JPH09120414A - Etching correction shape generating device for lead frame - Google Patents

Etching correction shape generating device for lead frame

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Publication number
JPH09120414A
JPH09120414A JP7277730A JP27773095A JPH09120414A JP H09120414 A JPH09120414 A JP H09120414A JP 7277730 A JP7277730 A JP 7277730A JP 27773095 A JP27773095 A JP 27773095A JP H09120414 A JPH09120414 A JP H09120414A
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JP
Japan
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shape
lead frame
etching
correction
offset
Prior art date
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Pending
Application number
JP7277730A
Other languages
Japanese (ja)
Inventor
Masataka Yamaji
山地  正高
Toshihiko Motegi
敏彦 茂出木
Akira Sato
佐藤  明
Akira Takakura
章 高倉
Teruaki Iinuma
輝明 飯沼
Satoshi Watanabe
智 渡辺
Yuji Kanai
雄二 金井
Hiroshi Suzuki
浩 鈴木
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Dai Nippon Printing Co Ltd
Original Assignee
Dai Nippon Printing Co Ltd
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Filing date
Publication date
Application filed by Dai Nippon Printing Co Ltd filed Critical Dai Nippon Printing Co Ltd
Priority to JP7277730A priority Critical patent/JPH09120414A/en
Publication of JPH09120414A publication Critical patent/JPH09120414A/en
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Abstract

PROBLEM TO BE SOLVED: To enable an operator to intuitively carry out an etching correction task by adjusting a correction shape so as to secure a least gap necessary for progress of the etching to an interference part. SOLUTION: An offset segment generation device 12 of this correction shape generating device 10 has the same basic function as an ordinary two-dimensional CAD device and generates such optical offset segments as an offset segment by offsetting a reference line prescribing the outline shape of a lead frame in the pattern expanding direction by a target dimension, a decision offset segment by offsetting the reference line over the target dimension, etc. A logical operation processor 14 performs a graphic logical operation, and an offset adjustment device 16 adjust a correction shape to secure a least gap to an extracted interference part. Then a tip part shape where a reference point is set is superposed on a lead tip part where a reference point is also set by matching both reference points with each other by a composite device 18.

Description

【発明の詳細な説明】Detailed Description of the Invention

【0001】[0001]

【発明の属する技術分野】本発明は、リードフレームの
エッチング補正形状作成装置、特にCAD装置によるリ
ードフレームの設計工程で、リード、その先端部等に対
して寸法を変更し、マスクパターンを作成するエッチン
グ補正作業を行う際に適用して好適な、リードフレーム
のエッチング補正形状作成装置に関する。
BACKGROUND OF THE INVENTION 1. Field of the Invention The present invention relates to an etching correction shape forming apparatus for a lead frame, and more particularly, in a lead frame designing process by a CAD apparatus, a lead pattern, a tip portion thereof and the like are changed in size to form a mask pattern. The present invention relates to an etching correction shape creation device for a lead frame, which is suitable for use when performing etching correction work.

【0002】[0002]

【従来の技術】半導体装置では搭載するIC(集積回
路)チップと外部配線を電気的に接続するためにリード
フレームが用いられている。
2. Description of the Related Art In a semiconductor device, a lead frame is used for electrically connecting an IC (integrated circuit) chip to be mounted and external wiring.

【0003】図20は、一方の面から見た1チップ分の
リードフレームの一例を示したもので、中心にはチップ
(図示せず)を取付けるためのダイパッド(アイラン
ド)10が位置し、該ダイパッド10は、外枠12にタ
ブ吊りバー14を介して支持されており、その周囲には
インナリード16が先端をダイパッド10に近接させて
配置されていると共に、該インナリード16に連続する
アウタリード18がダムバー20等を介して上記外枠1
2に支持されている。又、上記インナーリード16に
は、該リード16の変形を防止するためにプラスチック
からなる固定用テープ22が張付けられている。なお、
図中破線はモールドラインを示している。
FIG. 20 shows an example of a lead frame for one chip as viewed from one side. A die pad (island) 10 for mounting a chip (not shown) is located at the center of the lead frame. The die pad 10 is supported by an outer frame 12 via a tab suspension bar 14, and an inner lead 16 is arranged around the die pad 10 with its tip close to the die pad 10, and an outer lead continuous with the inner lead 16 is provided. 18 is the above-mentioned outer frame 1 via the dam bar 20 etc.
Supported by 2. A fixing tape 22 made of plastic is attached to the inner lead 16 to prevent the lead 16 from being deformed. In addition,
The broken line in the figure indicates the mold line.

【0004】上記のようなリードフレームは、例えば、
以下のようにして製造することができる。まず、リード
フレームのパターン設計を行う。このリードフレームの
パターン設計は、通常CAD(Computer Aided Des
ign )装置を用いて行われる。その後、設計されたパタ
ーンに対応する加工寸法CADデータを用いて、レーザ
プロッタでそのパターンをガラス乾板等に直接描画して
原版パターンを作成する。なお、この原版パターンは、
リードフレームの表裏両面についてそれぞれ作成され
る。
The lead frame as described above is, for example,
It can be manufactured as follows. First, the lead frame pattern is designed. The pattern design of this lead frame is usually CAD (Computer Aided Des
ign) device. After that, using the processing size CAD data corresponding to the designed pattern, the pattern is directly drawn on a glass dry plate or the like by a laser plotter to create an original pattern. This original pattern is
It is created for both the front and back sides of the lead frame.

【0005】その後、上記ガラス等の原版をマスクとし
て用いて、リードフレームの基材である銅板等の金属材
料にコーティングされているレジストを露光し、現像
し、硬化してレジストパターンを作成し、次いで、露出
部分の金属材料を除去するエッチングを行い、その後付
着しているレジストを剥離することにより、最終的にリ
ードフレームが得られる。
Then, using the original plate such as the glass as a mask, the resist coated on the metal material such as the copper plate which is the base material of the lead frame is exposed, developed and cured to form a resist pattern, Then, etching is performed to remove the metal material in the exposed portion, and then the attached resist is peeled off to finally obtain the lead frame.

【0006】このようにリードフレームをエッチングで
製造する場合、レジストパターンを越えて金属材料が削
られる、いわゆるサイドエッチング(オーバーエッチン
グ)が起る。そのため、CAD装置上で行う上記リード
フレームの設計工程では、まず目標とする製品のリード
フレームのパターンに対応する製品寸法CADデータを
作成し、次いで該製品寸法CADデータに上記サイドエ
ッチングにより余分に削られてしまう寸法等を補正代と
して加算するエッチング補正処理が行われている。
When the lead frame is manufactured by etching as described above, so-called side etching (over-etching) occurs in which the metal material is shaved beyond the resist pattern. Therefore, in the lead frame designing process performed on the CAD device, first, product dimension CAD data corresponding to the pattern of the target product lead frame is created, and then the product dimension CAD data is additionally etched by the side etching. Etching correction processing is performed to add the dimensions and the like to be corrected as a correction margin.

