JPH09127182A - Insulation test method for high voltage electric apparatus and insulation tester - Google Patents

Insulation test method for high voltage electric apparatus and insulation tester

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JPH09127182A
JPH09127182A JP7279192A JP27919295A JPH09127182A JP H09127182 A JPH09127182 A JP H09127182A JP 7279192 A JP7279192 A JP 7279192A JP 27919295 A JP27919295 A JP 27919295A JP H09127182 A JPH09127182 A JP H09127182A
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JP
Japan
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radiation
partial discharge
voltage
test
irradiating
Prior art date
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Application number
JP7279192A
Other languages
Japanese (ja)
Inventor
Osamu Usui
修 碓井
Taketoshi Hasegawa
武敏 長谷川
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Mitsubishi Electric Corp
Original Assignee
Mitsubishi Electric Corp
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Publication date
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Publication of JPH09127182A publication Critical patent/JPH09127182A/en
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Abstract

PROBLEM TO BE SOLVED: To detect even a minute defective void in a short time by convergently irradiating a test piece with a radiant ray in a state where test voltage is applied to it, and measuring its partial discharge. SOLUTION: A radiant ray radiating means 20 is composed of a radiant ray source 21, a converging means 22, and a radiant ray source support base 23. The converging means 22 for spot-shapedly converging the radiant ray is composed of a lead plate which is 10mm in thickness and has a through hole being 1mm in bore, and the radiant ray source support base 23 can move the positions of the radiant ray source 21 and of the converging means 22 vertically and laterally so that the radiant ray radiated from the radiant ray source 21 may be cast on each spot of a test piece 10. In the case of an insulation test, the radiant ray source 21 is moved vertically and laterally with a fixed test voltage being applied to radiate the radiant ray toward an optional position of the test piece 10 for measuring partial discharge, and a partial discharge level and a defective position can be specified on the irradiation position with the radiant ray and the measured value of the partial discharge.

Description

【発明の詳細な説明】Detailed Description of the Invention

【0001】[0001]

【発明の属する技術分野】この発明は、電力系統に接続
される開閉機器、変圧器等の変電機器、あるいは電磁石
等の樹脂等の固体絶縁物で覆われた高電圧電気機器の絶
縁物内部に存在する欠陥を検出する絶縁試験法及び絶縁
試験装置に関するものである。
BACKGROUND OF THE INVENTION 1. Field of the Invention The present invention relates to a switchgear connected to an electric power system, a transformer such as a transformer, or an insulator of a high voltage electric device covered with a solid insulator such as a resin such as an electromagnet. The present invention relates to an insulation test method and an insulation test apparatus for detecting existing defects.

【0002】[0002]

【従来の技術】従来の固体絶縁物で覆われた高電圧電気
機器は絶縁物内部に存在するボイド等の欠陥を検出する
ために所定の電圧を印加して部分放電を測定する絶縁試
験法が常用されている。しかし、固体絶縁物の中に存在
するボイド等の欠陥の微小なものは、高電圧が印加され
ても部分放電が発生するまでに相当の長期間の時間遅れ
を示す場合がある。例えば、電気学会論文誌A、104
巻、11号、昭和59年11月号P129、「球状ボイ
ド内における放電の時間遅れ」に示されているように、
製品の初期試験において、ボイドによる部分放電の時間
遅れ現象により欠陥検出ができず、製品が運転されてか
ら絶縁物内部に部分放電が発生し、最終的には絶縁破壊
に至ることが報告されている。
2. Description of the Related Art A conventional high voltage electric device covered with a solid insulator has an insulation test method in which a predetermined voltage is applied to measure a partial discharge in order to detect defects such as voids existing inside the insulator. It is used regularly. However, minute defects such as voids existing in the solid insulator may show a considerable long time delay before partial discharge occurs even when a high voltage is applied. For example, IEEJ Transactions A, 104
Vol. 11, No. 11, November 1984, P129, "Time delay of discharge in spherical void",
In the initial test of the product, it was reported that defects could not be detected due to the time delay phenomenon of partial discharge due to voids, and partial discharge occurred inside the insulator after the product was operated, eventually leading to dielectric breakdown. There is.

【0003】部分放電の検出感度を上げる手段として
は、特開平2−120679号公報に図11の電力ケー
ブル接続部の欠陥検出方法が示されている。図11にお
いて、1は電力ケーブル、2は電力ケーブルの導体、3
は内部半導電層、4は絶縁層、5は外部半導電層、6は
高抵抗部、7は検出インピーダンス、8は部分放電測定
器、9はX線発生手段である。
As a means for increasing the detection sensitivity of partial discharge, Japanese Patent Application Laid-Open No. 2-120679 discloses a method for detecting a defect in a power cable connecting portion shown in FIG. In FIG. 11, 1 is a power cable, 2 is a conductor of the power cable, 3
Is an internal semiconductive layer, 4 is an insulating layer, 5 is an external semiconductive layer, 6 is a high resistance part, 7 is a detection impedance, 8 is a partial discharge measuring instrument, and 9 is an X-ray generating means.

【0004】通常、電力ケーブルの絶縁試験は静電容量
が大きいので直流電圧を印加して行われる。電力ケーブ
ル1の導体2は直流電源に接続され、導体2と外部半導
電層5との間に直流電圧が印加され、絶縁層4に直流電
界が加えられる。外部半導電層5には検出インピーダン
ス7を介して部分放電測定器8が接続されており、外部
半導電層5と電力ケーブル1の外装とは高抵抗部6が間
挿されているので、絶縁層部分に流れる電流は検出イン
ピーダンス7を介して部分放電測定器8に流れるように
なっており、絶縁層4の内部に部分放電が発生すると部
分放電測定器8で測定される。
Usually, the insulation test of a power cable is carried out by applying a DC voltage because of its large capacitance. The conductor 2 of the power cable 1 is connected to a DC power source, a DC voltage is applied between the conductor 2 and the outer semiconductive layer 5, and a DC electric field is applied to the insulating layer 4. A partial discharge measuring device 8 is connected to the outer semiconductive layer 5 via a detection impedance 7, and a high resistance portion 6 is interposed between the outer semiconductive layer 5 and the exterior of the power cable 1, so that insulation is achieved. The current flowing through the layer portion flows into the partial discharge measuring instrument 8 via the detection impedance 7, and when the partial discharge occurs in the insulating layer 4, the partial discharge measuring instrument 8 measures the partial discharge.

