JPH09116624A - 交換機試験診断方法 - Google Patents

交換機試験診断方法

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JPH09116624A
JPH09116624A JP26864295A JP26864295A JPH09116624A JP H09116624 A JPH09116624 A JP H09116624A JP 26864295 A JP26864295 A JP 26864295A JP 26864295 A JP26864295 A JP 26864295A JP H09116624 A JPH09116624 A JP H09116624A
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JP
Japan
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package
test
diagnosis
order
timing acquisition
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Withdrawn
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JP26864295A
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English (en)
Inventor
Hideyuki Sugizaki
秀行 杉崎
Yukinobu Sano
幸伸 佐野
Takehiko Kodama
岳彦 児玉
Kiyohisa Hoshino
清久 星野
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Fujitsu Ltd
Original Assignee
Fujitsu Ltd
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Publication date
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Abstract

(57)【要約】 【課題】 交換機の試験診断方法に関し、試験プログラ
ム構成の簡略化、試験時間の短縮、及び試験パッケージ
の的中率向上を行うことを目的とする。 【解決手段】 交換機の試験診断方法において、オーダ
送出単位にNG情報を集計し、自動的に試験対象パッケ
ージのNG発生率を計算し、該NG発生率をもとに障害
パッケージを表示する。パッケージの試験方法におい
て、挿入パッケージの検出を自動的に行い、該パッケー
ジに該当する試験項目のみ選択的に実行し、増設パッケ
ージの機能確認に必要な試験項目のみ選択的に実行す
る。複数台で構成される装置の試験方法において、2台
へ同じオーダを送出してアンサを比較し、障害発生装置
を特定する。導通試験で障害が発生した場合の装置の診
断をタイムスロット書き込みにより行う。タイミング取
得条件の設定及び変更を1箇所で行い、ルックイン処理
方法により短いタイミング取得を行う。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【発明の属する技術分野】本発明は交換機の試験診断を
行う際に、試験プログラム構成の簡略化、試験時間の短
縮、及び被擬パッケージの的中率向上を行う交換機の試
験診断方法に関する。近年の交換機の高速化及びマンマ
シンインタフェースの向上に伴い、試験診断方法にも、
試験プログラム構成の簡略化、試験時間の短縮、及び被
擬パッケージの的中率向上が求められている。
【0002】
【従来の技術】従来の交換機の試験診断方法では、オー
ダ送出単位にNG情報を出力するのみであり、NG情報
の集計やNG発生率の計算と出力は行っていなかった。
従来の交換機の試験診断方法の処理フローと画面出力例
を図13に示す。処理フローにおいて、(11)送出部でオ
ーダ送出単位にオーダが送出され、(12)チェック部でオ
ーダ送出単位にNG発生情報を把握し、(13)生情報と期
待値などをNG発生毎に出力し、生データと期待値が一
致しない場合、その情報をNG毎に出力する。予めオー
ダチェックデータにより項目毎にオーダの期待値を設定
しておく。
【0003】画面出力例において、機能試験(フェー
ズ)毎に試験診断装置の番号単位で正常か異常かをチェ
ックし、異常発生毎にテスト番号とアンサコードの生デ
