JPH09167047A - 座標検出装置および誤差補正方法 - Google Patents
座標検出装置および誤差補正方法Info
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- JPH09167047A JPH09167047A JP32560595A JP32560595A JPH09167047A JP H09167047 A JPH09167047 A JP H09167047A JP 32560595 A JP32560595 A JP 32560595A JP 32560595 A JP32560595 A JP 32560595A JP H09167047 A JPH09167047 A JP H09167047A
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Abstract
(57)【要約】
【課題】 パソコンやワープロ等の情報処理装置に対し
て手軽に座標情報を入力するための座標検出装置に関
し、高い補正精度の維持とキャリブレーションの簡略化
が可能な座標検出装置と誤差補正方法の提供を目的とす
る。 【解決手段】 上記課題は記憶装置33が、入力範囲13を
第１の分割数で分割し各領域から得られた補正データを
記憶させる第１の格納手段34と、第１の分割数より少な
い第２の分割数で分割し各領域から得られた補正データ
を記憶させる第２の格納手段35とを有し、検出された座
標値の出力に際して制御部３が、第１の格納手段34に記
憶された対応領域の補正データによる座標値の補正と、
第２の格納手段35に記憶された対応領域の補正データに
よる座標値の補正とを行うことによって達成される。
て手軽に座標情報を入力するための座標検出装置に関
し、高い補正精度の維持とキャリブレーションの簡略化
が可能な座標検出装置と誤差補正方法の提供を目的とす
る。 【解決手段】 上記課題は記憶装置33が、入力範囲13を
第１の分割数で分割し各領域から得られた補正データを
記憶させる第１の格納手段34と、第１の分割数より少な
い第２の分割数で分割し各領域から得られた補正データ
を記憶させる第２の格納手段35とを有し、検出された座
標値の出力に際して制御部３が、第１の格納手段34に記
憶された対応領域の補正データによる座標値の補正と、
第２の格納手段35に記憶された対応領域の補正データに
よる座標値の補正とを行うことによって達成される。
Description
【０００１】
【発明の属する技術分野】本発明はパソコンやワープロ
等の情報処理装置に対して手軽に座標情報を入力するた
めの座標検出装置に係り、特に座標の誤差補正に際して
行われるキャリブレーションが容易な電圧検出型の座標
検出装置に関する。
等の情報処理装置に対して手軽に座標情報を入力するた
めの座標検出装置に係り、特に座標の誤差補正に際して
行われるキャリブレーションが容易な電圧検出型の座標
検出装置に関する。
【０００２】情報処理装置への座標情報入力手段として
従来は電磁誘導方式や静電結合方式の座標検出装置が主
流であったが、近年、低コスト化が要求されるパソコン
やワープロ等における座標情報入力手段は、コードレス
ペンや指による入力が可能であり構成が簡単で安価なこ
とから電圧検出型の座標検出装置に変わりつつある。
従来は電磁誘導方式や静電結合方式の座標検出装置が主
流であったが、近年、低コスト化が要求されるパソコン
やワープロ等における座標情報入力手段は、コードレス
ペンや指による入力が可能であり構成が簡単で安価なこ
とから電圧検出型の座標検出装置に変わりつつある。
【０００３】かかる電圧検出型の座標検出装置は隙間を
介して２枚の導体膜を対向させた座標入力パネルを有
し、２枚の導体膜は製造時の不均一性や組立後の環境の
変化により導電抵抗値にばらつきが生じるため、座標入
力パネルの入力範囲を複数領域に分割し各領域から得ら
れる補正データに基づき座標値を補正する必要がある。
介して２枚の導体膜を対向させた座標入力パネルを有
し、２枚の導体膜は製造時の不均一性や組立後の環境の
変化により導電抵抗値にばらつきが生じるため、座標入
力パネルの入力範囲を複数領域に分割し各領域から得ら
れる補正データに基づき座標値を補正する必要がある。
【０００４】しかし、入力範囲を複数領域に分割する際
の分割数が多いと補正精度は向上するがキャリブレーシ
ョンが煩雑になり、逆に分割数を少なくすればするほど
対象となる入力点が減少しキャリブレーションは容易に
なるが補正精度は低下する。
の分割数が多いと補正精度は向上するがキャリブレーシ
ョンが煩雑になり、逆に分割数を少なくすればするほど
対象となる入力点が減少しキャリブレーションは容易に
なるが補正精度は低下する。
【０００５】そこで高い補正精度の維持とキャリブレー
ションの簡略化が可能な座標検出装置と誤差補正方法の
開発が要望されている。
ションの簡略化が可能な座標検出装置と誤差補正方法の
開発が要望されている。
【０００６】
【従来の技術】図５は従来の座標検出装置の構成を示す
図、図６は従来の誤差補正方法を説明する図である。
図、図６は従来の誤差補正方法を説明する図である。
【０００７】図５(a) において従来の座標検出装置の一
例は隙間を介して対向する導体膜11、12を具えた座標入
力パネル1Aを有し、導体膜11、12はそれぞれ周縁部に沿
って形成され中央部の入力範囲13を挟んで相対する１対
の電極14、15を具えている。
例は隙間を介して対向する導体膜11、12を具えた座標入
力パネル1Aを有し、導体膜11、12はそれぞれ周縁部に沿
って形成され中央部の入力範囲13を挟んで相対する１対
の電極14、15を具えている。
