JPH0884045A - Surface acoustic wave device and antenna branching filter using this device - Google Patents

Surface acoustic wave device and antenna branching filter using this device

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JPH0884045A
JPH0884045A JP21736394A JP21736394A JPH0884045A JP H0884045 A JPH0884045 A JP H0884045A JP 21736394 A JP21736394 A JP 21736394A JP 21736394 A JP21736394 A JP 21736394A JP H0884045 A JPH0884045 A JP H0884045A
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JP
Japan
Prior art keywords
acoustic wave
surface acoustic
wave device
package
inductance element
Prior art date
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Pending
Application number
JP21736394A
Other languages
Japanese (ja)
Inventor
Norio Hosaka
憲生 保坂
Hideo Onuki
秀男 大貫
Kazushi Watanabe
一志 渡辺
Akitsuna Yuhara
章綱 湯原
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Hitachi Ltd
Original Assignee
Hitachi Ltd
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Filing date
Publication date
Application filed by Hitachi Ltd filed Critical Hitachi Ltd
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Abstract

PURPOSE: To prevent characteristics degradation by making a dielectric substrate of an inductance element in a laminated structure, forming a microstrip line on an intermediate layer and covering the portion corresponding to the microstrip line with a conductor layer. CONSTITUTION: A surface acoustic wave resonator 1 is adhered/fixed with adhesive 8 on the conductor layer 16 for grounding formed on the bottom surface within the recessed part of the package 7 composed by laminating ceramics and metal on the rear surface of an inductance element 4. The conductor layer 13 on the upper surface of the element 4 is connected with the conductor layer 16 of the package 7 by a wiring wire 9. Therefore, the microstrip line 6 of the element 4 is formed between the upper and lower grounds with interposed dielectric layer. Because the line 6 of the element 4 is formed between the upper and lower ground surfaces with interposed dielectric layer, the influence of parasitic capacity is eliminated, and the dispersion and the degradation of the characteristics of a surface acoustic wave device can be prevented, even if the distance of the upper surface of the element 4 and the cover 11 of the package 7 is changed.

Description

【発明の詳細な説明】Detailed Description of the Invention

【0001】[0001]

【産業上の利用分野】本発明は、弾性表面波共振子およ
びインダクタンス素子を含んで構成された弾性表面波装
置、並びに、この弾性表面波装置を備えたアンテナ分波
器に関する。
BACKGROUND OF THE INVENTION 1. Field of the Invention The present invention relates to a surface acoustic wave device including a surface acoustic wave resonator and an inductance element, and an antenna duplexer including the surface acoustic wave device.

【0002】[0002]

【従来の技術】弾性表面波装置は、極めて大量に生産さ
れているLSI(大規模集積回路)と同様に、フォトリ
ソグラフィ技術を応用して製造可能であるので、その量
産性に優れていることから、民生機器や通信機器等で広
範に使用されている。特に、最近では、弾性表面波装置
の小形かつ軽量という特徴を活かした応用として、ポケ
ットベル,携帯電話等の移動体通信において、高周波フ
ィルタとして使用されることが多い。
2. Description of the Related Art A surface acoustic wave device can be manufactured by applying a photolithography technique like an LSI (Large Scale Integrated Circuit) which is produced in a very large amount, and therefore it is excellent in mass productivity. Therefore, it is widely used in consumer equipment and communication equipment. In particular, in recent years, it is often used as a high frequency filter in mobile communication such as pagers and mobile phones as an application that makes use of the small size and light weight of the surface acoustic wave device.

【0003】上記移動体通信で使用される弾性表面波装
置は、特に低損失で急峻な周波数特性が要求されるの
で、IIDT(Interdigitated Interdigital Transduc
ers)型フィルタや弾性表面波共振子を用いて構成した装
置が多用されている。
The surface acoustic wave device used in the above-mentioned mobile communication is required to have a steep frequency characteristic with a particularly low loss. Therefore, the IDT (Interdigitated Interdigital Transducer) is used.
A device configured by using an (ers) type filter or a surface acoustic wave resonator is widely used.

【0004】上記のような弾性表面波共振子を使用して
構成した弾性表面波装置の例として、「電子情報通信学
会技術研究報告」;US92−52(1992−0
9),第9頁〜第16頁に記載の技術がある。この従来
技術は、梯子型フィルタの直列/並列素子に弾性表面波
共振子を用いて、帯域通過フィルタを構成するものであ
る。
As an example of a surface acoustic wave device constructed by using the surface acoustic wave resonator as described above, "Technical Research Report of Institute of Electronics, Information and Communication Engineers"; US92-52 (1992-0).
9), there are techniques described on pages 9 to 16. This prior art uses a surface acoustic wave resonator as a series / parallel element of a ladder filter to form a bandpass filter.

【0005】また、他の従来技術として、「エレクトロ
ニクス レター」;1985年,21巻,25/26
号,第1211頁〜第1212頁(ELECTRONICS LETTER
S 5thDecember 1985,Vol.21,No.25/26,pp.1211〜1212
)に記載のように、梯子型フィルタの直列素子にイン
ダクタンス素子を、並列素子に弾性表面波共振子をそれ
ぞれ用いて、フィルタを構成する技術がある。
As another conventional technique, "Electronics Letter"; 1985, Volume 21, 25/26.
Issue, pp. 1211 to 1212 (ELECTRONICS LETTER
S 5thDecember 1985, Vol.21, No.25 / 26, pp.1211-1212
), There is a technique of forming a filter by using an inductance element as a series element of a ladder filter and a surface acoustic wave resonator as a parallel element.

