JPH09140062A - 直列補償装置の試験回路 - Google Patents
直列補償装置の試験回路Info
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- JPH09140062A JPH09140062A JP7298077A JP29807795A JPH09140062A JP H09140062 A JPH09140062 A JP H09140062A JP 7298077 A JP7298077 A JP 7298077A JP 29807795 A JP29807795 A JP 29807795A JP H09140062 A JPH09140062 A JP H09140062A
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- Supply And Distribution Of Alternating Current (AREA)
Abstract
(57)【要約】
【課題】小容量の電源設備で、直列補償装置の試験を定
格容量もしくはそれ以上の容量で行える試験回路を提供
する。 【解決手段】直列補償装置１０に並列に、リアクトルと
充電装置１６とがそれぞれスイッチを介して接続して構
成する。
格容量もしくはそれ以上の容量で行える試験回路を提供
する。 【解決手段】直列補償装置１０に並列に、リアクトルと
充電装置１６とがそれぞれスイッチを介して接続して構
成する。
Description
【０００１】
【発明の属する技術分野】本発明は電力系統の直列補償
装置の試験回路に係り、特に、半導体スイッチを備えた
直列補償装置を試験するための回路に関する。
装置の試験回路に係り、特に、半導体スイッチを備えた
直列補償装置を試験するための回路に関する。
【０００２】
【従来の技術】電力系統の直列補償装置を開発・製造し
たとき、装置を系統に導入する前に動作確認及び性能検
証のための試験が必要である。そのとき、直列補償装置
にしかるべき電圧をかけ、電流を流す必要がある。この
ための試験回路としては、例えば図２に示したような文
献(IEEE Transaction on Power Delivery，Vol.９，No.
１，ｐ３５２−３５８（January，１９９４)）にあるよ
うに、交流電源２０（発電機など），保護スイッチ２
１，投入スイッチ２２，電流調整用リアクトル２３，変
圧器２４によって構成した試験回路を用い、直列補償装
置１０を試験していた。
たとき、装置を系統に導入する前に動作確認及び性能検
証のための試験が必要である。そのとき、直列補償装置
にしかるべき電圧をかけ、電流を流す必要がある。この
ための試験回路としては、例えば図２に示したような文
献(IEEE Transaction on Power Delivery，Vol.９，No.
１，ｐ３５２−３５８（January，１９９４)）にあるよ
うに、交流電源２０（発電機など），保護スイッチ２
１，投入スイッチ２２，電流調整用リアクトル２３，変
圧器２４によって構成した試験回路を用い、直列補償装
置１０を試験していた。
【０００３】
【発明が解決しようとする課題】しかし、図２に示した
ような試験回路では、試験する直列補償装置１０の定格
での試験を行うために、直列コンデンサ１１の容量Ｖａ
ｒに対して、交流電源２０の容量が少なくとも同等か、
あるいは大きくなければならない。直列コンデンサ１１
の容量が１００ＭＶａｒ程度になってくると、交流電源
２０として、発電所で用いる規模の発電機が必要にな
り、設備が非常に大規模になってしまう。本発明の目的
は直列補償装置の試験をより小規模な設備によって行う
試験回路を提供することにある。
ような試験回路では、試験する直列補償装置１０の定格
での試験を行うために、直列コンデンサ１１の容量Ｖａ
ｒに対して、交流電源２０の容量が少なくとも同等か、
あるいは大きくなければならない。直列コンデンサ１１
の容量が１００ＭＶａｒ程度になってくると、交流電源
２０として、発電所で用いる規模の発電機が必要にな
り、設備が非常に大規模になってしまう。本発明の目的
は直列補償装置の試験をより小規模な設備によって行う
試験回路を提供することにある。
【０００４】
【課題を解決するための手段】上記課題を解決するため