ータとNGポイント,アンサデータの生データとNGポ
イント,割り込み生データとNGポイント,バス(ルー
ト)及びオーダ情報を表示する。診断終了まで異常発生
毎に上記情報の表示を行う。
【0004】従来のパッケージの試験方法では、パッケ
ージを挿入後、保守者がコマンドを投入して診断活動を
行い、診断は挿入パッケージを認識せずに全パッケージ
の試験項目を実行していた。また、診断内で増設パッケ
ージの判断は行わず、保守者がコマンドを投入して書き
換えた局データで実装になっている全パッケージの試験
項目を実行していた。
【0005】従来のパッケージの試験方法の処理フロー
を図14に示す。図において、(21)保守者がオンライン
(交換機プログラム)に対して閉塞コマンドを投入する
と、(22)オンラインによりハード(装置)に対して閉塞
設定を行う。(23)保守者はオンラインに対して局データ
変更コマンドを投入し、オンラインの局データを変更す
る。(24)保守者はハード(装置)に対してパッケージの
挿入を行う。(25)保守者はオンラインに対して診断プロ
グラムを投入すると、(26)オンラインの診断起動により
診断プログラムを起動し、ハード(装置)に対して全試
験項目を実行する。(27)全試験診断実行後、診断プログ
ラムより診断終了通知をオンラインに対して行い、オン
ラインは保守者に対して診断終了信号を出力する。(28)
保守者は閉塞解除コマンドを投入し、オンラインよりハ
ード(装置)に対して閉塞解除設定を行う。
【0006】次に、従来の装置に対する試験方法では、
装置1台に対してオーダを送出し、プログラム内に持っ
た期待値とアンサを比較して一致しない場合をNGとす
る試験を行っていた。また、従来の装置に対する導通試
験は、試験パターンを送信し受信データが試験パターン
と一致しているかを比較して、一致しない場合をNGと
する試験を行っていた。
【0007】従来の装置に対する試験方法の接続構成図
を図15に示す。図において、31はメインプロセッサ、
32はプロセッサ0系、33はプロセッサ1系、34は装置0
番0系、35は装置0番1系、36は装置1番0系、37は装
置1番1系、38は装置2番0系、39は装置2番1系を示
す。装置に対する試験方法は、プロセッサ0系から装置
0番0系、装置0番1系、装置1番0系、装置1番1
系、装置2番0系、装置2番1系の順に1台ずつオーダ
を送出し、アンサデータと期待値とを比較して試験を行
っている。
【0008】また、従来のオーダ送出時のタイミング取
得方法では、オーダ送出後にタイミング取得条件の設定
を毎回行っていた。もしくは、固定値より少し低いタイ
ミング取得後に、ルックイン処理でオーダの完了を読み
取るだけであり、実際のハード(装置)の処理時間の測
定は行わず、ルックイン処理の前に行うタイミング取得
のデータ及びルックインの間隔は一定の値で行ってい
た。
【0009】従来のタイミング取得方法の処理フローを
図16に示す。図において、(41)最初のオーダA送出
後、(42)設計時に設定された固定値のタイミングを取得
する。(43)設定されたタイミング内にアンサチェックを
行う。(44)次のオーダB送出後、(45)設計時に設定され
た固定値のタイミングを取得し、(46)設定されたタイミ
ング内にアンサチェックを行う。
【0010】
【発明が解決しようとする課題】前記従来の技術により
生ずる課題は下記の9点に分類される。 .従来の交換機の試験診断方法では、オーダ送出単位
にNG情報が出力されるため、試験全体の結果からの試
験及び被擬範囲の特定ができず、1箇所の障害によるN
G多発の場合でも被擬範囲が広くなるという問題を生じ
ていた。本発明は、試験全体の結果からの被擬範囲の特
定ができる情報を作成する方法を提供することを目的と
する。 .従来の交換機の試験診断方法では、試験全体の結果
からの被擬範囲を特定するためにNG発生率を計算する
場合、保守者自身でNG発生数とオーダ送出総数を集計
し、計算しなければならないといった問題を生じてい
た。本発明は、自動的にNG発生率を計算して出力する
方法を提供することを目的とする。 .従来のパッケージの試験方法では、パッケージ挿入
後にコマンドを投入する必要があり、挿入パッケージを
認識せずに全パッケージの試験項目を実行するため、実
行時間が長いといった問題を生じていた。本発明は、挿
入パッケージの検出を自動的に行い、その試験の実行時
間を短くする方法を提供することを目的とする。 .従来のパッケージの試験方法では、増設パッケージ
を認識せずに全パッケージの試験項目を実行するため、