【0006】また、前述したように、移動体通信への応
用では小形軽量化の要求が強いので、弾性表面波装置の
パッケージには、表面実装型の、いわゆるSMDパッケ
ージ(Surface Mounted Device)が使用され始めてい
る。
Further, as described above, there is a strong demand for downsizing and weight reduction in application to mobile communication, so a surface mount type so-called SMD package (Surface Mounted Device) is used for the package of the surface acoustic wave device. Is being started.

【0007】このようなSMDパッケージを使用した従
来技術としては、例えば実開平4−131033号公報
に開示された技術がある。この先願に示された従来技術
では、凹部を有するセラミック製ベースの内底面に配線
用パターンを形成すると共に、セラミック製ベースの裏
面にアース用パターンを形成し、該アース用パターンに
よりアース端子間と上記配線用パターンとを接続、ま
た、上記配線用パターンと金属蓋とを接続するようにし
ている。
As a conventional technique using such an SMD package, for example, there is a technique disclosed in Japanese Utility Model Laid-Open No. 4-131033. In the prior art shown in this prior application, a wiring pattern is formed on the inner bottom surface of a ceramic base having recesses, and a ground pattern is formed on the back surface of the ceramic base, and the ground pattern is used to connect between ground terminals. The wiring pattern is connected, and the wiring pattern and the metal lid are connected.

【0008】他の従来技術としては、特開平3−629
53号公報が挙げられ、この先願公報には、一側板面の
周縁に沿って側壁を設けて断面を凹形に成形したガラス
の底板と、金属製シールリングと、収納した電子部品
と、金属製の蓋体とを具備し、上記の側壁の内側を内方
へ傾斜面に成形する技術が開示されている。
Another prior art is Japanese Patent Laid-Open No. 3-629.
No. 53, which discloses a glass bottom plate in which a side wall is provided along the peripheral edge of one side plate to form a concave cross section, a metal seal ring, an accommodated electronic component, and a metal. And a lid body made of metal, and a technique of forming the inside of the side wall into an inwardly inclined surface is disclosed.

【0009】また、特開平3−284006号公報に
は、入出力間のアイソレーションを改善し、弾性表面波
デバイスの素子特性を向上する目的で、接地用ボンディ
ングパッドと底部メタライズ層とを接続金属導体で接続
する技術が開示されている。
Further, in Japanese Patent Laid-Open No. 3-284006, for the purpose of improving isolation between input and output and improving element characteristics of a surface acoustic wave device, a bonding pad for grounding and a bottom metallization layer are connected to each other by a connecting metal. The technique of connecting with a conductor is disclosed.

【0010】また、特開平3−62951号公報には、
表面実装型容器に関する技術として、シーリング時の熱
ストレスおよび残留応力を少なくする目的で、シールリ
ングの外周端からシールリングの幅5〜30%の範囲
に、蓋体の周縁部を位置させて溶着する技術が開示され
ている。
Further, Japanese Patent Laid-Open No. 3-62951 discloses that
As a technique related to the surface mount type container, in order to reduce the thermal stress and the residual stress at the time of sealing, the peripheral portion of the lid is positioned within the range of 5 to 30% of the width of the seal ring from the outer peripheral end of the seal ring to perform the welding. Techniques for doing so are disclosed.

【0011】[0011]

【発明が解決しようとする課題】本発明に関連する弾性
表面波装置の構成と、この弾性表面波装置が有する課題
とを、図を用いて説明する。
The structure of the surface acoustic wave device related to the present invention and the problems that the surface acoustic wave device has will be described with reference to the drawings.

【0012】本発明に関連する弾性表面波装置の従来の
構成は、図10の断面図に示すように、一開口弾性表面
波共振子(以下、弾性表面波共振子と称す)1とインダ
クタンス素子4、およびパッケージ7と、これらを電気
的に接続する配線ワイヤ9等で構成される。弾性表面波
共振子1は、LiNbO3 ,LiTaO3 等の圧電性基
板2の上にすだれ状電極3が形成されたもので構成さ
れ、インダクタンス素子4は、セラミック,ガラス,有
機材料等の誘電体基板5の上にめっきによるマイクロス
トリップ線路6を形成したもので構成されている。な
お、図10において、11はパッケージ7の開口部を覆
う金属製の蓋である。
As shown in the cross-sectional view of FIG. 10, the conventional structure of the surface acoustic wave device related to the present invention has a single-aperture surface acoustic wave resonator (hereinafter referred to as a surface acoustic wave resonator) 1 and an inductance element. 4 and the package 7, and a wiring wire 9 for electrically connecting them. The surface acoustic wave resonator 1 is composed of a piezoelectric substrate 2 made of LiNbO 3 , LiTaO 3 or the like on which a comb-shaped electrode 3 is formed, and the inductance element 4 is made of a dielectric material such as ceramic, glass or an organic material. The microstrip line 6 is formed by plating on the substrate 5. In FIG. 10, reference numeral 11 is a metal lid that covers the opening of the package 7.

【0013】上記の弾性表面波共振子1とインダクタン
ス素子4とは、要求される周波数特性に応じて、梯子形
構造に任意に直列および並列に組み合わされ、フィルタ
として動作するように構成される。この組み合せの1例
を、図11に示す。図12は、図11に示す組合せの弾
性表面波装置の周波数特性例を示しており、高周波信号
のフィルタ装置として使用される。
The surface acoustic wave resonator 1 and the inductance element 4 described above are arbitrarily combined in series and in parallel with a ladder structure according to the required frequency characteristics, and are configured to operate as a filter. An example of this combination is shown in FIG. FIG. 12 shows an example of frequency characteristics of the surface acoustic wave device of the combination shown in FIG. 11, and is used as a filter device for high frequency signals.

