JPH09212214A - Unit debugging device - Google Patents

Unit debugging device

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Publication number
JPH09212214A
JPH09212214A JP1415996A JP1415996A JPH09212214A JP H09212214 A JPH09212214 A JP H09212214A JP 1415996 A JP1415996 A JP 1415996A JP 1415996 A JP1415996 A JP 1415996A JP H09212214 A JPH09212214 A JP H09212214A
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JP
Japan
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unit
buffer memory
value
debugging
input
Prior art date
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Pending
Application number
JP1415996A
Other languages
Japanese (ja)
Inventor
Shigeyuki Ando
茂之 安藤
Hirokazu Kawasaki
博和 川崎
Nobuyuki Murase
伸幸 村瀬
Yoshiaki Goto
良昭 五藤
Yoshimi Tanaka
芳実 田中
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Mitsubishi Electric Corp
Original Assignee
Mitsubishi Electric Corp
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Mitsubishi Electric Corp filed Critical Mitsubishi Electric Corp
Priority to JP1415996A priority Critical patent/JPH09212214A/en
Publication of JPH09212214A publication Critical patent/JPH09212214A/en
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Abstract

PROBLEM TO BE SOLVED: To enable the debugging of a sequence program using a unit even when a unit for a specific purpose or external equipment connected to the unit is not available by running software where dummy data on the unit are set from peripheral equipment. SOLUTION: On condition that the buffer memory allocation of a unit to be debugged is reflected on a buffer memory 15 of a debugging unit 1 as it is and reading from and writing to the buffer memory 15 of the debugging unit 1 from S/W running on the peripheral equipment 11 are possible, it is considered that a CP 6 operates as if the debugging unit 1 could substitute for a unit (A/D conversion unit, high-speed counter, etc.). Consequently, the sequence program in the PC 6 can be debugged even when the unit to be debugged or external equipment, etc., used for the unit is available when the debugging unit 1 is available.

Description

【発明の詳細な説明】Detailed Description of the Invention

【0001】[0001]

【発明の属する技術分野】本発明はプログラマブルコン
トローラにおけるユニットを使用したシーケンスプログ
ラムのデバッグを援助する装置に関するものである。
BACKGROUND OF THE INVENTION 1. Field of the Invention The present invention relates to a device for assisting in debugging a sequence program using a unit in a programmable controller.

【0002】[0002]

【従来の技術】図14は従来のプログラマブルコントロ
ーラ(以下、適宜PCと記す)の構成例(以下適宜PC
システムと記す)を表した図である。5は電源ユニッ
ト、6はPC、7は入力ユニット、8は出力ユニット、
9はベース、31はPC6が有しない機能を補う、例え
ば補助用等のユニットである。ベース9にPC6及び各
ユニットが装着されている。この従来例は以下の説明を
行うためのもので、ユニット構成は任意である。また、
ここで用いるユニットは、ユニットの一例としてアナロ
グ/デジタル変換ユニット(以下A/D変換ユニットと
記す)31を用いて以下の説明を行うが、本発明のデバ
ッグ装置においてユニットの種類を特定することはな
い。A/D変換ユニット31は、入力されたアナログ値
(電圧又は電流)をデジタル値に変換するためのユニッ
トである。従来、図14のようなPCシステムにおい
て、PC6の内部のシーケンスプログラムのA/D変換
ユニット31のデバッグ作業を行う場合は、A/D変換
ユニット31を実際にベース9に装着する。そして図1
5はA/D変換ユニットの機能ブロック図であるが、A
/D変換ユニット31は図15の電圧/電流入力端子部
34に外部機器35から実入力(電圧又は電流)を投入
されることにより、その実入力(電圧又は電流−>A/
D変換ユニット内部ではアナログ値として扱われる)か
らA/Dコンバータ32がアナログ値からデジタル値変
換をする。その後、そのデジタル値を制御回路33がバ
ッファメモリ15に書き込む動作をするので、PC6は
バッファメモリ読み出し命令14を使用し、バッファメ
モリ15内に上記の動作で書き込まれたデジタル値を読
み出し、その値を元にA/D変換ユニット31のデバッ
グ作業を行う。このデバッグ方法は他のユニットでも同
様である。例えば高速カウンタユニットと呼ばれるユニ
ットに関して、図16が高速カウンタユニットの機能ブ
ロック図であるが、最初にPC6からバッファメモリ書
き込み命令13を使用し、バッファメモリ15内に必要
なデータ(パルス入力モード種類やカウンタ機能種類
等)を書き込み、更にパルス電圧入力端子部62に外部
機器64からパルス電圧を投入し、その投入されたパル
ス電圧と上記によりバッファメモリ15に書かれている
データから制御回路63がカウントをする。そして、そ
のカウント値を制御回路63がバッファメモリ15に書
き込む動作をするので、PC6はバッファメモリ読み出
し命令14を使用し、バッファメモリ15内に上記の動
作で書き込まれたカウント値を読み出し、その値を元に
高速カウンタユニットのデバッグ作業を行う。
2. Description of the Related Art FIG. 14 shows a configuration example of a conventional programmable controller (hereinafter referred to as a PC as appropriate) (hereinafter appropriately referred to as PC).
It is a figure showing the system). 5 is a power supply unit, 6 is a PC, 7 is an input unit, 8 is an output unit,
Reference numeral 9 is a base, and 31 is a unit for supplementing a function that the PC 6 does not have, for example, an auxiliary unit. The PC 6 and each unit are mounted on the base 9. This conventional example is for the following description, and the unit configuration is arbitrary. Also,
The unit used here will be described below using an analog / digital conversion unit (hereinafter referred to as an A / D conversion unit) 31 as an example of the unit, but the type of the unit cannot be specified in the debug device of the present invention. Absent. The A / D conversion unit 31 is a unit for converting an input analog value (voltage or current) into a digital value. Conventionally, in the PC system as shown in FIG. 14, when the A / D conversion unit 31 of the sequence program inside the PC 6 is debugged, the A / D conversion unit 31 is actually attached to the base 9. And FIG.
5 is a functional block diagram of the A / D conversion unit.
The / D conversion unit 31 is supplied with an actual input (voltage or current) from the external device 35 to the voltage / current input terminal section 34 of FIG. 15, so that the actual input (voltage or current-> A /
The A / D converter 32 converts the analog value into a digital value from the analog value). After that, since the control circuit 33 operates to write the digital value in the buffer memory 15, the PC 6 uses the buffer memory read command 14 to read the digital value written in the buffer memory 15 by the above operation, and to read the value. Based on the above, the A / D conversion unit 31 is debugged. This debugging method is the same for other units. FIG. 16 is a functional block diagram of a high-speed counter unit, for example, regarding a unit called a high-speed counter unit. First, a buffer memory write command 13 is used from the PC 6 and necessary data (pulse input mode type and (Counter function type, etc.), and the pulse voltage is applied to the pulse voltage input terminal 62 from the external device 64, and the control circuit 63 counts from the applied pulse voltage and the data written in the buffer memory 15 by the above. do. Since the control circuit 63 operates to write the count value in the buffer memory 15, the PC 6 uses the buffer memory read instruction 14 to read the count value written in the buffer memory 15 by the above operation, Debugging work of the high-speed counter unit based on.