実行時間が長いといった問題を生じていた。本発明は、
増設パッケージを試験診断内で判断し、その試験の実行
時間を短くする方法を提供することを目的とする。 .従来の装置に対する試験方法では、プログラム内に
期待値を持たせる必要があり、1台ずつ試験するため装
置全体の試験時間が長いといった問題を生じていた。本
発明は、期待値を持たずに試験を実行し、装置全体の試
験時間を短くする方法を提供することを目的とする。 .従来の装置に対する試験方法では、導通試験で障害
が発生しても、断線箇所の特定ができないといった問題
を生じていた。また、自己診断結果を1パッケージずつ
読み取る必要があった。本発明は、自己診断結果を一括
で読み取り、さらに断線箇所を特定する方法を提供する
ことを目的とする。 .従来のタイミング取得方法では、タイミング取得条
件の設定を毎回行うため、設定箇所が多数になり、設定
漏れ及び設定値誤りを起こし易くなるといった問題を生
じていた。本発明は、タイミング取得条件の設定を一箇
所で行う方法を提供することを目的とする。 .従来のタイミング取得方法では、固定の値でタイミ
ングを取得するため、実際のハードの処理時間より長い
タイミングを取得する場合が多く、試験の実行時間に無
駄な待ち時間を含んでしまうといった問題を生じてい
た。本発明は、試験処理中に実際のハードの処理時間を
測定し、その後の試験ではより短いタイミング取得を行
う方法を提供することを目的とする。 .従来のタイミング取得方法では、現状の試験プログ
ラム構成で実施した場合、タイミング取得条件の変更箇
所が多数になるといった問題を生じる。本発明は、タイ
ミング取得条件の変更を一箇所で行い、且つ適切なタイ
ミング取得を行う方法を提供することを目的とする。
【0011】
【課題を解決するための手段】 .本発明の交換機の試験診断方法(その1)の原理構
成図を図1に示す。図において、1はオーダ送出部、2
はチェック部、3はデータ部、4は生データ、5はオー
ダチェックデータ、6は被擬パッケージ情報、7はNG
カウントテーブルを示す。オーダ送出部1はオーダを送
出し、チェック部2はNG発生部と被擬情報加算部とN
G情報出力部とからなり、データ部3の詳細内容を参照
してNG情報を出力する。
【0012】データ部3はオーダ毎に生データ4とオー
ダチェックデータ5の期待値とを比較し、被擬パッケー
ジ情報6にあるNG情報を元に、NGカウントテーブル
7に項目毎のNG情報を加算して記憶する。
【0013】オーダ送出後に返送されるアンサの生デー
タ4をオーダチェックデータ5の期待値と比較して、不
一致の場合をNGとし、NGが発生した場合に制御語の
最終ワードで添加しているビットを被擬パッケージテー
ブルに加算し、実装列単位に格納された被擬パッケージ
情報6を元に、NGカウントテーブル7を加算する。全
オーダで同様の処理を行い、NG情報の集計を行う。
【0014】オーダ単位にNGをカウントして集計する
ことにより、試験全体の結果からの被擬範囲の特定が行
える情報を作成することができる。 .本発明の交換機の試験診断方法(その2)の原理構
成図を図2に示す。図において、11はNGカウントテー
ブル、12はオーダ送出総数テーブル、13はNG発生率、
14はNG発生率検索、15は試験対象パッケージ出力を示
す。パッケージ毎のNG発生率と被擬パッケージ毎の情
報が出力される。
【0015】試験終了時に、NGカウントテーブル11上
の集計情報を、予め具備したパッケージオーダ送出総数
テーブル12のそれぞれの値で割り、パッケージ毎のNG
発生率13を算出する。NG発生率13を元に被擬パッケー
ジをNG発生率の高い順に検索し(14)、試験終了時に一
括して試験対象パッケージのデータを出力する(15)。
【0016】NG発生率を自動的に計算し出力すること
により、保守者自身でNG発生数とオーダ送出総数を集
計し、保守者自身が計算する必要がなくなる。 .本発明のパッケージの試験方法(その1)の処理フ
ローを図3に示す。図において、(1) 保守者がオンライ
ン(交換機プログラム)に対して閉塞コマンドを投入す
ると、(2) オンラインによりハード(装置)に対して閉
塞設定を行う。(3) オンラインによりハード(装置)に
対して実装情報の監視を開始し、実装情報を監視する。
(4) 保守者はハード(装置)に対してパッケージの挿入
を行う。(5) オンラインによりハード(装置)の実装情
報変更表示を読み取り、(6) オンラインによりパッケー
ジの挿入ポイントを検出し、(7) 診断起動時に、挿入ポ
イントを診断プログラムに通知する。(8) 診断側は受け
