JPH0884431A - 電流信号の補正方法およびその装置 - Google Patents
電流信号の補正方法およびその装置Info
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- JPH0884431A JPH0884431A JP7094948A JP9494895A JPH0884431A JP H0884431 A JPH0884431 A JP H0884431A JP 7094948 A JP7094948 A JP 7094948A JP 9494895 A JP9494895 A JP 9494895A JP H0884431 A JPH0884431 A JP H0884431A
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- 238000012937 correction Methods 0.000 title claims abstract description 57
- 238000000034 method Methods 0.000 title claims abstract description 33
- 238000005070 sampling Methods 0.000 claims description 13
- 238000012545 processing Methods 0.000 claims description 10
- 238000005259 measurement Methods 0.000 claims description 7
- 238000004364 calculation method Methods 0.000 claims description 3
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 7
- 238000004804 winding Methods 0.000 description 6
- 230000005415 magnetization Effects 0.000 description 3
- 230000004044 response Effects 0.000 description 3
- 238000011161 development Methods 0.000 description 2
- 230000001747 exhibiting effect Effects 0.000 description 2
- 230000015556 catabolic process Effects 0.000 description 1
- 230000008859 change Effects 0.000 description 1
- 239000004020 conductor Substances 0.000 description 1
- 238000006731 degradation reaction Methods 0.000 description 1
- 230000004069 differentiation Effects 0.000 description 1
- 230000006870 function Effects 0.000 description 1
- 238000012886 linear function Methods 0.000 description 1
- 230000005405 multipole Effects 0.000 description 1
- 230000008569 process Effects 0.000 description 1
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- H—ELECTRICITY
- H02—GENERATION; CONVERSION OR DISTRIBUTION OF ELECTRIC POWER
- H02H—EMERGENCY PROTECTIVE CIRCUIT ARRANGEMENTS
- H02H9/00—Emergency protective circuit arrangements for limiting excess current or voltage without disconnection
-
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- H02—GENERATION; CONVERSION OR DISTRIBUTION OF ELECTRIC POWER
- H02H—EMERGENCY PROTECTIVE CIRCUIT ARRANGEMENTS
- H02H1/00—Details of emergency protective circuit arrangements
- H02H1/04—Arrangements for preventing response to transient abnormal conditions, e.g. to lightning or to short duration over voltage or oscillations; Damping the influence of dc component by short circuits in ac networks
- H02H1/046—Arrangements for preventing response to transient abnormal conditions, e.g. to lightning or to short duration over voltage or oscillations; Damping the influence of dc component by short circuits in ac networks upon detecting saturation of current transformers
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- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01R—MEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