に、直列補償装置と並列に、充電装置とリアクトルをス
イッチを介して接続し、直列補償装置のコンデンサと、
並列に接続したリアクトルとの共振現象を利用し、直列
補償装置の定格相当の電圧及び電流を直列補償装置に発
生させ、試験を行う。
に、直列補償装置と並列に、充電装置とリアクトルをス
イッチを介して接続し、直列補償装置のコンデンサと、
並列に接続したリアクトルとの共振現象を利用し、直列
補償装置の定格相当の電圧及び電流を直列補償装置に発
生させ、試験を行う。
【０００５】上記手段を用いることによって、直列コン
デンサの容量が１００ＭＶａｒ程度と大きくなっても、
直列補償装置の定格相当の電圧及び電流を直列補償装置
に発生させることができ、そのときに試験回路に必要な
電源容量は小規模で済み、設備の小型化，費用の低減が
できる。
デンサの容量が１００ＭＶａｒ程度と大きくなっても、
直列補償装置の定格相当の電圧及び電流を直列補償装置
に発生させることができ、そのときに試験回路に必要な
電源容量は小規模で済み、設備の小型化，費用の低減が
できる。
【０００６】
【発明の実施の形態】以下、発明の実施例を示す。
【０００７】図１は本発明の直列補償装置の試験回路図
である。試験回路は、直列補償装置１０に、スイッチ１
７を介してリアクトル１５が、またスイッチ１８を介し
て充電装置１６を並列に接続して構成される。直列補償
装置１０は、直列コンデンサ１１，過電圧保護素子１
２，リアクトル１３と直列にサイリスタ等の半導体素子
で構成した半導体スイッチ１４を接続したものをそれぞ
れ並列に接続している。直列コンデンサ１１のキャパシ
タンスＣと、リアクトル１５のリアクタンスＬの関係
は、数１を満たすものとする。
である。試験回路は、直列補償装置１０に、スイッチ１
７を介してリアクトル１５が、またスイッチ１８を介し
て充電装置１６を並列に接続して構成される。直列補償
装置１０は、直列コンデンサ１１，過電圧保護素子１
２，リアクトル１３と直列にサイリスタ等の半導体素子
で構成した半導体スイッチ１４を接続したものをそれぞ
れ並列に接続している。直列コンデンサ１１のキャパシ
タンスＣと、リアクトル１５のリアクタンスＬの関係
は、数１を満たすものとする。
【０００８】
【数１】
【０００９】ここで、ｆは試験周波数であり、直列補償
装置１０を適用する系統の商用周波数（例えば５０Ｈｚ
あるいは６０Ｈｚ）において試験をする場合には、数１
がその周波数を満足するようなコンデンサ１１とリアク
トル１５の回路定数とする。また、コンデンサ１１とリ
アクトル１５の回路定数を調整することで、直列補償装
置の試験を直列補償装置１０を適用する系統の商用周波
数よりも高い周波数あるいは低い周波数で行い、高調波
あるいは低次高調波の試験を行うことができる。このよ
うに、本試験回路では、試験周波数を容易に調節するこ
とができる。充電装置１６は、直列コンデンサ１１を充
電するためのものであり、スイッチ１７を解放し、スイ
ッチ１８を投入した状態で直列コンデンサ１１に電流を
流し、必要となる電圧まで充電する。充電が完了した
後、スイッチ１８を解放し、スイッチ１７を投入する
と、直列補償装置１０とリアクトル１５で構成された回
路中に、周波数ｆなる共振電流Ｉが流れる。充電装置１
６によって、直列コンデンサ１１を定格電圧（交流電圧
の場合、実効値の√２倍）まで充電した場合、数１を満
たすリアクトル１５であれば、電流Ｉは直列コンデンサ
１１の定格電流になる。直列コンデンサ１１の充電電圧
を定格電圧よりも高くすると、直列補償装置１０の過負
荷時の試験ができる。ただし、これらの充電時には、充
電電流は共振電流Ｉよりもかなり小さくてもよい。よっ
て、充電装置１６の容量は、電圧定格が直列補償装置１
０の過負荷試験時も考慮して必要となる電圧（直列コン
デンサ１１の定格電圧の２倍程度）であり、電流容量は
試験電流よりも小さい（例えば、試験電流の１／１０以
下でもよい）ことから、電源容量が直列コンデンサ１１
の容量に対して小さくできる。従って、試験回路の設備
として、設備容量が小さくなり、小型化が図れる。それ
と同時に、設備に前記費用がやすくなり、経費の節減に
もなる。
装置１０を適用する系統の商用周波数（例えば５０Ｈｚ
あるいは６０Ｈｚ）において試験をする場合には、数１
がその周波数を満足するようなコンデンサ１１とリアク
