JPH09210857A - 多モード光ファイバの接続トレランス測定装置及び測定方法 - Google Patents
多モード光ファイバの接続トレランス測定装置及び測定方法Info
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- JPH09210857A JPH09210857A JP8020190A JP2019096A JPH09210857A JP H09210857 A JPH09210857 A JP H09210857A JP 8020190 A JP8020190 A JP 8020190A JP 2019096 A JP2019096 A JP 2019096A JP H09210857 A JPH09210857 A JP H09210857A
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Abstract
(57)【要約】
【課題】 コヒーレンシの高い光源によって発生するス
ペックル雑音を考慮した、短距離での各種多モード光フ
ァイバ接続トレランスを評価可能とする測定装置及び測
定方法を提供する。 【解決手段】 伝送波形測定装置１１により第２の多モ
ード光ファイバ６からの出力信号が最大の振幅となるよ
うに、第１と第２の多モード光ファイバ４、６の接続端
面相対位置関係を微動台５により位置合わせを行い、最
大となった位置を第１と第２の多モード光ファイバ間相
対位置ずれを０とし、この時の一定信号対雑音比を得る
ために必要な平均受光レベルを求め、この後に、微動台
５により、任意に多モード光ファイバ間を相対位置ずれ
させ、各位置ずれ量に対して、前記一定信号対雑音比を
得るために必要な平均受光レベルを求め、各位置ずれ量
に対して、位置ずれがない場合の必要平均受光レベルを
基準とした、位置ずれ量増加と平均受光レベル増加量と
の関係から、一定平均受光レベル増加量に対して許容で
きる接続位置ずれを求める。
ペックル雑音を考慮した、短距離での各種多モード光フ
ァイバ接続トレランスを評価可能とする測定装置及び測
定方法を提供する。 【解決手段】 伝送波形測定装置１１により第２の多モ
ード光ファイバ６からの出力信号が最大の振幅となるよ
うに、第１と第２の多モード光ファイバ４、６の接続端
面相対位置関係を微動台５により位置合わせを行い、最
大となった位置を第１と第２の多モード光ファイバ間相
対位置ずれを０とし、この時の一定信号対雑音比を得る
ために必要な平均受光レベルを求め、この後に、微動台
５により、任意に多モード光ファイバ間を相対位置ずれ
させ、各位置ずれ量に対して、前記一定信号対雑音比を
得るために必要な平均受光レベルを求め、各位置ずれ量
に対して、位置ずれがない場合の必要平均受光レベルを
基準とした、位置ずれ量増加と平均受光レベル増加量と
の関係から、一定平均受光レベル増加量に対して許容で
きる接続位置ずれを求める。
Description
【０００１】
【発明の属する技術分野】本発明はコヒーレンスの高い
レーザダイオード（ＬＤ）光源を備え、多モード光ファ
イバを伝送媒体とし、高速光信号を数ｋｍ長以下の短距
離で伝送する光通信系、例えば構内高速光ＬＡＮにおけ
る光ファイバ間の接続部評価ならびにコネクタ精度規定
に関するものである。
レーザダイオード（ＬＤ）光源を備え、多モード光ファ
イバを伝送媒体とし、高速光信号を数ｋｍ長以下の短距
離で伝送する光通信系、例えば構内高速光ＬＡＮにおけ
る光ファイバ間の接続部評価ならびにコネクタ精度規定
に関するものである。
【０００２】
【従来の技術】図６は、コヒーレンスの高いＬＤによる
多モード光ファイバの励振時に生じるスペックルパタン
と、光ファイバ間接続部において位置ずれが生じた場合
に生じるスペックル雑音の発生概念図を示す。
多モード光ファイバの励振時に生じるスペックルパタン
と、光ファイバ間接続部において位置ずれが生じた場合
に生じるスペックル雑音の発生概念図を示す。
【０００３】図中４ａは第１の多モード光ファイバ端
