JPH088661A - 集積回路装置 - Google Patents
集積回路装置Info
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- JPH088661A JPH088661A JP7175331A JP17533195A JPH088661A JP H088661 A JPH088661 A JP H088661A JP 7175331 A JP7175331 A JP 7175331A JP 17533195 A JP17533195 A JP 17533195A JP H088661 A JPH088661 A JP H088661A
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- amplification stage
- circuit arrangement
- coupling
- power supply
- resistors
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-
- H—ELECTRICITY
- H03—ELECTRONIC CIRCUITRY
- H03F—AMPLIFIERS
- H03F3/00—Amplifiers with only discharge tubes or only semiconductor devices as amplifying elements
- H03F3/181—Low frequency amplifiers, e.g. audio preamplifiers
- H03F3/183—Low frequency amplifiers, e.g. audio preamplifiers with semiconductor devices only
- H03F3/185—Low frequency amplifiers, e.g. audio preamplifiers with semiconductor devices only with field-effect devices
-
- H—ELECTRICITY
- H03—ELECTRONIC CIRCUITRY
- H03F—AMPLIFIERS
- H03F1/00—Details of amplifiers with only discharge tubes, only semiconductor devices or only unspecified devices as amplifying elements
- H03F1/56—Modifications of input or output impedances, not otherwise provided for
Abstract
(57)【要約】
【目的】 特に低周波信号を交流結合するのに適し、I
C内に完全に集積することのできる回路装置を提供す
る。 【構成】 2つの低インピーダンス差動出力端を備えた
第1増幅段が、交流結合段の2つの結合コンデンサを介
して第2増幅段の2つの高インピーダンス差動入力端に
接続されている。第2増幅段の動作点を調整するために
その入力端は、抵抗器として設けられる各1つのMOS
トランジスタを介して第1電源端子に接続されており、
この電源端子を介して動作電流が回路装置に供給され
る。抵抗器として設けられるこれらのMOSトランジス
タの動作点の調整は、第1電源端子に接続される別のM
OSトランジスタを介して行われる。抵抗器として設け
られるこのようなMOSトランジスタでもつて高い抵抗
値を調整することができる。その結果小さな結合コンデ
ンサで交流結合段の大きな時定数を実現することもでき
る。
C内に完全に集積することのできる回路装置を提供す
る。 【構成】 2つの低インピーダンス差動出力端を備えた
第1増幅段が、交流結合段の2つの結合コンデンサを介
して第2増幅段の2つの高インピーダンス差動入力端に
接続されている。第2増幅段の動作点を調整するために
その入力端は、抵抗器として設けられる各1つのMOS
トランジスタを介して第1電源端子に接続されており、
この電源端子を介して動作電流が回路装置に供給され
る。抵抗器として設けられるこれらのMOSトランジス
タの動作点の調整は、第1電源端子に接続される別のM
OSトランジスタを介して行われる。抵抗器として設け
られるこのようなMOSトランジスタでもつて高い抵抗
値を調整することができる。その結果小さな結合コンデ
ンサで交流結合段の大きな時定数を実現することもでき
る。
Description
【0001】
【産業上の利用分野】本発明は、請求項1の前提部分に
記載された集積回路装置(IC)に関する。
記載された集積回路装置(IC)に関する。
【0002】
【従来の技術】2つの増幅段が前後に設けられるこのよ
うな回路装置はICにおいて、普通信号を増幅するのに
利用される。直流結合の場合、即ち増幅段が互いに直接
接続されている場合、第1増幅段のオフセツト電圧がそ
の信号電圧と同程度に一緒に増幅される。そのことから
後続の第2増幅段の動作点が移動してICの機能性を損
なう。
うな回路装置はICにおいて、普通信号を増幅するのに
利用される。直流結合の場合、即ち増幅段が互いに直接
接続されている場合、第1増幅段のオフセツト電圧がそ
