JPH09211421A - Active matrix device - Google Patents

Active matrix device

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Publication number
JPH09211421A
JPH09211421A JP3560796A JP3560796A JPH09211421A JP H09211421 A JPH09211421 A JP H09211421A JP 3560796 A JP3560796 A JP 3560796A JP 3560796 A JP3560796 A JP 3560796A JP H09211421 A JPH09211421 A JP H09211421A
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JP
Japan
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electrode
scanning line
pixel
liquid crystal
pixel unit
Prior art date
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Application number
JP3560796A
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Japanese (ja)
Inventor
Toshihiko Nishihata
俊彦 西端
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Victor Company of Japan Ltd
Original Assignee
Victor Company of Japan Ltd
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Publication date
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Publication of JPH09211421A publication Critical patent/JPH09211421A/en
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Abstract

PROBLEM TO BE SOLVED: To provide an active matrix device of high picture quality and high definition by reducing pixel dimensions without loss of display characteristic. SOLUTION: This device is comprised of a horizontal address circuit 2, a vertical address circuit 3, and an image display part which arrays, like the matrix, pixel unit 30 supplied with a pixel signal and a scanning signal respectively. The pixel unit 30 consists of a switching element 1 provided with the first through third electrodes, a liquid crystal display element 9, and a capacitive element 14. Each scanning line consists of the first and second scanning line parts L1 and L2 divided into two branches, and a first electrode 4 of a switching element 1 is connected with a signal line 5, and a second electrode 6 of the switching element 1 is connected with the first and second scanning line parts L1 and L2 in common and a third electrode 8 of the switching element 1 is connected with one end each of the liquid crystal display element 9 and the capacitive element 14.

Description

【発明の詳細な説明】Detailed Description of the Invention

【0001】[0001]

【発明の属する技術分野】本発明はアクティブマトリク
ス素子によって液晶表示を駆動するアクティブマトリク
ス装置に関する。
BACKGROUND OF THE INVENTION 1. Field of the Invention The present invention relates to an active matrix device for driving a liquid crystal display with active matrix elements.

【0002】[0002]

【従来の技術】まず、液晶表示に用いられる従来のアク
ティブマトリクス装置について説明する。図6は液晶表
示に用いられるアクティブマトリクス装置の回路図を、
図7はその部分破断斜視図を示す。1はスイッチング用
トランジスタ(スイッチング素子)、2は水平アドレス
回路、3は垂直アドレス回路、4はソ−ス電極(第1の
電極)、4cはソ−スコンタクト、5は信号線、6はゲ
−ト電極(第2の電極)、7は走査線、8はドレイン電
極(第3の電極)、8cはドレインコンタクト、9は液
晶表示素子、10は画素電極、10cは画素電極コンタ
クト、11は液晶、12は対向電極、13は対向基板、
14はコンデンサ、15はSi基板、16はチャンネル
層、16a及び16bはチャンネル層の上端部及び下端
部、17は補助容量電極、17cは補助容量電極コンタ
クト、18はゲ−ト酸化膜、19は絶縁膜、20はポリ
シリコンあるいはアモルファスシリコンからなる半導体
薄膜、21はガラス基板である。また、30aはマトリ
クス状に多数配列した画素のうちの1画素ユニットであ
る。
2. Description of the Related Art First, a conventional active matrix device used for liquid crystal display will be described. FIG. 6 is a circuit diagram of an active matrix device used for liquid crystal display.
FIG. 7 shows a partially cutaway perspective view thereof. 1 is a switching transistor (switching element), 2 is a horizontal address circuit, 3 is a vertical address circuit, 4 is a source electrode (first electrode), 4c is a source contact, 5 is a signal line, and 6 is a gate. -Electrode (second electrode), 7 for scanning line, 8 for drain electrode (third electrode), 8c for drain contact, 9 for liquid crystal display element, 10 for pixel electrode, 10c for pixel electrode contact, 11 for Liquid crystal, 12 is a counter electrode, 13 is a counter substrate,
14 is a capacitor, 15 is a Si substrate, 16 is a channel layer, 16a and 16b are upper and lower ends of the channel layer, 17 is an auxiliary capacitance electrode, 17c is an auxiliary capacitance electrode contact, 18 is a gate oxide film, and 19 is An insulating film, 20 is a semiconductor thin film made of polysilicon or amorphous silicon, and 21 is a glass substrate. Further, 30a is one pixel unit of a large number of pixels arranged in a matrix.

