JPH0916482A - Device connected to host device - Google Patents

Device connected to host device

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JPH0916482A
JPH0916482A JP7165536A JP16553695A JPH0916482A JP H0916482 A JPH0916482 A JP H0916482A JP 7165536 A JP7165536 A JP 7165536A JP 16553695 A JP16553695 A JP 16553695A JP H0916482 A JPH0916482 A JP H0916482A
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JP
Japan
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interface
host
failure
processing
power supply
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JP7165536A
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Japanese (ja)
Inventor
Kazutoshi Motoo
和敏 本尾
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NEC Corp
Original Assignee
NEC Corp
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Abstract

PURPOSE: To eliminate useless time required for a reconnection command repeated for the stipulated number of times form a host device generated in the fixed fault processing of a conventional peripheral controller and to accelerate the fixed fault processing. CONSTITUTION: The peripheral controller 200 is provided with a voltage monitoring circuit 206 for monitoring a power supply voltage supplied from a power supply part 5, a voltage abnormality detection circuit 207 for detecting the abnormality of the voltage by output signals from the circuit 206, an interruption circuit 205 for interrupting a processor 203 by the output signals from the circuit 207 and a memory 204 for storing a microprogram to be executed in the processor 203. When a fault is generated in a power supply, the processor 203 performs an interruption processing, controls a host interface control part and reports fault contents to the host device 1.

Description

【発明の詳細な説明】Detailed Description of the Invention

【0001】[0001]

【産業上の利用分野】本発明はコンピュータ等のシステ
ムにおける自装置に関連する固定障害を行う上位装置に
接続された装置に関する。
BACKGROUND OF THE INVENTION 1. Field of the Invention The present invention relates to a device connected to a host device which causes a fixed fault related to the device itself in a system such as a computer.

【0002】[0002]

【従来の技術】上位装置と上位インタフェースで接続さ
れる従来の装置、例えば周辺制御装置では、周辺制御装
置に障害が発生した場合以下のような障害処理が行われ
る。すなわち、システムの稼働性を高めるために、障害
発生時の指令の再実行が行われる。再実行が成功した場
合には障害の周辺制御装置が継続して使用され、再実行
が不成功の場合には障害の周辺制御装置がシステムから
切り離される。もし、代替え装置がある場合は処理が続
行される。
2. Description of the Related Art In a conventional device, such as a peripheral control device, which is connected to a higher-level device by a higher-level interface, the following fault processing is performed when a fault occurs in the peripheral control device. That is, in order to improve the system operability, the command is re-executed when a failure occurs. If the re-execution is successful, the failed peripheral controller is continuously used, and if the re-execution is unsuccessful, the failed peripheral controller is disconnected from the system. If there is a replacement device, the process continues.

【0003】また、コンピュータシステムにおいて、ホ
ットスタンバイシステムがある。これは、待機のシステ
ムをもう一つ用意し、稼働中のシステムが障害のために
使用不可能になった場合に、待機システムで処理を続行
させるものである。特開平2−77941号公報におい
ては、通常のコンピュータシステムでは障害時に処理能
力を低下させても処理を続行させ、ホットスタンバイシ
ステムでは障害時に通常行われている処理能力を低下さ
せて処理を続行することを行わず、即座に待機システム
に切り換えるようにした技術が示されている。
Also, in computer systems, there is a hot standby system. This is to prepare another standby system and allow the standby system to continue processing when the system in operation becomes unavailable due to a failure. In Japanese Patent Laid-Open No. 2-77941, the processing is continued in a normal computer system even if the processing capacity is reduced at the time of a failure, and the processing capacity normally performed at the time of a failure is continued in the hot standby system and the processing is continued. There is shown a technique for immediately switching to the standby system without doing this.

【0004】この詳細を、図13を用いて説明する。
「1は中央処理装置(CPU)、2は複数のチャネル装
置(CH)20a及至20nを制御する入出力装置(I
OP)、21はIOPの主制御を司るマイクロプログラ
ム制御の制御ユニット、22はレジスタ(REG)で、
3のサービスプロセッサ(SVP)によって値が設定さ
れ、その値をマイクロ制御ユニット21が参照できるよ
うになっている。また、SVP3は、SVPの主制御を
司るコントロールウェア制御の制御ユニットと、システ
ムの構成情報や各装置のマイクロプログラム及び障害時
のログアウト情報といった情報格納するファイル装置
(FD)31を含んでいる。さらにSVP3にはオペレ
ータとのインタフェース用にコンソール装置(CD)3
3が接続されている。この情報はIOP2に対して障害
処理方法を指示する情報であり、そのシステムを設置す
る時点で、障害処理がそのシステムに適したものとなる
よう、システムエンジニアによってCD33を使って設
定される。この情報はFD31内に格納されていて、パ
ワーオンの都度IOP2内のREG22にロードされ
る。この情報の内容は図14に示す通りで、チャネル台
数分のビット数から成り、各ビットが各チャネルに対応
しており、対応するチャネルで回復不可能な固定(ソリ
ッド)障害が発生した時に、IOP2がとるべき障害処
理方法を規定している。そのビットが0ということは、
対応するチャネルで固定障害が発生した時には、そのチ
ャネルのそれ以降の動作だけを停止すべき閉塞処理を行
い、システムとしては、残りのチャネルを使って処理を
続行(すなわち縮退運転)させる、という障害処理を行
えということを指示している。この設定は、主に、その
システムが単一システムとして運用される場合に行われ
る。また、そのビットが1ということは、対応するチャ
ネルで固定障害が発生した時には、直ちにシステム全体
の動作を停止させるような障害処理を行えということを
指示している。この設定は主に、そのシステムがホット
スタンバイ付きのシステムとして運用される場合に行わ
れる。
The details will be described with reference to FIG.
"1 is a central processing unit (CPU), 2 is an input / output device (I) for controlling a plurality of channel devices (CH) 20a to 20n.
OP), 21 is a microprogram control unit that controls the main control of IOP, and 22 is a register (REG).
The value is set by the service processor (SVP) 3 and the value can be referred to by the micro control unit 21. Further, the SVP 3 includes a control wear control unit that controls the main control of the SVP, and a file device (FD) 31 that stores information such as system configuration information, a microprogram of each device, and logout information at the time of failure. In addition, the SVP3 has a console device (CD) 3 for interfacing with the operator.
3 are connected. This information is information for instructing the failure processing method to the IOP 2, and is set by the system engineer using the CD 33 so that the failure processing is suitable for the system when the system is installed. This information is stored in the FD 31 and loaded into the REG 22 in the IOP 2 each time the power is turned on. The content of this information is as shown in FIG. 14, and consists of the number of bits for the number of channels, each bit corresponds to each channel, and when an unrecoverable fixed (solid) failure occurs in the corresponding channel, It defines the fault handling method that IOP2 should take. The bit being 0 means that
When a fixed failure occurs in the corresponding channel, a blocking process should be performed to stop only the subsequent operation of that channel, and the system uses the remaining channels to continue processing (that is, degenerate operation). It is instructed that processing can be performed. This setting is mainly performed when the system is operated as a single system. In addition, the fact that the bit is 1 indicates that when a fixed fault occurs in the corresponding channel, it is possible to immediately perform a fault process to stop the operation of the entire system. This setting is mainly done when the system is operated as a system with hot standby.