【0014】上記弾性表面波装置の応用の1つとして、
携帯電話のアンテナ分波器がある。アンテナ分波器は、
送信側の弾性表面波装置と受信側の弾性表面波装置とが
並接されて構成され、送信機からの送信信号をアンテナ
へ、またアンテナからの受信信号を受信機へ、それぞれ
分波伝送する働きをする。
As one of the applications of the surface acoustic wave device,
There is a mobile phone antenna duplexer. Antenna duplexer
The surface acoustic wave device on the transmitting side and the surface acoustic wave device on the receiving side are arranged side by side, and transmit the transmission signal from the transmitter to the antenna and the reception signal from the antenna to the receiver, respectively. Work.

【0015】上記のような弾性表面波装置に関する技術
も、該弾性表面波装置を使用してアンテナ分波器を構成
する技術も、これまで一般的に実用化されておらず、技
術的に明らかでない点が多い。したがって、本発明が取
り上げた、以下に記すような課題についても、従来は明
らかにされていなかった。
Neither the technique relating to the surface acoustic wave device as described above nor the technique for constructing an antenna demultiplexer using the surface acoustic wave device has been practically used so far, and it is technically clear. There are many points that are not. Therefore, the following problems addressed by the present invention have not been revealed so far.

【0016】すなわち、上記弾性表面波装置、あるいは
該弾性表面波装置を用いて構成したアンテナ分波器にお
いては、パッケージ7の蓋11をシールした後の特性の
ばらつきが大きいという問題があった。特性ばらつきで
顕著なのは、図12の周波数特性に破線で示すように、
高周波域における抑圧度の劣化である。このような特性
劣化がある場合、送信信号Tの2倍周波数の不要信号2
Tが抑圧されない不都合が生ずる。
That is, in the surface acoustic wave device or the antenna duplexer constructed by using the surface acoustic wave device, there is a problem that there is a large variation in the characteristics after the lid 11 of the package 7 is sealed. The remarkable characteristic variation is as shown by the broken line in the frequency characteristic of FIG.
This is the deterioration of the suppression degree in the high frequency range. When such characteristic deterioration occurs, the unnecessary signal 2 having a frequency twice that of the transmission signal T
The inconvenience occurs that T is not suppressed.

【0017】[0017]

【課題を解決するための手段】上記した弾性表面波装置
の課題である高周波域における抑圧度の劣化について検
討した結果、パッケージ7の蓋11をシールする前の特
性に比べ、シール後の特性ばらつきが大きいことから、
蓋11のシール工程がばらつきに関係しており、実験的
に調べた結果、インダクタンス素子基板(誘電体基板
5)と蓋11との距離が近づくと、高周波域における特
性劣化が発生することが分かった。蓋11は接地されて
おり、また、インダクタンス素子4のマイクロストリッ
プ線路6は、誘電体基板4の表面に形成されているの
で、マイクロストリップ線路6と蓋11との間の寄生容
量が、特性劣化の原因と考えられる。つまり、シール時
に蓋11が歪むことで、マイクロストリップ線路6との
間の距離が変化し、寄生容量の大きさが変化して特性の
ばらつき、あるいは劣化が発生したと考えられる。
As a result of studying the deterioration of the suppression degree in the high frequency range, which is a problem of the surface acoustic wave device described above, the characteristic variation after sealing the lid 11 of the package 7 is larger than that before sealing. Is large,
The sealing process of the lid 11 is related to the variation, and as a result of an experimental examination, it is found that when the distance between the inductance element substrate (dielectric substrate 5) and the lid 11 becomes shorter, the characteristic deterioration in the high frequency range occurs. It was Since the lid 11 is grounded and the microstrip line 6 of the inductance element 4 is formed on the surface of the dielectric substrate 4, the parasitic capacitance between the microstrip line 6 and the lid 11 deteriorates in characteristics. Is considered to be the cause. That is, it is considered that the lid 11 is distorted at the time of sealing, the distance between the lid 11 and the microstrip line 6 is changed, and the magnitude of the parasitic capacitance is changed to cause characteristic variations or deterioration.

【0018】前述したように、携帯電話では小形軽量化
が要求されるため、使用される弾性表面波装置には従来
一般的に使用されていた缶パッケージに代わり、薄形で
容積の小さい表面実装型のSMDパッケージが使用され
ており、パッケージ内の空間寸法において、面実装され
たデバイスチップの表面から蓋までの高さ寸法は、従来
に比べ小さくなっており、今後さらに薄形のパッケージ
が使用される可能性がある。このため、この種の弾性表
面波装置では、上記のような問題は一層重大である。
As described above, since the mobile phone is required to be small and lightweight, the surface acoustic wave device to be used is replaced with the can package which has been generally used in the past, and is thin and has a small volume. Type SMD package is used, and the height dimension from the surface of the surface-mounted device chip to the lid is smaller than before in the space dimension inside the package, and thinner packages will be used in the future. May be done. Therefore, in the surface acoustic wave device of this type, the above problems are more serious.

【0019】本発明による弾性表面波装置は、上記した
問題を解決するため、弾性表面波装置に使用するインダ
クタンス素子の誘電体基板を積層構造の基板にし、基板
の中間層にマイクロストリップ線路を設け、基板上面の
少なくともマイクロストリップ線路と対応する部位に、
導体層を形成するようにした。
In the surface acoustic wave device according to the present invention, in order to solve the above problems, the dielectric substrate of the inductance element used in the surface acoustic wave device is a substrate having a laminated structure, and a microstrip line is provided in the intermediate layer of the substrate. , At least in the part corresponding to the microstrip line on the upper surface of the substrate,
The conductor layer was formed.