【0003】従来のデバッグ作業の詳細を以下に示す。
図15は、ユニットの例として選定したA/D変換ユニ
ット31を機能ブロック図として示したものである。1
3はPC6のデータをバッファメモリ15内に書き込む
バッファメモリ書き込み命令を意味し、矢印の向きは命
令が発行される方向を示す。14はバッファメモリ15
内のデータをPC6に読み出すバッファメモリ読み出し
命令を意味し、矢印の向きは命令が発行される方向を示
す。 15はバッファメモリ、16はPC用インタフェ
ースである。バッファメモリ15の中には図17のよう
に、A/D変換ユニット31に対しての実入力(電圧又
は電流)を投入して、使用するチャンネルを決める使用
チャンネル指定エリア45や時間/回数のどちらの平均
をとるかの設定をする平均処理指定エリア46や実際の
平均時間/回数をセットするCH1〜CH8平均時間/
回数エリア47や実入力(電圧又は電流)をデジタル変
換した値が入っているCH1〜CH8デジタル出力値エ
リア48があり、各々のエリアに分かれている。PC6
は、PC用インタフェース16を介してバッファメモリ
書き込み命令13やバッファメモリ読み出し命令14を
使用して、A/D変換ユニット31内のバッファメモリ
15に対して、デジタル出力値などのデバッグに必要な
データを読み書きする。34は電圧/電流入力端子部で
ありA/D変換ユニットに実入力(電圧又は電流)が実
際に外部機器35から投入される部分である。電圧/電
流入力端子部34に外部機器35から実入力(電圧又は
電流)が加えられると、実入力(電圧又は電流)はA/
D変換ユニットにアナログ値として扱われ、A/Dコン
バータ32によりデジタル値に変換される。そして制御
回路33によって、バッファメモリ15内のCH1〜C
H8デジタル出力値エリア48に変換されたデジタル値
が書き込まれる。ユニットの例として選定したA/D変
換ユニット31のデバッグは、投入された実入力(電圧
又は電流)がデジタル変換された値により実施する。
又、電圧/電流入力端子部34から実入力(電圧又は電
流)を投入しなければならない理由はバッファメモリ1
5内のCH1〜CH8デジタル出力値エリア48は通常
において読出専用(つまり、書込不可)であるからデジ
タル出力値エリア48に直接デジタル値を書き込んでデ
バッグすることができないため、外部機器35から実際
に実入力(電圧又は電流)を加え、アナログ(実入力)
からデジタル変換されたバッファメモリ15内のCH1
〜CH8デジタル出力値エリア48の値をバッファメモ
リ読み出し命令14を使用して読み込み、その読み込ん
だデータを元にPC6内のシーケンスプログラムのデバ
ッグ作業を行う。
Details of the conventional debugging work are shown below.
FIG. 15 is a functional block diagram showing the A / D conversion unit 31 selected as an example of the unit. 1
Reference numeral 3 denotes a buffer memory write command for writing the data of the PC 6 into the buffer memory 15, and the direction of the arrow indicates the direction in which the command is issued. 14 is a buffer memory 15
Means a buffer memory read command for reading the data in the memory to the PC 6, and the direction of the arrow indicates the direction in which the command is issued. Reference numeral 15 is a buffer memory, and 16 is a PC interface. As shown in FIG. 17, in the buffer memory 15, the actual input (voltage or current) to the A / D conversion unit 31 is applied to determine the channel to be used, the use channel designation area 45 and the time / number of times. Averaging process designated area 46 for setting which average is to be taken and actual averaging time / number of times CH1 to CH8 averaging time /
There are a number-of-times area 47 and a CH1 to CH8 digital output value area 48 in which a value obtained by digitally converting an actual input (voltage or current) is included, and is divided into respective areas. PC6
Uses the buffer memory write instruction 13 and the buffer memory read instruction 14 via the PC interface 16 to the buffer memory 15 in the A / D conversion unit 31, and outputs data necessary for debugging such as a digital output value. Read and write. Reference numeral 34 denotes a voltage / current input terminal portion, which is a portion where an actual input (voltage or current) is actually input from the external device 35 to the A / D conversion unit. When an actual input (voltage or current) is applied to the voltage / current input terminal unit 34 from the external device 35, the actual input (voltage or current) is A /
It is treated as an analog value by the D conversion unit and converted into a digital value by the A / D converter 32. Then, by the control circuit 33, CH1 to C in the buffer memory 15
The converted digital value is written in the H8 digital output value area 48. The A / D conversion unit 31 selected as an example of the unit is debugged by a value obtained by digitally converting the input actual input (voltage or current).
The reason why the actual input (voltage or current) must be input from the voltage / current input terminal section 34 is that the buffer memory 1
Since the CH1 to CH8 digital output value areas 48 in 5 are normally read-only (that is, unwritable), it is not possible to directly write the digital values in the digital output value area 48 for debugging. Analog input (actual input) by adding actual input (voltage or current) to
CH1 in the buffer memory 15 digitally converted from
The value in the CH8 digital output value area 48 is read using the buffer memory read instruction 14, and the sequence program in the PC 6 is debugged based on the read data.