【0007】図21は、従来のエッチング補正形状作成
装置で行われている、上記エッチング補正処理の様子を
模式的に示したもので、破線で示したユーザ入力図形が
製品パターンに相当するリードフレームのアウトライン
形状を規定する基準線であり、斜線部が金属材料部分に
相当し、又、実線で示した補正処理後の図形が補正処理
後のアウトラインを意味している。この図21は、全体
に間隔dの幅を広げる方向にオフセットする場合の補正
を示し、対象とするアウトライン線分(基準線)を指定
すると共に、間隔dを指定することにより、各頂点が破
線位置から移動して実線の補正アウトライン(オフセッ
ト線分)が自動的に作成されることを表わしている。
FIG. 21 schematically shows a state of the above-mentioned etching correction processing which is carried out by a conventional etching correction shape creating apparatus. A user input figure shown by a broken line corresponds to a product pattern. Is a reference line that defines the outline shape, the shaded portion corresponds to the metal material portion, and the figure after the correction processing shown by the solid line means the outline after the correction processing. FIG. 21 shows the correction when offsetting in the direction of increasing the width of the interval d as a whole, and by designating the target outline line segment (reference line) and by designating the interval d, each vertex is broken. This means that a solid correction outline (offset line segment) is automatically created by moving from the position.

【0008】又、図22は、リード先端部についてのエ
ッチング補正処理を示し、この補正処理はリード先端部
がサイドエッチングが進み易いにも拘らず、ワイヤボン
ディングのために十分な幅を確保する必要があることか
ら重要である。この先端部補正は、図示したように、先
端方向に間隔a、幅方向に間隔bを指定し、且つ先端か
らの寸法で屈曲点を指定することにより、実線で示す長
さcの矩形からなる拡幅部(補正アウトライン)が、同
様に自動的に作成されるようにして行われている。
Further, FIG. 22 shows an etching correction process for the lead tip portion. In this correction process, it is necessary to secure a sufficient width for wire bonding although the lead tip portion is likely to undergo side etching. Is important because there is. As shown in the figure, this tip end correction is made up of a rectangle having a length c indicated by a solid line by designating an interval a in the tip direction, an interval b in the width direction, and an inflection point by a dimension from the tip. The widened portion (correction outline) is similarly created automatically.

【0009】上記のように、従来は、補正形状を設計す
るに当り、リードフレームのアウトラインを構成する線
分の中で補正対象の線分列を指示すると共に、広げる間
隔や屈曲点を指定することにより、各頂点を自動的に移
動させる自動設計が行われており、このエッチング補正
の自動化は、プログラムを開発して行われていた。
As described above, conventionally, in designing the correction shape, the line segment row to be corrected is designated among the line segments forming the outline of the lead frame, and the spacing and bending point to be widened are designated. As a result, an automatic design for automatically moving each vertex has been performed, and automation of this etching correction has been performed by developing a program.

【0010】[0010]

【発明が解決しようとする課題】しかしながら、従来の
補正形状作成装置においては、ある1種類のリードフレ
ームのエッチング補正作業を自動化するために開発した
プログラムは、形状がある程度共通していれば他のリー
ドフレームにも転用できるが、形状が大きく異なってい
るリードフレームについては新たにプログラムを作成す
る必要がある。そのため、リードフレームの製品の種類
が増えて、その形状も多種多様になると、その種類に応
じて作成しなければならないプログラムの種類も増えて
くるため、プログラム開発の作業負荷が増大するという
問題がある。
However, in the conventional correction shape creating apparatus, the program developed for automating the etching correction work of a certain one kind of lead frame has another shape if the shapes are common to some extent. It can be used as a lead frame as well, but it is necessary to create a new program for lead frames that differ greatly in shape. Therefore, when the types of lead frame products increase and the shapes of them also vary, the types of programs that must be created also increase, which increases the workload of program development. is there.

【0011】又、仮に多くのプログラムを開発できたと
しても、実際にエッチング補正作業を実行する場合に
は、形状の特徴に応じてプログラムを使い分けなければ
ならないため、どのプログラムを使用するかの判断は熟
練作業者に頼らざるを得ないことから、エッチング補正
作業の自動化は必ずしも容易でないという別な問題もあ
る。
Even if a large number of programs can be developed, it is necessary to properly use the programs according to the characteristics of the shape when actually performing the etching correction work. Therefore, it is determined which program to use. However, there is another problem that it is not always easy to automate the etching correction work because the skilled worker has to rely on a skilled worker.

【0012】又、実際に銅板等の板材にレジストパター
ンを形成し、それをマスクとしてエッチングを行う場
合、材料と材料の間にエッチング液が浸透していかなけ
ればエッチングが進行しないため、エッチングを進行さ
せるために確保しなければならない最小間隙の寸法があ
るが、オペレータが指定した所定寸法で一律にオフセッ
ト量を設定する従来の自動エッチング補正によっては、
もともとの製品設計パターンに間隙が狭い部分が存在す
る場合には、オフセットされた2つのアウトラインが互
いに干渉して間隙が無くなってしまうことも起るため、
そのようなケースには同様に前述したようなエッチング
補正の自動化は不適切であるという別な問題もある。
When a resist pattern is actually formed on a plate material such as a copper plate and etching is performed using the resist pattern as a mask, the etching does not proceed unless the etching liquid penetrates between the materials. There is a size of the minimum gap that must be secured in order to proceed, but with the conventional automatic etching correction that uniformly sets the offset amount with the predetermined size specified by the operator,
If there is a narrow gap in the original product design pattern, the two offset outlines may interfere with each other and the gap may disappear.
In such a case, there is another problem that the automation of the etching correction as described above is inappropriate.

【0013】本発明は、前記従来の問題点を解決するべ
くなされたもので、製品の種類に応じてエッチング補正
を自動化するためのプログラム開発を行うことなく、パ
ターン間に間隙が狭い部分がある場合でも、エッチング
に必要な最小間隙を確保することができるエッチング補
正作業を、オペレータが直感的に容易に行うことがで
き、作業負荷を軽減することができるリードフレームの
エッチング補正形状作成装置を提供することを第1の課
題とする。
The present invention has been made to solve the above-mentioned conventional problems, and there is a narrow gap between patterns without developing a program for automating etching correction according to the type of product. Even in the case, the operator can intuitively and easily perform the etching correction work that can secure the minimum gap required for etching, and the lead frame etching correction shape creation device that can reduce the work load is provided. This is the first task.

【0014】本発明は、又、製品の種類に応じてエッチ
ング補正を自動化するためのプログラム開発を行うこと
なく、リード先端部を適切な補正形状にすることができ
るエッチング補正作業を、オペレータが直感的に容易に
行うことができ、作業負荷を軽減することができるリー
ドフレームのエッチング補正形状作成装置を提供するこ
とを第2の課題とする。
According to the present invention, the operator can intuitively perform the etching correction work which can make the lead tip have an appropriate correction shape without developing a program for automating the etching correction according to the type of product. A second object is to provide an etching-corrected shape creating apparatus for a lead frame, which can be easily performed with ease and which can reduce the work load.

【0015】[0015]

【課題を解決するための手段】請求項1の発明は、CA
Dデータで作成されたリードフレームのアウトライン形
状を補正してエッチング補正形状を作成する、リードフ
レームのエッチング補正形状作成装置において、リード
フレームのアウトライン形状を規定する基準線を、パタ
ーンを拡幅する方向に目標寸法オフセットさせた位置
に、補正形状の基本となる目標オフセット線分を発生さ
せると共に、同基準線を上記目標寸法を超えてオフセッ
トさせた位置に、干渉判定に利用する判定用オフセット
線分を発生させる手段と、発生させた判定用オフセット
線分が他の判定用オフセット線分と交差している干渉部
分を抽出する抽出手段と、抽出された干渉部分に対し
て、エッチングを進行させるに必要な最小間隙が確保さ
れるように補正形状を調整する調整手段と、を備えた構
成とすることにより、前記第1の課題を解決したもので
ある。
According to the invention of claim 1, CA
In a lead frame etching correction shape creating apparatus that creates an etching correction shape by correcting an outline shape of a lead frame created by D data, a reference line defining the outline shape of the lead frame is set in a direction in which the pattern is widened. A target offset line segment that is the basis of the correction shape is generated at the position where the target dimension is offset, and a determination offset line segment used for interference determination is generated at the position where the reference line is offset beyond the target dimension. Means for generating, extraction means for extracting an interference portion where the generated determination offset line segment intersects with another determination offset line segment, and necessary for advancing etching to the extracted interference portion By adjusting means for adjusting the correction shape so that a minimum gap is ensured, It is obtained by solving the serial first problem.