【0005】275kVの電力ケーブルの接続部の内部
半導電層3上に直径200μmのボイドを形成したもの
において、X線未照射の状態で部分放電を測定した結
果、試験電圧500kVで0.5pCの部分放電が検出
された。次に導体2の部分に600mm離れた位置のX
線発生器9からX線を照射して(X線の照射条件は管電
圧100kV、管電流25mA)部分放電試験を行うと
450kVから明らかにノイズと判別できる頻度の極め
て高い部分放電が検出された例が示されている。
Partial discharge was measured in a state in which a void having a diameter of 200 μm was formed on the inner semiconductive layer 3 at the connection portion of a 275 kV power cable, and the partial discharge was measured at a test voltage of 500 kV and 0.5 pC. Partial discharge was detected. Next, at the position of 600 mm apart from the X of the conductor 2,
When a partial discharge test was performed by irradiating X-rays from the line generator 9 (X-ray irradiation conditions were a tube voltage of 100 kV and a tube current of 25 mA), an extremely high frequency of partial discharges that could be clearly distinguished from noise was detected from 450 kV. An example is shown.

【0006】このことは、固体絶縁物の中に微小なボイ
ドがある場合、製品組立後工場での出荷試験において部
分放電試験を行っても、部分放電の発生には初期電子の
存在が必要であり、大気中から閉じ込められた微小なボ
イドは、外気中の宇宙線、紫外線等のエネルギが到達し
ないので、試験電圧が印加されても部分放電に至らしめ
る初期電子が存在しないために部分放電に至らない場合
もあり、部分放電までの時間遅れもあるので、電圧印加
時間が限られた時間で行われる試験では検出できないも
のである。このような場合に、X線を照射することによ
りボイド内のガスが励起され、試験時間内に部分放電が
発生し、微小ボイドの検出が可能となることを示すもの
である。
This means that if there are minute voids in the solid insulator, even if a partial discharge test is carried out in the shipping test at the factory after the product is assembled, the existence of initial electrons is necessary for the partial discharge to occur. However, the minute voids trapped in the atmosphere do not reach the energy such as cosmic rays and ultraviolet rays in the outside air, so even if a test voltage is applied, there are no initial electrons that lead to partial discharge, resulting in partial discharge. In some cases, it may not be reached, and there is a time delay until partial discharge, so it cannot be detected by a test performed with a limited voltage application time. In such a case, it is shown that irradiation with X-rays excites the gas in the voids, partial discharge occurs within the test time, and it becomes possible to detect minute voids.

【0007】[0007]

【発明が解決しようとする課題】上記のように、微小ボ
イドがあった場合に、従来の製品組立後の部分放電では
電圧印加時間が短いので、検出できず、良品として出荷
され、据付後運転中に絶縁破壊に至ることがあるという
問題点があった。また上記特開平2−120679号公
報に開示された電力ケーブル接続部のように、被試験物
にX線を照射して行う部分放電試験では、X線は全体的
に照射しているので、部分放電の発生場所を特定するこ
とができないという問題点もあった。
As described above, when there is a minute void, the voltage application time is short in the conventional partial discharge after product assembly, so it cannot be detected and it is shipped as a non-defective product. There was a problem that it could lead to dielectric breakdown. Further, in the partial discharge test performed by irradiating the DUT with X-rays like the power cable connecting portion disclosed in JP-A-2-120679, X-rays are entirely radiated, so There is also a problem in that it is not possible to specify the location of the discharge.

【0008】この発明は、上記問題点を解決するために
なされたものであり、製品の工場組立時の部分放電試験
において微小な欠陥ボイドがあっても検出し、その位置
も特定できる高電圧電気機器の部分放電試験法、及びそ
の試験を行う高電圧電気機器の部分放電試験装置を提供
するものである。
The present invention has been made to solve the above-mentioned problems, and it is possible to detect even a minute defect void in a partial discharge test at the time of assembling a product in a factory, and to identify the position thereof. It is intended to provide a partial discharge test method for equipment and a partial discharge test apparatus for high-voltage electric equipment for performing the test.

【0009】[0009]

【課題を解決するための手段】この発明の請求項1に係
わる高電圧電気機器の絶縁試験法は、被試験物に試験電
圧を印加する電圧印加手段、及び部分放電測定手段を接
続し、試験電圧印加状態で、照射する放射線を収束し
て、局所に選択的に照射可能に構成された放射線照射手
段により、照射位置を上下、左右に移動させて放射線を
照射し、部分放電を測定するものである。
According to a first aspect of the present invention, there is provided an insulation test method for high-voltage electrical equipment, which comprises connecting a voltage applying means for applying a test voltage to a DUT and a partial discharge measuring means, and performing a test. Measuring partial discharge by moving the irradiation position up, down, left and right by a radiation irradiation means configured to converge irradiation to be applied and selectively irradiate locally in a voltage applied state. Is.

【0010】この発明の請求項2に係わる高電圧電気機
器の絶縁試験法は、被試験物に試験電圧を印加する電圧
印加手段、及び部分放電測定手段を接続し、試験電圧印
加状態で、照射するX線を収束して、局所に選択的に照
射可能に構成されたX線照射手段により、照射位置を上
下、左右に移動させてX線を照射し、部分放電を測定す
るものである。
According to a second aspect of the present invention, there is provided an insulation test method for high-voltage electrical equipment, which comprises connecting a voltage applying means for applying a test voltage to a device under test and a partial discharge measuring means, and irradiating in a test voltage applied state. The X-ray irradiating means configured to converge the X-rays to be selectively irradiated locally and irradiate the X-rays vertically and horizontally to irradiate the X-rays and measure the partial discharge.

【0011】この発明の請求項3に係わる高電圧電気機
器の絶縁試験法は、被試験物に試験電圧を印加する電圧
印加手段、及び部分放電測定手段を接続し、被試験物を
回転可能な回転台に載置して回転させ、試験電圧印加状
態で、収束手段を有する放射線照射装置を上下、左右に
移動させて、収束された放射線を被試験物の局所に選択
的に照射し、放射線の照射位置と測定した部分放電レベ
ルとによって欠陥の位置及び欠陥の大きさレベルを特定
するものである。
According to a third aspect of the present invention, there is provided an insulation test method for a high-voltage electric device, wherein a voltage applying means for applying a test voltage to the DUT and a partial discharge measuring means are connected, and the DUT can be rotated. The radiation irradiation device having the focusing means is moved up and down and left and right while being placed on a rotary table and rotated and the test voltage is applied, and the converged radiation is selectively applied to the local area of the DUT, and the radiation is irradiated. The position of the defect and the level of the size of the defect are specified based on the irradiation position of and the measured partial discharge level.