の信号電圧と同程度に一緒に増幅される。そのことから
後続の第2増幅段の動作点が移動してICの機能性を損
なう。
【0003】動作点の移動は交流結合を利用することに
よつて防止することができる。このために第1増幅段の
出力端はICの外側に設けられる外部結合コンデンサを
介して第2増幅段の入力端に接続される。信号分岐中に
挿入されるこのような結合コンデンサによつて、第1増
幅段の出力端に現れる信号電圧の交流成分のみが第2増
幅段に伝送可能となる。直流成分は、従つてオフセツト
電圧も信号電圧から濾別される。結合コンデンサは、特
に低周彼信号電圧を伝送するために比較的大きくなけれ
ばならず、そのためにIC内に集積することができない
ので、外部部材として実施されている。しかしこのよう
な交流結合は、それを実現するために付加的外部部材が
必要となるので費用がかかる。更にこの外部部材は、付
加的基板面とICケースに2つの付加的端子とを必要と
する。後者は主要な欠点と見なさねばならない。という
のもICケースが大きくなると、価格が上昇する他に高
周波特性も劣化するからである。
よつて防止することができる。このために第1増幅段の
出力端はICの外側に設けられる外部結合コンデンサを
介して第2増幅段の入力端に接続される。信号分岐中に
挿入されるこのような結合コンデンサによつて、第1増
幅段の出力端に現れる信号電圧の交流成分のみが第2増
幅段に伝送可能となる。直流成分は、従つてオフセツト
電圧も信号電圧から濾別される。結合コンデンサは、特
に低周彼信号電圧を伝送するために比較的大きくなけれ
ばならず、そのためにIC内に集積することができない
ので、外部部材として実施されている。しかしこのよう
な交流結合は、それを実現するために付加的外部部材が
必要となるので費用がかかる。更にこの外部部材は、付
加的基板面とICケースに2つの付加的端子とを必要と
する。後者は主要な欠点と見なさねばならない。という
のもICケースが大きくなると、価格が上昇する他に高
周波特性も劣化するからである。
【0004】
【発明が解決しようとする課題】本発明の課題は、最初
に述べられた欠点を生じることなしに第1増幅段から第
2増幅段への信号伝送を実現することのできる、請求項
1の前提部分に記載された回路装置を提供することであ
る。
に述べられた欠点を生じることなしに第1増幅段から第
2増幅段への信号伝送を実現することのできる、請求項
1の前提部分に記載された回路装置を提供することであ
る。
【0005】
【課題を解決するための手段】この課題が本発明によれ
ば、請求項1の特徴部分の特徴によつて解決される。有
利な構成及び展開は従属請求項から明らかとなる。
ば、請求項1の特徴部分の特徴によつて解決される。有
利な構成及び展開は従属請求項から明らかとなる。
【0006】本発明による回路装置では、第1増幅段が
2つの差動出力端を有し、第2増幅段は、好ましくはM
OS入力端として実施される2つの高インピーダンス差
動入力端を有する。第1増幅段から第2増幅段への信号
伝送は交流結合段を介して行われ、この結合段はIC内
に集積される2つの結合コンデンサとして構成されてい
る。第1増幅段の差動出力端はそれぞれ1つの結合コン
デンサを介して第2増幅段の1つの差動入力端に接続さ
れている。第2増幅段の動作点を調整するために、この
段の2つの差動入力端は、IC内に抵抗器として設けら
れる各1つのMOSトランジスタを介して第1電源端子
で電源に接続される。抵抗器として設けられるこの2つ
のMOSトランジスタのゲート端子には、好ましくは第
2電源端子を介して基準電位が供給される。抵抗器とし
て設けられるこのようなMOSトランジスタでもつて高
い抵抗値を実現することができるので、小さな結合コン
デンサでも交流結合段の大きな時定数を実現することが
できる。
2つの差動出力端を有し、第2増幅段は、好ましくはM
OS入力端として実施される2つの高インピーダンス差
動入力端を有する。第1増幅段から第2増幅段への信号
伝送は交流結合段を介して行われ、この結合段はIC内
に集積される2つの結合コンデンサとして構成されてい
る。第1増幅段の差動出力端はそれぞれ1つの結合コン
デンサを介して第2増幅段の1つの差動入力端に接続さ
れている。第2増幅段の動作点を調整するために、この
段の2つの差動入力端は、IC内に抵抗器として設けら
れる各1つのMOSトランジスタを介して第1電源端子
で電源に接続される。抵抗器として設けられるこの2つ
のMOSトランジスタのゲート端子には、好ましくは第
2電源端子を介して基準電位が供給される。抵抗器とし
て設けられるこのようなMOSトランジスタでもつて高
い抵抗値を実現することができるので、小さな結合コン
デンサでも交流結合段の大きな時定数を実現することが
できる。
【0007】本発明による回路装置は以下の利点をもた
らす: −それはIC内に完全に集積することができ、又外部部
材が必要とされないので安価に製造することができる。 −ICのケースは交流結合用に必要な外部部材のための
端子が必要でないので、小さく抑えることができる。こ
れにより回路装置の高周波特性が良好となり、同時にケ
ース費か低く抑えられる。 −例えば抵抗器として設けられる2つのMOSトランジ
スタの抵抗特性が理想的抵抗特性から外れることによつ