- G01R15/00—Details of measuring arrangements of the types provided for in groups G01R17/00 - G01R29/00, G01R33/00 - G01R33/26 or G01R35/00
- G01R15/14—Adaptations providing voltage or current isolation, e.g. for high-voltage or high-current networks
- G01R15/18—Adaptations providing voltage or current isolation, e.g. for high-voltage or high-current networks using inductive devices, e.g. transformers
- G01R15/183—Adaptations providing voltage or current isolation, e.g. for high-voltage or high-current networks using inductive devices, e.g. transformers using transformers with a magnetic core
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- Stabilization Of Oscillater, Synchronisation, Frequency Synthesizers (AREA)
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Abstract
(57)【要約】
【目的】 検出器によって歪められた電流信号を補正可
能にする補正方法および装置、ならびに、電子引きはず
し装置におけるこの方法の応用を実現する。 【構成】 電流検出器によって供給された整流電流に対
応する信号１１が補正回路の入力に供給される。理論的
信号１０の形状に関して歪んだ前記補正回路の入力信号
１１の形状は、実効値または平均電流値の誤りを低減さ
せるように補正される。補正回路の出力信号は、出力信
号と入力信号１１との差が制限値よりも小さい場合は入
力信号に等しい。逆の場合、出力信号は制限値に等しい
変分信号１２と同一である。測定装置および引きはずし
継電器への応用。
能にする補正方法および装置、ならびに、電子引きはず
し装置におけるこの方法の応用を実現する。 【構成】 電流検出器によって供給された整流電流に対
応する信号１１が補正回路の入力に供給される。理論的
信号１０の形状に関して歪んだ前記補正回路の入力信号
１１の形状は、実効値または平均電流値の誤りを低減さ
せるように補正される。補正回路の出力信号は、出力信
号と入力信号１１との差が制限値よりも小さい場合は入
力信号に等しい。逆の場合、出力信号は制限値に等しい
変分信号１２と同一である。測定装置および引きはずし
継電器への応用。
Description
【０００１】
【産業上の利用分野】本発明は、歪んだ電流信号の補正
方法およびその装置、ならびに、当該装置を含む電気引
きはずし装置に関する。
方法およびその装置、ならびに、当該装置を含む電気引
きはずし装置に関する。
【０００２】
【従来の技術およびその課題】交流電流では、電流検出
器は一般に、磁気回路を含む変流器である。一次巻線に
は測定される電流が流れ、二次巻線には測定される電流
に対応する電流が流れる。電流検出器は、公知の方式
で、しゃ断器用の電子引きはずし装置と一体となってい
る。この種の製品では、二次巻線の電流に対応する信号
が、所定の引きはずし曲線に従って補正を行うために処
理装置により使用される。処理装置は、熱保護曲線で使
用するために、電流の実効値および電流の平方値を計算
する。
器は一般に、磁気回路を含む変流器である。一次巻線に
は測定される電流が流れ、二次巻線には測定される電流
に対応する電流が流れる。電流検出器は、公知の方式
で、しゃ断器用の電子引きはずし装置と一体となってい
る。この種の製品では、二次巻線の電流に対応する信号
が、所定の引きはずし曲線に従って補正を行うために処
理装置により使用される。処理装置は、熱保護曲線で使
用するために、電流の実効値および電流の平方値を計算
する。
【０００３】電子引きはずし装置は、その定格電流より
も相当高い電流レベルで動作しなければならない。しか
し、あるしゃ断器の定格に関して、変流器が、引きはず
し装置の測定・保護範囲全体にわたる線形応答を有さな
い場合がある。こうした欠点は、高電流レベルでの変流
器の磁気回路の飽和、および、極めて低い電流レベルで
の磁化の不足が原因である。二次電流の値は理論値より
も低くなり、電流波形は異なる。電流波形の変化は、広
範な動作範囲にわたり、ピーク値よりも実効値または平
均値においていっそう劣化した変流器の電流応答につな
がる。
も相当高い電流レベルで動作しなければならない。しか
し、あるしゃ断器の定格に関して、変流器が、引きはず
し装置の測定・保護範囲全体にわたる線形応答を有さな
い場合がある。こうした欠点は、高電流レベルでの変流
器の磁気回路の飽和、および、極めて低い電流レベルで
の磁化の不足が原因である。二次電流の値は理論値より
も低くなり、電流波形は異なる。電流波形の変化は、広
範な動作範囲にわたり、ピーク値よりも実効値または平
均値においていっそう劣化した変流器の電流応答につな
がる。
【０００４】いくつかの公知の解決策は、この種の欠点
をある程度補正し得る。例えば、米国特許第４，８７
０，５３２号は、変流器により供給される電流に従って
測定インピーダンスを変化させる装置を提案している。
この解決法は、ピークまたは瞬時電流値に適用され、変
流器から電流を通過させることが可能な電力用電子部品
を必要とする。
をある程度補正し得る。例えば、米国特許第４，８７
０，５３２号は、変流器により供給される電流に従って
測定インピーダンスを変化させる装置を提案している。
この解決法は、ピークまたは瞬時電流値に適用され、変
流器から電流を通過させることが可能な電力用電子部品
を必要とする。
【０００５】
【課題を解決するための手段】本発明の目的は、検出器
によって歪められた電流信号を補正可能にする補正方法
および装置、ならびに、電子引きはずし装置におけるこ
の方法の応用を実現することである。
によって歪められた電流信号を補正可能にする補正方法
および装置、ならびに、電子引きはずし装置におけるこ