取った挿入ポイントから該当する試験項目を選択し、
(9) ハ−ド(装置)に対して該当試験項目を実行する。
(10)その後、オンライン側は診断側から診断終了通知を
受信すると、保守者に診断終了を出力し、ハード(装
置)に対して実装情報の監視を行う。(11)保守者が閉塞
解除コマンドを投入すると、オンラインは実装情報の監
視を終了し、(12)ハ−ド(装置)に対して閉塞解除設定
を行う。
【0017】図3の処理フローに示すように、挿入パッ
ケージの検出を自動的に行い、挿入パッケージに該当す
る試験項目を選択して実行することにより、パッケージ
を挿入後にコマンドを投入する必要をなくし、挿入パッ
ケージとは無関係なパッケージの試験項目の実行を省い
て実行時間の短縮を行うことができる。 .本発明のパッケージの試験方法(その2)の原理構
成図を図4に示す。図において、21は増設前のパッケー
ジ情報、22は増設後のパッケージ情報、23は試験制御
部、24は局データ、25は試験実行部を示す。
【0018】増設前の事前診断時にパッケージ実装局デ
ータ21を保存しておく。増設後、保存したパッケージ実
装局データより図22に示すように未実装になっているパ
ッケージへオーダを送出し、アンサが返送されるパッケ
ージを増設パッケージと判断する。その後、図10に示す
試験項目管理テーブルから増設パッケージに対応する試
験項目情報を検索し、その試験項目情報で指示されてい
る試験項目を実行する。
【0019】図4に示すように、増設パッケージを試験
診断内で判断することで、増設パッケージに該当する試
験項目を選択して実行することにより、増設パッケージ
とは無関係なパッケージの試験項目の実行を省いて実行
時間の短縮を行うことができる。 .本発明の装置に対する試験方法(その1)の原理構
成図を図5に示す。図において、31はメインプロセッ
サ、32はプロセッサ0系、33はプロセッサ1系、34は装
置0番0系、35は装置0番1系、36は装置1番0系、37
は装置1番1系、38は装置2番0系、39は装置2番1系
を示す。装置に対する試験方法は、プロセッサ0系と1
系から2つの装置に対して同時にオーダを送出して正常
か異常かを判断する方法である。
【0020】プロセッサ0系からオーダを装置0番0系
へ送出し、プロセッサ1系から同じオーダを装置0番1
系へ送出する。それぞれのアンサを比較して一致する場
合をOK、一致しない場合をNGとする。OK時は、装
置1番0系と装置1番1系、装置2番0系と装置2番1
系の順に試験を実行する。NG時は装置0番0系と装置
1番0系で試験を行い、OKであれば装置0番1系を障
害、NGであれば装置0番0系を障害と判断して障害装
置を特定する。
【0021】図5に示すように、2台同時に試験してア
ンサを比較し、NGの場合は他装置と同時に試験するこ
とにより、プログラム内の期待値を不要とし、装置全体
の試験時間を短縮し、且つ障害装置の特定もできる。 .本発明の装置に対する試験方法(その2)の原理構
成図を図6に示す。図において、データ送受信部は、パ
ッケージA,B,C,D,E,Fと直列に接続され、電
源ONや試験指示を契機として各パッケージにリセット
を指示し、試験パターンを送信する。各パッケージは、
自己診断を実行後にその結果と試験パターンをユニーク
なタイムスロット(TS)に書き込む。
【0022】データ送受信部は、受信データのTS0の
上位ビットに試験パターンが書き込まれているかをチェ
ックし、書き込まれている場合は送受信部−パッケージ
A間の導通はOKと判断して、下位ビットの自己診断結
果をチェックし、次のパッケージA−パッケージB間の
導通チェックのため、TS1のチェックを行う。同様の
処理を順次行うことにより、全パッケージの導通と自己
診断の確認を行う。また、導通がNGの場合は、最初に
試験パターンが確認されたTSに対応するパッケージと
その一つ前のパッケージとの間で断線が起きていること
を特定する。
【0023】データ送受信部に自己診断の起動後に試験
パターンを送出する機能及び各パッケージに試験パター
ンと自己診断結果をパッケージ毎のユニークなタイムス
ロットに書き込む機能を設け、自己診断実行時に試験パ
ターンがどのタイムスロットまで書き込まれているかを
判定することにより、導通確認とデータ異常発生箇所及
び断線箇所の特定を行い、同時に各パッケージの自己診
断結果をも通知する。
【0024】図6に示すように、試験パターンと自己診
断結果をユニークなタイムスロットに書き込むことによ
り、導通試験で障害が発生した場合の断線箇所の特定が