【0016】請求項5の発明は、CADデータで作成さ
れたリードフレームのアウトライン形状を補正してエッ
チング補正形状を作成する、リードフレームのエッチン
グ補正形状作成装置において、基準点が設定されている
リード先端部に、基準点が設定されている先端部形状
を、それぞれの基準点を一致させて重ね合せる合成手段
と、重ね合せ図形に対して、先端部形状を優先させてリ
ード先端部の補正形状とする図形の論理演算を実行する
手段と、を備えた構成とすることにより、前記第2の課
題を解決したものである。
According to a fifth aspect of the present invention, in a lead frame etching correction shape forming apparatus for correcting an outline shape of a lead frame created by CAD data to create an etching correction shape, a lead having a reference point set therein. A synthesizing unit that superimposes the tip shape whose reference point is set on the tip by matching the reference points with each other, and the correction shape of the lead tip by giving priority to the tip shape with respect to the superimposed figure. And a means for executing a logical operation of a figure, which is to solve the second problem.

【0017】[0017]

【発明の実施の形態】請求項1の発明においては、基準
線を、オーバーエッチング分に当る目標寸法だけオフセ
ットさせた位置に、補正形状の基本となる目標オフセッ
ト線分を発生させると共に、この基準線を、目標寸法を
超えた位置までオフセットさせた位置に干渉判定に使用
する判定用オフセット線分を発生させるようにし、且つ
発生させた判定用オフセット線分が互いに干渉している
部分を確実に抽出できるようにし、更に、その干渉部分
について、最小間隙が確保されるように補正形状を調整
できるようにしたので、オペレータはディスプレイを見
て干渉部分を容易に認識できると共に、その干渉部分を
適切な間隙の補正形状に調整できるため、全ての干渉部
分について適切な補正形状の調整を確実に行うことがで
きる。このように、干渉部分を確実に抽出し、且つ視覚
的に認識できるようにしたので、必要な補正形状の作成
を直感的に且つ統一的に行うことができる。
According to the first aspect of the present invention, a target offset line segment, which is the basis of the correction shape, is generated at a position where the reference line is offset by a target dimension corresponding to the overetching amount, and the reference line Make a line offset to a position beyond the target dimension to generate a judgment offset line segment used for interference judgment, and make sure that the generated judgment offset line segments interfere with each other. In addition, the correction shape can be adjusted so that the minimum gap can be ensured for the interference part, so that the operator can easily recognize the interference part by looking at the display, and properly check the interference part. Since it is possible to adjust the corrected shape of the gap, it is possible to surely adjust the corrected shape appropriately for all the interference portions. In this way, the interference portion is surely extracted and visually recognized, so that the necessary correction shape can be intuitively and uniformly created.

【0018】従って、マスクパターンを作成するエッチ
ング補正作業を統一的に行うことができるため、従来と
異なる製品についても、そのために新たにプログラムを
開発することなく、リードフレームの補正形状を作成で
きることから、実際のリードフレームの試作に要する時
間を短縮することができる。
Therefore, since the etching correction work for forming the mask pattern can be performed in a unified manner, the correction shape of the lead frame can be formed without developing a new program for the product different from the conventional products. It is possible to reduce the time required for the actual trial manufacture of the lead frame.

【0019】又、請求項2のように、請求項1の補正形
状作成装置において、抽出手段が、交差しているオフセ
ット線分でそれぞれ輪郭が規定される図形の間で論理演
算を行って、干渉部分を抽出する機能を有している場合
には、干渉部分を容易に且つ確実に抽出することができ
る。ここでは、論理演算として、後述するベクトル論理
演算や線分で輪郭が規定される図形同士の一般的な「論
理積」を実行し、両者の重なり部分を求めることによ
り、それを干渉部分として抽出することができる。
According to a second aspect of the present invention, in the corrected shape creating apparatus according to the first aspect, the extracting means performs a logical operation between figures whose contours are defined by intersecting offset line segments, When it has a function of extracting the interference portion, the interference portion can be easily and surely extracted. Here, as a logical operation, a vector logical operation to be described later and a general “logical product” of figures whose contours are defined by line segments are executed, and the overlapping portion of the two is obtained to extract it as an interference portion. can do.

【0020】又、請求項3のように、請求項1の補正形
状作成装置において、調整手段が、抽出された干渉部分
に対して、前記最小間隙が確保されるようにオフセット
寸法を変更して補正形状とする機能を有している場合に
は、例えばその干渉部分をオペレータが指定するだけ
で、該干渉部分及びその近傍を含めて最小間隙が確保さ
れた補正形状を作成することができる。
According to a third aspect of the present invention, in the corrected shape creating apparatus according to the first aspect, the adjusting means changes the offset dimension so that the minimum gap is secured with respect to the extracted interference portion. When the correction shape is provided, for example, only by the operator designating the interference portion, the correction shape in which the minimum gap is secured including the interference portion and the vicinity thereof can be created.

【0021】又、請求項4のように、請求項1の補正形
状作成装置において、調整手段が、抽出された干渉部分
に対して、前記最小間隙が確保された調整用図形を発生
させ、該図形と前記目標オフセット線分間の間隙との間
で論理演算を行って、干渉部分近傍の補正形状とする機
能を有している場合には、調整用図形と目標オフセット
線分間の間隙との間で「論理和」を求める図形の論理演
算を行うことにより、干渉部分を含めた全体にわたって
最小間隙が確保された補正形状を容易に作成することが
できる。上記「論理和」を求める方法としても、後述す
るベクトル論理演算を利用することができる。
According to a fourth aspect of the present invention, in the corrected shape creating apparatus according to the first aspect, the adjusting means generates an adjusting figure in which the minimum gap is secured for the extracted interference portion, When the figure has a function of performing a logical operation between the figure and the gap between the target offset line segments to obtain a corrected shape in the vicinity of the interference part, between the adjustment figure and the gap between the target offset line segments. By performing the logical operation of the figure for obtaining the "logical sum" with, it is possible to easily create the corrected shape in which the minimum gap is secured over the entire area including the interference portion. As a method of obtaining the above "logical sum", vector logic operation described later can be used.

【0022】又、請求項5の発明においては、リードフ
レームのリード先端部に、先端部形状を正確に位置決め
して重ね合せることができると共に、その先端部形状を
優先させてリード先端部の新たな外形(補正形状)とす
るようにしたので、先端部形状をリード先端部より幅が
広い所定の形状で予め作成しておくことにより、統一的
に且つ直感的にリード先端部の補正を行うことができ
る。従って、新しい形状のリードフレームに対しても、
新たなプログラムを開発することなく、容易に補正する
ことができる。又、ここでは、リード先端部と先端部形
状との間の「論理和」を求めることにより、先端形状の
アウトラインを新たな外形とすることができる。その具
体的方法としても、後述するベクルト論理演算を挙げる
ことができる。
Further, in the invention of claim 5, the tip shape can be accurately positioned and overlapped with the lead tip of the lead frame, and the tip shape can be prioritized to newly install the lead tip. Since the outer shape (correction shape) is set to a predetermined shape, the shape of the tip portion is formed in advance in a predetermined shape having a width wider than that of the lead tip portion, thereby uniformly and intuitively correcting the lead tip portion. be able to. Therefore, even for a new shape lead frame,
It can be easily corrected without developing a new program. Further, here, the outline of the tip shape can be made a new outer shape by obtaining the "logical sum" between the lead tip and the tip shape. As a specific method therefor, there can be mentioned a Bekult logical operation described later.