トル１５の回路定数とする。また、コンデンサ１１とリ
アクトル１５の回路定数を調整することで、直列補償装
置の試験を直列補償装置１０を適用する系統の商用周波
数よりも高い周波数あるいは低い周波数で行い、高調波
あるいは低次高調波の試験を行うことができる。このよ
うに、本試験回路では、試験周波数を容易に調節するこ
とができる。充電装置１６は、直列コンデンサ１１を充
電するためのものであり、スイッチ１７を解放し、スイ
ッチ１８を投入した状態で直列コンデンサ１１に電流を
流し、必要となる電圧まで充電する。充電が完了した
後、スイッチ１８を解放し、スイッチ１７を投入する
と、直列補償装置１０とリアクトル１５で構成された回
路中に、周波数ｆなる共振電流Ｉが流れる。充電装置１
６によって、直列コンデンサ１１を定格電圧（交流電圧
の場合、実効値の√２倍）まで充電した場合、数１を満
たすリアクトル１５であれば、電流Ｉは直列コンデンサ
１１の定格電流になる。直列コンデンサ１１の充電電圧
を定格電圧よりも高くすると、直列補償装置１０の過負
荷時の試験ができる。ただし、これらの充電時には、充
電電流は共振電流Ｉよりもかなり小さくてもよい。よっ
て、充電装置１６の容量は、電圧定格が直列補償装置１
０の過負荷試験時も考慮して必要となる電圧（直列コン
デンサ１１の定格電圧の２倍程度）であり、電流容量は
試験電流よりも小さい（例えば、試験電流の１／１０以
下でもよい）ことから、電源容量が直列コンデンサ１１
の容量に対して小さくできる。従って、試験回路の設備
として、設備容量が小さくなり、小型化が図れる。それ
と同時に、設備に前記費用がやすくなり、経費の節減に
もなる。
【００１０】図１に示した試験回路で行う試験項目とし
て、直列コンデンサ１１，過電圧保護素子１２，リアク
トル１３，半導体スイッチ１４に対して電圧が印加され
た場合における耐圧試験，過電圧保護素子１２に過電圧
が印加された場合における過電圧保護動作試験，充電さ
れた直列コンデンサ１１の電流を半導体スイッチ１４を
オンしてリアクトル１３，半導体スイッチ１４に流す放
電試験，スイッチ１７を投入して共振電流Ｉを流したと
きにおける直列コンデンサ１１の通電試験，共振電流Ｉ
を流したときに半導体スイッチ１４のオンオフ制御を行
うスイッチング試験などがある。
て、直列コンデンサ１１，過電圧保護素子１２，リアク
トル１３，半導体スイッチ１４に対して電圧が印加され
た場合における耐圧試験，過電圧保護素子１２に過電圧
が印加された場合における過電圧保護動作試験，充電さ
れた直列コンデンサ１１の電流を半導体スイッチ１４を
オンしてリアクトル１３，半導体スイッチ１４に流す放
電試験，スイッチ１７を投入して共振電流Ｉを流したと
きにおける直列コンデンサ１１の通電試験，共振電流Ｉ
を流したときに半導体スイッチ１４のオンオフ制御を行
うスイッチング試験などがある。
【００１１】図２は従来の直列補償装置の試験回路の構
成例を示している。図１に示したのと同様の直列補償装
置１０を試験するために、交流電源２０，異常が発生し
た場合に電源を遮断する保護スイッチ２１，直列補償装
置に電圧を印加し、電流を流すための投入スイッチ２
２，試験電流を調整するためのリアクトル２３，試験電
圧を調整するための変圧器２４を試験設備として備えて
いる。この試験回路を用いて、直列コンデンサ１１の容
量に対して、定格電圧及び定格電流で試験を行うために
は、交流電源２０の容量が少なくとも直列コンデンサの
容量以上なくてはならない。また、変圧器２４も、直列
補償装置に供給する電力分を通過させる容量が必要にな
る。従って、直列補償装置の容量が大きくなるとこれら
の容量が増加することになり、設備の大型化や費用の増
加を招く。
成例を示している。図１に示したのと同様の直列補償装
置１０を試験するために、交流電源２０，異常が発生し
た場合に電源を遮断する保護スイッチ２１，直列補償装
置に電圧を印加し、電流を流すための投入スイッチ２
２，試験電流を調整するためのリアクトル２３，試験電
圧を調整するための変圧器２４を試験設備として備えて
いる。この試験回路を用いて、直列コンデンサ１１の容
量に対して、定格電圧及び定格電流で試験を行うために
は、交流電源２０の容量が少なくとも直列コンデンサの
容量以上なくてはならない。また、変圧器２４も、直列