【0012】この発明の請求項4に係わる高電圧電気機
器の絶縁試験装置は、被試験物に試験電圧を印加する電
圧印加手段、部分放電を測定する部分放電測定手段、放
射線を照射する放射線照射手段からなり、放射線照射手
段の放射線照射部は、放射線の収束手段を備え、照射位
置が上下、左右に移動可能な移動手段に取り付けられ、
被試験物の局所に選択的に照射可能に構成されたもので
ある。
According to a fourth aspect of the present invention, there is provided an insulation test apparatus for high-voltage electrical equipment, which comprises a voltage applying means for applying a test voltage to a DUT, a partial discharge measuring means for measuring a partial discharge, and a radiation irradiation for radiating radiation. The radiation irradiating section of the radiation irradiating means includes a radiation converging means, and the irradiation position is attached to a moving means capable of moving up and down, left and right,
The test object is configured so that it can be selectively irradiated locally.

【0013】この発明の請求項5に係わる高電圧電気機
器の絶縁試験装置は、被試験物に試験電圧を印加する電
圧印加手段、部分放電を測定する部分放電測定手段、X
線を照射するX線照射手段からなり、X線照射手段のX
線照射部は、X線の収束手段を有し、照射位置が上下、
左右に移動可能な移動手段に取り付けられ、被試験物の
局所に選択的に照射可能に構成されたものである。
According to a fifth aspect of the present invention, there is provided an insulation test apparatus for high-voltage electrical equipment, which comprises a voltage applying means for applying a test voltage to a DUT, a partial discharge measuring means for measuring a partial discharge, and X.
X-ray irradiation means for irradiating X-rays, and X of the X-ray irradiation means
The radiation irradiator has X-ray focusing means, and the irradiation position is up and down.
It is attached to a moving means that can move to the left and right, and is configured to be able to selectively irradiate the test object locally.

【0014】この発明の請求項6に係わる高電圧電気機
器の絶縁試験装置は、被試験物に試験電圧を印加する電
圧印加手段、部分放電を測定する部分放電測定手段、放
射線を照射する放射線照射手段からなり、放射線照射手
段は放射線をスポット状に収束する収束手段を有し、照
射位置を上下、左右に移動可能な移動手段に取り付けら
れ、被試験物の局所に選択的に照射可能に構成されたも
のである。
According to a sixth aspect of the present invention, there is provided an insulation test apparatus for high-voltage electrical equipment, which comprises voltage applying means for applying a test voltage to a DUT, partial discharge measuring means for measuring partial discharge, and radiation irradiation for irradiating radiation. The radiation irradiating means has a converging means for converging the radiation in a spot shape, is attached to a moving means capable of moving the irradiation position up and down, left and right, and selectively irradiates the DUT locally. It was done.

【0015】この発明の請求項7に係わる高電圧電気機
器の絶縁試験装置は、被試験物に試験電圧を印加する電
圧印加手段、部分放電を測定する部分放電測定手段、放
射線を照射する放射線照射手段からなり、放射線照射手
段は放射線を収束する収束手段を有し、照射位置を上
下、左右に移動可能な移動手段に取り付けられ、放射線
の照射位置が、座標的に表示可能な表示手段を備えたも
のである。
According to a seventh aspect of the present invention, there is provided an insulation test apparatus for high-voltage electrical equipment, which comprises a voltage applying means for applying a test voltage to a DUT, a partial discharge measuring means for measuring a partial discharge, and a radiation irradiation for radiating radiation. The radiation irradiating means has a converging means for converging the radiation, is attached to a moving means capable of moving the irradiation position vertically and horizontally, and is provided with a display means capable of displaying the irradiation position of the radiation in a coordinated manner. It is a thing.

【0016】この発明の請求項8に係わる高電圧電気機
器の絶縁試験装置は、被試験物に所定の試験電圧を印加
する電圧印加手段、試験電圧印加状態で、放射線を収束
して、局所に選択的に照射可能に構成し、予め設定した
プログラムにより移動し、その照射位置を座標的に表示
した照射位置信号を出力する放射線照射手段、部分放電
を測定し、部分放電測定値及び上記放射線照射手段から
出力された照射位置信号を記録する部分放電測定手段と
からなるものである。
According to an eighth aspect of the present invention, there is provided an insulation test apparatus for high-voltage electrical equipment, wherein voltage application means for applying a predetermined test voltage to an object to be tested and radiation is converged in a test voltage applied state and locally. Radiation irradiation means for selectively irradiating, moving according to a preset program, and outputting an irradiation position signal in which the irradiation position is coordinately displayed, measuring partial discharge, partial discharge measurement value and the above-mentioned radiation irradiation And partial discharge measuring means for recording the irradiation position signal output from the means.

【0017】[0017]

【発明の実施の形態】BEST MODE FOR CARRYING OUT THE INVENTION

実施の形態1.固体絶縁物中に部分放電が発生するため
には、初期電子の存在が必要であり、微小なボイドの場
合は、試験電圧が印加されても、初期電子が発生し、部
分放電が発生するまでにはある程度の時間経過が必要で
あり、通常の絶縁試験における試験時間では部分放電の
発生までには至らず、欠陥ボイドが検出されないことが
あることは上述のとおりである。絶縁試験において被試
験材にX線を照射して絶縁部材中に存在する欠陥ボイド
を励起して部分放電の発生を促し、通常の絶縁試験で検
出されない微小な欠陥ボイドも検出できることが特開平
2−120679号公報に記載されている。
Embodiment 1 FIG. In order for a partial discharge to occur in a solid insulator, the existence of initial electrons is necessary.In the case of a minute void, even if a test voltage is applied, initial electrons are generated and until a partial discharge occurs. As described above, a certain amount of time has to be passed, and partial voids are not generated during the test time in the normal insulation test, and defect voids may not be detected. In the insulation test, the material under test is irradiated with X-rays to excite defect voids existing in the insulating member to promote the generation of partial discharge, and it is possible to detect minute defect voids that cannot be detected by a normal insulation test. -120679 gazette.

