JPH09113560A - Pattern generating device for liquid crystal display panel test - Google Patents

Pattern generating device for liquid crystal display panel test

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JPH09113560A
JPH09113560A JP7265411A JP26541195A JPH09113560A JP H09113560 A JPH09113560 A JP H09113560A JP 7265411 A JP7265411 A JP 7265411A JP 26541195 A JP26541195 A JP 26541195A JP H09113560 A JPH09113560 A JP H09113560A
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memory
read
buffer memory
buffer memories
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Abstract

PROBLEM TO BE SOLVED: To provide a liquid crystal display(LCD) panel generating no unnecessary picture element signal even when the total number of picture elements of the LCD panel is odd or even by providing switching circuits switching the connection relation between memory regions and buffer memories. SOLUTION: The picture element data read out from the memory regions A, B, C, D of a pattern storage memory 1 having four memory regions A, B, C, D, for example, are inputted to the input terminals I1 , I2 , I3 , I4 of four- input, one-output type switching circuits 11A, 11B, 11C, 11D. Buffer memories 12A, 12B, 12C, 12D are connected to the output sides of the switching circuits 11A-11D. The buffer memories 12A-12D can independently implement writing and reading. An interleaving action can be normally taken even when the number of the total picture elements of an LCD panel to be tested is not a multiple of the number of the memory regions provided on the pattern storage memory 1, high-speed multiplex signals can be generated, and versatility is improved.

Description

【発明の詳細な説明】Detailed Description of the Invention

【0001】[0001]

【発明の属する技術分野】この発明は液晶表示パネル
(以下LCDパネルと称す)を試験する場合に用いるL
CDパネル試験用パターン発生装置に関する。
BACKGROUND OF THE INVENTION 1. Field of the Invention The present invention is used for testing a liquid crystal display panel (hereinafter referred to as LCD panel).
The present invention relates to a pattern generator for a CD panel test.

【0002】[0002]

【従来の技術】図6に従来のLCDパネル試験用パター
ン発生装置の構成を示す。図中1は被試験LCDパネル
に所望の画像を映出させるための画素データを記憶した
パターン格納メモリを示す。このパターン格納メモリ1
は複数の記憶領域、例えばA,B,C,Dを有し、この
複数の記憶領域A〜Dから画素データを読み出し、この
画素データを多重化回路2で多重化し、この例ではパタ
ーン格納メモリ1の読出速度の4倍の周波数の画像信号
に変換し、変換テーブル3で色信号に変換し、出力端子
4からカラー画像信号を出力する。
2. Description of the Related Art FIG. 6 shows the structure of a conventional LCD panel test pattern generator. In the figure, reference numeral 1 denotes a pattern storage memory in which pixel data for displaying a desired image on the LCD panel under test is stored. This pattern storage memory 1
Has a plurality of storage areas, for example, A, B, C, and D, reads pixel data from the plurality of storage areas A to D, multiplexes the pixel data by a multiplexing circuit 2, and in this example, a pattern storage memory. The image signal is converted into an image signal having a frequency four times the reading speed of 1, converted into a color signal by the conversion table 3, and a color image signal is output from the output terminal 4.

【0003】なお、出力端子5には画像信号の一部のビ
ット情報から水平同期信号Hと垂直同期信号Vとを生成
して出力させる。また出力端子6にはクロック発生部7
から被試験LCDパネルを駆動するためのLCDクロッ
クを出力させる。また、8は制御部、9はパターン格納
メモリ1をアクセスするアドレス発生部を示す。図示す
るように、従来よりパターン格納メモリ1は複数の記憶
領域A〜Dを有し、これら複数の記憶領域A〜Dを同時
にアクセスして全ての記憶領域から一度に4つの画素デ
ータを読み出し、この4つの画素データを多重化するこ
とにより読出速度の4倍の速度の画像信号を得るように
し、低速メモリを用いて高速画像信号を得るように構成
している。LCDパネルのドットの数は高密度化の傾向
にあるため、画素信号の速度は益々高速化が要求され
る。従って、従来より多重化数を大きく採ることにより
高速画像信号を得るように構成している。このようにメ
モリから読み出した複数のデータを多重化して高速信号
を得る技術を一般にインターリーブと称している。
A horizontal synchronizing signal H and a vertical synchronizing signal V are generated and output to the output terminal 5 from a part of bit information of the image signal. The output terminal 6 has a clock generator 7
To output the LCD clock for driving the LCD panel under test. Further, 8 is a control unit, and 9 is an address generation unit for accessing the pattern storage memory 1. As shown in the figure, the pattern storage memory 1 conventionally has a plurality of storage areas A to D, and the plurality of storage areas A to D are simultaneously accessed to read four pixel data from all the storage areas at a time. The four pixel data are multiplexed to obtain an image signal at a speed four times as fast as the reading speed, and a low speed memory is used to obtain a high speed image signal. Since the number of dots in the LCD panel tends to be higher, the speed of the pixel signal is required to be higher and higher. Therefore, a high-speed image signal is obtained by increasing the number of multiplexed signals as compared with the conventional one. Such a technique of multiplexing a plurality of data read from a memory to obtain a high-speed signal is generally called interleaving.