の方法の応用を実現することである。
【０００６】本発明に従えば、その方法は連続する補正
サイクルを含み、各サイクルは、 ・出力量の記憶装置への記憶と、 ・歪んだ電流信号に対応した入力量の測定と、 ・記憶装置に記憶された出力量と測定入力量との差の計
算と、 ・所定の制限値より小さいか等しい減分による変分を有
する出力量の新規値の決定とを含む。
サイクルを含み、各サイクルは、 ・出力量の記憶装置への記憶と、 ・歪んだ電流信号に対応した入力量の測定と、 ・記憶装置に記憶された出力量と測定入力量との差の計
算と、 ・所定の制限値より小さいか等しい減分による変分を有
する出力量の新規値の決定とを含む。
【０００７】好ましい実施例では、この新規出力値の決
定は、 ・前記差と所定の制限値との比較と、 ・その差が前記制限値より小さいか等しい場合、測定入
力量に等しい出力量の新規値の生成と、 ・その差が制限値より大きい場合、記憶装置に記憶され
た出力量と制限値との差に等しい出力量の新規値の生成
とを含む。
定は、 ・前記差と所定の制限値との比較と、 ・その差が前記制限値より小さいか等しい場合、測定入
力量に等しい出力量の新規値の生成と、 ・その差が制限値より大きい場合、記憶装置に記憶され
た出力量と制限値との差に等しい出力量の新規値の生成
とを含む。
【０００８】本発明の展開に従えば、各補正サイクルは
入力量のサンプリングサイクルに対応する。
入力量のサンプリングサイクルに対応する。
【０００９】特定の実施例において、入力量の測定は、
歪んだ電流信号の２以上の累乗を含む。
歪んだ電流信号の２以上の累乗を含む。
【００１０】本発明の展開に従えば、このプロセスは、
入力量の周波数に従って制限値を決定することを含む。
入力量の周波数に従って制限値を決定することを含む。
【００１１】本発明はまた、その方法の実施のための補
正装置、および、当該装置を含む引きはずし装置に関す
る。
正装置、および、当該装置を含む引きはずし装置に関す
る。
【００１２】
【実施例】図１は、変流器１を含む公知の形式の電子引
きはずし装置のブロック図を示す。変流器１は、一次電
流Ｉｐを電導する、主導体が入っている磁気回路２を含
む。この磁気回路に巻かれた二次巻線４は、一次電流Ｉ
ｐに比例した二次電流Ｉｓを供給する。二次巻線は、整
流回路５の入力に接続されている。整流回路の出力に接
続された測定用抵抗Ｒｍが整流電流を受ける。処理回路
６は、測定用抵抗Ｒｍに接続された入力端子および引き
はずし継電器７に接続された出力端子を有する。処理回
路は、二次電流Ｉｓの絶対値または整流値に対応した信
号をその入力端子から受信し、前記電流の値に応じて引
きはずし信号を供給する。
きはずし装置のブロック図を示す。変流器１は、一次電
流Ｉｐを電導する、主導体が入っている磁気回路２を含
む。この磁気回路に巻かれた二次巻線４は、一次電流Ｉ
ｐに比例した二次電流Ｉｓを供給する。二次巻線は、整
流回路５の入力に接続されている。整流回路の出力に接
続された測定用抵抗Ｒｍが整流電流を受ける。処理回路
６は、測定用抵抗Ｒｍに接続された入力端子および引き
はずし継電器７に接続された出力端子を有する。処理回
路は、二次電流Ｉｓの絶対値または整流値に対応した信
号をその入力端子から受信し、前記電流の値に応じて引
きはずし信号を供給する。
【００１３】この電子引きはずし装置は、定格電流値の
１／１０から１５倍までを範囲とすることができる広範
な測定範囲によって動作しなければならない。しかし、
一般の方式では、電流検出器または変流器は、低電流レ
ベルおよび高電流レベルにおいて歪んだ二次電流を生じ
る。低電流レベルでの歪みは磁化の不足によるものであ
り、他方、高電流レベルでの歪みは磁気回路の飽和が原
因である。
１／１０から１５倍までを範囲とすることができる広範
な測定範囲によって動作しなければならない。しかし、
一般の方式では、電流検出器または変流器は、低電流レ
ベルおよび高電流レベルにおいて歪んだ二次電流を生じ
る。低電流レベルでの歪みは磁化の不足によるものであ
り、他方、高電流レベルでの歪みは磁気回路の飽和が原
因である。
【００１４】整流二次電流を表す曲線を図２に示す。時
間ｔ１とｔ２との間では、整流二次電流｜Ｉｓ｜は、そ
の定格値に近い値を有しており、いかなる歪みも示して
いない。時間ｔ２と時間ｔ３との間では、電流は極めて
高く、歪んでいる。曲線８は、曲線９によって示される
理論正弦波電流が与え得る値よりも低い平均値または実
効値の歪んだ電流を示している。曲線８の歪んだ電流
は、曲線９の理論的電流の変分よりも初めに少なくとも
高速な変分で、ゼロ値に向けて早く低下している。
間ｔ１とｔ２との間では、整流二次電流｜Ｉｓ｜は、そ
の定格値に近い値を有しており、いかなる歪みも示して
いない。時間ｔ２と時間ｔ３との間では、電流は極めて
高く、歪んでいる。曲線８は、曲線９によって示される
理論正弦波電流が与え得る値よりも低い平均値または実
効値の歪んだ電流を示している。曲線８の歪んだ電流
は、曲線９の理論的電流の変分よりも初めに少なくとも
高速な変分で、ゼロ値に向けて早く低下している。
【００１５】補正方法の第１の実施例を図３に示す。曲
線１０は整流された理論正弦波信号を示し、曲線１１は
測定電流絶対値｜Ｉｓ｜に対応した歪んだ信号を示して
いる。この補正方法に従えば、曲線１２によって表され
た補正信号は、歪んだ信号１１があまりに急激にゼロに
向かって低下し始め、それが前記補正信号１２よりも低
いままである限り、ある値Ｌｉｍの範囲まで、歪んだ信
号１１に取って代わる。この図では、このことは時間ｔ
４とｔ５との間の場合である。このようにして、この補
正方法は、処理回路に供給される信号の低下を制限し、
その電流の平均値または実効値の誤りを補償する。
線１０は整流された理論正弦波信号を示し、曲線１１は
測定電流絶対値｜Ｉｓ｜に対応した歪んだ信号を示して
いる。この補正方法に従えば、曲線１２によって表され
た補正信号は、歪んだ信号１１があまりに急激にゼロに
向かって低下し始め、それが前記補正信号１２よりも低
いままである限り、ある値Ｌｉｍの範囲まで、歪んだ信
号１１に取って代わる。この図では、このことは時間ｔ
４とｔ５との間の場合である。このようにして、この補
正方法は、処理回路に供給される信号の低下を制限し、
その電流の平均値または実効値の誤りを補償する。
【００１６】この補正方法は、例えば、図３においては
その絶対値｜Ｉｓ｜、また、図４においてはその平方Ｉ
