン
プリング周期Ｔの数十分の一程度に設定される。
【０１１８】位相増減が無ければ再生波形データａ，
ｂ，ｃ，ｄはｓｉｎ関数に近く、細かい引込みの位相増
減が小さい状態では再生波形データａ，ｂ，ｃ，ｄがｓ
ｉｎ関数から若干はずれるのに対し、粗い検出の位相増
減が大きい状態では再生波形データａ，ｂ，ｃ，ｄがｓ
ｉｎ関数からかなりずれることになる。
【０１１９】そこで、粗い検出時には、閾値Ｋを小さく
してパターン判定をあまくし、細かい引込み時には、閾
値Ｋを小さくしてパターン判定を厳しくする。
【０１２０】また、参照領域の再生信号ＲＦは、 ＲＦ＝Ｇ＊ｓｉｎ（２π／４Ｔ＊ｘ）＋Ｏ であるから、Ｔ毎にサンプリングした再生波形データ
ａ，ｂ，ｃ，ｄは若干位相を与えているとしても、ほぼ
次のようになる。
【０１２１】 ａ~Ｇ＊ｓｉｎＴ＋Ｏ ｂ~Ｇ＊ｃｏｓＴ＋Ｏ ｃ~Ｇ＊ｓｉｎＴ＋Ｏ ｄ~Ｇ＊ｃｏｓＴ＋Ｏ 従って、ａ＋ｃ＝ｂ＋ｄが成り立つので、０≦Ｌとし
て、 （ａ＋ｃ）−（ｂ＋ｄ）≦Ｌを正常パターンの判定に用
いることができる。
【０１２２】さらに、ａ＋ｃ＝ｂ＋ｄであるからａ−ｂ
＝ｄ−ｃも成り立ち、 （ａ−ｂ）2＝（ｄ−ｃ）2 また、 ａ2＋ｂ2＝ｄ2＋ｃ2＝Ｇ2 であり、 ａｂ＝ｃｄ となる。
【０１２３】従って、０≦Ｍとして、 ａｂ−ｃｄ≦Ｍ を正常パターンの判定に用いるようにしてもよい。
【０１２４】そして、図２９に示すように、正常パター
ン検出がｎ回連続で検出できなかった場合すなわちｎ回
連続して異常が検出された場合に欠陥であると見なす。
また、欠陥後、ｍ回連続で正常パターンが検出されたら
正常復帰と見なす。
【０１２５】なお、上述の位相ずれ検出においても、欠
陥検出と同様に一回連続の位相ずれ検出で位相ずれと判
断し、ｋ回連続の正常検出で正常復帰として見なすこと
ができる。
【０１２６】また、再生波形にタイミングがほぼ合って
いる場合、例えば細かい引込み時にはｂ＞ｄとなってい
るので、ｂ＞ｄを用いて位相ずれ判定とすることができ
る。図２１において、ｔ０ではＢ＞Ｄ、ｔ２ではＤ＞Ｂ
である。
【０１２７】さらに、設定位相を引き込み方向にしたに
も拘わらず、検出結果が最適位相の方向に進んでいかな
い場合に、欠陥であると見なす。
【０１２８】すなわち、細かい引込み動作時に引込み範
囲の限界に張り付いた場合には、粗い検出時にノイズに
よる誤動作などで位相ずれが起きたと見なす。また、最
適位相が引込み範囲の端の方にあり、粗い検出時に、大
きなノイズによる影響で最適位相からずれ位相のところ
に誤検出してしまうことが考えられる。さらに、アルゴ
リズムによっては引込み範囲の限界に張り付いてしま
い、正しい方向に引き込み動作が進まなくなる虞れがあ
る。
【０１２９】従って、この再生クロック生成回路では、
上述のように位相ずれが検出されたと判断したら、粗い
検出に戻す操作を行って、限界位相から粗い検出を行
う。
【０１３０】
【発明の効果】本発明に係る再生クロック生成回路で
は、位相検出手段により参照パターンの再生信号のサン
プリング値に基づいて粗い検出を行い、上記位相検出手
段による位相検出の後に位相引き込み手段により上記参
照パターンの再生信号に基づいて細かい位相引き込みを
行い、上記位相引き込み手段による引き込み区間中の平
均位相を用いて位相補正を位相補正手段により行うの
で、上記参照パターンの再生信号の局所的な欠陥の影響
を小さして高精度にクロック生成を行うことができる。
【０１３１】また、本発明に係る再生クロック生成回路
では、上記位相補正手段により、位相引き込みの単位毎
の平均を参照領域全域に亘って平均したもの位相誤差と
して位相補正を行うことによって、上記参照パターンの
再生信号の局所的な欠陥の影響を小さして高精度にクロ
ック生成を行うことができる。
【０１３２】また、本発明に係る再生クロック生成回路
では、上記位相補正手段により、位相引き込みの単位毎
の設定位相の和の参照領域全域に亘る総和と、上記単位
毎の設定回数の参照領域全域に亘る総和とから上記位相
誤差を求めて、位相補正を行うことによって、参照領域
の情報を有効に利用して高精度にクロック生成を行うこ
とができる。
【０１３３】また、本発明に係る再生クロック生成回路
では、上記参照パターンの再生信号の欠陥判定手段によ
る判定結果に基づいて、上記位相補正手段により、欠陥
区間の位相情報を排除して位相誤差を求めて、位相補正
を行うことによって、上記参照パターンの再生信号の局
所的な欠陥の影響を小さして高精度にクロック生成を行
うことができる。
【０１３４】また、本発明に係る再生クロック生成回路
では、上記欠陥判定手段による判定結果に基づいて、上