【0003】水平及び垂直アドレス回路2、3により選
択的に駆動されるスイッチング用トランジスタ1が、例
えばSi基板15上にマトリクス状に配置される。各々
のスイッチング用トランジスタ1のソ−ス電極4には信
号線5が、ゲ−ト電極6には走査線7が、ドレイン電極
8には画素電極10がそれぞれ接続されている。走査線
7には選択信号を流すことによりアドレスされたトラン
ジスタがオンになることにより、信号線5からのデ−タ
が画素電極10に書き込まれる。液晶11を挟んで画素
電極10の反対側には、これに対向させて全画素を覆う
ように対向電極12が配置され、画素電極10との間で
液晶容量C1を形成し、この対向電極12の上に透明な
対向基板13を配置している。書き込まれたデ−タはこ
の液晶容量C1に電荷として蓄積され、次回(次フィ−
ルド)に書き換えられるまで保持される。通常は、この
保持時間を長くする目的で、液晶表示素子9と並列に補
助容量C2を有しているコンデンサ(容量素子)14が
設けられる。
Switching transistors 1, which are selectively driven by the horizontal and vertical address circuits 2 and 3, are arranged in a matrix on a Si substrate 15, for example. A signal line 5 is connected to the source electrode 4 of each switching transistor 1, a scanning line 7 is connected to the gate electrode 6, and a pixel electrode 10 is connected to the drain electrode 8. By supplying a selection signal to the scanning line 7, the addressed transistor is turned on, so that the data from the signal line 5 is written to the pixel electrode 10. On the opposite side of the pixel electrode 10 with the liquid crystal 11 interposed therebetween, a counter electrode 12 is arranged so as to face the pixel electrode 10 and cover all pixels, and a liquid crystal capacitor C1 is formed between the counter electrode 12 and the pixel electrode 10. A transparent counter substrate 13 is arranged on the above. The written data is accumulated in the liquid crystal capacitor C1 as an electric charge, and is stored next time (next field).
It is held until it is rewritten. Usually, for the purpose of lengthening this holding time, a capacitor (capacitance element) 14 having an auxiliary capacitance C2 is provided in parallel with the liquid crystal display element 9.

【0004】上記スイッチング用トランジスタ1として
は半導体薄膜を用いた薄膜トランジスタ(TFT)が用
いられることが多いが、これは透過型液晶装置ではベ−
スとして石英基板が用いられるからである。反射型液晶
装置では透明基板を用いる必要がないため、Si基板の
ように、特性が優れ、微細加工プロセス技術の発達して
いる半導体基板を用いることができる。
A thin film transistor (TFT) using a semiconductor thin film is often used as the switching transistor 1, but this is a base in a transmissive liquid crystal device.
This is because a quartz substrate is used as the substrate. Since it is not necessary to use a transparent substrate in the reflective liquid crystal device, a semiconductor substrate having excellent characteristics and advanced fine processing technology can be used like a Si substrate.

【0005】次に、スイッチング用トランジスタの作製
にSi基板を用いた場合の反射型アクティブマトリクス
装置の各画素のレイアウト構成について以下の図面を参
照して説明する。各画素の構成は同一画素構成であるの
で1画素ユニット30aを例にとって説明する。図8は
Si基板を用いた図7に示すような従来の反射型アクテ
ィブマトリクス装置の画素ユニット30aの液晶表示素
子9を除去したレイアウト平面図である。図9は図8
中、左方向から見たAA断面図である。スイッチング用
トランジスタ1、走査線7及び補助容量電極17は全て
ゲ−ト酸化膜18を有するSi基板15上に形成されて
いる。信号線5はソ−ス電極4と接続し、走査線7と互
いに直交し、導通しないように絶縁層19中に形成され
ている。
Next, the layout configuration of each pixel of the reflection type active matrix device when the Si substrate is used for manufacturing the switching transistor will be described with reference to the following drawings. Since each pixel has the same pixel configuration, the one pixel unit 30a will be described as an example. FIG. 8 is a layout plan view in which the liquid crystal display element 9 of the pixel unit 30a of the conventional reflective active matrix device as shown in FIG. 7 using a Si substrate is removed. FIG. 9 shows FIG.
It is the AA sectional view seen from the inside and the left direction. The switching transistor 1, the scanning line 7, and the auxiliary capacitance electrode 17 are all formed on a Si substrate 15 having a gate oxide film 18. The signal line 5 is connected to the source electrode 4, is orthogonal to the scanning line 7, and is formed in the insulating layer 19 so as not to be conductive.