ｓ2 である、電流Ｉｓに対応する全部の値に適用するこ
とができる。
その絶対値｜Ｉｓ｜、また、図４においてはその平方Ｉ
ｓ2 である、電流Ｉｓに対応する全部の値に適用するこ
とができる。
【００１７】曲線１３は、電流が正弦曲線である場合の
その電流の平方の理論曲線を示す。曲線１４は測定電流
の平方の歪んだ曲線を示し、曲線１５は補正された曲線
を示す。制限値Ｌｉｍによって制御される安定した低下
を示す信号１５は、時間ｔ６から、信号１５よりも急速
な低下を示す信号１４に取って代わる。信号１５による
信号１４の置換は、信号１４が信号１５よりも低い間、
行われ続ける。新しい周期の開始に対応する時間ｔ７に
おいて、信号１３および信号１４は再び上昇し始める。
その後、時間ｔ８において、信号１４は信号１５よりも
大きくなるので、再び処理装置によって使用される。
その電流の平方の理論曲線を示す。曲線１４は測定電流
の平方の歪んだ曲線を示し、曲線１５は補正された曲線
を示す。制限値Ｌｉｍによって制御される安定した低下
を示す信号１５は、時間ｔ６から、信号１５よりも急速
な低下を示す信号１４に取って代わる。信号１５による
信号１４の置換は、信号１４が信号１５よりも低い間、
行われ続ける。新しい周期の開始に対応する時間ｔ７に
おいて、信号１３および信号１４は再び上昇し始める。
その後、時間ｔ８において、信号１４は信号１５よりも
大きくなるので、再び処理装置によって使用される。
【００１８】図４では、信号Ｉｅ（ｔ）2 、Ｉｃ（ｔ）
2 およびＩｃ（ｔ−１）2 の各サンプルが、信号Ｉｓ2
の補正方法を例示している。時間ｔ９において、サンプ
ルＩｅ（ｔ−１）2 は、それより高い値のサンプルＩｃ
（ｔ−１）2 によって補正・置換されている。サンプル
Ｉｃ（ｔ−１）2 の値は、次のサンプルＩｅ（ｔ）2の
補正が時間ｔ１０に実行される時に再使用されるために
記憶される。サンプルＩｅ（ｔ）2 は記憶されたサンプ
ルＩｃ（ｔ−１）2 よりも相当低いので、この補正方法
は、曲線１４のサンプルＩｅ（ｔ）2 を曲線１５のＩｃ
（ｔ−１）2 −Ｌｉｍに等しいサンプルＩｃ（ｔ）2 に
よって置換する。
2 およびＩｃ（ｔ−１）2 の各サンプルが、信号Ｉｓ2
の補正方法を例示している。時間ｔ９において、サンプ
ルＩｅ（ｔ−１）2 は、それより高い値のサンプルＩｃ
（ｔ−１）2 によって補正・置換されている。サンプル
Ｉｃ（ｔ−１）2 の値は、次のサンプルＩｅ（ｔ）2の
補正が時間ｔ１０に実行される時に再使用されるために
記憶される。サンプルＩｅ（ｔ）2 は記憶されたサンプ
ルＩｃ（ｔ−１）2 よりも相当低いので、この補正方法
は、曲線１４のサンプルＩｅ（ｔ）2 を曲線１５のＩｃ
（ｔ−１）2 −Ｌｉｍに等しいサンプルＩｃ（ｔ）2 に
よって置換する。
【００１９】電流の平方Ｉｓ2 の補正方法を実施する装
置を含む引きはずし装置の図を図５に示す。整流された
測定電流に対応する信号は、測定信号の平方を計算する
モジュール１６の入力に供給される。信号Ｉｓ2 を供給
するモジュール１６の出力は、補正装置１７の第１の入
力に接続されている。装置１７はまた、回路１８に記憶
された所定の制限値Ｌｉｍを第２の入力で受信する。処
理回路６の入力に接続された補正回路１７の出力は、そ
の補正方法に従って補正された電流に対応する信号Ｉｃ
2 を供給する。
置を含む引きはずし装置の図を図５に示す。整流された
測定電流に対応する信号は、測定信号の平方を計算する
モジュール１６の入力に供給される。信号Ｉｓ2 を供給
するモジュール１６の出力は、補正装置１７の第１の入
力に接続されている。装置１７はまた、回路１８に記憶
された所定の制限値Ｌｉｍを第２の入力で受信する。処
理回路６の入力に接続された補正回路１７の出力は、そ
の補正方法に従って補正された電流に対応する信号Ｉｃ
2 を供給する。
【００２０】第１の実施例に従って測定電流の絶対値に
適用された補正回路の構造が、図６に示されている。第
１の入力は二次電流の絶対値に対応する信号｜Ｉｓ｜を
受信する。第２の入力は制限値Ｌｉｍを受信し、出力は
補正された信号Ｉｃを供給する。この補正回路は、サン
プリング回路１９、最大値検出器２０、記憶回路２１お
よび振幅制限回路２２を含む。サンプリング回路１９
は、補正回路の第１の入力に接続された入力および最大
値検出器の第１の入力に接続された出力を有する。この
回路は、入力信号｜Ｉｓ｜に対応するサンプリング信号
Ｉｅをその出力で供給する。最大値検出器２０は、信号
ＩＬｉｍ（ｔ）を受信するために振幅制限回路２２の出
力に接続された第２の入力を有する。補正回路の出力に
相当する、最大値検出器の出力は、記憶回路２１の入力
に接続されている。最大値検出器２０の出力信号は、第
１の入力および第２の入力にそれぞれ供給される信号Ｉ
ｅと信号ＩＬｉｍとの間で選択される最高値に相当する
サンプルによって構成されている。記憶回路２１の出力
は振幅制限回路２２の第１の入力に接続されている。記
憶回路は、出力信号Ｉｃ（ｔ）の最終サンプルの値を保
持する。この回路は、Ｉｃ（ｔ）の以前の値に対応する
信号Ｉｃ（ｔ−１）を振幅制限回路に供給する。振幅制
限回路は、制限値ｌｉｍを受信するために、補正回路の
第２の入力に相当する第２の入力を有する。振幅制限回
路は、第１の入力に存在する補正回路の出力信号Ｉｃ
（ｔ−１）の値と制限値Ｌｉｍとの差に対応する信号Ｉ
Ｌｉｍ（ｔ）を最大値検出器に供給する。時間ｔにおけ
るＩＬｉｍ（ｔ）のサンプルの値は以下のように記すこ
とができる。
適用された補正回路の構造が、図６に示されている。第
１の入力は二次電流の絶対値に対応する信号｜Ｉｓ｜を
受信する。第２の入力は制限値Ｌｉｍを受信し、出力は
補正された信号Ｉｃを供給する。この補正回路は、サン
プリング回路１９、最大値検出器２０、記憶回路２１お
よび振幅制限回路２２を含む。サンプリング回路１９
は、補正回路の第１の入力に接続された入力および最大
値検出器の第１の入力に接続された出力を有する。この
回路は、入力信号｜Ｉｓ｜に対応するサンプリング信号
Ｉｅをその出力で供給する。最大値検出器２０は、信号
ＩＬｉｍ（ｔ）を受信するために振幅制限回路２２の出
力に接続された第２の入力を有する。補正回路の出力に
相当する、最大値検出器の出力は、記憶回路２１の入力
に接続されている。最大値検出器２０の出力信号は、第
１の入力および第２の入力にそれぞれ供給される信号Ｉ
ｅと信号ＩＬｉｍとの間で選択される最高値に相当する
サンプルによって構成されている。記憶回路２１の出力