【0005】次に従来の周辺制御装置を説明する。図1
5を参照して説明する。1は上位装置(または中央処理
装置)、200は周辺制御装置、201は上位装置1と
の上位インタフェース10を制御する上位インタフェー
ス制御部、6は周辺装置、202は周辺装置6との下位
インタフェース60を制御する下位インタフェース制御
部、203はメモリ204に格納されるマイクロプログ
ラムを実行するプロセッサ、5は電源部、電源部5から
電力を供給する電源供給信号50、210は内部バスで
ある。
Next, a conventional peripheral control device will be described. FIG.
This will be described with reference to FIG. 1 is a host device (or central processing unit), 200 is a peripheral control device, 201 is a host interface controller that controls the host interface 10 with the host device 1, 6 is a peripheral device, and 202 is a lower interface 60 with the peripheral device 6. The lower interface controller 203 controls the CPU 203, the processor 203 executes the microprogram stored in the memory 204, the power source 5 and the power supply signals 50 and 210 for supplying power from the power source 5 are internal buses.

【0006】次に、図16を参照して動作を説明する。
周辺制御装置200の電源部5が障害になった時、供給
されている電力がなくなり、上位インタフェース10が
閉塞される。上位装置1は、上位インタフェース10が
閉塞されたことを認識し、上位インタフェース10に接
続されている周辺制御装置200に対して再接続指令を
発行する。しかし、周辺制御装置200は再接続指令に
対して応答することができず、この指令がタイムアウト
になる。この後、上位装置から規定回数分の再接続指令
を発行して、すべての指令がタイムアウトになった時に
初めて上位装置1は周辺制御装置200が固定障害にな
っていることを認識する。上位装置1は、周辺制御装置
200が接続される上位インタフェース10を閉塞し、
代替え装置があれば代替え装置を使用して処理を続行す
ることになる。
Next, the operation will be described with reference to FIG.
When the power supply unit 5 of the peripheral control device 200 fails, the supplied power is lost and the upper interface 10 is blocked. The higher-level device 1 recognizes that the higher-level interface 10 has been blocked, and issues a reconnection command to the peripheral control device 200 connected to the higher-level interface 10. However, the peripheral control device 200 cannot respond to the reconnection command, and this command times out. After that, the host device issues a reconnection command for the specified number of times, and the host device 1 recognizes that the peripheral control device 200 has a fixed failure only when all commands time out. The host device 1 blocks the host interface 10 to which the peripheral control device 200 is connected,
If there is an alternative device, the alternative device is used to continue the processing.

【0007】以上のように、従来の周辺制御装置におい
て、電源障害が発生した場合には周辺制御装置の電源が
落ちてしまい、即座に上位インタフェースが閉塞され
る。すなわち、上位装置の状態に関わらず周辺制御装置
側で上位インタフェースが閉塞されていた。この方式で
は、上位インタフェースの閉塞前に上位装置に対して閉
塞の原因を通知しないため、電源障害のようにインタフ
ェースの再接続が成功しない場合でも、通常と同様に上
位装置が周辺制御装置に対してシステムで規定された回
数の再接続を繰り返し行い、規定回数の再接続が不成功
になって初めて固定障害の発生を上位装置が認識するよ
うになっている。したがって、再接続で成功しない電源
障害の場合には、再接続の繰り返しの時間が無駄になる
という問題がある。もちろん、特開平2−77941で
記載される障害処理方式でも、固定障害の判断の際には
再接続を行うわけであり、同様の問題を抱えている。
As described above, in the conventional peripheral control device, when a power failure occurs, the power supply of the peripheral control device is turned off and the upper interface is immediately blocked. That is, the upper interface was blocked on the peripheral control device side regardless of the state of the upper device. In this method, since the cause of the blockage is not notified to the host device before the host interface is blocked, even if the interface reconnection is unsuccessful due to a power failure, the host device notifies the peripheral controller as usual. The re-connection is repeated the number of times specified by the system, and the host device recognizes the occurrence of the fixed fault only after the re-connection of the specified number of times is unsuccessful. Therefore, in the case of a power failure in which reconnection is unsuccessful, there is a problem that the time for repeated reconnection is wasted. Of course, even in the failure processing method described in Japanese Patent Laid-Open No. 2-77941, reconnection is performed when a fixed failure is determined, and the same problem is present.

【0008】[0008]

【発明が解決しようとする課題】上位装置がこの上位装
置にインタフェースで接続された装置、例えば電源障害
のような固定障害を認識する際に、規定回数分の再接続
指令を行い、この指令の全てがタイムアウトになって初
めて固定障害の発生を認識する。このため、従来の装置
では固定障害の発生時に上位装置から規定回数分繰り返
し発行される再接続指令の時間が無駄になっている。
When a host device recognizes a device connected to the host device by an interface, for example, a fixed failure such as a power failure, a reconnection command is issued a specified number of times, and this command is issued. Only when all have timed out does the fixed fault occur. For this reason, in the conventional device, the time of the reconnection command repeatedly issued a prescribed number of times from the host device when a fixed failure occurs is wasted.

【0009】本発明の目的は、上述の無駄をなくすよう
にした上位装置に接続された装置を提供することにあ
る。
An object of the present invention is to provide a device connected to a host device which eliminates the above waste.

【0010】本発明の他の目的は、固定障害処理を高速
化するようにした上位装置に接続された装置を提供する
ことにある。
Another object of the present invention is to provide a device connected to a higher-level device which speeds up fixed fault processing.

【0011】本発明の他の目的は、固定障害の発生時障
害装置の切り離しや代替え装置への切り替えを迅速にで
きるようにした上位装置に接続された装置を提供するこ
とにある。
Another object of the present invention is to provide a device connected to a higher-level device, which enables quick disconnection of a faulty device or switching to a replacement device when a fixed fault occurs.

【0012】[0012]

【課題を解決するための手段】本発明の第1の装置は、
上位装置と上位インタフェースで接続された装置であっ
て、自装置に関連する異常を検出する検出手段と、この
検出手段の検出に基いて上位装置に障害の発生を報告し
該報告のあと上位インタフェースの閉塞の処理をする処
理手段とを含む。
The first device of the present invention comprises:
A device that is connected to a host device through a host interface and that detects an abnormality related to the device itself, and reports the occurrence of a failure to the host device based on the detection of this detection means, and then reports the host interface. And a processing means for processing the blockage.

【0013】本発明の第2の装置は、上位装置と上位イ
ンタフェースで接続された装置であって、自装置に供給
される電源の異常を検出する検出手段と、この検出手段
の検出に基いて上位装置に電源障害の発生を報告し該報
告のあと上位インタフェースの閉塞の処理をする処理手
段とを含む。
A second device of the present invention is a device connected to a host device by a host interface, and based on the detection means for detecting an abnormality in the power source supplied to the own device and the detection by this detection means. And a processing unit for reporting the occurrence of a power failure to the host device and, after the report, processing for blocking the host interface.

【0014】本発明の第3の装置は、前記第2の装置に
おいて、前記検出手段が、自装置に供給される電源電圧
を監視する電圧監視手段と、この電圧監視手段からの出
力信号により電源電圧の異常を検出する電圧異常検出手
段とを備え、前記処理手段が前記電圧異常検出手段の検
出に基いて上位装置に対して電源障害の発生を報告する
電源障害報告手段と、この電源障害報告手段による電源
障害報告の終了後に上位インタフェースの閉塞を行うイ
ンタフェース閉塞手段とを備えたことを特徴とする。
According to a third device of the present invention, in the second device, the detecting means monitors the power supply voltage supplied to the own device, and a power supply is provided by an output signal from the voltage monitoring means. A power supply failure report means for detecting a power supply failure to the upper device based on the detection of the voltage abnormality detection means, and a power supply failure report means for detecting a voltage abnormality. Interface closing means for closing the upper interface after the completion of the power failure report by the means.