【０００８】隙間を介して対向する２枚の導体膜11、12
はそれぞれに形成された電極14と電極15とが互いに直交
するよう配置され、例えばＹ軸に平行な導体膜11上の電
極14はＸ座標、またＸ軸に平行な導体膜12上の電極15は
Ｙ座標の検出に利用される。
はそれぞれに形成された電極14と電極15とが互いに直交
するよう配置され、例えばＹ軸に平行な導体膜11上の電
極14はＸ座標、またＸ軸に平行な導体膜12上の電極15は
Ｙ座標の検出に利用される。
【０００９】座標入力パネル1Aに電圧を印加するための
駆動回路2Aは導体膜11上の電極14間に電圧を印加するト
ランジスタ21、22と、導体膜12上の電極15間に電圧を印
加するトランジスタ23、24を有し電極への電圧の印加は
制御部３により制御される。
駆動回路2Aは導体膜11上の電極14間に電圧を印加するト
ランジスタ21、22と、導体膜12上の電極15間に電圧を印
加するトランジスタ23、24を有し電極への電圧の印加は
制御部３により制御される。
【００１０】駆動回路2Aはまた制御部３により制御され
るスイッチ25を具え導体膜11、12間の接触／非接触を検
知する回路を有し、スイッチ25、前記トランジスタ22、
および電極14、15を介して導体膜11、12間に電圧を印加
するように構成されている。
るスイッチ25を具え導体膜11、12間の接触／非接触を検
知する回路を有し、スイッチ25、前記トランジスタ22、
および電極14、15を介して導体膜11、12間に電圧を印加
するように構成されている。
【００１１】かかる座標検出装置において座標入力パネ
ル1Aの一点を押下すると押下された入力点で２枚の導体
膜11、12が接触し、そのとき電極14に電圧が印加されて
いるとその電圧は入力点で分圧されＸ座標を示す電圧が
電極15を経由し出力される。
ル1Aの一点を押下すると押下された入力点で２枚の導体
膜11、12が接触し、そのとき電極14に電圧が印加されて
いるとその電圧は入力点で分圧されＸ座標を示す電圧が
電極15を経由し出力される。
【００１２】また、電極15に電圧が印加されているとそ
の電圧は入力点で分圧されＹ座標を示す電圧が電極14を
経由して出力され、Ｘ座標を示す電圧Ｖ1 、Ｙ座標を示
す電圧Ｖ2 がＡ／Ｄ変換器31によりデジタル信号に変換
され制御部３に入力される。
の電圧は入力点で分圧されＹ座標を示す電圧が電極14を
経由して出力され、Ｘ座標を示す電圧Ｖ1 、Ｙ座標を示
す電圧Ｖ2 がＡ／Ｄ変換器31によりデジタル信号に変換
され制御部３に入力される。
【００１３】従来の他の座標検出装置は図５(b) に示す
如く隙間を介して対向する導体膜16、17を具えた座標入
力パネル1Bを有し、導体膜16は中央の入力範囲13を挟ん
で相対するよう周縁部に沿って四周に配列された２対の
電極列18、19を具えている。
如く隙間を介して対向する導体膜16、17を具えた座標入
力パネル1Bを有し、導体膜16は中央の入力範囲13を挟ん
で相対するよう周縁部に沿って四周に配列された２対の
電極列18、19を具えている。
【００１４】座標入力パネル1Bに電圧を印加する駆動回
路2Bは導体膜16上の電極列18間に電圧を印加するトラン
ジスタ群26、27と、電極列19間に電圧を印加するトラン
ジスタ群28、29を有し電極列への電圧の印加はそれぞれ
制御部３により制御される。
路2Bは導体膜16上の電極列18間に電圧を印加するトラン
ジスタ群26、27と、電極列19間に電圧を印加するトラン
ジスタ群28、29を有し電極列への電圧の印加はそれぞれ
制御部３により制御される。
【００１５】駆動回路2Bはまた制御部３により制御され
るスイッチ25を具え導体膜16、17間の接触／非接触を検
知する回路を有し、スイッチ25、導体膜17上の電極20、
前記電極列18、およびトランジスタ群27を経て導体膜1
6、17間に電圧が印加される。
るスイッチ25を具え導体膜16、17間の接触／非接触を検
知する回路を有し、スイッチ25、導体膜17上の電極20、
前記電極列18、およびトランジスタ群27を経て導体膜1
6、17間に電圧が印加される。
【００１６】かかる座標検出装置において座標入力パネ
ル1Bの一点を押下すると押下された入力点で２枚の導体
膜16、17が接触し、そのとき電極列18間に電圧が印加さ
れていると電圧は入力点で分圧されＸ座標を示す電圧が
電極20を経由し出力される。
ル1Bの一点を押下すると押下された入力点で２枚の導体
膜16、17が接触し、そのとき電極列18間に電圧が印加さ
れていると電圧は入力点で分圧されＸ座標を示す電圧が
電極20を経由し出力される。
【００１７】また、電極列19間に電圧が印加されている
と電圧は入力点で分圧されＹ座標を示す電圧が電極20を
経由して出力され、Ｘ座標を示す電圧Ｖ1 、Ｙ座標を示
す電圧Ｖ2 がＡ／Ｄ変換器31によりデジタル信号に変換
され制御部３に入力される。
と電圧は入力点で分圧されＹ座標を示す電圧が電極20を
経由して出力され、Ｘ座標を示す電圧Ｖ1 、Ｙ座標を示
す電圧Ｖ2 がＡ／Ｄ変換器31によりデジタル信号に変換
され制御部３に入力される。
【００１８】しかし、対向させた２枚の導体膜は製造時
の不均一性や組立後の環境の変化により導電抵抗値にば
らつきが生じるため、座標入力パネルの入力範囲を複数
領域に分割し各領域から得られる補正データに基づき座
標値を補正する必要がある。
の不均一性や組立後の環境の変化により導電抵抗値にば
らつきが生じるため、座標入力パネルの入力範囲を複数
領域に分割し各領域から得られる補正データに基づき座
標値を補正する必要がある。
【００１９】そこで座標入力パネルの入力範囲を複数領
域に分割し各領域から得られる補正データが記憶装置32
に記憶されており、Ａ／Ｄ変換器31を経由して入力され