は振幅制限回路２２の第１の入力に接続されている。記
憶回路は、出力信号Ｉｃ（ｔ）の最終サンプルの値を保
持する。この回路は、Ｉｃ（ｔ）の以前の値に対応する
信号Ｉｃ（ｔ−１）を振幅制限回路に供給する。振幅制
限回路は、制限値ｌｉｍを受信するために、補正回路の
第２の入力に相当する第２の入力を有する。振幅制限回
路は、第１の入力に存在する補正回路の出力信号Ｉｃ
（ｔ−１）の値と制限値Ｌｉｍとの差に対応する信号Ｉ
Ｌｉｍ（ｔ）を最大値検出器に供給する。時間ｔにおけ
るＩＬｉｍ（ｔ）のサンプルの値は以下のように記すこ
とができる。
【００２１】 Ｉｌｉｍ（ｔ）＝Ｉｃ（ｔ−１）−Ｌｉｍ （１） また、Ｉｃ（ｔ）の値は以下のように記すことができ
る。
る。
【００２２】 Ｉｃ（ｔ）＝ＭＡＸ（Ｉｅ（ｔ）；ＩＬｉｍ（ｔ）） （２） 従って、各サンプルにおいて、信号ＩＬｉｍ（ｔ）は、
補正信号Ｉｃ（ｔ−１）の以前の値を所定の値Ｌｉｍだ
け減じることによって計算される。こうして計算された
値ＩＬｉｍが測定信号Ｉｅよりも大きい場合、補正信号
Ｉｃは計算された値に等しい。すなわち、測定値Ｉｅが
計算値よりも大きい限り、補正信号Ｉｃは測定値Ｉｅと
同一である。このようにして、図６の補正回路は、図３
に示した補正方法を実施可能にする。
補正信号Ｉｃ（ｔ−１）の以前の値を所定の値Ｌｉｍだ
け減じることによって計算される。こうして計算された
値ＩＬｉｍが測定信号Ｉｅよりも大きい場合、補正信号
Ｉｃは計算された値に等しい。すなわち、測定値Ｉｅが
計算値よりも大きい限り、補正信号Ｉｃは測定値Ｉｅと
同一である。このようにして、図６の補正回路は、図３
に示した補正方法を実施可能にする。
【００２３】別の、より複雑な補正回路の実施例を図７
に示す。この回路は、図６の回路と同様、サンプリング
回路１９、記憶回路２１および振幅制限回路２２を含
む。図６の最大値検出器は削除されているが、この補正
回路は、微分回路２３、比較回路２４および選択回路２
５を含む。微分回路２３は、サンプリング回路１９の出
力と接続された第１の入力および記憶回路２１の出力と
接続された第２の入力の２つの入力を有する。微分回路
２３の出力は比較回路２４の第１の入力と接続されてい
る。比較回路２４の第２の入力は制限値Ｌｉｍを受信
し、選択回路２５と接続された比較回路２４の出力は制
御信号Ｓを選択回路２５に送信する。サンプリング回路
１９の出力と接続された選択回路２５の第１の入力は信
号Ｉｅ（ｔ）を受信し、振幅制限回路２２の出力と接続
された第２の入力は信号ＩＬｉｍ（ｔ）を受信する。補
正回路の出力に相当する選択回路２５の出力は、補正電
流の値に対応する信号Ｉｃ（ｔ）を供給する。微分回路
２３は、サンプリング回路１９から入力するサンプルＩ
ｅ（ｔ）と記憶回路２１に記憶された以前の補正サンプ
ルＩｃ（ｔ−１）との差を計算する。この微分回路２３
の出力信号の式はＩｃ（ｔ−１）−Ｉｅ（ｔ）である。
微分回路２３の出力信号はその後、比較回路２４におい
て制限値Ｌｉｍと比較される。差Ｉｃ（ｔ−１）−Ｉｅ
（ｔ）が制限値Ｌｉｍより大きければ、制御信号Ｓが選
択回路２５に対して、その第１の入力をその出力から切
断し、信号ＩＬｉｍを受信する第２の入力を出力と接続
するように設定する。この制限された電流信号ＩＬｉｍ
（ｔ）はその後、入力信号Ｉｃ（ｔ）に代替される。も
う一方の形では、この回路は、図６の回路と同様の機能
を実行する。
に示す。この回路は、図６の回路と同様、サンプリング
回路１９、記憶回路２１および振幅制限回路２２を含
む。図６の最大値検出器は削除されているが、この補正
回路は、微分回路２３、比較回路２４および選択回路２
５を含む。微分回路２３は、サンプリング回路１９の出
力と接続された第１の入力および記憶回路２１の出力と
接続された第２の入力の２つの入力を有する。微分回路
２３の出力は比較回路２４の第１の入力と接続されてい
る。比較回路２４の第２の入力は制限値Ｌｉｍを受信
し、選択回路２５と接続された比較回路２４の出力は制
御信号Ｓを選択回路２５に送信する。サンプリング回路
１９の出力と接続された選択回路２５の第１の入力は信
号Ｉｅ（ｔ）を受信し、振幅制限回路２２の出力と接続
された第２の入力は信号ＩＬｉｍ（ｔ）を受信する。補
正回路の出力に相当する選択回路２５の出力は、補正電
流の値に対応する信号Ｉｃ（ｔ）を供給する。微分回路
２３は、サンプリング回路１９から入力するサンプルＩ
ｅ（ｔ）と記憶回路２１に記憶された以前の補正サンプ
ルＩｃ（ｔ−１）との差を計算する。この微分回路２３
の出力信号の式はＩｃ（ｔ−１）−Ｉｅ（ｔ）である。
微分回路２３の出力信号はその後、比較回路２４におい
て制限値Ｌｉｍと比較される。差Ｉｃ（ｔ−１）−Ｉｅ
（ｔ）が制限値Ｌｉｍより大きければ、制御信号Ｓが選
択回路２５に対して、その第１の入力をその出力から切
断し、信号ＩＬｉｍを受信する第２の入力を出力と接続
するように設定する。この制限された電流信号ＩＬｉｍ
（ｔ）はその後、入力信号Ｉｃ（ｔ）に代替される。も
う一方の形では、この回路は、図６の回路と同様の機能
を実行する。
【００２４】補正回路１７は、この補正方法の各段階を
実行するような形式でプログラムされたマイクロプロセ
ッサを含むことができる。対応する流れ図を図８に示
す。段階２７で、サンプルＩｅ（ｔ）が読み取られる。
段階２８では、記憶されている以前の出力サンプルの値
Ｉｃ（ｔ−１）と値Ｉｅ（ｔ）との差が制限値Ｌｉｍと
比較される。差がＬｉｍに等しいかそれより大きければ
（肯定応答）、（段階２９において）出力値Ｉｃ（ｔ）
は記憶された値Ｉｃ（ｔ−１）と制限値Ｌｉｍとの差に
等しい。すなわち、Ｉｃ（ｔ）＝Ｉｃ（ｔ−１）−Ｌｉ
ｍとなる。逆の場合（段階３０）、出力信号Ｉｃ（ｔ）
は入力信号Ｉｅ（ｔ）に等しい。その後、段階３１で、
出力信号Ｉｃ（ｔ）は、次のサンプリングサイクルにお
いて以前のサンプルＩｃ（ｔ−１）として使用できるよ
うに、記憶される。その後出力信号Ｉｃ（ｔ）は、引き
はずし装置の処理回路によって使用される。
実行するような形式でプログラムされたマイクロプロセ
ッサを含むことができる。対応する流れ図を図８に示
す。段階２７で、サンプルＩｅ（ｔ）が読み取られる。
段階２８では、記憶されている以前の出力サンプルの値
Ｉｃ（ｔ−１）と値Ｉｅ（ｔ）との差が制限値Ｌｉｍと
比較される。差がＬｉｍに等しいかそれより大きければ
（肯定応答）、（段階２９において）出力値Ｉｃ（ｔ）
は記憶された値Ｉｃ（ｔ−１）と制限値Ｌｉｍとの差に