【0006】スイッチング用トランジスタ1のチャンネ
ル層16は走査線7と補助容量電極17との間に配置さ
れ、Si基板15内部に長方形状用をなして埋め込まれ
ている。チャンネル層16の上端部16aは走査線7に
平行で、かつ近接して配置されている。チャンネル層1
6の下端部16bと走査線7との間隔はb´(3μm)
となるようにしてある。走査線7は断線が生じないよう
にその幅aを2μmとし、チャンネル層16の上部の略
中央で分岐し、ゲ−ト電極6を形成している。ゲ−ト電
極6への配線が不十分なことによるスイッチング用トラ
ンジスタ1の動作不良が生じないようにチャンネル層1
4の補助容量電極17側のチャンネル層16の下端部1
6bを越えて、長さc(1μm)だけ長く配線してあ
る。補助容量電極17は長方形状をなして、チャンネル
層16に隣接して配置され、導通しないように分岐した
ゲ−ト電極6の先端部6aと間隔d´(1μm)を隔
て、次の画素の走査線7と間隔f(1μm)を隔てて配
置されている。補助容量電極17の垂直方向の長さは十
分な保持容量が得られるようにe(6μm)としてい
る。この結果、1画素の垂直方向の寸法は14μmとな
る。一方、水平方向の寸法は補助容量電極17の水平方
向の長さgにより決定されている。
The channel layer 16 of the switching transistor 1 is arranged between the scanning line 7 and the auxiliary capacitance electrode 17, and is embedded in the Si substrate 15 so as to have a rectangular shape. The upper end portion 16a of the channel layer 16 is arranged parallel to and close to the scanning line 7. Channel layer 1
The distance between the lower end 16b of 6 and the scanning line 7 is b '(3 μm)
It is made to become. The scanning line 7 has a width a of 2 μm so as not to be broken, and is branched at approximately the center above the channel layer 16 to form the gate electrode 6. The channel layer 1 is formed so that the switching transistor 1 does not malfunction due to insufficient wiring to the gate electrode 6.
4, the lower end portion 1 of the channel layer 16 on the side of the auxiliary capacitance electrode 17
The wiring is extended by a length c (1 μm) beyond 6b. The auxiliary capacitance electrode 17 has a rectangular shape, is arranged adjacent to the channel layer 16, and is separated from the tip end 6a of the gate electrode 6 branched so as not to be conductive, with a distance d '(1 μm), and the auxiliary pixel electrode of the next pixel. The scanning line 7 and the scanning line 7 are arranged at a distance f (1 μm). The vertical length of the auxiliary capacitance electrode 17 is set to e (6 μm) so that a sufficient storage capacitance can be obtained. As a result, the vertical dimension of one pixel is 14 μm. On the other hand, the horizontal dimension is determined by the horizontal length g of the auxiliary capacitance electrode 17.

【0007】次に、スイッチング用トランジスタの作製
にTFT(薄膜トランジスタ)を用いた場合の反射型ア
クティブマトリクス装置の各画素のレイアウト構成につ
いて説明する。TFTを用いた場合は基板に導電性の半
導体薄膜を形成したガラス基板を用いることがSi基板
を用いた場合と異なる。Si基板を用いた場合と同様
に、各画素の構成は同一画素構成であるので1画素ユニ
ットを例にとって説明する。図10はスイッチング用ト
ランジスタ1にTFTを用いた場合の従来の反射型アク
ティブマトリクス装置の1画素ユニット30aの液晶表
示素子9を除去したレイアウト平面図である。図11は
図10中の左方向から見たAA断面図である。スイッチ
ング用トランジスタ1にTFTを使用する場合はガラス
基板上に半導体薄膜20を形成して導電層としている。
Next, the layout configuration of each pixel of the reflection type active matrix device when a TFT (thin film transistor) is used for manufacturing the switching transistor will be described. When a TFT is used, a glass substrate on which a conductive semiconductor thin film is formed is used, which is different from the case where a Si substrate is used. Similar to the case where the Si substrate is used, each pixel has the same pixel configuration, and therefore, one pixel unit will be described as an example. FIG. 10 is a layout plan view in which the liquid crystal display element 9 of the one pixel unit 30a of the conventional reflection type active matrix device when the TFT is used for the switching transistor 1 is removed. 11 is a cross-sectional view taken along the line AA seen from the left side in FIG. When a TFT is used for the switching transistor 1, a semiconductor thin film 20 is formed on a glass substrate to serve as a conductive layer.