【0023】又、その際、形状や寸法が異なる多種類の
リード先端部を予めデータベース化して保存しておくこ
とにより、補正作業のコストダウンや自動化を図ること
も可能となる。
Further, at this time, the cost of the correction work can be reduced and automation can be achieved by preliminarily forming a database of various types of lead tips having different shapes and dimensions and storing them.

【0024】次に、本発明に適用できる前記図形の論理
演算のアルゴリズムについて説明する。
Next, the algorithm of the logical operation of the graphic applicable to the present invention will be described.

【0025】本発明に適用可能な論理演算アルゴリズム
の特徴は、後述するように図形を構成する各線分がそれ
ぞれ明確な向きを持つベクトルデータとし、且つ例えば
右側が形状の内側と仮定することにより、線分と線分の
交点における交差状態を調べるだけで、図形の論理演算
が行えるようにしたことにある。
The feature of the logical operation algorithm applicable to the present invention is that, as will be described later, each line segment forming a figure is vector data having a clear direction, and for example, assuming that the right side is the inside of the shape, The reason is that the logical operation of the figure can be performed only by checking the intersection state of the line segment and the intersection of the line segments.

【0026】今、図1に示すように、図形を構成する2
本の線分に明確な矢印方向の向き(ベクトル方向)を持
たせると、線分と線分が交差して干渉する領域に、両者
の交点に関して右廻り領域、左廻り領域を定めることが
できる。
Now, as shown in FIG.
If the line segment of the book has a clear arrow direction (vector direction), it is possible to set the right-handed region and the left-handed region at the intersections of the line segment and the line segment in the area where they intersect. .

【0027】ここで、図2に示した、各辺を構成する線
分に方向を持たせ、且つ一部交差させて示した2つの四
角形について考えると、例えば、線分の右側が領域の内
側であると定めると、交点に関して右廻りの線分で囲ま
れた領域に相当するところが、いわゆる「論理積」の部
分であり、交点に関して左廻り領域の境界にある線分が
「論理和」に相当する線分であることが分かる。この方
法の場合、図3に示すように、右側の1つの図形の線分
の向きを変更するだけで、「論理差」の計算をも行うこ
とができる。
Here, considering two quadrangles shown in FIG. 2 in which each line constituting each side has a direction and partially intersects with each other, for example, the right side of the line segment is the inside of the region. If it is defined as, the area corresponding to the area surrounded by the right-handed line segment with respect to the intersection is the so-called "logical product", and the line segment at the boundary of the left-handed area with respect to the intersection becomes the "logical sum". It can be seen that the line segment is equivalent. In the case of this method, as shown in FIG. 3, the "logical difference" can be calculated by simply changing the direction of the line segment of one figure on the right side.

【0028】このアルゴリズムは、干渉する線分の交差
状態を見ているだけなので、線分は必ずしも閉図形でな
くとも適用できる。例えば、図4に示したように、4本
の直線から右廻り領域を取り出すことができ、これによ
り四角形の閉図形を作成することができる。又、図5に
示したように、閉図形と直線の組合せについても同様の
演算を行うことができる。更に、上述した如く、干渉す
る線分の交差状態を見ているだけなので、円、円弧、自
由曲線等を含む図形についても線分の向きを設定するこ
とにより、同様の演算処理を容易に実行できることが分
かる。図6には、この処理を楕円について実行した場合
について例示してある。
This algorithm can be applied even if the line segment is not necessarily a closed figure because it is only looking at the intersecting state of the interfering line segments. For example, as shown in FIG. 4, a clockwise region can be taken out from four straight lines, and thereby a closed rectangular figure can be created. Further, as shown in FIG. 5, the same calculation can be performed for a combination of a closed figure and a straight line. Further, as described above, since only the intersecting state of the interfering line segments is seen, the same calculation processing can be easily executed by setting the direction of the line segment even for figures including circles, arcs, free curves, etc. I see what I can do. FIG. 6 exemplifies a case where this processing is executed for an ellipse.

【0029】又、上述した如く、このアルゴリズムは、
干渉する線分の交差状態を見ているだけなので、一筆書
かされた1本の線のねじれや干渉部分の抽出にも応用で
きる。例えば、図7に示すように、1本の線のねじれた
部分は右回り領域として抽出することができ、又、図8
に示すように、1本の線の干渉部分も右回り領域として
抽出することができる。
As described above, this algorithm is
Since it is only looking at the intersecting state of the interfering line segments, it can be applied to the twisting of one line drawn with one stroke and the extraction of the interference part. For example, as shown in FIG. 7, the twisted portion of one line can be extracted as a clockwise region, and FIG.
As shown in, the interference part of one line can also be extracted as a clockwise region.

【0030】以上詳述したアルゴリズムは、線分の右側
が形状の内側である場合について説明したが、逆に線分
の左側を形状の内側とすることもできる。この場合は、
右廻り、左廻りの関係が前述したものと逆になる。
The algorithm detailed above has been described for the case where the right side of the line segment is inside the shape, but conversely, the left side of the line segment may be inside the shape. in this case,
The right-handed and left-handed relationships are opposite to those described above.

【0031】以下、図面を参照して、より具体的な本発
明の実施の形態を詳細に説明する。
Hereinafter, a more specific embodiment of the present invention will be described in detail with reference to the drawings.

【0032】図9は、本発明に係る一実施形態のエッチ
ング補正形状作成装置の概略構成を示すブロック図であ
る。
FIG. 9 is a block diagram showing the schematic arrangement of an etching correction shape creating apparatus according to an embodiment of the present invention.

【0033】本実施形態の補正形状作成装置10は、通
常の2次元CAD装置と同様の基本機能を有していると
共に、リードフレームのアウトライン形状を規定する基
準線を、パターンを拡幅する方向に目標寸法だけオフセ
ットさせて補正形状の基本となる目標オフセット線分
や、目標寸法を超えてオフセットさせて判定用オフセッ
ト線分等の任意のオフセット線分を発生させることがで
きるオフセット線分発生装置12と、後述する図形の論
理演算を実行する論理演算処理装置14と、抽出された
干渉部分に対して、最小間隙が確保されるように補正形
状を調整するオフセット調整装置16と、基準点が設定
されているリード先端部に、基準点が設定されている先
端部形状を、それぞれの基準点を一致させて重ね合せる
合成装置18とを備えている。
The corrected shape creating apparatus 10 of this embodiment has the same basic function as that of a normal two-dimensional CAD apparatus, and a reference line defining the outline shape of the lead frame is extended in the pattern expanding direction. An offset line segment generation device 12 capable of offsetting only a target dimension to generate a target offset line segment that is a basis of a corrected shape, and offsetting beyond the target dimension to generate an arbitrary offset line segment such as a determination offset line segment. And a logical operation processing device 14 that executes a logical operation of a graphic described later, an offset adjusting device 16 that adjusts a correction shape so as to secure a minimum gap for the extracted interference portion, and a reference point is set. And a synthesizing device 18 that superimposes the shape of the tip portion having the reference point set on the leading end portion of the lead, which is aligned with the reference point. To have.

