JPH09127695A - 感光性樹脂組成物及びそのパターン形成方法 - Google Patents

感光性樹脂組成物及びそのパターン形成方法

Info

Publication number
JPH09127695A
JPH09127695A JP28230095A JP28230095A JPH09127695A JP H09127695 A JPH09127695 A JP H09127695A JP 28230095 A JP28230095 A JP 28230095A JP 28230095 A JP28230095 A JP 28230095A JP H09127695 A JPH09127695 A JP H09127695A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
group
resin composition
photosensitive resin
added
diamine
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Pending
Application number
JP28230095A
Other languages
English (en)
Inventor
Toshiro Takeda
敏郎 竹田
Nobuyuki Sashita
暢幸 指田
Hiroaki Makabe
裕明 真壁
Naoji Takeda
直滋 竹田
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Sumitomo Bakelite Co Ltd
Original Assignee
Sumitomo Bakelite Co Ltd
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Sumitomo Bakelite Co Ltd filed Critical Sumitomo Bakelite Co Ltd
Priority to JP28230095A priority Critical patent/JPH09127695A/ja
Publication of JPH09127695A publication Critical patent/JPH09127695A/ja
Pending legal-status Critical Current

Links

Landscapes

  • Photosensitive Polymer And Photoresist Processing (AREA)
  • Compositions Of Macromolecular Compounds (AREA)

