JPH09190996A - Manufacture of film structure - Google Patents

Manufacture of film structure

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JPH09190996A
JPH09190996A JP8161746A JP16174696A JPH09190996A JP H09190996 A JPH09190996 A JP H09190996A JP 8161746 A JP8161746 A JP 8161746A JP 16174696 A JP16174696 A JP 16174696A JP H09190996 A JPH09190996 A JP H09190996A
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JP
Japan
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thin film
substrate
manufacturing
film structure
sublimable substance
Prior art date
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Application number
JP8161746A
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Japanese (ja)
Inventor
Takeshi Irita
丈司 入田
Yoshihiko Suzuki
美彦 鈴木
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Nikon Corp
Original Assignee
Nikon Corp
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Publication date
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Abstract

PROBLEM TO BE SOLVED: To easily and surely prevent a film and a substrate or a film and a film from sticking fast, in the case of forming a film on a substrate. SOLUTION: To begin with, a film or a film layer to serve as sacrificed material is made on a substrate. Next, this substrate or the sacrificed material is etched by etchant to form very small space between the film and the film or between the film and the substrate. Then, this etchant is cleaned and removed by cleaning solution. Next, before the above cleaning liquid existing in the very small space dries, the molten sublimate is stuck between the above film and the film or between the film and the substrate. Next, this sublimate is solidified. Then, the above sublimate is sublimed.

Description

【発明の詳細な説明】Detailed Description of the Invention

【0001】[0001]

【発明の属する技術分野】本発明は、基板に薄膜を形成
してなる薄膜構造体の製造方法に関する。
BACKGROUND OF THE INVENTION 1. Field of the Invention The present invention relates to a method for manufacturing a thin film structure formed by forming a thin film on a substrate.

【0002】[0002]

【従来の技術】近年、半導体製造技術の発展にともな
い、これ等の技術を用いてミクロンオーダーの微小構造
物あるいは微小機械要素が得られるようになっている。
これ等の要素において、例えば、自己支持型の薄膜構造
体、すなわち薄膜の一部が基板から浮いており、基板に
弾性的に支持される構造体は、アクチュエータ(駆動要
素),センサー,マイクログリッパー(例えば特開平5
−253870号に開示)等へ応用する構造体として極
めて有用である。
2. Description of the Related Art In recent years, with the development of semiconductor manufacturing technology, microstructures or micromechanical elements of micron order have been obtained by using these technologies.
Among these elements, for example, a self-supporting thin film structure, that is, a structure in which a part of the thin film floats from the substrate and is elastically supported by the substrate is an actuator (driving element), a sensor, a microgripper. (For example, JP-A-5
It is extremely useful as a structure applied to (for example, disclosed in JP-A-253870).

【0003】従来、このような薄膜構造体を製造する場
合には、基板に薄膜の成膜と所望のパターニングを行っ
た後、基板自体あるいは基板と薄膜との間にある犠牲層
のみをエッチング溶液中で選択的にエッチングして取り
除く方法がとられている。このエッチングは、純水,イ
ソプロピルアルコール等の洗浄溶液に基板を浸し、エッ
チング溶液を充分に洗浄除去することにより終了され
る。
Conventionally, in the case of manufacturing such a thin film structure, after forming a thin film on a substrate and performing desired patterning, the substrate itself or only a sacrificial layer between the substrate and the thin film is etched with an etching solution. Among them, a method of selectively removing by etching is adopted. This etching is finished by immersing the substrate in a cleaning solution such as pure water or isopropyl alcohol, and sufficiently cleaning and removing the etching solution.

【0004】そして、基板を洗浄溶液から引き上げ乾燥
することにより目的の薄膜構造体が得られる。
Then, the target thin film structure is obtained by lifting the substrate from the cleaning solution and drying it.

【0005】[0005]

【発明が解決しようとする課題】しかしながら、従来の
薄膜構造体の製造方法では、エッチング溶液中で薄膜と
基板あるいは薄膜と薄膜との間に微小間隙を形成した後
に、洗浄溶液によりエッチング溶液を除去しているた
め、乾燥時に、薄膜と基板との間あるいは薄膜と薄膜と
の間の微小間隙に存在する洗浄溶液の表面張力により、
薄膜と基板あるいは薄膜と薄膜とが密着してしまうとい
う問題があった。
However, in the conventional method for manufacturing a thin film structure, the etching solution is removed by a cleaning solution after forming a minute gap between the thin film and the substrate or the thin film in the etching solution. Therefore, during drying, due to the surface tension of the cleaning solution existing in the minute gap between the thin film and the substrate or between the thin film and the thin film,
There has been a problem that the thin film and the substrate or the thin film and the thin film adhere to each other.

【0006】本発明は、かかる従来の問題を解決するた
めになされたもので、薄膜と基板あるいは薄膜と薄膜と
が密着することを容易,確実に防止することができる薄
膜構造体の製造方法を提供することを目的とする。
The present invention has been made in order to solve such a conventional problem, and provides a method of manufacturing a thin film structure capable of easily and surely preventing the thin film and the substrate or the thin film and the thin film from adhering to each other. The purpose is to provide.

【0007】[0007]

【課題を解決するための手段】請求項1の薄膜構造体の
製造方法は、基板上に薄膜あるいは犠牲材となる薄膜層
を形成する工程と、前記基板または犠牲材をエッチング
溶液によりエッチングし、薄膜と薄膜との間または薄膜
と基板との間に微小間隙を形成する工程と、前記エッチ
ング溶液を洗浄溶液により洗浄除去する工程と、前記微
小間隙に存在する前記洗浄溶液が乾燥する前に前記薄膜
と薄膜との間または薄膜と基板との間に溶融状態の昇華
性物質を付着させる工程と、前記昇華性物質を凝固させ
る工程と、前記昇華性物質を昇華させる工程とを有する
ことを特徴とする。
According to a first aspect of the present invention, there is provided a method of manufacturing a thin film structure, which comprises a step of forming a thin film layer serving as a thin film or a sacrificial material on a substrate, and etching the substrate or the sacrificial material with an etching solution. Forming a minute gap between the thin films or between the thin film and the substrate; cleaning and removing the etching solution with a cleaning solution; and before the cleaning solution present in the minute gap is dried, It has a step of adhering a sublimable substance in a molten state between the thin films or between the thin film and the substrate, a step of solidifying the sublimable substance, and a step of sublimating the sublimable substance And