【0004】[0004]

【発明が解決しようとする課題】一般にLCDパネルの
総画素数は偶数である場合が多い。インターリーブ方式
により、パターン格納メモリの読出速度より高い周波数
の信号を得る場合、メモリ1の記憶領域の数MとLCD
パネルの総画素数Nとの間で数Mは総画素子Nの整数分
の1の値であれば多重化回路2は正常に多重化動作す
る。つまり、例えばLCDパネルの総画素子数が例えば
簡単化するため9であるものとすると、図6に示した例
では、記憶領域の数が4であるから最後のアドレスによ
り最終画素データ9Nを読み出すと、この場合、図7に
示すように記憶領域B,C,Dからも画素データ9N+
1,9N+2,9N+3が読み出されてしまうから、不
要の画素データ9N+1,9N+2,9N+3が多重化
回路2で多重化されて出力端子4から出力されてしまう
不都合が生じる。
Generally, the total number of pixels of an LCD panel is often an even number. When a signal having a frequency higher than the read speed of the pattern storage memory is obtained by the interleave method, the number M of storage areas of the memory 1 and the LCD
With the total number N of pixels of the panel, if the number M is a value that is an integer fraction of the total number of picture elements N, the multiplexing circuit 2 operates normally. That is, assuming that the total number of image elements of the LCD panel is, for example, 9 for simplification, in the example shown in FIG. 6, since the number of storage areas is 4, when the final pixel data 9N is read by the last address. In this case, as shown in FIG. 7, the pixel data 9N + is also stored in the storage areas B, C, and D.
Since 1,9N + 2 and 9N + 3 are read, there arises a problem that unnecessary pixel data 9N + 1, 9N + 2 and 9N + 3 are multiplexed by the multiplexing circuit 2 and output from the output terminal 4.

【0005】このため、パターン格納メモリ1の記憶領
域を奇数と偶数に切替えられるように構成することも考
えられるが、通常では偶数の記憶領域から読み出すモー
ドで動作させる機会が多いにも係わらず、たまにしか用
いない奇数モードのために奇数モードで動作させるため
の記憶領域を用意しなければならないため、不経済であ
る。
Therefore, it is conceivable that the storage area of the pattern storage memory 1 can be switched between an odd number and an even number, but normally, although there are many opportunities to operate in the mode of reading from the even number storage area, It is uneconomical because the storage area for operating in the odd mode must be prepared for the odd mode which is used only occasionally.

【0006】この発明の目的は、インターリーブ方式に
より高速画素信号を生成するLCDパネル用パターン発
生装置において、パターン格納メモリの容量を増加させ
ることなく、LCDパネルの総画素数が奇数でも偶数で
も不要な画素信号を発生することのないLCDパネル用
パターン発生装置を提供しようとするものである。
It is an object of the present invention, in an LCD panel pattern generator for generating high-speed pixel signals by an interleave method, whether the total number of pixels of the LCD panel is odd or even without increasing the capacity of the pattern storage memory. An object of the present invention is to provide a pattern generation device for an LCD panel that does not generate a pixel signal.

【0007】[0007]

【課題を解決するための手段】この発明では、パターン
格納メモリに設けた記憶領域の数と同数のバッファメモ
リと、このバッファメモリに任意の記憶領域から読み出
される画素データを書き込むことができ、バッファメモ
リへの書込の禁止が発生した場合に、書込の禁止が発生
した最初のバッファメモリにパターン格納メモリの先頭
のアドレスから読み出される画素データを書き込むよう
に動作する切替回路と、バッファメモリから読み出され
る画素データをバッファメモリに割り当てられた順序に
従って多重化する多重化回路とによって構成したLCD
パネル用パターン発生装置を提供するものである。
According to the present invention, the same number of buffer memories as the number of storage areas provided in the pattern storage memory, and the pixel data read from any storage area can be written in this buffer memory. When the writing prohibition to the memory occurs, the switching circuit that operates to write the pixel data read from the top address of the pattern storage memory to the first buffer memory where the writing prohibition occurs, and the buffer memory LCD composed of a multiplexing circuit for multiplexing read pixel data in the order assigned to the buffer memory
A pattern generator for a panel is provided.