Abstract

(57)【要約】 【課題】 密着性に優れ、高解像度のパターンが得られ
る感光性樹脂組成物を提供する。 【解決手段】 特定構造のポリアミド酸エステル、エポ
キシ基を有するシランカップリング剤と芳香族ジアミン
との反応物である有機ケイ素化合物、光重合開始剤及び
/又は光増感剤を必須成分とする感光性樹脂組成物。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【発明の属する技術分野】本発明は、密着性に優れ、高
解像度のパターンを得るための感光性樹脂組成物及びそ
のパターン形成方法である。
【0002】
【従来の技術】従来、半導体素子の表面保護膜、層間絶
縁膜などには、耐熱性が優れ、又卓越した電気絶縁性、
機械強度等を有するポリイミドが用いられているが、ポ
リイミドパターンを作成する繁雑な工程を簡略化するた
めにポリイミド自身に感光性を付与する技術が最近注目
を集めている。例えば、下式
【0003】
【化5】
【0004】で示されるような構造のエステル基で感光
性基を付与したポリイミド前駆体組成物(例えば、特公
昭55−41422号公報)等が知られている。これら
は、いずれも適当な有機溶剤に溶解し、ワニス状態で塗
布、乾燥した後、フォトマスクを介して紫外線照射し、
現像、リンス処理して所望のパターンを得、更に加熱処
理することによりポリイミド皮膜としている。感光性を
付与したポリイミドを使用するとパターン作成工程の簡
素化効果があるだけでなく、作業環境に難点のあるエッ
チング液を使用しなくて済むので安全で、かつ公害上も
優れており、ポリイミドの感光性化は、今後一層重要な
技術となることが期待されている。しかし、かかるエス
テル基を付与したポリイミド前駆体の光感度を高くする
ための技術は、種々検討されているものの(特開平6−
342211号公報、特開平7−5688号公報等)、
より微細な高解像度のパターンを得る検討は皆無に等し
かった。このため、かかるエステル基を付与したポリイ
ミド前駆体を光重合開始剤と共に極性溶媒に溶解したワ
ニスから得られる感光性樹脂組成物の解像度は、現像液
の膨潤等により解像度が、一般の環化ゴム系のネガ型レ
ジストと比較しても悪く、その改善が求められていた。
特に、係る感光性樹脂組成物を基板上にコーティング、
露光、現像した場合、基板との界面に不溶物が析出し解
像度を大幅に低下させ問題となっていた。
【0005】又ポリイミド樹脂を半導体素子の表面保護
膜や層間絶縁膜などに用いる場合、Si、SiO2、S
34等の無機下地膜やAl 、Cuなどの回路形成用金
属との接着性を向上する目的でポリイミド骨格中にシロ
キサン結合を有する構造を導入したり、シラン系カップ
リング剤、Ti系カップリング剤、Al 系カップリング
剤などの添加が行われるのが通常であった。ところが半
導体製造工程中に無機パッシベーション膜の穴開け加工
のドライエッチングプロセスにポリイミド樹脂膜が暴さ
れると(晒されると)、ポリイミド表面との各種金属或
いは封止樹脂との接着性が極端に低下してしまい、半導
体装置としての信頼性を大幅に低下させる問題があっ
た。
【0006】
【発明が解決しようとする課題】本発明の目的は、ポリ
アミド酸中のアミン残基の分子量を低分子化し、かつカ
ルボキシル基に、単又は多官能の感光性基、更に低級ア
ルコールを共有結合で導入したポリアミド酸エステルに
特定の有機ケイ素化合物、光重合開始剤及び/又は光増
感剤を配合することで接着性に優れた微細なパターンを
容易に得ようとするものである。
【0007】
【課題を解決するための手段】本発明は、(A)下記一
般式(1a)、(1b)及び(1c)で示されるポリア
ミド酸エステル、
【0008】
【化6】
【0009】(B)下記一般式(2)で示される有機ケ
イ素化合物、
【0010】
【化7】
【0011】(C)光重合開始剤及び/又は光増感剤を
必須成分とする感光性樹脂組成物であり、該感光性樹脂
組成物を基板上にコーティングし、80〜130℃の熱
盤で乾燥後、マスクを介して光を照射し、環状ケトンを
主成分とする有機溶剤で光未照射部を除去する微細なパ
ターン形成方法である。
【0012】
【発明の実施の態様】本発明に用いる式(1a)、(1
b)及び(1c)で示される構造単位からなるポリアミ
ド酸エステルは、高い反応性を示しかつ高解像度のパタ
ーンを得ることができる。式(1a)、(1b)及び
(1c)中のR1は、4価の芳香族残基を有する化合物
から導入されるもので、通常芳香族テトラカルボン酸又
はその誘導体が主に使用される。例えば、ピロメリット
酸二無水物、ベンゼン−1,2,3,4−テトラカルボ
ン酸二無水物、3,3′,4,4′−ベンゾフェノンテ
トラカルボン酸二無水物、2,2′,3,3′−ベンゾ
フェノンテトラカルボン酸二無水物、2,3,3′,
4′−ベンゾフェノンテトラカルボン酸二無水物、ナフ
タレン−2,3,6,7−テトラカルボン酸二無水物、
ナフタレン−1,2,5,6−テトラカルボン酸二無水
物、ナフタレン−1,2,4,5−テトラカルボン酸二
無水物、ナフタレン−1,4,5,8−テトラカルボン
酸二無水物、ナフタレン−1,2,6,7−テトラカル
ボン酸二無水物、4,8−ジメチル−1,2,3,5,
6,7−ヘキサヒドロナフタレン−1,2,5,6,−
テトラカルボン酸二無水物、4,8−ジメチル−1,
2,3,5,6,7−ヘキサヒドロナフタレン−2,
3,6,7−テトラカルボン酸二無水物、2,6−ジク
ロロナフタレン−1,4,5,8−テトラカルボン酸二
無水物、2,7−ジクロロナフタレン−1,4,5,8
−テトラカルボン酸二無水物、2,3,6,7−テトラ
クロロナフタレン−1,4,5,8−テトラカルボン酸
二無水物、1,4,5,8−テトラクロロナフタレン−
2,3,6,7−テトラカルボン酸二無水物、3,
3′,4,4′−ジフェニルテトラカルボン酸二無水
物、2,2′,3,3′−ジフェニルテトラカルボン酸
二無水物、2,3,3′,4′−ジフェニルテトラカル
ボン酸二無水物、3,3″,4,4″−p−テルフェニ
ルテトラカルボン酸二無水物、2,2″,3,3″−p
−テルフェニルテトラカルボン酸二無水物、2,3,
3″,4″−p−テルフェニルテトラカルボン酸二無水
物、2,2−ビス(2,3−ジカルボキシフェニル)−
プロパン二無水物、2,2−ビス(3,4−ジカルボキ
シフェニル)−プロパン二無水物、ビス(2,3−ジカ
ルボキシフェニル)エーテル二無水物、ビス(3,4−
ジカルボキシフェニル)エーテル二無水物、ビス(2,
3−ジカルボキシフェニル)メタン二無水物、ビス
(3,4−ジカルボキシフェニル)メタン二無水物、ビ
ス(2,3−ジカルボキシフェニル)スルホン二無水
物、ビス(3,4−ジカルボキシフェニル)スルホン二
無水物、1,1−ビス(2,3−ジカルボキシフェニ
ル)エタン二無水物、1,1−ビス(3,4−ジカルボ
キシフェニル)エタン二無水物、ペリレン−2,3,
8,9−テトラカルボン酸二無水物、ペリレン−3,
4,9,10−テトラカルボン酸二無水物、ペリレン−
4,5,10,11−テトラカルボン酸二無水物、ペリ
レン−5,6,11,12−テトラカルボン酸二無水
物、フェナンスレン−1,2,7,8−テトラカルボン
酸二無水物、フェナンスレン−1,2,6,7−テトラ
カルボン酸二無水物、フェナンスレン−1,2,9,1
0−テトラカルボン酸二無水物、ピラジン−2,3,