でき、自己診断結果も一括で読み取ることができる。 .本発明のタイミング取得方法(その1)の処理フロ
ーを図7に示す。図において、(21)タイミング自動取得
のためオーダA送出処理が行われた場合、(22)オーダ送
出後に、(23)オーダ種別を判定し、(24)そのオーダに対
応したタイミング値をタイミング取得テーブルから検索
する。(25)そのタイミング取得をオーダ送出処理により
行い、(26)従来行っていたオーダ送出処理後のタイミン
グ取得処理を行わずにアンサチェックを行うようにす
る。(27)同様にして次のオーダB送出処理が行われ、タ
イミング自動取得した後、(28)アンサチェックが行われ
る。
【0025】図7に示すように、オーダ単位のタイミン
グ取得テーブルを持ち、オーダ送出毎にデータテーブル
を参照してタイミング取得することにより、オーダ送出
後のタイミング取得条件の毎回設定を不要とし、設定漏
れ及び設定値誤りを減らすことができる。 .本発明のタイミング取得方法(その2)の原理は、
ルックイン処理方法によるタイミング自動取得方法を示
す。規定値より少し短いタイミング取得後に、ルックイ
ン処理でオーダの完了を読み取り、その間のタイミング
値を計算することにより実際のハードの処理時間を測定
する。
【0026】測定結果が最短であった場合、ルックイン
処理の前に行うタイミング取得のデータを最短読み取り
ポイントの1回前の読み取りポイント値に書き換え、ル
ックインの間隔を前回の間隔と短縮された時間から計算
したより短い値に置き換えることにより、より短いタイ
ミング取得で試験診断を実行することができる。
【0027】試験処理中に実際のハードの処理時間を測
定し、その後の試験ではより短いタイミング取得を行う
ことにより、実際のハードの処理時間より長いタイミン
グを取得せず、試験の実行時間内の無駄な持ち時間を無
くすことができる。 .本発明のタイミング取得方法(その3)の処理フロ
ーを図8に示す。図において、(31)オーダ送出処理内で
前記と同様に、オーダに対応した初期タイミング取得
テーブルaとルックイン間隔テーブルbを検索してタイ
ミングを取得する。(32)1回目のオーダ送出後、前記
と同様にオーダ処理完了を測定して計算を行い、初期タ
イミング取得テーブルaとルックイン間隔テーブルbを
書き換える。(33)2回目以降のオーダ送出時は、書き換
えたテーブルの値を検索して初期タイミングの取得とル
ックイン処理を行うようにする。
【0028】図8に示すように、前記で使用するタイ
ミング取得テーブルを、規定値より少し短いタイミング
取得値で作成し、前記と同様の処理で測定したタイミ
ング値でタイミング取得データテーブルを書き換えるこ
とにより、タイミング取得条件の毎回設定を不要にし、
且つより短いタイミング取得で試験診断を実行すること
ができる。
【0029】
【発明の実施の形態】本発明の交換機試験診断方法(そ
の2)の実施例を図9に示す。図はNGカウントテーブ
ルをオーダ送出総数テーブルでパッケージ毎に割って算
出したNG発生率を発生率の高い順に検索して送出した
出力例を示す。図は最初の1個のNG送出データと被擬
パッケージの出る度のパッケージ毎のNGデータを示
す。試験対象パッケージデータは架、段列、品名、オー
ダ数、NG率から構成され、試験終了時に一括して送出
される。
【0030】本発明のパッケージ試験方法(その2)の
実施例を図10に示す。図は、原理構成図4の試験制御
部における4列目のパッケージDの試験項目情報Dを示
す。増設前の局データより未実装パッケージのみオーダ
を送出し、増設パッケージのみ返送する。該当パッケー
ジに関連フェーズのみ試験を行う。4列目の試験項目情
報Dの実行フェーズは図に示す通りである。
【0031】本発明の装置における試験方法(その2)
の実施例を図11に示す。各パッケージ送信におけるタ
イムスロットTSの構成は0〜6からなり、各TSの上
位ビットは試験パターン「A」、下位ビットはパッケー
ジA結果「F」を示す。プロセッサ送信とパッケージA
〜Fの送信タイムスロットは、TS0の試験パターンの
みを書き込み、TS1に試験パターンと自己診断結果を
書き込む。
【0032】以下同様にして書き込み、図に示すように
パッケージCの送信とパッケージDの送信との間にツー
ル装置との異常が発生すると、最初に試験パターンが確
認されたTS4に対応するパッケージDとその一つ前の
パッケージCとの間で断線が起きていると特定する。
【0033】本発明のタイミング取得方法(その2)の
実施例を図12に示す。図において、(1) は設計要項上
のタイミング、(2) はハード実際の処理時間、(3) はプ