記位相補正手段により、位相引き込みの単位で欠陥区間
の位相情報を排除して位相誤差を求めて、位相補正を行
うことによって、上記参照パターンの再生信号の局所的
な欠陥の影響を小さして高精度にクロック生成を行うこ
とができる。
【０１３５】また、本発明に係る再生クロック生成回路
では、上記参照パターンの再生信号の異常検出手段によ
る異常検出信号に応じて、制御手段により、上記位相引
き込み手段による位相引き込み動作を制御することによ
って、上記参照パターンの再生信号の局所的な欠陥の影
響を小さして高精度にクロック生成を行うことができ
る。
【０１３６】本発明に係る再生クロック生成回路は、上
記異常検出手段による異常検出信号に基づいて、上記制
御手段により、上記参照パターンの再生信号の欠陥区間
で上記位相引き込み手段による位相引き込み動作を停止
させる制御を行うことによって、上記参照パターンの再
生信号の局所的な欠陥の影響を小さして高精度にクロッ
ク生成を行うことができる。
【０１３７】また、本発明に係る再生クロック生成回路
は、上記異常検出手段による異常検出信号に基づいて、
上記制御手段により、上記参照パターンの再生信号の欠
陥区間で上記位相引き込み手段による位相引き込み動作
を欠陥前の位相まで戻す制御を行うことによって、上記
参照パターンの再生信号の局所的な欠陥の影響を小さし
て高精度にクロック生成を行うことができる。
【０１３８】また、本発明に係る再生クロック生成回路
は、上記異常検出手段による異常検出信号に基づいて、
上記制御手段により、上記参照パターンの再生信号の欠
陥区間で上記位相引き込み手段による位相引き込み動作
を欠陥前の位相まで戻す制御を行うことによって、上記
参照パターンの再生信号の局所的な欠陥の影響を小さし
て高精度にクロック生成を行うことができる。
【０１３９】従って、本発明によれば、局所的な欠陥の
影響を小さして高精度にクロック生成を行うことができ
る再生クロック生成回路を提供することができる。
【０１４０】また、本発明によれば、参照領域の情報を
有効に利用して高精度にクロック生成を行うことができ
る再生クロック生成回路を提供することにある。
【図面の簡単な説明】
【図１】参照クロックが記録されたサンプルサーボフォ
ーマットの光磁気ディスクの概要を示す図である。
【図２】上記光磁気ディスクにおける１セクタの構成を
示す図である。
【図３】本発明に係る再生クロック生成回路の基本的な
構成を示すブロック図である。
【図４】本発明に係る再生クロック生成回路の位相引き
込み方法を説明するための波形図である。
【図５】本発明に係る再生クロック生成回路の要部構成
を示すブロック図である。
【図６】本発明に係る再生クロック生成回路における位
相引き込み動作の概要を示すフローチャートである。
【図７】本発明に係る再生クロック生成回路の具体的な
動作を示すフローチャートである。
【図８】本発明に係る再生クロック生成回路の欠陥処理
を含む位相引き込み動作の概要を示すフローチャートで
ある。
【図９】本発明に係る再生クロック生成回路における粗
い検出動作中の欠陥処理を示すフローチャートである。
【図１０】本発明に係る再生クロック生成回路における
細かい引込み動作中の欠陥処理を含む具体的な動作を示
すフローチャートである。
【図１１】本発明に係る再生クロック生成回路における
粗い検出動作中の欠陥処理の他の例を示すフローチャー
トである。
【図１２】本発明に係る再生クロック生成回路における
細かい位相引き込み動作中の欠陥処理の他の例を示すフ
ローチャートである。
【図１３】本発明に係る再生クロック生成回路における
平均値演算回路の基本的な構成を示すブロック図であ
る。
【図１４】本発明に係る再生クロック生成回路における
位相引き込み動作を示すタイムチャートである。
【図１５】本発明に係る再生クロック生成回路におい
て、図１３に示した平均値演算回路により位相誤差を算
出した場合の位相引き込み動作を示すタイムチャートで
ある。
【図１６】本発明に係る再生クロック生成回路における
平均値演算回路の他の構成を示すブロック図である。
【図１７】本発明に係る再生クロック生成回路におい
て、図１６に示した平均値演算回路により位相誤差を算
出した場合の位相引き込み動作を示すタイムチャートで
ある。
【図１８】本発明に係る再生クロック生成回路における
平均値演算回路の他の構成を示すブロック図である。
【図１９】本発明に係る再生クロック生成回路におい
て、図１８に示した平均値演算回路により位相誤差を算
出した場合の位相引き込み動作を示すタイムチャートで
ある。
【図２０】本発明に係る再生クロック生成回路における