【0008】請求項2の薄膜構造体の製造方法は、基板
上に薄膜あるいは犠牲材となる薄膜層を形成する工程
と、前記基板または犠牲材をエッチング溶液によりエッ
チングし、薄膜と薄膜との間または薄膜と基板との間に
微小間隙を形成する工程と、前記エッチング溶液を洗浄
溶液により洗浄除去する工程と、前記洗浄溶液が乾燥す
る前に前記洗浄溶液および昇華性物質になじみの良好な
前処理溶剤を付着する工程と、前記微小間隙に存在する
前記前処理溶剤が乾燥する前に前記薄膜と薄膜との間ま
たは薄膜と基板との間に溶融状態の昇華性物質を付着さ
せる工程と、前記昇華性物質を凝固させる工程と、前記
昇華性物質を昇華させる工程とを有することを特徴とす
る。
According to a second aspect of the present invention, there is provided a method of manufacturing a thin film structure, wherein a step of forming a thin film or a thin film layer serving as a sacrificial material on a substrate, and etching the substrate or the sacrificial material with an etching solution, Alternatively, a step of forming a minute gap between the thin film and the substrate, a step of washing and removing the etching solution with a washing solution, and a step of being well familiar with the washing solution and the sublimable substance before the washing solution is dried. A step of depositing a treatment solvent, a step of depositing a molten sublimable substance between the thin film and the thin film or between the thin film and the substrate before the pretreatment solvent present in the minute gap is dried, It is characterized by including a step of solidifying the sublimable substance and a step of sublimating the sublimable substance.

【0009】請求項3の薄膜構造体の製造方法は、請求
項1または2記載の薄膜構造体の製造方法において、前
記昇華性物質の昇華を、大気圧中で行うことを特徴とす
る。請求項4の薄膜構造体の製造方法は、請求項3記載
の薄膜構造体の製造方法において、前記昇華性物質の昇
華を、常温で行うことを特徴とする。請求項5の薄膜構
造体の製造方法は、請求項1ないし4のいずれか1項記
載の薄膜構造体の製造方法において、前記溶融状態の昇
華性物質の温度が、50℃以上で220℃以下であるこ
とを特徴とする。
A method of manufacturing a thin film structure according to a third aspect is the method of manufacturing a thin film structure according to the first or second aspect, wherein sublimation of the sublimable substance is performed at atmospheric pressure. A thin film structure manufacturing method according to a fourth aspect is the thin film structure manufacturing method according to the third aspect, wherein the sublimation of the sublimable substance is performed at room temperature. A method for producing a thin film structure according to claim 5 is the method for producing a thin film structure according to any one of claims 1 to 4, wherein the temperature of the sublimable substance in the molten state is 50 ° C or higher and 220 ° C or lower. Is characterized in that.

【0010】請求項6の薄膜構造体の製造方法は、請求
項1ないし5のいずれか1項記載の薄膜構造体の製造方
法において、前記昇華性物質は、ナフタレンまたはパラ
ジクロロベンゼンからなることを特徴とする。請求項7
の薄膜構造体の製造方法は、請求項1ないし6のいずれ
か1項記載の薄膜構造体の製造方法において、前記前処
理溶剤は、イソプロピルアルコール,メタノール,エタ
ノール,ブタノール,アセトン,エーテルまたはシクロ
ヘキサノールから選ばれた1の物質またはこれらの混合
液からなることを特徴とする。
A method of manufacturing a thin film structure according to claim 6 is the method of manufacturing a thin film structure according to any one of claims 1 to 5, wherein the sublimable substance is naphthalene or paradichlorobenzene. And Claim 7
7. The method for producing a thin film structure according to any one of claims 1 to 6, wherein the pretreatment solvent is isopropyl alcohol, methanol, ethanol, butanol, acetone, ether or cyclohexanol. It is characterized by comprising one substance selected from the following or a mixed solution thereof.

【0011】(作用)請求項1の薄膜構造体の製造方法
では、先ず、基板上に薄膜あるいは犠牲材となる薄膜層
が形成される。次に、基板または犠牲材がエッチング溶
液によりエッチングされ、薄膜と薄膜との間または薄膜
と基板との間に微小間隙が形成される。
(Operation) In the method of manufacturing a thin film structure according to the first aspect, first, a thin film or a thin film layer serving as a sacrificial material is formed on a substrate. Next, the substrate or the sacrificial material is etched with an etching solution to form a minute gap between the thin films or between the thin film and the substrate.

【0012】この後、エッチング溶液が洗浄溶液により
洗浄除去される。次に、微小間隙に存在する洗浄溶液が
乾燥する前に、薄膜と薄膜との間または薄膜と基板との
間の微小間隙に溶融状態の昇華性物質が付着される。
After that, the etching solution is washed away by the cleaning solution. Next, before the cleaning solution existing in the minute gap is dried, a sublimable substance in a molten state is attached to the minute gap between the thin films or between the thin film and the substrate.

【0013】そして、昇華性物質が凝固された後、その
まま昇華され所定の薄膜構造体が得られる。請求項2の
薄膜構造体の製造方法では、先ず、基板上に薄膜あるい
は犠牲材となる薄膜層が形成される。次に、基板または
犠牲材がエッチング溶液によりエッチングされ、薄膜と
薄膜との間または薄膜と基板との間に微小間隙が形成さ
れる。
After the sublimable substance is solidified, it is sublimated as it is to obtain a predetermined thin film structure. In the method of manufacturing the thin film structure according to the second aspect, first, a thin film or a thin film layer serving as a sacrificial material is formed on the substrate. Next, the substrate or the sacrificial material is etched with an etching solution to form a minute gap between the thin films or between the thin film and the substrate.

【0014】この後、エッチング溶液が洗浄溶液により
洗浄除去される。次に、微小間隙に存在する洗浄溶液が
乾燥する前に、洗浄溶液および昇華性物質になじみの良
好な前処理溶剤が洗浄溶液に置き換えて付着される。こ
の後、微小間隙に存在する前処理溶剤が乾燥する前に、
薄膜と薄膜との間または薄膜と基板との間の微小間隙に
溶融状態の昇華性物質が付着される。
After that, the etching solution is washed away by the cleaning solution. Next, before the cleaning solution existing in the minute gap is dried, a pretreatment solvent that is well compatible with the cleaning solution and the sublimable substance is replaced with the cleaning solution and deposited. After this, before the pretreatment solvent present in the minute gap is dried,
A sublimable substance in a molten state is attached to a minute gap between the thin films or between the thin films and the substrate.