面、４ｂは第１の多モード光ファイバ光出射コア端面
を、６ａは第１の光ファイバと位置ずれを起こしている
第２の多モード光ファイバ端面、６ｂは第１の多モード
光ファイバからの出射光を受光する第２の多モード光フ
ァイバコア端面、１７はスペックルパタンである。ここ
では、スペックル雑音を説明するために、軸ずれをさせ
て両ファイバ端面を記述している。スペックルパタンは
コヒーレンスの高い光によって、短距離多モード光ファ
イバを励振した場合、ファイバ端面に現れる”強度む
ら”である。この強度むら即ちスペックルパタン１７
は、時間によって光ファイバコア４ｂ内で空間的に変動
する。図６では図中(a)として示した時間ｔ１では、光
強度はコア４ｂ内の中央域に集中しているが、図中(b)
として示した時間ｔ２では、コア上部域に集中している
様子を示している。この現象により、図６に示すよう
に、ファイバ間で位置ずれがあると、第２の光ファイバ
に伝送される光強度が変動することになる。
面、４ｂは第１の多モード光ファイバ光出射コア端面
を、６ａは第１の光ファイバと位置ずれを起こしている
第２の多モード光ファイバ端面、６ｂは第１の多モード
光ファイバからの出射光を受光する第２の多モード光フ
ァイバコア端面、１７はスペックルパタンである。ここ
では、スペックル雑音を説明するために、軸ずれをさせ
て両ファイバ端面を記述している。スペックルパタンは
コヒーレンスの高い光によって、短距離多モード光ファ
イバを励振した場合、ファイバ端面に現れる”強度む
ら”である。この強度むら即ちスペックルパタン１７
は、時間によって光ファイバコア４ｂ内で空間的に変動
する。図６では図中(a)として示した時間ｔ１では、光
強度はコア４ｂ内の中央域に集中しているが、図中(b)
として示した時間ｔ２では、コア上部域に集中している
様子を示している。この現象により、図６に示すよう
に、ファイバ間で位置ずれがあると、第２の光ファイバ
に伝送される光強度が変動することになる。
【０００４】従来における、多モード光ファイバ間接続
トレランス評価法を図７を用いて説明する。図７は装置
の概略を示すもので、図中、４は第１の多モード光ファ
イバ、５は微動台、６は第２の多モード光ファイバ、１
３はレーザダイオード、１４は１０ｋｍ長ダミーファイ
バ、１５はアベレージャ、１６は光パワーメータであ
る。
トレランス評価法を図７を用いて説明する。図７は装置
の概略を示すもので、図中、４は第１の多モード光ファ
イバ、５は微動台、６は第２の多モード光ファイバ、１
３はレーザダイオード、１４は１０ｋｍ長ダミーファイ
バ、１５はアベレージャ、１６は光パワーメータであ
る。
【０００５】トレランス測定時における、スペックル雑
音によるパワー変動をさけるために、ダミーファイバ１
４を用いた不要モードの除去と、ＬＤ発信光のコヒーレ
ンス長と比べて十分に長い距離を伝送させて、光源のコ
ヒーレンシを低下させるとともに、アベレージャ１５で
与えられる振動で、スペックルの変動を平均化する処理
を行うことにより、スペックル雑音を回避して、規定さ
れた励振状態を第１の多モード光ファイバ４の出射端面
にて実現する。このような処理を行った後、第１の多モ
ード光ファイバ４と第２の多モード光ファイバ６で伝送
される受光パワーを光パワーメータ１６にてモニターし
て、接続トレランスの実験ならびに評価を行う。
音によるパワー変動をさけるために、ダミーファイバ１
４を用いた不要モードの除去と、ＬＤ発信光のコヒーレ
ンス長と比べて十分に長い距離を伝送させて、光源のコ
ヒーレンシを低下させるとともに、アベレージャ１５で
与えられる振動で、スペックルの変動を平均化する処理
を行うことにより、スペックル雑音を回避して、規定さ
れた励振状態を第１の多モード光ファイバ４の出射端面
にて実現する。このような処理を行った後、第１の多モ
ード光ファイバ４と第２の多モード光ファイバ６で伝送
される受光パワーを光パワーメータ１６にてモニターし
て、接続トレランスの実験ならびに評価を行う。
【０００６】
