JPH09211503A - Waveguide type optical control element - Google Patents

Waveguide type optical control element

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JPH09211503A
JPH09211503A JP1773596A JP1773596A JPH09211503A JP H09211503 A JPH09211503 A JP H09211503A JP 1773596 A JP1773596 A JP 1773596A JP 1773596 A JP1773596 A JP 1773596A JP H09211503 A JPH09211503 A JP H09211503A
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JP
Japan
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optical
control element
waveguide
buffer layer
crystal substrate
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Application number
JP1773596A
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Japanese (ja)
Inventor
Masaaki Iwasaki
正明 岩崎
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NEC Corp
Original Assignee
NEC Corp
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Publication date
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Publication of JPH09211503A publication Critical patent/JPH09211503A/en
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Abstract

PROBLEM TO BE SOLVED: To obtain a waveguide type optical control element which is large in manufacturing tolerance and does not entail the deterioration in various characteristics exclusive of a DC drift. SOLUTION: Optical waveguides 12, 13 are formed on a Z-cut lithium niobate crystal substrate 11 by thermally diffusing thin-film titanium (Ti) into this substrate in such a manner that light propagates in a Y-axis direction. Oxidized film silicon which is optical buffer layers 1, 2 is divided perpendicularly to the crystal substrate 11 and is deposited thereon between control electrodes 15 and 16 and further, the control electrodes 15, 16 are installed near the optical waveguides 12, 13. The optical buffer layers 1, 2 are respectively independently deposited. The relation of the respective resistance values R1 , R2 of the optical buffer layers 1, 2 constituted in such a manner is R1 <R2 . The resistance value R1 of the buffer layers which are divided perpendicularly to the ferroelectric crystal substrate and are held by the optical waveguides 12, 13 and the control electrodes 15, 16 is made smaller than the rest value R2 of the adjacent buffer layers. The DC drift is suppressed by this constitution.

Description

【発明の詳細な説明】Detailed Description of the Invention

【0001】[0001]

【発明の属する技術分野】本発明は、光通信等において
光波の変調や光路の切り替え等に用いられる導波路型光
制御素子に関する。
BACKGROUND OF THE INVENTION 1. Field of the Invention The present invention relates to a waveguide type optical control element used for optical wave modulation or optical path switching in optical communication or the like.

【0002】[0002]

【従来の技術】従来、光通信システムの実用化が進展し
ており、大容量且つ多機能の高度なシステムの開発が進
められている。このような状況下で、さらなる大容量化
(広帯域化、高速動作化)及び光伝送路の交換機能や、
光データバス端末間の高速接続や、切り替え等の新たな
機能が求められている。これらの機能を成就するため
に、いわゆる導波路型光制御素子における光スイッチン
グネットワークが求められる。
2. Description of the Related Art Conventionally, an optical communication system has been put into practical use, and development of a large-capacity and multifunctional advanced system has been advanced. Under such circumstances, further capacity increase (wide band, high speed operation) and optical transmission line switching function,
New functions such as high-speed connection and switching between optical data bus terminals are required. In order to fulfill these functions, an optical switching network in a so-called waveguide type optical control element is required.

【0003】現在実用化されている光通信システムにお
ける光信号は、直接半導体レーザや発光ダイオードの注
入電流を変調することによって得られている。この直接
変調では、緩和振動などの効果のため10GHz前後以
上の高速変調を行うことは難しい。また現状の光伝送路
の光路切り替えスイッチは、プリズム、ミラー、ファイ
バ等を機械的に移動させるものであり、低速であるこ
と、信頼性が不十分なこと、形状が大きくマトリクス化
に不適当なこと等の欠点がある。
An optical signal in an optical communication system which is currently put into practical use is obtained by directly modulating an injection current of a semiconductor laser or a light emitting diode. In this direct modulation, it is difficult to perform high-speed modulation of about 10 GHz or higher due to effects such as relaxation oscillation. Moreover, the optical path changeover switch of the current optical transmission path mechanically moves a prism, a mirror, a fiber, etc., and is low speed, insufficient reliability, large in shape and unsuitable for matrix formation. There are some drawbacks.