【0008】この発明の構成によれば、パターン格納メ
モリからLCDパネルに与える最終画素データが読み出
された際に、その画素データが読み出されたパターン格
納メモリの記憶領域が各記憶領域に与えられた順番の最
終記憶領域でない場合は、有効画素データのみをその時
点で割り当てられているバッファメモリに書き込むと共
に、他のバッファメモリには画素データの書込を禁止
し、次のサイクルでパターン格納メモリから読み出され
る先頭の画素データを、書込を禁止したバッファメモリ
に順番に従って書込み、これら複数のバッファメモリか
ら奇数配列の画素データも最終画素データの次に、先頭
の画素データが続く連続した画素データを発生させるこ
とができる。
According to the structure of the present invention, when the final pixel data to be given to the LCD panel is read from the pattern storage memory, the storage area of the pattern storage memory from which the pixel data is read is given to each storage area. If it is not the final storage area in the specified order, only valid pixel data is written to the buffer memory allocated at that time, writing of pixel data to other buffer memories is prohibited, and the pattern is stored in the next cycle. The leading pixel data read from the memory is written to the buffer memory in which writing is prohibited in order, and the pixel data of the odd number array from these multiple buffer memories is also the last pixel data, followed by the leading pixel data. Data can be generated.

【0009】[0009]

【発明の実施の形態】図1にこの発明の一実施例を示
す。図6と対応する部分には同一符号を付して示す。パ
ターン格納メモリ1は図6の場合と同様に4つの記憶領
域A,B,C,Dを有する場合を示す。パターン格納メ
モリ1の各記憶領域A,B,C,Dには図6で説明した
と同様に記憶領域A,B,C,Dの順に1番目の画素デ
ータ、2番目の画素データ、3番目の画素データ、4番
目の画素データが記憶され、5番目の画素データは再び
記憶領域Aに戻り、これが繰り返されて最終の画素デー
タまでの各画素データが各記憶領域A,B,C,Dに振
り分けられて記憶される。
FIG. 1 shows an embodiment of the present invention. Parts corresponding to those in FIG. 6 are denoted by the same reference numerals. The pattern storage memory 1 has a case where it has four storage areas A, B, C and D as in the case of FIG. In each of the storage areas A, B, C, D of the pattern storage memory 1, the first pixel data, the second pixel data, the third pixel data are stored in the order of the storage areas A, B, C, D in the same manner as described with reference to FIG. Pixel data of 4th pixel data is stored, the 5th pixel data is returned to the storage area A again, and this is repeated until each pixel data up to the final pixel data is stored in each storage area A, B, C, D. Will be sorted and memorized.

【0010】各記憶領域A,B,C,Dから読み出され
た画素データは4入力1出力形の切替回路11A,11
B,11C,11Dの各入力端子I1 ,I2 ,I3 ,I
4 に入力される。切替回路11Aの入力端子I1 〜I4
には記憶領域A〜Dから読み出された画素データを入力
し、切替回路11Bの各入力端子I1 〜I4 には記憶領
域B,C,D,Aから読み出される画素データを順に入
力し、切替回路11Cの入力端子I1 〜I4 には記憶領
域C,D,A,Bから読み出される画素データを順に入
力し、切替回路11Dの入力端子I1 〜I4 には記憶領
域D,A,B,Cから読み出される画素データを順に入
力する。このように入力端子I1 〜I4に入力する記憶
領域の順番を1ずつずらすことにより、各切替回路11
A〜11Dの切替状態を入力端子I1 を選択した第1の
状態に切替えると、切替回路11Aは記憶領域Aから読
み出される画素データを取り出し、切替回路11Bは記
憶領域Bから読み出される画素データを取り出し、切替
回路11Cは記憶領域Cから読み出される画素データを
取り出し、切替回路11Dは記憶領域Dから読み出され
る画素データを取り出す。
Pixel data read from the respective storage areas A, B, C, D are 4-input 1-output type switching circuits 11A, 11
B, 11C, 11D input terminals I 1 , I 2 , I 3 , I
Entered in 4 . Input terminals I 1 to I 4 of the switching circuit 11A
The pixel data read from the storage areas A to D is input to the input terminals I to I 4, and the pixel data read from the storage areas B, C, D, and A is input to the input terminals I 1 to I 4 of the switching circuit 11B in order. , the input terminal I 1 in ~I 4 storage area C of the switching circuit 11C, D, a, enter the pixel data read from B in order, the input terminal I 1 ~I 4 of the switching circuit 11D storage area D, Pixel data read from A, B, and C are sequentially input. In this way, by shifting the order of the storage areas input to the input terminals I 1 to I 4 by one, each switching circuit 11
When the switching state of A to 11D is switched to the first state in which the input terminal I 1 is selected, the switching circuit 11A extracts the pixel data read from the storage area A, and the switching circuit 11B outputs the pixel data read from the storage area B. The switching circuit 11C takes out the pixel data read from the storage area C, and the switching circuit 11D takes out the pixel data read from the storage area D.