補償装置に供給する電力分を通過させる容量が必要にな
る。従って、直列補償装置の容量が大きくなるとこれら
の容量が増加することになり、設備の大型化や費用の増
加を招く。
【００１２】図３は本発明である直列補償装置の試験回
路の構成例であり、図１に示した例に対して、試験を行
う直列補償装置１０の構成が異なる場合である。この直
列補償装置には、リアクトル１３と半導体スイッチ１４
の代わりに、機械的接点を持つバイパススイッチ１９を
備えている方式のものである。このような構成の直列補
償装置であっても、本発明の試験回路を用いることで、
直列補償装置の試験ができる。
路の構成例であり、図１に示した例に対して、試験を行
う直列補償装置１０の構成が異なる場合である。この直
列補償装置には、リアクトル１３と半導体スイッチ１４
の代わりに、機械的接点を持つバイパススイッチ１９を
備えている方式のものである。このような構成の直列補
償装置であっても、本発明の試験回路を用いることで、
直列補償装置の試験ができる。
【００１３】図４には、本発明である直列補償装置の試
験回路の動作シーケンス例を示した。試験回路の基本的
な制御対象は、充電装置１６，スイッチ１７（ここでは
スイッチＳ2 と記した），スイッチ１８（ここではスイ
ッチＳ1 と記した）である。まず最初は、充電装置を停
止、スイッチＳ1，Ｓ2を開放状態にする。そして、時間
ｔ1 でスイッチＳ1 を投入し、充電装置１６を直列補償
装置１０に接続する。そして、時間ｔ2 にて充電装置１
６を動作させて直列コンデンサ１１を充電する。充電が
時間ｔ3 で完了したら、その後時間ｔ4 でスイッチＳ1
を開放し、充電装置１６を直列補償装置１０を切り放
す。その後、時間ｔ5 でスイッチＳ2 を投入すると、直
列補償装置１０とリアクトル１５で構成された回路に共
振電流が流れる。そして、時間ｔ6になって試験が終了
したら、スイッチＳ2を開放し、一連の試験回路のシー
ケンスを終了する。よって、この動作シーケンスでは、
時間ｔ2，ｔ3が直列コンデンサ１１の充電期間、時間ｔ
5，ｔ6が直列補償装置１０の試験期間になっている。こ
のような方法で直列補償装置を試験すると、試験時に電
源である充電装置１６が試験対象である直列補償装置１
０から分離されるので、充電装置１６または直列補償装
置１０に発生した異常によって相手側に損傷を与えるこ
とを防ぐことができ、また、試験中に誤って過剰なエネ
ルギが充電装置１６から直列補償装置１０に注入される
ことがなくなるので、より安全に試験ができる。
験回路の動作シーケンス例を示した。試験回路の基本的
な制御対象は、充電装置１６，スイッチ１７（ここでは
スイッチＳ2 と記した），スイッチ１８（ここではスイ
ッチＳ1 と記した）である。まず最初は、充電装置を停
止、スイッチＳ1，Ｓ2を開放状態にする。そして、時間
ｔ1 でスイッチＳ1 を投入し、充電装置１６を直列補償
装置１０に接続する。そして、時間ｔ2 にて充電装置１
６を動作させて直列コンデンサ１１を充電する。充電が
時間ｔ3 で完了したら、その後時間ｔ4 でスイッチＳ1
を開放し、充電装置１６を直列補償装置１０を切り放
す。その後、時間ｔ5 でスイッチＳ2 を投入すると、直
列補償装置１０とリアクトル１５で構成された回路に共
振電流が流れる。そして、時間ｔ6になって試験が終了
したら、スイッチＳ2を開放し、一連の試験回路のシー
ケンスを終了する。よって、この動作シーケンスでは、
時間ｔ2，ｔ3が直列コンデンサ１１の充電期間、時間ｔ
5，ｔ6が直列補償装置１０の試験期間になっている。こ
のような方法で直列補償装置を試験すると、試験時に電
源である充電装置１６が試験対象である直列補償装置１
０から分離されるので、充電装置１６または直列補償装
置１０に発生した異常によって相手側に損傷を与えるこ
とを防ぐことができ、また、試験中に誤って過剰なエネ
ルギが充電装置１６から直列補償装置１０に注入される
ことがなくなるので、より安全に試験ができる。
【００１４】図５には、本発明である直列補償装置を用
いて試験を行った場合の、直列コンデンサ１１の電圧及
び電流の動作波形例を示した。試験回路の動作シーケン
ス及び時間は、図４と対応している。時間ｔ1 で充電装
置１６を直列補償装置１０に接続し、時間ｔ2 から直列
コンデンサ１１の充電を開始すると、コンデンサに電流