【0018】図1は部分放電を測定する絶縁試験におけ
るX線照射の効果の確認試験の回路図である。図におい
て、10は被試験物、11は試験電圧印加手段、12は
試験回路の電流を抑制する抑制インピーダンス、13は
結合コンデンサ、14は検出インピーダンス、15は部
分放電測定器、16は部分放電測定手段であり、抑制イ
ンピーダンス12、結合コンデンサ13、検出インピー
ダンス14、部分放電測定器15とで構成されている。
18はX線発生源、19はX線を線状に収束する収束手
段であり、厚さ10mmの鉛板の中心に1mmの穴を明
けた構成である。被試験物10は厚さ8mmの絶縁板と
し、内部に直径1mmのボイドを形成したものとし、上
下面に電極を取り付けた構成である。
FIG. 1 is a circuit diagram of a test for confirming the effect of X-ray irradiation in an insulation test for measuring partial discharge. In the figure, 10 is a device under test, 11 is a test voltage applying means, 12 is a suppression impedance for suppressing the current of the test circuit, 13 is a coupling capacitor, 14 is a detection impedance, 15 is a partial discharge measuring instrument, and 16 is a partial discharge measurement. It is a means and comprises a suppression impedance 12, a coupling capacitor 13, a detection impedance 14, and a partial discharge measuring device 15.
Reference numeral 18 is an X-ray generation source, and 19 is a focusing means for linearly focusing the X-rays, which has a structure in which a 1 mm hole is formed in the center of a lead plate having a thickness of 10 mm. The DUT 10 is an insulating plate having a thickness of 8 mm, a void having a diameter of 1 mm is formed inside, and electrodes are attached to the upper and lower surfaces.

【0019】図1の回路にX線を照射しないで、電圧を
印加して部分放電を測定した結果を図2に示す。図2の
縦軸は同一条件で試験した時間遅れ以上の遅れを示す回
数を総試験回数で割った値、横軸は時間である。試験電
圧は交流電圧(60Hz)20kVと30kVを印加し
て10pC以上の部分放電が発生するまでの時間遅れを
ラウエプロットしたものである。この試験においては図
示のように30kV印加では18〜148分、20kV
印加では22〜220分の時間遅れが生じている。この
ように固体絶縁物内に密閉された微小ボイドの部分放電
は電圧印加後非常に長い時間遅れがある。大気中におい
ては宇宙線、紫外線等のエネルギで分子が励起し自由電
子が存在する確率が高いため、時間遅れは短いが密閉さ
れたボイドでは外部からの励起作用は極めて少なく、ボ
イドが小さいほど部分放電の発生は遅くなる。
FIG. 2 shows the results of measuring partial discharge by applying a voltage without irradiating the circuit of FIG. 1 with X-rays. The vertical axis of FIG. 2 is a value obtained by dividing the number of times showing a delay of time delay or more tested under the same condition by the total number of tests, and the horizontal axis is time. The test voltage is a Laue plot of the time delay until AC discharge (60 Hz) of 20 kV and 30 kV is applied and a partial discharge of 10 pC or more occurs. In this test, as shown in the figure, 18 to 148 minutes at 30 kV application, 20 kV
The application causes a time delay of 22 to 220 minutes. As described above, the partial discharge of the minute void enclosed in the solid insulator has a very long time delay after the voltage is applied. In the atmosphere, there is a high probability that molecules will be excited by energy such as cosmic rays and ultraviolet rays and free electrons will exist.Therefore, the time delay is short, but with a sealed void, there is very little external excitation action. The discharge is delayed.

【0020】30kV印加して18分後に部分放電が発
生した場合を例に、部分放電発生後の電圧下降時に得ら
れた特性を図3に示す。図3の横軸は印加電圧、縦軸は
10pC以上の部分放電発生数である。印加電圧の下降
とともに部分放電発生数は減少していることが分かる。
FIG. 3 shows the characteristics obtained when the voltage drops after the partial discharge occurs, for example, when the partial discharge occurs 18 minutes after applying 30 kV. The horizontal axis of FIG. 3 is the applied voltage, and the vertical axis is the number of partial discharges of 10 pC or more. It can be seen that the number of occurrences of partial discharge decreases as the applied voltage decreases.

【0021】次に、30kV間での任意の電圧を印加し
た直後に被試験物中のボイド部分にX線を照射した場合
の特性を図4に示す。部分放電消滅電圧は約11kVで
あり、この値以上の電圧ではX線照射直後に部分放電が
発生しており、X線の照射によって部分放電のための初
期電子が供給され、時間遅れがなくなっていることが分
かる。また試料に電圧15kVを印加してX線の照射を
球状ボイド部分と横に移動してボイドのない部分に照射
したときの部分放電パルス発生状況を図5に示す。この
場合、ボイドがある部分とボイドがない部分の放電電荷
は顕著に差異がみとめられる。
Next, FIG. 4 shows characteristics when X-rays are irradiated to the void portion in the DUT immediately after applying an arbitrary voltage within 30 kV. The partial discharge extinction voltage is about 11 kV, and at a voltage above this value, partial discharge occurs immediately after X-ray irradiation, and the initial electrons for partial discharge are supplied by the X-ray irradiation, and there is no time delay. I know that Further, FIG. 5 shows a partial discharge pulse generation state when a voltage of 15 kV is applied to the sample and the X-ray irradiation is laterally moved to the spherical void portion to irradiate the portion having no void. In this case, a significant difference is found in the discharge charge between the voided portion and the voidless portion.

【0022】また、この試験に用いた被試験物の直径1
mmのボイドがある8mmの絶縁板の理論的な部分放電
開始電圧は約19kVであるが、X線を照射した部分放
電試験の結果を図4に示す。X線を照射すると部分放電
開始電圧は11kVとなっており、部分放電開始電圧理
論値19kVよりも低い電圧で部分放電が計測されてい
る。このことは高電圧電気機器の絶縁物はX線を照射す
ることにより、ボイド等を検出する絶縁試験の試験電圧
を通常の試験電圧よりも低い電圧に設定して絶縁試験を
行えることを示唆しており、製品の出荷試験時の試験電
圧を低くして、製品のダメージを軽減することができ
る。
The diameter of the test object used in this test is 1
The theoretical partial discharge inception voltage of the 8 mm insulating plate having a void of mm is about 19 kV, but the results of the partial discharge test of X-ray irradiation are shown in FIG. When the X-ray is irradiated, the partial discharge inception voltage is 11 kV, and the partial discharge is measured at a voltage lower than the theoretical value of the partial discharge inception voltage of 19 kV. This suggests that the insulation of the high-voltage electrical equipment can be tested by irradiating it with X-rays to set the test voltage of the insulation test for detecting voids to a voltage lower than the normal test voltage. Therefore, it is possible to reduce the damage of the product by lowering the test voltage during the shipping test of the product.

【0023】上記実験の放射線は、X線としたが、ボイ
ド内のガス体に初期電子発生させることができればよい
のであって、他の放射線であっても同様の効果が得られ
る。
The X-ray was used as the radiation in the above experiment, but it is only necessary that the initial electrons can be generated in the gas body in the void, and the same effect can be obtained with other radiation.