【0004】[0004]

【発明が解決しようとする課題】ユニットの例として記
述しているA/D変換ユニットと高速カウンタユニット
の機能ブロック図内部のバッファメモリ15はH/Wと
して同様なものであるが、各ユニット毎にバッファメモ
リ15のメモリ割り付け(各ユニット毎に持っている固
有のデータエリア)は異なる。(例えば、図17のA/
D変換ユニットのバッファメモリ割り付けと図18の高
速カウンタユニットのバッファメモリ割り付け) 従って、例えばA/D変換ユニットのデバッグを行う場
合は、必ずA/D変換ユニットが必要であり、更にA/
D変換ユニットに実際に電圧又は電流を投入する外部機
器もA/D変換ユニットに使用することが可能な実入力
(電圧又は電流)を投入できる外部機器を使用しなけれ
ばならない。よって、A/D変換ユニットのデバッグ作
業を行う場合、別にユニットでA/D変換ユニットの代
用をすることは不可能であり、外部機器に関してもデバ
ッグしたいユニットに合わせた専用の外部機器が必要で
あるという問題点があった。
The functional block diagram of the A / D conversion unit and the high speed counter unit described as an example of the unit is the same as the buffer memory 15 in the H / W. The memory allocation of the buffer memory 15 (specific data area held by each unit) is different. (For example, A / in FIG.
Buffer memory allocation of the D conversion unit and buffer memory allocation of the high-speed counter unit of FIG. 18) Therefore, for example, when debugging the A / D conversion unit, the A / D conversion unit is always required, and
External devices that actually apply voltage or current to the D conversion unit must also use external devices that can apply actual input (voltage or current) that can be used for the A / D conversion unit. Therefore, when debugging the A / D conversion unit, it is not possible to use a separate unit as a substitute for the A / D conversion unit, and an external device dedicated to the unit to be debugged is also required. There was a problem.

【0005】本発明は、上述の問題点に鑑み、例えば特
定の目的の為のユニットやそのユニットに接続する外部
機器がなくても、ユニットを用いたシーケンスプログラ
ムのデバッグを可能とするユニットのデバッグ用ユニッ
トを提供することを目的とする。
In view of the above-mentioned problems, the present invention makes it possible to debug a sequence program using a unit without using, for example, a unit for a specific purpose or an external device connected to the unit. The purpose is to provide a unit for use.

【0006】[0006]

【課題を解決するための手段】本発明に係るユニットデ
バッグ装置は、プログラマブルコントローラが有しない
機能を補うためのユニットを使用し、上記プログラマブ
ルコントローラ内部にあるシーケンスプログラムをデバ
ッグする場合に、上記ユニットの擬似的なデータをセッ
トしたソフトウェアを周辺機器から動作させることによ
り、上記ユニットを使用したプログラマブルコントロー
ラ内部にあるシーケンスプログラムのデバッグを行なう
ものである。
A unit debug device according to the present invention uses a unit for supplementing a function which a programmable controller does not have, and when a sequence program in the programmable controller is debugged, By operating the software in which the pseudo data is set from the peripheral device, the sequence program in the programmable controller using the above unit is debugged.

【0007】[0007]

【発明の実施の形態】BEST MODE FOR CARRYING OUT THE INVENTION

発明の実施の形態1.本発明に係わるユニットを用いた
PCシステムのデバッグ方法について、それを実施する
装置との関係を交え、好適な実施の形態を挙げ、添付の
図面を参照しながら以下詳細に説明する。
First Embodiment of the Invention A debugging method of a PC system using a unit according to the present invention will be described in detail below with reference to the accompanying drawings, with reference to preferred embodiments by taking a relationship with a device for carrying out the debugging method.

【0008】図1は本発明の一つの実施の形態によるデ
バッグ用ユニットの概観図である。1はデバッグ用ユニ
ット、2は現在シミュレーションを行っているユニット
の形名を表示する表示器、3は周辺機器と通信を行うた
めの周辺機器用インタフェース、4は外部スイッチであ
りこのスイッチの切り換えを行いシミュレーションする
ユニットの機種を選択する。図2は本発明の一つの実施
の形態によるデバッグ用ユニットから構成されるPCシ
ステムを表した図である。電源ユニット5、PC6、入
力ユニット7、出力ユニット8、ベース9は前記図9の
従来装置と全く同一のものである。図2のデバッグ用ユ
ニット1は図1と全く同一のものである。図2の10は
周辺機器用インタフェース3に接続されたケーブルであ
り、11の周辺機器と接続するためのものである。ここ
で、周辺機器11には、デバッグ用ユニット1を擬似的
なA/D変換ユニットとみなすようにさせるS/Wが動
作する。以下、デバッグ用ユニット1と、周辺機器11
で実行するS/Wについて説明する。
FIG. 1 is a schematic view of a debugging unit according to an embodiment of the present invention. Reference numeral 1 is a debugging unit, 2 is a display for displaying the model name of the unit currently being simulated, 3 is a peripheral device interface for communicating with peripheral devices, and 4 is an external switch. Select the model of the unit to be simulated. FIG. 2 is a diagram showing a PC system including a debug unit according to an embodiment of the present invention. The power supply unit 5, the PC 6, the input unit 7, the output unit 8 and the base 9 are exactly the same as the conventional device shown in FIG. The debugging unit 1 shown in FIG. 2 is exactly the same as that shown in FIG. Reference numeral 10 in FIG. 2 denotes a cable connected to the peripheral device interface 3 for connecting to the peripheral device 11. Here, the peripheral device 11 operates the S / W that causes the debug unit 1 to be regarded as a pseudo A / D conversion unit. Hereinafter, the debug unit 1 and the peripheral device 11
The S / W executed in step 1 will be described.