【0004】これらの欠点を解決するために開発が進め
られているものは、基板上に設置した光導波路を用いた
導波形の光制御素子である。この光制御素子は、高速お
よび多素子の集積化が可能であり、高信頼性が望める等
の特徴を有する。特に、Z−cutニオブ酸リチウム結
晶基板LiNbO3等の強誘電体材料を用いたものは、光吸収
が小さく低損失であることと、大きな電気光学効果を有
しているため、高効率である等の特徴がある。
What is being developed to solve these drawbacks is a waveguide type optical control element using an optical waveguide installed on a substrate. This light control element has features such that high speed and multi-element integration are possible, and high reliability is desired. In particular, a Z-cut lithium niobate crystal substrate using a ferroelectric material such as LiNbO 3 has high efficiency because it has small light absorption and low loss and has a large electro-optical effect. There are features such as.

【0005】導波路型光制御素子の一例である方向性結
合形光スイッチの斜視図を図6に示す。光学軸に垂直に
切り出して整形したLiNbO3結晶基板51上に、Ti等の金
属を拡散して光導波路52、53が形成されている。こ
れら光導波路52、53は、数μm程度の間隔で近接し
て設置されることにより光方向性結合器54を構成して
おり、光導波路52、53上に不図示の光学的バッファ
層を介して制御電極55、56が設置されている。
FIG. 6 shows a perspective view of a directional coupling type optical switch which is an example of a waveguide type optical control element. Optical waveguides 52 and 53 are formed by diffusing a metal such as Ti on a LiNbO 3 crystal substrate 51 that is cut out and shaped perpendicular to the optical axis. These optical waveguides 52 and 53 are arranged close to each other at an interval of about several μm to form an optical directional coupler 54, and an optical buffer layer (not shown) is provided on the optical waveguides 52 and 53. Control electrodes 55 and 56 are installed.

【0006】この方向性結合形光スイッチの基本的な動
作原理は、先ず、片方の光導波路、例えば光導波路53
の端面から入射した入射光57は、光導波路53中を伝
搬し光方向性結合器54の部分で近接した光導波路52
にエネルギーが移行し、光方向性結合器54の長さを完
全結合長Lcに一致させた場合、ほぼ100%のエネル
ギーが光導波路52に移って出射光58となる。
The basic operating principle of this directional coupling type optical switch is as follows. First, one optical waveguide, for example, the optical waveguide 53.
The incident light 57 incident from the end surface of the optical waveguide 52 propagates through the optical waveguide 53 and is close to the optical directional coupler 54.
When energy is transferred to the optical directional coupler 54 and the length of the optical directional coupler 54 is matched with the complete coupling length Lc, almost 100% of the energy is transferred to the optical waveguide 52 and becomes emitted light 58.

【0007】一方、制御電極55、56の間に電圧を印
加した場合、電気光学効果によって光導波路52、53
の屈折率が変化して両者の屈折率が非対称となり、両者
を伝搬する光波の間で位相不整合が生じて結合状態が変
化する。この状態で適当な印加電圧のもとでは元の光導
波路53へエネルギーが移り出射光59となり、光路の
切り替えが行われる。10GHz前後以上の高速変調を
行う場合などでは、光導波路でマッハツェンダ干渉形を
形成する構成が一般的であり、前述のスイッチと同様の
原理で2分岐された光波に位相差を与え、他方の参照光
と合波・干渉させて出力光をON/OFFさせている。
ここで、光学的バッファ層は光導波路52、53中を伝
搬する入射光57が制御電極55、56により吸収され
ることを防ぐ目的で形成されている。一般的には光学的
バッファ層として誘電体膜が用いられる例が多く、特に
波長1.3〜1.55μm程度の光に対しては、二酸化
シリコン(SiO2 )により形成している。
On the other hand, when a voltage is applied between the control electrodes 55 and 56, the optical waveguides 52 and 53 are produced by the electro-optical effect.
The refractive index of the two changes, and the refractive indexes of the two become asymmetric, and the phase mismatch occurs between the light waves propagating through the two, and the coupling state changes. In this state, under an appropriate applied voltage, energy is transferred to the original optical waveguide 53 and becomes emitted light 59, and the optical path is switched. In the case of performing high-speed modulation of about 10 GHz or more, a configuration in which a Mach-Zehnder interference type is formed by an optical waveguide is generally used, and a phase difference is given to a light wave branched into two by the same principle as the switch described above, and the other reference The output light is turned on and off by combining and interfering with the light.
Here, the optical buffer layer is formed for the purpose of preventing the incident light 57 propagating through the optical waveguides 52 and 53 from being absorbed by the control electrodes 55 and 56. Generally, a dielectric film is used as an optical buffer layer in many cases, and it is formed of silicon dioxide (SiO 2 ) particularly for light with a wavelength of about 1.3 to 1.55 μm.