ログラムのタイミング取得方法(1回目)、(4) はプロ
グラムのタイミング取得方法(2回目)、(5) はプログ
ラムのタイミング取得方法(3回目)を示す。
【0034】設計要項上のタイミングを時間aとし、ハ
ード実際の処理時間を0.82154 aとすると、初期タイミ
ング7/10a、2回目の初期タイミング8/10a、3回目の
初期タイミング82/100aとなり、1回目のルックイン間
隔は1/10a、2回目のルックイン間隔は1/100 a、3回
目のルックイン間隔は1/1000aとなる。
【0035】タイミング取得は、初期タイミングを最短
時に書き換えることにより、1回目は 9/10 aで完了を
読み取り、2回目はより基準値に近い83/100aで完了を
読み取り、3回目は更により基準値に近い822/1000aで
完了を読み取れるようにする。
【0036】
【発明の効果】以上説明したように、本発明の交換機の
試験診断方法とパッケージの試験方法と装置における試
験方法とタイミング取得方法により、試験プログラム構
成の簡略化、試験時間の短縮、及び被擬パッケージの的
中率向上に寄与する。
【図面の簡単な説明】
【図1】 本発明の交換機の試験診断方法(その1)の
原理構成図
【図2】 本発明の交換機の試験診断方法(その2)の
原理構成図
【図3】 本発明のパッケージの試験方法(その1)の
処理フロー
【図4】 本発明のパッケージの試験方法(その2)の
原理構成図
【図5】 本発明の装置に対する試験方法(その1)の
原理構成図
【図6】 本発明の装置に対する試験方法(その2)の
原理構成図
【図7】 本発明のタイミング取得方法(その1)の処
理フロー
【図8】 本発明のタイミング取得方法(その3)の処
理フロー
【図9】 本発明の交換機試験診断方法(その2)の実
施例
【図10】 本発明のパッケージ試験方法(その2)の
実施例
【図11】 本発明の装置における試験方法(その2)
の実施例
【図12】 本発明のタイミング取得方法(その2)の
実施例
【図13】 従来の交換機の試験診断方法の処理フロー
と画面出力例
【図14】 従来のパッケージの試験方法の処理フロー
【図15】 従来の装置に対する試験方法の接続構成図
【図16】 従来のタイミング取得方法の処理フロー
【符号の説明】
1 オーダ送出部 2 チェック部 3 データ部 4 生データ 5 オーダチェックデータ 6 被擬パッケージ情報 7,11 NGカウントテーブル 12 オーダ送出総数テーブル 13 NG発生率 14 NG発生率検索 15 試験対象パッケージ出力 21 増設前のパッケージ情報 22 増設後のパッケージ情報 23 試験制御部 24 局データ 25 試験実行部 31 メインプロセーサ 32 プロセッサ0系 33 プロセッサ1系 34 装置0番0系 35 装置0番1系 36 装置1番0系 37 装置1番1系 38 装置2番0系 39 装置2番1系
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (72)発明者 児玉 岳彦 神奈川県横浜市港北区新横浜3丁目9番18 号 富士通コミュニケーション・システム ズ株式会社内 (72)発明者 星野 清久 神奈川県横浜市港北区新横浜3丁目9番18 号 富士通コミュニケーション・システム ズ株式会社内

Claims (9)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 交換機の試験診断において、 オーダ送出単位に該オーダ対応の被擬パッケージ情報及
    びパッケージ毎のNGカウントテーブルを設け、試験診
    断実行時にNGが発生した場合、NGカウントテーブル
    の該当パッケージ対応の内容を加算することを特徴とす
    る交換機試験診断方法。
  2. 【請求項2】 交換機の試験診断において、 パッケージ毎のオーダ送出総数テーブルを設け、前記N
    Gカウントテーブル上の集計情報およびオーダ送出総数
    テーブルをもとに、パッケージ単位のNG発生率を計算
    し、NG発生率をもとに被擬パッケージを表示すること
    を特徴とする交換機試験診断方法。
  3. 【請求項3】 パッケージの挿入を検出してパッケージ
    実装情報を更新する機能を有する装置において、 閉塞コマンドを契機としてオンラインプログラムがパッ
    ケージ情報を周期的に監視し、パッケージ情報に変化が
    あった場合、挿入ポイントを診断プログラムに通知する
    とともに診断起動を行い、該診断の通知情報をもとに、
