JPH09211104A - パルス幅測定装置 - Google Patents
パルス幅測定装置Info
- Publication number
- JPH09211104A JPH09211104A JP8016331A JP1633196A JPH09211104A JP H09211104 A JPH09211104 A JP H09211104A JP 8016331 A JP8016331 A JP 8016331A JP 1633196 A JP1633196 A JP 1633196A JP H09211104 A JPH09211104 A JP H09211104A
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- pulse
- output
- comparator
- outputs
- pulse width
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Pending
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- Measurement Of Current Or Voltage (AREA)
- Manipulation Of Pulses (AREA)
- Radar Systems Or Details Thereof (AREA)
Abstract
(57)【要約】
【課題】 高周波のクロックを使用せずに、精度の高い
パルス幅の測定結果を得ることができるパルス幅測定装
置を提供する。 【解決手段】 入力したパルス波形の内、所定のレベル
より高いものを出力する第１の比較器と、第１の比較器
の出力パルスに同期した基準パルスを発生させ出力する
基準波形発生器と、第１の比較器及び基準波形発生器の
出力を比較し、入力したパルス波形のパルス幅に対応し
た信号を出力する第２の比較器とを備えた。
パルス幅の測定結果を得ることができるパルス幅測定装
置を提供する。 【解決手段】 入力したパルス波形の内、所定のレベル
より高いものを出力する第１の比較器と、第１の比較器
の出力パルスに同期した基準パルスを発生させ出力する
基準波形発生器と、第１の比較器及び基準波形発生器の
出力を比較し、入力したパルス波形のパルス幅に対応し
た信号を出力する第２の比較器とを備えた。
Description
【０００１】
【発明の属する技術分野】本発明は、例えばレーダなど
のパルス幅を測定するパルス幅測定装置に関する。
のパルス幅を測定するパルス幅測定装置に関する。
【０００２】
【従来の技術】従来、レーダなどのパルス幅の測定は、
その波形をオシロスコープなどにより測定するか、パル
ス波形を高周波のクロックによりサンプリングして測定
していた。
その波形をオシロスコープなどにより測定するか、パル
ス波形を高周波のクロックによりサンプリングして測定
していた。
【０００３】
【発明が解決しようとする課題】上記のような従来のパ
ルス幅測定では、オシロスコープにより測定するもので
は、レーダなどの波形をオシロスコープまで伝送させる
広帯域の伝送回路が必要になってしまい、また、サンプ
リングにより測定するものでは、測定するパルス幅が狭
いときや、測定精度を上げたいときには、１００ＭＨｚ
以上のクロックが必要になり、ノイズに弱くなってしま
うなど問題点があった。
ルス幅測定では、オシロスコープにより測定するもので
は、レーダなどの波形をオシロスコープまで伝送させる
広帯域の伝送回路が必要になってしまい、また、サンプ
リングにより測定するものでは、測定するパルス幅が狭
いときや、測定精度を上げたいときには、１００ＭＨｚ
以上のクロックが必要になり、ノイズに弱くなってしま
うなど問題点があった。
【０００４】
【課題を解決するための手段】本発明に係るパルス幅測
定装置は、入力したパルス波形の内、所定のレベルより
高いものを出力する第１の比較器と、第１の比較器の出
力パルスに同期した基準パルスを発生させ出力する基準
波形発生器と、第１の比較器及び基準波形発生器の出力
を比較し、入力したパルス波形のパルス幅に対応した信
号を出力する第２の比較器とを備えている。
定装置は、入力したパルス波形の内、所定のレベルより
高いものを出力する第１の比較器と、第１の比較器の出
力パルスに同期した基準パルスを発生させ出力する基準
波形発生器と、第１の比較器及び基準波形発生器の出力
を比較し、入力したパルス波形のパルス幅に対応した信
号を出力する第２の比較器とを備えている。
【０００５】
【発明の実施の形態】図１は本発明の一実施形態に係る
パルス幅測定装置の構成を示すブロック図である。図に
おいて、１は減衰器、２は検波器、３はバッファ回路、
４は分配器、５は増幅器、６はサンプルホールド回路、
７は増幅器５及びサンプルホールド回路６の出力信号を
比較する比較器、８は比較器７の出力信号を積分する積
分器、９は基準波形を発生させる基準波形発生回路、１