【0009】デバッグ用ユニット1について説明する。
図3において、1はデバッグ用ユニットである。表示器
2、周辺機器用インタフェース3は図1と同一のもので
ある。PC6、バッファメモリ15、PC用インタフェ
ース16は図10の従来のものと全く同一ものである。
(但し、バッファメモリ15のメモリ割り付けは異な
る)12はデバッグ用ユニットの制御回路であり、PC
からの指令や周辺機器からの指令に応じて動作するもの
である。制御回路の処理内容については以下に記す。図
4はデバッグ用ユニット1の処理フローであり制御回路
12によって処理される。図3及び図4を用いて以下に
説明を示す。ステップ4−1で、イニシャル処理として
PC用インタフェース16や周辺機器用インタフェース
13に対し、それぞれ通信できるように通信回線をオー
プンする処理を行う。ステップ4−3で、外部スイッチ
4で指定されたユニットの機種の名前を表示器2に表示
する。ステップ4−6で、外部スイッチ4で指定された
ユニットのバッファメモリ割り付けデータを本デバッグ
用ユニットの制御回路内部に固定データとして持ってお
り、そのメモリ割り付けデータをバッファメモリ15に
反映させる。つまり、図18のA/D変換ユニットのバ
ッファメモリ割り付けが、制御回路33内に固定データ
として存在し、それを図5のデバッグ用ユニットの可変
バッファメモリ割り付けエリア49の位置にそのまま反
映する。この動作により、デバッグ用ユニット1はどの
ようなユニットのバッファメモリ割り付けでも中和する
ことが可能となる。ステップ4−4で、PC6からバッ
ファメモリ15の読出(バッファメモリ読み出し命令1
4)やバッファメモリ15の書込(バッファメモリ書き
込み命令13)の指令が発生した時、その指令に合わせ
た指令処理を図3の制御回路12が行う。ステップ4−
5で、周辺機器11からのバッファメモリの読出やバッ
ファメモリの書込の指令が発生した時(周辺機器用イン
タフェース3経由で制御回路がバッファメモリ15の内
容を読み書きする)、その指令に合わせた指令処理を図
3の制御回路12が行う。
The debug unit 1 will be described.
In FIG. 3, reference numeral 1 is a debugging unit. The display 2 and the peripheral device interface 3 are the same as those in FIG. The PC 6, the buffer memory 15, and the PC interface 16 are exactly the same as the conventional ones shown in FIG.
(However, the memory allocation of the buffer memory 15 is different.) 12 is the control circuit of the debugging unit,
It operates in response to a command from a computer or a command from a peripheral device. The processing contents of the control circuit will be described below. FIG. 4 is a processing flow of the debugging unit 1, which is processed by the control circuit 12. The description will be given below with reference to FIGS. 3 and 4. In step 4-1, a process of opening a communication line for communication with the PC interface 16 and the peripheral device interface 13 is performed as an initial process. In step 4-3, the model name of the unit designated by the external switch 4 is displayed on the display unit 2. In step 4-6, the buffer memory allocation data of the unit designated by the external switch 4 is held as fixed data inside the control circuit of the debugging unit, and the memory allocation data is reflected in the buffer memory 15. That is, the buffer memory allocation of the A / D conversion unit of FIG. 18 exists as fixed data in the control circuit 33, and it is reflected as it is in the position of the variable buffer memory allocation area 49 of the debugging unit of FIG. By this operation, the debug unit 1 can neutralize the buffer memory allocation of any unit. In step 4-4, the buffer memory 15 is read from the PC 6 (buffer memory read command 1
4) or when a command for writing to the buffer memory 15 (buffer memory write command 13) is issued, the control circuit 12 in FIG. 3 performs command processing in accordance with the command. Step 4-
5, when a command for reading the buffer memory from the peripheral device 11 or a command for writing the buffer memory is generated (the control circuit reads and writes the contents of the buffer memory 15 via the peripheral device interface 3), the command is adjusted to the command. The control circuit 12 of FIG. 3 performs command processing.

【0010】以後、ステップ4−4とステップ4−5を
繰り返し行う。この繰り返しにより、PC6からと周辺
機器11からの図3のバッファメモリ15の読出又は、
書込の指令がきても常時対応できることになる。又、上
記以外のユニットで、例えば図17の高速カウンタユニ
ットをデバッグする場合は上記のA/D変換ユニット3
1と異なってくる箇所は、図4の4−3の形名が変わり
(高速カウンタユニットの形名、例えば「AD61」と
なる)、図4の4−6でのバッファメモリ割り付けデー
タが変わるだけで(図19のバッファメモリ割り付けが
図5のデバッグ用ユニットの可変バッファメモリ割り付
けエリア49の位置にそのまま反映されるため)、後は
同様な動作をする。
Thereafter, steps 4-4 and 4-5 are repeated. By repeating this, reading of the buffer memory 15 of FIG. 3 from the PC 6 and the peripheral device 11, or
Even if a write command is received, it can always be dealt with. When debugging a high-speed counter unit shown in FIG. 17 with a unit other than the above units, the A / D conversion unit 3 described above is used.
4 is different from 1 (the model name of the high-speed counter unit is, for example, "AD61"), and the buffer memory allocation data in 4-6 of FIG. 4 is changed. Then (because the buffer memory allocation in FIG. 19 is directly reflected in the position of the variable buffer memory allocation area 49 of the debugging unit in FIG. 5), the same operation is performed thereafter.

【0011】次に周辺機器11上で動作するS/Wによ
り、A/D変換ユニット31のシミュレートした場合を
例にして説明する。図6は前記S/Wの周辺機器11に
出力される画面を示し、図7にて前記S/Wの処理を示
す。構成としてはユニット種別選択画面57、アナログ
入力電圧電流選択画面17、使用チャンネル/平均処理
指定画面51、電圧入出力変換特性設定画面18、電流
入出力変換特性設定画面19、電圧値入力画面20、電
流値入力画面21があり操作方法を以下に示す。
Next, a case where the A / D conversion unit 31 is simulated by the S / W operating on the peripheral device 11 will be described as an example. FIG. 6 shows a screen output to the S / W peripheral device 11, and FIG. 7 shows the S / W processing. As a configuration, a unit type selection screen 57, an analog input voltage / current selection screen 17, a used channel / averaging process designation screen 51, a voltage input / output conversion characteristic setting screen 18, a current input / output conversion characteristic setting screen 19, a voltage value input screen 20, There is a current value input screen 21, and the operation method is shown below.

【0012】周辺機器11上にてS/Wを起動すると図
6のユニット種別選択画面57が表示され、そこでデバ
ッグを行いたいユニットの種別を選択する。(図7の5
6、ここでは例として「1.A68AD」を選択する) ユニットの種別選択後、アナログ入力選択画面17が周
辺機器11に表示されA/D変換ユニット31のアナロ
グ入力値(実入力に相当)を電圧又は電流かで選択する
(図7の36)。次に使用チャンネル/平均処理指定画
面51が周辺機器11に表示され、使用チャンネル及
び、平均処理指定を両方設定する。(図7の55)使用
チャンネル指定には図8の52(右端からCH1、CH
2、・・・・、CH8)の位置に使用するチャンネルの
位置のビットがONするように16進数表現にて設定を
行う。平均処理指定の平均処理実行チャンネルは図9の
53(右端からCH1、CH2、・・・・、CH8)の
位置に平均処理ならビットがONするように、サンプリ
ング処理ならビットがOFFするように16進数表現に
て設定を行う。平均処理指定の時間/回数は図9の54
(右端からCH1、CH2、・・・・、CH8)の位置
に時間平均ならビットがONするように、回数平均なら
ビットがOFFするように16進数表現にて設定を行
う。次にアナログ入力選択画面17にて電圧が選択され
た時(1キーが押された時)は入出力特性設定(電圧)
画面18が周辺機器11に表示され、電流が選択された
時(2キーが押された時)は入出力特性設定(電流)画
面19が周辺機器11に表示される。それぞれオフセッ
ト値22とゲイン値23を設定する。(図7の37及
び、38) オフセット値22はデジタル出力の最大に値するアナロ
グ入力値(電圧又は電流)であり、ゲイン値23はデジ
タル出力の最小に値するアナログ入力値(電圧又は電
流)である。
When the S / W is started on the peripheral device 11, the unit type selection screen 57 of FIG. 6 is displayed, and the type of the unit to be debugged is selected there. (5 in FIG. 7
6. Here, "1.A68AD" is selected as an example.) After selecting the unit type, the analog input selection screen 17 is displayed on the peripheral device 11 and the analog input value (corresponding to the actual input) of the A / D conversion unit 31 is displayed. Selection is made by voltage or current (36 in FIG. 7). Next, the used channel / average processing designation screen 51 is displayed on the peripheral device 11, and both the used channel and the average processing designation are set. (55 in FIG. 7) 52 in FIG. 8 (CH1, CH
, ..., CH8) are set in hexadecimal notation so that the bit at the position of the channel to be used turns ON. The averaging process execution channel designated by the averaging process is located at the position 53 (CH1, CH2, ..., CH8 from the right end) in FIG. 9 so that the bit is turned on for the averaging process and the bit is turned off for the sampling process. Set in decimal notation. The time / count of averaging processing is 54 in FIG.
At the positions (CH1, CH2, ..., CH8 from the right end), the bit is turned on for time average, and the bit is turned off for number average, in hexadecimal notation. Next, when voltage is selected on the analog input selection screen 17 (when the 1 key is pressed), input / output characteristic setting (voltage)
The screen 18 is displayed on the peripheral device 11, and when the current is selected (when the 2 key is pressed), the input / output characteristic setting (current) screen 19 is displayed on the peripheral device 11. An offset value 22 and a gain value 23 are set respectively. (37 and 38 in FIG. 7) The offset value 22 is the maximum analog input value (voltage or current) of the digital output, and the gain value 23 is the minimum analog input value (voltage or current) of the digital output. .