【発明が解決しようとする課題】近年、高速変調が可能
なＬＤを用い、多モード光ファイバを伝送媒体として用
いた構内高速光ＬＡＮを、ビル、キャンパス、並びにオ
フィス内へ導入することが活発に検討されてきている。
これまで検討されてきた光通信伝送系では、市街間とい
った長距離伝送であったために、トレランス評価時にお
いて、ダミーファイバを用いて光ファイバ中の伝送距離
を長くとり、光源のコヒーレンシを落とし、スペックル
雑音を低減して行うトレランス評価法は現実的であった
が、構内高速光ＬＡＮといった短距離での伝送の場合に
ついては、ファイバ長を数１０ｋｍオーダでの伝送余長
を各端末毎に設置できないこと、並びに、アベレージャ
１５といったバルク型光部品を設置することが困難であ
るために、従来測定方法によって得られたトレランス評
価法は非現実的なものとなっている。従って、従来測定
法によるトレランス測定結果を基にして規定され多モー
ド光ファイバのコネクタ精度を、短距離伝送系に適用し
た場合には、コア系よりも十分に小さな位置ずれでさえ
も、伝送品質を著しく損なうなどの問題が生じ、新しい
コネクタトレランス基準並びに評価法が必要とされてい
た。
なＬＤを用い、多モード光ファイバを伝送媒体として用
いた構内高速光ＬＡＮを、ビル、キャンパス、並びにオ
フィス内へ導入することが活発に検討されてきている。
これまで検討されてきた光通信伝送系では、市街間とい
った長距離伝送であったために、トレランス評価時にお
いて、ダミーファイバを用いて光ファイバ中の伝送距離
を長くとり、光源のコヒーレンシを落とし、スペックル
雑音を低減して行うトレランス評価法は現実的であった
が、構内高速光ＬＡＮといった短距離での伝送の場合に
ついては、ファイバ長を数１０ｋｍオーダでの伝送余長
を各端末毎に設置できないこと、並びに、アベレージャ
１５といったバルク型光部品を設置することが困難であ
るために、従来測定方法によって得られたトレランス評
価法は非現実的なものとなっている。従って、従来測定
法によるトレランス測定結果を基にして規定され多モー
ド光ファイバのコネクタ精度を、短距離伝送系に適用し
た場合には、コア系よりも十分に小さな位置ずれでさえ
も、伝送品質を著しく損なうなどの問題が生じ、新しい
コネクタトレランス基準並びに評価法が必要とされてい
た。
【０００７】本発明は、レーザダイオード（ＬＤ）とい
ったコヒーレンシの高い光源によって発生するスペック
ル雑音を考慮した、短距離での各種多モード光ファイバ
接続トレランスを実用性の高い評価を可能とすることが
でき、各種多モード光ファイバにおけるコネクタ嵌合精
度を規定可能とする多モード光ファイバ接続トレランス
測定装置及び測定方法の提供を目的とする。
ったコヒーレンシの高い光源によって発生するスペック
ル雑音を考慮した、短距離での各種多モード光ファイバ
接続トレランスを実用性の高い評価を可能とすることが
でき、各種多モード光ファイバにおけるコネクタ嵌合精
度を規定可能とする多モード光ファイバ接続トレランス
測定装置及び測定方法の提供を目的とする。
【０００８】
【課題を解決するための手段】上記課題を解決するた
め、本発明の請求項１では、任意の周波数のパルス波形
発生装置により信号変調した、狭線幅の単一スペクトラ
ム波長を持つ光信号を発生する光源と、少なくとも２本
の被測定多モード光ファイバのうち、第１と第２の多モ
ード光ファイバの各一端側において、互いに対向する接
続端面相対位置を任意に位置変更可能な微動台と、前記
第１の多モード光ファイバの他端とシングルモード光フ
ァイバの一端との間に設けた可変光減衰器と、前記シン
グルモード光ファイバの他端と光源との間に設けたアイ
ソレータと、前記第２の多モード光ファイバの他端から
の出力信号を受光して、信号波形を計測並びに表示し、
信号対雑音特性を測定する伝送波形測定装置とからな
る、多モード光ファイバの接続トレランス測定装置を提
供する。また、請求項２では、伝送波形測定装置により
第２の多モード光ファイバからの出力信号が最大の振幅