【0015】そして、昇華性物質が凝固された後、その
まま昇華され所定の薄膜構造体が得られる。請求項3の
薄膜構造体の製造方法では、昇華性物質の昇華が、大気
圧中で行われる。請求項4の薄膜構造体の製造方法で
は、昇華性物質の昇華が、常温(例えば、10℃以上で
40℃以下の温度)で行われる。
After the sublimable substance is solidified, it is sublimated as it is to obtain a predetermined thin film structure. In the thin film structure manufacturing method of the third aspect, sublimation of the sublimable substance is performed at atmospheric pressure. In the thin film structure manufacturing method of the fourth aspect, sublimation of the sublimable substance is performed at room temperature (for example, a temperature of 10 ° C. or higher and 40 ° C. or lower).

【0016】請求項5の薄膜構造体の製造方法では、溶
融状態の昇華性物質の温度が、50℃以上で220℃以
下とされる。請求項6の薄膜構造体の製造方法では、昇
華性物質に、融点の比較的低いナフタレンまたはパラジ
クロロベンゼンが使用される。請求項7の薄膜構造体の
製造方法では、前処理溶剤として、イソプロピルアルコ
ール,メタノール,エタノール,ブタノール,アセト
ン,エーテルまたはシクロヘキサノールから選ばれた1
の物質またはこれらの混合液が使用される。
In the method of manufacturing a thin film structure according to a fifth aspect, the temperature of the sublimable substance in a molten state is set to 50 ° C. or higher and 220 ° C. or lower. In the method of manufacturing a thin film structure according to claim 6, naphthalene or paradichlorobenzene having a relatively low melting point is used as the sublimable substance. In the method for manufacturing a thin film structure according to claim 7, the pretreatment solvent is selected from isopropyl alcohol, methanol, ethanol, butanol, acetone, ether or cyclohexanol.
Substances or mixtures thereof are used.

【0017】[0017]

【発明の実施の形態】以下、本発明の実施形態を図面を
用いて詳細に説明する。図1は、本発明の薄膜構造体の
製造方法の第1の実施形態により製造されたフレキシブ
ルマイクログリッパー(Jpn.J.Appl.Phys.vol.33 pp210
7-2112 1994参照)を示している。
Embodiments of the present invention will be described below in detail with reference to the drawings. FIG. 1 shows a flexible microgripper (Jpn.J.Appl.Phys.vol.33 pp210) manufactured according to the first embodiment of the method for manufacturing a thin film structure of the present invention.
7-2112 1994).

【0018】このフレキシブルマイクログリッパーは、
シリコン(Si)からなる支持体11の両面から、窒化
シリコン膜からなる一対のフィンガー部13,15を突
出して形成されている。そして、一対のフィンガー部1
3,15の間に微小間隙17が形成されている。フィン
ガー部13,15には、金からなる薄膜コイル19が形
成されている。
This flexible micro gripper is
A pair of finger portions 13 and 15 made of a silicon nitride film are formed so as to project from both surfaces of the support 11 made of silicon (Si). And a pair of finger parts 1
A minute gap 17 is formed between 3 and 15. A thin film coil 19 made of gold is formed on the finger portions 13 and 15.

【0019】薄膜コイル19は、支持体11の両面に形
成される金からなる電極21に接続されている。フィン
ガー部13,15の先端には、保持突起23が形成され
ている。上述したフレキシブルマイクログリッパーは、
本発明の薄膜構造体の製造方法の第1の実施形態により
以下述べるように製造される。
The thin film coil 19 is connected to electrodes 21 made of gold and formed on both surfaces of the support 11. A holding protrusion 23 is formed at the tip of each of the finger portions 13 and 15. The flexible micro gripper described above
It is manufactured as described below by the first embodiment of the method for manufacturing a thin film structure of the present invention.

【0020】先ず、図2の(a),(b)に示すよう
に、シリコン基板25の両面の全体に、LPCVD法に
より厚さ0.7μmの窒化シリコン膜27が成膜され
る。次に、この窒化シリコン膜27が、フィンガー部1
3および支持体11の形状が得られるようにパターニン
グされる。この後、金からなる薄膜コイル19および電
極21がリフトオフ法により形成される。
First, as shown in FIGS. 2A and 2B, a 0.7-μm thick silicon nitride film 27 is formed by LPCVD on the entire surface of both sides of the silicon substrate 25. Next, the silicon nitride film 27 is applied to the finger portion 1
3 and the support 11 are patterned. After that, the thin film coil 19 and the electrode 21 made of gold are formed by the lift-off method.

【0021】次に、試料が水酸化カリウム(KOH)水
溶液に浸漬され、シリコン基板25の不要なシリコン部
がエッチングにより除去され、(c)に示すような試料
が得られる。
Next, the sample is immersed in an aqueous solution of potassium hydroxide (KOH), and unnecessary silicon portions of the silicon substrate 25 are removed by etching to obtain a sample as shown in (c).

【0022】この後、試料が純水により洗浄され、水酸
化カリウム水溶液が除去されエッチングが停止される。
次に、純水が乾燥する前に、試料がイソプロピルアルコ
ールに浸漬され、一対のフィンガー部13,15の間の
微小間隙17に存在する純水がイソプロピルアルコール
に置き換えられる。
After that, the sample is washed with pure water, the potassium hydroxide aqueous solution is removed, and the etching is stopped.
Next, before the pure water is dried, the sample is immersed in isopropyl alcohol, and the pure water present in the minute gap 17 between the pair of finger portions 13 and 15 is replaced with isopropyl alcohol.

【0023】この後、イソプロピルアルコールから試料
が引き上げられ、乾燥する前に、溶融状態のナフタレン
溶液に浸漬される。なお、ナフタレン溶液は融点である
80℃より若干高い温度まで加熱され溶融状態とされて
いる。次に、試料の細部までナフタレン溶液が付着した
ところで、試料が常温かつ大気圧の空気中に引き上げら
れナフタレンが迅速に凝固される。
After this, the sample is taken out of isopropyl alcohol and immersed in a molten naphthalene solution before being dried. The naphthalene solution is heated to a temperature slightly higher than the melting point of 80 ° C. to be in a molten state. Next, when the naphthalene solution adheres to the details of the sample, the sample is pulled up into the air at room temperature and atmospheric pressure to rapidly solidify the naphthalene.