【0034】又、この補正形状作成装置10は、記憶装
置20との間でデータの授受が可能になっており、該記
憶装置20からは、格納されているCADデータで作成
されたリードフレームのアウトラインデータや、補正用
の部品として使用するリードの先端部形状等の補正用図
形を読み込むことができると共に、該記憶装置20には
補正形状作成装置10で作成した補正後のリードフレー
ムの形状であるマスクパターンデータを記憶できるよう
になっている。
Further, the correction shape creating apparatus 10 can exchange data with the storage device 20, and from the storage device 20, the lead frame created by the stored CAD data is stored. It is possible to read outline data and a correction figure such as a tip shape of a lead used as a correction part, and the storage device 20 stores the shape of the corrected lead frame created by the correction shape creation device 10. It is possible to store certain mask pattern data.

【0035】上記論理演算処理装置14は、後に詳述す
るような図形の論理演算を実行して、オフセット線分発
生装置12により発生させた判定用オフセット線分が他
の判定用オフセット線分と交差している干渉部分を抽出
したり、抽出された干渉部分について、エッチングを進
行させるに必要な最小間隙を確保するために補正形状を
調整したり、更には、前記合成装置18で重ね合せた図
形に対して、先端部形状を優先させて新たな外形を作成
したりする機能を有している。
The logical operation processing device 14 executes a logical operation of a graphic as described later in detail, and the determination offset line segment generated by the offset line segment generation device 12 becomes another determination offset line segment. The intersecting interference portion is extracted, the correction shape is adjusted for the extracted interference portion in order to secure the minimum gap necessary for advancing the etching, and the overlapping portion is superposed by the synthesizing device 18. It has a function of creating a new outer shape by giving priority to the shape of the tip of the figure.

【0036】本実施形態においては、まず、補正形状作
成装置10が備えているオフセット線分発生装置12に
より、記憶装置20から入力されたリードフレームの製
品目標設計パターンに当る、各形状を規定する基準線
を、例えば前記図21に示したと同様の方法で、全体に
あるいは部分的に、オーバーエッチングの寸法に相当す
る目標寸法を超える寸法だけパターンを拡幅する方向に
移動させた位置に判定用オフセット線分を発生させる。
この時、上記オフセット線分が互いに干渉せず、特に問
題の無い部分では、上記基準線を目標寸法だけオフセッ
トさせた位置に別途発生させた目標オフセット線分から
なる形状を補正形状とする。
In the present embodiment, first, each shape corresponding to the product target design pattern of the lead frame input from the storage device 20 is defined by the offset line segment generating device 12 provided in the correction shape creating device 10. In the same method as shown in FIG. 21, for example, the reference offset is set to the position where the pattern is moved in the direction in which the pattern is widened by a dimension exceeding the target dimension corresponding to the overetching dimension. Generate a line segment.
At this time, in a portion where the offset line segments do not interfere with each other and there is no particular problem, a shape composed of a target offset line segment separately generated at a position where the reference line is offset by a target dimension is set as a correction shape.

【0037】図10(A)は、記憶装置20から読み込
んだリードフレームのアウトラインデータの一部を模式
的に示したもので、この図では斜線部分が材料側に相当
する。
FIG. 10A schematically shows a part of the outline data of the lead frame read from the storage device 20, and the hatched portion in this figure corresponds to the material side.

【0038】上記図10(A)に示したパターンのアウ
トラインにあたる基準線を、オフセット線分発生装置1
2により目標寸法を超えてオフセットさせた位置に判定
用オフセット線分を発生させた状態を同図(B)に示
す。この図10(B)には、同図(A)の基準線を破線
で、発生させた判定用オフセット線分を実線で示してあ
る。
A reference line corresponding to the outline of the pattern shown in FIG.
2B shows a state in which a determination offset line segment is generated at a position offset by exceeding the target dimension by 2. In FIG. 10 (B), the reference line of FIG. 10 (A) is shown by a broken line, and the generated judgment offset line segment is shown by a solid line.

【0039】ところで、上記図10(A)に示したよう
に、リードフレームの設計パターンの一部に、パターン
間の間隙が狭小な部分が存在すると、上述したオフセッ
ト線分を発生させた場合、同図(B)に斜線を付して示
したように、該狭小部分でオフセット線分が交差し、パ
ターンが重なった干渉部分が生じることになる。
By the way, as shown in FIG. 10 (A), when the gap between the patterns is narrow in a part of the design pattern of the lead frame, when the above-mentioned offset line segment is generated, As shown by hatching in FIG. 6B, offset line segments intersect at the narrow portion, and an interference portion where patterns overlap is generated.

【0040】本実施形態においては、上記のようにリー
ドフレームのアウトライン形状を規定する基準線を、パ
ターンを拡幅する方向に目標寸法を超えてオフセットさ
せた位置に、判定用オフセット線分を発生させた際、該
オフセット線分に干渉部分が生じている場合には、その
部分について最小間隙を確保することができるようにな
っている。
In this embodiment, a judgment offset line segment is generated at a position where the reference line defining the outline shape of the lead frame is offset in the direction of pattern widening beyond the target dimension as described above. At this time, if an interference portion is generated in the offset line segment, a minimum gap can be secured for that portion.

【0041】即ち、上記図10(B)に示したように、
判定用オフセット線分間に干渉部分が存在すると、前記
論理演算処理装置14では両オフセット線分に対して論
理演算を実行して、同図(C)に実線で示した円弧形状
の干渉部分Aを抽出し、それをディスプレイ上に、例え
ば異なる色で表示する。この干渉部分抽出は、例えば前
記図8を用いて説明したベクトル論理演算のアルゴリズ
ムに従って実行することができる。
That is, as shown in FIG.
If there is an interference portion in the determination offset line segment, the logical operation processing unit 14 executes a logical operation for both offset line segments to obtain the circular arc-shaped interference portion A shown by the solid line in FIG. Extract and display it on the display, for example in different colors. This interference part extraction can be executed in accordance with the vector logic operation algorithm described with reference to FIG.

【0042】オペレータは、ディスプレイ上で干渉部分
Aが生じていることを認識し、キーボード等からその部
分に対して補正形状の調整を指示すると、補正形状調整
装置16ではその部分に最小間隙が確保されるように、
オフセット寸法を変更して新たなオフセット線分を発生
させ、それを変更していない部分の目標オフセット線分
とに合体させて最終補正形状を作成する。図11には、
このようにして作成された干渉部分の補正形状を示し
た。
When the operator recognizes that the interference portion A is generated on the display and gives an instruction to adjust the correction shape to that portion from a keyboard or the like, the correction shape adjusting device 16 secures a minimum gap in that portion. To be,
The offset dimension is changed to generate a new offset line segment, and the new offset line segment is combined with the target offset line segment of the part that has not been changed to create the final corrected shape. In FIG.
The corrected shape of the interference portion created in this way is shown.