等しい。すなわち、Ｉｃ（ｔ）＝Ｉｃ（ｔ−１）−Ｌｉ
ｍとなる。逆の場合（段階３０）、出力信号Ｉｃ（ｔ）
は入力信号Ｉｅ（ｔ）に等しい。その後、段階３１で、
出力信号Ｉｃ（ｔ）は、次のサンプリングサイクルにお
いて以前のサンプルＩｃ（ｔ−１）として使用できるよ
うに、記憶される。その後出力信号Ｉｃ（ｔ）は、引き
はずし装置の処理回路によって使用される。
【００２５】制限値はいくつかのパラメータに従って決
定されるが、そのうちの主なものは、サンプリング周
期、電流周波数、引きはずし曲線の形式または高電流時
の電力、電流に対応する信号の最大振幅および公称振
幅、および、歪み比である。例えば、５０ Ｈｚ交流電
流の公称振幅の１１倍に等しい最大振幅を測定でき、６
２５ μｓ（マイクロ秒）の周期で動作するサンプリン
グ装置を有する引きはずし装置の場合、その制限値は、
その電流の平方に関して補正が行われる場合（図４）、
最大振幅の約６％である。
定されるが、そのうちの主なものは、サンプリング周
期、電流周波数、引きはずし曲線の形式または高電流時
の電力、電流に対応する信号の最大振幅および公称振
幅、および、歪み比である。例えば、５０ Ｈｚ交流電
流の公称振幅の１１倍に等しい最大振幅を測定でき、６
２５ μｓ（マイクロ秒）の周期で動作するサンプリン
グ装置を有する引きはずし装置の場合、その制限値は、
その電流の平方に関して補正が行われる場合（図４）、
最大振幅の約６％である。
【００２６】複雑な電子引きはずし装置では、制限値
は、電流周波数または引きはずし曲線の形式に従って自
動的に決定することもできよう。
は、電流周波数または引きはずし曲線の形式に従って自
動的に決定することもできよう。
【００２７】この場合、図５に示された回路１８は、２
個の付加的な入力を含む。これらの付加的な入力の一方
には、電流検出器によって測定された電流の周波数に対
応する信号が供給される。他方の付加的入力は、引きは
ずし曲線の形式の選択回路３２と接続される。これらの
図で示された実施例において、補正は、｜Ｉｓ｜または
Ｉｓ2 のいずれかに関して行われる。｜Ｉｓ｜に関して
補正を行うことができるが、その時、Ｐは１に等しいか
それより大きい値、例えば、１．８、３または４であ
る。この場合、回路３２はこのＰの値を回路１８に供給
し、回路１８は制限値を決定するためにその値を考慮す
る。
個の付加的な入力を含む。これらの付加的な入力の一方
には、電流検出器によって測定された電流の周波数に対
応する信号が供給される。他方の付加的入力は、引きは
ずし曲線の形式の選択回路３２と接続される。これらの
図で示された実施例において、補正は、｜Ｉｓ｜または
Ｉｓ2 のいずれかに関して行われる。｜Ｉｓ｜に関して
補正を行うことができるが、その時、Ｐは１に等しいか
それより大きい値、例えば、１．８、３または４であ
る。この場合、回路３２はこのＰの値を回路１８に供給
し、回路１８は制限値を決定するためにその値を考慮す
る。
【００２８】上述の各補正方法は本質的に、変流器の飽
和によって歪んだ電流に適用されるが、それらは、低電
流時に磁化の不足によって歪んだ信号の補正にも同様に
使用することができる。その補正方法を実施する手段
は、電子回路の形態で実施されるか、または、プログラ
ムに統合され、マイクロプロセッサによって処理される
ようにすることが可能である。保護すべき極ごとに電流
検出器を有する多極引きはずし装置においては、補正回
路は、累乗または処理に関し、全部の二次電流について
共通とすることができる。
和によって歪んだ電流に適用されるが、それらは、低電
流時に磁化の不足によって歪んだ信号の補正にも同様に
使用することができる。その補正方法を実施する手段
は、電子回路の形態で実施されるか、または、プログラ
ムに統合され、マイクロプロセッサによって処理される
ようにすることが可能である。保護すべき極ごとに電流
検出器を有する多極引きはずし装置においては、補正回
路は、累乗または処理に関し、全部の二次電流について
共通とすることができる。
【００２９】制限値は固定的な一定のものであることが
好ましいが、ある場合には、可変制限値も補正に適する
であろう。例えば、制限値は、非線形関数に従った電流
に対応する値に応じて異なってもよい。
好ましいが、ある場合には、可変制限値も補正に適する
であろう。例えば、制限値は、非線形関数に従った電流
に対応する値に応じて異なってもよい。
【図１】公知の形式の引きはずし装置の略図。
【図２】理論電流信号および歪んだ電流信号の例示図。
【図３】本発明の２通りの実施態様に従った一方の方法
により補正された電流信号の例示図。
により補正された電流信号の例示図。
【図４】本発明の２通りの実施態様に従った他方の方法
により補正された電流信号の例示図。
により補正された電流信号の例示図。
【図５】第１の実施例に従った引きはずし装置の略図。
【図６】本発明に従った補正回路の２通りの実施例の一
方の例示図。
方の例示図。
【図７】本発明に従った補正回路の２通りの実施例の他
方の例示図。
方の例示図。
【図８】図５の引きはずし装置において使用可能な補正
回路の流れ図。
回路の流れ図。
１ 変流器 ２ 磁気回路 ３ 一次電流用導電線 ４ 二次巻線 ５ 整流回路 ６ 処理回路 ７ 引きはずし継電器 １６ モジュール １７ 補正回路 １８ 制限回路 １９ サンプリング回路 ２０ 最大値検出器 ２１ 記憶回路 ２２ 振幅制限回路 ２３ 微分回路 ２４ 比較回路 ２５ 選択回路 ３２ 引きはずし曲線の形式の選択用回路
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (72)発明者 ピエール、ブランシャール フランス国ボルプ、アブニュ、シャペ、 141‐デ (72)発明者 ジェームズ、コリアー イギリス国ケンブリッジシャー、ウィルバ トン（番地なし)
Claims (9)
- 【請求項１】歪んだ電流信号の補正方法であって、連続
する補正サイクルを含み、各サイクルが、 出力量を記憶装置に記憶することと、 歪んだ電流信号に対応した入力量を測定することと、 記憶装置に記憶された出力量と測定された入力量との差
を計算することと、 所定の制限値より小さいか等しい減分による変分を有す
る出力量の新規値を決定することを含むことを特徴とす
る方法。 - 【請求項２】請求項１記載の方法であって、新規処理値
の決定が、 前記差と所定の制限値との比較と、 その差が前記制限値より小さいか等しい場合、測定入力