【0011】切替回路11A〜11Dの切替状態を第2
の状態、つまり入力端子I2 を出力端子に接続した状態
に切り替えると、切替回路11A〜11Dはそれぞれ記
憶領域B,C,D,Aから読み出される画素データを出
力する。各切替回路11A〜11Dが入力端子I3 を出
力端子に接続した第3の状態に切り替わると、切替回路
11A〜11Dはそれぞれ記憶領域C,D,A,Bから
読み出される画素データを出力する。切替回路11A〜
11Dが入力端子I4 を出力端子に接続した第4の状態
に切り替わると、各切替回路11A〜11Dは記憶領域
D,A,B,Cから読み出される画素データを出力す
る。
The switching state of the switching circuits 11A to 11D is set to the second state.
When the state is switched to the state in which the input terminal I 2 is connected to the output terminal, the switching circuits 11A to 11D output the pixel data read from the storage areas B, C, D, and A, respectively. When switched to the third state where the switching circuit 11A~11D connects the input terminal I 3 to the output terminal, the switching circuit 11A~11D each storage area C, D, A, and outputs the pixel data read from B. Switching circuit 11A-
When 11D switches to the fourth state in which the input terminal I 4 is connected to the output terminal, each switching circuit 11A to 11D outputs the pixel data read from the storage areas D, A, B, and C.

【0012】各切替回路11A〜11Dの出力側にバッ
ファメモリ12A,12B,12C,12Dを接続す
る。このバッファメモリ12A〜12Dは書込と読出を
独立して実行することができる。例えば、FIFO(フ
ァーストイン・ファーストアウトメモリ)を用いること
ができる。このため、書込パルスと読出パルスを書込パ
ルス発生器13と読出パルス発生器14を別々に設け、
各バッファメモリ12A〜12Dの各書込パルス入力端
子Wと、読出パルス入力端子Rに別々に書込パルスWP
と、読出パルスRPを供給するように構成している。
Buffer memories 12A, 12B, 12C and 12D are connected to the output sides of the switching circuits 11A to 11D. The buffer memories 12A to 12D can independently perform writing and reading. For example, a FIFO (First In First Out Memory) can be used. Therefore, the write pulse and the read pulse are separately provided in the write pulse generator 13 and the read pulse generator 14,
A write pulse WP is separately provided to each write pulse input terminal W and read pulse input terminal R of each buffer memory 12A to 12D.
And a read pulse RP are supplied.

【0013】バッファメモリ12A〜12Dから読み出
される画素データを多重化回路2の各入力端子I1 〜I
4 に入力し、多重化回路2でパターン格納メモリ1の読
み出し速度より約4倍速い速度の高速画素データを出力
する。多重化された画素データは変換テーブル3でカラ
ー画素データに変換され、出力端子4からカラー画素デ
ータを出力する。また同期信号出力端子5には多重化さ
れた高速データから水平同期信号Hと垂直同期信号Vを
生成して出力させる。
Pixel data read out from the buffer memories 12A to 12D is input to the multiplexing circuit 2 at respective input terminals I 1 to I.
4 , and the multiplexing circuit 2 outputs high-speed pixel data at a speed about 4 times faster than the reading speed of the pattern storage memory 1. The multiplexed pixel data is converted into color pixel data by the conversion table 3, and the output terminal 4 outputs the color pixel data. Further, the synchronizing signal output terminal 5 generates and outputs a horizontal synchronizing signal H and a vertical synchronizing signal V from the multiplexed high speed data.

【0014】上述した構成において、被試験LCDパネ
ルの総画素数が4の倍数である場合は、切替回路11A
〜11Dは第1の切替状態、つまり入力端子I1 を出力
端子に接続した状態のまま各バッファメモリ12A〜1
2Dに各記憶領域A〜Dの読出出力を供給し、バッファ
メモリ12A〜12Dを通じてそのまま多重化回路2に
供給され、多重化される。被試験LCDパネルの総画素
数が4の倍数であれば最終画素データは必ず多重化の順
位で順序付けされた記憶領域A〜Dの中の最終の記憶領
域Dから読み出される。従って、次のサイクルで読み出
される画素データは先頭のバッファメモリ12Aから順
に格納され、多重化回路2に供給される。よって画面の
継目も正しくインターリーブ動作が実行される。
In the above configuration, when the total number of pixels of the LCD panel under test is a multiple of 4, the switching circuit 11A
11D are in the first switching state, that is, while the input terminal I 1 is connected to the output terminal, the buffer memories 12A to 12D
The read outputs of the respective storage areas A to D are supplied to 2D, and are supplied as they are to the multiplexing circuit 2 through the buffer memories 12A to 12D and are multiplexed. If the total number of pixels of the LCD panel under test is a multiple of 4, the final pixel data is always read from the final storage area D among the storage areas A to D ordered in the order of multiplexing. Therefore, the pixel data read in the next cycle is sequentially stored from the head buffer memory 12A and supplied to the multiplexing circuit 2. Therefore, the interleave operation is correctly performed even at the seam of the screen.