【0043】このようにパターンを自動的に作成する方
法について詳述すること、先ず、最少間隙を確保するた
めには、図12(A)に概念的に示すように、目標とす
る通常のオフセット寸法より、一旦多めにオフセットを
行って判定用オフセット線分を発生させ、そこで干渉チ
ェックを行った後に逆方向にオフセットを行って、同図
(B)に示すように通常のオフセット寸法の位置に目標
オフセット線分を発生させる方法をとる。即ち、1回目
のオフセットは、図形の干渉を起こさせるために多めの
オフセットを行う。そして、2回目のオフセットを行う
際に、干渉点(開始点、終了点)に挟まれた区間ではオ
フセット寸法を目標値から変更し、最少間隙を確保する
ことによって最終的な形状を発生させる。この処理を、
前記図10の場合について示すと図13(B)、(B)
となり、この(B)が上記図11に相当する。
The method of automatically creating a pattern in this way will be described in detail. First, in order to secure the minimum gap, as shown conceptually in FIG. Offset from the dimensions once to generate a judgment offset line segment, perform interference check there, and then offset in the opposite direction to the normal offset dimension position as shown in FIG. A method of generating a target offset line segment is adopted. That is, in the first offset, a large amount of offset is performed in order to cause interference of figures. Then, when performing the second offset, the offset dimension is changed from the target value in the section sandwiched by the interference points (start point, end point), and the minimum gap is secured to generate the final shape. This process,
FIG. 13B and FIG. 13B show the case of FIG.
Therefore, (B) corresponds to FIG.

【0044】但し、プログラム上は1回目のオフセット
と干渉点チェック、2回目のオフセットを連続して行う
ようにすることにより、前記図10、11に示した流れ
のような処理にすることがてきる。このオフセット繰り
返し作業は2回に限ることなく、オフセット寸法を変更
して複数回繰り返すこともできる。
However, on the program, the first offset, the interference point check, and the second offset are continuously performed, so that the processing shown in the flow charts of FIGS. 10 and 11 can be performed. It This offset repeating work is not limited to two times, and the offset dimension can be changed and repeated a plurality of times.

【0045】本実施形態の補正形状作成装置10には、
上述した干渉部分のオフセット調整機能の他に、論理演
算処理装置14で図形の論理演算を実行して、同様に最
小間隙を確保する機能をも有している。この機能を、図
14を用いて説明する。
In the corrected shape creating apparatus 10 of this embodiment,
In addition to the offset adjustment function of the interference portion described above, the logical operation processing device 14 also has a function of executing a logical operation of a graphic to similarly secure a minimum gap. This function will be described with reference to FIG.

【0046】前記図10(C)に示したように、ディス
プレイ上に表示された干渉部分に対して、オペレータが
論理演算によるオフセット調整を指示すると、干渉部分
Aの位置に、その形状を加工して作成した図14(A)
に示した長方形の調整用図形Bを発生させると共に、該
調整用図形Bと他の部分の間隔図形Cとの間で「論理
和」をとる一般的な論理演算を実行し、同図(B)のよ
うな論理演算後の補正形状を作成する。ここで使用する
調整用図形Bは、論理演算後に得られる補正形状に最小
間隙が確保されるように作成する。具体的には、例えば
図15に示すように、同図(A)の円弧形状からなる干
渉部分Aを直接近似し、同図(B)や(C)に示す単純
な形状に直すことにより自動的に加工を行う。又、発生
した図形に対してオフセットをかけることにより、図形
を加工することもできる。
As shown in FIG. 10 (C), when the operator instructs the offset adjustment by the logical operation for the interference portion displayed on the display, the shape is processed at the position of the interference portion A. Figure 14 (A) created by
A rectangular logical adjustment figure B shown in FIG. 2 is generated, and a general logical operation for performing a logical OR between the adjustment figure B and the interval figure C of the other part is executed. ), The corrected shape after the logical operation is created. The adjustment figure B used here is created so that a minimum gap is secured in the corrected shape obtained after the logical operation. Specifically, as shown in FIG. 15, for example, the interference portion A having an arc shape shown in FIG. 15A is directly approximated and automatically converted into a simple shape shown in FIGS. Process it. Also, the figure can be processed by offsetting the generated figure.

【0047】又、ここでは、上記調整用図形の各線分を
外側が右側になるようにベクトル方向を設定すると共
に、前記図2や図6に示した左回り方向を選択するベク
トル論理演算を適用し、外側の線分を選択することによ
り図14(B)の補正形状を作成することもできる。
Further, here, the vector direction is set such that each line segment of the above-mentioned adjustment graphic is on the right side and the vector logic operation for selecting the counterclockwise direction shown in FIG. 2 and FIG. 6 is applied. However, the corrected shape of FIG. 14B can be created by selecting the outer line segment.

【0048】本実施形態の補正形状作成装置には、上述
した干渉部分のオフセット調整機能以外に、リード先端
部を拡幅する補正機能をも有している。これを以下に説
明する。
The correction shape creating apparatus of this embodiment has a correction function of widening the lead tip in addition to the offset adjustment function of the interference portion described above. This will be described below.

【0049】まず、図16(A)の左側に示すように、
各リード先端部に基準点を設定する。ここでは、設計時
に設定するボンディング位置を基準点として利用する。
又、その一方で、図16(A)の右側に示した、補正後
のリード先端部の外形に相当する先端部形状を部品とし
て用意しておき、この部品にも基準点としてボンディン
グ位置を設定しておく。
First, as shown on the left side of FIG.
A reference point is set at the tip of each lead. Here, the bonding position set at the time of design is used as a reference point.
On the other hand, on the other hand, the tip shape corresponding to the outer shape of the lead tip after correction shown in the right side of FIG. 16A is prepared as a part, and the bonding position is also set as a reference point for this part. I'll do it.

【0050】オペレータは、上記両者の合成を指示する
と、前記合成装置18は各リード先端部に先端部形状を
両者のボンディング位置が一致するように重ね合わせ、
図16(B)に示す合成図形を作成する。このように両
者を合成した後、補正形状の作成を指示すると、前記論
理演算処理装置14は先端部形状を優先させてリード先
端部の外形とする図形の論理演算を実行し、図16
(C)に示す補正形状を作成する。その際、この論理演
算処理装置14では両図形の間で「論理和」を求める論
理演算を実行している。この論理演算としては、上記図
14の場合と同様に、通常の図形論理演算や前記図2や
図6に示したベクトル論理演算を適用することができ
る。
When the operator gives an instruction for synthesizing the both, the synthesizing device 18 superimposes the tip shapes on the tip portions of the leads so that the bonding positions of the both are the same.
The composite figure shown in FIG. 16B is created. When the formation of the corrected shape is instructed after the two are combined in this manner, the logical operation processing unit 14 gives priority to the shape of the tip portion and executes the logical operation of the figure to be the outer shape of the lead tip portion, as shown in FIG.
A corrected shape shown in (C) is created. At this time, the logical operation processing device 14 executes a logical operation for obtaining a "logical sum" between the two figures. As the logical operation, as in the case of FIG. 14, the normal graphic logical operation or the vector logical operation shown in FIGS. 2 and 6 can be applied.

【0051】上述したリード先端部の補正は、予め先端
部形状を部品として用意しておくだけで、簡単に行うこ
とができるため、例えば、図17(A)に示した他の先
端部形状を使用する場合であれば、同様に同図(B)の
図形合成を経て、同図(C)の補正形状を作成すること
ができる。
The above-described lead tip correction can be easily performed by simply preparing the tip shape as a component in advance. Therefore, for example, another tip shape shown in FIG. If it is used, similarly, the corrected shape of FIG. 9C can be created through the figure synthesis of FIG.