が流れ、両端電圧が上昇し始める。このときの直列コン
デンサ１１の充電電流は、図５では定電流制御を行った
場合の例を示している。今、直列コンデンサ１１を電圧
Ｖ1 まで充電することとし、時間ｔ3 で充電が完了した
ものとする。時間ｔ4 でスイッチ１８を開放し、時間ｔ
5 でスイッチ１７を投入すると、周波数ｆなる正弦波の
電圧及び電流を直列補償装置１０に発生させることがで
きる。この電圧及び電流は、従来方法のような交流電源
を用いた場合と異なり、試験回路や直列補償装置に含ま
れる抵抗分によって時間とともに減衰していく。しか
し、直列補償装置に前記電圧及び流れる電流の振幅が、
例えば、スイッチ１７投入直後の９０％以上である数サ
イクルまでで性能検証試験及び試験結果の評価を行うこ
とにすれば、試験電圧及び試験電流は交流電源を用いて
試験を行った場合と同等と考えられる。このときに、直
列コンデンサ１１，過電圧保護素子１２，リアクトル１
３，半導体スイッチ１４の耐圧試験，過電圧保護素子１
２の過電圧保護動作試験，充電された直列コンデンサ１
１の電流を半導体スイッチ１４に流す放電試験，直列コ
ンデンサ１１の通電試験，半導体スイッチ１４のオンオ
フ制御を行うスイッチング試験などを行えばよい。ある
いは、最初のコンデンサの充電電圧を、例えば、定格電
圧の１１０％にしてから試験をすれば、より長時間の試
験が可能になる。時間ｔ2 からｔ3 の充電期間における
直列コンデンサ１１の充電電流は、充電期間を長くとる
ことによって、試験時に流す電流の最大値よりも小さく
てもよい。よって、充電装置１６の電源容量を少なくす
ることができる。電圧Ｖ1 を、直列コンデンサ１１の定
格電圧(交流波形の場合、波形のピーク値)にすると、試
験時に直列補償装置に発生する電圧及び電流は、直列コ
ンデンサの定格電圧及び定格電流に相当する。さらに、
電圧Ｖ1 を高くした場合、試験時の電圧及び電流が増加
することになり、直列補償装置１０に対しては、過負荷
時の試験を行うことになる。このように、本発明によ
り、小容量の電源設備を用いて直列補償装置の試験を行
うことができる。
いて試験を行った場合の、直列コンデンサ１１の電圧及
び電流の動作波形例を示した。試験回路の動作シーケン
ス及び時間は、図４と対応している。時間ｔ1 で充電装
置１６を直列補償装置１０に接続し、時間ｔ2 から直列
コンデンサ１１の充電を開始すると、コンデンサに電流
が流れ、両端電圧が上昇し始める。このときの直列コン
デンサ１１の充電電流は、図５では定電流制御を行った
場合の例を示している。今、直列コンデンサ１１を電圧
Ｖ1 まで充電することとし、時間ｔ3 で充電が完了した
ものとする。時間ｔ4 でスイッチ１８を開放し、時間ｔ
5 でスイッチ１７を投入すると、周波数ｆなる正弦波の
電圧及び電流を直列補償装置１０に発生させることがで
きる。この電圧及び電流は、従来方法のような交流電源
を用いた場合と異なり、試験回路や直列補償装置に含ま
れる抵抗分によって時間とともに減衰していく。しか
し、直列補償装置に前記電圧及び流れる電流の振幅が、
例えば、スイッチ１７投入直後の９０％以上である数サ
イクルまでで性能検証試験及び試験結果の評価を行うこ
とにすれば、試験電圧及び試験電流は交流電源を用いて
試験を行った場合と同等と考えられる。このときに、直
列コンデンサ１１，過電圧保護素子１２，リアクトル１
３，半導体スイッチ１４の耐圧試験，過電圧保護素子１
２の過電圧保護動作試験，充電された直列コンデンサ１
１の電流を半導体スイッチ１４に流す放電試験，直列コ
ンデンサ１１の通電試験，半導体スイッチ１４のオンオ
フ制御を行うスイッチング試験などを行えばよい。ある
いは、最初のコンデンサの充電電圧を、例えば、定格電
圧の１１０％にしてから試験をすれば、より長時間の試
験が可能になる。時間ｔ2 からｔ3 の充電期間における
直列コンデンサ１１の充電電流は、充電期間を長くとる
ことによって、試験時に流す電流の最大値よりも小さく
てもよい。よって、充電装置１６の電源容量を少なくす
ることができる。電圧Ｖ1 を、直列コンデンサ１１の定
格電圧(交流波形の場合、波形のピーク値)にすると、試
験時に直列補償装置に発生する電圧及び電流は、直列コ
ンデンサの定格電圧及び定格電流に相当する。さらに、
電圧Ｖ1 を高くした場合、試験時の電圧及び電流が増加