【0008】しかし、制御電極間の光導波路上方近傍に
形成される光学的バッファ層内で生じるキャリア(不純
物イオン、電荷)の移動により、光導波路へ作用する外
部電界(DC電圧)が経時変化し、出力光が変動する現
象が発生する。いわゆるDCドリフト現象である。
However, the movement of carriers (impurity ions, charges) generated in the optical buffer layer formed near the optical waveguide between the control electrodes causes the external electric field (DC voltage) acting on the optical waveguide to change with time. The phenomenon that the output light fluctuates occurs. This is the so-called DC drift phenomenon.

【0009】こうした光出力変動を抑圧するために、各
種の工夫が成されている。これらの例を以下に列挙す
る。 1)例えば、オーム社『光集積回路』の7.4項に記載
されている様に、制御電極間の光学的バッファ層を除去
する。 2)特開昭61−198133号記載の様に、光学的バ
ッファ層の導電性材料を絶縁性材料の合成により形成す
る。 3)特開平4−280219号記載の様に、電界を作用
させる2つの導波路幅に差を設け、DCバイアス自体を
不要とする。
Various measures have been taken to suppress such light output fluctuations. Examples of these are listed below. 1) Remove the optical buffer layer between the control electrodes, as described, for example, in Ohm's "Optical Integrated Circuits", section 7.4. 2) As described in JP-A-61-198133, the conductive material of the optical buffer layer is formed by synthesizing an insulating material. 3) As described in JP-A-4-280219, a difference is provided between the widths of the two waveguides that act on the electric field, and the DC bias itself is unnecessary.

【0010】[0010]

【発明が解決しようとする課題】しかしながら、上記従
来例のDCドリフト抑圧策には、例えば、電極間の光学
的バッファ層を除去することにより基板表面全体への応
力分布が大きく異なり、温度変化に対する特性が極端に
劣化する。また、導電性材料と絶縁性材料との合成膜お
よび導波路幅に差を設けるものでは、製作公差が厳し
く、歩留まり良く製造することが難しいなどの問題点を
伴う。
However, in the DC drift suppressing measures of the above-mentioned conventional example, for example, by removing the optical buffer layer between the electrodes, the stress distribution over the entire surface of the substrate is greatly different, and the stress distribution against the temperature change is large. The characteristics are extremely deteriorated. Further, in a case where a synthetic film of a conductive material and an insulating material and a waveguide width are provided with a difference, the manufacturing tolerances are strict and it is difficult to manufacture with a high yield.

【0011】本発明は、製作公差が大きくDCドリフト
以外の諸特性の劣化を伴わない導波路型光制御素子を提
供することを目的とする。
An object of the present invention is to provide a waveguide type optical control element which has a large manufacturing tolerance and is free from deterioration of various characteristics other than DC drift.

【0012】[0012]

【課題を解決するための手段】かかる目的を達成するた
め、本発明の導波路型光制御素子は、電気光学効果を有
する強誘電体結晶基板上に光導波路、光学的バッファ層
及び制御電極が形成されて構成される導波路型光制御素
子であり、光学的バッファ層は、抵抗値の異なる少なく
とも2種類で且つ強誘電体結晶基板に対し垂直に制御電
極間に構成されていることを特徴としている。
To achieve the above object, a waveguide type optical control element of the present invention comprises an optical waveguide, an optical buffer layer and a control electrode on a ferroelectric crystal substrate having an electro-optical effect. It is a waveguide type optical control element formed and formed, wherein the optical buffer layer is composed of at least two types having different resistance values and is formed between the control electrodes perpendicular to the ferroelectric crystal substrate. I am trying.