クロック生成処理部の変形例の要部構成を示すブロック
図である。
【図２１】本発明に係る再生クロック生成回路における
参照パターンの再生信号の異常判定方法を説明するため
の波形図である。
【図２２】上記クロック生成処理部における検出部の要
部構成を示すブロック図である。
【図２３】上記検出部における参照パターンの再生信号
を波形データとして示した図である。
【図２４】上記クロック生成処理部の制御部に備えられ
るパターン判定手段の構成を示すブロック図である。
【図２５】上記パターン判定手段の他の構成を示すブロ
ック図である。
【図２６】上記パターン判定手段の他の構成を示すブロ
ック図である。
【図２７】上記パターン判定手段におけるそれぞれの判
断信号のタイミングチャートである。
【図２８】上記パターン判定手段の他の構成を示すブロ
ック図である。
【図２９】上記クロック生成処理部の制御部による欠陥
処理を示すタイミングチャートである。
【符号の説明】
１ Ａ／Ｄ変換器、２ 信号処理部、２Ａ クロック生
成処理部 、２Ｂ データ再生処理部、３ クロック発
生部、２１ 検出部、２２ 制御部、２３，２４ カウ
ンタ ２５ 平均計算回路

Claims (9)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項１】 所定周期の参照パターンが記録された参
    照領域を有するサンプルサーボフォーマットの記録媒体
    から得られる再生信号をサンプリングする再生クロック
    を生成する再生クロック生成回路であって、 参照パターンの再生信号のサンプリング値に基づいて粗
    い検出を行い位相検出行う位相検出手段と、 上記位相検出手段による位相検出の後に上記参照パター
    ンの再生信号に基づいて細かい位相引き込みを行う位相
    引き込み手段と、 上記位相引き込み手段による引き込み区間中の平均位相
    を用いて位相補正を行う位相補正手段とを備えることを
    特徴とする再生クロック生成回路。
  2. 【請求項２】 上記位相補正手段は、位相引き込みの単
    位毎の平均を参照領域全域に亘って平均したもの位相誤
    差として、位相補正を行うことを特徴とする請求項１記
    載の再生クロック生成回路。
  3. 【請求項３】 上記位相補正手段は、位相引き込みの単
    位毎の設定位相の和の参照領域全域に亘る総和と、上記
    単位毎の設定回数の参照領域全域に亘る総和とから上記
    位相誤差を求めて、位相補正を行うことを特徴とする請
    求項２記載の再生クロック生成回路。
  4. 【請求項４】 上記参照パターンの再生信号の欠陥判定
    手段を備え、 上記位相補正手段は、上記欠陥判定手段による判定結果
    に基づいて、欠陥区間の位相情報を排除して位相誤差を
    求めて、位相補正を行うことを特徴とする請求項２記載
    の再生クロック生成回路。
  5. 【請求項５】 上記位相補正手段は、上記欠陥判定手段
    による判定結果に基づいて、位相引き込みの単位で欠陥
    区間の位相情報を排除して位相誤差を求めて、位相補正
    を行うことを特徴とする請求項４記載の再生クロック生
    成回路。
  6. 【請求項６】 上記参照パターンの再生信号の異常を検
    出する異常検出手段と、 上記異常検出手段による異常検出信号に応じて上記位相
    引き込み手段による位相引き込み動作を制御する制御手
    段とを備えることを特徴とする請求項１記載の再生クロ
    ック生成回路。
  7. 【請求項７】 上記制御手段は、上記異常検出手段によ
    る異常検出信号に基づいて、上記参照パターンの再生信
    号の欠陥区間で上記位相引き込み手段による位相引き込
    み動作を停止させる制御を行うことを特徴とする請求項
    ６記載の再生クロック生成回路。
  8. 【請求項８】 上記制御手段は、上記異常検出手段によ
    る異常検出信号に基づいて、上記参照パターンの再生信
    号の欠陥区間で上記位相引き込み手段による位相引き込
    み動作を欠陥前の位相まで戻す制御を行うことを特徴と
    する請求項６記載の再生クロック生成回路。
  9. 【請求項９】 上記制御手段は、上記異常検出手段によ
    る異常検出信号に基づいて、上記参照パターンの再生信
    号の欠陥区間で上記位相引き込み手段による位相引き込
    み動作を欠陥前の位相まで戻す制御を行うことを特徴と
    する請求項６記載の再生クロック生成回路。
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