た座標値は制御部３において記憶装置32の補正データに
よって補正され出力される。
域に分割し各領域から得られる補正データが記憶装置32
に記憶されており、Ａ／Ｄ変換器31を経由して入力され
た座標値は制御部３において記憶装置32の補正データに
よって補正され出力される。
【００２０】なお、図５(a) (b) の導体膜間の接触／非
接触を検知する回路において制御部３がスイッチ25をア
クティブにしたとき、電極15または電極20からＡ／Ｄ変
換器31に入力される電圧は抵抗Ｒと導体膜の接触抵抗に
より分圧された電圧である。
接触を検知する回路において制御部３がスイッチ25をア
クティブにしたとき、電極15または電極20からＡ／Ｄ変
換器31に入力される電圧は抵抗Ｒと導体膜の接触抵抗に
より分圧された電圧である。
【００２１】即ち、導体膜間の接触／非接触の検知に際
してスイッチ25をアクティブにしたとき、Ａ／Ｄ変換器
31に入力される電圧を基準電圧と比べて、高い場合は導
体膜間が非接触であることを、低い場合は導体膜間が接
触していることを意味する。
してスイッチ25をアクティブにしたとき、Ａ／Ｄ変換器
31に入力される電圧を基準電圧と比べて、高い場合は導
体膜間が非接触であることを、低い場合は導体膜間が接
触していることを意味する。
【００２２】従来の誤差補正方法は図６(a) に示す如く
座標入力パネルの入力範囲13が複数領域、例えば16の領
域に分割されており、入力点の補正前座標をＸ0,Ｙ0 、
補正後座標をＸ1,Ｙ1 、所属領域の補正データをＡn ，
Ｂn ，Ｃn ，Ｄn とすると、 Ｘ1 ＝Ａn Ｘ0 ＋Ｂn 、Ｙ1 ＝Ｃn Ｙ0 ＋Ｄn なる演算を行わせることによって入力点における座標Ｘ
0,Ｙ0 が補正される。
座標入力パネルの入力範囲13が複数領域、例えば16の領
域に分割されており、入力点の補正前座標をＸ0,Ｙ0 、
補正後座標をＸ1,Ｙ1 、所属領域の補正データをＡn ，
Ｂn ，Ｃn ，Ｄn とすると、 Ｘ1 ＝Ａn Ｘ0 ＋Ｂn 、Ｙ1 ＝Ｃn Ｙ0 ＋Ｄn なる演算を行わせることによって入力点における座標Ｘ
0,Ｙ0 が補正される。
【００２３】前記補正データＡn ，Ｂn ，Ｃn ，Ｄn の
設定は各領域毎に予め定められた２点における検出座標
値をサンプリングし、検出座標値を次の連立方程式に代
入してそれぞれの点における検出座標値の誤差が零にな
る補正データが算出される。
設定は各領域毎に予め定められた２点における検出座標
値をサンプリングし、検出座標値を次の連立方程式に代
入してそれぞれの点における検出座標値の誤差が零にな
る補正データが算出される。
【００２４】即ち、入力範囲の第ｎ領域で予め定められ
た２点でサンプリングされた検出座標値をＸn01,Ｙno1,
Ｘn02,Ｙn02 とし、同じ第ｎ領域において予め定められ
た２点での誤差を含まない座標値をそれぞれＸn11,Ｙ
n11,Ｘn12,Ｙn12 としたとき、 Ｘn11 ＝Ａn Ｘn01 ＋Ｂn Ｘn12 ＝Ａn Ｘn02 ＋Ｂn Ｙn11 ＝Ｃn Ｙno1 ＋Ｄn Ｙn12 ＝Ｃn Ｙno2 ＋Ｄn なる連立方程式を解くことによって第ｎ領域における補
正データが算出される。
た２点でサンプリングされた検出座標値をＸn01,Ｙno1,
Ｘn02,Ｙn02 とし、同じ第ｎ領域において予め定められ
た２点での誤差を含まない座標値をそれぞれＸn11,Ｙ
n11,Ｘn12,Ｙn12 としたとき、 Ｘn11 ＝Ａn Ｘn01 ＋Ｂn Ｘn12 ＝Ａn Ｘn02 ＋Ｂn Ｙn11 ＝Ｃn Ｙno1 ＋Ｄn Ｙn12 ＝Ｃn Ｙno2 ＋Ｄn なる連立方程式を解くことによって第ｎ領域における補
正データが算出される。
【００２５】例えば、サンプリングする点をそれぞれの
領域における左上端点と右下端点との２点とすると全サ
ンプリング箇所数は、図６(a) (b) に黒丸で示す如く入
力範囲が16分割された場合で23箇所、入力範囲が４分割
された場合で７箇所になる。
領域における左上端点と右下端点との２点とすると全サ
ンプリング箇所数は、図６(a) (b) に黒丸で示す如く入
力範囲が16分割された場合で23箇所、入力範囲が４分割
された場合で７箇所になる。
【００２６】
【発明が解決しようとする課題】座標入力パネルのそれ
ぞれの領域に対応する補正データは座標検出装置の出荷
前に予め記憶装置に記憶させているが、導体膜は環境の
変化等によって導電抵抗値が変化するためキャリブレー
ションを行い補正データを修正する必要がある。
ぞれの領域に対応する補正データは座標検出装置の出荷
前に予め記憶装置に記憶させているが、導体膜は環境の
変化等によって導電抵抗値が変化するためキャリブレー
ションを行い補正データを修正する必要がある。
【００２７】しかし、従来の座標検出装置は領域の分割
数が多いほど誤差の補正精度は向上するがキャリブレー
ションが煩雑になり、逆に領域の分割数が少ないほどキ
ャリブレーションは容易になるが誤差の補正精度が低下
するという問題があった。
数が多いほど誤差の補正精度は向上するがキャリブレー
ションが煩雑になり、逆に領域の分割数が少ないほどキ
ャリブレーションは容易になるが誤差の補正精度が低下
するという問題があった。
【００２８】本発明の目的は高い補正精度の維持とキャ
リブレーションの簡略化が可能な座標検出装置と誤差補
正方法を提供することにある。
リブレーションの簡略化が可能な座標検出装置と誤差補
正方法を提供することにある。
【００２９】
【課題を解決するための手段】図１は本発明になる座標
検出装置の構成を示す図である。なお全図を通し同じ対
象物は同一記号で表している。
検出装置の構成を示す図である。なお全図を通し同じ対
象物は同一記号で表している。