【0052】従って、寸法や形状が異なる多種類の先端
部形状をデータベース化しておくことにより、任意のリ
ードフレームに対するリード先端部の補正を簡単に、し
かも統一的に実行することができ、更には補正作業の自
動化もできるため、コストダウンを図ることもできる。
Therefore, by compiling a database of various types of tip portions having different sizes and shapes, the lead tip portion can be easily and uniformly corrected for any lead frame. Since the correction work can be automated, the cost can be reduced.

【0053】以上詳述した如く、本実施形態によれば、
基準線をオフセットさせて補正形状を作成する場合に、
干渉部分を適切な間隙に調整する作業や、リード先端部
を拡幅して補正する作業を、オペレータは直観的に行う
ことができるため、新しいプログラムを作成することな
く、新しい形状のリードフレームに対しても迅速に対応
することができる。
As described in detail above, according to the present embodiment,
When creating a corrected shape by offsetting the reference line,
Since the operator can intuitively perform the work of adjusting the interference part to an appropriate gap and the work of widening and correcting the lead tip, it is possible to adjust the lead frame of a new shape without creating a new program. However, it can respond promptly.

【0054】以上、本発明について具体的に説明した
が、本発明は、前記実施形態に示したものに限られるも
のでなく、その要旨を逸脱しない範囲で種々変更可能で
ある。
The present invention has been specifically described above, but the present invention is not limited to the above-described embodiments, and various modifications can be made without departing from the scope of the invention.

【0055】例えば、補正形状作成装置10の具体的構
成は前記実施形態に示したものに限定されない。
For example, the specific configuration of the corrected shape creating apparatus 10 is not limited to that shown in the above embodiment.

【0056】又、前記実施形態では干渉部分Aの抽出
を、図8に示したベクトル論理演算で行う場合を示した
が、ラスター画像の太らせと合成を使って行ってもよ
い。即ち、図18(A)に模式的に示したようにラスタ
ー画像を徐々に太らせる時に、該当する画素が白の場合
は黒に変化し、黒の場合は灰色に変化すると定めると、
同図(B)に示すように干渉部分を灰色で表示すること
ができる。
Further, in the above embodiment, the case where the interference portion A is extracted by the vector logical operation shown in FIG. 8 has been described, but the raster image may be thickened and combined. That is, when the raster image is gradually thickened as schematically shown in FIG. 18A, if the corresponding pixel is white, it is changed to black, and if it is black, it is changed to gray.
The interference portion can be displayed in gray as shown in FIG.

【0057】又、先端部の形状補正でも、同様にラスタ
ー画像の状態で、図19に示すように画素を上書きして
いくことにより、形状の合成を行うようにてもよい。
Further, in the shape correction of the tip portion, similarly, the shapes may be combined by overwriting the pixels in the state of the raster image as shown in FIG.

【0058】又、リードフレームの具体的形状や補正後
の形状も前記実施形態に示したものに限定されない。
The specific shape of the lead frame and the shape after correction are not limited to those shown in the above embodiment.

【0059】[0059]

【発明の効果】以上説明したとおり、請求項1の発明に
よれば、パターン間に間隙の狭い部分が存在する場合で
も、エッチングに必要な最小間隙を確保することができ
るエッチング補正作業を、オペレータが直観的に容易に
行うことができるため、作業負荷を軽減することができ
る。
As described above, according to the first aspect of the invention, even if there is a narrow gap between the patterns, the operator can perform the etching correction work for ensuring the minimum gap required for etching. Can be done intuitively and easily, so that the work load can be reduced.

【0060】請求項2の発明によれば、パターン間の間
隙が狭いために生じるパターンの干渉部分を確実に抽出
することができる。
According to the second aspect of the invention, it is possible to reliably extract the interference portion of the pattern caused by the narrow gap between the patterns.

【0061】請求項3の発明によれば、オペレータが干
渉部分に対して補正形状の調整を指示するだけで、該干
渉部分及びその近傍を含めて最小間隙が確保された適切
な補正形状を作成することができる。
According to the third aspect of the present invention, the operator simply instructs the interference shape to adjust the correction shape, and an appropriate correction shape in which the minimum gap is secured including the interference area and its vicinity is created. can do.

【0062】請求項4の発明によれば、調整用図形とオ
フセット線分間の間隙との間で、「論理和」を求める図
形の論理演算を行うことにより、干渉部分を含めた全体
にわたって最小間隙が確保された適切な補正形状を容易
に作成することができる。
According to the fourth aspect of the present invention, a logical operation of a figure for obtaining a "logical sum" is performed between the adjustment figure and the gap between the offset line segments, so that the minimum gap is obtained over the whole including the interference portion. It is possible to easily create an appropriate corrected shape in which

【0063】請求項5の発明によれば、リード先端部を
適切な補正形状にすることができるエッング補正作業
を、オペレータが直感的に容易に行うことができるた
め、作業負荷を軽減することができる。又、形状や寸法
が異なる多種類の先端部形状を、補正用の部品として予
めデータベース化して保存しておくことにより、補正作
業のコストダウンや自動化を図ることもできる。
According to the fifth aspect of the present invention, the operator can intuitively and easily perform the ing correction work for forming the lead tip portion into an appropriate correction shape, so that the work load can be reduced. it can. In addition, the cost of the correction work can be reduced and automation can be achieved by preliminarily storing a database of various types of tip shapes having different shapes and dimensions as correction parts and storing them.

【図面の簡単な説明】[Brief description of the drawings]

【図1】論理演算アルゴリズムを説明するための線図FIG. 1 is a diagram for explaining a logical operation algorithm.

【図2】論理演算アルゴリズムを説明するための他の線
FIG. 2 is another diagram for explaining a logical operation algorithm.

【図3】論理演算アルゴリズムを説明するための更に他
の線図
FIG. 3 is still another diagram for explaining the logical operation algorithm.

【図4】論理演算アルゴリズムを説明するための更に他
の線図
FIG. 4 is still another diagram for explaining the logical operation algorithm.

【図5】論理演算アルゴリズムを説明するための更に他
の線図
FIG. 5 is still another diagram for explaining the logical operation algorithm.

【図6】論理演算アルゴリズムを説明するための更に他
の線図
FIG. 6 is still another diagram for explaining the logical operation algorithm.

【図7】論理演算アルゴリズムを説明するための更に他
の線図
FIG. 7 is still another diagram for explaining the logical operation algorithm.

【図8】論理演算アルゴリズムを説明するための更に他
の線図
FIG. 8 is still another diagram for explaining the logical operation algorithm.

【図9】本発明に係る一実施形態の補正形状作成装置の
概略構成を示すブロック図
FIG. 9 is a block diagram showing a schematic configuration of a corrected shape creation device according to an embodiment of the present invention.

【図10】基準線をオフセットさせた線分の干渉部分の
抽出方法を示す説明図
FIG. 10 is an explanatory diagram showing a method of extracting an interference portion of a line segment in which a reference line is offset.

【図11】干渉部分のオフセット寸法を調整する方法を
示す説明図
FIG. 11 is an explanatory diagram showing a method of adjusting an offset dimension of an interference portion.

【図12】オフセット線分の発生手順と補正形状を示す
線図
FIG. 12 is a diagram showing a procedure for generating an offset line segment and a correction shape.

【図13】オフセット線分の発生手順と補正形状を示す
他の線図
FIG. 13 is another diagram showing an offset line segment generation procedure and a correction shape.

【図14】干渉部分のオフセット寸法を調整する他の方
法を示す説明図
FIG. 14 is an explanatory diagram showing another method of adjusting the offset dimension of the interference portion.

【図15】調整用図形の作成方法を示す説明図FIG. 15 is an explanatory diagram showing a method of creating an adjustment graphic.