【0008】即ち、レイアウトは以下のようになる。半
導体薄膜20、ゲ−ト酸化膜18を順次形成したガラス
基板21上にはドレイン電極8、ソ−ス電極4及びゲ−
ト電極6を有するスイッチング用トランジスタ1と補助
容量電極17が形成されている。各画素の水平方向に配
列された補助容量電極17は互いに一列に接続してい
る。スイッチング用トランジスタ1は走査線7と補助容
量電極17との間に配置され、ドレイン電極8は半導体
薄膜20を介して補助容量電極17と接続している。走
査線7、スイッチング用トランジスタ1及び補助容量電
極17の配置は前述したSi基板の場合と同様であるの
で説明を省略する。この場合においても、1画素の垂直
方向の寸法は14μmとなる。一方、水平方向の寸法は
補助容量電極17の水平方向の長さgにより決定されて
いる。
That is, the layout is as follows. A drain electrode 8, a source electrode 4 and a gate are formed on a glass substrate 21 on which a semiconductor thin film 20 and a gate oxide film 18 are sequentially formed.
The switching transistor 1 having the gate electrode 6 and the auxiliary capacitance electrode 17 are formed. The auxiliary capacitance electrodes 17 arranged in the horizontal direction of each pixel are connected to each other in a line. The switching transistor 1 is arranged between the scanning line 7 and the auxiliary capacitance electrode 17, and the drain electrode 8 is connected to the auxiliary capacitance electrode 17 via the semiconductor thin film 20. The arrangement of the scanning line 7, the switching transistor 1 and the auxiliary capacitance electrode 17 is the same as in the case of the above-mentioned Si substrate, and therefore the description thereof is omitted. Also in this case, the vertical dimension of one pixel is 14 μm. On the other hand, the horizontal dimension is determined by the horizontal length g of the auxiliary capacitance electrode 17.

【0009】[0009]

【発明が解決しようとする課題】しかしながら、高画質
化、高精細な画像を得るためには1画素ユニット毎の寸
法を小さくする必要があるが、上述したような従来技術
により1画素ユニットの寸法を小さくすると以下のよう
な問題点が発生する。走査線幅aを狭くすると、走査線
の抵抗値が増大することになり、間隔b´を狭くする
と、トランジスタの駆動能力を下げることになり、液晶
11の高速な書き換え応答に不利になる。c、d´、e
を狭くすると、アクティブマトリクス装置の製造歩留ま
りを著しく低下させる要因となる。さらに補助容量電極
の垂直方向の長さeを狭くすると、補助容量が小さくな
り、画素電極の電位保持能力が低下してしまい、フリッ
カを生じるなど表示特性に影響を与える。
However, it is necessary to reduce the size of each pixel unit in order to obtain high quality images and high definition images. When is small, the following problems occur. When the scanning line width a is narrowed, the resistance value of the scanning line is increased, and when the interval b ′ is narrowed, the driving ability of the transistor is lowered, which is disadvantageous to the high-speed rewriting response of the liquid crystal 11. c, d ', e
When the width is narrowed, it becomes a factor which significantly reduces the manufacturing yield of the active matrix device. Further, if the vertical length e of the auxiliary capacitance electrode is narrowed, the auxiliary capacitance is reduced, the potential holding capacity of the pixel electrode is reduced, and flicker occurs, which affects display characteristics.

【0010】そこで、本発明は上記の点に着目してなさ
れたものであり、トランジスタ特性、画素の電位保持特
性、製造歩留まりなどに悪影響を与えることなく、画素
を小さくしたアクティブマトリクス装置を提供すること
を目的とするものである。
Therefore, the present invention has been made by paying attention to the above points, and provides an active matrix device in which the pixel size is reduced without adversely affecting the transistor characteristics, the pixel potential holding characteristics, the manufacturing yield, and the like. That is the purpose.

【0011】[0011]