となるように、第１の多モード光ファイバと第２の多モ
ード光ファイバの接続端面相対位置関係を微動台により
位置合わせを行い、最大となった位置を第１と第２の多
モード光ファイバ間相対位置ずれを０とし、この時の一
定信号対雑音比を得るために必要な平均受光レベルを求
める第１の測定手順と、この後に、微動台により、任意
に前記多モード光ファイバ間を相対位置ずれさせ、各位
置ずれ量に対して、前記一定信号対雑音比を得るために
必要な平均受光レベルを求める第２の測定手順と、各位
置ずれ量に対して、位置ずれがない場合の必要平均受光
レベルを基準とした、位置ずれ量増加と平均受光レベル
増加量との関係から、一定平均受光レベル増加量に対し
て許容できる接続位置ずれを求める第３の測定手順とか
らなる、多モード光ファイバの接続トレランス測定方法
を提供する。本発明によれば、コヒーレンシの高い光源
にてファイバを信号伝送した場合に発生するスペックル
雑音の影響を加味した光ファイバ間の位置ずれトレラン
ス測定を行うことができるため、構内、高速光ＬＡＮ等
の短距離多モード光ファイバを用いた伝送系における光
ファイバ接続部での実用性の高いトレランス評価が可能
となる。
め、本発明の請求項１では、任意の周波数のパルス波形
発生装置により信号変調した、狭線幅の単一スペクトラ
ム波長を持つ光信号を発生する光源と、少なくとも２本
の被測定多モード光ファイバのうち、第１と第２の多モ
ード光ファイバの各一端側において、互いに対向する接
続端面相対位置を任意に位置変更可能な微動台と、前記
第１の多モード光ファイバの他端とシングルモード光フ
ァイバの一端との間に設けた可変光減衰器と、前記シン
グルモード光ファイバの他端と光源との間に設けたアイ
ソレータと、前記第２の多モード光ファイバの他端から
の出力信号を受光して、信号波形を計測並びに表示し、
信号対雑音特性を測定する伝送波形測定装置とからな
る、多モード光ファイバの接続トレランス測定装置を提
供する。また、請求項２では、伝送波形測定装置により
第２の多モード光ファイバからの出力信号が最大の振幅
となるように、第１の多モード光ファイバと第２の多モ
ード光ファイバの接続端面相対位置関係を微動台により
位置合わせを行い、最大となった位置を第１と第２の多
モード光ファイバ間相対位置ずれを０とし、この時の一
定信号対雑音比を得るために必要な平均受光レベルを求
める第１の測定手順と、この後に、微動台により、任意
に前記多モード光ファイバ間を相対位置ずれさせ、各位
置ずれ量に対して、前記一定信号対雑音比を得るために
必要な平均受光レベルを求める第２の測定手順と、各位
置ずれ量に対して、位置ずれがない場合の必要平均受光
レベルを基準とした、位置ずれ量増加と平均受光レベル
増加量との関係から、一定平均受光レベル増加量に対し
て許容できる接続位置ずれを求める第３の測定手順とか
らなる、多モード光ファイバの接続トレランス測定方法
を提供する。本発明によれば、コヒーレンシの高い光源
にてファイバを信号伝送した場合に発生するスペックル
雑音の影響を加味した光ファイバ間の位置ずれトレラン
ス測定を行うことができるため、構内、高速光ＬＡＮ等
の短距離多モード光ファイバを用いた伝送系における光
ファイバ接続部での実用性の高いトレランス評価が可能
となる。
【０００９】
【発明の実施の形態】以下、本発明の実施の形態につい
て説明するが、本発明はこれらの例に何ら限定されるも
のではない。
て説明するが、本発明はこれらの例に何ら限定されるも
のではない。
【００１０】図１は本発明の第１の実施の形態を説明す
る図であって、図１中、１は０．１ｎｍ半値幅単一スペ
クトルをもつ、ＤＦＢ(Ditributed Feed Back)レーザ、
２はシングルモードファイバ、３は可変光減衰器、４は
長さ１ｍの第１の多モード光ファイバ（例えば８０μｍ
コア系のステップインデクス形ファイバ）、５は微動
台、６は長さ１ｍの第２の多モード光ファイバ、７は広
帯域光／電気信号変換器、８はオシロスコープ、９はＤ