5,6−テトラカルボン酸二無水物、ピロリジン−2,
3,4,5−テトラカルボン酸二無水物、チオフェン−
2,3,4,5−テトラカルボン酸二無水物、4,4′
−ヘキサフルオロイソプロピリデンジフタル酸二無水物
等が挙げられるが、単独でも混合して用いてもよい。
【0013】式(1a)、(1b)、及び(1C)中の
2は、R2基の分子量が(2種以上の混合物では平均分
子量)が160以下の2価の有機基で、その導入には通
常ジアミン及び/又はその誘導体が使用される。分子量
が160を越えると、架橋密度が低くなるばかりではな
く、現像液への溶解力も高まり、膨潤し易く、解像度が
低くなるため好ましくない。より好ましい分子量は、1
00〜150である。例えば、R2基の分子量が160
以下のジアミンとしては、m−フェニレンジアミン、p
−フェニレンジアミン、2,5−ジアミノ−トルエン、
3,5−ジアミノ−トルエン、2,4−ジアミノ−トル
エン、m−キシレン−2,5−ジアミン、p−キシレン
−2,5−ジアミン、2,6−ジアミノ−ピリジン、
2,5−ジアミノ−ピリジン、2,5−ジアミノ−1,
3,4−オキサジアゾール、1,4−ジアミノ−シクロ
ヘキサン、ピペラジン、メチレン−ジアミン、エチレン
−ジアミン、プロピレン−ジアミン、2,2−ジメチル
−プロピレン−ジアミン、テトラメチレン−ジアミン、
ペンタメチレン−ジアミン、ヘキサメチレン−ジアミ
ン、2,5−ジメチル−ヘキサメチレン−ジアミン、3
−メトキシ−ヘキサメチレン−ジアミン、ヘプタメチレ
ン−ジアミン、2,5−ジメチル−ヘプタメチレン−ジ
アミン、3−メチル−ヘプタメチレン−ジアミン、2,
6−ジアミノ−4−カルボキシリックベンゼン等が挙げ
られるがこれらに限定されるものではない。これらの中
でもm−フェニレンジアミン、p−フェニレンジアミ
ン、2,5−ジアミノトルエン、3,5−ジアミノトル
エン、p−キシレン−2,5−ジアミン、m−キシレン
−2,5−ジアミン、p−キシレン−2,6−ジアミン
が、現像後の解像度がより高く好ましい。
【0014】又R2は、上記の低分子量ジアミンと共
に、R2基の分子量が160を越えるジアミンを併用
し、平均分子量を160以下に調整することでより好ま
しい結果が得られる。この場合、R2基の分子量が16
0以下の低分子量ジアミンを15重量%以上含むことが
好ましい。15重量%未満では、解像度の向上効果が少
なく好ましくない。本発明のR2の重量%とは、ポリア
ミド酸エステル中に存在するR2基をジアミンに換算し
て求められる。即ち、〔H2N−R2−NH2の重量〕/
〔式(1a)、(1b)、(1c)で示されるポリアミ
ド酸エステルの重量〕×100(%)により求める。こ
れらR2基が160を越えるジアミンとしては、例え
ば、4,4′−ジアミノ−ジフェニルプロパン、3,
3′−ジアミノ−ジフェニルプロパン、4,4′−ジア
ミノ−ジフェニルエタン、3,3′−ジアミノ−ジフェ
ニルエタン、4,4′−ジアミノ−ジフェニルメタン、
3,3′−ジアミノ−ジフェニルメタン、4,4′−ジ
アミノ−ジフェニルスルフィド、3,3′−ジアミノ−
ジフェニルスルフィド、4,4′−ジアミノ−ジフェニ
ルスルホン、3,3′−ジアミノ−ジフェニルスルホ
ン、4,4′−ジアミノ−ジフェニルエーテル、3,
3′−ジアミノ−ジフェニルエーテル、3,3′−ジメ
チル−4,4′−ジアミノ−ビフェニル、3,3′−ジ
メトキシ−ベンジジン、4,4′−ジアミノ−p−テル
フェニル、3,3″−ジアミノ−p−テルフェニル、ビ
ス(p−アミノ−シクロヘキシル)メタン、ビス(p−
β−アミノ−t−ブチルフェニル)エーテル、ビス(p
−β−メチル−δ−アミノペンチル)ベンゼン、p−ビ
ス(2−メチル−4−アミノ−ペンチル)ベンゼン、p
−ビス(1,1−ジメチル−5−アミノ−ペンチル)ベ
ンゼン、1,5−ジアミノ−ナフタレン、2,6−ジア
ミノ−ナフタレン、1,3−ビス(3−アミノフェノキ
シ)ベンゼン、1,4−ビス(4−アミノフェノキシ)
ベンゼン、1,3−ビス(3−アミノプロピル)テトラ
メチルジシロキサン、4,4′−ビス(4−アミノフェ
ノキシ)ビフェニル、ビス〔4−(4−アミノフェノキ
シ)フェニル〕エーテル、ビス〔4−(3−アミノフエ
ノキシ)フェニル〕スルフォン、ビス〔4−(4−アミ
ノフェノキシ)フェニル〕スルフォン、4,4′−ビス
〔4−(4−アミノフェノキシ)フェノキシ〕ジフェニ
ルスルホン、4,4′−ビス(3−アミノフェノキシ)
ビフェニル、2,2′−ビス〔4−(4−アミノフェノ
キシ)フェニル〕プロパン、2,2′−ビス〔4−(4
−アミノフェノキシ)フェニル〕ヘキサフルオロプロパ
ン、2,2′−ビス〔4−(3−アミノフェノキシ)フ
ェニル〕ヘキサフルオロプロパン、4,4−ジアミノ−
3,3′,5,5′−テトラメチルジフェニルメタン、
2,6−ジアミノ−4−カルボキシリックベンゼン(メ
タクリル酸−2−ヒドロキシエチル)エステル等が挙げ
られるが、これらに限定されるものではない。これらは
単独でも混合して用いてもよい。中でも、4,4′−ジ
アミノジフェニルエーテル、1,3−ビス(3−アミノ
プロピル)テトラメチルジシロキサン、ビス〔4−(4
−アミノフェノキシ)フェニル〕スルフォン、2,2′
−ビス〔4−(4−アミノフェノキシ)フェニル〕プロ
パンをR2基の一部として使用することは、解像度の低
下が少なく、かつ硬化時の皮膜の密着性が向上するため
好ましい。
【0015】式(1a)、(1b)及び(1c)中のR
3は、アクリル(メタクリル)基を1〜5基有する感光
性基、R4はアクリル(メタクリル)基を1〜5基有す
る感光性基、あるいはメチル基又はエチル基である。R
3、R4中のアクリル(メタクリル)基が0では架橋構造
が得られず好ましくない。又6基以上のアクリル(メタ
クリル)基は工業上製造が困難であるばかりでなく、分
子量が大きくなるため相溶性が低下し好ましくない。R
3、R4を導入するための化合物としては、例えば、ペン
タエリスリトールトリアクリレート、ペンタエリスリト
ールトリメタクリレート、ペンタエリスリトールアクリ
レートジメタクリレート、ペンタエリスリトールジアク
リレートメタクリレート、ジペンタエリスリトールペン
タアクリレート、ジペンタエリスリトールペンタメタク
リレート、グリセロールジアクリレート、グリセロール
ジメタクリレート、グリセロールアクリレートメタクリ
レート、トリメチロールプロパンジアクリレート、1,
3−ジアクリロイルエチル−5−ヒドロキシエチルイソ
シアヌレート、1,3−ジメタクリレート−5−ヒドロ
キシエチルイソシアヌレート、エチレングリコール変性
ペンタエリスリトールトリアクリレート、プロピレング
リコール変性ペンタエリスリトールトリアクリレート、
トリメチロールプロパンジアクリレート、トリメチロー
ルプロパンジメタクリレート、2−ヒドロキシエチルメ
タクリレート、2−ヒドロキシエチルアクリレート、グ
リシジルメタクリレート、グリシジルアクリレート、2
−ヒドロキシプロピルメタクリレート、2−ヒドロキシ
プロピルアクリレート、ポリエチレングリコール変性メ
タクリレート、ポリエチレングリコール変性アクリレー
ト、ポリプロピレングリコール変性メタクリレート等が
挙げられるが、これらに限定されない。これらは単独で
も混合して用いてもよい。又、R4のメチル基又はエチ
ル基は、通常それぞれメタノール、エタノール等から誘
導される。