【0015】本発明の第4の装置は、前記第2の装置に
おいて前記検出手段が自装置に供給される電源の制御お
よび監視を行う電源制御手段と、この電源制御手段から
出力される電源状態信号の状態遷移を検出する状態遷移
検出手段とを備え、前記処理手段が前記状態遷移検出手
段の検出に基いて上位装置に対して電源障害の発生を報
告する電源障害報告手段と、この電源障害報告手段によ
る電源障害報告の終了後に上位インタフェースの閉塞を
行うインタフェース閉塞手段とを備えたことを特徴とす
る。
In a fourth device of the present invention, in the second device, the detection means controls and monitors the power supplied to the device, and a power supply state output from the power supply control means. A state transition detecting means for detecting a state transition of a signal; and a power source fault reporting means for reporting the occurrence of a power source fault to the host device by the processing means based on the detection of the state transition detecting means, and the power source fault. Interface closing means for closing the upper interface after the power failure report by the reporting means is completed is provided.

【0016】本発明の第5の装置は、上位装置と上位イ
ンタフェースで接続された装置であって、自装置を冷却
する装置の異常を検出する冷却異常検出手段と、この冷
却異常検出手段の検出に基いて上位装置に冷却障害の発
生を報告し該報告のあと上位インタフェースの閉塞の処
理をする処理手段とを含む。
A fifth device of the present invention is a device connected to a host device through a host interface, and has a cooling abnormality detecting means for detecting an abnormality of a device that cools itself and a detection of this cooling abnormality detecting means. Processing means for reporting the occurrence of a cooling failure to the host device based on the above, and for processing the blocking of the host interface after the report.

【0017】本発明の第6の装置は、前記第5の装置に
おける前記処理手段が前記冷却異常検出手段の検出に基
いて上位装置に対して冷却障害の発生を報告する冷却障
害報告手段と、この冷却障害報告手段による冷却障害報
告の終了後に上位インタフェースの閉塞を行うインタフ
ェース閉塞手段とを備えている。
According to a sixth aspect of the present invention, the processing means in the fifth aspect includes a cooling fault reporting means for reporting the occurrence of a cooling fault to a host device based on the detection of the cooling abnormality detecting means, Interface closing means for closing the upper interface after the cooling failure reporting by the cooling failure reporting means is completed.

【0018】本発明の第7の装置は、上位装置に上位イ
ンタフェースで接続された装置であって、自装置内の温
度の異常を検出する温度異常検出手段と、この温度異常
検出手段の検出に基いて上位装置に温度異常の発生を報
告し該報告のあと上位インタフェースの閉塞の処理をす
る処理手段とを含む。
A seventh device of the present invention is a device connected to a host device by a host interface, and is used for detecting temperature abnormality detecting means for detecting temperature abnormality in the own device and for detecting this temperature abnormality detecting means. And a processing unit for reporting the occurrence of the temperature abnormality to the host device based on the report and for blocking the host interface after the report.

【0019】本発明の第8の装置は、前記第7の装置で
あって前記処理手段が、前記温度異常検出手段の検出に
基いて上位装置に対して温度異常の発生を報告する温度
異常発生報告手段と、この温度異常発生報告手段による
温度異常報告の終了後に上位インタフェースの閉塞を行
うインタフェース閉塞手段とを備えている。
An eighth apparatus of the present invention is the seventh apparatus, wherein the processing means reports a temperature abnormality occurrence to a higher-level device based on the detection of the temperature abnormality detection means. It is provided with reporting means and interface blocking means for blocking the higher-level interface after the temperature abnormality reporting by the temperature abnormality occurrence reporting means is completed.

【0020】本発明の第9の装置は、第1,第2,第
3,第4,第5,第6,第7,または第8の装置におい
て自装置が周辺制御装置であることを特徴とする。
A ninth device of the present invention is characterized in that the device is a peripheral control device in the first, second, third, fourth, fifth, sixth, seventh or eighth device. And

【0021】[0021]

【実施例】次に本発明の実施例について図面を参照して
詳細に説明する。
DETAILED DESCRIPTION OF THE PREFERRED EMBODIMENTS Next, embodiments of the present invention will be described in detail with reference to the drawings.

【0022】図1を参照すると、本発明に適用されるシ
ステムは、本発明の一実施例である周辺制御装置20
0,この周辺制御装置200と上位インタフェース10
を介して接続される上位装置1,周辺制御装置200と
下位インタフェース60を介して接続される周辺装置
6,および周辺制御装置200に電源供給信号線50を
介して電源を供給する電源部5を含む。
Referring to FIG. 1, the system applied to the present invention is a peripheral controller 20 which is an embodiment of the present invention.
0, the peripheral control device 200 and the host interface 10
A power supply unit 5 that supplies power to the peripheral device 6, which is connected via the power supply signal line 50, to the peripheral device 6, which is connected to the higher-level device 1 connected through Including.

【0023】本発明の第1の実施例である周辺制御装置
200は、上位インタフェース10を制御する上位イン
タフェース制御部201,下位インタフェース20を制
御する下位インタフェース制御部202,これらインタ
フェース制御部201および202の制御するためのマ
イクロプログラムを格納するメモリ204,このメモリ
204からのマイクロプログラムを解説して少なくとも
インタフェース制御部201および202を制御するプ
ロセッサ203を含む。
The peripheral control device 200 according to the first embodiment of the present invention controls an upper interface control unit 201 for controlling the upper interface 10, a lower interface control unit 202 for controlling the lower interface 20, and these interface control units 201 and 202. It includes a memory 204 for storing a microprogram for controlling, and a processor 203 for explaining the microprogram from the memory 204 and controlling at least the interface control units 201 and 202.

【0024】本発明の第1の実施例である周辺制御装置
200の特徴の1つは、電源部5から電源供給信号線5
0を介して供給される電源電圧の変化を監視し、電圧の
所定の悪化に応じて信号を出力する電圧監視回路20
6,この電圧監視回路206からの出力信号に応答して
電源電圧の異常の発生を検出する電圧異常検出回路20
7,この電圧異常検出回路207からの出力信号に応答
して割込をかける割込回路205,およびこの割込回路
205からの割込信号に応答して割込処理を行うプロセ
ッサ203を含む。
One of the characteristics of the peripheral control device 200 according to the first embodiment of the present invention is that the power supply unit 5 is connected to the power supply signal line 5
A voltage monitoring circuit 20 that monitors a change in the power supply voltage supplied via 0 and outputs a signal according to a predetermined deterioration of the voltage.
6, a voltage abnormality detection circuit 20 for detecting the occurrence of an abnormality in the power supply voltage in response to the output signal from the voltage monitoring circuit 206
7, an interrupt circuit 205 for interrupting in response to the output signal from the voltage abnormality detecting circuit 207, and a processor 203 for executing interrupt processing in response to the interrupt signal from the interrupt circuit 205.

【0025】本発明の第1の実施例である周辺制御装置
200の特徴の他の1つは、プロセッサ203の割込処
理にある。
Another feature of the peripheral control device 200 according to the first embodiment of the present invention lies in the interrupt processing of the processor 203.

【0026】次に本発明の第1の実施例の動作につい
て、図1,2および3を参照して詳細に説明する。
Next, the operation of the first embodiment of the present invention will be described in detail with reference to FIGS.