【0013】また、上記の光導波路と制御電極とに挟ま
れる光学的バッファ層の抵抗値R1とそれに隣接した光
学的バッファ層の抵抗値R2 、R6 とが、R1 <R2
6の関係を有するとよい。
Further, the resistance value R 1 of the optical buffer layer sandwiched between the optical waveguide and the control electrode and the resistance values R 2 and R 6 of the optical buffer layers adjacent thereto are R 1 <R 2 ,
It is preferable to have the relationship of R 6 .

【0014】なお、誘電体結晶基板をニオブ酸リチウム
結晶基板とし、光導波路は方向性結合器を、さらにはマ
ッハツェンダ形光干渉計を構成するとよい。
It is preferable that the dielectric crystal substrate is a lithium niobate crystal substrate, the optical waveguide is a directional coupler, and a Mach-Zehnder interferometer is used.

【0015】[0015]

【発明の実施の形態】次に添付図面を参照して本発明に
よる導波路型光制御素子の実施の形態を詳細に説明す
る。図1〜図5を参照すると本発明の導波路型光制御素
子の一実施形態が示されている。図1は第1の実施形
態、図2〜図4は第2の実施形態を示す図であり、図5
は第1および第2の実施形態の斜視図である。
BEST MODE FOR CARRYING OUT THE INVENTION Embodiments of a waveguide type optical control element according to the present invention will be described in detail with reference to the accompanying drawings. 1 to 5, there is shown an embodiment of the waveguide type optical control element of the present invention. FIG. 1 is a diagram showing a first embodiment, FIGS. 2 to 4 are diagrams showing a second embodiment, and FIG.
FIG. 3 is a perspective view of the first and second embodiments.

【0016】図1は本発明の第1の実施形態である導波
路型光制御素子の断面構造を表したものである。Z−c
utニオブ酸リチウム結晶基板LiNbO311に、Y軸方向
に光が伝搬するように、50μm程度の薄膜チタン(T
i)を1000℃程度で熱拡散して光導波路12、13
を形成する。その上に光学的バッファ層1〜6である酸
化膜シリコンを制御電極間へ結晶基板に対し垂直に分割
して堆積し、さらに光導波路近傍に制御電極15、16
を設置する。光学的バッファ層1〜6はそれぞれ独立に
堆積される。
FIG. 1 shows a sectional structure of a waveguide type optical control element according to a first embodiment of the present invention. Z-c
to ut lithium niobate crystal substrate LiNbO 3 11, such that the light propagates in the Y-axis direction, 50 [mu] m approximately thin titanium (T
i) is thermally diffused at about 1000 ° C. to obtain optical waveguides 12, 13
To form Oxide film silicon, which is the optical buffer layers 1 to 6, is deposited on the control electrodes by dividing the control electrodes perpendicularly to the crystal substrate, and further, in the vicinity of the optical waveguide.
Is installed. The optical buffer layers 1-6 are deposited independently.

【0017】その堆積方法は、成膜装置(スパッタ、蒸
着、CVD、等)ターゲット材料(SiO、SiO2
Al2 、O3 、PSG、等)、成膜条件(雰囲気、圧
力、パワー、加熱温度、等)などにより、比較的自由に
所望の抵抗値を実現できる。例えば、SiO2 ターゲッ
トを0.3Pa のもと500W程度以下の低入射電力
で、あるいは2KWのパワーで0.5Pa程度以上の低
真空雰囲気でのスパッタリングすることで1012Ωcm
程度の抵抗値を選択することができる。または0.3P
a、2KWにより1016Ωcmの抵抗値を選択すること
ができる。
The deposition method is as follows: a film forming apparatus (sputtering, vapor deposition, CVD, etc.) target material (SiO, SiO 2 ,
The desired resistance value can be realized relatively freely depending on the conditions (Al 2 , O 3 , PSG, etc.), film forming conditions (atmosphere, pressure, power, heating temperature, etc.). For example, by sputtering a SiO 2 target at a low incident power of about 500 W or less under 0.3 Pa or in a low vacuum atmosphere of about 0.5 Pa or more at a power of 2 KW, 10 12 Ωcm.
The resistance value of the degree can be selected. Or 0.3P
a, a resistance value of 10 16 Ωcm can be selected by 2 KW.