【0013】次にアナログ入力値の設定を行うためにア
ナログ入力選択画面17にて電圧が選択された場合は入
力電圧設定画面20を表示、アナログ入力選択画面17
にて電流が選択された場合は入力電流設定画面21が表
示され、周辺機器11のファンクションキーであるF1
からF8キーでアナログ入力値のチャンネル指定(本A
/D変換ユニット31は最大8チャンネルアナログ入力
できるものとする)を行い(図7の39及び、40)、
選択されたチャンネル指定先の設定上にアナログ入力値
(電圧又は電流)と設定下に平均時間又は、平均回数を
設定する。(図7の41及び、42) 次にオフセット値22とゲイン値23から上記にて設定
されているアナログ入力値をデジタル値に変換する。変
換方法は図10の入出力変換特性グラフに示す様にオフ
セット値22はデジタル値が1000となる時のアナロ
グ入力値の点となり、ゲイン値23はデジタル値が0と
なる時のアナログ入力値の点となる。この2点を結ぶ直
線のグラフが入出力特性となり、このグラフが示す値の
デジタル値に上記にて設定されたアナログ入力値(電圧
または電流)が変換される。但し、本A/D変換ユニッ
ト31の制限としてデジタル値の最大値は2047で最
少値は−2048である。前記S/Wの処理としては、
入出力特性設定(電圧)なら電圧入出力変換特性設定画
面18で設定されているオフセット値及び、ゲイン値と
使用するチャンネルに加える実入力(電圧)の値(アナ
ログ値)から、ゲイン×使用するチャンネルに加える実
入力の値+オフセット値でデジタル変換される。又、入
出力特性設定(電流)なら電流入出力変換特性設定画面
19で設定されているオフセット値及び、ゲイン値と使
用するチャンネルに加える実入力(電流)の値(アナロ
グ値)から、ゲイン×使用するチャンネルに加える実入
力の値+オフセット値でデジタル変換される。(図7の
43及び、44) そして、このデジタル変換された値をデバッグ用ユニッ
ト1のバッファメモリ15のCH1〜CH8デジタル出
力値エリア48に書き込む。以上により、PC6から見
れば、デバッグ用ユニット1のバッファメモリ15のC
H1〜CH8デジタル出力値エリア48は、通常のA/
D変換ユニットのデジタル出力値が入っているエリアと
同様な位置なので、デバッグ用ユニット1が、あたかも
A/D変換ユニット31のような動作をすることになり
(実際のA/D変換ユニットが不必要)、尚且つ外部機
器の必要がないデバッグが可能となる。
Next, when the voltage is selected on the analog input selection screen 17 to set the analog input value, the input voltage setting screen 20 is displayed and the analog input selection screen 17 is displayed.
When the current is selected in, the input current setting screen 21 is displayed, and F1 which is the function key of the peripheral device 11 is displayed.
To F8 key to specify the analog input value channel (this A
The / D conversion unit 31 is assumed to be capable of analog input of up to 8 channels) (39 and 40 in FIG. 7),
The analog input value (voltage or current) is set on the selected channel designation destination, and the averaging time or the average number of times is set on the setting. (41 and 42 in FIG. 7) Next, the analog input value set above is converted from the offset value 22 and the gain value 23 into a digital value. As shown in the input / output conversion characteristic graph of FIG. 10, the conversion method is such that the offset value 22 becomes the point of the analog input value when the digital value becomes 1000, and the gain value 23 becomes the analog input value when the digital value becomes 0. It becomes a point. The straight line graph connecting these two points becomes the input / output characteristic, and the analog input value (voltage or current) set above is converted into the digital value of the value shown in this graph. However, as a limitation of the A / D conversion unit 31, the maximum digital value is 2047 and the minimum digital value is -2048. As the S / W processing,
If it is an input / output characteristic setting (voltage), gain x is used from the offset value and gain value set on the voltage input / output conversion characteristic setting screen 18 and the value (analog value) of the actual input (voltage) added to the channel to be used. Digitally converted by the actual input value + offset value applied to the channel. Further, if the input / output characteristic setting (current), the gain x is obtained from the offset value and the gain value set on the current input / output conversion characteristic setting screen 19 and the actual input (current) value (analog value) added to the channel to be used. Digitally converted by the actual input value + offset value added to the channel to be used. (43 and 44 in FIG. 7) Then, the digitally converted value is written in the CH1 to CH8 digital output value area 48 of the buffer memory 15 of the debugging unit 1. From the above, from the perspective of the PC 6, the C of the buffer memory 15 of the debugging unit 1
H1-CH8 digital output value area 48 is a normal A /
Since the position is the same as the area containing the digital output value of the D conversion unit, the debugging unit 1 operates as if it were the A / D conversion unit 31 (the actual A / D conversion unit is not (Necessary), and debugging without the need for external equipment is possible.