【0027】図1を参照すると、周辺制御装置200の
電源部5において、障害が発生すると、電圧監視回路2
06が電源供給信号線50を介して供給される電圧を監
視し、電圧の変化を検出する。電圧監視回路206から
の出力信号により、電圧異常検出回路207が電源部5
の異常の発生を検出する。電圧異常検出回路207から
の出力信号が割込回路205に入力され、プロセッサ2
03に割り込まれる。
Referring to FIG. 1, when a failure occurs in the power supply unit 5 of the peripheral control device 200, the voltage monitoring circuit 2
06 monitors the voltage supplied through the power supply signal line 50, and detects a change in the voltage. The output signal from the voltage monitoring circuit 206 causes the voltage abnormality detection circuit 207 to operate the power supply unit 5
To detect the occurrence of abnormalities. The output signal from the voltage abnormality detection circuit 207 is input to the interrupt circuit 205, and the processor 2
Interrupted by 03.

【0028】本発明の他の特徴の1つであるプロセッサ
203で実行される割込処理について、図2を参照して
説明する。
An interrupt process executed by the processor 203, which is another feature of the present invention, will be described with reference to FIG.

【0029】図2を参照すると、まず、割込みの原因が
電源障害であるかが調べられる。(ステップ101)。
割込みの原因が電源障害であるのでステップ102に進
む。ステップ102では、上位装置1に対して電源障害
が報告される。
Referring to FIG. 2, first, it is investigated whether the cause of the interrupt is a power failure. (Step 101).
Since the interruption is caused by the power failure, the process proceeds to step 102. In step 102, a power failure is reported to the host device 1.

【0030】図1および図2を参照すると、より詳細に
は、上位インタフェース制御部201を制御して、上位
装置1に対して電源障害の発生が報告される。次に、ス
テップ102で実行された電源障害報告が正常終了した
かが調べられる(ステップ103)。正常終了したら、
次のステップ104に進む。ステップ104では、上位
インタフェース10の閉塞する処理が実行される。これ
で割込み処理が終了する。
Referring to FIGS. 1 and 2, more specifically, the upper interface controller 201 is controlled to report the occurrence of a power failure to the upper device 1. Next, it is checked whether the power failure report executed in step 102 has ended normally (step 103). After normal termination,
Proceed to next step 104. In step 104, the process of blocking the higher-level interface 10 is executed. This completes the interrupt processing.

【0031】上位装置1の動作を図3を参照して説明す
る。
The operation of the host device 1 will be described with reference to FIG.

【0032】周辺制御装置200が上位インタフェース
10を閉塞した後は、上位装置1が上位インタフェース
10の閉塞を認識し、固定障害か否かを判断する。上位
装置1は、周辺制御装置200から電源障害の発生の報
告を受けているため、周辺制御装置200の電源障害と
判断する。上位装置1は、周辺制御装置200の電源障
害が回復不可能な固定障害と判断し、再接続の指令の発
行を中止し、障害の周辺制御装置200をシステムから
切り離す。
After the peripheral controller 200 blocks the higher-level interface 10, the higher-level device 1 recognizes that the higher-level interface 10 is blocked and determines whether or not there is a fixed fault. Since the host device 1 has received the report of the occurrence of the power failure from the peripheral control device 200, it determines that the power supply to the peripheral control device 200 has failed. The host device 1 determines that the power failure of the peripheral control device 200 is a non-recoverable fixed failure, cancels the issue of the reconnection command, and disconnects the failed peripheral control device 200 from the system.

【0033】本発明の第1の実施例では、電源障害発生
中電源電圧の監視を電圧監視回路206により行い、さ
らに電圧監視回路206からの出力信号により電源電圧
の異常を電圧異常検出回路207により検出する。この
異常検出回路207の出力信号に基いて、ステップ10
2で上位装置1に対して電源障害の発生が報告される。
このあと、ステップ104で上位インタフェース10を
閉塞する処理が実行される。
In the first embodiment of the present invention, the power supply voltage during power failure is monitored by the voltage monitoring circuit 206, and the power supply voltage abnormality is detected by the voltage abnormality detection circuit 207 by the output signal from the voltage monitoring circuit 206. To detect. Based on the output signal of this abnormality detection circuit 207, step 10
In 2, the occurrence of power failure is reported to the host device 1.
Then, in step 104, the process of blocking the upper interface 10 is executed.

【0034】本発明の第1の実施例では、上位装置1に
対して障害内容を報告するので、上位装置1で従来行っ
ていた再接続指令の障害処理を行う必要がないという効
果をもたらす。
In the first embodiment of the present invention, since the contents of the failure are reported to the higher-level device 1, there is an effect that the higher-level device 1 does not need to perform the failure processing of the reconnection command, which is conventionally performed.

【0035】次に本発明の第2の実施例について図面を
参照して詳細に説明する。
Next, a second embodiment of the present invention will be described in detail with reference to the drawings.

【0036】図4を参照すると、本発明に適用されるシ
ステムは、本発明の第2の実施例である周辺制御装置2
00,この周辺制御装置200と上位インタフェース1
0を介して接続される上位装置1,周辺制御装置200
と下位インタフェース60を介して接続される周辺装置
6,周辺制御装置200に電源供給信号線50を介して
電源を供給する電源部5および電源制御信号線71を介
してシステムのサービスプロセッサ等からの電源オン/
オフ指示により電源部を制御し、電源部5の障害発生に
応答して電源部5の状態を監視する電源制御部7を含
む。
Referring to FIG. 4, the system applied to the present invention is a second embodiment of the peripheral control device 2 according to the present invention.
00, this peripheral control device 200 and host interface 1
Host device 1 and peripheral control device 200 connected via 0
From the service processor of the system via the power supply unit 5 and the power supply control signal line 71 which supply power to the peripheral device 6 and the peripheral control device 200 connected via the power supply signal line 50 to the peripheral device 6 and the peripheral control device 200. Power on /
It includes a power supply control unit 7 that controls the power supply unit according to an off instruction and that monitors the state of the power supply unit 5 in response to the occurrence of a failure in the power supply unit 5.

【0037】本発明の第2の実施例である周辺制御装置
200は、上位インタフェース10を制御する上位イン
タフェース制御部201,下位インタフェース20を制
御する下位インタフェース制御部202,これらインタ
フェース制御部201および202の制御するためのマ
イクロプログラムを格納するメモリ204,このメモリ
204からのマイクロプログラムを解説して少なくとも
インタフェース制御部201および202を制御するプ
ロセッサ203を含む。
The peripheral control device 200 according to the second embodiment of the present invention comprises an upper interface control unit 201 for controlling the upper interface 10, a lower interface control unit 202 for controlling the lower interface 20, and these interface control units 201 and 202. It includes a memory 204 for storing a microprogram for controlling, and a processor 203 for explaining the microprogram from the memory 204 and controlling at least the interface control units 201 and 202.

【0038】本発明の第2の実施例である周辺制御装置
200の特徴の1つは、電源制御部7から出力される電
源部5の電源状態を示す信号の状態遷移を検出し出力信
号を活性化する状態遷移検出回路208,この状態遷移
検出回路208からの出力信号の活性化状態に応答して
割込をかける割込回路205,およびこの割込回路20
5からの割込信号に応答して割込処理を実行するプロセ
ッサ203を含む。
One of the characteristics of the peripheral control device 200 according to the second embodiment of the present invention is that it detects the state transition of the signal indicating the power supply state of the power supply unit 5 output from the power supply control unit 7 and outputs the output signal. A state transition detection circuit 208 to be activated, an interruption circuit 205 for making an interruption in response to an activated state of an output signal from the state transition detection circuit 208, and this interruption circuit 20.
5 includes a processor 203 that executes an interrupt process in response to an interrupt signal from 5.