【課題を解決するための手段】本願発明は、斯かる問題
に鑑みなされたものであり、請求項1に係る発明は、信
号線5を介して画素信号を順次出力する水平アドレス回
路2と、走査線7を介して走査信号を順次出力する垂直
アドレス回路3と、前記画素信号及び走査信号が夫々供
給される画素ユニット30をマトリクス状に配列した画
像表示部とから構成されるアクティブマトリクス装置で
あって、前記各走査線7は、2分岐した第1及び第2の
走査線部L1 及びL2 からなり、前記画素ユニット30
は、第1乃至第3の電極を備えたスイッチング素子1
と、液晶表示素子9と、容量素子14とからなり、前記
スイッチング素子1の第1の電極4は前記信号線5に接
続され、前記スイッチング素子1の第2の電極6は前記
第1及び第2の走査線部L1 及びL2 に共通接続され、
前記スイッチング素子1の第3の電極8は前記液晶表示
素子9及び容量素子14の夫々一端に接続されるアクテ
ィブマトリクス装置を提供するものである。
The present invention has been made in view of such a problem, and the invention according to claim 1 is a horizontal address circuit 2 for sequentially outputting pixel signals via a signal line 5, An active matrix device including a vertical address circuit 3 that sequentially outputs a scanning signal via a scanning line 7, and an image display unit in which pixel units 30 to which the pixel signal and the scanning signal are respectively supplied are arranged in a matrix. Therefore, each of the scanning lines 7 is composed of first and second scanning line portions L 1 and L 2 which are branched into two, and
Is a switching element 1 including first to third electrodes
, A liquid crystal display element 9 and a capacitance element 14, the first electrode 4 of the switching element 1 is connected to the signal line 5, and the second electrode 6 of the switching element 1 is connected to the first and first electrodes. Two scan line portions L 1 and L 2 are commonly connected,
The third electrode 8 of the switching element 1 provides an active matrix device connected to one end of each of the liquid crystal display element 9 and the capacitive element 14.

【0012】水平アドレス回路から出力される画像信号
が信号線を経てスイッチング素子の第1の電極に供給さ
れ、垂直アドレス回路から出力される走査信号が第1及
び第2の走査線部に供給されるとスイッチング素子がオ
ンし、第2の電極を経て画像信号が液晶表示素子に供給
され、画像表示ができる。第1及び第2の走査線部の幅
の長さを調節することによって画素ユニットの垂直方向
の画素の寸法を小さくすることができる。走査線部を分
岐することによって第1あるいは第2の走査線部のいず
れかに断線が生じても液晶表示素子に画像信号が供給さ
れるので、画像表示されないことがなくなる。
The image signal output from the horizontal address circuit is supplied to the first electrode of the switching element via the signal line, and the scanning signal output from the vertical address circuit is supplied to the first and second scanning line portions. Then, the switching element is turned on, an image signal is supplied to the liquid crystal display element via the second electrode, and an image can be displayed. By adjusting the widths of the first and second scanning line portions, the vertical pixel size of the pixel unit can be reduced. Since the image signal is supplied to the liquid crystal display element even if a disconnection occurs in either the first or second scanning line portion due to the branching of the scanning line portion, no image is displayed.

【0013】[0013]

【発明の実施の形態】以下、図面を参照して本発明の一
実施例を説明する。本発明の第1の実施例を図1乃至図
3により説明する。図1は、本発明のアクティブマトリ
クス装置の回路図、図2は本発明のSi基板を用いた図
1に示すような反射型アクティブマトリクス装置の1画
素ユニット30の液晶表示素子9を除去したレイアウト
平面図である。図3は図2中の左方から見たAA断面図
である。前述した構成と同一構成部分は同一符号を付
し、その説明を省略する。30はマトリクス状に多数配
列された画素のうち1画素ユニットであり、L1は第1
の走査線、L2 は第2の走査線である。図1及び図2は
図8乃至図9における走査線7を分岐し、Si基板15
中に形成されたチャンネル層16を挟み、チャンネル層
16上部の略中央部で第1の走査線L1 と第2の走査線
2 はスイッチング用トランジスタ1のゲ−ト電極6と
接続し、一体としたものに等しいものである。
DETAILED DESCRIPTION OF THE PREFERRED EMBODIMENTS An embodiment of the present invention will be described below with reference to the drawings. A first embodiment of the present invention will be described with reference to FIGS. FIG. 1 is a circuit diagram of an active matrix device of the present invention, and FIG. 2 is a layout in which a liquid crystal display element 9 of a one pixel unit 30 of a reflection type active matrix device using the Si substrate of the present invention as shown in FIG. 1 is removed. It is a top view. FIG. 3 is a sectional view taken along the line AA seen from the left side in FIG. The same components as those described above are designated by the same reference numerals, and the description thereof will be omitted. Reference numeral 30 is a pixel unit of a large number of pixels arranged in a matrix, and L 1 is a first pixel unit.
Scan line, L 2 is the second scan line. 1 and 2 branch the scanning line 7 in FIGS.
The first scanning line L 1 and the second scanning line L 2 are connected to the gate electrode 6 of the switching transistor 1 at a substantially central portion above the channel layer 16 with the channel layer 16 formed therein interposed therebetween. It is equal to the one.