ＦＢ−ＬＤ変調信号伝送用同軸ケーブル、１０はトリガ
信号伝送用同軸ケーブル、１１はパルス波形発生装置、
１２はアイソレータである。
る図であって、図１中、１は０．１ｎｍ半値幅単一スペ
クトルをもつ、ＤＦＢ(Ditributed Feed Back)レーザ、
２はシングルモードファイバ、３は可変光減衰器、４は
長さ１ｍの第１の多モード光ファイバ（例えば８０μｍ
コア系のステップインデクス形ファイバ）、５は微動
台、６は長さ１ｍの第２の多モード光ファイバ、７は広
帯域光／電気信号変換器、８はオシロスコープ、９はＤ
ＦＢ−ＬＤ変調信号伝送用同軸ケーブル、１０はトリガ
信号伝送用同軸ケーブル、１１はパルス波形発生装置、
１２はアイソレータである。
【００１１】パルス波形発生装置１１によって発生させ
た高周波信号（例えば１Ｇｂｐｓ、ＮＲＺ信号）を同軸
ケーブル９でＤＦＢレーザ１に送ると、ＤＦＢレーザ１
から変調された光信号が出射する。出射した光信号はア
イソレータ（例えば３０ｄＢ反射減衰量）１２を通過し
て、シングルモードファイバ２内に光結合、伝送し、こ
れが可変光減衰器３を介して、第１の多モード光ファイ
バ４中を伝送する。第１の多モード光ファイバ４の出力
端面と第２の多モード光ファイバ６の入力端面とは相対
した位置関係にある。第２の多モード光ファイバ６は第
１の光ファイバ４からの信号光を受光、伝送させる。第
２の多モード光ファイバ６で伝送した信号光は、広帯域
光／電気信号変換装置７により、電気信号に変換された
後、オシロスコープ８によって受信され波形観測がなさ
れる。
た高周波信号（例えば１Ｇｂｐｓ、ＮＲＺ信号）を同軸
ケーブル９でＤＦＢレーザ１に送ると、ＤＦＢレーザ１
から変調された光信号が出射する。出射した光信号はア
イソレータ（例えば３０ｄＢ反射減衰量）１２を通過し
て、シングルモードファイバ２内に光結合、伝送し、こ
れが可変光減衰器３を介して、第１の多モード光ファイ
バ４中を伝送する。第１の多モード光ファイバ４の出力
端面と第２の多モード光ファイバ６の入力端面とは相対
した位置関係にある。第２の多モード光ファイバ６は第
１の光ファイバ４からの信号光を受光、伝送させる。第
２の多モード光ファイバ６で伝送した信号光は、広帯域
光／電気信号変換装置７により、電気信号に変換された
後、オシロスコープ８によって受信され波形観測がなさ
れる。
【００１２】この時、オシロスコープ８によって波形振
幅が最大となるように、第１の光ファイバ４と第２の光
ファイバ６との位置合わせを微動台５でもって行い、こ
の時の位置を、第１の光ファイバと第２の光ファイバの
相対位置ずれ量＝０μｍとする（位置ずれ量＝０μ
ｍ）。
幅が最大となるように、第１の光ファイバ４と第２の光
ファイバ６との位置合わせを微動台５でもって行い、こ
の時の位置を、第１の光ファイバと第２の光ファイバの
相対位置ずれ量＝０μｍとする（位置ずれ量＝０μ
ｍ）。
【００１３】設定後、可変光減衰器３を調整することに
よって、入力光パワーを変化させて信号対雑音比と平均
受光レベルとの関係を求める。図２に結果の一例を示
す。
よって、入力光パワーを変化させて信号対雑音比と平均
受光レベルとの関係を求める。図２に結果の一例を示
す。
【００１４】次に、光ファイバ間に任意の位置ずれ量を
求める。
求める。
【００１５】例えば、光軸（光伝搬方向）に対して垂直
方向にて、５μｍずつ変化させ、各位置ずれ量設定時に
つき、上述と同様に、信号対雑音比と平均受光レベルと
の関係を求める。図３に５μｍ分、光軸と垂直方向に位
置ずれを与えたとき、図４に１０μｍ分、光軸と垂直方
向に位置ずれを与えたときの結果の一例をそれぞれ示し
た。
方向にて、５μｍずつ変化させ、各位置ずれ量設定時に
つき、上述と同様に、信号対雑音比と平均受光レベルと
の関係を求める。図３に５μｍ分、光軸と垂直方向に位
置ずれを与えたとき、図４に１０μｍ分、光軸と垂直方
向に位置ずれを与えたときの結果の一例をそれぞれ示し
た。
【００１６】図３、４より、位置ずれ量の増加と共に、