【0014】また、他の例として高速カウンタユニット
の場合は、図11の57の所でAD61(高速カウンタ
ユニット)を選択し、以下は上記のA/D変換ユニット
のS/Wと同様の考えで、高速カウンタユニットを動作
させる上で必要なデータをセットする。これは図18の
バッファメモリ内のデータを図11の57から61の設
定画面に従ってセットする。尚、パルス入力モード選択
画面58では1相パルス入力(パルス電圧の入力箇所が
1箇所)か2相パルス入力(パルス電圧の入力箇所が2
箇所)かを選択し、カウンタ機能選択画面59ではラッ
チカウンタ機能(パルス電圧入力端子部62にパルス電
圧が入力された時、カウンタの現在値をカウンタ機能選
択カウント値エリア66に保持する)を使用するなどの
カウンタ機能選択カウント値エリア66に格納する条件
を選択し、その他の設定画面60では現在値エリア65
の値をリセットする場合のリセット値(プリセット値)
等を設定する。そして最後のCHリミットスイッチ出力
データ設定画面61ではCH毎のマルチドグ数(パルス
波形の山の所を指す)等を設定する。そして、このセッ
トされた値を周辺機器からバッファメモリ15のCH1
〜CH8リミットスイッチ出力データ設定エリアに書き
込めば、デバッグ用ユニット1が、A/D変換ユニット
31と同様な理由で、あたかも高速カウンタユニットの
ような動作をすることになり(実際の高速カウンタユニ
ットが不必要)、尚且つ図17のパルス電圧入力端子部
62へのパルス電圧を投入する外部機器64が必要ない
ことになる。次に周辺機器11とデバッグ用ユニット間
の通信方法において、周辺機器11にてデジタル変換さ
れた値を実際のデバッグ用ユニット1のバッファメモリ
15のCH1〜CH8デジタル出力値エリア48に書き
込む場合においての通信手順を記す。周辺機器11とデ
バッグ用ユニット1との通信は決められた形の伝文を送
受信することにより行う、手順としては周辺機器11か
ら要求コマンド(自身が得たい情報の要求指示)をデバ
ッグ用ユニット1に送信し、結果がデバッグ用ユニット
1から周辺機器11に返される(図12)。以下にバッ
ファメモリ15の書込時の通信方法の例を挙げる。
As another example, in the case of a high speed counter unit, the AD61 (high speed counter unit) is selected at 57 in FIG. 11, and the following is the same idea as the S / W of the above A / D conversion unit. Then, set the data required to operate the high-speed counter unit. This sets the data in the buffer memory in FIG. 18 according to the setting screens 57 to 61 in FIG. In the pulse input mode selection screen 58, one-phase pulse input (one input point of pulse voltage) or two-phase pulse input (two input points of pulse voltage are input).
Location) and use the latch counter function (when the pulse voltage is input to the pulse voltage input terminal unit 62, the current value of the counter is held in the counter function selection count value area 66) on the counter function selection screen 59. Select a condition to store in the counter function selection count value area 66 such as
Reset value when resetting the value of (preset value)
And so on. Then, on the final CH limit switch output data setting screen 61, the number of multi-dogs (pointing to the peak of the pulse waveform) for each CH is set. Then, the set value is sent from the peripheral device to CH1 of the buffer memory 15.
~ If you write in the CH8 limit switch output data setting area, the debugging unit 1 will operate as if it were a high-speed counter unit for the same reason as the A / D conversion unit 31 (the actual high-speed counter unit It is not necessary), and the external device 64 for applying the pulse voltage to the pulse voltage input terminal portion 62 of FIG. 17 is not necessary. Next, in the communication method between the peripheral device 11 and the debug unit, in the case of writing the value digitally converted by the peripheral device 11 into the CH1 to CH8 digital output value area 48 of the buffer memory 15 of the actual debug unit 1, Describe the communication procedure. The communication between the peripheral device 11 and the debugging unit 1 is performed by transmitting and receiving a message in a predetermined form. As a procedure, a request command (a request instruction of information that the self wants to obtain) is issued from the peripheral device 11. And the result is returned from the debugging unit 1 to the peripheral device 11 (FIG. 12). An example of a communication method at the time of writing to the buffer memory 15 will be given below.

【0015】図13の周辺機器送信データ24は書込時
に周辺機器11から送信する要求コマンドであり、周辺
機器送信データ26は周辺機器11がデバッグ用ユニッ
ト1に対して書込をするという要求を設定する場所であ
り、ここでは1を設定しておくことにより、デバッグ用
ユニット1は周辺機器11から書込要求が送られてきた
と判断でき、その後デバッグ用ユニット1はデバッグ用
ユニット1の内部でバッファメモリ15に対しての書込
要求であると認識を変化させる。周辺機器送信データ2
7はバッファメモリ15の書き込む場所を設定する所
で、ここで3と設定するとバッファメモリ15の先頭か
ら3番目の位置から周辺機器11から送られてきたデー
タを書込む事を指す。周辺機器送信データ28はバッフ
ァメモリ15に対して周辺機器送信データ27で指定し
たエリアから何個データを書き込むかを指定したもの
で、ここで2と設定するとバッファメモリ15の先頭か
ら3番目から2個分(バッファメモリ15の3番目から
4番目の位置まで)のデータを書き込むことを指してい
る。周辺機器送信データ29はバッファメモリの3番目
から4番目までに書き込むデータ(実際に書込む値(擬
似デジタル変換値)→例えば100と200)を設定す
る。このデータは周辺機器データ26で指定した数だけ
必要である。以上の内容を含んだ周辺機器11からの周
辺機器送信データ24を周辺機器11からデバッグ用ユ
ニット1に送信するとデバッグ用ユニット1でバッファ
メモリ15に周辺機器送信データ29に書かれている値
(例えば100と200)をデバッグ用ユニット1のバ
ッファメモリ15に書込む。その後、デバッグ用ユニッ
ト1は周辺機器11に対して、図13のデバッグ用ユニ
ット送信データ25を用いて完了フラグ30(書込み完
了の合図→1)を送信し、周辺機器11とデバッグ用ユ
ニット1間の通信は完了する。上記の手順はユニット
(例えば高速カウンタユニット)でも同様である
The peripheral device transmission data 24 in FIG. 13 is a request command transmitted from the peripheral device 11 at the time of writing, and the peripheral device transmission data 26 requests the peripheral device 11 to write to the debugging unit 1. This is the place to set, and by setting 1 here, the debug unit 1 can determine that the write request has been sent from the peripheral device 11, and then the debug unit 1 is set inside the debug unit 1. The recognition is changed to be a write request to the buffer memory 15. Peripheral device transmission data 2
Reference numeral 7 is a place for setting a writing position in the buffer memory 15, and if 3 is set here, it means to write the data sent from the peripheral device 11 from the third position from the beginning of the buffer memory 15. The peripheral device transmission data 28 designates how many data is written to the buffer memory 15 from the area designated by the peripheral device transmission data 27. When 2 is set here, the data from the head of the buffer memory 15 is 3rd to 2nd. This indicates writing of data for the number of pieces (from the third to fourth positions of the buffer memory 15). As the peripheral device transmission data 29, the data to be written (the value to be actually written (pseudo digital conversion value) → for example 100 and 200) is set in the third to fourth positions of the buffer memory. This data is required by the number specified by the peripheral device data 26. When the peripheral device transmission data 24 from the peripheral device 11 including the above contents is transmitted from the peripheral device 11 to the debugging unit 1, the value written in the peripheral device transmission data 29 in the buffer memory 15 of the debugging unit 1 (for example, 100 and 200) in the buffer memory 15 of the debugging unit 1. After that, the debugging unit 1 transmits a completion flag 30 (write completion signal → 1) to the peripheral device 11 by using the debug unit transmission data 25 of FIG. Communication is completed. The above procedure is the same for a unit (for example, a high-speed counter unit)