【0014】以下に詳細に説明する。2本の走査線L1
及びL2 のそれぞれの幅はa/2(1μm)であり、第
1及び第2の走査線L1 及びL2 幅の合計は図8乃至図
9における走査線7の幅と等しくしてあり、走査線の抵
抗値が変化しないようにしてある。第1の走査線と第2
の走査線との間隔幅はb(3μm)である。図8乃至図
9で述べたように、第2の走査線L2 と補助容量電極1
7との間の間隔はd(1μm)であり、補助容量電極1
7の垂直方向の長さはe(6μm)、補助容量電極17
と次の画素ユニットの第1の走査線L1 との間の間隔は
f(1μm)である。なお、第1及び第2の走査線L1
及びL2 、ゲ−ト電極6と補助容量電極17は同一材料
のポリシリコンからなり、製造しやすくしている。
The details will be described below. Two scanning lines L 1
And the width of each of L 2 is a / 2 (1 μm), and the total width of the first and second scanning lines L 1 and L 2 is equal to the width of the scanning line 7 in FIGS. , The resistance of the scanning line is not changed. First scan line and second
The distance between the scanning line and the scanning line is b (3 μm). As described with reference to FIGS. 8 to 9, the second scanning line L 2 and the auxiliary capacitance electrode 1
The distance between the auxiliary capacitance electrode 1 and the electrode 7 is d (1 μm).
The vertical length of 7 is e (6 μm), and the auxiliary capacitance electrode 17
And the first scanning line L 1 of the next pixel unit has a distance of f (1 μm). In addition, the first and second scanning lines L 1
Further, L 2 , the gate electrode 6 and the auxiliary capacitance electrode 17 are made of polysilicon of the same material, which facilitates manufacturing.

【0015】この様にすると、図8乃至図9で述べた長
さc(1μm)が不要となり、垂直方向の画素ユニット
の寸法は13μmと小さくすることができる。従って、
垂直方向の画素ユニット寸法は1μmだけ小さくするこ
とができる。
By doing so, the length c (1 μm) described in FIGS. 8 to 9 is unnecessary, and the dimension of the pixel unit in the vertical direction can be reduced to 13 μm. Therefore,
The pixel unit size in the vertical direction can be reduced by 1 μm.

【0016】次に、本発明の第2の実施例を図4及び図
5により説明する。図4はスイッチング用トランジスタ
1の代わりにTFTを用いた場合の1画素ユニット30
の液晶表示素子9を除去したレイアウト平面図である。
図5は図4中の左方向から見たAA断面図である。前述
した構成と同一構成部分は同一符号を付し、その説明を
省略する。図4及び図5は図10乃至図11における走
査線7を分岐した第1の走査線L1 と第2の走査線L2
がスイッチング用トランジスタ1を挟み、互いに平行に
配線され、ゲ−ト電極6と接続し、一体としたものに等
しいものである。以下に詳細に説明する。
Next, a second embodiment of the present invention will be described with reference to FIGS. FIG. 4 shows a one-pixel unit 30 when a TFT is used instead of the switching transistor 1.
9 is a layout plan view in which the liquid crystal display element 9 is removed.
FIG. 5 is a sectional view taken along the line AA as seen from the left in FIG. The same components as those described above are designated by the same reference numerals, and the description thereof will be omitted. 4 and 5 show a first scanning line L 1 and a second scanning line L 2 that branch the scanning line 7 in FIGS. 10 to 11.
Are wired in parallel with each other with the switching transistor 1 sandwiched therebetween, connected to the gate electrode 6, and are integrated with each other. This will be described in detail below.

【0017】第1及び第2の走査線L1 及びL2 のそれ
ぞれの幅はa/2(1μm)であり、第1及び第2の走
査線L1 及びL2 幅の合計は図10乃至図11における
走査線7の幅と等しくしてあり、抵抗値が変化しないよ
うにしてある。第1の走査線L1 と第2の走査線の幅は
b(3μm)である。第2の走査線L2 と補助容量電極
15との間の間隔はd(1μm)であり、補助容量電極
15の垂直方向の長さはe(6μm)、補助容量電極1
5と次の画素ユニットの走査線L1 との間の間隔はf
(1μm)である。この様にすると、図10乃至図11
で述べた長さc(1μm)が不要となり、垂直方向の画
素ユニットの寸法は13μmと小さくすることができ
る。従って、垂直方向の画素ユニット寸法は1μmだけ
小さくすることができる。
The width of each of the first and second scan lines L 1 and L 2 is a / 2 (1 μm), and the total width of the first and second scan lines L 1 and L 2 is shown in FIGS. It is made equal to the width of the scanning line 7 in FIG. 11 so that the resistance value does not change. The width of the first scanning line L 1 and the second scanning line is b (3 μm). The distance between the second scanning line L 2 and the auxiliary capacitance electrode 15 is d (1 μm), the vertical length of the auxiliary capacitance electrode 15 is e (6 μm), and the auxiliary capacitance electrode 1
5 and the scanning line L 1 of the next pixel unit is separated by f
(1 μm). By doing so, FIG.
The length c (1 μm) described in 1 is unnecessary, and the dimension of the pixel unit in the vertical direction can be reduced to 13 μm. Therefore, the pixel unit size in the vertical direction can be reduced by 1 μm.