【0024】なお、ここで常温とは、例えば10℃以上
で40℃以下の通常室内雰囲気温度であり、大気圧とは
約1気圧の圧力をいう。この後、試料に付着しているナ
フタレンが常温かつ大気圧の空気中で昇華除去され、図
1に示したようなフレキシブルマイクログリッパーが製
造される。上述した工程を簡単にまとめると図3に示す
ようになる。
The room temperature here means a normal room atmosphere temperature of, for example, 10 ° C. or higher and 40 ° C. or lower, and the atmospheric pressure means a pressure of about 1 atm. After that, the naphthalene adhering to the sample is removed by sublimation in air at room temperature and atmospheric pressure, and a flexible microgripper as shown in FIG. 1 is manufactured. The above steps are summarized as shown in FIG.

【0025】上述した薄膜構造体の製造方法では、一対
のフィンガー部13,15の間の微小間隙17に存在す
るイソプロピルアルコールが乾燥する前に、一対のフィ
ンガー部13,15の間に溶融状態のナフタレンを付着
し、付着したナフタレンをそのまま凝固,昇華するよう
にしたので、一対のフィンガー部13,15が密着する
ことを容易,確実に防止することができる。
In the method of manufacturing the thin film structure described above, before the isopropyl alcohol existing in the minute gap 17 between the pair of finger portions 13 and 15 is dried, the molten state is maintained between the pair of finger portions 13 and 15. Since the naphthalene is adhered and the adhered naphthalene is solidified and sublimated as it is, it is possible to easily and surely prevent the pair of finger portions 13 and 15 from adhering to each other.

【0026】すなわち、従来のようにエッチング溶液中
で一対のフィンガー部13,15を形成した後に、洗浄
溶液によりエッチング溶液を除去し、このまま洗浄溶液
を乾燥すると、一対のフィンガー部13,15の間の微
小間隙17に存在する洗浄溶液の表面張力により、乾燥
時に一対のフィンガー部13,15が密着するという問
題が発生するが、上述した製造方法では、一対のフィン
ガー部13,15の間に溶融状態のナフタレンを付着し
て洗浄溶液を除去し、付着したナフタレンをそのまま凝
固,昇華するようにしたので、一対のフィンガー部1
3,15が密着することを容易,確実に防止することが
できる。
That is, when the pair of fingers 13 and 15 are formed in the etching solution as in the conventional case, the etching solution is removed by the cleaning solution and the cleaning solution is dried as it is, so that the space between the pair of fingers 13 and 15 is removed. Due to the surface tension of the cleaning solution present in the minute gap 17, the pair of finger portions 13 and 15 adhere to each other during drying. However, in the above-described manufacturing method, the pair of finger portions 13 and 15 are melted between the pair of finger portions 13 and 15. The naphthalene in the state is attached to remove the cleaning solution, and the attached naphthalene is allowed to coagulate and sublime as it is.
It is possible to easily and surely prevent the 3, 15 from coming into close contact with each other.

【0027】そして、上述した薄膜構造体の製造方法で
は、エッチング溶液を純水により洗浄除去した後、一対
のフィンガー部13,15の間の微小間隙17に存在す
る純水が乾燥する前に、純水を、純水および昇華性物質
になじみの良好なイソプロピルアルコールに置き換えて
付着させ、この後、微小間隙17に存在するイソプロピ
ルアルコールが乾燥する前に、イソプロピルアルコール
に置き換えて溶融状態のナフタレンを付着するようにし
たので、ナフタレンを薄膜構造体の微小間隙17に迅
速,確実に付着することができる。
In the method of manufacturing the thin film structure described above, after the etching solution is washed away with pure water and before the pure water present in the minute gap 17 between the pair of finger portions 13 and 15 is dried, Pure water is replaced with pure water and isopropyl alcohol which is well compatible with sublimable substances to be adhered. After that, before the isopropyl alcohol present in the minute gaps 17 is dried, it is replaced with isopropyl alcohol to remove the naphthalene in a molten state. Since they are attached, naphthalene can be attached to the minute gaps 17 of the thin film structure quickly and reliably.

【0028】また、上述した薄膜構造体の製造方法で
は、ナフタレンの昇華を大気圧中で行うようにしたの
で、特別な圧力雰囲気を形成することなく、ナフタレン
を容易,確実に昇華することができる。さらに、上述し
た製造方法では、ナフタレンの昇華を、常温の室温で行
うようにしたので、特別な温度雰囲気を形成することな
く、ナフタレンを容易,確実に昇華することができる。
Further, in the above-mentioned method for manufacturing a thin film structure, since the sublimation of naphthalene is carried out at atmospheric pressure, the naphthalene can be sublimated easily and surely without forming a special pressure atmosphere. . Further, in the above-described manufacturing method, since the sublimation of naphthalene is performed at room temperature at room temperature, it is possible to easily and reliably sublimate naphthalene without forming a special temperature atmosphere.

【0029】また、上述した製造方法では、80℃程度
の比較的低温度においてナフタレンを溶融するようにし
たので、ナフタレンを容易に溶融することができる。さ
らに、上述した薄膜構造体の製造方法では、昇華性物質
に、融点の比較的低いナフタレンを使用したので、一対
のフィンガー部13,15の間の微小間隙17に溶融状
態の昇華性物質を容易,確実に付着することができる。
Further, in the above-described manufacturing method, since naphthalene is melted at a relatively low temperature of about 80 ° C., naphthalene can be easily melted. Further, in the above-described method for manufacturing a thin film structure, since the sublimable substance is naphthalene having a relatively low melting point, the molten sublimable substance can be easily formed in the minute gap 17 between the pair of finger portions 13 and 15. , It can be surely attached.

【0030】図4は、本発明の薄膜構造体の製造方法の
第2の実施形態により製造された薄膜構造体を示してい
る。この薄膜構造体は、シリコン(Si)からなる支持
体29の一面に、多結晶シリコンからなる片持ち梁31
および両持ち梁を突出して形成されている。
FIG. 4 shows a thin film structure manufactured by the second embodiment of the method for manufacturing a thin film structure of the present invention. In this thin film structure, a cantilever 31 made of polycrystalline silicon is provided on one surface of a support 29 made of silicon (Si).
And a doubly supported beam.