【0020】[0020]

【作用】上記のように、インダクタンス素子の誘電体基
板に積層構造の基板を使用し、基板の中間層にマイクロ
ストリップ線路を設け、基板上面に導体層を形成した構
造の場合、パッケージに基板を実装し基板上面の導体層
を接地すれば、マイクロストリップ線路はあらかじめ定
まった厚さの誘電体層を挟んで、パッケージの接地面と
上面導体層の接地面間に位置するので、パッケージの蓋
との距離が変化しても影響を受けることはなくなり、弾
性表面波装置の特性がばらついたり、劣化したりするこ
とを防止できる。
As described above, in the case of a structure in which a laminated substrate is used as the dielectric substrate of the inductance element, a microstrip line is provided in the intermediate layer of the substrate, and a conductor layer is formed on the upper surface of the substrate, the substrate is packaged. By mounting and grounding the conductor layer on the top surface of the board, the microstrip line is located between the ground plane of the package and the ground plane of the top conductor layer with a dielectric layer of a predetermined thickness sandwiched between them. Even if the distance is changed, it is not affected and it is possible to prevent the characteristics of the surface acoustic wave device from varying or deteriorating.

【0021】[0021]

【実施例】以下、本発明の詳細を図示した各実施例によ
って説明する。図1は、本発明の第1実施例による弾性
表面波装置の構造を示す断面図である。同図において、
1は弾性表面波共振子、2は圧電性基板、3は圧電性基
板2上に形成されたすだれ状電極、4はインダクタンス
素子、5は積層構造の誘電体基板、6は誘電体基板5の
中間層に形成されたマイクロストリップ線路、7はパッ
ケージ、8は接着剤、9は配線ワイヤ、10はパッケー
ジ7に形成された導体端子部、11はパッケージ7の金
属製の蓋、12はパッケージ7のシールリング、13は
誘電体基板5の上面に形成された接地用の導体層、14
は誘電体基板5の上面に形成された配線用のボンディン
グパッド(導体端子部)、15は誘電体基板5に設けら
れたビアホール(スルーホール)、16はパッケージ7
に形成された接地用導体層である。
The details of the present invention will be described below with reference to the illustrated embodiments. 1 is a sectional view showing the structure of a surface acoustic wave device according to a first embodiment of the present invention. In the figure,
Reference numeral 1 is a surface acoustic wave resonator, 2 is a piezoelectric substrate, 3 is a comb-shaped electrode formed on the piezoelectric substrate 2, 4 is an inductance element, 5 is a dielectric substrate having a laminated structure, and 6 is a dielectric substrate 5. A microstrip line formed in the intermediate layer, 7 is a package, 8 is an adhesive, 9 is a wiring wire, 10 is a conductor terminal portion formed in the package 7, 11 is a metal lid of the package 7, and 12 is the package 7 Seal ring, 13 is a ground conductor layer formed on the upper surface of the dielectric substrate 5, and 14
Is a bonding pad (conductor terminal portion) for wiring formed on the upper surface of the dielectric substrate 5, 15 is a via hole (through hole) provided in the dielectric substrate 5, and 16 is a package 7.
Is a grounding conductor layer formed on the.

【0022】弾性表面波共振子1は、LiNbO3 ,L
iTaO3 等の圧電性基板2の表面に、アルミニウム薄
膜、またはアルミニウム合金薄膜で、多数対のすだれ状
電極3を形成したものよりなり、公知の一開口弾性表面
波共振子として構成されている。インダクタンス素子4
は、積層構造の誘電体基板5の中間層に、めっき銅膜に
よるマイクロストリップ線路6を形成して構成され、さ
らに基板5上面に、めっき銅膜による導体層13とボン
ディングパッド14とが形成してあり、ボンディングパ
ッド14は、ビアホール15を通してマイクロストリッ
プ線路6に接続されている。インダクタンス素子4の誘
電体基板5には、セラミック,ガラス,樹脂,樹脂と繊
維材料等を使用することができる。
The surface acoustic wave resonator 1 is made of LiNbO 3 , L
The piezoelectric substrate 2 made of iTaO 3 or the like is formed with a large number of pairs of interdigital electrodes 3 made of an aluminum thin film or an aluminum alloy thin film on the surface thereof, and is configured as a publicly known single-aperture surface acoustic wave resonator. Inductance element 4
Is formed by forming a microstrip line 6 of a plated copper film on an intermediate layer of a dielectric substrate 5 having a laminated structure, and further forming a conductor layer 13 and a bonding pad 14 of a plated copper film on the upper surface of the substrate 5. The bonding pad 14 is connected to the microstrip line 6 through the via hole 15. The dielectric substrate 5 of the inductance element 4 may be made of ceramic, glass, resin, resin and fiber material, or the like.

【0023】上記の弾性表面波共振子1(弾性表面波共
振子チップ)とインダクタンス素子4(インダクタンス
素子チップ)の裏面は、セラミックと金属を積層してな
るパッケージ7の凹部内定面に形成した接地用導体層1
6上に、接着剤8により接着・固定されている。そし
て、インダクタンス素子4の上面の導体層13は、配線
ワイヤ9によってパッケージ7の接地用導体層16に接
続されている。したがって、インダクタンス素子4のマ
イクロストリップ線路6は、誘電体層を挟んで上下の接
地面間に形成されていることになる。
The back surfaces of the surface acoustic wave resonator 1 (surface acoustic wave resonator chip) and the inductance element 4 (inductance element chip) are grounded on the inner surface of the concave portion of the package 7 formed by laminating ceramic and metal. Conductor layer 1
It is adhered and fixed onto the surface 6 by an adhesive 8. The conductor layer 13 on the upper surface of the inductance element 4 is connected to the ground conductor layer 16 of the package 7 by the wiring wire 9. Therefore, the microstrip line 6 of the inductance element 4 is formed between the upper and lower ground planes with the dielectric layer in between.