【0018】第1及び第2の実施例によれば以下のよう
な効果が得られる。各画素ユニットの垂直方向の寸法を
1μmずつ小さくすることにより、高密度化ができるの
で、高精細・高解像度な画像が得られる。画素ユニット
寸法を14μmとした場合はa〜fのいずれかに1μm
を振り分けることにより、素子性能を向上させることが
できる。例えば、スイッチング用トランジスタ幅bを広
くすることは各画素ユニットの書き換え速度を向上させ
ることができる。第2の走査線L1と補助容量電極15
との間の間隔dあるいは補助容量電極15と次の画素ユ
ニットの走査線L1 との間の間隔fを広くすると、基板
のパタ−ンの作製に余裕ができるので製造歩留りが向上
する。補助容量電極17の長さeを広くすると、画素電
極の電位保持特性が向上し、表示画像のちらつきの低減
等画質の向上が可能となる。走査線を作製の際、パタ−
ン上に異物やその他の要因により走査線が切断されてし
まうと、画像表示する信号が伝達されず点状の欠陥とな
ってしまうが、本発明のように走査線を2本とすること
により1本が断線しても他方の1本により導通が保持さ
れているので欠陥とはならならず、高解像度な画像が維
持されたままにできる。このことは素子の製造歩留りを
向上させることができる。
According to the first and second embodiments, the following effects can be obtained. By reducing the vertical dimension of each pixel unit by 1 μm, the density can be increased, so that a high-definition and high-resolution image can be obtained. When the pixel unit size is 14 μm, 1 μm for any of a to f
The element performance can be improved by allocating the elements. For example, widening the switching transistor width b can improve the rewriting speed of each pixel unit. Second scanning line L 1 and auxiliary capacitance electrode 15
A broad interval f between the scanning line L 1 of the distance d or the auxiliary capacitance electrodes 15 and the next pixel units between, pattern of the substrate - is a margin in manufacturing a down manufacturing yield is improved since it. When the length e of the auxiliary capacitance electrode 17 is widened, the potential holding characteristic of the pixel electrode is improved, and it is possible to improve the image quality such as flicker of the displayed image. When making scan lines,
If the scanning line is cut off due to a foreign substance or other factors on the screen, a signal for displaying an image is not transmitted, resulting in a dot defect. However, by using two scanning lines as in the present invention, Even if one of the wires is broken, the other one holds the continuity, so that it does not become a defect, and a high-resolution image can be maintained. This can improve the manufacturing yield of the device.

【0019】[0019]

【発明の効果】以上説明したように、本発明のアクティ
ブマトリクス装置によれば、素子特性を損なわずに画素
寸法を縮小したアクティブマトリクス基板を作製するこ
とができるので、高精細・高解像度な画像が得られる。
また画素寸法の縮小を行わずにを画素構成を行うと、画
像表示のちらつき等の素子性能及び製造歩留りを向上さ
せることができる。
As described above, according to the active matrix device of the present invention, it is possible to manufacture an active matrix substrate having a reduced pixel size without deteriorating the element characteristics. Therefore, a high definition / high resolution image can be obtained. Is obtained.
Further, if the pixel configuration is performed without reducing the pixel size, it is possible to improve the device performance such as flicker of image display and the manufacturing yield.

【図面の簡単な説明】[Brief description of drawings]

【図1】本発明のアクティブマトリクス装置の回路図で
ある。
FIG. 1 is a circuit diagram of an active matrix device of the present invention.

【図2】本発明のSi基板を用いた場合のアクティブマ
トリクス装置の第1の実施例を示す画素ユニットの平面
レイアウト図である。
FIG. 2 is a plan layout diagram of a pixel unit showing a first embodiment of an active matrix device using a Si substrate of the present invention.

【図3】図1における画素ユニットのAA断面図であ
る。
FIG. 3 is a cross-sectional view taken along the line AA of the pixel unit in FIG.

【図4】本発明のTFTを用いた場合のアクティブマト
リクス装置の第2の実施例を示す画素ユニットの平面レ
イアウト図である。
FIG. 4 is a plan layout view of a pixel unit showing a second embodiment of an active matrix device using the TFT of the present invention.