【0024】固体絶縁で構成される高電圧電気機器で
は、絶縁材内部の欠陥(ボイド等)を検出するために部
分放電試験が不可欠であり、放射線を照射することによ
り微小な欠陥も短い試験時間で検出可能であるが、放射
線を被試験物の全体に照射すると欠陥の存在位置を特定
することができない。
In high-voltage electrical equipment composed of solid insulation, a partial discharge test is indispensable for detecting defects (voids etc.) inside the insulating material, and even irradiation of radiation causes a short test time for minute defects. Although it can be detected by, it is not possible to specify the position where the defect exists if the entire DUT is irradiated.

【0025】この実施の形態1.は、固体絶縁で構成さ
れる高電圧電気機器の内部欠陥を短時間の電圧印加で確
実に検出し、欠陥の位置をも特定できる絶縁試験法及び
その試験装置であり、図6にその構成を示す。図におい
て、10〜16は図1の確認試験と同一であり説明は省
略する。20は放射線照射手段であり、21は放射線
源、22は放射線をスポット状に収束する収束手段であ
り、図1の収束手段19と同様に厚さ10mmの鉛板に
1mmの貫通穴を明けた構成である。23は放射線源か
ら放射する放射線の照射位置を被試験物の局所局所に照
射できるように放射線源21、収束手段22の位置を上
下、左右に移動可能に構成された放射線源照射台であ
り、放射線源21、収束手段22が取り付けられてお
り、放射線照射手段20は放射線源21、収束手段22
及び放射線源支持台23で構成されている。
This Embodiment 1. Is an insulation test method and its testing device that can reliably detect internal defects of high-voltage electrical equipment composed of solid insulation by applying voltage for a short time, and specify the position of the defects. The configuration is shown in FIG. Show. In the figure, 10 to 16 are the same as the confirmation test of FIG. Reference numeral 20 is a radiation irradiating means, 21 is a radiation source, and 22 is a converging means for converging the radiation in a spot shape. Like the converging means 19 of FIG. 1, a 1 mm through hole is formed in a lead plate having a thickness of 10 mm. It is a composition. Reference numeral 23 denotes a radiation source irradiation table configured to move the positions of the radiation source 21 and the focusing means 22 vertically and horizontally so that the irradiation position of the radiation emitted from the radiation source can be locally irradiated to the DUT, The radiation source 21 and the focusing means 22 are attached, and the radiation irradiation means 20 includes the radiation source 21 and the focusing means 22.
And a radiation source support 23.

【0026】絶縁試験は所定の試験電圧を印加した状態
で放射線源を上下左右に移動させて被試験物の任意の位
置に放射線を照射し、部分放電の測定を行い、放射線の
照射位置と部分放電の測定値により部分放電レベル、及
び欠陥の位置を特定することができる。放射線源として
はX線発生器によっても同様の効果が得られる。
In the insulation test, the radiation source is moved up and down and to the left and right while a predetermined test voltage is applied to irradiate the radiation to an arbitrary position on the DUT, the partial discharge is measured, and the radiation irradiation position and the partial radiation are measured. The partial discharge level and the position of the defect can be specified by the measured value of the discharge. The same effect can be obtained by using an X-ray generator as the radiation source.

【0027】実施の形態2.図7は被試験物31を回転
台32に載置し、放射線照射手段20は図6の場合と同
じものとしたものである。この場合は被試験物31を回
転して放射線を照射するようにしたものである。
Embodiment 2. In FIG. 7, the DUT 31 is placed on the rotary table 32, and the radiation irradiation means 20 is the same as that in the case of FIG. In this case, the DUT 31 is rotated to irradiate radiation.

【0028】内部に銅材等の放射線が透過しにくい材料
で構成されている場合に回転させて照射することにより
放射線が全体に照射され,欠陥が検出漏れとなることが
なくなる。この場合においても放射線源としてはX線発
生器によっても同様の効果が得られる。
When the inside is made of a material such as a copper material that does not easily transmit radiation, the radiation is irradiated to the entire body by rotating and irradiating, so that defects are not missed. Also in this case, the same effect can be obtained by using an X-ray generator as the radiation source.

【0029】実施の形態3.図8は電磁石等のコイルへ
の放射線の照射する状況を示す。41は電磁石コイルで
あり、A−A断面を図9に示す。図9に示すように内部
に導体42が埋設され、放射線を正面から照射するだけ
では内部導体42によってブラインドとなる部分がで
き、欠陥ボイドが検出されないことが想定される。図
8、図9は内部の導体が層状に形成されている場合に横
方向から照射する例を示すものである。
Embodiment 3 FIG. 8 shows a situation where radiation is applied to a coil such as an electromagnet. 41 is an electromagnet coil, and the AA cross section is shown in FIG. As shown in FIG. 9, it is assumed that the conductor 42 is embedded inside, and only by irradiating the radiation from the front side, a portion which becomes a blind is formed by the inner conductor 42 and the defect void is not detected. 8 and 9 show an example of irradiating from the lateral direction when the inner conductor is formed in layers.

【0030】このように内部の導体が層状に形成されて
いる場合に、放射線を横方向から上下に移動させて照射
するものであり、一方向から放射線を照射した後、放射
線源を反対方向に移動するか、またはコイルの向きを変
えて放射線を照射することによりブラインド部分がなく
なって、欠陥ボイドを見逃すことがなくなる。この場合
においても放射線源としてはX線発生器によっても同様
の効果が得られる。
When the internal conductors are formed in layers as described above, the radiation is moved by moving it from the horizontal direction to the vertical direction. After the radiation is applied from one direction, the radiation source is moved in the opposite direction. By moving or changing the direction of the coil and irradiating with radiation, the blind portion disappears and the defect void is not missed. Also in this case, the same effect can be obtained by using an X-ray generator as the radiation source.

【0031】実施の形態4.図10はガス絶縁機器の絶
縁スペーサの絶縁試験を行う場合の状態を示す。図にお
いて51は被試験物である絶縁スペーサ、52は中心導
体、53はキャップであり、放射線照射手段20は上記
と同じものである。
Embodiment 4 FIG. FIG. 10 shows a state in which an insulation test is performed on the insulation spacer of the gas insulation device. In the figure, 51 is an insulating spacer which is the DUT, 52 is a central conductor, 53 is a cap, and the radiation irradiating means 20 is the same as above.