    挿入されたパッケージの機能確認に必要な試験項目を索
    引して、そのパッケージに該当する試験項目のみを選択
    的に実行することを特徴とする交換機試験診断方法。
  4. 【請求項4】 パッケージの増設診断において、 増設前の局データで未実装になっているパッケージにオ
    ーダを送出し、アンサが返送されるパッケージを増設パ
    ッケージと判断し、そのパッケージの機能確認に必要な
    試験項目を索引して、そのパッケージに該当する試験項
    目のみを選択的に実行することを特徴とする交換機試験
    診断方法。
  5. 【請求項5】 複数台で構成される装置の診断におい
    て、 2台の装置へ同じオーダを送出してアンサを比較し、結
    果が異なる場合をNGとして試験を行い、NGが発生し
    た場合には試験を行った装置の片方と他の同一装置とで
    再度試験を行い、NGの発生の有無から障害発生装置を
    特定することを特徴とする交換機試験診断方法。
  6. 【請求項6】 装置の導通試験において、 データ送受信部に自己診断の起動後に試験パターンを送
    出する機能および各パッケージに試験パターンと自己診
    断機能をパッケージ毎のユニークなタイムスロットに書
    き込む機能を設け、自己診断実行時に試験パターンがど
    のタイムスロットまで書き込まれているかを判定するこ
    とにより、導通確認とデータ異常発生箇所及び障害箇所
    の特定を行い、同時に各パッケージの自己診断結果も通
    知することを特徴とする交換機試験診断方法。
  7. 【請求項7】 オーダ単位のタイミング取得方法におい
    て、 オーダ単位のタイミング取得データテーブルを有し、オ
    ーダ送出毎に該データテーブルを参照してタイミング取
    得することにより、オーダ送出後のタイミング取得条件
    をその都度設定しないようにすることを特徴とした交換
    機試験診断方法。
  8. 【請求項8】 ルックイン処理によるタイミング取得方
    法において、 規定値より少し短いタイミング取得後に、ルックイン処
    理でオーダの完了を読み取り、その間のタイミング値を
    計算することにより実際のハードの処理時間を測定し、
    測定結果が最短であった場合、ルックイン処理の前に行
    うタイミング取得のデータを最短読み取りポイントの1
    回前の読み取りポイント値に置き換え、ルックインの間
    隔を前回の間隔と短縮された時間から計算したより短い
    値に置き換えることにより、より短いタイミング取得で
    試験診断を実行することを特徴とした交換機試験診断方
    法。
  9. 【請求項9】 オーダ単位のタイミング取得方法におい
    て、 前記請求項7で使用するタイミング取得テーブルを、規
    定値より少し短いタイミング取得値で作成し、前記請求
    項8と同様の処理で測定したタイミング値でタイミング
    取得テーブルを書き換えることにより、タイミング取得
    条件の毎回設定を不要とし、且つより短いタイミング取
    得で試験診断を実行することを特徴とした交換機試験診
    断方法。
JP26864295A 1995-10-17 1995-10-17 交換機試験診断方法 Withdrawn JPH09116624A (ja)

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Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US8320839B2 (en) 2007-06-27 2012-11-27 Rohde & Schwarz Gmbh & Co. Kg Method for testing a mobile-radio device

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* Cited by examiner, † Cited by third party
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US8320839B2 (en) 2007-06-27 2012-11-27 Rohde & Schwarz Gmbh & Co. Kg Method for testing a mobile-radio device

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