【0015】次に被試験LCDパネルの総画素数が例え
ば5の倍数であった場合には、図2に示すように画面の
最終画素データ5Nは記憶領域Aから読み出されること
になる。最終画素データ5Nが記憶領域Aから読み出さ
れた場合には、そのとき他の記憶領域B,C,Dから読
み出される画素データX1 ,X2 ,X3 は不要画素デー
タとなる。従って、ここでは最終画素データ以後の画素
データX1 ,X2 ,X 3 を不要画素データ、最終画素デ
ータより前の画素データを有効画素データと称すること
にする。なお、最終画素データの検出は被試験LCDパ
ネルの総画素数が既知であることから、アドレス発生部
9から出力するアドレスの数で検出することができ、記
憶領域A〜Dのどの記憶領域から最終画素データが読み
出されるかを特定することができる。この検出は制御部
8で実行することができる。
Next, the total number of pixels of the LCD panel under test is compared.
If it is a multiple of 5, the screen
The final pixel data 5N should be read from the storage area A
become. The final pixel data 5N is read from the storage area A.
Read from other storage areas B, C, D at that time.
Exposed pixel data X1, XTwo, XThreeIs unnecessary pixel day
Become Therefore, here, the pixels after the last pixel data
Data X1, XTwo, X ThreeUnnecessary pixel data, final pixel data
The pixel data before the data is called effective pixel data
To The final pixel data is detected by the LCD panel under test.
Since the total number of pixels in the channel is known, the address generator
It can be detected by the number of addresses output from 9.
The final pixel data is read from any of the storage areas A to D
You can specify what will be served. This detection is a control unit
8 can be executed.

【0016】記憶領域Aから最終画素データが読み出さ
れた場合には、その直後に制御部8は書込パルス発生器
13に書込禁止信号を与え、有効画素データが供給され
るバッファメモリを除く他のバッファメモリに与えられ
る書込パルスWPを禁止する。つまり、記憶領域Aから
最終画素データ5Nが読み出された場合には、バッファ
メモリ12B,12C,12Dに与えられる書込パルス
を禁止し、バッファメモリ12Aだけに書込パルスを与
える。
When the final pixel data is read from the storage area A, immediately after that, the control section 8 gives a write inhibit signal to the write pulse generator 13 to open the buffer memory to which the effective pixel data is supplied. The write pulse WP applied to the other buffer memories is excluded. That is, when the final pixel data 5N is read from the storage area A, the write pulse given to the buffer memories 12B, 12C, 12D is prohibited, and the write pulse is given only to the buffer memory 12A.

【0017】ここで、バッファメモリ12A〜12Dの
書込と読出速度について説明する。例えばFIFOメモ
リは書込と、読出を独立して実行することができる。こ
のため、書込パルスの周波数を読出パルスの周波数より
高く採っておくことによりバッファメモリ12A〜12
Dには常に或る量の画素データが蓄積された状態を維持
することができる。バッファメモリ12A〜12Dが画
素データで満杯になった場合は書込パルスの供給を一時
停止させる。画素データの量が或る量まで減少すると、
書込みを再開させる。バッファメモリ12A〜12Dの
読み出しは一旦読み出しが始まると跡絶えることなく一
定速度で実行される。
Here, the writing and reading speeds of the buffer memories 12A to 12D will be described. For example, the FIFO memory can perform writing and reading independently. Therefore, by setting the frequency of the write pulse higher than the frequency of the read pulse, the buffer memories 12A to 12A are
It is possible to always maintain a state in which a certain amount of pixel data is accumulated in D. When the buffer memories 12A to 12D are filled with pixel data, the supply of the write pulse is temporarily stopped. When the amount of pixel data decreases to a certain amount,
Restart writing. The reading of the buffer memories 12A to 12D is executed at a constant speed without being lost once the reading is started.

【0018】上述したように、バッファメモリ12A〜
12Dには常に或る量の画素データが蓄積されているか
ら、不要画素データX1 ,X2 ,X3 が書き込まれなく
ても画素データの読み出しに不足が生じることはない。
従って、書込を禁止したバッファメモリに対して、次の
サイクルで読み出される先頭画素データを順次書き込め
ばよい。この書込みの切替えを切替回路11A〜11D
が実行する。つまり被試験LCDパネルの総画素数が5
の倍数であった場合には、1回目の画像描画終了時は図
3に示すように、記憶領域Aから最終画素データ5Nが
読み出されることになる。従って切替回路11A〜11
Dは第1の切替状態(入力端子I1 を出力端子に接続し
た状態)から第2の切替状態(入力端子I2 を出力端子
に接続した状態)に切替えれば、次のサイクルで読み出
される先頭画素データ以下の画素データ「1」,
「2」,「3」は順次バッファメモリ12B,12C,
12Dの空白部分に書き込むことができ、画素データ
「4」はバッファメモリ12Aに書込まれる。
As described above, the buffer memories 12A ...
Since a certain amount of pixel data is always stored in the 12D, there is no shortage in reading pixel data even if the unnecessary pixel data X 1 , X 2 , and X 3 are not written.
Therefore, the leading pixel data read in the next cycle may be sequentially written to the write-protected buffer memory. This switching of writing is performed by switching circuits 11A to 11D.
Runs. That is, the total number of pixels of the LCD panel under test is 5
If it is a multiple of, the final pixel data 5N will be read from the storage area A at the end of the first image drawing, as shown in FIG. Therefore, the switching circuits 11A to 11
When D is switched from the first switching state (the state in which the input terminal I 1 is connected to the output terminal) to the second switching state (the state in which the input terminal I 2 is connected to the output terminal), it is read in the next cycle. Pixel data “1” below the first pixel data,
"2" and "3" are sequentially buffer memories 12B, 12C,
Data can be written in the blank portion of 12D, and the pixel data “4” is written in the buffer memory 12A.