【0031】そして、片持ち梁31と支持体29、およ
び両持ち梁33と支持体29との間に微小間隙35,3
7が形成されている。上述した薄膜構造体は、本発明の
薄膜構造体の製造方法の第2の実施形態により以下述べ
るように製造される。先ず、図5の(a)に示すよう
に、シリコン基板39の一面に、犠牲層41となる酸化
シリコン膜が、スパッタリングにより成膜されパターニ
ングされる。
Then, the minute gaps 35 and 3 are provided between the cantilever 31 and the support 29, and between the cantilever 33 and the support 29.
7 are formed. The above-mentioned thin film structure is manufactured as described below by the second embodiment of the method for manufacturing a thin film structure of the present invention. First, as shown in FIG. 5A, a silicon oxide film to be the sacrificial layer 41 is formed on one surface of the silicon substrate 39 by sputtering and patterned.

【0032】次に、犠牲層41の外側に、多結晶シリコ
ン膜43がCVD法により成膜され、片持ち梁31およ
び両持ち梁33となる形状が得られるようにパターニン
グされる。この後、試料がフッ酸(HF)水溶液に浸漬
され、犠牲層41がエッチングにより除去され、(c)
に示すような試料が得られる。
Next, a polycrystalline silicon film 43 is formed on the outer side of the sacrificial layer 41 by the CVD method, and is patterned so that the shapes of the cantilever beam 31 and the cantilever beam 33 are obtained. After that, the sample is immersed in an aqueous solution of hydrofluoric acid (HF), the sacrificial layer 41 is removed by etching, and (c)
A sample as shown in is obtained.

【0033】この後、試料が純水により洗浄され、フッ
酸水溶液が除去されエッチングが停止される。次に、試
料がイソプロピルアルコールに浸漬される。この後、イ
ソプロピルアルコールから試料が引き上げられ、乾燥す
る前に、溶融状態のナフタレン溶液に浸漬される。
After that, the sample is washed with pure water, the hydrofluoric acid aqueous solution is removed, and the etching is stopped. Next, the sample is immersed in isopropyl alcohol. After that, the sample is taken out from isopropyl alcohol and immersed in a molten naphthalene solution before being dried.

【0034】なお、ナフタレン溶液は融点である80℃
より若干高い温度まで加熱され溶融状態とされている。
次に、試料の細部までナフタレン溶液が付着したところ
で、試料が常温かつ大気圧の空気中に引き上げられナフ
タレンが迅速に凝固される。この後、試料に付着してい
るナフタレンが常温かつ大気圧の空気中で昇華除去さ
れ、図4に示したような片持ち梁31および両持ち梁3
3を有する薄膜構造体が製造される。
The naphthalene solution has a melting point of 80 ° C.
It is heated to a slightly higher temperature and is in a molten state.
Next, when the naphthalene solution adheres to the details of the sample, the sample is pulled up into the air at room temperature and atmospheric pressure to rapidly solidify the naphthalene. After that, the naphthalene adhering to the sample is removed by sublimation in air at room temperature and atmospheric pressure, and the cantilever beam 31 and the cantilever beam 3 as shown in FIG.
A thin film structure having 3 is produced.

【0035】上述した薄膜構造体の製造方法では、片持
ち梁31と支持体29との間の微小間隙35に存在する
イソプロピルアルコールが乾燥する前に、片持ち梁31
と支持体29との間の微小間隙35に溶融状態のナフタ
レンを付着し、付着したナフタレンをそのまま凝固,昇
華するようにしたので、片持ち梁31と支持体29とが
密着することを容易,確実に防止することができる。
In the method of manufacturing the thin film structure described above, the cantilever 31 is formed before the isopropyl alcohol existing in the minute gap 35 between the cantilever 31 and the support 29 is dried.
Since the naphthalene in a molten state is attached to the minute gap 35 between the support 29 and the support 29, the attached naphthalene is solidified and sublimated as it is, so that the cantilever 31 and the support 29 can be easily attached to each other. It can be surely prevented.

【0036】図6および図7は、本発明の薄膜構造体の
製造方法の第3の実施形態により製造されたマイクロ静
電モータを示している。このマイクロ静電モータでは、
シリコン(Si)からなる円柱状の支持体45の一面
に、窒化シリコン層47が形成されている。なお、支持
体45の形状は、円柱状に限定されるものではない。
6 and 7 show a micro-electrostatic motor manufactured by the third embodiment of the method for manufacturing a thin film structure of the present invention. With this micro electrostatic motor,
A silicon nitride layer 47 is formed on one surface of a cylindrical support body 45 made of silicon (Si). The shape of the support body 45 is not limited to the cylindrical shape.

【0037】窒化シリコン層47の中央には、軸受部4
9と軸受支持部51とからなる軸受け53が突出して形
成されている。軸受部49と軸受支持部51とは、多結
晶シリコンからなる。軸受部49には、多結晶シリコン
からなるローター55が回転可能に支持されている。
The bearing portion 4 is provided at the center of the silicon nitride layer 47.
A bearing 53, which is composed of 9 and a bearing support 51, is formed so as to project. The bearing portion 49 and the bearing support portion 51 are made of polycrystalline silicon. A rotor 55 made of polycrystalline silicon is rotatably supported on the bearing 49.

【0038】そして、ローター55と窒化シリコン層4
7との間に微小間隙57が形成されている。ローター5
5の外側には、多結晶シリコンからなるステーター59
が形成されている。ステーター59の上面には、アルミ
電極61が形成されている。
Then, the rotor 55 and the silicon nitride layer 4
A minute gap 57 is formed between the first and second electrodes. Rotor 5
On the outside of 5, a stator 59 made of polycrystalline silicon
Are formed. An aluminum electrode 61 is formed on the upper surface of the stator 59.

【0039】上述したマイクロ静電モータは、本発明の
薄膜構造体の製造方法の第3の実施形態により以下述べ
るように製造される。先ず、図8の(a)に示すよう
に、シリコン基板63の一面に、電気的アイソレーショ
ンを目的として窒化シリコン層47が成膜される。
The above-described micro-electrostatic motor is manufactured as described below according to the third embodiment of the method for manufacturing a thin film structure of the present invention. First, as shown in FIG. 8A, a silicon nitride layer 47 is formed on one surface of the silicon substrate 63 for the purpose of electrical isolation.