【0016】R5は、前記したR3又はR4を導入するた
めの化合物から水酸基及びアクリロイルオキシ基又はメ
タアクリロイルオキシ基を除いた2〜6価の有機基であ
り、これらの中で好ましいのは2〜3価の脂肪族基であ
る。本発明に用いる式(1a)、(1b)及び(1c)
で示される構造単位からなるポリアミド酸エステルは、
カルボキシル基にR3が導入された構造単位(1a)の
割合がx、カルボキシル基の一部にR3が、残りにR4
導入された構造単位(1b)の割合がy、カルボキシル
基がR4で置換された構造単位(1c)の割合がzであ
り、3種の構造単位が混在しているものである。それぞ
れ、0<x、y<100、0<z<80で、かつx+y
+z=100を満たすもので、x、y、zは各構造単位
のモル百分率を示すものである。R4がメチル基又はエ
チル基の場合には、zが80以上であると感光基量が少
なく感度が低く実用性が少ない。
【0017】本発明におけるポリアミド酸エステルは、
通常以下のようにして合成される。まず、多官能感光基
3、R4を導入するためのアルコール基を有する化合物
を溶媒に溶解させ、これに過剰の酸無水物又はその誘導
体を反応させる。この後、残存するカルボキシル基、酸
無水物基に、ジアミンを反応させることにより合成する
ことができる。ジアミンとの反応では、カルボジイミド
類を縮合剤として使用する方法(特開昭60−2285
37号公報)や特開平6−313039号公報に記載さ
れた方法等があるが、特に限定されるものではない。本
発明の有機ケイ素化合物は、パターン形成されたポリイ
ミドと無機のパッシベーション膜、回路形成用金属並び
に半導体用封止樹脂との良好な接着性を発現するために
用いられるものである。その構造は一般式(2)で示さ
れる化合物であるが、通常エポキシ基を有するシランカ
ップリング剤と芳香族ジアミンとをN−メチル−2−ピ
ロリドン等の有機溶媒中で0〜200℃、好ましくは5
0〜150℃の温度で1〜20時間反応させることによ
って容易に得られる。シランカップリング剤としては、
例えば、γ−グリシドキシプロピルトリメトキシシラ
ン、γ−グリシドキシプロピルトリエトキシシラン、γ
−グリシドキシプロピルメチルジエトキシシラン、γ−
グリシドキシプロピルメチルジメトキシシラン、γ−グ
リシドキシプロピルエチルジメトキシシラン、γ−グリ
シドキシプロピルエチルジエトキシシラン、γ−グリシ
ドキシジメチルメトキシシラン、γ−グリシドキシジメ
チルエトキシシラン、γ−グリシドキシエチルジエトキ
シシラン、γ−グリシドキシエチルジメトキシシラン、
γ−グリシトキシジエチルメトキシシラン、γ−グリシ
ドキシジエチルエトキシシラン等である。芳香族ジアミ
ンの例としては、前述したポリアミド酸エステルの構造
成分であるR2残基を含む芳香族ジアミンと同様のもの
を用いることができる。シランカップリング剤、芳香族
ジアミンは、単独でも混合しても差し支えない。
【0018】本発明の感光性樹脂組成物において、一般
式(2)で示される有機ケイ素化合物は、ポリアミド酸
エステル100重量部に対して0.01〜10重量部使
用されることが好ましい。0.01重量未満では金属、
無機、半導体用封止樹脂に対する接着性向上効果が得ら
れず、10重量部を越えるとパターン形成され最終硬化
処理を施されたポリイミド皮膜の耐熱性が低下したり、
機械的強度が低下し延いては接着性自体が低下してしま
うので好ましくない。本発明に用いられる光重合開始
剤、光増感剤は感度、解像度等リングラフィー特性を向
上させるために添加するものであり、光重合開始剤、光
増感剤の例としては
【0019】
【化8】
【0020】
【化9】
【0021】
【化10】
【0022】
【化11】
【0023】
【化12】
【0024】
【化13】
【0025】
【化14】
【0026】
【化15】
【0027】
【化16】
【0028】
【化17】
【0029】
【化18】
【0030】
【化19】
【0031】等が挙げられるが、これらに限定されるも
のではない。これらは単独でも混合して用いてもよい。
光重合開始剤又は光増感剤の添加量は、ポリアミド酸エ
ステル100重量部に対して0.1〜20重量部が好ま
しい。0.1重量部未満では、添加量が少な過ぎ感度向
上の効果が得られ難い。20重量部を越えると、硬化フ
ィルムの強度が低下するため好ましくない。
【0032】本発明においては、保存性向上を目的とし
て保存性向上剤を添加することできる。保存性向上剤と
しては、1−フェニル−5−メルカプト−1H−テトラ
ゾール、2−メルカプトベンゾチアゾール、2−メルカ
プトベンゾイミダゾール、2−メルカプトベンゾオキサ
ゾール、ペンタエリスリトールテトラキス−(チオグリ
コレート)、チオグリコール酸、チオグリコール酸アン
モニウム、チオグリコール酸ブチル、チオグリコール酸
オクチル、チオグリコール酸メトキシブチル、トリメチ
ロールプロパントリス−(チオグリコレート)、エチレ
ングリコールジチオグリコレート、β−メルカプトプロ
ピオン酸、β−メルカプトプロピオン酸オクチル、トリ
メチロールプロパントリス−(β−チオプロピオネー
ト)、ペンタエリスリトールテトラキス−(β−チオプ
ロピオネート)、1,4−ブタンジオールジチオプロピ
オネート、チオサリチル酸、フルフリルメルカプタン、
ベンジルメルカプタン、α−メルカプトプロピオン酸、
p−ヒドロキシチオフェノール、p−メチルチオフェノ
ール、チオフェノール、p−メチルフェノール、2,6
−t−ブチルフェノール、カテコール等が挙げられるが
これらに限定されるものではない。
【0033】又、本発明では更なる感度向上を目的とし
て、炭素−炭素二重結合を有する光重合性モノマーを添
加することもできる。例えば、トリメチロールプロパン
トリアクリレート、ペンタエリスリトールトリアクリレ
ート、ジペンタエリスリトールヘキサアクリレート、
1,6−ヘキサンジオールジアクリレート、ネオペンチ
ルグリコールジアクリレート、エチレングリコールジア
クリレート、ジエチレングリコールジアクリレート、テ
トラエチレングリコールジアクリレート、ポリエチレン
グリコールジアクリレート、2−ヒドロキシエチルアク
リレート、イソボルニルアクリレート、N−メチロール
アクリルアミド、N,N−ジメチルアクリルアミド及び
これらのアクリレート、アクリルアミドをメタクリレー
ト、メタクリルアミドに変えたものを用いることができ
る。本発明による感光性樹脂組成物には、シランカップ
リング剤のような接着助剤、禁止剤、レベリング剤及び
各種充填剤を添加してもよい。
【0034】本発明の感光性樹脂組成物は、極性の有機
溶剤に溶解して使用する。これらの有機溶剤としては、
N−メチル−2−ピロリドン、γ−ブチロラクトン、ジ
メチルホルムアミド、ジメチルアセトアミド、プロピレ
ングリコールモノメチルエーテルアセテート、ジプロピ
レングリコールジメチルエーテル、ジエチレングリコー
ルジメチルエーテル、ジメチルスルホキシド、3−メト
キシブタノール、酢酸−3−メトキシブチル、乳酸メチ
ル、乳酸エチル、乳酸ブチル、トリエチレングリコール
ジメチルエーテル、ジエチレングリコールジエチルエー
テル、エチルセルソルブ、ブチルセルソルブ、エチルカ
ルビトール、ジエチルカーボネート、シクロヘキサノ
ン、メチルシクロヘキサノン、ジイソブチルケトン、シ
クロペンタノン、酢酸ブチル、ニトロベンゼン等が挙げ