することになり、直列補償装置１０に対しては、過負荷
時の試験を行うことになる。このように、本発明によ
り、小容量の電源設備を用いて直列補償装置の試験を行
うことができる。
【００１５】図６は本発明である直列補償装置の試験回
路の構成例であり、図１に示した例に対して、スイッチ
１８に接点を二つ持つものを使用した例である。この試
験回路では、充電装置１６と直列補償装置１０との電気
的な接続をスイッチ１８によって完全に遮断することが
できる。これにより、直列補償装置１０試験時に何か異
常が起こった場合にも、充電装置１６は試験回路部分か
ら完全に分離されているので、この異常の影響を受ける
ことなく、安全である。
路の構成例であり、図１に示した例に対して、スイッチ
１８に接点を二つ持つものを使用した例である。この試
験回路では、充電装置１６と直列補償装置１０との電気
的な接続をスイッチ１８によって完全に遮断することが
できる。これにより、直列補償装置１０試験時に何か異
常が起こった場合にも、充電装置１６は試験回路部分か
ら完全に分離されているので、この異常の影響を受ける
ことなく、安全である。
【００１６】
【発明の効果】本発明により、小容量の電源設備を用い
て、直列補償装置に定格相当あるいは過負荷定格相当の
試験を可能にすることができ、設備の小型化，設備に前
記経費の低減がはかれる。さらに、試験中に電源が分離
される構成であるので、直列補償装置あるいは電源に異
常が発生した場合でも、損傷を相手側に与えない、安全
な構成である。
て、直列補償装置に定格相当あるいは過負荷定格相当の
試験を可能にすることができ、設備の小型化，設備に前
記経費の低減がはかれる。さらに、試験中に電源が分離
される構成であるので、直列補償装置あるいは電源に異
常が発生した場合でも、損傷を相手側に与えない、安全
な構成である。
【図１】本発明である直列補償装置の試験回路図。
【図２】従来の直列補償装置の試験回路図。
【図３】本発明である直列補償装置の試験回路図。
【図４】試験回路の動作シーケンス図。
【図５】試験回路の動作波形図。
【図６】本発明である直列補償装置の試験回路図。
１０…直列補償装置、１１…直列コンデンサ、１２…過
電圧保護素子、１３，１５…リアクトル、１４…半導体
スイッチ、１６…充電装置、１７，１８…スイッチ。
電圧保護素子、１３，１５…リアクトル、１４…半導体
スイッチ、１６…充電装置、１７，１８…スイッチ。
Claims (9)
- 【請求項１】電力系統の直列補償装置の動作試験を行う
回路において、前記直列補償装置に対して、第１の開閉
装置を介して充電装置を並列に接続し、第２の開閉装置
を介してリアクトルを並列に接続して構成したことを特
徴とする直列補償装置の試験回路。 - 【請求項２】請求項１において、前記充電装置は、前記
直列補償装置の構成要素である直列コンデンサを、前記
第１の開閉装置を投入した状態で、前記直列コンデンサ
を試験電圧まで充電する直列補償装置の試験回路。 - 【請求項３】請求項１において、前記リアクトルのリア
クタンスは、前記直列補償装置の構成要素である直列コ
ンデンサのキャパシタンスとの共振周波数が、前記直列
補償装置を試験するための電圧及び電流の周波数とした
直列補償装置の試験回路。 - 【請求項４】請求項３において、前記直列補償装置を試
験する周波数は、前記直列補償装置を導入する電力系統
の商用周波数である直列補償装置の試験回路。 - 【請求項５】請求項１において、前記直列補償装置は、
少なくとも、系統のリアクタンスを補償する直列コンデ
ンサ，前記直列コンデンサ両端に発生する過電圧を抑制
する過電圧保護素子，前記直列コンデンサの両端を接続
あるいは開放するための開閉装置を並列に接続して構成
した直列補償装置の試験回路。 - 【請求項６】請求項５において、前記直列コンデンサの
両端を接続あるいは開放するための開閉装置は、半導体
素子を用いて構成した開閉装置である直列補償装置の試
験回路。 - 【請求項７】請求項５において、前記直列コンデンサ両
端に発生する過電圧を抑制する過電圧保護素子は、非線
形抵抗体を用いて構成した直列補償装置の試験回路。 - 【請求項８】請求項１において、前記試験回路は、前記
第１の開閉装置を閉状態とし、前記第２の開閉装置を開
状態として前記充電装置によって前記直列コンデンサを