【0040】次に、第1の犠牲層65となる燐化シリコ
ンガラス(Phosphosilicate-Glass)が、LPCVD法
により堆積されパターニングされる。次に、(b)に示
すように、第1の犠牲層65の外側に、多結晶シリコン
67がLPCVD法により堆積され、回転子となるロー
ター55、ローター55の周囲を囲むステーター59、
軸受支持部51の形状が得られるようにパターニングさ
れる。
Next, silicon phosphide glass (Phosphosilicate-Glass) to be the first sacrificial layer 65 is deposited and patterned by the LPCVD method. Next, as shown in (b), polycrystalline silicon 67 is deposited on the outer side of the first sacrificial layer 65 by the LPCVD method to form a rotor 55 that serves as a rotor, and a stator 59 that surrounds the rotor 55.
It is patterned so that the shape of the bearing support portion 51 is obtained.

【0041】この後、(c)に示すように、第2の犠牲
層69となる燐化シリコンガラスが、LPCVD法によ
り堆積されパターニングされる。次に、(d)に示すよ
うに、第2の犠牲層69の外側に、多結晶シリコン71
がLPCVD法により堆積され、軸受部49の形状が得
られるようにパターニングされる。
Thereafter, as shown in FIG. 3C, a silicon phosphide glass serving as the second sacrificial layer 69 is deposited and patterned by the LPCVD method. Next, as shown in (d), the polycrystalline silicon 71 is formed outside the second sacrificial layer 69.
Are deposited by the LPCVD method and are patterned so that the shape of the bearing 49 is obtained.

【0042】この後、試料がフッ酸水溶液に浸漬され、
燐化シリコンガラスからなる第1および第2の犠牲層6
5,69がエッチングにより除去され、(e)に示すよ
うな試料が得られる。この後、試料が純水により洗浄さ
れ、フッ酸水溶液が除去されエッチングが停止される。
After that, the sample was immersed in an aqueous solution of hydrofluoric acid,
First and second sacrificial layers 6 made of silicon phosphide glass
5,69 are removed by etching to obtain a sample as shown in (e). After that, the sample is washed with pure water, the hydrofluoric acid aqueous solution is removed, and etching is stopped.

【0043】次に、試料がイソプロピルアルコールに浸
漬される。この後、イソプロピルアルコールから試料が
引き上げられ、乾燥する前に、溶融状態のナフタレン溶
液に浸漬される。なお、ナフタレン溶液は融点である8
0℃より若干高い温度まで加熱され溶融状態とされてい
る。
Next, the sample is immersed in isopropyl alcohol. After that, the sample is taken out from isopropyl alcohol and immersed in a molten naphthalene solution before being dried. The naphthalene solution has a melting point of 8
It is heated to a temperature slightly higher than 0 ° C and is in a molten state.

【0044】次に、試料の細部までナフタレン溶液が付
着したところで、試料が常温かつ大気圧の空気中に引き
上げられナフタレンが迅速に凝固される。この後、試料
に付着しているナフタレンが常温かつ大気圧の空気中で
昇華除去され、図6に示したようなマイクロ静電モータ
が製造される。
Next, when the naphthalene solution adheres to the details of the sample, the sample is pulled up into the air at room temperature and atmospheric pressure to rapidly solidify the naphthalene. After that, the naphthalene adhering to the sample is removed by sublimation in air at room temperature and atmospheric pressure, and a micro electrostatic motor as shown in FIG. 6 is manufactured.

【0045】上述した薄膜構造体の製造方法では、ロー
ター55と窒化シリコン層47との間の微小間隙57に
存在するイソプロピルアルコールが乾燥する前に、ロー
ター55と窒化シリコン層47との間の微小間隙57に
溶融状態のナフタレンを付着し、付着したナフタレンを
そのまま凝固,昇華するようにしたので、ローター55
と窒化シリコン層47とが密着することを容易,確実に
防止することができる。
In the method of manufacturing a thin film structure described above, before the isopropyl alcohol existing in the minute gap 57 between the rotor 55 and the silicon nitride layer 47 is dried, the minute amount between the rotor 55 and the silicon nitride layer 47 is reduced. Molten naphthalene is attached to the gap 57, and the attached naphthalene is solidified and sublimated as it is.
It is possible to easily and surely prevent the silicon nitride layer 47 and the silicon nitride layer 47 from coming into close contact with each other.

【0046】なお、以上述べた実施形態では、昇華性物
質にナフタレンを用いた例について説明したが、本発明
はかかる実施形態に限定されるものではなく、昇華性物
質には、例えば、次表に示すような物質を使用すること
ができる。
In the embodiment described above, an example in which naphthalene is used as the sublimable substance has been described. However, the present invention is not limited to this embodiment, and the sublimable substance may be, for example, A substance as shown in can be used.

【表1】 これ等の昇華性物質のうちナフタレンおよびパラジクロ
ロベンゼンは、融点が比較的低いため、扱いが容易であ
り、また微小間隙17,35,57への付着性も良好で
ある。
[Table 1] Among these sublimable substances, naphthalene and paradichlorobenzene have a relatively low melting point, and thus are easy to handle and have good adhesion to the minute gaps 17, 35 and 57.

【0047】また、以上述べた実施形態では、前処理溶
剤に、純水および昇華性物質になじみの良好なイソプロ
ピルアルコールを用いた例について説明したが、本発明
はかかる実施形態に限定されるものではなく、例えば、
純水および昇華性物質になじみの良好な、メタノール,
エタノール,ブタノール,アセトン,エーテルまたはシ
クロヘキサノールから選ばれた1の物質またはこれらの
混合液を使用しても良い。
Further, in the above-mentioned embodiment, an example in which pure water and isopropyl alcohol which is well compatible with the sublimable substance are used as the pretreatment solvent has been described, but the present invention is not limited to this embodiment. Not, for example,
Methanol, which is familiar to pure water and sublimable substances,
One substance selected from ethanol, butanol, acetone, ether, cyclohexanol or a mixture thereof may be used.