【0018】図1に示した実施形態の導波路型光制御素
子の各光学的バッファ層と抵抗値とは、下記の関係を有
している。つまり、光学的バッファ層2/抵抗値R2
光学的バッファ層3/抵抗値R3 、光学的バッファ層4
/抵抗値R4 、光学的バッファ層5/抵抗値R5 、光学
的バッファ層6/抵抗値R6 である。さらに、R1 ≠R
2 、R2 ≠R3 、R3 ≠R4 、R4 ≠R5 、R5 ≠R
6 、R6 ≠R1 の関係である。
The optical buffer layers and the resistance values of the waveguide type optical control element of the embodiment shown in FIG. 1 have the following relationship. That is, the optical buffer layer 2 / the resistance value R 2 ,
Optical buffer layer 3 / resistance value R 3 , optical buffer layer 4
/ Resistance value R 4 , optical buffer layer 5 / resistance value R 5 , and optical buffer layer 6 / resistance value R 6 . Furthermore, R 1 ≠ R
2 , R 2 ≠ R 3 , R 3 ≠ R 4 , R 4 ≠ R 5 , R 5 ≠ R
6 , R 6 ≠ R 1 .

【0019】図2は、2回の成膜により製造された第2
の実施形態である導波路型光制御素子の断面図である。
即ち、図1におけるR3 =R5 =R1 、R4 =R6 =R
2 とした形態である。また、図3は図2の素子の製造工
程例を示す図である。
FIG. 2 shows a second film manufactured by two film formations.
FIG. 3 is a cross-sectional view of a waveguide type light control element that is the embodiment of FIG.
That is, R 3 = R 5 = R 1 , R 4 = R 6 = R in FIG.
It is a form of 2 . Further, FIG. 3 is a diagram showing an example of a manufacturing process of the element of FIG.

【0020】図3の(1)において、光導波路12、1
3が形成されたZ−cutニオブ酸リチウム結晶基板Li
NbO311上に、抵抗値R1 の光学的バッファ層1を成膜
する。その後、抵抗値R1 の光学的バッファ層1を成膜
し、抵抗値を変えたい部位にフォトリソ技術を利用して
レジストパタン9を形成する(2)。エッチングにより
不要部位を除去して(3)、そこへ抵抗値R2 の光学的
バッファ層2の膜を成膜する(4)。
In FIG. 3A, the optical waveguides 12, 1
Z-cut lithium niobate crystal substrate Li on which 3 is formed
An optical buffer layer 1 having a resistance value R 1 is formed on NbO 3 11. After that, the optical buffer layer 1 having a resistance value R 1 is formed, and a resist pattern 9 is formed on the portion where the resistance value is desired to be changed by using the photolithography technique (2). The unnecessary portion is removed by etching (3), and a film of the optical buffer layer 2 having a resistance value R 2 is formed thereon (4).

【0021】上述した製造条件を用いて抵抗値R2
0.3Pa、2KWによる1016Ωcm、R1 を0.3
Pa、0.5KWによる1012Ωcm程度の抵抗値とす
れば、外部電界を光導波路12、13と制御電極15、
16間に挟まれる抵抗値R1 の光学的バッファ層1に集
中させることができる。図4は、制御電極15、16間
に電源20を印加した場合の電界の状態を表している。
このように光導波路12、13へより効果的に外部電界
を作用させることができる。その結果、動作電圧の低下
が見込まれる。
Using the above-mentioned manufacturing conditions, the resistance value R 2 is 0.3 Pa, the resistance value is 10 16 Ωcm at 2 kW, and the resistance value R 1 is 0.3.
Assuming that the resistance value is about 10 12 Ωcm at Pa and 0.5 KW, the external electric field is applied to the optical waveguides 12 and 13 and the control electrode 15,
It can be concentrated on the optical buffer layer 1 having the resistance value R 1 sandwiched between the 16 layers. FIG. 4 shows the state of the electric field when the power source 20 is applied between the control electrodes 15 and 16.
In this way, the external electric field can be more effectively applied to the optical waveguides 12 and 13. As a result, the operating voltage is expected to drop.