量に等しい出力量の新規値の生成と、 その差が制限値より大きい場合、記憶装置に記憶された
出力量と制限値との差に等しい出力量の新規値の生成と
を含むことを特徴とする方法。 - 【請求項３】請求項１記載の方法であって、各補正サイ
クルが入力量のサンプリングサイクルに対応することを
特徴とする方法。 - 【請求項４】請求項１記載の方法であって、入力量の測
定が歪んだ電流信号の２以上の累乗を含むことを特徴と
する方法。 - 【請求項５】請求項１記載の方法であって、その方法が
入力量の周波数に従って制限値を決定することを含むこ
とを特徴とする方法。 - 【請求項６】請求項１記載の方法を実施するための補正
装置であって、 前記入力量を受信する入力と、 前記出力量を供給する出力とを含んでおり、 前記装置が、 前記歪んだ電流信号に対応する前記入力量を測定するた
めの前記入力と接続された記憶装置への記憶手段と、 前記記憶出力量と前記測定入力量との差を計算するため
の前記記憶装置への記憶手段および前記測定手段と接続
された計算手段と、 所定の制限値より小さいか等しい減分による変分を有す
る出力量の新規値を生成するための、前記記憶装置への
記憶手段、前記測定手段、前記計算手段および前記出力
と接続された第１の決定手段とを含むことを特徴とする
装置。 - 【請求項７】請求項６記載の補正装置であって、前記第
１の決定手段が、 前記差と前記所定の制限値とを比較するための、前記計
算手段と接続された比較手段と、 前記差が前記制限値より小さいか等しい場合は前記新規
測定入力量に等しく、また、前記差が制限値より大きい
場合は記憶装置に記憶された前記出力量と前記制限値と
の差に等しい、前記出力量の前記新規値を生成するため
の、前記比較手段、前記測定手段、前記計算手段、前記
記憶装置への記憶手段および前記出力と接続された生成
手段とを含むことを特徴とする装置。 - 【請求項８】処理装置、電流検出器、および、前記電流
検出器および前記処理装置に接続された補正手段を含む
電子引きはずし装置であって、前記補正手段が請求項６
記載の補正装置を含むことを特徴とする装置。 - 【請求項９】請求項８記載の電子引きはずし装置であっ
て、前記装置が、 前記制限値を決定するための、前記補正装置に接続され
た第２の決定手段と、 前記入力量を２以上に累乗するための、前記補正装置の
前記入力に接続された累乗手段と、 前記累乗の値を決定するための、第２の決定手段および
累乗手段に接続された第３の決定手段とを含むことを特
徴とする装置。
Applications Claiming Priority (2)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| FR9404924 | 1994-04-21 | ||
| FR9404924A FR2719124B1 (fr) | 1994-04-21 | 1994-04-21 | Procédé et dispositif de correction d'un signal de courant. |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH0884431A true JPH0884431A (ja) | 1996-03-26 |
Family
ID=9462459
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP7094948A Pending JPH0884431A (ja) | 1994-04-21 | 1995-04-20 | 電流信号の補正方法およびその装置 |
Country Status (8)
| Country | Link |
|---|---|
| US (1) | US5751284A (ja) |
| EP (1) | EP0678960B1 (ja) |
| JP (1) | JPH0884431A (ja) |
| KR (1) | KR100366988B1 (ja) |
| CN (1) | CN1050001C (ja) |
| DE (1) | DE69519956T2 (ja) |
| ES (1) | ES2155507T3 (ja) |
| FR (1) | FR2719124B1 (ja) |
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2008157838A (ja) * | 2006-12-26 | 2008-07-10 | Hitachi Industrial Equipment Systems Co Ltd | 絶縁監視装置 |
Families Citing this family (8)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US5652507A (en) * | 1996-01-31 | 1997-07-29 | Eaton Corporation | Apparatus and method for measuring an AC current which saturates the core of a current transformer |
| JP4190082B2 (ja) * | 1999-04-15 | 2008-12-03 | パナソニック株式会社 | 信号補正装置および信号補正方法 |
| FR2798527B1 (fr) * | 1999-09-10 | 2001-11-09 | Schneider Electric Ind Sa | Dispositif de protection terre sensible a des courants d'arc, declencheur et disjoncteur comportant un tel dispositif |
| TWI412067B (zh) | 2004-02-06 | 2013-10-11 | 尼康股份有限公司 | 偏光變換元件、光學照明裝置、曝光裝置以及曝光方法 |
| US20100169035A1 (en) | 2008-12-29 | 2010-07-01 | Medtronic Minimed, Inc. | Methods and systems for observing sensor parameters |
| CN102110549A (zh) * | 2011-03-03 | 2011-06-29 | 季侃 | 一种缩短智能装置总体动作时间的方法 |