【0024】なお、それぞれの素子チップは、アルミニ
ウムや金等の配線ワイヤ9により、相互に、あるいはパ
ッケージ7の導体端子部10や接地用導体層16と接続
されている。また、パッケージ7の蓋11は、気密性を
保つため、パッケージ7のシールリング12に溶接され
ている。
The respective element chips are connected to each other or to the conductor terminal portion 10 of the package 7 and the conductor layer 16 for grounding by a wiring wire 9 made of aluminum or gold. The lid 11 of the package 7 is welded to the seal ring 12 of the package 7 in order to maintain airtightness.

【0025】上記したように本実施例によれば、インダ
クタンス素子4のマイクロストリップ線路6が誘電体層
を挟んで上下の接地面間に形成されているので、インダ
クタンス素子4の上面とパッケージ7の蓋11との距離
が変化しても、寄生容量の影響を受けることはなくな
り、弾性表面波装置の特性がばらついたり、劣化したり
することを防止できる。
As described above, according to this embodiment, since the microstrip line 6 of the inductance element 4 is formed between the upper and lower ground planes with the dielectric layer sandwiched between them, the upper surface of the inductance element 4 and the package 7 are separated. Even if the distance to the lid 11 changes, it is not affected by the parasitic capacitance, and it is possible to prevent the characteristics of the surface acoustic wave device from varying or deteriorating.

【0026】ここで本実施例では、マイクロストリップ
線路6にめっき銅膜を使用しているが、この他に、薄膜
や薄板材料の銅を使用することも可能である。また、圧
電性基板2は、上述した以外に水晶,Li247 等も
使用可能である。さらにまた、パッケージ7にはセラミ
ックと金属を積層したものを使用しているが、金属製の
パッケージを使用しても、同じ効果が得られることは言
うまでもない。
Here, in the present embodiment, a plated copper film is used for the microstrip line 6, but in addition to this, it is also possible to use copper as a thin film or thin plate material. Further, as the piezoelectric substrate 2, quartz, Li 2 B 4 O 7 or the like can be used other than the above. Furthermore, although the package 7 is formed by laminating ceramic and metal, it goes without saying that the same effect can be obtained by using a package made of metal.

【0027】図2は、図1に示した第1実施例の弾性表
面波装置の斜視図である。同図においては、パッケージ
7内部の状態を明らかにするため、蓋11は省略してあ
る。図2に示すように、インダクタンス素子4の誘電体
基板5の上面の大部分は、導体層13で覆われており、
導体層13は配線ワイヤ9によりパッケージ7の接地用
導体層16に電気的に接続されている。なお、導体層1
3は、誘電体基板5の上面の略全面に形成する必要はな
く、マイクロストリップ線路6が形成してある部分に対
応する誘電体基板5の上面部位にあれば、本発明の効果
を得るには充分である。
FIG. 2 is a perspective view of the surface acoustic wave device of the first embodiment shown in FIG. In the figure, the lid 11 is omitted to clarify the internal state of the package 7. As shown in FIG. 2, most of the upper surface of the dielectric substrate 5 of the inductance element 4 is covered with the conductor layer 13,
The conductor layer 13 is electrically connected to the ground conductor layer 16 of the package 7 by the wiring wire 9. The conductor layer 1
3 does not need to be formed on substantially the entire upper surface of the dielectric substrate 5, and the effect of the present invention can be obtained if the upper surface of the dielectric substrate 5 corresponds to the portion where the microstrip line 6 is formed. Is enough.

【0028】図3は、本発明の第2実施例による弾性表
面波装置の構造を示す断面図である。同図において、先
の実施例と均等な構成要素には同一符号を付し、その説
明は重複を避けるため割愛する(これは、以下の各実施
例においても同様である)。
FIG. 3 is a sectional view showing the structure of a surface acoustic wave device according to a second embodiment of the present invention. In the figure, the same components as those in the previous embodiment are designated by the same reference numerals, and the description thereof will be omitted to avoid duplication (this also applies to the following embodiments).

【0029】本実施例が前記第1実施例と相違するの
は、誘電体基板(インダクタンス素子基板)5の上面だ
けでなく、裏面にも接地用の導体層13が形成してある
点にある。素子チップをパッケージに接着するには、導
電性または絶縁性の接着剤8が使用されるが、場合によ
っては素子チップ裏面の接着剤8に気泡が入ったり、接
着剤8の厚さが不均一になる等の不都合が発生すること
がある。このような場合、誘電体基板5の裏面にも導体
層13が形成されている本実施例の構成では、パッケー
ジ7の接地用導体層16とマイクロストリップ線路6の
間に発生する寄生容量のばらつきの影響がなくなり、弾
性表面波装置の特性劣化を防止できる効果がある。な
お、図3では示されていないが、インダクタンス素子4
のチップ上面側の導体層13は、図2に示したように、
配線ワイヤ9でパッケージ7側の接地面と接続されてい
る。
The present embodiment is different from the first embodiment in that the conductor layer 13 for grounding is formed not only on the upper surface of the dielectric substrate (inductance element substrate) 5 but also on the rear surface. . A conductive or insulating adhesive 8 is used to bond the element chip to the package. However, in some cases, the adhesive 8 on the back surface of the element chip may contain bubbles or the thickness of the adhesive 8 is uneven. Inconvenience may occur. In such a case, in the configuration of the present embodiment in which the conductor layer 13 is also formed on the back surface of the dielectric substrate 5, variations in parasitic capacitance generated between the ground conductor layer 16 of the package 7 and the microstrip line 6 are provided. Is eliminated, and the characteristic deterioration of the surface acoustic wave device can be prevented. Although not shown in FIG. 3, the inductance element 4
As shown in FIG. 2, the conductor layer 13 on the chip upper surface side of
The wiring wire 9 is connected to the ground plane on the package 7 side.