【0039】本発明の第2の実施例である周辺制御装置
200の他の特徴の1つはプロセッサ203の割込処理
にある。
Another feature of the peripheral control device 200 according to the second embodiment of the present invention is the interrupt processing of the processor 203.

【0040】次に本発明の第2の実施例の動作につい
て、図4,5および6を参照して詳細に説明する。
Next, the operation of the second embodiment of the present invention will be described in detail with reference to FIGS.

【0041】図4を参照すると、周辺制御装置200の
電源部5において、障害が発生すると、電源制御部7が
電源部5の状態を監視する。状態遷移検出回路208
は、電源制御部7からの出力信号により、電源部5の状
態の変化を検出し出力信号をアクティブにする。状態遷
移検出回路208からの出力信号が、割込回路205を
通じてプロセッサ203に割り込まれる。
Referring to FIG. 4, when a failure occurs in the power supply unit 5 of the peripheral control device 200, the power supply control unit 7 monitors the state of the power supply unit 5. State transition detection circuit 208
Detects a change in the state of the power supply unit 5 based on the output signal from the power supply control unit 7 and activates the output signal. The output signal from the state transition detection circuit 208 is interrupted by the processor 203 through the interrupt circuit 205.

【0042】本発明の第2の実施例の他の特徴の1つで
あるプロセッサ203で実行される割込処理は、図5を
参照して説明する。
The interrupt processing executed by the processor 203, which is another feature of the second embodiment of the present invention, will be described with reference to FIG.

【0043】図5を参照すると、まず、割込みの原因が
電源障害であるか否かが調べられる(ステップ10
1)。割込みの原因が電源障害であるので、ステップ1
02に進む。ステップ102では、上位装置1に対して
電源障害が報告される。
Referring to FIG. 5, first, it is checked whether or not the cause of the interrupt is a power failure (step 10).
1). Since the cause of the interrupt is a power failure, step 1
Go to 02. In step 102, a power failure is reported to the host device 1.

【0044】図4および図5を参照すると、上位インタ
フェース制御部201を制御して、上位装置1に対して
電源障害の発生が報告される。次にステップ102で実
行された電源障害報告が正常終了したかが調べられる
(ステップ103)。正常終了したら、次のステップ1
04に進む。ステップ104では、上位インタフェース
10を閉塞する処理が実行される。これで割込み処理が
終了する。
Referring to FIGS. 4 and 5, the upper interface control unit 201 is controlled to report the occurrence of a power failure to the upper apparatus 1. Next, it is checked whether the power failure report executed in step 102 has ended normally (step 103). If it ends normally, next step 1
Go to 04. In step 104, a process of blocking the upper interface 10 is executed. This completes the interrupt processing.

【0045】上位装置1の動作を図6を参照して、説明
する。周辺制御装置200が上位インタフェース10を
閉塞した後は、上位装置1が上位インタフェース10の
閉塞を認識し、固定障害か否かを判断する。上位装置1
は、周辺制御装置200から電源障害の発生の報告を受
けているため、周辺制御装置200の電源障害と判断す
る。上位装置1は、周辺制御装置200の電源障害が回
復不可能な固定障害と判断し、再接続の指令の発行を中
止し、障害の周辺制御装置200をシステムから切り離
す。
The operation of the host device 1 will be described with reference to FIG. After the peripheral controller 200 blocks the higher-level interface 10, the higher-level device 1 recognizes that the higher-level interface 10 is blocked and determines whether or not there is a fixed fault. Host device 1
Since the peripheral control device 200 has received a report indicating that a power supply failure has occurred, determines that the peripheral control device 200 has a power supply failure. The host device 1 determines that the power failure of the peripheral control device 200 is a non-recoverable fixed failure, cancels the issue of the reconnection command, and disconnects the failed peripheral control device 200 from the system.

【0046】本発明の第2の実施例では、電源障害発生
中,状態遷移検出回路208により電源制御部7からの
出力信号の状態の変化を検出する。状態遷移検出回路2
08からの検出信号に基いてステップ102で上位装置
1に対して電源障害の発生が報告される。このあと、ス
テップ104で上位インタフェース10を閉塞する処理
が実行される。
In the second embodiment of the present invention, the state transition detection circuit 208 detects a change in the state of the output signal from the power supply control section 7 during the occurrence of a power supply failure. State transition detection circuit 2
Based on the detection signal from 08, the occurrence of a power failure is reported to the host device 1 in step 102. Then, in step 104, the process of blocking the upper interface 10 is executed.

【0047】本発明の第2の実施例でも、第1の実施例
と同様に、上位装置1に対して電源障害の内容を報告す
るので、上位装置1で従来行っていた再接続指令の障害
処理を行う必要がないという効果をもたらす。
In the second embodiment of the present invention as well, as in the first embodiment, since the contents of the power source failure are reported to the higher-level device 1, the failure of the reconnection command conventionally performed in the higher-level device 1. The effect is that no processing is required.

【0048】次に本発明の第3の実施例について図面を
参照して詳細に説明する。
Next, a third embodiment of the present invention will be described in detail with reference to the drawings.

【0049】図7を参照すると、本発明に適用されるシ
ステムは、本発明の第3の実施例である周辺制御装置2
00,この周辺制御装置200と上位インタフェース1
0を介して接続される上位装置1,周辺制御装置200
と下位インタフェース60を介して接続される周辺装置
6,および周辺制御装置200に電源供給信号線50を
介して電源を供給する電源部5および水のような液体や
空気のような気体で周辺制御装置200を冷却する冷却
装置8を含む。
Referring to FIG. 7, the system applied to the present invention is a peripheral controller 2 which is a third embodiment of the present invention.
00, this peripheral control device 200 and host interface 1
Host device 1 and peripheral control device 200 connected via 0
And a peripheral device 6, which is connected via a lower-level interface 60, and a peripheral control device 200, and peripheral control with a power supply unit 5 for supplying power via a power supply signal line 50 and a liquid such as water or a gas such as air. A cooling device 8 for cooling the device 200 is included.

【0050】本発明の第3の実施例である周辺制御装置
200は上位インタフェース10を制御する上位インタ
フェース制御部201,下位インタフェース20を制御
する下位インタフェース制御部202,これらインタフ
ェース制御部201および202の制御するためのマイ
クロプログラムを格納するメモリ204,このメモリ2
04からのマイクロプログラムを解説して少なくともイ
ンタフェース制御部201および202を制御するプロ
セッサ203を含む。
The peripheral control device 200 according to the third embodiment of the present invention includes a higher-level interface control unit 201 for controlling the higher-level interface 10, a lower-level interface control unit 202 for controlling the lower-level interface 20, and these interface control units 201 and 202. Memory 204 for storing microprograms for controlling, this memory 2
It includes a processor 203 which describes the microprogram from 04 and controls at least the interface controls 201 and 202.

【0051】本発明の第3の実施例である周辺制御装置
200の特徴の1つは、障害が発生すると、冷却装置8
からの出力信号に応答して冷却装置の異常を検出し信号
を出力する冷却異常検出回路209,この冷却異常検出
回路209からの信号に応答して割込をかける割込回路
205,およびこの割込回路205からの割込信号に応
答して割込処理を行うプロセッサ203を含む。
One of the characteristics of the peripheral control device 200 according to the third embodiment of the present invention is that the cooling device 8 is operated when a failure occurs.
Cooling abnormality detection circuit 209 that detects an abnormality of the cooling device and outputs a signal in response to an output signal from the cooling abnormality detection circuit, an interrupt circuit 205 that generates an interrupt in response to a signal from the cooling abnormality detection circuit 209, and this interruption. It includes a processor 203 that performs an interrupt process in response to an interrupt signal from an interrupt circuit 205.