０は基準波形発生回路９の出力信号を積分する積分器、
１１は積分器１０及び積分器８の出力信号を比較する比
較器、１２はクランプ回路、１３はサンプルホールド回
路、１４はアナログ・デジタル変換器である。
パルス幅測定装置の構成を示すブロック図である。図に
おいて、１は減衰器、２は検波器、３はバッファ回路、
４は分配器、５は増幅器、６はサンプルホールド回路、
７は増幅器５及びサンプルホールド回路６の出力信号を
比較する比較器、８は比較器７の出力信号を積分する積
分器、９は基準波形を発生させる基準波形発生回路、１
０は基準波形発生回路９の出力信号を積分する積分器、
１１は積分器１０及び積分器８の出力信号を比較する比
較器、１２はクランプ回路、１３はサンプルホールド回
路、１４はアナログ・デジタル変換器である。
【０００６】次にこの実施形態の動作について説明す
る。まず、レーダからの送信パルスは、減衰器１を介し
て検波器２に入力され検波される。ここで、減衰器１は
リモート局などからの制御で、その減衰量が変化するも
のであり、例えば制御信号によりステップ的に減衰量が
変化するようになっている。
る。まず、レーダからの送信パルスは、減衰器１を介し
て検波器２に入力され検波される。ここで、減衰器１は
リモート局などからの制御で、その減衰量が変化するも
のであり、例えば制御信号によりステップ的に減衰量が
変化するようになっている。
【０００７】そして、検波器２により検波された信号は
バッファ回路３を介して分配器４に入力される。ここ
で、バッファ回路３は検波器２と次段の分配器４とを分
離させるものである。
バッファ回路３を介して分配器４に入力される。ここ
で、バッファ回路３は検波器２と次段の分配器４とを分
離させるものである。
【０００８】そして、分配器４に入力された信号は、増
幅器５及びサンプルホールド回路６のどちらかに出力さ
れる。すなわち、増幅器５に信号が入力されるときに
は、サンプルホールド回路６側には信号は出力されず、
また、その逆も同様である。また、分配器４の出力側の
切換は、減衰器１を操作して基準の状態を設定するとき
に同期して行われるようになっており、基準の状態を設
定するときに、サンプルホールド回路６側に出力され
る。
幅器５及びサンプルホールド回路６のどちらかに出力さ
れる。すなわち、増幅器５に信号が入力されるときに
は、サンプルホールド回路６側には信号は出力されず、
また、その逆も同様である。また、分配器４の出力側の
切換は、減衰器１を操作して基準の状態を設定するとき
に同期して行われるようになっており、基準の状態を設
定するときに、サンプルホールド回路６側に出力され
る。
【０００９】そして、サンプルホールド回路６では、基
準の状態を設定するとき｛例えば、３ｄＢダウンの位置
（電力が１／２の位置）をサンプルホールド回路６に設
定するとき｝その値をピークホールドしており、出力は
直流となっている。
準の状態を設定するとき｛例えば、３ｄＢダウンの位置
（電力が１／２の位置）をサンプルホールド回路６に設
定するとき｝その値をピークホールドしており、出力は
直流となっている。
【００１０】そして、増幅器５及びサンプルホールド回
路６の出力は、比較器７に入力され、比較器７からは、
増幅器５の出力の内、サンプルホールド回路６の出力よ
りレベルの高いものだけが出力される。この出力波形は
パルス波形となり、その幅はレーダからの送信パルスの
電力が１／２の位置の幅となり、この幅がレーダからの
送信パルスのパルス幅となる。
路６の出力は、比較器７に入力され、比較器７からは、
増幅器５の出力の内、サンプルホールド回路６の出力よ
りレベルの高いものだけが出力される。この出力波形は
パルス波形となり、その幅はレーダからの送信パルスの
電力が１／２の位置の幅となり、この幅がレーダからの
送信パルスのパルス幅となる。
【００１１】そして、比較器７の出力信号は、積分器８
に入力されて積分される。この積分器８の出力は、図２
の（ａ）に示すような鋸歯状波となる。なお、パルス幅
は何種類もあれば、それに応じて、適宜定数を変更する
か、又は専用の回路を設けるようにすればよいが、ここ
では、説明のため一種類のパルスとして説明する。
に入力されて積分される。この積分器８の出力は、図２
の（ａ）に示すような鋸歯状波となる。なお、パルス幅
は何種類もあれば、それに応じて、適宜定数を変更する
か、又は専用の回路を設けるようにすればよいが、ここ
では、説明のため一種類のパルスとして説明する。
【００１２】また、基準波形発生回路９は、パルス幅測
定のための基準となるパルス波形を発生しており、比較
器７の出力パルスの立ち上がりに同期して、パルス波形
が出力され、そのパルス幅は、測定するパルス幅の最大
パルス幅以上となるように設定する。例えば、レーダの
パルス幅が０．１μｓのとき、基準パルス幅を、０．２
μｓとする。この基準波形発生回路９の出力信号の振幅
は、比較器７の出力信号の振幅と同一となるように設定
する。
定のための基準となるパルス波形を発生しており、比較