【００３０】上記課題はそれぞれ周縁に沿って電極が形
成された２枚の導体膜を隙間を介して対向させてなる座
標入力パネルと、導体膜のいずれか一方の相対する電極
間に電圧を印加する駆動回路と、電圧が印加されていな
い導体膜を介し入力点から得られる電圧値をデジタル信
号に変換するＡ／Ｄ変換器と、座標入力パネルが有する
座標誤差の補正データを記憶させる記憶装置と、駆動回
路を制御すると共にＡ／Ｄ変換器から入力される信号に
基づいて入力点の座標値を検出し、かつ記憶装置に記憶
された補正データに基づいて座標値を補正する制御部と
を具え、前記座標誤差の補正データとして、座標入力パ
ネルの入力範囲を複数の領域に分割し、それぞれの領域
において得られる補正データを記憶装置に記憶させてな
る電圧検出型の座標検出装置であって、記憶装置33が、
入力範囲13を第１の分割数で分割し各領域から得られた
補正データを記憶させる第１の格納手段34と、第１の分
割数より少ない第２の分割数で分割し各領域から得られ
た補正データを記憶させる第２の格納手段35とを有し、
検出された座標値の出力に際して制御部３が、第１の格
納手段34に記憶された対応領域の補正データによる座標
値の補正と、第２の格納手段35に記憶された対応領域の
補正データによる座標値の補正とを行う本発明の座標検
出装置によって達成される。
成された２枚の導体膜を隙間を介して対向させてなる座
標入力パネルと、導体膜のいずれか一方の相対する電極
間に電圧を印加する駆動回路と、電圧が印加されていな
い導体膜を介し入力点から得られる電圧値をデジタル信
号に変換するＡ／Ｄ変換器と、座標入力パネルが有する
座標誤差の補正データを記憶させる記憶装置と、駆動回
路を制御すると共にＡ／Ｄ変換器から入力される信号に
基づいて入力点の座標値を検出し、かつ記憶装置に記憶
された補正データに基づいて座標値を補正する制御部と
を具え、前記座標誤差の補正データとして、座標入力パ
ネルの入力範囲を複数の領域に分割し、それぞれの領域
において得られる補正データを記憶装置に記憶させてな
る電圧検出型の座標検出装置であって、記憶装置33が、
入力範囲13を第１の分割数で分割し各領域から得られた
補正データを記憶させる第１の格納手段34と、第１の分
割数より少ない第２の分割数で分割し各領域から得られ
た補正データを記憶させる第２の格納手段35とを有し、
検出された座標値の出力に際して制御部３が、第１の格
納手段34に記憶された対応領域の補正データによる座標
値の補正と、第２の格納手段35に記憶された対応領域の
補正データによる座標値の補正とを行う本発明の座標検
出装置によって達成される。
【００３１】記憶装置が、入力範囲を第１の分割数で分
割し各領域から得られた補正データを記憶させる第１の
格納手段と、第１の分割数より少ない第２の分割数で分
割し各領域から得られた補正データを記憶させる第２の
格納手段とを有し、検出された座標値の出力に際して制
御部が、第１の格納手段に記憶された対応領域の補正デ
ータによる座標値の補正と、第２の格納手段に記憶され
た対応領域の補正データによる座標値の補正とを行うこ
とにより、高い補正精度の維持とキャリブレーションの
簡略化が可能な座標検出装置と誤差補正方法を実現する
ことができる。
割し各領域から得られた補正データを記憶させる第１の
格納手段と、第１の分割数より少ない第２の分割数で分
割し各領域から得られた補正データを記憶させる第２の
格納手段とを有し、検出された座標値の出力に際して制
御部が、第１の格納手段に記憶された対応領域の補正デ
ータによる座標値の補正と、第２の格納手段に記憶され
た対応領域の補正データによる座標値の補正とを行うこ
とにより、高い補正精度の維持とキャリブレーションの
簡略化が可能な座標検出装置と誤差補正方法を実現する
ことができる。
【００３２】即ち、入力範囲を数の大きい分割数で分割
しそれぞれの領域から得られた補正データを第１の格納
手段に記憶させ、検出された座標値を第１の格納手段に
記憶された対応領域の補正データで補正することにより
高い補正精度を維持できる。
しそれぞれの領域から得られた補正データを第１の格納
手段に記憶させ、検出された座標値を第１の格納手段に
記憶された対応領域の補正データで補正することにより
高い補正精度を維持できる。
【００３３】また、第１の分割数より少ない第２の分割
数、例えば極端な例として分割数が１の領域から得られ
た補正データを第２の格納手段に記憶させ、第２の格納
手段の補正データのみをキャリブレーションの対象とす
ることによって、使用者が常時行うキャリブレーション
を大幅に簡略化することができる。
数、例えば極端な例として分割数が１の領域から得られ
た補正データを第２の格納手段に記憶させ、第２の格納
手段の補正データのみをキャリブレーションの対象とす
ることによって、使用者が常時行うキャリブレーション
を大幅に簡略化することができる。
【００３４】しかも、組立後の環境変化等に起因して生
じる導体膜の導電抵抗値のばらつきは一定の規則に従っ
て拡大されるため、第１の格納手段および第２の格納手
段に記憶された補正データを用いて補正することで誤差
を小さくすることができる。
じる導体膜の導電抵抗値のばらつきは一定の規則に従っ
て拡大されるため、第１の格納手段および第２の格納手
段に記憶された補正データを用いて補正することで誤差
を小さくすることができる。
【００３５】
【発明の実施の形態】以下添付図により本発明の実施例
について説明する。なお、図２は本発明における入力範
囲の分割例を示す図、図３は記憶装置に記憶された補正
データを示す図、図４は本発明になる誤差補正方法を示
すフローチャートである。
について説明する。なお、図２は本発明における入力範