【0032】この場合は、被試験物が円形であり、中心
部に銅材等の導体があり、側面から放射線を照射して
も、最も欠陥ボイドの残り易い中心部周囲にブラインド
になる部分が多くなり、被試験物軸方向に放射線照射手
段を配置し照射することによりほとんどブラインド部分
がなくなり、欠陥ボイドを見逃すことがなくなる。この
場合においても放射線源としてはX線発生器によっても
同様の効果が得られる。
In this case, the object to be tested is circular, a conductor such as a copper material is present in the center, and even if radiation is radiated from the side surface, a blind portion is most likely to remain around the center where defect voids are most likely to remain. By arranging and irradiating the radiation irradiation means in the axial direction of the DUT, the blind portion is almost eliminated, and the defect void is not overlooked. Also in this case, the same effect can be obtained by using an X-ray generator as the radiation source.

【0033】実施の形態5.実施の形態5.は、放射線
照射手段の、放射線源を上下、左右に移動して照射する
とき上下、左右の移動を走査するように予め設定したプ
ログラムによって移動させ、照射している位置信号を例
えば座標的に上下方向、左右方向を座標的に表示した信
号として出力する照射位置信号出力手段を付加し、部分
放電測定手段に照射位置信号を出力し、部分放電測定手
段において、部分放電測定値と照射位置とを記録するよ
うに構成したものである。
Embodiment 5 FIG. Embodiment 5 FIG. Is a program that is preset to scan the movement of the radiation source up and down, left and right when irradiating by moving the radiation source up and down, left and right, and the irradiation position signal is coordinately moved up and down, for example. Direction, right and left direction is added as an irradiation position signal output means for outputting as a signal that is coordinately displayed, and the irradiation position signal is output to the partial discharge measuring means, and the partial discharge measurement value and the irradiation position are displayed in the partial discharge measuring means. It is configured to record.

【0034】このように構成すると、絶縁試験におい
て、放射線を照射する手段は自動的に動作させることが
出来るので、放射線を照射することに気を使うことなく
絶縁試験が出来る。この場合においても放射線源として
はX線発生器によっても同様の効果が得られる。
According to this structure, in the insulation test, the means for irradiating the radiation can be automatically operated, so that the insulation test can be performed without paying attention to the radiation. Also in this case, the same effect can be obtained by using an X-ray generator as the radiation source.

【0035】[0035]

【発明の効果】この発明の請求項1に係わる高電圧電気
機器の絶縁試験法は、被試験物に試験電圧を印加した状
態で、放射線を収束して、照射位置を上下、左右に移動
させて照射し、部分放電を測定するので、微小な欠陥ボ
イドであっても短時間で検出することが出来、放射線の
照射位置と部分放電測定値を対比することにより欠陥ボ
イドの位置も特定することが出来る。
The insulation test method for a high-voltage electric device according to claim 1 of the present invention converges the radiation and moves the irradiation position vertically and horizontally while the test voltage is applied to the DUT. Since even a small defect void can be detected in a short time, the defect void position can be specified by comparing the radiation irradiation position with the partial discharge measurement value. Can be done.

【0036】この発明の請求項2に係わる高電圧電気機
器の絶縁試験法は、被試験物に試験電圧を印加した状態
で、照射するX線を収束して、照射位置を上下、左右に
移動させて照射し、部分放電を測定するので、微小な欠
陥ボイドであっても短時間で検出することが出来、放射
線の照射位置と部分放電測定値を対比することにより欠
陥ボイドの位置も特定することが出来る。
According to a second aspect of the present invention, there is provided an insulation test method for a high-voltage electric device, wherein an irradiation X-ray is converged and a irradiation position is moved vertically and horizontally while a test voltage is applied to a DUT. Since the irradiation is performed and the partial discharge is measured, even minute defect voids can be detected in a short time, and the position of the defect void can be specified by comparing the irradiation position of radiation with the measured partial discharge value. You can

【0037】この発明の請求項3に係わる高電圧電気機
器の絶縁試験法は、被試験物を回転可能な回転台に載置
して回転させ、被試験物に試験電圧を印加した状態で、
照射するX線を収束して照射位置を上下、左右に移動さ
せて照射し、部分放電を測定するので、内部導体に近接
した微小な欠陥ボイドであっても短時間で確実に検出す
ることが出来、放射線の照射位置と部分放電測定値を対
比することにより欠陥ボイドの位置も特定することが出
来る。
According to a third aspect of the present invention, there is provided an insulation test method for a high-voltage electric device, wherein the DUT is placed on a rotatable turntable and rotated, and a test voltage is applied to the DUT,
Since the X-rays to be irradiated are converged and the irradiation position is moved up and down, left and right, and the irradiation is performed to measure the partial discharge, even a minute defect void close to the internal conductor can be reliably detected in a short time. The position of the defect void can be specified by comparing the irradiation position of the radiation with the measured value of the partial discharge.

【0038】この発明の請求項4に係わる高電圧電気機
器の絶縁試験装置は、被試験物に試験電圧を印加する電
圧印加手段、部分放電を測定する部分放電測定手段、放
射線を照射する放射線照射手段で構成され、放射線照射
手段の放射線照射部は、放射線の収束手段を備え、照射
位置が上下、左右に移動可能な移動手段に取り付けら
れ、被試験物の局所に選択的に照射可能に構成されたも
のとしたので、微小な欠陥ボイドであっても短時間に確
実に検出することができ、放射線の照射位置と部分放電
測定値を対比することにより欠陥ボイドの位置も特定す
ることが出来る。
According to a fourth aspect of the present invention, there is provided an insulation test apparatus for high-voltage electrical equipment, comprising a voltage applying means for applying a test voltage to a DUT, a partial discharge measuring means for measuring a partial discharge, and a radiation irradiation for radiating radiation. The radiation irradiating section of the radiation irradiating means is provided with a radiation converging means, is attached to a moving means capable of moving the irradiation position up and down, left and right, and selectively irradiates the DUT locally. Since it is assumed that even a minute defect void can be detected reliably in a short time, the position of the defect void can also be specified by comparing the radiation irradiation position with the partial discharge measurement value. .