られるが、これらには限定されない。これらの中では、
N−メチル−2−ピロリドン、γ−ブチロラクトン及び
プロピレングリコールモノメチルエーテルアセテート、
シクロペンタノン、ジメチルスルホキシドが好ましい。
これらは単独でも混合して用いてもよい。
【0035】本発明における感光性樹脂組成物を用いる
レリーフパターンの形成方法は、まず該組成物を適当な
支持体、例えばシリコンウエハーやセラミック、アルミ
基板等に塗布する。塗布方法は、スピンナーを用いた回
転塗布、スプレーコーターを用いた噴霧塗布、浸漬、印
刷、ロールコーティング等で行う。次に60〜180℃
程度の温度で塗膜を乾燥する。乾燥法としてはオーブ
ン、赤外炉、熱盤等があるが効率の点及び温度制御のし
易すさから熱盤が好ましい。この熱盤で乾燥する場合、
80〜130℃で乾燥することが好ましい。80℃未満
では、乾燥が不充分で好ましくない。又130℃を越え
ると、乾燥が過度になるため好ましくない。より好まし
いのは、100〜120℃で2〜4分である 次に所望のパターン形状に化学線を照射する。化学線と
しては、X線、電子線、紫外線、可視光線等を使用でき
るが、特に200〜500nmの波長のものが好まし
い。より高解像度のパターンを得るためには、365n
mの波長を利用したi線ステッパー又は436nmの波
長を利用したg線ステッパーを用いることがより好まし
い。
【0036】次に、未照射部を現像液で溶解除去するこ
とによりレリーフパターンを得る。現像液としてはシク
ロペンタノン、シクロヘキサノン等の環状ケトンは、解
像度を向上させるため好ましい。更にこれらの溶解性を
調製するためにiso−プロピルアルコール、キシレ
ン、プロピレングリコールメチルエーテルアセテート、
ジエチレングリコールジメチルエーテル、酢酸ブチル、
N−メチル−2−ピロリドン、γ−ブチロラクトン、
N,N−ジメチルアセトアミド、ジメチルスルホキシド
等を添加してもよい。添加量は50重量%以下が好まし
い。現像方法としてはスプレー、パドル、浸漬、超音波
等の方式が可能である。次に現像によって形成されたレ
リーフパターンをリンスする。リンス液としては、トル
エン、キシレン、エタノール、メタノール、イソプロピ
ルアルコール、酢酸ブチル、プロピレングリコールメチ
ルエーテルアセテート、水等が利用できる。続いて加熱
処理を行ない、イミド環を形成し、耐熱性に富む最終レ
リーフパターンを得る。加熱処理は、通常オーブン、熱
盤、炉等で行なうが、硬化後の着色を少なくするために
は、窒素、二酸化炭素、アルゴン等、不活性な雰囲気下
で硬化させることが望ましい。又、最終硬化温度は、3
00〜400℃が好ましいが、最終硬化温度に達する迄
には、充分な時間をかけるか、150℃、250℃等、
低温で硬化させた後に最終硬化させることが望ましい。
本発明による感光性樹脂組成物は、半導体の用途のみな
らず、多層回路の層間絶縁膜やフレキシブル銅張板のカ
バーコート、ソルダーレジスト膜や液晶配向膜等として
も有用である。
【0037】以下実施例により本発明を具体的に説明す
る。 実施例1 3,3′,4,4′−ベンゾフェノンテトラカルボン酸
二無水物322.2g(1.0モル)をグリセロールジ
メタクリレート228.3g(1.0モル)、メタノー
ル32.0g(1.0モル)をN−メチル−2−ピロリ
ドンに懸濁し、ピリジン166.1g(2.1モル)を
加え、25℃で10時間反応させた。次に1−ヒドロキ
シ−1,2,3−ベンゾトリアゾール270.2g
(2.0モル)を加え1時間で完全に溶解した後、反応
系を10℃以下に保ちながらN−メチル−2−ピロリド
ン400gに溶解したジシクロヘキシルカルボジイミド
412.6g(2.0モル)を約20分かけて滴下し
た。その後25℃で3時間反応を行った。反応した反応
溶液にP−キシレン−2,5−ジアミンを129.39
(0.95モル)を加え、30℃で5時間反応を行っ
た。ジシクロヘキシルウレアを濾別した後、反応混合物
をメタノールに再沈し、固形物を濾集し、メタノールで
洗浄後、48時間減圧乾燥した。分子量をGPCにて測
定したところ重量平均分子量24000であった。更
に、この得られたポリマー100gをN−メチル−2−
ピロリドン200gに溶解し、更にメチルエーテルハイ
ドロキノン0.1gとN−フェニルグリシン5g、1−
フェニル−5−メルカプト−1H−テトラゾール1g、
3−(2−ベンズイミダゾリル)−7−ジエチルアミノ
クマリン0.5g、テトラエチレングリコールジメタク
リレート10gを添加し、更にγ−グリシドキシプロピ
ルトリメトキシシランと4,4′−ジアミンジフェニル
エーテルとを反応させて得られた有機ケイ素化合物1.
0gを加えて室温で溶解した。
【0038】得られた組成物をシリコンウエハー上にス
ピンナーで塗布し、100℃で3分乾燥し、9μm厚の
フィルムを得た。このフィルムに凸版印刷(株)・製解像
度測定用マスク(凸版テストチャートNo1)を重ね、
200mJ/cm2の紫外線を照射し、次いでシクロペ
ンタノンを現像液として現像し、プロピレングリコール
メチルエーテルアセテートでリンスしたところ、解像度
7μmのパターンが形成された。更に別途シリコンウエ
ハー上に同様にスピンナー塗布し、100℃で3分乾燥
した後200mJ/cm2の紫外線で全面露光、更に現
像、リンス後窒素置換乾燥機にて150℃、250℃、
350℃で各30分硬化した。その後ウエハーを2分割
し、一方に東京応化工業(株)・製プラズマエッチング装
置OPM−EM1000を用いて100W、10分間
(1torr、O2流量:100cssm)の条件で処
理を施した。これらの最終硬化したシリコンウエハー上
のポリイミド皮膜上に、住友ベークライト(株)・製エポ
キシ系半導体用封止材料「スミコンEME−6300
H」を175℃、2分の条件でトランスファーモールド
し、縦2mm、横2mm、高さ2mmの成形品をプラズ
マ処置の有無で各10個を得た。175℃で4時間後硬
化した後、テンシロン万能試験機で図1に示すような成
形品側部への剪断剥離強度試験を5個実施して、成形品
とポリイミド界面又はポリイミドとシリコンウエハー界
面の接着強度を測定したところプラズマ処理なしの平均
値は5.2kgf/mm2、プラズマ処理ありの平均値
は4.1kgf/mm2であった。又残りの成形品各5
個については、120℃、2.1atmのプレッシャー
クッカー(PCT)処理100時間を施した後、同様に
接着強度を測定しプラズマ処理なしの平均値3.5kg
f/mm2、プラズマ処理ありの平均値3.2kgf/
mm2を得た。
【0039】実施例2 実施例1のグリセロールジメタクリレート及びメタノー
ルを2−ヒドロキシエチルメタクリレート260.2g
(2.0モル)に変え、反応仕込比、反応条件を実施例
1と全く同様に行ったところ、重量平均分子量2300
0のポリマーを得た。このポリマーにγ−グリシドキシ
プロピルメチルジエトキシシランとビス〔4−(4−ア
ミノフェノキシ)フェニルスルフォン〕とを反応させて
得られた有機ケイ素化合物1.5gを加え、更に実施例
1と同一の光重合開始剤等を加えパターニング評価、接
着強度を測定した。結果を表1に示す。 実施例3 実施例1のP−キシレン−2,5−ジアミンをP−フェ
ニレンジアミン102.6g(0.95モル)に変え、
反応仕込み比、反応条件を実施例1と全く同様に行った
ところ、重量平均分子量20000のポリマーを得た。