て交流結合信号電圧の障害が生じるが、これらの障害は
回路装置の差動構造に基づいて広い電圧範囲にわたつて
補償される。その結果、この回路装置はひずみ率が小さ
い。こうして第1増幅段は高い信号レベルで作動させる
ことができ、そのことから交流結合信号電圧のSN比が
良好となる。 −この回路装置は、IC内に集積可能な小さな結合コン
デンサで交流結合段の大きな時定数を実現することがで
きるので、主として低周波信号電圧を交流結合するのに
適している。
らす: −それはIC内に完全に集積することができ、又外部部
材が必要とされないので安価に製造することができる。 −ICのケースは交流結合用に必要な外部部材のための
端子が必要でないので、小さく抑えることができる。こ
れにより回路装置の高周波特性が良好となり、同時にケ
ース費か低く抑えられる。 −例えば抵抗器として設けられる2つのMOSトランジ
スタの抵抗特性が理想的抵抗特性から外れることによつ
て交流結合信号電圧の障害が生じるが、これらの障害は
回路装置の差動構造に基づいて広い電圧範囲にわたつて
補償される。その結果、この回路装置はひずみ率が小さ
い。こうして第1増幅段は高い信号レベルで作動させる
ことができ、そのことから交流結合信号電圧のSN比が
良好となる。 −この回路装置は、IC内に集積可能な小さな結合コン
デンサで交流結合段の大きな時定数を実現することがで
きるので、主として低周波信号電圧を交流結合するのに
適している。
【0008】この回路装置は、利用可能な半導体技術が
ICへのMOSトランジスタ及び結合コンデンサの集積
を可能とする場合、及び特に低周波信号電圧の交流結合
を実施可能とすべきである場合、いつでも使用すること
ができる。
ICへのMOSトランジスタ及び結合コンデンサの集積
を可能とする場合、及び特に低周波信号電圧の交流結合
を実施可能とすべきである場合、いつでも使用すること
ができる。
【0009】
【実施例】図に示された実施例に基づいて、以下本発明
による回路装置を詳しく説明する。図によれば、この回
路装置が第1増幅段V1と、第2増幅段V2と、2つの
結合コンデンサC1,C′1を備えた交流結合段と、P
MOSトランジスタとして実施されて抵抗器として設け
られる2つのMOSトランジスタM1,M′1と、やは
りPMOSトランジスタとして実施される別のMOSト
ランジスタM2とを有する。第1増幅段V1は2つの低
インピーダンス差動出力端A1,A′1を有し、又高増
幅のときに付加的雑音を防止すべきであるので、1つの
バイポーラ入力端Eを有する。第2増幅段V2は2つの
差動MOS入力端E1,E′1、即ち高インピーダンス
外部差動入力端を備えた計器用増幅器として構成されて
いる。第1増幅段V1の出力端A1又はA′1は結合コ
ンデンサC1又はC′1を介して第2増幅段V2の入力
端E1又はE′1に接続されている。第2増幅段V2の
入力端E1又はE′1は、更に抵抗器として設けられる
MOSトランジスタM1又はM′1のドレイン端子に接
続されている。別のMOSトランジスタM2のドレイン
端子及びゲート端子と、抵抗器として設けられる2つの
MOSトランジスタM1,M′1のゲート端子は、第2
電源端子Cで互いに接続されて、地電位に接続されてい
る。抵抗器として設けられる2つのMOSトランジスタ
M1,M′1のソース端子と、別のMOSトランジスタ
M2のソース端子は、動作電流IBiasが供給される
第1電源端子Bで互いに接続されている。別のMOSト
ランジスタM2を流れる電流に基づいて、そのソース端
子に、即ち第1電源端子Bに動作電位が現れる。抵抗器
として設けられる2つのMOSトランジスタM1,M′
1はこれによつてバイアスが掛けられる。抵抗器として
設けられる2つのMOSトランジスタM1,M′1の好
適なW/L比(1より著しく小さい、例えば2.5/6
00)と適切に設計される動作電流IBiasとに基づ
いて第2増幅段V2の入力端E1,E′1に高抵抗が現
れる。IC内に問題なく集積することのできる20pF
結合コンデンサC1,C′1でもつてこの場合低周波信
号の交流結合を実行することができる。
による回路装置を詳しく説明する。図によれば、この回
路装置が第1増幅段V1と、第2増幅段V2と、2つの
結合コンデンサC1,C′1を備えた交流結合段と、P
MOSトランジスタとして実施されて抵抗器として設け
られる2つのMOSトランジスタM1,M′1と、やは
りPMOSトランジスタとして実施される別のMOSト
ランジスタM2とを有する。第1増幅段V1は2つの低
インピーダンス差動出力端A1,A′1を有し、又高増
幅のときに付加的雑音を防止すべきであるので、1つの
バイポーラ入力端Eを有する。第2増幅段V2は2つの
差動MOS入力端E1,E′1、即ち高インピーダンス
外部差動入力端を備えた計器用増幅器として構成されて
いる。第1増幅段V1の出力端A1又はA′1は結合コ
ンデンサC1又はC′1を介して第2増幅段V2の入力
端E1又はE′1に接続されている。第2増幅段V2の
入力端E1又はE′1は、更に抵抗器として設けられる
MOSトランジスタM1又はM′1のドレイン端子に接
続されている。別のMOSトランジスタM2のドレイン
端子及びゲート端子と、抵抗器として設けられる2つの
MOSトランジスタM1,M′1のゲート端子は、第2
電源端子Cで互いに接続されて、地電位に接続されてい