【0019】第2の切替え状態で2回目を描画すると、
その最終画素データ5Nは図3に示すようにバッファメ
モリ12Bに書き込まれ、読み出される。従ってこの場
合には、バッファメモリ12Cと12Dを書込禁止とす
ると共に、3回目の描画開始時には切替回路11A〜1
1Dの状態を第3の切替状態(入力端子I3 を出力端子
に接続した状態)に切替えれば、次のサイクルで読み出
される先頭画素データ「1」,「2」はバッファメモリ
12C,12Dの空白部分に書き込まれ、画素データ
「3」,「4」はバッファメモリ12Aと12Bに書込
まれる。
When the second drawing is performed in the second switching state,
The final pixel data 5N is written in and read out from the buffer memory 12B as shown in FIG. Therefore, in this case, the buffer memories 12C and 12D are write-protected and the switching circuits 11A to 1A are used at the start of the third drawing.
If the 1D state is switched to the third switching state (the state in which the input terminal I 3 is connected to the output terminal), the first pixel data “1” and “2” read in the next cycle are stored in the buffer memories 12C and 12D. The pixel data "3" and "4" are written in the blank portion and written in the buffer memories 12A and 12B.

【0020】切替回路11A〜11Dを第3の切替状態
(入力端子I3 を出力端子に接続した状態)で3回目の
画面を描画すると、その最終画素データ5Nはバッファ
メモリ12Cに書き込まれ、読み出される。従ってこの
場合には、バッファメモリ12Dだけに関して書込を禁
止し、切替回路11A〜11Dの切替状態を第4の切替
状態(入力端子I4 を出力端子に接続した状態)に切り
替える。この結果、次のサイクルで読み出される先頭画
素データ「1」,「2」,「3」,「4」は図3に示す
ようにバッファメモリ12D,12A,12B,12C
の順に書き込まれる。
When the switching circuits 11A to 11D are in the third switching state (the input terminal I 3 is connected to the output terminal) and the screen is drawn for the third time, the final pixel data 5N is written in the buffer memory 12C and read. Be done. Therefore, in this case, writing is prohibited only for the buffer memory 12D, and the switching states of the switching circuits 11A to 11D are switched to the fourth switching state (the state in which the input terminal I 4 is connected to the output terminal). As a result, the leading pixel data "1", "2", "3", "4" read in the next cycle are buffer memories 12D, 12A, 12B, 12C as shown in FIG.
Are written in order.

【0021】切替回路11A〜11Dの切替状態が第4
の切替状態にある状態で1画面を描画すると、最終画素
データ5Nは記憶領域Dから読み出される。従って、こ
の場合には書込禁止は発生せず、切替回路11A〜11
Dの状態を第1の切替状態に戻される。この結果、次の
サイクルで読み出される先頭画素データ「1」,
「2」,「3」,「4」はバッファメモリ12A,12
B,12C,12Dの順に書き込まれ、初期の状態に戻
り、以下これが繰り返される。
The switching state of the switching circuits 11A to 11D is the fourth.
When one screen is drawn in the switching state, the final pixel data 5N is read from the storage area D. Therefore, in this case, write prohibition does not occur and the switching circuits 11A to 11A
The state of D is returned to the first switching state. As a result, the leading pixel data “1” read in the next cycle,
“2”, “3” and “4” are buffer memories 12A and 12
B, 12C, and 12D are written in this order, the state returns to the initial state, and this is repeated thereafter.