【0039】この発明の請求項5に係わる高電圧電気機
器の絶縁試験装置は、被試験物に試験電圧を印加する電
圧印加手段、部分放電を測定する部分放電測定手段、X
線を照射するX線照射手段からなり、X線照射手段のX
線照射部は、X線の収束手段を備え、照射位置が上下、
左右に移動可能な移動手段に取り付けられ、被試験物の
局所に選択的に照射可能に構成されたものとしたので、
微小な欠陥ボイドであっても短時間に確実に検出するこ
とができ、放射線の照射位置と部分放電測定値を対比す
ることにより欠陥ボイドの位置も特定することが出来
る。
According to a fifth aspect of the present invention, there is provided an insulation test apparatus for high-voltage electrical equipment, comprising a voltage applying means for applying a test voltage to a DUT, a partial discharge measuring means for measuring partial discharge, and X.
X-ray irradiation means for irradiating X-rays, and X of the X-ray irradiation means
The radiation irradiator is provided with X-ray focusing means so that the irradiation position is up and down,
Since it is configured to be attached to a moving means that can be moved to the left and right and to be selectively irradiated locally on the DUT,
Even a minute defect void can be reliably detected in a short time, and the position of the defect void can also be specified by comparing the radiation irradiation position with the partial discharge measurement value.

【0040】この発明の請求項6に係わる高電圧電気機
器の絶縁試験装置は、被試験物に試験電圧を印加する電
圧印加手段、部分放電を測定する部分放電測定手段、放
射線を照射する放射線照射手段からなり、放射線照射手
段は放射線をスポット状に収束する収束手段を有し、照
射位置を上下、左右に移動可能な移動手段に取り付けら
れ、被試験物の局所に選択的に照射可能に構成されたも
のとしたので、微小な欠陥ボイドであっても短時間に確
実に検出することができ、放射線の照射位置と部分放電
測定値を対比することにより欠陥ボイドの位置も特定す
ることが出来る。
According to a sixth aspect of the present invention, there is provided an insulation test apparatus for high-voltage electrical equipment, comprising a voltage applying means for applying a test voltage to a DUT, a partial discharge measuring means for measuring a partial discharge, and a radiation irradiation for radiating radiation. The radiation irradiating means has a converging means for converging the radiation in a spot shape, is attached to a moving means capable of moving the irradiation position up and down, left and right, and selectively irradiates the DUT locally. Since it is assumed that even a minute defect void can be detected reliably in a short time, the position of the defect void can also be specified by comparing the radiation irradiation position with the partial discharge measurement value. .

【0041】この発明の請求項7に係わる高電圧電気機
器の絶縁試験装置は、被試験物に試験電圧を印加する電
圧印加手段、部分放電を測定する部分放電測定手段、放
射線を照射する放射線照射手段からなり、放射線照射手
段は放射線を収束する収束手段を有し、照射位置を上
下、左右に移動可能な移動手段に取り付けられ、放射線
の照射位置が、座標的に表示可能な表示手段を備えたも
のとしたので、微小な欠陥ボイドであっても短時間に確
実に検出するとともに、放射線の照射位置が座標的に正
確に表示することができ、部分放電測定値を対比するこ
とにより欠陥ボイドの位置を確実に特定することが出来
る。
According to a seventh aspect of the present invention, there is provided an insulation test apparatus for high-voltage electrical equipment, comprising a voltage applying means for applying a test voltage to a DUT, a partial discharge measuring means for measuring a partial discharge, and a radiation irradiation for radiating radiation. The radiation irradiating means has a converging means for converging the radiation, is attached to a moving means capable of moving the irradiation position vertically and horizontally, and is provided with a display means capable of displaying the irradiation position of the radiation in a coordinated manner. Since it is possible to detect even minute defect voids in a short time, the irradiation position of radiation can be displayed accurately in a coordinate manner, and defect voids can be detected by comparing partial discharge measurement values. The position of can be specified with certainty.

【0042】この発明の請求項8に係わる高電圧電気機
器の絶縁試験装置は、被試験物に所定の試験電圧を印加
する電圧印加手段、試験電圧印加状態で、放射線を収束
して、局所に選択的に照射可能に構成し、予め設定した
プログラムにより移動し、その照射位置を座標的に表示
した照射位置信号を出力する放射線照射手段、部分放電
を測定し、部分放電測定値及び上記放射線照射手段から
出力された照射位置信号を記録する部分放電測定手段と
からなるものとしたので、被試験物に放射線が自動的に
照射され、微小な欠陥ボイドであっても短時間に確実に
検出するとともに、放射線の照射位置は座標的に正確に
表示され、部分放電測定値と対比することにより、欠陥
ボイドの位置を正確に特定することが出来る。
An insulation test apparatus for high-voltage electrical equipment according to an eighth aspect of the present invention is a voltage application means for applying a predetermined test voltage to a device under test. Radiation irradiation means for selectively irradiating, moving according to a preset program, and outputting an irradiation position signal in which the irradiation position is coordinately displayed, measuring partial discharge, partial discharge measurement value and the above-mentioned radiation irradiation Since it comprises the partial discharge measuring means for recording the irradiation position signal output from the means, the DUT is automatically irradiated with the radiation, and even a minute defect void can be reliably detected in a short time. At the same time, the irradiation position of the radiation is accurately displayed coordinately, and the position of the defect void can be specified accurately by comparing with the partial discharge measurement value.

【図面の簡単な説明】[Brief description of the drawings]

【図1】 被試験物の部分放電を測定する絶縁試験時の
X線照射の効果を確認した試験回路図である。
FIG. 1 is a test circuit diagram for confirming the effect of X-ray irradiation in an insulation test for measuring partial discharge of a device under test.

【図2】 被試験物に試験電圧を印加して部分放電が発
生するまでの時間を示す特性図である。
FIG. 2 is a characteristic diagram showing the time until a partial discharge occurs when a test voltage is applied to the DUT.

【図3】 被試験物に試験電圧30kVを印加して下降
したときの部分放電パルスの発生特性である。
FIG. 3 is a generation characteristic of a partial discharge pulse when a test voltage of 30 kV is applied to the DUT and the voltage drops.

【図4】 被試験物にX線を照射して、試験電圧30k
Vまでの電圧を印加後の部分放電パルスの発生特性であ
る。
FIG. 4 is a diagram illustrating a test voltage of 30 k when the DUT is irradiated with X-rays.
It is a generation characteristic of a partial discharge pulse after applying a voltage up to V.

【図5】 被試験物のボイドの部分とボイドからずらせ
た位置にX線を照射した場合の放電電荷の発生状況をで
ある。
FIG. 5 is a diagram showing a discharge charge generation state when X-rays are irradiated to a void portion of a DUT and a position displaced from the void.

【図6】 この発明による絶縁試験の試験回路と放射線
照射手段の説明図である。
FIG. 6 is an explanatory diagram of a test circuit and a radiation irradiating means for an insulation test according to the present invention.