【0030】なおまた、以下の各実施例においても、イ
ンダクタンス素子チップの両面には、接地用の導体層1
3を形成してあり、インダクタンス素子チップの上面側
の導体層13は、配線ワイヤ9でパッケージ7側の接地
面と接続されている。
In each of the following embodiments, the conductor layer 1 for grounding is also provided on both sides of the inductance element chip.
3 is formed, and the conductor layer 13 on the upper surface side of the inductance element chip is connected to the ground surface on the package 7 side by the wiring wire 9.

【0031】図4は、本発明の第3実施例による弾性表
面波装置の構造を示す断面図である。本実施例は、フェ
イスダウン構造の実装方式を用いた弾性表面波装置への
適用例である。
FIG. 4 is a sectional view showing the structure of a surface acoustic wave device according to a third embodiment of the present invention. The present embodiment is an application example to a surface acoustic wave device using a mounting method of a face-down structure.

【0032】本実施例では、パッケージ7の凹部の内底
面上に、導体端子部10と接地用導体層16とを形成し
てある。また、弾性表面波共振子1のボンディングパッ
ド(配線接続用並びに接地用)と、インダクタンス素子
4のボンディングパッド14とフェイスダウン側の接地
用の導体層13には、ワイヤバンプ17を形成してあ
る。そして、各素子チップ(弾性表面波共振子1とイン
ダクタンス素子4)の接続部を、パッケージ7の対応す
る接続部へ位置合わせして、フェイスダウン実装を行っ
て接続・固着している。なお、バンプとしては、ワイヤ
バンプの他に、はんだバンプを使用することも可能であ
る。
In this embodiment, the conductor terminal portion 10 and the ground conductor layer 16 are formed on the inner bottom surface of the recess of the package 7. Further, wire bumps 17 are formed on the bonding pads (for wiring connection and grounding) of the surface acoustic wave resonator 1, the bonding pads 14 of the inductance element 4 and the grounding conductor layer 13 on the face-down side. Then, the connection portions of the respective element chips (the surface acoustic wave resonator 1 and the inductance element 4) are aligned with the corresponding connection portions of the package 7, and face-down mounting is performed to connect and fix them. As the bumps, solder bumps can be used instead of wire bumps.

【0033】このようなフェイスダウン構造の従来技術
による実装方式では、インダクタンス素子チップ面とパ
ッケージの接地面とは、配線ワイヤを使用した実装方式
に比べさらに近接するため、寄生容量は一層問題であ
る。しかし、本実施例の弾性表面波装置の構造は、イン
ダクタンス素子4のマイクロストリップ線路6に対して
誘電体層を挟んで導体層13,13があり、パッケージ
の接地面に関係しないので、寄生容量のばらつきの問題
は無く、したがって、特性ばらつき及び特性劣化が防止
でき、フェイスダウン構造の実装方式にも好適である。
In the conventional mounting method having such a face-down structure, the inductance element chip surface and the ground plane of the package are closer to each other as compared with the mounting method using the wiring wire, so that the parasitic capacitance is more problematic. . However, the structure of the surface acoustic wave device according to the present embodiment has the conductor layers 13 and 13 with the dielectric layer sandwiched between the microstrip line 6 of the inductance element 4 and does not relate to the ground plane of the package. Therefore, it is possible to prevent characteristic variation and characteristic deterioration, and is suitable for a face-down structure mounting method.

【0034】図5は、本発明の第4実施例による弾性表
面波装置の構造を示す断面図である。本実施例は、弾性
表面波共振子1は通常の実装でワイヤボンディングを行
ない、インダクタンス素子4のみフェイスダウン実装を
行った場合である。この場合も、上記第3実施例と同じ
効果が得られることは言うまでもない。
FIG. 5 is a sectional view showing the structure of a surface acoustic wave device according to a fourth embodiment of the present invention. In this embodiment, the surface acoustic wave resonator 1 is wire-bonded by normal mounting, and only the inductance element 4 is face-down mounted. It goes without saying that the same effect as in the third embodiment can be obtained in this case as well.

【0035】図6は、本発明の第5実施例による弾性表
面波装置の構造を示す断面図である。本実施例は、前記
第4実施例と同様に、インダクタンス素子4のみフェイ
スダウン実装を行っているが、インダクタンス素子4に
おける弾性表面波共振子1への接続用のボンディングパ
ッド14を、誘電体基板5の上面(フェイスダウン面の
反対側)に設け、このボンディングパッド14をビアホ
ール15を介してマイクロストリップ線路6と接続して
ある。
FIG. 6 is a sectional view showing the structure of the surface acoustic wave device according to the fifth embodiment of the present invention. In this embodiment, like the fourth embodiment, only the inductance element 4 is face-down mounted, but the bonding pad 14 for connecting to the surface acoustic wave resonator 1 in the inductance element 4 is replaced with a dielectric substrate. 5 is provided on the upper surface (opposite side of the face-down surface), and the bonding pad 14 is connected to the microstrip line 6 via the via hole 15.

【0036】本発明によるインダクタンス素子4には、
積層構造の誘電体基板5を採用しているので、上記のよ
うな構造とすることも簡単にできる利点がある。また、
本実施例の構造とすることで、限られたパッケージ面積
のなかで、柔軟な素子チップレイアウトが可能となるの
で、小形化および組立て作業性の向上の効果がある。
In the inductance element 4 according to the present invention,
Since the dielectric substrate 5 having a laminated structure is adopted, there is an advantage that the above structure can be easily made. Also,
By adopting the structure of this embodiment, a flexible element chip layout can be achieved within a limited package area, so that there is an effect of miniaturization and improvement of assembling workability.