器７の出力パルスの立ち上がりに同期して、パルス波形
が出力され、そのパルス幅は、測定するパルス幅の最大
パルス幅以上となるように設定する。例えば、レーダの
パルス幅が０．１μｓのとき、基準パルス幅を、０．２
μｓとする。この基準波形発生回路９の出力信号の振幅
は、比較器７の出力信号の振幅と同一となるように設定
する。
【００１３】そして、基準波形発生回路９の出力信号
は、積分器１０に入力されて積分される。この積分器１
０の出力は、積分器８の出力と同様に、図２の（ｂ）に
示すような鋸歯状波となる。この鋸歯状波の傾きは、積
分器８から出力される鋸歯状波の傾きと同一となるよう
に設定する。
は、積分器１０に入力されて積分される。この積分器１
０の出力は、積分器８の出力と同様に、図２の（ｂ）に
示すような鋸歯状波となる。この鋸歯状波の傾きは、積
分器８から出力される鋸歯状波の傾きと同一となるよう
に設定する。
【００１４】そして、積分器８及び積分器１０の出力信
号は、比較器１１に入力され、比較器１１からは、図２
の（ｃ）に示すような積分器８の出力信号より積分器１
０の出力信号が大きい期間のパルス幅をもつパルス波形
が出力される。ここで、図２の（ａ）に示す波形がレー
ダのパルス幅に応じて変化するので、レーダのパルス幅
が狭いと、比較器１１の出力パルス波形のパルス幅は広
くなることになる。そして、比較器１１の出力信号は、
クランプ回路１２に入力され、図３に示すようにクラン
プがかけられて出力される。
号は、比較器１１に入力され、比較器１１からは、図２
の（ｃ）に示すような積分器８の出力信号より積分器１
０の出力信号が大きい期間のパルス幅をもつパルス波形
が出力される。ここで、図２の（ａ）に示す波形がレー
ダのパルス幅に応じて変化するので、レーダのパルス幅
が狭いと、比較器１１の出力パルス波形のパルス幅は広
くなることになる。そして、比較器１１の出力信号は、
クランプ回路１２に入力され、図３に示すようにクラン
プがかけられて出力される。
【００１５】ここで、図３に示す波形は、図２の（ｃ）
に示す波形が反転されたものとなっており、また、Ａ、
Ｂに示す面積の関係が、Ｂ／Ａ＝ｋ（ｋは予めクランプ
回路１２内の抵抗により決定された定数）により決定さ
れるようになっている。したがって、図３の＠に示すレ
ベルは、図２の（ｃ）に示す比較器１１の出力パルスの
パルス幅が広くなると、図３のＡに示す面積の部分の幅
が広く、図３のＢに示す面積の部分の幅が狭くなるので
高くなり、逆に、比較器１１の出力パルスのパルス幅が
狭くなると、低くなる。
に示す波形が反転されたものとなっており、また、Ａ、
Ｂに示す面積の関係が、Ｂ／Ａ＝ｋ（ｋは予めクランプ
回路１２内の抵抗により決定された定数）により決定さ
れるようになっている。したがって、図３の＠に示すレ
ベルは、図２の（ｃ）に示す比較器１１の出力パルスの
パルス幅が広くなると、図３のＡに示す面積の部分の幅
が広く、図３のＢに示す面積の部分の幅が狭くなるので
高くなり、逆に、比較器１１の出力パルスのパルス幅が
狭くなると、低くなる。
【００１６】そして、クランプ回路１２の出力信号は、
サンプルホールド回路１３に入力され、サンプルホール
ド回路１３からは、図３の＠に示すレベルをホールド
し、その直流レベルを出力する。そして、サンプルホー
ルド回路１３の出力信号をアナログ・デジタル変換器１
４でデジタル信号に変換し、そのデジタル信号により、
レーダからの送信パルスのパルス幅を測定する。
サンプルホールド回路１３に入力され、サンプルホール
ド回路１３からは、図３の＠に示すレベルをホールド
し、その直流レベルを出力する。そして、サンプルホー
ルド回路１３の出力信号をアナログ・デジタル変換器１
４でデジタル信号に変換し、そのデジタル信号により、
レーダからの送信パルスのパルス幅を測定する。
【００１７】この実施形態では、高周波のクロックなど
を使用せず、低周波のクロックで、精度の高いパルス幅
の測定結果を得ることが可能となる。
を使用せず、低周波のクロックで、精度の高いパルス幅
の測定結果を得ることが可能となる。
【００１８】なお、この実施形態では、減衰器１の減衰
量をリモートで制御するようにしているが、パルス波形
（パルス幅）が、大きな変動をしないものであれば、人
が減衰器１をセットし、サンプルホールド回路６にその
記憶回路を設けて、そのレベルを記憶させるようにして
もよく、このようにすることにより、波形そのものの質
は問わず、入力波形の設定レベルでの幅を測定でき、変
化量を求めるのに適するものとなる。
量をリモートで制御するようにしているが、パルス波形
（パルス幅）が、大きな変動をしないものであれば、人
が減衰器１をセットし、サンプルホールド回路６にその
記憶回路を設けて、そのレベルを記憶させるようにして
もよく、このようにすることにより、波形そのものの質
は問わず、入力波形の設定レベルでの幅を測定でき、変
化量を求めるのに適するものとなる。
【００１９】また、この実施形態では、レーダ送受信機
のレーダパルス幅を測定するものであるが、レーダ送受