| RU2557368C2 (ru) | 2011-03-18 | 2015-07-20 | Абб Рисерч Лтд | Способ и устройство для линеаризации трансформатора |
| CN103809016B (zh) * | 2014-02-18 | 2016-05-18 | 上海零线电气有限公司 | 一种用于电气火灾监控的漏电流采样电路校验方法 |
Family Cites Families (9)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US3509460A (en) * | 1967-11-01 | 1970-04-28 | Bell Telephone Labor Inc | High impedance,self-zeroing,dc voltmeter circuit |
| SU1398014A1 (ru) * | 1985-08-13 | 1988-05-23 | Новочеркасский Политехнический Институт Им.Серго Орджоникидзе | Устройство дл компенсации погрешности измерительного трансформатора тока |
| JPS62173707A (ja) * | 1986-01-27 | 1987-07-30 | Mitsubishi Electric Corp | 回路しや断器の電流検出装置 |
| SU1488909A2 (ru) * | 1987-03-10 | 1989-06-23 | Novocherkassk Polt Inst | Устройство для компенсации погрешности измерительного трансформатора тока |
| FR2691302B1 (fr) * | 1992-05-12 | 1997-04-04 | Merlin Gerin | Declencheur electronique comportant un dispositif de correction. |
| CN2129466Y (zh) * | 1992-08-06 | 1993-04-07 | 洪自强 | 微功耗节能交流接触器 |
| CN2128774Y (zh) * | 1992-08-22 | 1993-03-24 | 濮阳冀予联营公司 | 逆磁交直流接触器 |
| CN2129969Y (zh) * | 1992-09-24 | 1993-04-14 | 崔文德 | 交流开关电火花控制器 |
| CN2153862Y (zh) * | 1992-12-31 | 1994-01-19 | 福州大学 | 新型的智能交流电磁电器 |
-
1994
- 1994-04-21 FR FR9404924A patent/FR2719124B1/fr not_active Expired - Fee Related
-
1995
- 1995-04-04 US US08/416,361 patent/US5751284A/en not_active Expired - Fee Related
- 1995-04-04 DE DE69519956T patent/DE69519956T2/de not_active Expired - Lifetime
- 1995-04-04 EP EP95410024A patent/EP0678960B1/fr not_active Expired - Lifetime
- 1995-04-04 ES ES95410024T patent/ES2155507T3/es not_active Expired - Lifetime
- 1995-04-20 JP JP7094948A patent/JPH0884431A/ja active Pending
- 1995-04-20 CN CN95104241A patent/CN1050001C/zh not_active Expired - Fee Related
- 1995-04-20 KR KR1019950009365A patent/KR100366988B1/ko not_active IP Right Cessation
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| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2008157838A (ja) * | 2006-12-26 | 2008-07-10 | Hitachi Industrial Equipment Systems Co Ltd | 絶縁監視装置 |
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| ES2155507T3 (es) | 2001-05-16 |
| KR100366988B1 (ko) | 2003-02-25 |
| DE69519956T2 (de) | 2001-08-02 |
| CN1050001C (zh) | 2000-03-01 |
| KR950034961A (ko) | 1995-12-28 |
| CN1115489A (zh) | 1996-01-24 |
| DE69519956D1 (de) | 2001-03-01 |
| EP0678960A1 (fr) | 1995-10-25 |
| US5751284A (en) | 1998-05-12 |
| FR2719124A1 (fr) | 1995-10-27 |
| EP0678960B1 (fr) | 2001-01-24 |
| FR2719124B1 (fr) | 1996-06-07 |
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Legal Events
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|---|---|---|---|
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Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A02 Effective date: 20040803 |