信号対雑音比の変動が、高い平均受光レベルにおいて生
じている様子が分かる。
信号対雑音比の変動が、高い平均受光レベルにおいて生
じている様子が分かる。
【００１７】この原因は、位置ずれにともなうスペック
ル雑音の増加によるものである。
ル雑音の増加によるものである。
【００１８】この結果より、各オフセット時における、
一定信号対雑音比を得るための、平均受光レベルは大き
くする必要があることがわかる。
一定信号対雑音比を得るための、平均受光レベルは大き
くする必要があることがわかる。
【００１９】この結果は、位置ずれによる第２の光ファ
イバに伝送される受光パワーの減少のみならず、スペッ
クル雑音がもたらす、実質的な受光パワーの減少をも意
味し、結合損失の増加を意味することになる。
イバに伝送される受光パワーの減少のみならず、スペッ
クル雑音がもたらす、実質的な受光パワーの減少をも意
味し、結合損失の増加を意味することになる。
【００２０】これより、位置ずれ量＝０μｍ時におけ
る、一定信号対雑音比（ここでは符号誤り率＝１０-10
に相当する信号対雑音比を仮定している。）に対する、
スペックル雑音を含んだ結合損失と位置ずれ量の関係を
グラフ化すると、図５に示すようになる。図５中には、
従来法での位置ずれ量と結合損失との関係も記載してい
る。図に示すように、１ｄＢのレベルダウンを許容した
ときの位置ずれトレランスは、従来測定法では±１３μ
ｍであったのに対して、本発明による測定法では、スペ
ックル雑音により、±７μｍとなっている。
る、一定信号対雑音比（ここでは符号誤り率＝１０-10
に相当する信号対雑音比を仮定している。）に対する、
スペックル雑音を含んだ結合損失と位置ずれ量の関係を
グラフ化すると、図５に示すようになる。図５中には、
従来法での位置ずれ量と結合損失との関係も記載してい
る。図に示すように、１ｄＢのレベルダウンを許容した
ときの位置ずれトレランスは、従来測定法では±１３μ
ｍであったのに対して、本発明による測定法では、スペ
ックル雑音により、±７μｍとなっている。
【００２１】この結果、従来のトレランス測定法と比較
して約半分にまで、位置ずれトレランスが厳しくなって
いることが分かる。この結果から、接続部分のトレラン
ス評価にはスペックル雑音を含んだ本測定法が有効であ
ることが分かる。
して約半分にまで、位置ずれトレランスが厳しくなって
いることが分かる。この結果から、接続部分のトレラン
ス評価にはスペックル雑音を含んだ本測定法が有効であ
ることが分かる。
【００２２】
【発明の効果】以上説明したように本発明によれば、高
いコヒーレンシをもつレーザを光源とする短距離の多モ
ード光ファイバ伝送系（例えば、構内高速光ＬＡＮ等）
での光ファイバ接続部において、スペックル雑音を含ん
だ、実用性の高い接続トレランス評価が可能となるとと
もに、本評価結果を光ファイバ間接続に用いる光コネク
タ精度規定に生かすことができる。
いコヒーレンシをもつレーザを光源とする短距離の多モ
ード光ファイバ伝送系（例えば、構内高速光ＬＡＮ等）
での光ファイバ接続部において、スペックル雑音を含ん
だ、実用性の高い接続トレランス評価が可能となるとと
もに、本評価結果を光ファイバ間接続に用いる光コネク
タ精度規定に生かすことができる。
【図１】本発明の実施の形態に関わる測定系の説明図
【図２】測定系によって測定した、位置ずれ量＝０μｍ
時の平均受光レベルと信号対雑音比の関係を示す図
時の平均受光レベルと信号対雑音比の関係を示す図
【図３】測定系によって測定した、位置ずれ量＝５μｍ
時の平均受光レベルと信号対雑音比の関係を示す図
時の平均受光レベルと信号対雑音比の関係を示す図
【図４】測定系によって測定した、位置ずれ量＝１０μ
ｍ時の平均受光レベルと信号対雑音比の関係を示す図
ｍ時の平均受光レベルと信号対雑音比の関係を示す図
【図５】測定系によって測定した、位置ずれ量とスペッ
クル雑音を加味した結合損失の関係を示す図
クル雑音を加味した結合損失の関係を示す図
【図６】スペックル雑音の説明図
【図７】従来技術に関わる測定系の説明図