このポリマーに実施例1と同一の有機ケイ素化合物、光
重合開始剤等を加え、パターニング評価、接着強度を測
定した。結果を表1に示す。 実施例4 実施例1のP−キシレン−2,5−ジアミンをP−フェ
ニレンジアミン79.7g(0.75モル)とビス〔4
−(4−アミノフェノキシ)フェニル〕スルフォン8
6.5g(0.20モル)に変えた以外は、実施例1と
同様に反応を行い重量平均分子量31000のポリマー
を得た。このポリマーに実施例1と同一の有機ケイ素化
合物、光重合開始剤等を加え、パターニング評価、接着
強度を測定した。結果を表1に示す。
【0040】実施例5 実施例1のP−キシレン−2,5−ジアミンを40.9
g(0.30モル)に減じ、更に4,4′−ジアミノジ
フェニルエーテル120.1g(0.60モル)、1,
3−ビス(3−アミノプロピル)テトラメチルジシロキ
サン12.4g(0.05モル)を追加した以外は、実
施例1と同様に反応を行い重量平均分子量29000の
ポリマーを得た。このポリマーに実施例1と同一の有機
ケイ素化合物、光重合開始剤等を加え、パターニング評
価、接着強度を測定した。結果を表1に示す。 実施例6 実施例1のP−キシレン−2,5−ジアミンを64.7
g(0.475モル)に減じ、更に4,4′−ジアミノ
ジフェニルエーテル95.1g(0.475モル)を追
加した以外は、実施例1と同様に反応を行い重量平均分
子量28000のポリマーを得た。このポリマーに実施
例1と同一の有機ケイ素化合物、光重合開始剤等を加
え、パターニング評価、接着強度を測定した。結果を表
1に示す。 実施例7 実施例1のP−キシレン−2,5−ジアミンを122.
58g(0.90モル)に変更した以外は、実施例1と
同様にして反応を行い重量平均分子量15000のポリ
マーを得た。このポリマーに実施例1と同一の有機ケイ
素化合物、光重合開始剤等を加え、パターニング評価、
接着強度を測定した。結果を表1に示す。
【0041】実施例8 3,3′,4,4′−ベンゾフェノンテトラカルボン酸
二無水物322.2g(1.0モル)をグリセロールジ
メタクリレート228.3g(1.0モル)、メタノー
ル32.0g(1.0モル)、γ−ブチロラクトンに懸
濁し、ピリジン166.1g(2.1モル)を加え、2
5℃で10時間反応させた。反応系を10℃以下に保ち
ながら、γ−ブチロラクトン400gに溶解したジシク
ロヘキシルカルボジイミド412.6g(2.0モル)
を約20分かけて滴下した。その後、25℃で30分撹
拌し、次にP−キシレン−2,5−ジアミンを129.
39(0.95モル)を加え、25℃で5時間反応を行
った。ジシクロヘキシルウレアを濾別した後、反応混合
物をメタノールに再沈し、固形物を濾集し、メタノール
で洗浄後、48時間減圧乾燥し、重量平均分子量200
00のポリマーを得た。このポリマーに実施例1と同一
の有機ケイ素化合物、光重合重合開始剤等を加え、パタ
ーニング評価、接着強度を測定した。結果を表1に示
す。 実施例9 実施例1の3,3′,4,4′−ベンゾフェノンテトラ
カルボン酸二無水物を3,3′,4,4′−ビフェニル
テトラカルボン酸二無水物294.2g(1.0モル)
に変更した以外は、実施例1と同様にして反応を行い重
量平均分子量22000のポリマーを得た。このポリマ
ーに実施例1と同様の有機ケイ素化合物、光重合重合開
始剤等を加え、パターニング評価、接着強度を測定し
た。結果を表1に示す。
【0042】実施例10 実施例1の3,3′,4,4′−ベンゾフェノンテトラ
カルボン酸二無水物を161.1g(0.5モル)に減
じ、更にピロメリット酸二無水物109.1g(0.5
モル)を追加した以外は、実施例1と同様にして反応を
行い、重量平均分子量23000のポリマーを得た。こ
のポリマーに実施例1と同一の有機ケイ素化合物、光重
合開始剤等を加え、パターニング評価、接着強度を測定
した。結果を表1に示す。 実施例11 実施例1の組成物において、ポリマーを実施例2のポリ
マーに変え、3−(2−ベンズイミダゾリル)−7−ジ
エチルアミノクマリンを3−(カルボキシエチル)−7
−ジエチルアミノクマリンに変えた以外は、実施例1と
同様にして組成物を得、実施例1と同様にしてパターニ
ング評価、接着強度を測定した結果を表1に示す。 実施例12 実施例1の組成物において、ポリマーを実施例2のポリ
マーに変え、N−フェニルグリシン5gをN−フェニル
グリシン2gに変え、更に下記式で示されるトリケトン
オキシム5gを追加した以外は、実施例1と同様にして
組成物を得、実施例1の露光量を400mJ/cm2
変更した以外は、実施例1と同様にしてパターニング評
価、接着強度を測定した。結果を表1に示す。
【0043】
【化20】
【0044】実施例13 実施例1のP−キシレン−2,5−ジアミンを、p−フ
ェニレンジアミン30.88g(0.285モル)と
4,4′−ジアミノジフェニルエーテル133.2g
(0.665モル)に変更した以外は、実施例1と同様
にして反応を行い、重量平均分子量27000のポリマ
ーを得た。このポリマーに実施例1と同一の有機ケイ素
化合物、光重合開始剤等を加え、パターニング評価、接
着強度を測定した。結果を表1に示す。 実施例14〜25 実施例1〜4で得られたワニスを、コーティング時の熱
盤の温度・時間を変更し、更に現像液も変更してパター
ニング評価した。いずれも高解像度のパターンが得られ
た。表2に結果を示す。
【0045】比較例1 有機ケイ素化合物を添加しない以外は全て実施例1と同
様にしてパターニング評価、接着強度測定した。結果を
表3に示す。 比較例2 有機ケイ素化合物を添加しない以外は全て実施例5と同
様にしてパターニング評価、接着強度測定した。結果を
表3に示す。 比較例3 有機ケイ素化合物の添加量を12gとした以外は全て実
施例1と同様にしてパターニング評価、接着強度測定し
た。結果を表3に示す。 比較例4 実施例1のP−キシレン−2,5−ジアミンを4,4′
−ジアミノジフェニルエーテル190.2g(0.95
モル)に変更した以外は、実施例1と同様にして反応を
行い、重量平均分子量28000のポリマーを得た。こ
のポリマーに実施例1と同一の有機ケイ素化合物、光重
合開始剤等を加えパターニング評価、接着強度を測定し
た。結果を表3に示す。
【0046】比較例5 実施例1の組成物からN−フェニルグリシン、1−フェ
ニルメルカプト−1H−テトラゾール、3−(2−ベン
ズイミダゾリル)−7−ジエチルアミノクマリンを除い
た組成物を得、実施例1と同様にしてパターニング評価
したが1000mJ/cm2まで露光量を増しても鮮明
なパターンは得られなかった。 比較例6〜9 実施例1の組成物を用いて、熱盤温度、時間、現像液の
加工条件を変更しパターニングを行なった。いずれも高
解像度のパターンは得られなかった。結果を表4に示
す。
【0047】
【表1】
【0048】
【表2】
【0049】
【表3】
【0050】
【表4】
【0051】
【発明の効果】本発明の組成物及びパターン形成法を用
いると極めて微細で接着性の優れたポリイミドパターン
を得ることができる。
【図面の簡単な説明】
【図1】剪断剥離強度試験用の成形品の概略図。
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (72)発明者 竹田 直滋 東京都品川区東品川2丁目5番8号 住友 ベークライト株式会社内