【0052】本発明の第3の実施例である周辺制御装置
200の特徴の他の1つは、プロセッサ203の割込処
理にある。
Another feature of the peripheral controller 200 according to the third embodiment of the present invention lies in the interrupt processing of the processor 203.

【0053】次に本発明の第3の実施例の動作につい
て、図7,8および9を参照して詳細に説明する。
Next, the operation of the third embodiment of the present invention will be described in detail with reference to FIGS.

【0054】図7を参照すると、周辺制御装置200の
冷却装置8において、障害が発生すると、冷却異常検出
回路209が冷却装置8の異常を検出する。冷却異常検
出回路209からの出力信号が、割込回路205を通じ
てプロセッサ203に割り込まれる。
Referring to FIG. 7, when a failure occurs in the cooling device 8 of the peripheral control device 200, the cooling abnormality detection circuit 209 detects the abnormality of the cooling device 8. An output signal from the cooling abnormality detection circuit 209 is interrupted by the processor 203 through the interrupt circuit 205.

【0055】本発明の第3の実施例の他の特徴の1つで
あるプロセッサ203で実行される割込処理は、図8を
参照して説明する。
The interrupt processing executed by the processor 203, which is another feature of the third embodiment of the present invention, will be described with reference to FIG.

【0056】図8を参照すると、まず、割込みの原因が
冷却障害であるか否かが調べられる(ステップ10
5)。割込みの原因が冷却障害であるので、ステップ1
06に進む。ステップ106では、上位装置1に対して
冷却障害が報告される。
Referring to FIG. 8, first, it is checked whether or not the cause of the interrupt is a cooling failure (step 10).
5). Since the cause of interruption is a cooling failure, step 1
Proceed to 06. In step 106, the cooling failure is reported to the host device 1.

【0057】図8および図9を参照すると上位インタフ
ェース制御部201を制御して、上位装置1に対して冷
却障害の発生が報告される。次に、ステップ106で実
行された冷却障害報告が正常終了したかが調べられる
(ステップ103)。正常終了したら、次のステップ1
04に進む。ステップ104では、上位インタフェース
10を閉塞する処理が実行される。これで割込み処理が
終了する。
Referring to FIGS. 8 and 9, the host interface controller 201 is controlled to report the occurrence of a cooling failure to the host device 1. Next, it is checked whether or not the cooling fault report executed in step 106 has ended normally (step 103). If it ends normally, next step 1
Go to 04. In step 104, a process of blocking the upper interface 10 is executed. This completes the interrupt processing.

【0058】上位装置1の動作を図9を参照して説明す
る。
The operation of the host device 1 will be described with reference to FIG.

【0059】周辺制御装置200が上位インタフェース
10を閉塞した後は、上位装置1が上位インタフェース
10の閉塞を認識し、固定障害か否かを判断する。上位
装置1は、周辺制御装置200から冷却障害の発生の報
告を受けているため、周辺制御装置200の冷却障害と
判断する。上位装置1は、周辺制御装置200の冷却障
害が回復不可能な固定障害と判断し、再接続の指令の発
行を中止し、障害の周辺制御装置200をシステムから
切り離す。
After the peripheral controller 200 blocks the higher-level interface 10, the higher-level device 1 recognizes that the higher-level interface 10 is blocked and determines whether or not there is a fixed fault. Since the host device 1 has received the report of the occurrence of the cooling fault from the peripheral control device 200, it determines that the peripheral control device 200 has a cooling fault. The upper level device 1 determines that the cooling failure of the peripheral control device 200 is an unrecoverable fixed failure, cancels the issue of the reconnection command, and disconnects the failed peripheral control device 200 from the system.

【0060】本発明の第3の実施例では、冷却障害発生
中,冷却装置8の異常を検出する冷却異常検出回路20
9により異常が検出される。冷却異常検出回路209か
らの検出信号に基いて、ステップ106で上位装置1に
対して冷却障害の発生が報告される。このあと、ステッ
プ104で上位インタフェース10を閉塞する処理が実
行される。
In the third embodiment of the present invention, a cooling abnormality detecting circuit 20 for detecting an abnormality of the cooling device 8 during the occurrence of a cooling fault.
An abnormality is detected by 9. On the basis of the detection signal from the cooling abnormality detection circuit 209, the occurrence of a cooling failure is reported to the host device 1 in step 106. Then, in step 104, the process of blocking the upper interface 10 is executed.

【0061】本発明の第3の実施例は、上位装置1に対
して冷却障害の内容を報告するので、上位装置1で従来
行っていた再接続指令の障害処理を行う必要がないとい
う効果をもたらす。
In the third embodiment of the present invention, the contents of the cooling failure are reported to the high-level equipment 1, so that the high-level equipment 1 does not have to carry out the failure processing of the reconnection command conventionally. Bring

【0062】次に本発明の第4の実施例について図面を
参照して詳細に説明する。
Next, a fourth embodiment of the present invention will be described in detail with reference to the drawings.

【0063】図10を参照すると、本発明に適用される
システムは、本発明の第4の実施例である周辺制御装置
200,この周辺制御装置200と上位インタフェース
10を介して接続される上位装置1,周辺制御装置20
0と下位インタフェース60を介して接続される周辺装
置6,周辺制御装置200に電源供給信号線50を介し
て電源を供給する電源部5および周辺制御装置200内
の温度を検出する温度センサ9を含む。
Referring to FIG. 10, the system applied to the present invention is a peripheral control device 200 according to the fourth embodiment of the present invention, and a host device connected to the peripheral control device 200 via the host interface 10. 1, peripheral control device 20
0 and the peripheral device 6, which is connected via the lower interface 60, to the peripheral control device 200 via the power supply signal line 50, and the temperature sensor 9 for detecting the temperature in the peripheral control device 200. Including.

【0064】本発明の第 の実施例である周辺制御装置
200は上位インタフェース10を制御する上位インタ
フェース制御部201,下位インタフェース20を制御
する下位インタフェース制御部202,これらインタフ
ェース制御部201および202の制御するためのマイ
クロプログラムを格納するメモリ204,このメモリ2
04からのマイクロプログラムを解説して少なくともイ
ンタフェース制御部201および202を制御するプロ
セッサ203を含む。
The peripheral control device 200 according to the first embodiment of the present invention controls an upper interface control unit 201 for controlling the upper interface 10, a lower interface control unit 202 for controlling the lower interface 20, and controls these interface control units 201 and 202. Memory 204 for storing a micro program for
It includes a processor 203 which describes the microprogram from 04 and controls at least the interface controls 201 and 202.

【0065】本発明の第4の実施例である周辺制御装置
200の特徴の1つは、障害発生による温度センサ9か
らの出力信号に応答して周辺制御装置200内の温度の
異常を温度異常で検出し信号を出力する温度異常検出回
路211,この温度異常検出回路211からの信号に応
答して割込をかける割込回路205,およびこの割込回
路205からの割込信号に応答して割込処理を行うプロ
セッサ203を含む。
One of the characteristics of the peripheral control device 200 according to the fourth embodiment of the present invention is that an abnormal temperature in the peripheral control device 200 is detected in response to an output signal from the temperature sensor 9 due to a failure. In response to the signal from this temperature abnormality detection circuit 211, and in response to the interrupt signal from this interrupt circuit 205. It includes a processor 203 that performs an interrupt process.

【0066】本発明の第4の実施例である周辺制御装置
200の特徴の他の1つはプロセッサ203の割込処理
にある。
Another feature of the peripheral controller 200 according to the fourth embodiment of the present invention lies in the interrupt processing of the processor 203.