【図5】図4における画素ユニットのAA断面図であ
る。
5 is a cross-sectional view taken along the line AA of the pixel unit in FIG.

【図6】液晶表示に用いられる従来のアクティブマトリ
クス装置の回路図である。
FIG. 6 is a circuit diagram of a conventional active matrix device used for liquid crystal display.

【図7】図6に示す装置の部分破断斜視図である。7 is a partially cutaway perspective view of the device shown in FIG.

【図8】従来のSi基板を用いた場合のアクティブマト
リクス装置の画素ユニットの平面レイアウト図である。
FIG. 8 is a plan layout view of a pixel unit of an active matrix device when a conventional Si substrate is used.

【図9】図8における画素のAA断面図である。9 is a cross-sectional view taken along the line AA of the pixel in FIG.

【図10】従来のTFTを用いた場合のアクティブマト
リクス装置の画素ユニットの平面レイアウト図である。
FIG. 10 is a plan layout view of a pixel unit of an active matrix device when a conventional TFT is used.

【図11】図10における画素ユニットのAA断面図で
ある。
11 is a cross-sectional view taken along the line AA of the pixel unit in FIG.

【符号の説明】[Explanation of symbols]

1…スイッチング用トランジスタ(スイッチング素
子)、2…水平アドレス回路、3…垂直アドレス回路、
4…ソ−ス電極(第1の電極)、5…信号線、6…ゲ−
ト電極(第2の電極)、7…走査線、8…ドレイン電極
(第3の電極)、9…液晶表示素子、10…画素電極、
11…液晶、12…対向電極、13…対向基板、14…
コンデンサ(容量素子)、15…Si基板、16…チャ
ンネル層、17…補助容量電極、18…ゲ−ト酸化膜、
19…絶縁膜、20…半導体薄膜、21…ガラス基板、
30、30a…画素ユニット、L1 …第1の走査線 L
2 …第2の走査線
1 ... Switching transistor (switching element), 2 ... Horizontal address circuit, 3 ... Vertical address circuit,
4 ... Source electrode (first electrode), 5 ... Signal line, 6 ...
Electrode (second electrode), 7 ... scanning line, 8 ... drain electrode (third electrode), 9 ... liquid crystal display element, 10 ... pixel electrode,
11 ... Liquid crystal, 12 ... Counter electrode, 13 ... Counter substrate, 14 ...
Capacitor (capacitance element), 15 ... Si substrate, 16 ... Channel layer, 17 ... Auxiliary capacitance electrode, 18 ... Gate oxide film,
19 ... Insulating film, 20 ... Semiconductor thin film, 21 ... Glass substrate,
30, 30a ... Pixel unit, L 1 ... First scanning line L
2 ... second scan line

Claims (1)

【特許請求の範囲】[Claims] 【請求項1】信号線を介して画素信号を順次出力する水
平アドレス回路と、 走査線を介して走査信号を順次出力する垂直アドレス回
路と、 前記画素信号及び走査信号が夫々供給される画素ユニッ
トをマトリクス状に配列した画像表示部とから構成され
るアクティブマトリクス装置であって、 前記各走査線は、2分岐した第1及び第2の走査線部と
からなり、 前記画素ユニットは、第1乃至第3の電極を備えたスイ
ッチング素子と、液晶表示素子と、容量素子とからな
り、 前記スイッチング素子の第1の電極は前記信号線に接続
され、 前記スイッチング素子の第2の電極は前記第1及び第2
の走査線部に共通接続され、 前記スイッチング素子の第3の電極は前記液晶表示素子
及び容量素子の夫々一端に接続されることを特徴とする
アクティブマトリクス装置。
1. A horizontal address circuit for sequentially outputting a pixel signal via a signal line, a vertical address circuit for sequentially outputting a scan signal via a scan line, and a pixel unit to which the pixel signal and the scan signal are respectively supplied. And an image display section in which the pixels are arranged in a matrix, each scanning line includes first and second scanning line sections that are bifurcated, and the pixel unit includes a first scanning line section. To a switching element having a third electrode, a liquid crystal display element, and a capacitive element, the first electrode of the switching element is connected to the signal line, and the second electrode of the switching element is the second electrode. 1st and 2nd
And a third electrode of the switching element is connected to one end of each of the liquid crystal display element and the capacitive element.
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* Cited by examiner, † Cited by third party
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KR100828519B1 (en) * 2002-07-12 2008-05-13 삼성전자주식회사 Liquid crystal panel and liquid crystal display having the same

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