信器以外にも、トランスポンダなどの送信波がパルス形
状であれば全てに適用することが可能である。
のレーダパルス幅を測定するものであるが、レーダ送受
信器以外にも、トランスポンダなどの送信波がパルス形
状であれば全てに適用することが可能である。
【００２０】
【発明の効果】以上のように本発明によれば、第１の比
較器により、入力したパルス波形の内、所定のレベルよ
り高いものを出力し、基準波形発生器により、第１の比
較器の出力パルスに同期した基準パルスを発生させ出力
し、第２の比較器により、第１の比較器及び基準波形発
生器の出力を比較し、入力したパルス波形のパルス幅に
対応した信号を出力するようにしたので、高周波のクロ
ックなどを使用せず、低周波のクロックで、精度の高い
パルス幅の測定結果を得ることができるという効果を有
する。
較器により、入力したパルス波形の内、所定のレベルよ
り高いものを出力し、基準波形発生器により、第１の比
較器の出力パルスに同期した基準パルスを発生させ出力
し、第２の比較器により、第１の比較器及び基準波形発
生器の出力を比較し、入力したパルス波形のパルス幅に
対応した信号を出力するようにしたので、高周波のクロ
ックなどを使用せず、低周波のクロックで、精度の高い
パルス幅の測定結果を得ることができるという効果を有
する。
【図１】本発明の一実施形態に係るパルス幅測定装置の
構成を示すブロック図である。
構成を示すブロック図である。
【図２】積分器８，１０及び比較器１１の出力波形を説
明するための波形図である。
明するための波形図である。
【図３】クランプ回路１２の出力波形を説明するための
波形図である。
波形図である。
１ 減衰器 ２ 検波器 ３ バッファ回路 ４ 分配器 ５ 増幅器 ６ サンプルホールド回路 ７ 比較器 ８ 積分器 ９ 基準波形発生回路 １０ 積分器 １１ 比較器 １２ クランプ回路 １３ サンプルホールド回路（パルス幅信号出力回路） １４ アナログ・デジタル変換器（パルス幅信号出力回
路）
路）
Claims (2)
- 【請求項１】 入力したパルス波形の内、所定のレベル
より高いものを出力する第１の比較器と、 前記第１の比較器の出力パルスに同期した基準パルスを
発生させ出力する基準波形発生器と、 前記第１の比較器及び基準波形発生器の出力を比較し、
前記入力したパルス波形のパルス幅に対応した信号を出
力する第２の比較器とを備えたことを特徴とするパルス
幅測定装置。 - 【請求項２】 入力したパルス波形の所定減衰レベルを
記憶して出力するサンプルホールド回路と、 前記入力したパルス波形及び前記サンプルホールド回路
の出力を比較し、前記入力したパルス波形の内、前記サ
ンプルホールド回路の出力より高いものを出力する第１
の比較器と、 前記第１の比較器の出力パルスを積分して出力する第１
の積分器と、 前記第１の比較器の出力パルスに同期した基準パルスを
発生させ出力する基準波形発生器と、 前記基準波形発生器の出力パルスを積分して出力する第
２の積分器と、 前記第１の積分器及び第２の積分器の出力を比較し、第
１の積分器の出力より第２の積分器の出力が大きい期間
のパルス幅をもつパルスを出力する第２の比較器と、 前記第２の比較器の出力パルスのパルス幅に対応したク
ランプをかけて出力するクランプ回路と、 前記クランプ回路の出力に基づいて、前記入力したパル
ス波形のパルス幅に対応した信号を出力するパルス幅信
号出力回路とを備えたことを特徴とするパルス幅測定装
置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP8016331A JPH09211104A (ja) | 1996-02-01 | 1996-02-01 | パルス幅測定装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP8016331A JPH09211104A (ja) | 1996-02-01 | 1996-02-01 | パルス幅測定装置 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH09211104A true JPH09211104A (ja) | 1997-08-15 |
Family
ID=11913466
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP8016331A Pending JPH09211104A (ja) | 1996-02-01 | 1996-02-01 | パルス幅測定装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH09211104A (ja) |
-
1996
- 1996-02-01 JP JP8016331A patent/JPH09211104A/ja active Pending
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