【0022】図4にパターン格納メモリ1から読み出さ
れる画素データと、バッファメモリ12A,12B,1
2C,12Dに書き込まれる画素データの関係、バッフ
ァメモリ12A〜12Dの書込パルスの関係を波形図で
示す。この例でもパターン格納メモリ1に設けられた記
憶領域が4で、被試験LCDパネルの総画素数が5の倍
数である場合を示す。従って、1回目の描画の最終画素
データ5Nはバッファメモリ12Aから読み出される。
このとき記憶領域B,C,Dから不要な画素データ
1 ,X2 ,X3 が読み出される。この不要画素データ
1 ,X2 ,X3 が与えられるバッファメモリ12B,
12C,12Dには、図4の時点T1 〜T2の間に示す
ように書込パルスの供給が禁止される。
FIG. 4 shows pixel data read from the pattern storage memory 1 and the buffer memories 12A, 12B, 1
The relationship between the pixel data written in 2C and 12D and the relationship between the write pulses of the buffer memories 12A to 12D is shown in a waveform diagram. This example also shows a case where the storage area provided in the pattern storage memory 1 is 4, and the total number of pixels of the LCD panel under test is a multiple of 5. Therefore, the final pixel data 5N of the first drawing is read from the buffer memory 12A.
At this time, unnecessary pixel data X 1 , X 2 , X 3 are read from the storage areas B, C, D. The buffer memory 12B to which the unnecessary pixel data X 1 , X 2 , X 3 are given,
12C, the 12D, the supply of the write pulse is inhibited as shown between time points T 1 through T 2 in FIG.

【0023】これと共に、切替回路11A〜11Dが第
1の状態から第2の状態に切替えらるから、書込が禁止
されたバッファメモリ12B,12C,12Dには、次
のサイクルで読み出される先頭の画素データ「1」,
「2」,「3」が書き込まれ、バッファメモリ12Aに
は画素データ「4」が書き込まれる。バッファメモリ1
2A〜12Dの書込み速度は、読出速度より速いタイミ
ングに選定しているから、各バッファメモリ12A〜1
2Dには常に或る量の画素データが蓄積されている。従
って、画素データの書込みが一時禁止されても読み出し
に支障が生じることはない。最終画素データ5Nがバッ
ファメモリ12Aに書き込まれた後、次のサイクルで点
線で示すようにバッファメモリ12B,12C,12D
の順に書込みが行われている。
At the same time, the switching circuits 11A to 11D switch from the first state to the second state, so that the buffer memories 12B, 12C and 12D in which writing is prohibited read at the beginning of the next cycle. Pixel data of "1",
"2" and "3" are written, and the pixel data "4" is written in the buffer memory 12A. Buffer memory 1
Since the writing speed of 2A to 12D is selected to be faster than the reading speed, each of the buffer memories 12A to 1D is selected.
A certain amount of pixel data is always stored in 2D. Therefore, even if the writing of the pixel data is temporarily prohibited, the reading will not be hindered. After the final pixel data 5N is written in the buffer memory 12A, the buffer memories 12B, 12C, 12D are indicated by the dotted line in the next cycle.
Writing is performed in the order of.

【0024】図5はバッファメモリ12A〜12Dから
読み出される画素データと、多重化された画素データの
様子を示す。図5Aは各バッファメモリ12A〜12D
に与える読出パルスを示す。図5Bは読出パルスによっ
て各バッファメモリ12A〜12Dから読み出された画
素データ、図5Cは多重化回路3の多重化出力を示す。
以上の説明では、パターン格納メモリ1の記憶領域の数
が4で、被試験LCDパネルの総画素数が4と5の倍数
の場合を説明したが、総画素数が3の倍数であっても、
切替回路11A〜11Dの切替えによってインターリー
ブ動作が正常に動作するように制御することができる。
また総画素数が3,4,5の倍数でなくとも、2の倍
数、6の倍数の場合も同様に制御することができる。4
の倍数以外の偶数倍の場合は、最終画素データが書き込
まれるバッファメモリは12Bと12Dとなる。バッフ
ァメモリは12Dに最終画素データが書き込まれて一画
面の描画を終了した場合は、切替回路11A〜11Dは
第1の切替状態を維持し、バッファメモリ12Bに最終
画素データが書き込まれた場合は、切替回路11A〜1
1Dを第3の切替状態、つまり記憶領域Aから読み出さ
れる先頭の画素データ「1」をバッファメモリ12Cに
書き込む状態に切替えればよいことになる。
FIG. 5 shows a state of pixel data read from the buffer memories 12A to 12D and multiplexed pixel data. FIG. 5A shows buffer memories 12A to 12D.
Shows the read pulse applied to. 5B shows pixel data read from each of the buffer memories 12A to 12D by a read pulse, and FIG. 5C shows a multiplexed output of the multiplexing circuit 3.
In the above description, the case where the number of storage areas of the pattern storage memory 1 is 4 and the total number of pixels of the LCD panel under test is a multiple of 4 and 5 has been explained, but even if the total number of pixels is a multiple of 3. ,
The interleave operation can be controlled to operate normally by switching the switching circuits 11A to 11D.
Even if the total number of pixels is not a multiple of 3, 4, or 5, the same control can be performed when the total number of pixels is a multiple of 2 or a multiple of 6. 4
In the case of an even multiple other than the multiple of, the buffer memories into which the final pixel data is written are 12B and 12D. When the last pixel data is written in the buffer memory 12D and drawing of one screen is completed, the switching circuits 11A to 11D maintain the first switching state, and when the last pixel data is written in the buffer memory 12B. , Switching circuits 11A-1
It is only necessary to switch 1D to the third switching state, that is, to write the first pixel data “1” read from the storage area A into the buffer memory 12C.