【0048】さらに、以上述べた実施形態では、洗浄溶
液に純水を用いた例について説明したが、本発明はかか
る実施形態に限定されるものではなく、例えば、界面活
性剤あるいはアルコールを含む水溶液、またはアルコー
ルを使用しても良い。そして、洗浄溶液に、イソプロピ
ルアルコール等のアルコールを使用する場合には、アル
コールが洗浄溶液と前処理溶剤とを兼ねるため、別途前
処理溶剤を使用することなく直接昇華性物質を付着する
ことができる。
Furthermore, in the above-described embodiment, an example in which pure water is used as the cleaning solution has been described, but the present invention is not limited to this embodiment, and for example, an aqueous solution containing a surfactant or alcohol. Alternatively, alcohol may be used. When an alcohol such as isopropyl alcohol is used as the cleaning solution, the alcohol serves as both the cleaning solution and the pretreatment solvent, so that the sublimable substance can be directly attached without using a separate pretreatment solvent. .

【0049】[0049]

【発明の効果】以上述べたように、請求項1の薄膜構造
体の製造方法では、薄膜と薄膜との間または薄膜と基板
との間の微小間隙に存在する洗浄溶液が乾燥する前に、
微小間隙に溶融状態の昇華性物質を付着し、付着した昇
華性物質をそのまま凝固,昇華するようにしたので、薄
膜と基板あるいは薄膜と薄膜とが密着することを容易,
確実に防止することができる。
As described above, in the method of manufacturing a thin film structure according to the first aspect, before the cleaning solution existing in the minute gap between the thin films or between the thin films and the substrate is dried,
Since a sublimable substance in a molten state is attached to the minute gap and the attached sublimable substance is solidified and sublimated as it is, it is easy to adhere the thin film to the substrate or the thin film to the thin film.
It can be surely prevented.

【0050】請求項2の薄膜構造体の製造方法において
も請求項1と同様の効果を得ることができるが、請求項
2の薄膜構造体の製造方法では、エッチング溶液を洗浄
溶液により洗浄除去した後、薄膜と薄膜との間または薄
膜と基板との間の微小間隙に存在する洗浄溶液が乾燥す
る前に、洗浄溶液および昇華性物質になじみの良好な前
処理溶剤を洗浄溶液に置き換えて付着させ、この後、微
小間隙に存在する前処理溶剤が乾燥する前に、前処理溶
剤に置き換えて溶融状態の昇華性物質を付着するように
したので、昇華性物質を薄膜構造体の微小間隙に迅速,
確実に付着することができる。
The same effect as in claim 1 can be obtained in the method of manufacturing a thin film structure according to claim 2, but in the method of manufacturing a thin film structure according to claim 2, the etching solution is washed and removed by a cleaning solution. After that, before the cleaning solution existing in the minute gap between the thin film and the thin film or between the thin film and the substrate dries, the cleaning solution and the pretreatment solvent that is well compatible with the sublimable substance are replaced by the cleaning solution and attached. After that, before the pretreatment solvent existing in the minute gap is dried, the sublimable substance in the molten state is attached to the pretreatment solvent by replacing it with the pretreatment solvent, so that the sublimable substance is adhered to the minute gap of the thin film structure. fast,
Can be reliably attached.

【0051】請求項3の薄膜構造体の製造方法では、昇
華性物質の昇華を大気圧中で行うようにしたので、特別
な圧力雰囲気を形成することなく、昇華性物質を容易,
確実に昇華することができる。請求項4の薄膜構造体の
製造方法では、昇華性物質の昇華を、常温で行うように
したので、特別な温度雰囲気を形成することなく、昇華
性物質を容易,確実に昇華することができる。
In the method of manufacturing a thin film structure according to the third aspect of the invention, since the sublimation substance is sublimated at atmospheric pressure, the sublimation substance can be easily formed without forming a special pressure atmosphere.
It can surely sublime. In the method for manufacturing a thin film structure according to claim 4, since the sublimation substance is sublimated at room temperature, the sublimation substance can be easily and surely sublimated without forming a special temperature atmosphere. .

【0052】請求項5の薄膜構造体の製造方法では、溶
融状態の昇華性物質の温度を、50℃以上で220℃以
下にしたので、比較的低温度において、昇華性物質を容
易,確実に溶融することができる。請求項6の薄膜構造
体の製造方法では、昇華性物質に、融点の比較的低いナ
フタレンまたはパラジクロロベンゼンを使用するように
したので、薄膜と基板との間に溶融状態の昇華性物質を
容易,確実に付着することができる。
In the method for manufacturing a thin film structure according to the fifth aspect, since the temperature of the sublimable substance in a molten state is set to 50 ° C. or higher and 220 ° C. or lower, the sublimable substance can be easily and surely held at a relatively low temperature. It can be melted. In the method of manufacturing a thin film structure according to claim 6, since naphthalene or paradichlorobenzene having a relatively low melting point is used as the sublimable substance, a sublimable substance in a molten state can be easily formed between the thin film and the substrate. Can be reliably attached.

【0053】請求項7の薄膜構造体の製造方法では、前
処理溶剤に、イソプロピルアルコール,メタノール,エ
タノール,ブタノール,アセトン,エーテルまたはシク
ロヘキサノールから選ばれた1の物質またはこれらの混
合液を使用するようにしたので、純水等の洗浄溶液と前
処理溶剤との置換、および、前処理溶剤と昇華性物質と
の置換を迅速,確実に行うことができる。
In the method for manufacturing a thin film structure according to claim 7, as the pretreatment solvent, one substance selected from isopropyl alcohol, methanol, ethanol, butanol, acetone, ether or cyclohexanol or a mixed solution thereof is used. Thus, the replacement of the cleaning solution such as pure water with the pretreatment solvent, and the replacement of the pretreatment solvent with the sublimable substance can be performed quickly and reliably.

【図面の簡単な説明】[Brief description of the drawings]

【図1】本発明の薄膜構造体の製造方法の第1の実施形
態により製造されたフレキシブルマイクログリッパーを
示す斜視図である。
FIG. 1 is a perspective view showing a flexible microgripper manufactured according to a first embodiment of a method for manufacturing a thin film structure of the present invention.

【図2】図1のフレキシブルマイクログリッパーの製造
方法を示す説明図である。
FIG. 2 is an explanatory view showing a method of manufacturing the flexible micro gripper of FIG.

【図3】図1のフレキシブルマイクログリッパーの製造
工程を簡単に示す工程図である。
3A to 3C are process diagrams briefly showing a manufacturing process of the flexible micro gripper of FIG.