【0022】少なくとも制御電極15、16間に形成さ
れている光学的バッファ層2が結晶基板11に対し垂直
に分割され、且つ隣合う各部位の抵抗値が異なる(R1
≠R2 )ために、膜界面がバリアとなり各層に点在する
可動キャリアの移動を制限することができる。従って、
制御電極15、16から光導波路12、13への外部電
界を妨げるキャリア移動が小さくなり、出力光強度の経
時変化の抑圧、並びに素子の安定動作、及び寿命等にお
ける信頼性の確保が図れる。
The optical buffer layer 2 formed at least between the control electrodes 15 and 16 is divided perpendicularly to the crystal substrate 11, and the resistance values of adjacent portions are different (R 1
≠ R 2 ), the film interface serves as a barrier to restrict the movement of movable carriers scattered in each layer. Therefore,
The carrier movement that hinders the external electric field from the control electrodes 15 and 16 to the optical waveguides 12 and 13 is reduced, so that it is possible to suppress the temporal change of the output light intensity, to ensure the stable operation of the element, and to secure the reliability in the life and the like.

【0023】また、特に光導波路12、13と制御電極
15、16に挟まれている光学的バッファ層1の抵抗値
1 を隣接する膜の抵抗値R2 より小さくすることで、
外部電界の広がりが抑えられる。さらに、光導波路1
2、13へより効果的に電界を作用させることができ、
動作電圧を低減させることも可能である。
Further, in particular, by making the resistance value R 1 of the optical buffer layer 1 sandwiched between the optical waveguides 12 and 13 and the control electrodes 15 and 16 smaller than the resistance value R 2 of the adjacent film,
The spread of the external electric field is suppressed. Furthermore, the optical waveguide 1
It is possible to apply an electric field to 2 and 13 more effectively,
It is also possible to reduce the operating voltage.

【0024】尚、上述の実施形態は本発明の好適な実施
の一例ではあるがこれに限定されるものではなく、本発
明の要旨を逸脱しない範囲において種々変形実施可能で
ある。
The above embodiment is an example of a preferred embodiment of the present invention, but the present invention is not limited thereto, and various modifications can be made without departing from the gist of the present invention.

【0025】[0025]

【発明の効果】以上の説明より明らかなように、本発明
の導波路型光制御素子は、電気光学効果を有する強誘電
体結晶基板上に光導波路、光学的バッファ層及び制御電
極が形成されるが、この光学的バッファ層は、抵抗値の
異なる少なくとも2種類で且つ強誘電体結晶基板に対し
垂直に制御電極間に構成されている。よって、光学的バ
ッファ層に点在する可動キャリアに起因したDCドリフ
トを抑圧することができ、素子の安定動作及び寿命等に
おける信頼性の確保を図ることができる。又、光学的バ
ッファ層の抵抗値の選択的設定により、動作電圧を低減
することが可能となる。
As is apparent from the above description, in the waveguide type optical control element of the present invention, the optical waveguide, the optical buffer layer and the control electrode are formed on the ferroelectric crystal substrate having the electro-optical effect. However, this optical buffer layer is composed of at least two types having different resistance values and is perpendicular to the ferroelectric crystal substrate between the control electrodes. Therefore, the DC drift caused by the movable carriers scattered in the optical buffer layer can be suppressed, and the stable operation of the element and the reliability in the life etc. can be ensured. Further, the operating voltage can be reduced by selectively setting the resistance value of the optical buffer layer.

【図面の簡単な説明】[Brief description of drawings]

【図1】本発明の導波路型光制御素子の第1の実施形態
の構成例を示す断面図である。
FIG. 1 is a sectional view showing a configuration example of a first embodiment of a waveguide type light control element of the present invention.