囲の分割例を示す図、図３は記憶装置に記憶された補正
データを示す図、図４は本発明になる誤差補正方法を示
すフローチャートである。
【００３６】図１(a) において本発明になる座標検出装
置は隙間を介して対向する導体膜11、12を具えた座標入
力パネル1Aを有し、導体膜11、12はそれぞれ周縁部に沿
って形成され中央部の入力範囲13を挟んで相対する１対
の電極14、15を具えている。
置は隙間を介して対向する導体膜11、12を具えた座標入
力パネル1Aを有し、導体膜11、12はそれぞれ周縁部に沿
って形成され中央部の入力範囲13を挟んで相対する１対
の電極14、15を具えている。
【００３７】隙間を介して対向する２枚の導体膜11、12
はそれぞれに形成された電極14と電極15とが互いに直交
するよう配置され、例えばＹ軸に平行な導体膜11上の電
極14はＸ座標、またＸ軸に平行な導体膜12上の電極15は
Ｙ座標の検出に利用される。
はそれぞれに形成された電極14と電極15とが互いに直交
するよう配置され、例えばＹ軸に平行な導体膜11上の電
極14はＸ座標、またＸ軸に平行な導体膜12上の電極15は
Ｙ座標の検出に利用される。
【００３８】座標入力パネル1Aに電圧を印加するための
駆動回路2Aは導体膜11上の電極14間に電圧を印加するト
ランジスタ21、22と、導体膜12上の電極15間に電圧を印
加するトランジスタ23、24を有し電極への電圧の印加は
制御部３により制御される。
駆動回路2Aは導体膜11上の電極14間に電圧を印加するト
ランジスタ21、22と、導体膜12上の電極15間に電圧を印
加するトランジスタ23、24を有し電極への電圧の印加は
制御部３により制御される。
【００３９】駆動回路2Aはまた制御部３により制御され
るスイッチ25を具え導体膜11、12間の接触／非接触を検
知する回路を有し、スイッチ25、前記トランジスタ22、
および電極14、15を介して導体膜11、12間に電圧を印加
するように構成されている。
るスイッチ25を具え導体膜11、12間の接触／非接触を検
知する回路を有し、スイッチ25、前記トランジスタ22、
および電極14、15を介して導体膜11、12間に電圧を印加
するように構成されている。
【００４０】かかる座標検出装置において座標入力パネ
ル1Aの一点を押下すると押下された入力点で２枚の導体
膜11、12が接触し、そのとき電極14に電圧が印加されて
いるとその電圧は入力点で分圧されＸ座標を示す電圧が
電極15を経由し出力される。
ル1Aの一点を押下すると押下された入力点で２枚の導体
膜11、12が接触し、そのとき電極14に電圧が印加されて
いるとその電圧は入力点で分圧されＸ座標を示す電圧が
電極15を経由し出力される。
【００４１】また、電極15に電圧が印加されているとそ
の電圧は入力点で分圧されＹ座標を示す電圧が電極14を
経由して出力され、Ｘ座標を示す電圧Ｖ1 、Ｙ座標を示
す電圧Ｖ2 がＡ／Ｄ変換器31によりデジタル信号に変換
され制御部３に入力される。
の電圧は入力点で分圧されＹ座標を示す電圧が電極14を
経由して出力され、Ｘ座標を示す電圧Ｖ1 、Ｙ座標を示
す電圧Ｖ2 がＡ／Ｄ変換器31によりデジタル信号に変換
され制御部３に入力される。
【００４２】また、他の座標検出装置は図１(b) に示す
如く隙間を介して対向する導体膜16、17を具えた座標入
力パネル1Bを有し、導体膜16は中央の入力範囲13を挟ん
で相対するよう周縁部に沿って四周に配列された２対の
電極列18、19を具えている。
如く隙間を介して対向する導体膜16、17を具えた座標入
力パネル1Bを有し、導体膜16は中央の入力範囲13を挟ん
で相対するよう周縁部に沿って四周に配列された２対の
電極列18、19を具えている。
【００４３】座標入力パネル1Bに電圧を印加する駆動回
路2Bは導体膜16上の電極列18間に電圧を印加するトラン
ジスタ群26、27と、電極列19間に電圧を印加するトラン
ジスタ群28、29を有し電極列への電圧の印加はそれぞれ
制御部３により制御される。
路2Bは導体膜16上の電極列18間に電圧を印加するトラン
ジスタ群26、27と、電極列19間に電圧を印加するトラン
ジスタ群28、29を有し電極列への電圧の印加はそれぞれ
制御部３により制御される。
【００４４】駆動回路2Bはまた制御部３により制御され
るスイッチ25を具え導体膜16、17間の接触／非接触を検
知する回路を有し、スイッチ25、導体膜17上の電極20、
前記電極列18、およびトランジスタ群27を経て導体膜1
6、17間に電圧が印加される。
るスイッチ25を具え導体膜16、17間の接触／非接触を検
知する回路を有し、スイッチ25、導体膜17上の電極20、
前記電極列18、およびトランジスタ群27を経て導体膜1
6、17間に電圧が印加される。
【００４５】かかる座標検出装置において座標入力パネ
ル1Bの一点を押下すると押下された入力点で２枚の導体
膜16、17が接触し、そのとき電極列18間に電圧が印加さ
れていると電圧は入力点で分圧されＸ座標を示す電圧が
電極20を経由し出力される。
ル1Bの一点を押下すると押下された入力点で２枚の導体
膜16、17が接触し、そのとき電極列18間に電圧が印加さ
れていると電圧は入力点で分圧されＸ座標を示す電圧が
電極20を経由し出力される。
【００４６】また、電極列19間に電圧が印加されている
と電圧は入力点で分圧されＹ座標を示す電圧が電極20を
経由して出力され、Ｘ座標を示す電圧Ｖ1 、Ｙ座標を示
す電圧Ｖ2 がＡ／Ｄ変換器31によりデジタル信号に変換
され制御部３に入力される。
と電圧は入力点で分圧されＹ座標を示す電圧が電極20を
経由して出力され、Ｘ座標を示す電圧Ｖ1 、Ｙ座標を示