【図16】リード先端部の補正形状を示す説明図FIG. 16 is an explanatory diagram showing a corrected shape of the lead tip.

【図17】リード先端部の補正形状を示す他の説明図FIG. 17 is another explanatory view showing the correction shape of the lead tip.

【図18】干渉部分の抽出方法の変形例を示す説明図FIG. 18 is an explanatory diagram showing a modification of the method of extracting an interference portion.

【図19】先端部補正方法の変形例を示す説明図FIG. 19 is an explanatory diagram showing a modified example of the tip end correction method.

【図20】リードフレームの一例の1チップ分全体を示
す平面図
FIG. 20 is a plan view showing the entire one chip of an example of a lead frame.

【図21】従来のエッチング補正処理を模式的に示す説
明図
FIG. 21 is an explanatory view schematically showing a conventional etching correction process.

【図22】従来のエッチング補正処理を模式的に示す他
の説明図
FIG. 22 is another explanatory view schematically showing the conventional etching correction process.

【符号の説明】[Explanation of symbols]

10…補正形状作成装置 12…オフセット線分発生装置 14…論理演算処理装置 16…修正形状調整装置 18…合成装置 20…記憶装置 DESCRIPTION OF SYMBOLS 10 ... Corrected shape creation device 12 ... Offset line segment generation device 14 ... Logical operation processing device 16 ... Corrected shape adjustment device 18 ... Synthesis device 20 ... Storage device

───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (72)発明者 高倉 章 東京都新宿区市谷加賀町一丁目1番1号 大日本印刷株式会社内 (72)発明者 飯沼 輝明 東京都新宿区市谷加賀町一丁目1番1号 大日本印刷株式会社内 (72)発明者 渡辺 智 東京都新宿区市谷加賀町一丁目1番1号 大日本印刷株式会社内 (72)発明者 金井 雄二 東京都新宿区市谷加賀町一丁目1番1号 大日本印刷株式会社内 (72)発明者 鈴木 浩 東京都新宿区市谷加賀町一丁目1番1号 大日本印刷株式会社内 ─────────────────────────────────────────────────── ─── Continuation of the front page (72) Inventor Akira Takakura 1-1-1, Ichigaya-Kagacho, Shinjuku-ku, Tokyo Within Dai Nippon Printing Co., Ltd. (72) Teruaki Iinuma 1-1-chome, Ichigaya-Kagacho, Shinjuku-ku, Tokyo No. 1 Dai Nippon Printing Co., Ltd. (72) Inventor Satoshi Watanabe 1-1, Ichigaya Kaga-cho, Shinjuku-ku, Tokyo Inside 1-1 Dai Nippon Printing Co., Ltd. (72) Yuji Kanai Ichigaya, Ichigaya-cho, Shinjuku-ku, Tokyo 1-1-1, Dai Nippon Printing Co., Ltd. (72) Inventor Hiroshi Suzuki 1-1-1, Ichigaya-Kagacho, Shinjuku-ku, Tokyo Dai-ni Printing Co., Ltd.

Claims (5)

【特許請求の範囲】[Claims] 【請求項1】CADデータで作成されたリードフレーム
のアウトライン形状を補正してエッチング補正形状を作
成する、リードフレームのエッチング補正形状作成装置
において、 リードフレームのアウトライン形状を規定する基準線
を、パターンを拡幅する方向に目標寸法オフセットさせ
た位置に、補正形状の基本となる目標オフセット線分を
発生させると共に、同基準線を上記目標寸法を超えてオ
フセットさせた位置に、干渉判定に利用する判定用オフ
セット線分を発生させる手段と、 発生させた判定用オフセット線分が他の判定用オフセッ
ト線分と交差している干渉部分を抽出する抽出手段と、 抽出された干渉部分に対して、エッチングを進行させる
に必要な最小間隙が確保されるように補正形状を調整す
る調整手段と、を備えていることを特徴とするリードフ
レームのエッチング補正形状作成装置。
1. A lead frame etching correction shape forming apparatus for correcting an outline shape of a lead frame created by CAD data to create an etching correction shape, wherein a reference line defining the outline shape of the lead frame is patterned. The target offset line segment that is the basis of the correction shape is generated at the position where the target dimension is offset in the direction of expanding the width, and the judgment used for interference determination is made at the position where the reference line is offset beyond the target dimension. Means for generating an offset line segment for extraction, an extraction means for extracting an interference portion where the generated offset line segment for determination intersects another offset line segment for determination, and an etching method for the extracted interference portion. Adjusting means for adjusting the correction shape so as to secure the minimum gap necessary for advancing Etching corrected shape creation apparatus of the lead frame, wherein the door.
【請求項2】請求項1において、 抽出手段が、交差しているオフセット線分でそれぞれ輪
郭が規定される図形の間で論理演算を行って、干渉部分
を抽出する機能を有していることを特徴とするリードフ
レームのエッチング補正形状作成装置。
2. The method according to claim 1, wherein the extracting means has a function of performing a logical operation between figures whose contours are defined by intersecting offset line segments to extract an interference portion. An etching correction shape forming device for a lead frame, characterized by:
【請求項3】請求項1において、 調整手段が、抽出された干渉部分に対して、前記最小間
隙が確保されるようにオフセット寸法を変更して補正形
状とする機能を有していることを特徴とするリードフレ
ームのエッチング補正形状作成装置。
3. The adjusting means according to claim 1, wherein the adjusting means has a function of changing an offset dimension to a corrected shape so that the minimum gap is secured with respect to the extracted interference portion. Characteristic etching shape creation device for lead frame.
【請求項4】請求項1において、 調整手段が、抽出された干渉部分に対して、前記最小間
隙が確保された調整用図形を発生させ、該図形と前記目
標オフセット線分間の間隙との間で論理演算を行って、
干渉部分近傍の補正形状とする機能を有していることを
特徴とするリードフレームのエッチング補正形状作成装
置。
4. The adjusting means according to claim 1, wherein the adjusting means generates an adjusting figure in which the minimum gap is secured for the extracted interference portion, and the figure is provided between the figure and the gap between the target offset line segments. Logical operation with
An etching correction shape creation device for a lead frame, which has a function of setting a correction shape near an interference portion.
【請求項5】CADデータで作成されたリードフレーム
のアウトライン形状を補正してエッチング補正形状を作
成する、リードフレームのエッチング補正形状作成装置
において、 基準点が設定されているリード先端部に、基準点が設定
されている先端部形状を、それぞれの基準点を一致させ
て重ね合せる合成手段と、 重ね合せ図形に対して、先端部形状を優先させてリード
先端部の補正形状とする図形の論理演算を実行する手段
と、を備えていることを特徴とするリードフレームのエ
ッチング補正形状作成装置。
5. A lead frame etching correction shape creating apparatus for creating an etching correction shape by correcting an outline shape of a lead frame created by CAD data, wherein a reference point is set on a lead tip portion where a reference point is set. Synthesizing means for superimposing the tip shape in which the points are set by making the respective reference points coincide with each other, and the logic of the figure in which the tip shape is prioritized and used as the correction shape of the lead tip with respect to the superposed figure. An etching-corrected shape creating apparatus for a lead frame, comprising: a means for performing calculation.
JP7277730A 1995-10-25 1995-10-25 Etching correction shape generating device for lead frame Pending JPH09120414A (en)

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Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2013012562A (en) * 2011-06-29 2013-01-17 Zuken Inc Device and method for creating etching pattern, program, and computer readable recording medium

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