【0067】次に本発明の第4の実施例の動作につい
て、図10,11および12を参照して説明する。
Next, the operation of the fourth embodiment of the present invention will be described with reference to FIGS.

【0068】図10を参照すると、周辺制御装置200
の温度センサ9において、装置200の障害が発生する
と、温度異常検出回路211が装置200内の温度異常
を検出する。温度異常検出回路211からの出力信号
が、割込回路205を通じてプロセッサ203に割り込
まれる。
Referring to FIG. 10, the peripheral controller 200
When a failure of the device 200 occurs in the temperature sensor 9 of 1, the temperature abnormality detection circuit 211 detects a temperature abnormality in the device 200. The output signal from the temperature abnormality detection circuit 211 is interrupted by the processor 203 through the interrupt circuit 205.

【0069】本発明の他の特徴の1つであるプロセッサ
203で実行される割込処理については、図11を参照
して説明する。
The interrupt processing executed by the processor 203, which is another feature of the present invention, will be described with reference to FIG.

【0070】図11を参照するとまず、割込みの原因が
温度異常であるかが調べられる(ステップ107)。割
込みの原因が温度異常であるので、ステップ108に進
む。ステップ108では、上位装置1に対して温度異常
が報告される。
Referring to FIG. 11, first, it is checked whether or not the cause of the interruption is abnormal temperature (step 107). Since the cause of the interruption is abnormal temperature, the process proceeds to step 108. In step 108, a temperature abnormality is reported to the host device 1.

【0071】図10および図11を参照すると、上位イ
ンタフェース制御部201を制御して、上位装置1に対
して冷却障害の発生が報告される。次に、ステップ10
8で実行された温度異常報告が正常終了したか否かが調
べられる(ステップ103)。正常終了したら、次のス
テップ104に進む。ステップ104では、上位インタ
フェース10を閉塞する処理が実行される。これで割込
み処理が終了する。
Referring to FIGS. 10 and 11, the upper interface control unit 201 is controlled to report the occurrence of a cooling failure to the upper apparatus 1. Next, step 10
It is checked whether or not the temperature abnormality report executed in step 8 has ended normally (step 103). When the process ends normally, the process proceeds to the next step 104. In step 104, a process of blocking the upper interface 10 is executed. This completes the interrupt processing.

【0072】上位装置1の動作を図9を参照して説明す
る。
The operation of the host device 1 will be described with reference to FIG.

【0073】周辺制御装置200が上位インタフェース
10を閉塞した後は、上位装置1が上位インタフェース
10の閉塞を認識し、固定障害か否かを判断する。上位
装置1は、周辺制御装置200から温度異常の発生の報
告を受けているため、周辺制御装置200の温度異常と
判断する。上位装置1は、周辺制御装置200の温度異
常が回復不可能な固定障害と判断し、再接続の指令の発
行を中止し、障害の周辺制御装置200をシステムから
切り離す。なお、本発明は、周辺制御装置に限らず、周
辺装置にも適用可能なことは明らかである。
After the peripheral controller 200 blocks the higher-level interface 10, the higher-level device 1 recognizes that the higher-level interface 10 is blocked and determines whether or not there is a fixed fault. Since the host device 1 receives the report of the occurrence of the temperature abnormality from the peripheral control device 200, it determines that the temperature error of the peripheral control device 200. The host device 1 determines that the temperature abnormality of the peripheral control device 200 is a non-recoverable fixed fault, cancels the issue of the reconnection command, and disconnects the faulty peripheral control device 200 from the system. It is obvious that the present invention is applicable not only to the peripheral control device but also to the peripheral device.

【0074】本発明の第4の実施例では、温度異常の発
生中,温度異常検出回路211により装置内の温度の異
常を検出する。この温度異常検出回路211の検出信号
に基いてステップ108で上位装置1に対して温度異常
の発生が報告される。このあと、ステップ104で上位
インタフェース10を閉塞する処理が実行される。
In the fourth embodiment of the present invention, while the temperature abnormality is occurring, the temperature abnormality detection circuit 211 detects the temperature abnormality in the apparatus. Based on the detection signal of the temperature abnormality detection circuit 211, the occurrence of the temperature abnormality is reported to the host device 1 in step 108. Then, in step 104, the process of blocking the upper interface 10 is executed.

【0075】本発明の第4の実施例は、上位装置1に対
して冷却障害の内容を報告するので、上位装置1で従来
行っていた再接続指令の障害処理を行う必要がないとい
う効果をもたらす。
In the fourth embodiment of the present invention, since the contents of the cooling failure are reported to the host system 1, it is not necessary to carry out the failure processing of the reconnection command which is conventionally carried out in the host system 1. Bring

【0076】[0076]

【発明の効果】本発明の特徴の1つは、周辺制御装置が
電源障害のような固定障害になった時に、周辺制御装置
が上位インタフェースを閉塞する前に、発生している障
害内容を上位装置に通知することにある。この特徴によ
り、本発明は上位装置が行っていた再接続指令に関わる
処理を不要にした。このため、本発明は、周辺制御装置
における固定障害の発生時上位装置から規定回数分繰り
返し発行される再接続指令の時間を省略できる。
One of the features of the present invention is that when a peripheral control unit has a fixed fault such as a power source fault, the peripheral control unit can detect the contents of the fault occurring before the peripheral control unit blocks the upper interface. To notify the device. Due to this feature, the present invention eliminates the processing related to the reconnection command that the host device has performed. Therefore, according to the present invention, when a fixed failure occurs in the peripheral control device, the time for the reconnection command repeatedly issued by the host device for the specified number of times can be omitted.

【0077】この結果、本発明は、固定障害の発生時障
害装置の切り離しや代替え装置への切り替えを迅速にで
きる。したがって、本発明は固定障害の障害処理の高速
化を実現できる。
As a result, according to the present invention, when a fixed fault occurs, the faulty device can be disconnected and switched to the alternative device quickly. Therefore, the present invention can realize speeding up of fault processing of fixed faults.

【図面の簡単な説明】[Brief description of the drawings]

【図1】本発明の第1の実施例とその周辺の構成を示す
図である。
FIG. 1 is a diagram showing a configuration of a first embodiment of the present invention and its periphery.

【図2】図1で示されるプロセッサ203で実行される
割込処理を説明するための図である。
FIG. 2 is a diagram for explaining an interrupt process executed by a processor 203 shown in FIG.

【図3】本発明の第1の実施例と上位装置1との動作関
係を説明するための図である。
FIG. 3 is a diagram for explaining the operational relationship between the first embodiment of the present invention and the host device 1.

【図4】本発明の第2の実施例とその周辺の構成を示す
図である。
FIG. 4 is a diagram showing a configuration of a second embodiment of the present invention and its periphery.

【図5】図4で示されるプロセッサ203で実行される
割込処理を説明するための図である。
5 is a diagram for explaining an interrupt process executed by a processor 203 shown in FIG.

【図6】本発明の第2の実施例と上位装置1との動作関
係を説明するための図である。
FIG. 6 is a diagram for explaining the operational relationship between the second embodiment of the present invention and the host device 1.

【図7】本発明の第3の実施例とその周辺の構成を示す
図である。
FIG. 7 is a diagram showing a configuration of a third embodiment of the present invention and its periphery.

【図8】図7で示されるプロセッサ203で実行される
割込処理を説明するための図である。
8 is a diagram for explaining an interrupt process executed by the processor 203 shown in FIG.