【図2】第2の実施形態であり、光学的バッファ層を2
回の成膜により製造した導波路型光制御素子の構成例を
示す断面図である。
FIG. 2 is a second embodiment and includes two optical buffer layers.
It is sectional drawing which shows the structural example of the waveguide type | mold optical control element manufactured by the film-forming of one time.

【図3】図2に示す光学的バッファ層の製造工程図であ
る。
FIG. 3 is a manufacturing process diagram of the optical buffer layer shown in FIG.

【図4】図2の導波路型制御素子を例として本発明の作
用を説明するための図である。
4A and 4B are views for explaining the operation of the present invention, using the waveguide control element of FIG. 2 as an example.

【図5】第1および第2の実施形態の導波路型光制御素
子の構成を示す斜視図である。
FIG. 5 is a perspective view showing a configuration of a waveguide type optical control element of the first and second embodiments.

【図6】従来の導波路型光制御素子の一種である方向性
結合形光スイッチの一般的な構成を示す斜視図である。
FIG. 6 is a perspective view showing a general configuration of a directional coupling type optical switch which is a kind of conventional waveguide type optical control element.

【符号の説明】[Explanation of symbols]

1、2、3、4、5、6 光学的バッファ層 9 フォトレジスト 11、51 ニオブ酸リチウム結晶基板 12、13、52、53 光導波路 15、16、55、56 制御電極 54 方向性結合器 57 入射光 58、59 出射光 1, 2, 3, 4, 5, 6 Optical buffer layer 9 Photoresist 11, 51 Lithium niobate crystal substrate 12, 13, 52, 53 Optical waveguide 15, 16, 55, 56 Control electrode 54 Directional coupler 57 Incident light 58, 59 Emitted light

Claims (5)

【特許請求の範囲】[Claims] 【請求項1】 電気光学効果を有する強誘電体結晶基板
上に光導波路、光学的バッファ層及び制御電極が形成さ
れて構成される導波路型光制御素子において、 前記光学的バッファ層は、抵抗値の異なる少なくとも2
種類で且つ前記強誘電体結晶基板に対し垂直に前記制御
電極間に構成されていることを特徴とする導波路型光制
御素子。
1. A waveguide type optical control element comprising an optical waveguide, an optical buffer layer and a control electrode formed on a ferroelectric crystal substrate having an electro-optical effect, wherein the optical buffer layer is a resistor. At least 2 with different values
2. A waveguide type optical control element, characterized in that it is formed between the control electrodes perpendicularly to the ferroelectric crystal substrate.
【請求項2】 前記光導波路と前記制御電極とに挟まれ
る光学的バッファ層の抵抗値R1 と前記抵抗値R1 のバ
ッファ層に隣接する光学的バッファ層の抵抗値R2 、R
6 とが、R1 <R2 、R6 の関係を有することを特徴と
する請求項1記載の導波路型光制御素子。
Wherein said optical waveguide and the resistance value R 2 of the optical buffer layer adjacent to the buffer layer of the resistance value R 1 and the resistance value R 1 of the optical buffer layer sandwiched between the said control electrode, R
6. The waveguide type optical control element according to claim 1, wherein 6 and R have a relationship of R 1 <R 2 and R 6 .
【請求項3】 前記誘電体結晶基板は、ニオブ酸リチウ
ム結晶基板であることを特徴とする請求項1または2に
記載の導波路型光制御素子。
3. The waveguide type optical control element according to claim 1, wherein the dielectric crystal substrate is a lithium niobate crystal substrate.
【請求項4】 前記光導波路は、方向性結合器を構成す
ることを特徴とする請求項1から3の何れか1項に記載
の導波路型光制御素子。
4. The waveguide type optical control element according to claim 1, wherein the optical waveguide constitutes a directional coupler.
【請求項5】 前記光導波路は、マッハツェンダ形光干
渉計を構成することを特徴とする請求項1から4の何れ
か1項に記載の導波路型光制御素子。
5. The waveguide type optical control element according to claim 1, wherein the optical waveguide constitutes a Mach-Zehnder interferometer.
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Citations (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
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JPH0419714A (en) * 1990-05-15 1992-01-23 Oki Electric Ind Co Ltd Optical device
JPH04195115A (en) * 1990-11-28 1992-07-15 Nec Corp Optical control device

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