す電圧Ｖ2 がＡ／Ｄ変換器31によりデジタル信号に変換
され制御部３に入力される。
【００４７】しかし、対向させた２枚の導体膜は製造時
の不均一性や組立後の環境の変化により導電抵抗値にば
らつきが生じるため、座標入力パネルの入力範囲を複数
領域に分割し各領域から得られる補正データに基づき座
標値を補正する必要がある。
の不均一性や組立後の環境の変化により導電抵抗値にば
らつきが生じるため、座標入力パネルの入力範囲を複数
領域に分割し各領域から得られる補正データに基づき座
標値を補正する必要がある。
【００４８】そこで座標入力パネルの入力範囲を複数領
域に分割し各領域から得られる補正データが記憶装置33
に記憶されており、Ａ／Ｄ変換器31を経由して入力され
た座標値は制御部３において記憶装置33の補正データに
よって補正され出力される。
域に分割し各領域から得られる補正データが記憶装置33
に記憶されており、Ａ／Ｄ変換器31を経由して入力され
た座標値は制御部３において記憶装置33の補正データに
よって補正され出力される。
【００４９】なお、図１(a) (b) の導体膜間の接触／非
接触を検知する回路において制御部３がスイッチ25をア
クティブにしたとき、電極15または電極20からＡ／Ｄ変
換器31に入力される電圧は抵抗Ｒと導体膜の接触抵抗に
より分圧された電圧である。
接触を検知する回路において制御部３がスイッチ25をア
クティブにしたとき、電極15または電極20からＡ／Ｄ変
換器31に入力される電圧は抵抗Ｒと導体膜の接触抵抗に
より分圧された電圧である。
【００５０】即ち、導体膜間の接触／非接触の検知に際
してスイッチ25をアクティブにしたとき、Ａ／Ｄ変換器
31に入力される電圧を基準電圧と比べて、高い場合は導
体膜間が非接触であることを、低い場合は導体膜間が接
触していることを意味する。
してスイッチ25をアクティブにしたとき、Ａ／Ｄ変換器
31に入力される電圧を基準電圧と比べて、高い場合は導
体膜間が非接触であることを、低い場合は導体膜間が接
触していることを意味する。
【００５１】本発明になる座標検出装置が従来の座標検
出装置と異なる点は記憶装置33と記憶装置33に記憶され
た補正データであり、記憶装置33は分割数がそれぞれ異
なる補正データを記憶させる第１の格納手段34と第２の
格納手段35とを具えている。
出装置と異なる点は記憶装置33と記憶装置33に記憶され
た補正データであり、記憶装置33は分割数がそれぞれ異
なる補正データを記憶させる第１の格納手段34と第２の
格納手段35とを具えている。
【００５２】即ち、第１の格納手段34には図２(a) に示
す如く入力範囲を数の大きい第１の分割数で分割（図で
は25分割）したとき、各領域から得られた補正データＡ
n1，Ｂn1，Ｃn1，Ｄn1が図３(a) に示す如く領域に対応
する位置に記憶されている。
す如く入力範囲を数の大きい第１の分割数で分割（図で
は25分割）したとき、各領域から得られた補正データＡ
n1，Ｂn1，Ｃn1，Ｄn1が図３(a) に示す如く領域に対応
する位置に記憶されている。
【００５３】また、第２の格納手段35には図２(b) に示
す如く第１の分割数より小さい第２の分割数で分割（図
では分割なし）して、各領域から得られた補正データＡ
n2，Ｂn2，Ｃn2，Ｄn2が図３(b) に示す如く領域に対応
する位置に記憶されている。
す如く第１の分割数より小さい第２の分割数で分割（図
では分割なし）して、各領域から得られた補正データＡ
n2，Ｂn2，Ｃn2，Ｄn2が図３(b) に示す如く領域に対応
する位置に記憶されている。
【００５４】なお、図３(a) (b) において各領域毎に各
領域から得られた補正データと共に記憶されているチェ
ックデータCDは、各領域の補正データの良否を判定する
基準となるデータで例えば各領域における全補正データ
の合計値が記憶されている。
領域から得られた補正データと共に記憶されているチェ
ックデータCDは、各領域の補正データの良否を判定する
基準となるデータで例えば各領域における全補正データ
の合計値が記憶されている。
【００５５】制御部３は検出された座標値に対し第１の
格納手段34に記憶された対応領域の補正データを用いて
第１の補正を行い、更に第２の格納手段35に記憶された
対応領域の補正データを用いて第２の補正を行った後で
検出座標値として出力する。
格納手段34に記憶された対応領域の補正データを用いて
第１の補正を行い、更に第２の格納手段35に記憶された
対応領域の補正データを用いて第２の補正を行った後で
検出座標値として出力する。
【００５６】座標入力パネル1A、1Bの入力点における補
正前の座標値をＸ0,Ｙ0 、第１の補正による補正後座標
値をＸ1,Ｙ1 とし、第１の補正に用いられる第１の格納
手段34に記憶された対応領域の補正データをＡn1，
Ｂn1，Ｃn1，Ｄn1とすると、 Ｘ1 ＝Ａn1Ｘ0 ＋Ｂn1、 Ｙ1 ＝Ｃn1Ｙ0 ＋Ｄn1 なる演算を行わせることで入力点の座標値の第１の補正
を行うことができる。
正前の座標値をＸ0,Ｙ0 、第１の補正による補正後座標
値をＸ1,Ｙ1 とし、第１の補正に用いられる第１の格納
手段34に記憶された対応領域の補正データをＡn1，
Ｂn1，Ｃn1，Ｄn1とすると、 Ｘ1 ＝Ａn1Ｘ0 ＋Ｂn1、 Ｙ1 ＝Ｃn1Ｙ0 ＋Ｄn1 なる演算を行わせることで入力点の座標値の第１の補正
を行うことができる。
【００５７】更に、第２の補正による補正後座標値をＸ
2,Ｙ2 、第２の格納手段35に記憶された対応領域の補正
データをＡn2，Ｂn2，Ｃn2，Ｄn2とすると、 Ｘ2 ＝Ａn2Ｘ1 ＋Ｂn2、 Ｙ2 ＝Ｃn2Ｙ1 ＋Ｄn2 なる演算を行わせることで入力点の座標値の第２の補正
を行うことができる。