【0037】図7は、本発明の第6実施例による弾性表
面波装置の構造を示す斜視図であり、同図においては、
パッケージ7内部の状態を明らかにするため、蓋11は
省略してある。本実施例では、インダクタンス素子4の
上面に、接地用の導体層13および配線接続用のボンデ
ィングパッド14だけでなく、マイクロストリップ線路
6,ビアホール15を、ボンディングパッド14と接続
した配線線路18も形成してある。このような構造を採
ると、ボンディングパッド14を基板上面の任意の位置
に設けることが可能になるので、素子チップレイアウト
の自由度を増すことができる。さらに、配線ワイヤ9の
短縮化を図ることができる等の効果が得られる。
FIG. 7 is a perspective view showing the structure of a surface acoustic wave device according to a sixth embodiment of the present invention. In FIG.
The lid 11 is omitted to clarify the internal state of the package 7. In this embodiment, not only the conductor layer 13 for grounding and the bonding pad 14 for wiring connection but also the wiring line 18 in which the microstrip line 6 and the via hole 15 are connected to the bonding pad 14 are formed on the upper surface of the inductance element 4. I am doing it. With such a structure, the bonding pad 14 can be provided at an arbitrary position on the upper surface of the substrate, so that the degree of freedom of the element chip layout can be increased. Furthermore, the effect that the wiring wire 9 can be shortened can be obtained.

【0038】図8は、本発明の第7実施例による弾性表
面波装置の構造を示す断面図である。本実施例では、イ
ンダクタンス素子4における誘電体基板5のマイクロス
トリップ線路6の形成層で段差面を設けて、この面にボ
ンディングパッド14を設けた構造としてある。このよ
うな構造では、配線ワイヤ9の長さを短縮でき、しか
も、インダクタンス素子4の配線パターンも長く引き回
す必要がないため、配線線路長が長くなることによる悪
影響を小さくできる効果が得られる。
FIG. 8 is a sectional view showing the structure of the surface acoustic wave device according to the seventh embodiment of the present invention. In this embodiment, a stepped surface is provided in the formation layer of the microstrip line 6 of the dielectric substrate 5 in the inductance element 4, and the bonding pad 14 is provided on this stepped surface. With such a structure, the length of the wiring wire 9 can be shortened, and further, the wiring pattern of the inductance element 4 does not need to be laid around for a long time, so that the adverse effect due to the increased wiring line length can be reduced.

【0039】図9は、本発明の弾性表面波装置を使用し
たアンテナ分波器を示す図である。同図に示すように、
アンテナ分波器21は、送信用フィルタ(送信側の弾性
表面波装置)22Aと受信用フィルタ(受信側の弾性表
面波装置)22Bとが組み合わされて構成されており、
送信機からの送信信号ST をアンテナ23へ、またアン
テナ23からの受信信号SR を受信機へ、それぞれ分波
伝送する働きをする。
FIG. 9 is a diagram showing an antenna duplexer using the surface acoustic wave device of the present invention. As shown in the figure,
The antenna duplexer 21 is configured by combining a transmission filter (transmission-side surface acoustic wave device) 22A and a reception filter (reception-side surface acoustic wave device) 22B,
It functions to perform demultiplexing transmission of the transmission signal S T from the transmitter to the antenna 23 and the reception signal S R from the antenna 23 to the receiver.

【0040】このようなアンテナ分波器に、本発明の各
実施例で示した弾性表面波装置を使用することで、小形
高性能なアンテナ分波器を提供することが可能となる。
By using the surface acoustic wave device shown in each of the embodiments of the present invention for such an antenna duplexer, it becomes possible to provide a compact and high-performance antenna duplexer.

【0041】[0041]

【発明の効果】以上のように本発明によれば、弾性表面
波装置を小形化する場合に問題となる寄生容量の影響が
小さくなるので、弾性表面波共振子とインダクタンス素
子で構成した弾性表面波装置、および、この弾性表面波
装置を使用して構成したアンテナ分波器の、特性ばらつ
きの低減および特性劣化防止に大きな効果があり、その
価値は多大である。
As described above, according to the present invention, the influence of the parasitic capacitance, which is a problem when miniaturizing the surface acoustic wave device, is reduced. Therefore, the surface acoustic wave constituted by the surface acoustic wave resonator and the inductance element is reduced. The wave device and the antenna demultiplexer configured by using this surface acoustic wave device have great effects in reducing the characteristic variation and preventing the characteristic deterioration, and their value is enormous.

【図面の簡単な説明】[Brief description of drawings]

【図1】本発明の第1実施例に係る弾性表面波装置の構
成を示す断面図である。
FIG. 1 is a sectional view showing the structure of a surface acoustic wave device according to a first embodiment of the present invention.

【図2】図1の弾性表面波装置から蓋を取り去った状態
の斜視図である。
FIG. 2 is a perspective view of the surface acoustic wave device of FIG. 1 with a lid removed.

【図3】本発明の第2実施例に係る弾性表面波装置の構
成を示す断面図である。
FIG. 3 is a sectional view showing the configuration of a surface acoustic wave device according to a second embodiment of the present invention.

【図4】本発明の第3実施例に係る弾性表面波装置の構
成を示す断面図である。
FIG. 4 is a sectional view showing the structure of a surface acoustic wave device according to a third embodiment of the present invention.

【図5】本発明の第4実施例に係る弾性表面波装置の構
成を示す断面図である。
FIG. 5 is a sectional view showing the structure of a surface acoustic wave device according to a fourth embodiment of the present invention.

【図6】本発明の第5実施例に係る弾性表面波装置の構
成を示す断面図である。
FIG. 6 is a sectional view showing the structure of a surface acoustic wave device according to a fifth embodiment of the present invention.

【図7】本発明の第6実施例に係る弾性表面波装置の蓋
を取り去った状態での斜視図である。
FIG. 7 is a perspective view of a surface acoustic wave device according to a sixth embodiment of the present invention with a lid removed.