【図7】 回転台に被試験物を載せて回転し、X線を照
射して行う絶縁試験状況説明図である。
FIG. 7 is an explanatory diagram of an insulation test situation in which an object to be tested is placed on a rotary table, rotated, and irradiated with X-rays.

【図8】 被試験物が電磁石コイルの絶縁試験状況説明
図である。
FIG. 8 is an explanatory diagram of an insulation test situation in which the DUT is an electromagnet coil.

【図9】 電磁石コイルの断面図である。FIG. 9 is a sectional view of an electromagnet coil.

【図10】 ガス絶縁開閉機器の絶縁試験状況説明図で
ある。
FIG. 10 is an explanatory diagram of an insulation test status of the gas-insulated switchgear.

【図11】 従来のX線を照射して行う絶縁試験状況説
明図である。
FIG. 11 is a diagram illustrating a conventional insulation test situation performed by irradiating X-rays.

【符号の説明】[Explanation of symbols]

10 被試験物、11 試験電圧印加手段、12 抑制
インピーダンス、13 結合コンデンサ、14 検出イ
ンピーダンス、15 部分放電測定器、16 部分放電
測定手段、18 X線発生源、19 収束手段、20
放射線照射手段、21 放射線源、22 放射線収束手
段、23 移動手段、31 被試験物、32 回転台、
41 被試験物、42 内部導体、51 絶縁スペー
サ、52 中心導体、53 端部キャップ、54 容
器。
DESCRIPTION OF SYMBOLS 10 DUT, 11 Test voltage applying means, 12 Suppression impedance, 13 Coupling capacitor, 14 Detection impedance, 15 Partial discharge measuring instrument, 16 Partial discharge measuring means, 18 X-ray generation source, 19 Converging means, 20
Radiation irradiation means, 21 Radiation source, 22 Radiation focusing means, 23 Moving means, 31 DUT, 32 Rotating table,
41 test object, 42 inner conductor, 51 insulating spacer, 52 center conductor, 53 end cap, 54 container.

Claims (8)

【特許請求の範囲】[Claims] 【請求項1】 被試験物に試験電圧を印加する電圧印加
手段、及び部分放電測定手段を接続し、試験電圧印加状
態で、放射線を収束し、局所に選択的に照射可能に構成
された放射線照射手段により、照射位置を上下、左右に
移動させ、被試験物に放射線を照射して、部分放電を測
定する高電圧電気機器の絶縁試験法。
1. A radiation configured to connect a voltage applying means for applying a test voltage to a DUT and a partial discharge measuring means, converge radiation under a test voltage applied state, and selectively irradiate locally. An insulation test method for high-voltage electrical equipment that measures the partial discharge by irradiating the DUT with radiation by moving the irradiation position up and down, left and right by the irradiation means.
【請求項2】 放射線照射手段はX線照射手段であるこ
とを特徴とする請求項1記載の高電圧電気機器の絶縁試
験法。
2. The insulation test method for high-voltage electrical equipment according to claim 1, wherein the radiation irradiation means is an X-ray irradiation means.
【請求項3】 被試験物を回転可能な回転台に載置し、
収束手段を有する放射線照射装置の照射位置を上下、左
右に移動させ、収束された放射線を被試験物の局所に選
択的に照射し、放射線の照射位置と測定した部分放電レ
ベルとによって欠陥の位置及び欠陥の大きさレベルを特
定する請求項1または請求項2記載の高電圧電気機器の
絶縁試験法。
3. An object to be tested is placed on a rotatable turntable,
The irradiation position of the radiation irradiation device having the converging means is moved up and down, left and right, and the converged radiation is selectively irradiated locally on the DUT, and the defect position is determined by the irradiation position of the radiation and the measured partial discharge level. And an insulation test method for high-voltage electrical equipment according to claim 1 or 2, wherein the size level of the defect is specified.
【請求項4】 被試験物に試験電圧を印加する電圧印加
手段、部分放電を測定する部分放電測定手段、放射線を
照射する放射線照射手段からなり、放射線照射手段の放
射線照射部は、放射線の収束手段を備え、照射位置が上
下、左右に移動可能な移動手段に取り付けられ、被試験
物の局所に選択的に照射可能に構成されていることを特
徴とする高電圧電気機器の絶縁試験装置。
4. A radiation applying unit for applying a test voltage to a device under test, a partial discharge measuring unit for measuring partial discharge, and a radiation irradiating unit for irradiating radiation, wherein the radiation irradiating section of the radiation irradiating unit converges the radiation. An insulation test apparatus for high-voltage electrical equipment, comprising: a means for moving the irradiation position up and down, left and right, and configured to selectively irradiate a test object locally.
【請求項5】 放射線照射手段はX線照射手段であるこ
とを特徴とする請求項4記載の高電圧電気機器の絶縁試
験装置。
5. The insulation test apparatus for high voltage electrical equipment according to claim 4, wherein the radiation irradiating means is an X-ray irradiating means.
【請求項6】 放射線照射手段の放射線収束手段はスポ
ット状に照射可能に形成されていることを特徴とする請
求項4記載の高電圧電気機器の絶縁試験装置。
6. The insulation test apparatus for high-voltage electrical equipment according to claim 4, wherein the radiation converging means of the radiation irradiating means is formed so as to be capable of irradiating in a spot shape.
【請求項7】 放射線照射手段には、被試験物に照射す
る放射線の照射位置が、座標的に表示可能な表示手段を
備えていることを特徴とする請求項4乃至請求項6のい
ずれかに記載の高電圧電気機器の絶縁試験装置。
7. The radiation irradiating means is provided with a display means capable of coordinately displaying the irradiation position of the radiation irradiating the DUT. Insulation test equipment for high-voltage electrical equipment as described in.
【請求項8】 被試験物に所定の試験電圧を印加する電
圧印加手段、試験電圧印加状態で、放射線を収束して、
被試験物の局所に選択的に照射可能に構成し、予め設定
したプログラムによって照射位置を移動させ、その照射
位置を座標的に表示した照射位置信号を出力する放射線
照射手段、部分放電を測定し、部分放電測定値及び上記
放射線照射手段から出力された照射位置信号を記録する
部分放電測定手段とからなる高電圧電気機器の絶縁試験
装置。
8. A voltage applying means for applying a predetermined test voltage to a device under test, which converges radiation in a test voltage applied state,
It is configured to selectively irradiate the DUT locally, moves the irradiation position by a preset program, and outputs the irradiation position signal that displays the irradiation position coordinately. An insulation test apparatus for high-voltage electrical equipment, comprising: a partial discharge measurement value and a partial discharge measurement means for recording an irradiation position signal output from the radiation irradiation means.
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