2,Ｙ2 、第２の格納手段35に記憶された対応領域の補正
データをＡn2，Ｂn2，Ｃn2，Ｄn2とすると、 Ｘ2 ＝Ａn2Ｘ1 ＋Ｂn2、 Ｙ2 ＝Ｃn2Ｙ1 ＋Ｄn2 なる演算を行わせることで入力点の座標値の第２の補正
を行うことができる。
【００５８】本発明の誤差補正方法は図４に示す如く座
標入力パネルが押下されると制御部３は導体膜間の接触
／非接触を検知し、導体膜間が接触している場合は対向
する電極または電極列間に電圧を印加し入力点の補正前
座標値Ｘ0,Ｙ0 を検知する。
標入力パネルが押下されると制御部３は導体膜間の接触
／非接触を検知し、導体膜間が接触している場合は対向
する電極または電極列間に電圧を印加し入力点の補正前
座標値Ｘ0,Ｙ0 を検知する。
【００５９】次に制御部３は補正前座標値Ｘ0,Ｙ0 から
入力点が第１の分割数で分割された領域のいずれの領域
に所属するか判別し、第１の格納手段34に記憶された対
応領域の補正データとチェックデータとを比較して該補
正データの良否判定を行う。
入力点が第１の分割数で分割された領域のいずれの領域
に所属するか判別し、第１の格納手段34に記憶された対
応領域の補正データとチェックデータとを比較して該補
正データの良否判定を行う。
【００６０】その結果、補正データが不良と判定される
と外部に対し異常信号を出力すると共に補正前の座標値
Ｘ0,Ｙ0 を出力し、補正データが良であれば前記方程式
に入力点の座標値Ｘ0,Ｙ0 と該当補正データを代入して
座標値Ｘ1,Ｙ1 を算出する。
と外部に対し異常信号を出力すると共に補正前の座標値
Ｘ0,Ｙ0 を出力し、補正データが良であれば前記方程式
に入力点の座標値Ｘ0,Ｙ0 と該当補正データを代入して
座標値Ｘ1,Ｙ1 を算出する。
【００６１】更に制御部３は前記の座標値Ｘ1,Ｙ1 から
入力点が第２の分割数で分割された領域のいずれの領域
に所属するか判別し、第２の格納手段35に記憶された対
応領域の補正データとチェックデータとを比較して該補
正データの良否判定を行う。
入力点が第２の分割数で分割された領域のいずれの領域
に所属するか判別し、第２の格納手段35に記憶された対
応領域の補正データとチェックデータとを比較して該補
正データの良否判定を行う。
【００６２】その結果、補正データが不良と判定される
と外部に対し異常信号を出力すると共に前記補正座標値
Ｘ1,Ｙ1 を出力し、補正データが良であれば方程式に補
正座標値Ｘ1,Ｙ1 と該当補正データを代入し算出された
座標値Ｘ2,Ｙ2 を出力する。
と外部に対し異常信号を出力すると共に前記補正座標値
Ｘ1,Ｙ1 を出力し、補正データが良であれば方程式に補
正座標値Ｘ1,Ｙ1 と該当補正データを代入し算出された
座標値Ｘ2,Ｙ2 を出力する。
【００６３】このように入力範囲を数の大きい分割数で
分割し各領域から得られた補正データを第１の格納手段
に記憶させると共に、検出された座標値を第１の格納手
段に記憶された対応領域の補正データで補正することで
高い補正精度を維持できる。
分割し各領域から得られた補正データを第１の格納手段
に記憶させると共に、検出された座標値を第１の格納手
段に記憶された対応領域の補正データで補正することで
高い補正精度を維持できる。
【００６４】また、第１の分割数より少ない分割数、例
えば分割されていない領域から得た補正データを第２の
格納手段に記憶させ、かかる補正データのみを対象とす
ることによって使用者が行うキャリブレーションを大幅
に簡略化することができる。
えば分割されていない領域から得た補正データを第２の
格納手段に記憶させ、かかる補正データのみを対象とす
ることによって使用者が行うキャリブレーションを大幅
に簡略化することができる。
【００６５】しかも、組立後の環境変化等に起因して生
じる導体膜の導電抵抗値のばらつきは一定の規則に従っ
て拡大されるため、第１の格納手段および第２の格納手
段に記憶された補正データを用いて補正することで誤差
を小さくすることができる。
じる導体膜の導電抵抗値のばらつきは一定の規則に従っ
て拡大されるため、第１の格納手段および第２の格納手
段に記憶された補正データを用いて補正することで誤差
を小さくすることができる。
【００６６】即ち、高い補正精度の維持とキャリブレー
ションの簡略化が可能な座標検出装置と誤差補正方法を
実現することができる。
ションの簡略化が可能な座標検出装置と誤差補正方法を
実現することができる。
【００６７】
【発明の効果】上述の如く本発明によれば高い補正精度
の維持とキャリブレーションの簡略化が可能な座標検出
装置と誤差補正方法を提供することができる。
の維持とキャリブレーションの簡略化が可能な座標検出
装置と誤差補正方法を提供することができる。
【図１】 本発明になる座標検出装置の構成を示す図で
ある。
ある。
【図２】 本発明における入力範囲の分割例を示す図で
ある。
ある。
【図３】 記憶装置に記憶された補正データを示す図で
ある。
ある。
【図４】 本発明になる誤差補正方法を示すフローチャ
ートである。
ートである。
【図５】 従来の座標検出装置の構成を示す図である。
【図６】 従来の誤差補正方法を説明する図である。
1A、1B 座標入力パネル 2A、2B 駆動回路 ３ 制御部 11、12、16、17
導体膜 13 入力範囲 14、15、20 電極 18、19 電極列 21、22、23、24
トランジスタ 25 スイッチ 26、27、28、29
トランジスタ群 31 Ａ／Ｄ変換器 33 記憶装置 34 第１の格納手段 35 第２の格納手
段
導体膜 13 入力範囲 14、15、20 電極 18、19 電極列 21、22、23、24
トランジスタ 25 スイッチ 26、27、28、29