【0016】以上の説明から、デバッグ用ユニット1の
バッファメモリ15にデバッグしたいユニットのバッフ
ァメモリ割り付けがそのまま反映され、尚且つ、周辺機
器11上で動作するS/Wからデバッグ用ユニット1の
バッファメモリ15に読出/書込できることが可能であ
れば、PC6からするとデバッグ用ユニット1が、あた
かもデバッグしたユニット(A/D変換ユニット、高速
カウンタユニット等)に代用できることになり、PC6
内部のシーケンスプログラムのデバッグは、デバッグし
たいユニットが無くても、又、ユニットに投入する外部
機器等が無くても本発明のデバッグ用ユニット1さえあ
れば可能となる。
From the above description, the buffer memory allocation of the unit to be debugged is directly reflected in the buffer memory 15 of the debugging unit 1, and the buffer memory of the debugging unit 1 is changed from the S / W operating on the peripheral device 11. If it is possible to read / write to 15, the debugging unit 1 can be replaced by the PC 6 as if it were a debugged unit (A / D conversion unit, high-speed counter unit, etc.).
Debugging of the internal sequence program is possible even if there is no unit to be debugged, or there is no external device or the like to be inserted into the unit, as long as it has the debugging unit 1 of the present invention.

【0017】[0017]

【発明の効果】本発明は、デバッグしようとするユニッ
トがデバッグ時にない場合でも、本発明のデバッグ装置
があればデバッグしようとするユニットの代わりをする
ことができる。また、本発明のユニットデバッグ装置
は、例えばA/D変換ユニットのデバッグを行う場合に
おいて、周辺機器側のS/Wから実入力相当のデータを
デバッグ装置にセットすると、デバッグ装置は、あたか
も外部機器から実入力をA/D変換ユニットに投入し、
A/D変換ユニットがデジタル変換したかのような値を
出力することが可能なため、従来、必要だった外部機器
無しでユニット単体でのデバッグ作業が行える。
According to the present invention, even if the unit to be debugged is not present at the time of debugging, the unit to be debugged can be substituted by the debug device of the present invention. In addition, the unit debug device of the present invention, when debugging the A / D conversion unit, for example, when the data corresponding to the actual input from the S / W of the peripheral device is set in the debug device, the debug device is as if the external device. Input the actual input into the A / D conversion unit from
Since the A / D conversion unit can output a value as if it had been digitally converted, debugging work can be performed by the unit alone without the external device which was conventionally required.

【図面の簡単な説明】[Brief description of drawings]

【図1】 本発明のユニットデバッグ装置のデバッグ用
ユニットの概観図である。
FIG. 1 is a schematic view of a debugging unit of a unit debugging device of the present invention.

【図2】 本発明のユニットデバッグ装置を含むPCシ
ステムの構成図である。
FIG. 2 is a configuration diagram of a PC system including a unit debug device of the present invention.

【図3】 本発明のユニットデバッグ装置のデバッグ用
ユニットと周辺機器を接続した機能ブロック図である。
FIG. 3 is a functional block diagram in which a debugging unit of the unit debugging apparatus of the present invention and peripheral devices are connected.

【図4】 本発明のユニットデバッグ装置のデバッグ用
ユニットの処理フロー図である。
FIG. 4 is a processing flow diagram of a debugging unit of the unit debugging device of the present invention.

【図5】 本発明のバッファメモリの割り付けを示す図
である。
FIG. 5 is a diagram showing allocation of a buffer memory according to the present invention.

【図6】 本発明のユニットデバッグ装置の周辺機器上
で動作するソフトウェアでA/D変換ユニット選択時の
画面構成図である。
FIG. 6 is a screen configuration diagram when an A / D conversion unit is selected by software operating on a peripheral device of the unit debug device of the present invention.

【図7】 S/Wの内部処理の一例であるA/D変換ユ
ニットでの流れを示す図である。
FIG. 7 is a diagram showing a flow in an A / D conversion unit which is an example of internal processing of S / W.

【図8】 ユニットの一例であるA/D変換ユニットの
バッファメモリの使用チャンネル指定エリアの詳細割り
付けを示す図である。
FIG. 8 is a diagram showing detailed allocation of a used channel designation area of a buffer memory of an A / D conversion unit which is an example of a unit.

【図9】 ユニットの一例であるA/D変換ユニットの
バッファメモリの平均処理指定エリアの詳細割り付けを
示す図である。
FIG. 9 is a diagram showing detailed allocation of an average processing designated area of a buffer memory of an A / D conversion unit which is an example of a unit.

【図10】 電圧、電流のアナログ値をデジタル値に変
換するための入出力変換特性グラフである。
FIG. 10 is an input / output conversion characteristic graph for converting analog values of voltage and current into digital values.

【図11】 本発明のユニットデバッグ装置の周辺機器
上で動作するソフトウェアで高速カウンタユニット選択
時の画面構成図である。
FIG. 11 is a screen configuration diagram when a high-speed counter unit is selected by software operating on a peripheral device of the unit debug device of the present invention.

【図12】 本発明のユニットデバッグ装置のデバッグ
用ユニットと周辺機器を接続した時の簡単な伝文の流れ
を示す図である。
FIG. 12 is a diagram showing a simple message flow when a debugging unit of the unit debugging apparatus of the present invention and a peripheral device are connected.

【図13】 本発明のユニットデバッグ装置と周辺機器
で送信されるデータの例を示す図である。
FIG. 13 is a diagram showing an example of data transmitted by the unit debug device of the present invention and peripheral devices.

【図14】 ユニットの一例であるA/D変換ユニット
を含むPCシステムの構成図である。
FIG. 14 is a configuration diagram of a PC system including an A / D conversion unit which is an example of the unit.