る。抵抗器として設けられる2つのMOSトランジスタ
M1,M′1のソース端子と、別のMOSトランジスタ
M2のソース端子は、動作電流IBiasが供給される
第1電源端子Bで互いに接続されている。別のMOSト
ランジスタM2を流れる電流に基づいて、そのソース端
子に、即ち第1電源端子Bに動作電位が現れる。抵抗器
として設けられる2つのMOSトランジスタM1,M′
1はこれによつてバイアスが掛けられる。抵抗器として
設けられる2つのMOSトランジスタM1,M′1の好
適なW/L比(1より著しく小さい、例えば2.5/6
00)と適切に設計される動作電流IBiasとに基づ
いて第2増幅段V2の入力端E1,E′1に高抵抗が現
れる。IC内に問題なく集積することのできる20pF
結合コンデンサC1,C′1でもつてこの場合低周波信
号の交流結合を実行することができる。
【0010】交流結合信号電圧のひずみ率は、回路装置
の差動構造の故に、信号振幅がIVの場合でも1%未満
である。結合コンデンサC1,C′1を介して伝送され
る信号電圧のSN比は交流結合によつてほとんど影響を
受けない。
の差動構造の故に、信号振幅がIVの場合でも1%未満
である。結合コンデンサC1,C′1を介して伝送され
る信号電圧のSN比は交流結合によつてほとんど影響を
受けない。
【図1】本発明による回路装置を示す。
A1,A′1 差動出力端 B 第1電源端子 C1,C′1 結合コンデンサ E1,E′1 高インピーダンス差動入力端 V1 第1増幅段 V2 第2増幅段
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (72)発明者 ホルスト・ヘーフネル ドイツ連邦共和国ハイルブロン・アウフ・ デル・シヤンツ25 (72)発明者 ヘルマン・ハンメル ドイツ連邦共和国ロート・アム・ゼー・ム ースドルフ11 (72)発明者 ヘンリク・グツチユ ドイツ連邦共和国ハイルブロン・ケルテン シユトラーセ6
Claims (9)
- 【請求項1】 第1増幅段(V1)とその後段に設けら
れる第2増幅段(V2)とを備えた集積回路装置におい
て、 −第1増幅段(V1)が2つの差動出力端(A1,A′
1)を有し、 −第2増輻段(V2)が2つの高インピーダンス差動入
力端(E1,E′1)を有し、 −回路装置が交流結合のために2つの結合コンデンサ
(C1,C′1)を備えた結合段を有し、これらの結合
コンデンサが第1増幅段(V1)の差動出力端(A1又
はA′1)のそれぞれ1つを第2増幅段(V2)の差動
入力端(E1又はE′1)の1つに接続し、 −回路装置が第2増幅段(V2)の動作点を調整するた
めに、抵抗器として設けられる2つのMOSトランジス
タ(M1,M′1)を有し、これらのトランジスタが第
1電源端子(B)を第2増幅段(V2)の差動入力端
(E1又はE′1)の各一方に接続することを特徴とす
る、集積回路装置。 - 【請求項2】 第2増幅段(V2)の差動入力端(E
1,E′1)がMOS入力端として実施されていること
を特徴とする、請求項1に記載の回路装置。 - 【請求項3】 第2増幅段(V2)が計器用増幅器とし
て構成されていることを特徴とする、請求項1又は2に
記載の回路装置。 - 【請求項4】 第1増幅段(V1)が差動式に又は非対
称に実施されるバイポーラ入力端(E)を有することを
特徴とする、請求項1ないし3の1つに記載の回路装
置。 - 【請求項5】 抵抗器として設けられる2つのMOSト
ランジスタ(M1,M′1)の動作点を調整するために
1つの別のMOSトランジスタ(M2)が設けられてお
り、そのドレイン端子が第2電源端子(C)がそのゲー
ト端子に、及び抵抗器として設けられる2つのMOSト
ランジスタ(M1,M′1)のゲート端子に接続され、
又そのソース端子が第1電源端子(B)で抵抗器として
設けられる2つのMOSトランジスタ(M1,M′1)
のソース端子に接続されていることを特徴とする、請求
項1ないし4の1つに記載の回路装置。 - 【請求項6】 第2電源端子(C)が地電位に接続され
ていることを特徴とする、請求項5に記載の回路装置。 - 【請求項7】 第1電源端子(B)に動作電流(I
Bias)が供給されることを特徴とする、請求項1な
いし6の1つに記載の回路装置。 - 【請求項8】 抵抗器として設けられる2つのMOSト
ランジスタ(M1,M′1)と別のMOSトランジスタ
(M2)がPMOSトランジスタとして構成されている
ことを特徴とする、請求項1ないし7の1つに記載の回
路装置。 - 【請求項9】 低周波信号を交流結合することへの、請
求項1ないし8の1つに記載された回路装置の使用。
Applications Claiming Priority (2)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
DE4421072.8 | 1994-06-16 | ||
DE4421072A DE4421072C2 (de) | 1994-06-16 | 1994-06-16 | Schaltungsanordnung |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPH088661A true JPH088661A (ja) | 1996-01-12 |