充電し、充電が完了した後に、前記第１の開閉装置を開
状態とし、前記第２の開閉装置を閉状態として、前記直
列補償装置に電流を流すとともに、電圧を発生させ、試
験を行う直列補償装置の試験回路。 - 【請求項９】請求項１において、前記第１の開閉装置
は、前記充電装置と前記直列補償装置の間を流れる電流
流路の往路と復路を同期して開閉動作する開閉装置であ
る直列補償装置の試験回路。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP7298077A JPH09140062A (ja) | 1995-11-16 | 1995-11-16 | 直列補償装置の試験回路 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP7298077A JPH09140062A (ja) | 1995-11-16 | 1995-11-16 | 直列補償装置の試験回路 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH09140062A true JPH09140062A (ja) | 1997-05-27 |
Family
ID=17854860
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP7298077A Pending JPH09140062A (ja) | 1995-11-16 | 1995-11-16 | 直列補償装置の試験回路 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH09140062A (ja) |
Cited By (7)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| WO2005119911A1 (ja) * | 2004-06-01 | 2005-12-15 | Thine Electronics, Inc. | 電源電圧監視回路及びそれを内蔵する電子機器 |
| CN103499757A (zh) * | 2013-10-15 | 2014-01-08 | 中国南方电网有限责任公司超高压输电公司检修试验中心 | 一种串联电容补偿装置二次设备抗电磁干扰能力的检测方法 |
| CN104898004A (zh) * | 2015-06-23 | 2015-09-09 | 国家电网公司 | 一种串补模拟量通道精度测量装置和方法 |
| CN105826933A (zh) * | 2016-06-01 | 2016-08-03 | 国家电网公司 | 特高压变电站模拟投运校验系统的电容补偿装置 |
| CN106093639A (zh) * | 2016-06-07 | 2016-11-09 | 国网冀北节能服务有限公司 | 一种基于数据融合的串联补偿装置的监测方法 |
| CN108490286A (zh) * | 2018-03-06 | 2018-09-04 | 沈阳变压器研究院股份有限公司 | 强电流试验中非对称电流的补偿方法及装置 |
| CN109921435A (zh) * | 2019-02-28 | 2019-06-21 | 厦门理工学院 | 一种高压开关设备的补偿装置及方法 |
-
1995
- 1995-11-16 JP JP7298077A patent/JPH09140062A/ja active Pending
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| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
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| CN109921435A (zh) * | 2019-02-28 | 2019-06-21 | 厦门理工学院 | 一种高压开关设备的补偿装置及方法 |
| CN109921435B (zh) * | 2019-02-28 | 2024-02-20 | 厦门理工学院 | 一种高压开关设备的补偿装置及方法 |
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