【図9】本発明の第3の実施例と上位装置1との動作関
係を説明するための図である。
FIG. 9 is a diagram for explaining the operational relationship between the third embodiment of the present invention and the host device 1.

【図10】本発明の第4の実施例とその周辺の構成を示
す図である。
FIG. 10 is a diagram showing a configuration of a fourth embodiment of the present invention and its periphery.

【図11】図10で示されるプロセッサ203で実行さ
れる割込処理を説明するための図である。
11 is a diagram for explaining an interrupt process executed by the processor 203 shown in FIG.

【図12】本発明の第4の実施例と上位装置1との動作
関係を説明するための図である。
FIG. 12 is a diagram for explaining the operational relationship between the fourth embodiment of the present invention and the host device 1.

【図13】従来技術の一例を説明するための図である。FIG. 13 is a diagram for explaining an example of a conventional technique.

【図14】従来技術の一例を説明するための図である。FIG. 14 is a diagram for explaining an example of a conventional technique.

【図15】従来技術の他の例を説明するための図であ
る。
FIG. 15 is a diagram for explaining another example of the conventional technique.

【図16】従来技術の他の例を説明するための図であ
る。
FIG. 16 is a diagram for explaining another example of the conventional technique.

【符号の説明】[Explanation of symbols]

1 中央処理装置,上位装置(CPU) 2 入出力処理装置(IOP) 3 サービスプロセッサ(SVP) 5 電源部 6 周辺装置 7 電源制御部 8 冷却装置 9 温度センサ 10 上位インタフェース 20a〜20n チャネル装置(CH) 21 マイクロ制御部 22 レジスタ(障害処理指示情報) 30 コントロールウェア制御部 31 ファイル装置 32 障害処理指示情報 33 コンソール 50 電源供給信号 60 下位インタフェース 71 電源制御信号 101 障害処理ステップ(割込原因の判断) 102 障害処理ステップ(電源障害の報告) 103 障害処理ステップ(報告の正常終了判断) 104 障害処理ステップ(上位インタフェースの閉
塞) 105 障害処理ステップ(割込原因の判断) 106 障害処理ステップ(冷却障害の報告) 107 障害処理ステップ(割込原因の判断) 108 障害処理ステップ(温度異常の報告) 200 周辺制御装置 201 上位インタフェース制御部 202 下位インタフェース制御部 203 プロセッサ 204 メモリ 205 割込回路 206 電圧監視回路 207 電圧異常検出回路 208 状態遷移検出回路 209 冷却異常検出回路 210 内部バス 211 温度異常検出回路
1 Central Processing Unit, Upper Device (CPU) 2 Input / Output Processing Device (IOP) 3 Service Processor (SVP) 5 Power Supply Unit 6 Peripheral Device 7 Power Supply Control Unit 8 Cooling Device 9 Temperature Sensor 10 Upper Interface 20a-20n Channel Device (CH) ) 21 micro control unit 22 register (fault processing instruction information) 30 controlware control unit 31 file device 32 fault processing instruction information 33 console 50 power supply signal 60 lower interface 71 power control signal 101 fault processing step (determination of interrupt cause) 102 failure processing step (report of power failure) 103 failure processing step (judgment of normal termination of reporting) 104 failure processing step (blocking of upper interface) 105 failure processing step (judgment of interrupt cause) 106 failure processing step (of cooling failure) report) 107 Failure Processing Step (Judgment of Interrupt Cause) 108 Failure Processing Step (Report of Temperature Abnormality) 200 Peripheral Controller 201 Upper Interface Control Unit 202 Lower Interface Control Unit 203 Processor 204 Memory 205 Interrupt Circuit 206 Voltage Monitoring Circuit 207 Voltage Abnormality Detection circuit 208 State transition detection circuit 209 Cooling abnormality detection circuit 210 Internal bus 211 Temperature abnormality detection circuit

Claims (4)

【特許請求の範囲】[Claims] 【請求項1】 上位装置と上位インタフェースで接続さ
れた装置であって、 自装置に関連する異常を検出する検出手段と、 この検出手段の検出に基いて前記上位装置に障害の発生
を報告し該報告のあと前記上位インタフェースの閉塞の
処理をする処理手段とを含むことを特徴とする上位装置
に接続された装置。
1. A device connected to a higher-level device through a higher-level interface, and detecting means for detecting an abnormality related to the own device, and reporting the occurrence of a failure to the higher-level device based on the detection of this detecting means. A device connected to a higher-level device, comprising: processing means for processing the blockage of the higher-level interface after the report.
【請求項2】 上位装置と上位インタフェースで接続さ
れた装置であって、 自装置に供給される電源の異常を検出する検出手段と、 この検出手段の検出に基いて前記上位装置に電源障害の
発生を報告し、該報告のあと前記上位インタフェースの
閉塞の処理をする処理手段とを含むことを特徴とする上
位装置に接続された装置。
2. A device connected to a higher-level device through a higher-level interface, the detection means detecting an abnormality of a power supply supplied to the own device; and based on the detection of the detection means, a power failure of the upper-level device. A device connected to a higher-level device, comprising: processing means for reporting the occurrence and, after the reporting, processing for blocking the higher-level interface.
【請求項3】 上位装置と上位インタフェースで接続さ
れた装置であって、 自装置を冷却する装置の異常を検出する冷却異常検出手
段と、 この冷却異常検出手段の検出に基いて前記上位装置に冷
却障害の発生を報告し該報告のあと前記上位インタフェ
ースの閉塞を処理する処理手段とを含むことを特徴とす
る上位装置に接続された装置。
3. A device connected to a host device through a host interface, the device including a cooling abnormality detecting unit that detects an abnormality of a device that cools itself, and the host device based on the detection of the cooling abnormality detecting unit. A device connected to a host device, comprising: a processing unit that reports the occurrence of a cooling fault and, after the report, processes the blockage of the host interface.
【請求項4】 上位装置と上位インタフェースで接続さ
れた装置であって、 自装置内の温度の異常を検出する温度異常検出手段と、 この温度異常検出手段の検出に基いて前記上位装置に温
度異常の発生を報告し該報告のあと前記上位インタフェ
ースの閉塞の処理をする処理手段とを含むことを特徴と
する上位装置に接続された装置。
4. A device connected to a host device via a host interface, the temperature anomaly detecting means for detecting an anomaly in temperature within the device itself, and the temperature of the host device based on the detection by the temperature anomaly detecting means. A device connected to a host device, comprising: processing means for reporting the occurrence of an abnormality and, after the report, processing for blocking the host interface.
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Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2006133926A (en) * 2004-11-04 2006-05-25 Hitachi Ltd Storage device

Citations (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS5164339A (en) * 1974-12-02 1976-06-03 Fujitsu Ltd
JPS6140644A (en) * 1984-07-31 1986-02-26 Nec Corp Data processing system
JPH0488408A (en) * 1990-07-25 1992-03-23 Nec Corp Information processor
JPH04148213A (en) * 1990-10-08 1992-05-21 Nec Corp Information processing system

Patent Citations (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS5164339A (en) * 1974-12-02 1976-06-03 Fujitsu Ltd
JPS6140644A (en) * 1984-07-31 1986-02-26 Nec Corp Data processing system
JPH0488408A (en) * 1990-07-25 1992-03-23 Nec Corp Information processor
JPH04148213A (en) * 1990-10-08 1992-05-21 Nec Corp Information processing system

Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2006133926A (en) * 2004-11-04 2006-05-25 Hitachi Ltd Storage device
JP4669263B2 (en) * 2004-11-04 2011-04-13 株式会社日立製作所 Storage device

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