Family
ID=6520754
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP7175331A Pending JPH088661A (ja) | 1994-06-16 | 1995-06-08 | 集積回路装置 |
Country Status (4)
Country | Link |
---|---|
EP (1) | EP0688096B1 (ja) |
JP (1) | JPH088661A (ja) |
DE (2) | DE4421072C2 (ja) |
TW (1) | TW278274B (ja) |
Families Citing this family (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
DE10023524C2 (de) * | 2000-05-13 | 2002-07-11 | Micronas Gmbh | Zweistufiger Verstärker |
EP1274171A1 (en) | 2001-07-05 | 2003-01-08 | Telefonaktiebolaget L M Ericsson (Publ) | Differential line receiver |
Family Cites Families (7)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US4050030A (en) * | 1975-02-12 | 1977-09-20 | National Semiconductor Corporation | Offset adjustment circuit |
FR2316788A1 (fr) * | 1975-07-01 | 1977-01-28 | Commissariat Energie Atomique | Procede et dispositif d'elimination de la tension residuelle d'erreur d'un amplificateur |
US4327332A (en) * | 1980-01-31 | 1982-04-27 | Rca Corporation | Circuit arrangement useful in developing decoupled operating voltages for IF amplifier stages of an integrated circuit |
US4442410A (en) * | 1981-10-29 | 1984-04-10 | Halliburton Company | Temperature stabilized amplifier for borehole use |
FR2555839B1 (fr) * | 1983-11-25 | 1986-01-24 | Thomson Csf | Dispositif amplificateur-limiteur a large bande |
EP0491980B1 (de) * | 1990-12-22 | 1996-10-09 | Deutsche ITT Industries GmbH | Spannungsregler mit einem CMOS-Transkonduktanzverstärker mit gleitendem Arbeitspunkt |
US5166636A (en) * | 1991-07-09 | 1992-11-24 | Sgs-Thomson Microelectronics, Inc. | Dynamic biasing for class a amplifier |
-
1994
- 1994-06-16 DE DE4421072A patent/DE4421072C2/de not_active Expired - Fee Related
-
1995
- 1995-03-24 TW TW084102865A patent/TW278274B/zh active
- 1995-06-02 EP EP95108517A patent/EP0688096B1/de not_active Expired - Lifetime
- 1995-06-02 DE DE59505249T patent/DE59505249D1/de not_active Expired - Lifetime
- 1995-06-08 JP JP7175331A patent/JPH088661A/ja active Pending
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
DE4421072A1 (de) | 1995-12-21 |
EP0688096B1 (de) | 1999-03-10 |
DE59505249D1 (de) | 1999-04-15 |
TW278274B (ja) | 1996-06-11 |
DE4421072C2 (de) | 1996-09-05 |
EP0688096A1 (de) | 1995-12-20 |
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