【図4】本発明の薄膜構造体の製造方法の第2の実施形
態により製造された片持ち梁と両持ち梁を有する薄膜構
造体を示す斜視図である。
FIG. 4 is a perspective view showing a thin film structure having a cantilever and a cantilever manufactured by a second embodiment of the method of manufacturing a thin film structure of the present invention.

【図5】図4のフレキシブルマイクログリッパーの製造
方法を示す説明図である。
FIG. 5 is an explanatory view showing a method of manufacturing the flexible micro gripper of FIG.

【図6】本発明の薄膜構造体の製造方法の第3の実施形
態により製造されたマイクロ静電モータを示す斜視図で
ある。
FIG. 6 is a perspective view showing a micro electrostatic motor manufactured by a third embodiment of the method for manufacturing a thin film structure of the present invention.

【図7】図6の−線に沿う断面図である。FIG. 7 is a sectional view taken along the line − in FIG.

【図8】図6のマイクロ静電モータの製造方法を示す説
明図である。
FIG. 8 is an explanatory diagram showing a method of manufacturing the micro electrostatic motor of FIG.

【符号の説明】[Explanation of symbols]

11,29 支持体 13,15 フィンガー部 17,35,57 微小間隙 31 片持ち梁 41 犠牲層 47 窒化シリコン層 55 ローター 65 第1の犠牲層 69 第2の犠牲層 11, 29 Supporting body 13, 15 Finger part 17, 35, 57 Micro gap 31 Cantilever 41 Sacrificial layer 47 Silicon nitride layer 55 Rotor 65 First sacrificial layer 69 Second sacrificial layer

Claims (7)

【特許請求の範囲】[Claims] 【請求項1】 基板上に薄膜あるいは犠牲材となる薄膜
層を形成する工程と、 前記基板または犠牲材をエッチング溶液によりエッチン
グし、薄膜と薄膜との間または薄膜と基板との間に微小
間隙を形成する工程と、 前記エッチング溶液を洗浄溶液により洗浄除去する工程
と、 前記微小間隙に存在する前記洗浄溶液が乾燥する前に前
記薄膜と薄膜との間または薄膜と基板との間に溶融状態
の昇華性物質を付着させる工程と、 前記昇華性物質を凝固させる工程と、 前記昇華性物質を昇華させる工程と、を有することを特
徴とする薄膜構造体の製造方法。
1. A step of forming a thin film or a thin film layer serving as a sacrificial material on a substrate, and etching the substrate or the sacrificial material with an etching solution to form a minute gap between the thin films or between the thin film and the substrate. And a step of cleaning and removing the etching solution with a cleaning solution, and a molten state between the thin film and the thin film or between the thin film and the substrate before the cleaning solution existing in the minute gap is dried. And a step of solidifying the sublimable substance, and a step of sublimating the sublimable substance, the method for producing a thin film structure.
【請求項2】 基板上に薄膜あるいは犠牲材となる薄膜
層を形成する工程と、 前記基板または犠牲材をエッチング溶液によりエッチン
グし、薄膜と薄膜との間または薄膜と基板との間に微小
間隙を形成する工程と、 前記エッチング溶液を洗浄溶液により洗浄除去する工程
と、 前記洗浄溶液が乾燥する前に前記洗浄溶液および昇華性
物質になじみの良好な前処理溶剤を付着する工程と、 前記微小間隙に存在する前記前処理溶剤が乾燥する前に
前記薄膜と薄膜との間または薄膜と基板との間に溶融状
態の昇華性物質を付着させる工程と、 前記昇華性物質を凝固させる工程と、 前記昇華性物質を昇華させる工程と、を有することを特
徴とする薄膜構造体の製造方法。
2. A step of forming a thin film or a thin film layer serving as a sacrificial material on a substrate, and etching the substrate or the sacrificial material with an etching solution to form a minute gap between the thin films or between the thin film and the substrate. A step of forming, a step of washing and removing the etching solution with a washing solution, a step of adhering a good pretreatment solvent to the washing solution and the sublimable substance before the washing solution is dried, and the minute A step of attaching a molten sublimable substance between the thin film and the thin film or between the thin film and the substrate before the pretreatment solvent present in the gap is dried, and a step of solidifying the sublimable substance, And a step of sublimating the sublimable substance.
【請求項3】 請求項1または2記載の薄膜構造体の製
造方法において、 前記昇華性物質の昇華を、大気圧中で行うことを特徴と
する薄膜構造体の製造方法。
3. The method of manufacturing a thin film structure according to claim 1, wherein the sublimation of the sublimable substance is performed under atmospheric pressure.
【請求項4】 請求項3記載の薄膜構造体の製造方法に
おいて、 前記昇華性物質の昇華を、常温で行うことを特徴とする
薄膜構造体の製造方法。
4. The method of manufacturing a thin film structure according to claim 3, wherein the sublimation of the sublimable substance is performed at room temperature.
【請求項5】 請求項1ないし4のいずれか1項記載の
薄膜構造体の製造方法において、 前記溶融状態の昇華性物質の温度が、50℃以上で22
0℃以下であることを特徴とする薄膜構造体の製造方
法。
5. The method of manufacturing a thin film structure according to claim 1, wherein the temperature of the sublimable substance in the molten state is 50 ° C. or higher.
A method for producing a thin film structure, which is 0 ° C. or lower.
【請求項6】 請求項1ないし5のいずれか1項記載の
薄膜構造体の製造方法において、 前記昇華性物質は、ナフタレンまたはパラジクロロベン
ゼンからなることを特徴とする薄膜構造体の製造方法。
6. The method of manufacturing a thin film structure according to claim 1, wherein the sublimable substance is naphthalene or paradichlorobenzene.
【請求項7】 請求項1ないし6のいずれか1項記載の
薄膜構造体の製造方法において、 前記前処理溶剤は、イソプロピルアルコール,メタノー
ル,エタノール,ブタノール,アセトン,エーテルまた
はシクロヘキサノールから選ばれた1の物質またはこれ
らの混合液からなることを特徴とする薄膜構造体の製造
方法。
7. The method of manufacturing a thin film structure according to claim 1, wherein the pretreatment solvent is selected from isopropyl alcohol, methanol, ethanol, butanol, acetone, ether or cyclohexanol. 1. A method of manufacturing a thin film structure, comprising the substance 1 or a mixed solution thereof.
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