１…ＤＦＢ(Distributed Feed Back)レーザ、２…シン
グルモードファイバ、３…可変光減衰器、４…第１の多
モード光ファイバ、４ａ…第１の多モード光ファイバ端
面、４ｂ…第１の多モード光ファイバの光出射コア端
面、５…微動台、６…第２の多モード光ファイバ、６ａ
…第１の多モード光ファイバに対して位置ずれした第２
の多モード光フィアバの端面、６ｂ…第１の多モード光
ファイバコアからの出射光を受光する第２の多モード光
ファイバのコア端面、７…広帯域光／電気信号変換器、
８…オシロスコープ、９…変調信号伝送用同軸ケーブ
ル、１０…トリガ信号伝送用同軸ケーブル、１１…パル
ス波形発生装置、１２…アイソレータ、
グルモードファイバ、３…可変光減衰器、４…第１の多
モード光ファイバ、４ａ…第１の多モード光ファイバ端
面、４ｂ…第１の多モード光ファイバの光出射コア端
面、５…微動台、６…第２の多モード光ファイバ、６ａ
…第１の多モード光ファイバに対して位置ずれした第２
の多モード光フィアバの端面、６ｂ…第１の多モード光
ファイバコアからの出射光を受光する第２の多モード光
ファイバのコア端面、７…広帯域光／電気信号変換器、
８…オシロスコープ、９…変調信号伝送用同軸ケーブ
ル、１０…トリガ信号伝送用同軸ケーブル、１１…パル
ス波形発生装置、１２…アイソレータ、
Claims (2)
- 【請求項１】 任意の周波数のパルス波形発生装置によ
り信号変調した、狭線幅の単一スペクトラム波長を持つ
光信号を発生する光源と、 少なくとも２本の被測定多モード光ファイバのうち、第
１と第２の多モード光ファイバの各一端側において、互
いに対向する接続端面相対位置を任意に位置変更可能な
微動台と、 前記第１の多モード光ファイバの他端とシングルモード
光ファイバの一端との間に設けた可変光減衰器と、 前記シングルモード光ファイバの他端と光源との間に設
けたアイソレータと、 前記第２の多モード光ファイバの他端からの出力信号を
受光して、信号波形を計測並びに表示し、信号対雑音特
性を測定する伝送波形測定装置とからなる、 ことを特徴とする多モード光ファイバの接続トレランス
測定装置。 - 【請求項２】 伝送波形測定装置により第２の多モード
光ファイバからの出力信号が最大の振幅となるように、
第１の多モード光ファイバと第２の多モード光ファイバ
の接続端面相対位置関係を微動台により位置合わせを行
い、最大となった位置を第１と第２の多モード光ファイ
バ間相対位置ずれを０とし、この時の一定信号対雑音比
を得るために必要な平均受光レベルを求める第１の測定
手順と、 この後に、微動台により、任意に前記多モード光ファイ
バ間を相対位置ずれさせ、各位置ずれ量に対して、前記
一定信号対雑音比を得るために必要な平均受光レベルを
求める第２の測定手順と、 各位置ずれ量に対して、位置ずれがない場合の必要平均
受光レベルを基準とした、位置ずれ量増加と平均受光レ
ベル増加量との関係から、一定平均受光レベル増加量に
対して許容できる接続位置ずれを求める第３の測定手順
とからなる、 ことを特徴とする多モード光ファイバの接続トレランス
測定方法。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP02019096A JP3224081B2 (ja) | 1996-02-06 | 1996-02-06 | 多モード光ファイバの接続トレランス測定装置及び測定方法 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP02019096A JP3224081B2 (ja) | 1996-02-06 | 1996-02-06 | 多モード光ファイバの接続トレランス測定装置及び測定方法 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH09210857A true JPH09210857A (ja) | 1997-08-15 |