【図8】本発明の第7実施例に係る弾性表面波装置の構
成を示す断面図である。
FIG. 8 is a sectional view showing the structure of a surface acoustic wave device according to a seventh embodiment of the present invention.

【図9】本発明による弾性表面波装置を使用したアンテ
ナ分波器の構成を模式的に示す説明図である。
FIG. 9 is an explanatory view schematically showing a configuration of an antenna demultiplexer using the surface acoustic wave device according to the present invention.

【図10】従来の弾性表面波装置の構成を示す断面図で
ある。
FIG. 10 is a cross-sectional view showing a configuration of a conventional surface acoustic wave device.

【図11】弾性表面波装置のフィルタ構成の1例を示す
等価回路図である。
FIG. 11 is an equivalent circuit diagram showing an example of a filter configuration of a surface acoustic wave device.

【図12】弾性表面波装置の周波数特性と、周波数特性
上の問題点を示す説明図である。
FIG. 12 is an explanatory diagram showing a frequency characteristic of the surface acoustic wave device and a problem in the frequency characteristic.

【符号の説明】[Explanation of symbols]

1 弾性表面波共振子 2 圧電性基板 3 すだれ状電極 4 インダクタンス素子 5 誘電体基板 6 マイクロストリップ線路 7 パッケージ 8 接着剤 9 配線ワイヤ 10 導体端子部 11 蓋 12 シールリング 13 導体層 14 ボンディングパッド 15 ビアホール 16 接地用導体層 17 ワイヤバンプ 18 配線線路 21 アンテナ分波器 22A 送信用フィルタ(送信側の弾性表面波装置) 22B 受信用フィルタ(受信側の弾性表面波装置) 23 アンテナ 1 Surface Acoustic Wave Resonator 2 Piezoelectric Substrate 3 Interdigital Electrode 4 Inductance Element 5 Dielectric Substrate 6 Microstrip Line 7 Package 8 Adhesive 9 Wiring Wire 10 Conductor Terminal 11 Cover 12 Seal Ring 13 Conductor Layer 14 Bonding Pad 15 Via Hole 16 Grounding Conductor Layer 17 Wire Bump 18 Wiring Line 21 Antenna Divider 22A Transmission Filter (Transmission Surface Acoustic Wave Device) 22B Reception Filter (Reception Side Surface Acoustic Wave Device) 23 Antenna

───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (72)発明者 湯原 章綱 神奈川県横浜市戸塚区吉田町292番地 株 式会社日立製作所映像メディア研究所内 ─────────────────────────────────────────────────── ─── Continuation of the front page (72) Inventor Shozo Yubara, 292 Yoshida-cho, Totsuka-ku, Yokohama, Kanagawa Prefecture

Claims (4)

【特許請求の範囲】[Claims] 【請求項1】 圧電性基板上にすだれ状電極が形成され
てなる弾性表面波共振子と、誘電体基板にマイクロスト
リップ線路が形成されてなるインダクタンス素子とが、
相互に電気的に接続されて単一のパッケージ内に配置さ
れた弾性表面波装置において、 前記インダクタンス素子の前記誘電体基板は積層構造と
され、この誘電体基板の中間層に前記マイクロストリッ
プ線路が形成されてなり、かつ、前記誘電体基板の上面
の少なくとも前記マイクロストリップ線路と対応する部
位が、導体層で覆われていることを特徴とする弾性表面
波装置。
1. A surface acoustic wave resonator having a comb-shaped electrode formed on a piezoelectric substrate, and an inductance element having a microstrip line formed on a dielectric substrate.
In a surface acoustic wave device electrically connected to each other and arranged in a single package, the dielectric substrate of the inductance element has a laminated structure, and the microstrip line is provided in an intermediate layer of the dielectric substrate. A surface acoustic wave device which is formed, and at least a portion of the upper surface of the dielectric substrate corresponding to the microstrip line is covered with a conductor layer.
【請求項2】 請求項1記載において、 前記インダクタンス素子の前記誘電体基板の裏面の少な
くとも前記マイクロストリップ線路と対応する部位が、
導体層で覆われていることを特徴とする弾性表面波装
置。
2. The device according to claim 1, wherein a portion of the back surface of the dielectric substrate of the inductance element, which corresponds to at least the microstrip line,
A surface acoustic wave device characterized by being covered with a conductor layer.
【請求項3】 請求項1記載において、 前記インダクタンス素子の前記誘電体基板の上面に配線
線路が形成され、かつこの配線線路が、前記インダクタ
ンス素子の中間層の前記マイクロストリップ線路に、電
気的に接続されていることを特徴とする弾性表面波装
置。
3. The wiring line according to claim 1, wherein a wiring line is formed on an upper surface of the dielectric substrate of the inductance element, and the wiring line is electrically connected to the microstrip line of the intermediate layer of the inductance element. A surface acoustic wave device characterized by being connected.
【請求項4】 送信側の弾性表面波装置と受信側の弾性
表面波装置の少なくとも一方に、請求項1乃至3の何れ
か1つに記載の弾性表面波装置を用いたことを特徴とす
るアンテナ分波器。
4. The surface acoustic wave device according to claim 1, wherein at least one of the surface acoustic wave device on the transmitting side and the surface acoustic wave device on the receiving side is used. Antenna duplexer.
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Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US6373350B1 (en) * 1998-12-01 2002-04-16 Oki Electric Industry Co., Ltd. Branching filter with saw-resonator transmitting and receiving filters in separate packages and receiving-branch lines in both packages

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* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US6373350B1 (en) * 1998-12-01 2002-04-16 Oki Electric Industry Co., Ltd. Branching filter with saw-resonator transmitting and receiving filters in separate packages and receiving-branch lines in both packages

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