Claims (5)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 (A)下記一般式(1a)、(1b)及
    び(1c)で示されるポリアミド酸エステル、 【化1】 (B)下記一般式(2)で示される有機ケイ素化合物、 【化2】 (C)光重合開始剤及び/又は光増感剤を必須成分とす
    ることを特徴とする感光性樹脂組成物。
  2. 【請求項2】 式(1a)、(1b)及び(1c)で示
    されるポリアミド酸エステル中のR2が、下記式(3)
    から選択される1種以上を含み、かつ15重量%以上で
    ある請求項1記載の感光性樹脂組成物。 【化3】
  3. 【請求項3】 請求項2の残余のR2が、下記式(4)
    から選択される1種以上である請求項1、又は請求項2
    記載の感光性樹脂組成物。 【化4】
  4. 【請求項4】 有機ケイ素化合物が、ポリアミド酸エス
    テル100重量部に対して0.01〜10重量部である
    請求項1、請求項2、又は請求項3記載の感光性樹脂組
    成物。
  5. 【請求項5】 請求項1記載の感光性樹脂組成物を、基
    板上にコーティングし、80〜130℃の熱盤で乾燥
    後、マスクを介して光を照射し、環状ケトンを主成分と
    する有機溶剤で光未照射部を除去することを特徴とする
    微細なパターン形成方法。
JP28230095A 1995-10-31 1995-10-31 感光性樹脂組成物及びそのパターン形成方法 Pending JPH09127695A (ja)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP28230095A JPH09127695A (ja) 1995-10-31 1995-10-31 感光性樹脂組成物及びそのパターン形成方法