【0025】また、パターン格納メモリ1に設けた記憶
領域の数も4以外の数に選定することもできる。記憶領
域の数を多く採れば、それだけパターン格納メモリ1の
読出速度を遅くできる利点が得られる。
Also, the number of storage areas provided in the pattern storage memory 1 can be selected to a number other than four. If the number of storage areas is increased, the advantage that the reading speed of the pattern storage memory 1 can be slowed down is obtained.

【0026】[0026]

【発明の効果】以上説明したように、この発明によれば
バッファメモリと、複数の記憶領域から読み出される画
素データを切替えてバッファメモリに与える切替回路と
を設けたことにより、被試験LCDパネルの総画素数が
パターン格納メモリ1に設けた記憶領域の数の倍数でな
い場合でも正常にインターリーブ動作を行わせ、高速多
重化信号を発生させることができる。よって汎用性の高
いLCDパネル試験用パターン発生装置を提供すること
ができる。
As described above, according to the present invention, by providing the buffer memory and the switching circuit for switching the pixel data read from the plurality of storage areas and supplying the same to the buffer memory, the LCD panel to be tested is provided. Even when the total number of pixels is not a multiple of the number of storage areas provided in the pattern storage memory 1, the interleave operation can be performed normally and the high speed multiplexed signal can be generated. Therefore, it is possible to provide a highly versatile LCD panel test pattern generator.

【図面の簡単な説明】[Brief description of the drawings]

【図1】この発明によるLCDパネル試験用パターン発
生装置の一実施例を示すブロック図。
FIG. 1 is a block diagram showing an embodiment of an LCD panel test pattern generator according to the present invention.

【図2】図1に示した実施例の動作を説明するための
図。
FIG. 2 is a diagram for explaining the operation of the embodiment shown in FIG.

【図3】図1に示した実施例の動作を説明するための
図。
FIG. 3 is a diagram for explaining the operation of the embodiment shown in FIG.

【図4】図1に示した実施例の動作を説明するための波
形図。
4 is a waveform chart for explaining the operation of the embodiment shown in FIG.

【図5】図1に示した実施例の動作を説明するための波
形図。
5 is a waveform diagram for explaining the operation of the embodiment shown in FIG.

【図6】従来の技術を説明するためのブロック図。FIG. 6 is a block diagram for explaining a conventional technique.

【図7】図6の動作を説明するための図。FIG. 7 is a diagram for explaining the operation of FIG.

【符号の説明】[Explanation of symbols]

1 パターン格納メモリ 2 多重化回路 11A〜11D 切替回路 12A〜12D バッファメモリ 13 書込パルス発生器 14 読出パルス発生器 1 Pattern Storage Memory 2 Multiplexing Circuit 11A-11D Switching Circuit 12A-12D Buffer Memory 13 Write Pulse Generator 14 Read Pulse Generator

Claims (1)

【特許請求の範囲】[Claims] 【請求項1】 A.一度に読み出されるn個の画素デー
タの多重化順序に従って1〜nまで順序付けされたn個
の記憶領域を持つパターン格納メモリと、 B.このパターン格納メモリから読み出されるn個の画
素データが書き込まれ、書込と読出を独立して実行する
ことができるn個のバッファメモリと、 C.被試験LCDパネルに与える最終画素データが書き
込まれるバッファメモリが上記順序付けされた記憶領域
のn番目に対応するバッファメモリ以外のバッファメモ
リであった場合は、上記順序の1番目のバッファメモリ
から最終画素データが書き込まれたバッファメモリまで
の各バッファメモリに書込パルスを与え、それ以外のバ
ッファメモリは書込を禁止させる書込パルス発生器と、 D.書込の禁止が発生した場合に、書込が禁止された先
頭のバッファメモリに、次のサイクルで読み出される画
面の先頭の画素データを与えるように、上記記憶領域と
バッファメモリとの間の接続関係を切替える切替回路
と、 によって構成したことを特徴とする液晶表示パネル試験
用パターン発生装置。
1. A. First Embodiment A pattern storage memory having n storage areas ordered from 1 to n according to a multiplexing order of n pixel data read at one time; N pixel memories to which n pieces of pixel data read from the pattern storage memory are written, and writing and reading can be independently performed; If the buffer memory in which the last pixel data to be given to the LCD panel under test is written is a buffer memory other than the buffer memory corresponding to the nth storage area in the ordered storage area, the last pixel from the first buffer memory in the above order. A write pulse generator that applies a write pulse to each buffer memory up to the buffer memory in which data is written, and disables writing to the other buffer memories; When writing prohibition occurs, the connection between the above storage area and the buffer memory is provided so that the pixel data at the beginning of the screen read in the next cycle is given to the beginning buffer memory where writing is prohibited. A pattern generation device for a liquid crystal display panel test, comprising a switching circuit for switching relationships.
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