トランジスタ群 31 Ａ／Ｄ変換器 33 記憶装置 34 第１の格納手段 35 第２の格納手
段
Claims (5)
- 【請求項１】 それぞれ周縁に沿って電極が形成された
２枚の導体膜を隙間を介して対向させてなる座標入力パ
ネルと、該導体膜のいずれか一方の相対する電極間に電
圧を印加する駆動回路と、電圧が印加されていない該導
体膜を介し入力点から得られる電圧値をデジタル信号に
変換するＡ／Ｄ変換器と、該座標入力パネルが有する座
標誤差の補正データを記憶させる記憶装置と、該駆動回
路を制御すると共に該Ａ／Ｄ変換器から入力される信号
に基づいて該入力点の座標値を検出し、かつ該記憶装置
に記憶された補正データに基づいて該座標値を補正する
制御部とを具え、前記座標誤差の補正データとして、該
座標入力パネルの入力範囲を複数の領域に分割し、それ
ぞれの領域において得られる補正データを該記憶装置に
記憶させてなる電圧検出型の座標検出装置であって、 該記憶装置が、該入力範囲を第１の分割数で分割し各領
域から得られた補正データを記憶させる第１の格納手段
と、該第１の分割数より少ない第２の分割数で分割し各
領域から得られた補正データを記憶させる第２の格納手
段とを有し、 検出された座標値の出力に際して該制御部が、第１の格
納手段に記憶された対応領域の補正データによる座標値
の補正と、第２の格納手段に記憶された対応領域の補正
データによる座標値の補正とを行うことを特徴とする座
標検出装置。 - 【請求項２】 前記記憶装置が、第１の格納手段および
第２の格納手段に、それぞれの領域において得られる補
正データと共に記憶させた、該補正データの良否判定基
準となるチェックデータを有する請求項１記載の座標検
出装置。 - 【請求項３】 請求項１、または２記載の座標検出装置
における誤差補正方法であって、第２の格納手段に記憶
された補正データのみを使用者によるキャリブレーショ
ンの対象とし、 第２の分割数による領域分割に基づいて設定された所定
の位置において、座標値の誤差が零になるよう第２の格
納手段に記憶された補正データを修正し、 Ａ／Ｄ変換器を介し入力された座標値の補正に際して、
先ず第１の格納手段に記憶された補正データによって該
座標値の一次補正を行った後、更に該第２の格納手段に
記憶された補正データにより補正することを特徴とする
誤差補正方法。 - 【請求項４】 第２の格納手段に記憶された補正データ
をチェックデータと比較し該補正データが不良と判定さ
れた場合は、第１の格納手段に記憶された補正データに
より一次補正された座標値を出力する請求項３記載の誤
差補正方法。 - 【請求項５】 第１の格納手段若しくは第２の格納手段
に記憶された補正データをチェックデータと比較し、該
補正データが不良と判定された場合は外部に異常信号を
出力する請求項３記載の誤差補正方法。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP32560595A JPH09167047A (ja) | 1995-12-14 | 1995-12-14 | 座標検出装置および誤差補正方法 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP32560595A JPH09167047A (ja) | 1995-12-14 | 1995-12-14 | 座標検出装置および誤差補正方法 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH09167047A true JPH09167047A (ja) | 1997-06-24 |
Family
ID=18178747
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP32560595A Pending JPH09167047A (ja) | 1995-12-14 | 1995-12-14 | 座標検出装置および誤差補正方法 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH09167047A (ja) |
Cited By (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| CN100410859C (zh) * | 2004-09-30 | 2008-08-13 | 精工爱普生株式会社 | 用于触摸屏的控制单元 |
| JP2010257230A (ja) * | 2009-04-24 | 2010-11-11 | Fujitsu Ten Ltd | 表示装置 |
| KR20110121590A (ko) * | 2010-04-30 | 2011-11-07 | 아트멜 코포레이션 | 멀티-칩 터치 스크린 |
-
1995
- 1995-12-14 JP JP32560595A patent/JPH09167047A/ja active Pending
Cited By (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| CN100410859C (zh) * | 2004-09-30 | 2008-08-13 | 精工爱普生株式会社 | 用于触摸屏的控制单元 |
| JP2010257230A (ja) * | 2009-04-24 | 2010-11-11 | Fujitsu Ten Ltd | 表示装置 |
| KR20110121590A (ko) * | 2010-04-30 | 2011-11-07 | 아트멜 코포레이션 | 멀티-칩 터치 스크린 |
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