【図15】 ユニットの一例であるA/D変換ユニット
の機能ブロック図である。
FIG. 15 is a functional block diagram of an A / D conversion unit that is an example of a unit.

【図16】 ユニットの一例である高速カウンタユニッ
トの機能ブロック図である。
FIG. 16 is a functional block diagram of a high-speed counter unit that is an example of a unit.

【図17】 ユニットの一例であるA/D変換ユニット
のバッファメモリの割り付けを示す図である。
FIG. 17 is a diagram showing allocation of a buffer memory of an A / D conversion unit which is an example of a unit.

【図18】 ユニットの一例である高速カウンタユニッ
トのバッファメモリの割り付けを示す図である。
FIG. 18 is a diagram showing allocation of a buffer memory of a high speed counter unit which is an example of a unit.

【符号の説明】[Explanation of symbols]

1 デバッグ用ユニット、2 表示器、3 周辺機器用
インタフェース、4外部スイッチ、5 電源ユニット、
6 PC、7 入力ユニット、8 出力ユニット、9
ベース、10 ケーブル、11 周辺機器、12 デバ
ッグ用ユニットの制御回路、13 バッファメモリ書込
命令、14 バッファメモリ読出命令、15 バッファ
メモリ、16 PC用インタフェース、24 周辺機器
からデバッグ用ユニットに送信するデータ、25 デバ
ッグ用ユニットから周辺機器に送信するデータ、26
書込要求コード、27 バッファメモリのエリア指定、
28 書込むデータサイズ、29 書込むデータ、30
完了フラグ、36 アナログ入力値種類の選定処理、
37 入出力特性設定(電圧)時のオフセット値/ゲイ
ン値設定処理、38 入出力特性設定(電流)時のオフ
セット値/ゲイン値設定処理、39 アナログ入力が電
圧時のチャンネル選択処理、40 アナログ入力が電流
時のチャンネル選択処理、41 選択されたチャンネル
に加える電圧設定処理、42 選択されたチャンネルに
加える電流設定処理、43 アナログ入力が電圧時のデ
ジタル変換処理、44 アナログ入力が電流時のデジタ
ル変換処理、49 デバッグ用ユニットの可変バッファ
メモリ割り付けエリア、51使用チャンネル/平均処理
指定画面、52 A/D変換ユニットの使用チャンネル
設定箇所、53 A/D変換ユニットの平均処理するチ
ャンネル指定箇所、54 A/D変換ユニットの時間/
回数の指定箇所、55 使用チャンネル及び、平均処理
指定の設定処理、56 ユニット種類選択処理、57
ユニット種別選択画面、58 パルス入力モード選択画
面、59 カウンタ機能選択画面、60 その他の設定
画面、61 CHリミットスイッチ出力データ設定画
面。
1 debug unit, 2 display unit, 3 peripheral device interface, 4 external switch, 5 power supply unit,
6 PC, 7 input unit, 8 output unit, 9
Base, 10 cables, 11 peripheral devices, 12 debug unit control circuit, 13 buffer memory write command, 14 buffer memory read command, 15 buffer memory, 16 PC interface, 24 data sent from peripheral device to debug unit , 25 Data to be sent from the debug unit to peripheral devices, 26
Write request code, 27 Specify buffer memory area,
28 data size to write, 29 data size to write, 30
Completion flag, 36 Analog input value type selection process,
37 Offset value / gain value setting processing when input / output characteristic setting (voltage), 38 Offset value / gain value setting processing when input / output characteristic setting (current), 39 Channel selection processing when analog input is voltage, 40 analog input Is a channel selection process when current is applied, 41 Voltage setting process applied to selected channel, 42 Current setting process applied to selected channel, 43 Digital conversion process when analog input is voltage, 44 Digital conversion when analog input is current Processing, 49 Variable buffer memory allocation area of debug unit, 51 used channel / average processing specification screen, 52 A / D conversion unit used channel setting location, 53 A / D conversion unit average processing channel specification location, 54 A / Time of D conversion unit /
Designated number of times, 55 used channel and setting process of averaging process designation, 56 unit type selection process, 57
Unit type selection screen, 58 pulse input mode selection screen, 59 counter function selection screen, 60 other setting screen, 61 CH limit switch output data setting screen.

フロントページの続き (72)発明者 村瀬 伸幸 名古屋市北区東大曽根町上五丁目1071番地 三菱電機メカトロニクスソフトウエア株 式会社内 (72)発明者 五藤 良昭 名古屋市北区東大曽根町上五丁目1071番地 三菱電機メカトロニクスソフトウエア株 式会社内 (72)発明者 田中 芳実 名古屋市北区東大曽根町上五丁目1071番地 三菱電機メカトロニクスソフトウエア株 式会社内Front page continuation (72) Inventor Nobuyuki Murase 5107, Kamio, Sone-cho, Higashiodasone, Kita-ku, Nagoya City Mitsubishi Electric Mechatronics Software Co., Ltd. (72) Yoshiaki Goto 1071, Kamie-cho, Higashiodasone, Kita-ku, Nagoya Address Mitsubishi Electric Mechatronics Software Co., Ltd. (72) Inventor Yoshimi Tanaka, 5107-1071, Kamie, Sone-cho, Higashi-Osone, Kita-ku, Nagoya City Mitsubishi Electric Mechatronics Software Co., Ltd.

Claims (1)

【特許請求の範囲】[Claims] 【請求項1】 プログラマブルコントローラが有しない
機能を補うためのユニットを使用し、上記プログラマブ
ルコントローラ内部にあるシーケンスプログラムをデバ
ッグする場合に、上記ユニットの擬似的なデータをセッ
トしたソフトウェアを周辺機器から動作させることによ
り、上記ユニットを使用したプログラマブルコントロー
ラ内部にあるシーケンスプログラムのデバッグを行なう
ことを特徴とするユニットデバッグ装置。
1. When a unit for compensating for a function which a programmable controller does not have is used and a sequence program in the programmable controller is debugged, software in which pseudo data of the unit is set is operated from a peripheral device. By doing so, the unit debug device is characterized in that the sequence program inside the programmable controller using the above unit is debugged.
JP1415996A 1996-01-30 1996-01-30 Unit debugging device Pending JPH09212214A (en)

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Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
AU679890B1 (en) * 1996-09-25 1997-07-10 Gerhard Rosenberg Plastic weld saddle for establishing a branch connection to a plastic pipe
JP2011197878A (en) * 2010-03-18 2011-10-06 Koyo Electronics Ind Co Ltd Programmable controller, apparatus for managing the same, and program of method for determining module name

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