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP28230095A JPH09127695A (ja) 1995-10-31 1995-10-31 感光性樹脂組成物及びそのパターン形成方法

Publications (1)

Publication Number Publication Date
JPH09127695A true JPH09127695A (ja) 1997-05-16

Family

ID=17650635

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP28230095A Pending JPH09127695A (ja) 1995-10-31 1995-10-31 感光性樹脂組成物及びそのパターン形成方法

Country Status (1)

Country Link
JP (1) JPH09127695A (ja)

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
KR20200119202A (ko) * 2019-04-09 2020-10-19 아사히 가세이 가부시키가이샤 네거티브형 감광성 수지 조성물, 폴리이미드의 제조 방법 및 경화 릴리프 패턴의 제조 방법

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
KR20200119202A (ko) * 2019-04-09 2020-10-19 아사히 가세이 가부시키가이샤 네거티브형 감광성 수지 조성물, 폴리이미드의 제조 방법 및 경화 릴리프 패턴의 제조 방법

Similar Documents

Publication Publication Date Title
KR101719045B1 (ko) 네거티브형 감광성 수지 조성물, 경화 릴리프 패턴의 제조 방법, 및 반도체 장치
JP2016167036A (ja) 感光性樹脂組成物、硬化レリーフパターンの製造方法及び半導体装置
JP4761989B2 (ja) ポリアミド酸エステル組成物
US5587275A (en) Photosensitive resin composition and a process for forming a patterned polyimide film using the same
US5616448A (en) Photosensitive resin composition and a process for forming a patterned polyimide film using the same
JP3342299B2 (ja) 感光性樹脂組成物
JPH1192660A (ja) 感光性樹脂組成物
JP3672203B2 (ja) 感光性樹脂組成物及びそのパターン形成方法
JPH0827538B2 (ja) 感光性樹脂組成物
JPH0990632A (ja) 感光性樹脂組成物及びそのパターン形成方法
JP3407780B2 (ja) 感光性樹脂組成物及びそのパターン形成方法
JPH1020499A (ja) 感光性樹脂組成物及びそのパターン形成方法
JPH09127695A (ja) 感光性樹脂組成物及びそのパターン形成方法
JP3342297B2 (ja) 感光性樹脂組成物
JPH0827537B2 (ja) 感光性樹脂組成物
JP3342298B2 (ja) 感光性樹脂組成物
JP3614220B2 (ja) 感光性樹脂組成物の製造方法
WO2021215374A1 (ja) 感光性樹脂組成物、パターン硬化膜の製造方法、硬化膜、層間絶縁膜、カバーコート層、表面保護膜及び電子部品
EP0637776B1 (en) Photosensitive resin composition and process for forming relief pattern therefrom
JPH09124939A (ja) 感光性樹脂組成物の製造方法
JPH09258447A (ja) 感光性樹脂組成物及びそのパターン形成方法
JPH05134406A (ja) 半導体装置の製造方法
JPH0943842A (ja) 感光性樹脂組成物及びそのパターン形成方法
JPH0495962A (ja) 感光性樹脂組成物
JPH0651512A (ja) 感光性樹脂組成物

Legal Events

Date Code Title Description
A02 Decision of refusal

Effective date: 20050610

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A02