| JP3224081B2 JP3224081B2 (ja) | 2001-10-29 |
Family
ID=12020264
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP02019096A Expired - Fee Related JP3224081B2 (ja) | 1996-02-06 | 1996-02-06 | 多モード光ファイバの接続トレランス測定装置及び測定方法 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JP3224081B2 (ja) |
Cited By (4)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| GB2345761A (en) * | 1999-01-14 | 2000-07-19 | Samsung Electronics Co Ltd | Optical attenuating isolator |
| JP2002039911A (ja) * | 2000-07-27 | 2002-02-06 | Nippon Telegr & Teleph Corp <Ntt> | 導波路特性評価装置 |
| JP2007519324A (ja) * | 2003-12-23 | 2007-07-12 | ケンブリッジ・エンタープライズ・リミテッド | マルチサービス光通信 |
| JP2020509430A (ja) * | 2017-02-03 | 2020-03-26 | ドラカ コムテック フランス | １０６０ｎｍ周辺で動作するように最適化されたマルチモード光ファイバ、および対応するマルチモード光学システム |
-
1996
- 1996-02-06 JP JP02019096A patent/JP3224081B2/ja not_active Expired - Fee Related
Cited By (6)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
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| GB2345761A (en) * | 1999-01-14 | 2000-07-19 | Samsung Electronics Co Ltd | Optical attenuating isolator |
| GB2345761B (en) * | 1999-01-14 | 2001-04-25 | Samsung Electronics Co Ltd | Optical attenuating isolator |
| US6297901B1 (en) | 1999-01-14 | 2001-10-02 | Samsung Electronics Co., Ltd. | Optical attenuating isolator |
| JP2002039911A (ja) * | 2000-07-27 | 2002-02-06 | Nippon Telegr & Teleph Corp <Ntt> | 導波路特性評価装置 |
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| JP2020509430A (ja) * | 2017-02-03 | 2020-03-26 | ドラカ コムテック フランス | １０６０ｎｍ周辺で動作するように最適化されたマルチモード光ファイバ、および対応するマルチモード光学システム |
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| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JP3224081B2 (ja) | 2001-10-29 |
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